JP2011523155A - 記憶装置試験システム内での記憶装置の移動 - Google Patents

Abstract

記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法は、自動運搬装置（２００）を作動させて、試験のために提示された複数の記憶装置（５００）を実質的に同時に回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、各回収された記憶装置をこの記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロット（３１０）へと実質的に同時に届け、かつ各記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットの中に実質的に同時に挿入する工程と、を含む。

Description

（関連出願の相互参照）
本米国特許出願は、２００８年４月１７日出願の米国特許出願第１２／１０４，５３６号の一部継続出願であり、米国特許法第１２０条に基づいて、当該出願に基づく優先権を主張する。この先出願の開示は本願の開示の一部と見なされ、その全体を参照により本願明細書に援用したものとする。

本開示は、記憶装置試験システム内で記憶装置を移すことに関する。

ディスクドライブ製造業者は、典型的には、一まとまりの必要条件の遵守について、製造されたディスクドライブを試験する。大量のディスクドライブを連続的にまたは並行して試験するための試験装置および技法が存在する。製造業者は、大量のディスクドライブを同時にバッチ式で試験する傾向がある。ディスクドライブ試験システムは、典型的には、試験のためにディスクドライブを受ける複数の試験用スロットを有する１以上の架台を具える。

そのディスクドライブのすぐ周りの試験環境は厳密に調節される。その試験環境の中の最小の温度変動が、正確な試験条件およびそのディスクドライブの安全性にとって非常に重要である。最新世代のディスクドライブはより高容量、より速い回転速度およびより小さいヘッドクリアランスを有するので、それらは振動により敏感である。過剰の振動は、試験結果の信頼性および電気的接続の完全性に影響を及ぼす可能性がある。試験条件下では、ドライブ自体が、支持構造体または隣接するユニットへの治具を通して振動を伝搬させる可能性がある。この振動の「クロストーキング」は、振動の外部供給源と一緒に、バンプエラー（ｂｕｍｐ ｅｒｒｏｒｓ）、ヘッドスラップ（ｈｅａｄ ｓｌａｐ）および回転非同期振れ（ｎｏｎ−ｒｅｐｅｔｉｔｉｖｅ ｒｕｎ−ｏｕｔ、ＮＲＲＯ）に寄与し、これはより低い試験歩留まりおよび製造原価の上昇を生じる可能性がある。

現在のディスクドライブ試験システムは、オペレータ、ロボットアーム、またはコンベヤーベルトを使用して、試験のためにその試験システムの中へと投入するための搬送位置までディスクドライブを個々に供給する。試験システムのロボットアームは、個々に、その搬送位置からディスクドライブを回収し、試験のためにそれらを試験のためにスロットの中に投入する。

本開示の１つの態様は、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法であって、自動運搬装置（例えばロボットアーム、ガントリーシステム、または多軸リニアアクチュエータ）を作動させて、試験のために提示された複数の記憶装置を実質的に同時に回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、回収された記憶装置をこの記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロットへと実質的に同時に届け、かつ各記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットの中に実質的に同時に挿入する工程とを含む方法を提供する。

本開示の別の態様は、記憶装置試験内で記憶装置を移す方法であって、自動運搬装置を作動させて、記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロットから記憶装置を実質的に同時に回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、回収された記憶装置をステーションへと届け、かつこのステーションで各記憶装置を実質的に同時に解放する工程とを含む方法を提供する。

本開示の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでもよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、自動運搬装置を作動させて、複数の記憶装置運搬装置を実質的に同時に回収する工程と、自動運搬装置を作動させて、記憶装置を運ぶために記憶装置運搬装置を使用してその記憶装置を実質的に同時に回収する工程とを含む。いくつかの例では、自動運搬装置を作動させて、複数の記憶装置運搬装置を実質的に同時に回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、それぞれの記憶装置運搬装置を用いて記憶装置の各々を運ぶことにより、試験のために提示された記憶装置を実質的に同時に回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、各々が記憶装置のうちの１つを運ぶ記憶装置運搬装置を、それぞれの試験用スロットへと実質的に同時に届ける工程とを含む。いくつかの例では、当該方法はまた、各記憶装置運搬装置を実質的に同時にそのそれぞれの試験用スロットの中へと挿入する工程と、運ばれた記憶装置を記憶装置試験システムのそれぞれのコネクタと係合する工程をも含む。この挿入された記憶装置運搬装置はそのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす。

いくつかの実施態様では、当該自動運搬装置は、運搬装置カプラーを使用して、記憶装置運搬装置へと係合および結合する。この運搬装置カプラーは少なくとも一次元配列で並べられている。当該方法は、回収された記憶装置を実質的に互いに平行に運ぶ工程を含んでもよい。そのような場合には、この運搬装置カプラーは、実質的に互いに平行に並べられ、（例えば、一次元または多次元の配列で）互いから水平方向および／または鉛直方向に間隔を開けられていてもよい。他の例では、このカプラーは、互いに対して平行でない角度で並べられる。

いくつかの実施態様では、この記憶装置は、記憶装置試験システムへと提示された記憶装置トートの中に存在する。この自動運搬装置は、記憶装置運搬装置をそのそれぞれの記憶装置の下に配置し、記憶装置トートの記憶装置支持体から記憶装置を各々持ち上げ、そして記憶装置運搬装置の中の記憶装置を記憶装置トートから離して運ぶことにより、記憶装置トートから対応する記憶装置運搬装置を用いて複数の記憶装置を実質的に同時に回収する。

当該自動運搬装置は、複数の記憶装置を運搬するように構成されているマニピュレータを具えてもよい。例えば、この自動運搬装置としてのロボットアームの場合、このマニピュレータはロボットアームの遠位端に固定されている。このマニピュレータは、マニピュレータ本体と、このマニピュレータ本体の上に配置されかつ実質的に互いに平行におよび／または少なくとも一次元配列で並べられた複数のカプラーとを具える。各カプラーは、記憶装置運搬装置へと解放可能に取り付くように構成されている。いくつかの例では、このマニピュレータは、マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成に並べられた第１および第２のコネクタまたはカプラーを具える。このカプラーは記憶装置運搬装置へと解放可能に取り付くように構成されている。

本開示の別の態様は、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法であって、マニピュレータを有する自動運搬装置を作動させて、試験のために提示された未試験の記憶装置を回収する工程を含む方法を提供する。このマニピュレータは、複数の記憶装置を運搬するように構成されている。当該方法は、この自動運搬装置を作動させて、回収された未試験の記憶装置を記憶装置試験システムのそれぞれの試験用スロットへと届け、試験のためにその未試験の記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットの中に挿入する工程を含む。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでもよい。いくつかの実施態様では、このマニピュレータは、マニピュレータ本体の上に配置されかつ互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられた第１および第２のカプラーを具える。他の実施態様では、このカプラーは、実質的に互いに平行に並べられかつ１つまたは２つの方向軸に沿って互いに間隔を空けられている。さらなる例では、この第１および第２のカプラーは互いから１８０°で配置される。このカプラーは、記憶装置運搬装置へと解放可能に取り付くように構成されている。

いくつかの例では、当該方法は、この自動運搬装置を作動させて、記憶装置運搬装置を回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、未試験の記憶装置を記憶装置運搬装置を用いて運ぶことにより、試験のために提示されたこの未試験の記憶装置を回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、この記憶装置運搬装置をそれぞれの試験用スロットへと届ける工程とを含む。この記憶装置運搬装置は試験用スロットの中へと挿入され、運ばれた未試験の記憶装置を記憶装置試験システムのそれぞれのカプラーと係合させる。挿入された記憶装置運搬装置は、そのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす。

いくつかの実施態様では、この未試験の記憶装置は、記憶装置試験システムへと提示された記憶装置トートの中に存在する。この自動運搬装置は、記憶装置運搬装置をその未試験の記憶装置の下に配置し、記憶装置トートの記憶装置支持体からその未試験の記憶装置を持ち上げ、そして記憶装置運搬装置の中のその未試験の記憶装置を記憶装置トートから離して運ぶことにより、記憶装置トートから対応する記憶装置運搬装置を用いて未試験の記憶装置を回収する。

いくつかの実施態様では、当該方法は、この自動運搬装置およびマニピュレータを作動させて、試験された記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットから回収する工程と、その試験された記憶装置を届け先記憶装置トートなどの届け先場所へと運ぶ工程とを含む。この方法は、この自動運搬装置を作動させて、そのマニピュレータを作動させて試験された記憶装置のそれぞれの記憶装置運搬装置と係合させることにより、その試験された記憶装置をそのそれぞれの試験用スロットから回収する工程と、その試験された記憶装置をそのそれぞれの記憶装置運搬装置を用いて届け先場所へと運ぶ工程とを含んでもよい。この方法は、この自動運搬装置を作動させて、そのそれぞれの記憶装置運搬装置によって運ばれた記憶装置を届け先記憶装置トートの置き場へと届ける工程を含んでもよい。

本開示のさらに別の態様では、記憶装置試験システム内で記憶装置を移す方法は、マニピュレータを有する自動運搬装置を作動させて、記憶装置試験システムの第１の試験用スロットに収容された第１の記憶装置を回収する工程を含む。このマニピュレータは、複数の記憶装置を運搬するように構成されている。この方法は、この自動運搬装置を作動させて、回収された第１の記憶装置を第２の試験用スロットへと届ける工程と、この自動運搬装置を作動させて、第１の記憶装置を運びつつも第２の記憶装置を第２の試験用スロットから回収する工程と、この自動運搬装置を作動させて、第２の記憶装置を運びつつも第１の記憶装置をその第２の試験用スロットへと挿入する工程とを含む。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでもよい。いくつかの実施態様では、この方法は、この自動運搬装置を作動させて、回収された第２の記憶装置を第１の試験用スロットへと届ける工程と、この自動運搬装置を作動させて、第２の記憶装置を第１の試験用スロットの中へと挿入する工程とを含む。マニピュレータは、マニピュレータ本体と、このマニピュレータ本体の上に配置された第１および第２のカプラーとを具える。このカプラーは、実質的に互いに平行にまたは互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられ、それらは各々記憶装置運搬装置へと解放可能に取り付くように構成されている。このマニピュレータは、第１および第２の記憶装置を対応する解放可能に取り付けられた記憶装置運搬装置の中で運搬する。記憶装置が各々対応する記憶装置運搬装置の中で運ばれる例では、各記憶装置を試験用スロットのうちの１つの中へと挿入する工程は、その対応する記憶装置運搬装置をそれぞれの試験用スロットの中へと挿入する工程と、運ばれた記憶装置を記憶装置試験システムのそれぞれのカプラーと係合する工程であって、挿入された記憶装置運搬装置はそのそれぞれの試験用スロットの閉鎖をもたらす工程とを含む。

本開示の別の態様は、自動運搬装置と、この自動運搬装置によるアクセスのためのこの自動運搬装置の周りの少なくとも１つの架台と、各架台によって収容された複数の試験用スロットとを具える記憶装置試験システムを提供する。各試験用スロットは、試験のために記憶装置を受けるように構成されている。この自動運搬装置によるアクセスのために並べられた搬送ステーションは、試験のために複数の記憶装置を提示する。自動運搬装置に取り付けられたマニピュレータは、少なくとも一次元配列で並べられた複数のカプラーを具え、この複数のカプラーは実質的に互いに平行であってもよい。各カプラーは記憶装置を運搬するように構成されている。

本開示のこの態様の実施態様は、以下の特徴のうちの１以上を含んでもよい。このマニピュレータは、複数の記憶装置運搬装置へと解放可能に取り付くように構成されている。いくつかの実施態様では、このマニピュレータは、マニピュレータ本体と、このマニピュレータ本体の上に配置された複数のカプラーとを具える。このカプラーは、マニピュレータが複数の試験用スロットに実質的に同時にサービス提供することを可能にする、試験用スロットレイアウトに対応する配置で互いに間隔を空けられている。

いくつかの例では、搬送ステーションは、自動運搬装置によるサービス提供のために複数の記憶装置トートを提示位置で受けて支持するように構成された搬送ステーション筐体を具える。各記憶装置トートは、各々記憶装置を収容するように構成された複数の記憶装置置き場を画定するトート本体を具える。マニピュレータはマニピュレータ本体と、このマニピュレータ本体の上に配置された複数のカプラーとを具えていてもよい。カプラーは、マニピュレータが複数のトート記憶装置置き場に実質的に同時にサービス提供することを可能にする、トート置き場レイアウトに対応する配置で互いに間隔を空けられている。各カプラーは、記憶装置を実質的に互いに平行に保持するために、実質的に互いに平行に並べられていてもよい。いくつかの例では、搬送ステーションは、記憶装置試験システムへ、および記憶装置試験システムから記憶装置を連続的に運搬するためのコンベヤーを具える。

本開示の別の態様は、マニピュレータ本体と、このマニピュレータ本体の上に配置された複数のカプラーとを具える記憶装置試験システムのためのマニピュレータを提供する。このカプラーは、マニピュレータが一度に複数の記憶装置に実質的に同時にサービス提供することを可能にする、記憶装置サービス提供レイアウトに対応する配置で互いに間隔を空けられている。

いくつかの実施態様では、この記憶装置サービス提供レイアウトは、マニピュレータが複数の試験用スロットに実質的に同時にサービス提供することを可能にする、当該記憶装置試験システムの試験用スロットレイアウトである。この記憶装置サービス提供レイアウトはまた、マニピュレータが記憶装置を運ぶトートの複数のトート記憶装置置き場に実質的に同時にサービス提供することを可能にする、トート置き場レイアウトであってもよい。いくつかの実施態様では、この記憶装置サービス提供レイアウトは、カプラーをカプラー間隔に従って実質的に互いに平行におよび／または少なくとも一次元の配列で並べ、これによりマニピュレータが記憶装置を実質的に互いに平行におよび／またはある配列構成で運搬することができるようになることを伴う。この記憶装置サービス提供レイアウトは、第１および第２のカプラー間隔（例えば、水平方向および垂直方向の間隔）に従って少なくとも二次元の配列でカプラーを並べることを伴ってもよい。

本開示の１以上の実施態様の詳細は、添付の図面および以下の説明で示される。他の特徴、対象、および利点は、説明および図面から、ならびに特許請求の範囲から明らかとなろう。

記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの斜視図である。 記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの上面図である。 記憶装置試験システムおよび搬送ステーションの斜視図である。 記憶装置試験システムの試験用スロットの中へと挿入されている記憶装置の斜視図である。 記憶装置運搬装置の斜視図である。 記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置の斜視図である。 記憶装置を運ぶ記憶装置運搬装置の底面斜視図である。 マニピュレータが遠位端に固定されているロボットアームの斜視図である。 ロボットアームのためのマニピュレータの上方正面斜視図である。 図９に示されるマニピュレータの上方後面斜視図である。 ロボットアームのためのマニピュレータの上方正面斜視図である。 実質的に水平方向に間隔を空けて並べられた２つのマニピュレータカプラーを有するマニピュレータの斜視図である。 実質的に鉛直方向に間隔を空けて並べられた２つのマニピュレータカプラーを有するマニピュレータの斜視図である。 各々互いから間隔を空けられた複数のマニピュレータカプラーを有するマニピュレータの斜視図である。 投入位置にある記憶装置トートの斜視図である。 提示位置にある記憶装置トートの斜視図である。 搬送ステーションの斜視図である。 搬送ステーションのトート提示支持システム上での配置のための提示位置にあるトートの斜視図である。 記憶装置および／または記憶装置を運ぶ運搬装置を移動させるためのコンベヤーを具える記憶装置試験システムの斜視図である。

種々の図面における同じ参照記号は、同じ要素を示す。

記憶装置試験システムにおける記憶装置のバルク供給は、とりわけ記憶装置試験システムの処理量および効率の増加を与えることにより、記憶装置の手作業による個々の供給よりも有利である。詳細に論じられることになろうが、複数の記憶装置を保持する複数の記憶装置トート（トートとも呼ばれる）を記憶装置試験システムに提示することは、とりわけ現在のシステムに勝って連続的な記憶装置試験、複数の記憶装置トートの中でのディスクの並べ替え、最小のユーザの介入および効率の増加を可能にする。記憶装置トートの中での記憶装置のバルク供給は、（例えば、固定式のコンベヤーを別経路に変えることに対して、記憶装置トートまたは記憶装置トートを運ぶ手押し車もしくは台車の方向を簡単に変える能力を提供することにより）工場の作業現場の融通性という利点をもたらす。オペレータは（例えば、上記記憶装置トートを介して）ドライブの処理単位をこの記憶装置試験システムへと提示することができ、次いで別のシステムにサービスを提供するために遠ざかることができる。記憶装置トートの中での記憶装置のバルク供給はまた、記憶装置トートを用いた試験されるドライブの自動の並べ替えも可能にする。これは後述されることになる。

記憶装置は、本願明細書で使用する場合、ディスクドライブ、ソリッドステートドライブ、メモリ素子、および検証のために非同期の試験を必要とするいずれかの装置を包含する。ディスクドライブは、一般に、磁気表面を有する高速で回転するプラッタ上に数字でコード化されたデータを保存する、不揮発性記憶装置である。ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）は、永続的データを保存するためにソリッドステートメモリを使用するデータ記憶装置である。（フラッシュメモリの代わりに）ＳＲＡＭまたはＤＲＡＭを使用するＳＳＤは、ＲＡＭドライブと呼ばれることが多い。用語「ソリッドステート」は、一般にソリッドステート電子機器と電気機械装置とを区別する。

図１〜図３を参照すると、いくつかの実施態様では、記憶装置試験システム１００は、床面１０に対して実質的に法線方向の第１の軸２０５（図３を参照）を画定する少なくとも１つの自動運搬装置２００（例えばロボットアーム、ガントリーシステム、または多軸リニアアクチュエータ）を具える。示される例では、自動運搬装置２００は、第１の軸２０５の周りで所定の弧を通して回転しかつ第１の軸２０５から半径方向に延在するように動作可能であるロボットアーム２００を具える。ロボットアーム２００は第１の軸２０５の周りで３６０°回転するように動作可能であり、１以上の記憶装置５００および／または記憶装置５００を運ぶための記憶装置運搬装置５５０（例えば図５〜図６を参照）を取り扱うためにロボットアーム２００の遠位端に配置されたマニピュレータ７００を具える。複数の架台３００は、ロボットアーム２００によるサービス提供のためにロボットアーム２００の周りに配置される。各架台３００は、試験のために記憶装置５００を受けるように構成された複数の試験用スロット３１０を収容する。ロボットアーム２００は実質的に円筒形の作業用安全運行範囲容積２１０を画定し、架台３００は、ロボットアーム２００によるサービス提供のために、各試験用スロット３１０のアクセスのしやすさのためにその作業用安全運行範囲２１０内に配置されている。実質的に円筒形の作業用安全運行範囲容積２１０は、コンパクトな設置面積を提供し、一般に高さの制約により容量が制限されるだけである。いくつかの例では、ロボットアーム２００は、床面１０上の台座またはリフト２５０によって持ち上げられ、その上に支持される。台座またはリフト２５０は、ロボットアーム２００が上方向だけではなく下方向にも到達して試験用スロット３１０にサービスを提供できるようにすることにより、作業用安全運行範囲容積２１０のサイズを増大させる。作業用安全運行範囲容積２１０のサイズは、鉛直方向アクチュエータを台座またはリフト２５０に加えることにより、さらに増大させることができる。

自動運搬装置２００（例えば、ロボットアーム）は、各試験用スロット３１０に独立にサービスを提供するように構成されており、試験システム１００を通る記憶装置５００の連続流を提供する。試験システム１００を通る個々の記憶装置５００の連続流は各記憶装置５００に対して成り行き任せの開始および停止時間を許容するが、記憶装置５００の処理単位が投入された試験全体として一斉に実行されることを必要とする他のシステムは、すべて同じ開始および終了時間を有しなければならない。それゆえ、連続流を用いると、異なる容量の記憶装置５００を、必要に応じて、同時に実行しサービス提供する（投入される／取り出される）ことができる。

図３〜図４を参照すると、記憶装置試験システム１００は、自動運搬装置２００（例えば、示されるようなロボットアーム）への記憶装置５００のバルク供給用に構成された搬送ステーション４００を具える。自動運搬装置２００は、記憶装置５００を搬送ステーション４００と試験用スロット３１０との間で移すことにより、各試験用スロット３１０に独立にサービスを提供する。搬送ステーション４００は、自動運搬装置２００によるサービス提供のために提示される複数の記憶装置５００を運ぶ１以上のトート６００を収容する。搬送ステーション４００は、記憶装置試験システム１００へ記憶装置５００を届け、かつ記憶装置試験システム１００から記憶装置５００を回収するためのサービス提供する地点である。トート６００は、オペレータが一まとまりの記憶装置５００を搬送ステーション４００へと届け、および搬送ステーション４００から回収することを可能にする。図３に示された例では、各トート６００は、提示位置にあるそれぞれのトート提示支持システム４２０からアクセス可能であり、それは試験のために一まとまりの記憶装置５００を供給するための供給源トート６００として、または試験された記憶装置５００を受けるための届け先トート６００として（またはその両方として）指定されてもよい。届け先トート６００は、それぞれ機能性試験に合格したかまたは不合格であったかいずれかのそれぞれの記憶装置５００を受けるための「合格した戻りのトート」または「不合格の戻りのトート」と分類されてもよい。

記憶装置５００を操作するために記憶装置運搬装置５５０を用いる実施態様では、図４に示されるように、ロボットアーム２００は、マニピュレータ７００を用いて試験用スロット３１０のうちの１つから記憶装置運搬装置５５０を取り出して、搬送ステーション４００で提示されたトート６００のうちの１つから記憶装置運搬装置５５０を用いて記憶装置５００を持ち上げ、次いで記憶装置５００の試験のために、記憶装置５００が中に入っている記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０まで戻すように構成される。試験後、ロボットアーム２００は、試験された記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から（すなわち、マニピュレータ７００を用いて）取り出し、記憶装置運搬装置５５０の中の試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００まで運び、そして記憶装置運搬装置５５０を操作して試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００でトート６００のうちの１つに戻すことにより、試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収する。

図４に示される試験用スロット３１０は、記憶装置運搬装置５５０を受けるように構成された開口３１２を画定する。この場合、記憶装置運搬装置５５０は試験用スロット３１０の閉鎖をもたらす。記憶装置運搬装置５５０は、図５に示されるように記憶装置５００を受けて、自動運搬装置２００により取り扱われるように構成される。使用時には、記憶装置運搬装置５５０のうちの１つは、ロボット２００を用いて（例えば、ロボット２００のマニピュレータ７００を用いて運搬装置５５０のくぼみ５５２を掴むことにより、または別の態様で係合することにより）試験用スロット３１０のうちの１つから取り出される。いくつかの例では、図５〜図７に図示されるように、記憶装置運搬装置５５０は、側壁５６２、５６４および底板５６６によって形成される実質的にＵ字型の開口５６１を画定するフレーム５６０を具える。この側壁５６２、５６４および底板５６６は、フレーム５６０がトート６００の中で記憶装置支持体（図示せず）の周りに嵌合することを共同で可能にし、そのため記憶装置運搬装置５５０は（例えば、ロボットアーム２００を介して）、トート６００によって画定される複数の記憶装置置き場６２０のうちの１つの中に収容された記憶装置５００のうちの１つの下の位置へと移動できる（例えば、図８〜図９を参照）。次に記憶装置運搬装置５５０は、トート６００からの取り外しのために記憶装置６００を係合する位置まで（例えば、ロボットアーム３１０によって）持ち上げられることができる。

記憶装置５００が記憶装置運搬装置５５０のフレーム５６０内の適所にあると、記憶装置運搬装置５５０および記憶装置５００は一緒に、図４に示されるように、試験用スロット３１０のうちの１つの内部での配置のために自動運搬装置２００によって動かされることができる。いくつかの実施態様では、マニピュレータ７００は、記憶装置運搬装置５５０の中に配置されたクランプ機構５７０の作動を開始するようにも構成される。これにより、運搬装置５５０がトート６００から試験用スロット３１０へと動かされる前のクランプ機構５７０の作動が可能になり、移動の間の記憶装置運搬装置５５０に対する記憶装置５００の移動が抑制される。試験用スロット３１０への挿入に先立って、マニピュレータ７００は、ここでも、クランプ機構５７０を作動してフレーム５６０内の記憶装置５００を解放することができる。これにより、記憶装置コネクタ５１０が試験用スロットコネクタ（図示せず）と係合している試験位置に記憶装置５００があるまで、試験用スロット３１０のうちの１つへの記憶装置運搬装置５５０の挿入が可能になる。クランプ機構５７０はまた、ひとたび試験用スロット３１０の中に受けられると、試験用スロット３１０と係合して、試験用スロット３１０に対する記憶装置運搬装置５５０の移動を抑制するように構成されてもよい。このような実施態様では、ひとたび記憶装置５００が試験位置にあるとき、クランプ機構５７０は、（例えば、マニピュレータ７００によって）再度係合され、試験用スロット３１０に対する記憶装置運搬装置５５０の移動が抑制される。このような運搬装置５５０のクランプ止めは、試験の間の振動を減少させるのに役立つ可能性がある。いくつかの例では、挿入後、記憶装置運搬装置５５０およびその中で運ばれる記憶装置５００は、両方とも試験用スロット３１０内で組み合わせてまたは個々にクランプ止めまたは固定される。

図８〜図１１を参照すると、マニピュレータ７００はロボットアーム２００の遠位端２０２に固定される。いくつかの実施態様では、マニピュレータ７００は、マニピュレータ本体７１０上に配置された第１および第２のアーム７２０、７３０を具える。図９〜図１１に示された例では、第１および第２のアーム７２０、７３０は、互いに対して実質的にＶ字型構成で並べられている。いくつかの実施態様では、アーム７２０、７３０は、互いから１８０°またはそれらの間の何らかの他の角度などの他の配置で配置されてもよい。アーム７２０、７３０は各々、記憶装置運搬装置５５０に解放可能に取り付くように構成されているカプラー７４０を有する。示される例では、各カプラー７４０は、アーム７２０、７３０上に配置されるツメアクチュエータ７５０に対向して結合される第１および第２のツメ７４２、７４４を具える。ツメアクチュエータ７５０は、記憶装置運搬装置５５０を解放可能に係合および保持するためにその結合されたツメ７４２、７４４を反対の方向に移動させるように動作可能である。記憶装置運搬装置５５０を掴むために、ロボットアーム２００およびマニピュレータ７００は、カプラー７４０のうちの１つを巧みに操作してツメ７４２、７４４を記憶装置運搬装置５５０のくぼみ５５２の中へと置くように作動され、次いでツメアクチュエータ７４０を作動させてツメ７４２、７４４を互いから離れるように移動させて、くぼみ５５２を記憶装置運搬装置５５０に解放可能に取り付くように係合させる。いくつかの例では、ツメ７４２、７４４は、フック形状であり、かつ／または記憶装置運搬装置５５０のくぼみ５５２を係合するための摩擦パッドを有する。マニピュレータ７００の各アーム７２０、７３０は、記憶装置運搬装置５５０のクランプ機構５７０を係合するように構成された第１および第２のクランプアクチュエータ７６２、７６４を有する。このクランプアクチュエータ７６２、７６４は、クランプ機構５７０を係合／解放するために、クランプ機構５７０上で押したり引いたりするように動作可能であってもよい。

図１２〜図１４を参照すると、いくつかの例では、マニピュレータ７００は、マニピュレータ本体７１０上に配置されかつ互いに対して実質的に同じ配向で（例えば、平行に）並べられた複数のマニピュレータカプラー７２５を具え、各マニピュレータカプラー７２５は（例えば、鉛直方向におよび／または水平方向に）互いに間隔を空けられている。図１２は、水平方向の間隔Ｈで並べられた第１および第２のマニピュレータカプラー７２５Ａ、７２５Ｂを有するマニピュレータ７００の例を図示する。図１３は、鉛直方向の間隔Ｖで並べられた第１および第２のマニピュレータカプラー７２５Ａ、７２５Ｂを有するマニピュレータ７００の例を図示する。図１４は、第１および第２のカプラー７２５Ａ、７２５Ｂ間ならびに第３および第４のカプラー７２５Ｃ、７２５Ｄ間で水平方向の間隔Ｈ、ならびに第１および第２のカプラー７２５Ａ、７２５Ｂ間ならびに第３および第４のカプラー７２５Ｃ、７２５Ｄ間で鉛直方向の間隔Ｖで並べられた第１、第２、第３、および第４のマニピュレータカプラー７２５Ａ、７２５Ｂ、７２５Ｃ、７２５Ｄを有するマニピュレータ７００の例を図示する。いくつかの例では、間隔の第３の軸が、種々のマニピュレータカプラー７２５を３つの方向で他からずらすために使用される。

各マニピュレータカプラー７２５は、記憶装置運搬装置５５０を係合しかつ解放可能に保持するように構成されている。マニピュレータカプラー７２５は、マニピュレータ７００が複数の試験用スロット３１０から実質的に同時にディスクドライブ５００を届けかつ回収することを可能にするように並べられてもよい。マニピュレータカプラー７２５は、試験用スロット３１０の１以上のグループ（例えば、隣接するおよび／または隣接していない試験用スロット３１０）間の間隔（例えば、一方向または多方向の）に適応するように並べられ、その結果、ロボットアーム２００はマニピュレータ７００を巧みに操作して一度に複数の試験用スロット３１０と相互作用することができる。例えば、架台３００の中の縦列および横列に並べられた試験用スロット３１０と相互作用するために、マニピュレータカプラー７２５は適切な間隔Ｈ、Ｖで並べられ、その結果、マニピュレータカプラー７２５は、試験用スロット３１０へまたは試験用スロット３１０からディスクドライブ５００および／または運搬装置５５０を届けまたは回収するために、実質的にそれぞれの試験用スロット３１０と整列する。トート６００は、試験用スロット３１０が架台３００に並べられるのと同様にしてディスクドライブ５００に間隔を開けた配置でディスクドライブ５００を収容および保持するように構成されていてもよい。それゆえ、マニピュレータ７００は、例えば記憶装置置き場６２０および試験用スロット３１０の両方が実質的に同様の横列および縦列に並べられるときと同様にして、記憶装置置き場６２０（図１５）を有するトート６００と、および試験用スロット３１０を有する架台３００と相互作用してもよい。マニピュレータカプラー７２５は、間隔Ｈ、Ｖが隣接する記憶装置置き場６２０および／または試験用スロット３１０の間隔の倍数であるように、並べられてもよい。例えば、マニピュレータカプラー７２５は、回収された記憶装置５００を隣接する試験用スロット３１０へと届ける間に、隣接していない記憶装置置き場６２０（例えば、第１および第４の位置）から記憶装置５００を回収するように並べられてもよい。この逆も同様に適切である場合がある。

マニピュレータ７００は、記憶装置５００または記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を連続的に、無作為に、または実質的に同時に回収するかまたは届けてもよい。マニピュレータカプラー７２５は、記憶装置５００または記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を、水平方向にもしくは鉛直方向に隣接する、または水平方向にもしくは鉛直方向に隣接していない記憶装置置き場６２０の中へと回収するかまたは届けてもよい。さらに、マニピュレータカプラー７２５は、記憶装置５００または記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を、水平方向にもしくは鉛直方向に隣接する、または水平方向にもしくは鉛直方向に隣接していない試験用スロットの中へと回収するかまたは届けてもよい。

例えば、マニピュレータカプラー７２５が水平方向に間隔を開けられ（図１２）、実質的に鉛直方向の間隔Ｖがない（例えば、横列にある）実施態様では、マニピュレータ７００は、トート６００の同じ横列にある記憶装置置き場６２０へと、およびその記憶装置置き場６２０から記憶装置５００を届けかつ回収してもよく、また架台３００の同じ横列にある試験用スロット３１０へと、およびその試験用スロット３１０から、記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を届けかつ回収してもよい。別の例では、マニピュレータカプラー７２５が鉛直方向に間隔を開けられ（図１３）、実質的に水平方向の間隔Ｈがない（例えば、横列にある）実施態様では、マニピュレータ７００は、トート６００の同じ縦列にある記憶装置置き場６２０へと、およびその記憶装置置き場６２０から記憶装置５００を届けかつ回収してもよく、また架台３００の同じ縦列にある試験用スロット３１０へと、およびその試験用スロット３１０から、記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を届けかつ回収してもよい。斜めに間隔を開けられたマニピュレータカプラー７２５など、これらの例の組み合わせも同様に可能である。図１４に示されるものなどの、マニピュレータ７００がマニピュレータカプラー７２５の二次元の配列を具える例では、マニピュレータ７００は、トート６００の複数の横列および縦列にある記憶装置置き場６２０へと、およびその記憶装置置き場６２０から記憶装置５００を届けかつ回収することができ、また架台３００の複数の横列および縦列にある試験用スロット３１０へと、およびその試験用スロット３１０から、記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を届けかつ回収することができる。

図１５〜図１６に図示される例では、トート６００は、正面６１１、裏面６１２、上面６１３、底部側６１４、右側６１５および左側６１６を有するトート本体６１０を具える。トート本体６１０は、正面６１１に、各々が記憶装置５００を収容するように構成された複数の記憶装置置き場６２０を画定する。いくつかの例では、トート６００は、投入位置にある間は裏面６１２を下にして置かれ、そのため図１２に示されるように、記憶装置置き場６２０は実質的に鉛直方向であり、上方向を向く。他の例では、トート６００は投入位置にあるあいだ別の配向で、例えば斜めの配向で、または提示位置の場合のように鉛直方向の配向で保持される。提示位置では、トート６００はその底部側６１４を下にして置かれ、そのため記憶装置置き場６２０は、図１３に示されるように実質的に水平方向であり、横方向を向く。トート本体６１０は、トート本体６１０の右側および左側６１５、６１６に、トート６００を支持するように構成されたアームの溝６３０を画定する。

示された例では、各記憶装置置き場６２０は、受けられた記憶装置５００の中央部分５０２（図７を参照）を支持するように構成された記憶装置支持体６２２を具え、これにより非中央部分に沿った記憶装置５００の操作が可能になる。いくつかの実施態様では、記憶装置支持体６２２は、トート６００が実質的に鉛直方向の配向にあるあいだ斜めに記憶装置５００を支持するように構成され、そのため、記憶装置５００は、記憶装置置き場６２０から外へではなく、記憶装置置き場６２０の中へより深く滑り落ちる傾向を有する。収容された記憶装置５００を記憶装置置き場６２０から取り出すために、記憶装置運搬装置５５０は（例えばロボットアーム２００によって）記憶装置置き場６２０の中の記憶装置５００の下に配置され、記憶装置支持体６２２から記憶装置５００を持ち上げるために上げられる。次いで記憶装置運搬装置５５０は、試験用スロット３１０などの届け先の目標へと届けるために記憶装置５００を保有したまま、記憶装置置き場６２０から取り出される。いくつかの例では、トート６００の記憶装置置き場６２０およびマニピュレータカプラー７２５は、試験用スロット３１０と実質的に同じ鉛直方向および／または水平方向の間隔を有するように間隔を開けることができる。マニピュレータ７００は、複数のマニピュレータカプラー７２５を用いて、トート６００の記憶装置置き場６２０から、複数の記憶装置５００または記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を実質的に同時に回収するかまたは届け、記憶装置５００または記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を１以上の架台３００へと運搬し、かつそれらを実質的に同時に複数の試験用スロット３１０へと届ける。記憶装置５００または記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から１以上のトート６００へと戻すように移動させるために、同じ手順を逆に使用してもよい。いくつかの例では、マニピュレータカプラー７２５は、記憶装置置き場６２０および／または試験用スロット３１０間の異なる間隔に適応するために、（例えば、単軸または多軸ドライブまたはステージを介して）１以上の方向に動くように構成される。

図１７を参照すると、いくつかの実施態様では、搬送ステーション４００は搬送ステーション筐体４１０と、搬送ステーション筐体４１０上に配置された複数のトート提示支持システム４２０とを具える。各トート提示支持システム４２０は、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置トート６００を提示位置で受けて支持するように構成されている。

いくつかの実施態様では、トート提示支持システム４２０は、各々、搬送ステーション筐体４１０の同じ側に配置され、互いに対して鉛直方向に並べられている。各トート提示支持システム４２０は他に対して異なる高さ位置を有する。いくつかの例では、図１８に示されるように、トート提示支持システム４２０は、記憶装置トート６００のトート本体６１０によって画定されるそれぞれのアームの溝６３０によって受けられるように構成されたトート支持アーム４２６の第１および第２の対向する対４２２、４２４を具える。

再度図１７を参照すると、トート移動装置４３０は搬送ステーション筐体４１０上に配置され、記憶装置トート６００を受けて支持するように構成された枢動可能に結合されたトート投入支持体４４０を動かすように構成されている。トート投入支持体４４０は、第１の位置と第２の位置との間で枢動および移動する。トート移動装置４３０は、記憶装置トート６００を（例えば、投入支持体の第１の位置で水平方向配向にある）投入位置で保持するための第１の位置と、（例えばロボットアーム２００による）記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために記憶装置トート６００をトート提示支持システム４２０のうちの１つでの提示位置で（例えば実質的に鉛直方向配向にある）保持するための第２の位置との間で、トート投入支持体４４０を移動させるように構成されている。いくつかの例では、トート６００から外への偶発的な滑り落ちから記憶装置５００を守るために、トート提示支持システム４２０は、トート６００をわずかに斜めになった（例えば鉛直方向からずれた）配向で保持する。

記憶装置の試験を実施する方法は、試験のために複数の記憶装置５００を記憶装置試験システム１００に提示する工程と、自動運搬装置２００（例えばロボットアーム）を作動させて、１以上の記憶装置５００を記憶装置トート６００から回収し、この回収された記憶装置（１つまたは複数）５００を記憶装置試験システム１００の架台３００の対応する試験用スロット３１０へと届ける工程とを含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて各記憶装置５００を試験用スロット３１０に挿入する工程と、試験用スロット３１０によって受けられた記憶装置５００上で機能性試験を実施する工程とを含む。当該方法はまた、自動運搬装置２００を作動させてこの試験された記憶装置５００を試験用スロット３１０から回収し、この試験された記憶装置５００を届け先場所へと戻すように届ける工程をも含んでよい。いくつかの実施態様では、当該方法は、複数の提示された記憶装置５００を回収する工程と、その記憶装置の各々をそれぞれの試験用スロット３１０へと届ける工程とを含む。他の実施態様では、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて第１の記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０から取り出し、それを第１のマニピュレータカプラー７２０を用いて運び、第２の試験用スロット３１０へと移動し、そして第２の記憶装置５００を取り出してそれを第２のマニピュレータカプラー７３０を用いて運び、次いで第１の記憶装置５００を第２のスロット３１０の中へと挿入することにより、記憶装置５００を試験用スロット３１０の中で入れ替える工程を含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて第２の記憶装置を第１の試験用スロット３１０へと移動させ、第２の記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０に挿入する工程を含んでよい。この動作モード（記憶装置の入れ替え）については、当該２本アームのマニピュレータ７００は、記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０から取り上げ、記憶装置５００を空のスロット３１０またはトート６００の中に置いておき、別の記憶装置５００を第２のスロット３１０から回収し、そしてその記憶装置５００を第１の試験用スロット３１０へと挿入し、次いで置いておいた記憶装置５００を回収してそれを第２のスロット３１０に挿入しなければならないことよりはむしろ、各停止における記憶装置５００の直接交換を可能にすることにより、１本アームのマニピュレータに勝る明確な利点をもたらす。この２本アームのマニピュレータ７００は、２つの試験用スロット３１０の間で記憶装置５００を取り換えている間、記憶装置５００のうちの１つを置いておくという工程をなくす。届け先場所。

いくつかの実施態様では、当該方法は、複数の提示された記憶装置５００を実質的に同時に回収して、その記憶装置の各々をそれぞれの試験用スロット３１０へと実質的に同時に届ける工程を含む。当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、一組の記憶装置５００を第２の組の試験用スロット３１０へと運ぶ複数のマニピュレータカプラー７２５を介して第１の組の試験用スロット３１０から一組の記憶装置５００を取り出して、それらをその第２の組の試験用スロット３１０へと実質的に同時に届けることにより、試験用スロット３１０の中で記憶装置５００を入れ替える工程を含んでもよい。あるいは、自動運搬装置２００は、その一組の記憶装置５００をトート６００の一組の記憶装置置き場６２０へと届けることができる。同様に、当該方法は、トート６００の一組の記憶装置置き場６２０から実質的に一度に一組の記憶装置５００を回収する工程と、その組を（それらのすべてを実質的に一度に）複数の試験用スロット３１０へと届ける工程とを含んでもよい。

試験のために複数の記憶装置５００を提示する工程は、記憶装置５００を記憶装置トート６００によって画定される記憶装置置き場６２０の中へと投入し、そして記憶装置トート６０を搬送ステーション４００の中／上へと投入することによるように、複数の記憶装置５００を搬送ステーション４００の中／上へと投入することにより、成し遂げられてもよい。搬送ステーション４００のトート移動装置４３０は、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために、記憶装置トート６００を投入位置から提示位置へと移動させるように作動される。記憶装置トート６００は、搬送ステーション筐体４１０の上に配置されかつ互いに対して鉛直方向に並べられた複数のトート提示支持システム４２０のうちの１つによって、提示位置で支持される。各々が記憶装置５００を収容する複数の記憶装置トート６００は、連続的に、搬送ステーション４００上に投入位置で置かれ、記憶装置試験システム１００によるサービス提供のために、複数のトート提示支持システム４２０のうちの１つでのそのそれぞれの提示位置へとトート移動装置４３０によって移動されることができる。

試験のために提示された記憶装置５００のうちの１以上を回収する際には、当該方法は、好ましくは、自動運搬装置２００を作動させて（例えば架台３００の中に収容された試験用スロット３１０から）１以上の記憶装置運搬装置５５０を回収する工程と、自動運搬装置２００を作動させて搬送ステーション４００から１以上の記憶装置５００を回収し、記憶装置５００をそれぞれの記憶装置運搬装置５５０の中に運ぶ工程とを含む。当該方法は、受けられた記憶装置運搬装置５５０および試験用スロット３１０によって収容された記憶装置５００上で機能性試験を実施するために、自動運搬装置２００を作動させて記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０をそれぞれの試験用スロット３１０へと届ける工程を含む。いくつかの例では、記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０へと届ける工程は、記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を架台３００の中の試験用スロット３１０の中へと挿入する工程と、記憶装置５００と架台３００との間の電気的接続を確立する工程とを含む。試験が記憶装置５００について完了した後は、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、試験された記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０から回収して、この試験された記憶装置５００を搬送ステーション４００上の届け先記憶装置トート６００などの届け先場所へと戻すように届ける工程を含む。いくつかの実施態様では、架台３００および２以上の関連付けられた試験用スロット３１０は、試験用スロット３１０が異なる種類の試験用に設定されている場合に備えて、記憶装置５００を１つの試験用スロット３１０から別の試験用スロット３１０へと内部で移動させるように構成される。

いくつかの例では、当該方法は、自動運搬装置２００を作動させて、届け先場所で（例えば届け先記憶装置トート６００の記憶装置置き場６２０の中に）試験された記憶装置５００を置いた後に試験用スロット３１０の中に記憶装置運搬装置５５０を置く工程か、または（例えば供給源記憶装置トート６００の記憶装置置き場６２０から）試験のために別の記憶装置５００を回収することにより、当該方法を繰り返す工程を含む。

いくつかの実施態様では、自動運搬装置２００は、自動運搬装置２００が複数の記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を一度に取り扱うように構成されたマニピュレータ７００を具える。例えば、自動運搬装置２００は、マニピュレータ７００の１本のアーム７２０、７３０またはマニピュレータカプラー７２５によって保持された記憶装置運搬装置５００の中に１つの未試験の記憶装置５００を回収して運び、そして未試験の記憶装置５００を試験用スロット３１０へと届けることができる。試験用スロット３１０で、自動運搬装置２００は、現在試験用スロット３１０の中にある試験用記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を取り出し、その後で試験のために未試験の記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０を試験用スロット３１０の中へと挿入する。次いで自動運搬装置２００は、試験された記憶装置５００を届け先記憶装置トート６００の置き場６２０などの届け先場所へと届ける。別の例では、自動運搬装置２００は、２つ以上の未試験の記憶装置５００をマニピュレータ７００の各アーム７２０、７３０またはマニピュレータカプラー７２５上に１つずつ回収して運び、次いで試験のためにこの２つの未試験の記憶装置５００をそれぞれの試験用スロット３１０へと届けることができる。次いで自動運搬装置７００は、２つの試験された記憶装置５００を（例えばそのそれぞれの記憶装置運搬装置５５０をマニピュレータ７００と係合して取り出すことにより）そのそれぞれのスロット３１０から回収し、試験された記憶装置５００を、１以上の届け先記憶装置トート６００の２つの置き場６２０などの届け先場所へと届けるように作動されることができる。一方の試験された記憶装置５００が記憶装置の試験に合格し、他方が不合格であった場合、それらは「合格した」記憶装置トート６００および「不合格の」記憶装置トート６００などの異なる届け先記憶装置トート６００の中に置かれてもよい。

マニピュレータ７００は、自動運搬装置２００が複数の記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を記憶装置試験システム１００内で移動させることを可能にし、一度に１つの記憶装置５００および／または記憶装置運搬装置５５０を取り扱うことしかできないマニピュレータによってこれまでに達成可能であったタスクよりも多くのタスクを成し遂げる。増大した融通性によって、自動運搬装置２００の移動を最適化するための自動運搬装置２００の経路計画が可能になる。

図１９を参照すると、いくつかの実施態様では、試験前、試験中、または試験後に記憶装置５００を運搬するために、トート６００の代わりにコンベヤー１９００が用いられる。コンベヤー１９００は、コンベヤーベルト、記憶装置５００を移動させる自動化アセンブリ、またはとりわけマニピュレータ７００が複数の記憶装置５００を回収することができる何らかの種類の提示システムに記憶装置５００を並べるオペレータであってもよい。コンベヤー１９００はまた、自動であってもまたはオペレータによるであっても、記憶装置５００を記憶装置試験システム１００へと／記憶装置試験システム１００から提示し、および／または取り出すいずれのタイプの適切な供給システムを具えてもよい。マニピュレータ７００は、コンベヤー１９００から（マニピュレータカプラー７２５を介して）記憶装置５００を取り出し、ディスクドライブ試験の一部の後、またはディスクドライブ試験の完了後、記憶装置５００をコンベヤー１９００へと戻してもよい。いくつかの例では、マニピュレータ７００は、複数のディスクドライブ５００および／または記憶装置５００を運ぶ記憶装置運搬装置５５０をコンベヤー１９００へと、およびコンベヤー１９００から回収して置くための、図１２に示されるものと類似のマニピュレータカプラー７２５の直線配置を具える。

いくつかの実施態様が記載された。しかしながら、本開示の技術思想および範囲から逸脱することなく種々の改変がなされてもよいということを理解されたい。従って、他の実施態様は添付の特許請求の範囲の範囲内にある。

Claims (21)

1. 記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法であって、
   自動運搬装置（２００）を作動させて、試験のために提示された複数の記憶装置（５００）を実質的に同時に回収する工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記回収された記憶装置（５００）を前記記憶装置試験システム（１００）のそれぞれの試験用スロット（３１０）へと実質的に同時に届け、かつ各記憶装置（５００）をそのそれぞれの試験用スロット（３１０）の中に実質的に同時に挿入する工程と
   を含む、方法。
2. 前記自動運搬装置（２００）を作動させて、複数の記憶装置運搬装置（５５０）を実質的に同時に回収する工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて、それぞれの記憶装置運搬装置（５５０）を用いて前記記憶装置（５００）の各々を運ぶことにより、試験のために提示された前記記憶装置（５００）を実質的に同時に回収する工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて、各々が前記記憶装置（５００）のうちの１つを運ぶ前記記憶装置運搬装置（５５０）を、前記それぞれの試験用スロット（３１０）へと実質的に同時に届ける工程と
   をさらに含む、請求項１に記載の方法。
3. 各記憶装置運搬装置（５５０）を実質的に同時にそのそれぞれの試験用スロット（３１０）の中へと挿入する工程と、
   前記運ばれた記憶装置（５００）を前記記憶装置試験システム（１００）のそれぞれのコネクタと係合する工程であって、前記挿入された記憶装置運搬装置（５５０）はそのそれぞれの試験用スロット（３１０）の閉鎖をもたらす工程と、
   をさらに含む、請求項２に記載の方法。
4. 記憶装置試験システム（１００）内で記憶装置（５００）を移す方法であって、
   自動運搬装置（２００）を作動させて、前記記憶装置試験システム（１００）のそれぞれの試験用スロット（３１０）から記憶装置（５００）を実質的に同時に回収する工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて、前記回収された記憶装置（５００）をステーション（４００、６００）へと届け、かつ前記ステーション（４００、６００）で各記憶装置（５００）を実質的に同時に解放する工程と
   を含む、方法。
5. 前記自動運搬装置（２００）を作動させて、複数の記憶装置運搬装置（５５０）を実質的に同時に回収する工程と、
   前記自動運搬装置（２００）を作動させて、記憶装置運搬装置（５５０）を使用して前記記憶装置（５００）を運ぶことにより、前記記憶装置（５００）をそのそれぞれの試験用スロット（３１０）から実質的に同時に回収する工程と、
   をさらに含む、請求項４に記載の方法。
6. 前記自動運搬装置（２００）は、運搬装置カプラー（７２５、７４０）を使用して、記憶装置運搬装置（５５０）へと係合および結合し、前記運搬装置カプラー（７２５、７４０）は少なくとも一次元配列で並べられている、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の方法。
7. 前記回収された記憶装置（５００）を実質的に互いに平行に運ぶ工程をさらに含む、請求項６に記載の方法。
8. 前記運搬装置カプラー（７２５、７４０）は、実質的に互いに平行に並べられ、互いから水平方向および鉛直方向の少なくとも１つで間隔を開けられている、請求項７に記載の方法。
9. 前記自動運搬装置（２００）はマニピュレータ（７００）を具え、前記マニピュレータ（７００）は、
   マニピュレータ本体（７１０）と、
   前記マニピュレータ本体（７１０）の上に配置されかつ少なくとも一次元配列で並べられた複数のカプラー（７２５、７４０）であって、各カプラー（７２５、７４０）は、記憶装置運搬装置（５５０）へと解放可能に取り付くように構成されている複数のカプラー（７２５、７４０）と
   を具える、請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の方法。
10. 前記記憶装置試験システム（１００）に提示された記憶装置トート（６００）の中に前記記憶装置（５００）を提示または解放する工程をさらに含む、請求項１から請求項９のいずれか１項に記載の方法。
11. 前記自動運搬装置（２００）は、前記記憶装置運搬装置（５５０）をそのそれぞれの記憶装置（５００）の下に配置し、前記記憶装置トート（６００）の記憶装置支持体（６２２）から前記記憶装置（５００）を各々持ち上げ、そして前記記憶装置運搬装置（５５０）の中の前記記憶装置（５００）を前記記憶装置トート（６００）から離して運ぶことにより、対応する記憶装置運搬装置（５５０）を用いて、前記記憶装置トート（６００）から複数の記憶装置（５００）を実質的に同時に回収する、請求項９に記載の方法。
12. 記憶装置試験システム（１００）であって、
    自動運搬装置（２００）と、
    前記自動運搬装置（２００）によるアクセスのために前記自動運搬装置（２００）の周りに並べられた少なくとも１つの架台（３００）と、
    各架台（３００）によって収容された複数の試験用スロット（３１０）であって、各試験用スロット（３１０）は、試験のために記憶装置（５００）を受けるように構成されている、複数の試験用スロット（３１０）と、
    前記自動運搬装置（２００）によるアクセスのために並べられた搬送ステーション（４００）であって、前記搬送ステーション（４００）は試験のために複数の記憶装置（５００）を提示する、搬送ステーション（４００）と、
    前記自動運搬装置（２００）に取り付けられたマニピュレータ（７００）であって、前記マニピュレータ（７００）は、少なくとも一次元配列で並べられた複数のカプラー（７２５、７４０）を含み、各カプラー（７２５、７４０）は記憶装置（５００）を運搬するように構成されている、マニピュレータ（７００）と
    を具える、記憶装置試験システム（１００）。
13. 各カプラー（７２５、７４０）は、記憶装置運搬装置（５５０）へと解放可能に取り付くように構成されている、請求項１２に記載の記憶装置試験システム（１００）。
14. 前記搬送ステーション（４００）は、前記自動運搬装置（２００）によるサービス提供のために複数の記憶装置トート（６００）を提示位置で受けて支持するように構成された搬送ステーション筐体（４１０）を具え、各記憶装置トート（６００）は、各々記憶装置（５００）を収容するように構成された複数の記憶装置置き場（６２０）を画定するトート本体（６１０）を具える、請求項１２または請求項１３に記載の記憶装置試験システム（１００）。
15. 前記マニピュレータ（７００）は、
    マニピュレータ本体（７１０）と、
    複数のカプラー（７２５、７４０）であって、前記複数のカプラー（７２５、７４０）は、前記マニピュレータ本体（７１０）の上に配置され、かつ前記マニピュレータ（７００）が複数の試験用スロット（３１０）に実質的に同時にサービス提供することを可能にする試験用スロットレイアウト、および／または前記マニピュレータ（７００）が複数のトート記憶装置置き場（６２０）に実質的に同時にサービス提供することを可能にするトート置き場レイアウトに対応する配置で互いに間隔を空けられている、複数のカプラー（７２５、７４０）と
    を具える、請求項１２から請求項１４のいずれか１項に記載の記憶装置試験システム（１００）。
16. 各カプラー（７２５、７４０）は、記憶装置（５００）を実質的に互いに平行に保持するために、実質的に互いに平行に並べられている、請求項１５に記載の記憶装置試験システム（１００）。
17. 前記搬送ステーション（４００）はコンベヤー（１９００）を具える、請求項１２から請求項１６のいずれか１項に記載の記憶装置試験システム（１００）。
18. 記憶装置試験システム（１００）用のマニピュレータ（７００）であって、
    マニピュレータ本体（７１０）と、
    複数のカプラー（７２５、７４０）であって、前記複数のカプラー（７２５、７４０）は、前記マニピュレータ本体（７１０）の上に配置され、かつ前記マニピュレータ（７００）が一度に複数の記憶装置（５００）に実質的に同時にサービス提供することを可能にする記憶装置サービス提供レイアウトに対応する配置で互いに間隔を空けられている、複数のカプラー（７２５、７４０）と
    を具える、マニピュレータ（７００）。
19. 前記記憶装置サービス提供レイアウトは、前記マニピュレータ（７００）が複数の試験用スロット（３１０）に実質的に同時にサービス提供することを可能にする前記記憶装置試験システム（１００）の試験用スロットレイアウト、および／または前記マニピュレータ（７００）が、記憶装置（５００）を運ぶトート（６００）の複数のトート記憶装置置き場（６２０）に実質的に同時にサービス提供することを可能にするトート置き場レイアウトを含む、請求項１８に記載のマニピュレータ（７００）。
20. 前記記憶装置サービス提供レイアウトは、前記カプラー（７２５、７４０）をカプラー間隔（Ｈ、Ｖ）に従って少なくとも一次元または二次元の配列で並べる工程を含む、請求項１９に記載のマニピュレータ（７００）。
21. 前記記憶装置サービス提供レイアウトは、前記カプラー（７２５、７４０）を実質的に互いに平行に並べ、前記マニピュレータ（７００）が記憶装置（５００）を実質的に互いに平行に運搬することを可能にすることを含む、請求項１９または請求項２０に記載のマニピュレータ（７００）。

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