CN102356356A - 电子照相光电导体及其生产方法,以及成像装置和处理盒 - Google Patents

Abstract

电子照相光电导体，其具有在载体上的感光层和交联树脂表面层，其中用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量电子照相光电导体的表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对所述阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成六个频率分量，包括HHH、HHL、HMH、HML、HLH和HLL，以获得一维数据阵列，HLL的阵列被稀疏化，以减少到其1/10至1/100，从而产生一维数据阵列，然后其通过小波变换进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成六个频率分量，包括LHH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL，从而总共得到12个频率分量；并且12个频率分量的中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WRa(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0---(i)。

Description

电子照相光电导体及其生产方法,以及成像装置和处理盒

技术领域

本发明涉及应用于复印机、传真机、激光打印机、直接数字制版机等的电子照相光电导体，该电子照相光电导体的生产方法，成像装置，以及处理盒(processcartridge)。

背景技术

随着电子照相光电导体应用于复印机、激光打印机等，到目前为止，最常用的是由硒、氧化锌、硫化镉等组成的无机光电导体，但现在，比无机光电导体在减小全球环境压力、低成本性能和高设计自由度方面更有优势的有机光电导体(OPC)已成为最常用的光电导体。最近，有机光电导体的使用水平达到了接近电子照相光电导体生产总量的100％。响应于最近不断增长的环境保护意识，需要将有机光电导体从供应产品(一次性产品)转变为机器部件。

到目前为止，进行了多种尝试以使有机光电导体具有高耐用性。目前，在光电导体(例如PTL1)表面形成交联树脂膜和在光电导体(例如PTL2)表面形成溶胶-凝胶固化膜尤其高度期望用于下一代电子照相光电导体。

前者具有即使在其中混入电荷传输组分也几乎不出现裂缝和破裂的优点，因而减少收率损失。特别是，可自由基聚合丙烯酸树脂具有优异的韧性，因此使用它们有利于容易获得感光性优异的光电导体。在这两种使用具有交联结构的树脂的方法中，涂布膜是由多种化学键形成的，因此即使在涂布膜受到应力以及部分化学键断裂时，也不会立即导致该光电导体的磨损。

同时，开发用于电子照相术的墨粉有利于生产的生态性能并获得较高的图像质量，因此，聚合墨粉(球形墨粉)正变得更常用。

可聚合墨粉(球形墨粉)是没有角度部分的球形墨粉，通过化学方法生产，例如悬浮聚合法，乳液-聚集聚合法(emulsion-aggregation polymerization method)，酯延伸法(ester elongation method)或溶解-悬浮法。取决于使用的生产方法，聚合墨粉的形状有所不同，并且考虑到容易清洁性能等，使用于成像装置中的聚合墨粉具有比球形墨粉略微不规则的形状。墨粉的典型平均圆球度(spherical degree)是0.95至0.99，典型的形状系数即SF-1和SF-2为110至140。注意，当平均圆球度为1.0，形状系数SF-1和SF-2为100时，这表明墨粉具有完整的球形形状。

由于聚合墨粉颗粒的形状均匀，因此墨粉保持的电荷量趋于相对均匀。此外，蜡和类似物(5％至10％的量)容易进行内部添加。因此，聚合墨粉几乎不会超过静电潜像的边缘，并且具有优异的显影性能、图像清晰度、分辨率、灰色梯度色调(grey-scale tone)和转印效率。此外，聚合墨粉具有许多优点。例如，在图像转印过程中不需要使用油。另一方面，这种墨粉的缺点在于难以清除墨粉污迹，并且在使用无油工艺的趋势下需要增加外部添加剂的量。因此，造成不便，例如容易在光电导体表面发生墨粉成膜。为解决上述缺点，进行了许多研究，到目前为止提出了许多建议。

为形成聚合墨粉的可清洁性，通常，期望光电导体在其表面具有低摩擦系数，并且即使在其反复使用中也能够保持该摩擦系数。例如，已知通过在光电导体表面施加固体润滑剂例如硬脂酸锌，可以改善聚合墨粉的可清洁性(参加NPL 1)。

当固体润滑剂例如硬脂酸锌从外部提供到在其表面层压了上述可自由基聚合交联丙烯酸树脂膜的高度耐用的电子照相光电导体上时，不方便地，固体润滑剂可能不会容易被光电导体表面接受。大部分这种类型光电导体具有光滑表面。因此，认为该可接受性问题可归因于光电导体的光滑度。为解决这一问题，PTL3公开了通过在光电导体表面形成粗糙表面，在光电导体上稳固地提供润滑材料的技术。具体地，PTL3论述，将光电导体的表面粗糙度(Rz-JIS-1994)设置为0.4μm至1.0μm，并且作为一种措施，在光电导体的表面层加入填料是有利的。还描述了有利之处是保持光电导体的特定表面粗糙度。

然而，即使光电导体表面具有相同Rz值，也存在多种粗糙表面结构。例如，尽管凹陷部分与凸出部分的距离(凹凸周期长度)差异大，光电导体表面有时仍具有相同的Rz值。因此，在一些情况下，在具有相同Rz的光电导体之间硬脂酸锌的可接受性存在差别。为改善光电导体表面的硬脂酸锌可接受性，需要设定除Rz外的特殊要求。电子照相光电导体的表面粗糙度是重要的性能项目，在大多数情况下，至今，表面粗糙度通过JIS B0601等限定的方法确定，正如在PTL3中公开的情况。

作为广泛使用的测量表面粗糙度的方法，有算数平均粗糙度(Ra)、最大高度(Rmax)和10点平均粗糙度(Rz)等。然而，这些评估方法具有当测量的光电导体表面区域存在极端凹和/或凸部分时测得的值变化的缺点。

没有精确评估表面粗糙程度的方法，因此对指示表面粗糙程度的参数进行了研究。以下说明对该参数的研究。

在PTL4中，在用表面粗糙度测量设备测量表面结构得到的截面曲线(1)上限定了设定在平均线(2)中间的分割宽度(X)，根据每单位长度(L)内由相邻的位于分割宽度(X)之外的一对波峰和波谷形成的峰单位的数量(4)，评估表面粗糙度。有机光电导体使用当分割宽度(X)设定为20μm和单位长度(L)设定为1cm时峰单位数(4)为100或更小的基底材料生产。

在PTL5中，为解决当考虑形成高质量图像而使用具有较小直径的墨粉时往往发生清洁缺陷的问题，在清洁刮刀上游提供在其上施加了偏电压以从所用光电导体分离带电墨粉的清洁辊，并且光电导体被设计为具有0.1μm至2.5μm的10点平均表面粗糙度。

同时，PTL6提出了一种满足关系式ΔT＞Rz和0nm＜ΔT+Rz＜5nm的方法，其中膜厚度在每个K-循环的消耗量定义为ΔT，表面粗糙度定义为Rz。

此外，PTL7公开了一种系统，其包含刮刀、墨粉组合物和未使用的成像构件，其中该未使用的成像构件包括在其上用该墨粉组合物形成潜像的表面，且未使用成像构件的表面的表面粗糙度由以下关系式限定：

R/ann4＞KB(1-σ2)/32πEt2af

和                            .....(A)

$/\mathrm{\μ}\·\mathrm{KB}/\mathrm{\Γ}\·t/\mathrm{af}\·\mathrm{\θ}$

在关系式(A)中，R代表表面凸出部分的平均高度，“ann”代表表面上相邻凸出部分之间最近距离的一半(1/2)，KB代表刮刀的体积弹性模量，σ代表墨粉组合物的泊松比，E代表墨粉组合物的杨氏模量，t代表墨粉组合物中扁平颗粒的平均厚度，“af”代表扁平颗粒物的平均半径，μ代表墨粉-刮刀摩擦系数和墨粉-表面摩擦系数之间的平均值，Γ代表表面和扁平颗粒之间粘着力的Dupre功，θ代表刮刀尖端角度。

此外，PTL8提出了一种圆柱形电子照相光电导体，其包含圆柱形载体和设置在该圆柱形载体上的有机感光层，其中电子照相光电导体的圆周表面具有多个浅凹陷部分；沿该圆周表面的圆周方向测量时圆周表面的10点平均粗糙度Rzjis(A)为0.3μm至2.5μm，沿该圆周表面的母线(bus line)方向测量时圆周表面的10点平均粗糙度Rzjis(B)为0.3μm至2.5μm；沿电子照相光电导体圆周表面的圆周方向测量时凹陷部分和凸出部分之间的平均间隔RSm(C)为5μm至120μm；沿圆周表面的母线方向测量时凹陷部分和凸出部分之间的平均间隔RSm(D)为5μm至120μm；平均间隔RSm(D)与平均间隔RSm(C)之比(D/C)为0.5至1.5；浅凹陷部分的最长直径在1μm至50μm的范围内；电子照相光电导体圆周表面每10000μm²具有0.1μm至2.5μm深度的浅凹陷部分的数量为5至50。

也具体说明了10点平均粗糙度Rzjis(A)优选地是0.4μm至2.0μm，10点平均粗糙度Rzjis(B)优选地是0.4μm至2.0μm，凹陷部分和凸出部分之间的平均间隔RSm(C)优选地是10μm至100μm，凹陷部分和凸出部分之间的平均间隔RSm(D)优选地是10μm至100μm，平均间隔RSm(D)与平均间隔RSm(C)之比(D/C)优选地是0.8至1.2。

此外，具体说明了电子照相光电导体的圆周表面的最大高度Rp(F)优选地是0.6μm或更低，圆周表面的最大深度Rv(E)和最大高度Rp(F)的比值(E/F)优选地是1.2或更大。

PTL9公开了一种电子照相光电导体，其包括载体和设置在载体上的有机感光层，其中在电子照相光电导体的表面或表面层上形成多个浅凹陷部分，浅凹陷部分的最长直径的范围是1μm至50μm，电子照相光电导体表面层的表面上每100μm²具有0.1μm或更大的深度或者1μm³或更大的体积的浅凹陷部分的数目为5至50，并且在表面层和紧接表面层下设置的层之间的边界表面上提供了对应于在表面层的表面上形成的浅凹陷部分的多个凹陷部分。

PTL10提出了一种成像装置，其包括多个图像承载构件，每个图像承载构件具有导电载体和在导电载体上的感光层，并且每个图像承载构件被配置为其表面暴露于光，以形成静电潜像；多个显影设备，每个显影设备相应于多个图像承载构件提供，并且每个被配置为使用显影剂使静电潜像显影；以及多个清洁设备，每个清洁设备相应于多个图像承载构件提供，并且每个被配置为相对图像承载构件每一个的表面摩擦以除去显影剂，其中多个显影设备中至少一对显影设备装有颜色相同但亮度不同的显影剂，并且其中根据相应于每个图像承载构件的显影设备中装有的显影剂的亮度，在最初阶段控制每个图像承载构件的表面的10点平均粗糙度Rz。

PTL11提出了一种成像装置，该成像装置被配置为使用这样的电子照相光电导体形成图像，该电子照相光电导体具有这样的表面粗糙度：10点平均表面粗糙度Rz为0.1μm至1.5μm，或者最大高度Rz为2.5μm或更小，并且具有这样的表面性质：摩擦阻力Rf满足关系式45gf＜Rf＜200gf，其中摩擦阻力Rf是将JIS-A硬度为70度到80度、宽度为5mm、长度为325mm、厚度为2mm和自重为4.58g的聚氨酯制扁平带施加在100g的载荷下，圆周方向的接触长度设定为3mm，和接触面积设定为15mm²时测得的拉伸载荷。

PTL12提出了一种成像方法，该方法包括使用显影剂显影在电子照相光电导体上形成的潜像；将由显色剂以可见图像形成的墨粉图像初次转印到中间转印构件上；将已转印到中间转印构件上的墨粉图像二次转印到记录材料上；以及在将墨粉图像转印到记录材料上后除去残留在电子照相光电导体上的残余墨粉，其中电子照相光电导体的表面粗糙度Ra为0.02μm至0.1μm，中间转印构件的表面粗糙度Rz为0.4μm至2.0μm，以及向电子照相光电导体的表面提供能量减少剂，以形成图像。

PTL13提出了一种成像装置，其包括有机光电导体，其中在该有机光电导体中，设置在其表面上的凹陷和凸起的凹凸周期的平均值是所用墨粉的体积平均颗粒直径的10倍或更大。

PTL14提出了一种电子照相装置，其包括以圆周速度200mm/sec旋转的电子照相光电导体和清洁设备，其中电子照相光电导体具有导电载体、感光层和表面保护层，感光层和表面保护层被提供在导电载体上，其中表面保护层含有相对于表面保护层总质量按质量计35.0％至45.0％量的含氟树脂颗粒，其中电子照相光电导体的10点平均粗糙度为0.1μm至5.0μm，用Taber耐磨性试验测得时表面硬度为0.1至10.0以及表面摩擦系数为0.1至0.7；其中清洁设备是橡胶弹性刮刀，清洁刮刀对电子照相光电导体的线性压力是0.294N至0.441N/cm，所用墨粉的玻璃化转变温度(Tg)为40℃至55℃，清洁刮刀的拉伸弹性模量(杨氏模量)为784N至980N/cm²，清洁刮刀的回弹性为35％至55％，以及清洁刮刀的基底表面含有氟树脂细微颗粒。

PTL15提出了一种成像方法，该成像方法使用这样的成像构件，其满足关系式d/t×0.01≤Ra≤0.5，其中墨粉的扁平度(d/t)(d：体积平均直径，t：墨粉颗粒厚度)和成像构件的表面粗糙度之间的关系由中心线平均粗糙度Ra(μm)表示。

此外，PTL16、PTL17、PTL18都提出了一种成像装置，其中在成像构件中提供了凹陷和凸起部分，凹陷和凸起部分具有小于其中所使用的球状墨粉的体积平均颗粒直径的尺寸。

PTL19公开了一种电子照相光电导体，其包括以200mm/sec的圆周速度旋转的电子照相光电导体和清洁设备，其中电子照相光电导体具有导电载体、感光层和表面保护层，感光层和表面保护层设置在导电载体上，其中表面保护层含有相对于表面保护层总质量按质量计15.0％至40.0％量的含氟树脂颗粒，其中电子照相光电导体的10点平均粗糙度为0.1μm至5.0μm，用Taber耐磨性试验测得的表面硬度为0.1至20.0，以及表面摩擦系数为0.001至1.2。

同时，作为评估光电导体表面构造的方法，提出了许多使用傅里叶变换的评估方法(参见PTL20、PTL21、PTL22、PTL23、PTL24、PTL25、PTL26、PTL27、PTL28和PTL29)。在这些方案的傅里叶变换中，信号中经常出现的变化可以被领会为其频率分量的分布，然而，这些评估方法不利于检测不经常出现的信号变化。同时，不方便的是，由于变换后横轴的位置(时间)信息完全失去，从傅里叶变换的结果，不能检测到变化发生的位置。

PTL30也提出了一种评估基底材料表面粗糙度的方法，其中用JIS B0601中限定的方法，从其任意选择的位置确定轴向的100μm长的基底材料表面的截面曲线，测量其垂直方向上的截面曲线在横轴方向以均匀间隔分布的位置上的位置，发现JIS Z8101限定的分布，确定选自JIS B0601中限定的表面粗糙度值Ra、Rz和Ry的测量值，以及使用该分布和该测量值评估表面粗糙度。

PTL31提出了一种评估成像装置部件的表面状态的方法，其中确定JIS B0601限定的截面曲线，对在表面粗糙度方向以均匀间隔分布在截面曲线上的位置的数据阵列进行多分辨率分析，以及至少根据多分辨率分析的结果评估表面粗糙度。

此外，PTL32讨论了用于电子照相光电导体的基底材料，对该基底材料提供一种方法评估成像装置部件的表面状态，在该方法中确定了JIS B0601限定的截面曲线，对在表面粗糙度方向以均匀间隔分布在截面曲线上的位置的数据阵列进行多分辨率分析，以及至少根据多分辨率分析的结果评估表面粗糙度。

即使使用上述方法中的任一种评估表面粗糙度，仍存在不能准确评估使用小直径墨粉或聚合墨粉的电子照相装置的可清洁性的问题。即，使用采用表面粗糙度值Ra、Rmax、Rz等的评估方法，不能准确确定表面粗糙度。因此，至今，使用一种在测量表面粗糙度时首先预先储存由表面粗糙度/表面轮廓的测量设备获得的记录图，然后从记录在记录图中的切割波形(cut wave form)检查表面粗糙度的方法，但是需要理解记录图的趋势，这要求特殊技能和一些经验。

如上所述，评估表面粗糙度(中心线表面粗糙度Ra、Rmax、Rz)的常规方法具有不能准确评估使用小直径墨粉或聚合墨粉的电子照相装置的可清洁性的缺点。

此外，PTL3具有以下缺点。在它的一个实施例中，使用氧化铝细微颗粒。氧化铝细微颗粒在分散性方面在涂布液中是不稳定的填料，因此为确定成膜要求，一些发明是必需的。在另一个使用聚甲基硅倍半氧烷细微颗粒的实施例中，不能说光电导体表面上润滑剂的可接受性不够。可以想到，由于在光电导体表面的大尺寸凹陷和凸起，光电导体不能令人满意地在其表面承载固体润滑剂。

由于主要由单体组分形成，交联树脂表面层涂布液具有低粘度。与此相反，含硅细微颗粒例如二氧化硅细微颗粒和有机硅树脂细微颗粒在交联树脂表面层涂布液中通常具有高分散稳定性，因此在多种填料中，它们的使用在生产方面特别有利。然而，不便的是，常规技术具有以下困难。

在PTL33中，第[0162]段和随后部分所述的实施例2中使用了含硅细微颗粒。然而，不能说光电导体表面的固体润滑剂的可接受性足够。可以想象，由于在其中提供的极大的凹陷和凸起，光电导体不能令人满意地在其表面承载固体润滑剂。需要加入新的不同技术。

PTL34讨论了平均颗粒直径为0.05μm至0.5μm的无机细微颗粒(疏水的二氧化硅)以0.05μm至15μm的厚度分散在表面粗糙度为0.1μm至0.5μm的感光层上，该感光层形成在表面粗糙度为0.01μm至2μm的导电载体上。根据描述，该方法能实现光电导体的高耐用性，并通过对二氧化硅颗粒进行疏水化处理，防止由于光电导体表面的污染例如电晕产物的粘着引起的分辨率下降。通过对无机细微颗粒的进行疏水化，可以表现出对水滴的排斥(由于大接触角)，然而，不可能防止电晕产物的粘着，因此不能防止图像流动(image flow)。为解决该问题，例如，如PTL35所述，通过使用氧化铝作为填料，避免了图像流动的发生。然而，如上所述，由于上述问题，在交联树脂表面层的情况中，难以直接在涂布液中使用氧化铝。

此外，PTL36讨论了不接触图像承载构件提供用于静电除去图像承载构件上残留的粉末状润滑剂的润滑剂去除设备。

在向光电导体表面外部地加入固体润滑剂的成像装置中，固体润滑剂在光电导体上的可接受性影响光电导体表面的磨损速度和墨粉的可清洁性，并影响印刷图像的质量。目前，还没有获得令人满意地改善固体润滑剂在层压了高度耐用交联树脂表面层的光电导体表面上的可接受性的技术。

如上所述，关于向电子照相光电导体提供高耐用性，通过在光电导体表面形成交联树脂膜，可以预期明显的改善。可以说最常用于显影剂的聚合墨粉的可清洁性是一个重要的技术课题。为解决该课题，在光电导体表面施加固体润滑剂是有利的。然而，在其最上表面设置有交联树脂膜的电子照相光电导体的固体润滑剂的可涂布性不良，因此不能完全地利用其优异的耐用性。

引用列表

专利文献

[PTL 1]日本专利申请公开(JP-A)号2000-66424

[PTL 2]日本专利申请公开(JP-A)号2000-171990

[PTL 3]日本专利申请公开(JP-A)号2007-79244

[PTL 4]日本专利申请公开(JP-A)号07-104497

[PTL 5]日本专利申请公开(JP-A)号2002-196645

[PTL 6]日本专利申请公开(JP-A)号2006-163302

[PTL 7]日本专利(JP-B)号3040540

[PTL 8]日本专利(JP-B)号3938209

[PTL 9]日本专利(JP-B)号3938210

[PTL 10]日本专利申请公开(JP-A)号2005-345788

[PTL 11]日本专利申请公开(JP-A)号2004-258588

[PTL 12]日本专利申请公开(JP-A)号2004-54001

[PTL 13]日本专利申请公开(JP-A)号2003-270840

[PTL 14]日本专利申请公开(JP-A)号2003-241408

[PTL 15]日本专利申请公开(JP-A)号2003-131537

[PTL 16]日本专利申请公开(JP-A)号2002-296994

[PTL 17]日本专利申请公开(JP-A)号2002-258705

[PTL 18]日本专利申请公开(JP-A)号2002-299406

[PTL 19]日本专利申请公开(JP-A)号2002-82468

[PTL 20]日本专利申请公开(JP-A)号2001-265014

[PTL 21]日本专利申请公开(JP-A)号2001-289630

[PTL 22]日本专利申请公开(JP-A)号2002-251029

[PTL 23]日本专利申请公开(JP-A)号2002-296822

[PTL 24]日本专利申请公开(JP-A)号2002-296823

[PTL 25]日本专利申请公开(JP-A)号2002-296824

[PTL 26]日本专利申请公开(JP-A)号2002-341572

[PTL 27]日本专利申请公开(JP-A)号2006-53576

[PTL 28]日本专利申请公开(JP-A)号2006-53577

[PTL 29]日本专利申请公开(JP-A)号2006-79102

[PTL 30]日本专利申请公开(JP-A)号2004-117454

[PTL 31]日本专利申请公开(JP-A)号2004-61359

[PTL 32]日本专利申请公开(JP-A)号2007-292772

[PTL 33]日本专利申请公开(JP-A)号2005-99688

[PTL 34]日本专利申请公开(JP-A)号08-248663

[PTL 35]日本专利申请公开(JP-A)号2004-138643

[PTL 36]日本专利申请公开(JP-A)号2008-122869

非专利文献

[NPL 1]Japan Hardcopy Fall Meeting，24-27，2001(Nobuo Hyakutake，AkihisaMaruyama，Satoru Shigesaki，Sachie Okuyama)。

发明内容

本发明目的在于改善具有交联树脂表面层的高耐用性电子照相光电导体的润滑剂可接受性，从而实现电子照相光电导体和成像装置寿命的延长，以及进一步的目的在于提供能降低印刷成本的电子照相光电导体、生产该电子照相光电导体的方法、成像装置和处理盒。

解决上述问题的方法如下：

1)一种电子照相光电导体，其包括；

载体，

感光层，和

交联树脂表面层，该感光层和交联树脂表面层被设置在该载体上，

其中用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量该电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(HHH)、次高频率分量(HHL)、第三高频率分量(HMH)、第四高频率分量(HML)、第五高频率分量(HLH)和最低频率分量(HLL)，如此获得的最低频率分量(HLL)的一维数据阵列被稀疏化(thinned out)，使得数据阵列的数量减少到其1/10至1/100，从而产生一维数据阵列，通过小波变换对如此产生的一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(LHH)、次高频率分量(LHL)、第三高频率分量(LMH)、第四高频率分量(LML)、第五高频率分量(LLH)和最低频率分量(LLL)，从而总共得到12个频率分量；并且这12个频率分量每个的中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：

1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WR

a(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×

WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0

                                     ...(i)

其中每个频率分量的中心线平均粗糙度(WRa)是基于一维数据阵列的中心线平均粗糙度，其通过以下方法获得：用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量该电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)和(MRA-2)以将其分成从最高频率分量到最低频率分量的不同频率分量；HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每一个依次代表当该一维数据阵列分成具有下述中一个凹凸周期长度的频率分量时获得的各个频带：4μm至25μm、10μm至50μm、53μm至183μm、106μm至318μm、214μm至551μm、431μm至954μm和867μm至1654μm。

2)根据1)的电子照相光电导体，其中该交联树脂表面层至少包含等于或多于按质量计5％并少于按质量计60％量的由下述通式(1)表示的可固化电荷传输材料的交联产物：

其中d、e和f各代表0或1的整数，R₁₃代表氢原子或甲基；R₁₄和R₁₅各代表具有1至6个碳原子的烷基，其是除氢原子以外的取代基，并且在R₁₄和R₁₅以多个存在的情况下，每个可以不同；g和h各代表0至3的整数；Z代表单键、亚甲基、亚乙基和由下式之一代表的二价基团中任意一个：

3)根据1)和2)中一项的电子照相光电导体，其中该交联树脂表面层包含等于或多于按质量计10％并少于按质量计50％量的三羟甲基丙烷三丙烯酸酯的交联产物。

4)根据1)至3)中任一项的电子照相光电导体，其中该交联树脂表面层是涂布以交联树脂表面层涂布液之后立即用水喷洒未固化湿膜后固化的层。

5)根据1)至3)中任一项的电子照相光电导体，其中该交联树脂表面层用相对于该交联树脂表面层涂布液的质量含有按质量计5％至按质量计15％量的水的交联树脂表面层涂布液形成。

6)生产在载体上具有感光层和交联树脂表面层的电子照相光电导体的方法，

其中用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(HHH)、次高频率分量(HHL)、第三高频率分量(HMH)、第四高频率分量(HML)、第五高频率分量(HLH)和最低频率分量(HLL)，如此获得的最低频率分量(HLL)的一维数据阵列被稀疏化，使得数据阵列的数量减少至其1/10到1/100，从而产生一维数据阵列，通过小波变换对如此产生的一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(LHH)、次高频率分量(LHL)、第三高频率分量(LMH)、第四高频率分量(LML)、第五高频率分量(LLH)和最低频率分量(LLL)，从而得到总共12个频率分量；12个频率分量中每个的中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：

1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WR

a(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×

WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0

                                ...(i)

其中每个频率分量的中心线平均粗糙度(WRa)是基于一维数据阵列的中心线平均粗糙度，其由以下方法获得：用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量该电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，并对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)和(MRA-2)以将其分成从最高频率分量到最低频率分量的不同频率分量；HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每一个依次代表当该一维数据阵列分成具有下述中一个凹凸周期长度的频率分量时获得的各个频带：4μm至25μm、10μm至50μm、53μm至183μm、106μm至318μm、214μm至551μm、431μm至954μm和867μm至1654μm。

7)成像装置，其包括：

根据1)至5)中任一项的电子照相光电导体，

固体润滑剂施加设备，其用刷辊刮取固体润滑剂并将刮取的固体润滑剂施加到该电子照相光电导体上，和

涂布刮刀，其用于将该固体润滑剂散布于该电子照相光电导体的表面。

8)根据7)的成像装置，其中在该电子照相光电导体中，至少除HLL外的频率分量的WRa为0.06μm或更大，每个频率分量的频带高于LLL的频带，并且当在二维图上绘制该电子照相光电导体中频率分量的频带与每个WRa值的对数值的曲线以获得二者之间的关系时，在LLH、LMH和LML中任一个的频带中存在拐点或局部极大点，并且其中该电子照相光电导体满足线速度要求：每秒有250至1000个该光电导体表面中的凹陷和凸起通过该涂布刮刀。

9)根据7)和8)中一项的成像装置，其中使用聚合墨粉显影图像。

10)根据7)和8)中一项的成像装置，进一步包括至少两个显影设备，其中该成像装置使用串联系统，并使用聚合墨粉显影图像。

11)处理盒，其包括：

根据1)至5)中任一项的电子照相光电导体，

固体润滑剂施加设备，其用刷辊刮取固体润滑剂并将刮取的固体润滑剂施加到该电子照相光电导体上，和

涂布刮刀，其用于将该固体润滑剂散布于该电子照相光电导体的表面。

12)根据11)的处理盒，其中在该电子照相光电导体中，至少除HLL外的频率分量的WRa为0.06μm或更大，每个频率分量的频带高于LLL的频带，并且当在二维图上绘制该电子照相光电导体中频率分量的频带与每个WRa值的对数值的曲线以获得二者之间的关系时，在LLH、LMH和LML中任一个的频带中存在拐点或局部极大点，并且其中该电子照相光电导体满足线速度要求：每秒有250至1000个该光电导体表面中的凹陷和凸起通过该涂布刮刀。

根据本发明的电子照相光电导体在其表面具有优异的固体润滑剂可接受性，且可以用具有优异灵敏度的固体润滑剂涂布，因此使用本发明的电子照相光电导体的成像装置具有高实用价值，因为能够表现出高耐磨性和优异的聚合墨粉可清洁性。

附图说明

图1是示意性图解本发明成像装置的一个实例的截面图。

图2是示意性图解本发明成像装置的另一个实例的截面图。

图3是示意性图解本发明成像装置的再一个实例的截面图。

图4是示意性图解本发明成像装置的又一个实例的截面图。

图5是示意性图解本发明成像装置的又一个实例的截面图。

图6是示意性图解本发明成像装置的又一个实例的截面图。

图7是图解本发明电子照相光电导体的层状结构的截面图。

图8是图解本发明电子照相光电导体的另一种层状结构的截面图。

图9是图解测量光电导体表面上的固体润滑剂可接受性时光电导体周围布局的示例图。

图10是示意性图解用于向光电导体供应固体润滑剂的设备的截面图。

图11是示意性图解向光电导体供应固体润滑剂的设备的另一截面图。

图12是图解固体润滑剂附着于光电导体的状态的示意图。

图13是图解固体润滑剂在光电导体表面的可涂布性差的状态的示例图。

图14是图解固体润滑剂在光电导体表面的可涂布性差的状态的另一示例图。

图15是图解固体润滑剂在光电导体表面的可涂布性差的状态的又一示例图。

图16是图解在光电导体表面上低频率分量形成的凹陷和凸起导致涂布刮刀线性压力波动的状态的示意图。

图17是表面粗糙度/表面轮廓测量系统的结构图。

图18A是示例性显示使用小波变换的多分辨率分析结果的图。

图18B是示例性显示使用小波变换的多分辨率分析结果的另一个图。

图18C是示例性显示使用小波变换的多分辨率分析结果的又一个图。

图18D是示例性显示使用小波变换的多分辨率分析结果的还又一个图。

图19是图解在第一次多分辨率分析中分离频带的图。

图20是第一次多分辨率分析中最低频率数据的曲线图。

图21是图解在第二次多分辨率分析中分离频带的图。

图22是图解硬脂酸锌区域尺寸和硬脂酸锌面积占用率结果的曲线图。

图23是图解用多元数据分析得到的固体润滑剂可涂布性的估计值和实际测量值之间关系的示例图。

图24是显示形状因子和固体润滑剂可涂布性之间关系的相关性图。

图25是图解分成频率分量的WRa值和频率之间关系的示例图，其中在低频带区域观测到WRa值的拐点。

图26是图解分成频率分量的WRa值和频率之间关系的示例图，其中在低频带区域观测到WRa值的局部极大点。

图27是分成实施例1的频率分量后的WRa的关系图。

图28是分成实施例2的频率分量后的WRa的关系图。

图29是分成实施例3的频率分量后的WRa的关系图。

图30是分成实施例4的频率分量后的WRa的关系图。

图31是分成实施例5的频率分量后的WRa的关系图。

图32是分成实施例6的频率分量后的WRa的关系图。

图33是分成实施例7的频率分量后的WRa的关系图。

图34是分成实施例8的频率分量后的WRa的关系图。

图35是分成比较实施例1的频率分量后的WRa的关系图。

图36是分成比较实施例2的频率分量后的WRa的关系图。

图37是分成比较实施例3的频率分量后的WRa的关系图。

图38是分成比较实施例4的频率分量后的WRa的关系图。

图39是分成比较实施例5的频率分量后的WRa的关系图。

图40是光电导体表面构造的一种示例图。

图41是光电导体表面构造的另一种示例图。

图42是光电导体表面构造的又一种示例图。

具体实施方式

(电子照相光电导体)

根据本发明的电子照相光电导体包含载体、该载体上的感光层和交联树脂表面层，以及根据需要，还包含其他层。

为解决上述问题，本发明人研究了用于在电子照相过程中用固体润滑剂涂布光电导体表面的涂布机制，确定了电子照相光电导体满足涂布过程的必要条件，并进一步设计了实现所需的设备。以下依次描述上述事项。

首先说明用于在电子照相过程中用固体润滑剂涂布光电导体表面的涂布机制。

以粉末形式向光电导体表面少量提供润滑剂。作为其具体方法，日本专利申请(JP-A)号2000-162881中公开了一种涂布方法，其中由施加设备例如刷子成块刮取润滑剂，该刮取的润滑剂被提供到光电导体上。该方法被认为优势在于涂布设备的结构简单，以及润滑剂容易被提供给光电导体的整个表面。

图11是润滑剂供应设备结构的实例。该润滑剂供应设备适于用涂布刷3B例如可旋转毛刷将固体润滑剂3A施加在光电导体31上。涂布刷3B旋转并与固体润滑剂3A接触，以刮取固体润滑剂3A的一部分。刮取的固体润滑剂3A附着于涂布刮刀39并在旋转的同时施加到光电导体31上。涂布于光电导体31上的固体润滑剂3A通过涂布刮刀39散布于光电导体31的表面。当用刷或类似物将固体润滑剂施加到光电导体表面时，光电导体表面被粉末形式的润滑剂涂布。如果施加的润滑剂保持不变，则润滑性能得不到充分发挥。在此，将施加的润滑剂散布于光电导体表面是重要的。通过这一步骤，固体润滑剂在光电导体表面形成膜，从而表现出润滑性能。

固体润滑剂3A通常由高级脂肪酸金属盐例如硬脂酸锌组成。硬脂酸锌是片状晶体粉末。

高级脂肪酸金属盐可以用作固体润滑剂3A，例如硬脂酸锌，其是典型实例。硬脂酸锌是片状晶体粉末的典型实例，这种材料适于用作润滑剂。片状晶体具有分层结构，在分层结构中，两性分子是自组织的，并且当施加剪切力时，晶体沿着层间边缘破裂并变滑。这一行为有效降低摩擦系数。因此，当施加剪切力时均匀覆盖光电导体表面是片状晶体的特性。这一特性使得光电导体的表面能够用少量的润滑剂有效覆盖。

当用这种方法将润滑剂施加在光电导体表面时，有多种控制润滑剂的涂布状态的方法。例如，考虑增加固体润滑剂和涂布刷之间接触压力的方法，以及控制涂布刷转动速度的方法。也尝试根据成像信息控制涂布刷的转数。

接下来，本发明人研究了电子照相光电导体满足固体润滑剂涂层过程的必要条件。

在这种用固体润滑剂涂布光电导体的涂布机制中，当固体润滑剂附着于电子照相光电导体时，需要用固体润滑剂高度灵敏地涂布电子照相光电导体。考虑至少光电导体31和固体润滑剂之间的粘着力和用涂布刮刀39形成固体润滑剂3A膜的容易性影响固体润滑剂的附着或粘着灵敏度。

两个物体之间的粘着例如在“KONICA MINOLTA TECHNOLOGY REPORTVol.1，pp.19-22，2004，Yukiko Mizuguchi和Kento Miyamoto编辑”中有说明。粘着被认为受非静电吸引力、静电吸引力和两个物体间接触面积的影响。静电吸引力被认为由接触电势差造成。非静电吸引力被认为根据表面能例如易湿性造成。

本质上，固体润滑剂粘着性是弱的，即使在光电导体表面加入多种表面改性剂，也不能显著地改变固体润滑剂和光电导体表面之间的粘着。于是，作为另一个因素p，本发明人研究了在光电导体上提供粗糙表面的效果，这是从二者之间的接触面积想到的。

图12是由本发明人构想的光电导体表面构造的影响的实例。图12图解了以下状态：粉末形式的固体润滑剂3A，由涂布刷刮取，作为聚集体或一种固体物质，粘着到光电导体31的表面。当光电导体表面是如图13所示光滑时，预测固体润滑剂3A不能通过涂布刮刀3D的边缘，在光电导体31的表面向旁边滑动，随后从光电导体31的表面脱离。相比之下，当如图14所示，光电导体表面存在高低不平的凹陷和凸起时，固体润滑剂3A与光电导体31点接触。在这种情况下，也预测固体润滑剂3A轻易地从光电导体31的表面脱离。

预测，如图15所示，固体润滑剂3A的聚集体与光电导体31在凹陷和凸起的边缘点接触，因此，尽管可能防止固体润滑剂向旁边滑动，固体润滑剂3A轻易地从光电导体表面脱离，除非在光电导体31表面上凹陷和凸起以规律的周期提供。因此，本发明人考虑，可以通过允许涂布刮刀3A滑过并挤压固体润滑剂3A，同时适当增加和减小刮刀的线压力，增加固体润滑剂的粘着性，以便将润滑剂3A散布于光电导体31的表面，并在光电导体31的表面提供适当的凹陷和凸起，如图16所示，并通过进一步使凹陷和凸起具有适当地高的频率，以防止固体润滑剂3A在光电导体表面向旁边滑动。

即使在通过用常规的表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量中心线表面粗糙度(算数平均粗糙度)Ra和粗糙度曲线平均长度RSm进行光电导体上提供的粗糙表面构造的评估时，测得结果只是被宽泛地分类，如上所述。因而，本发明人验证了光电导体上粗糙表面的形成可以通过生产能满足多分辨率分析的必要条件的光电导体控制，在多分辨率分析中，通过小波变换分析光电导体表面的截面曲线的一维数据阵列。

以下说明对光电导体表面的截面曲线的多分辨率分析。

在本发明中，对于电子照相装置部件的表面的状态，确定JIS B0601所述的截面曲线，然后获得截面曲线的一维数据阵列。

截面曲线的一维数据阵列可以通过使用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备，或者通过A/D转换从获得的模拟输出信号得到，作为数字信号。

在本发明中，测量长度优选地是由日本工业标准(JIS)所述的方法确定的测量长度，在8mm至25mm的范围内。

取样间隔优选地是1μm或更小，更优选地是0.2μm至0.5μm。例如，当以12mm的测量长度和30720个取样点测量粗糙表面时，取样间隔是0.390625μm，这适于考察本发明的效果。

如上所述，对一维数据阵列用小波变换进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成从最高频率分量(HHH)到最低频率分量(HLL)的多个不同频率分量(例如6个频率分量(HHH)、(HHL)、(HMH)、(HML)、(HLH)和(HLL))，这里获得的最低频率分量(HLL)被稀疏化以产生一维数据阵列，对该一维数据阵列用小波变换进一步进行多分辨率分析(MRA-2)以分成从最高频率分量到最低频率分量的多个不同频率分量(例如6个频率分量(LHH)、(LHL)、(LMH)、(LML)、(LLH)和(LLL))。对每个获得的频率分量进行中心线平均粗糙度(WRa)测量。在本发明中，中心线平均粗糙度被称为“WRa”以区别于普通Ra。在本发明中，设定中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：

1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WR

a(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×

WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0

                                   ...(i)

在此，中心线平均粗糙度(WRa)是基于一维数据阵列的中心线平均粗糙度(WRa)，其由以下方法获得：用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)和(MRA-2)以将其分成从最高频率分量到最低频率分量的不同频率分量。HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每一个代表当凹陷-凸起形状的一个周期长度(一个凹凸周期长度)依次为4μm至25μm、10μm至50μm、53μm至183μm、106μm至318μm、214μm至551μm、431μm至954μm和867μm至1654μm时，一维数据阵列被分成频率分量时的各频带。

在关系式(i)中，提供给奇数高频项LLH、LMH和HLH的加号(+)和提供给偶数高频项LL、LML和HML的减号(-)没有太多意义，只代表在多元数据分析中获得的系数。在本发明中，从对每个频带的Ra的多元数据分析和固体润滑剂对光电导体的粘着数据，确定Ra对粘着的贡献率。

(1)频带的定义

在此，由JIS-B0601：2001限定的电子照相光电导体的算术平均粗糙度(Ra)值的数据阵列根据凹凸周期长度通过小波变换被分为多个不同频率分量，分开的频率分量中各个频带的算术平均粗糙度值被指定如下：

WRa(HHH)：凹凸周期长度在0μm至3μm范围时频带的Ra

WRa(HHL)：凹凸周期长度在6μm至1μm范围时频带的Ra

WRa(HMH)：凹凸周期长度在2μm至13μm范围时频带的Ra

WRa(HML)：凹凸周期长度在4μm至25μm范围时频带的Ra

WRa(HLH)：凹凸周期长度在10μm至50μm范围时频带的Ra

WRa(HLL)：凹凸周期长度在24μm至99μm范围时频带的Ra

WRa(LHH)：凹凸周期长度在26μm至106μm范围时频带的Ra

WRa(LHL)：凹凸周期长度在53μm至183μm范围时频带的Ra

WRa(LMH)：凹凸周期长度在106μm至318μm范围时频带的Ra

WRa(LML)：凹凸周期长度在214μm至551μm范围时频带的Ra

WRa(LLH)：凹凸周期长度在431μm至954μm范围时频带的Ra

WRa(LLL)：凹凸周期长度在867μm至1654μm范围时频带的Ra

每个频带乘以数值17、55、79、84、95、238或597。该数值，即每个频带的系数“17、55、79、84、95、238或597”，是在本发明的实验性测试中作为最优值获得的。因此，如果该系数改变，固体润滑剂的粘着性和光电导体表面粗糙度之间的相关性降低。在关系式(i)中，HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每个代表在一维数据阵列被分为凹凸周期长度依次为4μm至25μm、10μm至50μm、53μm至183μm、106μm至318μm、214μm至551μm、431μm至954μm和867μm至1654μm的频率分量时获得的各频带。在本发明中，在实际的小波变换分析中，使用称为MATLAB的数字分析软件。关于带宽的定义，软件提出的限制所限定的范围没有多少意义。因此，系数根据带宽的变化而变化。在本发明中，当使用(Harr)函数作为母小波函数进行多元数据分析，以将数据分成从最高频率分量到最低频率分量时，分开的频率分量数目是6。此外，在本发明中，数据阵列被稀疏化或减少至1/40。

在HML分量和HLH分量之间、LHL分量和LMH分量之间、LMH分量和LML分量之间、LML分量和LLH分量之间以及LLH分量和LLL分量之间的频带互相重叠。重叠的原因如下。在小波变换中，原始信号在第一次小波变换(级别1)中被分解为L(低通分量)和H(高通分量)，然后对L(低通分量)进行小波变换以分解成LL和HL。

在此，当原始信号中包含的频率分量f与分离的频率F高度一致时，频率分量f正好位于分离边界，因此在分离后被分成L和H二者。这一现象在多分辨率分析中无法避免。因此，设定原始信号中包含的频率以避免在小波变换过程中要观测的频带被分离是重要的。在多个水平进行小波变换后在任意水平进行逆向小波变换，以便被分成多个频带的信号被解码(恢复)也是有益的。

<小波变换(多分辨率分析)中每个频率波的符号>

在本发明中，进行两次小波变换，最初的小波变换被称为第一次小波变换(为了方便，简称为MRA-1)，随后的小波变换被称为第二次小波变换(为了方便，简称为MRA-2)。为区分第一次变换和第二次变换，给相应的频带提供H(第一次变换)和L(第二次变换)作为前缀。

在此，作为用于第一次和第二次小波变换的母小波函数，可以使用多种函数，例如可使用(Dubecies)函数、(Haar)函数、(Meyer)函数、(Symlet)函数、(Coiflet)函数等。

当进行多分辨率分析以将数据分成多个由高频率分量到低频率分量的频率分量时，频率分量的数目是4或更大，优选地8或更小，更优选地为6。

在本发明中，进行第一次小波变换以将数据分成多个频率分量，在分离中获得的低频率分量被稀疏化以便取样，以便产生反映最低频率分量数据的一维数据阵列。通过第二次小波变换对一维数据阵列进行多分辨率分析，其中数据被分成多个频率分量，包括高频率分量到低频率分量。

在此，特征在于当第一次小波变换(MRA-1)获得的最低频率分量(HLL)被稀疏化时，数据阵列数目被减小到原数据阵列数目的1/10到1/100。

稀疏化数据阵列有效增加数据频率(扩大了横轴对数值的宽度宽度)。例如，当第一次小波变换获得的一维数据阵列数为30000时，通过将数据阵列稀疏化到1/10，数据阵列数被减少到3000。

在这种情况下，当被稀疏化或减少的数据阵列数少于1/10例如1/5时，增加频率的效果小，并且即使通过第二次小波变换对数据阵列进行多分辨率分析，数据阵列也未令人满意地分离。

当被稀疏化或减少的数据阵列数多于1/100例如1/200时，数据频率过度增加，并且即使通过第二次小波变换对数据阵列进行多分辨率分析，数据也集中在高频率分量并且未令人满意地分离。

图17是示意图解应用于本发明中评估电子照相光电导体表面粗糙度的评估系统的构造实例的图。在图17中，参考数字41指电子照相光电导体，参考数字42指连接用于测量表面粗糙度的探针的夹具，参考数字43指沿着测量对象移动夹具42的机构，参考数字44指表面粗糙度/表面轮廓的测量设备，参考数字45指用于分析信号的个人计算机。在图17中，上述多分辨率分析的计算是由个人计算机45进行的。当电子照相光电导体具有圆柱形形状时，电子照相光电导体的表面粗糙度可以在适当的方向上测量，即在圆周方向和纵向。

提供图17以说明一个实例，并且评估装置可以具有其他构造。例如，多分辨率分析可以由专用的数字计算处理器进行，而不用个人计算机。此外，处理可以用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备完成。有许多用于显示评估结果的方法。结果可以显示在CRT、液晶显示器上或打印出来。此外，结果可以作为电信号传递给另一个设备，或者可以储存在USB存储器或MO盘中。

在测量中，本发明人使用由Tokyo Seimitsu Co.，Ltd制造的SURFCOM 1400D作为表面粗糙度/表面轮廓的测量设备，使用IBM制造的个人计算机。然后SURFCOM 1400D通过RS-232-C电缆连接到IBM个人计算机。从SURFCOM1400D传送到个人计算机的表面粗糙度数据处理和多分辨率分析的计算使用发明人用C语言编程的软件完成。

下面结合具体实例说明对光电导体表面构造进行多分辨率分析的过程。

首先，用由Tokyo Seimitsu Co.，Ltd制造的SURFCOM 1400D测量电子照相光电导体的表面构造。

在此，第一次的表面粗糙度测量长度为12mm，总取样点数为30720。

在一次性测量中，在四个点对电子照相光电导体的表面进行测量。测得的结果输入个人计算机中，然后是第一次小波变换，进行稀疏化过程，以减少在第一次小波变换中获得的低频率分量至1/40，以及进行第二次小波变换。

根据如此获得的第一次和第二次多分辨率分析的结果，计算中心线平均粗糙度Ra、最大高度Rmax和10点平均粗糙度Rz。图18A至18D给出了计算结果的一些实例。

在图18A至18D中，图18A中图解的曲线图是用SURFCOM 1400D测量得到的原始数据，这可以称为“粗糙度曲线”或“截面曲线”。

在图18A至18D中有14幅曲线图，其中纵轴代表表面构造位移(单位：μm)；横轴代表长度，测量长度为12mm，尽管没有提供刻度。在表面粗糙度的常规测量中，仅从数据得到中心线平均粗糙度Ra、最大高度Rmax和10点平均粗糙度Rz。

此外，图18B所示的6幅曲线图是第一次多分辨率分析(MRA-1)的结果，其中位于最上方的曲线图是最高频率分量(HHH)的曲线图，位于最下方的曲线图是最低频率分量(HLL)的曲线图。

这里，在图18B中，位于最上方的曲线图(101)是第一次多分辨率分析结果中的最高频率分量，本发明中称为“HHH”。

曲线图(102)是第一次多分辨率分析结果中其级别比最高频率分量低一级别的频率分量，本发明中称为“HHL”。

曲线图(103)是第一次多分辨率分析结果中其级别比最高频率分量低二级别的频率分量，本发明中称为“HMH”。

曲线图(104)是第一次多分辨率分析结果中其级别比最高频率分量低三级别的频率分量，本发明中称为“HML”。

曲线图(105)是第一次多分辨率分析结果中其级别比最高频率分量低四级别的频率分量，本发明中称为“HLH”。

曲线图(106)是第一次多分辨率分析结果中的最低频率分量，本发明中称为“HLL”。

在本发明中，根据频率将图18A中的曲线图分为图18B中的6幅曲线图，频率分离状态如图19所示。

在图19中，横轴是凹陷和凸起形状是正弦波时1mm长度内存在的凹陷和凸起的数目。纵轴代表频率分到每个频带中时的比例。

在图19中，(121)是第一次多分辨率分析(MRA-1)中最高频率分量的频带(HHH)，(122)是第一次多分辨率分析中级别比最高频率分量低一级别的频率分量的频带(HHL)，(123)是第一次多分辨率分析中级别比最高频率分量低二级别的频率分量的频带(HMH)，(124)是第一次多分辨率分析中级别比最高频率分量低三级别的频率分量的频带(HML)，(125)是第一次多分辨率分析中级别比最高频率分量低四级别的频率分量的频带(HLH)，(126)是第一次多分辨率分析中最低频率分量的频带(HLL)。

更具体地，图19说明，当每1mm长度凹陷和凸起的数目为20或更少时，所有的凹陷和凸起出现在曲线图(126)中。例如当每1mm长度凹陷和凸起数为110时，凹陷和凸起最明显地出现在曲线图(124)中，在图19B中，它们出现在频带HML中。当每1mm长度凹陷和凸起数为220时，凹陷和凸起最明显地出现在曲线图(123)中，在图18B中它们出现在频带HMH中。此外，当每1mm长度凹陷和凸起数为310时，凹陷和凸起最明显地出现在曲线图(122)和(123)中，在图18B中，它们同时出现在频带HHL和HMH中。因此，表面粗糙度的频率决定信号出现在图18B的六幅曲线图中的位置。换言之，微小的表面粗糙出现在图18B中曲线图的上部，大粗糙曲线出现在图18B中曲线图的下部。

在本发明中，表面粗糙度根据其频率分离，如图18B所示。各频带中的表面粗糙度基于频带从曲线图确定。在此，为考察表面粗糙度，可以计算中心线平均粗糙度Ra、最大高度Rmax和10点平均粗糙度Rz。

以此方式，在图18B中，在每幅曲线图中标出了中心线平均粗糙度Ra、最大高度Rmax和10点平均粗糙度Rz。

在本发明中，在用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量中获得的数据阵列根据频率分成多个数据阵列，因此可以测量每个频带中凹凸形状的变化。

在本发明中，如图18B所示，根据频率分离的数据阵列中的最低频率即HLL的数据阵列被稀疏化。

在本发明中，减小数据阵列数目的过程，即应当减小多少数据阵列，可以通过进行实验确定。通过选择减小数据阵列的最优数目，可优化如图19所示的多分辨率分析中频带的分离，并使所需的频率位于其频带的中心。

在图18A至18D中，40个数据阵列被稀疏化为1(一)个数据阵列。

图20说明了数据阵列稀疏化处理的结果。在图20中，纵轴代表光电导体表面的凹陷和凸起(单位为微米)。横轴没有提供刻度，但长度是12mm。

在本发明中，对图20中的数据进一步进行多分辨率分析。即，进行第二次多分辨率分析(MRA-2)。

图18C所示的6幅曲线图是第二次多分辨率分析(MRA-2)的结果，位于最上的曲线图(107)是第二次多分辨率分析结果中的最高频率分量，称为“LHH”。

曲线图(108)是第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低一级别的频率分量，称为“LHL”。

曲线图(109)是第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低二级别的频率分量，称为“LMH”。

曲线图(110)是第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低三级别的频率分量，称为“LML”。

曲线图(111)是第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低四级别的频率分量，称为“LLH”。

曲线图(112)是第二次多分辨率分析结果中的最低频率分量，称为“LLL”。

在本发明中，图18C图解对应于频率的6幅曲线图，图21说明了频率分离状态。

在图21中，横轴是凹陷和凸起形状是正弦波时1mm长度内的凹陷和凸起的数目。纵轴代表频率分到每个频带时的比例。

在图21中，(127)是第二次多分辨率分析中最高频率分量的频带(LHH)，(128)是第二次多分辨率分析中级别比最高频率分量低一级别的频率分量的频带(LHL)，(129)是第二次多分辨率分析中级别比最高频率分量低二级别的频率分量的频带(LMH)，(130)是第二次多分辨率分析中级别比最高频率分量低三级别的频率分量的频带(LML)，(131)是第二次多分辨率分析中级别比最高频率分量低四级别的频率分量的频带(LLH)，以及(132)是第二次多分辨率分析中最低频率分量的频带(LLL)。

更具体地，图21说明，当每1mm长度内凹陷和凸起的数目为0.2或更少时，所有的凹陷和凸起出现在曲线图(132)中。

例如当每1mm长度的凹陷和凸起数为11时，凹陷和凸起最明显地出现在曲线图(128)中，这表明表面粗糙度最明显地出现在第二次多分辨率分析中级别比最高频率分量低一级别的频率分量的频带中，在图18C中，意味着表面粗糙度出现在LML的频带中。

因此，表面粗糙度的频率确定信号出现在图18C中六幅曲线图中的位置。

换言之，微小的表面粗糙出现在图18C中曲线图的上部，大粗糙曲线出现在图18C中曲线图的下部。

在本发明中，表面粗糙度根据其频率分离，其如图18C所绘。各频带中的表面粗糙度基于频带从曲线图确定。在此，作为表面粗糙度，可以计算中心线平均粗糙度Ra、最大高度Rmax和10点平均粗糙度Rz。

在上述方法中，用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量电子照相光电导体表面的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成从最高频率分量到最低频率分量的多个频率分量，如此获得的最低频率分量的一维数据阵列被稀疏化，使得数据阵列数被减少，从而产生一维数据阵列，通过小波变换对由此产生的一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成从较高频率分量到最低频率分量的多个频率分量。从每个如此获得的频率分量，确定中心线平均粗糙度Ra、最大高度Rmax和10点平均粗糙度Rz。结果如表1所示。

表1

用通过小波变换进行的多分辨率分析，用以下所述的方法评估生产以具有粗糙表面的光电导体的固体润滑剂在光电导体表面上的可涂布性(又称“固体润滑剂可涂布性”)。为验证光电导体的表面构造影响固体润滑剂可涂布性的效果——其由本发明人想到，关于固体润滑剂可涂布性的评估值和Wra之间的关系，从多元数据分析估计了WRa在各频带中的贡献率。使用由SAS Institute制造的JMP Ver.5.01a统计软件进行多元数据分析。

光电导体表面的粗糙化可以用多种方法实现，例如，通过向表面层涂布液中加入能控制形状的试剂，例如填料，通过设计生产条件，和/或通过对光电导体表面进行机械处理。然而，在这些方法中没有清楚说明在多种条件下可以得到哪些表面构造。

对具有多种粗糙表面的电子照相光电导体，本发明人考察了固体润滑剂可涂布性评估值和WRa值之间的关系。因此，验证了可以获得二者之间的相关性，支持本发明人的发明，这导致本发明的完成。

也就是说，本发明基于本发明人的发现，并且解决上述问题的方法如下：

(1)一种电子照相光电导体，其包括；

载体，

感光层，和

交联树脂表面层，该感光层和交联树脂表面层被设置在该载体上，

其中用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量该电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(HHH)，次高频率分量(HHL)，第三高频率分量(HMH)，第四高频率分量(HML)，第五高频率分量(HLH)和最低频率分量(HLL)，如此获得的最低频率分量(HLL)的一维数据阵列被稀疏化，使得数据阵列的数量减少到其1/10至1/100，从而产生一维数据阵列，通过小波变换对如此产生的一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(LHH)，次高频率分量(LHL)，第三高频率分量(LMH)，第四高频率分量(LML)，第五高频率分量(LLH)和最低频率分量(LLL)，从而总共得到12个频率分量；并且这12个频率分量每个的中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：

1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WR

a(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×

WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0

                                 ...(i)

其中每个频率分量的中心线平均粗糙度(WRa)是基于一维数据阵列的中心线平均粗糙度，其通过以下方法获得：用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量该电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)和(MRA-2)以将其分成从最高频率分量到最低频率分量的不同频率分量；HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每一个依次代表当该一维数据阵列分成具有下述中一个凹凸周期长度的频率分量时获得的各个频带：4μm至25μm，10μm至50μm，53μm至183μm，106μm至318μm，214μm至551μm，431μm至954μm和867μm至1654μm。

项(1)中的关系式(i)从多元数据分析获得。满足关系式(i)的光电导体具有非常优异的固体润滑剂可涂布性。从多元数据分析得到的估计值和实际评估值中获得有利的关系。该关系如图23所示。由于获得了二者之间的相关性，认为多元数据分析是成功的。

项(1)中关系式(i)的左边值限定为电子照相光电导体的固体润滑剂可涂布性的形状因子，形状因子和固体润滑剂可涂布性之间的关系如图24所示。发现形状因子为0或更线性的光电导体表现出与被认为固体润滑剂可涂布性优异的常规光电导体相比优异的固体润滑剂可涂布性。也可以理解，形状因子与固体润滑剂可涂布性直接相关。

作为向电子照相光电导体提供粗糙表面的必要条件，具体地，获得满足项(1)中关系式(i)的电子照相光电导体，其中用交联树脂表面层涂布液喷涂感光层以形成湿膜，用水喷洒湿膜并用UV辐射固化，并且满足关系式(i)的电子照相光电导体也通过向表面层涂布液加入大量水或加入丙烯酸树脂细微颗粒获得。本发明不限于这些方法。

(2)交联树脂表面层至少包含等于或多于按质量计5％并少于按质量计60％量的由下述通式(1)表示的可固化电荷传输材料的交联产物：

其中d、e和f各代表0或1的整数，R₁₃代表氢原子或甲基；R₁₄和R₁₅各代表具有1至6个碳原子的烷基，其是除氢原子以外的取代基，并且在R₁₄和R₁₅以多个存在的情况下，每个可以不同；g和h各代表0至3的整数；Z代表单键、亚甲基、亚乙基和由下式之一代表的二价基团中任意一个：

项(2)限于交联树脂表面层材料作为特别有效的化合物，使用可自由基聚合电荷传输材料，可以改善交联树脂表面层的高灵敏度和其与下层的粘合性。

(3)交联树脂表面层期望地包含等于或多于按质量计10％并少于按质量计50％的三羟甲基丙烷三丙烯酸酯的交联产物。

项(3)限于交联树脂表面层材料作为另一种特别有效的化合物，使用这些化合物能改善交联树脂表面层的机械强度。

(4)交联树脂表面层是涂布以交联树脂表面层涂布液之后立即用水喷洒未固化湿膜后固化的层。

项(4)限于在交联树脂表面层上提供粗糙表面的方法，借以使得形成本发明的固体润滑剂涂层性能优异的表面构造是可能的。

(5)交联树脂表面层期望地是用相对于该交联树脂表面层涂布液的质量含有按质量计5％至按质量计15％量的水的交联树脂表面层涂布液形成。

项(5)限于在交联树脂表面层上提供粗糙表面的另一种方法，借以使得形成本发明的固体润滑剂涂层性能优异的表面构造是可能的。

(6)生产在载体上具有感光层和交联树脂表面层的电子照相光电导体的方法，

其中用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(HHH)，次高频率分量(HHL)，第三高频率分量(HMH)，第四高频率分量(HML)，第五高频率分量(HLH)和最低频率分量(HLL)，如此获得的最低频率分量(HLL)的一维数据阵列被稀疏化，使得数据阵列的数量减少至其1/10到1/100，从而产生一维数据阵列，通过小波变换对如此产生的一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(LHH)，次高频率分量(LHL)，第三高频率分量(LMH)，第四高频率分量(LML)，第五高频率分量(LLH)和最低频率分量(LLL)，从而得到总共12个频率分量；12个频率分量中每个的中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：

1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WR

a(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×

WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0

                               ...(i)

其中每个频率分量的中心线平均粗糙度(WRa)是基于一维数据阵列的中心线平均粗糙度，其由以下方法获得：用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量该电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，并对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)和(MRA-2)以将其分成从最高频率分量到最低频率分量的不同频率分量；HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每一个依次代表当该一维数据阵列分成具有下述中一个凹凸周期长度的频率分量时获得的各个频带：4μm至25μm，10μm至50μm，53μm至183μm，106μm至318μm，214μm至551μm，431μm至954μm和867μm至1654μm。

上述项(6)公开了形成满足上述(1)至(3)项的光电导体表面层的具体必要条件。该生产方法的具体实例涉及下述的本发明实施例。

(7)成像装置，其包括根据1)至5)中任一项的电子照相光电导体、固体润滑剂施加设备——其用刷辊刮取固体润滑剂并将刮取的固体润滑剂施加到该电子照相光电导体上、和涂布刮刀——其用于将该固体润滑剂散布于该电子照相光电导体的表面。

在项(7)中，在用刷刮取固体润滑剂的成像装置中，刮取的固体润滑剂被施加到电子照相光电导体的表面。使用满足项(1)至(3)所述条件的电子照相光电导体，可以获得比常规光电导体情况更优异的固体润滑剂可接受性。

(8)在电子照相光电导体中，优选地，至少除HLL外的频率分量的WRa为0.06μm或更大，每个频率分量的频带高于LLL的频带，并且当在二维图上绘制该电子照相光电导体中频率分量的频带与每个WRa值的对数值的曲线以获得二者之间的关系时，在LLH、LMH和LML中任一个的频带中存在拐点或局部极大点，并且其中该电子照相光电导体满足线速度要求：每秒有250至1000个该光电导体表面中的凹陷和凸起通过该涂布刮刀。

项(8)限于这样的电子照相光电导体，其中至少除HLL外的频率分量的WRa为0.06μm或更大，作为维持有效高的WRa值的条件。这作为实现有效地散布固体润滑剂的涂布刮刀的线性压力变化的条件是非常重要的。如果值极度增加，墨粉难以通过清洁刮刀。该值的上限是0.1μm或更低。

当将通过对电子照相光电导体表面构造的一维数据阵列进行小波变换得到的WRa根据频率分量连续排列时，在一些情况下可以得到如图25或图26所示的拐点或局部极大点。该拐点和局部极大点代表具有有效高的WRa值的最主要频率分量。

关于成像过程，电子照相光电导体的凹陷和凸起通过涂布刮刀的频率被计算为通过用电子照相光电导体的线速度除以一个凹凸周期长度所得到的值。如果电子照相光电导体的线速度不同，具有相同的凹陷和凸起之间平均距离的电子照相光电导体具有不同的固体润滑剂可涂布性结果。为解决这一问题，在本发明中，作为电子照相光电导体表现优异的固体润滑剂可接受性的必要条件，满足以下线速度条件是重要的：每秒有250至1000个光电导体表面的主要频率分量的凹陷和凸起通过涂布刮刀。注意，在本发明中，为便于利用数字表达，对于表面上一个凹凸周期长度的距离，使用根据频率分析获得的各频带的中间值。

(9)优选使用聚合墨粉显影图像。

项(9)涉及对应于上述项(5)的成像处理盒，借此可以改善电子照相光电导体对固体润滑剂的可涂布性并可以改善电子照相光电导体的可维护性。

(10)成像装置优选地包括至少两个显影设备并使用串联系统，其中使用聚合墨粉显影图像。

项(10)涉及对应于上述项(6)的成像处理盒，借此可以改善电子照相光电导体对固体润滑剂的可涂布性并可以改善电子照相光电导体的可维护性。

(11)处理盒，其包括：

根据项(1)至(5)中任一项的电子照相光电导体，

固体润滑剂施加设备，其用刷辊刮取固体润滑剂并将刮取的固体润滑剂施加到该电子照相光电导体上，和

涂布刮刀，其用于将该固体润滑剂散布于该电子照相光电导体的表面。

项(11)限于使用聚合墨粉作为成像装置的显影剂，借此可以改善电子照相光电导体对固体润滑剂的可涂布性，以及可以改善成像装置的高质量成像性能和环境保护。

(12)在电子照相光电导体中，至少除HLL外的频率分量的WRa为0.06μm或更大，每个频率分量的频带高于LLL的频带，并且当在二维图上绘制该电子照相光电导体中频率分量的频带与每个WRa值的对数值的曲线以获得二者之间的关系时，在LLH、LMH和LML中任一个的频带中存在拐点或局部极大点，并且该电子照相光电导体满足线速度要求：每秒有250至1000个该光电导体表面中的凹陷和凸起通过该涂布刮刀。

项(12)限于至少具有用于两种或更多种颜色并使用串联系统的显影站的成像装置，其中使用聚合墨粉显影图像，借此可以改善电子照相光电导体对固体润滑剂的可涂布性并可以改善成像过程的高速性能。

下面，参看附图进一步说明本发明的电子照相光电导体。

图7是图解本发明的电子照相光电导体的截面图，其具有另一种层状结构。在导电载体21上提供了电荷产生层25和电荷传输层26和交联树脂表面层28。

图8是图解本发明的具有又一种层状结构的电子照相光电导体的截面图。在导电载体21和电荷产生层25之间提供了内涂层24，且在电荷产生层25上提供了电荷传输层26和交联树脂表面层28。

-导电载体

作为导电载体21，以显示体电阻率为10¹⁰Ω.cm或更小的导电性的载体举例。例如，可以通过在膜形式或圆柱形塑料或纸上通过例如气相淀积或喷涂施加金属例如铝、镍、铬、镍铬合金、铜、金、银或铂等，或者金属氧化物例如氧化锡或氧化铟等制备载体，或者可以通过使用铝、铝合金、镍或不锈钢等的片或板，并通过牵拉变薄拉伸(Drawing Ironing)，冲击变薄拉伸(Impact Ironing)，挤出变薄拉伸(Extruded Ironing)，挤出牵拉(Extruded Drawing)或切割将其制成粗制管，然后通过切割、超精细研磨或研磨等，对该管进行表面处理而制备载体。

-内涂层

在本发明所用的电子照相光电导体中，内涂层24可以提供在导电载体和感光层之间。

提供内涂层的目的是改善粘着性，防止龟纹，改善在其上形成的层的可涂布性，防止电荷从导电载体注入，等等。

内涂层主要由树脂组成。通常在内涂层上施加感光层，内涂层中使用树脂，因此不易溶于有机溶剂的热固化树脂，适于用作内涂层所用的树脂。大部分聚氨酯树脂、三聚氰胺树脂和醇酸三聚氰胺树脂为特别优选，因为这些满足上述目的。可以通过在溶剂例如四氢呋喃、环己酮、二

烷、二氯乙烷和丁酮中适当地稀释这种树脂，制备涂布液。

此外，可以在内涂层中加入金属或金属氧化物的细微颗粒，以调整电导性并防止龟纹。特别地，优选地使用氧化钛。

细微颗粒用球磨机、超微磨碎机或砂磨机分散在溶剂例如四氢呋喃、环己酮、二

烷、二氯乙烷或丁酮中，以形成分散液体，该分散液体与树脂组分混合，从而制备涂布液。

用浸渍涂布方法、喷涂方法或颗粒涂布方法，将涂布液施加到载体上，并任选地通过加热固化，以便形成内涂层。

内涂层的厚度优选地是2μm至5μm。当光电导体趋于具有高残留电压时，其厚度优选地小于3μm。

作为本发明的感光层，依次形成电荷产生层和电荷传输层的多层感光层是适合的。

-电荷产生层-

在多层光电导体的层中，以下说明电荷产生层25。

电荷产生层是多层感光层的一部分，且具有在光辐射下产生电荷的功能。该层主要是由其中含有的化合物中的电荷产生材料制成。如果需要，电荷产生层含有粘合剂用树脂。可以使用无机材料和有机材料作为电荷产生材料。

无机材料没有具体限制，可以根据预期用途适当地选择。无机材料的具体实例包括晶体硒、无定形硒、硒-碲、硒-碲-卤素、硒-砷化合物和无定形硅。关于无定形硅，优选地使用悬空键由氢原子或卤原子封端的那些，以及掺入硼原子或磷原子的那些。

有机材料没有具体限制，可以使用本领域熟知的有机材料。有机材料的具体实例包括金属酞菁例如钛氧基酞菁、氯镓酞菁、无金属酞菁、薁颜料(azuleniumsalt pigment)、方酸次甲基颜料、对称或不对称的具有咔唑骨架的偶氮颜料、对称或不对称的具有三苯胺骨架的偶氮颜料、对称或不对称的具有芴酮骨架的偶氮颜料、和苝系颜料。其中，在本发明中优选地使用金属酞菁、对称或不对称的具有芴酮骨架的偶氮颜料、对称或不对称的具有三苯胺骨架的偶氮颜料、和苝系颜料，因为所有这些具有产生电荷的高量子效率。这些电荷产生材料可以单独使用或组合使用。

在电荷产生层中任选地使用的粘合剂用树脂没有特别限制，可以根据预期用途适当地选择。其具体实例包括聚酰胺、聚氨酯、环氧树脂、聚酮、聚碳酸酯、多芳基化合物、有机硅树脂、丙烯酸树脂、聚乙烯醇缩丁醛、聚乙烯醇缩甲醛、聚乙烯酮、聚苯乙烯、聚N-乙烯咔唑和聚丙烯酰胺。此外，也可以使用如下文所述的电荷传输聚合物。其中，最常用和最有用的是聚乙烯醇缩丁醛。这些粘合剂用树脂可以单独使用或结合使用。

典型的形成电荷产生层的方法是真空薄膜形成方法和使用分散液体的浇铸方法。

真空薄膜形成方法的具体实例包括但不限于真空蒸发法、辉光放电分解法、离子电镀法、喷涂法、反应喷涂法和化学气相沉积(CVD)法。电荷产生层可以优选地通过这些方法使用上述无机材料(一种或多种)或有机材料(一种或多种)形成。

在浇铸方法中，用例如球磨机、超微磨碎机或砂磨机，将上述无机或有机电荷产生材料——如果需要，与粘合剂用树脂一起——分散在溶剂例如四氢呋喃、环己酮、二

烷、二氯乙烷和丁酮中。之后，将适当稀释的分散液体施加到载体表面，以形成电荷产生层。在这些溶剂中，由于环境负担小，甲基乙基酮、四氢呋喃和环己酮相较于氯苯、二氯甲烷、甲苯和二甲苯是优选的。稀释的分散液体可以通过浸渍涂布方法、喷涂方法、颗粒涂布方法等施加。

电荷产生层的厚度优选地是0.01μm至5μm。

加厚电荷产生层以减少残留电压或提高灵敏度。然而，大多数情况下，由于电荷的可维持性和空间电荷的形成，充电性能会降低。考虑到这些方面的平衡，电荷产生层的厚度更优选地是0.05μm至2μm。

此外，如果需要，可以在电荷产生层加入具有低分子量的化合物，例如抗氧化剂、增塑剂、润滑剂和紫外吸收剂——这些将在后面描述，以及均化剂。这些化合物可以单独使用或组合使用。然而，当组合使用具有低分子量的化合物和均化剂时，在大多数情况下电荷产生层的灵敏度容易降低。因此，具有低分子量的化合物的添加量优选地是按质量计0.1份至按质量计20份，更优选地是按质量计0.1份至按质量计10份。均化剂的添加量是按质量计0.001份至按质量计0.1份。

-电荷传输层-

电荷传输层是多层感光层的一部分，并且通过输注和传输电荷产生层中产生的电荷，具有中和由于充电产生的光电导体表面电荷的功能。电荷传输层的主要组分是电荷传输组分和用于粘合电荷传输组分的粘合剂组分。

适于用作电荷传输组分的材料是具有低分子量的电子传输材料、具有低分子量的正空穴传输材料和电荷传输聚合物。

电子传输材料的具体实例包括但不限于电子接受材料，例如不对称二苯醌衍生物、芴酮衍生物和萘二甲酰亚胺衍生物。这些电子传输材料可以单独使用或组合使用。

作为正空穴传输材料，可以适当使用电子供给材料。正空穴传输材料的具体实例包括但不限于唑衍生物、

二唑衍生物、咪唑衍生物、三苯胺衍生物、丁二烯衍生物、9-(对-二乙基氨基苯乙烯基蒽)、1，1-二(4-联苄基氨基苯基)丙烷、苯乙烯基蒽、苯乙烯基吡唑啉、苯基腙、α-苯基芪衍生物、噻唑衍生物、三唑衍生物、吩嗪衍生物、吖啶衍生物、苯并呋喃衍生物、苯并咪唑衍生物和噻吩衍生物。这些正空穴传输材料可以单独使用或组合使用。

此外，也可以使用以下电荷传输聚合物：具有咔唑环的聚合物例如聚-N-乙烯基咔唑；日本专利申请(JP-A)号57-78402等所述的具有腙结构的聚合物；JP-A63-285552等所述的聚亚甲硅基聚合物；和JP-A 2001-330973的化学式(1)至(6)所示的芳香族聚碳酸酯。这些电荷传输聚合物可以单独使用或组合使用。JP-A2001-330973所述的化合物是优选的，因为这些化合物具有良好的静电特性。

当交联树脂表面层被叠加，电荷传输聚合物向交联树脂表面层渗透其组分比具有低分子量的电荷传输材料少。因此，电荷传输聚合物是防止交联树脂表面层固化缺陷的合适材料。此外，由于电荷传输聚合物的分子量大，电荷传输层具有良好的耐热性。因此，电荷传输聚合物是有利的，因为保护电荷传输层免受交联树脂表面层形成时产生的固化热。

适于用作电荷传输层的粘合剂组分的聚合物的具体实例包括但不限于热塑性树脂或可热固化的树脂，例如聚苯乙烯、聚酯、聚乙烯、多芳基化合物、聚碳酸酯、丙烯酸树脂、有机硅树脂、氟树脂、环氧树脂、三聚氰胺树脂、聚氨酯树脂、酚树脂和醇酸树脂。其中，当使用聚苯乙烯、聚酯、多芳基化合物或聚碳酸酯作为电荷传输组分的粘合剂组分时，这些聚合物中大部分具有良好的电荷流动性，并因此有用。此外，由于交联树脂表面层叠在电荷传输层上，电荷传输层不需要具有典型的电荷传输层通常必需的机械强度。因此，高度透明但机械强度方面稍弱的材料例如聚苯乙烯不适用于典型的电荷传输层，但可以有效地用作具有交联树脂表面层的电荷传输层的粘合剂组分。

这些聚合物可以单独使用或结合使用。此外，可以使用由两种或更多种单体形成的共聚物或与电荷传输材料共聚合的化合物作为聚合物。

当使用电惰性聚合物改良电荷传输层时，使用具有大骨架例如氟的Cardo聚合物类型的聚酯；例如聚对苯二甲酸乙二醇酯和聚萘二酸乙二醇酯的聚酯；其中双酚型聚碳酸酯例如C型聚碳酸酯的酚组分的3，3’部分被烷基取代的聚碳酸酯；其中双酚A的偕甲基被具有两个或更多碳原子的长链烷基取代的聚碳酸酯；具有联苯或联苯醚骨架的聚碳酸酯；具有长链烷基骨架的聚碳酸酯例如聚己内酯(参见，例如日本专利申请(JP-A)号7-292095)；丙烯酸树脂；聚苯乙烯；和氢化丁二烯。

电惰性聚合物代表不包括具有光电导性的化学结构例如三芳基胺结构的聚合物。当这些树脂与粘合剂用树脂结合被用作添加剂时，由于光衰减灵敏度的限制，这些树脂的添加量基于电荷传输层总固体含量优选地是按质量计50％或更少。

当使用具有低分子量的电子传输材料时，其添加量优选地是按质量计40份至按质量计200份，更优选地是按质量计70份至按质量计100份。此外，当使用电荷传输聚合物时，适当地使用由树脂组分和电荷传输组分共聚合形成的材料，其中基于按质量计100份电荷传输组分，树脂组分的比例是按质量计200份或更少，优选地按质量计约80份至按质量计约150份。

此外，当电荷传输层包含至少两种电荷传输材料时，使用彼此离子势(ionpotential)差小的电荷传输材料是优选的。具体地，通过使其电离势差为0.10eV或更低，防止一种电荷传输材料成为其它电荷传输材料(一种或多种)的电荷阱(charge trap)。

这种电离势关系可以应用于包含在电荷传输层内的电荷传输材料以及下文所述的可固化电荷传输材料，即二者之间的电离势差优选地是0.10eV。用于本发明的电荷传输材料的电离势是通过典型方法，使用大气型紫外光子分析仪(AC-1，Riken Keiki Co.，Ltd.制造)测量的。

为提高灵敏度，电荷传输组分的混合量优选地是按质量计70份或更多。此外，α-苯基芪化合物的单体或二聚体、联苯胺化合物和丁二烯化合物适于作为电荷传输材料，以及在主链或支链中具有这种结构的电荷传输聚合物也有用，因为这些化合物往往具有高电荷流动性。

用于制备电荷传输层的涂布液的溶剂分散物的具体实例包括但不限于酮例如甲基·乙基酮、丙酮、甲基·异丁基酮和环己酮，醚例如二

烷、四氢呋喃和乙基溶纤剂，芳香化合物例如甲苯和二甲苯，卤素例如氯苯和二氯甲烷，以及酯例如乙酸甲酯和乙酸丁酯。其中，甲基·乙基酮、四氢呋喃和环己酮与氯苯、二氯甲烷、甲苯和二甲苯相比是优选的，因为这些溶剂对环境负担小。这些溶剂可以单独使用或组合使用。

电荷传输层是通过将主要由电荷传输组分和粘合剂组分形成的混合物或共聚物溶解或分散，然后涂布并干燥获得的液体形成的。

使用的涂布方法是，例如，浸渍涂布法、喷涂法、环涂法(ring coating method)、辊涂法、凹版印刷涂布法、喷嘴涂布法和丝网印刷法。

由于交联树脂表面层叠在电荷传输层上，电荷传输层的层厚度的确定不考虑由于实际使用造成的层刮损。电荷传输层的厚度优选地是10μm至40μm，更优选地是15μm至30μm，以确保期望的灵敏度和充电性能。

此外，可以向电荷传输层加入低分子量化合物例如抗氧化剂、增塑剂、润滑剂、紫外吸收剂和/或均化剂，这些如下描述。这些化合物可以单独使用或组合使用。当这种低分子量化合物和均化剂组合使用时，大多数情况下光电导体的灵敏度往往降低。因此，这些化合物的添加量通常是按质量计0.1份至按质量计20份，更优选地是按质量计0.1份至按质量计10份。均化剂的添加量优选地是按质量计0.001份至按质量计0.1份。

-交联树脂表面层-

交联树脂表面层代表施加在光电导体表面的保护层。该保护层在光电导体表面施加涂布液后，由于缩聚反应形成为具有交联结构的树脂。由于交联结构，该树脂层是光电导体全部层中耐磨性最强的。此外，由于混合了具有交联性质的电荷传输材料，该树脂表面层往往具有与电荷传输层类似的电荷传输性能。

在本发明中，为改善光电导体表面上固体润滑剂的可接受性，用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(HHH)，次高频率分量(HHL)，第三高频率分量(HMH)，第四高频率分量(HML)，第五高频率分量(HLH)和最低频率分量(HLL)，如此获得的最低频率分量(HLL)的一维数据阵列被稀疏化，使得数据阵列数量减少到其1/10到1/100，从而产生一维数据阵列，通过小波变换对如此产生的一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(LHH)，次高频率分量(LHL)，第三高频率分量(LMH)，第四高频率分量(LML)，第五高频率分量(LLH)和最低频率分量(LLL)，从而总共得到12个频率分量；这12个频率分量每个的中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：

1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WR

a(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×

WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0

                             ...(i)

其中每个频率分量的中心线平均粗糙度(WRa)是基于一维数据阵列的中心线平均粗糙度，其通过以下方法获得：用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量该电子照相光电导体表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，对该一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)和(MRA-2)以将其分成从最高频率分量到最低频率分量的不同频率分量；HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每一个依次代表当该一维数据阵列分成具有下述中一个凹凸周期长度的频率分量时获得的各个频带：4μm至25μm，10μm至50μm，53μm至183μm，106μm至318μm，214μm至551μm，431μm至954μm和867μm至1654μm。

<可自由基聚合材料组分>

在本发明中，为防止由于在光电导体表面使用二氧化硅细微颗粒造成的图像流动，特别地，有必要使用三羟甲基丙烷三丙烯酸酯。使用三羟甲基丙烷也有利于改善耐磨性。

具有三个或更多个官能团的粘合剂组分优选地包含己内酯改性的六丙烯酸二季戊四醇酯或六丙烯酸二季戊四醇酯，从而在大多数情况下改善交联层的耐磨性或增加强度。

作为具有三个或更多个官能团而没有电荷传输结构的可自由基聚合单体，三羟甲基丙烷三丙烯酸酯、己内酯改性的六丙烯酸二季戊四醇酯和六丙烯酸二季戊四醇酯是优选的。

这些化合物可以从试剂生产商例如Tokyo Chemical Industry Co.，Ltd.和NipponKayaku Co.，Ltd.得到(KAYARAD DPCA系列和KAYARAD DPHA系列)。

为加速交联树脂表面层固化并使其稳定，可以向可自由基聚合单体中加入基于涂布液的全部固体含量按质量计约5％至按质量计约10％量的引发剂，例如由Ciba Specialty Chemical K.K.制造的IRGACURE 184等。

用于制备交联树脂表面层涂布液的溶剂分散物优选地是充分溶解单体的溶剂。其具体实例包括但不限于溶纤剂例如乙氧基乙醇，和丙二醇例如1-甲氧基-2-丙醇，以及上述的醚、芳香化合物、卤素和酯。其中，甲基·乙基酮、四氢呋喃、环己酮和1-甲氧基-2-丙醇与氯苯、二氯甲烷、甲苯和二甲苯相比是优选的，因为它们对环境负担小。这些溶剂可以单独使用或组合使用。

涂层交联树脂表面层涂布液的方法是，例如，浸渍涂布法、喷涂法、环涂法、辊涂法、凹版涂布法、喷嘴涂布法和丝网印刷法。由于大部分情况下涂布液贮放时间不长，考虑到环境保护和成本，能用少量涂布液布满所需涂层的方法是有利的。在上述方法中，喷涂法和环涂法是优选的。

当形成交联树脂表面层时，可以使用振荡波长主要在紫外范围的高压汞灯或紫外辐射光源例如金属卤灯。此外，也可以根据自由基聚合化合物的吸收波长和可选的聚合引发剂选择可见辐射光源。辐射量优选地是50mW/cm²至1000mW/cm²。当辐射量小于50mW/cm²时，完成固化反应需要长时间。相反，当辐射量大于1000mW/cm²时，反应往往不能均一地进行，并因此交联树脂表面层的表面局部起皱，或者形成许多未反应的残留基团和反应终止末端。此外，由于快速交联，内部应力增大，这可能导致层的破裂和剥落。

如果需要，可以向交联树脂表面层加入低分子量化合物，例如在电荷产生层的说明中所述的抗氧剂、增塑剂、润滑剂、紫外吸收剂和/或均化剂，以及在电荷传输层的说明中所述的聚合物。这些化合物可以单独使用或组合使用。当这种低分子量化合物和均化剂组合使用时，大多数情况下光电导体的灵敏度往往降低。因此，这些化合物的添加量通常是按质量计0.1％至按质量计20％，优选地是按质量计0.1％至按质量计10％。均化剂的添加量基于涂布液中总固体含量合适地为按质量计约0.1％至按质量计约5％。

交联树脂表面层的厚度优选地是3μm至15μm。下限根据效果程度，考虑层形成成本计算，上限由静电特性例如电荷稳定性和光学衰减灵敏性以及层质量的均一性设定。

-粗糙表面的形成-

在本发明中，光电导体满足上述关系式(i)是重要的。因此，光电导体的表面需要具有粗糙表面。作为其具体方法，可以在涂布液中加入预期控制光电导体表面构造的试剂。加入交联树脂表面层的试剂的具体实例包括但不限于填料、溶胶-凝胶涂料、含有每种树脂具有不同玻璃化转变温度的多种树脂的聚合物混合物、有机细微颗粒、发泡剂以及大量硅油。此外，为控制表面层形成的条件，例如，可以在涂布液中加入大量流体，可以向其中加入各具有不同沸点的液体试剂。也考虑在涂布交联树脂表面层涂布液之后用水立即喷洒未固化的湿膜的方法。此外，考虑固化交联树脂膜，然后用砂纸打磨膜表面，例如喷砂或膜重叠的方法，作为另外的方法。

作为向光电导体提供粗糙表面，多种方法可用，因此关系式(i)不总是容易满足。在一些情况下，可以结合两种或更多种方法。从上述方法中发现以下具体方法可有效作为可满足关系式(i)的方法。具体地，向交联树脂表面层涂布液加入大量水的方法，以及用水喷涂交联树脂湿膜的方法。

方法不限于上述方法。然而，例如，涂布交联树脂表面层涂布液之后立即用水喷涂未固化的湿膜，然后固化，从而以有把握的方式相对容易地生产满足上述关系式(i)的光电导体。

可选地，制备含有相对于涂布液质量，量为按质量计5％至按质量计15％水的交联树脂表面层涂布液，将该涂布液施加到光电导体上以形成表面层，从而以有把握的方式相对容易地生产满足上述关系式(i)的光电导体。

可以通过多种方法实现向光电导体提供粗糙表面，例如，通过向表面层涂布液中加入能控制表面构造的化学品例如填料，通过试图改善生产条件，和/或通过对光电导体表面进行机械处理。然而，没有确定地证明通过这些方法能产生何种表面构造。例如，图40图解向表面层涂布液中混入填料的情况下的光电导体表面构造。然而，该光电导体的表面具有-0.09的小形状因子，不能说该光电导体具有对固体润滑剂粘着优异的表面构造。

本发明人为在常规有机光电导体上形成多种粗糙表面进行了尝试，并通过上述两种方法获得了对固体润滑剂粘着优异的具体表面构造。例如，通过用水喷洒湿膜获得了如图41所示的表面构造。在该表面中，观测到毫米尺寸的凹陷和凸起，尽管该表面光滑且弯曲。该表面构造仅在选择材料和方法的多种条件下获得。通过小波变换得到的该截面曲线的形状因子是3.47，其非常高。此外，通过向交联树脂表面层涂布液中加入离子交换水得到了如图42所示的表面构造。与上述相似，通过小波变换得到的该截面曲线的形状因子比常规光电导体的形状因子1.69高。还没有发现这种具有高形状因子的光电导体。此外，该光电导体具有独特的表面构造。

(成像装置)

在下文中，参看附图说明用于本发明的成像装置。下述的用于向光电导体表面施加固体润滑剂的设备连接在本发明的成像装置上。为简明起见，该设备在说明成像装置之后单独说明。

图1是图解本发明成像装置的示意图，下文所述的变形实例也在本发明的范围内。

如图1所示的光电导体11是叠加了交联树脂表面层的电子照相光电导体。光电导体11具有鼓的形状但也可以采用片状或环带状。

可以使用任何充电设备作为充电设备12，例如电晕管、栅格电极(scorotron)、固态充电器和充电辊。为减少能耗，优选地使用与光电导体11接触或位于其附近的充电设备12。其中，设置于光电导体11附近以在光电导体11和充电设备12的表面之间有空隙的充电机构是优选的，以防止充电设备12被污染。通常，上述充电器可以用作转印设备16。有效地，转印充电器和单独充电器的组合被使用。

作为用于曝光设备13和电荷消除设备1A的光源，可以使用典型的发光材料，例如荧光灯、钨灯、卤灯、汞灯、钠灯、发光二极管(LED)、半导体激光(LD)和电致发光(EL)。此外，可以使用多种滤光器，例如锐截止滤光器、带通滤光器、红外截止滤光器、双色滤光器、相干滤光器和彩色转换滤光器，以将光电导体11暴露在只具有所需波长的光下。

用于显影设备14显影光电导体11上的静电潜像的墨粉15被转印到记录介质18，例如打印纸和透明片。然而，一些墨粉15留在光电导体11上未被转印。这些留在光电导体11上的残留墨粉被清洁设备17从此除去。清洁设备17可以使用橡胶清洁刮刀、刷例如毛刷和磁性毛刷等。

当光电导体11带正(负)电，然后根据获得的数据信息暴露于光时，在光电导体11上形成正(负)静电潜像。当用带负(正)电的墨粉(电检测颗粒)显影静电潜像时，得到正像。当用带正(负)电的墨粉显影静电潜像时，得到负像。常用方法也用于显影设备14和电荷消除设备。

图2是图解根据本发明的电子照相过程的另一个实例的图。在图2中，光电导体11具有带的形式，但也可以使用鼓的形式、片形式或环带形式。光电导体11由驱动设备1C驱动，由充电设备12充电，由曝光设备13根据获得的图像信息暴露于光，显影(图中未示出)，通过转印设备16转印，在由预清洁曝光设备1B清洁前预先暴露于光，由清洁设备17清洁，由电荷消除设备1A放电，并且重复这些过程。在图2中，光电导体在清洁前从其载体侧预先暴露于光。在此情况，载体是半透明的。

上述电子照相过程只是说明，其它实施方式可以用于本发明的成像装置。例如，在图2中，光电导体11在清洁前从其载体侧预先暴露于光，但可以从光电导体11的感光层侧暴露于光。此外，可以从载体侧进行图像曝光和放电辐射。至于光辐射过程，说明了图像曝光、清洁前预曝光和放电辐射。也可以使用其他辐射过程，例如在转印前曝光、在图像曝光前预曝光和其他已知的辐射过程，以使光电导体11暴露于光。

此外，如上所说明的成像设备可以以固定形式或处理盒的形式整合到复印机、传真机或打印机中。处理盒具有多种形式，图3是图解处理盒的一种典型实例的图。在图3中光电导体11使用鼓的形式，但也可以使用片形式或环带形式。

在图3中，参考数字12指充电设备，参考数字13指曝光设备，参考数字14指显影设备，参考数字16指转印设备，参考数字17指清洁设备，参考数字18指记录介质，参考数字19指定影设备。

图4是图解本发明成像装置的另一个实例的图。成像装置包含光电导体11，在光电导体11周围提供充电设备12、曝光设备13、用于黑色(Bk)、青色(C)、洋红色(M)和黄色(Y)的各彩色墨粉的显影设备(14Bk、14C、14M和14Y)、中间转印带1F和清洁设备17。字母Bk、C、M和Y相应代表上述的颜色名称并且有时适当地省略。光电导体11是具有交联树脂表面层的电子照相光电导体。每个颜色的显影设备(14Bk、14C、14M和14Y)可以独立控制，因此只驱动成像所需的显影设备。在光电导体11上形成的墨粉图像由位于中间转印带1F内的初级转印设备1D转印到中间转印带1F上。初级转印设备1D可拆卸地连接在光电导体11上，只在图像转印过程中使中间转印带1F与光电导体11接触。每个颜色的墨粉图像被依次成像并叠印在中间转印带1F上。叠印的墨粉图像被次级转印设备1E一次性转印到记录介质18上，然后由定影设备19定影在其上，从而形成图像。次级转印设备1E也以可拆卸连接的方式关于中间转印带1F定位，并且只在图像转印过程中与中间转印带1F接触。

在使用转印鼓系统的成像装置中，每种颜色的墨粉图像被依次转印到通过静电粘附到转印鼓的转印介质上。因此，不宜使用厚纸。然而，在如图4所示的具有中间转印系统的成像装置中，每种颜色的墨粉图像被叠印到中间转印构件1F上。因此，对转印介质类型没有限制。这种中间转印系统不仅可以应用到如图4所示的成像装置，也可以应用到图1、2和3所示的成像装置以及下述的图5的成像装置(在图6中具体图解说明)。

图6是成像装置的实例，其中在图5所示的成像装置上额外安装了中间转印设备。通过加入中间转印构件，能应用于多种纸张，并获得防止由印刷纸张的纸屑造成的异常图像的效果。

图5是图解本发明成像装置的另一个实例的图。该成像装置使用黄(Y)、洋红(M)、青(C)和黑(Bk)四种颜色，为每种颜色提供一个成像部分。此外，为每种颜色提供光电导体11Y、11M、11C和11Bk。用于成像装置的光电导体11是具有交联树脂表面层的电子照相光电导体。在每个光电导体(11Y、11M、11C和11Bk)周围提供充电设备12、曝光设备13、显影设备14、清洁设备17等。此外，传送转印带1G悬挂在驱动力1C上，作为转印材料承载构件，其可拆卸地分别与直线排列的光电导体11Y、11M、11C和11Bk的相应转印部位连接。在与光电导体11Y、11M、11C和11Bk相对的转印位置提供转印设备16，传送转印带1G在二者之间。

如图5所示的具有串联系统的成像装置具有用于相应颜色的光电导体11Y、11M、11C和11Bk，每种颜色的墨粉图像被依次转印到由传送转印带1G承载的记录介质18上。因此，该成像装置能以大大高于只具有一个光电导体的彩色成像装置的速度输出彩色图像。

(固体润滑剂供应)

在本发明中，向每个上述的成像装置提供润滑剂施加装置3C作为润滑剂供应设备，其向光电导体31的表面提供润滑剂3A，如图10所示。该润滑剂施加装置3C包含毛刷3B作为涂布器、润滑剂3A以及压力弹簧3E以将固体润滑剂3A压向毛刷3B。固体润滑剂3A是成型为具有条状的固体润滑剂。毛刷3B的前端与光电导体31的表面接触并绕其轴旋转，以获取、保持并运送固体润滑剂3A到与光电导体31的表面接触的位置，并将固体润滑剂3A施加到其上。这里，在本发明中，作为表现出对固体润滑剂优异粘着性的条件，光电导体31满足每秒有250至1000个光电导体31表面的凹陷和凸起通过涂布刮刀的线速度条件是重要的。

此外，固体润滑剂3A随时间被毛刷3B逐渐刮取并减少，但压力弹簧3E以预定的压力将固体润滑剂3A不断地压到毛刷3B侧，以保持固体润滑剂3A与光电导体31的表面接触。因而，当固体润滑剂3A减少到极小量时，毛刷能均一和不断地将固体润滑剂3A获取至毛刷3B。

此外，可以提供固体润滑剂固定设备，以改善附着到光电导体31表面的固体润滑剂的可固定性。例如，可以以拖尾的方式提供具有板的设备例如清洁刮刀，或者可以使用压向光电导体的设备例如橡胶辊。

固体润滑剂3A的具体实例包括但不限于脂肪族金属盐例如油酸铅、油酸锌、油酸铜、硬脂酸锌、硬脂酸钴、硬脂酸铁、硬脂酸铜、棕榈酸锌、棕榈酸铜和亚麻酸锌，以及含氟树脂例如聚四氟乙烯、聚氯三氟乙烯、聚偏二氟乙烯、聚三氟氯乙烯、二氯二氟乙烯、四氟乙烯和乙烯的共聚物以及四氟乙烯和六氟丙烯(oxafluoropropylene)的共聚物。其中，优选硬脂酸金属盐，更优选硬脂酸锌，以减小光电导体31的摩擦系数。

实施例

在下文中，参看实施例进一步详细说明本发明，但不应被解释为限制本发明。

首先说明实施例和对比实施例中使用的评估测试和测量方法。

(1)光电导体的表面构造的测量

将传感器(pick-up)E-DT-S02A连接到电子照相光电导体表面，使用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备(SURFCOM 1400D，由Tokyo Seimitsu Co.，Ltd制造)在以下条件下在一个光电导体的四个位置测量光电导体的表面：测量长度：12mm；线速度：0.06mm/s。在每次测量中，记录光电导体曲线的文字数据，使用小波变换对该数据进行多分辨率分析。从分析获得的四个点的表面粗糙度参数的平均值被定义为每个频率分量的WRa。

(2)固体润滑剂可接受性的测试

光电导体表面上固体润滑剂的可接受性通过用基于彩色打印机(IPSIO SPC811，由Ricoh Company Ltd制造)改造的机器评估。彩色打印机以这样的方式改造：除去光电导体周围的一些设备，以具有图9所示的结构。为具有相同测试条件，将未使用且适当的硬脂酸锌固体润滑剂条的产品、固体润滑剂施加刷和固体润滑剂施加刮刀连接到光电导体设备和显影设备的复合设备(为了简便，称为“PD设备”)上。使具有PD设备的彩色打印机自由运行操作30分钟，以便施加刷充满同一水平的固体润滑剂。此外，显影设备中的显影剂被完全除去。

用激光显微镜(VK-8500，由Keyence Corporation制造)观察待评估的光电导体的表面。接着，将光电导体连接到PD设备，然后在彩色打印机中自由运行操作15秒。在15秒运行后，移走光电导体并用激光显微镜观察其表面。根据获得的图像，区分留在光电导体上的硬脂酸锌和光电导体表面，并用图像分析软件(IMAGEPROPLUS Ver.3.0，由MediaCybernetics Co.，Ltd.制造)的测量(Measure)和计数(Count)命令计算固体润滑剂的区域尺寸和面积占用率。图22是说明测量结果的实例的曲线图。根据在自由运行操作15秒后立即测得的面积比率评估光电导体表面上固体润滑剂的可接受性。

(3)图像的评估

连续交替印刷像素密度为600dpi(每英寸点数)×600dpi的在8×8矩阵内具有4点×4点的半色调图样A半色调图样和白纸图样(每种图样5张)。然后，目测白纸图样的纸张，以检测是否存在背景污迹，并根据以下标准评估。

[评估标准]

5：非常优异

4：优异

3：没问题

2：色彩不鲜明，但实际使用没问题

1：色彩不鲜明

(实施例1)

在每个壁厚为0.8mm、长度为340mm、外直径为40mm的铝鼓和另一个壁厚为0.8mm、长度为340mm、外直径为30mm的铝鼓上，依次施加各自含有如下组成的内涂层涂布液、电荷产生层涂布液和电荷传输层涂布液并干燥，从而形成厚度为3.5μm的内涂层、厚度为0.2μm的电荷产生层和厚度为24μm的电荷传输层。

用包含以下组成的交联树脂表面层涂布液喷涂电荷传输层。在设定该涂布液接触5分钟后，在形成的湿膜上喷洒离子交换水，条件为：鼓旋转速度：40rpm，喷洒速度：1.4mm/s，喷洒压力：1.0kgf/cm²和喷洒处理次数：1次。然后，将形成的膜进一步设定接触10分钟。然后，将鼓放在离UV固化灯120mm的距离处，在旋转的同时，使鼓进行UV固化。在该位置测得的UV固化灯的照度是550mW/cm²(用由Ushio Inc制造的集成光强度测量装置UIT-150测得的值)。此外，鼓的转动速度被设定为25rpm。在UV固化处理中，湿膜被连续固化4分钟，同时在铝鼓内循环30℃的水，然后在130℃热干燥30分钟。因此，形成6μm厚的交联树脂表面层，从而生产出电子照相光电导体。

[内涂层涂布液]

醇酸树脂溶液(BECKOLITE M6401-50，由Dainippon Ink Chemical IndustriesCo.，Ltd.生产)......按质量计12份

三聚氰胺树脂溶液(SUPER BECKAMINE G-821-60，由Dainippon InkChemical Industries Co.，Ltd生产)......按质量计8.0份

氧化钛(CR-EL，由ISHIHARA SANGYO KAISHA LTD生产)......按质量计40份

甲基·乙基酮......按质量计200份

[电荷产生层涂布液]

由以下结构式代表的双偶氮颜料(由Ricoh Company Ltd制造)......按质量计5.0份

聚乙烯醇缩丁醛(XYHL，由UCC生产)......按质量计1份

环己酮......按质量计200份

甲基·乙基酮......按质量计80份

[电荷传输层涂布液]

Z型聚碳酸酯(PANLITE TS-2050，由Teijin Chemicals Ltd生产)......按质量计10份

由以下结构式代表的低分子量电荷传输材料......按质量计7.0份

四氢呋喃......按质量计100份

含有1％硅油的四氢呋喃溶液(KF50-100CS，由Shin-Etsu Chemical Co.，Ltd生产)......按质量计1份

[交联树脂表面层涂布液]

由以下结构式代表的交联电荷传输材料......按质量计6.0份

三羟甲基丙烷三丙烯酸酯(KAYARAD TMPTA，由Nippon Kayaku Co.，Ltd生产)......按质量计3.0份

己内酯改性的六丙烯酸二季戊四醇酯的50％稀释物(THF)(KAYARADDPCA-120，由Nippon Kayaku Co.，Ltd.生产)......按质量计6份

含丙烯酸基的聚酯改性的聚二甲基硅氧烷与丙氧基改性的2-新戊二醇二丙烯酸酯的混合物的5％稀释物(THF)(BYK-UV3570由BYK Chemie Gmbh生产)............按质量计0.24份

1-羟基环己基苯基酮(IRGACURE 184，由Chiba Specialty Chemicals K.K.生产)......按质量计0.6份

亚磷酸三(2，4-二叔丁基苯基)酯......按质量计0.12份

四氢呋喃......按质量计68.92份

(实施例2)

用与实施例1相同的方法生产电子照相光电导体，除了向湿膜喷水的条件改为：鼓旋转速度：100rpm，喷洒速度：1.4mm/s，喷洒压力：2.0kgf/cm²，喷洒处理次数：2次。

(实施例3)

用与实施例1相同的方法生产电子照相光电导体，除了向湿膜喷水的条件改为：鼓旋转速度：160rpm，喷洒速度：1.4mm/s，喷洒压力：3.0kgf/cm²，喷洒处理次数：3次。

(实施例4)

用与实施例1相同的方法生产电子照相光电导体，除了向湿膜喷水的条件改为：鼓旋转速度：160rpm，喷洒速度：3.7mm/s，喷洒压力：2.0kgf/cm²，喷涂处理次数：1次。

(实施例5)

用与实施例1相同的方法生产电子照相光电导体，除了向湿膜喷水的条件改为：鼓旋转速度：40rpm，喷洒速度：5.1mm/s，喷洒压力：2.0kgf/cm²，喷涂处理次数：3次。

(实施例6)

在每个壁厚为0.8mm、长度为340mm、外直径为40mm的铝鼓和另一个壁厚为0.8mm、长度为340mm、外直径为30mm的铝鼓上，依次涂布各自含有如下组成的内涂层涂布液、电荷产生层涂布液和电荷传输层涂布液并干燥，从而形成厚度为3.5μm的内涂层、厚度为0.2μm的电荷产生层和厚度为24μm的电荷传输层。

然后，用包含以下组成的交联树脂表面层涂布液喷涂电荷传输层。设定该涂布液接触15分钟。然后，将鼓放在离UV固化灯120mm的距离处，在旋转的同时对鼓进行UV固化。在该位置测得的UV固化灯的照度是550mW/cm²(用由UshioInc制造的集成光强度测量装置UIT-150测量的值)。此外，鼓的转动速度被设定为25rpm。在UV固化处理中，湿膜被连续固化4分钟，同时在铝鼓内循环30℃的水，然后在130℃热干燥30分钟。因此，形成6μm厚的交联树脂表面层，从而生产出电子照相光电导体。

[内涂层涂布液]

醇酸树脂溶液(BECKOLITE M6401-50，由Dainippon Ink Chemical IndustriesCo.，Ltd.生产)......按质量计12份

三聚氰胺树脂溶液(SUPER BECKAMINE G-821-60，由Dainippon InkChemical Industries Co.，Ltd生产)......按质量计8.0份

氧化钛(CR-EL，由ISHIHARA SANGYO KAISHA LTD生产)......按质量计40份

甲基·乙基酮......按质量计200份

[电荷产生层涂布液]

由以下结构式代表的双偶氮颜料(由Ricoh Company Ltd制造)......按质量计5.0份

聚乙烯醇缩丁醛(XYHL，由UCC生产)......按质量计1.0份

环己酮......按质量计200份

甲基·乙基酮......按质量计80份

[电荷传输层涂布液]

Z型聚碳酸酯(PANLITE TS-2050，由Teijin Chemicals Ltd生产)......按质量计10份

由以下结构式代表的低分子量电荷传输材料......按质量计7.0份

四氢呋喃......按质量计100份

含有1％硅油的四氢呋喃溶液(KF50-100CS，由Shin-Etsu Chemical Co.，Ltd制造)......按质量计1份

[交联树脂表面层涂布液]

由以下结构式代表的交联电荷传输材料......按质量计6.0份

三羟甲基丙烷三丙烯酸酯(KAYARAD TMPTA，由Nippon Kayaku Co.，Ltd生产)......按质量计3.0份

己内酯改性的六丙烯酸二季戊四醇酯的50％稀释物(THF)(KAYARADDPCA-120，由Nippon Kayaku Co.，Ltd.生产)......按质量计6.0份

含丙烯酸基的聚酯改性的聚二甲基硅氧烷与丙氧基改性的2-新戊二醇二丙烯酸酯的混合物的5％稀释物(THF)(BYK-UV3570，由BYK Chemie Gmbh生产)......按质量计0.24份

1-羟基环己基苯基酮(IRGACURE 184，由Chiba Specialty Chemicals K.K.生产)......按质量计0.60份

亚磷酸三(2，4-二叔丁基苯基)酯......按质量计0.12份

四氢呋喃......按质量计68.9份

离子交换水......按质量计4.2份

(实施例7)

用与实施例6相同的方法生产电子照相光电导体，除了交联树脂表面层涂布液中所含的交换水的量改为按质量计8.4份。

(实施例8)

用与实施例6相同的方法生产电子照相光电导体，除了交联树脂表面层涂布液中所含的交换水的量改为按质量计12.7份。

(对比实施例1)

用与实施例6相同的方法生产电子照相光电导体，除了交联树脂表面层涂布液改为以下化合物。

[交联树脂表面层涂布液]

由以下结构式代表的交联电荷传输材料......按质量计6.0份

三羟甲基丙烷三丙烯酸酯(KAYARAD TMPTA，由Nippon Kayaku Co.，Ltd生产)......按质量计3.0份

己内酯改性的六丙烯酸二季戊四醇酯的50％稀释物(THF)(KAYARADDPCA-120，由Nippon Kayaku Co.，Ltd.生产)......按质量计6.0份

含丙烯酸基的聚酯改性的聚二甲基硅氧烷与丙氧基改性的2-新戊二醇二丙烯酸酯的混合物的5％稀释物(THF)(BYK-UV3570，由BYK Chemie Gmbh生产)......按质量计0.24份

1-羟基环己基苯基酮(IRGACURE 184，由Chiba Specialty Chemicals K.K.生产)......按质量计0.60份

亚磷酸三(2，4-二叔丁基苯基)酯......按质量计0.12份

四氢呋喃......按质量计68.9份

(对比实施例2)

用与实施例6相同的方法生产电子照相光电导体，除了交联树脂表面层涂布液改为以下化合物。

[交联树脂表面层涂布液]

由以下结构式代表的交联电荷传输材料......按质量计6.0份

三羟甲基丙烷三丙烯酸酯(KAYARAD TMPTA，由Nippon Kayaku Co.，Ltd生产)......按质量计3.0份

己内酯改性的六丙烯酸二季戊四醇酯的50％稀释物(THF)(KAYARADDPCA-120，由Nippon Kayaku Co.，Ltd.生产)......按质量计6.0份

含丙烯酸基的聚酯改性的聚二甲基硅氧烷与丙氧基改性的2-新戊二醇二丙烯酸酯的混合物的5％稀释物(THF)(BYK-UV3570，由BYK Chemie Gmbh生产)......按质量计0.24份

1-羟基环己基苯基酮(IRGACURE 184，由Chiba Specialty Chemicals K.K.生产)......按质量计0.60份

亚磷酸三(2，4-二叔丁基苯基)酯......按质量计0.12份

填料(EPOSTER S6；平均颗粒直径：0.3μm，由Nippon Shokubai Co Ltd生产)......按质量计0.67份

四氢呋喃......按质量计68.9份

(对比实施例3)

用与对比实施例1相同的方法生产电子照相光电导体，除了交联树脂表面层涂布液中所含的填料的量改为按质量计1.4份。

(对比实施例4)

用与对比实施例1相同的方法生产电子照相光电导体，除了交联树脂表面层涂布液中所含的填料的量改为按质量计3.2份。

(对比实施例5)

用与实施例6相同的方法生产电子照相光电导体，除了交联树脂表面层涂布液改为以下化合物。

[用填料增强的电荷传输层涂布液]

Z型聚碳酸酯(PANLITE TS-2050，由Teijin Chemicals Ltd生产)......按质量计10份

由以下结构式代表的低分子量电荷传输材料......按质量计7份

α-氧化铝(SUMIKORANDOM AA-03；由Sumitomo Chemical Co.，Ltd生产)......按质量计5.7份

分散剂(BYK-P104，由BYK Chemie Gmbh生产)......按质量计0.014份

四氢呋喃......按质量计280份

环己酮......按质量计80份

实施例1至8和对比实施例1至5的每个直径为40mm的光电导体鼓被制造以安装，并被安装到成像装置(IPSIO SP C811，由Ricoh Company Ltd制造)的黄色显影站上，然后进行固体润滑剂可接受性测试。电子照相光电导体的线速度为205mm/s。使用硬脂酸锌作为附着到适当产品上的固体润滑剂，以及未经改变使用与之相伴的弹簧(spring)。

使用适当的产品，作为光电导体设备-显影设备复合设备(PD设备)。选择1.5kV的峰到峰电压和0.9kHz的频率，作为充电辊施加的电压的AC部件。此外，DC部件被设定为偏压，使得测试初始阶段光电导体的充电电压是-700V，这一充电条件被维持直到测试完成。在该成像装置中，没有提供电荷消除设备。

实施例1至8和对比实施例1至5的每个直径为40mm的光电导体鼓被制造以安装，并被安装到成像装置(IPSIO SP C811，由Ricoh Company Ltd制造)的黑色显影站上。在复印纸(MY PAPER A4，由NBS Ricoh Co.，Ltd生产)上连续交替印刷像素密度为600dpi(每英寸点数)×600dpi的在8×8矩阵内具有4点×4点的半色调图样A半色调图样和白纸图样(每种图样5张)，总共运转长度50000张。使用适于IPSIO SP C811的墨粉和显影剂。墨粉是聚合墨粉。

并且使用适当的光电导体。选择1.5kV的峰到峰电压和0.9kHz的频率，作为充电辊施加的电压的AC部件。此外，DC部件被设定为偏压，使得测试初始阶段光电导体的充电电压是-700V，这一充电条件被维持直到测试完成。显影偏压是-500V。在该成像装置中，没有提供电荷消除设备。此外，使用适当的清洁设备，每当在50000张纸上印刷图像后更换新的清洁设备以继续测试。在测试完成后，在PPC纸(TYPE-6200 A3)上打印彩色测试图。测试在25℃和55％RH的环境中进行。

实施例1至8和对比实施例1至5的电子照相光电导体的各频率分量的WRa结果分别如图27至34和图35至39所示。在图27至34所示的相应于实施例1至8的结果中，在低频率分量的频带中观察到拐点。表2中示出了拐点频带、形状因子、粘附在光电导体上的硬脂酸锌的面积比例以及所形成图像的评估结果。

表2

从表2所示结果发现，实施例1至8的电子照相光电导体与对比实施例1没有提供表面粗糙度处理的电子照相光电导体相比，具有正形状因子值，固体润滑剂的粘着得到改善。进行了表面粗糙度处理的电子照相光电导体不总是仅改善固体润滑剂粘着性。在一些情况下，如对比实施例3所示，固体润滑剂不粘附到光电导体表面。在本发明中，发现关于固体润滑剂的粘着性，适当粗糙的表面构造作为其条件，表现出防止由涂布刷刮取的固体润滑剂粉末在电子照相光电导体上向旁边滑动的功能，以及通过向电子照相光电导体提供粗糙表面，可以表现出实现涂布刮刀上的线性压力适当改变的功能。前者是通过形成高频率分量的凹陷和凸起形状实现的，后者是通过形成低频率分量的凹陷和凸起形状实现的。

因此，在其表面提供了适当的凹陷和凸起形状的光电导体具有优异的固体润滑剂粘着效果。有利于固体润滑剂可涂布性的粗糙表面构造可以通过用水喷洒交联树脂表面层的未固化膜和通过向交联树脂表面层涂布液中加入大量水实现。

参看标记列表

11电子照相光电导体

12充电设备

13曝光设备

14显影设备

15墨粉

16转印设备

17清洁设备

18打印介质(打印纸张，OHP幻灯片)

19定影设备

1A电荷消除设备

1B预清洁曝光设备

1C驱动设备

1D初级转印设备

1E次级转印设备

1F中间转印构件(带)

21导电载体

24内涂层

25电荷产生层

26电荷传输层

28交联树脂表面层

31光电导体

37固体润滑剂

38充电辊

39涂布刮刀

3A固体润滑剂

3B涂布刷

3C润滑剂供应设备

3D涂布刮刀边缘部分

41评估的电子照相光电导体

42用于测量表面粗糙度的连接了探针的夹具

43使夹具移动到测量对象的机构

44表面粗糙度测量设备

45用于分析信号的个人计算机

101第一次多分辨率分析结果中的最高频率分量

102第一次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低一级的频率分量

103第一次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低二级的频率分量

104第一次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低三级的频率分量

105第一次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低四级的频率分量

106第一次多分辨率分析结果中的最低频率分量

107第二次多分辨率分析结果中的最高频率分量

108第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低一级的频率分量

109第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低二级的频率分量

110第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低三级的频率分量

111第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低四级的频率分量

112第二次多分辨率分析结果中的最低频率分量

121第一次多分辨率分析中最高频率分量的频带

122第一次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低一级的频率分量的频带

123第一次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低二级的频率分量的频带

124第一次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低三级的频率分量的频带

125第一次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低四级的频率分量的频带

126第一次多分辨率分析中最低频率分量的频带

127第二次多分辨率分析中最高频率分量的频带

128第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低一级的频率分量的频带

129第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低二级的频率分量的频带

130第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低三级的频率分量的频带

131第二次多分辨率分析结果中级别比最高频率分量低四级的频率分量的频带

132第二次多分辨率分析中最低频率分量的频带

Claims (12)

1.一种电子照相光电导体，其包括；

载体，

感光层，和

交联树脂表面层，所述感光层和交联树脂表面层被设置在所述载体上，

其中用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量所述电子照相光电导体的表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对所述一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(HHH)、次高频率分量(HHL)、第三高频率分量(HMH)、第四高频率分量(HML)、第五高频率分量(HLH)和最低频率分量(HLL)，如此获得的最低频率分量(HLL)的一维数据阵列被稀疏化，使得数据阵列的数量减少到其1/10至1/100，从而产生一维数据阵列，通过小波变换对如此产生的一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(LHH)、次高频率分量(LHL)、第三高频率分量(LMH)、第四高频率分量(LML)、第五高频率分量(LLH)和最低频率分量(LLL)，从而总共得到12个频率分量；并且所述12个频率分量每个的中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：

1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WR

a(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×

WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0

                               ...(i)

其中每个频率分量的中心线平均粗糙度(WRa)是基于一维数据阵列的中心线平均粗糙度，其通过以下方法获得：用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量所述电子照相光电导体的表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，对所述一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)和(MRA-2)以将其分成从最高频率分量到最低频率分量的不同频率分量；并且HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每一个依次代表当所述一维数据阵列分成具有下述中一个凹凸周期长度的频率分量时获得的各个频带：4μm至25μm、10μm至50μm、53μm至183μm、106μm至318μm、214μm至551μm、431μm至954μm和867μm至1654μm。

2.根据权利要求1所述的电子照相光电导体，其中所述交联树脂表面层至少包含等于或多于按质量计5％并少于按质量计60％量的由下述通式(1)表示的可固化电荷传输材料的交联产物：

其中d、e和f各代表0或1的整数，R₁₃代表氢原子或甲基；R₁₄和R₁₅各代表具有1至6个碳原子的烷基，其是除氢原子以外的取代基，并且在R₁₄和R₁₅以多个存在的情况下，每个可以不同；g和h各代表0至3的整数；Z代表单键、亚甲基、亚乙基和由下式之一代表的二价基团中任意一个：

3.根据权利要求1和2中一项所述的电子照相光电导体，其中所述交联树脂表面层包含等于或多于按质量计10％并少于按质量计50％量的三羟甲基丙烷三丙烯酸酯的交联产物。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的电子照相光电导体，其中所述交联树脂表面层是涂布以交联树脂表面层涂布液之后立即用水喷洒未固化湿膜后固化的层。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的电子照相光电导体，其中所述交联树脂表面层用相对于所述交联树脂表面层涂布液的质量含有按质量计5％至按质量计15％量的水的交联树脂表面层涂布液形成。

6.一种生产在载体上具有感光层和交联树脂表面层的电子照相光电导体的方法，

其中用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量所述电子照相光电导体的表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，通过小波变换对所述一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(HHH)、次高频率分量(HHL)、第三高频率分量(HMH)、第四高频率分量(HML)、第五高频率分量(HLH)和最低频率分量(HLL)，如此获得的最低频率分量(HLL)的一维数据阵列被稀疏化，使得数据阵列的数量减少至其1/10到1/100，从而产生一维数据阵列，通过小波变换对如此产生的一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-2)，以分成六个频率分量，包括最高频率分量(LHH)、次高频率分量(LHL)、第三高频率分量(LMH)、第四高频率分量(LML)、第五高频率分量(LLH)和最低频率分量(LLL)，从而得到总共12个频率分量；所述12个频率分量中每个的中心线平均粗糙度(WRa)满足以下关系式(i)：

1-597×WRa(HML)+238×WRa(HLH)-95×WR

a(LHL)+84×WRa(LMH)-79×WRa(LML)+55×

WRa(LLH)-17×WRa(LLL)＞0

                              ...(i)

其中每个频率分量的中心线平均粗糙度(WRa)是基于一维数据阵列的中心线平均粗糙度，其由以下方法获得：用表面粗糙度/表面轮廓的测量设备测量所述电子照相光电导体的表面上的凹陷和凸起的形状，以获得一维数据阵列，并对所述一维数据阵列进行多分辨率分析(MRA-1)和(MRA-2)以将其分成从最高频率分量到最低频率分量的不同频率分量；并且HML、HLH、LHL、LMH、LML、LLH和LLL每一个依次代表当所述一维数据阵列分成具有下述中一个凹凸周期长度的频率分量时获得的各个频带：4μm至25μm、10μm至50μm、53μm至183μm、106μm至318μm、214μm至551μm、431μm至954μm和867μm至1654μm。

7.成像装置，其包括：

根据权利要求1至5中任一项所述的电子照相光电导体，

固体润滑剂施加设备，其用刷辊刮取固体润滑剂并将刮取的固体润滑剂施加到所述电子照相光电导体上，和

涂布刮刀，其用于将所述固体润滑剂散布于所述电子照相光电导体的表面。

8.根据权利要求7所述的成像装置，其中在所述电子照相光电导体中，至少除HLL外的频率分量的WRa为0.06μm或更大，每个频率分量的频带高于LLL的频带，并且当在二维图上绘制所述电子照相光电导体中频率分量的频带与每个WRa值的对数值的曲线以获得二者之间的关系时，在LLH、LMH和LML中任一个的频带中存在拐点或局部极大点，并且

其中所述电子照相光电导体满足线速度要求：每秒有250至1000个所述光电导体的表面中的凹陷和凸起通过所述涂布刮刀。

9.根据权利要求7和8中一项所述的成像装置，其中使用聚合墨粉显影图像。

10.根据权利要求7和8中一项所述的成像装置，进一步包括至少两个显影设备，

其中所述成像装置使用串联系统，并使用聚合墨粉显影图像。

11.处理盒，其包括：

根据权利要求1至5中任一项所述的电子照相光电导体，

固体润滑剂施加设备，其用刷辊刮取固体润滑剂并将刮取的固体润滑剂施加到所述电子照相光电导体上，和

涂布刮刀，其用于将所述固体润滑剂散布于所述电子照相光电导体的表面。

12.根据权利要求11所述的处理盒，其中在所述电子照相光电导体中，至少除HLL外的频率分量的WRa为0.06μm或更大，每个频率分量的频带高于LLL的频带，并且当在二维图上绘制所述电子照相光电导体中频率分量的频带与每个WRa值的对数值的曲线以获得二者之间的关系时，在LLH、LMH和LML中任一个的频带中存在拐点或局部极大点，并且

其中所述电子照相光电导体满足线速度要求：每秒有250至1000个所述光电导体表面中的凹陷和凸起通过所述涂布刮刀。

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