KR100209018B1 - 보조기억장치 테스트용 오븐 - Google Patents

보조기억장치 테스트용 오븐 Download PDF

Info

Publication number
KR100209018B1
KR100209018B1 KR1019960040212A KR19960040212A KR100209018B1 KR 100209018 B1 KR100209018 B1 KR 100209018B1 KR 1019960040212 A KR1019960040212 A KR 1019960040212A KR 19960040212 A KR19960040212 A KR 19960040212A KR 100209018 B1 KR100209018 B1 KR 100209018B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
mixing chamber
air
chamber
oven
auxiliary memory
Prior art date
Application number
KR1019960040212A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19980021393A (ko
Inventor
김진억
성영복
Original Assignee
윤종용
삼성전자주식회사
김진억
주식회사제이오텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자주식회사, 김진억, 주식회사제이오텍 filed Critical 윤종용
Priority to KR1019960040212A priority Critical patent/KR100209018B1/ko
Priority to US08/931,128 priority patent/US5859409A/en
Publication of KR19980021393A publication Critical patent/KR19980021393A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100209018B1 publication Critical patent/KR100209018B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2849—Environmental or reliability testing, e.g. burn-in or validation tests

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

보조기억장치의 품질을 테스트하는데 이용되는 보조기억장치 테스트용 오븐에 관한 내용이 개시되어 있다. 오븐은 에이징실(10)의 상부 및 하부에 설치되는 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)과, 에이징실(10)에 설치되며 에이징실(10)과 통기되는 다수개의 공기구멍이 형성되며 보조기억장치(40)가 고정되는 중공의 지지덕트(50)와, 지지덕트(50)로 송풍시키는 히터가 설치된 열풍기(80)와, 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)로 외부의 공기를 유입시키는 송풍기(90)를 구비하는 것을 특징으로 한다. 이와 같이 특징을 갖는 본 발명에 따른 보조기억장치 테스트용 오븐은 다수개의 보조기억장치가 조밀하게 설치되는 오븐 내에 열풍을 골고루 공급하여 오븐 내의 온도가 고르게 분포될 수 있도록 할 수 있으며, 정확한 온도조절이 가능하다.

Description

보조기억장치 테스트용 오븐
본 발명은 다수개의 보조기억장치가 조밀하게 설치되는 오븐 내에 열풍을 골고루 공급하여 오븐 내의 온도가 고르게 분포될 수 있도록 하고, 정확한 온도조절이 가능한 보조기억장치 테스트용 오븐을 제공하는데 있다.
본 발명은 보조기억장치의 품질을 테스트하는데 이용되는 보조기억장치 테스트용 오븐에 관한 것이다.
일반적으로, 컴퓨터에는 하드디스크드라이브(hard disk drive), 프로피디스크드라이브(floppy disk drive), 씨디롬드라이브(compact disk drive) 등과 같은 보조기억장치가 내장된다. 이러한 보조기억장치는 출고 전에 에이징(aging)을 한다. 에이징은 미리 정해진 가혹한 환경에서 보조기억장치를 테스트하는 방법으로 주로 오븐(oven) 내에서 이루어진다.
상기 오븐에는 다수개의 보조기억장치가 조밀하게 설치되고, 열풍기 및 송풍기가 설치된다. 히터가 함께 설치되어 있는 열풍기는 오븐 내부의 공기를 가열하여 적절히 순환되도록 하여 오븐 내의 온도가 미리 정해진 온도에서 고르게 분포되도록 하는 역할을 하며, 송풍기는 외부의 찬 공기를 내부로 유입시켜 오븐 내부의 온도가 미리 정해진 온도로 유지 되도록 하는 역할을 한다.
상술한 바와 같이, 오븐 내에는 다수개의 보조기억장치가 조밀하게 설치되어 있으므로 열풍기 및 송풍기에 미리 정해진 온도에서 오븐 내의 온도를 고르게 할 수 없을 것이며, 정확한 온도조절이 불가능 할 것이다.
잘 알려진 바와 같이, 오븐 내의 온도 분포가 고르지 못하면 일부 보조기억장치가 원하지 않는 온도에서 테스트됨으로 테스트 결과를 신뢰할 수 없다. 따라서, 제품의 신뢰성에 나쁜 영향을 미칠 것이다.
다수개의 보조기억장치가 조밀하게 설치되는 오븐 내에 열풍을 골고루 공급하여 오븐 내의 온도가 고르게 분포될 수 있도록 하고, 정확한 온도조절이 가능한 보조기억장치 테스트용 오븐을 구현하는데 있다.
도 1은 본 발명에 따른 보조기억장치 테스트용 오븐의 일부 절제 분리사시도이다.
도 2는 도 1의 일부 절제 측면도이다.
도 3은 도 2의 A-A선 단면도이다.
도면의 주요부분에 대한 부호 설명
10...에이징실 11...유리문
12...좌덕트 13...우덕트
20...상부혼합실 30...하부혼합실
40...보조기억장치50...지지덕트
51...손환구멍 61...제1공기구멍
62...제2공기구멍63...제3공기구멍
64...제4공기구멍 65...제5공기구멍
71...제1판블레이드 72...제2판블레이드
80...열풍기 90...송풍기
본 발명에 따른 보조기억장치 테스트용 오븐은 에이징실(10)과, 상기 에이징실(10)의 상부 및 하부에 마련되며 상기 에이징실(10)과 통기되는 제1공기구멍(61)이 형성된 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)과, 상기 상부혼합실(20)에서 하부혼합실(30)에 걸쳐 상기 에이징실(10)에 설치되며 에이징실(10)과 통기되는 다수개 제3공기구멍(63)이 형성되며 보조기억장치(40)가 고정되는 중공의 지지덕트(50)와, 상기 에이징실(10)에 설치되며 외부의 공기와 통기되는 제2공기구멍(62)이 형성되며 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)과 통기되는 제4공기구멍(64)이 형성된 덕트(12,13)와, 상기 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)에 설치되어 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)의 공기를 상기 중공의 지지덕트(50)로 송풍시키는 히터가 설치된 열풍기(80)와, 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)에 설치되어 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30) 공기를 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)에 형성된 제5공기구멍(65)을 통하여 외부로 배출시키거나 외부의 공기를 상기 제5공기구멍(65)을 통하여 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)로 유입시키는 송풍기(90)를 구비하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 열풍기(80)는 상기 하나의 지지덕트(50)에 하나씩 설치되며 상기 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)에 엇갈려 설치되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 송풍기(90)가 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30) 공기를 외부로 송풍할 때 만 상기 제2공기구멍(62)을 통하여 외부의 공기가 유입되도록 제1판블레이드(71)가 설치되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 송풍기(90)가 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30) 공기를 외부로 배출할 때 만 제5공기구멍(65)이 열리도록 하는 제2판블레이드(72)가 설치되는 것을 특징으로 한다.
이와 같이 구비되는 본 발명에 따른 보조기억장치 테스트용 오븐은 다수개의 보조기억장치가 조밀하게 설치되는 오븐 내에 열풍을 골고루 공급하여 오븐 내의 온도가 고르게 분포될 수 있도록 할 수 있으며, 정확한 온도조절이 가능하다.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 보조기억장치 테스트용 오븐을 상세히 설명한다.
도 1을 참조하면, 상기 에이징실(10)의 전면부에는 유리문(11)이 설치되어 있어 내부가 관찰될 수 있도록 되어 있다. 에이징실(10)의 상부 및 하부에는 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)이 마련되어 있으며, 상부혼합실(20)과 에이징실(10) 그리고 하부혼합실(30)과 에이징실(10) 사이에는 제1공기구멍(61)이 형성되어 있다. 에이징실(10)에는 상부혼합실(20)에서 하부혼합실(30)에 걸쳐 고정되어 보조기억장치(40)가 고정되는 다수개의 지지덕트(50)가 설치되며, 지지덕트(50)에는 순환구멍(51)이 형성되어 있다. 이 순환구멍(51)은 다수개 제3공기구멍(63)에 의하여 에이징실(10)과 연결되어 있다.
상기 에이징실(10)의 좌우에는 좌덕트(12) 및 우덕트(13)가 설치되어 있으며, 좌덕트(12) 및 우덕트(13)에는 외부의 공기와 통기되는 제2공기구멍(62)이 형성되며 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)과 통기되는 제4공기구멍(64)이 형성되어 있다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)에는 열풍기(80)가 설치되어 있으며, 하부혼합실(30)에는 송풍기(90)가 더 설치되어 있다. 히터가 설치된 열풍기(80)는 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)의 공기를 가열하여 상기 지지덕트(50)의 순환구멍(51)으로 송풍시키며, 상기 좌우덕트(12,13)를 통하여 유입된 외부의 공기를 상기 지지덕트(50)의 순환구멍(51)으로 송풍시키는 역할을 한다. 상기 송풍기(90)는 하부혼합실(30)에 있는 공기를 외부로 배출하는 역할을 한다.
상기 제2공기구멍(62)에는 상기 송풍기(90)가 상기 하부혼합실(30) 공기를 외부로 송풍할 때 만 제2공기구멍(62)을 통하여 외부의 공기가 유입되도록 제1판블레이드가 설치되어 있다. 즉, 제1판블레이드(71)는 좌우덕트(12,13) 내부의 압력이 낮을 때 만 개방된다.
상기 하부혼합실(30)에는 제5공기구멍(65)이 형성되어 있으며, 이 제5공기구멍(65)에는 송풍기(90)가 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30) 공기를 외부로 배출할 때 만 열리는 제2판블레이드(72)가 설치되어 있다. 즉, 제2판블레이드(72)는 상기 송풍기(90)의 송풍압력에 의하여 개방된다.
도 3을 참조하면, 상기 열풍기(80)는 하나의 지지덕트(50)에 하나씩 설치되며, 상기 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)에 순차적으로 엇갈려 설치된다. 이는 지지덕트(50) 사이에 설치되는 다수개가 조밀하게 설치되는 보조기억장치에 열풍을 골고루 공급하기 위함이다.
상술한 바와 같이 구비되는 본 본명에 따른 보조기억장치 테스트용 오븐은 다음과 같이 작동되어 보조기억장치가 테스트된다.
도 1, 2, 3을 참조하면, 지지덕트(50) 사이에 테스트할 보조기억장치(40)가 설치되고, 유리문(11)이 설치되면, 도시되지 않은 제어기는 에이징실(10)의 온도를 미리 정해진 온도로 높이기 위하여 열풍기(80)를 가동시킨다. 가동되는 열풍기(80)는 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)의 공기를 가열하여 순환구멍(51)으로 송풍시킨다. 순환구멍(51)으로 송풍되는 열풍은 제3공기구멍(63)을 통하여 에이징실(10)로 유입된다. 상기 에이징실(10)로 유입된 공기는 제1공기구멍(61)을 통하여 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)로 유입되면서 순환된다. 따라서, 보조기억장치는 골고루 가열될 수 있다. 이때 제2공기구멍(62) 및 제5공기구멍(65)이 제1블레이드(71) 및 제2블레이드(72)에 의하여 차단되어 있어, 외부의 공기는 에이징실(10)로 유입되지 못한다.
제어기는 에이징실(10)의 온도를 감지하여 적절하면, 상기 보조기억장치(40)를 가동하여 미리 정해진 테스트를 진행하며, 보조기억장치(40)를 가동함에 따라 발생되는 열을 감안하여 상기 열풍기(80)와 송풍기(90)를 제어한다. 즉, 제어기는 열풍기(80)의 설치된 히터의 전류를 조절하거나, 송풍기(90)를 구동 및 정지시켜 에이징실(10)의 온도를 조절한다.
상기 송풍기(90)가 구동되면 하부혼합실(30)의 공기가 외부로 배출되며, 좌우덕트(12,13)의 압력이 낮아진다. 따라서, 제1블레이드는 제2공기구멍(62)을 개방되며, 외부의 공기는 제2공기구멍(62)과 제4공기구멍(64) 통하여 하부혼합실(30)에서 뜨거운 공기와 썩인다. 썩인 공기는 다시 열풍기(80)에 의하여 순환구멍(51)과 제3공기구멍(63)을 통하여 에이징실(10)로 공급된다.
첨부된 참조 도면에 의해 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 단지 일 실시예에 불과하다. 당해 기술 분야에 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 바람직한 실시예를 충분히 이해하여 유사한 형태의 보조기억장치 테스트용 오븐을 구현할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 본 발명의 기술적 사상에 의한 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.
본 발명은 다수개의 보조기억장치가 조밀하게 설치되는 오븐 내에 열풍을 골고루 공급하여 오븐 내의 온도가 고르게 분포될 수 있도록 할 수 있으며, 정확한 온도조절이 가능하다.

Claims (5)

  1. 에이징실(10)과,
    상기 에이징실(10)의 상부 및 하부에 마련되며 상기 에이징실(10)과 통기되는 제1공기구멍(61)이 형성된 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)과,
    상기 상부혼합실(20)에서 하부혼합실(30)에 걸쳐 상기 에이징실(10)에 설치되며 에이징실(10)과 통기되는 다수개 제3공기구멍(63)이 형성되며 보조기억장치가 고정되는 중공의 지지덕트(50)와,
    상기 에이징실(10)에 설치되며 외부의 공기와 통기되는 제2공기구멍(62)이 형성되며 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)과 통기되는 제4공기구멍(64)이 형성된 덕트와,
    상기 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)에 설치되어 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)의 공기를 상기 중공의 지지덕트(50)로 송풍시키는 히터가 설치된 열풍기(80)와,
    상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)에 설치되어 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30) 공기를 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)에 형성된 제5공기구멍(65)을 통하여 외부로 배출시키거나 외부의 공기를 상기 제5공기구멍(65)을 통하여 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30)로 유입시키는 송풍기(90)를 구비하는 것을 특징으로 하는 보조기억장치 테스트용 오븐.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 열풍기(80)는 상기 하나의 지지덕트(50)에 하나씩 설치되며 상기 상부혼합실(20) 및 하부혼합실(30)에 엇갈려 설치되는 것을 특징으로 하는 보조기억장치 테스트용 오븐.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 송풍기(90)가 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30) 공기를 외부로 송풍할 때 만 상기 제2공기밸브를 통하여 외부의 공기가 유입되도록 제1판블레이드(61)가 설치되는 것을 특징으로 하는 보조기억장치 테스트용 오븐.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 송풍기(90)가 상기 상부혼합실(20) 및/또는 하부혼합실(30) 공기를 외부로 배출할 때 만 제5공기구멍(65)이 열리도록 하는 제2판블레이드(72)가 설치되는 것을 특징으로 하는 보조기억장치 테스트용 오븐.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 에이징실(10)에 유리문이 설치되는 것을 특징으로 하는 보조기억장치 테스트용 오븐.
KR1019960040212A 1996-09-16 1996-09-16 보조기억장치 테스트용 오븐 KR100209018B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960040212A KR100209018B1 (ko) 1996-09-16 1996-09-16 보조기억장치 테스트용 오븐
US08/931,128 US5859409A (en) 1996-09-16 1997-09-16 Oven for testing peripheral storage devices

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960040212A KR100209018B1 (ko) 1996-09-16 1996-09-16 보조기억장치 테스트용 오븐

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19980021393A KR19980021393A (ko) 1998-06-25
KR100209018B1 true KR100209018B1 (ko) 1999-07-15

Family

ID=19473951

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960040212A KR100209018B1 (ko) 1996-09-16 1996-09-16 보조기억장치 테스트용 오븐

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5859409A (ko)
KR (1) KR100209018B1 (ko)

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100209017B1 (ko) * 1996-09-16 1999-07-15 윤종용 보조기억장치 테스트장치
US6097001A (en) * 1997-06-30 2000-08-01 Alcatel Portable heating tent and method for testing telecommunications equipment
US6593761B1 (en) * 1997-11-28 2003-07-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Test handler for semiconductor device
US6127663A (en) * 1998-10-09 2000-10-03 Ericsson Inc. Electronics cabinet cooling system
US6526841B1 (en) * 1999-08-02 2003-03-04 Pemstar, Inc. Environmental test chamber and a carrier for use therein
GB9928211D0 (en) * 1999-11-29 2000-01-26 Havant International Ltd Disk drive kit
WO2002087211A2 (en) * 2001-04-25 2002-10-31 Pemstar, Inc. Hard drive test fixture
KR100446691B1 (ko) * 2002-03-28 2004-09-01 주식회사 제이오텍 테스트용 오븐
TW577542U (en) * 2002-10-23 2004-02-21 Quanta Comp Inc Thermal testing control system
US7232101B2 (en) * 2003-11-26 2007-06-19 Pemstar, Inc. Hard drive test fixture
US20050225338A1 (en) * 2004-03-31 2005-10-13 Sands Richard L Hard drive test fixture
US7233159B2 (en) * 2004-06-02 2007-06-19 Emc Corporation Ergonomic, rotatable electronic component testing apparatus
US7996174B2 (en) * 2007-12-18 2011-08-09 Teradyne, Inc. Disk drive testing
US8549912B2 (en) 2007-12-18 2013-10-08 Teradyne, Inc. Disk drive transport, clamping and testing
US20090153993A1 (en) * 2007-12-18 2009-06-18 Teradyne, Inc. Disk Drive Testing
US8238099B2 (en) * 2008-04-17 2012-08-07 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for disk drive testing systems
US8102173B2 (en) * 2008-04-17 2012-01-24 Teradyne, Inc. Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit
US8160739B2 (en) * 2008-04-17 2012-04-17 Teradyne, Inc. Transferring storage devices within storage device testing systems
US20110123301A1 (en) * 2008-04-17 2011-05-26 Scott Noble Bulk feeding storage devices to storage device testing systems
US7945424B2 (en) * 2008-04-17 2011-05-17 Teradyne, Inc. Disk drive emulator and method of use thereof
US8095234B2 (en) * 2008-04-17 2012-01-10 Teradyne, Inc. Transferring disk drives within disk drive testing systems
US20090262455A1 (en) 2008-04-17 2009-10-22 Teradyne, Inc. Temperature Control Within Disk Drive Testing Systems
US8041449B2 (en) * 2008-04-17 2011-10-18 Teradyne, Inc. Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems
US8305751B2 (en) * 2008-04-17 2012-11-06 Teradyne, Inc. Vibration isolation within disk drive testing systems
US7848106B2 (en) * 2008-04-17 2010-12-07 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US8117480B2 (en) 2008-04-17 2012-02-14 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within disk drive testing systems
CN102112887B (zh) * 2008-06-03 2015-06-10 泰拉丁公司 处理存储设备
US8628239B2 (en) 2009-07-15 2014-01-14 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US8547123B2 (en) * 2009-07-15 2013-10-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system with a conductive heating assembly
US8687356B2 (en) * 2010-02-02 2014-04-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US8116079B2 (en) 2009-07-15 2012-02-14 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US8466699B2 (en) 2009-07-15 2013-06-18 Teradyne, Inc. Heating storage devices in a testing system
US7920380B2 (en) 2009-07-15 2011-04-05 Teradyne, Inc. Test slot cooling system for a storage device testing system
US7995349B2 (en) 2009-07-15 2011-08-09 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
US8687349B2 (en) 2010-07-21 2014-04-01 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
US9001456B2 (en) 2010-08-31 2015-04-07 Teradyne, Inc. Engaging test slots
TWI416137B (zh) * 2010-10-15 2013-11-21 Well Handle Technology Co Ltd 電子零件之轉接式測試設備
US9459312B2 (en) 2013-04-10 2016-10-04 Teradyne, Inc. Electronic assembly test system
US11226390B2 (en) 2017-08-28 2022-01-18 Teradyne, Inc. Calibration process for an automated test system
US10845410B2 (en) 2017-08-28 2020-11-24 Teradyne, Inc. Automated test system having orthogonal robots
US10948534B2 (en) 2017-08-28 2021-03-16 Teradyne, Inc. Automated test system employing robotics
US10725091B2 (en) 2017-08-28 2020-07-28 Teradyne, Inc. Automated test system having multiple stages
US10983145B2 (en) 2018-04-24 2021-04-20 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US10775408B2 (en) 2018-08-20 2020-09-15 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
CN109884500A (zh) * 2019-02-28 2019-06-14 西安易朴通讯技术有限公司 老化测试柜
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US12007411B2 (en) 2021-06-22 2024-06-11 Teradyne, Inc. Test socket having an automated lid
CN115826640A (zh) * 2021-09-17 2023-03-21 致茂电子股份有限公司 温度控制系统、温度控制方法以及具备该系统的影像传感器测试设备

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA472862A (en) * 1951-04-10 Wild-Barfield Electric Furnaces Furnaces
US4455478A (en) * 1981-11-17 1984-06-19 Sunset Ltd. Portable unit for heating packaged food
US4967155A (en) * 1988-04-08 1990-10-30 Micropolis Corporation Environmentally controlled media defect detection system for Winchester disk drives
US5103168A (en) * 1988-10-27 1992-04-07 Grumman Aerospace Corporation Stress testing equipment with an integral cooling plenum
JPH03146884A (ja) * 1989-11-02 1991-06-21 Mitsubishi Electric Corp バーンイン装置
US5184068A (en) * 1990-09-24 1993-02-02 Symtek Systems, Inc. Electronic device test handler
CA2073899A1 (en) * 1991-07-19 1993-01-20 Tatsuya Hashinaga Burn-in apparatus and method
FR2697717B1 (fr) * 1992-10-29 1994-12-16 Thomson Csf Dispositif de réchauffage de cartes électroniques.
US5582235A (en) * 1994-08-11 1996-12-10 Micro Control Company Temperature regulator for burn-in board components
JP2876106B2 (ja) * 1995-01-31 1999-03-31 タバイエスペック株式会社 バーンイン用複合体及び複合体使用バーンイン装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5859409A (en) 1999-01-12
KR19980021393A (ko) 1998-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100209018B1 (ko) 보조기억장치 테스트용 오븐
US20080053123A1 (en) Cooling air flow control valve for burn-in system
CA2427260A1 (en) Heated proofing cabinet
US3636307A (en) Electric artificial fireplace
GB2105459A (en) Dual function cooking oven
JPH0348780A (ja) バーンイン装置及びバーンイン装置の温度制御方法
JPH0727818A (ja) 半導体試験装置
KR200146080Y1 (ko) 가스 오븐 렌지의 오븐 조리실 냉각 장치
KR930002593B1 (ko) 가열처리장치
KR200308144Y1 (ko) 인삼건조장치
KR100445256B1 (ko) 열풍건조장치
KR100446691B1 (ko) 테스트용 오븐
JP2005257564A (ja) バーンイン装置
KR200203317Y1 (ko) 열풍 순환 건조기의 열풍 순환장치
JP2565021Y2 (ja) 熱処理炉
KR950000931B1 (ko) 온풍난방기
JP2000046339A (ja) 調理器
KR20000008059U (ko) 가스조리기의 탑케이스 데코레이션부 냉각구조
JPS61144580A (ja) バ−ンイン試験装置の温度制御方法
JP2001012869A (ja) バッチ式熱処理装置
JPH0645913Y2 (ja) 冷熱衝撃試験装置
JPS6021383Y2 (ja) 熱処理炉
JPS62280525A (ja) 冷暖房機
KR100787503B1 (ko) 천정형 공기조화기
KR19990003822A (ko) 전자렌지의 열풍순환장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120405

Year of fee payment: 14

LAPS Lapse due to unpaid annual fee