JP2019513663A - 2つの領域を含む応力プロファイルを含むガラス系物品および製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Fmax=7.854・D・h
式中、
Fmax=ニュートン単位の力
D=円板の直径
h=光路の厚さ
である。加えられるそれぞれの力の場合、応力は、以下のように計算される。
σMPa=8F/(π・D・h)
式中、
F=ニュートン単位の力
D=円板の直径
h=光路の厚さ
である。
応力(x)=MaxCT−(((MaxCT・(n+1))/0.5n)・|(x/t)−0.5|n) (1)
によって概算することができる。式(1)中、応力(x)は、位置xにおける応力値である。ここで、応力は正(張力)である。MaxCTは、MPaの単位の正の値としての最大中央張力である。値xは、厚さ(t)に沿った位置であり、0〜tの範囲であり、x=0は一方の表面(図3の302)であり、x=0.5tはガラス系物品の中央であり、応力(x)=MaxCTであり、x=tは反対にある表面(図3の304)である。式(1)に使用されるMaxCTは、約50MPa〜約80MPa(例えば、約60MPa〜約80MPa、約70MPa〜約80MPa、約50MPa〜約75MPa、約50MPa〜約70MPa、または約50MPa〜約65MPa)の範囲内であり得、nは1.5〜5(例えば、2〜4、2〜3、または1.8〜2.2)のフィッティングパラメーターであり、これにより、n=2では放物線の応力プロファイルを得ることができ、n=2から逸脱する指数では、ほぼ放物線応力プロファイルを有する応力プロファイルが得られる。
貯蔵引張エネルギー(J/m2)=[(1−ν)/E]∫(σ^2)(dt) (2)
で計算され、式中、νは、ポアソン比であり、Eは、ヤング率(単位MPa)であり、σは、応力(単位MPa)であり、および積分は、引張領域のみの厚さ(単位マイクロメートル)にわたって計算される。
E=mgL{1−cosβ}
拡散率=DOL^2/5.6×T (4)
を用いて計算され、式中、DOLは、イオン交換層の深さであり、およびTは、そのDOLに到達するのに要するIOX時間である。
第1の表面および第1の表面の反対にある第2の表面であって、0.1mm〜2mmの範囲内の厚さ(t)を画定する第1の表面および第2の表面と、
厚さ(t)に沿って延在する応力プロファイルと
を含むガラス系物品であって、
約0・t〜最大0.020・tおよび0.98・t超の第1の厚さ範囲内の応力プロファイルの少なくとも1つの点は、約−200MPa/マイクロメートル〜約−25MPa/マイクロメートルまたは約200MPa/マイクロメートル〜約25MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含み、
約0.035・t〜0.965・t未満の第2の厚さ範囲内の応力プロファイルの全ての点は、約−15MPa/マイクロメートル〜約15MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含み、
応力プロファイルは、約200MPa〜約1100MPaの表面CSを含み、
応力プロファイルは、約0.1・t〜0.25・tの範囲のDOCを含む、ガラス系物品に関する。いくつかの実施形態では、約0・t〜最大0.020・tおよび0.98・t超の第1の厚さ範囲内の応力プロファイルの全ての点は、約−200MPa/マイクロメートル〜約−25MPa/マイクロメートルまたは約200MPa/マイクロメートル〜約25MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含む。いくつかの実施形態では、第2の厚さ範囲の場合の言及される傾きは、約0.1・t〜0.9・t、または0.15・t〜0.85・t、または0.2・t〜0.8・t、または0.22・t〜0.78・t、または0.24・t〜0.76・t、または0.26・t〜0.74・t、または0.28・t〜0.72・t、または0.3・t〜0.7・t、または0.35・t〜0.65・t、または0.4・t〜0.6・t、または0.45・t〜0.55・tの範囲内であり得る。
いくつかの実施形態では、第2のステップの有効拡散時間は、第1のステップの拡散時間の1/20〜1/2、例えば1/20〜1/3、または1/20〜1/4である。
実施例1A〜1Gは、約63.46モル%のSiO2、15.71モル%のAl2O3、6.37モル%のLi2O、10.69モル%のNa2O、0.06モル%のMgO、1.15モル%のZnO、2.45モル%のP2O5、および0.04モル%のSnO2の公称組成を有するガラス基材を含んだ。ガラス基材は0.8mmの厚さを有する。実施例1A〜1Gのガラス基材は、100%NaNO3を含み、約390℃の温度を有する溶融塩浴中において、表2に示される条件によりイオン交換した。結果として得られたガラス系物品は、図5のイオン交換時間の関数としてプロットされる最大CT値を示した。
実施例2Aは、実施例1と同じ組成および0.8mmの厚さを有するガラス基材を含んだ。ガラス基材は、51%のKNO3および49%のNaNO3を含み、約380℃の温度を有する1つの溶融塩浴中で3.75時間のイオン交換を行った。結果として得られたガラス系物品は、表4に記載の応力プロファイルを示した。
実施例3Aは、実施例1と同じ組成および0.8mmの厚さを有するガラス基材を含んだ。比較例3Bは、比較例2Gと同じ組成および0.8mmの厚さを有するガラス基材を含んだ。実施例3Aのガラス基材は、表6に記載されるように1つの浴を用いる1ステップで化学強化した。比較例3Bのガラス基材は、表6に記載されるように2ステッププロセスでイオン交換した。
57.5モル%のSiO2、16.5モル%のAl2O3、16.7モル%のNa2O、2.5モル%のMgO、および6.5モル%のP2O5の公称組成、および約0.4mm、0.55mm、または1mmの厚さを有するガラス基材に対して化学強化を行った。厚さおよび化学強化の条件を表7に示す。
表8に示される公称組成および約0.8mmの厚さを有するガラス基材について、それぞれNaNO3とNaSO4との混合物および500℃の温度を含む溶融塩浴中で15分(比較例5A)および16時間(実施例5B)の化学強化を行った。
実施例6A〜6Dは、本開示の1つ以上の実施形態による、ベースガラス中に約10モル%のNa2Oおよび6モル%のLi2Oを有するガラス基材を含んだ。例えば、公称組成は、約63.46モル%のSiO2、15.71モル%のAl2O3、6.37モル%のLi2O、10.69モル%のNa2O、0.06モル%のMgO、1.15モル%のZnO、2.45モル%のP2O5、および0.04モル%のSnO2を有する。これらのガラス基材は0.8mmの厚さを有する。実施例6A〜6Dのガラス基材は、溶融塩浴中において、表9に示される条件を含むイオン交換を行い、「SIOX」は1つのイオン交換を意味し、「DIOX」は二重イオン交換を意味する。
実施例7A、および比較例7B〜7Dは、本開示の1つ以上の実施形態による、0.8mmの厚さを有し、64モル%のSiO2、15モル%のAl2O3、2.4モル%のB2O3、9.2モル%のNa2O、5.9モル%のLi2O、1.2モル%のZnO、2.5モル%のP2O5、0.05モル%のSnO2の公称組成を有し、NaNO3およびKNO3の3つの異なる混合物を使用するガラス基材を含んだ。実施例7A〜7Dのガラス基材は、表19に示される条件を含む溶融塩浴中でイオン交換され、結果として得られた性質もその表に列挙している。
厚さ(t)に沿って延在する応力プロファイルと
を含むガラス系物品であって、
約0・t〜最大0.020・tおよび0.98・t超の第1の厚さ範囲内の応力プロファイルの少なくとも1つの点は、約−200MPa/マイクロメートル〜約−25MPa/マイクロメートルまたは約25MPa/マイクロメートル〜約200MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含み、
約0.035・t〜0.965・t未満の第2の厚さ範囲内の応力プロファイルの全ての点は、約−15MPa/マイクロメートル〜約15MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含み、
応力プロファイルは、約200MPa〜約1100MPaの表面CSを含み、
応力プロファイルは、約0.1・t〜0.25・tの範囲のDOCを含む、ガラス系物品。
厚さ(t)に沿って延在する応力プロファイルと
を含むガラス系物品であって、
約0・t〜最大0.020・tおよび0.98・t超の第1の厚さ範囲内の応力プロファイルの少なくとも1つの点は、約−200MPa/マイクロメートル〜約−25MPa/マイクロメートルまたは約25MPa/マイクロメートル〜約200MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含み、
応力プロファイルは、約200MPa〜約1100MPaの表面CSを含み、
応力プロファイルは、約0.05・t〜0.25・tの範囲のDOCを含む、ガラス系物品。
ガラス系基材を、ナトリウムイオンおよびカリウムイオンの混合物を含む第1の浴中に第1の時間にわたって保持することにより、第1のIOXステップを行うステップと、
第1のIOXステップ後、ガラス系基材を、ナトリウムイオンおよびカリウムイオンの混合物を含む第2の浴中に第2の時間にわたって保持することにより、第2のIOXステップを行って、ガラス系基材中に応力プロファイルを形成するステップであって、応力プロファイルは、CS領域およびCT領域を有する、ステップと
を含み、
第2の浴は、第1の浴のNa:Kモル比の1/3〜1/10であるNa:Kのモルを有する、方法。
前面、背面、および側面を有するハウジングと、
ハウジング内に少なくとも部分的に設けられた電気部品であって、少なくともコントローラ、メモリおよびディスプレイを含み、ディスプレイは、ハウジングの前面またはその付近に設けられる、電気部品と、
ディスプレイの上に配置されるカバー基材と
を含み、
ハウジングの一部またはカバー基材の少なくとも1つは、実施形態1〜45または61〜67のいずれか1つのガラス系物品を含む、消費者用電子製品。
Claims (36)
- 第1の表面および前記第1の表面の反対にある第2の表面であって、0.1mm〜2mmの範囲内の厚さ(t)を画定する第1の表面および第2の表面と、
前記厚さ(t)に沿って延在する応力プロファイルと
を含むガラス系物品において、
約0・t〜最大0.020・tおよび0.98・t超の第1の厚さ範囲内の前記応力プロファイルの少なくとも1つの点は、約−200MPa/マイクロメートル〜約−25MPa/マイクロメートルまたは約25MPa/マイクロメートル〜約200MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含み、
約0.035・t〜0.965・t未満の第2の厚さ範囲内の前記応力プロファイルの全ての点は、約−15MPa/マイクロメートル〜約15MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含み、
前記応力プロファイルは、約200MPa〜約1100MPaの表面CSを含み、
前記応力プロファイルは、約0.1・t〜0.25・tの範囲のDOCを含むことを特徴とするガラス系物品。 - 前記第1の厚さ範囲は、約0.02・tから最大0.025・tまでかつ0.975・t超から0.98・tまで拡大され、および前記拡大された第1の厚さ範囲内の前記応力プロファイルの少なくとも1つの点は、約−200MPa/マイクロメートル〜約−25MPa/マイクロメートルまたは約25MPa/マイクロメートル〜約200MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含むことを特徴とする、請求項1に記載のガラス系物品。
- 前記第1の厚さ範囲は、約0.025・tから最大0.035・tまでかつ0.965・t超から最大約0.975・tまでさらに拡大され、および前記第1の厚さ範囲の前記さらなる拡大における前記応力プロファイルの少なくとも1つの点は、約−200MPa/マイクロメートル〜約−25MPa/マイクロメートルまたは約25MPa/マイクロメートル〜約200MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含むことを特徴とする、請求項2に記載のガラス系物品。
- 前記さらに拡大された第1の厚さ範囲内の前記応力プロファイルの少なくとも1つの点は、約−170MPa/マイクロメートル〜約−30MPa/マイクロメートルまたは約30MPa/マイクロメートル〜約170MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含むことを特徴とする、請求項3に記載のガラス系物品。
- 0・t〜最大0.3・tの厚さにわたり、前記応力プロファイルは、最小の傾きを含む接線および最大の傾きを含む接線をさらに含み、前記最大の傾きと前記最小の傾きとの間の差は、3.5MPa/マイクロメートル以下であることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 約0・t〜約0.3・tおよび0.7・t超の厚さ間の前記応力プロファイルの全ての点は、約−0.1MPa/マイクロメートル未満であるかまたは約0.1MPa/マイクロメートルを超える接線を含むことを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記第1の厚さ範囲にわたって延在するカリウムDOLをさらに含むことを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記第2の厚さ範囲内の前記応力プロファイルは、冪指数を有する冪乗則プロファイルを形成し、前記冪指数は、約1.2〜3.2であることを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 約2〜約20モル%のLi2Oを含む中心面と、
厚さ(t)に沿って延在する応力プロファイルと
を含むガラス系物品において、
約0・t〜最大0.020・tおよび0.98・t超の第1の厚さ範囲内の前記応力プロファイルの少なくとも1つの点は、約−200MPa/マイクロメートル〜約−25MPa/マイクロメートルまたは約25MPa/マイクロメートル〜約200MPa/マイクロメートルの傾きを有する接線を含み、
前記応力プロファイルは、約200MPa〜約1100MPaの表面CSを含み、
前記応力プロファイルは、約0.05・t〜0.25・tの範囲のDOCを含むことを特徴とするガラス系物品。 - 第1の表面および前記第1の表面の反対にある第2の表面であって、0.1mm〜2mmの範囲内の厚さ(t)を画定する第1の表面および第2の表面をさらに含むことを特徴とする、請求項9に記載のガラス系物品。
- 約0.5モル%〜約10モル%のP2O5を含む組成を含むことを特徴とする、請求項9または10に記載のガラス系物品。
- 前記中心面は、約0.5モル%〜約20モル%のNa2Oを含む組成をさらに含むことを特徴とする、請求項9〜11のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記中心面は、約2モル%〜約10モル%のLi2Oを含む組成をさらに含むことを特徴とする、請求項9〜12のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 0・t〜最大0.3・tの厚さにわたり、前記応力プロファイルは、最小の傾きを含む接線および最大の傾きを含む接線をさらに含み、前記最大の傾きと前記最小の傾きとの間の差は、3.5MPa/マイクロメートル以下であることを特徴とする、請求項9〜13のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 約0・t〜約0.3・tおよび0.7・t超の厚さ間の前記応力プロファイルの全ての点は、約−0.1MPa/マイクロメートル未満であるかまたは約0.1MPa/マイクロメートルを超える接線を含むことを特徴とする、請求項9〜14のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記第1の厚さ範囲にわたって延在するカリウムDOLをさらに含むことを特徴とする、請求項9〜15のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記表面CSは、約690MPa〜950MPaの範囲であることを特徴とする、請求項9〜16のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記第2の厚さ範囲内の前記応力プロファイルは、冪指数を有する冪乗則プロファイルを形成し、前記冪指数は、約1.2〜3.4であることを特徴とする、請求項9〜17のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 強化ガラス系基材のヌープ引っ掻き閾値は、10Nを超えることを特徴とする、請求項1〜18のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記強化ガラス系基材の前記ヌープ引っ掻き閾値は、16N未満であることを特徴とする、請求項19に記載のガラス系物品。
- 前記強化ガラス系基材は、180グリット研磨材を用いる表面衝突閾値試験に準拠して400N以上の力で前記第1および第2の主面の一方に衝突された場合、40%〜100%の残存率を有することを特徴とする、請求項1〜20のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記強化ガラス系基材は、30グリット研磨材を用いる端部衝突閾値試験に準拠して300N超〜500N未満の端部衝撃または0.68J超〜1.58J未満の端部衝撃で残存し得ることを特徴とする、請求項1〜21のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 前記第1の表面から、前記第1の表面と前記第2の表面との間の点における値まで減少し、かつ前記値から前記第2の表面まで増加する金属酸化物の濃度をさらに含むことを特徴とする、請求項1〜21のいずれか一項に記載のガラス系物品。
- 消費者用電子製品において、
前面、背面、および側面を有するハウジングと、
前記ハウジング内に少なくとも部分的に設けられた電気部品であって、少なくともコントローラ、メモリおよびディスプレイを含み、前記ディスプレイは、前記ハウジングの前記前面またはその付近に設けられる、電気部品と、
前記ディスプレイの上に配置されるカバー基材と
を含み、
前記ハウジングの一部または前記カバー基材の少なくとも1つは、請求項1〜23のいずれか一項に記載のガラス系物品を含むことを特徴とする消費者用電子製品。 - 第1の主面と、第2の主面と、前記第1および第2の主面間に垂直に延在する平均厚さtと、前記第1および第2の主面間に延在する端部とを含むガラス系基材を化学強化する方法において、
前記ガラス系基材を、ナトリウムイオンおよびカリウムイオンの混合物を含む第1の浴中に第1の時間にわたって保持することにより、第1のIOXステップを行うステップと、
前記第1のIOXステップ後、前記ガラス系基材を、ナトリウムイオンおよびカリウムイオンの混合物を含む第2の浴中に第2の時間にわたって保持することにより、第2のIOXステップを行って、前記ガラス系基材中に応力プロファイルを形成するステップであって、前記応力プロファイルは、CS領域およびCT領域を有する、ステップと
を含み、
前記第2の浴は、前記第1の浴のNa:Kモル比の1/3〜1/10であるNa:Kのモル比を有することを特徴とする方法。 - イオン交換の両方のステップは、Na含有塩およびK含有塩の両方を含む浴中で完了され、前記第1の浴中のKイオンに対するNaイオンの比は、前記第2の浴中のKイオンに対するNaイオンの比の2.5〜800倍であり、および800であることを特徴とする、請求項25に記載の方法。
- 前記第2の浴は、0.03〜0.4である、Kに対するNaのモル比を有することを特徴とする、請求項25または26に記載の方法。
- 前記第2のIOXステップの有効拡散時間は、前記第1のステップの有効拡散時間の1/20〜1/2であることを特徴とする、請求項25〜27のいずれか一項に記載の方法。
- DOLspは、(i)前記厚さが1〜1.3mmである場合に前記厚さの0.5〜1.5%であり、(ii)前記厚さが0.8〜1mmである場合に厚さの0.6〜2%であり、(iii)前記厚さが0.65〜0.8mmである場合に前記厚さの0.7〜2.5%であり、(iv)前記厚さが0.5〜0.65mmである場合に前記厚さの0.9〜3%であり、および(v)前記厚さが0.3〜0.5mmである場合に1〜3%であることを特徴とする、請求項25〜28のいずれか一項に記載の方法。
- 0.1・t以上であるDOCを特徴とする、請求項25〜29のいずれか一項に記載の方法。
- 前記CT領域内の前記応力プロファイルは、冪指数を有する冪乗則プロファイルを含み、前記冪指数は、1〜3.4であることを特徴とする、請求項25〜30のいずれか一項に記載の方法。
- 前記強化ガラス系基材のヌープ引っ掻き閾値は、10Nを超えることを特徴とする、請求項25〜31のいずれか一項に記載の方法。
- 前記強化ガラス系基材の前記ヌープ引っ掻き閾値は、16N未満であることを特徴とする、請求項32に記載の方法。
- 前記強化ガラス系基材は、180グリット研磨材を用いる表面衝突閾値試験に準拠して400N以上の力で前記第1および第2の主面の一方に衝突された場合、40%〜100%の残存率を有することを特徴とする、請求項25〜33のいずれか一項に記載の方法。
- 前記強化ガラス系基材は、30グリット研磨材を用いる端部衝突閾値試験に準拠して300N超〜500N未満の端部衝撃または0.68J超〜1.58J未満の端部衝撃で残存し得ることを特徴とする、請求項25〜34のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第2のIOXステップ後の前記ガラス系物品の表面CSは、600MPa以上であることを特徴とする、請求項25〜35のいずれか一項に記載の方法。
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