JP2011080836A - 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 57
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims abstract 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 10
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 description 9
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 4
- 238000003380 quartz crystal microbalance Methods 0.000 description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000008450 motivation Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
- G01R23/10—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
- G01N33/0031—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector comprising two or more sensors, e.g. a sensor array
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Abstract
【解決手段】供給されるパルス列状の被測定信号を所定の時間間隔で連続的に計数し、該信号の周波数に対応した計数値列を出力するカウンター部(10)と、前記計数値列をフィルタリング処理するローパスフィルター部(20)と、を備え、前記ローパスフィルター部は複数段の移動平均フィルター(21,22,23)によって構成され、各段の移動平均フィルターにおけるデータを取り込むサンプリング周波数が初段から最終段の移動平均フィルターにかけて低下するように構成されている。
【選択図】図4
Description
ことで周波数を知る方式(例えば、特許文献3参照)が知られている。
まず、短ゲートタイムカウント方式について説明する。図1は、発明者が、例えば、特願2008−099721、特願2009−123749によって提案している短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置(周波数カウンター)を示しており、同図(A)は短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置の基本構成を示している。
本発明では短ゲートタイムカウント方式の周波数測定装置におけるローパスフィルター部20の回路構成の簡略化と多段フィルターの動作周波数の段階的低減(少なくとも1段)によって高速動作と低消費電力の改善を図る。
図5は、比較例として図4の周波数測定装置を(非段階的低速動作の)通常の移動平均フィルタで構成した周波数測定装置を示すものであり、図4と対応する部分には同一符号を付している。この周波数測定装置も、短ゲートタイムカウントを152kHz(fs)で行い、(三段)ローパスフィルターのカットオフ周波数を約0.25Hzに設計している。
したがって、本発明の、短ゲートタイムカウントと動作周波数を段階的に低減した多段移動平均フィルタとを組み合わせた周波数測定装置(図4)は、使用されるレジスタ数が大幅に減少し、動作周波数も漸次低減されていることにより消費電力が減少することが理解される。
図6は、本願の第2の実施例を示しており、第1実施例と異なる点は、カウントフィルター部11を1ビット(2値)の信号処理回路で構成し、回路を簡略化している点である。同例では、例えば、短ゲートタイムカウントを4760Hz(fs)で行い、(三段)ローパスフィルターのカットオフ周波数を約0.77Hzに設計している。このため、カウントフィルター部11はサンプリング周波数4760Hz(=fs)で動作し、第二段移動平均フィルター22はサンプリング周波数149Hz(=fs/32)で動作するタップ数32の移動平均フィルターで構成され、第三段移動平均フィルター23はサンプリング周波数37Hz(=fs/128)で動作するタップ数16の移動平均フィルター23で構成されている。図6において図4と対応する部分には同一符号を付している。
図7は、比較例として図6の周波数測定装置を(非段階的低速動作の)通常の移動平均フィルタで構成した周波数測定装置の例を示すものであり、図6と対応する部分には同一符号を付している。この周波数測定装置も、第2実施例と同様に短ゲートタイムカウントを4760Hz(fs)で行い、(三段)ローパスフィルターのカットオフ周波数を約0.77Hzに設計している。
図8は、図6に示した第2実施例の周波数測定装置(ビットストリーム構成のカウンタフィルター+移動平均フィルターの段階的ダウンサンプリング)をFPGA(Field Programmable Gate Array)上に構成し、短ゲートカウンターを4760Hzで動作させて、78MHzの水晶振動子の振動数変化(被測定信号)を計測した例を示すグラフである。図9は、図7に示した比較例の周波数測定装置(ビットストリーム構成のカウンタフィルター+移動平均フィルターの非ダウンサンプリング)をFPGA上に構成し、同様に78MHzの水晶振動子の振動数を変化させて(被測定信号)を計測した例を示すグラフである。
次に、図10乃至図14を参照して、上述した、短ゲートタイムカウント法とダウンサンプリングを組み合わせた周波数測定装置の多段移動平均フィルターのタップ数、ダウンサンプリング周波数を適切に調整(チューニング)することで周波数測定装置のS/Nを改善する例について説明する。
本発明の周波数測定装置を各種共振周波数変化型センサーに用いると、小型化、軽量化、高分解能化、低コスト化が可能となる。また、各種センサーの集積化、プラットフォーム化に好適である。また、ニオイセンサー、ガスセンサー、バイオセンサー用トランスデューサーアレイ、QCMデバイス、圧力センサー、加速度センサー等に用いて好適である。
以上説明したように、本発明の第1実施例では短ゲートタイムカウント法においてローパスフィルターを多段移動平均フィルタで構成し、前段から後段にかけてダウンサンプリングを行うので、あるいは少なくとも途中の一段でダウンサンプリングを行うので、短ゲートカウンタと多段移動平均フィルターの構成に比べシフトレジスター数を削減することができる。
Claims (7)
- 供給されるパルス列状の被測定信号を所定の時間間隔で連続的に計数し、前記被測定信号の周波数に対応した計数値列を出力するカウンター部と、
前記計数値列をフィルタリング処理するローパスフィルター部と、を備え、
前記ローパスフィルター部は複数段の移動平均フィルターを含み、該複数段の移動平均フィルターのうち少なくとも1つの移動平均フィルターの出力がダウンサンプリングされる、周波数測定装置。 - 前記複数段の移動平均フィルターの各段の移動平均フィルターにおけるデータを取り込むサンプリングの周波数が初段から最終段の移動平均フィルターにかけて低下するように構成されている、請求項1に記載の周波数測定装置。
- 前後する2つの移動平均フィルタ間のダウンサンプリングにおいて、前段の移動平均フィルタにおけるデータ遅延段数及び後段移動平均フィルタにおけるサンプリングの周波数のうち少なくともいずれかを調整することによって前段から後段の移動平均フィルタに間欠的に伝送されるデータ列の一定区間における累積値が一定値となるようになされる、請求項1又は2に記載の周波数測定装置。
- 前記カウンター部と前記ローパスフィルター部の初段の移動平均フィルターとが、2値信号を処理する回路で構成される、請求項1乃至3のいずれかに記載の周波数測定装置。
- 前記所定の時間は、1秒以下である請求項1乃至4のいずれかに記載の周波数測定装置。
- 供給されるパルス列状の被測定信号を所定の時間間隔で連続的に計数し、該被測定信号の計数値列をローパスフィルターで処理して被測定信号の周波数に対応する出力信号を得る周波数測定方法であって、
複数段の移動平均フィルターを含むローパスフィルターの各段の移動平均フィルターにおけるデータを取り込むサンプリングの周波数が初段から最終段の移動平均フィルターにかけて低下するように設定し、
前後する2つの移動平均フィルター間のダウンサンプリングにおいて、前段の移動平均フィルターにおけるデータ遅延段数及び後段移動平均フィルターにおけるサンプリングの周波数のうち少なくともいずれかを調整することによって前段から後段の移動平均フィルターに間欠的に伝送されるデータ列の一定区間における累積値が一定値となるようになされる、周波数測定方法。 - 請求項1乃至5のいずれかに記載の周波数測定装置を備えた装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009232501A JP5815918B2 (ja) | 2009-10-06 | 2009-10-06 | 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009232501A JP5815918B2 (ja) | 2009-10-06 | 2009-10-06 | 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011080836A true JP2011080836A (ja) | 2011-04-21 |
JP5815918B2 JP5815918B2 (ja) | 2015-11-17 |
Family
ID=43823852
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009232501A Active JP5815918B2 (ja) | 2009-10-06 | 2009-10-06 | 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8718961B2 (ja) |
JP (1) | JP5815918B2 (ja) |
CN (1) | CN102033163B (ja) |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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