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  1. 基板上にモリブデン膜を形成し、
    前記モリブデン膜の表面に酸化モリブデン膜を形成し、
    前記酸化モリブデン膜上に非金属無機膜を形成し、
    前記非金属無機膜上に有機化合物膜を形成し、
    前記有機化合物膜上に非晶質半導体膜を形成し、
    前記非晶質半導体膜を用いて半導体素子を形成した後、前記非金属無機膜、前記有機化合物膜、及び前記半導体素子を含む積層体を前記基板から剥離することを特徴とする半導体装置の作製方法。
  2. 基板上にモリブデン膜を形成し、
    前記モリブデン膜の表面に酸化モリブデン膜を形成し、
    前記酸化モリブデン膜上に非金属無機膜を形成し、
    前記非金属無機膜上に有機化合物膜を形成し、
    前記有機化合物膜上に有機化合物を有する半導体膜を形成し、
    前記有機化合物を有する半導体膜を用いて半導体素子を形成した後、前記非金属無機膜、前記有機化合物膜、及び前記半導体素子を含む積層体を前記基板から剥離することを特徴とする半導体装置の作製方法。
  3. 基板上にモリブデン膜を形成し、
    前記モリブデン膜の表面に酸化モリブデン膜を形成し、
    前記酸化モリブデン膜上に非金属無機膜を形成し、
    前記非金属無機膜上に有機化合物膜を形成し、
    前記有機化合物膜上に第1電極を形成し、
    前記第1電極上に発光層を形成し、
    前記発光層上に第2電極を形成し、
    前記第2の電極上に可撓性基板を貼り付けた後、前記非金属無機膜、前記有機化合物膜、前記第1電極、前記発光層、前記第2電極、及び可撓性基板を含む積層体を前記基板から剥離することを特徴とする半導体装置の作製方法。
  4. 基板上にモリブデン膜を形成し、
    前記モリブデン膜の表面に酸化モリブデン膜を形成し、
    前記酸化モリブデン膜上に非金属無機膜を形成し、
    前記非金属無機膜上に有機化合物膜を形成し、
    前記有機化合物膜上に印刷法により導電層を印刷した後焼成し、
    前記導電層半導体部品を貼り付けた後、前記非金属無機膜、前記有機化合物膜、及び前記導電層を含む積層体、並びに前記半導体部品を前記基板から剥離することを特徴とする半導体装置の作製方法。
  5. 基板上にモリブデン膜を形成し、
    前記モリブデン膜の表面に酸化モリブデン膜を形成し、
    前記酸化モリブデン膜上に非金属無機膜を形成し、
    前記非金属無機膜上に有機化合物膜を形成し、
    前記有機化合物膜上に印刷法により導電層を印刷した後焼成し、
    前記非金属無機膜、前記有機化合物膜、及び前記導電層を含む積層体を前記基板から剥離した後、前記導電層に半導体部品を接続することを特徴とする半導体装置の作製方法。
  6. 請求項4または5において、前記導電層は、アンテナであることを特徴とする半導体装置の作製方法。
  7. 請求項1乃至6のいずれか一において、前記有機化合物膜は、180℃以上500℃未満の加熱により形成することを特徴とする半導体装置の作製方法。
  8. 請求項1乃至7のいずれか一において、剥離する前に部分的にレーザ光を照射することを特徴とする半導体装置の作製方法。
  9. 請求項1乃至8のいずれか一において、前記基板は、ガラス基板、セラミックス基板、或いは石英基板であることを特徴とする半導体装置の作製方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7166319B2 (ja) 2008-11-07 2022-11-07 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置

Families Citing this family (94)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5163641B2 (ja) * 2007-02-27 2013-03-13 富士通セミコンダクター株式会社 半導体記憶装置、半導体記憶装置の製造方法、およびパッケージ樹脂形成方法
JP5388500B2 (ja) 2007-08-30 2014-01-15 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US8120497B2 (en) * 2007-11-06 2012-02-21 Merrick Systems, Inc. RFID transponder enclosure for harsh environments
US20090135366A1 (en) * 2007-11-26 2009-05-28 World Properties, Inc. PDLC with thermally transferred electrode
US7829971B2 (en) * 2007-12-14 2010-11-09 Denso Corporation Semiconductor apparatus
US20090193676A1 (en) * 2008-01-31 2009-08-06 Guo Shengguang Shoe Drying Apparatus
WO2009104371A1 (ja) * 2008-02-20 2009-08-27 シャープ株式会社 フレキシブル半導体基板の製造方法
EP2172977A1 (en) 2008-10-03 2010-04-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP2011003522A (ja) 2008-10-16 2011-01-06 Semiconductor Energy Lab Co Ltd フレキシブル発光装置、電子機器及びフレキシブル発光装置の作製方法
TWI574423B (zh) * 2008-11-07 2017-03-11 半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置和其製造方法
JP2010129785A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 光電変換装置の製造方法
US8742531B2 (en) * 2008-12-08 2014-06-03 Arizona Board Of Regents, Acting For And On Behalf Of Arizona State University Electrical devices including dendritic metal electrodes
JP4894910B2 (ja) * 2009-01-15 2012-03-14 株式会社デンソー 半導体装置の製造方法及び半導体装置並びにその半導体装置を内蔵する多層基板
US8247276B2 (en) * 2009-02-20 2012-08-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Thin film transistor, method for manufacturing the same, and semiconductor device
JP5545970B2 (ja) * 2009-03-26 2014-07-09 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びその作製方法
JP2011009704A (ja) * 2009-05-26 2011-01-13 Seiko Epson Corp 薄膜装置、薄膜装置を備えた可撓性回路基板、及び薄膜装置の製造方法
WO2011002046A1 (en) * 2009-06-30 2011-01-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
EP2315375A1 (fr) * 2009-07-07 2011-04-27 Gemalto SA Dispositif indicateur de champ radiofréquence et procédé de fabrication
EP2284922A1 (en) * 2009-08-06 2011-02-16 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Method of manufacturing an opto-electric device
KR101149433B1 (ko) * 2009-08-28 2012-05-22 삼성모바일디스플레이주식회사 플렉서블 표시 장치 및 그 제조 방법
CN102024410B (zh) 2009-09-16 2014-10-22 株式会社半导体能源研究所 半导体装置及电子设备
US9024312B2 (en) 2009-09-30 2015-05-05 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Substrate for flexible device, thin film transistor substrate for flexible device, flexible device, substrate for thin film element, thin film element, thin film transistor, method for manufacturing substrate for thin film element, method for manufacturing thin film element, and method for manufacturing thin film transistor
KR101155900B1 (ko) * 2009-11-10 2012-06-20 삼성모바일디스플레이주식회사 무기막, 상기 무기막을 포함하는 표시 장치 및 그 제조 방법
KR101084230B1 (ko) * 2009-11-16 2011-11-16 삼성모바일디스플레이주식회사 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법
CN102074616B (zh) * 2009-11-19 2013-03-27 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 一种选择性发射极太阳能电池的制备方法
JP2011233858A (ja) * 2010-04-09 2011-11-17 Dainippon Printing Co Ltd 薄膜素子用基板の製造方法、薄膜素子の製造方法、薄膜トランジスタの製造方法、薄膜素子、および薄膜トランジスタ
US8634228B2 (en) * 2010-09-02 2014-01-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Driving method of semiconductor device
JP5852874B2 (ja) * 2010-12-28 2016-02-03 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP5872912B2 (ja) * 2011-01-21 2016-03-01 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
US9054160B2 (en) 2011-04-15 2015-06-09 International Business Machines Corporation Interconnect structure and method for fabricating on-chip interconnect structures by image reversal
US8900988B2 (en) 2011-04-15 2014-12-02 International Business Machines Corporation Method for forming self-aligned airgap interconnect structures
US8890318B2 (en) 2011-04-15 2014-11-18 International Business Machines Corporation Middle of line structures
JP5990745B2 (ja) * 2011-05-31 2016-09-14 株式会社Joled 接合体の製造方法及び接合体
CN102629609A (zh) 2011-07-22 2012-08-08 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制作方法、液晶面板、显示装置
CN102903829B (zh) * 2011-07-26 2015-01-07 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管光源装置
US20130062732A1 (en) 2011-09-08 2013-03-14 International Business Machines Corporation Interconnect structures with functional components and methods for fabrication
JP2013069769A (ja) * 2011-09-21 2013-04-18 Ulvac Japan Ltd Tft基板の製造方法およびレーザーアニール装置
US20130115426A1 (en) * 2011-11-09 2013-05-09 Au Optronics Corporation Method of manufacturing flexible electronic device
KR101300791B1 (ko) * 2011-12-15 2013-08-29 한국생산기술연구원 전자빔 조사를 이용한 몰리브덴 박막의 전도도 향상 방법
US9087753B2 (en) 2012-05-10 2015-07-21 International Business Machines Corporation Printed transistor and fabrication method
US9252390B2 (en) * 2012-08-07 2016-02-02 Joled Inc. Production method for joined body, and joined body
KR20140029202A (ko) 2012-08-28 2014-03-10 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치
KR102161078B1 (ko) * 2012-08-28 2020-09-29 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 그 제작 방법
US9625764B2 (en) 2012-08-28 2017-04-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device
JP5993666B2 (ja) * 2012-09-03 2016-09-14 国立大学法人埼玉大学 積層体の製造方法
KR101989001B1 (ko) * 2012-09-07 2019-06-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN102955312B (zh) * 2012-11-14 2015-05-20 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制作方法、显示装置
JP6151158B2 (ja) 2012-11-28 2017-06-21 信越化学工業株式会社 透明酸化物電極用表面修飾剤、表面修飾された透明酸化物電極、及び表面修飾された透明酸化物電極の製造方法
TWI705861B (zh) * 2013-08-30 2020-10-01 日商半導體能源研究所股份有限公司 支撐體供應裝置及供應支撐體的方法
KR102218573B1 (ko) * 2013-09-30 2021-02-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법
KR102132697B1 (ko) 2013-12-05 2020-07-10 엘지디스플레이 주식회사 휘어진 디스플레이 장치
JP2015108735A (ja) * 2013-12-05 2015-06-11 旭硝子株式会社 電子デバイスの製造方法
KR20150127367A (ko) * 2014-05-07 2015-11-17 삼성전자주식회사 개구 매립 방법 및 이를 이용한 상변화 메모리 소자의 제조 방법
CN104051496B (zh) * 2014-06-04 2017-07-14 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 一种柔性显示器及其制作方法
JP6311901B2 (ja) * 2014-06-26 2018-04-18 株式会社Joled 薄膜トランジスタ及び有機el表示装置
JP6603486B2 (ja) 2014-06-27 2019-11-06 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の作製方法
DE202014103821U1 (de) * 2014-07-09 2014-09-09 Carmen Diegel Flexible elektrische Leiterstruktur
JP6250490B2 (ja) * 2014-07-17 2017-12-20 富士フイルム株式会社 導電性フィルム、タッチパネル付き表示装置
DE102014110268B4 (de) * 2014-07-22 2017-11-02 Osram Oled Gmbh Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Bauelements
KR102256084B1 (ko) * 2014-08-04 2021-05-25 엘지디스플레이 주식회사 플렉서블 표시장치 및 이의 제조방법
KR102296917B1 (ko) 2014-09-15 2021-09-02 삼성디스플레이 주식회사 플렉서블 디스플레이 장치 및 그 제조방법
KR102328677B1 (ko) * 2014-10-17 2021-11-19 삼성디스플레이 주식회사 플렉서블 디스플레이 장치 및 그 제조방법
CN107111970B (zh) 2014-10-28 2021-08-13 株式会社半导体能源研究所 显示装置、显示装置的制造方法及电子设备
CN111477657B (zh) 2014-10-28 2024-03-05 株式会社半导体能源研究所 功能面板、功能面板的制造方法、模块、数据处理装置
CN104362077A (zh) * 2014-10-31 2015-02-18 华南理工大学 一种衬底与基板分离工艺、柔性显示器件及其制备工艺
KR102456654B1 (ko) 2014-11-26 2022-10-18 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치 및 전자 기기
EP3070741B1 (en) * 2015-03-18 2020-07-29 Emberion Oy An apparatus comprising a sensor arrangemenet and associated fabrication method
CN104788900A (zh) * 2015-03-31 2015-07-22 苏州市鼎立包装有限公司 一种电绝缘性包装材料及其制备方法
JP6748635B2 (ja) * 2015-04-20 2020-09-02 パイクリスタル株式会社 アクティブマトリクスアレイ装置の製造方法とこれにより製造されたアクティブマトリクスアレイ装置
KR102385339B1 (ko) * 2015-04-21 2022-04-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 제조 방법
KR102469186B1 (ko) 2015-04-30 2022-11-21 삼성디스플레이 주식회사 플렉서블 유기 발광 표시 장치 및 플렉서블 유기 발광 표시 장치의 제조 방법
WO2017007554A2 (en) * 2015-06-09 2017-01-12 Georgia Tech Research Corporation Devices with organic semiconductor layers electrically-doped over a controlled depth
KR102427672B1 (ko) * 2015-08-11 2022-08-02 삼성디스플레이 주식회사 플렉서블 디스플레이 장치 및 그 제조방법
JP6654466B2 (ja) * 2015-08-31 2020-02-26 株式会社Joled 半導体装置、表示装置、表示装置の製造方法および電子機器
JP6784969B2 (ja) * 2015-10-22 2020-11-18 天馬微電子有限公司 薄膜デバイスとその製造方法
JP2017134329A (ja) * 2016-01-29 2017-08-03 株式会社 オルタステクノロジー 液晶表示装置及びその製造方法
KR102480052B1 (ko) * 2016-06-09 2022-12-23 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 트랜지스터
CN106098939A (zh) * 2016-08-26 2016-11-09 武汉华星光电技术有限公司 激光无损剥离柔性基板的方法
CN106356472A (zh) * 2016-10-18 2017-01-25 武汉华星光电技术有限公司 Oled器件制作方法及oled器件
KR102527366B1 (ko) * 2016-10-19 2023-05-02 삼성디스플레이 주식회사 표시 모듈의 박리 방법 및 표시 모듈의 제조 방법
CN108242424B (zh) * 2016-12-26 2019-09-03 京东方科技集团股份有限公司 柔性面板的制作方法、柔性面板及显示装置
CN106711348B (zh) * 2016-12-29 2020-05-12 上海天马微电子有限公司 一种柔性有机发光显示面板的制备方法及显示装置
CN110249711B (zh) * 2017-02-02 2022-04-22 日本先锋公司 光装置
CN106991956A (zh) * 2017-06-05 2017-07-28 京东方科技集团股份有限公司 一种像素电路及其驱动方法和其制备方法、显示装置
WO2019003417A1 (ja) * 2017-06-30 2019-01-03 シャープ株式会社 可撓性表示装置及び可撓性表示装置の製造方法
CN108190941B (zh) * 2017-12-31 2020-05-12 乐清海创智能科技有限公司 稀磁半导体及其制备方法
WO2019146636A1 (ja) * 2018-01-23 2019-08-01 日本板硝子株式会社 被膜付き基板及び被膜付き基板の製造方法
KR20190137458A (ko) * 2018-06-01 2019-12-11 삼성전자주식회사 Led를 이용한 디스플레이 모듈 제조방법
CN109087936A (zh) * 2018-08-24 2018-12-25 京东方科技集团股份有限公司 一种柔性显示基板的制备方法
WO2020065710A1 (ja) * 2018-09-25 2020-04-02 シャープ株式会社 表示装置
CN109904198B (zh) * 2019-02-22 2021-11-02 京东方科技集团股份有限公司 一种器件及制作方法、显示面板及制作方法和显示装置
CN111487826A (zh) * 2020-05-12 2020-08-04 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板及其制作方法、显示终端
KR20230055875A (ko) 2021-10-19 2023-04-26 엘지디스플레이 주식회사 표시 장치
US11908723B2 (en) * 2021-12-03 2024-02-20 International Business Machines Corporation Silicon handler with laser-release layers

Family Cites Families (77)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06250745A (ja) 1993-02-25 1994-09-09 Toto Ltd 湯水混合装置
JP3364081B2 (ja) 1995-02-16 2003-01-08 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP3406727B2 (ja) 1995-03-10 2003-05-12 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US5757456A (en) 1995-03-10 1998-05-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method of fabricating involving peeling circuits from one substrate and mounting on other
KR100481994B1 (ko) 1996-08-27 2005-12-01 세이코 엡슨 가부시키가이샤 박리방법,박막디바이스의전사방법,및그것을이용하여제조되는박막디바이스,박막집적회로장치및액정표시장치
USRE38466E1 (en) 1996-11-12 2004-03-16 Seiko Epson Corporation Manufacturing method of active matrix substrate, active matrix substrate and liquid crystal display device
US6127199A (en) 1996-11-12 2000-10-03 Seiko Epson Corporation Manufacturing method of active matrix substrate, active matrix substrate and liquid crystal display device
JP2000243943A (ja) * 1999-02-23 2000-09-08 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造方法
JP4727024B2 (ja) * 2000-07-17 2011-07-20 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP4869471B2 (ja) * 2000-07-17 2012-02-08 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP4747401B2 (ja) 2000-08-07 2011-08-17 凸版印刷株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法
JP2002082627A (ja) * 2000-09-07 2002-03-22 Sony Corp 表示装置
JP3757840B2 (ja) * 2000-11-30 2006-03-22 セイコーエプソン株式会社 半導体チップ実装基板、電気光学装置、液晶装置、エレクトロルミネッセンス装置及び電子機器
TWI221645B (en) * 2001-01-19 2004-10-01 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing a semiconductor device
US6743488B2 (en) * 2001-05-09 2004-06-01 Cpfilms Inc. Transparent conductive stratiform coating of indium tin oxide
JP4244120B2 (ja) 2001-06-20 2009-03-25 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びその作製方法
TW548860B (en) 2001-06-20 2003-08-21 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method of manufacturing the same
US7211828B2 (en) 2001-06-20 2007-05-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic apparatus
TW564471B (en) * 2001-07-16 2003-12-01 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device
JP4527068B2 (ja) * 2001-07-16 2010-08-18 株式会社半導体エネルギー研究所 剥離方法、半導体装置の作製方法、及び電子書籍の作製方法
JP4027740B2 (ja) 2001-07-16 2007-12-26 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP4163225B2 (ja) * 2001-09-17 2008-10-08 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置及び発光装置
KR100944886B1 (ko) * 2001-10-30 2010-03-03 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치의 제조 방법
US6953735B2 (en) * 2001-12-28 2005-10-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for fabricating a semiconductor device by transferring a layer to a support with curvature
JP4391126B2 (ja) 2002-05-15 2009-12-24 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の作製方法
TWI263339B (en) 2002-05-15 2006-10-01 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method for manufacturing the same
JP2004047975A (ja) * 2002-05-17 2004-02-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 積層体の転写方法及び半導体装置の作製方法
DE60325669D1 (de) 2002-05-17 2009-02-26 Semiconductor Energy Lab Verfahren zum Transferieren eines Objekts und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements
TWI272641B (en) * 2002-07-16 2007-02-01 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing a semiconductor device
US6821811B2 (en) * 2002-08-02 2004-11-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Organic thin film transistor and method of manufacturing the same, and semiconductor device having the organic thin film transistor
JP2004079291A (ja) 2002-08-13 2004-03-11 Matsushita Electric Works Ltd 有機電界発光素子
JP4185341B2 (ja) 2002-09-25 2008-11-26 パイオニア株式会社 多層バリア膜構造、有機エレクトロルミネッセンス表示パネル及び製造方法
JP4290953B2 (ja) 2002-09-26 2009-07-08 奇美電子股▲ふん▼有限公司 画像表示装置、有機el素子および画像表示装置の製造方法
JP4408044B2 (ja) * 2003-01-15 2010-02-03 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の作製方法
JP4138672B2 (ja) 2003-03-27 2008-08-27 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の製造方法
JP2005079395A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Seiko Epson Corp 積層体及びその製造方法、電気光学装置、電子機器
JP2005085705A (ja) 2003-09-10 2005-03-31 Seiko Epson Corp 電気デバイス及びその製造方法、電子機器
JP4403399B2 (ja) * 2003-09-19 2010-01-27 ソニー株式会社 表示装置および表示装置の製造方法
JP2005093329A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Sony Corp 表示素子およびこれを用いた表示装置
JP4295588B2 (ja) 2003-09-22 2009-07-15 大日本印刷株式会社 反射防止ガスバリア性基板
JP2005111702A (ja) 2003-10-03 2005-04-28 Dainippon Printing Co Ltd ガスバリア性基材とディスプレイ用基板および有機elディスプレイ
CN100477240C (zh) * 2003-10-06 2009-04-08 株式会社半导体能源研究所 半导体器件以及制造该器件的方法
CN100489569C (zh) 2003-10-28 2009-05-20 株式会社半导体能源研究所 制作光学膜的方法
US7084045B2 (en) * 2003-12-12 2006-08-01 Seminconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
JP4836445B2 (ja) * 2003-12-12 2011-12-14 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US7994617B2 (en) 2004-02-06 2011-08-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP4989854B2 (ja) * 2004-02-06 2012-08-01 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US7586171B2 (en) * 2004-04-14 2009-09-08 Yong Cao Organic electronic device comprising conductive members and processes for forming and using the organic electronic device
JP2005340455A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Seiko Epson Corp 実装構造体、電気光学装置、および電子機器
US7217949B2 (en) 2004-07-01 2007-05-15 International Business Machines Corporation Strained Si MOSFET on tensile-strained SiGe-on-insulator (SGOI)
KR101254277B1 (ko) 2004-07-30 2013-04-15 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 라미네이팅 시스템, ic 시트, ic 시트 두루마리, 및ic 칩의 제조방법
US7927971B2 (en) 2004-07-30 2011-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
JP4749074B2 (ja) * 2004-07-30 2011-08-17 株式会社半導体エネルギー研究所 Icチップの作製方法及び装置
JP5041686B2 (ja) * 2004-07-30 2012-10-03 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜集積回路の剥離方法および半導体装置の作製方法
US8040469B2 (en) 2004-09-10 2011-10-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, method for manufacturing the same and apparatus for manufacturing the same
JP4954515B2 (ja) 2004-09-10 2012-06-20 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法
JP2006114493A (ja) * 2004-09-17 2006-04-27 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
JP5008289B2 (ja) * 2004-09-24 2012-08-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法、剥離方法
KR101150996B1 (ko) 2004-09-24 2012-06-08 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체장치 제조방법
KR100700013B1 (ko) * 2004-11-26 2007-03-26 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광소자 및 그의 제조 방법
US7449372B2 (en) * 2004-12-17 2008-11-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing method of substrate having conductive layer and manufacturing method of semiconductor device
JP5046529B2 (ja) * 2005-02-25 2012-10-10 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2006255918A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Toray Ind Inc 光学用フィルム積層体
JP4624152B2 (ja) * 2005-03-24 2011-02-02 富士フイルム株式会社 プラスチックフィルム、ガスバリアフィルム、およびそれを用いた画像表示素子
JP2006265383A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Fuji Photo Film Co Ltd 樹脂組成物、それを用いたフィルムおよび画像表示装置
US7687372B2 (en) * 2005-04-08 2010-03-30 Versatilis Llc System and method for manufacturing thick and thin film devices using a donee layer cleaved from a crystalline donor
US7485511B2 (en) 2005-06-01 2009-02-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Integrated circuit device and method for manufacturing integrated circuit device
JP5210501B2 (ja) * 2005-06-01 2013-06-12 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US8269227B2 (en) * 2005-06-09 2012-09-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic device
JP2007012781A (ja) * 2005-06-29 2007-01-18 Alps Electric Co Ltd 回路基板の製造方法及び回路基板及び表示装置
JP2007012411A (ja) * 2005-06-30 2007-01-18 Canon Inc 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ及びその製造方法
JP4785447B2 (ja) * 2005-07-15 2011-10-05 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
EP1760798B1 (en) * 2005-08-31 2012-01-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP5224676B2 (ja) 2005-11-08 2013-07-03 キヤノン株式会社 表示装置の製造方法
FR2893750B1 (fr) * 2005-11-22 2008-03-14 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'un dispositif electronique flexible du type ecran comportant une pluralite de composants en couches minces.
US8900970B2 (en) 2006-04-28 2014-12-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing a semiconductor device using a flexible substrate
KR100838066B1 (ko) * 2006-07-14 2008-06-16 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7166319B2 (ja) 2008-11-07 2022-11-07 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置

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