JP2006179050A - 磁気ディスク装置の製造方法、試験／調整装置及び搬送容器 - Google Patents

Abstract

【課題】組み立てが完了してから出荷するまでの磁気ディスク装置の改善された製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】インターフェース・コネクタを備える磁気ディスク装置を製造する方法は以下のとおりである。磁気ディスク装置１０をインターフェース・コネクタ４７が露出するように衝撃吸収材８０３で保持する。衝撃吸収材で保持された磁気ディスク装置のインターフェース・コネクタに対応するようベース・プレート８２１に取り付けられた試験側コネクタ８３１をインターフェース・コネクタに接続する。試験側コネクタを通じてホスト装置８２５から磁気ディスク装置に試験／調整プログラムを転送し、磁気ディスク装置が試験／調整プログラムを実行する。
【選択図】図２０

Description

本発明は、磁気ディスク装置の製造方法、試験／調整装置および搬送容器に関し、さらに詳細には、磁気ディスク装置の組み立てが完了してから出荷するまでの製造工程を簡素化する技術に関する。

磁気ディスク装置はベースに磁気ディスクやアクチュエータなどの構成部品を組み込み、ベースをベース・カバーで蓋をしたあとにベースとベース・カバーの組み合わせからなるエンクロージャに回路基板を実装して組み立てが完了する。磁気ディスク装置のハードウエアの組み立てが完了してから、完成品として出荷できる状態になるまでの間には、磁気ディスクに対するサーボ情報の書き込み、制御回路の調整やパラメータの最適化、および動作試験などの各種の試験／調整を実施する必要があり、従来はこれを専用の試験装置を使用して行っていた。

専用の試験装置は、磁気ディスク装置を取り付ける多数のセルを備えたチャンバとこれに接続された試験用コンピュータで構成されていた。磁気ディスク装置の組み立てが完了してから段ボール箱に詰め込んで工場から出荷するまでの間、上記の試験／調整を行う際にこれまでは磁気ディスク装置を単体ごとに台車に並べて移動させていた。しかし、このような方法では磁気ディスク装置の大量生産を行う際に試験装置への投資が莫大になったり、試験／調整に多くの時間を費やしたりするといった問題が生じていた。また、磁気ディスク装置が搬送の途中で物に衝突したり落下したりして、故障の原因になるという問題もあった。

図１６に、組み立てが完了した複数の磁気ディスク装置４を梱包して出荷するための従来の搬送容器１を示す。磁気ディスク装置４は、衝撃吸収材３に形成されたスペースの中に１台ごとに仕切られ、インターフェース・コネクタが取り付けられている面が下向きになるように保持されている。磁気ディスク装置４と衝撃吸収材３は、納入先や磁気ディスク装置を識別するバーコードが貼り付けられた段ボール箱２に詰められてユーザに出荷される。

本発明の出願人は先の出願である特願２００４−７８５６９において、最適化／検査処理の工程が完了した磁気ディスク装置をホスト・モードで動作させ、他の磁気ディスク装置にファイルを転送したり、試験をしたりするための試験装置として利用する技術を開示している。また、本発明の出願人は先の出願である特願２００４−２００３４７において、試験にかかる磁気ディスク装置が、試験／調整プログラムの大きさや特質に起因した制約を受けないで自己実行的に試験／調整を行えるようにしたり、ＡＴＡインターフェースを採用する磁気ディスク装置を試験したりするための試験制御装置に関する技術を開示する。

このような先の出願で開示した試験／調整方法を磁気ディスク装置の製造工程に実際に適用する場合には、同時に試験装置への投資額の低減、組み立て完了から出荷までの歩留まりの増大などを図ってゆく必要がある。また、従来から搬送容器は完成した磁気ディスク装置を梱包するためだけに使用していたが、これを磁気ディスク装置の製造工程でも利用することができれば都合がよい。

そこで本発明の目的は、組み立てが完了してから出荷するまでの磁気ディスク装置の改善された製造方法を提供することを目的とする。さらに本発明の目的は、そのような方法に供する試験／調整装置および搬送容器を提供することを目的とする。

本発明の第１の態様は、インターフェース・コネクタを備える磁気ディスク装置の製造方法であって、複数の磁気ディスク装置をインターフェース・コネクタが露出するように衝撃吸収材で保持するステップと、前記保持されたインターフェース・コネクタに対応するように配置された試験側コネクタを前記インターフェース・コネクタに接続するステップと、ホスト装置から前記試験側コネクタを通じて前記磁気ディスク装置に試験／調整プログラムを転送するステップと、前記磁気ディスク装置において前記試験／調整プログラムを実行するステップとを有する磁気ディスク装置の製造方法を提供する。

本明細書における磁気ディスク装置の製造の意味には、ハード・ウエアの組み立てに関する第１の工程、磁気ディスクに対するサーボ・データの書き込みおよび欠陥検査、制御回路のパラメータの調整および最適化、ならびに動作試験などを含んだ機能注入作業を行う第２の工程、および機能が注入された磁気ディスク装置を出荷のため梱包する第３の工程を含んでいる。なお、第２の工程の作業を適宜試験／調整ということにする。

試験／調整にかかる磁気ディスク装置は、インターフェース・コネクタが露出するように衝撃吸収材に複数保持されている。したがって、ベース・プレートに取り付けられた試験側コネクタを一括してインターフェース・コネクタに接続して試験／調整プログラムを送り、磁気ディスク装置に実行させることができる。各磁気ディスク装置は、衝撃吸収材に保持されているので試験／調整を行う工程の中で物に衝突したり、落下したりして破損することがなくなり、さらに、複数の磁気ディスク装置を一括して扱うことができるので生産性が向上する。

試験／調整プログラムには、セルフ・サーボ・ライト方式で磁気ディスク装置にサーボ情報を書き込ませるプログラムや、ホスト装置との間でのコマンド試験などを含む。ホスト装置にホスト・モードで動作可能な磁気ディスク装置を採用すれば、試験用コンピュータを利用する必要がなくなり試験／調整に対する投資を低減することができる。衝撃吸収材にＲＦＩＤタグを取り付けると、複数の磁気ディスク装置に対して１つのタグで、試験／調整の過程で発生したエラーや進捗に関するダイナミックな情報を収集して管理することができるようになる。

衝撃吸収材とこれに保持された磁気ディスク装置を出荷用搬送ボックスに入れて試験／調整の工程を実行すれば、チャンバなどの試験／調整のための格納設備が不要となる。また、工場内での磁気ディスク装置の搬送作業を簡素化することができる。本発明の第２の態様は、それぞれのインターフェース・コネクタが同一方向に向けて配置された複数の磁気ディスク装置を試験する試験／調整装置であって、ベース・プレートと、前記ベース・プレートの一方の面に前記各インターフェース・コネクタに対応するように取り付けられそれぞれ前記インターフェース・コネクタに接続することができる複数の試験側コネクタと、前記各試験側コネクタに接続されホスト装置に接続可能なように前記ベース・プレートに取り付けられたホスト側コネクタと、前記各試験側コネクタの位置に対する前記各インターフェース・コネクタの位置を規定するガイド・プレートとを有する試験／調整装置を提供する。

ホスト側コネクタには、ＡＴＡ伝送路、ＳＣＳＩ伝送路、またはファイバーチャネル伝送路などの多様なインターフェース規格で接続することができる。ガイド・プレートとベース・プレートの組み合わせにより、インターフェース・コネクタを同一方向に向けて配置された多数の磁気ディスク装置と試験側コネクタを接続できるようになる。磁気ディスク装置は、試験／調整の間、出荷用搬送ボックスに収納した衝撃吸収材で保持することができる。

本発明の第３の態様は、ディスク・エンクロージャの側面にインターフェース・コネクタを備える磁気ディスク装置の製造と出荷に使用する搬送容器であって、複数の磁気ディスク装置を前記インターフェース・コネクタが上端部から突き出るように保持する衝撃吸収材と、前記複数の磁気ディスク装置を保持した前記衝撃吸収材を収納することができる搬送ボックスとを有する搬送容器を提供する。

〈ホスト・モードへの切り換え方法などの説明〉
最初に、先の出願で提案したホスト・モードとデバイス・モードの２つの動作モードを備え、２つの動作モードを安全に切り替えることができる磁気ディスク装置、およびホスト・モードで動作して他の磁気ディスク記憶装置に対してデータの直接転送をしたり最適化／検査処理をしたりすることができる磁気ディスク装置について説明する。ここに最適化／検査処理という用語は、本明細書において試験／調整という用語と同一の意味で使用する。

［磁気ディスク装置の説明］
図１は、磁気ディスク装置１０の主要な構成要素を示すブロック図である。磁気ディスク装置１０は、ホスト・モードとデバイス・モードの２つの動作モードを有している。ホスト・モードとは、磁気ディスク装置が他の磁気ディスク装置に対してホスト・コンピュータと同様に動作する動作モードをいう。具体的には、磁気ディスク装置が他の磁気ディスク装置に対して能動的にアクセスしてファイルの書き込み、読み出し、または調整等を行う動作モードをいう。デバイス・モードとは、磁気ディスク装置がホスト・コンピュータまたはホスト・モードで動作する磁気ディスク装置の指令を受けて受動的に動作してファイルの書き込み、読み出しまたは調整を行う磁気ディスク装置の通常の動作モードをいう。

磁気ディスク装置１０は、ホスト・モードで動作する機能を備えているが、デバイス・モードで動作するときは、ユーザは通常の磁気ディスク装置として使用することができる。本明細書を通じて、ファイルとはユーザ・データ、システム・データ、磁気ディスク装置の動作に関連するファームウエアやプログラム、および磁気ディスク装置の識別や調整パラメータなどの磁気ディスク装置が保有するすべての情報をいう。ファイルの格納場所は、磁気ディスクであっても、不揮発性半導体メモリであってもよい。

磁気ディスク装置１０は、ホスト・モードで動作するときは親磁気ディスク装置として、デバイス・モードで動作するときは子供磁気ディスク装置として動作する。記録媒体としての磁気ディスク１１は、磁性層が形成された記録面を両面に備えており、１枚、または複数枚の積層構造としてスピンドル・ハブに取り付けられ、スピンドル・モータ（以後、ＳＰＭという。）１３により回転する。磁気ディスク１１の記録面には、同心円状に複数のトラックを形成し、各トラックを円周方向にデータの読み書きの単位となるセクタまたはブロックで区切っている。

各セクタには、磁気ディスク１１の物理的配置に関連した物理的ブロック・アドレス（ＰＢＡ）と、ホスト・コンピュータがファイルの論理的順番として認識している論理的ブロック・アドレス（ＬＢＡ）を定義している。ヘッド１５は、電気的信号と磁気的信号を双方向に変換し、磁気ディスク１１に対して書き込みおよび読み取りを行う独立した変換素子または共有の変換素子で構成している。アクチュエータ・アセンブリ１７は、ヘッド１５を支持しながら回動し、ヘッド１５を磁気ディスク１１の所定のトラック上に運ぶ。

ボイス・コイル・モータ（以後、ＶＣＭという。）１９は、アクチュエータ・アセンブリ１７が搭載するボイス・コイルならびに磁気ディスク装置１０のベースに取り付けたボイス・コイル・マグネットおよびボイス・コイル・ヨークで構成され、ボイス・コイルに流れる電流で、アクチュエータ・アセンブリ１７の動作が制御される。ＶＣＭドライバ２１は、デジタル・アナログ・コンバータ（以後、ＤＡＣという。）２３から受けた電圧信号をＶＣＭ１９の駆動電流に変換する。ＤＡＣ２３はマイクロ・プロセッシング・ユニット（以後、ＭＰＵという。）２５から受け取ったヘッド１５の位置決めのためのデジタル信号をアナログの電圧信号に変換する。

スピンドル・モータ・ドライバ（以後、ＳＰＭドライバという。）２７はＡＤコンバータを備え、ＭＰＵ２５から受け取ったデジタル信号をＳＰＭ１３の駆動電流に変換する。プリアンプ２９は、再生時にヘッド１５が磁気ディスク１１から再生した微弱なアナログの再生信号を増幅してリード／ライト・チャネル（以後、Ｒ／Ｗチャネルという。）３１に送る。また、プリアンプ２９は、記録時にＲ／Ｗチャネル３１から受けたアナログの書き込み信号を増幅しヘッド１５に出力する。

Ｒ／Ｗチャネル３１は、記録または再生のためにデータ処理を行う。ホスト・コンピュータ５５が磁気ディスク装置１０に送った書き込み用デジタル・データは、ハード・ディスク・コントローラ（以後、ＨＤＣという。）３３を経由して、Ｒ／Ｗチャネル３１が受け取る。Ｒ／Ｗチャネル３１は、受け取ったデジタル・データを書き込み電流に変換してプリアンプ２９に送る。さらに、プリアンプ２９がＲ／Ｗチャネル３１に送ったヘッド１５の再生信号は、Ｒ／Ｗチャネル３１がデジタル・データに変換しＨＤＣ３３を経由してホスト・コンピュータ５５に送る。サーボ・コントローラ３７は、Ｒ／Ｗチャネル３１が出力する読み出しデータの中からヘッドの位置情報を抽出してＭＰＵ２５およびＨＤＣ３３に送る。

ＨＤＣ３３は、ホスト・コンピュータ５５との通信を行うインターフェースとしての機能を果たし、ホスト・コンピュータ５５との間でのデータ転送速度と磁気ディスク装置１０の内部におけるデータ処理速度の調整を図る。ＨＤＣ３３は、ホスト・コンピュータ５５が送った転送データを一時的にバッファ３５に蓄え、ＭＰＵ２５の指令に基づいてＲ／Ｗチャネル３１に送る。ＨＤＣ３３はまた、Ｒ／Ｗチャネル３１が送った転送データを一時的にバッファ３５に蓄え、ＭＰＵ２５の指令に基づいてホスト・コンピュータ５５に送る。さらにＨＤＣ３３は、データ・エラー訂正回路やアドレス・マーク検出回路等を備えている。

ＨＤＣ３３は、ホスト・コンピュータ５５との間でデータ通信を行うためのレジスタを備える。レジスタは、磁気ディスク装置１０がデバイス・モードで動作するときにホスト・コンピュータ５５または磁気ディスク装置５９から所定のインターフェース規格に基づくコマンドやデータを受け取ったり、ホスト・モードで動作するときに磁気ディスク装置５９にコマンドやデータを送ったりするための各種レジスタを含んでいる。

ＭＰＵ２５は、ＨＤＣ３３と協働して磁気ディスク装置１０全体の動作を制御する。ＭＰＵ２５は、ＨＤＣ３３の各種レジスタに直接アクセスして、ホスト・コンピュータ５５または磁気ディスク装置５９との間でのデータ転送を制御する。ＭＰＵ２５は、ＡＴＡやＳＣＳＩなどの所定の規格に基づいたコマンドを実行するための各種レジスタを備えている。本実施の形態に係るＭＰＵ２５は、デバイス・モードの他にホスト・モードでも動作するために、ホスト・モード実行プログラムを実行して、コマンドやデータを外部に送ることができる構成になっている。

ＭＰＵ２５は、また、ホスト・モードとデバイス・モードのいずれの動作モードで動作するかを判断するための状態レジスタを有している。ＭＰＵは、ホスト・コンピュータ５５が磁気ディスク装置１０に送った磁気ディスク１１の論理的ブロック・アドレス（ＬＢＡ）を物理的ブロック・アドレス（ＰＢＡ）に変換する。ＭＰＵ２５はまた、サーボ・コントローラ３７がＭＰＵ２５に送ったサーボ情報に基づいて磁気ヘッド１５の位置を判断し、ホスト・コンピュータ５５または磁気ディスク装置５９が指示したアドレスから計算したターゲット位置との差に基づいてヘッド１５をターゲット位置に位置決めするためのデジタル信号をデジタル・アナログ変換器（以下、ＤＡＣという。）２３に送る。

読み出し専用半導体メモリ（以後、ＲＯＭという。）４１は、ＭＰＵ２５にホスト・モードを実行させるホスト・モード実行プログラムおよびデバイス・モードを実行させるデバイス・モード実行プログラムなどのファームウエアを格納している。ホスト・モード実行プログラムおよびデバイス・モード実行プログラムは、磁気ディスク１１のシステム・データ領域に格納しておいてもよい。ランダム・アクセス・メモリ（以後、ＲＡＭという。）３９は、ＭＰＵ２５が実行するプログラムを一時的に記憶したり、ＭＰＵ２５の作業領域として使用したりする主記憶装置として使用する。

電気的に書き換え可能なＲＯＭ（以後、ＥＥＰＲＯＭという。）４３は、モデル名称、シリアル番号、ファームウエア・バージョン、使用するプロトコル、および製造者名といった磁気ディスク装置１０の固有情報や、パワー・マネジメント、書き込みまたは先読みキャッシュ、読み取りまたは書き込みバッファなどの設定状態に関する情報を記憶する。これらの固有情報および設定状態に関する情報を本明細書ではドライブ情報ということにする。ドライブ情報は、ＡＴインターフェース方式ではｉｎｑｕｉｒｙ ｄａｔａと、ＳＣＳＩインターフェース方式では、ｓｅｎｓｅ ｄａｔａとして参照できる。

ＥＥＰＲＯＭ４３は、さらに、動作中に発生した磁気ディスク装置１０のエラー・ログ、イベント・ログ、パフォーマンス・データ、サーボ・ログ、またはホスト・ログなどのデータを記憶する。これらの動作性能に関する情報を本明細書では動作情報ということにする。ＥＥＲＯＭ４３はさらに、磁気ディスク装置１０をホスト・モードまたはデバイス・モードのいずれで動作させるかを示すイベント・フラグや、ファイルの転送先となる磁気ディスク装置のアドレスまたは識別子を記憶することができる。イベント・フラグの設定やアドレスの書き込みなどの情報は、磁気ディスク装置１０がデバイス・モードで動作するときにホスト・コンピュータ５５から行うことができ、磁気ディスク装置１０またはＭＰＵ２５の電源を投入した際、プロセッサが参照できるようになっている。ＥＥＰＲＯＭ４３は、さらに不良セクタやそれに対応して割り当てた代替セクタのＬＢＡ情報を記憶する。

特殊ジャンパ・ブロック５３、汎用ジャンパ・ブロック６１、ジャンパ・コネクタ５１、およびロジック・ゲート４５は、磁気ディスク装置１０の動作モード設定部を構成する。さらにＥＥＰＲＯＭ４３に動作モードに関するイベント・フラグを設定する構成の場合は、ＥＥＰＲＯＭ４３が動作モード設定部を構成する。

ジャンパ・ブロックは一般に、複数のジャンパ・ピンを備えたジャンパ・コネクタに接続することにより特定のジャンパ・ピン同士を短絡させる構成になっている。ユーザはジャンパ・コネクタ５１に汎用ジャンパ・ブロック６１を装着し、磁気ディスク装置１０をデバイス・モードで動作させ、様々な設定をすることができる。例えば、短絡させるジャンパ・ピンを選択してマスター／スレーブ／ケーブル・セレクトの択一的設定、セキュリティ機能のイネーブル／ディスエーブルの択一的設定、容量制限の設定等の種々の機能設定を行うことができるようになっている。

磁気ディスク装置１０のジャンパ・コネクタ５１には、汎用ジャンパ・ブロック６１と択一的に特殊ジャンパ・ブロック５３を装着することができる。特殊ジャンパ・ブロック５３は、汎用ジャンパ・ブロック６１では採用しないジャンパ・ピン同士の短絡状態を形成する特殊なピン構成になっており、磁気ディスク装置１０をホスト・モードで動作させたり、さらに、ホスト・モードでの機能選択のための指示をしたりする。図２に、ジャンパ・コネクタ５１および特殊ジャンパ・ブロック５３の斜視図を示す。図２に示す特殊ジャンパ・ブロック５３は、参照番号６５に示すように一つ飛んだ位置にあるピン同士を短絡させる構成になっていたり、参照番号６７に示すように斜めに配置したピン同士を短絡させたりする構成になっている。

このようなジャンパ・ブロックの構成は、ユーザに提供する汎用ジャンパ・ブロック６１では採用しないことになっている。ホスト・モードはユーザが利用しない動作モードであり、特殊ジャンパ・ブロック５３を使用しない限りユーザは磁気ディスク装置１０がホスト・モードとなるような機能設定をすることができないようになっている。ジャンパ・コネクタ５１の利用に代えてディップ・スイッチを使用することもできる。ディップ・スイッチは簡単に動作モードの設定をすることができて都合がよいが、誤操作を防止するカバーなどの手段が必要である。さらに、ジャンパ・コネクタ５１に並んで磁気ディスク装置１０に電源を供給するための電源コネクタ６３を設けている。

ジャンパ・コネクタ５１の各コネクタ・ピンはロジック・ゲート４５に接続している。ロジック・ゲート４５は、ＡＮＤゲート、ＯＲゲート、およびＮＡＮＤゲート等で構成し、特殊ジャンパ・ブロック５３または汎用ジャンパ・ブロック６１で形成したコネクタ・ピン同士のショート状態およびオープン状態で形成した論理状態を入力にしてさらに新たな論理状態を構成して、ＭＰＵ２５のＩ／Ｏポートに出力する。

ロジック・ゲート４５の出力は、ＨＤＣ３３経由でＭＰＵ２５に出力するようにしてもよい。ＭＰＵ２５のＩ／Ｏポートには、ロジック・ゲート４５からＩ／Ｏポートに接続した各配線のプル・アップ状態またはプル・ダウン状態として論理状態が送られ、ＭＰＵ２５の状態レジスタに特定のデータを書き込んだのと同じ状態を構成する。また、ロジック・ゲート４５を採用しないで、ジャンパ・コネクタ５１を直接ＭＰＵ２５のＩ／Ｏポートに接続してもよいが、ロジック・ゲート４５はデコーダとしての機能を果たすので、ロジック・ゲート４５の採用によりＭＰＵ２５に対してホスト・モードでのより多くの機能設定ができるようになる。

さらに、ＥＥＰＲＯＭ４３に書き込んだ動作モード設定に関するイベント・フラグの内容は、ロジック・ゲート４５の入力として、または直接ＭＰＵ２５のＩ／Ｏポートの入力としてもよい。ＥＥＰＲＯＭ４３で動作モード設定部を構成すれば、ホスト・コンピュータ５５からイベント・フラグの内容を変更することで機能設定の自由度が向上する。また、ＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグと、ロジック・ゲート４５の論理状態を組み合わせて機能設定してもよい。多くの機能設定ができることは、後述するように磁気ディスク装置１０を親磁気ディスク装置として動作させ、子供磁気ディスク装置として動作する磁気ディスク装置５９との間で通信しながらデータ転送させたり、最適化／検査処理をさせたりするときに細部の機能を実現することができるので都合がよい。

ホスト・コンピュータ５５またはホスト・モードで動作する磁気ディスク装置５９からＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグを書き込むときにパスワードを要求するようにしておくと、ユーザによる誤ったイベント・フラグの設定を防止することができる。表示部５７は、一または複数のＬＥＤで形成し、磁気ディスク装置１０のエンクロージャの外側に取り付けて、ＭＰＵ２５からの各種指令に応じて、データ転送開始、転送済みデータ量、データ転送終了、およびエラー発生などの状態を表示させる。

ホスト・コンピュータ５５は、磁気ディスク装置１０を外部記憶装置または補助記憶装置として使用する電子機器であり、ＡＴＡ（ＡＴ Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ）、シリアルＡＴＡ、ＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）、またはファイバー・チャネル（Ｆｉｂｒｅ Ｃｈａｎｎｅｌ）などの規格に従うインターフェース方式でインターフェース・コネクタ４７に接続して磁気ディスク装置１０との間でデータ転送をする。磁気ディスク装置５９は、磁気ディスク装置１０と基本的な構成が同一になっており、ホスト・モードとデバイス・モードの２つの動作モードを有している。但し、磁気ディスク装置５９が子供磁気ディスク装置だけで動作する場合は、ホスト・モードを備えている必要はない。

磁気ディスク装置１０はデバイス・モードで動作するとき、ホスト・コンピュータ５５の指令に基づいてホスト・コンピュータ５５との間でファイルの転送をする。すなわち、ホスト・コンピュータ５５が生成した書き込みコマンドとデータを受け取って磁気ディスク１１の指示されたアドレスに書き込み、読み取りコマンドを受け取って、磁気ディスク１１の指示されたアドレスからデータを読み出してホスト・コンピュータ５５に転送する。インターフェース・コネクタ４７にホスト・モードで動作する磁気ディスク５９を接続したときも同様である。磁気ディスク装置１０が親磁気ディスク装置としてホスト・モードで動作するときは、子供磁気ディスク装置としてデバイス・モードで動作する磁気ディスク装置５９をインターフェース・コネクタ４７に接続してデータ転送をする。子供磁気ディスク装置は、バス接続やデイジーチェーン接続によりデータ伝送路を構成して２台以上が親磁気ディスク装置とデータ通信できるように構成してもよい。データ伝送路としてファイバー・チャネルを採用する場合は、ピア・ツー・ピア（ポイント・ツー・ポイント）・トポロジ、ファブリック・トポロジ、アービトレイティッド・ループ・トポロジ、またはそれらの組み合わせによる接続形態で２台以上の磁気ディスク装置が通信できるように構成してもよい。

以上、磁気ディスク装置１０のブロック図の一例を示したが、図面を参照して説明した各ブロックの名称、機能、相互関係などは一例であって、本発明の思想はこれに限定するものではなく、他の機能を付加したり、異なるブロックで同一機能を実現したり、ブロック同士の分割や統合をすることは当業者が本明細書を参照して行うことができる限り本発明の範囲に含んでいる。

［親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置の間でのファイルの直接転送の説明］
図３〜図４を参照して、親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置の間でのファイルの直接転送を行う方法を説明する。図３は、親磁気ディスク装置７３と子供磁気ディスク装置７５との間でファイルの直接転送を行うときの接続を示す図で、図４は、その手順を示すフローチャートである。親磁気ディスク装置７３は、図１を参照して説明したホスト・モードで動作可能な磁気ディスク装置１０と同一の構成になっており、子供磁気ディスク装置７５に対して能動的または主体的に動作して子供磁気ディスク装置との間で様々な種類のデータ転送をする。

子供磁気ディスク装置７５はデバイス・モードでホスト・コンピュータに対して受動的に動作する通常の磁気ディスク装置であり、親磁気ディスク装置７３から指示を受けて受動的に動作する。親磁気ディスク装置７３および子供磁気ディスク装置７５は、共にＡＴＡインターフェース方式を採用している。図１を参照して説明した磁気ディスク装置１０は、択一的にホスト・モードまたはデバイス・モードで動作するので、本実施の形態において子供磁気ディスク装置７５は、磁気ディスク装置１０と同一構成にしてデバイス・モードで動作させるようにしている。親磁気ディスク装置７３および子供磁気ディスク装置７５は、いずれも、表示部５７、インターフェース・コネクタ４７、ジャンパ・コネクタ５３、電源コネクタ６３を備えている。磁気ディスク装置１０が親磁気ディスク装置７３として動作するか、子供磁気ディスク装置７５として動作するかは、ジャンパ・コネクタ５１に接続しているジャンパ・ブロックの種類により決まる。

ブロック２０１のデータ転送準備では、親磁気ディスク装置７３のジャンパ・コネクタ５１に特殊ジャンパ・ブロック５３を装着し、子供磁気ディスク装置７５のジャンパ・コネクタ５１には汎用ジャンパ・ブロック６１を装着する。両方のインターフェース・コネクタ４７は、ＡＴＡインターフェース・ケーブル７１で接続し、両方の電源コネクタ６３は、電源ユニット７７に接続している。図３では、２つの磁気ディスク装置７３、７５を直接ＡＴＡインターフェース・ケーブルで接続しているが、両磁気ディスク装置の間に他の装置が介在していてもファイルを直接転送する構成であればよい。磁気ディスク装置間でのファイルの直接転送とは、一方の磁気ディスク装置がホスト・モードで動作してファイルの転送動作を能動的に開始し、他方の磁気ディスク装置にファイルを送ったり、他方の磁気ディスク装置からファイルを受け取ったりすることをいう。

ブロック２０３では、親磁気ディスク７３および子供磁気ディスク装置７５の電源を投入する。親磁気ディスク装置７３は子供磁気ディスク装置７５のファイル転送の準備が整うまで転送動作を開始しないので、電源を投入する順序はいずれが先であってもよい。親磁気ディスク装置７３は起動すると、ＲＯＭ４１から起動プログラムを読み出し、ＭＰＵ２５およびＨＤＣ３３などのレジスタを初期化して自己診断プログラムを開始するスタート・アップ・ルーチンを実行する。起動プログラムはスタート・アップ・ルーチンの中で必ずＭＰＵ２５の状態レジスタを読み取るように構成しており、ブロック２０５でＭＰＵ２５は状態レジスタの内容を読み取る。

状態レジスタの内容は、特殊ジャンパ・ブロック５３またはこれとロジック・ゲート４５の組み合わせが形成した論理状態を反映している。ここでは、状態レジスタの内容は、親磁気ディスク装置７３をホスト・モードで動作させる内容に設定している。さらに、状態レジスタの内容には、書き込み転送と読み取り転送の設定、転送ファイルの種類の指定、デッド・コピーとデフラグ・コピーの設定などに続いて親磁気ディスク装置７３に実行させる機能の設定を含んでもよい。デフラグ・コピーについてはあとで詳細を説明する。転送ファイルの種類としては、磁気ディスク装置７３または磁気ディスク装置７５の磁気ディスク１１に記憶しているユーザ・データ、ＲＯＭ４１に格納しているファームウエア、ＥＥＰＲＯＭ４３に記憶したドライブ情報および動作情報などがある。

親磁気ディスク装置７３のＭＰＵ２５が、状態レジスタの内容がホスト・モードを示すことを確認すると、ブロック２０５に移行してＲＯＭ４１または磁気ディスク１１からホスト・モード実行プログラムをＲＡＭ３９に読み出して、親磁気ディスク装置７３は、ホスト・モードで動作を開始する。子供磁気ディスク装置７５のＭＰＵ２５が、汎用ジャンパ・ブロック６１により状態レジスタの内容がデバイス・モードになっていることを確認すると、ブロック２０７に移行して、磁気ディスク装置７５はデバイス・モードで動作を開始する。ホスト・モード実行プログラムは、ＭＰＵ２５がホスト・モードとして動作して子供磁気ディスク装置７５との間でファイルの転送を行うための機能をすべて含んでいる。親磁気ディスク装置７３のホスト・モードとしての動作内容は、動作モード設定部の設定内容とホスト・モード実行プログラムの内容で決まる。本実施の形態では、ホスト・モードとデバイス・モードの切り替えを、電源投入を契機にして立ち上がるプログラムを選択することで行っている。ホスト・モードやデバイス・モードなどの磁気ディスク装置の基本動作に関するプログラムが複数ある場合に、一つのプログラムで動作している間に他のプログラムでの動作に切り替えるには、一般に危険が伴い、かつ手順も複雑になるが、本実施の態様では安全かつ円滑に切り替えることができる。

ホスト・モード実行プログラムは、ＡＴＡコマンドによるファイル転送の手順、転送に係るファイルのアドレス、ＰＩＯ転送（Ｐｒｏｇｒａｍ Ｉ／Ｏ 転送）とマルチワードＤＭＡ（Ｄｉｒｅｃｔ Ｍｅｍｏｒｙ Ａｃｃｅｓｓ）転送の区別、表示部５７に対するファイル転送時の表示、およびエラー発生時の処理などに関する内容を含んでいる。ブロック２０９でファイルの直接転送の内容が、動作モード設定部およびホスト・モード実行プログラムの内容として画定する。それは例えば、転送方向を親磁気ディスク装置７３から子供磁気ディスク装置７５へと選択し、転送ファイルを全ユーザ・データと選択し、転送方式としてＰＩＯ転送によるデフラグ・コピーと選択し、およびファイル転送中に表示部５７を赤で点滅させファイル転送完了時に表示部５７を緑で表示するといった内容である。

あるいはまた、転送方向を子供磁気ディスク装置７５から親磁気ディスク装置７３へと選択し、転送ファイルをドライブ情報と選択し、転送方式をマルチワードＤＭＡ転送と選択し、およびファイル転送完了時に表示部５７を緑で表示するといった内容である。転送ファイルとして、ドライブ情報を選択すると、子供磁気ディスク装置７５が親磁気ディスク装置７３と製造者、ファームウエア・バージョン、または容量などが異なることにより互換性がない場合でも、それらを子供磁気ディスク装置７５にコピーして、子供磁気ディスク装置７５を親磁気ディスク装置７３と同じ動作環境下で使用することができるようになる。

以下、親磁気ディスク装置７３から子供磁気ディスク装置７５へのユーザ・データの転送を例にして説明するが、逆方向の転送や他の種類のファイル転送に関しても親磁気ディスク装置７３が主体的に動作して実現することができる。転送ファイルが親磁気ディスク装置７３または子供磁気ディスク装置７５の基本動作を行っているファームウエアの転送の場合は、例えば、ファームウエアを転送先の磁気ディスク装置の磁気ディスク１１またはＥＥＰＲＯＭ４３にコピーしておき、次の電源起動時に転送されたファームウエアに書き換えるといった周知の方法で一方から他方へファームウエアを移植することができる。ブロック２０９で転送準備動作が完了すると、ブロック２１１で親磁気ディスク装置７３は子供磁気ディスク装置７５に対して、ユーザ・データの書き込みを開始する。

親磁気ディスク装置７３では、ホスト・モード実行プログラムを実行するＭＰＵ２５が子供磁気ディスク装置７５に対してデータ転送のためのＡＴＡコマンドを送って所定の手順でプログラムに記述したユーザ・データの転送を開始し、表示部５７に赤の点滅を表示する。転送方式として磁気ディスク１１のデッド・コピーを指定している場合は、セクタの物理的な配置の順、すなわち、ＰＢＡの順に従ってユーザ・データを転送する。途中にセクタの物理的欠陥により代替セクタを設けていたり、フラグメンテーションにより未使用のセクタが存在していたりしても、デッド・コピーの場合は、親磁気ディスク装置７３の磁気ディスク１１と子供磁気ディスク装置７５の磁気ディスク１１において、同じＰＢＡの配置でユーザ・データをコピーする。デッド・コピーでは、シリンダの配置の順番と磁気ディスクの回転の順番に従ってコピーしてゆくので不必要なシーク動作や回転待ちをしないでよいため高速なデータ転送をすることができる。

転送方式として磁気ディスク１１のデフラグ・コピーを指定している場合は、ファイルの論理的な順番に従ってデータを転送する。途中に欠陥セクタのための代替セクタがあれば、データを代替セクタの位置から読み出して欠陥セクタの位置にあるデータとして転送し、フラグメント状態のセクタがあれば、ファイルの論理的な順番でデータを転送する。デフラグ・コピーは、ファイルの論理的な順番でデータ転送をするために親磁気ディスク装置７３のヘッド１５は、シーク動作や回転待ちを繰り返して転送時間が長くなるが、子供磁気ディスク装置７５の磁気ディスク１１に書き込んだファイルの記憶状態では、論理的な順番とセクタの物理的な配置の順番が一致するため、これを読み取るときはシーク時間や回転待ち時間を短縮してアクセス速度を高めることができる。

さらに、デフラグ・コピーした子供磁気ディスク装置７５に特殊ジャンパ・ブロック５３を装着して親磁気ディスク装置として動作させ、他の子供磁気ディスク装置にユーザ・データのデッド・コピーをすれば、デッド・コピーの速度でデフラグしたユーザ・データを書き込むことができる。ブロック２１３で、データ転送が完了すると親磁気ディスク装置７３のＭＰＵ２５は、表示部５７に緑の表示をし、子供磁気ディスク装置７５の磁気ディスク１１には、ホスト・モード実行プログラムに組み込んだ内容でユーザ・データを書き込むことができる。

図４に示した手順では、特殊ジャンパ・ブロック５３または特殊ジャンパ・ブロック５３とロジック・ゲート４５との組み合わせを動作モード設定部として利用し、ブロック２０３の動作モードの判定を特殊ジャンパ・ブロック５３等が設定した状態レジスタの内容をＭＰＵ２５が読み取ることで行った。他の態様では、特殊ジャンパ・ブロック５３を使用しないでＥＥＰＲＯＭ４３にイベント・フラグを記憶しておき、起動プログラムがスタート・アップ・ルーチンにおいて必ずＥＥＰＲＯＭ４３の動作モードに関するイベント・フラグを読み取るように構成してもよい。さらに、ＥＥＰＲＯＭ４３には、転送データの種類、転送方式、読み取り／書き込み区分、およびＰＩＯ転送／マルチワードＤＭＡ転送の区分などのホスト・モード実行プログラムのパラメータをあらかじめ記憶して、ホスト・モード実行プログラムの一部を構成するようにしてもよい。ＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグを動作モード設定部として利用すれば、ジャンパ・ブロック５３やロジック・ゲート４５を使用するよりも柔軟に多数のパラメータを設定することができる。

本実施の形態では、親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置とが１対になるように構成したが、子供磁気ディスク装置７５は、１台の親磁気ディスク装置７３に対してバスなどを通じて複数接続してもよい。この場合、親磁気ディスク装置７３のホスト・モード実行プログラムに、複数の子供磁気ディスク装置の選択に関する機能を含ませることができる。

［ホスト・コンピュータからの指示による親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置の間でのファイルの直接転送の説明］
次に、ホスト・コンピュータ８７に接続した複数の磁気ディスク装置８１、８３、８５の相互間でファイルを直接転送する他の実施の形態を図５、図６を参照して説明する。ブロック２３１のファイル転送準備では、複数の磁気ディスク装置８１、８３、８５をホスト・コンピュータ８７に接続する。磁気ディスク装置８１、８３、８５は、図１を参照して説明した磁気ディスク装置１０とほぼ同じ構成になっており、ホスト・モード実行プログラムとデバイス・モード実行プログラムを備えているが、異なる点は、それぞれＳＣＳＩインターフェース方式を採用しておりＳＣＳＩコマンドを実行する構成になっている点である。本実施の形態では、ホスト・モードとデバイス・モードの選択動作を、特殊ジャンパ・ブロック５３を使って行うのではなく、ホスト・コンピュータ８７の指示によって行う。磁気ディスク装置８１、８３、８５は、ＳＣＳＩケーブル８９によりデイジーチェーン接続され、電源が供給されてホスト・コンピュータ８７からの指令で動作できる状態になっている。

ブロック２３１では、磁気ディスク装置８１、８３、８５はデバイス・モードとなるようにＥＥＰＲＯＭ４３へイベント・フラグの設定をして、ホスト・コンピュータ８７の外部記憶装置としてデバイス・モードで動作している。磁気ディスク装置８１、８３、８５はいずれもホスト・モードで動作することにより他の磁気ディスク装置に対して能動的にファイル転送をすることができる。今ホスト・コンピュータ８７が磁気ディスク装置８１を親磁気ディスク装置として、また、磁気ディスク装置８３、８５を子供磁気ディスク装置として選択し、親磁気ディスク装置８１が、子供磁気ディスク装置８３、８５にＳＣＳＩケーブル８９を通じてファイルの直接転送を行う場合を設定して説明する。

ブロック２３３でホスト・コンピュータ８７は、ＳＣＳＩ−ＩＤを指定して親磁気ディスク装置８１を選択し、親磁気ディスク装置８１がホスト・モード実行プログラムをＲＯＭ４１からＲＡＭ３９に読み出して、ホスト・モードで動作するためのホスト・モード設定コマンドを送る。ホスト・モード設定コマンドは、ＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグをホスト・モードに設定するコマンドと、磁気ディスク装置８１を再起動させるコマンドを含み、ＳＣＳＩ規格では標準として採用していないものである。さらにホスト・モード設定コマンドには、ホスト・モードで動作する親磁気ディスク装置８１からファイルを転送する対象となる子供磁気ディスク装置８３または子供磁気ディスク装置８５のＳＣＳＩ−ＩＤを含んでもよい。この構成によりホスト・モード実行プログラムに転送先となる磁気ディスク装置のＳＣＳＩ―ＩＤを書き込んでいなくても、ホスト・コンピュータ８７から一つのコマンドを親磁気ディスク装置８１に送るだけで子供磁気ディスク装置８３または子供磁気ディスク装置８５を選択して親磁気ディスク装置８１からファイル転送をさせることができる。

ホスト・コンピュータ８７がホスト・モード設定コマンドを使用するときは、ユーザに対してパスワードを要求するようにしておくと、ユーザが誤ってホスト・モードに設定してしまうことを防止することができる。磁気ディスク装置８１、８３、８５はいずれもデバイス・モードで動作している間に、ホスト・モード設定コマンドを受け取って解釈することができるプログラムをＲＯＭ４１に実装しているが、ホスト・コンピュータ８７に親磁気ディスク装置として選択された磁気ディスク装置８１だけがホスト・モード設定コマンドを解釈し以降の手順によりホスト・モードで動作する。

親磁気ディスク装置８１は、ホスト・モード設定コマンドを解釈するとＭＰＵ２５がＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグをそれまでのデバイス・モードからホスト・モードに変更し（ブロック２３５）、続いて、一旦磁気ディスク装置８１の電源を停止したあとに再起動する（ブロック２３７）。再起動したとき、起動プログラムによりＭＰＵ２５がＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグを参照してＲＯＭ４１または磁気ディスク１１からホスト・モード実行プログラムをＲＡＭ３９に読み出してホスト・モード実行プログラムを実行し、磁気ディスク装置８１は以後ホスト・モードで動作する（ブロック２３９）。また、ホスト・モード設定コマンドに再起動のコマンドを含まないで、ＭＰＵ２５がＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグをホスト・モードに設定するコマンドを実行した後に、ユーザが磁気ディスク装置８１を再起動してもよい。ブロック２３７では、磁気ディスク装置８１全体の電源を停止しないでＭＰＵ２５の電源だけを停止し、ＭＰＵ２５の電源を再投入してＭＰＵ２５がホスト・モード実行プログラムをＲＡＭ３９に読み出すようにしてもよい。

ホスト・モードに移行した親磁気ディスク装置８１は、ブロック２４１で、ホスト・モード実行プログラムに従ってＳＣＳＩコマンドを使用しながら、子供磁気ディスク装置８３または子供磁気ディスク装置８５との間でファイル転送を行う。ＥＥＰＲＯＭ４３に転送先の磁気ディスク装置のＳＣＳＩ―ＩＤを書き込んでおけば、親磁気ディスク装置８１が再起動した時にそれを参照して転送する子供磁気ディスク装置を決定することができる。転送するファイルの内容や転送方式などは、図３、図４で説明したものと同じである。ホスト・コンピュータ８７は、親磁気ディスク装置から子供磁気ディスク装置へのファイル転送が行われている間、書き込みコマンドを生成して子供磁気ディスク装置にファイルを書き込むことがないように、念のためＩ／Ｏポートを入力モードまたはハイ・インピーダンス状態にしている。

ファイル転送が終了すると、ブロック２４３で親磁気ディスク装置８１はホスト・コンピュータ８７に転送終了のコマンドを送り、ホスト・コンピュータ８７は親磁気ディスク装置８１にデバイス・モードに戻すためのデバイス・モード設定コマンドを送る。デバイス・モードに戻すためのデバイス・モード設定コマンドは、ＥＥＰＲＯＭ４３のイベント・フラグをホスト・モードからデバイス・モードに変更するコマンドと、親磁気ディスク装置８１を再起動するコマンドを含んでいる。このようなファイル転送は、複数の磁気ディスク装置を有するホスト・コンピュータにおいて、いずれかの磁気ディスク装置を交換する場合にホスト・コンピュータのプロセッサやメモリを使用しないで、新しい磁気ディスク装置に古い磁気ディスク装置のファイルをコピーすることができるので都合がよい。

本実施の形態では３台の磁気ディスク装置を例にして説明したが、ＳＣＳＩケーブルによるデイジーチェーンでは、ＳＣＳＩ―３の規格に従うと磁気ディスク装置を３２台まで接続でき、４台以上接続した場合でもいずれか１台を親磁気ディスク装置としてホスト・モードで動作させ、親磁気ディスク装置から任意に選択した子供磁気ディスク装置にファイルを転送することができる。さらに、ファイルが転送された子供磁気ディスク装置を、親磁気ディスク装置となるようにホスト・モードで動作させ、同様の手順でデイジーチェーン接続された他の子供磁気ディスク装置に順次ファイルを転送することもできる。ファイル転送された子供磁気ディスク装置がつぎに親磁気ディスク装置となってファイル転送元になる構成は、特に先に説明したデフラグ・コピーの場合に有効である。

ＳＣＳＩ−ＩＤはデイジーチェーン接続された機器の中で一意に決まっていればよいので、親磁気ディスク装置８１から複数の子供磁気ディスク装置に順番にファイル転送していくときに、新たに接続した子供磁気ディスク装置についてその都度変更する必要がなくて都合がよい。上記の例で、最初に親磁気ディスク装置８１から子供磁気ディスク装置８３にファイル転送し、つぎに親磁気ディスク装置８１から子供磁気ディスク装置８５にファイル転送している間に、子供磁気ディスク装置８３を新たな子供磁気ディスク装置８７（図示せず。）に変更したとしても、子供磁気ディスク装置８７には子供磁気ディスク装置８３のＳＣＳＩ−ＩＤを使用することができる。したがって、親磁気ディスク装置８１は、子供磁気ディスク装置８３および子供磁気ディスク装置８５のＳＣＳＩ−ＩＤを使用して、順番に新たに接続する磁気ディスク装置にファイル転送をすることができる。子供磁気ディスク装置のＳＣＳＩ−ＩＤは、ジャンパ・ブロックやディップ・スイッチで設定することができる。

［磁気ディスク装置間でのファイルの直接転送によるクローン化の説明］
図３〜図６を参照して説明した親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置間でのファイルの直接転送の技術を利用して、子供磁気ディスク装置に最適化／検査処理を行うための成長プログラムを移植し、親磁気ディスク装置が子供磁気ディスク装置をクローンとして成長させる実施の形態を、図７、図８を参照して説明する。図７は、磁気ディスク装置間でのファイルの直接転送によるクローン装置の生成を行うときの接続を示す図で、図８は、その手順を示すフローチャートである。本実施の形態では、磁気ディスク装置１１１を親磁気ディスク装置とし、磁気ディスク装置１１３、１１５を子供磁気ディスク装置として説明する。

ブロック２５１では、クローン化の準備を行う。図７において、３台の磁気ディスク装置１１１、１１３、１１５を用意する。磁気ディスク装置１１１、１１３、１１５は、図１を参照して説明した磁気ディスク装置１０とほぼ同じ構成になっており、それぞれＡＴＡインターフェース方式を採用している。磁気ディスク装置１０と異なる点は、磁気ディスク装置１１１の磁気ディスク１１には後述する最適化／検査プログラムを格納し、ＥＥＰＲＯＭ４３にはノウハウを格納しており、また、３台の磁気ディスク装置１１１、１１３、１１５のホスト・モード実行プログラムは、最適化／検査プログラムやノウハウを扱うことができる機能を備えている点である。

各磁気ディスク装置１１１、１１３、１１５に対応して３台の接続装置１０９ａ、１０９ｂ、１０９ｃを準備する。各接続装置には、インターフェース・コネクタ１２７ａ、１２７ｂ、１２７ｃ、ジャンパ・コネクタ１２８ａ、１２８ｂ、１２８ｃ、電源コネクタ１２９ａ、１２９ｂ、１２９ｃ、電源コネクタに接続した電源ケーブル１２５ａ、１２５ｂ、１２５ｃを設けている。インターフェース・コネクタ１２７ａと１２７ｂおよびインターフェース・コネクタ１２７ｂと１２７ｃは、ＡＴＡに対応したケーブル１１７で接続してある。

親磁気ディスク装置１１１は、このような最適化／検査の工程が完了している磁気ディスク装置であり、子供磁気ディスク装置１１３、１１５は組み立てが完了して親磁気ディスク装置と通信ができる程度までは成長しているが、完成品にするためには最適化／検査処理を必要とする磁気ディスク装置である。親磁気ディスク装置１１１は、磁気ディスク１１に格納している最適化／検査プログラムを実行して自らの最適化／検査工程を実施する過程で獲得した各種パラメータを、ＥＥＰＲＯＭ４３に記憶している。本実施の形態により、ＥＥＰＲＯＭ４３が記憶した各種パラメータは、いわゆる磁気ディスク装置のノウハウを形成し子供磁気ディスク装置に受け継いでゆくことができる。

本明細書において、ＥＥＰＲＯＭ４３のノウハウまたはパラメータと磁気ディスク１１の最適化／検査プログラムとを合わせて成長プログラムということにする。また、クローン化とは、成長プログラムを親磁気ディスク装置から子供磁気ディスク装置に移植し、子供磁気ディスク装置に成長プログラムを実行させて親磁気ディスク装置と同じ個性を備えた磁気ディスク装置として成長させることをいう。

ブロック２５３では、ジャンパ・コネクタ１２８ａ、１２８ｂ、１２８ｃにそれぞれジャンパ・ブロック１１９、１２１、１２３を装着し、磁気ディスク装置１１１、１１３、１１５を接続装置に接続する。ジャンパ・ブロック１１９は特殊ジャンパ・ブロックであるため、電源を投入したとき磁気ディスク装置１１１をホスト・モードで動作させる。ジャンパ・ブロック１２１、１２３は共に汎用ジャンパ・ブロックで電源を投入したとき磁気ディスク装置１１３、１１５をデバイス・モードで動作させる。ジャンパ・ブロック１２１は、磁気ディスク装置１１３をマスター（Ｄｅｖ０）として設定する構成になっており、ジャンパ・ブロック１２３は、磁気ディスク装置１１５をスレーブ（Ｄｅｖ１）として設定する構成になっている。マスターとスレーブは、ＡＴＡ規格で通常ホスト・コンピュータに２台の磁気ディスク装置を接続する場合にそれぞれを識別するために設定するものである。特殊ジャンパ・ブロック１１９および汎用ジャンパ・ブロック１２１、１２３に代えて、ジャンパ・コネクタ１２８ａ、１２８ｂ、１２８ｃに論理状態の設定が可能な制御回路を接続して論理形成してもよい。

ブロック２５７では、磁気ディスク装置１１１、１１３、１１５に電源を投入して起動すると、磁気ディスク装置１１１はホスト・モードで動作を開始して親磁気ディスク装置となり（ブロック２５９）、磁気ディスク装置１１３、１１５はデバイス・モードで動作を開始して子供磁気ディスク装置となる（ブロック２６１）。ブロック２６３では、ホスト・モード実行プログラムが立ち上がった親磁気ディスク装置１１１が、子供磁気ディスク装置１１３または子供磁気ディスク装置１１５を順番にクローン化するために成長プログラムの転送を開始する。親磁気ディスク装置１１１は、いずれか一方の子供磁気ディスク装置のアドレスを指定して、ＡＴＡコマンドを使って成長プログラムを転送し、子供磁気ディスク装置のＥＥＰＲＯＭ４３や磁気ディスク１１に書き込む。転送が終了したらさらに他方の子供磁気ディスク装置に対しても同様の手順で成長プログラムを転送する。

２つの子供磁気ディスク装置１１３、１１５に対して成長プログラムの転送が終了したあとに、ブロック２６７では、接続装置１０９ｂ、１０９ｃのジャンパ・ブロックをホスト・モードで動作させる特殊ジャンパ・ブロックに交換する。特殊ジャンパ・ブロックは、子供磁気ディスク装置１１３、１１５をホスト・モードで動作させ、ホスト・モード実行プログラムに成長プログラムを実行させるように構成している。ブロック２６９で子供磁気ディスク装置１１３、１１５は親磁気ディスク装置１１１が移植した成長プログラムを実行して自ら最適化／検査処理を実施し、親磁気ディスク装置１１１のノウハウを受け継いで完成した磁気ディスク装置に成長する。成長した子供磁気ディスク装置１１３、１１５は親磁気ディスク装置となって、同様の手順で他の子供磁気ディスク装置をクローン化してゆくことができる。

［磁気ディスク装置間で行う最適化／検査処理の説明］
図７および図８を参照して親磁気ディスク装置が子供磁気ディスク装置に成長プログラムを移植し、子供磁気ディスク装置が自ら成長プログラムを実行する方法を説明したが、他の実施の形態として、親磁気ディスク装置が子供磁気ディスク装置とコミュニケーションを取りながら、子供磁気ディスク装置を成長させてゆく方法を図９および図１０を参照して説明する。図９は、親磁気ディスク装置が子供磁気ディスク装置とコミュニケーションを取りながら、子供磁気ディスク装置を成長させてゆくときの接続を示す図で、図１０は、その手順を示すフローチャートである。本実施の形態では、磁気ディスク装置１５１を親磁気ディスク装置とし、磁気ディスク装置１５３、１５５を子供磁気ディスク装置として説明する。

ブロック２７１では、クローン化の準備を行う。図９が図７と異なる点は、３台の磁気ディスク装置１５１、１５３、１５５の内部構成だけであり、その他の要素は共通するので説明を省略する。磁気ディスク装置１５１、１５３、１５５は、図１を参照して説明した磁気ディスク装置１０とほぼ同じ構成になっており、それぞれＡＴＡインターフェース方式を採用している。磁気ディスク１０と異なる点は、磁気ディスク装置１５１の磁気ディスク１１には、後述する教育プログラムを格納しており、また、３台の磁気ディスク装置１５１、１５３、１５５は、それぞれ親磁気ディスク装置または子供磁気ディスク装置として教育プログラムを扱うことができる機能を備えている点である。

親磁気ディスク装置１５１の磁気ディスク１１は、子供磁気ディスク装置とコミュニケーションを取りながら子供磁気ディスク装置に対して最適化／検査処理を実施してゆく教育プログラムを格納する。教育プログラムは、例えば、子供磁気ディスク装置に対して、サーボ情報を書き込むこと、各種サーボ系またはチャネル系の係数に対する最適化を行う予備検査を実行すること、ロングランテストを基本とした機能／信頼性の確認テストを実行すること、および不良セクタのマッピング作業をすることなどを挙げることができる。

親磁気ディスク装置１５１は、このような最適化／検査処理が完了している磁気ディスク装置であり、子供磁気ディスク装置１５３、１５５は組み立てが完了して親磁気ディスク装置の教育を受けるための通信ができる程度までは成長しているが、完成品にするには最適化／検査の工程を必要とする磁気ディスク装置である。親磁気ディスク装置１５１は、自らの最適化／検査処理を実施する過程で獲得した各種パラメータを、ノウハウとしてＥＥＰＲＯＭ４３に格納している。

ブロック２７３〜２７９は、ブロック２５３〜２６１と同様の手順である。親磁気ディスク装置１５１はホスト・モードで動作を開始し、子供磁気ディスク装置１５３、１５５はデバイス・モードで動作を開始する。ブロック２８１では、ホスト・モード実行プログラムが立ち上がった親磁気ディスク装置１５１が、教育プログラムを実行し、子供磁気ディスク装置を教育してクローン化するための動作を開始する。親磁気ディスク装置１５１は、いずれか一方の子供磁気ディスク装置のアドレスを指定し、ＡＴＡコマンドを使って、ファームウエアを転送したりサーボ情報を書き込んだりして、子供磁気ディスク装置の最適化や検査を行う。その際、親磁気ディスク装置のＥＥＰＲＯＭ４３に記憶していたノウハウも子供磁気ディスク装置に移植する。２つの子供磁気ディスク装置１５３、１５５に対して順番に最適化／検査処理を行い、子供磁気ディスク装置１５３、１５５を成長させて教育が終了する。従来は、検査機器に磁気ディスク装置を接続して子供磁気ディスク装置に対する教育プログラムを実行していたが、本実施の形態では検査機器を使用しないで、親磁気ディスク装置１５１を検査機器として動作させることができ、検査機器への投資を減縮することができる。さらに教育が終了した子供磁気ディスク装置を親磁気ディスク装置として動作させ、他の子供磁気ディスク装置の教育をさせることができる。

これまで、記憶装置として磁気ディスク装置を例にして説明したが、本発明は、光磁気ディスク装置、フロッピー・ディスク装置、ＣＤ、ＤＶＤ、ＰＤなどのプロセッサを備えた各種外部記憶装置または補助記憶装置に適用することができる。また、親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置との間、または親磁気ディスク装置とホスト・コンピュータとの間のファイル転送を有線で行う場合を例示して説明したが、転送を無線で行ってもよい。また磁気ディスク装置間でデータ転送をするデータ伝送路には、ＡＴＡ、シリアルＡＴＡ、ＳＣＳＩ、ファイバー・チャネルなどのいずれの規格を採用してもよい。

図５、図６では、ホスト・コンピュータからの指示により、親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置との間でファイル転送する方法を、ＳＣＳＩインターフェースを例にして説明したが、ファイバー・チャネルで接続された磁気ディスク装置間でファイルの直接転送をする方法を説明する。最初に、図５のシステムにおいて、ＳＣＳＩインターフェースによりデイジーチェーン接続された磁気ディスク装置がＮｏ．１からＮｏ．８まで８台あると想定した場合に、Ｎｏ．１の磁気ディスク装置を親磁気ディスク装置として、子供磁気ディスク装置としたＮｏ．２〜Ｎｏ．８の７台の磁気ディスク装置に、順番に親磁気ディスク装置のファイルを転送する場合を考える。

親磁気ディスク装置のホスト・モード実行プログラムには、子供磁気ディスク装置へＮｏ．２〜Ｎｏ．８の順番でファイルを転送するコードが記述されているものとする。最初にホスト・コンピュータが、親磁気ディスク装置Ｎｏ．１をホスト・モードで動作させると親磁気ディスク装置Ｎｏ．１は、子供磁気ディスク装置に対してＮｏ．２、Ｎｏ．３・・・Ｎｏ．８の順番でファイルを転送する。従って、７台の子供磁気ディスク装置すべてにファイルを転送する際は、親磁気ディスク装置Ｎｏ．１と各子供磁気ディスク装置Ｎｏ．２〜Ｎｏ．８とが、バスの接続手順を踏みながら順次ファイル転送を行うため、ファイルの転送が完了するまで７回分のファイル転送時間を費やすことになる。

図１１は、ホスト・コンピュータ１８７と磁気ディスク装置１７１〜１８５がファイバー・チャネルのアービトレイティッド・ループ１８９で接続され、ファイバー・チャネルに準拠した通信プロトコルでデータ転送できるように構成されている状態を示す図である。いま、Ｎｏ．１磁気ディスク装置１７１を転送すべきファイルを格納している親磁気ディスク装置とし、Ｎｏ．２〜Ｎｏ．８磁気ディスク装置１７３〜１８５を、ファイルを受け取る子供磁気ディスク装置とする。親磁気ディスク装置１７１および子供磁気ディスク装置１７３〜１８５は、以下に説明する手順を実行するホスト・モード実行プログラムとアービトレイティッド・ループ１８９のインターフェースを備えており、図１の磁気ディスク装置１０と同一構成でホスト・モードまたはデバイス・モードで動作する。ホスト・コンピュータ１８７は、あらかじめ子供磁気ディスク装置１７３〜１８５に対してＷＷＮ（Ｗｏｒｌｄ Ｗｉｄｅ Ｎａｍｅ）を問い合わせて親磁気ディスク装置１７１に通知しておく。磁気ディスク装置１７１〜１８５は最初にデバイス・モードで動作しているものとする。ホスト・コンピュータ１８７は、親磁気ディスク装置１７１にホスト・モード設定コマンドを送る。ホスト・モード設定コマンドには、ＥＥＰＲＯＭのイベント・フラグをホスト・モードに設定するコマンドと、親磁気ディスク装置１７１を再起動させるコマンドを含んでいる。

続いて、親磁気ディスク装置１７１が再起動してホスト・モードで動作する。ＲＯＭに格納したホスト・モード実行プログラムには、親磁気ディスク装置１７１から子供磁気ディスク装置１７３〜１８５にファイル転送する手順を書き込んである。親磁気ディスク装置１７１は、転送するファイルの一部のデータｎ１を磁気ディスクから読みだしてキャッシュに記憶すると共に、磁気ディスク装置１７３の識別子を付加してアービトレイティッド・ループ１８９に送り出す。送り出されたデータｎ１は、アービトレイティッド・ループ１８９のループを一巡して子供磁気ディスク装置１７３〜１８５を通過するが、識別子が一致した子供磁気ディスク装置１７３だけがデータｎ１を読み取り、自らの磁気ディスクの指定されたアドレスに書き込む。

続いて親磁気ディスク装置１７１は、キャッシュから取り出したデータｎ１に子供磁気ディスク装置１７５の識別子を付加してアービトレイティッド・ループ１８９に送り出すと、識別子が一致した子供磁気ディスク装置１７５だけがデータｎ１を読み取り、自らの磁気ディスクの指定されたアドレスに書き込む。同様にしてデータｎ１を子供磁気ディスク装置１７７〜１８５のそれぞれの磁気ディスクに書き込むと、親磁気ディスク装置１７１は、データｎ１に続くデータｎ２を自らの磁気ディスクから読み出してキャッシュに記憶すると共に、子供磁気ディスク装置１７３の識別子を付加してアービトレイティッド・ループ１８９に送り出す。識別子が一致した子供磁気ディスク装置１７３だけがデータｎ２を自らの磁気ディスクの指定されたアドレスに書き込む。

親磁気ディスク装置１７１は、キャッシュから取り出したデータｎ２に子供磁気ディスク装置１７５の識別子を付加してアービトレイティッド・ループ１８９に送り出す。このような手順を同様に繰り返すことで、親磁気ディスク装置１７１は、子供磁気ディスク装置１７３〜１８５に対して必要なファイルをデータｎ１、データｎ２、データｎ３・・・というように分割して転送する。ファイバー・チャネルでは、バスの接続手順が必要ないため、高速なデータ転送を実現できる。データｎ１、データｎ２などの親磁気ディスク装置が一度にファイバー・チャネルに送り出すデータの量は、セクタ単位、クラスター単位、親磁気ディスク装置のキャッシュが許容する単位、またはファイバー・チャネルの通信プロトコルが規定する単位などとして選択することができる。ファイル転送が終わった子供磁気ディスク装置１７３〜１８５を新たな子供磁気ディスク装置に変更すると、ホスト・コンピュータ１８７は、新たな子供磁気ディスク装置に対してＷＷＮを問い合わせて、親磁気ディスク装置１７１に通知する。この方法では、アービトレイティッド・ループ１８９に代えて、つぎに説明するファブリック・スイッチ（ｆａｂｒｉｃ ｓｗｉｔｃｈ）を採用してもよい。

他のファイルの転送の方法として、親磁気ディスク装置からファイル転送を受けた子供磁気ディスク装置をつぎに新たな親磁気ディスク装置として動作させ、最初の親磁気ディスク装置と共に他の子供磁気ディスク装置にファイルを転送する方法がある。この方法では、図１１のアービトレイティッド・ループ１８９をファブリック・スイッチ（ｆａｂｒｉｃ ｓｗｉｔｃｈ）１９１に代え、ホスト・コンピュータ１８７および磁気ディスク装置１７１〜１８５が、ファブリック・スイッチに準拠した通信プロトコルでデータ転送できる構成になっている。このようなシステムは、特開２００２−３４２２５３号公報や特開２０００−２２２３３９号公報に記載されている。ファブリック・スイッチを使用した図１１のシステムでは、データ転送にかかる装置の対を複数形成して多重通信を行うことができる。

この方法では、最初、磁気ディスク装置１７１が親磁気ディスク装置としてホスト・モードで動作して子供磁気ディスク装置１７３にファイルを転送する。つぎに、子供磁気ディスク装置１７３が親磁気ディスク装置となって、親磁気ディスク装置１７１と共に、親磁気ディスク装置１７１から子供磁気ディスク装置１７５、親磁気ディスク装置１７３から子供磁気ディスク装置１７７といったデータ転送の対を構成してファイルを転送する。

次に子供磁気ディスク装置１７５、１７７を親磁気ディスク装置としてホスト・モードで動作させ、親磁気ディスク装置１７１、１７３と共に４台の親磁気ディスク装置で残った４台の磁気ディスク装置１７９〜１８５に親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置の対の間でファイルを転送する。たとえば、親磁気ディスク装置１７１から子供磁気ディスク装置１７９、親磁気ディスク装置１７３から子供磁気ディスク装置１８１、親磁気ディスク装置１７５から子供磁気ディスク装置１８３、および親磁気ディスク装置１７７から子供磁気ディスク装置１８５にファイルを転送する。

この方法では、親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置とのファイル転送に係る対を同時に複数構成してファブリック・スイッチ上で時分割しながらファイルを転送することができる。よって磁気ディスク装置１７１から磁気ディスク装置１７５へのファイル転送が完了するのを待たないで磁気ディスク装置１７３から磁気ディスク装置１７７へファイル転送を行うことができるといったように、すべての磁気ディスク装置に対するファイル転送の時間を大幅に短縮することができる。

子供磁気ディスク装置から親磁気ディスク装置に動作モードを変更するときは、ホスト・コンピュータ１８７が子供磁気ディスク装置に再起動のコマンドを送って再起動させる必要があるため、ホスト・モードで動作したまま、ファイル転送先となる磁気ディスク装置を変更する親磁気ディスク装置に比べて再起動の時間だけファイル転送の開始が遅れるが、多量のファイルを転送する場合には再起動の時間よりもファイル転送の時間が長くなるので、この方法ではより高速にファイル転送をすることができる。

〈ＡＴＡ磁気ディスク装置用試験制御装置などに関する説明〉
つぎに、先の出願で提案した試験／調整プログラムの大きさや特質に起因した制約を受けないで自己実行的に試験／調整を行う方法、およびＡＴＡインターフェースを採用した磁気ディスク装置に対して、自己実行的に試験／調整をする方法および試験制御装置について説明する。

［試験／調整の意味］
本明細書において、試験／調整とは先に説明した最適化／検査処理と同一の意味であり、組み立てが完了した磁気ディスク装置に対して製品として完成した機能を与え、かつユーザに対して保証できるようにするためのハードウエアに対する機能注入の工程をいう。試験／調整の一例としては、磁気ディスクに対するサーボ情報の書き込みを挙げることができる。この場合のサーボ情報の書き込みは、セルフ・サーボ・ライト方式を採用する磁気ディスク装置において行われる。セルフ・サーボ・ライト方式は、サーボ・トラック・ライタなどの専用の書き込み装置を使用しないで、磁気ディスク装置に組み込まれるヘッドにより、自らの磁気ディスクにサーボ情報を書き込む方式である。

さらに試験／調整の他の例として、磁気ディスクの検査と欠陥セクタの登録が挙げられる。完成した磁気ディスクは、一般に磁性層に欠陥を保有している場合があり、小さい欠陥であっても放置しておくと拡大する危険性がある。磁気ディスク装置の品質を保証するためには、すべてのセクタをあらかじめ検査して、欠陥が検出されたセクタの論理アドレスを一次欠陥マップ（ＰＤＭ）に登録して当該セクタを使用禁止にする作業を取り入れる場合がある。

さらに試験／調整の他の例として、トラックの位置情報の登録が挙げられる。磁気抵抗効果（ＭＲ）素子または巨大磁気抵抗効果（ＧＭＲ）素子を利用した再生ヘッドを採用する場合は、スライダ上に誘導型の記録ヘッドを再生ヘッドから一定の間隔をおいて別に設ける。記録ヘッドと再生ヘッドとの間隔には寸法公差がある。また、ロータリー式アクチュエータを使用する場合は、スライダがアクチュエータの回転軸を中心に回転移動をするため、磁気ディスクの半径方向におけるヘッドの位置により、記録ヘッドが対応するトラックと再生ヘッドが対応するトラックの位置関係が変化する原因となるいわゆるヨー角が発生する。

具体的には、磁気ディスク上のスライダの位置によってヨー角が変化するため、再生ヘッドが位置づけられているトラックと、そのときに記録ヘッドが位置づけられているトラックとの間の間隔も変化する。再生ヘッドが位置づけられているトラックの位置から実際にデータが記録されたトラックの位置までの距離を認識してデータを正しく再生するために、磁気ディスク装置はサーボ情報を磁気ディスクに書き込んだあとに当該ヘッド特有のトラック位置情報を取得して、磁気ディスク上のすべての位置で再生ヘッドの位置と記録ヘッドの位置の関係を正しく認識できるようにする必要がある。

また、再生ヘッドの幅および感度にも公差があるので、サーボ情報からサーボ・バースト・パターンを読み取って再生した位置情報信号（ＰＥＳ）を増幅する増幅器のＰＥＳゲインを、再生ヘッドの製造上の特質に合わせて調整してサーボ情報からトラックの正確な位置情報を検出できるようにしておくためにも試験／調整が必要になる。

このような試験／調整は、実際にヘッドを磁気ディスクの所定の位置に移動させたり、セクタの論理アドレスを磁気ディスク装置のＥＥＰＲＯＭなどに書き込んだりといった動作をともなう。専用の試験装置が試験／調整を行う場合は、磁気ディスク装置からの応答を確認しながら磁気ディスク装置にコマンドを送り逐一その動作を制御している。

本発明の試験／調整においては、対象となる磁気ディスク装置の動作を直接制御するような専用の試験装置は使用しない。試験／調整プログラムは外部のホスト装置から磁気ディスク装置に転送され、磁気ディスク装置が自ら試験／調整プログラムを実行して自己実行的に試験／調整を行う。試験／調整プログラムには、対象となる磁気ディスク装置に外部のホスト装置からコマンドを送り応答を確認するものを含むが、ホスト装置が専用の試験装置が行っていたように磁気ディスク装置のヘッドの動作を直接制御するようなことはない。

［試験／調整の基本的な方法］
図１２に本発明の実施の形態として、磁気ディスク装置の試験／調整を自己実行的に行うための基本的な実行環境を示す。図１２には、試験／調整の対象となる磁気ディスク装置＃１〜＃４とホスト装置とがデータ伝送路を通じて相互にデータ転送可能な状態で接続されている。磁気ディスク装置＃１ないし＃４は、ハードウエアの組み立ては完了しているが、試験／調整が終了していないためまだ製品としての機能を備えていない状態にある。ただし、基本動作を行うためのファームウエアはＲＯＭに格納されており、外部の装置との通信系統、ＭＰＵ、ＲＡＭなどのように格別の試験／調整をしなくてもよい構成要素は動作可能の状態になっている。

ホスト装置は、データ伝送路を通じて磁気ディスク装置＃１ないし＃４とデータ通信が可能なコンピュータであり、プロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、補助記憶装置、および磁気ディスク装置＃１〜＃４に対するインターフェース回路などを備えている。ホスト装置の補助記憶装置には、磁気ディスク装置＃１〜＃４が実行する試験／調整プログラムを格納している。試験／調整プログラムは、データ伝送路を通じてホスト装置から磁気ディスク装置＃１ないし＃４に転送される。

試験／調整プログラムは、複数のフェーズに分割して構成されており、それらは磁気ディスク装置＃１ないし＃４に対して転送する順番が決まっている。本実施の形態では、試験／調整プログラムが第１フェーズないし第５フェーズの５つのフェーズで構成されているものとする。試験／調整に当たって、磁気ディスク装置＃１ないし＃４はそれぞれフェーズ番号の順番に第１フェーズから第４フェーズまで試験／調整プログラムを実行し、ホスト装置は第５フェーズの試験／調整プログラムを実行する場合を例示して説明する。

ここでは、第１フェーズの試験／調整プログラムは、磁気ディスクに対するサーボ情報の書き込みに関するものとし、第２フェーズの試験／調整プログラムは欠陥セクタの検出および登録に関するものとし、第３フェーズの試験／調整プログラムはトラック情報の収集および記録に関するものとし、第４フェーズの試験／調整プログラムはＰＥＳゲインの調整に関するものとする。

第１フェーズから第４フェーズまでの試験／調整プログラムは、ホスト装置から各磁気ディスク装置にフェーズ番号の順番に転送される。第５フェーズの試験／調整プログラムは、ユーザにおける実際の動作を想定したコマンド試験であり、ホスト装置がプログラムを実行して、各磁気ディスク装置にリード／ライト・コマンドを送って対応動作を確認したり、リセット・コマンドや診断コマンドを送ってその結果を確認したりする。第５フェーズの試験／調整プログラムは、各磁気ディスク装置には転送されない。

ホスト装置の補助記憶装置には、第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムを順番に各磁気ディスク装置に転送して実行させ、第５フェーズの試験／調整プログラムを実行させる試験制御プログラムを格納している。磁気ディスク装置＃１ないし＃４は、ユーザに販売される汎用の磁気ディスク装置であるが、ホスト装置から転送された試験／調整プログラムを実行するための試験プログラムをあらかじめＲＯＭに格納している。データ伝送路は、ホスト装置と磁気ディスク装置＃１ないし＃４とが通信できるプロトコルで構成されていればよく、ＡＴＡ（ＡＴ Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ）バス、ＳＣＳＩバス、またはファイバー・チャネルなどで構成することができる。ファイバー・チャネルを使用する場合は、アービトレイティッド・ループやファブリック・スイッチを採用することができる。

本実施の形態において、試験／調整プログラムは、複数のフェーズに分かれているところに特徴がある。試験／調整プログラムを複数のフェーズに分ける理由は、以下のとおりである。まず、試験／調整の対象となる磁気ディスク装置＃１ないし＃４は、試験／調整が完了していない状態にあるため、自らのヘッドを動作させて磁気ディスクにプログラムを記録したり、磁気ディスクからプログラムを読み取ったりすることができないため、ホスト装置から転送された試験／調整プログラムの記憶場所として磁気ディスクを利用することができない。

よって、各磁気ディスク装置がホスト装置から受け取ることができる試験／調整プログラムの大きさは、ＲＡＭの容量によって制約を受ける。したがって、ホスト装置は各磁気ディスク装置のそれぞれのＲＡＭに一時的に記憶してＣＰＵが実行できる程度の大きさに試験／調整プログラムを分割して送ることで、各磁気ディスク装置での実行を可能にする。

また、第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムは、自己実行的に各磁気ディスク装置の内部で実行される。したがって第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムだけでは、各磁気ディスク装置が外部の装置と通信を行うインターフェース系統の検査が十分にできないので、上述の第５フェーズの試験／調整としてのコマンド試験が必要となる。

第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムにもとづく試験／調整は、それぞれのプログラムの実行にホスト装置が関与せず、各磁気ディスク装置が自己実行的に行うものであるが、第５フェーズの試験／調整は、ホスト装置と各磁気ディスク装置とが通信しながら行うコマンド試験であり、両者はプログラムの実行主体という性質が異なるので分割する必要がある。第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムが、ＲＡＭの容量を増大したりして、分割転送する必要がなくなったとしても第５フェーズの試験／調整プログラムは第１フェーズないし第４フェーズのプログラムからは分割しておく必要がある。

試験／調整は、様々な専門分野の技術者が複数関与して行われる。試験／調整プログラムを専門分野ごとに分けておくと、プログラムの制作や試験結果の評価において都合がよい場合がある。また、試験／調整の工程において、欠陥が発見された部品が組み込まれた磁気ディスク装置を緊急にスクリーニングして出荷禁止にすることがある。このような場合、スクリーニングのためのプログラムを第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムのいずれかに組み込むよりも、スクリーニングのための独立したスクリーニング・プログラムを制作し、ある独立したフェーズ（たとえば、第２−１フェーズ）の試験／調整プログラムとしてホスト装置から各磁気ディスク装置に転送したほうが簡単である。スクリーニングが不要になればスクリーニング・プログラムだけを試験／調整プログラムの中から削除するだけでよい。このように図１に示したような環境において自己実行的に行う試験／調整では、試験／調整プログラムを分割して転送したり、試験／調整を磁気ディスク装置の中だけで行うものとコマンド試験とに分けて行ったりする必要がある。

つぎに、図１３を参照して、図１２に示した環境で磁気ディスク装置＃１ないし＃４の試験／調整を行う方法を説明する。図１３は、自己実行的な試験／調整の基本的な方法を説明するフロー・チャートである。磁気ディスク装置＃１ないし＃４に対しては、まだいかなる試験／調整も実行していない段階にあるとする。ブロック３１１では、ホスト装置が、磁気ディスク装置＃１ないし＃４に対して第１フェーズの試験／調整プログラムを転送する。

ブロック３１３で第１フェーズの試験／調整プログラムを受け取った磁気ディスク装置＃Ｘ（以後、磁気ディスク装置＃１ないし＃４の中の任意の１台を＃Ｘとして示す。）は、ＲＡＭに試験／調整プログラムを記憶し実行する。試験／調整プログラムをＲＡＭに記憶してＣＰＵに実行させる作業は、各磁気ディスク装置のＲＯＭに格納された試験プログラムが行う。磁気ディスク装置＃Ｘは、第１フェーズの試験／調整プログラムを実行して自らの磁気ディスクにサーボ情報を書き込む。書き込むサーボ情報の内容やヘッドの位置制御をするプログラムは、第１フェーズの試験／調整プログラムに含まれている。試験／調整プログラムの実行を開始するために、ホスト装置は第１フェーズの試験／調整プログラムを転送したあとに、当該磁気ディスク装置に実行開始のためのコマンドを送ってもよい。あるいはＲＯＭに格納された試験プログラムが、各フェーズの試験／調整プログラムが送られた場合にそれらを認識して自動的に実行するような構成にしておいてもよい。

ブロック３１５で、ホスト装置は磁気ディスク装置＃Ｘにおいて、第１フェーズの試験／調整プログラムの実行が完了したことを検出する。あるいは、磁気ディスク装置＃Ｘにおいて、つぎのフェーズの試験／調整プログラムを要求していることを検出する。ホスト装置は磁気ディスク装置＃Ｘにおいて第１フェーズの試験／調整プログラムの実行を開始されたあと、それが完了するまで新たなコマンドを送ったり、第２フェーズの試験／調整プログラムを送ったりすることはない。これはつづいて順番に転送される第２フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムの実行が開始されたあとについても同様である。

ホスト装置が、磁気ディスク装置＃１ないし＃４においてつぎのフェーズの試験／調整プログラムを要求していることを検出するためには、磁気ディスク装置＃Ｘが完了コマンドをホスト装置に送ってもよく、また、完了したことを磁気ディスク装置＃Ｘがそれぞれのレジスタに設定しホスト装置がそれを参照して行ってもよい。これらの作業は各磁気ディスク装置のＲＯＭに格納されている試験プログラムが行う。

磁気ディスク装置＃Ｘは、第１フェーズの試験／調整プログラムの実行を完了したあとこれをＲＡＭから消去して、つぎの第２フェーズの試験／調整プログラムを受け入れる準備をして待機している。この磁気ディスク装置の動作は第２フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムの実行を完了したあとについても同様である。ブロック３１７でホスト装置は、第１フェーズの試験／調整プログラムの実行を完了した磁気ディスク装置＃Ｘに対して、第２フェーズの試験／調整プログラムを転送する。

第２フェーズの試験／調整プログラムを受け取ってＲＡＭに記憶した磁気ディスク装置＃Ｘは、ブロック３１３と同様に第２フェーズの試験／調整プログラムの実行を開始する。ブロック３１９では、ホスト装置が磁気ディスク装置＃１ないし＃４のそれぞれにおける試験／調整プログラムの実行状況を確認する。実行状況の確認とは、それぞれの磁気ディスク装置が現在どのフェーズの試験／調整プログラムを完了したかを認識したり、あるいはつぎに転送すべき試験／調整プログラムのフェーズ番号を認識したりすることである。

ホスト装置は、磁気ディスク装置＃Ｘがすでに完了している試験／調整プログラムのフェーズ番号を認識してつぎに転送するフェーズを計算したり、磁気ディスク装置＃Ｘがつぎに要求するフェーズ番号を直接レジスタに書き込み、ホスト装置がそれを認識したりして、つぎに転送すべき試験／調整プログラムのフェーズ番号を決定する。この作業は、ホスト装置の試験制御プログラムが行う。ブロック３２１では、ホスト装置が磁気ディスク装置＃１ないし＃４の中から、第ｍフェーズの試験／調整プログラムを完了しているものを検出し、あるいは、第ｍフェーズの試験／調整プログラムを完了して第ｍ＋１フェーズの試験／調整プログラムを要求しているものを検出して、当該磁気ディスク装置＃Ｘに第ｍ＋１フェーズの試験／調整プログラムを転送する。

ブロック３２３では、磁気ディスク装置＃１ないし＃４のそれぞれにおいてつぎに実行する試験／調整プログラムのフェーズ番号が、５かどうかを確認する。フェーズ５は試験／調整プログラムの最後のフェーズである。ｍ＋１＜５ならば、ブロック３１９ないしブロック３２３を繰り返して、ホスト装置から磁気ディスク装置＃１ないし＃４に対して、各磁気ディスク装置がフェーズ５の試験／調整プログラムを要求するようになるまでフェーズ番号の順番に試験／調整プログラムが転送される。

ブロック３２３で磁気ディスク装置＃Ｘがつぎに実行するフェーズ番号であるｍ＋１が５になったと判断した場合は、ホスト装置はブロック３２５で、磁気ディスク装置＃Ｘに対して第５フェーズのコマンド試験を行う。ブロック３２７では、コマンド試験が完了した磁気ディスク装置＃Ｘをデータ伝送路から取り外して、新たな磁気ディスク装置を接続し同様の手順で試験／調整を行う。新たな磁気ディスク装置に対しては、その要求するフェーズ番号に従って順番に各フェーズの試験／調整プログラムが転送される。

［ＡＴＡインターフェースを備える試験制御装置］
つづいて図１４を参照して、図１２および図１３を参照して説明した試験／調整をＡＴＡ磁気ディスク装置に対して行うための試験制御装置３５０について説明する。図１４では、図１２のデータ伝送路を試験制御装置３５０で構成し、試験／調整の対象となるｎ台の子供磁気ディスク装置３４１−１ないし３４１−ｎ（以後、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎとして示す。）と、ホスト装置としての親磁気ディスク装置３４０を接続して試験／調整プログラムの実行環境を構築している。

ＡＴＡの規格では１台のホスト・コントローラに対してマスターとスレーブの２台の磁気ディスク装置しか接続することができない。親磁気ディスク装置３４０に対して試験／調整の対象となる子供磁気ディスク装置を直接接続するとした場合は、２台までしか接続することができない。これではホスト装置として親磁気ディスク装置を利用して大量の磁気ディスク装置を短時間で試験／調整することができなくなる。これは、２台の磁気ディスク装置の試験／調整をしている間、１台の磁気ディスク装置の出荷ができないことに相当し生産量の低下を意味することになるからである。これに対して本実施の形態では、試験制御装置３５０にＡＴＡインターフェースを採用したｎ台（ｎ＞２が可能）の子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎを一度に接続することができるので、１台の親磁気ディスク装置３４０を試験／調整に使用している間に、ｎ台の子供磁気ディスク装置の試験／調整を行うことができる。

親磁気ディスク装置３４０は、試験／調整が完了して製品としてユーザに出荷可能な磁気ディスク装置であるが、ホスト・モードで動作可能に構成されており、ホスト装置として機能する。ホスト・モードでは親磁気ディスク装置が、データ伝送路のバスをみずから制御するバス・マスターとして機能する。本実施の形態では、磁気ディスク装置の動作モードにホスト・モードに対応してデバイス・モードがある

デバイス・モードでは、磁気ディスク装置がバス・マスターの制御によってデータ伝送路のバスにデータを出力したり、バスからデータを入力したりするバス・スレーブとして機能する。デバイス・モードはユーザが使用するときの動作モードであり、ホスト・モードは、試験／調整のために本実施の形態で採用する特別な動作モードである。親磁気ディスク装置３４０は、試験／調整においてはホスト・モードで動作するが、製品として出荷されるときはデバイス・モードで動作するように設定される。ホスト・モードおよびデバイス・モードで動作する磁気ディスク装置の構造およびホスト・モードとデバイス・モードとの切り替えはのちに説明する。

試験制御装置３５０は、親磁気ディスク装置３４０を接続するＡＴＡインターフェース・コネクタ３５１、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎを接続するＡＴＡインターフェース・コネクタ３６９−１ないし３６９−ｎ、バス制御部３５４、バス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎ、および表示パネル３７１を備える。バス制御部３５４は、試験制御装置３５０の動作を制御するプロセッサ（ＣＰＵ）３５３、ＣＰＵ３５３が実行する制御プログラムを格納する不揮発性メモリ（ＲＯＭ）３５７、制御プログラムの一時的な記憶やＣＰＵ３５３の作業領域を提供する揮発性メモリ（ＲＡＭ）３５５が内部バス３６５に接続されている。

親磁気ディスク装置３４０との間で、コマンド、データ、およびプログラムなどを交換するためのＡＴＡレジスタ群や内蔵バッファ等で構成されるインターフェース３６１、バス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎの制御信号を生成するコントローラ３５９も内部バス３６５に接続されている。コントローラ３５９はＣＰＵ３５３により制御される。

インターフェース３６１のＡＴＡレジスタ群には、ビジー（ＢＳＹ）ビット、データ・リクエスト（ＤＲＱ）ビット、エラー（ＥＲＲ）ビット等を有する８ビットのＳｔａｔｕｓレジスタ、８ビットのコマンド・コードを書き込むＣｏｍｍａｎｄレジスタ、デバイス選択（ＤＥＶ）ビットを有する８ビットのＤｅｖｉｃｅ／Ｈｅａｄレジスタ等を含んでいる。

バス制御部３５４は、試験制御装置３５０をマスターまたはスレーブのいずれかに設定するデバイス設定部としてのジャンパ３６３を備えている。ジャンパ３６３はＣＰＵ３５３に接続されている。ジャンパ３６３はジャンパ・ブロックの接続位置を変更することにより、ＣＰＵ３５３に論理的に１となる一定の電位を加えたり、論理的に０となるアース電位を加えたりして試験制御装置３５０がＡＴＡ規格におけるマスターとスレーブのいずれであるかを認識させる。本実施の形態では、試験制御装置３５０をスレーブ（ＩＤ＝１）にするためにジャンパ３６３を論理１に設定している。また、子供磁気ディスク装置＃１〜＃ｎにはすべて同一のジャンパ・ブロックを装着してマスター（ＩＤ＝０）に設定している。

親磁気ディスク装置３４０がインターフェース３６１に設けたＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットを１に設定して試験制御装置３５０にコマンドを送る場合には、ＣＰＵ３５３は、ジャンパ３６３から与えられた論理とＤＥＶビットの論理が一致することを確認して自らがアクセスの対象であることを認識しコマンドを実行する。このとき、クローズ状態のバス・スイッチに対応する子供磁気ディスク装置＃ＸのＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットも１に設定されるが、子供磁気ディスク装置＃Ｘのプロセッサは、ジャンパ・ブロックが設定する論理とＤＥＶビットの論理が一致しないのでそのコマンドを無視する。

親磁気ディスク装置３４０が子供磁気ディスク装置＃Ｘにコマンドを送るために、Ｄｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットを０に設定すると、インターフェース３６１のＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットも０に設定されるが、ＣＰＵ３５３は、ジャンパ３６３の設定を参照して自ら選択されていないことを認識して、そのコマンドを無視する。

ＡＴＡインターフェース・コネクタ３５１にはＡＴＡケーブル３５２の一端が接続されており、他端がインターフェース３６１に接続されている。さらにインターフェース・コネクタ３５１に接続されたＡＴＡケーブル３５２は、途中でｎ個の系統に分岐したあと、それぞれがバス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎに接続されている。バス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎは、それぞれ、ＡＴＡインターフェース・コネクタ３６９−１ないし３６９−ｎに接続されている。コントローラ３５９からはバス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎにそれぞれ制御線３７３が接続されており、制御線３７３に電圧を加えてバス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎの動作を制御することができるようになっている。

コントローラ３５９には、試験／調整プログラムの実行状態を表示する表示パネル３７１が接続されている。実行状態の表示には、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎがそれぞれ現在行っている試験／調整プログラムのフェーズ番号の表示、途中でエラーが発生したときのエラー発生の表示、子供磁気ディスク装置の試験／調整完了を示す表示などを含んでいる。

［ＡＴＡ磁気ディスク装置に対する試験／調整の手順］
つぎに、試験制御装置３５０に親磁気ディスク装置３４０と子供磁気ディスク装置＃１〜＃ｎを接続して子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎの試験／調整を行う方法を、図１５を参照して説明する。親磁気ディスク装置３４０および子供磁気ディスク装置３４１＃１〜＃ｎの構成は、図１で説明した磁気ディスク装置１０とほぼ同様であるため説明を省略する。親磁気ディスク装置および子供磁気ディスク装置は、ＡＴＡインターフェース規格に適合しておりＡＴＡインターフェース・コネクタを備えている。磁気ディスク装置は、本実施の形態にかかる試験／調整が完了して製品として出荷可能な状態にあるときは、第１フェーズから第５フェーズまでの試験／調整プログラムと試験制御プログラムとを磁気ディスクに格納し、ホスト・モードに設定することで親磁気ディスク装置３４０として動作する。磁気ディスク装置はまた、試験／調整を実施する前の状態にあるときは、デバイス・モードに設定することで子供磁気ディスク装置＃Ｘ（以後、＃Ｘの符号はいずれかの子供磁気ディスク装置を示す場合に使用する。）として動作する。

以下の説明において、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎの中で、任意の子供磁気ディスク装置を示すときは子供磁気ディスク装置＃Ｘと表示する。インターフェース・コネクタ３６９−１ないし３６９−ｎ、およびバス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎについてもそれぞれ同様に、３６９−Ｘ、３６７−Ｘと表示する。親磁気ディスク装置３４０および子供磁気ディスク装置＃Ｘの主要な構成は、図１に磁気ディスク装置１０として示したとおりである。図１５において、ブロック５０１ないしブロック５２１は、親磁気ディスク装置３４０が試験／調整を行う手順を示し、ブロック６０１ないしブロック６０５は親磁気ディスク装置３４０の動作に対する試験制御装置３５０の対応する動作を示し、ブロック７０１ないしブロック７０９は親磁気ディスク装置３４０の動作に対する子供磁気ディスク装置の対応する動作を示す。

ブロック５０１で親磁気ディスク装置３４０には、特殊ジャンパ・ブロック５３（図１、図２参照）を装着する。ブロック６０１では試験制御装置のジャンパ３６３をスレーブ（ＩＤ＝１）に設定し、ブロック７０１では子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎには汎用ジャンパ・ブロック６１（図１参照）を装着する。そして、親磁気ディスク装置３４０をインターフェース・コネクタ３５１に接続し、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎをインターフェース・コネクタ３６９−１ないし３６９−ｎに接続してそれぞれの電源を投入する。このときインターフェース・コネクタ３６９−１ないし３６９−ｎのすべてに渡って子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎが接続されている必要はなく、いずれかのインターフェース・コネクタが空きの状態であってもよい。

汎用ジャンパ・ブロック６１は、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎをデバイス・モードで動作させる設定に加えて、マスター（ＩＤ＝０）に設定する構成も備えている。特殊ジャンパ・ブロック５３と汎用ジャンパ・ブロック６１の設定はロジック・ゲート４５を通じてＭＰＵ１２５の状態レジスタに反映される。ＭＰＵ２５は電源の投入時にかならず状態レジスタを参照することになっている。よって、親磁気ディスク装置３４０は電源投入時に、磁気ディスク１１からホスト・モード実行プログラムをＲＡＭ３９に読み出してホスト・モードで動作し、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎは、ＲＯＭに格納されたファームウエアを実行してユーザが使用するときと同じ動作モードのデバイス・モードで動作する。

スレーブに設定された試験制御装置３５０は、以後親磁気ディスク装置３４０によりＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットが１に設定されない限り、送られたコマンドを無視する。マスターに設定された子供磁気ディスク装置＃Ｘは、以後親磁気ディスク装置３４０によりＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットが０に設定されない限り、送られたコマンドを無視する。試験／調整プログラムは、図１２、図１３で説明したのと同様に第１フェーズないし第５フェーズで構成されており、親磁気ディスク装置３４０に設けられた磁気ディスク１１のシステム領域に格納されている。

つづいてブロック５０３で親磁気ディスク装置３４０は、ＡＴＡのデバイス・セレクション・プロトコルを実行して試験制御装置３５０がアイドル状態であるかどうかを確認する。親磁気ディスク装置３４０は、Ｄｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットに１をセットして試験制御装置３５０をアドレス指定し、つづいてＳｔａｔｕｓレジスタのアドレスを指定して試験制御装置のＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットを読み取る。このとき、ＢＳＹビットが０であれば試験制御装置３５０がアイドル状態ということになり、１であればビジー状態ということになる。試験制御装置がビジー状態のときは、それ以後アイドル状態になるまでデバイス・セレクション・プロトコルを繰り返す。

試験制御装置３５０がビジー状態であるときは、バス制御部３５４がバス・スイッチの切り替え作業を行っているため親磁気ディスク装置３４０からのコマンドを受け取ることができない状態になっている場合である。親磁気ディスク装置３４０は試験制御装置３５０がアイドル状態であることを確認したら、ブロック５０５で、インターフェース３６１のＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットを１に設定するようにＡＴＡケーブル３５２に信号を送る。いま、バス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎの中で、バス・スイッチ３６７−ｎだけがクローズで他がオープンになっているとすると、このとき子供磁気ディスク装置＃ｎのＤｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットも１に設定される。

試験制御装置３５０のジャンパ３６３は、あらかじめスレーブとなるように論理１（ＩＤ＝１）に設定されているので、ＣＰＵ３５３は、Ｄｅｖｉｃｅ／ＨｅａｄレジスタのＤＥＶビットとジャンパ３６３の論理状態を照合し自ら選択されたことを認識する。一方、子供磁気ディスク装置＃ｎは、汎用ジャンパ・ブロック６１であらかじめマスターとなるように論理０（ＩＤ＝０）に設定されているので自らが選択されたとは認識せず、送られたコマンドを無視する。

つぎに、親磁気ディスク装置３４０はベンダー特有なＡＴＡコマンドであるＳＷＩＴＣＨコマンドをインターフェース３６１のＣｏｍｍａｎｄレジスタに送る。ＳＷＩＴＣＨコマンドは、ＣＰＵ３５３がＲＯＭ３５７に格納された制御プログラムのもとで実行可能なコマンドである。このとき子供磁気ディスク装置＃ｎのＣｏｍｍａｎｄレジスタにもＳＷＩＴＣＨコマンドが書き込まれるが、子供磁気ディスク装置＃ｎは選択されていないのでこのコマンドを無視する。

ブロック６０３で試験制御装置３５０は、ＳＷＩＴＣＨコマンドを実行してバス・スイッチを切り換える。制御プログラムはバス・スイッチ３６７−１ないし３６７−ｎの中で、かならずいずれか一つだけをクローズにするように構成されている。ＣＰＵ３５３がＳＷＩＴＣＨコマンドを実行するときは、クローズになっているバス・スイッチ３６９−Ｘをオープンにして、その後定められた順番に従って隣接する番号のバス・スイッチ３６９−Ｘ＋１をクローズにするようにコントローラ３５９を制御する。本実施の形態では、３６７−１から３６７−ｎに向かって順番にバス・スイッチを切り替え、さらに３６７−ｎから３６７−１に戻って循環的に切り替えるように制御プログラムが構成されている。

いま、バス・スイッチ３６７−ｎだけがクローズになっているものとすると、コントローラ３５９は、ＣＰＵ３５３の指令に基づいて現在イネーブルになっているバス・スイッチ３６７−ｎに対応する制御線３７３をディスエーブルにし、バス・スイッチ３６７−１に対応する制御線３７３をイネーブルにする。その結果クローズ状態のバス・スイッチの番号が一つ変化したことになり、親磁気ディスク装置３４０と子供磁気ディスク装置＃１との新たな通信経路が確立したことになる。ブロック６０３では、試験制御装置３５０は制御線３７３を切り替えたあとで、インターフェース３６１のＳｔａｔｕｓレジスタに切り替えが完了したこと示すビットを設定し、親磁気ディスク装置３４０はそれを読み取って切り替えが完了したことを認識して子供磁気ディスク装置＃１にアクセスする準備をする。

つづいて、ブロック５０７で親磁気ディスク装置３４０は、インターフェース・コネクタ３６９−１に子供磁気ディスク装置が接続されているか否かを確認する。インターフェース・コネクタ３６９−１に子供磁気ディスク装置が接続されていないと判断したときは、ブロック５０３に戻って、親磁気ディスク装置３４０は試験制御装置３５０に対してデバイス・セレクション・プロトコルを実行したのちＳＷＩＴＣＨコマンドを送って隣接する番号のバス・スイッチ３６９−２に切り換える制御をする。インターフェース・コネクタ３６９−Ｘに子供磁気ディスク装置が接続されているか否かの確認は、子供磁気ディスク装置においてベンダーが定義することが許されているＡＴＡケーブルの信号線をプル・アップしたりプル・ダウンしたりするように構成して、バス・スイッチ３６７−Ｘがクローズになったときに親磁気ディスク装置３４０が当該信号線の有無を確認して行うことができる。

インターフェース・コネクタ３６９−Ｘに子供磁気ディスク装置＃Ｘが接続されている場合はブロック５０９に移行する。ブロック５０９では、親磁気ディスク装置は、Ｄｅｖｉｃｅ／Ｈｅａｄレジスタのアドレスを指定してＤＥＶビットを０に設定することにより子供磁気ディスク装置＃Ｘを選択する。さらに親磁気ディスク装置３４０は、デバイス・セレクション・プロトコルを実行し子供磁気ディスク装置＃Ｘがビジー状態かアイドル状態かを確認する。子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎはすべてスレーブ（ＩＤ＝１）であるが、バス・スイッチ３６７−Ｘだけがクローズになっているので、親磁気ディスク装置３４０は子供磁気ディスク装置＃ＸのＳｔａｔｕｓレジスタだけを参照することになる。

ＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットが１であれば子供磁気ディスク装置＃Ｘはビジー状態であることを意味するので、親磁気ディスク装置３４０は、ブロック５０３に戻って試験制御装置３５０に対してさらにデバイス・セレクション・プロトコルを行ったのちＳＷＩＴＣＨコマンドを送ってバス・スイッチを切り替える。ＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットが０であれば子供磁気ディスク装置＃Ｘはアイドル状態なので、ブロック５１１に移行して親磁気ディスク装置３４０は子供磁気ディスク装置＃Ｘが要求する試験／調整プログラムのフェーズ番号を確認する。

ブロック７０３において、試験／調整の初期段階では子供磁気ディスク装置＃Ｘは、Ｓｔａｔｕｓレジスタに親磁気ディスク装置３４０に対して要求する第１フェーズの試験／調整プログラムを識別するためのビットを設定している。第１フェーズの試験／調整プログラムの実行を完了すると、ＲＡＭから第１フェーズの試験／調整プログラムを消去して、親磁気ディスク装置３４０から第２フェーズの試験／調整プログラムを受け取ってＲＡＭに記憶する準備をしている。そのためにＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットを０に設定してアイドル状態を表明し、Ｓｔａｔｕｓレジスタに親磁気ディスク装置３４０がつぎに転送すべき試験／調整プログラムのフェーズ番号である２を識別するためのビットを設定する。Ｓｔａｔｕｓレジスタに設定するビットは、その時点で完了しているフェーズ番号を示すものでも、つぎに要求するフェーズ番号を示すものでもよい。

各フェーズの試験／調整プログラムの実行時間は、磁気ディスク装置＃Ｘの製造上の特質により変化するので、いずれの子供磁気ディスク装置が最も早く各フェーズの試験／調整プログラムを完了するかは決まっていない。ブロック７０３では、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎは、すでに送られた試験／調整プログラムの実行が完了した場合につぎに要求する試験／調整プログラムのフェーズ番号を示すビットをＳｔａｔｕｓレジスタに設定し、対応するバス・スイッチがクローズになって親磁気ディスク装置３４０により選択されるまで待機している。

親磁気ディスク装置３４０が、Ｓｔａｔｕｓレジスタを参照して子供磁気ディスク装置＃Ｘが要求する試験／調整プログラムのフェーズ番号がｍであることを確認したのちは、ブロック５１３に移行して、フェーズ番号ｍがコマンド試験のフェーズ番号である５かどうかを判断する。フェーズ番号ｍが４以下の場合は、ブロック５１５に移行して親磁気ディスク装置３４０は、子供磁気ディスク装置＃Ｘに第ｍフェーズの試験／調整プログラムを転送し、さらにベンダー特有のＡＴＡコマンドであるＳＴＡＲＴコマンド転送して第ｍフェーズの試験／調整プログラムの実行を開始させる。

ブロック７０５で子供磁気ディスク装置＃Ｘは、第ｍフェーズの試験／調整プログラムを記憶するために磁気ディスクを使用することができない。しかし、第ｍフェーズの試験／調整プログラムはＲＡＭに記憶することができる程度の大きさで構成されており、子供磁気ディスク装置＃ＸのＭＰＵはＲＯＭに格納された試験プログラムを実行して、第ｍフェーズの試験／調整プログラムをＲＡＭに記憶する。さらに、子供磁気ディスク装置＃Ｘは親磁気ディスク装置３４０からＳＴＡＲＴコマンドを受け取って第ｍフェーズの試験／調整プログラムの実行を開始する。子供磁気ディスク装置＃Ｘは、第ｍフェーズの試験／調整プログラムを実行している間、ＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットを１に設定して自らが現在ビジー状態であることを表明する。

親磁気ディスク装置３４０は、子供磁気ディスク装置＃Ｘに対する第ｍフェーズの試験／調整プログラムの転送をしてＳＴＡＲＴコマンドを送ったのちブロック５０３に戻り、他の子供磁気ディスク装置が要求するフェーズ番号の試験／調整プログラムを転送し実行させる。そのために親磁気ディスク装置３４０は、ブロック５０３ないしブロック５１５の手順を繰り返す。具体的には、ＳＷＩＴＣＨコマンドを順番に試験制御装置３５０に送ってバス・スイッチを切り替え、アイドル状態にある子供磁気ディスク装置を検出する。親磁気ディスク装置３４０は、子供磁気ディスク装置がアイドル状態であることを検出した場合は、そのＳｔａｔｕｓレジスタを読み取って、つぎに要求する試験／調整プログラムの番号を認識して転送し、さらにＳＴＡＲＴコマンドを転送する。このとき、インターフェース・コネクタが空いているときや、子供磁気ディスク装置のＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットが１であることを検出したときは、ブロック５０３に戻ってさらにＳＷＩＴＣＨコマンドを試験制御装置３５０に送る。

このようにして、ブロック５０３ないしブロック５１５を通じて試験制御装置３５０に接続された子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎに第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムが順番に転送され、それぞれにおいて実行が開始される。親磁気ディスク装置３４０は、子供磁気ディスク装置＃Ｘが第１フェーズから第４フェーズまでのそれぞれの試験／調整プログラムを実行している間は子供磁気ディスク装置＃Ｘと通信する必要がないため、複数の子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎに試験／調整プログラムを転送して同時に実行させる形式で試験／調整をすることが可能になる。

ブロック５１３において親磁気ディスク装置３４０が、子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎの中で子供磁気ディスク装置＃Ｘがつぎに要求する試験／調整プログラムが第５フェーズであることを検出した場合、ブロック５１７で子供磁気ディスク装置＃Ｘに対してコマンド試験を実行するためのコマンドを転送する。コマンド試験は、親磁気ディスク装置３４０が第５フェーズの試験／調整プログラムを実行してコマンドを子供磁気ディスク装置＃Ｘに転送し各種レジスタの内容を確認したりデータを読み出したりすることにより行う。

コマンド試験において親磁気ディスク装置３４０は、ユーザの使用状態を想定したリード／ライト・コマンドを子供磁気ディスク装置＃Ｘに送り、所定の動作をするかどうかを確認する。たとえば、ライト・コマンドでデータを書き込み、つぎにリード・コマンドで書き込んだデータを読み取る。子供磁気ディスク装置＃Ｘは、ブロック７０７で各コマンドを実行し実行の結果を各種レジスタに設定したり、データをバッファに書き込んだりする。親磁気ディスク装置３４０は、ＳｔａｔｕｓレジスタのＥＲＲ（エラー）ビットを確認したり、Ｅｒｒｏｒレジスタのビットを確認したりして、子供磁気ディスク装置＃Ｘにエラーが発生していないかどうかを確認する。また、書き込んだデータと読み取ったデータを照合して合致するかどうかを確認する。

コマンド試験により、子供磁気ディスク装置＃Ｘのインターフェース系統も含めて、ユーザの使用環境に近い状態での検査をすることができ、品質保証の能力を高めることができる。一つの子供磁気ディスク装置＃Ｘに対するコマンド試験を開始したあとは、それが完了するまで親磁気ディスク装置３４０は試験制御装置３５０にＳＷＩＴＣＨコマンドを発行しない。ブロック５１７のコマンド試験が完了した子供磁気ディスク装置＃Ｘは、製品として完全な機能が付与され出荷できる状態になっている。

ブロック５１９で親磁気ディスク装置３４０は、コマンド試験の完了した子供磁気ディスク装置＃Ｘに対して、自らの磁気ディスクのシステム領域に格納していた試験／調整プログラム、試験制御プログラム、およびホスト・モード実行プログラムを転送する。ブロック７０９で子供磁気ディスク装置＃Ｘはそれらのプログラムを磁気ディスクのシステム領域に格納して試験／調整を完了する。これにより、子供磁気ディスク装置＃Ｘはつぎに新たな親磁気ディスク装置として機能し、他の子供磁気ディスク装置に対して試験／調整を行うことができるようになる。子供磁気ディスク装置＃Ｘを親磁気ディスク装置として利用しないで市場に出荷する場合は、ブロック５１９の手順は必要がない。

試験／調整プログラムの転送が完了するとブロック５２１で親磁気ディスク装置３４０は、ベンダー特有のＡＴＡコマンドであるＣＯＭＰコマンドを試験制御装置３５０に送り、ブロック６０５で試験制御装置５０は、表示パネル７１に試験／調整の完了を表示する。試験制御装置３５０のＣＰＵ３５３は、ＣＯＭＰコマンドを実行することにより現在クローズになっているバス・スイッチの番号３６７−Ｘを認識し、それに対応するＡＴＡインターフェース・コネクタ３６９−Ｘに接続された子供磁気ディスク装置＃Ｘの試験／調整が完了したことを表示パネル３７１に表示するコマンドである。この例では、たとえば「３６７−Ｘ試験／調整完了」と表示する。子供磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎは、個別の識別子をもっていないので、クローズ状態にあるバス・スイッチの番号で特定することになる。

第１フェーズないし第４フェーズの試験／調整プログラムを実行している間に子供磁気ディスク装置＃Ｘにエラーが生じたときは、子供磁気ディスク装置＃Ｘはプログラムの実行を中止してその状態を親磁気ディスク装置３４０に対して表明し、ＳｔａｔｕｓレジスタのＢＳＹビットを０に設定する。エラーが発生したことを親磁気ディスク装置３４０に対して表明するには、ベンダーに対して定義することが許されているＡＴＡケーブルの信号線をプルアップしたりプルダウンしたりするように構成しておき、当該磁気ディスク装置に対応するバス・スイッチがクローズになったとき、親磁気ディスク装置３４０が当該信号線を確認するようにして行うことができる。また、ＳｔａｔｕｓレジスタやＥＲＲＯＲレジスタのビットを設定して表明してもよい。

親磁気ディスク装置３４０が子供磁気ディスク装置＃Ｘにエラーが発生したことを確認したときは、ベンダー特有のＡＴＡコマンドであるＥＲＲＯＲコマンドを試験制御装置３５０に送る。試験制御装置３５０のＣＰＵ３５３は、ＥＲＲＯＲコマンドを実行することにより現在クローズになっているバス・スイッチの番号に対応するインターフェース・コネクタに接続された子供磁気ディスク装置にエラーが発生したと認識し、コントローラ３５９を制御して表示パネル３７１にエラー表示をする。表示パネル３７１のエラー表示は、たとえば「３６７−Ｘエラー」となる。

親磁気ディスク装置３４０は、第１フェーズないし第５フェーズの試験／調整プログラムを子供磁気ディスク装置＃Ｘに転送する際、試験制御装置３５０に転送するフェーズ番号を通知してもよい。これにより、試験制御装置３５０は、転送先の子供磁気ディスク装置＃Ｘを現在クローズになっているバス・スイッチ３６７−Ｘとして認識し、インターフェース・コネクタ３６９−Ｘに接続された子供磁気ディスク装置＃Ｘが当該フェーズ番号の試験／調整プログラムを実行していることを認識することができる。その情報を利用して試験制御装置３５０は、表示パネル３７１にバス・スイッチの番号と転送済みの試験／調整プログラムのフェーズ番号を表示して、磁気ディスク装置＃１ないし＃ｎにおける試験／調整プログラムの実行状況を表示することができる。表示パネル７１の実行状況の表示は、たとえ「３６７−Ｘ フェーズ３」となる。

〈磁気ディスク装置の組み立て完了から出荷までの製造工程の説明〉
［搬送容器の説明］
図１７は、本実施の形態にかかる製造工程で使用する搬送容器８００に組み立てが完了した複数の磁気ディスク装置１０（図１、図２参照）が詰め込まれている状態を示す図である。磁気ディスク装置１０は、ＡＴＡインターフェース規格に準拠している。搬送容器８００は、ユーザへの納入に使用する出荷用搬送ボックスとしての段ボール箱８０１と衝撃吸収材８０３で構成されている。搬送容器８００は、搬送単位の一例として２０台の磁気ディスク装置１０を収納している。衝撃吸収材８０３は、工場からユーザに出荷するまでの衝撃や振動から磁気ディスク装置１０を保護する。

段ボール箱８０１は従来の搬送容器に使用されていたものと変わらないが、衝撃吸収材８０３は、インターフェース・コネクタ４７、ジャンパ・コネクタ５１、および電源コネクタ６３が上向きになった磁気ディスク装置１０を個々に保持するように区切られたスペースを保有している。また、衝撃吸収材８０３の上端面からはインターフェース・コネクタ４７などが取り付けられているエンクロージャの側面８０５、および磁気ディスク１１に平行なエンクロージャの面８０７ａ、８０７ｂ（８０７ｂは図２０参照）の一部が上部に露出している。

衝撃吸収材８０３は導電性材料を添加したプラスチックを内部が中空になるように成型して製作する。衝撃吸収材８０３は導電性を備えることにより、搬送中に静電気が発生しても磁気ディスク装置のエンクロージャとエンクロージャに装着される回路基板との間に電位が生じないようにして静電荷放電で回路基板の半導体素子が損傷することがないようになっている。

衝撃吸収材８０３自体が導電性を備えるようにする代わりに、衝撃吸収材８０３を非導電性の材料で形成し、磁気ディスク装置１０を導電性の袋に入れた状態で衝撃吸収材のスペースに挟んで保持するようにしてもよい。衝撃吸収材８０３には、ＲＦＩＤ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）のタグ８０９が貼り付けられている。

［試験／調整装置の説明］
本実施の形態においては、搬送容器８００が磁気ディスク装置１０の製造工程の中で、組み立てが完了したあとの試験／調整として行われる機能注入の第２の工程と、梱包の第３の工程で使用される。機能注入の工程では、磁気ディスクにセルフ・サーボ・ライト方式でサーボ情報を書き込んだり、制御回路のパラメータの調整をしたりするなどの試験／調整を行うために、ホスト装置と磁気ディスク装置を接続して、ホスト装置から磁気ディスク装置にプログラムを転送し、試験／調整にかかる磁気ディスク装置が自己実行的に受け取ったプログラムを実行して試験／調整を行う。あるいは、ホスト装置と磁気ディスク装置が通信しながらコマンド試験を行う。

このような試験／調整を、搬送容器８００に複数の磁気ディスク装置が収納された状態で行うことができれば、磁気ディスク装置を単体で扱う場合のように物に当てたり落としたりして衝撃を加えるようなことがなくなり歩留まりが向上する。また、製造工程においても複数の磁気ディスク装置１０を搬送容器８００の単位で管理できるようになり、管理情報の簡素化を図ることができる。このような試験／調整を実現する試験／制御装置８２０を図１８〜図２０を参照して説明する。

図１８は試験／調整装置８２０を構成するベース・プレート８２１の平面図で、図１９は試験／調整装置８２０を構成するガイド・プレート８５１の平面図で、図２０はベース・プレート８２１とガイド・プレート８５１を組み合わせた試験／調整装置８２０と搬送容器８２０の断面図である。図２０は、図１８および図１９のＡ−Ａ断面を示している。図１８において、ベース・プレート８２１の表面には、試験制御装置８２３、ホスト側コネクタ８２７、親磁気ディスク装置８２５、およびＲＦＩＤリーダ／ライタ８２９が搭載され、さらに、分離レバー８３５が設けられている。ベース・プレート８２１の裏面には、試験側コネクタ８３１および試験側電源コネクタ８３３がＸ方向にそれぞれ１０個取り付けられ、さらにＹ方向に２列配列して全体で２０セット取り付けられている。なお、図２０で試験側コネクタ８３１および試験側電源コネクタ８３３の参照番号は代表的なものだけに付している。２０個の試験側コネクタ８３１のうち１個をホスト側コネクタ８２７としてもよい。この場合は、親磁気ディスク装置８２５を搬送容器８００の中に収納してホスト側コネクタ８２７に接続する構成となる。

試験制御装置８２３は、図１４で説明した試験制御装置３５０からインターフェース・コネクタ３６９−１ないし３６９−ｎおよびインターフェース・コネクタ３５１を取り除いた構成と同一である。したがって、試験制御装置８２３は、図１４で説明したバス制御部３５４、バス・スイッチ３６７−１−３６７−ｎ、および表示パネル３７１を備えている。試験側コネクタ８３１は、図１４で説明したインターフェース・コネクタ３６９−１ないし３６９−ｎに対応する。親磁気ディスク装置８２５は、図１４で説明した親磁気ディスク装置３４０に対応する。ＲＦＩＤリーダ／ライタ８２９は、試験制御装置８２３の制御部３５４に接続され、ＲＯＭ３５７に記憶されたデータを読み出してタグ８０９（図１７参照）に書き込んだり、タグ８０９に書き込まれたデータを読み取ってＲＯＭ３５７に書き込んだりすることができる。

図１９において、ガイド・プレート８５１はベース・プレート８２１の下に配置され、ベース・プレート８２１を回動できるように回転軸８５９で支持する。ガイド・プレート８５１は、図１７で説明した磁気ディスク装置１０のインターフェース・コネクタ４７および電源コネクタ６３の位置をＸ方向およびＹ方向において、ベース・プレートに取り付けられた試験側コネクタ８３１および試験側電源コネクタ８３３の位置に整合させるために設ける。

ガイド・プレート８５１には、磁気ディスク装置１０のインターフェース・コネクタ４７、および電源コネクタ６３が位置が整合して露出するように貫通開口８５４（図２０参照）が形成されている。貫通開口８５４のＸ方向の縁には、ガイド部８５５と押当部８５３が形成されている。ガイド部８５５は、エンクロージャの磁気ディスクに平行な面８０７ａに接触して磁気ディスク装置１０の位置を規定する。押当部８５３は、エンクロージャの磁気ディスクに平行な面８０７ｂの位置を規定する垂直部と、試験／調整装置８２０を取り外すときに磁気ディスク装置１０が上に移動するのを防ぐ水平部で構成される。

水平部は、磁気ディスク装置１０のインターフェース・コネクタ側の側面８０５に接している。ガイド・プレートの衝撃吸収材８０３側の面には、貫通開口８５４のＸ方向の縁にガイド用傾斜面８５７ａ、８５７ｂが形成され、貫通開口のＹ方向の縁にも同様に傾斜面（図示せず。）が形成されている。貫通開口の周囲に形成された傾斜面により、ガイド・プレート８５１の各貫通開口８５４を各磁気ディスク装置１０の上部に嵌め込んだときに、貫通開口８５４の中に磁気ディスク装置１０のエンクロージャが容易に収まって位置が定まるようになっている。押当部８５３、ガイド部８５５、ガイド用傾斜面、および貫通開口８５４の構造は、他の磁気ディスク装置１０に対応する位置でも同様である。磁気ディスク装置１０は、衝撃吸収材８０３の側壁部８０４ａ、８０４ｂと底部８０４ｃで形成されたスペースに、磁気ディスクに平行な面８０７ａ、８０７ｂおよびインターフェース・コネクタ側の側面８５４と反対の側面８０８が保持されている。

試験／調整装置８２０は、ＡＴＡインターフェース規格の磁気ディスク装置１０の試験／調整に適合するものであるが、本発明の範囲に含む試験／調整装置８２０は、ＳＣＳＩ規格、ファイバー・チャネルの規格を採用した磁気ディスク装置の試験／調整にも適合する。この場合、試験制御装置８２３は必要なく、ホスト側コネクタをＳＣＳＩ伝送路またはファイバー・チャネルのアービトレイティッド・ループまたはファイバー・チャネルのファブリック・スイッチを含む伝送路に接続するように構成すればよい。

［磁気ディスク装置の製造方法の説明］
つぎに、搬送容器８００、および試験／調整装置８２０を使用した磁気ディスク装置１０の製造方法を図２１のフローチャートを参照して説明する。ブロック９０１では、磁気ディスク装置１０の構成要素が周知の方法でベースに組み込まれ、ベース・カバーで蓋をされる。さらに、通信および制御用の半導体素子を実装した回路基板がエンクロージャに取り付けられて磁気ディスク装置１０のハードウエア構成が完成する。

ブロック９０３では、衝撃吸収材８０３のスペースに、たとえば２０台の磁気ディスク装置１０を図１７に示したようにインターフェース・コネクタ４７が上向きになるように保持する。各磁気ディスク装置１０には、汎用ジャンパ・ブロック６１がジャンパ・コネクタ５１に装着されている。前述のとおり、親磁気ディスク装置を搬送容器８００の中に収納する場合は、２０台の磁気ディスク装置のうちの１台に特殊ジャンパ・ブロック５３を装着してホスト・モードで動作させるようにしておく。ブロック９０５では、衝撃吸収材８０３にＲＦＩＤタグ８０９を取り付ける。ブロック９０７では、２０台の磁気ディスク装置１０を保持した衝撃吸収材８０３を段ボール箱８０１に収納する。段ボール箱８０１には、それ以降の出荷までの工程で変更が生ずることのない納入先、装置識別番号、および台数などの情報を記したバーコードを貼り付けてもよい。

ブロック９０９では、搬送容器８００の中に収まっている２０台の磁気ディスク装置１０と試験／調整装置８２０を接続する。具体的には、試験／調整装置８２０のガイド・プレート８５１を磁気ディスク装置１０のインターフェース・コネクタ側から被せて、２０個の貫通開口８５４のそれぞれに各磁気ディスク装置１０が嵌り込んで、試験側コネクタ８３１および試験側電源コネクタ８３３に対してインターフェース・コネクタ４７および電源コネクタ６３の位置を整合させる。このとき、衝撃吸収材８０３の各スペースの中で磁気ディスク装置１０の位置がＸ−Ｙ方向に多少ずれていても、ガイド用傾斜面の作用で磁気ディスク装置のエンクロージャは円滑に貫通開口８５４に嵌り込む。

つづいて、ベース・プレート８２１を回転軸８５９を中心にして回転させて、試験側コネクタ８３１をインターフェース・コネクタ４７に接続し、試験側電源コネクタ８３３を電源コネクタ６３に接続する。親磁気ディスク装置８２５には、ホスト・モードで動作するように特殊ジャンパ・ブロック５３を装着しておく。ブロック９１１では、各磁気ディスクにサーボ情報を書き込むためのプログラムを親磁気ディスク装置８２５から各磁気ディスク装置１０に転送し、各磁気ディスク装置は転送されたプログラムを実行してセルフ・サーボ・ライト方式でサーボ情報を書き込む。

ブロック９１３では、親磁気ディスク装置８２５から他の試験／調整のためのプログラムを転送して各磁気ディスク装置１０に実行させたり、親磁気ディスク装置８２５から各磁気ディスク装置１０に直接コマンドを送ったりして他の試験／調整を行う。ブロック９１１およびブロック９１３を実行する際、親磁気ディスク装置８２５から試験／調整プログラムが転送された磁気ディスク装置１０は、自己実行的にプログラムを実行して試験／調整を行う。したがって、試験／調整プログラムの転送が完了したあとは、試験／調整装置８２０から試験制御装置８２３や親磁気ディスク装置８２５は不要となるので、試験／調整装置８２０を電源を供給する機能だけを備えたものに交換してもよい。

ブロック９１５では、いずれかの磁気ディスク装置において、ブロック９１１またはブロック９１３におけるプログラムの実行に障害があった場合には、試験制御装置８２３からＲＦＩＤリーダ／ライタが情報を受け取り、当該磁気ディスク装置のエラー情報をＲＦＩＤタグに書き込む。また、必要に応じて磁気ディスク装置の試験／調整の進捗に関する情報をＲＦＩＤタグに書き込む。

ＲＦＩＤタグを本発明の製造方法に関連する情報管理に使用すると、従来のバーコード方式に比べて利点がある。たとえば、試験／調整装置８２０を別の機能のものに変更して試験／調整を継続する場合に、それまでの経過をＲＦＩＤタグから変更された試験／調整装置のＲＦＩＤリーダが読み取ってそれ以降の試験／調整に利用することができ、試験／調整の管理がし易くなる。本発明の製造方法は、試験／調整のための専用の搬送ラインを必要とせず、広い空間に磁気ディスク装置を収納した搬送容器８００を多数並べて行うことができる。このような環境下でＲＦＩＤタグを使用すると、各搬送容器８００における試験／調整の進捗状況、エラー発生情報をダイナミックにタグに書き込んでおき、要所に設置したＲＦＩＤリーダで読み取って、タイムリーに在庫管理したりユーザに製造状況を報告したりすることができるという利点もある。また、試験／調整が完了した搬送容器に対してさらにバーコードなどで情報を付加する必要もなく出荷を待つことができる。搬送容器がパレットに積載された状態であっても、必要な情報をＲＦＩＤタグから容易に読み取ることができる。

また、２０台の磁気ディスク装置１０は、試験／調整に失敗した場合を除いて搬送容器８００から取り出されることはないので、ＲＦＩＤタグは衝撃吸収材８０３または段ボール箱８０１のいずれかに１個取り付けるだけで２０台の磁気ディスク装置の製造状況を管理することができる。よって、磁気ディスク装置１０にそれぞれ取り付けるよりもコストの低減を図ることができる。

ブロック９１７では、搬送容器８００から試験／調整装置８２０を取り外す。分離レバー８３５を操作して、分離レバーの下部をガイド・プレート８５１の表面に押し当てて、ガイド・プレート８５１からベース・プレート８２１を引き離し、試験側コネクタ８３１と試験側電源コネクタ８３３を抜き取る。このとき、押当部８５３の水平部が磁気ディスク装置のインターフェース側の側面８０５を押さえて磁気ディスク装置１０が浮き上がるのを防止する。

ブロック９１９では、段ボール箱８０１の蓋をして梱包しユーザに出荷する。ブロック９０１からブロック９１７までの磁気ディスク装置の製造工程では、一旦衝撃吸収材８０３に保持された磁気ディスク装置１０は、出荷されるまで搬送容器８００から取り出されることはなく、物に衝突したり、落下したりして故障する可能性が低くなっている。

本実施の形態にかかる搬送容器８００を使用すると、収納される磁気ディスク装置の動作による発熱を利用して、磁気ディスク装置を高い環境温度で試験することができる。この場合は、搬送容器８００の外側にスカート状にしたビニールを取り付けて覆うことにより簡単に搬送容器の蓄熱効果を高めることができる。高い環境温度で試験をすると、磁気ディスク装置に熱的なストレスを与えて初期の故障原因を検出することができる。たとえば、高温度下では磁気ヘッドにサーマル・プロトリュージョンとして知られている熱膨張が発生し、磁気ヘッドが磁気ディスク表面に付着しているゴミや媒体の凸部に衝突してその部分がデータ記録に使用できなくなる場合がある。高い環境温度で試験をすることにより、あらかじめそのような現象を発生させて磁気ディスクの記録に利用できないセクタを欠陥登録しておけば、出荷後に欠陥が発生することを防止できる。

これまで本発明について図面に示した特定の実施の形態をもって説明してきたが、本発明は図面に示した実施の形態に限定するものではなく、本発明の効果を奏する限り、これまで知られたいかなる構成であっても採用することができることはいうまでもないことである。

本発明の実施の形態に係る磁気ディスク装置の主要な構成を示すブロック図である。 磁気ディスク装置のジャンパ・ブロックおよびジャンパ・コネクタの概要を示す斜視図である。 親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置との間でファイルの直接転送を行うときの接続を示す図である。 親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置との間でファイルの直接転送を行うときの手順を示すフローチャートである。 ホスト・コンピュータから指令を受けて親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置との間でファイルの直接転送を行うときの接続を示す図である。 ホスト・コンピュータから指令を受けて親磁気ディスク装置と子供磁気ディスク装置との間でファイルの直接転送を行うときの手順を示すフローチャートである。 磁気ディスク装置間でのファイルの直接転送によるクローン化を行うときの接続を示す図である。 磁気ディスク装置間でのファイルの直接転送によるクローン化を行うときの手順を示すフローチャートである。 磁気ディスク装置間で最適化／検査処理を実施するための接続を示す図である。 磁気ディスク装置間で最適化／検査処理を実施するときの手順を示すフローチャートである。 ホスト・コンピュータと磁気ディスク装置がファイバー・チャネルまたはファブリック・スイッチで接続されている状態を示す図である。 磁気ディスク装置の試験／調整を行う基本的な実行環境を説明する図である。 試験／調整の基本的な方法を説明するフロー・チャートである。 ＡＴＡ規格に適合する試験制御装置の構成を説明する図である。 試験制御装置を使用して試験／調整する方法を説明するフロー・チャートである。 衝撃吸収材と搬送ボックスで構成された磁気ディスク装置の従来の出荷用搬送容器の斜視図である。 衝撃吸収材と搬送ボックスで構成された磁気ディスク装置の本実施の形態にかかる出荷用搬送容器の斜視図である。 試験／調整装置のベース・プレートの平面図である。 試験／調整装置のガイド・プレートの平面図である。 搬送容器に対する試験／調整装置の取付状態を示す断面図である。 磁気ディスク装置の製造方法を示すフローチャートである。

符号の説明

１０ 磁気ディスク装置
４７ インターフェース・コネクタ
５１ ジャンパ・コネクタ
５３ 特殊ジャンパ・ブロック
６１ 汎用ジャンパ・ブロック
６３ 電源コネクタ
３５０ 試験制御装置
８００ 搬送容器
８０１ 段ボール箱
８０３ 衝撃吸収材
８０５ インターフェース側の側面
８０７ａ、８０７ｂ 磁気ディスクに平行なエンクロージャの面
８０９ ＲＦＩＤのタグ
８２０ 試験／調整装置
８２１ ベース・プレート
８２３ 試験制御装置
８２５ 親磁気ディスク装置
８２７ ホスト側コネクタ
８２９ ＲＦＩＤリーダ／ライタ
８３１ 試験側コネクタ
８３３ 試験側電源コネクタ
８３５ 分離レバー
８５１ ガイド・プレート
８５３ 押当部
８５４ 貫通開口
８５５ ガイド部
８５７ａ、８５７ｂ ガイド用傾斜面
８５９ ベース・プレートの回転軸

Claims (20)

1. インターフェース・コネクタを備える磁気ディスク装置の製造方法であって、
   複数の磁気ディスク装置を前記インターフェース・コネクタが露出するように衝撃吸収材で保持するステップと、
   前記保持された磁気ディスク装置の各インターフェース・コネクタに対応するように配置された複数の試験側コネクタを前記各インターフェース・コネクタに接続するステップと、
   前記試験側コネクタを通じてホスト装置から前記磁気ディスク装置に試験／調整プログラムを転送するステップと、
   前記磁気ディスク装置が前記試験／調整プログラムを実行するステップと
   を有する磁気ディスク装置の製造方法。
2. 前記試験／調整プログラムが前記磁気ディスクにサーボ情報を書き込むプログラムを含む請求項１記載の製造方法。
3. 前記試験／調整プログラムが前記磁気ディスク装置にコマンドを送り前記磁気ディスク装置が前記コマンドを実行するプログラムを含む請求項１記載の製造方法。
4. 前記ホスト装置がホスト・モードで動作する磁気ディスク装置である請求項１記載の製造方法。
5. 前記衝撃吸収材がＲＦＩＤタグを備え、該ＲＦＩＤタグに前記磁気ディスク装置の試験／調整に関する情報を書き込むステップを含む請求項１記載の製造方法。
6. 前記磁気ディスク装置が前記試験／調整プログラムを実行している間、前記磁気ディスク装置と前記衝撃吸収材が出荷用搬送ボックスに収納されている請求項１記載の製造方法。
7. 前記各磁気ディスク装置が試験／調整プログラムの実行を完了した後に、前記磁気ディスク装置を保持している衝撃吸収材を出荷用搬送ボックスに収納して梱包するステップを含む請求項１記載の製造方法。
8. それぞれのインターフェース・コネクタが同一方向に向けて配置された複数の磁気ディスク装置を試験する試験／調整装置であって、
   ベース・プレートと、
   前記ベース・プレートの一方の面に前記各インターフェース・コネクタに対応するように取り付けられそれぞれ前記インターフェース・コネクタに接続することができる複数の試験側コネクタと、
   前記各試験側コネクタに接続されホスト装置に接続可能なように前記ベース・プレートに取り付けられたホスト側コネクタと、
   前記各試験側コネクタの位置に対する前記各インターフェース・コネクタの位置を規定するガイド・プレートと
   を有する試験／調整装置。
9. 複数のバス・スイッチを備えＡＴＡコマンドで動作して前記試験側コネクタと前記ホスト側コネクタを接続する試験制御装置を有する請求項８記載の試験／調整装置。
10. 前記ホスト装置がホスト・モードで動作する磁気ディスク装置である請求項８記載の試験／調整装置。
11. 前記ホスト側コネクタが前記試験側コネクタが取り付けられている前記ベース・プレートの面と同一の面に取り付けられている請求項１０記載の試験／調整装置。
12. 前記ホスト側コネクタがＳＣＳＩ伝送路に接続される請求項８記載の試験／調整装置。
13. 前記ホスト側コネクタがファイバー・チャネルのアービトレイティッド・ループ又はファイバー・チャネルのファブリック・スイッチを含む伝送路に接続される請求項８記載の試験／調整装置。
14. 前記複数の磁気ディスク装置が、インターフェース・コネクタが露出するように衝撃吸収材で保持されている請求項８記載の試験／調整装置。
15. 前記試験側コネクタと前記インターフェース・コネクタを接続するとき前記磁気ディスク装置を保持している衝撃吸収材が前記磁気ディスク装置の出荷用搬送ボックスに収納されている請求項１４記載の試験／調整装置。
16. 前記ガイド・プレートが、前記インターフェース・コネクタから前記試験側コネクタを抜き取るときに前記磁気ディスク装置の浮き上がりを防止する押当部を含む請求項８記載の試験／調整装置。
17. 前記ガイド・プレートが、前記磁気ディスク装置のインターフェース・コネクタが貫通する貫通開口と該貫通開口の周りにガイド用の傾斜面を備える請求項８記載の試験／調整装置。
18. ＲＦＩＤライタを有する請求項８記載の試験／調整装置。
19. ディスク・エンクロージャの側面にインターフェース・コネクタを備える磁気ディスク装置の製造と出荷に使用する搬送容器であって、
    複数の磁気ディスク装置を前記インタフェース・コネクタが上端部から突き出るように保持する衝撃吸収材と、
    前記複数の磁気ディスク装置を保持した前記衝撃吸収材を収納することができる出荷用搬送ボックスと
    を有する搬送容器。
20. 前記衝撃吸収材又は前記出荷用搬送ボックスにＲＦＩＤタグが取り付けられている請求項１９記載の搬送容器。

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