JP2004079291A - 有機電界発光素子 - Google Patents
有機電界発光素子 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004079291A JP2004079291A JP2002236070A JP2002236070A JP2004079291A JP 2004079291 A JP2004079291 A JP 2004079291A JP 2002236070 A JP2002236070 A JP 2002236070A JP 2002236070 A JP2002236070 A JP 2002236070A JP 2004079291 A JP2004079291 A JP 2004079291A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sealing film
- inorganic sealing
- resin
- film
- inorganic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 200
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 96
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 96
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 29
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 claims description 16
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 claims description 13
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 13
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000007259 addition reaction Methods 0.000 claims description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 23
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 abstract description 23
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 abstract description 23
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 14
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 239000010408 film Substances 0.000 description 207
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 49
- 239000000463 material Substances 0.000 description 18
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- -1 quinoline metal complex Chemical class 0.000 description 11
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 9
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 8
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 7
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 6
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 6
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 5
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 5
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N fluorene Chemical compound C1=CC=C2CC3=CC=CC=C3C2=C1 NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 4
- WCPAKWJPBJAGKN-UHFFFAOYSA-N oxadiazole Chemical compound C1=CON=N1 WCPAKWJPBJAGKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZCQWOFVYLHDMMC-UHFFFAOYSA-N Oxazole Chemical compound C1=COC=N1 ZCQWOFVYLHDMMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 150000003852 triazoles Chemical class 0.000 description 3
- ONKCIMOQGCARHN-UHFFFAOYSA-N 3-methyl-n-[4-[4-(3-methylanilino)phenyl]phenyl]aniline Chemical compound CC1=CC=CC(NC=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC(NC=3C=C(C)C=CC=3)=CC=2)=C1 ONKCIMOQGCARHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N Butadiene Chemical compound C=CC=C KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N Thiophene Chemical compound C=1C=CSC=1 YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- VPUGDVKSAQVFFS-UHFFFAOYSA-N coronene Chemical compound C1=C(C2=C34)C=CC3=CC=C(C=C3)C4=C4C3=CC=C(C=C3)C4=C2C3=C1 VPUGDVKSAQVFFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N cyclopentadiene Chemical compound C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 2
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 2
- BBEAQIROQSPTKN-UHFFFAOYSA-N pyrene Chemical compound C1=CC=C2C=CC3=CC=CC4=CC=C1C2=C43 BBEAQIROQSPTKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- NGQSLSMAEVWNPU-YTEMWHBBSA-N 1,2-bis[(e)-2-phenylethenyl]benzene Chemical class C=1C=CC=CC=1/C=C/C1=CC=CC=C1\C=C\C1=CC=CC=C1 NGQSLSMAEVWNPU-YTEMWHBBSA-N 0.000 description 1
- FKASFBLJDCHBNZ-UHFFFAOYSA-N 1,3,4-oxadiazole Chemical compound C1=NN=CO1 FKASFBLJDCHBNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 1,4,4-triphenylbuta-1,3-dienylbenzene Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(C=1C=CC=CC=1)=CC=C(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 KLCLIOISYBHYDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJCVRFUGPWSIIH-UHFFFAOYSA-N 1-naphthol Chemical compound C1=CC=C2C(O)=CC=CC2=C1 KJCVRFUGPWSIIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GUPMCMZMDAGSPF-UHFFFAOYSA-N 1-phenylbuta-1,3-dienylbenzene Chemical compound C=1C=CC=CC=1[C](C=C[CH2])C1=CC=CC=C1 GUPMCMZMDAGSPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YTQQIHUQLOZOJI-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydro-1,2-thiazole Chemical compound C1NSC=C1 YTQQIHUQLOZOJI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MUNFOTHAFHGRIM-UHFFFAOYSA-N 2,5-dinaphthalen-1-yl-1,3,4-oxadiazole Chemical compound C1=CC=C2C(C3=NN=C(O3)C=3C4=CC=CC=C4C=CC=3)=CC=CC2=C1 MUNFOTHAFHGRIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C=12C=CC3=C(C=4C=CC=CC=4)C=C(C)N=C3C2=NC(C)=CC=1C1=CC=CC=C1 STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 2-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n,2-n-triphenylbenzene-1,2-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)=C1 HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MGADZUXDNSDTHW-UHFFFAOYSA-N 2H-pyran Chemical compound C1OC=CC=C1 MGADZUXDNSDTHW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CAAMSDWKXXPUJR-UHFFFAOYSA-N 3,5-dihydro-4H-imidazol-4-one Chemical compound O=C1CNC=N1 CAAMSDWKXXPUJR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MWKLOMOIKCPLOY-UHFFFAOYSA-N 3,5-dinaphthalen-1-yl-1h-1,2,4-triazole Chemical compound C1=CC=C2C(C3=NN=C(N3)C=3C4=CC=CC=C4C=CC=3)=CC=CC2=C1 MWKLOMOIKCPLOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GOLORTLGFDVFDW-UHFFFAOYSA-N 3-(1h-benzimidazol-2-yl)-7-(diethylamino)chromen-2-one Chemical compound C1=CC=C2NC(C3=CC4=CC=C(C=C4OC3=O)N(CC)CC)=NC2=C1 GOLORTLGFDVFDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RIERSGULWXEJKL-UHFFFAOYSA-N 3-hydroxy-2-methylbenzoic acid Chemical compound CC1=C(O)C=CC=C1C(O)=O RIERSGULWXEJKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGVWLHVMVQIQI-UHFFFAOYSA-N 4,5-diphenylthiadiazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=C(C=2C=CC=CC=2)SN=N1 QVGVWLHVMVQIQI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DHDHJYNTEFLIHY-UHFFFAOYSA-N 4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=NC2=C1C=CC1=C(C=3C=CC=CC=3)C=CN=C21 DHDHJYNTEFLIHY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DDTHMESPCBONDT-UHFFFAOYSA-N 4-(4-oxocyclohexa-2,5-dien-1-ylidene)cyclohexa-2,5-dien-1-one Chemical compound C1=CC(=O)C=CC1=C1C=CC(=O)C=C1 DDTHMESPCBONDT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WEELZNKFYGCZKL-UHFFFAOYSA-N 4-(4-phenylphenyl)-n,n-bis[4-(4-phenylphenyl)phenyl]aniline Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=C1 WEELZNKFYGCZKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 4-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n-bis[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001148 Al-Li alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- WRYCSMQKUKOKBP-UHFFFAOYSA-N Imidazolidine Chemical compound C1CNCN1 WRYCSMQKUKOKBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000799 K alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 1
- NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N Quinacridone Chemical compound N1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3NC1=C2 NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XBDYBAVJXHJMNQ-UHFFFAOYSA-N Tetrahydroanthracene Natural products C1=CC=C2C=C(CCCC3)C3=CC2=C1 XBDYBAVJXHJMNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FZWLAAWBMGSTSO-UHFFFAOYSA-N Thiazole Chemical class C1=CSC=N1 FZWLAAWBMGSTSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JFBZPFYRPYOZCQ-UHFFFAOYSA-N [Li].[Al] Chemical compound [Li].[Al] JFBZPFYRPYOZCQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JHYLKGDXMUDNEO-UHFFFAOYSA-N [Mg].[In] Chemical compound [Mg].[In] JHYLKGDXMUDNEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YKTSYUJCYHOUJP-UHFFFAOYSA-N [O--].[Al+3].[Al+3].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] Chemical compound [O--].[Al+3].[Al+3].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] YKTSYUJCYHOUJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N anhydrous quinoline Natural products N1=CC=CC2=CC=CC=C21 SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000732 arylene group Chemical group 0.000 description 1
- WZJYKHNJTSNBHV-UHFFFAOYSA-N benzoquinoline Natural products C1=CN=C2C3=CC=CC=C3C=CC2=C1 WZJYKHNJTSNBHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GQVWHWAWLPCBHB-UHFFFAOYSA-L beryllium;benzo[h]quinolin-10-olate Chemical compound [Be+2].C1=CC=NC2=C3C([O-])=CC=CC3=CC=C21.C1=CC=NC2=C3C([O-])=CC=CC3=CC=C21 GQVWHWAWLPCBHB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- GVEPBJHOBDJJJI-UHFFFAOYSA-N fluoranthrene Natural products C1=CC(C2=CC=CC=C22)=C3C2=CC=CC3=C1 GVEPBJHOBDJJJI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001989 lithium alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N magnesium silver Chemical compound [Mg].[Ag] SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- GIFAOSNIDJTPNL-UHFFFAOYSA-N n-phenyl-n-(2-phenylphenyl)naphthalen-1-amine Chemical group C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 GIFAOSNIDJTPNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LKKPNUDVOYAOBB-UHFFFAOYSA-N naphthalocyanine Chemical class N1C(N=C2C3=CC4=CC=CC=C4C=C3C(N=C3C4=CC5=CC=CC=C5C=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=C2C(C=CC=C2)=C2)C2=C1N=C1C2=CC3=CC=CC=C3C=C2C4=N1 LKKPNUDVOYAOBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 1
- CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N peryrene Natural products C1=CC(C2=CC=CC=3C2=C2C=CC=3)=C3C2=CC=CC3=C1 CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical class N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002294 plasma sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 1
- 229920000548 poly(silane) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 150000004033 porphyrin derivatives Chemical class 0.000 description 1
- BITYAPCSNKJESK-UHFFFAOYSA-N potassiosodium Chemical compound [Na].[K] BITYAPCSNKJESK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 150000003219 pyrazolines Chemical class 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N rubrene Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C1=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=CC=C2C(C=2C=CC=CC=2)=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- PJANXHGTPQOBST-UHFFFAOYSA-N stilbene Chemical class C=1C=CC=CC=1C=CC1=CC=CC=C1 PJANXHGTPQOBST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- IFLREYGFSNHWGE-UHFFFAOYSA-N tetracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC4=CC=CC=C4C=C3C=C21 IFLREYGFSNHWGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- VLLMWSRANPNYQX-UHFFFAOYSA-N thiadiazole Chemical class C1=CSN=N1.C1=CSN=N1 VLLMWSRANPNYQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930192474 thiophene Natural products 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- KWQNQSDKCINQQP-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)gallane Chemical compound C1=CN=C2C(O[Ga](OC=3C4=NC=CC=C4C=CC=3)OC=3C4=NC=CC=C4C=CC=3)=CC=CC2=C1 KWQNQSDKCINQQP-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
【解決手段】基板1上に、少なくとも陽極2と有機発光層3と陰極4がこの順に積層された積層物9を備えた有機発光素子に関する。積層物9上に第一の無機封止膜5と、樹脂封止膜6と、第二の無機封止膜7をこの順に積層して設けると共に、樹脂封止膜6の厚みを1〜10μmに形成する。厚み1〜10μmの樹脂封止膜6によって、第一及び第二の無機封止膜5,7による水分や酸素の遮断効果を高く発揮させることができる。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、各種ディスプレー、表示装置、液晶用バックライト等に用いられる有機電界発光素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
有機材料を発光体として用いた有機電界発光素子、すなわち有機エレクトロルミネッセンス素子について古くから様々な検討が行われてきたが、発光効率が非常に悪いことから本格的な実用化研究には至らなかった。しかし、1987年にコダック社のC.W.Tangらにより、有機材料をホール輸送層と発光層の2層に分けた機能分離型の積層構造を有する有機電界発光素子が提案され、このものでは10V以下の低電圧にも関わらず、1000cd/m2以上の高い発光輝度が得られることが明らかになった。そしてこれ以降、有機電界発光素子が注目されはじめ、活発な研究が行われるようになった。そしてこのような研究開発がなされた結果、現在では有機電界発光素子は、10V程度の低電圧で100〜100000cd/m2程度の高輝度の面発光が可能となり、また蛍光物質の種類を選択することにより青色から赤色までの発光が可能となっている。
【0003】
しかし、有機電界発光素子は、一定期間駆動すると、ダークスポットと呼ばれる非発光部の発生と成長が起こり、発光特性が劣化していく課題がある。このようなダークスポットが発生する原因としては、水蒸気などの水分及び酸素の影響が最も大きいとされており、特に水分は極めて微量でも大きな影響を及ぼすものとされている。そのため、何らかの方法で有機電界発光素子を封止して水分や酸素の作用を遮蔽する必要がある。
【0004】
そこで、例えば特開2000−77183号公報にみられるように、原料ガスとしてシランガスと窒素ガスを用いたプラズマCVD法で窒化ケイ素からなる封止被膜を形成して封止することが提案されており、また特開2000−223264号公報にみられるように、無機パッシベーション封止膜と樹脂封止膜を積層して封止することが提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし特開2000−77183号公報のように一層の封止被膜の場合は勿論、特開2000−223264号公報のように無機パッシベーション封止膜と樹脂封止膜の二層構成であっても、水分や酸素の影響を完全に遮断することは難しく、長期間に亘って安定した発光特性を維持するまでの効果を得ることはできないのが現状である。
【0006】
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、水分や酸素の遮断効果が高く、長期間に亘って安定した発光特性を維持することができる有機電界発光素子を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る有機電界発光素子は、基板1上に、少なくとも陽極2と有機発光層3と陰極4がこの順に積層された積層物9を備えた有機発光素子において、積層物9上に第一の無機封止膜5と、樹脂封止膜6と、第二の無機封止膜7をこの順に積層して設けると共に、樹脂封止膜6の厚みを1〜10μmに形成して成ることを特徴とするものである。
【0008】
また請求項2の発明は、請求項1において、樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さが100nm以下であることを特徴とするものである。
【0009】
また請求項3の発明は、請求項1又は2において、第一の無機封止膜5の全外表面を樹脂封止膜6で、樹脂封止膜6の全外表面を第二の無機封止膜7でそれぞれ覆うように、第一の無機封止膜5と、樹脂封止膜6と、第二の無機封止膜7を積層することを特徴とするものである。
【0010】
また請求項4の発明は、請求項1乃至3のいずれかにおいて、樹脂封止膜6を、付加反応架橋型あるいはUV架橋型のシリコーン樹脂から形成することを特徴とするものである。
【0011】
また請求項5の発明は、請求項1乃至4のいずれかにおいて、第一の無機封止膜5と第二の無機封止膜7の厚みをそれぞれ1μm以上に形成することを特徴とするものである。
【0012】
また請求項6の発明は、請求項1乃至5のいずれかにおいて、第二の無機封止膜7の上にさらに保護用樹脂膜8を積層して設けたことを特徴とするものである。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を説明する。
【0014】
図1(a)は本発明の実施の形態の一例を示すものであり、基板1の表面上に陽極2を積層し、陽極2の表面上にホール輸送層11を介して有機発光層3を積層すると共に、さらに有機発光層3の表面上に電子輸送層12を介して陰極4を積層してある。これを基本構成として有機電界発光素子を形成することができるものであり、陽極2に正電圧を、陰極4に負電圧を印加すると、電子輸送層12を介して有機発光層3に注入された電子と、ホール輸送層11を介して有機発光層3に注入されたホールとが、有機発光層3内にて再結合して発光が起こるものである。ここで、図1の実施の形態では、基板1の上に陽極2、ホール輸送層11、有機発光層3、電子輸送層12、陰極4の順に積層して積層物9を形成したが、基板1の上に陰極4、電子輸送層12、有機発光層3、ホール輸送層11、陽極2の順に積層して積層物9を形成するようにしてもよい。
【0015】
上記の基板1としては、ソーダライムガラスや無アルカリガラスなどの透明ガラス基板や、透明プラスチック基板などを用いることができる。
【0016】
また素子にホールを注入するための電極である陽極2としては、仕事関数の大きい金属、合金、電気伝導性化合物、あるいはこれらの混合物からなる電極材料を用いるのが好ましく、特に仕事関数が4eV以上の電極材料を用いることが好ましい。このような電極材料としては、具体的には、金などの金属、CuI、ITO(インジウムチンオキサイド)、IZO、SnO2、ZnO等の導電性透明材料があげられる。例えばこれらの電極材料を基板1上に真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法等の方法で成膜することによって、陽極2を薄膜として作製することができる。
【0017】
ここで、基板1として透明基板を用い、有機発光層3における発光を陽極2を透過させて基板1から外部に照射する場合には、陽極2の光透過率が10%以上であることが好ましい。また、陽極2のシート抵抗は数百Ω/□以下であることが好ましく、特に100Ω/□以下であることが好ましい。さらに陽極2の膜厚は、陽極2の光透過率、シート抵抗等の特性を上記のように制御するために、材料により異なるが、通常500nm以下が好ましく、より好ましくは10〜200nmの範囲である。
【0018】
一方、有機発光層3中に電子を注入するための電極である陰極4は、仕事関数の小さい金属、合金、電気伝導性化合物及びこれらの混合物からなる電極材料を用いることが好ましく、仕事関数が5eV以下の電極材料を用いるのが好ましい。このような電極材料としては、ナトリウム、ナトリウム−カリウム合金、リチウム、マグネシウム、アルミニウム、マグネシウム−銀混合物、マグネシウム−インジウム混合物、アルミニウム−リチウム合金、Al/Al2O3混合物、Al/LiF混合物などを挙げることができる。この陰極4は、例えばこれらの電極材料を、真空蒸着法やスパッタリング法等の方法により、薄膜に形成することによって作製することができる。また、有機発光層3における発光を陰極4を透過させて外部に照射する場合には、陰極4は光透過率が10%以上であることが好ましい。ここで、陰極4の膜厚は、陰極4の光透過率等の特性を上記のように制御するために、材料により異なるが、通常500nm以下が好ましく、より好ましくは100〜200nmの範囲である。
【0019】
また本発明において有機発光層3に使用できる発光材料またはドーピング材料としては、アントラセン、ナフタレン、ピレン、テトラセン、コロネン、ペリレン、フタロペリレン、ナフタロペリレン、ジフェニルブタジエン、テトラフェニルブタジエン、クマリン、オキサジアゾール、ビスベンゾキサゾリン、ビススチリル、シクロペンタジエン、キノリン金属錯体、トリス(8−ヒドロキシキノリナート)アルミニウム錯体、トリス(4−メチル−8−キノリナート)アルミニウム錯体、トリス(5−フェニル−8−キノリナート)アルミニウム錯体、アミノキノリン金属錯体、ベンゾキノリン金属錯体、トリ−(p−ターフェニル−4−イル)アミン、1−アリール−2,5−ジ(2−チエニル)ピロール誘導体、ピラン、キナクリドン、ルブレン、ジスチルベンゼン誘導体、ジスチルアリーレン誘導体、及び各種蛍光色素等があるが、これらに限定されるものではない。またこれらの化合物のうちから選択される発光材料を90〜99.5質量部、ドーピング材料を0.5〜10質量部含むようにすることも好ましい。この有機発光層3の厚みは0.5〜500nmが好ましく、特に0.5〜200nmが好ましい。
【0020】
またホール輸送層11を構成するホール輸送材料としては、ホールを輸送する能力を有し、陽極2からのホール注入効果を有するとともに、有機発光層3または発光材料に対して優れたホール注入効果を有し、さらに電子のホール輸送層11への移動を防止し、かつ薄膜形成能力の優れた化合物を挙げることができる。具体的にはフタロシアニン誘導体、ナフタロシアニン誘導体、ポルフィリン誘導体、N,N’−ビス(3−メチルフェニル)−(1,1’−ビフェニル)−4,4’−ジアミン(TPD)や4,4’−ビス[N−(ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル(α−NPD)等の芳香族ジアミン化合物、オキサゾール、オキサジアゾール、トリアゾール、イミダゾール、イミダゾロン、スチルベン誘導体、ピラゾリン誘導体、テトラヒドロイミダゾール、ポリアリールアルカン、ブタジエン、4,4’,4”−トリス(N−(3−メチルフェニル)N−フェニルアミノ)トリフェニルアミン(m−MTDATA)、及びポリビニルカルバゾール、ポリシラン、ポリエチレンジオキサイドチオフェン(PEDOT)等の導電性高分子などの高分子材料が挙げることができるが、これらに限定されるものではない。
【0021】
また電子輸送層12を構成する電子輸送材料としては、電子を輸送する能力を有し、陰極4からの電子注入効果を有するとともに、有機発光層3または発光材料に対して優れた電子注入効果を有し、さらにホールの電子輸送層12への移動を防止し、かつ薄膜形成能力の優れた化合物を挙げることができる。具体的には、フルオレン、バソフェナントロリン、バソクプロイン、アントラキノジメタン、ジフェノキノン、オキサゾール、オキサジアゾール、トリアゾール、イミダゾール、アントラキノジメタン等やそれらの化合物、金属錯体化合物もしくは含窒素五員環誘導体などである。金属錯体化合物としては、トリス(8−ヒドロキシキノリナート)アルミニウム、トリ(2−メチル−8−ヒドロキシキノリナート)アルミニウム、トリス(8−ヒドロキシキノリナート)ガリウム、ビス(10−ヒドロキシベンゾ[h]キノリナート)ベリリウム、ビス(10−ヒドロキシベンゾ[h]キノリナート)亜鉛、ビス(2−メチル−8−キノリナート)(o−クレゾラート)ガリウム、ビス(2−メチル−8−キノリナート)(1−ナフトラート)アルミニウム等があるが、これらに限定されるものではない。また含窒素五員環誘導体としては、オキサゾール、チアゾール、オキサジアゾール、チアジアゾールもしくはトリアゾール誘導体が好ましく、具体的には、2,5−ビス(1−フェニル)−1,3,4−オキサゾール、2,5−ビス(1−フェニル)−1,3,4−チアゾール、2,5−ビス(1−フェニル)−1,3,4−オキサジアゾール、2−(4’−tert−ブチルフェニル)−5−(4”−ビフェニル)1,3,4−オキサジアゾール、2,5−ビス(1−ナフチル)−1,3,4−オキサジアゾール、1,4−ビス[2−(5−フェニルチアジアゾリル)]ベンゼン、2,5−ビス(1−ナフチル)−1,3,4−トリアゾール、3−(4−ビフェニルイル)−4−フェニル−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,2,4−トリアゾール等があるが、これらに限定されるものではない。さらにポリマー有機エレクトロルミネッセンス素子に使用されるポリマー材料も使用することができる。例えば、ポリパラフェニレン及びその誘導体、フルオレン及びその誘導体等である。
【0022】
そして図1(a)の実施の形態では、基板1の上に、陽極2とホール輸送層11と有機発光層3と電子輸送層12と陰極4からなる積層物9を積層すると共に、この積層物9の上に第一の無機封止膜5が設けてある。第一の無機封止膜5は積層物9の露出する外表面の全面を被覆するように形成されるものであり、図1の実施の形態では、陰極4の上面及び、陽極2とホール輸送層11と有機発光層3と電子輸送層12と陰極4の側面を覆うように第一の無機封止膜5が形成してある(陽極2や陰極4の電源供給用端子部として露出させる部分は除く)。またこの第一の無機封止膜5の上には樹脂封止膜6が設けてあり、さらにこの樹脂封止膜6の上には第二の無機封止膜7が設けてある。
【0023】
第一及び第二の無機封止膜5,7としては、耐透湿性及び耐酸素透過性が高く、水蒸気などの水分に対して安定な材料を用いて形成するのが望ましく、例えば、窒化珪素、酸化珪素、酸窒化珪素、炭化珪素などの珪素系化合物や、酸化アルミニウム、窒化アルミニウムなどのアルミニウム系化合物、珪酸アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化タンタル、酸化チタン、窒化チタンなどを挙げることができる。第一及び第二の無機封止膜5,7の形成法としては、プラズマCVD法、スパッタ法、イオンプレーティング法などを挙げることができるが、低膜応力で緻密な膜を形成することができる方法であれば何でもよく、これらに限定されるものではない。
【0024】
ここで、基板1の上には異物15が付着し易い。例えば基板1を所定のサイズに切断する際に切りくずが発生するが、基板1としてガラス基板を用いる場合はガラス異物15が、プラスチック基板を用いる場合はプラスチック異物15が付着し易い。また基板1上に形成した陽極2上にも異物15が付着し易い。例えば陽極2の電極パターン形成時や、積層物9を蒸着法などで形成する前の基板1の洗浄時及び蒸着時などに、空気中のゴミ、電極パターン形成時に用いる有機レジスト材料、洗浄時に基板1の切断面から欠落する基板1の材料の破片などが異物15として付着し易い。さらに蒸着装置内に存在する異物15が有機発光層3や陰極4の蒸着膜形成時に膜中に取り込まれてしまうこともある。
【0025】
このように異物15が存在すると、図3(a)に示すように、積層物9の上面(図1(a)の実施の形態では陰極4の表面)に異物15の形状に盛り上がった部分が生じて、積層物9の上面に凹凸が発生し、積層物9の上に形成される第一の無機封止膜5は平滑な膜にならず、異物15の存在する部分が盛り上がることになる。そして第一の無機封止膜5がこのように部分的に盛り上がった形状になると、この盛り上がった箇所にピンホールやボイドなどの欠陥16が生じ易く、この欠陥16から水蒸気などの水分や酸素などが侵入するおそれがある。また図3(b)のように積層物9の上に異物15が付着している場合には、積層物9の上に第一の無機封止膜5をプラズマCVDやスパッタリングなどで形成する際に異物15を核として、周囲の第一の無機封止膜5の組成とは不連続な無機組成物17が形成され、この両者間のノッチ状不連続箇所18から水分や酸素などが侵入するおそれがある。
【0026】
このように、第一の無機封止膜5は無機物であるために柔軟性に乏しく、異物15の存在で欠陥16や不連続箇所18などが生じ易く、この欠陥等の部分から水蒸気などの水分や酸素などが侵入し易い。そこで本発明では、第一の無機封止膜5の上に樹脂封止膜6を設け、さらにその上に第二の無機封止膜7を設けるようにしたものである。第一の無機封止膜5の上にこのように樹脂封止膜6を設けて被覆することによって、図1(b)に示すように、第一の無機封止膜5の欠陥等を樹脂封止膜6でカバーすることができ、水分や酸素などの侵入を防ぐことができるものである。
【0027】
ここで本発明では、樹脂封止膜6の厚みは1〜10μmに設定されるものである。樹脂封止膜6の厚みが1μm未満であると、第一の無機封止膜5の欠陥等を完全に被覆することができず、また第一の無機封止膜5の表面の凹凸をならすことができない。このため、樹脂封止膜6の上に第二の無機封止膜7を形成する際に、第一の無機封止膜5の表面形状履歴を引き継いだ状態で成膜がなされ、図4(a)に示すように第二の無機封止膜7にも欠陥等が生じてしまうおそれがある。逆に、樹脂封止膜6の厚みが10μmを超えると、第二の無機封止膜7のカバレッジ性が低くなってしまい、特に図4(b)に示すようにエッジ部において第二の無機封止膜7にピンホール、ボイド、クラックなどの欠陥16が生じ易くなり、また樹脂封止膜6の上に第二の無機封止膜7を成膜した後に有機電界発光素子を80℃程度に加熱して信頼性試験などを行なう際に、樹脂封止膜6の熱膨張による応力が大きくなって第二の無機封止膜7に大きな引っ張り応力がかかり、第二の無機封止膜7にクラックが生じるおそれがある。
【0028】
樹脂封止膜6の樹脂の種類としては、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、フッ素系樹脂、ワックスなどを挙げることができる。また樹脂封止膜6の成膜方法としては、スピンコート法、ディップ法、スプレー法あるいは樹脂のシート状成型物のラミネート法などを挙げることができる。
【0029】
ここで、樹脂封止膜6をシリコーン樹脂で形成する場合、付加反応架橋型あるいはUV架橋型のシリコーン樹脂を用いるのが好ましい。シリコーン樹脂としてはこの他に縮合架橋型や過酸化物架橋型のシリコーン樹脂があるが、これらのシリコーン樹脂は硬化の際に水、アルコール等が反応副生成物として生成され、これらが上記の第一の無機封止膜5や積層物9の各構成材料に悪影響を及ぼし、その特性を劣化させてしまうおそれがある。従って本発明では、反応副生成物の発生がない付加反応架橋型あるいはUV架橋型のいずれかのシリコーン樹脂を選択して用いるのが好ましいのである。
【0030】
また、樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)は100nm以下であることが望ましい。樹脂封止膜6の表面に100nm以上の高低差の凹凸が存在すると、樹脂封止膜6の上に形成される第二の無機封止膜7がその凹凸の形状履歴を引き継ぎ、その凹凸に沿って第二の無機封止膜7が形成される。従って、第二の無機封止膜7は平滑な膜に形成することができず、第二の無機封止膜7中にピンホール、ボイド、クラックなどの欠陥が生じやすくなって、この欠陥から水蒸気などの水分や酸素が侵入するおそれがある。このために、樹脂封止膜6の表面を最大表面粗さ100nm以下に形成して、第二の無機封止膜7を欠陥等のない平滑な膜に形成できるようにするのが望ましいのである。樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)は小さい程好ましく、理想的には下限は0nmである。
【0031】
上記のように、基板1に積層した積層物9の上に第一の無機封止膜5と、樹脂封止膜6と、第二の無機封止膜7をこの順に設けるにあたって、積層物9の露出する全外表面を第一の無機封止膜5で覆った後、第一の無機封止膜5の全外表面を樹脂封止膜6で、樹脂封止膜6の全外表面を第二の無機封止膜7でそれぞれ覆うように、第一の無機封止膜5と、樹脂封止膜6と、第二の無機封止膜7を積層するのが好ましい。第一の無機封止膜5は緻密であるが欠陥等が発生し易いので、その全外表面を樹脂封止膜6で被覆することによって欠陥等を確実にカバーすることができるものである。また樹脂封止膜6は無機封止膜5,7に比べて水蒸気などの水分や酸素を透過させ易いので、樹脂封止膜6の端部が露出しているとその部分から樹脂封止膜6中に水分や酸素が侵入するおそれがある。そこで、樹脂封止膜6の膜端部が露出しないように第二の無機封止膜7で完全に覆ってやることによって、水分や酸素を遮断する効果をより高く得ることができるものである。
【0032】
また、第一及び第二の無機封止膜5,7の厚みは特に制限されるものではないが、それぞれ1μm以上の膜厚で形成するのが望ましい。無機封止膜5,7の厚みを1μm以上に設定することによって、積層物9に対する封止性や、樹脂封止膜6に対する封止性が高くなり、水分や酸素を遮断する効果を一層高く得ることができるものである。すなわち、積層物9の上に無機封止膜5,7を形成する場合、積層物9の各構成材料のガラス転移温度(有機材料のガラス転移温度は一般に80〜100℃)以下の基板温度で成膜する必要がある。そして現在、無機封止膜5,7を形成する方法としてプラズマCVD法、スパッタ法、イオンプレーティング法などが知られているが、100℃以下の基板温度で作製した無機封止膜5,7は、100℃以上の基板温度で作製したものに比べて膜の緻密性が低く、膜厚が1μm未満であると無機封止膜5,7に貫通するピンホールが残存している可能性が高く、耐透湿性や耐酸素透過性が劣る。このため無機封止膜5,7の厚みを1μm以上に設定することが望ましいのである。無機封止膜5,7の膜厚の上限は特に設定されないが、生産性やコストなどの面を考慮すると、実用的には無機封止膜5,7の膜厚は10μm以下に設定するのが好ましい。
【0033】
図2は本発明の他の実施の形態の一例を示すものであり、第二の無機封止膜7上にさらに、第二の無機封止膜7の全外表面を覆うように保護用樹脂膜8を形成するようにしたものである。その他の構成は図1の実施の形態と同じである。このような保護用樹脂膜8を設けることによって、外部からの水分等の影響を完全に遮断することができるものであり、また外部からの外力による損傷を少なくすることができ、より一層長期に亘って発光特性を安定化することができるものである。保護用樹脂膜8は、上記の樹脂封止膜6に用いたものと同じ材料で形成することができるものであり、同じ膜形成方法で作製することができるものであるが樹脂の種類、膜形成方法はこれに限定されるものではない。また保護用樹脂膜8の厚みは特に限定されるものではないが、膜による保護性能と膜応力とのバランスを考えた場合、1〜50μmの範囲に設定するのが好ましい。
【0034】
【実施例】
次に、本発明を実施例によって具体的に説明する。
【0035】
(実施例1)
厚み0.4mmのガラス基板1の上に、ITO(インジウム−スズ酸化物)をイオンプレーティングしてシート抵抗7Ω/□の透明電極からなる陽極2を設けて形成される、ITOガラス(日本板硝子社製)を用いた。このITOガラス基板1をアセトン、純水、イソプロピルアルコールで15分間超音波洗浄し、乾燥させた後、さらにUVオゾン洗浄した。次に、このITOガラス基板1を真空蒸着装置にセットし、1×10−6Torr(1.33×10−4Pa)の減圧下、4,4’−ビス[N−(ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル((株)同仁化学研究所製;α−NPD)を、1〜2Å/sの蒸着速度で400Å厚に蒸着し、陽極2の上にホール輸送層11を形成した。次に、トリス(8−ヒドロキシキノリナート)アルミニウム錯体((株)同仁化学研究所製;Alq3)を1〜2Å/sの蒸着速度で400Å厚に蒸着し、ホール輸送層11の上に有機発光層3と電子輸送層12を兼用する層を形成した。この後、まずLiFを0.5〜1.0Åの蒸着速度で、厚み5Å蒸着し、続いて、Alを10Å/sの蒸着速度で厚み1500Å蒸着することによって、有機発光層3と電子輸送層12を兼用する層の上に陰極4を形成した。
【0036】
続いて、陰極4の上にプラズマCVD法でシラン及び窒素を原料ガスとして窒化珪素膜を成膜し、積層物9の全外表面を覆うように厚み3.0μmの第一の無機封止膜5を形成した。さらにこの第一の無機封止膜5の全外表面を覆うように、付加反応型のシリコーン樹脂をスピンコート法により塗布し、60℃で1時間加熱して硬化させることによって、3.0μmの厚みの樹脂封止膜6を形成した。このように形成した樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)は30nmであった。さらに続けて、樹脂封止膜6の上にプラズマCVD法でシラン及び窒素を原料ガスとして窒化珪素膜を成膜し、樹脂封止膜6の全外表面を覆うように厚み3.0μmの第二の無機封止膜7を形成した。
【0037】
上記のようにして図1のような層構成の有機電界発光素子を得た。そしてこの有機電界発光素子を50℃、95%RHの恒温恒湿槽に1000時間放置した後、有機電界発光素子の発光状態を顕微鏡観察した結果、直径50μm以上のダークスポットの発生成長はみられなかった。
【0038】
尚、実施例1では樹脂封止膜6の全外表面を第二の無機封止膜7で覆うようにしたが、樹脂封止膜6の端部を第二の無機封止膜7で覆わないようにした場合には、有機電界発光素子を50℃、95%RHの恒温恒湿槽に500時間放置した後の発光状態の観察では直径50μm以上のダークスポットの発生成長は見られなかったが、1000時間放置後の観察では素子の端部にわずかな発生成長がみられた。
【0039】
(実施例2)
実施例1において、樹脂封止膜6をUV架橋型のシリコーン樹脂で形成するようにした他は、実施例1と同様にして有機電界発光素子を得た。このときの樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)は30nmであった。そしてこの有機電界発光素子について実施例1と同じ試験を行なったところ、1000時間放置後も直径50μm以上のダークスポットの発生成長はみられなかった。
【0040】
尚、樹脂封止膜6をアルコールが反応副生成物として発生する縮合架橋型のシリコーン樹脂で形成するようにした場合には、シリコーン樹脂で樹脂封止膜6を形成した後に直径50μm以上のダークスポットがわずかに発生成長した。その後、実施例1と同様にして第二の無機封止膜7を形成し得られた有機電界発光素子を実施例1と同じ試験を行ったところ、1000時間放置後も初期に既に発生していたダークスポット以外のものが新たに発生したり成長するという傾向はみられなかった。
【0041】
(実施例3)
実施例1において、第一の無機封止膜5の膜厚を6μmに形成するようにした他は、実施例1と同様にして有機電界発光素子を得た。そしてこの有機電界発光素子について実施例1と同じ試験を行なったところ、1000時間放置後も直径50μm以上のダークスポットの発生成長はみられなかった。
【0042】
尚、第一の無機封止膜5の膜厚を0.5μmに形成するようにした場合には、有機電界発光素子を50℃、95%RHの恒温恒湿槽に500時間放置した後の発光状態の観察では直径50μm以上のダークスポットの発生成長は見られなかったが、1000時間放置後の観察ではわずかながら発生成長がみられた。
【0043】
(実施例4)
実施例1において、シリコーン樹脂の樹脂封止膜6の膜厚を6μmに形成するようにした。このときの樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)は20nmであった。その他は、実施例1と同様にして有機電界発光素子を得た。そしてこの有機電界発光素子について実施例1と同じ試験を行なったところ、1000時間放置後も直径50μm以上のダークスポットの発生成長はみられなかった。
【0044】
尚、樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)が150nmである場合には、有機電界発光素子を50℃、95%RHの恒温恒湿槽に500時間放置した後の発光状態の観察では直径50μm以上のダークスポットの発生成長は見られなかったが、1000時間放置後の観察ではわずかながら発生成長がみられた。
【0045】
(実施例5)
実施例1において、窒化珪素膜で第二の無機封止膜7を形成した後、第二の無機封止膜7の全外表面を覆うように、UV架橋型のエポキシ樹脂をスピンコート法により塗布し、UVを照射して硬化させることによって、50μmの厚みの保護用樹脂膜8を形成した。その他は、実施例1と同様にして図2のような層構成の有機電界発光素子を得た。そしてこの有機電界発光素子について実施例1と同じ試験を行なったところ、1000時間放置後も直径50μm以上のダークスポットの発生成長はみられなかった。
【0046】
(実施例6)
実施例1において、樹脂封止膜6をUV架橋型のエポキシ樹脂で膜厚10μmに形成するようにした。このときの樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)は80nmであった。その他は、実施例1と同様にして有機電界発光素子を得た。そしてこの有機電界発光素子について実施例1と同じ試験を行なったところ、1000時間放置後も直径50μm以上のダークスポットの発生成長はみられなかった。
【0047】
(比較例1)
実施例1において、シリコーン樹脂の樹脂封止膜6の膜厚を25μmに形成するようにした。このときの樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)は10nmであった。その他は、実施例1と同様にして有機電界発光素子を得た。そしてこの有機電界発光素子について実施例1と同じ試験を行なったところ、200時間の放置の後、既に直径50μm以上のダークスポットの発生成長が多数みられた。
【0048】
(比較例2)
実施例6において、エポキシ樹脂の樹脂封止膜6の膜厚を25μmに形成するようにした。このときの樹脂封止膜6の表面の最大表面粗さ(Rmax)は120nmであった。その他は、実施例1と同様にして有機電界発光素子を得た。そしてこの有機電界発光素子について実施例1と同じ試験を行なったところ、100時間の放置後、既に直径50μm以上のダークスポットの発生成長が多数みられた。
【0049】
【発明の効果】
上記のように本発明の請求項1に係る有機電界発光素子は、基板上に、少なくとも陽極と有機発光層と陰極がこの順に積層された積層物を備えた有機発光素子において、積層物上に第一の無機封止膜と、樹脂封止膜と、第二の無機封止膜をこの順に積層して設けると共に、樹脂封止膜の厚みを1〜10μmに形成したので、異物の存在などで第一の無機封止膜に欠陥等が生じても、樹脂封止膜で欠陥を塞いだ状態で、第二の無機封止膜を形成することができ、第一及び第二の無機封止膜による水分や酸素の遮断効果を高く発揮させることができるものであり、長期間に亘って安定した発光特性を維持することができるものである。しかも樹脂封止膜の厚みは1〜10μmに形成したので、第一の無機封止膜の欠陥等を完全に塞ぐことができると共に第一の無機封止膜の表面の凹凸をならすことができ、樹脂封止膜の上にピンホール、ボイド、クラックなどの欠陥がない完全な状態で第二の無機封止膜を形成することができるものであり、また樹脂封止膜の熱膨張による応力を抑制して第二の無機封止膜に熱応力でクラックが生じることがなくなり、第一及び第二の無機封止膜による水分や酸素の遮断効果をより高く発揮させることができるものである。
【0050】
また請求項2の発明は、請求項1において、樹脂封止膜の表面の最大表面粗さを100nm以下に形成するようにしたので、樹脂封止膜の上に第二の無機封止膜を欠陥等のない平滑な膜に形成することができるものであり、第二の無機封止膜による水分や酸素の遮断効果をより高く発揮させることができるものである。
【0051】
また請求項3の発明は、請求項1又は2において、第一の無機封止膜の全外表面を樹脂封止膜で、樹脂封止膜の全外表面を第二の無機封止膜でそれぞれ覆うように、第一の無機封止膜と、樹脂封止膜と、第二の無機封止膜を積層したので、第一の無機封止膜の欠陥等を樹脂封止膜で確実に塞ぐことができ、しかも樹脂封止膜の露出部分から水分や酸素等が侵入することを第二の無機封止膜で防ぐことができ、水分や酸素の遮断効果を高く得ることができるものである。
【0052】
また請求項4の発明は、請求項1乃至3のいずれかにおいて、樹脂封止膜を、付加反応架橋型あるいはUV架橋型のシリコーン樹脂から形成するようにしたので、これらのシリコーン樹脂は硬化の際に水やアルコール等の反応副生成物を発生しないものであり、反応副生成物で第一の無機封止膜や積層物の各構成材料に悪影響を及ぼしてその特性を劣化させることを未然に防ぐことができるものである。
【0053】
また請求項5の発明は、請求項1乃至4のいずれかにおいて、第一の無機封止膜と第二の無機封止膜の厚みをそれぞれ1μm以上に形成するようにしたので、積層物の各構成材料のガラス転移温度以下の低温で第一の無機封止膜を成膜して緻密性が低くなっても、耐透湿性や耐酸素透過性を確保することができるものである。
【0054】
また請求項6の発明は、請求項1乃至5のいずれかにおいて、第二の無機封止膜の上にさらに保護用樹脂膜を積層して設けるようにしたので、保護用樹脂膜によって、外部からの水分等の影響を完全に遮断することができると共に、外力による損傷を少なくすることができ、より一層長期に亘って発光特性を安定化することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a)は概略断面図、(b)は一部を拡大した概略断面図である。
【図2】本発明の他の実施の形態の一例を示す概略断面図である。
【図3】異物の存在による問題を説明するものであり、(a),(b)はそれぞれ一部を拡大した概略断面図である。
【図4】異物の存在による問題を説明するものであり、(a),(b)はそれぞれ一部を拡大した概略断面図である。
【符号の説明】
1 基板
2 陽極
3 有機発光層
4 陰極
5 第一の無機封止膜
6 樹脂封止膜
7 第二の無機封止膜
8 保護用樹脂膜
9 積層物
Claims (6)
- 基板上に、少なくとも陽極と有機発光層と陰極がこの順に積層された積層物を備えた有機発光素子において、積層物上に第一の無機封止膜と、樹脂封止膜と、第二の無機封止膜をこの順に積層して設けると共に、樹脂封止膜の厚みを1〜10μmに形成して成ることを特徴とする有機電界発光素子。
- 樹脂封止膜の表面の最大表面粗さが100nm以下であることを特徴とする請求項1に記載の有機電界発光素子。
- 第一の無機封止膜の全外表面を樹脂封止膜で、樹脂封止膜の全外表面を第二の無機封止膜でそれぞれ覆うように、第一の無機封止膜と、樹脂封止膜と、第二の無機封止膜を積層することを特徴とする請求項1又は2に記載の有機電界発光素子。
- 樹脂封止膜を、付加反応架橋型あるいはUV架橋型のシリコーン樹脂から形成することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の有機電界発光素子。
- 第一の無機封止膜と第二の無機封止膜の厚みをそれぞれ1μm以上に形成することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の有機電界発光素子。
- 第二の無機封止膜の上にさらに保護用樹脂膜を積層して設けたことを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の有機電界発光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002236070A JP2004079291A (ja) | 2002-08-13 | 2002-08-13 | 有機電界発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002236070A JP2004079291A (ja) | 2002-08-13 | 2002-08-13 | 有機電界発光素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004079291A true JP2004079291A (ja) | 2004-03-11 |
Family
ID=32020372
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002236070A Pending JP2004079291A (ja) | 2002-08-13 | 2002-08-13 | 有機電界発光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004079291A (ja) |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005353589A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機電界発光表示装置及びその製造方法 |
WO2006022273A2 (ja) * | 2004-08-24 | 2006-03-02 | Tohoku Device Co Ltd | 有機el素子と、有機el素子の保護膜及びその製法 |
JP2006114453A (ja) * | 2004-10-18 | 2006-04-27 | Seiko Epson Corp | 有機el素子及びその製造方法、並びに有機el装置 |
JP2008198625A (ja) * | 2004-06-10 | 2008-08-28 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機電界発光表示装置及びその製造方法 |
JP2009081122A (ja) * | 2007-09-06 | 2009-04-16 | Fujifilm Corp | ガスバリアフィルムで封止された有機el素子の製造方法およびガスバリアフィルムで封止された有機el素子 |
JP2010160906A (ja) * | 2009-01-06 | 2010-07-22 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、および電子機器 |
JP2013524473A (ja) * | 2010-04-12 | 2013-06-17 | コミサリア ア レネルジー アトミック エ オ ゼネルジー アルテルナティブ | 有機オプトエレクトロニックデバイス及びそれをカプセル化する方法 |
JP2013153177A (ja) * | 2007-02-02 | 2013-08-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
JP2014500582A (ja) * | 2010-10-25 | 2014-01-09 | ネダーランゼ・オルガニサティ・フォーア・トゥーゲパスト−ナトゥールヴェテンシャッペリーク・オンデルゾエク・ティーエヌオー | 有機光電子デバイス、及び、その製造方法 |
JP2014179335A (ja) * | 2010-01-04 | 2014-09-25 | Samsung Display Co Ltd | 有機発光表示装置 |
WO2014196137A1 (ja) * | 2013-06-07 | 2014-12-11 | 株式会社アルバック | 素子構造体及びその製造方法 |
US9263700B2 (en) | 2010-10-25 | 2016-02-16 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Opto-electric device and method of manufacturing an opto-electric device |
JP2016103443A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
WO2016084256A1 (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
US9461268B2 (en) | 2013-06-18 | 2016-10-04 | Seiko Epson Corporation | Light-emitting device having a light emitting element with a dimension smaller than a sealing layer thickness |
JP2017147191A (ja) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置、及び表示装置の製造方法 |
JP2018107150A (ja) * | 2004-05-20 | 2018-07-05 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
JP2019024007A (ja) * | 2018-09-12 | 2019-02-14 | パイオニア株式会社 | 発光装置の製造方法及び発光装置 |
WO2019186824A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-03 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置およびその製造方法 |
WO2019186825A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-03 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置およびその製造方法 |
WO2019187078A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | シャープ株式会社 | 表示デバイスの製造方法 |
JP2019197669A (ja) * | 2018-05-10 | 2019-11-14 | パイオニア株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
JP2020013797A (ja) * | 2019-09-25 | 2020-01-23 | パイオニア株式会社 | 発光装置の製造方法 |
JP2020053411A (ja) * | 2019-12-26 | 2020-04-02 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
WO2021059459A1 (ja) * | 2019-09-26 | 2021-04-01 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置 |
-
2002
- 2002-08-13 JP JP2002236070A patent/JP2004079291A/ja active Pending
Cited By (52)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10784465B2 (en) | 2004-05-20 | 2020-09-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device having white light emission |
US11683952B2 (en) | 2004-05-20 | 2023-06-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element and display device |
JP2018107150A (ja) * | 2004-05-20 | 2018-07-05 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
US11063236B2 (en) | 2004-05-20 | 2021-07-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element and display device |
US7629739B2 (en) | 2004-06-09 | 2009-12-08 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Organic electroluminescent display device and method of preparing the same |
JP2005353589A (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機電界発光表示装置及びその製造方法 |
JP2008198625A (ja) * | 2004-06-10 | 2008-08-28 | Samsung Sdi Co Ltd | 有機電界発光表示装置及びその製造方法 |
WO2006022273A3 (ja) * | 2004-08-24 | 2006-04-20 | Tohoku Device Co Ltd | 有機el素子と、有機el素子の保護膜及びその製法 |
WO2006022273A2 (ja) * | 2004-08-24 | 2006-03-02 | Tohoku Device Co Ltd | 有機el素子と、有機el素子の保護膜及びその製法 |
JP4678169B2 (ja) * | 2004-10-18 | 2011-04-27 | セイコーエプソン株式会社 | 有機el素子及びその製造方法、並びに有機el装置 |
JP2006114453A (ja) * | 2004-10-18 | 2006-04-27 | Seiko Epson Corp | 有機el素子及びその製造方法、並びに有機el装置 |
US9184221B2 (en) | 2007-02-02 | 2015-11-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device |
JP2013153177A (ja) * | 2007-02-02 | 2013-08-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置 |
US8994060B2 (en) | 2007-02-02 | 2015-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor device |
JP2009081122A (ja) * | 2007-09-06 | 2009-04-16 | Fujifilm Corp | ガスバリアフィルムで封止された有機el素子の製造方法およびガスバリアフィルムで封止された有機el素子 |
JP2010160906A (ja) * | 2009-01-06 | 2010-07-22 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、および電子機器 |
JP2014179335A (ja) * | 2010-01-04 | 2014-09-25 | Samsung Display Co Ltd | 有機発光表示装置 |
JP2013524473A (ja) * | 2010-04-12 | 2013-06-17 | コミサリア ア レネルジー アトミック エ オ ゼネルジー アルテルナティブ | 有機オプトエレクトロニックデバイス及びそれをカプセル化する方法 |
US9263700B2 (en) | 2010-10-25 | 2016-02-16 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Opto-electric device and method of manufacturing an opto-electric device |
JP2014500582A (ja) * | 2010-10-25 | 2014-01-09 | ネダーランゼ・オルガニサティ・フォーア・トゥーゲパスト−ナトゥールヴェテンシャッペリーク・オンデルゾエク・ティーエヌオー | 有機光電子デバイス、及び、その製造方法 |
WO2014196137A1 (ja) * | 2013-06-07 | 2014-12-11 | 株式会社アルバック | 素子構造体及びその製造方法 |
US10276827B2 (en) | 2013-06-07 | 2019-04-30 | Ulvac, Inc. | Device structure and method of producing the same |
JPWO2014196137A1 (ja) * | 2013-06-07 | 2017-02-23 | 株式会社アルバック | 素子構造体及びその製造方法 |
US9461268B2 (en) | 2013-06-18 | 2016-10-04 | Seiko Epson Corporation | Light-emitting device having a light emitting element with a dimension smaller than a sealing layer thickness |
US20210328170A1 (en) * | 2014-11-28 | 2021-10-21 | Pioneer Corporation | Light-emitting device |
US11864409B2 (en) * | 2014-11-28 | 2024-01-02 | Pioneer Corporation | Light-emitting device |
US11075355B2 (en) | 2014-11-28 | 2021-07-27 | Pioneer Corporation | Light-emitting device |
JPWO2016084256A1 (ja) * | 2014-11-28 | 2017-08-03 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
US10243165B2 (en) | 2014-11-28 | 2019-03-26 | Pioneer Corporation | Light-emitting device |
WO2016084256A1 (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
JP2016103443A (ja) * | 2014-11-28 | 2016-06-02 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
US10243168B2 (en) | 2016-02-19 | 2019-03-26 | Japan Display Inc. | Display device having density of the first inorganic layer at a surface contacted the upper electrode is higher than density in a middle of the first inorganic layer |
US10847754B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-11-24 | Japan Display Inc. | Semiconductor device having a density of the first inorganic layer in the first region is higher than in the second region |
JP2017147191A (ja) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置、及び表示装置の製造方法 |
US10516138B2 (en) | 2016-02-19 | 2019-12-24 | Japan Display Inc. | Display device having a density of the first inorganic layer in the first region is higher than in the second region |
CN107104125A (zh) * | 2016-02-19 | 2017-08-29 | 株式会社日本显示器 | 显示装置及显示装置的制造方法 |
US9966570B2 (en) | 2016-02-19 | 2018-05-08 | Japan Display Inc. | Display device having a density of second inorganic layer in thickness direction changes in the thickness direction |
JPWO2019186824A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2020-04-30 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置およびその製造方法 |
WO2019186824A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-03 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置およびその製造方法 |
WO2019186825A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-03 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置およびその製造方法 |
CN111886927A (zh) * | 2018-03-28 | 2020-11-03 | 堺显示器制品株式会社 | 有机el显示装置及其制造方法 |
CN111886928A (zh) * | 2018-03-28 | 2020-11-03 | 堺显示器制品株式会社 | 有机el显示装置及其制造方法 |
JPWO2019186825A1 (ja) * | 2018-03-28 | 2020-04-30 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置およびその製造方法 |
WO2019187078A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | シャープ株式会社 | 表示デバイスの製造方法 |
JP7202786B2 (ja) | 2018-05-10 | 2023-01-12 | パイオニア株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
JP2019197669A (ja) * | 2018-05-10 | 2019-11-14 | パイオニア株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
JP2019024007A (ja) * | 2018-09-12 | 2019-02-14 | パイオニア株式会社 | 発光装置の製造方法及び発光装置 |
JP2021128946A (ja) * | 2019-09-25 | 2021-09-02 | パイオニア株式会社 | 発光装置の製造方法 |
JP2020013797A (ja) * | 2019-09-25 | 2020-01-23 | パイオニア株式会社 | 発光装置の製造方法 |
WO2021059459A1 (ja) * | 2019-09-26 | 2021-04-01 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 有機el表示装置 |
JP2021144959A (ja) * | 2019-12-26 | 2021-09-24 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
JP2020053411A (ja) * | 2019-12-26 | 2020-04-02 | パイオニア株式会社 | 発光装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2004079291A (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP4584506B2 (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP4116764B2 (ja) | 有機電界発光素子の作製方法 | |
US20040081855A1 (en) | Organic EL device | |
JP2007294261A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
KR101727887B1 (ko) | 유기전자장치의 제조 방법 | |
JP2002025765A (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法 | |
JP2011054668A (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP2003203771A (ja) | 有機発光素子、表示装置及び照明装置 | |
JP2000215984A (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP4254154B2 (ja) | 有機電界発光素子の封止方法 | |
JP4537596B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法 | |
JP3987770B2 (ja) | 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法 | |
JP2004063209A (ja) | 白色有機エレクトロルミネッセンス素子 | |
JPH1041067A (ja) | 有機エレクトロルミネセンス素子 | |
JP4082151B2 (ja) | 面発光体 | |
JP2004047381A (ja) | フレキシブル有機エレクトロ・ルミネッセンス素子、その製造方法及び情報表示装置及び照明装置 | |
JP2004063349A (ja) | 白色有機電界発光素子、白色有機電界発光素子の設計方法 | |
JP3967946B2 (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP2003282265A (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP2010034042A (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP2001085157A (ja) | 電子デバイス及びその製造方法 | |
JP2003347060A (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP2003347051A (ja) | 有機電界発光素子 | |
JP2004111080A (ja) | 有機el素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050525 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071026 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071106 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080107 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080401 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080805 |