KR100270850B1 - 추기형 광 디스크 기록 장치 - Google Patents

추기형 광 디스크 기록 장치 Download PDF

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KR100270850B1
KR100270850B1 KR1019920022160A KR920022160A KR100270850B1 KR 100270850 B1 KR100270850 B1 KR 100270850B1 KR 1019920022160 A KR1019920022160 A KR 1019920022160A KR 920022160 A KR920022160 A KR 920022160A KR 100270850 B1 KR100270850 B1 KR 100270850B1
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시니찌로 이이무라
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이데이 노부유끼
소니 가부시키가이샤
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Abstract

[목적 ]
기록기간 중에도 광 빔의 출력이 제어되도록 한다.
[구성 ]
매트릭스 회로(12)에서의 재생(반사) 신호가 레벨 홀드 회로(37, 38)에 공급된다. 이 홀드 회로(37, 38)가 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에 의해서, 기록되는 3T 및 11T의 EFM신호에 응답하여 소정의 타이밍으로 구동된다. 이 홀드 회로(37, 38)에서의 신호가 연산 회로(39)에 공급되고, 예컨대 2개의 신호의 차, 또는 비교의 값이 연산된다. 이 연산된 값이 메모리(40)에 기억된다. 그리고 이 메모리(40)에 기억된 값과 연산 회로(39)에서 새로이 연산된 값이 감산회로(41)에서 비교되고, 이 비교출력이 스위치(34)에서 선택되며, 감산회로(35)를 통해서 레이저 드라이버(3)에 공급된다.

Description

추기형 광 디스크 기록 장치
제1도는 본 발명에 따른 추기형 광 디스크 기록 장치의 한 실시예의 구성도.
제2(a)도 및 제2(b)도는 샘플링 타이밍을 설명하기 위한 도면.
제3(a)도 내지 제3(c)도는 광 빔의 출력과 유기색소의 감도에 따른 재생신호 특성(asymmetry)의 변화를 도시한 도면.
제4도는 추기형 광 디스크를 설명하기 위한 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : EFM 신호의 입력부 3 : 레이저 드라이버
4 : 레이저 다이오드 5 : 콜리메터 렌즈
6 : 빔 스플리터 7 : 대물렌즈
8 : 추기형 광 디스크 9 : 원통 렌즈
10 : 4분할 광 검출기 11a 내지 11d, 42 : 헤드 앰프
12 : 매트릭스 회로 13, 15, 20 : 위상 보상 회로
14 : 포커스 액츄에이터 16 : 트랙킹 액츄에이터
17, 30, 36 : 저역 통과 필터 18 : 전송 모터
19 : FM 복조 회로 21 : 스핀들 모터
22 : EFM 신호 출력부 23 : 피크 홀드 회로
24 : 보텀 홀드 회로 25, 28, 35, 43 : 감산 회로
26 : 감쇠기 27 : 윈도우 비교기
29 : 비교기 31 : 마이크로컴퓨터(CPU)
32 : ATIP 재생 회로 33 : 시험 기록 레벨 발생 회로
34 : 스위치 37 : 3T 홀드 회로
38 : 11T 홀드 회로 39 : 연산 회로
40 : 메모리 41 : 프론트 모니터
[산업상의 이용분야]
본 발명은, 추기형 광 디스크에 광 빔을 사용하여 임의의 데이타를 기입하는 추기형 광 디스크 기록 장치에 관한 것이다.
[종래의 기술]
예컨대, 컴팩트 디스크(CD)와 같은 크기의 디스크의 일면에 유기색소를 도포하고, 이 일면에 광 빔을 사용하여 임의의 데이타를 기입하도록 한 추기형 광 디스크가 실시되고 있다. 이와 같은 디스크에 의하면 기입된 데이타는 일반의 컴팩트 디스크 재생 장치를 사용하여 재생할 수가 있고, 소매수의 컴팩트 디스크의 제조등에도 이용할 수가 있다.
한편, 이와 같은 추기형 광 디스크에 있어서 , 디스크 메이커의 차이 등에 따라 도포된 유기색소의 감도에 미묘한 자가 발생한다. 이 감도의 차는 물론 사양서 등에 의해서 규정된 허용범위내의 것이지만, 디스크, 기록장치, 재생장치의 조합에 의해서는, 재생이 불가능하게 되는 문제점도 있다.
즉, 제3(a)도 내지 제3(c)도는 광 빔의 출력과 유기색소의 감도에 따른 재생 신호의 특성(asymmetry)의 변화를 도시한 것이다. 제3(a)도는 유기색소의 감도가 낮게 광 빔의 출력이 언더파워(under-power)로 되어 있는 경우로서, 이 경우에는 재생 신호의 특성(asymmetry)이 상측(미러 레벨)에 접근한다. 한편, 제 3(c)도는 유기색소의 감도가 높게 광 빔의 출력이 오버 파워로 되어 있는 경우로서, 이 경우에는 재생 신호의 특성(asymmetry)이 하측으로 되어 버린다.
이에 대해 유기색소의 감도와 광 빔의 출력이 적합한 경우에는, 제3(b)도에 도시된 바와 같이 재생 신호의 특성(asymmetry)이 신호 진폭의 중앙으로 된다. 그리고 이와 같은 특성의 변화는, 상술한 바와 같이 재생 신호의 특성(asymmetry)이 신호 진폭의 중앙으로부터 벗어남에 따라서, 신호 검출을 위한 아이 패턴(eye pattern)이 작아지게 되고, 신호의 재생이 곤란해진다.
따라서 종래부터 디스크의 일부에 검사 영역을 갖추고, 이 영역에 시험 기록된 신호를 판별하여 기록에 이용하는 광 빔의 출력을 조정하는 것이 행해지고 있다. 즉 제4도는 디스크의 일면을 모식적으로 도시한 것이다. 이 도면에 있어서, 컴팩트 디스크와 같게 프로그램 기록 영역이 제공됨과 동시에, 이 내주측에 프로그램의 연주시간 데이타 등을 기재한 TOC를 포함하는 리이드 인 영역과, 외주측에 리이드 아웃 영역이 제공된다.
상기 리이드 인 영역의 또한 내주측에는, 모든 프로그램의 기록이 완료되기까지 동안, 그 때까지 기록된 프로그램의 연주시간 데이타 등을 기록하는 프로그램 기억 영역(PMA)과, 도포된 유기색소의 감도를 검사해서 광 빔의 출력을 조정하는 검사 영역(PCA=Power Control Area)이 제공된다. 그리고 이 검사 영역(PCA)에 대해, 기록의 개시전에 임의의 신호를 순차적으로 광 빔의 출력 레벨을 변경하여 기록(시험기록)을 행하고, 이 기록을 재생해서 재생 신호가 소정의 특성(asymmetry)으로 된 출력 레벨을 판별함으로서, 이 레벨에 광 빔의 출력을 조정하는 것이다.
그런데, 이와 같은 검사 영역(PCA)에 시험 기록을 하여 광 빔의 출력을 조정한 경우에, 이 조정은 기록기간 중 유지되도록 되어 있다. 이 때문에 기록중의 온도 변화등에 의해서 광 빔을 발생하는 레이저 다이오드의 파장이 빗나간 경우나, 광 디스크의 내외주의 감도차등에는 대응할 수가 없었다.
게다가 종래부터, 광 빔의 레벨을 검출(프론트 모니터)하여 레이저 다이오드의 출사 파워를 제어하는 것이 행해지고 있다. 그러나, 이와 같은 방법에서는, 파장의 변동에 따른 도포된 유기색소의 감도변화나, 광 디스크의 내외주의 감도차등에는 대응할 수가 없었다.
[발명이 해결하려는 과제]
본 발명이 해결하려고 하는 문제점은, 검사 영역(PCA)에 시험 기록을 행하여 광 빔의 출력을 조정해도, 기록중의 온도 변화 등에 의해서 광 빔을 발생하는 레이저 다이오드의 파장이 빗나간 경우나, 광 디스크의 내외주의 감도차등에는 대응할 수가 없다는 것이다.
[과제를 해결하기 위한 수단]
본 발명은, 추기형 광 디스크(8)에 광 빔(레이저 다이오드(4))을 이용해서 임의의 데이터(EFM 신호 입력부(1))의 기입을 행하는 추기형 디스크 기록 장치에 있어서, 상기 디스크의 기록 특성의 검사 영역에 시험 기록을 행하여 상기 광 빔의 출력을 제어(마이크로컴퓨터(CPU)(31), 시험 기록 레벨 발생 회로(33))함과 동시에, 상기 검사 영역에 적정 레벨로 시험 기록되는 신호중의 최단 비트 길이(3T)와 그것보다 긴 임의의 비트 길이(11T)의 신호가 기록될 때의 반사 신호 레벨(3T 홀드 회로(37) 및 11T 홀드 회로(38))를 기억(메모리(40))하고, 기록시에 상기 최단 비트 길이와 그것보다 긴 임의의 비트 길이의 신호가 기록될 때의 반사 신호 레벨을 상기 기억된 레벨과 비교(감산 회로(41))하며, 이 비교 출력에 의해 상기 광 빔의 출력을 제어하는 추기형 광 디스크 기록 장치이다.
[작용]
이것에 의하면, 기록기간 중에도 소정 신호의 반사 신호 레벨을 검출해서 광 빔의 출력이 제어되기 때문에, 파장의 변동에 의한 도포된 유기색소의 감도변화나, 광 디스크의 내외주의 감도차등에도 대응할 수가 있다.
[실시예]
제1도에 있어서, 1 은 EFM 신호의 입력부이며, 이 입력부(1)에서의 신호가 스위치(2)를 통해서 레이저 드라이버(3)에 공급되고, 이 드라이버(3)를 통해서 레이저 다이오드(4)의 출력 광 빔이 제어된다. 이 레이저 다이오드(4)에서의 광 빔이 콜리메터(collimator) 렌즈(5), 빔 스플리터(6), 대물렌즈(7)를 통해서 추기형 광 디스크(8)의 일면에 도포된 유기색소에 조사된다. 또한, 이 추기형 광 디스크(8)에서의 반사 광 빔이 대물렌즈(7)를 통해서 빔 스플리터(7)에 조사되고, 이 빔 스플리터(6)에서 반사된 광 빔이 원통렌즈(9)를 통해서 예컨대 4 분할 광 검출기(10)에 조사된다.
이 광 검출기(10)의 각 분할에서의 신호가 각각 헤드 앰프(11a 내지 11d)를 통해서 매트릭스 회로(12)에 공급된다. 이 매트릭스 회로(12)에서 포커스 에러 신호가 형성되고, 위상 보상 회로(13)를 통해서 포커스 액츄에이터(14)에 공급된다. 또한 매트릭스 회로(12)에서 트랙킹 에러 신호가 형성되고, 위상 보상 회로(15)를 통해서 트랙킹 액츄에이터(16)에 공급된다. 한편 이 위상보상회로(15)에서의 신호가 저역 통과 필터(17)를 통해서 전송 모터(l8)에 공급된다.
또한 매트릭스 회로(12)로부터의 트랙킹 에러 신호가 FM 복조 회로(19)에 공급되고, 상술한 예컨대 22.05kHz 의 워브링 주파수(wobbling frequecy)의 신호가 소정의 레벨에서 인출된다. 이 인출된 신호가 위상보상회로(20)를 통해 스핀들 모터(21)에 공급된다.
이와 같이해서 포커스 및 트랙킹의 서보가 실행되고, 상술한 선행 그룹을 트레이스하도록 전송 모터(18)가 구동된다. 한편 상기 트레이스가 일정하게 선속도로 이루어지도록 회전 서보가 실행된다. 그리고 이 상태에서 입력부(1)로부터의 EFM 신호가 광 디스크(8)의 일면에 도포된 유기색소에 기록된다.
한편, 매트릭스 회로(12)에서는, 광 디스크(8)의 반사광에서 재생 신호가 인출되어, 이 재생 신호가 EFM 신호의 출력부(22)에 공급된다. 또 이 매트릭스 회로(12)로부터의 재생 신호가 피크 홀드 회로(23) 및 보텀(bottom) 흘드 회로(24)에 공급되고, 이들의 출력이 감산회로(25)에 공급되어 재생 신호의 진폭이 인출된다. 상기 인출된 진폭이 감쇠기(attenuator)(26)를 통해서 윈도우 비교기(27)에 공급된다.
또한 매트릭스 회로(12)로부터의 재생 신호가 감산 회로(28)에 공급된다.
상기 감산 회로(28)로부터의 신호가 정/부를 판별하는 비교기(29)에 공급되고, 이 비교기(29)의 출력이 저역 통과 필터(30)를 통해서 감산 회로(28)로 복귀된다. 그에 따라 저역 통과 필터(30)에서는 재생 신호의 비대칭의 레벨이 인출된다. 그리고 상기 비대칭의 레벨이 윈도우 비교기(27)에 공급됨에 따라, 비대칭의 레벨이 재생 신호 진폭의 소정의 범위안에 존재하는지 여부가 판별된다. 이 판별 신호가 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에 공급된다.
한편, 상술한 선행 그룹의 워브링에는 6.3kHz의 클럭 주파수에서 시 : 분 : 초 프레임을 나타내는 디지탈 값(ATIP)을 나타내는 FM 신호가 중첩된다. 따라서 상술한 FM 복조 회로(19)로부터의 신호가 ATIP 재생 회로(32)에 공급되며, 재생된 ATIP의 디지탈 값이 마이크로 컴퓨터(CPU)(31)에 공급된다.
게다가 시험 기록 레벨의 발생 회로(33)가 설치되며, 이 발생 회로(33)로부터의 신호가 스위치(34)에서 선택되어, 감산 회로(35), 저역 통과 필터(36)를 통해서 레이저 드라이버(3)의 출력 레벨의 제어부에 공급된다. 더욱이, 발생 회로(33) 및 스위치(34)는 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에 의해서 제어된다.
또한, 매트릭스 회로(12)로부터의 재생 신호가 레벨 홀드 회로(37, 38)에 공급된다. 상기 홀드 회로(37, 38)는 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에 의해서, 후술하는 3T 및 11T의 신호에 대해서 소정의 타이밍으로 구동된다. 상기 홀드 회로(37, 38)에서의 신호가 연산회로(39)에 공급되고, 예컨대 두개 신호의 차, 또는 비교의 값이 연산된다. 이 연산된 값이 메모리(40)에 기억된다. 그리고 이 메모리(40)에 기억된 값과 연산 회로(39)에서 새롭게 연산된 값이 감산 회로(41)에서 비교되며, 이 비교 출력이 스위치(34)에 의해 선택되어, 감산 회로(35)에 공급된다.
게다가 빔 스플리터(6)의 콜리메타 렌즈(5)에서의 광 빔의 반사광이 프론트 모니터(42)에 조사된다. 상기 프론트 모니터(42)에서의 신호가 헤드 앰프(43)를 통해서 감산 회로(35)에 공급된다.
이 장치에 있어서, 우선 기록의 개시전에, 레이저 다이오드(4)로부터의 광 빔이 상술된 검사 영역(PCA)에 조사된다. 또한 스위치(34)가 발생 회로(33)측으로 전환된다. 게다가 발생 신호(33)가 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에 의해서 제어되고, 발생 회로(33)로부터 순차적으로 변화되는 시험 기록 레벨이 레이저 드라이버(3)의 출력 레벨의 제어부에 공급된다.
따라서, 검사 영역(PCA)에서 시험 기록이 행해진다. 그와 동시에 선행 그룹의 워브링이 복조되어 ATIP가 재생되고, 이 ATIP가 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에 공급되며, 상술한 발생 회로(33)의 제어에 의해 기억된다. 즉, 발생 회로(33)의 제어에 의해서 레이저 다이오드(4)에서의 광 빔의 출력 레벨이 순차적으로 전환될 때마다 그때의 ATIP가 기억된다.
게다가 상술한 발생 회로(33)에서 발생되는 모든 시험 기록 레벨에 대응된 기입이 종료되면, 이 테스트 된 검사 영역(PCA)이 재생된다. 그리고 이 재생신호 중에서, 상술한 비대칭의 레벨이 진폭의 소정 범위내에 있는 신호가 재생될 때의 ATIP가 판별되고, 이 ATIP가 기억될 때의 시험 기록 레벨 상태에서 발생 회로(33)가 제어된다. 이와 같이 해서, 유기색소의 감도에 대해서 광 빔의 출력이 적합해지도록, 레이저 다이오드(4)에서의 광 빔의 출력 레벨이 제어된다.
다음에 이 장치에 있어서, 광 빔의 출력이 적합하게 되도록 제어된 상태에서, 상술된 검사 영역(PCA)에서 임의의 EFM신호의 기록이 행해진다. 그리고 이 신호가 기록될 때의 반사(재생) 신호가 매트릭스 회로(12)로부터 인출된다. 이 신호가 홀드 회로(37 및 38)에 공급된다. 한편, 이 EFM신호가 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에 공급되고, 예컨대 최단 비트 길이(3T)와 그것보다 긴 임의의 비트 길이(11T)의 신호가 판별된다. 그리고 이 마이크로 컴퓨터(CPU)(31)에서 신호가 판별된 타이밍으로 홀드 회로(37 및 38)가 구동된다.
이것에 의해서 예컨대 상술한 최단 비트 길이(3T)와 그것보다 긴 임의의 비트 길이(11T)의 신호가 기록될 때의 반사(재생) 신호의 레벨이 홀드 회로(37 및 38)에 의해 샘플링 홀드된다. 더욱이 샘플링의 타이밍은 예컨대 제2도에 도시된 바와 같이 된다. 그리고 이 홀드 회로(37 및 38)에서 홀드된 레벨이 연산회로(39)에 공급되고, 이들의 레벨의 차 또는 비교의 값이 연산되며, 이 연산된 값이 메모리(40)에 기억된다.
게다가 이 장치에 있어서, 기록시에는 프론트 모니터(42)로부터의 신호가 감산 회로(35)를 통해서 레이저 드라이버(3)에 공급되고, 레이저 다이오드(4)의 출사 파워가 일정하게 되는 방향으로 제어가 행해진다. 그와 동시에, 기록시에는 스위치(34)가 감산 회로(41)측으로 전환된다.
한편, 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에서는, 상술한 검사 영역(PCA)에서의 기록시와 마찬가지로, 예컨대 최단 비트 길이(3T)와 그것보다 긴 임의의 비트 길이(11T)의 신호가 판별된다. 그리고 이 마이크로컴퓨터(CPU)(31)에서 신호가 판별된 타이밍으로 홀드 회로(37 및 38)가 구동된다. 따라서 기록 신호중의 예를 들면 최단 비트 길이(3T)와 그것보다 긴 임의의 비트 길이(11T)의 신호가 기록될 때의 반사(재생) 신호의 레벨이 홀드 회로(37 및 38)에 의해 샘플링 홀드된다.
그리고 상기 홀드 회로(37 및 38)에 의해 홀드된 레벨이 연산회로(39)에 공급되며, 이들 레벨의 차 또는 비교 값이 연산된다. 이 연산된 값과 메모리(40)에 기억된 값이 감산 회로(41)에 의해 비교되고, 이들의 값의 차 성분이 검출된다. 이 검출된 성분이 스위치(34)를 통해서 감산회로(35)에 공급되고, 연산된 값과 메모리(40)에 기억된 값이 같아지도록, 레이저 다이오드(4)의 출사 파워의 제어가 행해진다.
따라서 상술한 장치에 따라, 기록기간 중에도 소정 신호의 반사 신호 레벨이 검출되어 광 빔의 출력이 제어되기 때문에, 파장의 변동에 의한 도포된 유기색소의 감도변화나, 광 디스크의 내외주의 감도차등에도 대응할 수가 있는 것이다.
따라서 레이저 다이오드의 파장의 빗나감에 대표되는 기입 광의 품질의 변화, 및 디스크내의 감도 영역의 빗나감 스큐등의 디스크의 파라미터의 변화에 관계없이, 기록된 디스크의 비대칭을 기입중의 반사 신호를 기초로 제어할 수 있기 때문에, 완성된 디스크의 신호품질(특히 비대칭(asymmetry))이 항상 일정하게 유지될 수가 있다.
게다가 상술한 광 빔의 출력이 적정하게 되도록 제어된 상태에서 검사 영역(PCA)에 기록되는 신호와, 예컨대 최단 비트 길이(3T) 보다 긴 임의의 비트 길이(11T)의 신호를 마이크로컴퓨터(CPU)(31)로부터 발생시켜 공급하도록 해도 좋다.
[발명의 효과]
본 발명에 의하면, 기록기간 중에도 소정 신호의 반사 신호 레벨들 검출해서 광 빔의 출력을 제어할 수 있기 때문에, 파장의 변동에 의한 도포된 유기색소의 감도변화나, 광 디스크의 내외주의 감도차등에도 대응할 수 있게 되었다.

Claims (1)

  1. 레이저빔을 사용하여 추기형 디스크에 임의의 데이터를 기입하기 위한 추기형 광디스크 기록 장치에 있어서, (a) 기록 특성의 검사 영역에서 상기 추기형 디스크상에 시험 기록을 실시하기 위한 수단으로서, 상기 기록 특성의 검사 영역으로부터 기록된 측정 신호를 재생하고, 상기 재생된 측정 신호를 사용하여, 상기 레이저빔의 출력을 제어하고, 상기 측정 신호를 사용함으로써 출력이 제어되는 레이저빔을 사용하여 상기 기록 특성의 검사 영역에 최단 비트 길이의 제 1의 신호와 상기 최단 비트 길이보다 긴 임의의 비트 길이의 제 2의 신호를 기록하는, 상기 시험 기록 실시 수단과, (b) 상기 특성 검사 영역으로부터 상기 제 1의 신호와 상기 제 2의 신호를 제 1의 기준 신호와 제 2의 기준 신호로서 재생하고 개별적으로 기억하기 위한 수단과, (c) 추기형 디스크의 데이터 영역에서 후속하는 데이터의 기록 동안 기록된 데이터 신호들을 동시에 재생하기 위한 수단으로서, 최단 비트 길이와 보다 긴 임의의 비트 길이의 신호들이 기록될 때 제공된 반사 신호 레벨을 상기 제 1의 기준 신호 및 제 2의 기준 신호와 비교하고, 상기 비교 출력에 의해 상기 레이저빔의 출력을 제어하는, 상기 재생 수단을 포함하는 추기형 광디스크 기록 장치.
KR1019920022160A 1991-11-25 1992-11-24 추기형 광 디스크 기록 장치 KR100270850B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3309097A JP3039056B2 (ja) 1991-11-25 1991-11-25 追記型光ディスク記録装置
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