KR101940981B1 - 2d 및 3d 인덕터 안테나 및 변압기 제작 광 활성 기판 - Google Patents

2d 및 3d 인덕터 안테나 및 변압기 제작 광 활성 기판 Download PDF

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Abstract

적어도 실리카, 산화 리튬, 산화 알루미늄 및 산화 세륨을 포함하는 감광성 유리 기판을 준비하고, 감광성 유리 기판 상에 하나 이상의 도전 경로들을 형성하기 위해 하나 이상의 홀들을 포함하는 설계 레이아웃을 마스크하고, 감광성 유리 기판의 적어도 일부를 활성화 에너지원에 노출시키고, 감광성 유리 기판을 유리 전이 온도 위에서 적어도 10분의 가열 단계에 노출시키고, 노출된 유리의 적어도 일부를 결정질 재료로 변환시켜 유리-결정질 기판을 형성하기 위해 감광성 유리 기판을 냉각시키고, 이후에 코팅되는 하나 이상의 각진 채널들(angled channels)을 형성하기 위해 유리-결정질 기판을 에칭 용액으로 에칭함으로써 제조되는 제조 방법 및 디바이스가 개시된다.

Description

2D 및 3D 인덕터 안테나 및 변압기 제작 광 활성 기판{2D AND 3D INDUCTORS ANTENNA AND TRANSFORMERS FABRICATING PHOTOACTIVE SUBSTRATES}
본 발명은 광-정의가능 유리 구조(photo definable glass structure)에서 유도 전류 디바이스를 생성하는 것에 관한 것이고, 특히, 일반적으로 전자, 마이크로파 및 무선 주파수용 유리 세라믹 기판들에서 인덕터들, 안테나 및 변압기 디바이스들 및 어레이들을 생성하는 것에 관한 것이다.
감광성 유리 구조체들은 다른 소자 시스템들 또는 서브시스템들과 함께 집적된 전자 소자들과 같이 다수의 미세 기계 가공(micromachining) 및 미세 제조 공정들을 위해 제안되어 왔다. 통상적인 유리의 실리콘 미세 제조는 비용이 많이 들고 수율이 낮으며 사출 모델링 또는 엠보싱 공정들이 일관성없는 형상들을 만들어낸다. 실리콘 미세 제조 공정들은 값비싼 자본 설비; 일반적으로 각각 백만 달러를 초과하는 비용이 드는 포토리소그래피 및 반응성 이온 에칭 또는 이온 빔 밀링 툴들에 의존하고, 수백만 내지 수십억 이상의 비용이 드는 초-청정(ultra-clean)의 고-생산용 실리콘 제조 시설을 필요로 한다. 사출 성형 및 엠보싱은 3 차원 형상들을 생성하는 비용이 적게 드는 방법들이지만 이동(transfer) 중에 결함들을 발생시키거나 확률적 경화 공정으로 인해 차이들이 생긴다.
본 발명은 비용 효율적인 유리 세라믹 유도 개별 또는 어레이 디바이스를 생성한다. 여기서 유리 세라믹 기판은 2 차원 또는 3 차원의 유도 디바이스들을 형성하기 위해 수직 및 수평 평면들 양쪽 모두를 개별적으로 또는 동시에 가공함으로써 이러한 구조들을 형성하는 능력을 입증했다.
본 발명은, 감광성 유리 기판을 갖추고 또한 하나 이상의 금속들로 코팅하거나 채움(fill)으로써 하나 이상의, 2 차원 또는 3 차원 유도 디바이스를 구비한 기판을 제조하는 방법을 포함한다.
적어도 실리카, 산화 리튬, 산화 알루미늄 및 산화 세륨을 포함하는 감광성 유리 세라믹 합성 기판을 갖추고, 감광성 유리 기판에서 하나 이상의, 2차원 또는 3차원 유도 디바이스를 포함하는 설계 레이아웃을 마스크하고, 감광성 유리 기판의 적어도 일부를 활성화 에너지원에 노출시키고, 감광성 유리 기판을 유리 전이 온도 위에서 적어도 10분의 가열 상태에 노출시키고, 노출된 유리의 적어도 일부를 결정질 재료로 변환시켜 유리-결정질 기판을 형성하기 위해 감광성 유리 기판을 냉각시키고, 이후에 유도 디바이스에서 사용되는 하나 이상의 각진 채널들(angled channels) 또는 스루 홀들을 형성하기 위해 유리-결정질 기판을 에칭 용액으로 에칭함으로써 제조되는 디바이스 및 그 제조 방법이 개시된다.
본 발명은 광-정의가능 유리에 또는 광-정의가능 유리 상에 생성된 유도 디바이스를 제조하는 방법으로서: 적어도 실리카, 산화 리튬, 산화 알루미늄 및 산화 세륨을 포함하는 감광성 유리 기판을 갖추는 단계; 감광성 유리 기판 상에 하나 이상의 도전 경로들을 형성하기 위해 하나 이상의 구조들을 포함하는 설계 레이아웃을 마스크하는 단계; 감광성 유리 기판의 적어도 일부를 활성화 에너지원에 노출시키는 단계; 감광성 유리 기판을 유리 전이 온도 위에서 적어도 10분의 가열 상태에 노출시키는 단계; 노출된 유리의 적어도 일부를 결정질 재료로 변환시켜 유리-결정질 기판을 형성하기 위해 감광성 유리 기판을 냉각시키는 단계; 디바이스에서 상기 하나 이상의 각진 채널들을 형성하기 위해 유리-결정질 기판을 에칭 용액으로 에칭하는 단계로서, 트렌치들에 인접한 유리-결정질 기판은 또한 세라믹 상(ceramic phase)으로 변환될 수 있는, 상기 에칭 단계; 하나 이상의 각진 채널들을 하나 이상의 금속들로 코팅하는 단계; 인덕터 구조체의 전부 또는 일부를 유전체 매체들로 코팅하는 단계; 및 전기 접촉 또는 독립형 유도 디바이스를 제공하기 위해 유전체 매체들의 전부 또는 일부를 제거하는 단계를 포함하고, 상기 금속은 표면 또는 매립형 접촉을 통해 회로에 접속되는, 상기 유도 디바이스 제조 방법을 제공한다.
유도 디바이스는 전류를 저장하고 전류 저장 디바이스로서 기능한다. 하나 이상의 금속들이 적절한 주파수에서 인덕터로서 동작하도록 설계된다. 유도 디바이스는 100MHz보다 높은 주파수들에 대해 구리보다 크거나 같은 투자율을 가진다. 유도 디바이스는 100MHz보다 낮은 주파수들에 대해 구리보다 큰 투자율을 가진다. 세라믹 상은 유리-세라믹 재료를 부분적으로 또는 완전히 제거하기 위해 한쪽 또는 양쪽으로부터 에칭될 수 있다. 상기 방법은 유리의 적어도 일부를 세라믹으로 변환시키고, 금속 구조체를 적어도 부분적으로 노출시키기 위해 세라믹을 에칭하는 단계를 더 포함할 수 있다. 상기 방법은 유리의 적어도 일부를 세라믹으로 변환시키고, 금속 구조체를 완전히 노출시키기 위해 세라믹을 에칭하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명은 또한, 하나 이상의 유도 코일들을 둘러싸는 유리-세라믹 재료를 가지는 유도 디바이스로서, 하나 이상의 유도 코일들은 공기에 의해 적어도 부분적으로 둘러싸이는, 상기 유도 디바이스를 포함한다.
하나 이상의 유도 코일들은 유리-결정질 기판에 하나 이상의 각진 채널을 포함하고 하나 이상의 각진 채널들의 적어도 일부 위에 금속이 코팅된다. 유도 소자는 자기 투과성 재료(magnetically permeable material)에 의해 추가로 둘러싸인다. 유도 소자는 자기 투과성 재료와 접촉하지 않는다. 유도 소자는 한쪽, 양쪽 상에 또는 유리-세라믹 재료를 통해 자기 투과성 재료로 채워진 공동(cavity)을 포함한다. 하나 이상의 인덕터들은 서로 상호작용한다. 하나 이상의 인덕터들은 자기 투과성 재료를 공유한다. 금속 코팅은 유리-세라믹 재료를 부분적으로 관통하여, 완전히 관통하여, 또는 유리-세라믹 재료의 상부에, 또는 이들을 조합하여 존재(reside)할 수 있다. 유도 디바이스는 임의의 표면 상에 하나 이상의 제 2 금속층을 더 포함한다.
본 발명은 또한, 하나 이상의 유도 코일들을 둘러싸는 유리-결정질 기판을 구비한 유도 디바이스로서, 하나 이상의 유도 코일들은 공기에 의해 적어도 부분적으로 둘러싸이는, 상기 유도 디바이스를 포함한다. 유도 디바이스는 유리-결정질 기판 상의 하나 이상의 레일들에 의해 지지되는 하나 이상의 유도 코일들을 포함한다. 유도 디바이스는 유리-결정질 기판의 하나 이상의 피트들(pits)에 배치되는 하나 이상의 유도 코일들을 포함한다. 유도 디바이스는 금속 코팅, 다층 금속 코팅, 합금 코팅, 다층 합금 코팅을 포함할 수 있다.
본 발명의 특징들 및 이점들을 보다 완전하게 이해하기 위해, 지금부터 첨부된 도면들과 함께 본 발명의 상세한 설명이 참조된다.
도 1은 코어리스 변압기 설계(coreless transformer design)를 도시한 도면.
도 2는 APEX® 유리에 에칭된 맞물린 사각형 나선들을 도시한 도면.
도 3a는 APEX® 유리에서의/상의 유도 디바이스의 평면도.
도 3b는 APEX® 유리에서의/상의 유도 디바이스의 측면도.
도 4a는 독립형 구리 RF 안테나 브리지 구조의 이미지.
도 4b는 독립형 코일의 이미지.
도 5는, 둘러싸는 세라믹이 부분적으로 에칭되어 대부분 공기가 유도 디바이스를 둘러싸도록 하는 부분적으로 에칭된 인덕터의 이미지.
도 6은, 둘러싸는 세라믹이 완전히 에칭되어 공기만이 유도 디바이스를 둘러싸도록 하는 완전히 에칭된 인덕터의 등축 이미지(isometric image).
도 7a 및 도 7b는, 둘러싸는 세라믹이 완전히 에칭되어 공기만이 유도 디바이스를 둘러싸도록 하는 완전히 에칭된 인덕터의 측면 이미지.
본 발명의 다양한 실시예들의 제조 및 사용이 하기에 상세히 논의되지만, 본 발명은 다양한 특정 상황들에서 구현될 수 있는 많은 적용 가능한 독창적 개념을 제공함을 이해해야 한다. 본 명세서에서 논의된 특정 실시예들은 단지 본 발명을 제조하고 사용하기 위한 특정 방법들을 예시할 뿐이며 본 발명의 범위를 제한하지 않는다.
본 발명의 이해를 돕기 위해, 다수의 용어들이 하기에 정의된다. 본 명세서에 정의된 용어들은 본 발명과 관련된 분야들에서 통상의 지식을 가진 기술자에 의해 일반적으로 이해되는 의미들을 가진다. 정관사 및 부정관사("a", "an" 및 "the")와 같은 용어들은 단일 개체만을 지칭하려는 것이 아니라 예시를 위해 구체적인 예가 사용될 수 있는 일반적인 클래스를 포함한다. 본 명세서의 용어는 본 발명의 특정 실시예들을 설명하기 위해 사용되지만, 그 사용은 청구범위들에서 설명된 것을 제외하고는 본 발명을 한정하지 않는다.
도 1은 코어리스 변압기 설계를 도시한다. 도 2는 APEX® 유리에 에칭된 맞물린 사각형 나선들을 도시한다. 도 3a는 APEX® 유리에서의/상의 유도 디바이스의 평면도이다. 도 3b는 APEX® 유리에서의/상의 유도 디바이스의 측면도이다. 도 4a는 독립형 구리 RF 안테나 브리지 구조의 이미지이다. 도 4b는 독립형 코일의 이미지이다. 도 5는, 둘러싸는 세라믹이 부분적으로 에칭되어 대부분 공기가 유도 디바이스를 둘러싸도록 허용하는 부분적으로 에칭된 인덕터의 이미지이다. 도 6은, 둘러싸는 세라믹이 완전히 에칭되어 공기만이 유도 디바이스를 둘러싸도록 허용하는 완전히 에칭된 인덕터의 등축 이미지(isometric image)이다. 도 7a 및 도 7b는, 둘러싸는 세라믹이 완전히 에칭되어 공기만이 유도 디바이스를 둘러싸도록 허용하는 완전히 에칭된 인덕터의 측면 이미지이다.
이러한 요구들을 해결하기 위해, 본 발명자들은 반도체들, RF 전자 장치들, 마이크로파 전자 장치들 및 광학 이미징을 위한 새로운 패키징 및 기판 재료로서 유리 세라믹 (APEX® 유리 세라믹)을 개발했다. APEX® 유리 세라믹은 간단한 3 단계 공정으로 1 세대 반도체 장비를 사용하여 가공되며, 최종 재료는 유리, 세라믹으로 만들어질 수 있거나 또는 유리와 세라믹 둘 다의 영역들을 포함할 수 있다. APEX® 유리 세라믹은: 쉽게 제조된 고밀도 비아들(vias), 입증된 미세 유체 성능(microfluidic capability), 마이크로-렌즈 또는 마이크로-렌즈 어레이, 더 엄격한 패키지들을 위한 높은 영률, 무할로겐 제조 및 경제적인 제조를 포함하여, 현재 재료들에 비해 몇 가지 이점들을 가진다. 광 에칭 가능한 유리는 다양한 마이크로 시스템 구성요소들의 제조에 대해 몇 가지 장점들을 가진다. 미세 구조들은 기존의 반도체 공정 장비를 사용하여 이들 유리들로 비교적 저렴하게 생산되었다. 일반적으로, 유리들은 높은 온도 안정성, 우수한 기계적 및 전기적 특성들을 가지고, 플라스틱들 및 많은 금속들보다 우수한 화학적 저항성을 가진다. 우리가 아는 한, 유일한 상업적으로 이용할 수 있는 광 에칭 가능한 유리는 Schott Corporation에 의해 제조되고 Invenios Inc.에 의해서만 미국에 수입되는 FOTURAN®이다. FOTURAN®은 리튬-알루미늄-규산염 유리를 포함하고 이것은 은 이온들 및 다른 미량 원소들, 구체적으로 75 내지 85 중량 %의 산화 실리콘(SiO2), 7 내지 11 중량 %의 산화 리튬(Li2O), 3 내지 6 중량 %의 산화 알루미늄(Al2O3), 1 내지 2 중량 %의 산화 나트륨(Na2O), 0.2 내지 0.5 중량 %의 삼산화 안티몬(Sb2O3) 또는 산화 비소(As2O3), 0.05 내지 0.15 중량 %의 산화 은(Ag2O) 및 0.01 내지 0.04 중량 %의 산화 세륨(CeO2)을 포함한다. 본 명세서에 이용된 바와 같이 용어들 "APEX® 유리 세라믹", "APEX® 유리" 또는 간단히 "APEX®"은 본 발명의 유리 세라믹 조성물의 일 실시예를 나타내기 위해 사용된다.
산화 세륨의 흡수 대역 내에서 UV-광에 노출될 때, 산화 세륨은 감광제들로서 작용하여 광자를 흡수하고 전자를 잃어서 이웃하는 산화 은을 감소시켜 은 원자들을 형성하며, 예를 들면,
Figure 112016118379202-pct00001
.
은 원자들은 베이킹 공정 동안에 은 나노 클러스터들로 합쳐지고 둘러싸는 유리의 결정화를 위한 핵 형성 사이트들(nucleation sites)을 유도한다. 마스크를 통해 UV-광에 노출되면, 유리의 노출된 영역들만이 후속 열처리 동안 결정화될 것이다.
이 열처리는 유리 전이 온도 근처의 온도(예를 들면, FOTURAN®에 대해 공기 중 465℃보다 큰)에서 수행되어야 한다. 결정질 상(crystalline phase)은 노출되지 않은 유리질의 비정질 영역들보다 플루오르화 수소산(HF)과 같은 에천트들에 더 잘 용해된다. 특히, FOTURAN®의 결정질 영역들은 10% HF에서 비정질 영역들보다 약 20배 빠르게 에칭되어, 노출된 영역들이 제거될 때 약 20:1의 벽 경사 비들(wall slopes ratios)을 갖는 미세 구조들을 가능하게 한다. 본 명세서에 참조로 포함된 Microelectronic Engineering 30, 497 (1996)의 Dietrich 등에 의한 "Fabrication technologies for microsystems utilizing photoetchable glass"를 확인하기 바란다. 바람직하게, 성형된 유리 구조체는 적어도 하나 이상의, 2 차원 또는 3 차원의 유도 디바이스를 포함한다. 유도 디바이스는 일련의 연결된 루프들을 만들어 독립형 인덕터를 형성함으로써 형성된다. 루프들은 직사각형, 원형, 타원형, 프랙탈(fractal), 또는 유도를 발생시키는 것을 생성하고 패턴화한 다른 형상들일 수 있다. APEX® 유리의 패턴화된 영역들은 도금 또는 기상 증착을 포함한 다수의 방법들에 의해 금속, 복합재, 합성물들, 유리 또는 다른 자기 매체들로 채워질 수 있다. 디바이스에서 구조체들(루프들, 턴들 또는 기타 유도 소자)의 수 및 차원들과 조합된 매체들의 자기 유전율은 디바이스들의 인덕턴스를 제공한다. 동작 주파수에 의존하여, 유도 디바이스 설계는 다른 자기 유전율 재료들이 필요하다. 저주파수들에서 100MHz보다 적은 디바이스들은 페라이트들(ferrites) 또는 다른 높은 상이한 자기 유전율 재료들을 사용할 수 있다. 100MHz보다 높은 주파수들에서 높은 상이한 자기 유전율 재료들이 큰 전기 손실들을 생성하는 맴돌이 전류들을 발생시킬 수 있다. 따라서 더 높은 주파수 동작들에서 구리 또는 기타 유사한 재료와 같은 재료가 유도 디바이스용으로 선택하는 매체들이 된다. 일단 유도 디바이스가 생성되었으면, 지지하는 APEX® 유리는 제자리에 남겨두거나, 독립형 구조를 생성하기 위해 제거될 수 있다. 본 발명은, 렌즈들에 사용되는 성형된 APEX® 유리 구조들에 의해 이미징 애플리케이션들에 사용하기 위한 광-정의가능/광 패턴 가능한 APEX® 유리를 갖는 광학 미세 구조들의 제조를 위한 단일 재료 접근법을 제공하며, 이는 스루-레이어(through-layer) 또는 인-레이어(in-layer) 설계들을 포함한다.
일반적으로, 유리 세라믹 재료들은 성능, 균일성, 타자에 의한 유용성 및 가용성 문제들로 인해 미세 구조 형성에 제한된 성공을 거두었다. 과거 유리-세라믹 재료들은 대략 15:1의 수율 에칭 애스펙트비를 가지고 대조적으로 APEX®β 유리는 50:1보다 큰 평균 에칭 애스펙트비를 가진다. 이것은 사용자들이 더 작고 더 깊은 특징부분들(smaller and deeper features)을 생성하도록 허용한다. 또한, 우리의 제조 공정은 90%보다 큰 제품 수율들을 가능하게 한다(기존의 유리 수율들은 50%에 더 가깝다). 마지막으로, 기존의 유리 세라믹들에서, 유리의 대략 30%만이 세라믹 상태로 변환되는 반면, APEX ™ 유리 세라믹의 경우 이 변환은 70%에 더 가깝다.
APEX® 조성물은 향상된 성능을 위한 세 가지 주요 메커니즘들을 제공한다: (1) 더 높은 은 함량은 입자 경계들에서 더 빨리 에칭되는 더 작은 세라믹 결정들의 형성을 유발하고, (2) 실리카 함유량(HF 산에 의해 에칭된 주성분)의 감소는 노출되지 않은 재료의 원하지 않는 에칭을 감소시키고, (3) 알칼리 금속들 및 산화 붕소의 더 높은 총 중량 퍼센트는 제조 동안 훨씬 더 균일한 유리를 생성한다.
본 발명은 전자기 전송, 변압기들 및 필터링 응용들에 사용되는 유도 구조체를 형성하는데 사용하기 위한 유리 세라믹 구조체를 제조하는 방법을 포함한다. 본 발명은 유리-세라믹 기판의 다수의 평면들에 생성된 유도 구조체를 포함하고, 이러한 공정은 (a) 기판 또는 에너지원의 방향(orientation)을 변경함으로써 다양한 각도들에서 노출이 발생하도록 여기 에너지에 대한 노출, b) 베이킹 단계 및 (c) 에칭 단계를 활용한다. 각도 크기들은 예각 또는 둔각일 수 있다. 곡선형 및 디지털 구조들은 대부분의 유리, 세라믹 또는 실리콘 기판들에서 불가능하지는 안더라도 생성하기가 어렵다. 본 발명은 유리-세라믹 기판들에 대해 수직뿐만 아니라 수평 평면 모두에서 그러한 구조들을 생성하는 능력을 창출하였다. 본 발명은 유리 세라믹 상에 또는 유리 세라믹 내에 유도 구조체를 제조하기 위한 방법을 포함한다.
유리의 세라믹화는 전체 유리 기판을 대략 20J/cm3의 310nm 광에 노출시킴으로써 달성된다. 세라믹 내에 유리 공간들을 생성하려고 할 때, 사용자들은 유리가 유리로 남아 있어야 할 곳을 제외하고 모든 재료를 노출시킨다. 일 실시예에서, 본 발명은 상이한 직경들을 갖는 다양한 동심원들을 포함하는 석영/크롬 마스크를 제공한다.
본 발명은 전기 마이크로파 및 무선 주파수 응용들의 유리 세라믹 구조체 내에 또는 그 상에 유도 디바이스를 제조하는 방법을 포함한다. 유리 세라믹 기판은, 60 내지 76 중량 %의 실리카; 6 중량 % 내지 16 중량 %의 K2O 및 Na2O의 조합을 이루는 적어도 3 중량 %의 K2O; Ag2O 및 Au2O로 이루어진 군으로부터 선택된 0.003 내지 1 중량 %의 적어도 하나의 산화물; 0.003 내지 2 중량 %의 Cu2O; 0.75 중량 % 내지 7 중량 %의 B2O3, 및 6 중량 % 내지 7 중량 %의 Al2O3; B2O3의 조합으로; 및 13 중량 %를 초과하지 않는 Al2O3; 8 내지 15 중량 % Li2O; 및 0.001 내지 0.1 중량 % CeO2를 포함하지만 이에 제한되지 않는 광범위한 조성 변동들을 갖는 감광성 유리 기판일 수 있다. 이러한 및 다른 변화된 조성물들은 일반적으로 APEX® 유리로 칭해진다.
노출된 부분은 유리 기판을 유리 전이 온도 근처의 온도로 가열함으로써 결정질 재료로 변환될 수 있다. 플루오르화 수소산과 같은 에천트로 유리 기판을 에칭할 때, 노출되지 않은 부분에 대한 노출된 부분의 이방성-에칭비는 적어도 30:1의 애스펙트비를 갖는 성형된 유리 구조를 제공하고 유도 구조를 생성하기 위해 유리가 넓은 스펙트럼의 중간-자외선(약 308 내지 312nm) 투광 램프에 노출될 때 적어도 30:1이다. 노광용 마스크는, 노광에 연속적인 그레이 스케일을 제공하여 유도 구조/디바이스를 생성하기 위한 곡선 구조를 형성하는 하프톤 마스크(halftone mask)일 수 있다. 디지털 마스크는 또한 플러드 노출(flood exposure)과 함께 사용될 수 있고 유도 구조/디바이스의 생성에 사용될 수 있다. 노출된 유리는 그 후에 통상적으로 두-단계 공정으로 베이킹된다. 420℃ 내지 520℃ 사이에서 10분 내지 2시간 동안 가열된 온도 범위는 은 이온들을 은 나노 입자들과 합치기 위한 것이고 520℃ 내지 620℃ 사이에서 10분 내지 2시간 동안 가열된 온도 범위는 산화 리튬이 은 나노 입자들 주위에 형성하도록 허용한다. 유리판이 그 후에 에칭된다. 유리 기판은 통상적으로 5 부피 % 내지 10 부피 %의 HF 용액의 에천트로 에칭되고, 노출되지 않은 부분에 대한 노출된 부분의 에칭비는 넓은 스펙트럼의 중간-자외선 투광 조명에 노출될 때 적어도 30:1이고, 적어도 30:1의 이방성-에칭비를 갖는 성형된 유리 구조를 제공하기 위해 레이저에 노출될 때 30:1보다 크다.
본 발명은 유도 디바이스를 둘러싸는 재료가 금속을 채우기 전에 세라믹으로 변환되는 방법 및 유도 디바이스를 포함한다. 본 발명은 에칭된 구조체들을 채우기 위해 사용되는 금속 재료가 구리 이외의 금속(즉, 니켈, 철 합금들)인 방법 및 유도 디바이스를 포함한다. 본 발명은 유도 디바이스의 표면이 유전체 재료로 코팅되는 방법 및 유도 디바이스를 포함한다. 본 발명은 유도 디바이스의 표면이 먼저 유전체 재료로 패터닝된 다음 패터닝된 금속으로 패터닝되는 방법 및 유도 디바이스를 포함한다.
세라믹 상에 의해 둘러싸인 실시예들에 대해: 본 발명은 세라믹이 한쪽 또는 양쪽으로부터 에칭되어 유리-세라믹 재료를 부분적으로 또는 완전히 제거하여 금속 구조들을 부분적으로 노출시키는 방법 및 유도 디바이스를 포함한다. 본 발명은 다수의 고유한 유도 구성요소들로 구성되는 유도 디바이스를 포함한다. 본 발명은 상이한 유도 구성요소들이 상이한 금속들로 선택적으로 도금되어 상이한 에칭 부분들이 되는 유도 디바이스를 포함한다.

Claims (18)

  1. 광-정의가능 유리(photo-definable glass)내에 또는 광-정의가능 유리 상에 생성된 유도 디바이스(inductive device)를 제조하는 방법에 있어서:
    적어도 실리카, 산화 리튬, 산화 알루미늄 및 산화 세륨을 포함하는 감광성 유리 기판을 갖추는 단계;
    상기 감광성 유리 기판 상에 하나 이상의 도전 채널들을 형성하기 위해 하나 이상의 구조체들을 포함하는 설계 레이아웃을 마스크하는 단계;
    상기 감광성 유리 기판의 적어도 일부를 활성화 에너지원에 노출시키는 단계;
    상기 감광성 유리 기판을 유리 전이 온도 위에서 적어도 10분의 가열 상태에 노출시키는 단계;
    상기 노출된 유리의 적어도 일부를 결정질 재료로 변환시켜 유리-결정질 기판을 형성하기 위해 상기 감광성 유리 기판을 냉각시키는 단계;
    상기 유도 디바이스에서 하나 이상의 각진 채널들(angled channels)을 형성하기 위해 상기 유리-결정질 기판을 에칭 용액으로 에칭하는 단계로서, 상기 하나 이상의 각진 채널들에 인접한 상기 유리-결정질 기판은 세라믹 상(ceramic phase)으로 변환되는, 상기 에칭 단계;
    상기 하나 이상의 각진 채널들을 하나 이상의 금속들로 코팅하는 단계;
    상기 유도 디바이스의 전부 또는 일부를 유전체 매체들로 코팅하는 단계; 및
    전기 접촉 또는 독립형 유도 디바이스를 제공하기 위해 상기 유전체 매체들의 전부 또는 일부를 제거하는 단계를 포함하고,
    상기 금속은 표면 또는 매립형 접촉을 통해 회로에 접속되는, 유도 디바이스 제조 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 유도 디바이스는 전류를 저장하고 전류 저장 디바이스로서 기능하는, 유도 디바이스 제조 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 금속들은 목적 주파수(desired frequency)에서 인덕터로서 동작하도록 설계되는, 유도 디바이스 제조 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 유도 디바이스는 100MHz보다 높은 주파수들에 대해 구리보다 크거나 같은 투자율을 가지는, 유도 디바이스 제조 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 세라믹 상은 상기 유리-결정질 기판의 상기 세라믹 상을 부분적으로 또는 완전히 제거하기 위해 한쪽 또는 양쪽으로부터 에칭될 수 있는, 유도 디바이스 제조 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 유리의 적어도 일부를 세라믹으로 변환시키고, 상기 유도 디바이스 내의 금속 구조체를 적어도 부분적으로 노출하거나 또는 상기 유도 디바이스 내의 금속 구조체를 완전히 노출시키기 위해 상기 세라믹을 에칭하는 단계를 더 포함하는, 유도 디바이스 제조 방법.
  7. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 의해 제조된 유도 디바이스.
  8. 유도 디바이스에 있어서,
    하나 이상의 유도 코일들을 둘러싸는 유리-세라믹 재료로서, 상기 하나 이상의 유도 코일들은 공기에 의해 적어도 부분적으로 둘러싸이는, 상기 유리-세라믹 재료를 포함하고,
    상기 하나 이상의 유도 코일들은 상기 유리-세라믹 재료에 하나 이상의 각진 채널을 포함하고 상기 하나 이상의 각진 채널들의 적어도 일부 위에 금속이 코팅되는, 유도 디바이스.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 유도 코일들은 또한 자기 투과성 재료(magnetically permeable material)에 의해 둘러싸이는, 유도 디바이스.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 유도 코일들은 상기 자기 투과성 재료와 접촉하지 않는, 유도 디바이스.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 유도 코일들은 상기 유리-세라믹 재료를 통해 자기 투과성 재료로 채워진 공동(cavity)을 포함하는, 유도 디바이스.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 유도 코일들은 서로 상호작용하는, 유도 디바이스.
  13. 제 9 항에 있어서,
    상기 하나 이상의 유도 코일들은 자기 투과성 재료를 공유하는, 유도 디바이스.
  14. 제 8 항에 있어서,
    상기 금속 코팅의 적어도 일부는 상기 유리-세라믹 재료에 삽입되어 있는, 유도 디바이스.
  15. 제 8 항에 있어서,
    하나 이상의 제 2 금속층을 더 포함하는, 유도 디바이스.
  16. 삭제
  17. 삭제
  18. 삭제
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