JP2011047796A - 電気回路、同電気回路を備えたセンサーシステム、及び同電気回路を備えたセンサーデバイス - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の一態様の電気回路は、第1の振動子110aに接続された第1の発振回路120aの発振信号である第1の発振信号121aに基づいて基準信号(ゲートクロック信号131)を生成する基準信号生成回路(ゲートクロック生成回路130)と、第2の振動子110bに接続された第2の発振回路120bの発振信号である第2の発振信号121b、及び基準信号(ゲートクロック信号131)に基づいて、第2の発振信号121bを計数し、第2の発振信号121bの計数値の変化量を計数信号として出力するカウンタ回路140bと、を備えることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
f0(MHz)=1670/水晶板厚(μm)
1.定義
2.実施形態1
(1)センサーシステムの構成
(2)センサーシステムの動作
(3)実施形態1の特徴
3.実施形態2
(1)センサーシステムの構成と動作
(2)実施形態2の特徴
4.実施形態3
(1)センサーシステムの構成と動作
(2)実施形態3の特徴
5.補足
まず、本明細書における用語を以下のとおり定義する。
「電子機器」:本明細書に記載のセンサーシステムを備えるあらゆる機器を含むもので、ニオイセンサー、アルコールセンサー、麻薬探知機等を含む。
本実施形態は、振動子を利用したセンサーシステムに関するが、同システムに用いられる電気回路に大きな特徴がある。以下、本実施形態について図1乃至図3を参照しながら具体的に説明する。
図1は、本実施形態に係るセンサーシステムの構成例を示す図である。図1に示すように、本実施形態のセンサーシステムは、水晶振動子110a〜110c、発振回路120a〜120c、ゲートクロック生成回路130、カウンタ回路140b及び140c、データ処理回路150、及びデータベース160を含んで構成される。また、複数の発振回路120a〜120cは、同一の基板170上に形成される。当該複数の発振回路120a〜120cにそれぞれ接続された複数の水晶振動子110a〜110cは、当該基板170上に設置される。ここで、図1に示すように、センサーシステムは、発振回路部101、電気回路102、及びコンピューター103に分けられる。発振回路部101は、水晶振動子110a〜110c及び発振回路120a〜120cを備える。電気回路102は、ゲートクロック生成回路130、並びにカウンタ回路140b及び140cを備える。コンピューター103は、データ処理回路150及び160を備える。ここで、発振回路部101と電気回路102と含む構成をセンサーデバイスと呼ぶことがある。また、センサーシステムは少なくとも電気回路102とコンピューター103を備えるシステムを指し、必ずしも発振回路部101を含まない場合もある。
水晶振動子110a〜110cは、表面と裏面とに電極対が形成され、この電極対を介して、それぞれ発振回路120a〜120cに接続されるよう構成されている。また、水晶振動子110a〜110cは同一基板上に設けられている。水晶振動子110a〜110cは、この電極対に電圧を印加することにより、表面と裏面とが互い違いにスライドして振動する、いわゆる厚みすべり振動モードで動作する。
発振回路120a〜120cは、同一の基板170上に形成され、それぞれ水晶振動子110a〜110cに接続されて構成される。また、発振回路120a〜120cは、それぞれ発振信号121a〜121cを出力する。なお、基板170は、例えばガラスエポキシ、プラスチック、またはセラミックなどからなる。
ゲートクロック生成回路130は、図1に示すように、発振回路120aからの出力信号である発振信号121aに基づいて、ゲートクロック信号131を生成する。ゲートクロック生成回路130で生成されたゲートクロック信号131は、データ処理回路150、カウンタ回路140b及び140cに入力される。ここで、ゲートクロック信号131は、発振信号121aを所定の分周比で分周することにより生成される信号であり、発振信号121aよりも低い周波数を有する信号である。なお、水晶振動子110a及び発振回路120aはゲートクロック信号131を生成するためのものであり、それぞれ基準振動子及び基準発振回路とも呼ばれる。また、ゲートクロック信号131は基準信号とも呼ばれ、ゲートクロック生成回路130は基準信号生成回路とも呼ばれる。
カウンタ回路140b及び140cは、発振回路120bから発振信号121bを、発振回路120cから発振信号121cを、ゲートクロック生成回路130からゲートクロック信号131をそれぞれ入力される。そして、カウンタ回路140bは、発振信号121b及びゲートクロック信号131に基づいて発振信号121bの変化数を計数し、計数信号141bとして出力する。カウンタ回路140cも同様に、発振回路121c及びゲートクロック信号131に基づいて発振信号121cの変化数を計数し、計数信号141cとして出力する。ここで、図3を参照しながら、カウンタ回路140b及び140cについてより具体的に説明する。
初段カウンタ回路310は、発振信号121の振幅変化を計数するよう構成される。より具体的には、初段カウンタ回路310は、発振回路120の出力信号である発振信号121の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジの少なくとも一方を検出することで計数値(カウント値)を連続的にカウントアップし続ける。これによって、発振信号121に発生したパルスの数を計数(カウント)する。(不要ではないかと思います→なお、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの双方を検出し計数した場合は、計数値の半分が発振信号121に発生したパルスの数となる。)そして、初段カウンタ回路310は、当該計数値をラッチ回路320に対して出力する。
ラッチ回路320は、ゲートクロック信号131に同期して、初段カウンタ回路310の計数値を取得するよう構成される。より具体的には、ラッチ回路320には、ゲートクロック信号131とは独立で非同期の計数値が初段カウンタ回路310から入力されており、ラッチ回路320は、ゲートクロック信号131の立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジで当該計数値をラッチする。このようにして、ラッチ回路320は、ゲートクロック信号131の1周期に、発振信号121の立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジによって特定されるパルスがいくつ入るかを計数する。ラッチ回路320は、ラッチした計数値をレジスタ330及び演算回路340に対して出力する。
レジスタ330は、ラッチ回路320から入力された計数値を一時的に保持し、ラッチ回路320が初段カウンタ回路310の計数値をラッチするゲートクロック信号131のエッジに同期して、保持している計数値を演算回路340に出力するよう構成される。このように構成することで、演算回路340には、ラッチ回路320が以前に取得した計数値と、新たに取得した計数値とが入力されることとなる。
演算回路340は、ラッチ回路320において新たに取得した計数値と、以前に取得した計数値との差分を演算し、計数信号141として出力するよう構成される。より具体的には、ラッチ回路320から入力された計数値から、レジスタ330から入力された計数値を差し引いた値を、計数信号141として出力する。すなわち、演算回路340から出力される計数値は、ゲートクロック信号131における、前回の立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジから、今回の立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジまでの期間に発生した発振信号121のパルスの数を示す。なお、本実施形態において、演算回路340から出力される計数信号141は多ビットで構成されるが、これに限るものではない。また、図においては1本の信号線で示した計数信号141以外の計数値も、多ビットで構成される場合がある。
図1に示されるデータ処理回路150は、カウンタ回路140b及び140cからそれぞれ出力される計数信号141b及び141cと、後述のデータベース160とに基づいて、水晶振動子110a〜110cの周辺媒体に含まれる物質を特定するよう構成される。また、データ処理回路150は、ゲートクロック信号131に同期して、計数信号141b及び141cを取得する。より具体的には、データ処理回路150は、例えば計数信号141b及び141cを、それぞれ水晶振動子110b及び110cの周波数の時間変化として計測する。データ処理回路150は、当該周波数の時間変化に基づいて、振動数の変化量、変化速度、及び時定数などを測定し、データベース160に照らし合わせてパターン認識処理を行う。これによって、データ処理回路150は水晶振動子110a〜110cの周辺媒体に含まれる物質を特定する。
データベース160は、データ処理回路150が媒体に含まれる物質の特定に必要な情報として、計数信号141b及び141cの変動と水晶振動子110a〜110cの周辺媒体に含まれる物質との関係を示す情報を格納している。ここで、計数信号141b及び141cの変動と媒体に含まれる物質との関係を示す情報とは、例えばそれぞれの計数信号141b及び141cの変動と、それぞれ対応する水晶振動子110b及び110cが吸着した物質の量を関係づけるための、周波数の変化量、変化速度、及び時定数などの情報などである。
次に、図1乃至図3を参照しながら、センサーシステムの具体的動作について説明する。
本実施形態においては、センサーシステムにおけるゲートクロック信号131、並びにカウンタ回路140b及び140cを備える構成の電気回路102が特に特徴的である。
次に、センサーシステムの第2の実施形態について具体的に説明する。本実施形態は、実施形態1におけるカウンタ回路140の構成を別の構成にしたものであり、その他の構成については基本的に同様である。ただし、実施形態1では直接カウント法を採用していたが、本実施形態では短ゲートカウント法と呼ばれる方式を採用しているため、ゲートクロック生成回路130の動作などが異なる。以下では実施形態1との相違点を中心に説明し、実施形態1と同様の構成及び動作についてはその説明を省略する。
図4は、本実施形態におけるカウンタ回路140の構成を示す図である。図4に示すように、カウンタ回路140は、初段カウンタ回路310、ラッチ回路320、レジスタ330、演算回路340、及びローパスフィルタ350を含んで構成される。実施形態1のカウンタ回路140を示す図3と比較すると、図4に示す本実施形態のカウンタ回路140は、ローパスフィルタ350が追加されていることが分かる。
ローパスフィルタ350は、演算回路340から出力された計数信号の高周波成分を除去し、高周波成分を除去された計数信号141として、カウンタ回路140から出力する。このローパスフィルタ350には、アナログフィルタ及びデジタルフィルタのいずれか一方、またはその組み合わせを用いることが出来る。デジタルフィルタを用いる場合は、有限インパルス応答(FIR)フィルタ、無限インパルス応答(IIR)フィルタ、または移動平均フィルタなどを用いることが出来る。特に、移動平均フィルタは構成が簡単である上、直列に複数接続することで容易に性能向上が可能であるため好ましい。例えばカットオフ周波数10Hzの、2段のデジタル移動平均フィルタを用いることは、容易な構造で十分な性能が得られるためより好ましい。
本実施形態におけるゲートクロック生成回路130は、実施形態1よりも高い周波数を有するゲートクロック信号131を生成する。例えば、発振信号121b及び121cの有する周波数をアナログ信号とみなしたときに、A/D変換におけるサンプリング周波数の100倍以上、好ましくは1000倍以上の周波数を有する信号をゲートクロック信号131として用いる。言い換えれば、ゲートクロック信号131は、発振信号121b及び121cの周波数変動の時間変化成分が有する周波数の100倍以上の周波数を有することが好ましい。例えば、発振信号121bの時間変化成分が1Hz程度であった場合、本実施形態におけるゲートクロック信号131は100Hz以上の周波数を有することが好ましい。
上記本実施形態の構成の電気回路によれば、計数信号141に含まれる低周波成分を、ローパスフィルタ350によって効果的に抽出することが可能となり、発振信号121に含まれる周波数変化情報を効果的に取得することが可能となる。
次に、センサーシステムの第3の実施形態について具体的に説明する。本実施形態は、実施形態1にパラレルシリアル変換回路180を追加したものであり、その他の構成については基本的に同様である。以下においては、実施形態1との相違点を中心に説明し、実施形態1と同様の構成及び動作についてはその説明を省略する。
図5は、本実施形態におけるセンサーシステムの構成を示す図である。図5に示すように、本実施形態のセンサーシステムは、水晶振動子110a〜110c、発振回路120a〜120c、ゲートクロック生成回路130、カウンタ回路140b及び140c、データ処理回路150、データベース160、及びパラレルシリアル変換回路180を含んで構成される。
パラレルシリアル変換回路180は、カウンタ回路140b及び140cからそれぞれ出力されるパラレル信号である計数信号141b及び141cを、順次シリアル信号181へと変換して出力するよう構成される。例えば、パラレルシリアル変換回路180は、パラレル入力シリアル出力のシフトレジスタなどを用いることで構成される。また、パラレルシリアル変換回路180には、ゲートクロック生成回路130からシリアル化クロック132を入力され、当該シリアル化クロック132によってパラレル信号からシリアル信号181への変換が行われる。
ゲートクロック生成回路130は、発振信号121aに基づいて、ゲートクロック信号131よりも周波数が高いシリアル化クロック132を生成し、パラレルシリアル変換回路180及びデータ処理回路150に対して出力する。
データ処理回路150は、まず、パラレルシリアル変換回路180から入力されたシリアル信号181をシリアル化クロック132に基づいてパラレル信号へと復調する。復調されたパラレル信号は、計数信号141b及び141cと同じ信号であるため、データ処理回路150は実施形態1と同様の方法で、対象媒体に含まれる物質を特定することが可能となる。
上記本実施形態の構成のセンサーシステムによれば、カウンタ回路140b及び140cとデータ処理回路150との間の配線数を大幅に減少させることが可能となり、簡易な構成のセンサーシステムを構成することなどが可能となる。
上記実施形態では水晶振動子110a〜110cを用いる例を挙げて説明したが、水晶振動子に代えて、表面弾性波振動子、バルク弾性波振動子、またはセラミック振動子などの振動子を用いてもよい。ただし、センサーシステムで用いられるすべての振動子において、温度特性が似通っていることが好ましく、同一の温度特性を有することがより好ましい。
Claims (12)
- 第1の振動子を振動させる第1の発振回路の発振信号である第1の発振信号に基づいて基準信号を生成する基準信号生成回路と、
第2の振動子を振動させる第2の発振回路の発振信号である第2の発振信号、及び前記基準信号に基づいて、前記第2の発振信号を計数し、前記第2の発振信号の計数値の変化量を計数信号として出力するカウンタ回路と、
を備えることを特徴とする電気回路。 - 前記基準信号生成回路は、前記第1の発振信号よりも低い周波数を有する基準信号を生成する
ことを特徴とする請求項1に記載の電気回路。 - 前記カウンタ回路は、
前記第2の発振信号の振幅変化を計数する初段カウンタ回路と、
前記基準信号に同期して前記初段カウンタ回路の計数値を取得するラッチ回路と、
前記ラッチ回路において、新たに取得した前記計数値と、以前に取得した前記計数値との差分を演算し計数信号として出力する演算回路と、を備える
ことを特徴とする請求項1または2に記載の電気回路。 - 前記初段カウンタ回路が、カウントアップの際に前記計数値の1ビットのみが変化するよう構成されている
ことを特徴とする請求項3に記載の電気回路。 - 前記カウンタ回路が、
前記演算回路から出力された前記計数信号における高周波成分を除去するローパスフィルタ回路をさらに備える
ことを特徴とする請求項3または4に記載の電気回路。 - 前記基準信号は、前記第2の発振信号の周波数の時間変化成分が有する周波数の100倍以上の周波数を有する
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の電気回路。 - 前記基準信号は、100Hz以上の周波数を有する
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の電気回路。 - 前記カウンタ回路は、前記基準信号の周期の、所定の倍数の周期で前記計数信号を出力する
ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の電気回路。 - 請求項1乃至8のいずれか1項に記載の電気回路と、
前記第2の発振信号の周波数の変化と前記媒体に含まれる物質との関係を示すデータベースと、
前記電気回路から出力される前記計数信号及び前記データベースに基づいて、前記媒体に含まれる物質を特定するデータ処理回路と、を備える
ことを特徴とするセンサーシステム。 - 前記カウンタ回路から出力される前記計数信号がパラレル信号であって、前記計数信号をシリアル信号へと変換し出力するパラレルシリアル変換回路をさらに備える
ことを特徴とする請求項9に記載のセンサーシステム。 - 前記第1の振動子を含む前記第1の発振回路と、
前記第2の振動子を含む前記第2の発振回路と、をさらに備え、
前記第1の振動子と前記第2の振動子とが同一基板に設けられている
ことを特徴とする請求項9または10に記載のセンサーシステム。 - 請求項1乃至8のいずれか1項に記載の電気回路と、
前記第1の振動子を含む前記第1の発振回路と、
前記第2の振動子を含む前記第2の発振回路と、を備え、
前記第1の振動子と前記第2の振動子とが同一基板に設けられている
ことを特徴とするセンサーデバイス。
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JP2009196512A Active JP5582447B2 (ja) | 2009-08-27 | 2009-08-27 | 電気回路、同電気回路を備えたセンサーシステム、及び同電気回路を備えたセンサーデバイス |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8643440B2 (ja) |
JP (1) | JP5582447B2 (ja) |
CN (1) | CN102004063B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013214554A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-17 | Seiko Epson Corp | 発振装置および電子装置 |
JP2018146320A (ja) * | 2017-03-03 | 2018-09-20 | セイコーエプソン株式会社 | デシメーションフィルター、測定装置および物理量センサー |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009250807A (ja) * | 2008-04-07 | 2009-10-29 | Seiko Epson Corp | 周波数測定装置及び測定方法 |
JP4737726B2 (ja) * | 2009-05-01 | 2011-08-03 | セイコーエプソン株式会社 | 振動子、振動子アレイ、及び電子機器 |
JP2010271091A (ja) * | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Seiko Epson Corp | 周波数測定装置 |
JP5440999B2 (ja) * | 2009-05-22 | 2014-03-12 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置 |
JP5517033B2 (ja) * | 2009-05-22 | 2014-06-11 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置 |
JP5815918B2 (ja) * | 2009-10-06 | 2015-11-17 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置 |
JP5876975B2 (ja) * | 2009-10-08 | 2016-03-02 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置及び周波数測定装置における変速分周信号の生成方法 |
EP2548306B1 (en) * | 2010-03-19 | 2016-03-16 | RHK Technology Inc. | Frequency measuring and control apparatus with integrated parallel synchronized oscillators |
JP5883558B2 (ja) * | 2010-08-31 | 2016-03-15 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置及び電子機器 |
CN102590008A (zh) * | 2012-03-08 | 2012-07-18 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种石英晶体微天平痕量氨气检测装置 |
US9030188B2 (en) * | 2012-03-14 | 2015-05-12 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Wide range, high resolution frequency monitor |
CN102890037A (zh) * | 2012-10-16 | 2013-01-23 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种石英晶体微天平乙基对氧磷流动检测装置 |
US8975969B1 (en) * | 2013-01-22 | 2015-03-10 | Rockwell Collins, Inc. | Control system with both fast sample time and long gate time |
CN104688241A (zh) * | 2015-03-19 | 2015-06-10 | 苏州康磁医疗科技有限公司 | 用于石英晶体微天平血糖监测系统的监测电路 |
KR20180055294A (ko) * | 2016-11-16 | 2018-05-25 | 삼성전자주식회사 | Fbar 발진기 및 이를 이용하는 가스 감지 시스템 |
CN107831365A (zh) * | 2017-07-03 | 2018-03-23 | 中国农业大学 | 一种基于移动平均滤波器对电网相角检测的开环同步方法 |
CN107290240B (zh) * | 2017-07-27 | 2019-12-10 | 江苏集萃有机光电技术研究所有限公司 | 石英晶体微天平及检测方法 |
JP2022128670A (ja) * | 2021-02-24 | 2022-09-05 | セイコーエプソン株式会社 | 発振器および通信方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06241972A (ja) * | 1993-02-17 | 1994-09-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 化学センシング装置 |
JPH07260526A (ja) * | 1994-03-26 | 1995-10-13 | Kinseki Ltd | センサ用圧電振動子 |
JPH09304259A (ja) * | 1996-05-09 | 1997-11-28 | Yuasa Corp | 水晶式濃度センサー |
Family Cites Families (252)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2627033A (en) * | 1949-12-01 | 1953-01-27 | Garold K Jensen | Frequency meter |
US2840812A (en) * | 1954-08-03 | 1958-06-24 | Giacomo Anthony J Di | Frequency measurement device |
US2944219A (en) | 1956-06-20 | 1960-07-05 | Koden Electronics Co Ltd | Variable frequency dividing system |
US3026473A (en) * | 1959-10-09 | 1962-03-20 | Metrolog Corp | Frequency response analyzer |
US3056085A (en) | 1959-11-30 | 1962-09-25 | Bell Telephone Labor Inc | Communication system employing pulse code modulation |
US3144623A (en) | 1960-02-12 | 1964-08-11 | Itt | Frequency generator system |
CH387752A (de) * | 1960-07-21 | 1965-02-15 | Ibm | Verfahren und Einrichtung zur Regelung einer durch elektrische Schwingungen veränderliche Frequenz dargestellten Grösse eines Vorganges |
US3310660A (en) | 1963-04-23 | 1967-03-21 | Sperry Rand Corp | Asynchronous counting devices |
US3486007A (en) | 1964-09-29 | 1969-12-23 | Massachusetts Inst Technology | Rate counter |
US3407290A (en) | 1965-09-03 | 1968-10-22 | Ibm | Serial digital multiplier |
US3372346A (en) * | 1966-09-09 | 1968-03-05 | Gen Dynamics Corp | Frequency synthesizer system for generating signals having frequencies over a wide band of frequencies all of which are phase coherent with frequency standard signals |
US3440617A (en) * | 1967-03-31 | 1969-04-22 | Andromeda Inc | Signal responsive systems |
US3609308A (en) | 1968-04-23 | 1971-09-28 | Chesapeake Instr Corp | Digital measuring systems |
US3551826A (en) | 1968-05-16 | 1970-12-29 | Raytheon Co | Frequency multiplier and frequency waveform generator |
JPS5020421B1 (ja) | 1968-06-03 | 1975-07-15 | ||
US3553579A (en) * | 1968-06-20 | 1971-01-05 | Sylvania Electric Prod | Apparatus for measuring the difference in phase between two signals of the same frequency, one having noise associated therewith |
US3624494A (en) | 1968-12-30 | 1971-11-30 | Orhan Turan | Apparatus for monitoring the response of a resonant circuit |
US3557796A (en) * | 1969-03-10 | 1971-01-26 | Cordis Corp | Digital counter driven pacer |
US3605017A (en) | 1969-06-06 | 1971-09-14 | Eg & G Inc | Single sideband data transmission system |
US3818477A (en) * | 1969-12-31 | 1974-06-18 | American Standard Inc | Pulse-operated receiver |
US3652838A (en) * | 1970-03-02 | 1972-03-28 | Edac Co | Demand automated computer |
US3708686A (en) * | 1970-04-30 | 1973-01-02 | Lorain Prod Corp | Frequency comparator |
US3795771A (en) | 1970-05-15 | 1974-03-05 | Hughes Aircraft Co | Passenger entertainment/passenger service and self-test system |
US3942123A (en) * | 1970-06-15 | 1976-03-02 | Ivac Corporation | Electronic measurement system |
JPS5140818B1 (ja) | 1970-11-04 | 1976-11-06 | ||
US3686565A (en) | 1970-12-01 | 1972-08-22 | Us Army | Frequency detector |
US3704414A (en) | 1971-01-18 | 1972-11-28 | Bogue Elec Mfg Co | Frequency meter |
US3736510A (en) * | 1971-03-25 | 1973-05-29 | Time And Frequency Tech Inc | Frequency and modulation monitor |
CH531179A (de) * | 1971-05-10 | 1972-11-30 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren und Einrichtung zur Messung der Frequenz von einem einen bestimmten, einstellbaren Pegel überschreitenden elektrischen Signal |
US3750014A (en) | 1971-07-23 | 1973-07-31 | Gaw Co Inc | Frequency measuring apparatus |
US3697870A (en) | 1971-09-24 | 1972-10-10 | Burroughs Corp | Digitally nulled magnetic detection system |
US3742353A (en) * | 1971-09-27 | 1973-06-26 | Parisi Ass Inc | Frequency measuring apparatus including phase locked loop |
CH537119A (de) | 1971-10-07 | 1973-05-15 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren und Einrichtung zur Frequenzdarstellung |
US3733471A (en) | 1971-12-07 | 1973-05-15 | Ncr Co | Recirculating counter |
US3766818A (en) | 1972-05-01 | 1973-10-23 | L Prohofsky | Electronic frequency measuring apparatus |
US3761740A (en) | 1972-06-23 | 1973-09-25 | Wavetek | Frequency detector |
US3780346A (en) | 1972-07-03 | 1973-12-18 | United Aircraft Corp | Digital anti-spin and anti-slide system for moving vehicles |
US3775681A (en) | 1972-07-14 | 1973-11-27 | L Konrad | Frequency measuring means |
US3755734A (en) | 1972-07-24 | 1973-08-28 | Abex Corp | Frequency deviation monitor and measuring device |
US3812427A (en) | 1972-08-17 | 1974-05-21 | Tull Aviation Corp | Method and apparatus for monitoring frequency |
US3777121A (en) | 1972-11-06 | 1973-12-04 | Rothmans Of Pall Mall | Electronic counter |
US4053839A (en) | 1973-05-29 | 1977-10-11 | Knoedl Jr George | Method and apparatus for the frequency multiplication of composite waves |
JPS5057568A (ja) * | 1973-09-21 | 1975-05-20 | ||
US3838338A (en) | 1973-10-09 | 1974-09-24 | Flann Microwave Instr Ltd | Frequency measurements |
SE379862B (ja) | 1974-02-07 | 1975-10-20 | Asea Ab | |
CA1033015A (en) | 1976-04-09 | 1978-06-13 | Roger C. Palmer | Microwave frequency counter |
US4041387A (en) | 1975-09-18 | 1977-08-09 | Hewlett-Packard Company | Apparatus and method for measuring the frequency of a sweeping signal |
JPS52112311A (en) * | 1976-03-18 | 1977-09-20 | Sony Corp | Demodulating circuit |
US4051434A (en) | 1976-05-28 | 1977-09-27 | General Motors Corporation | Digital frequency measuring circuitry |
US4144490A (en) * | 1976-10-21 | 1979-03-13 | Music Specialities Corp. | Electronic sensing and measuring apparatus for signals in audio frequency range |
US4130799A (en) | 1977-07-05 | 1978-12-19 | Cherry Harvey A | Method and apparatus for continuous frequency measurement |
US4137497A (en) * | 1977-10-31 | 1979-01-30 | Raythoon Company | Frequency measuring apparatus |
US4139819A (en) * | 1977-12-01 | 1979-02-13 | Worley Eugene R | Multifunction frequency counter |
US4150432A (en) * | 1977-12-19 | 1979-04-17 | Hewlett-Packard Company | Frequency counter and method |
US4169213A (en) | 1978-06-01 | 1979-09-25 | Santa Barbara Research Center | Apparatus and method for ordering independent signals |
JPS5580061A (en) * | 1978-12-12 | 1980-06-16 | Advantest Corp | Frequency measuring apparatus |
JPS5596773A (en) * | 1979-01-19 | 1980-07-23 | Hitachi Ltd | Discrimination unit |
US4339722A (en) | 1979-05-23 | 1982-07-13 | Micro Consultants Limited | Digital frequency multiplier |
JPS5698660A (en) * | 1980-01-09 | 1981-08-08 | Advantest Corp | Frequency measuring device |
US4345206A (en) | 1980-06-10 | 1982-08-17 | Motorola Inc. | Frequency and frequency error counting in test apparatus |
CA1144986A (en) | 1980-08-20 | 1983-04-19 | Canadian General Electric Company Limited | Frequency determining apparatus |
US4389642A (en) | 1981-07-01 | 1983-06-21 | Kahn William M | Digital matrix switching |
US4514592A (en) * | 1981-07-27 | 1985-04-30 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corporation | Cryptosystem |
CA1188735A (en) * | 1982-01-18 | 1985-06-11 | Andrzej Barszczewski | Fast frequency measuring system |
CA1133058A (en) | 1982-02-18 | 1982-10-05 | Geonics Limited | Electromagnetic geophysical surveying system |
US4583211A (en) * | 1982-06-15 | 1986-04-15 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Frequency detecting circuit for digital information reproducing system |
GB2134269B (en) * | 1983-01-22 | 1986-07-02 | Marconi Instruments Ltd | Frequency counting |
FR2559586B1 (fr) * | 1984-02-14 | 1986-10-17 | France Etat | Procede et dispositif de mesure de frequence a comptage du nombre de passages a zero |
US4616173A (en) | 1984-03-21 | 1986-10-07 | Sencore, Inc. | Frequency counter |
US4546490A (en) | 1984-03-22 | 1985-10-08 | Northern Telecom Limited | Single frequency detection circuit |
US4603292A (en) | 1984-04-03 | 1986-07-29 | Honeywell Information Systems Inc. | Frequency and time measurement circuit |
US4609990A (en) | 1984-08-06 | 1986-09-02 | General Electric Company | Frequency measurement system |
US4672556A (en) * | 1984-09-17 | 1987-06-09 | Sundstrand Corporation | Frequency detector system |
US4588979A (en) * | 1984-10-05 | 1986-05-13 | Dbx, Inc. | Analog-to-digital converter |
JPH0630444B2 (ja) * | 1985-05-02 | 1994-04-20 | 株式会社日立製作所 | A/d変換器試験方式 |
US4695791A (en) | 1985-06-04 | 1987-09-22 | Hewlett-Packard Company | Auto ranging of a frequency measuring instrument |
US4667689A (en) * | 1985-06-07 | 1987-05-26 | Nishihara Shokai Co., Ltd. | Display device of cumulative amount of money for coins |
CA1290813C (en) | 1985-08-12 | 1991-10-15 | Michael B. Sweeney | Pacemaker for detecting and terminating a tachycardia |
US4707653A (en) | 1985-10-17 | 1987-11-17 | Ampex Corporation | Frequency measurement circuit |
US4760536A (en) | 1985-12-06 | 1988-07-26 | Curtis Jerald C | Autoranging frequency sensor |
US4695792A (en) | 1985-12-16 | 1987-09-22 | Ecole Polytechnique | Method and system for measuring the amplitude and phase angle of harmonics in a periodic signal |
US4769836A (en) | 1986-04-07 | 1988-09-06 | Casio Computer Co., Ltd. | Dialing tone generator employing low frequency oscillator |
US4864588A (en) | 1987-02-11 | 1989-09-05 | Hillier Technologies Limited Partnership | Remote control system, components and methods |
US4716363A (en) | 1987-05-08 | 1987-12-29 | Hewlett-Packard Company | Exponential decay time constant measurement using frequency of offset phase-locked loop: system and method |
FR2620827B1 (fr) | 1987-09-21 | 1990-01-26 | Crouzet Sa | Procede de mesure de la frequence d'un signal periodique et frequence metre pour la mise en oeuvre du procede |
JPH01126023A (ja) | 1987-11-11 | 1989-05-18 | Hitachi Ltd | 送受同時通信無線機 |
GB2217536B (en) * | 1988-04-21 | 1992-05-13 | Marconi Instruments Ltd | Frequency counter |
JPH0220802U (ja) * | 1988-07-26 | 1990-02-13 | ||
JPH0354416A (ja) | 1989-07-21 | 1991-03-08 | Okuma Mach Works Ltd | 位置検出装置 |
US4942365A (en) | 1989-07-24 | 1990-07-17 | Teltest Electronics Laboratories, Inc. | Synchronous phase and/or frequency detection system |
EP0434355A3 (en) * | 1989-12-18 | 1993-02-24 | Nec Corporation | Differential phase demodulator for psk-modulated signals |
KR910014609A (ko) | 1990-01-23 | 1991-08-31 | 야마무라 가쯔미 | 마이크로 펌프 관리 제어 방법 및 장치 |
US5095279A (en) * | 1990-04-26 | 1992-03-10 | Macrovision Corporation | Variable frequency sine wave carrier signal generator |
US5095264A (en) | 1990-09-12 | 1992-03-10 | Sundstrand Data Control, Inc. | Frequency counter and method of counting frequency of a signal to minimize effects of duty cycle modulation |
US5128607A (en) * | 1990-11-09 | 1992-07-07 | Hewlett-Packard Company | Constant events frequency measurement and fast inverse circuit |
JPH04219786A (ja) * | 1990-12-20 | 1992-08-10 | Sony Corp | 周波数判別回路 |
JPH0530772A (ja) * | 1991-07-23 | 1993-02-05 | Sharp Corp | サーボ制御装置 |
US5168215A (en) | 1991-11-15 | 1992-12-01 | Lockheed Sanders, Inc. | Instantaneous frequency measurement apparatus and method |
US5262714A (en) | 1992-02-05 | 1993-11-16 | Vladimir Friedman | Sinewave frequency measuring apparatus |
DE4211946C1 (ja) | 1992-04-06 | 1993-09-23 | Siemens Ag, 80333 Muenchen, De | |
US5313154A (en) * | 1992-10-28 | 1994-05-17 | Honeywell Inc. | Apparatus for detecting a frequency deviation between two frequency sources |
US5304938A (en) * | 1992-11-18 | 1994-04-19 | Gec Plessey Semiconductors, Inc. | Method and apparatus for providing a lower frequency signal with reference to a higher frequency signal |
US5317215A (en) * | 1992-12-01 | 1994-05-31 | 3Com Corporation | Method and apparatus for frequency discriminating computer network signals |
US5302916A (en) * | 1992-12-21 | 1994-04-12 | At&T Bell Laboratories | Wide range digital frequency detector |
US5463627A (en) | 1993-02-23 | 1995-10-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Frame synchronizing apparatus for quadrature modulation data communication radio receiver |
US5365181A (en) | 1993-03-15 | 1994-11-15 | Texas Instruments Incorporated | Frequency doubler having adaptive biasing |
US5448606A (en) | 1993-06-30 | 1995-09-05 | The United States Of America As Represented By The Secratary Of The Navy | Gray code counter |
US5381085A (en) * | 1993-07-06 | 1995-01-10 | Motorola, Inc. | Phase lock loop with self test circuitry and method for using the same |
JPH0738423A (ja) * | 1993-07-23 | 1995-02-07 | Mitsubishi Electric Corp | 分周回路 |
US5442278A (en) * | 1993-09-24 | 1995-08-15 | Acer Peripherals, Inc. | Apparatus for detecting the frequency of an input signal by counting pulses during an input signal cycle |
JP3514529B2 (ja) | 1994-06-06 | 2004-03-31 | 沖電気工業株式会社 | 多値fsk検波回路 |
US5710710A (en) * | 1994-09-21 | 1998-01-20 | Optoelectronics, Inc. | Frequency counter with reduced false correlations |
KR0137529B1 (ko) * | 1995-03-20 | 1998-07-01 | 김주용 | 4상 위상 변조기 |
JP3434095B2 (ja) * | 1995-09-08 | 2003-08-04 | 株式会社アドバンテスト | 周波数測定装置 |
US5650954A (en) | 1996-01-30 | 1997-07-22 | Seagate Technology, Inc. | Frequency and time domain adaptive filtration in a sampled communication channel |
US6359938B1 (en) * | 1996-10-31 | 2002-03-19 | Discovision Associates | Single chip VLSI implementation of a digital receiver employing orthogonal frequency division multiplexing |
US5941974A (en) * | 1996-11-29 | 1999-08-24 | Motorola, Inc. | Serial interface with register selection which uses clock counting, chip select pulsing, and no address bits |
KR100232017B1 (ko) | 1997-06-03 | 1999-12-01 | 김영환 | 업/다운 전환 카운터 |
GB2328027B (en) * | 1997-06-10 | 1999-12-08 | Bcf Designs Ltd | Method and apparatus for estimating the component values of low-pass frequency-dependent electrical circuits |
JP3039464B2 (ja) | 1997-07-31 | 2000-05-08 | 日本電気株式会社 | クロック発生回路 |
WO1999008393A1 (en) * | 1997-08-08 | 1999-02-18 | Sony International (Europe) Gmbh | Calibration of n-port receiver |
JPH11163696A (ja) | 1997-11-26 | 1999-06-18 | Fujitsu Ltd | 周波数比較器及びこれを用いたクロック再生回路 |
FR2773933B1 (fr) | 1998-01-21 | 2000-03-03 | Sgs Thomson Microelectronics | Dispositif de demodulation d'un signal binaire module en phase par impulsions codees |
US6181829B1 (en) * | 1998-01-21 | 2001-01-30 | Xerox Corporation | Method and system for classifying and processing of pixels of image data |
US6127950A (en) * | 1998-02-16 | 2000-10-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Transmission circuit and reception circuit |
US6282803B1 (en) | 1998-04-24 | 2001-09-04 | Laser Technology, Inc. | Self calibration circuit for determining an accurate zero compensation for a fluxgate compass |
JP2000011305A (ja) | 1998-06-18 | 2000-01-14 | Fujitsu Ltd | 磁気記憶装置のサーマルアスピリティ検出方法及びその回路 |
US6360090B1 (en) * | 1998-08-26 | 2002-03-19 | Integration Associates, Inc. | Method and apparatus for receiving infrared signals with improved noise immunity |
DE19844126C1 (de) | 1998-09-25 | 2000-06-08 | Siemens Ag | Frequenzdetektionsverfahren zur Taktsignalfrequenz-Nachstellung und Frequenzdetektorschaltung zur Durchführung des Verfahrens |
JP3034851B1 (ja) | 1998-10-15 | 2000-04-17 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Rfコイル並びに磁気共鳴撮像方法および装置 |
EP1006437A1 (en) | 1998-11-30 | 2000-06-07 | TELEFONAKTIEBOLAGET L M ERICSSON (publ) | Digital value processor for estimating the square of a digital value |
US6172579B1 (en) * | 1999-02-02 | 2001-01-09 | Cleveland Medical Devices Inc. | Three point modulated phase locked loop frequency synthesis system and method |
EP1037058B1 (de) * | 1999-03-18 | 2005-02-02 | Nanosurf AG | Elektronische Frequenzmesseinrichtung und ihre Verwendung |
JP3447617B2 (ja) * | 1999-06-04 | 2003-09-16 | エヌイーシーマイクロシステム株式会社 | ディジタル可変周波数オシレータ |
JP3691310B2 (ja) * | 1999-10-21 | 2005-09-07 | 富士通株式会社 | 周波数測定回路 |
JP2001127632A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 周波数シンセサイザ及び発振周波数制御方法 |
JP2001195899A (ja) * | 2000-01-06 | 2001-07-19 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US6675326B1 (en) * | 2000-07-11 | 2004-01-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for detecting a data receiving error |
US6476673B2 (en) | 2000-07-12 | 2002-11-05 | Monolithic Power Systems, Inc. | Class D audio amplifier |
US6963521B2 (en) | 2001-03-30 | 2005-11-08 | Sony Corporation | Disc drive apparatus |
TWI248721B (en) | 2001-04-27 | 2006-02-01 | Mediatek Inc | Phase-locked loop with dual-mode phase/frequency detection |
US7046964B1 (en) * | 2001-05-21 | 2006-05-16 | Counter Technologies, Llc | Method and apparatus for determining the frequency of a radio signal during periods of stability and monitoring communications with a radio receiver |
DE10126298A1 (de) | 2001-05-30 | 2002-12-12 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Phasenverschiebung zwischen einem periodischen Signal und einem Ausgangssignal an einem Ausgang eines elektronischen Bauelements |
US6856206B1 (en) | 2001-06-25 | 2005-02-15 | Silicon Laboratories, Inc. | Method and apparatus for acquiring a frequency without a reference clock |
US6549479B2 (en) * | 2001-06-29 | 2003-04-15 | Micron Technology, Inc. | Memory device and method having reduced-power self-refresh mode |
AU2002346003A1 (en) * | 2001-06-29 | 2003-03-03 | Inductive Signature Technologies, Inc. | Inductive signature measurement circuit |
EP1292036B1 (en) | 2001-08-23 | 2012-08-01 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Digital signal decoding methods and apparatuses |
JP4032681B2 (ja) * | 2001-08-27 | 2008-01-16 | 株式会社デンソー | 同期検波方法及び装置並びにセンサ信号検出装置 |
JP3869699B2 (ja) | 2001-10-24 | 2007-01-17 | 株式会社アドバンテスト | タイミング発生器、半導体試験装置、及びタイミング発生方法 |
US6856925B2 (en) * | 2001-10-26 | 2005-02-15 | Texas Instruments Incorporated | Active removal of aliasing frequencies in a decimating structure by changing a decimation ratio in time and space |
US6665367B1 (en) | 2001-12-27 | 2003-12-16 | Applied Micro Circuits Corporation | Embedded frequency counter with flexible configuration |
EP1326360B1 (en) | 2002-01-08 | 2008-10-15 | Nec Corporation | Communication system and method using multilevel modulation |
US6885186B2 (en) | 2002-03-13 | 2005-04-26 | Caterpillar Inc | Resonant circuit for increasing variable reluctance sensor output |
US7124153B2 (en) | 2002-03-18 | 2006-10-17 | Genesis Microchip Inc. | Frequency converter and methods of use thereof |
US6646478B2 (en) | 2002-03-26 | 2003-11-11 | Semtech Corporation | Method and apparatus for increasing capture range and jitter tolerance in phase detection circuits |
US6680607B2 (en) * | 2002-05-15 | 2004-01-20 | Delphi Technologies, Inc. | Method of detecting steady-state convergence of a signal |
JP3771195B2 (ja) | 2002-05-17 | 2006-04-26 | 株式会社イシダ | 重量測定用ノイズ除去装置および重量測定用ノイズ除去方法 |
US7075948B2 (en) | 2002-05-22 | 2006-07-11 | Stmicroelectronics, Inc. | Frequency offset estimator |
JP3938395B2 (ja) | 2002-07-01 | 2007-06-27 | 富士通株式会社 | クロック逓倍回路 |
JP3558625B2 (ja) * | 2002-07-01 | 2004-08-25 | 沖電気工業株式会社 | 同期誤り検出回路 |
AU2003262666A1 (en) | 2002-08-13 | 2004-02-25 | John F. Iannuzzi | Stepped sine wave frequency response measurement system |
US7372875B2 (en) * | 2002-09-30 | 2008-05-13 | Lucent Technologies Inc. | Systems and methods for synchronization in asynchronous transport networks |
US7409031B1 (en) | 2002-10-04 | 2008-08-05 | Silicon Image, Inc. | Data sampling method and apparatus with alternating edge sampling phase detection for loop characteristic stabilization |
JP4269710B2 (ja) * | 2002-10-22 | 2009-05-27 | 横河電機株式会社 | 周波数測定回路およびそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器 |
US8793127B2 (en) | 2002-10-31 | 2014-07-29 | Promptu Systems Corporation | Method and apparatus for automatically determining speaker characteristics for speech-directed advertising or other enhancement of speech-controlled devices or services |
DE10257185B3 (de) | 2002-12-06 | 2004-02-05 | Infineon Technologies Ag | Phasenregelschleife mit Sigma-Delta-Modulator |
US7242223B1 (en) | 2003-03-10 | 2007-07-10 | National Semiconductor Corporation | Clock frequency monitor |
US6829548B2 (en) | 2003-04-03 | 2004-12-07 | Sun Microsystems, Inc. | DLL static phase error measurement technique |
SE0301005D0 (sv) * | 2003-04-03 | 2003-04-03 | Ericsson Telefon Ab L M | Method and system of jitter compensation |
WO2005045359A2 (en) | 2003-09-17 | 2005-05-19 | Aeroflex Incorporated | Atmospheric turbulence hazard detector |
US7285961B2 (en) | 2003-10-22 | 2007-10-23 | Fujikura Ltd. | Insulation degradation diagnostic device |
US7068041B2 (en) * | 2003-11-26 | 2006-06-27 | General Electric Company | Method and system for multi-frequency inductive ratio measurement |
JP2005210610A (ja) | 2004-01-26 | 2005-08-04 | Toyota Industries Corp | Ifカウント方式 |
DE102004009116B3 (de) * | 2004-02-25 | 2005-04-28 | Infineon Technologies Ag | Delta-Sigma-Frequenzdiskriminator |
US6834093B1 (en) | 2004-03-19 | 2004-12-21 | National Semiconductor Corporation | Frequency comparator circuit |
JP2005311945A (ja) | 2004-04-26 | 2005-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pll回路、無線通信装置及び発振周波数制御方法 |
US7042380B2 (en) | 2004-06-02 | 2006-05-09 | Catalyst Semiconductor, Inc. | Digital potentiometer with resistor binary weighting decoding |
US7266756B2 (en) | 2004-06-25 | 2007-09-04 | Via Telecom Co., Ltd. | Read enable generator for a turbo decoder deinterleaved symbol memory |
US8340309B2 (en) * | 2004-08-06 | 2012-12-25 | Aliphcom, Inc. | Noise suppressing multi-microphone headset |
JP4335113B2 (ja) * | 2004-10-14 | 2009-09-30 | パナソニック株式会社 | Dcオフセットキャリブレーションシステム |
JP4643276B2 (ja) | 2005-01-11 | 2011-03-02 | 株式会社東芝 | 無線受信装置 |
JP4468196B2 (ja) | 2005-02-03 | 2010-05-26 | 富士通株式会社 | デジタルpll回路 |
JP2006250934A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Synthesys Research Inc | デューティ・サイクルを測定するための方法及び装置 |
US7750685B1 (en) | 2005-03-17 | 2010-07-06 | Rf Micro Devices, Inc. | Frequency measurement based frequency locked loop synthesizer |
US8139685B2 (en) * | 2005-05-10 | 2012-03-20 | Qualcomm Incorporated | Systems, methods, and apparatus for frequency control |
DE102005024648B4 (de) * | 2005-05-25 | 2020-08-06 | Infineon Technologies Ag | Elektrische Schaltung zum Messen von Zeiten und Verfahren zum Messen von Zeiten |
US7474160B2 (en) | 2005-05-25 | 2009-01-06 | Qualcomm Incorporated | Systems and methods for calibrating a filter |
US7826670B2 (en) | 2005-06-15 | 2010-11-02 | Fujifilm Corporation | Data compression apparatus and data compression program storage medium |
JP2007057393A (ja) | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Epson Toyocom Corp | 周波数安定度測定装置 |
JP4925630B2 (ja) * | 2005-09-06 | 2012-05-09 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および試験方法 |
US7692419B1 (en) * | 2005-09-26 | 2010-04-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and apparatus for enhanced frequency measurement |
US7412337B2 (en) * | 2005-10-13 | 2008-08-12 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Method for determining fill level on the basis of travel time of a high-frequency measuring signal |
JP4951931B2 (ja) * | 2005-10-24 | 2012-06-13 | 日本電気株式会社 | ノイズ測定回路、該測定回路に用いられるノイズ測定方法及び該測定回路が設けられている大規模集積回路 |
US20070132442A1 (en) * | 2005-12-12 | 2007-06-14 | Jones Philip M | Filter tuning |
US7667544B2 (en) * | 2006-01-12 | 2010-02-23 | Yokogawa Electric Corporation | Clock reproducing apparatus |
EP1982199A2 (en) | 2006-02-01 | 2008-10-22 | Csir | Method of instantaneously determining or estimating the frequency or amplitude of an input signal |
WO2007096982A1 (ja) | 2006-02-24 | 2007-08-30 | Fujitsu Limited | 演算処理装置および演算処理方法 |
US7362184B2 (en) * | 2006-02-28 | 2008-04-22 | International Business Machines Corporation | Frequency divider monitor of phase lock loop |
DE102006011126B4 (de) * | 2006-03-08 | 2008-01-03 | Micronas Gmbh | Verfahren und Schaltung zum zeilenverkoppelten Erzeugen eines Taktes |
FR2898743A1 (fr) | 2006-03-15 | 2007-09-21 | St Microelectronics Sa | Compteur avec circuit de correction |
KR100710127B1 (ko) | 2006-03-17 | 2007-04-20 | 지씨티 세미컨덕터 인코포레이티드 | 지연 동기 루프를 이용한 클록 생성기 및 클록 생성 방법 |
US7265559B1 (en) | 2006-07-13 | 2007-09-04 | Pepperl + Fuchs | Self-calibrating corrosion measurement field device with improved signal measurement and excitation circuitry |
US7750618B1 (en) | 2006-07-25 | 2010-07-06 | Integrated Device Technology, Inc. | System and method for testing a clock circuit |
US7809516B2 (en) | 2006-08-10 | 2010-10-05 | Advantest Corporation | Probability density function separating apparatus, probability density function separating method, program, testing apparatus, bit error rate measuring apparatus, electronic device, and jitter transfer function measuring apparatus |
JP5243257B2 (ja) | 2006-10-17 | 2013-07-24 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、測定方法、プログラムおよび試験装置 |
JP4258545B2 (ja) | 2006-11-22 | 2009-04-30 | トヨタ自動車株式会社 | デジタルローパスフィルタ |
JP2008131560A (ja) * | 2006-11-24 | 2008-06-05 | Yokogawa Electric Corp | 分周回路 |
US7463096B2 (en) * | 2006-12-07 | 2008-12-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Dynamic voltage and frequency management in integrated circuits |
US7560962B2 (en) * | 2006-12-12 | 2009-07-14 | Texas Instruments Incorporated | Generating an output signal with a frequency that is a non-integer fraction of an input signal |
WO2008075691A1 (ja) * | 2006-12-19 | 2008-06-26 | Hitachi Metals, Ltd. | 高周波回路、高周波部品、及び通信装置 |
JP4331202B2 (ja) | 2006-12-25 | 2009-09-16 | 株式会社東芝 | 再生装置及び再生方法 |
US7504976B1 (en) | 2007-01-31 | 2009-03-17 | Lockheed Martin Corporation | Direct radio frequency generation using power digital-to-analog conversion |
US8532243B2 (en) | 2007-02-12 | 2013-09-10 | Silicon Laboratories Inc. | Digital hold in a phase-locked loop |
US7551009B2 (en) | 2007-02-28 | 2009-06-23 | Silicon Laboratories Inc. | High-speed divider with reduced power consumption |
JP4432990B2 (ja) * | 2007-03-22 | 2010-03-17 | セイコーエプソン株式会社 | センサ及び電子機器 |
US7696741B2 (en) * | 2007-04-27 | 2010-04-13 | Korry Electronics, Co. | System and method for adaptively determining the transition rate of a quantized signal |
US7919997B2 (en) | 2007-05-11 | 2011-04-05 | Skyworks Solutions, Inc. | Systems and methods for providing a clock signal |
US7899267B2 (en) | 2007-05-23 | 2011-03-01 | Zoran Corporation | Dynamic range compensation by filter cascade |
DE112008001376T5 (de) | 2007-05-28 | 2010-04-08 | Advantest Corporation | Messgerät und Programm |
GB2453099A (en) | 2007-07-19 | 2009-04-01 | Univ Sussex | Sensor system with tunable narrow band filter. |
JP4786608B2 (ja) | 2007-07-30 | 2011-10-05 | パナソニック株式会社 | 磁界検出装置 |
JP5225994B2 (ja) | 2007-08-15 | 2013-07-03 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、試験装置および測定方法 |
US7737730B2 (en) * | 2007-08-31 | 2010-06-15 | Infineon Technologies Ag | Method of detecting the frequency of an input clock signal of an integrated circuit and integrated circuit |
US8242941B2 (en) | 2007-11-20 | 2012-08-14 | The Tc Group A/S | Pulse modulation A/D-converter with feedback |
CN101451824B (zh) | 2007-11-30 | 2010-11-10 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光栅尺计数控制系统及方法 |
KR20090062536A (ko) | 2007-12-13 | 2009-06-17 | 삼성전기주식회사 | 주파수 발생기 |
US8655296B2 (en) * | 2007-12-18 | 2014-02-18 | Harris Corporation | Frequency synthesizer and related method for generating wideband signals |
US8154321B2 (en) | 2007-12-21 | 2012-04-10 | Power Integrations, Inc. | Method and apparatus for time-differential comparison of an analog signal |
JP4513865B2 (ja) | 2008-01-25 | 2010-07-28 | セイコーエプソン株式会社 | 並列演算装置および並列演算方法 |
US7932751B2 (en) * | 2008-02-06 | 2011-04-26 | Fairchild Semiconductor Corporation | Frequency mode selection discriminator and low pass filter |
JP5066121B2 (ja) | 2008-03-20 | 2012-11-07 | アナパス・インコーポレーテッド | クロック情報とデータを伝送する装置及び方法 |
JP4636106B2 (ja) | 2008-03-31 | 2011-02-23 | ソニー株式会社 | Pll回路およびそのic |
JP2009250807A (ja) | 2008-04-07 | 2009-10-29 | Seiko Epson Corp | 周波数測定装置及び測定方法 |
TWI361281B (en) | 2008-04-17 | 2012-04-01 | Cyrustek Co | A measurement unit including an auto switch low-pass filter |
GB0807625D0 (en) * | 2008-04-25 | 2008-06-04 | Glonav Ltd | Method and system for detecting timing characteristics in a communications system |
DE102008023535B4 (de) | 2008-05-14 | 2011-05-12 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Elektronische Vorrichtung und Verfahren zur Auswertung einer variablen Kapazität |
TWI355805B (en) | 2008-06-03 | 2012-01-01 | Ind Tech Res Inst | Frequency divider |
AR073129A1 (es) * | 2008-08-26 | 2010-10-13 | Spx Corp | Modulo de osciloscopio digital con deteccion de fallas en la recepcion de la senal. |
KR100975040B1 (ko) * | 2008-09-02 | 2010-08-11 | 고려대학교 산학협력단 | 프로그램 가능한 주파수 분주기 및 분주 방법 |
US8140283B2 (en) * | 2008-12-24 | 2012-03-20 | Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. | Independent frequency measurement and tracking |
TWI376877B (en) | 2008-12-26 | 2012-11-11 | Ind Tech Res Inst | Clock generator and multimodulus frequency divider and delta-sigma modulator thereof |
JP2010271091A (ja) | 2009-05-20 | 2010-12-02 | Seiko Epson Corp | 周波数測定装置 |
JP5517033B2 (ja) | 2009-05-22 | 2014-06-11 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置 |
JP5440999B2 (ja) | 2009-05-22 | 2014-03-12 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置 |
US7847597B1 (en) | 2009-06-15 | 2010-12-07 | The Aerospace Corporation | Precision frequency change detector |
JP2011071816A (ja) * | 2009-09-28 | 2011-04-07 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 周波数測定回路及びそれを有するpllシンセサイザ |
JP5815918B2 (ja) * | 2009-10-06 | 2015-11-17 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定方法、周波数測定装置及び周波数測定装置を備えた装置 |
JP5876975B2 (ja) * | 2009-10-08 | 2016-03-02 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置及び周波数測定装置における変速分周信号の生成方法 |
US8258831B1 (en) | 2009-11-09 | 2012-09-04 | Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. | Method and apparatus for clock generator lock detector |
JP4708495B1 (ja) | 2010-01-28 | 2011-06-22 | ファナック株式会社 | 停電検出機能を有するモータ駆動装置 |
US8125250B2 (en) * | 2010-03-26 | 2012-02-28 | Apple Inc. | Frequency detection mechanism for a clock generation circuit |
JP5883558B2 (ja) * | 2010-08-31 | 2016-03-15 | セイコーエプソン株式会社 | 周波数測定装置及び電子機器 |
-
2009
- 2009-08-27 JP JP2009196512A patent/JP5582447B2/ja active Active
-
2010
- 2010-07-13 US US12/835,108 patent/US8643440B2/en active Active
- 2010-08-26 CN CN201010265258.6A patent/CN102004063B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06241972A (ja) * | 1993-02-17 | 1994-09-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 化学センシング装置 |
JPH07260526A (ja) * | 1994-03-26 | 1995-10-13 | Kinseki Ltd | センサ用圧電振動子 |
JPH09304259A (ja) * | 1996-05-09 | 1997-11-28 | Yuasa Corp | 水晶式濃度センサー |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013214554A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-17 | Seiko Epson Corp | 発振装置および電子装置 |
JP2018146320A (ja) * | 2017-03-03 | 2018-09-20 | セイコーエプソン株式会社 | デシメーションフィルター、測定装置および物理量センサー |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5582447B2 (ja) | 2014-09-03 |
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