JPH06325476A - デイスク装置 - Google Patents
デイスク装置Info
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- JPH06325476A JPH06325476A JP5136743A JP13674393A JPH06325476A JP H06325476 A JPH06325476 A JP H06325476A JP 5136743 A JP5136743 A JP 5136743A JP 13674393 A JP13674393 A JP 13674393A JP H06325476 A JPH06325476 A JP H06325476A
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- recording
- disk device
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10595—Control of operating function
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、光磁気デイスク装置等のデイスク装
置に関し、リトライの処理時間を短縮する。 【構成】本発明は、動作状況を表すステータス情報ＩＤ
Ｓ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴを動作異状のタイミングで
ラツチし、そのラツチしたステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ
０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴに基づいて、記録動作を再び繰り返
す。
置に関し、リトライの処理時間を短縮する。 【構成】本発明は、動作状況を表すステータス情報ＩＤ
Ｓ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴを動作異状のタイミングで
ラツチし、そのラツチしたステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ
０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴに基づいて、記録動作を再び繰り返
す。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図１〜図５） 作用（図１〜図５） 実施例 （１）実施例の構成（図１〜図５） （２）実施例の効果 （３）他の実施例 発明の効果
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明はデイスク装置に関し、例
えば光磁気デイスク装置に適用し得る。
えば光磁気デイスク装置に適用し得る。
【０００３】
【従来の技術】従来、この種の光磁気デイスク装置にお
いては、光磁気デイスクをアクセスする場合、トラツキ
ングエラー等の異常をモニタすることにより、必要に応
じてライトリトライ等の処理を繰り返すようになされて
いる。
いては、光磁気デイスクをアクセスする場合、トラツキ
ングエラー等の異常をモニタすることにより、必要に応
じてライトリトライ等の処理を繰り返すようになされて
いる。
【０００４】すなわちこの種の光磁気デイスク装置にお
いては、ホストコンピユータからライトコマンドが発行
されると、データを記録する領域を消去処理した後、続
いてホストコンピユータから出力される記録データをこ
の消去した領域に順次熱磁気記録する。このとき光磁気
デイスク装置は、トラツキングエラー信号、フオーカス
エラー信号等をモニタすることにより、消去処理及び記
録処理中の異状の有無を検出し、ここで異状が検出され
ると、改めて消去処理及び記録処理を繰り返す。
いては、ホストコンピユータからライトコマンドが発行
されると、データを記録する領域を消去処理した後、続
いてホストコンピユータから出力される記録データをこ
の消去した領域に順次熱磁気記録する。このとき光磁気
デイスク装置は、トラツキングエラー信号、フオーカス
エラー信号等をモニタすることにより、消去処理及び記
録処理中の異状の有無を検出し、ここで異状が検出され
ると、改めて消去処理及び記録処理を繰り返す。
【０００５】これによりこの種の光磁気デイスク装置に
おいては、貴重なデータを損なうことなく確実に記録再
生し得るようになされている。
おいては、貴重なデータを損なうことなく確実に記録再
生し得るようになされている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのようにし
てライトリトライする場合、例えば途中まで正常に消去
処理して残り僅かな位置で異状が発生する場合もある。
この場合改めて始めから消去処理を繰り返すと、消去処
理を無駄に繰り返すことなる。このような無駄な時間を
短縮することができれば、光磁気デイスク装置のアクセ
ス時間を短くし得、光磁気デイスク装置の使い勝手を向
上し得ると考えられる。
てライトリトライする場合、例えば途中まで正常に消去
処理して残り僅かな位置で異状が発生する場合もある。
この場合改めて始めから消去処理を繰り返すと、消去処
理を無駄に繰り返すことなる。このような無駄な時間を
短縮することができれば、光磁気デイスク装置のアクセ
ス時間を短くし得、光磁気デイスク装置の使い勝手を向
上し得ると考えられる。
【０００７】ところが従来の光磁気デイスク装置は、異
状が検出された場合に実行中の処理を最優先して中断す
る必要があることにより、異状が検出されるとシステム
制御回路に割り込みをかけて実行中の処理を中断するよ
うになされており、異状の発生したタイミングを検出す
るのに時間遅れを避け得ない特徴がある。また消去中、
消去動作から記録動作に移る途中等、実行中の処理に応
じて、この時間遅れが変化する特徴があり、従来の光磁
気デイスク装置においては、このため何れの処理時点で
異状が発生したか、正しく判断し得ない特徴があつた。
状が検出された場合に実行中の処理を最優先して中断す
る必要があることにより、異状が検出されるとシステム
制御回路に割り込みをかけて実行中の処理を中断するよ
うになされており、異状の発生したタイミングを検出す
るのに時間遅れを避け得ない特徴がある。また消去中、
消去動作から記録動作に移る途中等、実行中の処理に応
じて、この時間遅れが変化する特徴があり、従来の光磁
気デイスク装置においては、このため何れの処理時点で
異状が発生したか、正しく判断し得ない特徴があつた。
【０００８】このため従来の光磁気デイスク装置におい
ては、結局、無駄にライトリトライ処理を繰り返さざる
を得ない問題があつた。
ては、結局、無駄にライトリトライ処理を繰り返さざる
を得ない問題があつた。
【０００９】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、この種の処理時間を短縮することができる光磁気デ
イスク装置を提案しようとするものである。
で、この種の処理時間を短縮することができる光磁気デ
イスク装置を提案しようとするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、デイスク状記録媒体２に所望のデ
ータを記録再生するデイスク装置１において、動作状況
を表すステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴ
を発生するステータス情報発生手段２０と、動作異状を
検出して異状検出信号ＦＬＴを出力する異状検出手段
７、９、１４と、異状検出信号ＦＬＴ（ＬＡＴ）を基準
にしてステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴ
をラツチするラツチ手段１８と、異状検出信号ＦＬＴに
基づいて、動作異状が検出されると、記録動作を中止し
た後、ラツチ手段１８にラツチしたステータス情報ＩＤ
Ｓ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴに基づいて、記録動作を再
び繰り返す制御手段６、１０とを備えるようにする。
め本発明においては、デイスク状記録媒体２に所望のデ
ータを記録再生するデイスク装置１において、動作状況
を表すステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴ
を発生するステータス情報発生手段２０と、動作異状を
検出して異状検出信号ＦＬＴを出力する異状検出手段
７、９、１４と、異状検出信号ＦＬＴ（ＬＡＴ）を基準
にしてステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴ
をラツチするラツチ手段１８と、異状検出信号ＦＬＴに
基づいて、動作異状が検出されると、記録動作を中止し
た後、ラツチ手段１８にラツチしたステータス情報ＩＤ
Ｓ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴに基づいて、記録動作を再
び繰り返す制御手段６、１０とを備えるようにする。
【００１１】さらに第２の発明において、ステータス情
報ＩＤＳ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴは、記録、再生、消
去位置を表すトラツクナンバ、セクタナンバ、セクタ中
の位置情報で形成される。
報ＩＤＳ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴは、記録、再生、消
去位置を表すトラツクナンバ、セクタナンバ、セクタ中
の位置情報で形成される。
【００１２】さらに第３の発明において、制御手段６、
１０は、記録動作を再び繰り返す際、ラツチ手段１８に
ラツチしたステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴ
ＳＴに基づいて、消去作業の必要性を判断し、該判断結
果に基づいて消去作業を実行して記録動作を再び繰り返
し、又は消去作業を省略して記録動作を再び繰り返す。
１０は、記録動作を再び繰り返す際、ラツチ手段１８に
ラツチしたステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴ
ＳＴに基づいて、消去作業の必要性を判断し、該判断結
果に基づいて消去作業を実行して記録動作を再び繰り返
し、又は消去作業を省略して記録動作を再び繰り返す。
【００１３】
【作用】動作状況を表すステータス情報ＩＤＳ、ＩＤ０
ＳＴ〜ＤＡＴＳＴを異状検出信号ＦＬＴ（ＬＡＴ）を基
準にしてラツチし、このラツチしたステータス情報ＩＤ
Ｓ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴに基づいて、記録動作を再
び繰り返せば、必要に応じて異状の発生した箇所から処
理を再開し得、これによりリトライに要する時間を短縮
することができる。
ＳＴ〜ＤＡＴＳＴを異状検出信号ＦＬＴ（ＬＡＴ）を基
準にしてラツチし、このラツチしたステータス情報ＩＤ
Ｓ、ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴに基づいて、記録動作を再
び繰り返せば、必要に応じて異状の発生した箇所から処
理を再開し得、これによりリトライに要する時間を短縮
することができる。
【００１４】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【００１５】（１）実施例の構成 図１において、１は全体として光磁気デイスク装置を示
し、光磁気デイスク２に種々のデータを熱磁気記録し、
さらにこの記録したデータを再生する。すなわち光磁気
デイスク装置１は、サーボ系制御回路３でスピンドルモ
ータ４を回転駆動することにより、光磁気デイスク２を
所定に回転速度で回転駆動する。
し、光磁気デイスク２に種々のデータを熱磁気記録し、
さらにこの記録したデータを再生する。すなわち光磁気
デイスク装置１は、サーボ系制御回路３でスピンドルモ
ータ４を回転駆動することにより、光磁気デイスク２を
所定に回転速度で回転駆動する。
【００１６】さらにサーボ系制御回路３は、データ処理
回路６から出力される制御コードに基づいて、光磁気デ
イスク２の所定位置に光ピツクアツプ５をシークさせる
と共に、光ピツクアツプ５を介して得られるトラツキン
グエラー信号及びフオーカスエラー信号を基準にして光
ピツクアツプ５をトラツキング制御及びフオーカス制御
する。このサーボ系制御回路３は、異状検出回路７を有
し、この異状検出回路７は、トラツキングエラー信号及
びフオーカスエラー信号をモニタしてトラツクジヤン
プ、オフトラツク、デフオーカス等の異状が検出される
と、エラー信号ＦＬＴを出力する。
回路６から出力される制御コードに基づいて、光磁気デ
イスク２の所定位置に光ピツクアツプ５をシークさせる
と共に、光ピツクアツプ５を介して得られるトラツキン
グエラー信号及びフオーカスエラー信号を基準にして光
ピツクアツプ５をトラツキング制御及びフオーカス制御
する。このサーボ系制御回路３は、異状検出回路７を有
し、この異状検出回路７は、トラツキングエラー信号及
びフオーカスエラー信号をモニタしてトラツクジヤン
プ、オフトラツク、デフオーカス等の異状が検出される
と、エラー信号ＦＬＴを出力する。
【００１７】レーザーパワー制御回路８は、データ処理
回路６から出力される制御コードに基づいて、光ピツク
アツプ５に内蔵されたレーザーダイオードの光量を制御
するようになされ、これにより再生時、消去時、記録時
で光磁気デイスク２に照射する光ビームの光量を切り換
え、またそれぞれ再生時、消去時、記録時でこの光ビー
ムを照射するタイミングを切り換える。このレーザーパ
ワー制御回路８は、異状検出回路９を有し、この異状検
出回路９は、レーザーダイオードの光量をモニタするこ
とにより、この光量が所定の規定値以上に変動すると、
エラー信号ＦＬＴを出力する。
回路６から出力される制御コードに基づいて、光ピツク
アツプ５に内蔵されたレーザーダイオードの光量を制御
するようになされ、これにより再生時、消去時、記録時
で光磁気デイスク２に照射する光ビームの光量を切り換
え、またそれぞれ再生時、消去時、記録時でこの光ビー
ムを照射するタイミングを切り換える。このレーザーパ
ワー制御回路８は、異状検出回路９を有し、この異状検
出回路９は、レーザーダイオードの光量をモニタするこ
とにより、この光量が所定の規定値以上に変動すると、
エラー信号ＦＬＴを出力する。
【００１８】さらに記録時、消去時にエラー信号ＦＬＴ
が出力されると、レーザーパワー制御回路８は、レーザ
ーダイオードの光量を即座に再生時の光量に切り換える
ようになされ、これにより例えばオフトラツクした場合
等において、貴重なデータを誤つて消去しないようにな
されている。
が出力されると、レーザーパワー制御回路８は、レーザ
ーダイオードの光量を即座に再生時の光量に切り換える
ようになされ、これにより例えばオフトラツクした場合
等において、貴重なデータを誤つて消去しないようにな
されている。
【００１９】外部磁界制御回路１２は、光磁気デイスク
２を間に挟んで光ピツクアツプ５と対向するように保持
された磁気ヘツド１３を駆動し、これにより消去時、所
定極性の消去用磁界を光磁気デイスク２に印加するのに
対し、記録時、データ処理回路６から出力される記録デ
ータに応じて変調磁界を形成する。
２を間に挟んで光ピツクアツプ５と対向するように保持
された磁気ヘツド１３を駆動し、これにより消去時、所
定極性の消去用磁界を光磁気デイスク２に印加するのに
対し、記録時、データ処理回路６から出力される記録デ
ータに応じて変調磁界を形成する。
【００２０】これにより光磁気デイスク装置１は、熱磁
気記録の手法を適用して所望のデータを記録し得るよう
になされている。これに対して再生時、光磁気デイスク
装置１は、光ピツクアツプ５から出力される反射光の受
光結果を所定の信号処理回路で処理するようになされ、
このとき光ピツクアツプ５でカー効果を利用して反射光
を受光することにより、記録データを再生し得るように
なされている。
気記録の手法を適用して所望のデータを記録し得るよう
になされている。これに対して再生時、光磁気デイスク
装置１は、光ピツクアツプ５から出力される反射光の受
光結果を所定の信号処理回路で処理するようになされ、
このとき光ピツクアツプ５でカー効果を利用して反射光
を受光することにより、記録データを再生し得るように
なされている。
【００２１】この外部磁界制御回路１２は、異状検出回
路１４を有し、この異状検出回路１４は、例えば磁気ヘ
ツド１３を駆動し得なくなつた場合等の異状を検出して
エラー信号ＦＬＴを出力する。
路１４を有し、この異状検出回路１４は、例えば磁気ヘ
ツド１３を駆動し得なくなつた場合等の異状を検出して
エラー信号ＦＬＴを出力する。
【００２２】データ処理回路６は、記録時、ホストコン
ピユータから出力されるデータを光磁気デイスク２の記
録に適した変調方式で変調して外部磁界制御回路１２に
出力し、これにより光磁気デイスク装置１は、このデー
タに対応した変調磁界を形成してホストコンピユータの
出力データを光磁気デイスク２に記録する。このときデ
ータ処理回路６は、光ピツクアツプ５の出力信号を再生
してセクタＩＤ等を検出すると共に、システムコントロ
ーラ１０から出力される制御コードに対応してサーボ系
制御回路３、レーザーパワー制御回路８を制御し、これ
により所定の記録位置にこのデータを熱磁気記録する。
ピユータから出力されるデータを光磁気デイスク２の記
録に適した変調方式で変調して外部磁界制御回路１２に
出力し、これにより光磁気デイスク装置１は、このデー
タに対応した変調磁界を形成してホストコンピユータの
出力データを光磁気デイスク２に記録する。このときデ
ータ処理回路６は、光ピツクアツプ５の出力信号を再生
してセクタＩＤ等を検出すると共に、システムコントロ
ーラ１０から出力される制御コードに対応してサーボ系
制御回路３、レーザーパワー制御回路８を制御し、これ
により所定の記録位置にこのデータを熱磁気記録する。
【００２３】さらにこの記録に先立ち、データ処理回路
６は、サーボ系制御回路３、レーザーパワー制御回路
８、外部磁界制御回路１２を制御し、これによりデータ
の記録領域を予め消去する。これに対して再生時、デー
タ処理回路６は、反射光の受光結果でなる再生信号を光
ピツクアツプ５から入力し、この再生信号を増幅して処
理することにより、光磁気デイスク２から記録データを
再生する。このときデータ処理回路６は、サーボ系制御
回路３、レーザーパワー制御回路８を制御し、これによ
りホストコンピユータの要求に応じた所定のデータを再
生し得るようになされている。
６は、サーボ系制御回路３、レーザーパワー制御回路
８、外部磁界制御回路１２を制御し、これによりデータ
の記録領域を予め消去する。これに対して再生時、デー
タ処理回路６は、反射光の受光結果でなる再生信号を光
ピツクアツプ５から入力し、この再生信号を増幅して処
理することにより、光磁気デイスク２から記録データを
再生する。このときデータ処理回路６は、サーボ系制御
回路３、レーザーパワー制御回路８を制御し、これによ
りホストコンピユータの要求に応じた所定のデータを再
生し得るようになされている。
【００２４】この一連の再生、消去、記録の動作を実行
するために、システムコントローラ１０は、ホストコン
ピユータから出力される制御コマンドを命令解析部１６
で解析し、その結果得られる解析結果に基づいて、デー
タ処理制御ブロツク１７を介してデータ処理回路６に制
御コードを発行し、これにより全体の動作モードを切り
換え、さらに処理対象のＩＤ、処理開始のトリガ等を設
定する。さらにシステムコントローラ１０は、エラー信
号ＦＬＴが立ち上がつて再生、消去、記録動作が中断す
ると、データ処理回路６に制御コードを出力し、これに
より所定のリトライ動作を実行する。これにより光磁気
デイスク装置１は、例えば記録再生時、トラツクジヤン
プした場合等でも、確実に所望のデータを記録再生し得
るようになされている。
するために、システムコントローラ１０は、ホストコン
ピユータから出力される制御コマンドを命令解析部１６
で解析し、その結果得られる解析結果に基づいて、デー
タ処理制御ブロツク１７を介してデータ処理回路６に制
御コードを発行し、これにより全体の動作モードを切り
換え、さらに処理対象のＩＤ、処理開始のトリガ等を設
定する。さらにシステムコントローラ１０は、エラー信
号ＦＬＴが立ち上がつて再生、消去、記録動作が中断す
ると、データ処理回路６に制御コードを出力し、これに
より所定のリトライ動作を実行する。これにより光磁気
デイスク装置１は、例えば記録再生時、トラツクジヤン
プした場合等でも、確実に所望のデータを記録再生し得
るようになされている。
【００２５】このときシステムコントローラ１０は、ラ
ツチ回路１８にラツチしたステータス情報を基準にして
リトライ処理を実行するようになされ、これにより無駄
な処理時間を短縮し得るようになされている。すなわち
光磁気デイスク装置１において、処理中断回路１９は、
再生、消去、記録時、エラー信号ＦＬＴが立ち上がる
と、データ処理回路６のデータ処理を中断し、データ処
理回路６は、これに対応してサーボ系制御回路３、レー
ザーパワー制御回路８、外部磁界制御回路１２に制御コ
ードを出力する。
ツチ回路１８にラツチしたステータス情報を基準にして
リトライ処理を実行するようになされ、これにより無駄
な処理時間を短縮し得るようになされている。すなわち
光磁気デイスク装置１において、処理中断回路１９は、
再生、消去、記録時、エラー信号ＦＬＴが立ち上がる
と、データ処理回路６のデータ処理を中断し、データ処
理回路６は、これに対応してサーボ系制御回路３、レー
ザーパワー制御回路８、外部磁界制御回路１２に制御コ
ードを出力する。
【００２６】これにより光磁気デイスク装置１は、再
生、消去、記録時、異状が発生すると、直ちに処理を中
断するようになされている。さらに処理中断回路１９
は、このエラー信号ＦＬＴが立ち上がると、ラツチ回路
１８にラツチ信号ＬＡＴを出力する。
生、消去、記録時、異状が発生すると、直ちに処理を中
断するようになされている。さらに処理中断回路１９
は、このエラー信号ＦＬＴが立ち上がると、ラツチ回路
１８にラツチ信号ＬＡＴを出力する。
【００２７】ステータス情報生成回路２０は、光磁気デ
イスク装置１の動作状況を表すステータス情報を生成し
て出力する。ここで図２に示すように、ステータス情報
は、光磁気デイスクのトラツクフオーマツト（図２
（Ａ））に対応して、トラツクナンバＴ及びセクタナン
バＳを用いて光ビームの走査位置を表すＩＤＳ情報ＩＤ
Ｓと（図２（Ｂ））、各セクタの先頭に記録されたＩＤ
領域とデータ記録領域との識別データでなるセクタ情報
ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴ（図２（Ｃ）〜（Ｆ））とで形
成され、ステータス情報生成回路２０は、データ処理回
路６で検出されるアドレスデータ等を基準にしてこのス
テータス情報を生成する。
イスク装置１の動作状況を表すステータス情報を生成し
て出力する。ここで図２に示すように、ステータス情報
は、光磁気デイスクのトラツクフオーマツト（図２
（Ａ））に対応して、トラツクナンバＴ及びセクタナン
バＳを用いて光ビームの走査位置を表すＩＤＳ情報ＩＤ
Ｓと（図２（Ｂ））、各セクタの先頭に記録されたＩＤ
領域とデータ記録領域との識別データでなるセクタ情報
ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴ（図２（Ｃ）〜（Ｆ））とで形
成され、ステータス情報生成回路２０は、データ処理回
路６で検出されるアドレスデータ等を基準にしてこのス
テータス情報を生成する。
【００２８】このうち第１のセクタ情報ＩＤ０ＳＴは、
３重に記録されたＩＤのうち、ＩＤ記録領域の開始位置
から１番目のＩＤ０を光ビームが走査する期間の間、信
号レベルがＬレベルに保持されるのに対し、続く第２の
セクタ情報ＩＤ１ＳＴは、ＩＤ記録領域の開始位置から
２番目のＩＤ１を光ビームが走査する期間の間、信号レ
ベルがＬレベルに保持される。さらに第３のセクタ情報
ＩＤ２ＳＴは、ＩＤ記録領域の開始位置から３番目のＩ
Ｄ２を光ビームが走査する期間の間、信号レベルがＬレ
ベルに保持され、第４のセクタ情報ＤＡＴＳＴは、ＩＤ
記録領域の開始位置からこのＩＤ記録領域が終了してデ
ータ記録領域のギヤツプを光ビームが走査する期間の
間、信号レベルがＬレベルに保持されるようになされて
いる。
３重に記録されたＩＤのうち、ＩＤ記録領域の開始位置
から１番目のＩＤ０を光ビームが走査する期間の間、信
号レベルがＬレベルに保持されるのに対し、続く第２の
セクタ情報ＩＤ１ＳＴは、ＩＤ記録領域の開始位置から
２番目のＩＤ１を光ビームが走査する期間の間、信号レ
ベルがＬレベルに保持される。さらに第３のセクタ情報
ＩＤ２ＳＴは、ＩＤ記録領域の開始位置から３番目のＩ
Ｄ２を光ビームが走査する期間の間、信号レベルがＬレ
ベルに保持され、第４のセクタ情報ＤＡＴＳＴは、ＩＤ
記録領域の開始位置からこのＩＤ記録領域が終了してデ
ータ記録領域のギヤツプを光ビームが走査する期間の
間、信号レベルがＬレベルに保持されるようになされて
いる。
【００２９】これにより光磁気デイスク装置１において
は、ラツチ信号ＬＡＴを基準にしてこのステータス情報
ＩＤＳ〜ＤＡＴＳＴをラツチ回路１８でラツチすること
により、異状の発生した時点における光磁気デイスク装
置１の処理状況を把握し得るようになされている。
は、ラツチ信号ＬＡＴを基準にしてこのステータス情報
ＩＤＳ〜ＤＡＴＳＴをラツチ回路１８でラツチすること
により、異状の発生した時点における光磁気デイスク装
置１の処理状況を把握し得るようになされている。
【００３０】すなわち図３に示すように、エラー信号Ｆ
ＬＴ（図３（Ａ））が立ち上がつて処理を中断すると、
光磁気デイスク装置１は、ラツチ信号ＬＡＴ（図３
（Ｂ））が立ち上がることにより、この場合ＩＤＳ情報
として1000トラツク、０セクタを走査しているときに異
状が発生したことを検出し得（図３（Ｃ））、さらにこ
の場合第１〜第４のセクタ情報ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴ
（図３（Ｄ）〜（Ｇ））の何れもがＨレベルに保持され
ていることにより、実際にデータを記録、再生、消去し
ている際に異状が発生したと判断することができる。
ＬＴ（図３（Ａ））が立ち上がつて処理を中断すると、
光磁気デイスク装置１は、ラツチ信号ＬＡＴ（図３
（Ｂ））が立ち上がることにより、この場合ＩＤＳ情報
として1000トラツク、０セクタを走査しているときに異
状が発生したことを検出し得（図３（Ｃ））、さらにこ
の場合第１〜第４のセクタ情報ＩＤ０ＳＴ〜ＤＡＴＳＴ
（図３（Ｄ）〜（Ｇ））の何れもがＨレベルに保持され
ていることにより、実際にデータを記録、再生、消去し
ている際に異状が発生したと判断することができる。
【００３１】従つて消去中に異状が発生してこの状態が
検出された場合、光磁気デイスク装置１においては、こ
の1000トラツク、０セクタの先頭から改めてデータを消
去する必要があることがわかり、記録中に異状が発生し
てこの状態が検出された場合、この1000トラツク、０セ
クタの先頭から改めてデータを消去した後、データを記
録し直す必要があることがわかる。
検出された場合、光磁気デイスク装置１においては、こ
の1000トラツク、０セクタの先頭から改めてデータを消
去する必要があることがわかり、記録中に異状が発生し
てこの状態が検出された場合、この1000トラツク、０セ
クタの先頭から改めてデータを消去した後、データを記
録し直す必要があることがわかる。
【００３２】これに対して図４に示すタイミングでエラ
ー信号ＦＬＴ及びラツチ信号ＬＡＴ（図４（Ａ）〜
（Ｂ））が立ち上がつた場合、この場合ＩＤＳ情報とし
て1000トラツク、１セクタを走査しているときに異状が
発生したことを検出し得（図４（Ｃ））、さらにこの場
合第１及び第２のセクタ情報ＩＤ０ＳＴ及びＩＤ１ＳＴ
（図４（Ｄ）及び（Ｅ））がＨレベル、第３及び第４の
セクタ情報ＩＤ２ＳＴ及びＤＡＴＳＴ（図４（Ｆ）及び
（Ｇ））がＬレベルに保持されていることにより、第３
のＩＤが記録されたＩＤ記録領域を光ビームが走査して
いるタイミングで異状が発生したと判断することができ
る。
ー信号ＦＬＴ及びラツチ信号ＬＡＴ（図４（Ａ）〜
（Ｂ））が立ち上がつた場合、この場合ＩＤＳ情報とし
て1000トラツク、１セクタを走査しているときに異状が
発生したことを検出し得（図４（Ｃ））、さらにこの場
合第１及び第２のセクタ情報ＩＤ０ＳＴ及びＩＤ１ＳＴ
（図４（Ｄ）及び（Ｅ））がＨレベル、第３及び第４の
セクタ情報ＩＤ２ＳＴ及びＤＡＴＳＴ（図４（Ｆ）及び
（Ｇ））がＬレベルに保持されていることにより、第３
のＩＤが記録されたＩＤ記録領域を光ビームが走査して
いるタイミングで異状が発生したと判断することができ
る。
【００３３】従つてこの場合、実際のデータが記録され
た領域については、消去等の動作を実行していないこと
により、消去、記録、再生時において、それぞれこの10
00トラツク、１セクタの先頭から処理を再開すればよい
ことがわかる。
た領域については、消去等の動作を実行していないこと
により、消去、記録、再生時において、それぞれこの10
00トラツク、１セクタの先頭から処理を再開すればよい
ことがわかる。
【００３４】これによりシステムコントローラ１０は、
レジスタ２１を介してこのステータス情報を取り込むこ
とにより、処理状況を判断してリトライ処理を実行す
る。このとき予め処理状況に追従してステータス情報を
生成し、異状の発生したタイミングでこのステータス情
報をラツチすることにより、システムコントローラ１０
においては、処理を中断してこの異状の発生したタイミ
ングを検出するまでに時間遅れがある場合でも、ラツチ
したステータス情報を検出して簡易かつ確実に異状の発
生した時点の処理状況を検出することができる。
レジスタ２１を介してこのステータス情報を取り込むこ
とにより、処理状況を判断してリトライ処理を実行す
る。このとき予め処理状況に追従してステータス情報を
生成し、異状の発生したタイミングでこのステータス情
報をラツチすることにより、システムコントローラ１０
においては、処理を中断してこの異状の発生したタイミ
ングを検出するまでに時間遅れがある場合でも、ラツチ
したステータス情報を検出して簡易かつ確実に異状の発
生した時点の処理状況を検出することができる。
【００３５】従つて光磁気デイスク装置１は、この検出
結果に基づいてリトライ処理を実行して無駄な時間を短
縮することができる。
結果に基づいてリトライ処理を実行して無駄な時間を短
縮することができる。
【００３６】すなわち図５に示すように、システムコン
トローラ１０は、ホストコンピユータから制御コマンド
が入力されると、ステツプＳＰ１からステツプＳＰ２に
移り、ここで命令解析部１６でライトコマンドか否か判
断する。ここでリードコマンド等が入力された場合、否
定結果が得られることにより、システムコントローラ１
０は、ステツプＳＰ３に移り、ここでデータ処理制御ブ
ロツク１７から制御コードを発行してそれぞれ制御コマ
ンドに対応した処理ルーチンを実行した後、ステツプＳ
Ｐ４に移つてこの処理手順を終了する。
トローラ１０は、ホストコンピユータから制御コマンド
が入力されると、ステツプＳＰ１からステツプＳＰ２に
移り、ここで命令解析部１６でライトコマンドか否か判
断する。ここでリードコマンド等が入力された場合、否
定結果が得られることにより、システムコントローラ１
０は、ステツプＳＰ３に移り、ここでデータ処理制御ブ
ロツク１７から制御コードを発行してそれぞれ制御コマ
ンドに対応した処理ルーチンを実行した後、ステツプＳ
Ｐ４に移つてこの処理手順を終了する。
【００３７】この処理において、システムコントローラ
１０は、再生中に異状が発生してエラー信号ＦＬＴが立
ち上がつた場合、ラツチ回路１８でラツチしたステータ
ス情報をロードして異状の発生したタイミングを検出
し、タイミング検出結果に基づいてリトライ処理を実行
する。このときシステムコントローラ１０は、例えば図
３及び図４について上述したタイミングで異状が発生し
た場合、それぞれ1000トラツク、０セクタ及び1000トラ
ツク、１セクタの先頭からデータをリードするようにデ
ータ処理回路６に制御コードを発行する。
１０は、再生中に異状が発生してエラー信号ＦＬＴが立
ち上がつた場合、ラツチ回路１８でラツチしたステータ
ス情報をロードして異状の発生したタイミングを検出
し、タイミング検出結果に基づいてリトライ処理を実行
する。このときシステムコントローラ１０は、例えば図
３及び図４について上述したタイミングで異状が発生し
た場合、それぞれ1000トラツク、０セクタ及び1000トラ
ツク、１セクタの先頭からデータをリードするようにデ
ータ処理回路６に制御コードを発行する。
【００３８】これにより光磁気デイスク装置１において
は、データを正しく再生し得なかつたセクタから再生処
理を再開し得、その分無駄なリトライの時間を短縮して
正しいデータを再生することができ、リード時のアクセ
ス時間を短縮することができる。さらにデータを確実に
リトライして再生し得ることにより、装置全体としての
信頼性も向上することができる。
は、データを正しく再生し得なかつたセクタから再生処
理を再開し得、その分無駄なリトライの時間を短縮して
正しいデータを再生することができ、リード時のアクセ
ス時間を短縮することができる。さらにデータを確実に
リトライして再生し得ることにより、装置全体としての
信頼性も向上することができる。
【００３９】これに対してホストコンピユータからライ
トコマンドが発行された場合、ステツプＳＰ２において
肯定結果が得られることにより、システムコントローラ
１０は、ステツプＳＰ５に移り、ここでデータ処理回路
６に制御コードを発行する。これによりシステムコント
ローラ１０は、外部磁界制御回路１２を制御して光磁気
デイスク２に消去用の磁界を印加し、さらにサーボ系制
御回路３を制御して処理対象のセクタに光ピツクアツプ
５及び磁気ヘツド１３をシークさせる。さらにシステム
コントローラ１０は、シークが完了するとデータ処理回
路６で処理対象のセクタを検出し、ここでレーザーパワ
ー制御回路８を制御して処理対象のセクタを光ビームが
走査するタイミングで光ビームの光量を消去時の光量に
切り換える。
トコマンドが発行された場合、ステツプＳＰ２において
肯定結果が得られることにより、システムコントローラ
１０は、ステツプＳＰ５に移り、ここでデータ処理回路
６に制御コードを発行する。これによりシステムコント
ローラ１０は、外部磁界制御回路１２を制御して光磁気
デイスク２に消去用の磁界を印加し、さらにサーボ系制
御回路３を制御して処理対象のセクタに光ピツクアツプ
５及び磁気ヘツド１３をシークさせる。さらにシステム
コントローラ１０は、シークが完了するとデータ処理回
路６で処理対象のセクタを検出し、ここでレーザーパワ
ー制御回路８を制御して処理対象のセクタを光ビームが
走査するタイミングで光ビームの光量を消去時の光量に
切り換える。
【００４０】続いてシステムコントローラ１０は、ステ
ツプＳＰ６に移り、ここでエラー信号ＦＬＴが立ち上が
つて割り込みが発生したか否か判断することにより、所
定のセクタ（光磁気デイスク装置においては、記録に必
要な複数セクタをまとめて消去する）を正常に消去し得
たか否か判断する。ここで否定結果が得られると、シス
テムコントローラ１０は、ステツプＳＰ７に移り、ラツ
チ回路１８でラツチしたステータス情報をロードし、異
状の発生した時点の処理状況を検出する。続いてシステ
ムコントローラ１０は、ステツプＳＰ５に戻り、タイミ
ング検出結果に基づいてリトライ処理を実行する。この
ときシステムコントローラ１０は、例えば図３及び図４
について上述したタイミングで異状が発生した場合、そ
れぞれ1000トラツク、０セクタ及び1000トラツク、１セ
クタの先頭からデータを消去するようにデータ処理回路
６に制御コードを発行する。
ツプＳＰ６に移り、ここでエラー信号ＦＬＴが立ち上が
つて割り込みが発生したか否か判断することにより、所
定のセクタ（光磁気デイスク装置においては、記録に必
要な複数セクタをまとめて消去する）を正常に消去し得
たか否か判断する。ここで否定結果が得られると、シス
テムコントローラ１０は、ステツプＳＰ７に移り、ラツ
チ回路１８でラツチしたステータス情報をロードし、異
状の発生した時点の処理状況を検出する。続いてシステ
ムコントローラ１０は、ステツプＳＰ５に戻り、タイミ
ング検出結果に基づいてリトライ処理を実行する。この
ときシステムコントローラ１０は、例えば図３及び図４
について上述したタイミングで異状が発生した場合、そ
れぞれ1000トラツク、０セクタ及び1000トラツク、１セ
クタの先頭からデータを消去するようにデータ処理回路
６に制御コードを発行する。
【００４１】これにより光磁気デイスク装置１は、デー
タを正しく消去し得なかつたセクタから消去処理を再開
し得、その分無駄なリトライの時間を短縮して正しくデ
ータを消去することができ、ライト時のアクセス時間を
短縮することができる。
タを正しく消去し得なかつたセクタから消去処理を再開
し得、その分無駄なリトライの時間を短縮して正しくデ
ータを消去することができ、ライト時のアクセス時間を
短縮することができる。
【００４２】これに対してステツプＳＰ６において肯定
結果が得られると、システムコントローラ１０は、ステ
ツプＳＰ８に移り、データの記録を開始する。すなわち
システムコントローラ１０は、データ処理回路６に制御
コードを発行することにより、外部磁界制御回路１２を
制御して磁気ヘツド１３の磁界を記録時の極性に切り換
える。続いてシステムコントローラ１０は、サーボ系制
御回路３を制御して処理対象のセクタに光ピツクアツプ
５及び磁気ヘツド１３をシークさせ、シークが完了する
とデータ処理回路６で処理対象のセクタを検出した後、
レーザーパワー制御回路８を制御し、処理対象のセクタ
を光ビームが走査するタイミングで光ビームの光量を記
録時の光量に切り換える。
結果が得られると、システムコントローラ１０は、ステ
ツプＳＰ８に移り、データの記録を開始する。すなわち
システムコントローラ１０は、データ処理回路６に制御
コードを発行することにより、外部磁界制御回路１２を
制御して磁気ヘツド１３の磁界を記録時の極性に切り換
える。続いてシステムコントローラ１０は、サーボ系制
御回路３を制御して処理対象のセクタに光ピツクアツプ
５及び磁気ヘツド１３をシークさせ、シークが完了する
とデータ処理回路６で処理対象のセクタを検出した後、
レーザーパワー制御回路８を制御し、処理対象のセクタ
を光ビームが走査するタイミングで光ビームの光量を記
録時の光量に切り換える。
【００４３】続いてシステムコントローラ１０は、ステ
ツプＳＰ９に移り、ここでエラー信号ＦＬＴが立ち上が
つて割り込みが発生したか否か判断することにより、正
常にデータを記録し得たか否か判断し、ここで否定結果
が得られると、ステツプＳＰ１０に移り、ラツチ回路１
８でラツチしたステータス情報をロードし、異状が発生
した時点の処理状況を検出する。
ツプＳＰ９に移り、ここでエラー信号ＦＬＴが立ち上が
つて割り込みが発生したか否か判断することにより、正
常にデータを記録し得たか否か判断し、ここで否定結果
が得られると、ステツプＳＰ１０に移り、ラツチ回路１
８でラツチしたステータス情報をロードし、異状が発生
した時点の処理状況を検出する。
【００４４】続いてシステムコントローラ１０は、ステ
ツプＳＰ１１に移り、ここで処理状況の検出結果に基づ
いて改めて消去処理が必要か否か判断し、例えば図３に
ついて上述したタイミングで異状が発生した場合、異状
が発生したタイミングで走査していたセクタについて
は、記録中のデータを消去して記録し直す必要があると
判断してステツプＳＰ５に戻る。ここでシステムコント
ローラ１０は、ラツチ回路１８にラツチしたステータス
情報に基づいて、この異状が発生したセクタについてだ
けデータを消去した後、ステツプＳＰ６に移る。
ツプＳＰ１１に移り、ここで処理状況の検出結果に基づ
いて改めて消去処理が必要か否か判断し、例えば図３に
ついて上述したタイミングで異状が発生した場合、異状
が発生したタイミングで走査していたセクタについて
は、記録中のデータを消去して記録し直す必要があると
判断してステツプＳＰ５に戻る。ここでシステムコント
ローラ１０は、ラツチ回路１８にラツチしたステータス
情報に基づいて、この異状が発生したセクタについてだ
けデータを消去した後、ステツプＳＰ６に移る。
【００４５】すなわち従来の光磁気デイスク装置におい
ては、何れのセクタを記録している際に異状が発生した
かを判断し得ないことにより、この場合消去対象の全セ
クタを改めて消去するようになされており、この実施例
のようにラツチ回路１８にラツチしたステータス情報に
基づいて、この異状が発生したセクタについてだけデー
タを消去すれば、無駄な消去に要する時間を短縮するこ
とができる。また光磁気デイスク装置１においては、余
分に消去した領域に改めてデータを記録する処理を省略
することができる。
ては、何れのセクタを記録している際に異状が発生した
かを判断し得ないことにより、この場合消去対象の全セ
クタを改めて消去するようになされており、この実施例
のようにラツチ回路１８にラツチしたステータス情報に
基づいて、この異状が発生したセクタについてだけデー
タを消去すれば、無駄な消去に要する時間を短縮するこ
とができる。また光磁気デイスク装置１においては、余
分に消去した領域に改めてデータを記録する処理を省略
することができる。
【００４６】これにより光磁気デイスク装置１は、デー
タを正しく記録し得なかつたセクタを消去処理した後、
このセクタからデータを記録し直し、これにより無駄な
リトライの時間を短縮して正しくデータを記録すること
ができ、ライト時のアクセス時間を短縮することができ
る。さらにデータを確実にライトリトライし得ることに
より、装置全体としての信頼性も向上することができ
る。
タを正しく記録し得なかつたセクタを消去処理した後、
このセクタからデータを記録し直し、これにより無駄な
リトライの時間を短縮して正しくデータを記録すること
ができ、ライト時のアクセス時間を短縮することができ
る。さらにデータを確実にライトリトライし得ることに
より、装置全体としての信頼性も向上することができ
る。
【００４７】これに対してステツプＳＰ１１において否
定結果が得られると、この場合異状の発生したセクタに
ついはデータを消去する必要がないことにより、システ
ムコントローラ１０は、ステツプＳＰ８に戻り、この異
状の発生したセクタからデータの記録を再開する。かく
して光磁気デイスク装置１においては、異状の発生した
位置を基準にしてさらに消去の必要性について判断して
ライトリトライの処理を切り換えることより、この場合
この異状の発生したセクタの消去作業をも省略し得、そ
の分ライト処理に要する時間を短縮することができる。
定結果が得られると、この場合異状の発生したセクタに
ついはデータを消去する必要がないことにより、システ
ムコントローラ１０は、ステツプＳＰ８に戻り、この異
状の発生したセクタからデータの記録を再開する。かく
して光磁気デイスク装置１においては、異状の発生した
位置を基準にしてさらに消去の必要性について判断して
ライトリトライの処理を切り換えることより、この場合
この異状の発生したセクタの消去作業をも省略し得、そ
の分ライト処理に要する時間を短縮することができる。
【００４８】これに対してステツプＳＰ９において肯定
結果が得られると、この場合システムコントローラ１０
は、何らリトライ動作することなく、ステツプＳＰ４に
移つて処理手順を終了する。
結果が得られると、この場合システムコントローラ１０
は、何らリトライ動作することなく、ステツプＳＰ４に
移つて処理手順を終了する。
【００４９】（２）実施例の効果 以上の構成によれば、光ビームの走査位置を表すステー
タス情報を生成し、このステータス情報を異状が発生し
たタイミングでラツチすることにより、異状の発生箇所
を確実に検出し得、これによりこの発生箇所に応じてリ
トライ処理を切り換えて処理時間を短縮することができ
る。
タス情報を生成し、このステータス情報を異状が発生し
たタイミングでラツチすることにより、異状の発生箇所
を確実に検出し得、これによりこの発生箇所に応じてリ
トライ処理を切り換えて処理時間を短縮することができ
る。
【００５０】（３）他の実施例 なお上述の実施例においては、ＩＤＳ情報と第１〜第４
のセクタ情報で光ビームの照射位置を特定する場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、必要に応じて種
々の基準データを生成して光ビームの照射位置を特定す
ることができる。
のセクタ情報で光ビームの照射位置を特定する場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、必要に応じて種
々の基準データを生成して光ビームの照射位置を特定す
ることができる。
【００５１】さらに上述の実施例においては、単に光ビ
ームの照射位置を表す情報をステータス情報としてラツ
チする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、
これに加えて、記録、消去等の動作モードを表す識別デ
ータを併せてラツチし、このラツチ結果に基づいて記録
等の処理を繰り返してもよい。
ームの照射位置を表す情報をステータス情報としてラツ
チする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、
これに加えて、記録、消去等の動作モードを表す識別デ
ータを併せてラツチし、このラツチ結果に基づいて記録
等の処理を繰り返してもよい。
【００５２】さらに上述の実施例においては、ＩＤを３
重書きする場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、種々の記録フオーマツトの光磁気デイスク装置に広
く適用することができる。
重書きする場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、種々の記録フオーマツトの光磁気デイスク装置に広
く適用することができる。
【００５３】さらに上述の実施例においては、本発明を
光磁気デイスク装置に適用した場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、光デイスク装置、ハードデイス
ク装置等の種々のデイスク装置に広く適用することがで
きる。
光磁気デイスク装置に適用した場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、光デイスク装置、ハードデイス
ク装置等の種々のデイスク装置に広く適用することがで
きる。
【００５４】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、動作状況
を表すステータス情報を動作異状のタイミングでラツチ
し、そのラツチしたステータス情報に基づいて、記録動
作を再び繰り返すことにより、無駄な消去、記録の作業
を省略して正しくデータを記録し得、これにより処理時
間を短縮して信頼性を向上することができるデイスク装
置を得ることができる。
を表すステータス情報を動作異状のタイミングでラツチ
し、そのラツチしたステータス情報に基づいて、記録動
作を再び繰り返すことにより、無駄な消去、記録の作業
を省略して正しくデータを記録し得、これにより処理時
間を短縮して信頼性を向上することができるデイスク装
置を得ることができる。
【図１】本発明の一実施例による光磁気デイスク装置を
示すブロツク図である。
示すブロツク図である。
【図２】ステータス情報の説明に供する信号波形図であ
る。
る。
【図３】その動作の説明に供する信号波形図である。
【図４】消去動作が不必要な場合を示す信号波形図であ
る。
る。
【図５】リトライ処理の説明に供するフローチヤートで
ある。
ある。
１……光磁気デイスク装置、２……光磁気デイスク、３
……サーボ系制御回路、６……データ処理回路、７、
９、１４……異状検出回路、８……レーザーパワー制御
回路、１０……システムコントローラ、１２……外部磁
界制御回路、１８……ラツチ回路、２０……ステータス
情報生成回路。
……サーボ系制御回路、６……データ処理回路、７、
９、１４……異状検出回路、８……レーザーパワー制御
回路、１０……システムコントローラ、１２……外部磁
界制御回路、１８……ラツチ回路、２０……ステータス
情報生成回路。
フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 １０１ Ｇ 9074−5Ｄ (72)発明者 千葉 孝義 東京都品川区北品川６丁目７番35号ソニー 株式会社内 (72)発明者 小船谷 英樹 東京都港区芝五丁目７番１号日本電気株式 会社内 (72)発明者 石川 豊 神奈川県川崎市中原区小杉町一丁目403番 53日本電気アイシーマイコンシステム株式 会社内
Claims (3)
- 【請求項１】デイスク状記録媒体に所望のデータを記録
再生するデイスク装置において、 動作状況を表すステータス情報を発生するステータス情
報発生手段と、 動作異状を検出して異状検出信号を出力する異状検出手
段と、 上記異状検出信号を基準にして上記ステータス情報をラ
ツチするラツチ手段と、 上記異状検出信号に基づいて、動作異状が検出される
と、記録動作を中止した後、上記ラツチ手段にラツチし
たステータス情報に基づいて、上記記録動作を再び繰り
返す制御手段とを具えることを特徴とするデイスク装
置。 - 【請求項２】上記ステータス情報は、記録、再生、消去
位置を表すトラツクナンバ、セクタナンバ、セクタ中の
位置情報で形成されたことを特徴とする請求項１に記載
のデイスク装置。 - 【請求項３】上記制御手段は、上記記録動作を再び繰り
返す際、上記ラツチ手段にラツチしたステータス情報に
基づいて、消去作業の必要性を判断し、該判断結果に基
づいて消去作業を実行して上記記録動作を再び繰り返
し、又は消去作業を省略して上記記録動作を再び繰り返
すことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のデイ
スク装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5136743A JPH06325476A (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | デイスク装置 |
| KR1019940010288A KR100299723B1 (ko) | 1993-05-14 | 1994-05-11 | 데이터기록장치 |
| US08/241,188 US5521893A (en) | 1993-05-14 | 1994-05-11 | Data recording apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5136743A JPH06325476A (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | デイスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06325476A true JPH06325476A (ja) | 1994-11-25 |
Family
ID=15182472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5136743A Pending JPH06325476A (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | デイスク装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5521893A (ja) |
| JP (1) | JPH06325476A (ja) |
| KR (1) | KR100299723B1 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3787015B2 (ja) * | 1997-04-14 | 2006-06-21 | 三菱電機株式会社 | ディスク回転制御装置 |
| JP3184171B2 (ja) * | 1998-02-26 | 2001-07-09 | 日本電気株式会社 | ディスクアレイ装置、そのエラー制御方法、ならびにその制御プログラムを記録した記録媒体 |
| TW464849B (en) * | 1999-03-31 | 2001-11-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical disc controller and optical disc device |
| JP2001216647A (ja) * | 1999-11-22 | 2001-08-10 | Sanyo Electric Co Ltd | 制御装置 |
| JP2001216645A (ja) | 1999-11-22 | 2001-08-10 | Sanyo Electric Co Ltd | 制御装置 |
| JP2001216646A (ja) | 1999-11-22 | 2001-08-10 | Sanyo Electric Co Ltd | データ記録装置 |
| JP3594547B2 (ja) | 1999-11-22 | 2004-12-02 | 三洋電機株式会社 | データ記録装置 |
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