JP2003115110A - レーザパワー制御方法、光ディスク記録装置および光ディスク - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の記録線速度での記録が可能であり、各
記録線速度において高品位のデータ記録を行うことがで
きる光ディスク記録装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク記録装置において、記録線速
度に応じた記録レーザパワー値の制御を行う。具体的に
は、記録レーザパワー値を検出し、検出した記録レーザ
パワー値の目標値を記録線速度に応じた値に制御する。
記録線速度と、記録レーザパワー値との関係は、本番記
録前に予めＯＰＣ等を行う際に求めておく。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＤ−Ｒ（Compac
t Disc−Recordable）ディスクやＣＤ−ＲＷ（Compact
Disc−ReWritable）ディスクといった光ディスクにデー
タ記録を行うためのレーザパワー制御方法、光ディスク
記録装置および光ディスクに関わる。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤ−ＲやＣＤ−ＲＷといった光ディス
クにデータ記録を行うための光ディスク記録装置が各種
提供されているが、データ記録の方式としては、ディス
ク回転数を一定として駆動するＣＡＶ（Constant Angul
ar Velocity）方式と、ディスクの線速度を一定にして
駆動するＣＬＶ（Constant Linear Velocity）方式があ
る。

【０００３】このうち、ＣＡＶ方式は、ディスクの回転
数が一定で、複雑な回転駆動制御を行う必要がないた
め、より高速な記録を行うための方式として広く採用さ
れつつある。ただしＣＡＶ方式では、ディスクの回転数
が一定である一方、ディスクのトレース長（記録線速
度）はディスクの位置によって変わる。例えばディスク
の最内周における記録線速度を標準速度の４倍速と設定
した場合、ディスクの最外周における記録線速度は標準
速の１０倍速に達する。また、ディスクの最内周で記録
線速度を８倍速とすると、ディスクの最外周では２０倍
速になる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】このように、ＣＡＶ方
式を採用した光ディスク記録装置では、記録位置が内周
側から外周側になるにつれて記録線速度が大きくなって
いくため、従来のＣＡＶ方式の光ディスク記録装置で
は、記録位置に応じて、記録レーザパワー値を変化さ
せ、記録線速度の変化に伴う記録品位の劣化を抑制して
いる。

【０００５】しかし、記録位置に応じて、すなわち記録
線速度に応じて記録レーザパワー値を変化させた場合で
あっても、記録品位が悪化してしまう問題が生じてい
た。また、近年の記録高速化に伴い、ＣＡＶ方式では最
内周位置と最外周位置とでの記録線速度の差がより大き
くなっており、上記のような記録品位の悪化がより顕著
なものとなるおそれがある。

【０００６】本発明は、以上の点を考慮して行われたも
のであり、複数の記録線速度でデータ記録が可能な光デ
ィスク記録装置において、各々の記録線速度でより高品
位な記録を行うことができるレーザパワー制御方法、光
ディスク記録装置、並びに光ディスクを提供することを
目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明に係るレーザパワー制御方法は、光ディ
スクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテ
スト記録を行うテスト記録ステップと、前記光ディスク
における前記テスト記録された領域の再生信号を取得す
る再生ステップと、複数の記録線速度と、各々の記録線
速度において目標となる記録品位に関するパラメータと
の関係を表す速度−パラメータ特性情報を取得するパラ
メータ特性取得ステップと、前記テスト記録領域の再生
信号と前記速度−パラメータ特性情報とに基づいて、複
数の記録線速度と記録レーザパワーとの関係を表す速度
−パワー特性情報を導出する導出ステップと、本番の記
録の際に、前記速度−パワー特性情報にしたがって前記
光ディスクに照射するレーザパワーを制御する制御ステ
ップとを具備することを特徴としている。

【０００８】この方法では、本番の記録前にテスト記録
を行い、このテスト記録の再生信号と、複数の記録線速
度と各々の記録線速度において目標となる記録品位に関
するパラメータとの関係を用い、複数の記録線速度に対
応した好適なレーザパワー値との関係を求めている。す
なわち、複数の記録線速度に応じた目標となる記録品位
に関するパラメータを利用して、複数の記録線速度とこ
れらの速度に対応した好適なレーザパワーとの関係を導
出することができる。したがって、例えばＣＡＶ記録の
ように記録線速度が変動する記録を行う場合であって
も、本番の記録前に、速度変動を考慮したより適正な記
録線速度とレーザパワーとの対応関係を導出することが
でき、この結果、記録線速度が変動する場合であっても
より高品位な記録を安定して行えるようになる。

【０００９】また、本発明の別態様のレーザパワー制御
方法は、光ディスクに対して指定された記録線速度より
も低い記録線速度で記録する時には前記光ディスクを一
定の回転速度で回転させながらレーザ光を照射して情報
を記録し、前記指定された記録線速度に達した後は当該
指定された記録線速度での記録が実行されるように前記
光ディスクの回転速度を変動させながらレーザ光を照射
して情報を記録する場合に、前記光ディスクに照射する
レーザ光のパワーを制御する方法であって、前記光ディ
スクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテ
スト記録を行うテスト記録ステップと、前記光ディスク
における前記テスト記録された領域の再生信号を取得す
る再生ステップと、前記指定された記録線速度に対応す
る目標となる記録品位に関するパラメータ値を取得する
パラメータ取得ステップと、前記テスト記録領域の再生
信号と、前記目標となる記録品位に関するパラメータ値
とに基づいて、記録線速度と記録レーザパワーとの関係
を表す速度−パワー特性情報を導出する導出ステップ
と、本番の記録の際に、前記速度−パワー特性情報にし
たがって前記光ディスクに照射するレーザパワーを制御
する制御ステップとを具備することを特徴としている。

【００１０】この方法では、いわゆるパーシャルＣＡＶ
方式で記録を行う場合に、本番の記録前にその最高記録
線速度であるＣＬＶ領域の記録線速度に対応した記録品
位に関するパラメータを用いて、記録線速度と好適なレ
ーザパワーとの対応関係を導出するようにしている。し
たがって、パーシャルＣＡＶ方式で記録する場合に、ユ
ーザ等によって指定された最高記録線速度、すなわちレ
ーザパワー制御に精度が要求される高速記録時に好適な
レーザパワー値を導出することができ、より高品位な記
録を安定して行えるようになる。

【００１１】また、本発明の他の態様のレーザパワー制
御方法は、光ディスクにレーザ光を照射して情報を記録
している時に、照射するレーザ光のパワーを制御する方
法であって、前記光ディスクからの戻り光に関する値を
検出する戻り光検出ステップと、前記光ディスクに対し
て実施される記録の記録線速度を取得する線速度取得ス
テップと、前記検出された戻り光に関する値と、前記取
得された記録線速度とに基づいて前記光ディスクに対し
て照射すべきレーザ光のパワーを制御する制御ステップ
とを具備することを特徴としている。

【００１２】この方法では、本番の記録時に光ディスク
からの戻り光に関する値を検出し、該戻り光に関する値
と、その時の記録線速度とに基づいてレーザパワーを制
御している。すなわち、本番の記録状況を反映したレー
ザパワー制御を行うことができる。また、この方法で
は、記録線速度を取得し、該記録線速度をレーザパワー
値を決定するために用いるようにしているので、ＣＡＶ
記録等のように記録速度が変動する場合にもその記録変
動に対応したレーザパワー制御を行うことができる。

【００１３】また、本発明のその他の態様のレーザパワ
ー制御方法は、光ディスクに対して指定された記録線速
度よりも低い記録線速度で記録する時には前記光ディス
クを一定の回転速度で回転させながらレーザ光を照射し
て情報を記録し、前記指定された記録線速度に達した後
は当該指定された記録線速度での記録が実行されるよう
に前記光ディスクの回転速度を変動させながらレーザ光
を照射して情報を記録する場合に、前記光ディスクに照
射するレーザ光のパワーを制御する方法であって、前記
光ディスクからの戻り光に関する値を検出する検出ステ
ップと、２以上の記録線速度と、各々の記録線速度にお
いて目標となる戻り光に関する値との対応関係を取得す
る取得ステップと、前記取得した対応関係を参照し、前
記指定された記録線速度に対応する戻り光に関する値を
目標値として取得する目標値取得ステップと、前記目標
値として取得した戻り光に関する値に、前記検出ステッ
プで検出された戻り光に関する値が一致するように前記
光ディスクに照射するレーザパワーを制御する制御ステ
ップとを具備することを特徴としている。

【００１４】この方法では、いわゆるパーシャルＣＡＶ
方式で記録を行う場合に、本番の記録時に、その最高記
録線速度であるＣＬＶ領域の記録線速度に対応した目標
値を設定し、本番の記録時に得られる光ディスクからの
戻り光に関する値がその設定目標値に一致するようレー
ザパワーを制御している。したがって、パーシャルＣＡ
Ｖ方式で記録する場合に、ユーザ等によって指定された
最高記録線速度に応じた好適なレーザパワー制御を行う
ことができ、より高品位な記録を安定して行えるように
なる。

【００１５】また、本発明に係る光ディスク記録装置
は、光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスク
に対してテスト記録を行うテスト記録手段と、前記光デ
ィスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を
取得する再生手段と、複数の記録線速度と、各々の記録
線速度において目標となる記録品位に関するパラメータ
との関係を表す速度−パラメータ特性情報を取得するパ
ラメータ特性取得手段と、前記テスト記録領域の再生信
号と前記速度−パラメータ特性情報とに基づいて、複数
の記録線速度と記録レーザパワーとの関係を表す速度−
パワー特性情報を導出する導出手段と、本番の記録の際
に、前記速度−パワー特性情報にしたがって前記光ディ
スクに照射するレーザパワーを制御する制御手段とを具
備することを特徴としている。

【００１６】また、本発明の別態様の光ディスク記録装
置は、光ディスクに対して指定された記録線速度よりも
低い記録線速度で記録する時には前記光ディスクを一定
の回転速度で回転させながらレーザ光を照射して情報を
記録し、前記指定された記録線速度に達した後は当該指
定された記録線速度での記録が実行されるように前記光
ディスクの回転速度を変動させながらレーザ光を照射し
て情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記光
ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対し
てテスト記録を行うテスト記録手段と、前記光ディスク
における前記テスト記録された領域の再生信号を取得す
る再生手段と、前記指定された記録線速度に対応する目
標となる記録品位に関するパラメータ値を取得するパラ
メータ取得手段と、前記テスト記録領域の再生信号と前
記目標となる記録品位に関するパラメータ値とに基づい
て、記録線速度と記録レーザパワーとの関係を表す速度
−パワー特性情報を導出する導出手段と、本番の記録の
際に、前記速度−パワー特性情報にしたがって前記光デ
ィスクに照射するレーザパワーを制御する制御手段とを
具備することを特徴としている。

【００１７】また、本発明の他の態様の光ディスク記録
装置は、光ディスクに対してレーザ光を照射して情報を
記録する光ディスク記録装置であって、前記光ディスク
からの戻り光に関する値を検出する検出手段と、前記光
ディスクに対して実施される記録の記録線速度を取得す
る線速度取得手段と、前記検出された戻り光に関する値
と、前記取得された記録線速度とに基づいて前記光ディ
スクに対して照射すべきレーザ光のパワーを制御する制
御手段とを具備することを特徴としている。

【００１８】また、本発明のその他の態様の光ディスク
記録装置は、光ディスクに対して指定された記録線速度
よりも低い記録線速度で記録する時には前記光ディスク
を一定の回転速度で回転させながらレーザ光を照射して
情報を記録し、前記指定された記録線速度に達した後は
当該指定された記録線速度での記録が実行されるように
前記光ディスクの回転速度を変動させながらレーザ光を
照射して情報を記録する光ディスク記録装置であって、
２以上の記録線速度と、各々の記録線速度において目標
となる戻り光に関する値との対応関係を取得する取得手
段と、前記取得した対応関係を参照し、前記指定された
記録線速度に対応する戻り光に関する値を目標値として
取得する目標値取得手段と、前記目標値として取得した
戻り光に関する値に、前記検出ステップで検出された戻
り光に関する値が一致するように前記光ディスクに照射
するレーザパワーを制御する制御手段とを具備すること
を特徴としている。

【００１９】また、本発明に係る光ディスクは、レーザ
光が照射されることにより情報が記録される円盤状の光
ディスクであって、当該光ディスクの記録面に形成され
る色素膜は、当該記録面における内周側の位置よりも外
周側の位置の膜厚が小さくなっていることを特徴として
いる。

【００２０】この構成によれば、例えばＣＡＶ記録方式
のように光ディスクの外周側の位置での記録線速度が内
周側の位置での記録線速度より大きくなるといった記録
を行う場合に、該線速度の変動を考慮した厚みで色素膜
が形成されているので、記録装置側でのレーザパワー制
御を簡略化した場合にも、記録品位の低下を抑制するこ
とができる。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
形態について説明する。 Ａ：第１実施形態 Ａ−１：本実施形態の特徴 まず、本実施形態に係る光ディスク記録装置についての
具体的な説明に先立ち、本発明の特徴を説明する。上述
したように従来のＣＡＶ方式の光ディスク記録方式で
は、記録レーザパワー値を記録線速度に応じて制御し、
記録線速度の変動に伴う記録品位の悪化を抑制してい
た。

【００２２】ここで、図１を用いて従来の光ディスク記
録装置における具体的な記録レーザパワーの制御につい
て説明する。図１は、従来の光ディスク記録装置におい
て、データ記録を実行する際のレーザパワー制御の概要
を示す図である。同図に示すように、レーザパワーの制
御内容は、本番記録の準備段階として行うＯＰＣ（Opti
mum Power Control）に係る制御８−１と、本番記録時
に行うＬＰＣ（Laser Power Control）に係る制御８−
２とに大別される。

【００２３】はじめにＯＰＣに係る制御８−１の内容を
具体的に説明する。ＯＰＣは、本番記録を行うためのレ
ーザパワー値を決定するために実行するものである。光
ディスク記録装置は、セットされた光ディスク９９の所
定領域（ＯＰＣ用領域）に対し、記録レーザパワー値を
数段階に順次変化させながらテスト記録を行う（ステッ
プＳ８１）。次いで、テスト記録を行った領域を再生し
て得られる信号から再生信号のアシンメトリ度（ベータ
値：β値）を検出する（ステップＳ８２）。

【００２４】ここでβ値は、記録品位を表すＣ１エラー
値と相関性があるため、予め実験等により記録品位が良
くなる、すなわちＣ１エラー値が小さくなるβ値（ター
ゲットβ値）を求めておけば、ターゲットβ値との差分
値から記録品位を判断することができる。

【００２５】図２は、ＯＰＣを実行して得られる、記録
レーザパワー値とβ値との関係を例示するグラフであ
る。光ディスク記録装置は、このようなグラフについて
一次関数近似を行い、記録レーザパワー値とβ値との関
係を解析する。そして、予め求めたターゲットβ値に対
応する記録レーザパワー値を算出、決定する（ステップ
Ｓ８３）。

【００２６】図１に戻り、ＬＰＣに係る制御８−２の内
容を具体的に説明する。ＬＰＣは、記録を行うための光
レーザの出力（記録レーザパワー値）が、一定になるよ
うに実行するものである。光ディスク記録装置は、ＯＰ
Ｃにより決定した記録レーザパワー値となるように光レ
ーザの出力を調整して、実際のデータ記録を開始させる
（ステップＳ８５）。

【００２７】そして、実際のデータ記録を開始した後
は、レーザパワー値を一定に保つべく、レーザ光の強度
をダイオード等によりモニタリングし、モニタ結果が一
定になるようにレーザパワー値の制御を行う。

【００２８】ところで、上述したように、従来の装置に
おいては、ＯＰＣ時に使用するターゲットβ値は、予め
実験等で求めた固定値を使用することとしていた。本発
明者は、このターゲットβ値に注目し、このターゲット
β値を固定値としていたことが記録線速度の変化に伴う
記録品位の悪化の要因になっているのではと考えた。す
なわち、記録線速度によって、記録品位（Ｃ１エラー
値）とベータ値の相関関係は異なり、各々の記録線速度
によって最適なターゲットβ値は異なるのではないかと
考えた。そして、様々な記録線速度ごとに様々なターゲ
ットβ値を設定して記録する記録実験を行った。

【００２９】この実験の結果、各々の記録線速度により
高品位の記録が得られるターゲットβ値は異なることが
わかった。

【００３０】図３は、実験結果の一部を示すグラフであ
り、様々な条件下で記録した領域を再生して得られるβ
値とＣ１エラー値との関係を示すグラフである。同図に
示すように、記録速度を標準速度の８倍速、１２倍速、
…と変化させた場合、Ｃ１エラーの値がより小さくなる
β値（ターゲットβ値の最適値）は変化する。

【００３１】図４は、このような記録実験から求めたタ
ーゲットβ値の値と記録線速度の値との関係を示すグラ
フである。このように記録線速度とターゲットβ値の最
適値との間には関連性があることもわかった。

【００３２】Ａ−２：構成 本発明は以上のような、記録線速度と、記録品位に関す
るパラメータの一つであるターゲットβ値との関係を考
慮したものである。以下、このような本発明の一実施形
態に係る光ディスク記録装置について詳細に説明する。

【００３３】図５は、本発明の一実施形態に係る光ディ
スク記録装置１００の構成図である。この光ディスク記
録装置１００は、光ピックアップ１０、スピンドルモー
タ１１、ＲＦアンプ１２、サーボ回路１３、アドレス検
出回路１４、デコーダ１５、制御部１６、エンコーダ１
７、ストラテジ回路１８、レーザドライバ１９、レーザ
パワー制御回路２０、周波数発生器２１、エンベロープ
検出回路２２、Ｃ１エラー検出回路２３、β検出回路２
４を備えている。

【００３４】スピンドルモータ１１は、データ記録を行
うための光ディスク（本実施形態ではＣＤ−Ｒディス
ク）９９を回転駆動するためのモータである。光ピック
アップ１０は、レーザダイオード、レンズやミラー等の
光学系、および戻り光受光素子を有しており、記録およ
び再生時にはレーザ光を光ディスク９９に対して照射
し、光ディスク９９からの戻り光を受光して受光信号で
あるＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）変調され
たＲＦ信号をＲＦアンプ１２に出力する。また、光ピッ
クアップ１０は、モニタダイオードを有し、光ディスク
９９の戻り光によってモニタダイオードに電流が流れる
と、この電流量に対応する信号がレーザパワー制御回路
２０に供給される。

【００３５】ＲＦアンプ１２は、光ピックアップ１０か
ら供給されたＥＦＭ変調されたＲＦ信号を増幅し、増幅
後のＲＦ信号をサーボ回路１３、アドレス検出回路１
４、エンベロープ検出回路２２、β検出回路２４および
デコーダ１５に出力する。

【００３６】デコーダ１５は、再生時にはＲＦアンプ１
２から供給されるＥＦＭ変調されたＲＦ信号をＥＦＭ復
調して再生データを生成する。また、デコーダ１５は、
記録時には、テスト記録を行った領域を再生する際にＲ
Ｆアンプ１２から供給されたＲＦ信号をＥＦＭ復調す
る。このＥＦＭ復調したＲＦ信号により、Ｃ１エラー検
出回路２３は、Ｃ１エラーの値を検出し、制御部１６に
出力する。

【００３７】Ｃ１エラー検出回路２３は、ＥＦＭ復調さ
れた信号に対してＣＩＲＣ（CrossInterleaved Read So
lomon Code）と呼ばれる誤り訂正符号を用いたエラー訂
正を行い、１サブコードフレーム（９８ＥＦＭフレー
ム）の中で１回目のエラー訂正ができないフレームの個
数、すなわちＣ１エラーの回数を検出する。

【００３８】β検出回路２４は、ＲＦアンプ１２から供
給されるＥＦＭ変調されたＲＦ信号から再生信号品位に
関するパラメータとしてβ（アシンメトリ）値を算出
し、算出結果を制御部１６に出力する。ここで、β値は
ＥＦＭ変調された信号波形のピークレベルをａ、ボトム
レベルをｂとすると、（ａ＋ｂ）／（ａ−ｂ）の式から
求められる。

【００３９】アドレス検出回路１４は、ＲＦアンプ１２
から供給されたＥＦＭ信号からウォブル信号成分を抽出
し、ウォブル信号成分に含まれるディスクアドレス位置
を表すアドレス時間情報を復号し、制御部１６に出力す
る。ＣＤ−Ｒディスクには、アドレス時間情報が一定の
間隔ごとに予め記録されているため、制御部１６は、復
号したアドレス時間情報が供給されるタイミングを検出
することにより、ディスク線速度を算出することができ
る。

【００４０】エンベロープ検出回路２２は、光ディスク
９９にデータ記録を行う場合に、たとえば未記録の領域
をサーチするために、ＲＦアンプ１２から供給されるＥ
ＦＭ信号のエンベロープを検出する。

【００４１】サーボ回路１３は、スピンドルモータ１１
の回転制御および光ピックアップ１０のフォーカス制
御、トラッキング制御、送り制御を行う。本実施形態に
係る光ディスク記録装置１００は、ユーザによって設定
された所定の角速度で光ディスク９９を駆動させるＣＡ
Ｖ方式で記録するようになっている。サーボ回路１３
は、制御部１６から供給される設定角速度を示す制御信
号に基づき、スピンドルモータ１１を駆動させる。

【００４２】制御部１６は、ＣＰＵと、ＲＯＭやＲＡＭ
等から構成されるメモリとを有しており、メモリに予め
格納される制御プログラムに従い、光ディスク記録装置
１００の各部を制御する。

【００４３】本実施形態に係る光ディスク記録装置１０
０では、制御部１６は、光ディスク９９に対する本番の
記録に先立ち、ＯＰＣを実行し、該ＯＰＣの結果に基づ
いてレーザパワーを制御して本番の記録を行うように装
置各部を制御する。より具体的には、制御部１６は当該
光ディスク記録装置１００にセットされた光ディスク９
９の所定の領域に対し、テスト記録を行うように装置各
部を制御する。さらに、制御部１６は、上述したテスト
記録された領域を再生している際に得られる信号からβ
検出回路２４によって検出されたβ値を取得し、該β値
と記録レーザパワーとの関係を示す特性情報を取得す
る。

【００４４】そして、制御部１６は取得した特性情報
と、予めメモリに格納されている光ディスク９９に対す
る複数の記録線速度の値とターゲットβ値と対応付けた
ターゲットβ値テーブルとに基づいて、記録線速度が変
化するＣＡＶ記録時においても、変動する記録線速度に
応じた最適なレーザパワー値のレーザ光が光ピックアッ
プ１０から照射されるようにレーザパワー制御回路２０
を制御する。ここで、図６は、ターゲットβ値テーブル
の内容を模式的に例示する図である。このようにターゲ
ットβ値テーブルには、複数の記録線速度の範囲と、タ
ーゲットβ値の最適値のデータとが対応付けられて格納
されている。制御部１６は、このターゲットβ値テーブ
ルを参照し、変動する記録線速度に応じて最適なレーザ
パワーのレーザ光が照射されるように制御するのであ
る。また、このターゲットβ値テーブルの作成も、当該
光ディスク記録装置１００の出荷前の工場等において、
制御部１６の制御の下に実行されるようになっている。
なお、制御部１６によるレーザパワー制御やターゲット
β値テーブルの作成のための制御の詳細は後述する。

【００４５】エンコーダ１７は、供給される記録データ
をＥＦＭ変調し、ストラテジ回路１８に出力する。スト
ラテジ回路１８は、エンコーダ１７から供給されたＥＦ
Ｍ信号に時間軸補正処理等を行い、レーザドライバ１９
に出力する。レーザドライバ１９は、ストラテジ回路１
８から供給される記録データに応じて変調された信号
と、レーザパワー制御回路２０の制御にしたがって、光
ピックアップ１０のレーザダイオードを駆動する。

【００４６】レーザパワー制御回路２０は、光ピックア
ップ１０のレーザダイオードから照射されるレーザパワ
ーを制御するものである。図７は、レーザパワー制御回
路２０の内容を示すブロック図である。同図に示すよう
に、レーザパワー制御回路２０は、モニタ電流検出回路
２０１と、比較回路２０２と、制御信号生成回路２０３
とを備えている。モニタ電流検出回路２０１は、光ピッ
クアップ１０の近傍に設置されるモニタダイオードから
供給される電流信号を検出する回路である。ここで、モ
ニタダイオードに流れる電流量は、光ピックアップ１０
から出力されるレーザ光の光量（パワー値）に応じたも
のであるため、モニタ電流検出回路２０１は光ピックア
ップ１０出力されるレーザ光のパワー値を検出すること
になる。

【００４７】比較回路２０２は、モニタ電流検出回路２
０１から供給される、レーザパワー値に応じた信号と、
制御部１６から供給されるＬＰＣ基準値とを比較し、そ
の比較結果を出力する回路である。ここで、制御部１６
から供給されるＬＰＣ基準値は、予め記録実験等を行う
ことにより求められており、ターゲットβ値テーブル
（図６）の内容に基づき、記録線速度に応じたレーザパ
ワー値のＬＰＣ基準値が適宜供給される。

【００４８】制御信号出力部２０３は、比較回路２０２
から供給される比較結果に基づいた制御信号を生成し、
レーザドライバ１９に出力させる。このようなレーザパ
ワー制御回路２０の構成により、光ピックアップから出
力されるレーザ光のパワー値は、ＯＰＣの結果に基づく
記録線速度に応じた好適なものに制御される。

【００４９】Ａ−３：動作 次に、光ディスク記録装置１００の動作説明をする。本
実施形態に係る光ディスク記録装置では、上述したよう
に、記録線速度に応じてＯＰＣで用いるターゲットβ値
を変更することにより、レーザパワー値の制御を行うこ
ととしている。このようなターゲットβ値を制御するに
あたっては、制御部１６のメモリに記憶されたターゲッ
トβ値テーブル（図６参照）を参照することにより、タ
ーゲットβ値を適宜変更している。

【００５０】ここで、どのような記録線速度で、どのよ
うなターゲットβ値を設定することが、より高品位の記
録を可能とするかは、各装置を構成する部品（光ピック
アップ等）や、レーザドライバの回路素子の特性バラツ
キ等に応じて変動することが考えられる。そこで、本実
施形態に係る光ディスク記録装置では、各々の光ディス
ク記録装置を製造した後に、その装置の出荷前に各々の
光ディスク記録装置が、制御部１６の制御の下、どのよ
うな記録線速度で、どのようなターゲットβ値を設定す
るのが好適であるかといった記録線速度とターゲットβ
値との関係を求めて、上述したターゲットβ値テーブル
を作成するようにしている。

【００５１】以下においては、例えば工場出荷時におい
て実行されるターゲットβ値テーブルの作成処理の内容
を説明し、その後、ユーザの使用時における実際の本番
記録の内容について説明する。

【００５２】＜ターゲットβ値テーブル作成時の動作＞
はじめに、ターゲットβ値テーブルの作成動作について
説明する。ターゲットβ値テーブルの作成処理は、複数
の記録線速度ごとに、複数のターゲットβ値のを設定し
た上で、光ディスクに対してテスト記録を行い、該テス
ト記録の再生結果に基づいて、複数の記録線速度ごと
に、より高品位な記録が行えるターゲットβ値を決定
し、該決定結果に基づいてターゲットβ値テーブルを作
成する。以下、このようなターゲットβ値テーブルの作
成時の動作について、具体例を挙げて説明する。

【００５３】図８は、ターゲットβ値テーブル作成時に
おける制御部１６の動作内容一例を示すフローチャート
である。工場のオペレータにより光ディスク記録装置１
００に光ディスク９９がセットされ、テスト記録開始が
指示されると、制御部１６は、光ディスク９９を所定の
線速度（ここでは標準速度の８倍速）で駆動させ、テス
ト記録を開始する（ステップＳａ１）。

【００５４】具体的に説明すると、制御部１６は、テス
ト記録を行うために、エンコーダ１７にテスト記録用の
信号を送出するとともに、レーザパワー制御回路２０を
制御して、記録レーザパワー値を予め決められている１
５段階に順次変化させる。このように装置各部を制御し
て、制御部１６は、レーザパワー値を変化させる毎に、
１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号を記録し、合計１
５フレーム分のＥＦＭ信号を記録するテスト記録を実行
する。

【００５５】その後、制御部１６は、当該テスト記録を
行った領域を再生させて得られるＣ１エラー値およびβ
値を用いて、記録線速度が８倍速のときのターゲットβ
値の最適値Ｔβ８を決定する（ステップＳａ２）。

【００５６】図９は、この際に得られるＣ１エラー値
と、β値との関係を示すグラフであるが、制御部１６
は、このようなデータについて２次曲線近似を行い、Ｃ
１エラー値が小さくなる好適なβ値を、記録線速度が８
倍速のときのターゲットβ値の最適値Ｔβ８として決定
する。なお、この際に用いるデータ補間法は２次曲線近
似以外でもよく、たとえば最小二乗法、スプライン補間
法を用いてもよい。

【００５７】次に、制御部１６は、光ディスク９９を標
準速度の１２倍速の線速度で駆動し、上述した８倍速で
行ったのと同様のテスト記録を行う（ステップＳａ
３）。この場合も、制御部１６は装置各部を制御し、レ
ーザパワー値を１５段階に変化させる毎に、１サブコー
ドフレーム分のＥＦＭ信号を記録し、合計１５フレーム
分のＥＦＭ信号を記録するテスト記録を実行する。

【００５８】そして、制御部１６は、当該テスト記録を
行った領域を再生させて得られるＣ１エラー値およびβ
値の関係を解析し、記録線速度を１２倍速に設定した際
における、ターゲットβ値の最適値Ｔβ１２を決定する
（以上、ステップＳａ４）。

【００５９】以下、制御部１６は、光ディスク９９を１
６倍速、２０倍速の線速度で駆動させて、同様にテスト
記録を行う。そして、記録した場所を再生することによ
り、記録線速度を１６倍速、２０倍速にした際におけ
る、ターゲットβ値の最適値Ｔβ１６、Ｔβ２０を決定
する。以上、ステップＳａ５〜Ｓａ８）。

【００６０】次に、制御部１６は、ディスク９９の線速
度Ｖdisc（＝８倍速、１２倍速、…）と、上記のように
決定したターゲットβ値の最適値Ｔβｎ（ｎ＝８、１
２、…）との関係を求める。ここで、ディスク線速度Ｖ
discは記録線速度に対応する値となる。図１０は、記録
線速度Ｖdiscとターゲットβ値の最適値ＴＲＢｎとの関
係をプロットした図である。制御部１６は、記録線速度
Ｖdiscと最適なターゲットβ値の最適値Ｔβｎとの関係
について、以下の一次式を満たす定数Ａ、Ｂの値を求
め、一次関数近似を行う。

【００６１】Ｔβｎ＝Ａ×Ｖdisc＋Ｂ Ａ，Ｂ；定数 Ｔβｎ；ターゲットβ値の最適値（ｎは自然数） Ｖdisc；記録線速度

【００６２】このようにして、制御部１６は、記録線速
度Ｖdiscとターゲットβ値の最適値Ｔβｎとの関係式を
求めた後、両パラメータの関係を示すターゲットβ値テ
ーブル（図６参照）を作成し、制御部１６内メモリに格
納する（ステップＳａ９）。以上が、当該光ディスク記
録装置１００の出荷前に工場等において実行されるター
ゲットβ値テーブル作成時の動作内容である。

【００６３】なお、図６に模式的に示したターゲットβ
値テーブルの内容は、記録線速度が標準速の１倍速から
２倍速のときは値Ｔβ１をターゲットβ値の最適値とし
て格納している。また、記録線速度が２倍速から３倍速
のときは値Ｔβ２、記録線速度が３倍速から４倍速のと
きは値Ｔβ３、…、を格納している例である。

【００６４】＜ユーザ使用時の動作＞次に図１１を用い
てユーザ使用時の動作内容を説明する。ユーザによって
光ディスク記録装置１００に光ディスク９９がセットさ
れ、ディスク記録速度指定の上でデータ記録の開始が指
示されると、制御部１６は、本番記録を行う前にＯＰＣ
（Optical Power Control）を実行し、データ記録を行
うためのレーザパワー値を決定させる（ステップＳｂ
１）。

【００６５】まず、制御部１６は、記録線速度を８倍速
に設定してＯＰＣを実行する。この場合、制御部１６
は、ターゲットβ値テーブルの内容から記録線速度が８
倍速の時に対応するターゲットβ値を取得し、該ターゲ
ットβ値を使用してＯＰＣを実行する。

【００６６】その後、制御部１６は、光ディスク９９の
所定領域（ＯＰＣ用領域）にテスト記録を行うべく、光
ディスク記録装置１００の各部を制御する。具体的には
エンコーダ１７にテスト記録用の信号を送出するととも
に、レーザパワー制御回路２０を制御して、記録レーザ
パワー値を予め決められている１５段階に順次変化させ
る。このように制御部１６は、レーザパワー値を変化さ
せる毎に、１サブコードフレーム分のＥＦＭ信号を記録
し、合計１５フレーム分のＥＦＭ信号を記録するテスト
記録を実行させる。

【００６７】そして、制御部１６は、テスト記録を行っ
た領域を再生し、該再生信号からβ検出回路２４により
検出されるβ値の値を解析することにより、８倍速にタ
ーゲットβ値に対応する最適レーザパワー値を決定する
（ステップＳｂ２）。

【００６８】次に、制御部１６は、記録線速度を１２倍
速として、同様のＯＰＣテスト記録を実行する。そし
て、制御部１６は、ターゲットβ値テーブルの内容から
記録線速度が１２倍速のときのターゲットβ値を使い、
かかるターゲットβ値に対応するレーザパワー値を決定
する。

【００６９】図１２は、以上のようなＯＰＣテスト記録
を行った結果、得られる記録レーザパワー値とβ値との
関係の一例を示すグラフである。制御部１６は、このグ
ラフに示される記録レーザパワー値とβ値との関係か
ら、記録線速度と記録レーザパワー値との関係を一次関
数近似により求める。この結果、図１３中実線で示すよ
うに、記録線速度と、最適な記録が行える記録レーザパ
ワー値との関係を表す情報を求めることができる。

【００７０】以上の解析により、記録線速度と最適な記
録レーザパワーとの関係が求まり、制御部１６はこの関
係にしたがって記録線速度に応じてレーザパワーを制御
することになるが、レーザパワーの制御は光ピックアッ
プに供給する電流値を制御することにより行われる。以
下、上記のように求めた記録線速度と最適な記録レーザ
パワーとの関係が求まり、制御部１６はこの関係にした
がって、レーザパワーを制御する時の具体的な動作につ
いて説明する。

【００７１】制御部１６は、β値とレーザパワー制御回
路２０のモニタ電流検出回路２０１で検出されるモニタ
電流値Ｉmonとの関係を解析する（ステップＳｂ３）。
具体的には、制御部１６は、上述したＯＰＣによるテス
ト記録を実行している際に、レーザパワー制御回路２０
のモニタ電流検出回路２０１で検出されるモニタ電流値
Ｉmonを記録しておく。そして、記録したモニタ電流値
Ｉmon、すなわちレーザパワー値に対応するモニタ電流
値Imonと、再生評価時に得られるβ値との関係式を求め
る。制御部１６は、求めたβ値とモニタ電流値Ｉmonと
の関係について、以下の一次式を満たす定数Ｃ、Ｄの値
を求め、一次関数近似を行う。

【００７２】Ｉmon＝Ｃ×β＋Ｄ Ｃ，Ｄ；定数 Ｉmon；モニタ電流検出回路２０１で検出されるモニタ
電流値 β；β値

【００７３】制御部１６は、このようにして求めたβ値
とモニタ電流値Ｉmonとの関係式をＲＡＭ等のワーキン
グエリアに格納する。そして、この関係式を用いて光ピ
ックアップ１０への電流供給を制御し、本番の情報記録
を行う（ステップＳｂ６）。制御部１６は、ＯＰＣを実
行して決定した最適なレーザパワー値のレーザ光が光ピ
ックアップ１０から照射されるよう、レーザパワー制御
回路２０を制御し、本番の記録を開始する。このような
本番記録が開始されると制御部１６は、アドレス検出部
１４から検出されるアドレス情報が制御部１６に供給さ
れるタイミングを検出し、ディスクの線速度、すなわち
記録線速度を検出する。そして、ターゲットβ値テーブ
ルに格納されている内容から、検出した記録線速度に最
適なターゲットβ値を判別する。また、β値とモニタ電
流値Ｉmonとの関係式から、ターゲットβ値に対応する
モニタ電流値Ｉmonの値を求め、この値をＬＰＣパラメ
ータＰ１として決定する。そして、制御部１６は、ＬＰ
ＣパラメータＰ１の値をレーザパワー制御回路２０の比
較回路２０２に出力し、記録レーザパワー値の制御を行
う。すなわち、ある記録線速度で記録している時には、
その記録線速度に対応するターゲットβ値を上記関係式
に代入して算出されるモニタ電流値を求め、実際のモニ
タ電流検出回路２０１から検出されるモニタ電流値が当
該電流値に等しくなるようにレーザパワー値の制御を行
う。このような供給電流の制御により、光ピックアップ
１０から出射されるレーザパワー値が制御され、記録線
速度の変動に関わらず最適な強度のレーザ光が光ディス
ク９９に照射されるのである。

【００７４】以上のように本発明に係る光ディスク記録
装置１００によれば、たとえばＣＡＶで高速にデータ記
録を行った場合で、光ディスク９９の内周と外周とで記
録線速度が大きく変化するような場合であっても、記録
線速度に応じて最適な強度のレーザ光が光ディスク９９
に照射されるように制御することができる。したがっ
て、ＣＡＶ記録のように記録速度が変動する場合にも、
記録線速度に応じた適正なデータ記録を行うことが担保
される。例えば、最内周の記録線速度が８倍速で最外周
の記録線速度が２０倍速のＣＡＶ記録を行う場合、従来
の装置のようにターゲットβ値を固定値、８倍速に適し
たターゲットβ値や、２０倍速に適したターゲットβ値
とした場合には、図１３中破線で示すような特性が得ら
れることになる。すなわち、ＯＰＣにおいて、８倍速記
録に最適なターゲットβ値を用いて記録線速度とレーザ
パワー値との関係を求めると、８倍速以外の線速度での
記録時には最適な記録レーザパワーで記録しているわけ
ではないことが分かる。例えば、２０倍速での記録時に
は最適なレーザパワー値よりもΔＰだけ大きい強度のレ
ーザ光を照射して記録を実行してしまうことになるので
ある。これに対し、本実施形態では、図１３中実線で示
すように、８〜２０倍速のいずれの記録線速度で記録す
る場合であってもほぼ最適なレーザパワーによる記録を
行えるようになるのである。

【００７５】また、出荷される前に各装置ごとにターゲ
ットβ値テーブルが作成されるため、装置ごとに最適な
ターゲットβ値の設定をすることが可能であり、該ター
ゲットβ値を用いたレーザパワー制御を行うことによ
り、個々の装置でより最適なレーザパワー制御を行うこ
とができ、より安定した記録が行えるようになる。

【００７６】Ａ−４：変形例 上述した第１実施形態は、本発明の一実施形態にすぎ
ず、本発明の内容を限定するものではなく、本発明の趣
旨の範囲内で任意に変更を加えることができる。たとえ
ば、以下のような変形例があげられる。

【００７７】Ａ−４−１：変形例１ 上述実施形態では、制御部１６のメモリに、記録線速度
の値とターゲットβ値とを対応付けたターゲットβ値テ
ーブルを格納することとしているが、ターゲットβ値テ
ーブルを格納するのではなく、記録線速度の値とターゲ
ットβ値の目標値ＴＲＢrefとの関数式（上述実施形態
では、「Ｔβｎ＝Ａ×Ｖdisc＋Ｂ」の式が該当）をメモ
リに格納することとしてもよい。

【００７８】この場合であっても、制御部１６は、記録
時に記録線速度の値を検出し、メモリに格納した関数に
代入することにより、複数の記録線速度の各々に応じた
最適なターゲットβ値を算出することができる。そし
て、算出したターゲットβ値を使って、ＯＰＣ等を実行
することにより、上述した実施形態と同様に高品位な記
録を安定して実施することができる。

【００７９】Ａ−４−２：変形例２ 上述した実施形態では、光ディスク記録装置１００を工
場等から出荷する前に、制御部１６がメモリに予め格納
された所定のプログラムに従ってテスト記録を行い、記
録線速度の値とターゲットβ値とを対応付けたターゲッ
トβ値テーブルを作成、記憶することとしている。しか
し、テスト記録用の制御プログラムや、記録線速度の値
とターゲットβ値との関係式を求めるための解析プログ
ラムは、制御部１６のメモリに格納しない構成としても
よい。

【００８０】例えば、工場内に、テスト記録を行うため
の専用装置を設け、この専用装置内のメモリに、テスト
記録用の制御プログラムや、制御プログラムを格納して
おくこととする。そして、光ディスク記録装置１００を
工場から出荷する前に、オペレータ等の操作によって光
ディスク記録装置１００と専用装置が一時的にケーブル
接続されると、制御部１６は、専用装置に格納される制
御プログラムや制御プログラムを実行させ、記録線速度
の値とターゲットβ値とを対応付けたターゲットβ値テ
ーブルを作成し、制御部１６内のメモリに記憶すること
としてもよい。あるいは、工場の専用装置にＣＰＵを持
たせ、かかるＣＰＵの制御下において、上述した一連の
テスト記録、データ解析を行い、制御部１６のメモリに
作成したターゲットβ値テーブルを格納させるようにし
てもよい。

【００８１】Ａ−４−３：変形例３ 上述した実施形態では、制御部１６は、記録線速度の値
と最適なターゲットβ値とを対応付けたターゲットβ値
テーブルを作成することとしているが、図１４に示すよ
うに、記録線速度ではなく、ディスクアドレス位置（ア
ドレス情報）と最適なターゲットβ値とを対応付けたタ
ーゲットβ値テーブルを作成することとしてもよい。例
えば光ピックアップ１０が単一の角速度でのみＣＡＶ記
録を行うように構成されている場合は、アドレス情報と
記録線速度の値とが１対１に対応する。よって、制御部
１６は、アドレス情報を検出し、そのアドレスに応じた
ターゲットβ値を用いてＯＰＣ等を実行するようにすれ
ば、上述した実施形態と同様の効果を得ることができ
る。

【００８２】また、光ディスク記録装置１００が複数の
角速度でのＣＡＶ記録を選択的に実行できるような構成
であれば、図１５に示すように各々の角速度毎にディス
クアドレス位置（アドレス情報）と最適なターゲットβ
値とを対応付けたテーブルを用いるようにすればよい。
この場合、ある角速度でＣＡＶ記録が実行される場合に
は、制御部１６は図１５に示すテーブルのうち、該角速
度に対応した部分を参照するようにすればよい。このよ
うに記録線速度とターゲットβ値との対応関係ではな
く、記録線速度によって一意に特定される情報であるア
ドレス情報（回転速度固定の場合）と、ターゲットβ値
との対応関係を示す特性情報等をメモリ等に格納し、上
記実施形態と同様、この特性情報を用いてＯＰＣを行う
ようにしてもよく、本願請求項にいう「記録線速度」と
は記録線速度によって一意に特定される情報も含む意味
で使用している。

【００８３】Ａ−４−４：変形例４ 上述した実施形態においては、光ディスク記録装置１０
０を工場から出荷する前に、記録線速度と最適なターゲ
ットβ値との関係を求めることとしているが、ユーザが
実際に記録を行う段階において、求めることとしてもよ
い。

【００８４】例えば、ＯＰＣの際に、記録レーザパワー
を変化させるだけでなく、記録線速度の値もいくつか変
えてテスト記録を行い、ＯＰＣを実行するごとに、上述
実施形態で示したようなターゲットβ値テーブルを作成
するようにしてもよい。このようにすれば、例えば光ピ
ックアップ１０のレーザ特性が環境温度の影響などで異
なることとなった場合においても、かかる環境温度など
の状況に応じた最適なデータ記録を行うことが担保され
る。

【００８５】Ａ−４−５：変形例５ 上述実施形態に係わる光ディスク記録装置１００は、Ｃ
ＡＶ記録をすることとしているが、他の記録方式であっ
てもよい。例えばディスクの内周、中周、外周と３つの
領域に分割し、個々の領域毎にディスク回転速度を異な
らせる記録方式（ＺＣＬＶ：Zoned Constant Linear Ve
locity）があるが、記録線速度に対応するターゲットβ
値を予めデータターゲットβ値テーブルとして用意して
おけば、上述した実施形態と同様の効果を得ることがで
きる。

【００８６】Ａ−４−６：変形例６ また、図１６に示すように、ある設定記録線速度Ｖに達
するまでは光ディスクの回転角速度が一定の記録方式で
あるＣＡＶ記録を実行し、記録位置が外周側に移動する
ことにより記録線速度が上記設定記録線速度Ｖに達した
時点以降はその記録線速度ＶでのＣＬＶ記録を行う、い
わゆるパーシャルＣＡＶ記録を行う光ディスク記録装置
に本発明を適用することもできる。

【００８７】このようなパーシャルＣＡＶ記録を行う光
ディスク記録装置に本発明を適用する場合、制御部１６
のメモリに、図１７に示すように記録線速度とターゲッ
トβ値の最適値のデータとを対応付けて格納したテーブ
ルを記録させておく。図示のように、このテーブルに
は、１２倍速、１６倍速および２０倍速といった当該光
ディスク記録装置で実行可能なパーシャルＣＡＶ記録の
最高速度（上記設定記録線速度Ｖに相当）に対応付けて
ターゲットβ値が格納されている。

【００８８】そして、ユーザが最内周での記録線速度が
１２倍速、最外周での記録線速度が１６倍速（設定記録
線速度Ｖに相当）といった記録を行うように指示した場
合には、図示せぬ入力部等から入力される当該指示内容
を取得した制御部１６は取得した指示内容に応じた線速
度での記録が実行されるようサーボ回路１３を介してス
ピンドルモータ１１を制御する。また、この指示に基づ
く記録の際には、ＯＰＣにおいて最外周の記録線速度
（＝１６倍速）に応じたターゲットβ値を用いて記録線
速度と最適なレーザパワー値との関係を求め、当該記録
線速度と最適なレーザパワー値との関係にしたがった強
度のレーザ光が光ディスク９９に照射されるようレーザ
パワー制御回路２０を制御するのである。

【００８９】Ａ−４−７：変形例７ 記録線速度とターゲットβ値との関係式、レーザパワー
値とβ値の関係式について、上述実施形態では１次関数
近似をしているが、他の近似を使ってもよい。すなわ
ち、テスト記録により得られるデータから他のデータを
補完することができればよいため、２次関数、３次関数
近似、また対数、指数関数近似等を利用することとして
もよい。

【００９０】Ａ−４−８：変形例８ 記録線速度とターゲットβ値との関係式は、上述実施形
態では光ディスク記録装置１００ごとに算出することに
なっているが、さらに、データ記録を行う光ディスク９
９の種類により関係式を求めることとしてもよい。たと
えば、光ディスク９９のディスクメーカ名、記録膜の性
質（反射率、記録感度等の性質）により記録線速度とタ
ーゲットβ値の関係式を求めておき、制御部１６内のメ
モリに記録しておく。

【００９１】そして、データ記録時において、制御部１
６は、ＯＰＣを実行する前に、ユーザがセットした光デ
ィスク９９の所定位置を再生し、光ディスクのディスク
メーカ名等の情報を判断し、その判断結果に基づき、タ
ーゲットβ値を決定すれば、個々の光ディスク９９の性
質に対応したＯＰＣ等のレーザパワー制御を実行するこ
とができる。

【００９２】Ａ−４−９：変形例９ 上述した実施形態では、ＣＡＶ方式といった記録時に記
録線速度が変動する場合に、複数の記録線速度に適した
ターゲットβ値を利用したＯＰＣを行うようにすること
で、記録線速度の変動に関わらず高品位な記録が行える
最適レーザパワー値を求めるようにしていたが、このよ
うなより適正なＯＰＣの結果を実際の記録により確実に
反映させるために、レーザパワー制御回路２０によるレ
ーザパワー値の制御の応答速度を記録線速度に応じて変
動させるようにしてもよい。すなわち、記録線速度が小
さい時には、レーザパワー制御回路２０によって実行さ
れる出射レーザパワー値を目標のレーザパワー値に一致
させる制御の応答速度、つまりサーボゲインを小さく
し、記録線速度が大きい時にはサーボゲインを大きくす
るといったレーザパワー制御回路２０のサーボゲインを
切り換える制御を行うようにしてもよい。このようにす
ることで、記録線速度が小さい時にはサーボゲインが小
さくすることで、出射されるレーザパワー値の必要以上
の急激な変動を抑制される。一方、記録線速度が大きい
場合には、レーザパワー値をより速く適正な値に制御す
ることが要求されるが、サーボゲインを大きくすること
で、目標値への追従速度を向上させることができる。

【００９３】上記のようなサーボゲインを切換制御は、
例えば以下のような構成により実現することができる。
レーザパワー制御回路２０に時定数の異なる複数種類の
ローパスフィルタを用意し、制御部１６からの指示等に
応じてこれらのローパスフィルタ（図７に示す例では、
比較回路２０２の後段等に設ける）を選択的に使用する
ようにする。そして、制御部１６が検出された記録線速
度に応じて、いずれのローパスフィルタを使用するかを
指示する信号をレーザパワー制御回路２０に供給するこ
とにより、記録線速度に応じてレーザパワー制御回路２
０のサーボゲインを切り換えることができる。

【００９４】Ａ−４−１０：変形例１０ 上述した実施形態においては、ターゲットβ値の最適値
を決定する際に、ターゲットβ値を変えて記録した領域
を再生したときのＣ１エラー値を評価することとした。
しかし、Ｃ１エラー値以外のパラメータ、例えばジッタ
値、デビュエーション値、反射率等の記録品位に関する
種々のパラメータを測定してターゲットβ値の最適値を
決定するようにしてもよい。また、これらのパラメータ
を複数測定した結果を用いてターゲットβ値の最適値を
決定するようにしてもよい。さららに、β値に代えて、
Ｃ１エラー等の他の記録品位に関するパラメータを複数
の記録線速度に対応付けた特性情報を用い、ＯＰＣを行
うようにしてもよい。

【００９５】Ａ−４−１１：変形例１１ 上述した実施形態においては、光ディスク９９としてＣ
Ｄ−Ｒを想定しているが、これ以外の光ディスク、例え
ば、ＣＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶ
Ｄ−ＲＡＭディスク等にデータ記録を行う光ディスク記
録装置に適用することとしてもよい。

【００９６】Ｂ：第２実施形態 上述したように、出願人が行った記録実験により、記録
線速度を変えた場合、最適なターゲットβ値も変わる現
象があることがわかった。上述した第１実施形態に係る
光ディスク記録装置１００は、このような現象を考慮
し、記録線速度に応じたターゲットβ値の値、ＬＰＣパ
ラメータＰ１を使い記録レーザパワー値を制御して記録
を行うこととした。すなわち、記録線速度が変化した場
合は、記録レーザパワーの値を変化させて、常に高品位
のデータ記録を行うことを担保した。

【００９７】本発明者は、記録レーザパワーの値を変化
させるのではなく、光ディスクそのものを改良すれば、
記録位置により記録線速度が変化するＣＡＶ方式におい
ても高品位なデータ記録を行えるのではないかという点
に着眼した。

【００９８】周知のように、データ記録を行うための光
ディスクには、所定強度以上の光レーザを照射すると、
照射した部分の反射率が変化する材質、いわゆる記録膜
（色素膜）がディスクのトラック方向に沿って形成され
ている。そして、同じ強度の光ビームを照射させた場
合、同じようにデータ記録が行われるのが好ましいた
め、通常は、形成される記録膜の厚さは、ディスクのト
ラック位置によらず一定なものとなるように製造されて
いる。

【００９９】本発明者は、光ディスクに形成される記録
膜の厚さに着眼し、この記録膜の厚さを一定としている
ことが記録線速度の変化に伴う記録品位の悪化の要因に
なっているのではないかと考えた。すなわち、ＣＬＶ記
録のように、記録線速度が常に一定の記録条件下におい
ては記録膜の厚さはディスクアドレス位置によらず一定
であるのが好ましいが、ＣＡＶ記録のように、記録線速
度がディスクアドレス位置により変化する場合は記録膜
の厚さが一定であるために、記録レーザパワー値を変化
させなければ、高品位のデータ記録ができないのではな
いかと考えた。

【０１００】上述実施形態で述べたように、記録膜の厚
さがほぼ一定である通常の一般的な光ディスクに記録実
験を行った結果によれば、記録線速度を変化させるとタ
ーゲットβ値も変化、すなわち照射すべき記録レーザの
パワー最適値も変化する。そして、記録線速度と記録レ
ーザのパワー最適値との間には一定の相関関係がある。
一方、記録レーザパワー値と、ディスク上に形成される
記録膜の厚さとの間にも一定の相関関係があることが分
かっている。以上のことから、ディスク上に形成される
記録膜の厚さを記録線速度、すなわちディスクアドレス
位置によって変化させて形成させておけば、ＣＡＶ記録
のようなディスクアドレス位置によって記録線速度が変
化する場合においても、記録レーザパワー値は一定のま
ま高品位のデータ記録ができることが結論付けられる。

【０１０１】ここで、ディスクに形成される記録膜の膜
厚値とディスクアドレス位置との関係は、例えば以下の
関係式が想定される。 膜厚＝Ｘn×ディスクアドレス位置＋Ｙ Ｘ、Ｙ、ｎ；定数 ここで、Ｘ、Ｙ、ｎは、記録実験等により求められる定
数であり(Ｘは負であり、外周側ほど膜厚が小さくな
る)、記録膜の材質やディスクの他の性質（反射率、反
りなどの構造特性）により決定される値である。

【０１０２】図１８および図１９は、上記のように求め
られたアドレス位置と記録膜の膜厚と記録膜の厚さとの
関係を考慮し、ディスクアドレス位置に応じて変化させ
た光ディスクの側面図を模式的に示す図である。図１８
は、例えば、ＣＡＶ記録のように、記録線速度が連続的
に変化する記録方式に対応できるように、記録膜の厚さ
も連続的に変化させたものである。このような厚みの記
録膜を製造する方法としてはスピンコート法等を用いる
ことができる。また、図１９は、例えば、ＺＣＬＶ記録
のように、記録線速度が光ディスクの所定の領域によっ
て段階的に変化する記録方式に対応できるように、記録
膜の厚さも段階的に変化させるようにしたものである。

【０１０３】このように本発明に係わる光ディスクによ
れば、たとえばＣＡＶで高速にデータ記録を行った場合
で、ディスク内周と外周とで記録線速度が大きく変化す
るような場合であっても、光ディスク記録装置側は、記
録レーザパワー値が一定になるような制御を行えば、常
に高品位のデータ記録を行うことができる。煩雑なレー
ザパワー制御を行うことなく、高品位のデータ記録を安
定して実施することができる光ディスクを提供すること
ができるのである。

【０１０４】Ｃ：第３実施形態 Ｃ−１：レーザパワー制御方法 次に、本発明の第３実施形態に係るレーザパワー制御方
法について説明する。第３実施形態に係るレーザパワー
制御方法を実施するための光ディスク記録装置の全体構
成は、上述した第１実施形態に係る光ディスク記録装置
１００（図５参照）と同様である一方で、第３実施形態
に係る方法が記録時のレーザパワーを制御するためにＲ
ＯＰＣ（Running Optimum Power Control）を採用して
いる点で上記第１実施形態と相違する。したがって、以
下においては、第３実施形態に係るレーザーパワー制御
方法を実施するための装置構成についての説明は割愛
し、上記第１実施形態と相違する記録時のレーザパワー
制御処理の内容を中心に説明することとする（なお、パ
ワー制御処理を実行する主体構成要素については上記光
ディスク記録装置１００と同一の符号を用いて表す）。

【０１０５】周知の通り、従来のＲＯＰＣによるレーザ
パワー制御方法は、本番の情報を記録している時に光デ
ィスクからの反射光のレベル（ＲＦアンプ１２の出力信
号レベル）を検出し、この出力信号のレベル値もしくは
該レベル値によって一意に特定される値が予め決められ
た目標値と一致するように光ピックアップ１０から照射
されるレーザパワー値を制御する、というものである。

【０１０６】従来のＲＯＰＣによるレーザパワー制御
は、ＣＬＶ方式といった記録線速度が一定の記録方式に
おいて用いられており、予め実験により求められる固定
値と一致するようにレーザパワー値を制御していた。こ
のような手法では、ＣＡＶ方式といった記録線速度が変
化し、その変化に応じて照射レーザパワー強度が大きく
変動する場合には、上記のような従来のＲＯＰＣは必ず
しも良好な記録を行えるものとは言えず、ある記録線速
度で記録した時には良好な記録が行えても、他の記録線
速度で記録した時には記録エラーが多発するといった問
題が生じることもある。

【０１０７】そこで、本実施形態に係るレーザパワー制
御方法では、ＣＡＶ方式等の記録中に記録線速度が変動
する場合にも、速度変動に関わらず好適な記録が行える
ようにレーザパワーを制御できるＲＯＰＣを行ってお
り、以下、当該ＲＯＰＣを含むレーザパワー制御方法の
詳細な内容について説明する。

【０１０８】図２０に示すように、本実施形態に係るレ
ーザパワー制御方法では、制御部１６は、ＯＰＣを行う
ために装置各部を制御する（ステップＳｃ１）。周知の
通り、ＯＰＣは本番の記録に先立ち、光ディスク９９
（ＣＤ−ＲもしくはＣＤ−ＲＷを例に挙げて説明する）
のＰＣＡ（Power Calibration Area）領域（図２１参
照）に対してテスト記録を行い、該テスト記録の結果に
基づいて最適なレーザパワー値を求める処理である。本
実施形態では、ＣＡＶ方式で記録を行うようになってお
り、制御部１６は、当該ＯＰＣにおけるテスト記録の際
に本番の記録を行う時と同じ角速度で光ディスク９９が
回転されるようにサーボ回路１３を制御する。この光デ
ィスク記録装置１００における１回のテスト記録では、
記録レーザパワー値を１５段階に変化させて行い、１つ
の記録レーザパワー値につき１サブコードフレーム分の
ＥＦＭ信号を記録し、合計１５フレーム分のＥＦＭ信号
が記録されるようになっている。

【０１０９】ここで、図２１を参照しながら光ディスク
９９（ＣＤ−Ｒ）のテスト記録を行う領域について説明
する。光ディスク９９の直径４６〜５０ｍｍの区間がリ
ードイン領域１１４として用意され、その外周側にデー
タを記録するプログラム領域１１８、およびプログラム
領域１１８の外周側に位置する残余領域（図示略）が用
意されている。一方、リードイン領域１１４よりも内周
側には、内周側ＰＣＡ（Power Calibration Area）領域
１１２が用意されている。内周側ＰＣＡ領域１１２に
は、テスト領域１１２ａと、カウント領域１１２ｂとが
用意されており、このテスト領域１１２ａに、上述した
記録処理の本番に先立つテスト記録が行われる。ここ
で、テスト領域１１２ａとしてはテスト記録を多数回行
える領域が用意されており、カウント領域１１２ｂに
は、テスト記録終了時にテスト領域１１２ａのどの部分
までに記録が終了しているかを示すＥＦＭ信号が記録さ
れる。したがって、次にこの光ディスク９９に対してテ
スト記録を行う際には、当該カウント領域１１２ｂのＥ
ＦＭ信号を読み取ることによりテスト領域１１２ａのど
の位置からテスト記録を行えばよいかが分かるようにな
っている。当該光ディスク記録装置１００では、本番の
記録を行う前に上述したテスト領域１１２ａにテスト記
録を行っているのである。

【０１１０】制御部１６は、上記のような本番の記録時
と同じ角速度で光ディスク９９を回転駆動させ、当該光
ディスク９９に対してテスト記録を行う。そして、その
テスト記録領域を読み取る際に得られる信号に基づいて
β検出回路２４が検出するβ値が予め設定された目標β
値と一致するようなレーザパワー値を求める。すなわ
ち、制御部１６は、当該ＯＰＣを実行することにより、
光ディスク９９の内周側のＰＣＡ領域に対して本番の記
録時と同じ角速度で光ディスク９９を駆動して記録を行
った際の最適なレーザパワー値を求めるのである。

【０１１１】制御部１６は、以上のようにテスト領域１
１２ａに対して本番記録と同じ角速度で光ディスク９９
を回転駆動させてテスト記録を行い、その再生信号から
最適レーザパワー値を求めると、本番の記録を開始す
る。より具体的には、制御部１６は、上記ＯＰＣによっ
て求めた最適レーザパワー値が光ピックアップ１０から
光ディスク９９に対して照射するレーザ光のパワーの初
期値となるようにレーザパワー制御回路２０等を制御
し、本番の記録を開始する（ステップＳｃ２）。

【０１１２】上記のようなパワー値を初期値として本番
の記録が開始されると、制御部１６は、光ディスク９９
からの反射光のレベル（ＲＦアンプ１２の出力信号のレ
ベル）を検出し、この出力信号のレベル値もしくは該レ
ベル値によって一意に特定される値（戻り光に関する
値）が目標値に等しくなるようにレーザパワー出力を制
御する。すなわち、本番の記録を開始する時点のレーザ
パワー値は、上記ＯＰＣで求めた最適レーザパワー値と
一致するように光ピックアップ１０から照射されるレー
ザ光を制御し、その後はＲＯＰＣによってレーザパワー
を制御する（ステップＳｃ３）。

【０１１３】図２２は、記録時におけるＲＦアンプ１２
の出力信号を例示したものである。同図に示すように、
ＲＦアンプ１２の出力信号は、レーザ立ち上がり時のピ
ーク部分Ｔ１と、その後レベルが一定になる肩部分Ｔ２
の要素を含んでいる。本実施形態では、制御部１６は、
上記のような戻り光から得られる肩部分のレベル（以
下、肩レベルという）Ｌｂ（もしくはＬａ／Ｌｂ）を用
い、光ピックアップ１０から照射されるレーザ光のパワ
ーを制御する。ここで、制御部１６は、予め実験等によ
り求められた記録速度に応じて変動するレーザパワーと
肩レベルとの関係を用い、ＣＡＶ方式の記録であるが故
に変動する記録速度に応じて最適な肩レベルとなるよう
にレーザパワーを制御する。

【０１１４】従来のＲＯＰＣによるレーザパワー制御に
おいても、ある一定の記録線速度において最適の記録が
行える肩レベルとレーザパワーとの関係を利用してい
る。本実施形態では、図２３に示すように、このような
最適な記録を可能とする肩レベルとレーザパワーとの関
係を複数の速度毎（図示の例では１２倍速、１６倍速、
２０倍速、２４倍速等）に予め実験を行うことによって
求め、これらの結果を関数（図示の例では、一次関数）
によって近似することにより記録線速度と速度変動を考
慮した肩レベルとレーザパワーとの相関関係を求める。
より具体的には、各記録線速度毎に目標β値（例えば、
β＝０）が得られた時の肩レベルＬｂ１２，Ｌｂ１６，
Ｌｂ２０，Ｌｂ２４（もしくはＬａ／Ｌｂ）の値を求
め、これらの結果を関数で近似することにより図２３に
示すような記録線速度と、好適な記録が行えると考えら
れる肩レベルＬｂ（もしくはＬａ／Ｌｂ）との一次関数
で表される関係を求めるのである。

【０１１５】例えば、実験の結果によって、肩レベルＬ
ｂと記録線速度との関係が次式で表された場合、ＣＡＶ
方式の記録時に逐一変動する記録線速度Ｖを該関数に代
入することにより、その記録線速度Ｖにおける肩レベル
Ｌｂを導出することができる。 Ｌｂ／Ｖ＝Ａ なお、Ａは上述した実験により求まる固定値（上記近似
一次関数の傾き）である。

【０１１６】制御部１６は、本番の記録中に、光ディス
ク９９からの反射光の肩レベルが、上記式により記録速
度の変動に応じて逐一導出される目標肩レベルＬｂに一
致するような強度のレーザー光が光ピックアップ１０か
ら照射されるようレーザパワー制御回路２０を制御す
る。この後、制御部１６は、本番の記録が終了するまで
上記のようなＲＯＰＣにより光ピックアップ１０から照
射されるレーザ光のパワーを制御する。

【０１１７】以上説明したのが第３実施形態に係るレー
ザパワー制御方法であり、このようなレーザパワー制御
方法を用いて光ディスク９９に対して記録を行うことに
より、ＣＡＶ方式のように記録中に記録線速度が変動す
る場合にも、速度変動に関わらず良好な品位を維持した
記録を行うことができる。すなわち、記録線速度が変動
した場合にも、各々の記録線速度での記録時に、その記
録線速度に応じた肩レベル値が得られるよう、つまりβ
値が目標値と一致するようにレーザパワーが制御される
ことになる。したがって、記録線速度に関わらず、常に
β値が目標β値と一致させるといったレーザパワー制御
を行うことができる。

【０１１８】従来より、ＣＡＶ方式等においては、ＯＰ
Ｃによって記録線速度とパワー値との関係、いわゆるパ
ワー関数を求め、該パワー関数にしたがってレーザパワ
ー制御を行うことにより、速度変動に対応する手法が用
いられている。しかしながら、この手法では本番の記録
前に行われるテスト記録の結果から求められたパワー関
数を用いている。つまり、ディスクの内周側のテスト領
域１１２ａに対して行ったテスト記録の結果から、本番
の記録中に良好な記録が行えるであろうレーザパワー値
を推定しているにすぎず、必ずしもそのパワー関数にし
たがってレーザパワー制御を行うことが良好な記録を行
えるとは限らない。これに対し、ＲＯＰＣを用いたレー
ザパワー制御では、本番の記録時の戻り光を検出してレ
ーザパワーを制御している。つまり、実際の記録状況を
見ながらレーザパワーを制御することができ、上記のよ
うなパワー関数を用いる場合と比してより確実に良好な
記録品位を維持することができるレーザパワー制御が可
能である、といえる。一方、従来のＲＯＰＣは、上述し
たようにＣＡＶ方式のような記録線速度が変動する記録
方式においては、必ずしも良好な記録を行えるものとは
言えなかった。本実施形態では、上述したように記録速
度変動に応じて目標パラメータ（上記の場合は肩レベル
値）を変動させるＲＯＰＣを採用することにより、本番
の記録中の記録状況を見ながら制御できるといったＲＯ
ＰＣの利点を活用し、かつ記録中の速度変動に起因する
記録品位の悪化を抑制することができるのである。

【０１１９】Ｃ−２：変形例 上述した第３実施形態は、本発明の一実施形態にすぎ
ず、本発明の内容を限定するものではなく、本発明の趣
旨の範囲内で任意に変更を加えることができる。たとえ
ば、以下のような変形例があげられる。

【０１２０】Ｃ−２−１：変形例１ 上述した第３実施形態では、肩レベルＬｂと記録線速度
との関係を求める際に、記録線速度に関わらず目標β値
が一定（例えば、β＝０）になるような記録線速度と肩
レベルとの関係を求めていたが（図２３参照）、目標β
値を記録線速度の変動に応じて変更するようにしてもよ
い。すなわち、多種類の光ディスクにおいて記録線速度
が高速になればなるほどβ値が小さくなるといった傾向
が見られるので、記録線速度が大きくなるに連れて目標
β値の値を小さくするようにしてもよい。例えば、図２
４に示すように、β値が３％、０％、−３％および−６
％といった４つの目標β値を設定し、各々の目標β値が
得られる肩レベル値を１２倍速、１６倍速、２０倍速お
よび２４倍速といった複数の記録線速度毎に実験で求め
る。そして、１２倍速については目標β値＝３％、１６
倍速については目標β値＝０％、２０倍速については目
標β値＝−３％、２４倍速については目標β値＝−６％
に対応する肩レベル値を採用し、これらの値を関数（図
示の例では、二次関数）によって近似することにより記
録線速度と速度変動を考慮した肩レベルとレーザパワー
との関係（相関関係）を求める。

【０１２１】以上のように求めた記録線速度と肩レベル
との関係にしたがって制御部１６が、上記第３実施形態
と同様、本番の記録中に光ディスク９９からの反射光の
肩レベルが、上記のように求めた関係を満たすようにレ
ーザパワー制御回路２０を制御する。このようにするこ
とで、上記第３実施形態と同様に記録線速度に関わら
ず、常にβ値が目標β値とを一致させることが可能とな
り、高品位の記録が可能となる。また、この変形例にお
いては、記録線速度が大きくなるに連れて良好な記録が
行えるβ値が小さくなるといった現象を考慮した記録線
速度と目標肩レベルとの関係を求めているので、さらに
高品位の記録が可能となる。

【０１２２】Ｃ−２−２：変形例２ また、上述した第３実施形態では、肩レベルＬｂと記録
線速度Ｖとの関係（Ｌｂ／Ｖ＝Ａ）を用いて光ピックア
ップ１０から照射するレーザパワーを制御するようにし
ていたが、実験によって肩レベルＬｂ、記録線速度Ｖお
よびレーザパワー値Ｐといった３つのパラメータの関係
を求めておき、求めた肩レベルＬｂ、記録線速度Ｖおよ
びレーザパワー値Ｐといった３つのパラメータの関係に
したがってレーザパワーを制御するようにしてもよい。
例えば、制御部１６が、予め実験等により求められた記
録速度に応じて変動するレーザパワーと肩レベルとの関
係を用い、ＣＡＶ方式の記録であるが故に変動する記録
速度に応じて最適な肩レベルとなるようにレーザパワー
を制御するのである。より具体的には、レーザパワーを
Ｐ、記録速度をＶとした場合に、下記の式が予め実験に
より求められた固定値となるようにレーザパワー値Ｐを
制御する。 Ｌｂ^a×Ｐ^b×Ｖ^c×ⁿ……（式１）

【０１２３】上記式において、ａ＋ｂ＋ｃ×ｎ＝０であ
り、これらのａ，ｂ，ｃ，ｎは、予め実験により求めら
れた記録速度に応じて変動する肩レベルとレーザパワー
との関係から求めた定数である。従来のＲＯＰＣによる
レーザパワー制御においても、ある一定の速度における
肩レベルとレーザパワーとの関係を利用している。本実
施形態では、このような肩レベルとレーザパワーとの関
係を複数の速度毎に予め実験を行うことによって求め、
これらの結果を関数で近似することにより記録線速度と
速度変動を考慮した肩レベルとレーザパワーとの関係を
求めるのである。例えば、ａ＝２、ｂ＝−１、ｎ＝１で
ある場合には、ｃ＝−１であり、上記（式１）の値が次
数が０、すなわち定数となるようなａ，ｂ，ｃ，ｎを求
める。

【０１２４】そして、制御部１６が、予め実験により求
められた上記（式１）を用いて求めたレーザパワーのレ
ーザ光が光ピックアップ１０から照射されるようレーザ
パワー制御回路２０を制御する。このようにすること
で、上記第３実施形態と同様に記録線速度に関わらず、
常にβ値が目標β値とを一致させることが可能となり、
高品位の記録が可能となる。また、この変形例において
は、記録線速度の変動に伴う肩レベルの変動を考慮した
関係式にしたがってレーザパワーを制御しているので、
さらに高品位の記録が可能となる。

【０１２５】Ｃ−２−３：変形例３ また、上述した第３実施形態では、本番の記録を行うと
きの記録レーザパワーの初期値を光ディスク９９の内周
側のテスト領域１１２ａに対してテスト記録の結果から
求め、それ以降のレーザパワー値の制御を記録線速度変
動を考慮したＲＯＰＣによって行うこととしていた。こ
こでのテスト記録は、光ディスク９９のテスト領域１１
２ａに本番の記録と同じ角速度で光ディスク９９を回転
させることにより行われるので、テスト記録時の記録線
速度は本番の記録が行われるプログラム領域１１８の最
内周側に記録を行う時とほぼ同一となる。すなわち、こ
のテスト記録では、プログラム領域１１８の最内周近傍
の位置に対して記録を行う際に高品位の記録が行えるで
あろう記録レーザパワー値をより正確に求めることがで
きる、といえる。したがって、ＤＡＯ（Disc at Once）
といった記録方式のように、光ディスク９９における記
録開始位置がプログラム領域１１８の最内周側の位置で
ある場合には、上記第３実施形態のようなＯＰＣによっ
て決定される記録レーザパワーの初期値は、高品位の記
録が行える値であると考えられる。

【０１２６】しかしながら、光ディスク９９に対する記
録方式としては、上述したＤＡＯ以外にも、ＴＡＯ（Tr
ack at Once）、ＳＡＯ（Session at Once）、およびパ
ケットライトといった方式があり、これらの記録方式で
は既に記録がなされた光ディスク９９に追記するといっ
たケースがある。すなわち、記録を開始する位置がプロ
グラム領域１１８の最内周側の位置に限定されるわけで
はなく、プログラム領域１１８の中央部近傍の位置や外
周側の位置となることがある。このような位置から記録
が開始される場合には、上記第３実施形態におけるＯＰ
Ｃのテスト記録の記録線速度と、本番の記録開始時の記
録線速度とが大きく異なることとなり、上記第３実施形
態と同様のＯＰＣによって記録開始時のレーザパワー初
期値を設定した場合には不具合が生じてしまうことがあ
る。

【０１２７】そこで、この変形例においては、本番の記
録が光ディスク９９のどの位置から開始されるかに応じ
て、レーザパワーの初期値を求めるためのＯＰＣにおけ
るテスト記録の記録線速度を変更する。より具体的に
は、制御部１６は図２５に示す手順にしたがってレーザ
パワー制御を行う。まず、記録開始が指示されると、制
御部１６は、光ディスク９９の本番の記録を開始すべき
位置を取得する（ステップＳｄ１）。ここで、光ディス
ク９９の途中の位置から記録を開始する時の記録開始位
置は光ディスク９９におけるＰＭＡ（Program Memory A
rea）の記録内容を読み取ることにより取得することが
できる。

【０１２８】このように記録開始位置を取得すると、制
御部１６は、その記録開始位置における光ディスク９９
を本番の記録を行う際の角速度で光ディスク９９を回転
駆動した際の記録線速度を求める。そして、この記録線
速度をＯＰＣのテスト記録を行う記録線速度に設定する
（ステップＳｄ２）。

【０１２９】この後、上記のように設定した記録線速度
でのテスト記録を行い、該テスト記録の結果から記録レ
ーザパワーの初期値を求めるためのＯＰＣを行う（ステ
ップＳｄ３）。すなわち、制御部１６は、上記設定した
記録線速度でテスト領域１１２ａに対して記録が行われ
るような角速度を求め、該角速度で光ディスク９９が回
転駆動されるように装置各部を制御する。そして、この
ような記録線速度で実施したテスト記録の結果から設定
記録線速度で高品位の記録が行える記録レーザパワー値
を求める。つまり、本番の記録開始時の記録線速度と同
じ記録線速度でテスト記録を行い、該テスト記録の結果
からこの記録線速度で良好な記録が行える記録レーザパ
ワー値を求めるのである。

【０１３０】制御部１６は、記録開始位置に応じた線速
度でのテスト記録を含むＯＰＣによって記録レーザパワ
ー値を求めると、求めたレーザパワー値を初期値とし
て、上記のように取得した記録開始位置から光ディスク
９９に対して本番の記録を開始する（ステップＳｄ
４）。以上のようにレーザパワーの初期値を設定して記
録を開始した後、制御部１６は上記第３実施形態と同様
にＲＯＰＣによるレーザパワー制御を行う。

【０１３１】以上説明したように本番の記録を行う際の
レーザパワーの初期値を、記録開始時の記録線速度と同
じ線速度で実施したテスト記録の結果から求めることに
より、レーザパワーの初期値を好適な値に設定すること
ができ、記録開始位置近傍において記録品位が悪化して
しまうといったことを抑制することができる。

【０１３２】Ｃ−２−４：変形例４ また、上述した変形例３においては、本番の記録を開始
する時と同じ記録線速度でテスト記録を実施することに
より、レーザパワーの初期値をより好適な値に設定する
ようにしていたが、図２６に示す手順にしたがったレー
ザパワー制御を行うようにしてもよい。

【０１３３】まず、制御部１６は、ＯＰＣを行うために
装置各部を制御する（ステップＳｅ１）。上述したよう
にＯＰＣでは光ディスクＤのテスト領域１１２ａに対し
てテスト記録を行い、該テスト記録の結果に基づいて最
適なレーザパワー値を求める。ここで制御部１６は、当
該ＯＰＣにおけるテスト記録の際に本番の記録を行う時
よりも速い線速度Ｖｍａｘで記録が行われるようにサー
ボ回路１３を制御する。

【０１３４】制御部１６は、上記のような本番の記録開
始時よりも速い線速度Ｖｍａｘで記録が行われるよう光
ディスク９９を回転駆動させ、当該光ディスク９９に対
してテスト記録を行い、そのテスト記録領域の再生信号
からβ検出回路２４によって検出されるβ値が予め設定
された目標β値と一致するようなレーザパワー値を求め
る。すなわち、制御部１６は、当該ＯＰＣを実行するこ
とにより、光ディスク９９の内周側のＰＣＡ領域に対し
て線速度Ｖｍａｘで記録が行われるよう光ディスク９９
を回転駆動して記録を行った際の最適なレーザパワー値
を求める。

【０１３５】制御部１６は、以上のようにテスト領域１
１２ａに対して線速度Ｖｍａｘで記録が行われるよう光
ディスクＤを回転駆動させてテスト記録を行い、その再
生信号から最適レーザパワー値を求めると、本番の記録
開始時とほぼ同じ角速度で光ディスク９９を回転駆動さ
せて（このときの線速度はＶとする）テスト記録を行
い、上記と同様その結果から最適レーザパワー値を求め
る。すなわち、制御部１６は２回目のＯＰＣを実行し
（ステップＳｅ２）、当該ＯＰＣによって線速度Ｖで記
録する際の最適レーザパワー値を求める。

【０１３６】以上のように２回のＯＰＣを終えると制御
部１６は、図２７に示すように線速度Ｖｍａｘでのテス
ト記録の結果から求めた最適レーザパワー値Ｐｍと、線
速度Ｖでのテスト記録の結果から求めた最適レーザパワ
ー値Ｐｎと、光ディスク９９における本番の記録を開始
する位置Ｒとから、本番の記録開始時に光ピックアップ
１０から照射するレーザ光のパワー値Ｐｒを求める。そ
の原理について説明すると、まず２つの角速度での最適
レーザパワー値Ｐｍ、Ｐｎとの間を補間する（図示の例
では直線補間）ことにより、記録線速度と最適なレーザ
パワーとの関係を求める（図２７参照）。上記のように
２回のＯＰＣにおける記録位置はほぼ同じであるが、両
者の記録時における角速度が異なっており、両者の記録
線速度は異なる。ここでは、最適レーザパワー値Ｐｍを
求めた時のテスト記録の記録線速度をＶｍａｘ、最適レ
ーザパワー値Ｐｎを求めた時のテスト記憶の記録線速度
をＶとする。

【０１３７】図２７に示すような記録線速度とパワーと
の関係との関係を求めると、制御部１６は、光ディスク
９９における本番の記録を開始すべき位置Ｒに対し、光
ディスク９９を所定の角速度で回転駆動した際の記録線
速度（＝Ｖｒとする）を求める。そして、上記記録線速
度とパワーとの関係からこの記録線速度Ｖｒに対応する
最適なレーザパワー値Ｐｒを求めるのである。なお、Ｓ
ＡＯやＴＡＯ方式で記録する際の記録開始位置は、光デ
ィスク９９におけるＰＭＡ（Program Memory Area）を
読み取ることにより取得することができる。

【０１３８】制御部１６は、以上のように２回のＯＰＣ
によって求めたパワー値Ｐｒを初期値として本番の記録
を開始させる（ステップＳｅ３）。その後、制御部１６
は上記第３実施形態と同様の速度変動を考慮したＲＯＰ
Ｃによってレーザパワーを制御する（ステップＳｅ
４）。

【０１３９】以上説明したように異なる記録線速度で実
施したテスト記録を含むＯＰＣを複数回（上記の例で
は、２回）行うことにより、記録線速度とパワーとの関
係を求める。このようにして求めた記録線速度とレーザ
パワーとの関係から記録開始時の記録線速度に好適なレ
ーザパワー値を初期値として設定することができ、記録
開始位置近傍において記録品位が悪化してしまうといっ
たことを抑制することができる。

【０１４０】Ｃ−２−５：変形例５ なお、上記変形例４で説明したようにテスト領域１１２
ａに対して異なる角速度で光ディスク９９を回転駆動す
ることにより異なる記録線速度でテスト記録を実施し、
これらのテスト記録の結果から記録線速度とパワーとの
関係を求めるようにしてもよいが、次のような方法によ
って記録線速度とパワーとの関係を求めるようにしても
よい。

【０１４１】すなわち、複数回のテスト記録の各々を行
う際に光ディスク９９を回転させる角速度は一定（例え
ば、本番の記録と同じ角速度）とし、各々のテスト記録
をテスト領域１１２ａ、およびプログラム領域１１８の
外周側の残余領域に対して行う。図２８に示すように、
ある一定の角速度で光ディスク９９を回転駆動して記録
を行った場合には、光ディスク９９における径方向の記
録位置と記録線速度との関係は、径方向位置が外周側に
いくにつれて記録線速度が大きくなるといった比例関係
となる。このため、上記のように同一の角速度で光ディ
スク９９を回転させた状態でテスト領域１１２ａとプロ
グラム領域１１８の外周側の残余領域といった２つの領
域に対してテスト記録を行うと、両者の記録線速度は異
なるものとなる。このようにテスト領域１１２ａと外周
側の残余領域といった２つの領域に対してテスト記録を
行うことによって得られる、異なる記録線速度で実施さ
れたテスト記録の結果を用いて上記変形例４と同様に記
録線速度とパワーとの関係を求めるようにしてもよい。

【０１４２】Ｃ−２−６：変形例６ また、上述した変形例４および変形例５では、ＯＰＣに
よって記録線速度とパワーとの関係、いわゆるパワー関
数を求め、該パワー関数に基づいてレーザパワー値の初
期値を決定するようにしていた。このようにレーザパワ
ーの初期値のみをＯＰＣによって求めたパワー関数に基
づいて決定するようにしていもよいが、本番の記録開始
から所定時間経過（もしくは所定のデータ量を記録）す
るまでは当該パワー関数にしたがってレーザパワーを制
御し、所定時間経過（もしくは所定のデータ量を記録し
た）後のレーザパワー制御に上述したような速度変動を
考慮したＲＯＰＣを用いるようにしてもよい。このよう
なレーザパワー制御方法の手順の一例について図２９を
参照しながら説明する。

【０１４３】同図に示すように、制御部１６は、上述し
た変形例４に係る方法と同様に、異なる記録線速度で実
施したテスト記録を含むＯＰＣを２回行う（ステップＳ
ｆ１、ステップＳｆ２）。ここで２回のテスト記録は、
上記変形例４で説明したようにテスト領域１１２ａに対
して異なる角速度で光ディスク９９を回転駆動すること
により実施するようにしてもよいし、上記変形例５で説
明したように同一の各速度でテスト領域１１２ａと外周
側の残余領域といった異なる領域に対して実施するよう
にしてもよい。

【０１４４】上記のように２回のテスト記録を含むＯＰ
Ｃを行うと、制御部１６はその結果から上記変形例４に
係る方法と同様に記録線速度とパワーとの関係であるパ
ワー関数（図２７参照）を導出する（ステップＳｆ
３）。そして、制御部１６は、導出したパワー関数に基
づいてレーザパワーの初期値を設定し、本番の記録を実
行するための制御を開始する（ステップＳｆ４）。この
変形例においては、本番の記録を開始した後も制御部１
６は導出したパワー関数に基づいてレーザパワー制御を
行う。

【０１４５】この後、制御部１６は光ディスク９９に対
して記録したデータ量が予め設定されたデータ量（例え
ば、１分のデータ（４５００フレーム））に達したか否
かを判別する（ステップＳｆ５）。ここで、記録データ
量が所定のデータ量に達していないと判別した場合に
は、制御部１６はそのままパワー関数に基づくレーザパ
ワー制御を実行する。一方、記録データ量が所定のデー
タ量に達していると判別した場合には、制御部１６は、
パワー関数に基づくレーザパワー制御から、上述した第
３実施形態と同様の速度変動を考慮したＲＯＰＣによる
レーザパワー制御に切り換え、以降記録が終了するまで
ＲＯＰＣによるレーザパワー制御を実行する（ステップ
Ｓｆ６）。

【０１４６】以上のようなレーザパワー制御を制御部１
６が行うことにより、本番の記録開始から所定のデータ
量が光ディスク９９に対して記録されるまではパワー関
数に基づくレーザパワー制御が実施され、所定のデータ
量が記録された後はＲＯＰＣによるレーザパワー制御が
実施される。このようにレーザパワー制御の切り換えを
実行することにより、本番の記録開始初期のパワー制御
が安定した状態に移行してから、ＲＯＰＣによるレーザ
パワー制御に切り換えることができる。したがって、安
定したレーザパワー制御を行うことが可能となり、記録
品位の悪化等を抑制することができる。

【０１４７】Ｃ−２−７：変形例７ また、上述した第３実施形態および種々の変形例におい
ては、本番の記録時のレーザパワー制御方法としてＲＯ
ＰＣを採用している。上述したようにＲＯＰＣは、光デ
ィスク９９に対してレーザ光を照射して記録を行ってい
る時に、光ディスク９９からの戻り光を検出し、該戻り
光のレベル（肩レベル）もしくは該レベルによって一意
に特定される値が、予め記憶している目標値と一致する
ように光ピックアップ１０から照射するレーザパワーの
強度を制御している、つまりレーザパワー制御回路２０
が光ピックアップ１０のレーザダイオードに供給する電
流を制御している。このようにレーザパワーを制御する
際の応答速度、つまりサーボゲインを記録線速度に応じ
て変更できるようにしてもよい。

【０１４８】より具体的には、予めサーボゲインの異な
る複数、例えば２つのレーザパワー制御回路を用意して
おき、制御部１６が記録時の記録線速度に応じていずれ
のレーザパワー制御回路を用いるかを選択する。そし
て、選択されたレーザパワー制御回路が制御部１６から
の指示にしたがって光ピックアップ１０のレーザダイオ
ードに供給する電流値を制御する。ここで、制御部１６
は記録線速度が所定値より大きい場合にはサーボゲイン
の大きいレーザパワー制御回路を選択し、上記所定値よ
りも小さい場合にはサーボゲインの小さいレーザパワー
制御回路を選択するようにすればよい。

【０１４９】以上のように記録線速度に応じてレーザパ
ワー制御の応答速度（サーボゲイン）を切り換えること
によって以下のような効果が得られる。上記第３実施形
態で実施しているＣＡＶ記録やＺＣＬＶ記録のように記
録時に記録線速度が変動する記録方式を採用した場合に
は、記録線速度が大きくなればなるほど、より短時間で
上記戻り光がその時の記録線速度に対応した目標値と一
致するようにレーザパワーを制御することが要求され
る。一方、記録線速度が小さい時にサーボゲインを大き
くすると、レーザパワーが急激な変動に起因して記録エ
ラーが生じてしまう虞がある。そこで、本変形例のよう
に記録線速度が大きい場合にはレーザパワーを制御する
際の応答速度を大きくし、記録線速度が小さい場合には
応答速度を小さくすることで、光ディスク９９の低速記
録領域（内周側の領域）から高速記録領域（外周側の領
域）といった全ての領域に対して高品位の記録を行うこ
とができるといった効果が得られるのである。

【０１５０】Ｃ−２−８：変形例８ また、ある設定記録線速度Ｖに達するまでは光ディスク
の回転角速度が一定の記録方式であるＣＡＶ記録を実行
し、記録位置が外周側に移動することにより記録線速度
が上記設定記録線速度Ｖに達した時点以降はその記録線
速度ＶでのＣＬＶ記録を行う（図１６参照）、いわゆる
パーシャルＣＡＶ記録を行う光ディスク記録装置に本発
明の第３実施形態に係るレーザパワー制御方法を適用す
ることもできる。

【０１５１】このようなパーシャルＣＡＶ記録を行う場
合には、上述した第３実施形態や各変形例で説明したよ
うな速度変動を考慮したＲＯＰＣを行うようにしてもよ
いが、次のようなＲＯＰＣを実行するようにしてもよ
い。

【０１５２】図３０に示すように、制御部１６のメモリ
に、複数種類の最高記録線速度と、各最高記録線速度に
対応する肩レベル値とを対応付けて格納したテーブル
（対応関係）を記憶させておく。図示のように、このテ
ーブルには、１２倍速、１６倍速および２０倍速といっ
た当該光ディスク記録装置で実行可能なパーシャルＣＡ
Ｖ記録の最高速度（上記設定記録線速度Ｖに相当）に対
応付けて肩レベル値（Ｌｍ１２，Ｌｍ１６，Ｌｍ２０）
が格納されている。ここで、このテーブルに格納される
肩レベル値は、実験により求められた値であり、対応す
る最高記録線速度で記録を実施した場合に良好な記録が
行える肩レベル値である。

【０１５３】そして、ユーザが最内周での記録線速度が
１２倍速、最外周での記録線速度が１６倍速（設定記録
線速度Ｖに相当）といった記録を行うように指示した場
合には、制御部１６は当該指示内容に応じた線速度（１
２倍速〜１６倍速のパーシャルＣＡＶ方式）での記録が
実行されるようサーボ回路１３を介してスピンドルモー
タ１１を制御する。また、この指示に基づく記録の際に
は、メモリに格納された上記テーブルを読み出し、該テ
ーブルを参照して設定記録線速度（＝１６倍速）に応じ
た肩レベル値を目標値とするＲＯＰＣを行う。このよう
に最高記録線速度に対応したＲＯＰＣを行うことで、精
度の高いレーザパワー制御が要求される高速記録領域に
おける記録エラーの発生を低減させることができる。

【０１５４】

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、例えば
高速でＣＡＶ記録を行う等、ディスク内外において記録
線速度が大きく異なる場合であっても、ディスクのすべ
ての領域においてより適正なデータ記録を行うことがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 従来の光ディスク記録装置における記録レー
ザパワーの制御内容を説明するための図である。

【図２】 従来の光ディスク記録装置における記録レー
ザパワーの制御内容を説明するための図である。

【図３】 出願人が行った実験結果の内容を説明するた
めの図である。

【図４】 出願人が行った実験結果の内容を説明するた
めの図である。

【図５】 第１実施形態に係る光ディスク記録装置１０
０の構成図である。

【図６】 前記光ディスク記録装置の制御部１６が作成
するターゲットβ値テーブルを模式的に示す図である。

【図７】 前記光ディスク記録装置のレーザパワー制御
回路２０の構成図である。

【図８】 前記光ディスク記録装置の制御部１６がター
ゲットβ値テーブルを作成する際の制御内容を示すフロ
ーチャートである。

【図９】 前記光ディスク記録装置によって行われたテ
スト記録により得られるβ値とＣ１エラー値との関係を
例示する図である。

【図１０】 前記光ディスク記録装置によって行われた
テスト記録により得られる記録線速度とターゲットβ値
との関係を例示する図である。

【図１１】 前記光ディスク記録装置の制御部１６のデ
ータ記録時における制御内容を示すフローチャートであ
る。

【図１２】 ＯＰＣにより得られる記録レーザパワー値
とβ値との関係を例示する図である。

【図１３】 ＯＰＣにより得られる記録線速度と記録レ
ーザパワー値との関係を例示する図である。

【図１４】 本発明の第３変形例に係る光ディスク記録
装置に格納されるターゲットβ値テーブルの内容を模式
的に示す図である。

【図１５】 本発明の第３変形例に係る光ディスク記録
装置に格納されるターゲットβ値テーブルの内容を模式
的に示す図である。

【図１６】 本発明の第３変形例に係る光ディスク記録
装置による記録時の、光ディスクの記録位置と記録線速
度との関係を示すグラフである。

【図１７】 前記第３変形例に係る光ディスク記録装置
に格納されるターゲットβ値テーブルの内容を模式的に
示す図である。

【図１８】 本発明の第２実施形態に係る光ディスクの
側面を模式的に示す図である。

【図１９】 本発明の第２実施形態に係る光ディスクの
側面を模式的に示す図である。

【図２０】 本発明の第３実施形態に係るレーザパワー
制御方法の手順を説明するためのフローチャートであ
る。

【図２１】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法によって記録が行われる光ディスクの領域構成を説
明するための図である。

【図２２】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法において用いられるＲＦアンプによって検出される
戻り光を例示する図である。

【図２３】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法において用いられる前記戻り光の肩レベルと記録線
速度との相関関係を示すグラフである。

【図２４】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法において用いられる前記戻り光の肩レベルと記録線
速度との相関関係の他の例を示すグラフである。

【図２５】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法の変形例の手順を説明するためのフローチャートで
ある。

【図２６】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法の他の変形例の手順を説明するためのフローチャー
トである。

【図２７】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法の他の変形例において用いられる記録線速度と最適
パワーとの相関関係を示すグラフである。

【図２８】 ＣＡＶ記録時における記録位置（径方向）
と記録線速度との関係を示すグラフである。

【図２９】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法のその他の変形例の手順を説明するためのフローチ
ャートである。

【図３０】 前記第３実施形態に係るレーザパワー制御
方法のさらにその他の変形例において用いられるテーブ
ルの内容を説明するための図である。

【符号の説明】

１０……光ピックアップ、 １１……スピンドルモータ、 １２……ＲＦアンプ、 １３……サーボ回路、 １４……アドレス検出回路、 １５……デコーダ、 １６……制御部、 １７……エンコーダ、 １８……ストラテジ回路、 １９……レーザドライバ、 ２０……レーザパワー制御部、 ２１……周波数発生器、 ２２……エンベロープ検出回路、 ２３……Ｃ１エラー検出回路、 ２４……β検出回路、 ２０１……モニタ電流検出回路、 ２０２……比較回路、 ２０３……制御信号生成回路。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D029 JB36 5D090 AA01 BB04 CC01 EE02 GG33 JJ12 KK03 5D119 AA23 BA01 BB03 DA01 EC09 HA19 HA31 HA45 5D789 AA23 BA01 BB03 DA01 EC09 HA19 HA31 HA45

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクの本番の記録に先立ち、当該
   光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録ステッ
   プと、 前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再
   生信号を取得する再生ステップと、 複数の記録線速度と、各々の記録線速度において目標と
   なる記録品位に関するパラメータとの関係を表す速度−
   パラメータ特性情報を取得するパラメータ特性取得ステ
   ップと、 前記テスト記録領域の再生信号と前記速度−パラメータ
   特性情報とに基づいて、複数の記録線速度と記録レーザ
   パワーとの関係を表す速度−パワー特性情報を導出する
   導出ステップと、 本番の記録の際に、前記速度−パワー特性情報にしたが
   って前記光ディスクに照射するレーザパワーを制御する
   制御ステップとを具備することを特徴とするレーザパワ
   ー制御方法。
2. 【請求項２】 前記パラメータ特性取得ステップでは、
   前記再生ステップによって取得された再生信号に基づい
   て、前記速度−パラメータ特性情報を導出することを特
   徴とする請求項１に記載のレーザパワー制御方法。
3. 【請求項３】 前記パラメータ特性取得ステップでは、
   予め記憶されている前記速度−パラメータ特性情報を読
   み出して取得することを特徴とする請求項１に記載のレ
   ーザパワー制御方法。
4. 【請求項４】 前記導出ステップでは、前記複数の記録
   線速度の各々において目標となる記録品位に関するパラ
   メータを用い、当該複数の記録線速度毎に前記目標とな
   る記録品位に関するパラメータ値が得られるレーザパワ
   ー値を求め、該レーザパワー値を用いて前記速度−パワ
   ー特性情報を導出することを特徴とする請求項１ないし
   ３のいずれかに記載のレーザパワー制御方法。
5. 【請求項５】 光ディスクに対して指定された記録線速
   度よりも低い記録線速度で記録する時には前記光ディス
   クを一定の回転速度で回転させながらレーザ光を照射し
   て情報を記録し、前記指定された記録線速度に達した後
   は当該指定された記録線速度での記録が実行されるよう
   に前記光ディスクの回転速度を変動させながらレーザ光
   を照射して情報を記録する場合に、前記光ディスクに照
   射するレーザ光のパワーを制御する方法であって、 前記光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスク
   に対してテスト記録を行うテスト記録ステップと、 前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再
   生信号を取得する再生ステップと、 前記指定された記録線速度に対応する目標となる記録品
   位に関するパラメータ値を取得するパラメータ取得ステ
   ップと、 前記テスト記録領域の再生信号と、前記目標となる記録
   品位に関するパラメータ値とに基づいて、記録線速度と
   記録レーザパワーとの関係を表す速度−パワー特性情報
   を導出する導出ステップと、 本番の記録の際に、前記速度−パワー特性情報にしたが
   って前記光ディスクに照射するレーザパワーを制御する
   制御ステップとを具備することを特徴とするレーザパワ
   ー制御方法。
6. 【請求項６】 前記制御ステップでは、前記光ディスク
   に照射されるレーザ光のレーザパワーに対応する値を検
   出し、該検出結果に示される値が前記速度−パワー特性
   にしたがった値と一致するようにレーザパワーを制御
   し、 前記制御手段による前記検出結果に示される値を前記速
   度−パワー特性にしたがった値に制御する際の応答速度
   を、前記記録線速度に応じて制御することを特徴とする
   請求項１ないし６のいずれかに記載のレーザパワー制御
   方法。
7. 【請求項７】 光ディスクにレーザ光を照射して情報を
   記録している時に、照射するレーザ光のパワーを制御す
   る方法であって、 前記光ディスクからの戻り光に関する値を検出する戻り
   光検出ステップと、 前記光ディスクに対して実施される記録の記録線速度を
   取得する線速度取得ステップと、 前記検出された戻り光に関する値と、前記取得された記
   録線速度とに基づいて前記光ディスクに対して照射すべ
   きレーザ光のパワーを制御する制御ステップとを具備す
   ることを特徴とするレーザパワー制御方法。
8. 【請求項８】 前記制御ステップでは、前記検出された
   戻り光に関する値と前記取得された記録線速度が、予め
   用意されている記録線速度と戻り光に関する値との相関
   関係を満たすように前記光ディスクに照射するレーザ光
   のパワーを制御することを特徴とする請求項７に記載の
   レーザパワー制御方法。
9. 【請求項９】 前記記録線速度と戻り光に関する値との
   相関関係は、予め行われた複数の異なる記録線速度で実
   施した記録結果に基づいて導出されたものであることを
   特徴とする請求項８に記載のレーザパワー制御方法。
10. 【請求項１０】 前記制御ステップでは、前記検出され
    た戻り光に関する値と前記取得された記録線速度とが、
    予め用意されている記録線速度、戻り光に関する値およ
    びレーザパワー値との相関関係を満たすように前記光デ
    ィスクに照射するレーザ光のパワーを制御することを特
    徴とする請求項７に記載のレーザパワー制御方法。
11. 【請求項１１】 光ディスクの本番の記録に先立ち、当
    該光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録ステ
    ップと、 前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再
    生結果からレーザパワーの初期値を決定する初期値決定
    ステップとをさらに具備し、 前記制御ステップでは、本番の記録を開始するときに照
    射するレーザパワーを前記初期値に設定し、記録が開始
    された後は前記検出された戻り光に関する値と、前記取
    得された記録線速度とに基づいて前記光ディスクに対し
    て照射すべきレーザ光のパワーを制御することを特徴と
    する請求項７ないし１０のいずれかに記載のレーザパワ
    ー制御方法。
12. 【請求項１２】 本番の記録を開始時の記録線速度を取
    得する開始速度取得ステップをさらに具備し、 前記テスト記録ステップでは、前記開始速度取得ステッ
    プで取得された記録線速度でテスト記録を行うことを特
    徴とする請求項１１に記載のレーザパワー制御方法。
13. 【請求項１３】 光ディスクに対して指定された記録線
    速度よりも低い記録線速度で記録する時には前記光ディ
    スクを一定の回転速度で回転させながらレーザ光を照射
    して情報を記録し、前記指定された記録線速度に達した
    後は当該指定された記録線速度での記録が実行されるよ
    うに前記光ディスクの回転速度を変動させながらレーザ
    光を照射して情報を記録する場合に、前記光ディスクに
    照射するレーザ光のパワーを制御する方法であって、 前記光ディスクからの戻り光に関する値を検出する検出
    ステップと、 ２以上の記録線速度と、各々の記録線速度において目標
    となる戻り光に関する値との対応関係を取得する取得ス
    テップと、 前記取得した対応関係を参照し、前記指定された記録線
    速度に対応する戻り光に関する値を目標値として取得す
    る目標値取得ステップと、 前記目標値として取得した戻り光に関する値に、前記検
    出ステップで検出された戻り光に関する値が一致するよ
    うに前記光ディスクに照射するレーザパワーを制御する
    制御ステップとを具備することを特徴とするレーザパワ
    ー制御方法。
14. 【請求項１４】 光ディスクの本番の記録に先立ち、当
    該光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録手段
    と、 前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再
    生信号を取得する再生手段と、 複数の記録線速度と、各々の記録線速度において目標と
    なる記録品位に関するパラメータとの関係を表す速度−
    パラメータ特性情報を取得するパラメータ特性取得手段
    と、 前記テスト記録領域の再生信号と前記速度−パラメータ
    特性情報とに基づいて、複数の記録線速度と記録レーザ
    パワーとの関係を表す速度−パワー特性情報を導出する
    導出手段と、 本番の記録の際に、前記速度−パワー特性情報にしたが
    って前記光ディスクに照射するレーザパワーを制御する
    制御手段とを具備することを特徴とする光ディスク記録
    装置。
15. 【請求項１５】 光ディスクに対して指定された記録線
    速度よりも低い記録線速度で記録する時には前記光ディ
    スクを一定の回転速度で回転させながらレーザ光を照射
    して情報を記録し、前記指定された記録線速度に達した
    後は当該指定された記録線速度での記録が実行されるよ
    うに前記光ディスクの回転速度を変動させながらレーザ
    光を照射して情報を記録する光ディスク記録装置であっ
    て、 前記光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスク
    に対してテスト記録を行うテスト記録手段と、 前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再
    生信号を取得する再生手段と、 前記指定された記録線速度に対応する目標となる記録品
    位に関するパラメータ値を取得するパラメータ取得手段
    と、 前記テスト記録領域の再生信号と前記目標となる記録品
    位に関するパラメータ値とに基づいて、記録線速度と記
    録レーザパワーとの関係を表す速度−パワー特性情報を
    導出する導出手段と、 本番の記録の際に、前記速度−パワー特性情報にしたが
    って前記光ディスクに照射するレーザパワーを制御する
    制御手段とを具備することを特徴とする光ディスク記録
    装置。
16. 【請求項１６】 光ディスクに対してレーザ光を照射し
    て情報を記録する光ディスク記録装置であって、 前記光ディスクからの戻り光に関する値を検出する検出
    手段と、 前記光ディスクに対して実施される記録の記録線速度を
    取得する線速度取得手段と、 前記検出された戻り光に関する値と、前記取得された記
    録線速度とに基づいて前記光ディスクに対して照射すべ
    きレーザ光のパワーを制御する制御手段とを具備するこ
    とを特徴とする光ディスク記録装置。
17. 【請求項１７】 光ディスクに対して指定された記録線
    速度よりも低い記録線速度で記録する時には前記光ディ
    スクを一定の回転速度で回転させながらレーザ光を照射
    して情報を記録し、前記指定された記録線速度に達した
    後は当該指定された記録線速度での記録が実行されるよ
    うに前記光ディスクの回転速度を変動させながらレーザ
    光を照射して情報を記録する光ディスク記録装置であっ
    て、 ２以上の記録線速度と、各々の記録線速度において目標
    となる戻り光に関する値との対応関係を取得する取得手
    段と、 前記取得した対応関係を参照し、前記指定された記録線
    速度に対応する戻り光に関する値を目標値として取得す
    る目標値取得手段と、 前記目標値として取得した戻り光に関する値に、前記検
    出ステップで検出された戻り光に関する値が一致するよ
    うに前記光ディスクに照射するレーザパワーを制御する
    制御手段とを具備することを特徴とする光ディスク記録
    装置。
18. 【請求項１８】 レーザ光が照射されることにより情報
    が記録される円盤状の光ディスクであって、 当該光ディスクの記録面に形成される色素膜は、当該記
    録面における内周側の位置よりも外周側の位置の膜厚が
    小さくなっていることを特徴とする光ディスク。