JP6787085B2 - 画像形成装置および感光体評価方法 - Google Patents
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Description
本実施形態に係る画像形成装置(画像形成装置1)は、回転駆動する感光体(感光体2)と、感光体の表面を帯電させる帯電手段(帯電装置3)と、帯電後の感光体の表面に静電潜像を形成する露光手段(露光装置4)と、静電潜像に現像処理して得られるトナー像を被転写材(転写紙P)に転写する転写手段(転写装置6)と、感光体の表面電位を計測する表面電位計測手段と、を備える画像形成装置であって、表面電位計測手段は、感光体の軸方向における異なる位置に配置された第1の表面電位計測手段(第1の表面電位計測手段11)および第2の表面電位計測手段(第2の表面電位計測手段12)からなり、所定のタイミングにおける感光体の1回転目に、帯電手段により感光体の軸方向の全体に帯電処理し、露光手段により感光体の軸方向の一部に露光処理し、転写手段により感光体の軸方向の全体に転写処理し、感光体の2回転目に、帯電手段により感光体の軸方向の全体に帯電処理し、露光手段により感光体の軸方向の全体に露光処理をした後に、表面電位計測手段は、第1の表面電位計測手段により1回転目での感光体の未露光部の表面電位V1を計測し、第2の表面電位計測手段により1回転目での感光体の露光部の表面電位V2を計測し、かつ、表面電位V1および表面電位V2に基づいて、感光体の寿命を評価する寿命評価手段(寿命評価手段13)を備えるものである。なお、括弧内は実施形態での符号、適用例を示す。
図1は、画像形成装置の一実施形態を示す概略構成図である。画像形成装置1は、矢印A方向に回転するドラム状の感光体2を備えるとともに、感光体2の周囲に、感光体2の表面を一様に帯電する帯電装置3(帯電手段)と、帯電された感光体2の表面をレーザ光Lで露光して静電潜像を形成する露光装置4(露光手段)と、静電潜像にトナーを付着させて現像する現像装置5(現像手段)と、現像により得られた感光体2上のトナー像を被転写材としての転写紙P上に転写する転写装置6(転写手段)と、感光体2の表面の転写残トナーをクリーニングするクリーニング手段としてのクリーニング装置7と、感光体2表面の残留電荷を除去する除電装置8と、を、感光体2の回転方向に沿ってこの順序で備えている。
次に画像形成装置1による画像形成動作を説明する。先ず、画像形成装置1の画像読取部において原稿から読み取られた原画像信号や、外部のコンピュータ等で作成された原画像信号が、画像形成装置1の画像処理部に入力され、適切な画像処理が行われる。
上述の画像形成動作を何十万回、何百万回と繰り返す中で、感光体2は様々なダメージを受けて劣化する。そして、感光体2が劣化することによって、上述のように前回の画像形成時の画像が感光体2上に残存し易くなり、今回の画像形成により作成される画像上に濃淡となって現れる「残像」という画像劣化が生じる場合がある。
次に、寿命評価手段13で実行される感光体2の寿命到達判定の処理および寿命時期予測の処理(寿命判定予測処理という)の詳細について説明する。図4は、寿命判定予測処理の一例を示すフローチャートである。
寿命評価手段13は画像形成装置1に搭載されるものであるが、プロセスカートリッジ方式の画像形成装置1においては、プロセスカートリッジに寿命評価手段13を搭載してもよいし、画像形成装置1の本体部に寿命評価手段13を搭載してもよい。
以下、本発明に係る画像形成装置の他の実施形態について説明する。なお、上記実施形態と同様の点についての説明は適宜省略する。
図7は、感光体入れ替え判断処理の一例を示すフローチャートである。先ず、4つある感光体2のそれぞれについて、上述の寿命判定予測処理(図4)を実行する。
これまで説明したように、画像形成装置1に用いられる感光体2は、繰り返される画像形成動作の中で様々なダメージを受けて劣化する。また、感光体2は画像形成時以外でも、例えば、急激な環境変化(温度および/または湿度の変化)や、装置内に残存した放電生成物の付着などによるダメージを受ける。これらのダメージにより、感光体2の劣化状態が通常の感光体劣化推移から大きく逸脱し、感光体2の劣化が突発的に進んだ状態になることがある。
2 感光体
3 帯電装置
4 露光装置
5 現像装置
6 転写装置
7 クリーニング装置
8 除電装置
9 支持部材
10 プロセスカートリッジ
11 第1の電位計測手段
12 第2の電位計測手段
13 寿命評価手段
14 記録メモリ
15 報知手段
20 中間転写ベルト
21 レジストローラ対
22 2次転写ローラ
23 転写ベルト
24 搬送ベルト
25 定着装置
P 転写紙
Claims (10)
- 回転駆動する感光体と、
前記感光体の表面を帯電させる帯電手段と、
帯電後の前記感光体の表面に静電潜像を形成する露光手段と、
前記静電潜像に現像処理して得られるトナー像を被転写材に転写する転写手段と、
前記感光体の表面電位を計測する表面電位計測手段と、を備える画像形成装置であって、
前記表面電位計測手段は、前記感光体の軸方向における異なる位置に配置された第1の表面電位計測手段および第2の表面電位計測手段からなり、
所定のタイミングにおける前記感光体の1回転目に、
前記帯電手段により前記感光体の軸方向の全体に帯電処理し、
前記露光手段により前記感光体の軸方向の一部に露光処理し、
前記転写手段により前記感光体の軸方向の全体に転写処理し、
前記感光体の2回転目に、
前記帯電手段により前記感光体の軸方向の全体に帯電処理し、
前記露光手段により前記感光体の軸方向の全体に露光処理をした後に、
前記表面電位計測手段は、前記第1の表面電位計測手段により前記1回転目での前記感光体の未露光部の表面電位V1を計測し、前記第2の表面電位計測手段により前記1回転目での前記感光体の露光部の表面電位V2を計測し、
かつ、前記表面電位V1および前記表面電位V2に基づいて、前記感光体の寿命を評価する寿命評価手段を備えることを特徴とする画像形成装置。 - 前記寿命評価手段は、前記表面電位V1と前記表面電位V2の差分値と、所定の閾値との比較結果に応じて、前記感光体が寿命に到達したか否かを判定することを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記寿命評価手段は、前記表面電位V1と前記表面電位V2の差分値と、所定の閾値との比較結果に応じて、前記感光体が寿命に到達したか否かを判定し、前記感光体が寿命に到達していないと判定した場合は、前記感光体の寿命の到達時期を予測することを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
- 予め設定された前記感光体の累積回転数と標準差分値との関係を示す経時変化情報を記憶する記憶手段を備え、
前記寿命評価手段は、前記差分値および前記経時変化情報に基づいて、前記感光体の寿命の到達時期を予測することを特徴とする請求項3に記載の画像形成装置。 - 予め設定された前記感光体の累積回転数と標準差分値との関係を示す経時変化情報を記憶する記憶手段を備え、
前記差分値と、該差分値に対応する前記経時変化情報の前記標準差分値との差が所定値以上にある場合、
前記表面電位計測手段は、所定期間の経過後または前記感光体の所定回数の回転後に、前記表面電位V1および前記表面電位V2と同様に、前記感光体の未露光部の表面電位V1’および前記感光体の露光部の表面電位V2’を計測し、
前記寿命評価手段は、前記表面電位V1’および前記表面電位V2’に基づいて、前記感光体の寿命を評価することを特徴とする請求項1から4までのいずれかに記載の画像形成装置。 - 前記寿命評価手段は、前記1回転目の露光処理の際に、前記感光体の軸方向の露光処理をする範囲を変化させながら計測される前記表面電位V1および前記表面電位V2に基づいて、前記感光体の寿命を評価することを特徴とする請求項1から5までのいずれかに記載の画像形成装置。
- 前記感光体を複数備え、
前記寿命評価手段は、前記感光体ごとに前記感光体の寿命を評価することを特徴とする請求項1から6までのいずれかに記載の画像形成装置。 - 前記寿命評価手段による前記感光体の寿命の評価結果を報知する報知手段を備えることを特徴とする請求項1から7までのいずれかに記載の画像形成装置。
- 前記感光体を複数備えるとともに、該複数の感光体には、互いに入れ替え可能な2以上の感光体が含まれ、
前記寿命評価手段は、前記表面電位V1と前記表面電位V2の差分値と、所定の閾値との比較結果に応じて、前記感光体が寿命に到達したか否かを判定し、前記感光体が寿命に到達していないと判定した場合は、前記感光体の寿命の到達時期を予測するものであり、
前記複数の感光体のうち寿命の到達時期の最も早い感光体と寿命の到達時期の最も遅い感光体とを決定し、
前記報知手段は、寿命の到達時期の最も早い感光体と寿命の到達時期の最も遅い感光体との入れ替えを促す旨を報知することを特徴とする請求項8に記載の画像形成装置。 - 画像形成装置が備える感光体の感光体評価方法であって、
所定のタイミングにおける前記感光体の1回転目に、
前記感光体の軸方向の全体に、前記感光体の表面を帯電させる帯電処理をし、
前記感光体の軸方向の一部に、帯電後の前記感光体の表面に静電潜像を形成する露光処理をし、
前記感光体の軸方向の全体に、前記静電潜像に現像処理して得られるトナー像を被転写材に転写する転写処理をし、
前記感光体の2回転目に、
前記感光体の軸方向の全体に、前記帯電処理をし、
前記感光体の軸方向の全体に、前記露光処理をした後に、
前記1回転目での前記感光体の未露光部の表面電位V1、および前記1回転目での前記感光体の露光部の表面電位V2を計測する計測処理と、
前記表面電位V1および前記表面電位V2に基づいて、前記感光体の寿命を評価する寿命評価処理と、を行うことを特徴とする感光体評価方法。
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