JP6969484B2 - 画像形成装置 - Google Patents

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Description

本発明は、画像形成装置に関する。
電子写真方式の画像形成装置は、筒状の感光体を回転させて周面を帯電させながら画像データに応じた光照射(パターン露光)を行い、それによって周面の帯電荷を部分的に消去して潜像(静電潜像)を形成する。
パターン露光の方式として、レーザビームをポリゴンミラーにより感光体の回転軸の方向に偏向してライン順次の主走査を行う方式が広く用いられている。この方式では、画像の各ラインの先頭を揃えるため、レーザビームの光路内の適所に光センサが配置され、レーザビームが光センサに入射したタイミングを基準として主走査が開始される。
画像形成装置が使用される環境は、オフィス環境のみではない。工場またはイベント会場のように埃および粉塵が比較的に多い環境で使用されることがある。恒常的に湿度の高い環境で使用されることもある。
埃および粉塵が画像形成装置内に入り込んでポリゴンミラーに付着すると、すなわちミラー面が汚れると、ポリゴンミラーで反射して感光体に入射するレーザビームの光量が低下する。特に、ポリゴンミラーを高速で回転させる高速機において、回転による空気流に粉塵が巻き込まれてポリゴンミラーに付着する巻き込み汚れが進みやすい傾向がある。
ポリゴンミラーの汚れの度合いを検知するための先行技術として特許文献1、2に記載の技術がある。
特許文献1には、主走査の同期のために設けた光センサに入射するレーザ光の光強度のピーク値をピークホールド回路を用いて検出し、初期出荷調整時に検出して記憶しておいたピーク値との差分値を求めることが開示されている。そして、特許文献1に記載された画像形成装置は、この差分値が所定値以上である場合、すなわち現在のピーク値が所定の値以下になった場合に、光学系のメンテナンスを要請する警告メッセージを表示する。
特許文献2には、主走査の同期のために設けた光センサにより得られる同期検知信号のパルス幅をクロックのカウントにより計測し、初期設定時のパルス幅と比較することにより光量の変動量を推定することが開示されている。そして、特許文献2に記載された画像形成装置は、光量の変動量が所定値を超えた場合に、ポリゴンミラーの汚れなどの異常内容を表示してユーザに知らせる。または、光量の変動量に応じて光量が初期設定時の光量と一致するようレーザ光源を制御する。
なお、光源自体の劣化の判定に関しては、特許文献3、4に記載の技術がある。特許文献3には、光源の累積点灯時間が所定値に達したとき、または出力光量を所定値とするために光源に供給する電流が設定値まで増大したときに、劣化の傾向があると判定することが開示されている。特許文献4には、光源の出力光量をモニターするためのフォトダイオードの出力電圧が設定範囲外であるときに光源に異常が発生したと判定することが開示されている。
特開平8−258330号公報 特開2007−245448号公報 特開2016−45405号公報 特開2011−178037号公報
上に述べた特許文献1、2の技術によると、ポリゴンミラーの汚れが使用不能になる状態に近い状態まで進行したと判定することができる。しかし、使用不能になるまでにあとどれくらい使用することができるかを判定することはできないという問題があった。使用不能になる状態に近い状態まで進行したとしても、その後の短期間のうちに使用不能になる場合もあるし、ある程度長い期間にわたって使用し続けることができる場合もある。いずれの場合になるかは汚れの進行の速さにより決まる。汚れの進行の速さは、画像形成装置の使用環境および使用状況に依存する。
特許文献1、2の技術のようにポリゴンミラーが使用不能状態に近い状態であることをユーザに通知するだけでは、早めに交換する必要がないのに早めに交換してしまったり、逆に早めに交換する必要があるのに交換せずに使用不能になって慌ててしまうという状況が起こりやすい。
本発明は、上述の問題に鑑みてなされたもので、ポリゴンミラーが汚れにより使用不能になるまでの残り時間を予測する画像形成装置を提供することを目的とする。
本発明の実施形態に係る画像処理装置は、光ビームを偏向するポリゴンミラーを備えた画像形成装置であって、前記ポリゴンミラーにより偏向された前記光ビームが入射するよう配置された光センサと、前記光センサの出力レベルを測定する測定部と、測定された前記出力レベルを用いて、前記ポリゴンミラーの単位稼働時間あたりの前記出力レベルの変化量である経時変化率で当該出力レベルが引き続き変化すると仮定した場合における当該出力レベルがしきい値になるまでの前記ポリゴンミラーの稼働時間を、当該ポリゴンミラーの余命として算出する寿命予測部と、を有する。
本発明によると、ポリゴンミラーが汚れにより使用不能になるまでの残り時間を予測する画像形成装置を提供することができる。
本発明の実施形態に係る画像形成装置の構成の概要を示す図である。 プリントヘッドの構成を示す図である。 ポリゴンミラーの汚れ方の傾向を示す図である。 ポリゴンミラーの回転角度とレーザビームの光量との関係を示す図である。 制御回路の機能的構成の第1例を示す図である。 ポリゴンミラーの余命の算出方法の第1例を示す図である。 画像形成装置における処理の流れの第1例を示す図である。 制御回路の機能的構成の第2例を示す図である。 ポリゴンミラーの余命の算出方法の第2例を示す図である。 変化率設定テーブルの例を示す図である。 粉塵センサの検出特性の例を示す図である。 画像形成装置における処理の流れの第2例を示す図である。 制御回路の機能的構成の第3例を示す図である。 画像形成装置における処理の流れの第3例を示す図である。 光センサの出力レベルの例を示す図である。 変化率補正テーブルの例および補正の有無と余命との関係の例を示す図である。
図1には本発明の実施形態に係る画像形成装置1の構成の概要が示されている。画像形成装置1は、コピー機、プリンタ、ファクシミリ機、イメージリーダなどの機能を集約したMFP(Multi-functional Peripheral :多機能機または複合機)である。
画像形成装置1は、自動原稿送り装置(ADF:Auto Document Feeder)1A、フラットベッド型のスキャナ1B、電子写真方式のカラープリンタ1C、シートキャビネット1D、および操作パネル1Eなどを備えている。
自動原稿送り装置1Aは、原稿トレイにセットされた原稿(シート)をスキャナ1Bの読取り位置へ搬送する。スキャナ1Bは、自動原稿送り装置1Aから搬送されてきたシート状の原稿またはプラテンガラスの上にセットされた各種の原稿から画像を読み取って画像データを生成する。
カラープリンタ1Cは、コピー、ネットワークプリンティング(PCプリント)、ファクシミリ受信、およびボックスプリントなどの印刷ジョブにおいて、記録用のシート(用紙)Pの片面または両面にカラーまたはモノクロの画像を形成する。例えば、コピージョブにおいては、スキャナ1Bにより生成された画像データに基づいて画像を形成する。
カラープリンタ1Cは、タンデム型のプリンタエンジン2を備えている。プリンタエンジン2は、4個のイメージングユニット3y,3m,3c,3k、プリントヘッド6、および中間転写ベルト10などを有する。
イメージングユニット3y〜3kは、それぞれ筒状の感光体4、帯電ローラ5、現像器7、およびクリーナ8などを有している。イメージングユニット3y〜3kの基本的な構成は同様である。
プリントヘッド6は、イメージングユニット3y〜3kのそれぞれに対してパターン露光を行うための光としてレーザビームLBを射出する。プリントヘッド6において、感光体4の回転軸と平行な方向にレーザビームLBを偏向する主走査が行われる。この主走査と並行して、感光体4を定速回転させる副走査が行われる。
中間転写ベルト10は、トナー像の一次転写における被転写部材であり、一対のローラ間に巻回されて回転する。中間転写ベルト10の内側には、イメージングユニット3y,3m,3c,3kごとに一次転写ローラ11が配置されている。
シートキャビネット1Dは、給紙トレイ12a,12b,12cを備える三段構成の引出し型である。シートキャビネット1Dは、ジョブの指定に従って選択されたいずれかの給紙トレイからシートPを取り出して上方のカラープリンタ1Cに供給する。
操作パネル1Eは、ユーザによる操作のための画面を表示するタッチパネルディスプレイを有し、入力操作に応じた信号を出力する。この信号に応じて、制御回路100により画像形成装置1の動作が制御される。
カラー印刷モードにおいて、イメージングユニット3y〜3kは、Y(イエロー)、M(マゼンタ)、C(シアン)、およびK(ブラック)の4色のトナー像を並行して形成する。4色のトナー像は、回転中の中間転写ベルト10に順次に一次転写される。最初にYのトナー像が転写され、それに重なるようMのトナー像、Cのトナー像、およびKのトナー像が順次に転写される。
一次転写されたトナー像は、二次転写ローラ16と対向するとき、シートキャビネット1Dからタイミングローラ15を経て搬送されてきたシートPに二次転写される。二次転写の後、シートPは、定着器17と連絡搬送路19とを順に通ってフィニッシャに送り出される。画像形成装置1にフィニッシャが連結されていない場合には、連絡搬送路19に代えて排紙トレイ19にシートPが排出される。定着器17を通過するとき、加熱および加圧によってトナー像が用紙Pに定着する。
図2にはプリントヘッド6の構成が示されている。詳しくは、図3(A)には前面側から見た構成が、図3(B)には上方から見た構成が、それぞれ示されている。また、図3にはポリゴンミラー62の汚れ方の傾向が、図4にはポリゴンミラー62の回転角度とレーザビームLBの光量との関係が、それぞれ示されている。
図2(A)および(B)の通り、プリントヘッド6は、光源ユニット60、ポリゴンユニット61、fθレンズ67、反射ミラー68〜77、および2つの光センサ78,79を有する。
光源ユニット60は、イメージングユニット3y〜3kに1つずつ設けられた4個の感光体4のそれぞれに対して、潜像に応じた露光のためのレーザビームLBを射出する手段である。光源ユニット60においては、レーザ光源、コリメータレンズ、およびミラーの組がイメージングユニット3y〜3kに対して1組ずつ設けられている。レーザ光源は、例えば発光モニター用のフォトダイオードを備えた半導体レーザ(レーザダイオード)である。コリメータレンズにより平行化された4本のレーザビームLBは、ミラーで反射して略同じ方向に進む。4個のミラーのそれぞれは、他のミラーで反射したレーザビームLBを遮光しないよう互いに段違いに配置され、またはハーフミラーとされている。
カラー印刷では、Y、M、C、Kの各色に対応する計4つのレーザビームLBy,LBm,LBc,LBkが光源ユニット60から射出される。射出されたレーザビームLBは、反射ミラー68によりポリゴンユニット61に導かれる。
ポリゴンユニット61は、ポリゴンミラー62とそれを回転駆動するポリゴンモータ63とをハウジング610の中に収めて一体化した光学デバイスである。ハウジング610にはレーザビームLBが透過するガラス窓611,612が設けられている。本実施形態において、ポリゴンユニット61は、ハウジング610の内部の粉塵濃度を検出する粉塵センサ64、およびポリゴンミラー62の回転角度位置が基準位置になったことを検出する位置センサ65を有している。これらのセンサの用途を後に述べる。
反射ミラー68により導かれたレーザビームLBは、ガラス窓611を透過してポリゴンミラー62に入射する。ポリゴンミラー62は、ポリゴンモータ63により一方向に高速回転してレーザビームLBを主走査方向M1に偏向する。偏向されたレーザビームLBは、ガラス窓611を透過してfθレンズ67に進む。
fθレンズ67は、入射したレーザビームLBの進行方向を感光体4において等速の主走査を行うよう補正する。fθレンズ67を通過したレーザビームLBは、反射ミラー69〜75によりイメージングユニット3y〜3kそれぞれの感光体4に導かれ、感光体4の表面を照射する。
また、レーザビームLBは、それが偏向された後に通る光路600のうちの潜像の形成領域に対応するメイン光路(図2(B)に斜線を付して示す)600Aの外に配置された反射ミラー76,77により光センサ78,79に導かれる。
反射ミラー76は、例えば反射ミラー72における主走査方向M1の上流側の端部付近に配置されている。したがって、光センサ78には、光路600のうちの主走査方向M1(偏向方向)における上流側の部分を通ったレーザビームLBが入射する。光センサ78による光検出信号は、各ラインの主走査の開始を同期させるためのSOS(Start of Scan )信号として用いられる。
また、反射ミラー77は、反射ミラー72における主走査方向M1の下流側の端部付近に配置されている。したがって、光センサ79には、光路600のうちの主走査方向M1における下流側の部分を通ったレーザビームLBが入射する。光センサ79による光検出信号は、各ラインの主走査の終了を同期させるためのEOS(End of Scan )信号として用いられる。
図3に示すように、ポリゴンミラー62は、外形が高さの低い例えば正六角柱状であり、六角柱の側面を構成する6個のミラー面620(620a〜620f)を有する。各ミラー面620は、正六角形の一辺に対応する長さの帯状である。ポリゴンミラー62は、正多角形の幾何中心を回転中心として、1つのミラー面620により主走査の1ライン分の偏向を行うよう所定の速度で回転する。
なお、ポリゴンミラー62のみ平面視形状は、正七角形または他の正多角形であってもよい。、
ポリゴンミラー62が高速回転することにより気流が発生する。この気流によって、画像形成装置1の内部および外部で浮遊している粉塵がプリントヘッド6の微細な隙間を通ってポリゴンユニット61の内部に侵入する。
ポリゴンミラー62の側面が角ばっていることから、高速回転している側面の近傍で気流の渦が生じる。特に、各ミラー面620における回転方向の前端側で渦が生じやすく、前端側で生じた渦はミラー面620に引き摺られるかのようにミラー面620の回転にともなって移動する。つまり、ミラー面620における前端側の部分620Aの付近に常に渦を生じさせながらポリゴンミラー62は回転する。
この渦が、ポリゴンミラー62の周囲で浮遊する粉塵を巻き込んでミラー面620に付着させる。このため、ミラー面620における前端側には後端側よりも粉塵が多く付着する。すなわち、各ミラー面620の前端側は、後端側よりも粉塵で汚れやすい。
図4(A)に示すように、1ラインの主走査に際して、ミラー面620におけるレーザビームLBが入射する位置(図中に黒丸で示す)は、ポリゴンミラー62の回転にともなって移動する。
すなわち、SOS信号を発生させる方向に偏向するときは、ミラー面620のうちの回転方向における前端621の近くにレーザビームLBが入射する。その後、画像形成のための露光を開始する位置(SOI: Start of Image)へ向かう方向、画像の中央(COI: Center of Image) へ向かう方向、および露光を終了する位置(EOI: End of Image)へ向かう方向へと偏向が進むにつれて、入射位置は前端621から遠くなる。EOS信号を発生させる方向に偏向するときは、ミラー面620のうちの回転方向における後端622の近くにレーザビームLBが入射する。
ポリゴンミラー62の経時変化として、ミラー面620の汚れによるレーザビームLBの光量の低下がある。ミラー面620の汚れは、上に述べた通り前端側において速く進むので、図4(B)に示すように、主走査方向M1の上流側における光量低下率が下流側における光量低下率よりも大きくなる。Y、M、C、KのレーザビームLBy,LBm,LBc,LBkのいずれについても同様にこの傾向がみられる。
レーザビームLBの光量が過度に低下すると、SOS信号が得られなくなって画像を形成することができなくなる。また、主走査方向M1の上流側と下流側との光量の差が大きくなるにつれて、画像品質の低下が顕著になる。すなわち、主走査方向M1における露光量の不均一による濃度むらおよび階調再現のむらなどが目立ってくる。
したがって、ポリゴンミラー62のミラー面620の汚れが許容範囲の上限を超える以前に、すなわちポリゴンミラー62の寿命が尽きる以前に、例えばポリゴンユニット61ごとポリゴンミラー62を新品と交換する必要がある。
そこで、画像形成装置1には、ポリゴンミラー62の余命(稼働可能な残り時間)を定量化する寿命予測機能が設けられている。余命は、ユーザまたはサービスパーソンがポリゴンミラー62の交換の要否を判断する際の目安となる。以下、この寿命予測機能を中心に画像形成装置1の構成および動作を説明する。
〔寿命予測の形態1〕
図5には制御回路100の機能的構成の第1例が、図6にはポリゴンミラー62の余命DLrの算出方法の第1例が、それぞれ示されている。
図5において、制御回路100は、操作パネル1Eを用いるユーザの操作によりまたはネットワーク通信により入力されるジョブを受け付けてその実行を制御する。例えば、コピージョブにおいては、プリンタエンジン2およびプリントヘッド6に画像形成のための準備を行わせ、スキャナ1Bおよび画像処理部23を制御して印字データ信号S6をプリントヘッド6の光源ユニット60に与える。印字データ信号S6は、潜像の形成に際してパターン露光のためのレーザ発光制御の基となる信号である。
制御回路100には、粉塵センサ64、位置センサ65、および湿度センサ81からの検出信号S64,S65,S81が入力される。湿度センサ81は、画像形成装置1の内部に配置されている。
制御回路100は、発光制御部101、回転制御部102、測定部103、算出部104、および寿命予測部105などを有している。これらの機能は、CPU(Central Processing Unit) を含む制御回路100のハードウェア構成により、および制御プログラムがCPUによって実行されることにより実現される。
発光制御部101は、光センサ78,79からの光検出信号S78,S79をSOS信号またはEOS信号として用い、印字データ信号S6に従ってレーザビームLBを変調(断続)するよう光源ユニット60を制御する。
回転制御部102は、ポリゴンモータ63を所定の速度で回転させるための指令をポリゴンモータ63の駆動回路630に与える。
測定部103は、光センサ78の出力レベルDLを定期的に測定して記憶する。測定部103は、光センサ78の出力レベルDLとして光センサ78からの光検出信号S78のピーク値またはパルス幅、すなわち光センサ78に入射するレーザビームLBの光量レベルを測定する。ただし、次の変形がある。発光制御部101が光センサ78に入射するレーザビームLBの光量レベルを光検出信号S78に基づいて検知し、光量レベルを一定に保つよう光源に供給する電力を制御する場合には、その供給レベルを出力レベルとして測定する。
ところで、ポリゴンミラー62においては、回転軸の偏心およびミラー面620の面倒れのばらつきなどにより、ミラー面620どうしの間で汚れの度合いが不均等になることがある。したがって、寿命の予測は、6個のミラー面620のそれぞれにおける汚れの進み具合の中で最も大きい進み具合に基づいて寿命を予測するのが好ましい。
そこで、測定部103は、位置センサ65からの位置検出信号S65により、ポリゴンミラー62が1回転する間に6回出力される光検出信号S78がいずれのミラー面620で反射したレーザビームLBに対応するかを検知する。詳しくは次の通りである。
位置センサ65は、予め基準面とされた1つのミラー面620による偏向が始まるタイミングで位置検出信号S65を発する。例えばポリゴンモータ63のシャフトにおける基準面に対応する回転角度位置に磁石を設けておき、この磁石に感応するホール素子をシャフトの近傍に配置して位置センサ65とすることができる。または、シャフトにマークを付しておき、このマークを検出する反射型フォトセンサを位置センサ65とすることができる。
測定部103は、位置検出信号S65を検知すると、その後に発せられる光検出信号S78をカウントする。1〜6までのカウントを繰り返すことにより、カウント値とミラー面620とが一意に対応する。例えば、ミラー面620aを基準面とすると、カウント値「1」がミラー面620aに対応し、カウント値「2」〜「6」がミラー面620b〜620fに対応する。
測定部103は、6個のカウント値のそれぞれに対応づけて光検出信号S78の測定値(光量レベルDL)を記憶する。なお、測定に際してポリゴンミラー62は少なくともn回転し(nは2以上の整数)、ミラー面620a〜620fのそれぞれについてn回ずつ光検出信号S78がサンプリングされる。そして、得られたn個の測定結果の平均値が測定値として記憶される。
測定部103によるこのような測定動作は、所定の時間間隔で繰り返し行われる。詳しくは、ポリゴンミラー62の稼働時間(回転した時間)が所定値になるごとに測定する。例えば新品の状態からの稼働時間が500時間増えるごとに測定を行い、後に述べるように寿命予測部105により算出された余命Trが500時間より短くなった以降は、算出された余命Trよりも短い時間(例えば半分)だけ稼働時間が増えときに測定を行う。
算出部104は、測定部103により光センサ78の出力レベルDLが測定されたときに、今回の測定で得られた測定値(出力レベルDL)、以前の測定で得られて記憶されている測定値、および以前の測定からの稼働時間ΔTに基づいて、経時変化率Daを算出する。経時変化率Daは、ポリゴンミラー62の単位稼働時間あたりの出力レベルDLの変化量である。単位稼働時間は、任意に定めることができ、例えば1時間とすることができる。
経時変化率Daの算出は、6個のミラー面620のそれぞれについて行われる。すなわち、算出部104は、次に述べる演算を繰り返して6個の経時変化率Daを算出する。
図6(A)および(B)においては、稼働時間が1000時間である時点t2に、当該時点t2の出力レベルDL(t2)と稼働時間が500時間であった時点t1の出力レベルDL(t1)とを用いて、経時変化率Daが算出される。この場合に算出される経時変化率Daは、時点t1から時点t2までの出力レベルDLの変化の度合い(汚れ具合)を示す。
なお、図6(A)においても図6(B)においても、出力レベルDL(t1)および出力レベルDL(t2)は、同じミラー面620に対応する測定値である。
図6(A)において、時点t1の出力レベルDL(t1)は390であり、時点t2の出力レベルDL(t2)は320である。また、時点t1から時点t2までの稼働時間ΔTは500である。
経時変化率Daは、次の式(1)で表わされる。
Da=ΔDL/ΔT …(1)
ただし、ΔDL=DL(t2)−DL(t1)
算出部104は、式(1)の演算を行う。図6(A)の場合に、経時変化率Daは−0.14と算出される。
図6(B)において、時点t1の出力レベルDL(t1)は418であり、時点t2の出力レベルDL(t2)は378であり、時点t1から時点t2までの稼働時間ΔTは500である。図6(B)の場合には、経時変化率Daは−0.08と算出される。
図5に戻って、算出部104は、6個のミラー面620のそれぞれについて算出した経時変化率Daを寿命予測部105に通知する。
寿命予測部105は、測定部103により出力レベルDLが測定されて算出部104により経時変化率Daが算出されたときに、ポリゴンミラー62の余命TLrを算出する。詳しくは、算出された経時変化率Daで出力レベルDLが引き続き変化すると仮定した場合における当該出力レベルDLがしきい値thDLになるまでのポリゴンミラー62の稼働時間Tを余命TLrとして算出する。しきい値thDLは、ポリゴンミラー62の寿命が尽きたと判定するために定められた出力レベルDLの限界値である。
図6(A)および(B)では、時点t2において、この時点t2における余命TLrが算出される。しきい値thDLは、200と定められている。
余命TLrは、次の式(2)で表わされる。
TLr=〔thDL−DL(t2)〕/Da …(2)
図6(A)の場合は、出力レベルDL(t2)が320であって経時変化率Daが−0.14であるので、余命TLrは857と算出される。これにより、稼働時間Tが1000時間である時点t2においては、ポリゴンミラー62の寿命TLは1857時間であると予測されることになる。
図6(B)の場合は、出力レベルDL(t2)が378であって経時変化率Daが−0.08であるので、余命TLrは2225と算出される。寿命TLは、3225時間と予測されることになる。
寿命予測部105は、6個のミラー面620のそれぞれについて余命TLrを算出し、得られた6個の余命TLrの中で最も短い余命TLrを抽出する。そして、最も短い余命TLrが設定値(Tmin)以下である場合に、ポリゴンミラー62の交換をユーザに促すメッセージを操作パネル1Eのディスプレイに表示させる。表示に代えてまたは表示とともにサービスセンターにメンテナンス要求を送信してもよい。
設定値(Tmin)は、寿命TLが尽きるまでに交換を行うのに必要とされる例えば2週間〜一ヶ月程度の日数が確保できるように定められる。例えば、ユーザによる画像形成装置1の使用実績を記録しておき、一日あたりの平均稼働時間から設定値(Tmin)を決定する。平均稼働時間が例えば2時間であって、確保する日数を例えば30日とした場合は、設定値(Tmin)を60時間とする。
寿命予測部105は、最も短い余命TLrが設定値(Tmin)よりも長い場合は、ユーザに対するメッセージの表示処理を行わず、当該余命TLrを測定部103に通知する。
余命TLrの通知を受けると、測定部103は、次回の測定を行う時期を次のように設定する。
余命TLrが初期の測定間隔(ΔT)よりも長い場合は、初期の測定間隔(ΔT)をそのまま次回の測定までの測定間隔として維持する。
これに対して、余命TLrが初期の測定間隔(ΔT)よりも短い場合は、余命TLrから設定値(Tmin)を差し引いた時間またはそれよりも短い時間を次回の測定までの測定間隔とする。このとき、次回の測定までに一日あたりの平均稼働時間が増大して次回の測定時の設定値(Tmin)が現時点よりも大きくなる可能性があることから、交換が間に合わないことをより確実に防ぐために、測定間隔を短めにすることができる。
図7には画像形成装置1における処理の流れの第1例が示されている。
ポリゴンモータ63に対するオンオフ制御を監視することによりポリゴンモータ63が回転した時間をポリゴンミラー62の稼働時間Tとして検知し、ポリゴンモータ63が回転するごとに稼働時間Tを更新する(#201)。
稼働時間Tが設定された時間まで増大すると(#202でYES)、光センサ78の出力レベルDLを測定し(#203)、経時変化率Daを算出し(#204)、ポリゴンミラー62の余命DLrを算出する(#205)。そして、余命TLrに基づいて、ポリゴンミラー62の寿命TLが近々尽きるか否かを判定する(#206)。
寿命TLが近々尽きると判定した場合は(#206でYES)、ポリゴンミラー62の交換が必要であることをユーザまたはサービスセンターに通知する(#207)。寿命TLが近々尽きないと判定した場合は(#206でNO)、ステップ#201に戻ってステップ#201〜#206の処理を繰り返す。
〔寿命予測の形態2〕
本形態2は、上に述べた形態1とは違って、ポリゴンミラー62の稼働時間Tにより定まる時期ではなく、粉塵センサ64により検出される粉塵量により定まる時期に出力レベルDLの測定を行うものである。
粉塵センサ64は、例えば光散乱方式のセンサであり、内部空間を照らす光源、粉塵による散乱光量を検出する光検出器を備える。内部空間に上昇気流を発生させるヒータを内蔵するものでもよい。光吸収方式または圧電天秤方式などの他の方式のセンサでもよい。
図8には制御回路100の機能的構成の第2例が、図9にはポリゴンミラー62の余命DLrの算出方法の第2例が、図10には変化率設定テーブル170の例が、図11には粉塵センサ64の検出特性の例が、それぞれ示されている。
図8において、図5と同様の機能を有する要素には図5と同一の符合を付し、その説明を省略しまたは簡略化する。
図8に示す制御回路100bは、発光制御部101、回転制御部102、測定部103b、寿命予測部105b、積算部106、および記憶部107などを有している。これらの機能は、制御回路100bのハードウェア構成により、および制御プログラムがプロセッサによって実行されることにより実現される。
積算部106は、粉塵センサ64により粉塵濃度が検出されるごとに、粉塵検出信号S64により示される検出された粉塵濃度を積算し、積算の結果を示す粉塵濃度積算値Ddを更新する。粉塵センサ64による粉塵濃度の検出は、ポリゴンミラー62が回転している期間において周期的に行われる。
測定部103bは、粉塵濃度積算値Ddが設定値thDd以上になったときに光センサ78の出力レベルDLを測定する。そして、測定した出力レベルDLと粉塵濃度積算値Ddが設定値以上になるまでの稼働時間ΔTとを寿命予測部105bに通知する。
記憶部107は、変化率設定テーブル170を記憶する。変化率設定テーブル170は、図10(B)に示すように、互いに長さが異なる複数の時間のそれぞれに対応づけられた経時変化率Daを示す情報である。詳しくは次の通りである。
粉塵濃度積算値Ddが設定値thDd以上になるごとに、余命DLrが十分に長いか否かを判定することとする。この場合に、図10(A)の左側のグラフが示す通り、前回の判定から粉塵濃度積算値Ddが設定値thDd以上になるまでに要した時間(ΔT)が短かければ、粉塵(汚れ)が多く、反対に時間(ΔT)が長ければ、粉塵は少ない。
粉塵が多い環境では、経時変化(出力レベルDLの低下)の進行は比較的に速く、粉塵が少ない環境では、経時変化の進行は比較的に遅い。つまり、前回の判定からの稼働時間ΔTと経時変化率Daとには、図10(A)の右側のグラフで示される相関関係がある。
変化率設定テーブル170は、稼働時間ΔTの想定範囲を100時間刻みで複数の小範囲に区分し、図10(A)の相関関係に基づいて、小範囲ごとに経時変化率Daを定めたものである。
寿命予測部105bは、測定部103bから出力レベルDLと稼働時間ΔTとが通知されると、変化率設定テーブル170を参照して余命TLrを算出する。詳しくは、変化率設定テーブル170において通知された稼働時間ΔTに対応づけられている経時変化率Daを用いて上述の式(2)により余命TLrを算出する。
図9の例において、粉塵濃度積算値Ddの設定値thDdは、240と定められ、光センサの出力レベルDLのしきい値thDLは、図6の例と同じく200と定められている。
ポリゴンミラー62が新品の状態である時点t10において、粉塵濃度積算値Ddは0である。時点t10から稼働時間Tが増大するにつれて粉塵濃度積算値Ddは増大する。
稼働時間Tが800となった時点t11において、粉塵濃度積算値Ddが設定値thDdと等しくなったので、余命TLrを算出する。このとき、時点t10から時点t11までの稼働時間ΔTは、800である。図10(B)の変化率設定テーブル170によると、稼働時間ΔTが800である場合の経時変化率Daは、−0.04である。また、時点t11における出力レベルDLは、400である。
寿命予測部105bは、次の式(2b)により余命TLrを算出する。
TLr=〔thDL−DL〕/Da …(2b)
時点t11における余命TLrは、5000時間であり、寿命は5800時間と予測される。
図6の例と同様に、算出した余命TLrとポリゴンミラー62の交換の要否判定の基準とする上述の設定値(Tmin)とを比較する。すなわち、交換の要否を判定する。時点t11における余命TLrは設定値(Tmin)よりも長いので、交換不要と判定する。この場合、ユーザに対する通知は行わない。このように判定が行われると、積算部106は、粉塵濃度積算値Ddをリセットする。
リセットされて0になった粉塵濃度積算値Ddは、時点t11から稼働時間Tが増大するにつれて増大する。稼働時間Tが1400となった時点t12において、粉塵濃度積算値Ddが設定値thDdと等しくなったので、余命TLrを算出する。このとき、時点t11から時点t12までの稼働時間ΔTは、600であり、時点t12における出力レベルDLは、364である。変化率設定テーブル170によると、稼働時間ΔTが600である場合の経時変化率Daは、−0.08である。
時点t11のときと同様に式(2b)により余命TLrを算出し、交換の要否を判定する。粉塵濃度積算値Ddはリセットされる。時点t12における余命TLrは、2050時間であり、寿命は3450時間と予測される。
稼働時間Tが1900となった時点t13において、粉塵濃度積算値Ddが設定値thDdと等しくなったので、余命TLrを算出する。このとき、時点t12から時点t13までの稼働時間ΔTは、500であり、時点t13における出力レベルDLは、304である。稼働時間ΔTが500である場合の経時変化率Daは、−0.10である。
時点t12のときと同様に式(2b)により余命TLrを算出し、交換の要否を判定する。粉塵濃度積算値Ddはリセットされる。時点t13における余命TLrは、1040時間であり、寿命は2940時間と予測される。
稼働時間Tが2300となった時点t14において、粉塵濃度積算値Ddが設定値thDdと等しくなったので、余命TLrを算出する。このとき、時点t13から時点t14までの稼働時間ΔTは、500であり、時点t14における出力レベルDLは、244である。稼働時間ΔTが400である場合の経時変化率Daは、−0.12である。時点t13のときと同様に式(2b)により余命TLrを算出し、交換の要否を判定する。粉塵濃度積算値Ddはリセットされる。時点t14における余命TLrは、367時間であり、寿命は2667時間と予測される。
図12には画像形成装置1における処理の流れの第2例が示されている。
粉塵濃度を検出し(#301)、粉塵濃度積算値Ddを更新する(#302)。ポリゴンモータ63の回転時間をポリゴンミラー62の稼働時間Tとして検知し、ポリゴンモータ63が回転するごとに稼働時間Tを更新する(#303)。
粉塵濃度積算値Ddが設定値thDd以上になると(#304でYES)、前回の判定からの稼働時間ΔTを計算し(#305)、変化率設定テーブル170から稼働時間ΔTに対応する経時変化率Daを取得する(#306)。
光センサ78の出力レベルDLを測定し(#307)、取得した経時変化率Daを用いて余命TLrを算出する(#308)。そして、余命TLrに基づいて、ポリゴンミラー62の寿命TLが近々尽きるか否かを判定する(#309)。
寿命TLが近々尽きると判定した場合は(#309でYES)、ポリゴンミラー62の交換が必要であることをユーザまたはサービスセンターに通知する(#310)。寿命TLが近々尽きないと判定した場合は(#309でNO)、粉塵濃度積算値Ddをリセットし(#311)、その後にステップ#301に戻る。
〔寿命予測の形態3〕
図13には制御回路100の機能的構成の第3例が示されている。図13図5と同様の機能を有する要素には図5と同一の符合を付し、その説明を省略しまたは簡略化する。
図13示す制御回路100bは、発光制御部101、回転制御部102、測定部103c、算出部104c、および寿命予測部105などを有している。これらの機能は、制御回路100cのハードウェア構成により、および制御プログラムがプロセッサによって実行されることにより実現される。
測定部103cは、光センサ78の出力レベルDLである上流側レベルDL1、および光センサ79の出力レベルDLである下流側レベルDL2を定期的に測定する。そして、測定した流側レベルDL1および下流側レベルDL2を算出部104cに通知する。
算出部104cは、通知された上流側レベルDL1と下流側レベルDL2とのレベル差DLdを算出し、上流側レベルDL1とともに記憶する。また、算出したレベル差DLdがしきい値thDLd以上であるときに、当該レベル差DLdに対応する最新の上流側レベルDL1、以前に測定されて記憶されている上流側レベルDL1、および当該以前の測定からのポリゴンミラー62の稼働時間ΔTに基づいて、上流側レベルDL1の経時変化率Daを算出する。
寿命予測部105は、測定部103cにより上流側レベルDL1および下流側レベルDL2が測定されて算出部104cにより経時変化率Daが算出されたときに、図6の例と同様にポリゴンミラー62の余命TLrを算出する。そして、必要に応じてポリゴンミラー62の交換をユーザに促すメッセージを操作パネル1Eのディスプレイに表示させる。
図14には画像形成装置1における処理の流れの第3例が示されている。
上流側レベルDL1および下流側レベルDL2を測定し(#401、#402)。レベル差DLdを算出する(#403)。
レベル差DLdがしきい値thDLd以上である場合に(#404でYES)、経時変化率Daを算出し(#405)、余命TLrを算出する(#406)。そして、余命TLrに基づいて、ポリゴンミラー62の寿命TLが近々尽きるか否かを判定する(#407)。
寿命TLが近々尽きると判定した場合は(#407でYES)、ポリゴンミラー62の交換が必要であることをユーザに通知する(#408)。寿命TLが近々尽きないと判定した場合は(#407でNO)、ステップ#401に戻ってステップ#401〜#407の処理を繰り返す。
図15には光センサ78の出力レベルDLの例が示されている。
図15(A)に示すように光検出信号S78のピーク値は、ポリゴンミラー62の汚れが進むにつれて小さくなる。ピーク値を出力レベルDLとして測定することにより、汚れの度合いを検知することができる。
図15(B)に示すように光検出信号S78のパルス幅は、ポリゴンミラー62の汚れが進むにつれて短くなる。パルス幅は、図15(C)に示すようにクロックをカウントすることにより測定することができる。パルス幅出力レベルDLとして測定することにより、汚れの度合いを検知することができる。
図16には変化率補正テーブル180の例および補正の有無と余命TLrとの関係の例が示されている。
ポリゴンミラー62の回転速度Vが異なると、粉塵の付着に関わる気流の渦の発生状況も異なる。稼働時間T,ΔTが同じであっても、回転が速いほど汚れが多くなる。このため、経時変化率Daの算出に際して、ポリゴンミラー62の回転速度に応じた補正を行うのが好ましい。
図16(A)の変化率補正テーブル180は、画像形成モードに応じて切り替えられる複数の回転速度Vに応じた補正係数αを示す。補正係数αは、上述の式(1)による演算に際して稼働時間ΔTに代えて用いる補正稼働時間ΔTaを算出するための係数である。補正稼働時間ΔTaは、式(3)で表わされる。
ΔTa=α×ΔT …(3)
例えば、補正係数αが1よりも小さい場合は、稼働時間ΔTよりも補正稼働時間ΔTaが長くなり、経時変化率Daの絶対値が大きくなるので、図16(B)のように、予測される寿命TLは、補正なしのときに予測される寿命TLよりも短くなる。
以上の実施形態によると、ポリゴンミラーが汚れにより使用不能になるまでの残り時間を予測することができる。
粉塵濃度積算値Ddが設定値thDd以上になったときに光センサ78の出力レベルDLを測定する構成によると、稼働時間Tが所定量増加するごとに測定する構成と比べて測定の回数を少なくすることができる。クリーンな環境で使用される場合に無駄に余命TLrを算出する回数が少なくなり、制御回路100の処理の負担が低減される。
上に述べた実施形態において、光センサ78の出力レベルDLを測定および余命TLrを算出する処理を、印字期間(パターン露光中)以外に行うことで、制御回路100の処理の負担が低減することができる。例えば、印刷ジョブの後処理の実行時、画像安定化処理の実行時、ウォームアップ時、またはプリントジョブの入力を待つ待機時などに行う。
出力レベルDLとして光検出信号S78のパルス幅を測定する場合には、ポリゴンミラー62の回転速度Vを印字期間の回転速度Vよりも遅くするのが好ましい。回転速度Vを遅くすることによりパルス幅が伸長するので、分解能が高まる。すなわち、カウント用のクロックの周波数を上げなくても測定精度を向上させることができる。また、測定精度が十分に高い場合であっても、パルス幅が伸長することでクロックを遅くすることができ、専用回路を設けることなくCPUに付随する汎用のペリフェラル(周辺デバイス)を用いてパルス幅をカウントを行うことが可能である。すなわち、制御回路100のコストアップを招かない。
上に述べた実施形態において、余命TLrの算出に用いた経時変化率Daの大小に応じて次回の算出までの稼働時間ΔTを適宜変更することができる。粉塵が少ない環境では経時変化率Daは小さく、逆に粉塵が多い環境では経時変化率Daが大きい。粉塵が少ない環境で使用される場合は、余命TLrの算出の間隔を長くすることによって無駄なポリゴンモータ63の稼働が低減される。逆に粉塵が多い環境で使用される場合は、余命TLrの算出の間隔を短くすることによって、汚れの進み具合をこまめに確認し、より正確に寿命TLを予測することができる。
浮遊する粉塵の量は湿度により変化するので、湿度センサ81からの湿度検出信号S81を所定間隔(例えば1時間ごと)でサンプリングし、低湿状態が継続している場合は浮遊する粉塵量が多いと判断して余命TLrの算出回数を多くする。高湿状態が継続している場合は浮遊する粉塵量が少ないと判断して余命TLrの算出回数を少なくする。
上に述べた実施形態においては、前回および今回の測定で得た出力レベルDL(t1),DL(t2)とに基づいて、出力レベルDLの変化を直線的な変化とみなして経時変化率Daを算出する例を挙げたが、これに限らない。前々回を含む3回以上の測定値を基に変化を直線近似してもよいし、直線的以外の変化に当てはまる関数を推定して経時変化率Daを算出してもよい。
上流側レベルDL1と下流側レベルDL2とのレベル差DLdがしきい値thDLd以上であるときに余命TLrを算出する場合に、単位稼働時間あたりのしきい値thDLdの変化量を経時変化率Daとして算出してもよい。
ポリゴンミラー62の複数のミラー面620のそれぞれについて出力レベルDLを測定するものとして説明したが、複数のミラー面620が均等に汚れる場合には、複数のミラー面620を区別することなくいずれか1つについて出力レベルDLを測定してもよい。測定ごとに対象となるミラー面620が異なってもよく、位置センサ65を省略することができる。
その他、画像形成装置1の全体または各部の構成、処理の内容、順序、またはタイミング、しきい値thDL、設定値thDdなどは、本発明の趣旨に沿って適宜変更することができる。
1 画像形成装置
LB レーザビーム(光ビーム)
62 ポリゴンミラー
63 ポリゴンモータ(駆動源)
64 粉塵センサ
65 位置センサ
78 光センサ(第1の光センサ)
79 光センサ(第2の光センサ)
81 湿度センサ
DL 出力レベル
101 発光制御部
102 回転制御部
103,103b,103c 測定部
105,105b 寿命予測部
106 積算部
107 記憶部
170 変化率設定テーブル(情報)
620 ミラー面
Da 経時変化率
Dd 粉塵濃度積算値
DL1 上流側レベル
DL2 下流側レベル
DLd レベル差(レベルの差)
M1 主走査方向(偏向方向)
thDd 設定値
thDL しきい値
T 稼働時間
TLr 余命
ΔT 稼働時間(以前の測定からの稼働時間)

Claims (14)

  1. 光ビームを偏向するポリゴンミラーを備えた画像形成装置であって、
    前記ポリゴンミラーにより偏向された前記光ビームが入射するよう配置された光センサと、
    前記光センサの出力レベルを測定する測定部と、
    測定された前記出力レベルを用いて、前記ポリゴンミラーの単位稼働時間あたりの前記出力レベルの変化量である経時変化率で当該出力レベルが引き続き変化すると仮定した場合における当該出力レベルがしきい値になるまでの前記ポリゴンミラーの稼働時間を、当該ポリゴンミラーの余命として算出する寿命予測部と、を有する、
    ことを特徴とする画像形成装置。
  2. 前記測定部は、定期的に前記出力レベルを測定して記憶し、
    前記出力レベルが測定されたときに、測定された当該出力レベル、以前に測定されて記憶されている前記出力レベル、および当該以前の測定からの前記ポリゴンミラーの稼働時間に基づいて、前記経時変化率を算出する算出部を有し、
    前記寿命予測部は、前記算出部により算出された前記経時変化率を用いて前記余命を算出する、
    請求項1記載の画像形成装置。
  3. 内部の粉塵濃度を検出する粉塵センサと、
    前記粉塵濃度が検出されるごとに、検出された前記粉塵濃度を積算してその結果を示す粉塵濃度積算値を更新する積算部と、を有し、
    前記測定部は、前記粉塵濃度積算値が設定値以上になったときに前記光センサの出力レベルを測定する、
    請求項1記載の画像形成装置。
  4. 互いに長さが異なる複数の時間のそれぞれに対応づけられた前記経時変化率を示す情報を記憶する記憶部を有し、
    前記寿命予測部は、前記情報において前記粉塵濃度積算値が設定値以上になるまでの前記ポリゴンミラーの稼働時間に対応づけられている前記経時変化率を用いて前記余命を算出する、
    請求項3記載の画像形成装置。
  5. 前記光センサとして、偏向された前記光ビームの光路のうちの偏向方向における上流側の部分を通った前記光ビームが入射するよう配置された第1の光センサ、および下流側の部分を通った前記光ビームが入射するよう配置された第2の光センサを有しており、
    前記測定部は、前記第1の光センサの出力レベルである上流側レベル、および前記第2の光センサの出力レベルである下流側レベルを前記出力レベルとして測定し、
    前記寿命予測部は、前記上流側レベルおよび前記下流側レベルが測定されかつこれらのレベルの差が設定値以上である場合に、当該上流側レベルの前記単位稼働時間あたりの変化量を前記経時変化率として用いて前記余命を算出する、
    請求項1記載の画像形成装置。
  6. 前記光センサに入射する前記光ビームの光量レベルを一定に保つよう前記光ビームの光源に供給する電力を制御する発光制御部を有し、
    前記測定部は、前記出力レベルとして前記電力の供給レベルを測定する、
    請求項1ないし5のいずれかに記載の画像形成装置。
  7. 前記光センサは、前記光ビームによる主走査を同期させるために前記光ビームの光路における偏向方向の上流側に配置されるセンサである、
    請求項1ないし5のいずれかに記載の画像形成装置。
  8. 前記測定部は、前記出力レベルとして前記光センサから出力される検出信号のピーク値またはパルス幅を測定する、
    請求項1ないし7のいずれかに記載の画像形成装置。
  9. 前記ポリゴンミラーの回転角度位置を検出する位置センサを有し、
    前記測定部は、検出された回転角度位置に基づいて前記ポリゴンミラーにおける複数のミラー面を識別して各ミラー面で反射した前記光ビームが前記光センサに入射したときの前記出力レベルを測定し、
    前記寿命予測部は、前記複数のミラー面のそれぞれに対応する前記出力レベルのうち、最も変化が大きい出力レベルに基づいて前記余命を算出する、
    請求項1ないし8のいずれかに記載の画像形成装置。
  10. ポリゴンミラーの回転軸の偏心量または面倒れ量が上限値以上である場合において、前記測定部は、前記複数のミラー面のそれぞれに対応する前記出力レベルを測定し、
    前記偏心量および面倒れ量が共に前記上限値未満である場合において、前記測定部は、前記複数のミラー面のいずれか1つに対応する前記出力レベルを測定する、
    請求項9記載の画像形成装置。
  11. 前記寿命予測部は、前記ポリゴンミラーの回転数が多い場合に少ない場合よりも前記経時変化率を大きくする補正を行って、補正後の経時変化率を用いて前記余命を算出する、
    請求項1ないし10のいずれかに記載の画像形成装置。
  12. 画像を形成するために前記光ビームを偏向する印字期間とは別に当該光ビームを偏向する測定期間が設けられ、
    前記測定期間において、前記ポリゴンミラーが前記印字期間における速度よりも遅い速度で回転するよう当該ポリゴンミラーの駆動源を制御する回転制御部を有し、
    前記測定部は、前記測定期間において前記出力レベルを測定し、
    前記寿命予測部は、前記測定期間において前記余命を算出する、
    請求項1ない11のいずれかに記載の画像形成装置。
  13. 前記測定部は、測定した前記出力レベルを用いて算出された前記経時変化率が大きいほど短い時間間隔で前記出力レベルを測定する、
    請求項2また5記載の画像形成装置。
  14. 内部の湿度を検出する湿度センサを有し、
    前記測定部は、検出された前記湿度が高いほど短い時間間隔で前記出力レベルを測定する、
    請求項2また5記載の画像形成装置。
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