JPH087278A

JPH087278A - 情報の記録再生方法およびその装置

Info

Publication number: JPH087278A
Application number: JP14286694A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Toda; 戸田　　剛; Takeshi Maeda; 武志前田; Fumio Kugiya; 文雄釘屋
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1994-06-24
Filing date: 1994-06-24
Publication date: 1996-01-12

Abstract

(57)【要約】（修正有）【目的】記録媒体に記録すべき記録マークの長さと幅
を高精度に制御し、情報の信頼性および記録容量の向上
を図る方法と装置を提供する。【構成】試し書きパターン発生回路１５と記録パルス
生成回路１１により記録パルス列を生成し、レーザドラ
イバ１０で記録媒体６に記録マークを記録する。記録媒
体５からの再生信号から試し書きパターン検出回路２３
において２種類からなる試し書きパターンを検出し、そ
の差（記録条件偏差信号）が０となるときの記録パワー
を最適記録パワーとし、さらに、記録パワーを固定して
サーボ状態を変化させて記録条件偏差信号が極大となる
サーボ状態を最適サーボ状態として正規の記録再生動作
をすることにより、記録感度変動などによる記録マーク
変動を抑圧する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、記録媒体上に記録再生
を行なう情報記録再生装置に係り、特に熱的記録による
記録マークの高精度な記録再生制御方法および予め記録
された情報を高精度に再生するその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の記録方式は、特開平３−２２２２
３号公報に記載のように、記録マークの記録符号列をパ
ルス化して記録符号列の長さに対応する一連のパルス列
を形成し、パルス列の長さ、振幅を記録符号列の直前に
ある記録符号列の逆相の長さに応じて制御し、パルス列
を３つの部分に分け、各パルスのパルス幅を変化させて
記録を行なう方式となっていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、記録
媒体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対する
記録感度変動が発生する点および、記録再生を行なう装
置の光スポット位置制御の変動による相対的な記録感度
変動が発生する点について考慮されておらず、高精度に
記録マークを制御できないために記録容量の低下を引き
起こす問題があった。さらに、予め記録されたマークに
対する装置の互換性を考慮しておらず、各装置による再
生時の誤動作を引き起こす問題があった。

【０００４】本発明の目的は、前記記録感度変動による
記録マークの変動を極力抑制し、高精度な記録マーク制
御をすることにある。

【０００５】本発明の他の目的は、記録再生装置と記録
媒体との相性を向上させるとともに、記録再生装置によ
る記録感度変動さらに記録パワー変動も抑圧することに
ある。

【０００６】本発明の他の目的は、予め記録された情報
を装置間のバラツキによる再生時の誤動作を極力防止す
るために光スポット位置制御の変動を抑圧することにあ
る。

【０００７】本発明の他の目的は、記録再生装置の信頼
性及び記憶容量や情報の転送レートを向上させることに
ある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、記録媒体と記録を行なう装置との適合性を向上させ
るために、あらかじめ記録媒体の所定の位置に試し書き
を行い、試し書きによって得られる再生信号から最適記
録パワーと最適サーボ状態を見つけだし、その後に正規
の情報の記録を開始するものである。

【０００９】また、試し書きデータならびに正規の情報
の入力データビット列を、記録を行う装置の変調方式に
対応する符号列にするとともに、前記符号列を記録媒体
に記録するためのデータ列を生成し、レーザ光源を駆動
して記録媒体に記録領域を形成することによって、正確
な記録を行なうものである。

【００１０】上記他の目的を達成するために、試し書き
データならびに正規の情報の入力データビット列の記録
マークに応じた記録パルス列と記録補助パルスを発生さ
せ、記録パルス列と記録補助パルスに対する２つの光強
度または、２つのエネルギーレベルを用いて記録媒体に
記録したものである。

【００１１】上記他の目的を達成するために、記録パル
ス列と記録補助パルスの光強度を変調することによっ
て、情報の重ね書きを可能とする記録媒体において、記
録パワーと消去パワーに適用させたものである。

【００１２】上記他の目的を達成するために、あらかじ
め記録媒体の所定の位置に試し書きを行い、試し書きに
よって得られる最適記録パワーに基づいて正規の情報の
記録を開始するにあたって、試し書きデータならびに正
規の情報の入力データビット列を、記録を行う装置の符
号列にするとともに、前記符号列を記録媒体に記録する
ためのデータ列を生成し、レーザ光源を駆動して記録媒
体に記録領域を形成する記録波形において、記録マーク
に応じた記録パルス列と記録補助パルスに対する光強度
またエネルギーレベルを制御するものである。

【００１３】また、予め記録された情報を装置間のバラ
ツキによる再生時の誤動作を極力防止するために光スポ
ット位置制御の変動を抑圧するために、最適再生状態を
実現するために、正規の情報再生の前に予め再生する試
し読みを行ない、予め記録されたマークと再生する装置
の適合性を向上させるものである。

【００１４】

【作用】試し書きは記録媒体と記録を行なう装置との適
合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定の
位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変動
等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変化に
よる記録媒体に対する記録感度変動等を検知するため
に、記録すべき厳しい記録マークを正規の情報の記録を
行なう前に記録媒体上に書き込む動作をする。さらに、
記録した試し書きデータから得られる再生信号から最適
記録パワーを見つけだすために、記録するための記録波
形の光強度またはエネルギーを変化させて記録動作を実
行する。また、記録を行なう装置の特性変化、特に、光
スポットの位置制御状態に応じて最適記録パワーが変化
する。この特性から最適な光スポットの位置制御を実現
し、それによって、常に記録媒体に対する最適な記録条
件を得ることが出来るので、上述した記録感度変動にと
もなう情報の記録誤動作がなくなるとともに信頼性のあ
る記録再生が出来る。

【００１５】さらに、正規の情報の記録直後またはある
周期での記録再生によって行なわれる試し書きを極力低
減するために、記録マークに応じた記録パルス列と記録
補助パルスを発生させ、記録パルス列と記録補助パルス
に対する２つの光強度または、２つのエネルギーレベル
を用いて記録媒体の温度をほぼ一定にして記録マークの
長さや幅を制御した記録である。

【００１６】また、試し読みは予め記録された情報に対
して、各装置の再生特性による再生誤動作を極力防止す
るために、正規の情報を再生する前に、試し読み領域に
て光スポットの位置制御状態を変化させて再生し、予め
記録された情報とその情報を読みだすための装置との適
合性を向上させ、最適な再生状態を常に実現することが
でき、再生時の誤動作を抑圧できる。

【００１７】

【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。図１は、
本発明の装置構成の一実施例を示す。情報記録再生装置
は、レーザ１を中心とする光ヘッドと情報を記憶させる
ための記録媒体６と記録パルス生成回路１１を中心とす
る記録処理系と光ヘッドから得られた再生信号を情報に
変換する再生回路２０を中心とした再生処理系から構成
される。記録媒体６は、記録膜とそれを保持する基板か
ら構成される。

【００１８】上位ホストからの命令や情報データはコン
トローラ１６において命令の解読や記録データの変調が
行われ、変調方式に対応する符号列に変換される。シン
セサイザ１４は装置全体の基準クロックを発生させる発
振器であり、大容量化の手法としてゾーンごとに基準ク
ロックを変えて内外周での記録密度を略一定とするＺＣ
ＡＶ（ＺｏｎｅｄＣｏｎｓｔａｎｔＡｎｇｕｌａｒ
Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）と呼ばれる記録方法を採用した場
合には、シンセサイザ１４の発振周波数もゾーンに応じ
て変えていく必要がある。

【００１９】試し書きは記録媒体と記録を行なう装置と
の適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所
定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚
変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変
化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知するた
めの試し書きパターンを正規の情報の記録を行なう前に
記録媒体上に書き込む動作をする。この試し書きパター
ンは変調方式に対応する符号列に変換されており、試し
書きパターン発生回路１５において生成する。コントロ
ーラ１６からの正規の情報データに応じて変調された符
号列と試し書きパターン発生回路１５からの符号列はセ
レクタ１２に入力され、コントローラ１６の制御信号に
より試し書き処理あるいは通常の記録処理に対応して切
り換えられる。セレクタ１２からの符号列は記録パルス
生成回路１１に入り、記録マークの長さや幅を制御する
ための記録パルス列に変換される。これら記録パルス列
はレーザドライバ１０に入力され、レーザドライバ１０
からの記録電流によりレーザ１を高出力発振させ、レー
ザ１から出た光はレンズ２で平行光となってプリズム３
を通り、レンズ４により記録媒体６上に収束して符号列
に応じた記録マークを記録する。高周波重畳回路１３は
レーザ１に起因するレーザ雑音を低減するために設けて
あり、記録／消去時にはレーザの寿命の関点から高周波
重畳を休止することもある。

【００２０】再生時はレーザ１を低出力発振させ、記録
媒体６に入射させる。また、プリズム３で反射された光
の一部は光検出器８に入射する。光検出器８の出力信号
はプリアンプ１７で増幅され、パワー監視回路１８に入
力される。再生時のレーザパワーを常に略一定に保ため
に、パワー監視回路１８から制御信号をレーザドライバ
１０に入力し、再生パワーが一定になるようにレーザ駆
動電流を制御する。記録媒体６からの反射光はプリズム
３で光路を分離して光検出器９に入射させる。光検出器
９の出力信号をプリアンプ１９で増幅し、再生回路２０
とサーボ回路２４に入力する。再生回路２０は波形等化
回路、自動利得制御回路、二値化回路などから構成され
ており、入力された再生信号を二値化信号とする。再生
回路２０からの二値化信号はセルフクロッキングのため
にＰＬＬ（ＰｈａｓｅＬｏｃｋｅｄＬｏｏｐ）回路
２１に入力される。ＰＬＬ２１で得られる、二値化信号
に同期した再生クロックと二値化信号はデータ弁別のた
めに弁別回路２２に入力され、その結果としてのデータ
弁別信号はコントローラ１６に入力され、データが復調
される。外部印加磁界を用いて情報の記録、再生、消去
を行う光磁気ディスク装置においては、外部磁場発生器
７を設けて記録／消去時に磁界の向きを切り換えて記録
／消去パワーを照射することにより実施する。また、再
生時は光検出器９の前に配置した波長板（図示せず）に
より反射光をｐ偏光、ｓ偏光に分離して光検出器（２分
割）９でそれぞれを差動することにより光磁気信号を得
ることができる。さらに、光検出器９の前に配置した円
柱レンズ（図示せず）と光検出器（４分割）９によりフ
ォーカス誤差信号及びトラック誤差信号を得ることがで
きる。

【００２１】試し書き処理時は再生回路２０の中からア
ナログ信号状態の再生信号を試し読み及び試し書きパタ
ーン検出回路２３に導く。試し書き処理時に使用する記
録パターンとして当該装置における最高周波数の最密パ
ターンと最低周波数の最疎パターンの組合せパターンを
用い、その再生信号において最密パターンの中心レベル
と最疎パターンの中心レベルを試し読み及び試し書きパ
ターン検出回路２３で検出して、その中心レベルの差を
コントローラ１６で検出し、その差が０となる時の記録
パワーが最適記録パワーと判定して正規の記録を実施す
る。この様に試し書きにより、常に最適パワーを設定す
ることで高精度な記録マークを記録することが可能とな
る。さらに、サーボ回路２４はプリアンプ１９からのフ
ォーカス誤差信号及びトラック誤差信号をもとにアクチ
ュエータ５を駆動し、光スポット位置制御を行なう。サ
ーボ（フォーカス及びトラッキング）を最適化するため
の試し書き処理では、コントローラ１６でサーボ回路２
４のフォーカス誤差信号及びトラック誤差信号を監視す
るとともに、記録パワーを固定したまま、フォーカス及
びトラック方向に電気的オフセットを印加し、光スポッ
トの位置を変化させる。記録パターン及び検出方法は、
上述と同様に行ない、最密、最疎パターン間のレベル差
が極大値となるサーボ状態を検出することによって、最
適な光スポット位置制御が可能となる。

【００２２】試し読み処理時も試し書き処理と同様に、
再生回路２０の中からアナログ信号状態の再生信号を試
し読み及び試し書きパターン検出回路２３に導く。記録
媒体６の中に予め設けられた試し読み領域からの再生信
号（最高周波数の最密パターンと最低周波数の最疎パタ
ーンの組合せパターン）において最密パターンの中心レ
ベルと最疎パターンの中心レベルを試し読み及び試し書
きパターン検出回路２３で検出して、その中心レベルの
差をコントローラ１６で検出し、その差が極大値となる
時のサーボ状態が最適サーボ状態と判定して正規の再生
を実施する。

【００２３】図２に本発明の記録媒体に関する一実施例
を説明する。記録媒体６は読み出し専用領域（ＲＯＭ領
域：ＲｅａｄＯｎｌｙＭｅｍｏｒｙ領域）と記録再
生領域（ＲＡＭ領域：ＲａｎｄｏｍＡｃｃｅｓｓＭ
ｅｍｏｒｙ領域）から構成され、ＲＯＭ領域３０には試
し読み領域３２、ＲＡＭ領域３１には試し書き領域３
３，３４が設けられている。試し書き領域はＲＡＭ領域
３１の中に少なくとも１つは設ける必要があり、複数個
設けることで周波数特性（記録パルスの立上り特性等）
を十分に保証することができる。

【００２４】次に、図３を用いて本発明の試し読み及び
試し書き処理手順のフローチャートの一動作例を説明す
る。装置の電源等を投入することで装置を稼働させる。
まず、記録媒体が装置に投入されているかを判断し、記
録媒体がなければそのまま待機状態とする。記録媒体が
装置にセットされていたならば、記録媒体を回転させ、
レーザを発光させる。次に、光スポットを制御するため
のサーボ（オートフォーカス：ＡＦ、トラッキング：Ｔ
Ｒ）を開始する。サーボは、装置の目標点（電気的に誤
差信号が抑圧される状態）に対して追従するため、実際
の記録再生消去等の動作に対しては最適状態とは限らな
い。投入された記録媒体と装置の適合性を確認するため
に、試し読み及び試し書きの動作を行なう。本発明にお
ける試し読みは、予め記録された情報を正確に再生する
ために、読み出す装置のサーボ状態を最適化するもので
ある。予め記録された情報とは、記録媒体作製時の凹凸
信号のみならず、下位互換として、ＲＡＭ領域の情報を
読み出す場合にも適用される。

【００２５】また、本発明における試し書きは、記録媒
体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対する記
録感度変動および、装置の状態変化（レーザ発光状態、
光スポット位置制御状態等）による相対的記録感度変動
等によって発生する記録マークの変動を極力低減するよ
うに記録パワーや記録パルスやＡＦ，ＴＲの電気的オフ
セット等を制御し、再生信号から記録条件偏差信号を検
出し最適な記録状態を設定する。まず、投入された記録
媒体に対する記録条件を決定するために、サーボ状態は
そのままとして記録パワーを順次変化させ、第１次最適
パワーを決定する。これにより最終最適パワーの近傍に
設定できる。第１次最適パワーを固定し、ＡＦの電気的
オフセットを順次変化させて記録し、再生時にはＡＦの
電気的オフセットを印加せず、記録条件偏差信号を検出
する。記録パワーを固定した状態において、ＡＦが最適
状態になると、記録媒体の記録温度が最も高く、記録マ
ークも大きくなる特性がある。この特性を記録条件偏差
信号とすることで最適なサーボ状態を決定することがで
きる。（サーボ状態が最適と判断された場合には、第１
次最適記録パワーを最終最適記録パワーとし試し書き終
了信号を出力する。）この最適なサーボ状態を実現した
後、再度、記録パワーを変化させる試し書きを実施し、
最終最適記録パワーを決定し、試し書き終了信号を出力
し装置の正規の動作（情報の記録再生消去）を開始させ
る。また、装置の正規の動作状態において、情報を正確
に記録再生できなくなった場合には、再度、上述の試し
書きを実施し最適な記録パワーを設定し直す。記録媒体
交換及び電源切断等がない場合には上述の最終最適記録
パワーを決定するパワー可変試し書きだけでも良い。ま
た、記録媒体交換及び電源切断等においては、上述した
試し書きを実施する。これによって、記録媒体や装置の
互換性を飛躍的に向上させることができるとともに、情
報の高密度化及び信頼性を向上させることができる。本
実施例におけるパワー固定試し書きでは、ＡＦについて
記載したが、ＡＦを最適化した後に、再度パワーを固定
し、ＴＲオフセットを変化させることでＴＲの最適化が
図ることができる。上述のように、ＲＯＭ領域のサーボ
状態とＲＡＭ領域のサーボ状態の２種類のサーボ状態を
コントローラ１６に記憶させて、各領域に応じてサーボ
状態を変化させて情報の記録再生を実施させる。

【００２６】図４に、本発明の記録媒体上に記録する記
録方式の一実施例を示す。ここでは変調方式として
（１，７）ＲＬＬコードを採用した場合について説明す
る。図１で説明したコントローラ１６からの正規の情報
データに応じて変調された符号列と試し書きパターン発
生回路１５からの符号列で、セレクタ１２からの出力が
記録符号列である。この記録符号列は、（１，７）ＲＬ
Ｌコードの場合２Ｔ_W〜８Ｔ_Wの７通りあり、マークエッ
ジ記録のために変調コードの”１”で極性を反転するＮ
ＲＺＩ（ＮｏｎＲｅｔｕｒｎＴｏＺｅｒｏＩｎ
ｖｅｒｓｅ）信号となっている。ここでＴ_Wは窓幅を表
わし、シンセサイザ１４で発振する基準クロック周期は
Ｔ_Wに等しい。５インチ光ディスクを回転数３０００ｒ
ｐｍで記録再生する場合、記録ピット長を０．７５μｍ
とすれば（１，７）ＲＬＬコードでは内周２ＭＢ／ｓ、
外周４ＭＢ／ｓの転送速度を実現することができ、この
時のＴ_Wは内周で４０ｎｓ、外周で２０ｎｓの時間とな
る。記録パルス生成回路１１によって、記録符号列のパ
ルス部に対応した記録パルス列を発生させる。記録パル
ス列は、先頭パルスと２番目以降のパルスの長さが異な
り、先頭パルスは最短パルス幅２Ｔ_Wに対して３／２Ｔ_W
のパルス幅と、１／２Ｔ_W分短くする。３Ｔ_W以降のパル
ス幅は先頭パルス３／２Ｔ_Wと２番目以降のパルス幅１
／２Ｔ_Wとギャップ幅１／２Ｔ_Wの組合せ（基準クロック
波形と同じ）を加算していくことにより得られる。これ
らのパルスは基準クロックに同期して発生させる。これ
により、パルス幅およびパルス間隔の制御が向上する。

【００２７】図５に記録マーク形状、記録波形および制
御信号を示す。記録波形は記録パルス列とギャップの組
合せにより構成され、記録パルス列Ａ，Ｃの後縁には記
録パルス列Ｂによって時間幅の休止期間を設ける。記録
パルス列Ｂは、記録符号列の立ち下がり位置からある時
間幅（例えばＴ_W）のギャップ部を設けることによっ
て、記録パルス列最終立ち下がり位置からの熱が次の記
録パルス列の先頭立ち上がり位置の温度をほとんど変化
させないようにする。レーザパワーは５つのパワーレベ
ルに設定されている。再生時の再生パワーＰｒ、記録時
に高周波重畳を休止するために再生パワーが変調度分低
下した時の再生パワーＰｒ’、記録パルス列Ｂによる記
録パワーがＰａ、記録パルス列Ａによる記録パワーがＰ
ｗ１、記録パルス列Ｂ（２番目以降の後方パルス）によ
る記録パワーがＰｗ２である。再生時においては、パワ
ー監視回路１８によって再生パワーの変動を監視し、レ
ーザ１にフィードバックして再生時の再生パワーＰｒは
一定に保たれる。この記録波形では先頭パルス（３／２
Ｔｗパルス）のパワーを後方パルス（１／２Ｔｗパル
ス）のパワーより低く設定している。こうすることによ
り、先頭パルスによる記録マーク幅と後方パルスによる
記録マーク幅を等しくし、記録マーク長も高精度に制御
することができる。これは先頭パルスによる記録媒体上
の温度と後方パルスによる温度を一定にすることにほか
ならず、記録マーク幅が一定となるので記録媒体を再生
して得られるデータ部の再生信号振幅を一定とすること
ができる。再生信号の中心またはあるレベルで直接スラ
イスすることによって、二値化信号を生成することがで
きる。また、この記録パルス列と記録補助パルスの組合
せを用いて、特開昭６２−１７５９４８記載の交換結合
膜による重ね書き可能な光磁気ディスクにおいて記録パ
ルス列Ｂによる記録パワーＰａを消去パワーに、記録パ
ルス列Ａ，ＣによるパワーＰｗ１，Ｐｗ２を記録パワー
とすることにより重ね書きが実現できる。

【００２８】図６に試し書きパターン検出の一実施例に
ついて示す。試し書きパターンとして当該装置での最高
周波数である最密パターン（（１，７）ＲＬＬコードの
場合、２Ｔ_W）と最低周波数である最疎パターン（８
Ｔ_W）の繰り返しパターンを使用する。マークエッジ記
録の場合、記録マークの時間軸制御が重要であり、最密
パターンと最疎パターンの再生信号の中心レベルが等し
いときに各パターンの時間軸が制御されたことになり、
この時の記録パワーを最適パワーとする。このように本
実施例では時間軸変動を振幅レベル変動で検出すること
になる。上述した試し書きパターンをある条件で記録し
再生した再生信号を図６（ａ）に示す。図１の試し読み
及び試し書きパターン検出回路２３において、再生信号
の中から最密パターンの中心レベル（Ｖ₁）と最疎パタ
ーンの中心レベル（Ｖ₂）を検出し、その電圧差ΔＶ＝
Ｖ₁−Ｖ₂を求める。最密パターンの中心レベルＶ₁を検
出するタイミングは、サンプルパルス１によって決定さ
れ、最疎パターンの中心レベルＶ₂を検出するタイミン
グは、サンプルパルス２によって決まる。ΔＶは記録条
件偏差信号としてコントローラ１６に入力され、ΔＶ＝
０となる記録条件を見つけだす。パワー可変試し書き及
びパワー固定試し書きの検出例をそれぞれ図６の
（ｃ），（ｄ）に示す。パワー可変試し書き検出例で
は、記録パワーをＰ１からＰ９まで順次上昇させる。再
生時に各記録パワーに応じたΔＶを上述のように求める
ことができる。コントローラ１６によってΔＶ≒０とな
る記録パワーＰ５が最適記録パワーとして決定される。
次に、サーボ状態を最適化するためのパワー固定試し書
き検出例を説明する。図６（ｃ）によって決定された記
録パワー（Ｐ５）を固定したまま、サーボ状態を変化さ
せて記録し再生することによってΔＶを検出することが
できる。本実施例では、ＡＦオフセットをＶ１からＶ９
まで変化させる。この時装置上の電気的オフセットが無
い状態をＶ５としている。光スポットが最も絞り込まれ
た状態がレーザ光のエネルギを有効に記録媒体に流入さ
せることから、記録パワーを固定していても、ΔＶが極
大値を持つのでこの極大値をコントローラ１６によって
判断することによってサーボ状態を最適化できる。この
場合ＡＦオフセットＶ６がコントローラ１６によって選
択される。次に、コントローラ１６はサーボ回路２４に
ＡＦオフセットがＶ６になるように指令し、サーボ回路
２４はアクチュエータ５を駆動する。この状態で再度パ
ワー可変試し書きを行ない、上述のように記録パワーを
決定し、最終最適記録パワーとする。このような試し書
きを実施することによって、最適記録パワー及び最適サ
ーボ状態を実現することができる。

【００２９】図７に試し読み及び試し書きパターン検出
回路２３の一実施例を示す。ここでは再生回路２０から
の再生信号に対して低域通過フィルタを設け、これによ
り再生信号の平均レベルを検出し、その後は２個のサン
プルホールド回路によってそれぞれのパターンに対する
平均レベルとしてＶ₁、Ｖ₂を検出し、さらに差動増幅器
によりΔＶ（記録条件偏差信号）をコントローラ１６へ
入力する。

【００３０】図８に試し書きの実測例を示す。図８
（ａ）、（ｂ）はそれぞれ図６（ｃ）、（ｄ）に対応す
る実測である。実験条件を以下に示す。

【００３１】１．レーザ波長：７８０ｎｍ２．開口数：０．５５３．記録媒体：光磁気ディスク４．回転数：３０００ｒｐｍ５．線速度：９．４ｍ／ｓ６．検出窓幅：４０ｎｓ上記条件下において、記録パワーを変化させて図６
（ａ）に示したΔＶを測定したところ、図８（ａ）に示
すデータが得られた。パワー変化量０％が最適なパワー
であったのでここでパワーを規格化した。この時の記録
パワーは、Ｐａ＝３．５１ｍＷ，Ｐｗ１＝５．５１ｍ
Ｗ，Ｐｗ２＝５．７１ｍＷであった。パワー変化量−２
０％付近でΔＶ≒０であるが、このパワーは記録開始さ
れ始めた状態であり、最適なパワーではなかった。コン
トローラ１６がΔＶ≒０を判断するときは、ΔＶが負の
値から正の値に変化するパワー値を検出することで誤動
作を防止できる。次に、図８（ａ）で検出した記録パ
ワー(Pa=3.51mW,Pw1=5.51mW,Pw2=5.71mW)を用いてＡＦ
オフセットを変化させた結果を図８（ｂ）に示す。この
実験に用いた装置おけるＡＦオフセット量０μｍでのΔ
Ｖは、極大値にならず、約0.4μｍのＡＦオフセット量
で極大値を得た。したがって、サーボの最適状態は、Ａ
Ｆオフセット量0.4μｍを印加した場合であることがわ
かった。このサーボ状態を実現して再度パワー可変試し
書きを行なった結果（図示せず）、記録パワーを約４％
低く設定することでΔＶ≒０を実現した。

【００３２】次に、図９に試し読みによるパターン検出
の一実施例について示す。図６で説明した試し書きパタ
ーン検出とほぼ同様に動作する。ただし、図９（ａ）の
再生信号は記録媒体６に予め記録された信号である。図
９（ｂ），（ｃ）は図６（ｂ），（ｄ）と同じように動
作する。本実施例では、ＡＦオフセットＶ４が極大値と
なり、最適再生サーボ状態を検出することができる。

【００３３】

【発明の効果】本発明によれば、記録媒体の膜厚変動や
環境温度変動による記録媒体に対する記録感度変動およ
び記録再生装置による記録感度変動も抑圧し、記録再生
装置と記録媒体との適合性を向上させるとともに、高精
度に記録マークを制御できるとともに、再生時の装置間
バラツキによる読み出し誤動作を極力低減できるので、
記録再生装置の信頼性および記録容量や情報の転送レー
トを向上させる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を説明するためのブロッ
ク図。

【図２】本発明の記録媒体に関する一例の斜視図。

【図３】試し書き処理手順の一例のフローチャート。

【図４】使用する記録符号列、記録パルス列の波形図。

【図５】記録マーク形状と記録波形の説明図。

【図６】パワー可変および固定試し書きにおける検出例
の線図。

【図７】試し書きパターン中心レベル検出回路の第１の
実施例のブロック図。

【図８】パワー可変および固定試し書きの実測例のグラ
フ図。

【図９】試し読みにおける検出例の線図。

【符号の説明】

１０…レーザドライバ、１１…記録パルス生成回路、１
５…試し書きパターン発生回路、１６…コントローラ、
２０…再生回路、２１…ＰＬＬ、２２…弁別回路、２３
…試し書きパターン検出回路、２４…サーボ回路、３０
…ＲＯＭ領域、３１…ＲＡＭ領域、３２…試し読み領
域、３３，３４…試し書き領域。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】記録媒体と記録を行なう装置との適合性を
向上させるために記録媒体の所定の位置に試し書きデー
タを記録し、記録された試し書きデータの再生信号から
得られる最適記録パワーおよび最適サーボ状態の情報を
もとに記録媒体に正規の情報の記録を開始し、光源から
の光で記録媒体の所定の領域に光スポットを照射し、記
録媒体上に未記録部分とは物理的に異なる記録領域を形
成することにより情報の記録を行い、予め記録された情
報とそれを再生する装置の適合性を向上させるために記
録再生媒体の所定の位置に記録された情報を試し読み
し、最適再生状態を実現する記録再生方法において、記
録パワーを変化させて試し書きを行なうパワー可変試し
書き方式と、記録パワーを固定してサーボ状態を変化さ
せて試し書きを行なうパワー固定試し書き方式を順次行
なうことによって、記録媒体の記録感度変動と記録を行
なう装置による相対的記録感度変動を除去することおよ
び、試し読み方式により予め記録された情報を高精度に
再生することを特徴とする情報の記録再生方法。
【請求項２】前記２種類の試し書きにおいて、第１にパ
ワー可変試し書きを実施し、第２にパワー固定試し書き
を実施することを特徴とする請求項１記載の情報の記録
再生方法。
【請求項３】前記第２のパワー固定試し書きを実施した
後、サーボ状態が最適でないと判断された場合、サーボ
状態を最適化して第３のパワー可変試し書きを実施する
ことを特徴とする請求項２記載の情報の記録再生方法。
【請求項４】少なくともレーザー光と外部印加磁界とを
用いて記録、再生、或いは消去を行う光記録において、
記録パルスとしてレーザー光を不連続でかつ微小なパル
スから構成されたものを記録媒体に照射して記録するこ
とにより記録媒体内を拡散する熱の流れを制御し、少な
くとも２種類以上のパワーレベルから構成され、形成さ
れる磁区の幅と長さを制御したことを特徴とする情報の
記録再生方法。
【請求項５】前記少なくとも２種類以上のパワーレベル
でパワー可変試し書きを行なう場合、複数のパワーレベ
ルをほぼ同時に変化させることを特徴とする請求項４記
載の情報の記録再生方法。
【請求項６】前記パワー可変試し書き方式において、少
なくとも２種類以上のある特定記録パターン間の偏差信
号がほぼ０になるように記録パワーを設定することを特
徴とする請求項１記載の情報の記録再生方法。
【請求項７】前記パワー固定試し書き方式において、少
なくとも２種類以上のある特定記録パターン間の偏差信
号が極大になるサーボ状態を最適サーボ状態と判断し設
定することを特徴とする請求項１記載の情報の記録再生
方法。
【請求項８】前記試し書きおよび試し読み方式を実施す
る記録媒体において、再生専用領域と記録再生領域の少
なくとも２種類以上の記録、再生領域を持つことを特徴
とする請求項１記載の情報の記録再生方法。
【請求項９】前記試し書きおよび試し読み方式におい
て、少なくとも２種類の再生専用領域と記録再生領域で
の最適サーボ状態を可変できることを特徴とする請求項
１記載の情報の記録再生方法。
【請求項１０】前記試し読み方式において、少なくとも
２種類以上のある特定パターンを予め記録しておき、そ
のパターン間の偏差信号が極大になるサーボ状態を最適
サーボ状態と判断し設定することを特徴とする請求項１
記載の情報の記録再生方法。
【請求項１１】光源からの光で記録媒体の所定の領域に
光スポットを照射して、記録媒体上に未記録部分とは物
理的に異なる記録領域を形成することにより情報の記録
を行なう情報記憶装置において、記録媒体の所定の位置
に試し書きデータを記録する試し書き手段、記録された
試し書きデータの再生信号から最適記録パワーおよび最
適サーボ状態の制御情報を得る手段、該制御情報をもと
に記録媒体に正規の情報の記録を開始する手段、予め記
録された情報とそれを再生する装置の適合性を向上させ
るために記録再生媒体の所定の位置に記録された情報を
試し読みし、最適再生状態を制御する手段を有し、上記
試し書き手段は記録パワーを変化させて試し書きを行な
うパワー可変試し書き方式と、記録パワーを固定してサ
ーボ状態を変化させて試し書きを行なうパワー固定試し
書き方式を切り換える手段を備え、記録媒体の記録感度
変動と記録を行なう装置による相対的記録感度変動を除
去することおよび、試し読み方式により予め記録された
情報を高精度に再生することを特徴とする情報記録再生
装置。