CN1407545A - 信息再现装置和光记录介质 - Google Patents

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Abstract

用于读取光记录介质的信息的信息再现装置，包括：一第一检测装置(152)，提供由读取第一磁道(MT)的信息的一对检测器光学获得的不同输出信号间的差值；一第二检测装置(152)以及一第三检测装置(153)，提供分别由读取第二磁道(ST1)和第三磁道(ST3)的信息的一对检测器读取的各个输出信号间的差值，第三磁道和第二磁道(ST1，ST2)位于第一磁道(MT)的对侧；一串音抽取装置(205、206)，抽取由第二和第三磁道(ST1，ST2)引起的串音，该串音包含在由第一检测装置(152)提供的检测信号中；以及一跟踪控制装置(TC3，TA3)，基于由第二和第三磁道引起的串音间的平衡，执行对第一检测装置(152)的跟踪控制。

Description

信息再现装置和光记录介质
发明背景
发明领域
本发明涉及一信息再现装置，再现包含在一光记录介质中的信息，以及光记录介质能有效地使用这种信息再现装置。更准确地说，本发明涉及信息再现装置以及能获得准确跟踪控制的光记录介质。
相关技术的说明
近来，以CD和DVD为代表的光盘被广泛使用。特别地，能仅一副性记录数字数据的CD-R(可记录CD)以及能多副重写数字数据的CD-RW(可重写CD)和仅用于重放的记录介质的CD-DA(CD-数字音频)已经投入实际使用。
当一光盘中记录和再现时，必须以一预定速度旋转该光盘。仅重放的记录介质能通过使旋转速度与重放时数字数据的再现频率同步确定一预定速度。反之，用上述方法，可记录的记录介质如CD-R和CD-RW不能控制该旋转速度，因为数字数据最初不被记录在磁道上。因此，在可记录介质中，根据地址信息，磁道被摆动，因此控制基于从该磁道读出的摆动信号的旋转速度并识别该磁道的地址。
推挽技术被认为是使用这种光盘的系统中的光头的跟踪方法，特别是数据记录过程中的跟踪方法。该方法使用根据激光点的偏移摆动信号的推挽信号改变的这一事实。
然而，在推挽方法中，致动器振动磁头的物镜，因此检测器和物镜的光轴间的位置关系被移动，并且如果在光盘和物镜间引起径向倾斜，不能实现正确的跟踪控制。
图29示出了在推挽技术中在光圈的数量NA＝0.6、波长λ＝650nm、磁道间距＝683nm以及槽深＝λ/10的情况下的光轴的位移以及磁道偏移间的关系的模拟结果。在图29中，垂直轴表示对磁道间距的磁道偏移率，以及水平轴表示在径向方向中检测器和物镜间的位移。
图30表示在推挽技术中在相似情况中径向倾斜以及磁道偏移间的关系的模拟结果。在图30中，垂直轴表示对磁道间距的磁道偏移率以及水平轴表示光盘和物镜间的径向倾斜。
如图29和30所示，在推挽技术中，发现由于检测器和物镜的光轴间的位移(径向镜头移动)或由于光盘和物镜间的径向倾斜引起了磁道偏移。
另一方面，取代该推挽技术，已经一种通过使用RF信号的串音平衡获得磁道信息的技术(日本专利申请公开号11-175990)。然而，这种方法不能使用在未记录RF数据的情形中。另外，即使后来记录该RF数据，由于径向倾斜，串音平衡被较大地改变。因此，存在不能执行精确跟踪的问题。
发明概述
本发明的一个目的是提供一信息再现装置以及能执行不受径向倾斜等等影响的精确跟踪控制的光记录介质，即使未记录RF数据。
本发明的上述目的能通过本发明的用于读取光记录介质(DK)的信息的信息再现装置来实现。该装置具有：一第一检测装置(152)，提供通过用于读取第一磁道(MT)的信息的一对检测器光学地获得的各个输出信号间的差异；一第二检测装置(151)，提供通过用于读取紧挨着第一磁道(MT)的第二磁道(ST1)的信息的一对检测器光学地获得的各个输出信号间的差异；一第三检测装置(153)，提供通过用于读取紧挨着第一磁道(MT)的第三磁道(ST2)的信息的一对检测器光学地获得的各个输出信号间的差异，第三磁道(ST2)和第二磁道(ST1)位于第一磁道(MT)的相对边；一串音抽取装置(205，206)，抽取由第二磁道(ST1)和第三磁道(ST2)引起的串音，该串音包括在由第一检测装置(152)提供的检测信号中；以及跟踪控制装置(TC3，TA3)，基于由第二磁道(ST1)引起的串音以及由第三磁道(ST2)引起的串音间的平衡，执行用于第一检测装置(152)的跟踪控制。
根据本发明，即使未记录RF数据，跟踪控制也能执行，并且能实现精确跟踪而不受径向倾斜等等的影响。
第一检测装置(152)、第二检测装置(151)以及第三检测装置(153)可检测在光记录介质(DK)上形成的磁道的摆动。
假若这样，跟踪控制通过使用摆动的串音来执行。
该装置可具有：一系数控制装置(205b，206b)，基于由串音抽取装置(205，206)抽取的串音，控制一系数；以及一串音消除装置(211，212)，基于由系数控制装置(205b，206b)计算的系数，取消上述串音，然后，基于由系数控制装置(205b，206b)计算的系数间的平衡，跟踪控制装置(TC3，TA3)可执行用于第一检测装置(152)的跟踪控制。
假若这样，由于基于由系数控制装置计算的系数间的平衡，用于第一检测装置的跟踪控制，能实现精确跟踪。
跟踪控制装置(TC3，TA3)可执行跟踪控制，以便基于由第二磁道(ST1)引起的串音的系数以及基于由第三磁道(ST2)引起的串音的系数间的差值变为零。
假若这样，由于执行跟踪控制以便系数间的差值变为0，能实现精确跟踪。
该装置可具有：一第一解调装置(202)，解调由第一检测装置(152)提供的检测信号；一第二解调装置(201)，解调由第二检测装置(151)提供的检测信号；以及一第三解调装置(203)，解调由第三检测装置(153)提供的检测信号。然后，基于由第一解调装置(202)获得的解调信号抽取的串音，系数控制装置(205b，206b)可控制该系数。
假若这样，包括在解调信号中并且由第二磁道和第三磁道引起的串音被抽取，然后在抽取的串音的基础上，控制该系数。因此，噪音的影响被降低，并实现精确控制。
通过使用具有不同相位的两个载波信号，第一解调装置(58)、第二解调装置(57)以及第三解调装置(59)可分别解调所检测的信号。
假若这样，不管磁道间的摆动的相位关系如何，可精确抽取该串音，因此能始终执行精确跟踪。
该装置可具有：一载波信号生成装置(86)，生成第一磁道(MT)的载波信号，该载波信号被提供给第二解调装置(201)和第三解调装置(203)；以及相位调整装置(217，218)，根据从第一检测装置(152)、第二检测装置(151)以及第三检测装置(153)的输出信号的相位，调整该载波信号的相位。
假若这样，经第二检测装置和第三检测装置获得的信号的相位与实际串音一致，因此能实现精确跟踪。
第一解调装置(202)、第二解调装置(201)以及第三解调装置(203)可解调相位解调的摆动。
假若这样，通过使用摆动的串音执行跟踪控制。
该装置具有一补偿装置(217，218)，补偿与沿在第一检测装置(152)、第二检测装置(151)以及第三检测装置(153)中读取的信息的方向的位移一致的时间。然后，跟踪控制装置(TC，TA)基于由第二磁道(ST1)引起的串音以及由第三磁道(ST2)引起的串音间的平衡，执行用于第一检测装置(152)的跟踪控制，这两种串音在补偿装置(217，218)补偿由第一检测装置(152)、第二检测装置(151)以及第三检测装置(153)提供的信号的时间以便彼此同相的情况下通过串音抽取装置(205，206)被抽取，
假若这样，经第二检测装置和第三检测装置获得的信号的时间与实际串音一致，因此实现精确控制。
该装置具有一串音平衡调整装置(51，53)，响应由第二检测装置(151)以及第三检测装置(153)提供的检测信号(Ssub1，Ssub2)的信号幅度，调整由第二磁道(ST1)引起的串音以及第三磁道(ST2)引起的串音间的平衡。
假若这样，由于基于由第二检测装置和第三检测装置提供的检测信号的幅度的改变，平衡的改变被抑制，因此实现精确跟踪。
串音平衡调整装置(51，53)可将来自第二检测装置(151)和第三检测装置(153)的输出信号(Ssub1，Ssub2)保持在一恒定水平。
响应由第二检测装置(151)和第三检测装置(153)提供的检测信号(Ssub1，Ssub2)的信号幅度，串音平衡调整装置(82，83)可调整该平衡，该平衡在由串音抽取装置(78，79)抽取的串音的基础上获得。
串音平衡调整装置(51，53)在通过解调由第二检测装置(151)和第三检测装置(153)提供的检测信号(Ssub1，Ssub2)获得的信号的基础上调整该平衡。
假若这样，具有以下优点，例如，由于信号中的噪音成分与解调前检测信号被直接输入的情况相比被降低，因此串音平衡调整装置能准确操作。
响应由第一检测装置(152)提供的检测信号的信号幅度，串音平衡调整装置(52)可调整由串音抽取装置(61，62)抽取的串音值。
假若这样，有可能防止当再现光束偏离磁道上时脱离跟踪的检测灵敏度被改变。
本发明的光记录介质(DK)是通过使用沟纹记录方法来记录、调制以及摆动信息的一种光记录介质，以及是可记录另外的信息，然后用λ/NA规格化磁道间距获得的值在0.625和0.690之间的一种光记录介质，其中λ表示用于记录和再现的光学系统的波长，以及NA表示该光学系统中物镜(104)的光圈的数量。
根据该光记录介质，如果使用本发明的信息再现装置，由于一倾斜发生，几乎没有偏移。因此，在该信息再现装置中使用的信息再现方法能被有效使用。
为便于理解，尽管本发明已经用加在一括号中的附图中的参考数字描述过，但并不局限于附图的形式。
附图的简单说明
图1是根据本发明，表示信息再现装置的基本结构的视图；
图2A是表示与偏移相关的系数间的差值的视图；
图2B是表示由同时在轨迹上的系数间的差值表示的偏移率的视图；
图2C是表示目标值偏移与径向倾斜间的关系的视图；
图3是表示当磁道间距被设置为一参数时，跟踪目标值的偏差量的模拟结果的视图；
图4是表示本发明的信息再现装置的另一基本结构的视图；
图5是表示本发明的信息再现装置的另一基本结构的视图；
图6是描述信息再现装置的一个实施例的结构的电路图；
图7是表示用于读取光盘中记录的信息的光学系统的结构的视图；
图8是表示一地址信息记录系统的视图；
图9A是表示在摆动信号、载波信号以及在解调部分的乘法信号间的关系的视图；
图9B是表示在解调部分用于解调所使用的示范性电路的视图；
图10是示意性地描述自适应系数控制方法的例子的视图；
图11是表示解调后主磁道的波形以及不包括串音的理想波形的视图；
图12是表示用于检测一误差的框图的概略视图；
图13是表示解调后主磁道的波形以及不包括串音的理想波形的视图；
图14是表示用于检测一误差的框图的概略视图；
图15是表示解调后主磁道的波形以及不包括串音的理想波形的视图；
图16是表示用于检测一误差的框图的概略视图；
图17A是表示当相邻磁道间的摆动信号中的相位关系互不相同(假设±0/±180度)时串音的影响的视图；
图17B是表示当相邻磁道间的摆动信号中的相位关系互不相同(假设±45/±135度)时串音的影响的视图；
图17C是是表示当相邻磁道间的摆动信号中的相位关系互不相同(假设±90度)时串音的影响的视图；
图18是表示摆动串音的计算结果的视图；
图19是表示当在未记录RF数据的一沟纹上执行再现时的摆动信号以及当在记录RF数据的沟纹上执行再现时的摆动信号的视图；
图20是表示RF数据未记录在相邻磁道的一个中以及该RF数据记录在其它磁道中的情况下的视图；
图21是表示在图20的情况下跟踪的目标值信号的偏移的模拟结果的视图；
图22昌表示信息再现装置的示范性结构的视图；
图23是表示AGC电路的结构的视图；
图24是表示载波生成单元的结构的视图；
图25是表示系数控制单元的结构的视图；
图26是表示在系数控制单元的二维方式中的相关检测矢量的图像的视图；
图27A是表示假设存在或缺乏一AGC电路时系数间的差值的模拟结果的视图；
图27B是表示在主磁道的电平调整被消除的情况下系数间的差值的模拟结果的视图；
图28是表示信息再现装置的另一示范性结构的视图；
图29是表示用推挽技术的光轴偏差与跟踪偏移间的关系的模拟结果的视图；
图30是表示用推挽技术的径向倾斜与跟踪偏移间的关系的模拟结果的视图。
优选实施例的描述
以下根据本发明，参考图1-16描述信息再现装置。
首先，根据本发明描述信息再现装置的基本结构。
图1是根据本发明表示信息再现装置的基本结构的视图。将在如当记录与摆动相位(如从0度到180度)有关的二进制地址信息的系统被用作记录通过调相的地址信息的系统时来进行说明。
如图1所示的信息再现装置具有：延迟单元11、12和13，用于延迟用于一预定时间的检测信号Ssub1、Smain、Ssub2；解调单元14、15和16，用于解调通过调相记录的摆动信号；误差检测单元17和18，用于分别检测包含在解调信号Sdemod中的误差；以及系数控制单元19和20，用于根据误差检测单元17和18的信息，分别控制串音消除系数；一解码器23，用于解码解调单元15的输出信号；一跟踪控制单元TC，用于执行用于一拾取器的跟踪控制；以及一跟踪致动器TA，用于驱动该拾取器。为分别读出在一光盘上形成的三个相邻磁道的摆动(地址信息)，信号Ssub1、Smain以及Ssub2由三个检测器检测。误差检测单元17和18可形成在一共用检测单元中。
为读出三个磁道的摆动，延迟单元11、12和13被用于取消检测器的光点的相对位置关系。在相互相邻的磁道上发射三个光束的情况下，在光盘的圆周方向中相互偏离的每一位置上处理光点。延迟单元11和13调整检测信号Ssub1、Smain以及Ssub2的延迟以便取消在光盘的圆周方向中的光点的位置偏差。因此，在平均排列在光盘的半径方向中的三个光点的情况下，由延迟单元提供的信号S11、Sm3以及S12与检测信号一致。
误差检测单元17检测一理想地址解调信号与由解调单元15提供的实际地址解调信号Sdemod间的误差ΔS并将其提供给系数控制单元19。系数控制单元19检测误差ΔS与信号S11间的相关性并将与该相关性一致的系数K11提供给一乘法器21，在该乘法器处系数k11被乘以信号S11。另一方面，系数控制单元20检测误差ΔS与信号S12间的相关性并将与该相关性一致的系数k12提供给一乘法器22，在该乘法器处系数被乘以信号S12。
如图1所示，由延迟单元12提供的信号Sm3减去乘法器21和22的输出值，因此获得信号Sm4。另外，信号Sm4由解调单元15解调，因此获得地址解调信号Sdemod。
根据通过上述两个回路的反馈控制，乘法器21和22的系数被控制以便获得最小ΔS，换句话说，以便获得来自两个相邻磁道在地址解调信号Sdemod中的最小串音。因此，来自两个相邻磁道在地址解调信号Sdemod中的串音被消除。
具有已消除串音的地址解调信号Sdemod被输入到解调器23，因此再现该地址信息。
这样，在图1的结构中，相对于解调前的检测信号的串音被消除，因此通过解调消除串音后的检测信号获得地址解调信号。
如图1所示，由系数控制单元19输出的系数k11与由系数控制单元20输出的系数k12间的差值被输出到跟踪控制单元TC。根据系数k11和系数k12间的差值，跟踪控制单元TC控制跟踪致动器TA。特别地，跟踪控制单元TC控制跟踪致动器TA以便系数k11和系数k12间的差值为0。
图2A示出了系数k11和系数k12间的差值与偏移(左和右抽头系数间的差值)相关。在图2A中，垂直轴表示系数k11和系数k12间的差值，以及水平轴表示对一磁道间距的偏移率。在图2A中，示出了径向倾斜＝0.0度、0.4度以及0.8度的情况分别与光圈数量NA＝0.6、波长λ＝650nm、磁道间距＝683nm以及槽深＝341.5nm有关。
如图2A所示，偏移率以及系数k11和系数k12间的差值实质上成比例关系，该比例关系与每一径向倾斜有关。另外，当偏移为0时，系数k11和系数k12间的差值总是视为接近0的值，很难受径向倾斜的影响。
图2B示出了表示同时在轨迹上的系数k11和系数k12间的差值的偏移率(目标值偏移)和与作为模拟参数的光圈数量NA＝0.6、波长λ＝650nm、磁道间距＝683nm以及槽深＝341.5nm的情况有关的光盘的径向移动(光轴位移)间的关系。在图2B中，垂直轴表示偏称率，该偏移率表示为系数k11和系数k12间的差值并用在磁道中表示磁道间距，以及水平轴表示对一光束直径的径向镜头移动率。在使用常规推挽方法的情况中用虚线表示。
如图2B所示，同时在轨迹上的系数k11和系数k12间的差值总是视为接近0的值，因此很难受径向镜头移动的影响。
图2C表示目标值偏移与径向倾斜间的关系。模拟参数与图2B相同。在使用常规推挽方法的情况下用虚线表示。如图2C所示，在将偏移总是视为接近0的值的情况下，很难受径向倾斜的影响。
如上所述，跟踪致动器TA被控制以便系数k11和系数k12间的差值为0，从而能执行精确跟踪控制，很难受径向移动的影响。
然而，上述结果的获得是由于选择了将在下面描述的磁道间距。通常，系数k11和系数k12间的差值依赖于径向倾斜改变。
在将系数k11和系数k12间的差值即左和右tap系数间的差值用作跟踪目标值信号的情况下，如果由于光盘的径向倾斜产生一偏移，不能获得作为一正确目标值的跟踪。
图3是表示关于在径向倾斜为1度的情况下跟踪目标值移动多少所执行的模拟获得的结果的视图。在图3中，垂直轴表示对一磁道间距的跟踪偏移率，以及特别地，水平轴表示通过用λ/NA规格化一磁道间距所获得的值。
如图3所示，当用λ/NA规格化一磁道间距所获得的值约为0.66时，由于倾斜很难发生偏移。然而，会发现当磁道间距被定义为分界时即使偏移太窄或太宽，跟踪偏移增加。
例如，在按DVD-ROM规格定义的标准再现装置中，跟踪伺服装置的其余误差的最大值定义为0.022μm，约等于磁道间距的3％(＝0.022/0.74*100)。
在最好是一真实的驱动装置中，认为跟踪偏移被要求抑制到该程度。因此，如图3所示，发现当偏移在-3％和3％间时，通过用λ/NA规格化一磁道间距所获得的值必须在0.625和0.690之间。
因此，在满足上述条件的光记录介质中，能精确地实现跟踪。
在如图4所示的结构中，示出了为解调后的检测信号，执行串音偏移的情况。在图4中，与图1中所示的相同结构元件由相同的参考数字标明。
如图4所示，在装置200A中，解调单元15的输出信号即解调后的信号减去解调单元14和解调单元16的每一个的输出信号的解调后信号，从而消除串音。在该结构中，在由分别包括乘法器21和22的两个回路的反馈控制下，乘法器21和22的系数被控制以便在系数控制单元19和系数控制单元20中计算的相关值为最小，即，以便来自与地址解调信号Sdemod相关的相邻磁道的串音为最小。这样，来自与地址解调信号Sdemod相关的相邻磁道的串音被消除。延迟单元11至13的功能与图1所示的结构的情况相同。
如图4所示，装置200A具有：一跟踪控制部件TC1，用于执行拾取器的跟踪控制；以及一跟踪致动器TA1，用于驱动该拾取器。
如图4所示，从系数控制部件19输出的系数k11和从系数控制部件20输出的系数k20的差值被输入到跟踪控制部件TC1。根据系数k11和系数k12间的差值，跟踪控制单元TC1控制跟踪致动器TA1。特别地，跟踪控制部件TC1控制跟踪致动器TA1以便系数k11和系数k12间的差值为0。这样，能实现精确控制，很难受径向倾斜和径向镜头移动的影响。
信息再现装置200A从解调后的信号抽取串音。解调前信号的摆动信号的波形是正弦波，它很难从这样一种类似模拟的信号波形检测一误差(串音量)。另外，随机噪音被加在解调前的非常嘈杂的实际信号中。这使得它最终不可能检测一误差。相反，解调后的信号是一数字定向波形，便很容易分离噪音(串音)。因此，该信息再现装置200A能有效地抽取串音。
图5是根据本发明，表示信息再现装置的另一基本结构的视图。与图1和2所示的装置200和200A类似，如图5所示的装置相当于一光盘，其中，根据地址信息，磁道通过调制该摆动的相位被摆动。
如图5所示，信息再现装置300具有：解调单元31、32和33，分别用于解调来自三个检测器的检测信号Ssub1、Smain以及Ssub2，这三个检测器分别用于读取形成在光盘上的三个彼此相邻的磁道的摆动(地址信息)；延迟单元34和35以及36，用于延迟对一预定时间分别由解调单元31、32和33提供的信号S21、S22以及S23；误差检测单元37和38，分别用于检测包含在解调信号Sdemod中的误差；以及系数控制单元39和40，根据误差检测单元37和38的信息，分别用于控制串音消除系数。
如图5所示，载波信号通过移相器41提供给解调单元31。载波信号同样通过移相器42提供给解调单元33。
如图5所示，来自检测器的检测信号Ssub1、Smain以及Ssub2被分别提供给解调单元31、32和33，没有调整每一延迟。因此，图5所示的信息再现装置被设计以便根据依赖各个检测器的光点的位置的检测信号Ssub1、Smain以及Ssub2的不同相位，能改变提供给解调单元31、32和33的载波信号的相位。延迟单元34、35和36消除检测器的光点的相对位置关系。该结构能减小光点的误差，并且当误差小到足以被忽略为一解调的地址信号时，延迟单元34、35和36能被省略。
误差检测单元37检测理想地址解调信号Sdemod和实际提供的地址解调信号Sdemod间的误差ΔS并将其提供给系数控制单元39。系数控制单元39检测误差ΔS与延迟单元34的输出信号间的相关性并将与该相关性一致的系数k1提供给乘法器41，在此处，系数k1被乘以延迟单元34的输出信号S24。
误差检测单元38检测理想地址解调信号与实际提供的地址址解调信号Sdemod间的误差ΔS并将其提供给系数控制单元40。误差检测单元37和误差检测单元38完全相同，并且它们通常共同使用。系数控制装置40检测误差ΔS和延迟单元36的输出信号S26间的相关性并将与该相关性一致的系数k2提供给乘法器42，在此处，系数21被乘以延迟单元36的输出信号S26。
如图5所示，用延迟单元35提供的信号S25减去乘法器41和乘法器42的输出值，从而生成地址解调信号Sdemod。
根据上述两个回路的反馈控制，乘法器41和乘法器42的系数被控制以便获得由系数控制单元39和40计算的最小相关性，换句话说，以便获得来自两个相邻磁道在地址解调信号Sdemod中的最小串音。因此，来自两个相邻磁道在地址解调信号Sdemod中的串音被消除。
已消除串音的地址解调信号Sdemod被提供给解调器(未示出)，从而生成地址信息。
如图5所示，装置300具有：跟踪控制单元TC2，用于执行拾取器的跟踪控制；以及跟踪致动器TA2，用于驱动该拾取器。
如图5所示，从系数控制单元39输出的系数k1以及从系数控制单元40输出的系数k2间的差值被输入到跟踪控制单元TC2。根据系数k1和系数k2间的差值，跟踪控制单元TC2控制跟踪致动器。特别地，该控制单元控制跟踪致动器TA2以便系数k1和系数k2间的差值为0。这样，能实现精确跟踪控制，而不受径向倾斜和径向镜头移动的影响。
图17是表示当相邻磁道间的摆动信号中相位关系互不相同时，串音影响的视图。图17假定一模式，其中相邻磁道的摆动信号被减去或增加到一线性。
通常，摆动信号以一CLV(恒定线速度)被记录。因此，相邻磁道的摆动信号在与被再现的磁道的摆动信号相关的特殊相位关系中，因此也建立各种相位关系。图17A至17C表示相邻磁道的摆动信号9(串音)的相位为与被再现的磁道的摆动信号的相位相关的±0度/±180度、±45度/±135度以及±90时的例子。图17A至17C表示磁道排列关系以及被再现的磁道的摆动信号以及减去后相邻磁道的摆动信号(即串音)的矢量表示。各个图表示通过将矢量合成在一起所获得的矢量。
当合成的矢量(即包括串音的摆动信号)为PSK调制的，通过将合成矢量投影到“y”轴(垂直轴)获得的振幅被获得作为一调制信号。
这样，根据主磁道(被再现的磁道)和相邻磁道间的摆动信号中的相位关系，在PSK解调后，摆动信号的串音出现或不出现在信号电平。因此，在串音偏移系数由PSK解调后的信号控制的情况中，串音量被反映或不反映在依赖摆动信号的相位关系的串音偏移系数上。这使得不能获得正确的磁道信号。
为监视独立于摆动信号的相关关系的精确串音量，通过使用具有不同相位的两个载波信号来执行解调，并且各个相关性是合成的矢量，从而有必要控制串音偏移系数。
在基于根据串音平衡改变的串音偏移系数间的差值获得磁道的目标值信号的情况中，左和右相邻磁道的RF记录状态互不相同，并且随着跟踪的目标值发生偏移。该观点通过使用如图18所示的模拟模型来描述。
图18示出了根据在相邻磁道的沟纹中未记录RF数据和在其中记录有RF的情况中，计算摆动串音改变多大的结果。当主磁道被再现时，来自被摆动的相邻磁道的串音被反映在推挽信号上。在图18中，由虚线表示的推挽信号波形分别表示在相邻磁道中未记录RF数据的情况以及在相邻磁道中记录RF数据的情况。可发现具有主磁道推挽信号的串音很难改变，不管是在相邻磁道未记录RF数据的情况还是在其中记录有RF数据的情况中。
另一方面，图19分别示出了当在其中未记录RF数据的一沟纹上执行再现时的摆动信号；以及当在其中记录RF数据的一沟纹上执行再现时的摆动信号。在图19中，实线表示当RF未被记录时的摆动信号波形，以及虚线表示记录相邻的RF数据时的摆动信号的波形。在这些例子中，发现根据在其中未记录RF的情况以及在其中记录RF数据的情况，摆动信号的信号电平彼此显著不同。
使用串音量和摆动信号电平间的相关性控制串音偏移系数。因此，如果相邻磁道的摆动信号电平改变，不管串音量是否改变，根据相邻磁道的摆动信号电平，串音偏移系数改变。
图20示出了在一个磁道中未记录RF数据以及在另一磁道中记录RF数据的情况。另外，图21表示在图20的情况下跟踪的目标值信号的偏移的模拟结果。作为图21中的模拟参数，光圈NA＝0.6，波长λ＝650nm，以及磁道间距＝683nm。
如图21所示，与在相邻磁道中未记录RF数据的情况(用虚线表示)比较，即使再现光束在磁道上，左和右串音系数与在图20的情况(用实线表示)中互不相同，并且由于跟踪的目标值信号发生一偏移。结果，在移离轨道上的一位置产生跟踪。
如上所示，为监视一精确的串音量，不管摆动信号间的相位关系如何，要求通过使用具有不同相位的载波信号来执行解调。另外，为执行正确跟踪，要求记录在相邻磁道中的RF数据的影响。
图22是表示能解决上述问题的信息再现装置的示范性结构的视图。图22中所示的信息再现装置500具有：AGC(自动增益控制)电路51、52和53，分别用于调整来自三个检测器的检测信号Ssub1、Smain以及Ssub2的信号电平，这三个检测器，用于分别读取在光盘中形成的三个相邻磁道的摆动(地址信息)；由FIFO(先入先出)电路组成的延迟单元54、55和56，通过一预定时间，用于分别延迟AGC电路51、52和53的输出信号；解调单元57、58和59，用于解调通过相位调制记录的摆动信号；误差检测单元61和62，用于包括在从解调单元58输出的解调信号Sdemod中的误差；系数控制单元63和64，根据误差检测单元61和62的信息，用于分别控制串音偏移系数；一跟踪控制单元TC，用于执行拾取器跟踪控制；以及一跟踪致动器TA，用于驱动一拾取器。误差检测单元61和62可被共用为一个检测部件。
如图23所示，AGC电路51具有：一电平控制器51a以及一比较器51c，用于将电平检测单元51b的输出信号与一参考信号比较，该电平检测单元，用于检测和输出一输入信号的振幅电平。响应电平检测单元51b的输出信号与参考信号Ref间的比较结果，电平控制器51a的振幅度被控制以便比较器51c的输出信号的振幅是恒定的。另外，AGC电路52以及AGC电路53分别构造为如图23中所示的AGC电路51。
如图22和24所示，信息再现装置500具有一载波生成单元37，用于生成具有达到90度的不同相位的两个载波信号。载波生成单元67生成由具有达到90度的不同相位的两个载波信号解调后的两个信号的乘法信号，并将该相乘信号输入到PLL(锁相回路)电路67a，从而生成一载波信号Ci。另外，载波信号Ci的相位通过一移相电路67b被移动90度，从而生成一载波信号Cq。从载波生成单元67输出的两个载波信号Ci和Cq被分别传送给解调单元57、58和59。
AGC电路51、52和53使检测信号Ssub1、Smain以及Ssub2的摆动信号振幅保持恒定，从而根据如上所述的是否在一磁道中记录RF数据，使防止由于跟踪的目标值信号发生偏称成为可能。在该信息再现装置500中，摆动信号的振幅在反馈控制下是恒定的。
提供延迟单元54、55和56以消除用于读取三个磁道的摆动的检测器的光点的相关位置关系。如此，当三个光点在光盘的径向方向中平均排列时，从延迟单元54至56的每一个输出的信号与检测信号相同。延迟单元55输出一信号Ss1，延迟单元55输出一信号Smm以及延迟单元56输出一信号Ss2。
解调单元57通过载波信号Ci解调信号Ss1并输出一信号Ss1-i；以及通过载波信号Cq解调信号Ss1并输出一信号Ss1-q。
解调单元58通过载波信号Ci解调信号Sm并输出一地址解调信号Sm-i；以及通过载波信号Cq解调信号Sm并输出一信号Sm-q。由信号Smm减去从乘法器68和69输出的预定信号，从而获得一信号Sm。
解调单元59通过载波信号Ci解调信号Ss2，并输出一信号Ss2-i；以及通过载波信号Cq解调信号Ss2，并输出一信号Ss2-q。
[0100]
误差检测单元61分别检测与地址解调信号Sm-i和信号Sm-q的理想信号有关的误差CT-i和误差CT-q，并将它们输出给系数控制单元63。误差检测单元62分别检测与地址解调信号Sm-i和信号Sm-q的理想信号有关的误差CT-i和误差CT-q，并将它们输出给系数控制单元64。
[0101]
如图22和25所示，系数控制单元63的计算单元63a将信号Ss1-i和CT-i相乘，以及将信号Ss1-q和CT-q相乘。系数控制单元63的计算单元63a将如上所述两个相乘的信号相加，并且更进一步，系数控制单元63的累计单元63b将相加信号彼此累计，从而获得系数k1。系数k1与由在相互垂直的矢量方向中检测到的矢量合成的信号的矢量的长度一致。
[0102]
图26是表示在系数控制单元63以二维方式的相关性检测矢量的图像的视图。如图26所示，系数控制单元63检测一误差和与彼此成直角的两个矢量方向有关的相邻两个磁道的信号间的相关性。因此，可能精确地检测一相关性，不管被再现的磁道的摆动信号和相邻磁道的摆动信号(即串音)间的相位关系如何。在图26中，投射在垂直轴(I轴)上的信号Ss1是信号Subl-i，以及投射到水平轴(Q轴)上的信号Ss1是信号Sub1-q。另外，投射在垂直轴上的信号Sct1是信号CT1-i，以及投射到水平轴(Q轴)上的信号Sct1是信号CT1-q。
[0103]
另一方面，系数控制单元64的计算单元64a将信号Ss2-i和CT-i相乘，以及将信号Ss2-q和CT-q相乘。系数控制单元64的计算单元64a将如上所述两个相乘所得的信号相加，并且更进一步，系数控制单元64的累计单元64b将相加信号彼此累计，从而获得系数k2。如此，如在系数控制单元63中，以二维方式执行相关性检测。
[0104]
如图22所示，系数k1被传送给一乘法器68，并且信号Smm减去系数k1和信号Ss1的乘积。另外，系数k2被传送给一乘法器69，并且信号Smm和系数k2的乘积被减去。如此，生成信号Sm。
[0105]
在由两个回路引起的反馈控制下，系数k1和k2被控制以便来自相邻磁道的串音是最小。如此，来自与地址解调信号Sm-i有关的相邻磁道的串音被消除。在信息再现装置500中，为解调前一信号，由两个乘法器68和69执行减法运算，并且为该解调前的信号消除串音。
[0106]
另一方面，系数k1和k2间的差值被传送到跟踪控制单元TC，并且跟踪致动器TA通过跟踪控制单元TC被控制。如上所述，信息再现装置500检测误差和与彼此成直角的两个矢量方向有关的相邻磁道的信号间的相关性，从而使总是精确地检测一相关性成为可能，不管被再现的磁道的摆动信号和相邻磁道的摆动信号(即串音)间的相位关系如何。因此，总是能执行精确跟踪控制。
[0107]
信息再现装置500从解调后的信号抽取串音。作为解调前的信号的摆动信号的波形是正弦波，以及很难从这种类似模拟的信号波形检测误差。另外，随机噪音被加入到非常嘈杂的解调前的实际信号中。这使得不可能最终检测一误差。相反，解调后的信号是一数字波形，使得很容易分离一噪音(串音)。因此，信息再现装置500能有效地抽取一串音。
[0108]
如在信息再现装置500中，在反馈控制下AGC电路的振幅度被控制的情况下，可在任何地方提供AGC电路并且可能任何地方检测信号振幅直到该位置可在系数控制单元的前面。即，这些位置可在解调单元前或后。然而，在一调相秕中解调后执行振幅检测的情况下，为保证一正确串音偏移操作，不管摆动相位关系如何，例如，要求使用通过一累计矢量划分的两个振幅的矢量合成振幅。
[0109]
分别表示信号Ssub1、Smain以及Ssub2的振幅的信号被输入到AGC电路51-53。然而，由于这些信号，信号Ssub1、Smain和Ssub2被分别调制后获得的信号也可被输入到那里。假若这样，信号中的噪音合成与如解调前的信号Ssub1、Smain以及Ssub2被直接输入的情况或类似情况相比被降低。因此，具有AGC电路51-53能被精确操作的优点。
[0110]
尽管信息再现装置500在反馈控制下控制AGC电路的放大度，也能使用前馈电路。
在信息再现装置500中，每一磁道的摆动信号振幅通过AGC电路使其不变，从而使防止如图21所示的磁道的目标值信号的偏移成为可能。图27A是只在相邻磁道的一个中记录RF数据的情况下存在或缺乏AGC电路51至53的模拟结果的视图。在图27A中，垂直轴表示系数间的差值，以及水平轴表示再现光束的偏移量。模拟参娄与图21相同。如图27A所示，AGC电路被提供，由此磁道的目标值信号的偏移被消除。
另外，在信息再现装置500中，通过AGC电路52调整信号Smain的电平。即使主磁道信号的电平调整被删除，由于磁道的目标值信号，通过相邻磁道的信号的电平调整不会发生偏移。然而，假若这样，当再现光束偏离轨迹上时，偏移检测灵敏度被改变。
图27表示在主磁道的电平调整被删除的情况下系数中的差值(与系数k1和k2间的差值的一个值)的模拟结果。在图27B，垂直轴表示系数间的差值，以及水平轴表示再现光束的偏移。图27B表示在主磁道和该主磁道的两邻磁道中未记录RF数据的情况；以及在主磁道的相邻磁道中未记录RF数据的情况。如图27B所示，如果RF数据被记录在主磁道中，它显示出图线的倾斜度很小，以及偏移检测灵敏度被降低。在上述信息再现装置中，主磁道信号即信号Smain的电平被调整，因此在偏移检测灵敏度中的改变不会发生。
在信息再现装置500中，尽管用于串音抽取的载波信号中的一个与用于数据解调的兼容，通过使用一完全不同的载波可执行串音抽取和数据解调。另外，在信息再现装置500中，尽管用于串音抽取的两个载波信号间的相位差被设置为90度，该相位差可是除0度外的任何角度(包括180度)。另外，可使用相同的载波信号以便解调相邻磁道的解调信号(信号Ssub1和Ssub2)。
图28是表示信息再现装置的另一示范性结构的视图。如图28所示的信息再现装置600具有：由FIFO(先入先出)电路组成的延迟单元71、72和73，用于分别延迟来自从读取在光盘中分别形成的相邻的三个磁道的摆动(地址信息)的三个检测器的检测信息Ssub1、Smain以及Ssub2；解调单元74、75以及76，用于解调通过调相记录的摆动信号；误差检测单元78和79，用于检测包括在解调信号Sdemod中的误差；系数控制单元80和81，根据误差检测单元78和79的信息，用于分别控制串音偏移系数；一AGC(自动增益控制)电路，用于以根据信号Ssub1的信号振幅的放大度来放大从系数控制单元80输出的系数k1；一AGC(自动增益控制)电路83，用于以根据信号Ssub2的信号振幅的放大度来放大从系数控制单元81输出的系数k2；一AGC(自动增益控制)电路84，其中根据信号Smain的信号振幅控制放大度；一跟踪控制单元TC，用于执行拾取器的跟踪控制；以及一跟踪致动器TA，用于驱动该拾取器。误差检测单元78和79可共用为一检测单元。
AGC电路82-84被构造为如图22和23中每一个所示的AGC电路51。
如图28所示，信息再现装置600具有一载波生成单元86，用于生成具有不同相位的两个载波信号Ci和Cq。载波生成单元86的组成如图24中所示的载波生成单元67。
延迟单元71、72及73被提供以消除上述用于读取三个磁道的摆动的检测器的光点间的相对位置关系。如此，从延迟单元71至73输出的信号等于在光盘的径向方向中三个光点被平均地排列的情况下的检测信号。
解调单元74通过载波信号Ci解调延迟单元71的输出信号，并输出Ss1-i以及解调延迟单元71的输出信号并输出信号Ss1-q。
解调单元75通过载波信号Ci解调延迟单元71的输出信号，并输出Smm-i以及解调延迟单元71的输出信号并输出信号Smm-q。信号Smm-i减去减法器87的输出信号和减法器89的输出信号得出地址信号Sm-i。另外，信号Smm-q减去减法器88的输出信号和减法器90的输出信号得出地址信号Sm-q。
[0121]
解调单元76通过载波信号Ci解调延迟单元73的输出信号，并输出信号Ss2-i；以及解调延迟单元73的输出信号Cq，并输出信号Ss2-q。
[0122]
误差检测单元78检测和输出分别与地址解调信号Sm-i和信号Sm-q的理想信号有关的误差CT-i和CT-q。
[0123]
如图28所示，系数控制单元80的计算单元80a将信号Ss1-i和CT-I相乘，以及将信号Ss1-q和CT-q相乘。系数控制单元80的计算单元80a将如上所述两个相乘得出的信号相加，并进一步，系数控制单元80的累计单元80b将相加的信号彼此累计，从而得出系数k2。如此，如在系数控制单元63中，以二维方式执行相关性检测。
[0124]
系数控制单元80的构造与信息再现装置500的系数控制单元63相同。另外，系数控制单元80的操作与系数控制单元63相同，在此省去对此的描述。图25中所示的结构以及如图26中所示的二维相关性检测方法也被适用于系数控制单元80。
[0125]
如图28中所示，系数k1被发送到乘法器87和88，以及信号Sm-i减去系数k1和信号Ss1-i的乘积，以及信号Sm-q减去系数k1和信号Ss1-q的乘积，另外，系数k2被发送到乘法器89和90，以及信号Sm-i减去系数k2和信号Ss2-i的乘积，以及信号Sm-q减去系数k2和信号Ss2-q的乘积。信号Sm-i减去上述乘积得出地址解调信号Sm-i。
[0126]
在通过两个回路引起的反馈控制下，系数k1和k2被控制以便来自相邻磁道的串音是最小。如此，来自与地址解调信号Sm-i有关的相邻磁道的串音被消除。在信息再现装置600中，尽管通过对减法器87至90解调后的信号执行减法运算，从而消除串音，但对于解调前的信号也可消除串音。
[0127]
另一方面，系数k1通过AGC电路82被调整到根据信号Ssub1的振幅的值。系数k2通过AGC电路83被调整到根据信号Ssub2的振幅的值。通过AGC电路82和83调整的值间的差值被进一步通过AGC电路84调整到根据信号Smain的振幅的值并且该调整后的值被输入到跟踪控制单元TC。跟踪致动器TA通过跟踪控制单元TC被控制。
[0128]
分别表示信号Ssub1、Smain以及Ssub2的振幅的信号被输入到AGC电路82至84。由于这些信号，信号Ssub1、Smain和Ssub2被分别解调后获得的信号可被输入。假若这样，信号中的噪音合成与如解调前的信号Ssub1、Smain以及Ssub2被直接输入的情况或类似情况相比被降低。因此，具有AGC电路51-53能被精确操作的优点。
[0129]
如此，在信息再现装置600中，在前馈控制下，与当使每一磁道的摆动信号振幅同等地恒定时相似的操作被保证。因此，与在信息再现装置500中一样，根据RF数据是否被记录在一磁道中防止由于磁道的目标值信号发生偏移的现象。代替前馈控制，如在信息再现装置500中一样，可使用反馈控制。
[0130]
在信息再现装置600中，通过AGC电路使每一个磁道的摆动信号振幅为恒定，从而与图21中所示的一样使防止跟踪的目标值信号的偏移成为可能。另外，在信息再现装置600中，实质上信号Smain的电平通过AGC电路被调整。即使主磁道信号的电平调整被消除，由于跟踪的目标值信号，通过相邻磁道的信号的电平调整，偏移不会发生。然而，假若这样，如图27中所示，当再现光束偏离轨迹上时偏移检测灵敏度改变。
如信息再现装置500中一样，信息再现装置600抽取解调后信号的串音。从而，如上所述，能比较容易地分离噪音(串音)，以及串音能被有效抽取。
在信息再现装置600中，尽管用于串音抽取所使用的载波信号中的一个与用于数据解调的一载波信号一致，串音抽取和数据解调可由使用安全分离的载波信号来执行。另外，在信息再现装置600中，尽管用于串音抽取的两个载波信号间的相位差被设置为90度，相位差可是除0度的任何角度(包括180度)。另外，为解调相邻磁道的信号(信号Ssub1以及Ssub2)，不使用相同的载波信号。
特别地，延迟部件和解调部件的顺序并不局限于本发明。另外，作为借助于摆动的光盘的记录地址信息的系统，具有：根据地址信息记录摆动解调的FM的系统或根据地址信息记录摆动调相的系统。在本发明的信息再现装置中，关于地址信息记录系统的应用范围不受限制。另外，由摆动记录的信息并不限于地址信息。
另外，解调单元、误差检测单元、系数控制单元、以及北乘法单元可被集成为一集成电路(IC)。
上述构造的误差检测单元的操作或类似将在下面的实施例中描述。
下面的实施例描述当本发明应用到用于读取光盘的信息(特别是摆动和地址信息)的信息再现装置时的例子，该光盘使用通过调相记录地址信息的系统。
其他实施例
以下，根据本发明，信息再现装置的其他实施例将参考图6至图16来描述。
图6是描述信息再现装置的实施例的结构的电路图，图7是表示用于读取光盘中记录的信息的光学系统的结构的视图，图8是表示地址信息记录系统的视图。另外，图9是表示分别在解调单元201至203中解调方法的视图，图9A是表示摆动信号、载波信号以及在解调部件的乘法信号间的关系的视图，图9B是表示用于在解调单元的解调的示范性电路的视图。
首先，描述信息再现装置400从光盘DK中读取信息的的地址信息的记录方法。
如图8所示，光盘DK的地址信息通过使用二进制数据0和1被记录到每一组(every group)中。如图8和9中所示，这些组以周期性正弦波的形式被摆动，以及形成地址信息的数据0和1被认为分别具有0度和180度相位的一周期的摆动。摆动的频率被定位在跟踪伺服带宽以及RF信号带宽间。
接着，将描述信息再现装置400。
如图6和7所示，信息再现装置400包括：一激光器101；一衍射光栅102；一光束分离器103；一物镜104；一光检测器105；包括一低通滤波器201a的一解调单元201；包括一低通滤波器202a和一PLL电路202b的一解调单元202；包括一低通滤路器203a的一解调单元203；系数控制装置205和206以及放大器211和212。
以下，将描述每一单元的详细情况和操作。
激光器101生成一光束B，用于再现具有一预定强度的信息，并将其发射给衍射光栅102。衍射光栅102将光束B分成将发射到主磁道MT上的主光束MB以及将发射到副磁道ST1和ST2上的副光束SB1和SB2，在主磁道MT记录将被再现的信息，副磁道ST1和ST2形成在主磁道的靠近主磁道的两侧上，以及各个光束被发射到光束分离器103。
所分的主光束MB和副光束SB1和SB2通过光束分离器103并被发射到物镜104。
从而，物镜104聚焦分别在主磁道MT、副磁道ST1以及副磁道ST2h的主光束MB、副光束要以及副光束SB2。同时，通过主光束MB，光点SPM形成在主磁道MT上的发射位置，通过副光束SB1，光点SP1形成在副磁道ST1上的发射位置，以及光点SP2形成在副磁道ST2上的发射位置。如图8所示，光点SPM、光点SP1以及光点SP2排列在倾向于光盘DK的半径的方向中并且它们被放置光盘的圆周方向中的分别偏离的位置中(读取信息的方向)。
来自光盘DK的主光束MB、副光束SB1以及副光束SB2的反向光通过最初主光束MB以及副光束SB1和SB2被会聚在光束分离器103。此时，来自光盘DK的主光束MB、副光束SB1以及闪光束SB2的反射光的偏振表面以一小的角度被旋转，通过光盘DK的反射。
因此，光束分离器103反射偏振表面被旋转的反射光并且单独地将各个反射光发射在光检测器105上。
如图6所示，光检测器105具有检测器151、152和153，用于分别接受三个反射光以及提供推挽信号。各个检测器151、152和153包括分别为一对的传感器151a和151b、传感器152a和152b以及传感器153a和153b。各个检测器151、152和153生成三个检测信号(推挽信号)Swsub1、Swmain以及Swsub2，每个检测信号是由各个传感器(如152a和152b)的检测信号间的差值。
此时，检测信号Swmain与主光束MB的反射光一致，检测信号Swsub1与副光束SB1的反射光一致，检测信号Swsub2与副光束SB2的反射光一致。
检测信号(推挽信号)Swsub1被提供给解调单元201，检测信号(推挽信号)Swmain被提供给解调单元202，检测信号(推挽信号)Swsub2被提供给解调单元203。
接着，描述解调单元201至203的操作。
如图9A所示，在光盘DK中，二进制地址信息通过两种类型的调相：摆动信号(正弦波)的0度和180度被记录。在通过如图9A所示的摆动信号乘以载波信号(图9A中相位0度的正弦波)，表示依赖摆动信号的相位的输出值的解调信号能通过将通过相乘所获得的乘积信号传递给低通滤波器(低通滤波器201a、202a及203a)来获得。
如图9B所示，通过将摆动信号输入到PLL电路生成载波信号。载波信号被乘以摆动信号，从而生成乘法信号，并进一步将乘积信号提供给低通滤波器252，从而获得一低通滤波器输出。
如图6所示，在解调单元202中，通过使用将检测器152的检测信号(推挽信号)Swmain提供给PLL电路202b获得的载波信号来解调检测信号Swmain。如第一实施例所述，由于发射在副磁道ST1、主磁道MT以及副磁道ST2的光点SP1、SPM以及SP2在读取信息的方向中被分别偏离，在所有解调单元201至203中使用相同载波信号不能应付从各个磁道读取的检测信号的相位。因此，由PLL电路202b生成的载波信号不被直接提供给解调单元201和203，而是通过移相器217提供给解调单元201以及通过移相器218提供给解调单元203。该载波信号的移相使将输入到解调单元201和203中的载波信号的相位调整到检测信号的相位成为可能。
在系数控制单元205中，基于由解调单元201的低通滤波器201a提供的推挽解调信号S201以及最终提供的地址解调信号Sdemod，控制系数k1被提供给放大器211。
在系数控制单元206中，基于由解调单元203的低通滤波器203a提供的推挽解调信号S202和最终提供的地址解调信号Sdemod间的比较，控制系数k2被提供给放大器212。
从解调单元202的低通滤波器202a提供的推挽解调信号S205减去放大器211和212的输出值，从而消除依赖各个系数k1和k2的串音并生成地址解调信号Sdemod。
在图6的电路中，由系数控制单元205和放大器211形成的环路执行用于定义系数k1的反馈控制以便减小包含地址解调信号Sdemod中的副磁道ST1的推挽信号的串音。由系数控制单元206和放大器212形成的环路执行用于定义系数k2的反馈控制以便减小包含地址解调信号Sdemod中的副磁道ST2的推挽信号的串音。
如图6所示，装置400包括：跟踪控制单元TC3，用于执行拾取器的跟踪控制；以及跟踪致动器TA3，用于驱动该拾取器。
如图6所示，从系数控制单元205b输出的系数k1和从系数控制单元206b输出的系数k2间的差值被输入到跟踪控制单元TC3。根据系数k1和k2间的差值，跟踪控制单元TC3控制跟踪致动器TA3。特别地，跟踪控制单元TC3控制跟踪致动器TA3以便系数k1和k2间的差值为0。如此，能实现精确跟踪控制，很难受径向倾斜和径向镜头移动的影响。
将参考图10至16来描述由系数控制单元执行的系数控制方法。虽然将描述系数控制方法，但为了方便起见，下面描述的各种方法不仅能用于本实施例而且能用到上述基本结构。
图10是表示控制一自适应系数的方法的例子的概略视图。
在图10所示的例子中，串音消除后的主磁道的解调地址信号的误差(串音)被检测以及该误差与相邻主磁道的磁道(副磁道)的解调信号间的相关性被检验。通过依赖结合该相关值确定的系数的强度，主磁道的信号减去相邻磁道的信号。根据该过程，当没有相关性时，换句话说，当主磁道的信号的串音被完全消除时，实际上系数变得稳定。
接着，描述检测误差的方法。
作为检测一误差的方法，在图11和图12中示出了一些方法。
图11是表示包括没有串音的理想波形以及主磁道解调后波形的视图；以及图12是表示用于检测一误差的框图的示意图。
在该方法中，串音消除后主磁道的解调信号值与参考电平(电平(+)以及电平(-1)的二进制值)比较。二进制值的参考电平通过将主磁道解调后的信号电平转换成二进制码(+1和-1)并检验该数据确定；如果检验数据是“+1”，它可与电平(+1)比较，以及如果检验数据是“-1”，它可与电平(-1)比较。例如，参考电平，电平(+1)以及电平(-1)可通过串音消除前主磁道的解调信号电平平均为每一检验电平(“+1”和“-1”)来确定。另外，它可通过将串音消除后主磁道的解调信号平均为每一检验电平(“+1”和“-1”)来确定。
图13和14表示使用在0交叉点的电平作为检测误差的方法的情形。图13是表示主磁道解调后的波形以及不包括串音的理想波形，以及图14是表示用于检测一误差的框图的概略视图。
如图13和14所示，该误差检测方法采用在串音消除后主磁道的解调信号中的0交叉点处的信号电平。
假若这样，由于参考电平终端是电平(0)，没有必要转换参考电平并且具有确定误差检测而不受信号的振幅的影响的优点。然而，在0交叉点处，有必要当主磁道的解调信号应当为0时采样一信号，因此采样开关ssw成为必要。例如，如图16所示，通过根据当将串音消除后的主磁道的解调信号电平转换成二进制码时的时间打开采样开关ssw，允许在0交叉点采样。
在该方法中，在0交叉点的采样值与参考电平，电平(0)进行比较，并如图12所示，上述差值被及时统一平均，从而确定该系数。
在图15和16中所示的方法是将串音消除后的主磁道的解调信号值分别与具有参考电平(电平(+1)、电平(-1)以及电平(0)的三个值)的0交叉点处的值进行比较作为检测一误差的方法。图17是表示主磁道解调后的波形与不包括串音的理想波形的视图以及图16是表示用于检测一误差的框图的概略视图。
该方法是通过将如图11和12中所示的方法与图13和14中所示的方法结合所产生的。使用的三个参考电平通过如图11和12所示的相同方法来确定。另外，通过如图13和14所示的相同方法能执行在0交叉点的检验。
通过将串音消除后的主磁道的解调信号电平平均为每一检验电平(“+1”、“0”、“-1”)来确定参考电平。另外，可通过将串音消除后主磁道的解调信号电平平均为每一检验电平(“+1”、“0”、“-1”)来确定。
由于在该方法中串音消除后主磁道的解调信号的误差相对于三个值(+1、-1以及0)被抽取，用于误差检测的采样的数量被增加，从而具有在系数控制方面降低噪音影响的优点。
应用到信息再现装置500或信息再现装置600的AGC电路或通过二维矢量检测多种信号的方法被应用到每一个参考图1至15所描述的信息再现装置，因此与在信息再现装置500和600中一样，上述问题能被解决。
如上所述，根据本发明的信息再现装置，基于通过串音抽取装置抽取的第二磁道的串音和第三磁道的串音间的平衡，第一检测装置的跟踪控制被执行。因此，即使径向镜头移动或径向倾斜发生，也能实现精确控制。

Claims (15)

1、一信息再现装置，用于读取光记录介质(DK)的信息，其特征在于，该装置包括：
一第一检测装置(152)，提供由用于读取第一磁道(MT)的信息的一对检测器光学地获得的各个输出信息间的差值；
一第二检测装置(151)，提供由用于读取与第一磁道相邻(MT)的第二磁道(ST1)的信息的一对检测器光学地获得的各种输出信息间的差值；
一第三检测装置(153)，提供由用于读取与第一磁道相邻(MT)的第三磁道(ST2)的信息的一对检测器光学地获得的各种输出信息间的差值，第三磁道(ST2)和第二磁道(ST1)位于第一磁道(MT)的对侧；
一串音抽取装置(205，206)，抽取由第二磁道(ST1)和第三磁道(ST2)引起的串音，该串音包含在由第一检测装置(152)提供的检测信号中；
一跟踪控制装置(TC3，TA3)，基于由第二磁道(ST1)引起的串音和第三磁道(ST2)引起的串音间的平衡，执行对第一检测装置(152)的跟踪控制。
2、如权利要求1所述的信息再现装置，其中
第一检测装置(152)、第二检测装置(151)以及第三检测装置(153)检测在光记录介质(DK)上形成的磁道的摆动。
3、如权利要求1或2所述的信息再现装置，其中该装置进一步包括：
一系数控制装置(205b，206b)，基于由串音抽取装置(205，206)抽取的串音，控制一系数；以及
一串音消除装置(211，212)，基于由系数控制装置(205，206)计算的系数，消除上述串音，
其中基于由系数控制装置(205b，206b)计算的系数间的平衡，跟踪控制装置(TC3，TA3)执行对第一检测装置(152)的跟踪控制。
4、如权利要求3所述的信息再现装置，其中
跟踪控制装置(TC3，TA3)执行跟踪控制以便使基于由第二磁道(ST1)引起的串音的系数和基于由第三磁道(ST2)引起的串音的系数间的差值为0。
5、如权利要求3所述的信息再现装置，其中该装置进一步包括：
一第一解调装置(202)，解调由第一检测装置(152)提供的检测信息；
一第二解调装置(201)，解调由第二检测装置(151)提供的检测信息；
一第三解调装置(203)，解调由第三检测装置(153)提供的检测信息；
其中
系数控制装置(205b，206b)，基于由通过第一解调装置(202)获得的解调信号所抽取的串音，控制该系数。
6、如权利要求5所述的信息再现装置，其中
第一解调装置(58)、第二解调装置(57)以及第三解调装置(59)通过使用具有不同相位的两个载波信号分别解调该检测信号。
7、如权利要求5所述的信息再现装置；其中该装置进一步包括：
一载波信息生成装置(86)，生成第一磁道(MT)的载波信号，该载波信号被提供给第二解调装置(201)和第三解调装置(203)；以及
一调相装置(217，218)，根据第一检测装置(152)、第二检测装置(151)和第三检测装置(153)的输出信号的相位，调整载波信号的相位。
8、如权利要求5所述的信息再现装置，其中
第一解调装置(202)、第二解调装置(201)以及第三解调装置(203)解调这些摆动，这些摆动是调相的。
9、如权利要求1-8中任何一个所述的信息再现装置，其中
该装置进一步包括一补偿装置(217、218)，补偿与在第一检测装置(152)、第二检测装置(151)以及第三检测装置(153)中读取信息的方向中的位移一致的时间，其中
跟踪控制装置(TC，TA)，在补偿装置(217、218)补偿由第一检测装置(152)、第二检测装置(151)以及第三检测装置(153)提供的信号的时间的条件下，基于由第二磁道(ST1)引起的串音和第三磁道(ST2)引起的串音间的平衡，执行对第一检测装置(152)的跟踪控制，以便彼此同相。
10、如权利要求9所述的信息再现装置，其中该装置进一步包括一串音平衡调整装置(51、53)，响应由第二检测装置(151)和第三检测装置(153)提供的检测信号(Ssub1，Ssub2)的信号振幅，调整第二磁道(ST1)引起的串音和由第三磁道(ST2)引起的串音间的平衡。
11、如权利要求10所述的信息再现装置，串音平衡调整装置(51，53)将第二检测装置(151)和第三检测装置(153)的输出信号(Ssub1，Ssub2)保持一恒定电平。
12、如权利要求10所述的信息再现装置，响应第二检测装置(151)和第三检测装置(153)提供的检测信号(Ssub1，Ssub2)的信号振幅，串音平衡调整装置(82，83)调整该平衡，在由串音抽取装置(78，79)抽取的串音的基础上，获得该平衡。
13、如权利要求10-12中任何一个所述的信息再现装置，串音平衡调整装置(51、53)调整通过解调由第二检测装置(151)和第三检测装置(153)提供的检测信号(Ssub1，Ssub2)获得的信号的基础上该平衡。
14、如权利要求9所述的信息再现装置，响应由第一检测装置(152)提供的检测信号的信号振幅，串音平衡调整装置(52)调整由串音抽取装置(61、62)抽取的串音值。
15、一光记录介质(DK)，其中通过使用信息记录方法记录、调制和摆动信息，在所述介质中能记录另外的信息，其中
通过用λ/NA规格化磁道间距所获得的值在0.625和0.690间，其中λ表示用于记录和再现的光学系统的波长，以及NA表示在该光学系统中物境(104)的光圈数。
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