WO2005069486A1 - 弾性境界波装置 - Google Patents

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WO2005069486A1
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sound absorbing
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Hajime Kando
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Murata Manufacturing Co., Ltd.
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Definitions

  • the present invention relates to a boundary acoustic wave device using an SH type boundary acoustic wave, and more particularly, to a boundary acoustic wave device having a structure in which an electrode is arranged at a boundary between a piezoelectric body and a dielectric.
  • the surface acoustic wave device uses a surface acoustic wave such as a Rayleigh wave or a first leaky wave propagating on the surface of a medium.
  • the surface acoustic wave element is hermetically sealed in a package having a cavity facing the propagation surface. Since a package having such a cavity was used, (1) the cost of the surface acoustic wave device had to be increased. In addition, since the dimensions of the package are much larger than the dimensions of the surface acoustic wave element, the elastic surface acoustic wave device had to be enlarged.
  • Non-Patent Document 1 discloses an example of a boundary acoustic wave device using such a boundary acoustic wave.
  • the structure of a conventional boundary acoustic wave device will be described with reference to FIG.
  • the boundary acoustic wave device 201 has a structure in which an electrode 204 is arranged at a boundary between a first medium layer 202 and a second medium layer 203.
  • an electrode 204 is arranged at a boundary between a first medium layer 202 and a second medium layer 203.
  • a boundary acoustic wave that propagates while energy is concentrated at the boundary between the medium layer 202 and the medium layer 203 or near the boundary is excited.
  • an IDT is formed on a 126 ° rotating Y plate X-propagating LiTaO substrate, and a SiO film is formed to a predetermined thickness on the IDT and the LiTaO substrate.
  • a boundary acoustic wave device that is formed is disclosed. Here, it is called Stonli Ippami It is shown that an SV + P type boundary acoustic wave propagates.
  • Non-Patent Document 1 when the thickness of the SiO film is 1. ⁇ (where ⁇ is the wavelength of the boundary acoustic wave), electromechanical coupling is performed.
  • the combined coefficient is shown to be 2%.
  • the characteristics do not change due to a change in the surface state of the substrate or the thin film. Therefore, the cavity formation knock can be omitted, and the size of the acoustic wave device can be reduced.
  • Non-Patent Document 2 describes that [001] -Si (110) / SiO ZY cut X-propagation LiNbO
  • the SH boundary wave is characterized in that in comparison with the Sutonri one wave, a large electromechanical coupling coefficient k 2. Also in the case of the SH type boundary wave, the cavity forming package can be omitted as in the case of the Stoneley wave. Furthermore, since the SH-type boundary wave is an SH-type wave, it is expected that the reflection coefficient of the strip constituting the IDT and the reflector will be larger than that of the case of the Stoneley single wave. Therefore, for example, when a resonator or a resonator-type filter is configured, it is expected that the use of the SH-type boundary wave can reduce the size and obtain steeper characteristics.
  • Non-Patent Reference 1 "Piezoelectric Acoustic Boundary Waves Propagating Along thelnterface Between Si02 and LiTa03" IEEE Trans. Sonics
  • Non-Patent Document 2 "High-piezoelectric boundary waves propagating in a Si / Si02 / LiNb03 structure" (26th EM Symposium, May 2009, pp53-58)
  • the boundary acoustic wave device a boundary acoustic wave in which energy is concentrated and propagates at the boundary between the first and second medium layers and near the boundary is used.
  • the thicknesses of the first medium layer and the second medium layer are desirably infinite.
  • the thickness of the first and second medium layers is finite.
  • FIG. 34 shows the impedance one-frequency characteristic and the phase frequency characteristic of the boundary acoustic wave resonator thus configured. As shown by arrows A1 to A3 in FIG. 34, a plurality of large spurious components appeared on the higher frequency side than the anti-resonance frequency.
  • a ladder-type circuit shown in FIG. 35 is configured by using a plurality of boundary acoustic wave resonators configured in the same manner as described above, and the frequency characteristics of the ladder-type filter thus obtained are measured. did.
  • the results are shown in FIG. Note that the parallel arm resonators PI and P3 in FIG. 35 were configured such that the number of IDT electrode fingers was 50.5 pairs and the aperture length was 30 mm.
  • the series arm resonators SI and S2 were each configured by connecting in series two boundary acoustic wave resonators used to construct the parallel arm resonators PI and P3.
  • the parallel arm resonator P2 is configured such that the number of pairs of electrode fingers of the IDT is 100.5 pairs and the aperture length is 30 ⁇ .
  • ⁇ of the IDT and reflector of the parallel arm resonator P113 is 3.0 / ⁇ m
  • ⁇ of the series arm resonator is the anti-resonance frequency of the parallel arm resonator P1 and the resonance frequency of the parallel arm resonator.
  • the duty ratio of both the IDT and the reflector is 0.58
  • the electrodes are made of Au
  • the film thickness is 0.05
  • the film thickness was 2.5 mm.
  • An object of the present invention is to make it possible to effectively suppress a plurality of spurious responses on a higher frequency side than a resonance frequency and a pass band in view of the above-described state of the art, and An object of the present invention is to provide a boundary acoustic wave device having characteristics.
  • the present invention is a boundary acoustic wave device using a boundary acoustic wave propagating along a boundary between a first medium layer and a second medium layer, wherein the first medium layer includes the first medium layer and the first medium layer.
  • a sound absorbing layer for attenuating spurious modes is provided on the side surface.
  • the sound speed of the transverse wave in the sound absorbing layer is the sound speed of the transverse wave in the first and Z or second medium layers on which the sound absorbing layer is stacked. Slower than.
  • the sound speed of the longitudinal wave in the sound absorbing layer is limited to the first and Z or the second medium layer on which the sound absorbing layer is laminated. It is slower than the sound speed of longitudinal waves.
  • the sound speed of the shear wave of the sound absorbing layer is equal to 0 of the sound speed of the shear wave in the first and Z or second medium layers on which the sound absorbing layer is stacked.
  • the acoustic impedance of the sound absorbing layer is equal to the acoustic impedance of the first and Z or second medium layers on which the sound absorbing layer is laminated. 20x1 5. 30x range.
  • the sound absorbing layer is formed using the same type of material as the first and Z or second medium layers.
  • a layer having a lower damping constant force for an elastic wave than the sound absorbing layer is provided outside the sound absorbing layer.
  • the sound absorbing layer includes a resin.
  • the sound absorbing layer includes a filler and is made of a resin.
  • the sound absorbing layer may include a boundary acoustic wave propagation at the boundary on a surface of the first and Z or second medium layers. It is provided at the part opposite to the carriageway!
  • a conductor layer is laminated on at least one surface of the sound absorbing layer.
  • the first and Z or second medium layers are electrically connected to the electrode provided at the boundary.
  • a through-hole electrode provided so as to penetrate therethrough, and an external electrode connected to the through-hole electrode and provided on an outer surface of the boundary acoustic wave device.
  • an elastic body is filled in the through-hole electrode.
  • the boundary acoustic wave device includes a through-hole electrode provided in the first medium layer and a through-hole electrode provided in the second medium layer.
  • the through-hole electrode provided in the first medium layer and the through-hole electrode provided in the second medium layer are formed so as not to be continuous.
  • a wiring that is electrically connected to an electrode provided at the boundary and that is provided on an outer surface of the boundary acoustic wave device. Electrodes are further provided!
  • the boundary acoustic wave device has a step on a side surface intersecting the boundary, and is connected to an electrode provided on the boundary. And a connection electrode extending to the step, and the wiring electrode is formed so as to extend to the step, and is connected to the connection electrode at the step. I have.
  • the outer surface of the first medium layer and the second medium layer At least one of the outer surfaces is provided with a third material layer having a lower linear expansion coefficient in a direction parallel to the boundary surface than the first and second medium layers.
  • the “outer surface” of the medium layer refers to the surface on the opposite side from the boundary surface.
  • the first medium layer and the second medium layer At least one of the outer surface of the first medium layer and the outer surface of the second medium layer between the first and second medium layers has a sign of a linear expansion coefficient in a direction parallel to the boundary surface.
  • a third material layer different in sign from the linear expansion coefficient of the second medium layer is provided.
  • the outer surface of the first medium layer and the second medium layer At least one of the outer surfaces is provided with a fourth material layer having a higher thermal conductivity than the first and second medium layers.
  • an impedance matching circuit is formed on the boundary or on the outer surface of the first and second medium layers.
  • the thickness of the second medium layer is 0.5 ⁇ or more, and the thickness of the sound absorbing layer is 1. ⁇ or more.
  • the sound absorbing layer preferably has a laminated structure.
  • the sound absorbing layer has a stacked structure in which a plurality of sound absorbing material layers are stacked, and is located near the second medium layer.
  • the acoustic characteristic impedance of the sound absorbing material layer is an intermediate value between the acoustic impedance of the sound absorbing material layer separated from the sound absorbing material layer by the second medium layer and the acoustic impedance of the second medium layer. It has.
  • a structural part which is bonded to a mounting-side surface via a bump and has first and second medium layers and a sound absorbing layer.
  • the semiconductor device further includes a mounting substrate having a stronger material strength, and is configured to be mounted using the mounting substrate.
  • a stress buffer provided on the surface on the mounting side is further provided.
  • the step of forming an electrode on the first medium layer the step of forming a second medium layer so as to cover the electrode, Medium layer and
  • the sound absorbing layer is The step of forming includes a step of degassing the gas in the sound absorbing layer.
  • the method for manufacturing an elastic boundary wave device includes a method in which a plurality of boundary acoustic wave devices are connected to each other. After the formation of the sound absorbing layer, the sound absorbing layer is divided into individual boundary acoustic wave devices.
  • the steps up to the step of forming the sound absorbing layer are performed in a mother state. After the division, a step of forming the sound absorbing layer is performed.
  • the electrode is provided at the boundary between the first medium layer and the second medium layer, and further, the electrode is provided at the boundary between the first and Z or the second medium layer.
  • a sound absorbing layer that attenuates spurious modes is provided on the outer surface on the opposite side. Therefore, as is apparent from the experimental examples described later, the presence of the sound absorbing layer can effectively suppress a plurality of spurious responses on the higher frequency side than the resonance frequency or on the higher frequency side of the pass band. Therefore, it is possible to provide a boundary acoustic wave device having good resonance characteristics and filter characteristics.
  • the sound speed of the transverse wave of the sound absorbing layer is in the range of 0.13 times or more and 1.23 times or less the sound speed of the transverse wave in the first and Z or second medium layers on which the sound absorbing layer is laminated. In this case, an undesired spurious response due to the shear wave can be effectively suppressed.
  • the acoustic impedance of the sound absorbing layer is in the range of 0.2 to 5.3 times the acoustic impedance of the first and Z or second medium layers, the plurality of undesired spurs is required. The response can be effectively suppressed.
  • the sound absorbing layer is made of the same material as the first and Z or second medium layers, the sound absorbing layer is formed in the same process as the first and Z or second medium layers. Can be manufactured.
  • the sound absorbing layer is made of various materials, but when it is made of at least one selected from the group consisting of resin, glass, ceramics, and metal, a sufficient Since it has a sound absorbing property and is relatively hard, an undesired spurious can be effectively suppressed, and a boundary acoustic wave device having excellent strength can be provided.
  • the sound absorbing layer need not necessarily be formed of a single material.
  • many resin materials have large damping constants.By adding ceramics and metals such as carbon, silica, and tungsten as fillers, it is possible to construct sound-absorbing media with various sound speeds and acoustic characteristic impedances. it can.
  • resin materials such as epoxy resin contain the above-mentioned filler to scatter elastic waves that not only can adjust sound speed and acoustic characteristic impedance, but also increase the damping constant. You can also get
  • the sound absorbing layer is provided on the surface of the first and Z or second medium layers at a portion facing the boundary acoustic wave propagation path at the boundary.
  • the presence of the sound absorbing layer makes it desirable.
  • spurious can be effectively suppressed.
  • the conductor layer When a conductor layer is laminated on at least one surface of the sound absorbing layer, the conductor layer can fulfill an electromagnetic shielding function.
  • the boundary acoustic wave device is electrically connected to an electrode provided at the boundary, and is connected to a through-hole electrode provided to penetrate the first and Z or second medium layers, and to the through-hole electrode.
  • the boundary acoustic wave device can be electrically connected using a through-hole electrode. The size can be reduced.
  • the through-hole electrode When the through-hole electrode is filled with an elastic body, since there is no cavity, the acoustic impedance difference with the medium layer can be reduced. Therefore, unwanted reflection and scattering of the boundary acoustic wave can be suppressed. In addition, it is possible to suppress the entry of corrosive gas.
  • a through-hole electrode provided in the first medium layer, and a through-hole electrode provided in the second medium layer, and a through-hole electrode provided in the first medium layer When the through-hole electrode provided in the medium layer is formed so as not to overlap in the thickness direction, intrusion of corrosive gas or the like into the inside can be suppressed.
  • the boundary acoustic wave device is utilized by using the external surface. Can be taken out to the outside.
  • the boundary acoustic wave device has a step on the side surface intersecting the boundary, and when the wiring electrode formed on the outer surface is connected to the connection electrode at the step, the electric connection is not established. Reliability can be improved.
  • At least one of the outer surface of the first medium layer and the outer surface of the second medium layer has a linear expansion in a direction parallel to the boundary surface.
  • a third material layer having a coefficient lower than that of the first and second medium layers is provided, external distortion such as warpage due to a temperature change can be suppressed.
  • the temperature characteristics of the frequency characteristics such as the resonance frequency can be improved.
  • At least one of the outer surface of the first medium layer and the outer surface of the second medium layer has a linear expansion parallel to the boundary surface.
  • a third material layer whose coefficient is different from that of the linear expansion coefficient of the first and second medium layers is provided, it is possible to further suppress external distortion such as warpage due to temperature change.
  • the temperature characteristics of the frequency characteristics such as the center frequency in the case of the filter and the resonance frequency in the case of the resonator can be improved.
  • At least one of the outer surface of the first medium layer and the outer surface of the second medium layer has the first and second medium layers. Also, when the fourth material layer having a high thermal conductivity is provided, the heat dissipation is enhanced, the temperature rise when a large amount of power is applied can be suppressed, and the power handling performance is improved.
  • the impedance matching circuit can be built in the boundary acoustic wave device.
  • the thickness of the second medium layer is 0.5 ⁇ or more and the thickness of the sound absorbing layer is 1. ⁇ ⁇ or more, according to the present invention, the undesired spurious response is more effectively suppressed. be able to.
  • the sound absorbing layer has a laminated structure
  • a sound absorbing layer having desired performance can be easily formed by selecting the thickness and material of each layer constituting the sound absorbing layer.
  • the sound absorbing layer has a laminated structure having a plurality of material layers, and the acoustic characteristic impedance of the sound absorbing material layer closer to the second medium layer is more distant from the second medium layer than the sound absorbing material layer. If the acoustic impedance of the second sound absorbing material layer has an intermediate value between the acoustic impedance of the second sound absorbing material layer and the acoustic impedance of the second sound absorbing material layer, the acoustic impedance matching between the second sound absorbing material layer and the outer sound absorbing material layer is improved. be able to.
  • the mounting substrate is joined to the surface on the mounting side via a bump, and the mounting substrate has first and second medium layers and a sound absorbing layer.
  • the boundary acoustic wave device according to the present invention can be easily mounted on a printed circuit board or the like using the mounting substrate.
  • the mounting board since the mounting board has a relatively high strength, even if the mounting board is mounted on the printed circuit board by soldering, it is possible to suppress the stress applied to the printed circuit board from being applied to the boundary acoustic wave chip. . Therefore, even if the printed circuit board is bent, for example, it is possible to suppress the deterioration and cracking of the frequency characteristics of the boundary acoustic wave device.
  • the stress buffer causes a boundary wave of stress caused by bending of a printed board on which the mounting structure is fixed. Since transmission to the chip is suppressed, the boundary wave chip does not bend, preventing deterioration of the frequency characteristics and cracking of the chip.
  • a step of forming an electrode on the first medium layer a step of forming a second medium layer so as to cover the electrode, Forming a sound absorbing layer on the surface of the medium layer and / or the second medium layer opposite to the boundary surface, so that the boundary acoustic wave device according to the present invention can be provided.
  • a step of degassing the gas in the sound absorbing layer is included! In such a case, a change in frequency characteristics over time can be suppressed.
  • a manufacturing process up to the formation of the sound absorbing layer is performed in a state of a mother formed by connecting a plurality of boundary acoustic wave devices.
  • the boundary acoustic wave device of the present invention can be manufactured efficiently.
  • the chip excluding the external terminals is used. Since the whole can be covered with the sound absorbing layer, the environmental resistance characteristics of the boundary wave device can be improved.
  • FIGS. 1 (a) and 1 (b) are a front sectional view and a schematic perspective view of a boundary acoustic wave device according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 shows that in the SiO / Au / LiNbO structure, the thickness of Au was 0.05 ⁇ ,
  • FIG. 4 is a diagram showing a displacement distribution of a boundary acoustic wave which is a main mode when the thickness is set to 1.5 ⁇ .
  • FIGS. 3 (a) and 3 (b) are diagrams showing the displacement distribution of each spurious mode under the same conditions as in FIG.
  • FIGS. 4 (a) and 4 (b) are diagrams each showing a displacement distribution of each spurious mode under the same conditions as in FIG.
  • FIGS. 5 (a) and 5 (b) are diagrams each showing a displacement distribution of each spurious mode under the same conditions as in FIG.
  • FIGS. 6 (a) and (b) are diagrams showing the displacement distribution of each spurious mode under the same conditions as in FIG.
  • FIG. 7 is a diagram showing displacement distributions of other spurious modes under the same conditions as those shown in FIG.
  • FIG. 8 is a diagram showing impedance frequency characteristics and phase-frequency characteristics of the boundary acoustic wave device shown in FIG. 1.
  • Figs. 9 (a) and 9 (b) show the change in sound velocity and the change in damping constant for SH-type boundary waves, single Stoneley waves and various spurious modes when the density p of the sound absorbing layer changes. It is a figure.
  • FIGS. 10 (a) and (b) show SH-type boundary waves when the transverse sound velocity Vs of the sound absorbing layer changes.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating a change in the speed of sound and a change in the attenuation constant of the Stoneley wave and various spurious modes.
  • Figs. 11 (a) and 11 (b) show SH boundary acoustic waves, Stoneley waves, and the like when the transverse acoustic velocity Vs of the sound absorbing layer is changed under the condition that the acoustic characteristic impedance Zs of the sound absorbing layer is fixed. It is each figure which shows the change of the sound speed of various spurious modes, and the change of an attenuation constant.
  • FIG. 12 is a diagram showing a change in the sound speed and a change in the attenuation constant of the present invention.
  • FIG. 13 shows the ratio of transverse sound speed when the thickness of the SiO film was changed, and the spurious noise.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between the impedance ratio of the gate and the impedance.
  • FIG. 14 shows the ratio of the acoustic impedance when the thickness of the SiO film is changed and the split
  • FIG. 4 is a diagram showing a relationship between the impedance ratio of a positive mode and the impedance ratio.
  • FIG. 15 is a diagram showing impedance and phase-frequency characteristics of the boundary acoustic wave resonator of the present embodiment.
  • FIG. 16 is a diagram showing attenuation-frequency characteristics of the boundary acoustic wave filter according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 17 is a partially cutaway front sectional view showing a modified example of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 18 is a partially cutaway front sectional view showing another modified example of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 19 is a partially cutaway front sectional view showing still another modified example of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 20 is a partially cutaway front sectional view showing still another modified example of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 21 is a partially cutaway front sectional view for explaining still another embodiment of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 22 is a partially cutaway front sectional view for explaining another embodiment of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 23 is a perspective view showing a main part of the boundary acoustic wave device shown in FIG. 22.
  • FIG. 24 is a front sectional view showing still another embodiment of the boundary acoustic wave device of the present invention.
  • FIG. 25 is a front sectional view showing still another embodiment of the boundary acoustic wave device of the present invention.
  • FIG. 26 is a front sectional view showing still another embodiment of the boundary acoustic wave device of the present invention.
  • FIGS. 27 (a) to 27 (g) are front cross-sectional views illustrating an example of a method for manufacturing a boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 28 (a)-(f) are front cross-sectional views for explaining another example of the method for manufacturing the boundary acoustic wave device of the present invention.
  • FIG. 29 (a)-(h) is a front sectional view for explaining still another example of the method for manufacturing the boundary acoustic wave device of the present invention.
  • FIG. 30 (a)-(f) are front cross-sectional views for explaining still another example of the method for manufacturing the boundary acoustic wave device of the present invention.
  • FIG. 31 is a partially cutaway front sectional view for explaining still another embodiment of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • FIG. 32 is a front cross-sectional view for explaining a conventional boundary acoustic wave device.
  • FIG. 33 is a schematic plan view showing an electrode structure of a one-port type boundary acoustic wave resonator formed as a conventional boundary acoustic wave device.
  • FIG. 34 is a diagram for explaining a spurious mode appearing on the impedance-frequency characteristics of the conventional boundary acoustic wave device.
  • FIG. 35 is a circuit diagram of a ladder-type circuit configured using a plurality of conventional boundary acoustic wave devices.
  • FIG. 36 is a diagram showing attenuation frequency characteristics of a ladder filter configured using a plurality of conventional boundary acoustic wave devices.
  • the potential is set to 0, and the thickness of SiO is set to a predetermined value.
  • FIG. 2 shows the main mode when the thickness of Au is set to 0.05 ⁇ and the thickness of SiO is set to 1.5 ⁇ .
  • FIG. 3A to FIG. 7 are diagrams showing the displacement distribution of each spurious mode under the same conditions as FIG.
  • the boundary wave showing the displacement distribution shown in FIG. 2 and the respective displacement distributions shown in FIG. 3 (a) —FIG. 7 are shown.
  • the response frequency is low! ing. That is, the frequency of the spurious mode shown in FIG. 7 is the highest, where the frequency of the boundary wave shown in FIG. 2 is the lowest.
  • is the wavelength of the boundary wave which is the main mode.
  • the solid line is the U1 component (X-direction component of the displacement), and the broken line is the U2 component (
  • the X-direction component of the displacement and the dot-dash line U3 component (X-direction component of the displacement) are shown.
  • the X direction refers to a direction in which a boundary wave propagates on a boundary surface.
  • elastic waves include a P wave composed of a U1 component, an SH wave composed of a U2 component, and an SV wave composed of a U3 component.
  • the boundary acoustic wave and the spurious mode are modes based on a combination of partial waves P, SH, and SV.
  • Fig. 7 shows only the position of the Au layer, and the display of the SiO layer and the LiNbO layer is easy to illustrate.
  • the boundary wave in the main mode is an SH type boundary wave mainly composed of the U2 component.
  • spurious modes are divided into three types: a spurious mode mainly composed of U2 components, a spurious mode mainly composed of U1 and U3 components, and a spurious mode mainly composed of U1 components. It is understood that it is roughly divided. These three types of spurious modes generate energy between the surface of the SiO film, which is the second medium layer, and an electrode made of Au and placed on the boundary layer.
  • the inventors of the present application consider the results shown in FIGS. 2 to 7 described above and suppress the mode in which energy is confined and propagated in the second medium layer.
  • the present inventors have thought that the spurious response can be suppressed, and have accomplished the present invention.
  • FIGS. 1A and 1B are a front sectional view and a schematic perspective view showing a boundary acoustic wave device according to a first embodiment of the present invention.
  • the boundary acoustic wave device 1 has a first medium layer 2.
  • the first medium layer 2 is composed of a 15 ° Y-X propagation LiNbO single crystal substrate.
  • the first medium Layer 2 is made of another single crystal substrate, such as a LiNbO piezoelectric single crystal substrate of another crystal nucleus.
  • It may be constituted by another piezoelectric single crystal such as LiTaO.
  • the IDT 3 and the reflectors 4 and 5 are formed on the upper surface of the first medium layer 2.
  • the IDT 3 and the reflectors 4 and 5 are formed on the upper surface of the first medium layer 2.
  • grating reflectors 4 and 5 are arranged on both sides of IDT 3 to form a one-port boundary acoustic wave device.
  • a second medium layer 6 is formed so as to cover the IDT 3 and the reflectors 4 and 5.
  • the second medium layer 6 is composed of a SiO film.
  • the sound absorbing layer 7 is formed on the upper surface of the second medium layer 6.
  • the sound absorbing layer 7 is made of a resin whose elastic wave attenuation constant is larger than that of the second medium layer 6.
  • the IDT 3 and the reflectors 4 and 5 are configured by laminating a main electrode layer made of Au with a thickness of 0.055 on an adhesion layer made of NiCr with a thickness of 0.003. did. Then, as in the case of the boundary acoustic wave device having the characteristics shown in Fig. 34, the IDT is weighted with a crossover width, the number of pairs of electrode fingers is 50, and the distance between opposing bus bars is 30.5 mm. The duty ratio of the electrode fingers constituting IDT3 was 0.55.
  • the number of electrode fingers of the reflectors 4 and 5 was 50 each.
  • the distance between the electrode fingers of the IDT was 0.25 ⁇ , and the maximum intersection width was 30 mm.
  • the IDT3 and the reflectors 4 and 5 were matched, and the distance between the electrode finger centers of the IDT3 and the reflectors 4 and 5 was 0.5 mm.
  • the thickness of the SiO film was set to 2 and the characteristics shown in Fig. 34 were compared.
  • a film was formed by RF magnetron sputtering at a wafer heating temperature of 200 ° C.
  • the boundary acoustic wave device 1 has the same configuration as that of the above-described comparative example except that the sound absorbing layer 7 is provided.
  • the sound absorbing layer 7 is made of an epoxy resin whose hardness has been adjusted, and has a thickness of 5 ⁇ or more.
  • the sound absorbing layer 7 was formed by applying and curing an epoxy resin on the second medium layer 6.
  • FIG. 8 shows the impedance frequency characteristics and the phase frequency characteristics of the boundary acoustic wave device 1.
  • the impedance ratio of spurious response around 1700 MHz (the ratio of the impedance at the resonance frequency to the antiresonance frequency) is shown in FIG. Is 29.3 dB, which is remarkably reduced to 7. ldB in the present embodiment. That is, it can be seen that the formation of the sound absorbing layer 7 can effectively suppress the undesired spurious response on the high frequency side.
  • the sound absorbing layer 7 disposed on the surface of the second medium layer is made of a material having a low acoustic wave velocity, and has a laminated structure of the sound absorbing layer 7 Z the second medium layer Z electrode Z the first medium layer 2. It is possible to transfer the energy of the spurious mode from the second medium layer to the sound absorbing layer 7 by using the second layer.
  • the sound absorbing layer 7 acts as a sound absorbing medium, and the energy of the spurious mode transferred to the sound absorbing layer 7 does not return to the second medium layer 6 again.
  • the boundary acoustic wave which is the main response of the boundary acoustic wave device 1, concentrates and propagates energy near the boundary surface, so that the energy of the boundary acoustic wave itself hardly deteriorates.
  • the sound speed of the transverse wave in the sound absorbing layer 7 can be suppressed more strongly than the sound speed of the transverse wave in the second medium layer. You can see this. Also, it can be seen that the spurious mode in which the P wave is the main component can be effectively suppressed by lowering the longitudinal wave velocity of the sound absorbing layer 7 from the longitudinal wave velocity in the second medium layer.
  • the energy T of the mode that shifts from the second medium layer 6 to the sound absorbing layer 7 is represented by Z where the acoustic characteristic impedance of the second medium layer 6 is Z and the acoustic characteristic impedance of the sound absorbing layer 7 is Z.
  • T 4Z ZZ (Z + Z) 2 .
  • the sound absorbing layer 7 be made of a material that has a lower speed than the second medium layer, high acoustic matching, and a high sound absorbing effect.
  • the first medium layer 2 is made of a 15 ° YX Li NbO substrate having an infinite thickness
  • the second medium layer 6 is a 1.5 ⁇ thick SiO film
  • the IDT is 0.05 mm thick. A of ⁇
  • the length was set to infinity, and a state in which waves passing from the SiO film to the sound absorbing layer 7 were absorbed was simulated.
  • FIGS. 9 (a) and 10 (b) show the boundary acoustic wave device constructed in the same manner as described above, except that the density p of the sound absorbing layer was varied in the above-described boundary acoustic wave device.
  • FIG. 4 is a diagram showing a relationship between each sound speed and an attenuation constant of a spurious mode mainly composed of U3 components.
  • the spurious mode mainly composed of the U2 component includes a spurious mode mainly composed of the U2 component having a low order, ie, a U2 high-order 1 mode and a high order composed mainly of the U2 component.
  • the spurious mode, ie U2 higher-order-2 mode is shown! / ,.
  • As the spurious mode mainly composed of the U3 component there are shown a U3 high order 1 mode having a low order mainly composed of the U3 component and a U3 high order-2 mode having a high order! /.
  • the transverse sound speed of SiO 2 is 3757 mZ seconds and the density is 2210 kgZm 3
  • the transverse sound speed of the sound absorbing layer is 3757 mZ seconds and the density is 2210 kgZm 3
  • the spurious mode damping constant is maximized, thereby suppressing spurious emissions.
  • SH-type boundary waves and Stoneley waves do not attenuate at all. Note that, in the configuration calculated here, the electromechanical coupling coefficient of the Stoneley wave is almost zero as described above, and the Stoneley wave does not become a spur because the force capable of propagating is not excited.
  • the attenuation constant is 0.5 dBZ
  • the attenuation will be, for example, 5 dB at 10 ⁇ , and at 50 ⁇ , for example, 25 dB. This attenuation is caused by the emission of the elastic wave to the sound absorbing layer side.
  • the transverse wave velocity Vs of the sound absorbing layer is more preferably in the range of 0.13-1.23 times the transverse wave velocity of SiO.
  • the higher-order spurious modes mainly composed of U2 and U3 components that is, U2 higher-order two-modes and U3 higher-order two-modes attenuate by 1.5 dBZ or more
  • the lower-order spurious modes mainly composed of U2 components that is, U2 It was confirmed that higher order 1 was attenuated by 0.5 dBZ ⁇ or more.
  • the transverse acoustic velocity Vs of the sound absorbing layer is 0.6 of the transverse acoustic velocity of SiO.
  • the spurious mode having a low order of the U3 component that is, the U3 high order mode is attenuated by 0.5 dB or more.
  • a mode having a lower order tends to have a larger electromechanical coupling coefficient, and tends to have a large spurious.
  • the spurious mode described as U2 higher order 2 which is the second higher-order spurious mode mainly composed of U2 components, is used even if the transverse sound speed Vs of the sound absorbing layer is 5000 mZ seconds or more. It has an attenuation constant of 03dB / ⁇ .
  • the second higher-order spurious mode mainly composed of U3 components (U3 higher-order-2) also has an attenuation constant of 0.477 dB ⁇ ⁇ , even if the transverse sound speed Vs of the sound absorbing layer is 5000 mZ seconds or more.
  • the acoustic characteristic impedance Zs of the sound absorbing layer is similar to that of SiO.
  • the acoustic characteristic impedance Zs of the sound absorbing layer is 0.45 times 3.61 times the acoustic characteristic impedance of SiO. Attenuates 0.5 dBZ or more at 0.75 times 1.99 times 1. OdBZ Attenuates ⁇ or more. Desirable 0.89 times 1.48 times attenuates 1.5 dBZ or more.
  • the acoustic characteristic impedance of the sound absorbing layer is attenuated 0.5 dBZ or more when the acoustic characteristic impedance of SiO is 0.20 to 5.30 times the acoustic characteristic impedance of SiO.
  • the acoustic characteristic impedance Zs of the sound absorbing layer is 0.84 times the acoustic characteristic impedance of SiO.
  • the acoustic characteristic impedance Zs of the sound absorbing layer is attenuated by 0.5 dB / or more when the acoustic characteristic impedance of SiO is 0.71 times or more the acoustic characteristic impedance of SiO.
  • the boundary acoustic wave device 1 in the form was configured.
  • Figure 13 shows the transverse sound speed of the sound absorbing layer as the transverse sound speed of SiO.
  • Vs ratio shear wave velocity ratio
  • the spurious mode impedance ratio means that the ratio of the impedance of the spurious mode to the resonance frequency and the impedance of the antiresonance frequency is the largest V ⁇ the ratio of the impedance of the spurious mode.
  • the impedance ratio of the spurious mode is not less than 7.1 dB, but the Zs ratio of the sound absorbing layer is not more than 0.1 dB. If it is set to 393 or more, the impedance ratio of the spurious mode becomes 3.9 dB or less, and the impedance ratio of the spurious mode decreases as the Zs ratio approaches 1. If the Vs ratio is 0.488 or more, the spurious mode impedance ratio is 3.9 dB or less, and the Vs ratio is close to 1. The lower the ratio, the lower the spurious mode impedance ratio.
  • FIG. 15 shows a case where a sound absorbing layer having a Vs ratio of 0.633 and a Zs ratio of 0.547 was formed on the surface of the SiO film.
  • FIG. 16 shows the resonance characteristics of the boundary acoustic wave resonator in the combined case, and FIG. 16 shows the filter characteristics of a ladder-type filter configured using the boundary acoustic wave resonator.
  • the sound absorbing layer may be made of the same type of material as the second medium layer. Even in such a case, the damping constant may be reduced only in the region where the energy of the boundary acoustic wave as the main response exists, and the damping constant outside the region may be increased.
  • the same kind of material does not necessarily mean that they are completely the same. For example, as in the example described below, even if the film is a SiO 2 film, the characteristics are different due to the difference in the film forming method. Will be different. As described above, the combination force of two types of SiO films with different manufacturing methods
  • the second medium layer is composed of a sputtered film or the like
  • a low-quality film having a large attenuation constant can be formed at a high speed and inexpensive
  • a high-quality film having a small attenuation constant has a low speed.
  • Film formation and expensive For example, in a boundary acoustic wave device composed of a SiO 2 film, a ZA1 electrode, a ZAu electrode, and a ZLiNbO electrode, a SiO film is used as a sound absorbing layer.
  • a second SiO film may be formed above 32.
  • the SiO film constituting the second medium layer may be formed above 32.
  • the second SiO film constituting the sound layer is made of, for example, a low-quality SiO film having a large attenuation constant.
  • the thickness may be about ⁇ .
  • the displacement distribution of the boundary acoustic wave in the depth direction hardly changes.
  • the low-quality film can be continuously formed by the same apparatus as the high-quality film, but may be manufactured by the process described later. That is, one of a high-quality film and a low-quality film is sputtered, spin-coated, Screen printing and CVD !, can be formed by other! / ⁇
  • each of the first and second medium layers is composed of the first material layer.
  • the second medium layer may have a stacked structure in which a plurality of medium material layers are stacked.
  • FIG. 17 is a partially cutaway front sectional view of a boundary acoustic wave device according to a modified example in which the second medium layer has a laminated structure.
  • the IDT 23 is formed on the first medium layer 22
  • the second medium layer 26 is formed so as to cover the IDT 23.
  • the second medium layer 26 has a structure in which a medium material layer 26b is laminated on the medium material layer 26a.
  • a sound absorbing layer 27 is formed on the second medium layer 26.
  • the medium material layers 26a and 26b are made of an appropriate material.
  • the medium material layer 26a can be made of SiO, and the medium material layer can be made of SiN. 3 or more medium material layers
  • a medium material layer having a large damping constant and a medium material layer having a small damping constant are alternately formed by stacking a medium material layer having a large damping constant and a medium material layer having a small damping constant.
  • ⁇ ⁇ Since the medium material layer having a small damping constant is often excellent in denseness, the moisture resistance near the boundary surface can be enhanced by arranging the medium material layer outside the boundary surface.
  • the first medium layer may also have a laminated structure.
  • the present invention is to suppress the spurious mode by reducing the attenuation constant of the boundary wave propagation material at and near the boundary surface where the boundary wave propagates, and configuring the sound absorbing layer in at least some of the outer layers.
  • the acoustic characteristic impedance of the sound absorbing layer and the boundary wave propagation medium layer are matched as described above, or the sound absorbing layer is low-sonic velocity, and the spurious mode is set to the leakage mode, The feature is that spurs were effectively suppressed. Therefore, it is desirable that the attenuation coefficient of the elastic wave of the sound absorbing layer be larger than the attenuation constant of the first and second medium layers.
  • the material constituting the sound absorbing layer used in the present invention is not particularly limited as long as it has an elastic wave attenuation constant larger than that of the first and second medium layers.
  • Examples of the material constituting the sound absorbing layer include, for example, epoxy, phenol, acrylate, polyester, silicone, and the like.
  • Various resins such as polyurethane, urethane and polyimide, various glasses such as low-melting glass and water glass, alumina ceramics and metal films can also be used.
  • the composition of the resin material can be easily adjusted because the material has a large damping constant. Therefore, since a sound absorbing layer having various sound speeds and acoustic characteristic impedances can be formed, the sound absorbing layer is preferably formed of a resin material.
  • the sound absorbing layer may also have a stacked structure in which a plurality of sound absorbing material layers are stacked.
  • a sound absorbing layer in which a first sound absorbing material layer 7a and a second sound absorbing material layer 7b are laminated on the upper surface of the second medium layer 6. 7 are configured.
  • the acoustic characteristic impedance of the sound absorbing material layer 7a is preferably set to an intermediate value between the acoustic characteristic impedance of the second medium layer 6 and the acoustic characteristic impedance of the second sound absorbing material layer 7b. The matching state of the acoustic characteristic impedance is enhanced.
  • the sound absorbing material layer 7a since the sound absorbing material layer 7a is provided for achieving acoustic matching between the second medium layer 6 and the sound absorbing material layer 7b, the sound absorbing material layer 7a has a lower damping constant than the medium layer 6. Is desirably large, but the damping constant is not necessarily larger than the damping constant of the medium layer 6.
  • the conductor layer 41 may be formed below the sound absorbing layer 7, as shown in FIG. Further, as shown in FIG. 20, a conductor layer 42 may be provided on the upper surface of the sound absorbing layer 7. As described above, in the present invention, a conductor layer may be provided on at least one of the upper surface and the lower surface of the sound absorbing layer. For example, when a filter is formed, a direct electromagnetic wave between the input and output terminals may be provided. Deterioration of the attenuation can be suppressed.
  • the conductor layers 41 and 42 are desirably formed in a region where the IDT or the reflector is provided and a region opposed to each other with the medium layer interposed therebetween. The effect of suppressing deterioration can be enhanced.
  • each of the conductor layers is connected to the ground potential by another wiring electrode. As a result, the effect of suppressing attenuation deterioration can be further enhanced.
  • the sound absorbing layer 7 is made of a resin-based adhesive or the like. It is desirable to use a resin material. However, if gas remains inside, cracks may occur during reflow soldering, or chip stress may change due to degassing over time, and frequency characteristics may change over time. To prevent this, it is desirable to deaerate in a vacuum in the step of forming the sound absorbing layer with a resin material, that is, for example, applying the sound absorbing layer at room temperature. In this case, the sound absorbing material layer may be cured by heating in a vacuum.
  • a wiring electrode may be formed on the upper surface of the second medium layer or the sound absorbing layer for routing.
  • a wiring electrode 52 is formed on the upper surface of the sound absorbing layer 7.
  • One end of the wiring electrode 52 Force is electrically connected to the IDT 3 via the through-hole electrode 53, the through-hole electrode 54, and the wiring electrode 55.
  • the through-hole electrode 53 is provided on the sound absorbing layer 7, and the through-hole electrode 54 is provided on the second medium layer 6.
  • the first medium layer 2 is made of a LiNbO substrate
  • the second medium layer 6 is made of SiO
  • the dielectric constant of the first medium layer 2 is relatively high and the dielectric constant of the second medium layer 6 is relatively low.
  • the first medium layer 2 is made of a glass substrate
  • the second medium layer 6 is made of a ZnO thin film
  • the sound absorbing layer 7 is made of a dielectric material having a low dielectric constant
  • the second medium layer 6 The dielectric constant of the sound absorbing layer 7 having a relatively high dielectric constant is relatively low.
  • the through-hole electrodes 53 and 54 for the connection between the layers.
  • the inside of the through-hole electrode 54 is hollow, the acoustic impedance difference between the hollow portion and the medium layer 6 increases, and the reflection coefficient in the through-hole portion increases. Therefore, depending on the position where the through-hole electrode 54 is formed, the boundary acoustic wave may be reflected or scattered, or resonance may occur.
  • the through hole electrode 54 is filled with an elastic body, thereby reducing the difference in acoustic impedance. It is desirable that the through-hole electrode 53 be similarly filled with an elastic body.
  • the inside of the force through-hole electrode 54 that is usually performed by photolithography is hollow, there is a possibility that a problem may occur due to resist coating or a vacuum in the wafer. Therefore, it is preferable to fill the inside of the through-hole electrodes 53 and 54 with an elastic body in order to prevent such a problem.
  • an elastic body such as Cu
  • the insides of the through-hole electrodes 53 and 54 are not filled with the elastic body, the external force also makes it easy for the gas to flow deep into the boundary acoustic wave device, and there is a possibility that the performance may deteriorate due to corrosive gas. .
  • the coefficient of thermal expansion and the elastic modulus between the elastic body and the second medium layer 6 of the boundary acoustic wave device are different. , Stress is generated, and cracks and the like are easily formed. Therefore, it may be vulnerable to invasion of corrosive gas from outside.
  • some layers of the boundary acoustic wave device are formed of an amorphous material such as SiO and a polycrystalline material such as ZnO,
  • Corrosive gas may enter the inside of the film and cause corrosion of the electrode.
  • the through-hole electrode 53 and the through-hole electrode 54 are formed by boundary acoustic waves. It is desirable that they are not continuous in the thickness direction in the apparatus.
  • the through-hole electrodes 53 and 54 are arranged at different positions when viewed in a plan view, and are connected by connection electrodes 56. Thereby, the penetration of corrosive gas into the deep part of the boundary acoustic wave device can be suppressed.
  • the interlayer connection using the through-hole electrodes has a high degree of freedom in wiring, so that the chip size of the boundary acoustic wave device can be reduced.
  • the boundary acoustic wave device When a single crystal material is used for the second medium layer or the like, it may be difficult to form a through hole. In other words, through reactive ion etching with Ar and CF mixed gas, etc.
  • One hole can be formed, but when the thickness of the medium layer of the boundary acoustic wave device is large, there is a problem that it is difficult to secure the verticality of the through-hole side wall and the processing time becomes longer. .
  • the punching may reduce the strength of the medium layer, or may cause chip breakage during mounting on a circuit board or due to a change in environmental temperature.
  • the boundary acoustic waves may be reflected or scattered at the through-holes, and problems due to corrosive gases may occur.
  • FIG. 22 is a schematic partially cutaway sectional view showing a modified boundary acoustic wave device in which a wiring electrode is formed on the outer surface.
  • IDT 63 and a reflector are formed on first medium layer 2.
  • a second medium layer 66 is laminated so as to cover the IDT 63 and the reflector.
  • a connection electrode 67 is formed so as to be connected to the IDT 63.
  • the connection electrode 67 is extended to the outer surface of the boundary acoustic wave device 61.
  • a third medium layer 68 is laminated on the upper surface of the second medium layer 66.
  • a wiring electrode 69 is formed at a boundary between the second medium layer 66 and the third medium layer 68. The wiring electrode 69 is also drawn out to the outer surface of the boundary acoustic wave device 61!
  • first and second medium layers 2 and 66 can be configured in the same manner as the first and second medium layers 2 and 6 of the boundary acoustic wave device of the first embodiment.
  • the third medium layer 68 is made of the same material as the second medium layer 66. That is, in the present embodiment, the layer above the boundary surface is formed by the laminated structure including the second medium layer 66 and the third medium layer 68. However, the third medium layer 68 may be made of a material different from that of the second medium layer 66.
  • the sound absorbing layer 7 is formed on the upper surface of the third medium layer 68.
  • the sound absorbing layer 7 can be made of the same material as the sound absorbing layer 7 in the first embodiment.
  • a wiring electrode 71 is formed at the interface between the third medium layer 68 and the sound absorbing layer 7.
  • the wiring electrode 71 is also drawn out to the outer surface of the boundary acoustic wave device 61!
  • a wiring electrode 72 is formed on the outer surface of the boundary acoustic wave device 61.
  • the wiring electrode 72 electrically connects the connection electrode 67 and the wiring electrodes 69 and 71 on the outer surface of the boundary acoustic wave device 61.
  • boundary acoustic wave device 61 external connection electrode 73 is formed on the upper surface of sound absorbing layer 7, and wiring electrode 72 is connected to external connection electrode 73. Also, in the boundary acoustic wave device 61, the outer surface of the structure in which the second medium layer 66, the third medium layer 68, and the sound absorbing layer 7 are laminated is the same except for the portion where the external connection electrode 73 is provided. It is covered with a protective film 74.
  • the protective film 74 can be made of an appropriate insulating resin, for example, an epoxy resin. By forming the protective film 74, environmental resistance characteristics such as moisture resistance of the boundary acoustic wave device 61 can be improved.
  • FIG. 23 is a perspective view schematically showing a structure of the boundary acoustic wave device 61 shown in FIG. 22, from which the protective film 74 and the external connection electrode 73 have been removed.
  • the second medium layer 66, the third medium layer 68, and the sound absorbing layer 7 are formed on the outer surface on which the wiring electrode 72 is provided.
  • the layers are stacked so as to have a step in each part.
  • the wiring electrode 72 of the second medium layer 66, the third medium layer 68, and the sound absorbing layer 7 is provided, and the outer surface partial force S is located closer to the center in this order.
  • the connection electrode 67 and the wirings 69 and 71 are led out to the step. Therefore, the wiring electrode 72 is securely and electrically connected to the connection electrode 67 and the wirings 69 and 71 with a large area.
  • boundary acoustic wave device 61 having the above-mentioned step portion, a large number of boundary acoustic wave devices 61 are formed at the wafer stage of the mother, and are subjected to photolithography, screen printing or plating.
  • the external connection electrodes 73 are collectively formed, the wiring electrodes 72 are formed, and then the mother wafer is divided into individual boundary acoustic wave devices 61. Therefore, interlayer connection can be performed efficiently and inexpensively.
  • FIG. 24 is a schematic front sectional view showing a boundary acoustic wave device according to still another embodiment of the present invention.
  • the first medium made of LiNbO is used.
  • the IDT 3 and the reflectors 4 and 5 are formed on the layer 2. Then, the second medium layer 6 is formed so as to cover the electrode structure including the IDT 3 and the reflectors 4 and 5. The second medium layer 6 And an SiO film.
  • the upper surface of the second medium layer 6 has a heat transfer coefficient having a smaller linear expansion coefficient than that of the LiNbO substrate.
  • a heat conductive material layer 82 having a large conductivity is laminated.
  • the heat conductive material layer 82 is formed of a diamond-like carbon thin film.
  • a sound absorbing layer 7 is laminated on the upper surface of the heat conductive material layer 82.
  • the sound absorbing layer 7 can be made of the same material as the sound absorbing layer 7 of the first embodiment.
  • an epoxy resin layer 83 is formed on the upper surface of the sound absorbing layer 7.
  • wiring electrodes 84 and 85 are formed on the upper surface of the epoxy resin layer 83.
  • a protective film 86 is formed so as to cover the wiring electrodes 84 and 85.
  • the epoxy resin layer 83, the wiring electrodes 84 and 85, and the protective film 86 are provided in the boundary acoustic wave device 81 so as to constitute a wiring circuit portion above.
  • the protective film 86 is made of a material such as epoxy resin, similar to the protective film 74 described above, and is provided to enhance moisture resistance and the like in an upper portion of the boundary acoustic wave device 81.
  • the boundary acoustic wave device 81 of the present embodiment since the heat conductive material layer 82 is provided on the upper surface of the second medium layer 6, the heat radiation effect is enhanced, and the temperature rise when a large amount of power is applied is reduced. It can be suppressed. Therefore, the power durability of the boundary acoustic wave device can be improved.
  • the heat conductive material layer 82 As a material forming the heat conductive material layer 82, an appropriate material having a smaller thermal expansion coefficient and a higher heat conductivity than the substrate material forming the first medium layer 2 as described above is used. You can use materials.
  • the amount of change in characteristics of the boundary acoustic wave device according to the present invention due to temperature change is determined by the amount of change in sound speed per unit temperature and the amount of change in substrate length in the propagation direction per unit temperature. You. Therefore, if the expansion and contraction of the substrate due to the temperature can be suppressed, the frequency fluctuation due to the temperature change can be reduced. Therefore, a linear expansion coefficient material layer having a linear expansion coefficient smaller than that of the first medium layer in the boundary acoustic wave propagation substrate is disposed between the first and second medium layers or the surface of the first or second medium layer. Just fine. Thereby, expansion and contraction of the first and Z or second medium layers can be suppressed, and a change in characteristics due to a change in temperature can be reduced. Low line as above As a material constituting the expansion coefficient material layer, for example, the above-mentioned diamond-like carbon thin film can be used.
  • the wiring electrodes 84 and 85 constitute a wiring circuit.
  • an inductance element, a capacitance element, a resistance element, a strip line, or a microstrip filter or a mixer formed of a stub or a strip line is used. You may comprise. That is, by forming such various electrodes and circuit element portions on the upper surface of the epoxy resin layer 83, it is possible to configure the boundary acoustic wave device 81 incorporating various matching circuits and the like. When such a circuit is incorporated, external circuits such as an impedance matching circuit and a modulation circuit can be omitted.
  • the circuit portion including the wiring electrodes 84 and 85 does not necessarily need to be formed on the upper surface of the epoxy resin layer 83.
  • the wiring electrodes, circuit elements, and external connection electrodes may be arranged so as to overlap the IDT or the reflector in the thickness direction. With this arrangement, the area of the boundary acoustic wave device chip can be reduced.
  • boundary acoustic wave device since the boundary acoustic wave propagates at the boundary between the first and second medium layers, even if it is not packaged in a case, the propagation characteristics are not significantly degraded. Therefore, when used for short-term use, packaging of boundary acoustic wave devices is not always necessary.
  • a protective film 74 shown in FIG. 22 is formed on the outer surface of the boundary acoustic wave device. It is desirable to do.
  • the protective film 74 is provided to enhance environmental resistance characteristics and moisture resistance. Therefore, it is desirable that the protective film be disposed so as to cover an electrode which is susceptible to corrosion such as an IDT or a reflector, or a place where a crack is easily formed around the through hole.
  • Electrode corrosion can be suppressed and moisture resistance can be increased.
  • the protective film may be composed of, for example, a structure in which a metal material layer and a synthetic resin layer are laminated, a synthetic resin layer, or a metal material layer.
  • a metal material layer for example, Au layer, Ni layer, A
  • a protective film can be formed by forming a metal material layer composed of one alloy layer or an Au layer, a Ni layer, and a ZA1N layer, and further covering the surface with a synthetic resin.
  • a protective film may be formed by forming a synthetic resin layer on a metal material layer formed by a thick film forming method.
  • FIG. 25 is a front sectional view of a boundary acoustic wave device according to still another embodiment of the present invention.
  • electrodes 91a and 91b are provided on the lower surface of the boundary acoustic wave device chip 91.
  • the boundary acoustic wave device chip 91 uses the surface acoustic waves described above. It is configured in the same way as the device, and is schematically shown in FIG.
  • Electrodes 91a, 91b Forces are joined to electrodes 93a, 93b on ceramic substrate 93 by bumps 92a, 92b made of Au.
  • the bumps 92a and 92b are bonded on the electrodes 91a and 91b by ultrasonic bonding.
  • the boundary acoustic wave 91 is covered with a protective film 94 made of resin.
  • the formation of the protective film 94 may be performed after the boundary acoustic wave device chip 91 is mounted on the ceramic substrate 93.
  • the protection film 94 can also be expected to reduce the stress applied from the ceramic substrate 93 to the boundary acoustic wave device chip.
  • the ceramic substrate 93 is made of a harder material than the boundary acoustic wave device chip 91. More specifically, it is made of a harder material than the laminated structure of the medium layer and the dielectric layer constituting the boundary acoustic wave device chip 91.
  • the electrodes 93a and 93b are electrically connected to terminals 93c and 93d provided on the lower surface.
  • the electrode 93a extends to the lower surface via the side surface of the substrate 93, and is electrically connected to the external terminal 93c on the lower surface.
  • the electrode 93b is connected to the external terminal 93d on the lower surface by a through-hole electrode 93e.
  • the connection between the external terminal on the lower surface of the substrate 93 and the electrode on the upper surface may be performed using a through-hole electrode.
  • the boundary acoustic wave device chip 91 is joined to the ceramic substrate 93 by using the bumps 92a and 92b that also generate Au force.
  • the boundary acoustic wave device 90 can be surface-mounted on a printed circuit board or the like using the external terminals 93c and 93d.
  • the stress from the printed circuit board is received by the ceramic substrate 93, and the transmission of the stress to the boundary acoustic wave device chip 91 is suppressed. Therefore, the frequency characteristic of the boundary acoustic wave device chip 91 is deteriorated 1 and the chip is hardly cracked.
  • the electrodes 91a and 91b can be made of, for example, an appropriate metal such as Au, Ni, and A1, and are formed by stacking a plurality of electrode layers made of these metals. You can.
  • FIG. 26 is a front sectional view of a boundary acoustic wave device according to still another embodiment of the present invention.
  • the external terminals 98a and 98b are joined to the electrodes 91a and 91b on the lower surface of the boundary acoustic wave device chip 91 via the conductive pastes 97a and 97b, and that the conductive pastes 97a and 97b are In the provided portion, a reinforcing resin layer 99 is provided.
  • the conductive pastes 97a and 97b have a configuration in which conductive powder is added to a resin-based adhesive. Therefore, it is relatively soft even after curing. Therefore, when the external terminals 98a and 98b are mounted on a printed circuit board or the like, the stress transmitted from the printed circuit board is reduced in the conductive bases 97a and 97b. That is, the conductive pastes 97a and 97b function as stress relaxation layers. Therefore, deterioration and cracking of the characteristics of the boundary acoustic wave device chip 91 hardly occur.
  • the reinforcing resin layer 99 is not necessarily provided when the conductive bases 97a and 97b have sufficient strength after curing and have a stress relaxation function.
  • the reinforcing resin layer 99 can be made of, for example, an epoxy adhesive.
  • the boundary acoustic wave device since the boundary acoustic wave propagates on the boundary between the first and second medium layers, the mode of the boundary wave may reach the chip surface. rare. Therefore, it is not necessary to form a cavity during knocking. In other words, in the boundary acoustic wave device and the piezoelectric filter, the packaging must be configured so as to have a gap for preventing vibration. On the other hand, in the boundary acoustic wave device according to the present invention, since the formation of a gap is not necessary, the size can be reduced even when knocking is performed.
  • FIGS. 27 (a) and 27 (g) are front sectional views showing an example of a method for manufacturing a boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • a mother wafer 101 is prepared.
  • the wafer 101 is composed of a 34-inch LiNbO substrate, and is used for forming a first medium layer. Is intended.
  • an electrode structure including IDT 102, reflectors 103 and 104, and wiring electrodes 105 and 106 is formed.
  • the electrode structure can be formed by an appropriate method such as photolithography-lift-off method.
  • the second medium layer 107 is formed so as to cover the electrode structure.
  • the second medium layer 107 is formed by forming an SiO thin film by sputtering.
  • the second medium layer 107 is etched so as to expose the wiring electrodes 105 and 106, which are external connection portions, as shown in FIG. 27 (c).
  • connection electrode 108 is formed so as to be electrically connected to the wiring electrode 106 as shown in FIG.
  • the connection electrode 108 is formed so as to reach the upper surface 107a of the second medium layer 107.
  • the photosensitive resin After pressing, the photosensitive resin is spin-coated to form the sound absorbing layer 109.
  • a SiN film 110 is formed as a protective film by sputtering.
  • openings 111 and 112 for exposing the wiring electrode 105 and the wiring electrode 108 are formed by photolithographic etching as shown in FIG. 27 (e).
  • External terminals 113 and 114 are provided in the openings 111 and 112 by screen printing. The external terminals 113 and 114 are electrically connected to the wiring electrode 105 and the connection electrode 108.
  • a large number of mother wafers 101 are provided. Then, as shown in FIG. 27 (g), by dividing the mother wafer 101, a large number of boundary acoustic wave devices 115 can be obtained.
  • the sound absorbing layer 109 is formed collectively at the stage of the mother wafer 101 as described above. Therefore, in many boundary acoustic wave devices 115, it is possible to reduce the variation of the sound absorbing layer 109. Further, since the sound absorbing layer 109 is formed using a photosensitive resin, the patterning of the sound absorbing layer 109 can be performed with high precision and easily. Further, by forming the SiN film 110 as a protective film, a boundary acoustic wave device having excellent moisture resistance can be provided.
  • FIGS. 28 (a) to 28 (f) are front cross-sectional views illustrating another embodiment of the method for manufacturing a boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • the present embodiment is the same as the manufacturing method shown in FIG. 27, except that the step of forming the second medium layer 107 is different. That is, as shown in FIG. 28A, an electrode structure similar to that of FIG. 27A is formed on the wafer 101. Then, a thin film constituting the second medium layer 107 is formed on the wafer 101 by a sputtering method so as to cover the above-mentioned electrode structure except for the portion where the external terminals are formed, while masking the sputter particles. I do. In this way, the second medium layer 107 patterned so as to provide openings corresponding to the openings 111 and 112 (FIG. 27 (e)).
  • the second medium layer 107 is provided with external terminals as described above. It can be formed with a high degree of accuracy so as to have an opening.
  • FIG. 29 (a)-(h) is a front sectional view for explaining still another embodiment of the method for manufacturing the boundary acoustic wave device of the present invention.
  • the fourth medium layer 121 is formed on the mother wafer 101 (FIG. 29A). Next, the fourth medium layer 121 is patterned. As shown in FIG. 29 (b), in the puttered fourth medium layer 121A, a portion where an electrode structure described later is formed is an opening.
  • the electrode structure was subjected to photolithography so that the opening had the same force as the depth of the opening and a thickness slightly smaller than the depth of the opening. It is formed by a method.
  • an IDT 102, reflectors 103 and 104, and wiring electrodes 105 and 106 are formed.
  • the second medium layer 107 shown in FIG. 29 (c) is formed.
  • the second medium layer is made of the same material as the fourth medium layer, but may be made of another material.
  • a third medium layer 122 is formed on the second medium layer 107.
  • a sound absorbing layer 123 is formed on the third medium layer 122.
  • the third medium layer 122 is composed of a substrate made of single-crystal Si. By bonding the substrate to the second medium layer 107, the structure shown in Fig. 29 (d) is obtained. Has been.
  • the sound absorbing layer 123 made of a photosensitive resin is etched by a photolithography method to form openings 124 and 125 shown in FIG. 29 (f).
  • the openings 124 and 125 are provided so as to expose the wiring electrodes 105 and 106.
  • the external connection terminals 126 and 127 are provided in the openings 124 and 125.
  • Figs. 30 (a) and 1 (f) are cross-sectional views for explaining still another manufacturing method of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • steps similar to the steps shown in FIGS. 27 (a) and (c) are performed as shown in FIGS. 30 (a) and (c).
  • a plurality of boundary acoustic wave devices IDT 102, reflectors 103 and 104, and wiring electrodes 105 and 106 were formed on the mother wafer 101, and the second medium layer 107 was patterned. Formed in a state.
  • each boundary acoustic wave device is divided by dicing.
  • the external connection terminals 132 and 133 and the sound absorbing layer 134 are provided at each boundary acoustic wave chip stage in order to obtain the boundary acoustic wave device 131 shown in FIG. 30 (f).
  • each acoustic boundary wave device is made of an epoxy resin whose composition is adjusted so that the sound speed of the shear wave is lower than the sound speed of the shear wave in the second medium layer. Are formed so as to remove the exposed portions of the external connection terminals 132 and 133. That is, the sound absorbing layer 134 is provided by a resin molding method.
  • Fig. 31 is a front sectional view for explaining still another modification of the boundary acoustic wave device according to the present invention.
  • a second sound absorbing layer 151 is provided on the lower surface of the first medium layer 2.
  • Other structures are the same as those of the boundary acoustic wave device 1 shown in FIG. As described above, the sound absorbing layer may be provided not only on the surface opposite to the boundary surface of the second medium layer but also on the surface opposite to the boundary surface of the first medium layer.
  • the sound absorbing layer may be provided only on the surface of the first medium layer, not on the surface of the second medium layer.

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Abstract

 所望でないスプリアスを効果的に抑圧することができ、良好な共振特性やフィルタ特性を得ることを可能とするSHタイプの弾性境界波を利用した弾性境界波装置を提供する。  第1の媒質層2と、第1の媒質層2に積層された第2の媒質層6との境界に、インターデジタル電極3、反射器4,5を含む電極が形成されており、第1の媒質層2及び/または第2の媒質層6の境界面とは反対側の面に吸音層7が設けられている、弾性境界波装置1。

Description

明 細 書
弾性境界波装置
技術分野
[0001] 本発明は、 SHタイプの弾性境界波を利用した弾性境界波装置に関し、より詳細に は、圧電体と、誘電体との境界に電極が配置された構造の弾性境界波装置に関する
背景技術
[0002] 従来、携帯電話用の RFフィルタ及び IFフィルタ、並びに VCO用共振子及びテレビ ジョン用 VIFフィルタなどに、各種弾性表面波装置が用いられている。弾性表面波装 置は、媒質表面を伝搬するレイリー波や第 1漏洩波などの弾性表面波を利用してい る。
[0003] 弾性表面波は、媒質表面を伝搬するため、媒質の表面状態の変化に敏感である。
従って、媒質の弾性表面波伝搬面を保護するために、該伝搬面に臨む空洞を設け たパッケージに弾性表面波素子が気密封止されていた。このような空洞を有するパッ ケージが用いられていたため、弹¾表面波装置のコストは高くならざるを得な力つた。 また、パッケージの寸法は、弾性表面波素子の寸法よりも大幅に大きくなるため、弾 性表面波装置は大きくならざるを得な力つた。
[0004] 他方、弾性波の中には、上記弾性表面波以外に、固体間の境界を伝搬する弾性 境界波が存在する。
[0005] このような弾性境界波を利用した弾性境界波装置の一例が下記の非特許文献 1に 開示されている。従来の弾性境界波装置の構造を図 32を参照して説明する。
[0006] 弾性境界波装置 201は、第 1の媒質層 202と、第 2の媒質層 203との間の境界に電 極 204を配置した構造を有する。ここでは、電極 204に交流電界を印加することによ り、媒質層 202と媒質層 203との境界面や境界面付近にエネルギーが集中しつつ伝 播する弾性境界波が励振される。非特許文献 1では、 126° 回転 Y板 X伝搬の LiTa O基板上に IDTが形成されており、 IDTと LiTaO基板上に SiO膜が所定の厚みに
3 3 2
形成されている弾性境界波装置が開示されている。ここでは、ストンリ一波と称されて いる SV+P型の弾性境界波が伝搬することが示されている。なお、非特許文献 1で は、上記 SiO膜の膜厚を 1. Ο λ ( λは弾性境界波の波長)とした場合、電気機械結
2
合係数は 2%になることが示されている。
[0007] 弾性境界波は、固体間の境界部分にエネルギーが集中した状態で伝搬する。従つ て、上記 LiTaO基板の底面及び SiO膜の表面にはエネルギーがほとんど存在しな
3 2
いため、基板や薄膜の表面状態の変化により特性が変化しない。従って、空洞形成 ノ ッケージを省略することができ、弾性波装置のサイズを低減することができる。
[0008] また、下記の非特許文献 2には、 [001]-Si (110) /SiO ZYカット X伝搬 LiNbO
2 3 構造を伝搬する SH型境界波が示されている。この SH型境界波は、上記ストンリ一波 と比べて、電気機械結合係数 k2が大きいという特徴を有する。また、 SH型境界波に おいても、ストンリ一波の場合と同様に、空洞形成パッケージを省略することができる 。さらに、 SH型境界波は、 SH型の波動であるため、 IDTや反射器を構成するストリツ プの反射係数がストンリ一波の場合に比べて大きいことが予想される。従って、例え ば共振子や共振器型フィルタを構成した場合、 SH型境界波を利用することにより、 小型化を図ることができ、かつより急峻な特性の得られることが期待される。
非特干文献 1:「Piezoelectric Acoustic Boundary Waves Propagating Along thelnterface Between Si02 and LiTa03」IEEE Trans. Sonics
andultrason.,VOL.SU-25,No.6, 1978 IEEE
非特許文献 2 :「Si/Si02/LiNb03構造を伝搬する高圧電性境界波」(第 26回 EMシン ポジゥム, H9年 5月 , pp53-58)
発明の開示
[0009] 弾性境界波装置では、第 1,第 2の媒質層間の境界及び境界付近にエネルギーが 集中して伝搬する弾性境界波が用いられている。この場合、第 1の媒質層及び第 2の 媒質層の厚みは無限大であることが望ましい。しかしながら、実際の弾性境界波装置 では、第 1,第 2の媒質層の厚みは有限である。
[0010] そして、上述した非特許文献 1や非特許文献 2に記載の内容に従って弾性境界波 装置を構成した場合、共振特性やフィルタ特性に所望でな!ヽスプリアスが生じると!ヽ う問題があった。すなわち、弾性境界波共振子を構成した場合には、共振周波数より も高周波側に無視できない複数のスプリアス応答が発生しがちであった。また、従来 の弾性境界波共振子を複数個組み合わせて構成されたフィルタ、例えばラダー型フ ィルタなどでは、通過帯域よりも高周波側に複数のスプリアスが発生し、帯域外減衰 量が劣化すると ヽぅ問題があった。
[0011] これを、図 33—図 36を参照して説明する。第 1の媒質層としての 15° Yカット X伝 搬の LiNbO基板上に、 0. 05えの膜厚となるように Au力もなる電極を形成し、さらに
3
、第 2の媒質層として、厚さ 2えの厚みとなるように SiO膜を RFマグネトロンスパッタに
2
よりウェハー加熱温度 200°Cで成膜した。このようにして、弾性境界波共振子を構成 した。なお、形成した電極 204は、図 33〖こ示すよう〖こ、 IDT204Aと、反射器 204B, 204Cとを有する。このようにして構成された弾性境界波共振子のインピーダンス一周 波数特性及び位相 周波数特性を図 34に示す。図 34に矢印 A1— A3で示すように 、反共振周波数よりも高域側に大きな複数のスプリアスが現れていた。
[0012] また、上記と同様にして構成された複数の弾性境界波共振子を用いて図 35に示す ラダー型回路を構成し、このようにして得られたラダー型フィルタの周波数特性を測 定した。結果を図 36に示す。なお、図 35の並列腕共振子 PI, P3は、 IDTの電極指 の対数を 50. 5対及び開口長を 30えとして構成した。また、直列腕共振子 SI, S2は 、並列腕共振子 PI, P3を構成するのに用いた弾性境界波共振子 2個を直列接続す ることによりそれぞれ構成した。並列腕共振子 P2は、 IDTの電極指の対数を 100. 5 対、開口長を 30 λとして構成した。また、並列腕共振子 P1— Ρ3の IDT及び反射器 における λは 3. 0 /ζ mとし、直列腕共振子における λは、並列腕共振子 P1の反共 振周波数と並列腕共振子の共振周波数が重なるように配置した。 IDT及び反射器の デューティ比をいずれも 0. 58、電極は Auにより構成し、その膜厚は 0. 05え、 SiO
2 膜の膜厚は 2. 5えとした。
[0013] 図 36から明らかなように、矢印 B1— B3などで示す複数の大きなスプリアスが通過 帯域よりも高域側に現れていることがわかる。
[0014] 本発明の目的は、上述した従来技術の現状に鑑み、共振周波数や通過帯域よりも 高域側における複数のスプリアス応答を効果的に抑圧することが可能とされており、 良好な周波数特性を有する弾性境界波装置を提供することにある。 [0015] 本発明は、第 1の媒質層と第 2の媒質層との境界を伝搬する弾性境界波を利用し た弾性境界波装置であって、第 1の媒質層と、前記第 1の媒質層に積層された第 2の 媒質層と、前記第 1,第 2の媒質層の境界に設けられた電極とを備え、前記第 1及び Zまたは第 2の媒質層の境界面とは反対側の面にスプリアスとなるモードを減衰させ る吸音層をさらに備えることを特徴とする。
[0016] 本発明に係る弾性境界波装置のある特定の局面では、前記吸音層における横波 の音速が、前記吸音層が積層されている第 1及び Zまたは第 2の媒質層の横波の音 速よりも低速である。
[0017] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、前記吸音層における 縦波の音速が、前記吸音層が積層されている第 1及び Zまたは第 2の媒質層におけ る縦波の音速よりも低速である。
[0018] 本発明に係る弾性境界波装置では、好ましくは、前記吸音層の横波の音速が、前 記吸音層が積層されている第 1及び Zまたは第 2の媒質層における横波の音速の 0
. 13倍以上、 1. 23倍以下の範囲にある。
[0019] 本発明に係る弾性境界波装置では、より好ましくは、前記吸音層における音響イン ピーダンスが、前記吸音層が積層されている第 1及び Zまたは第 2の媒質層の音響 インピーダンスの 0. 20倍一 5. 30倍の範囲にある。
[0020] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、前記吸音層が、前記 第 1及び Zまたは第 2の媒質層と同種の材料を用いて構成されている。
[0021] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、前記吸音層の外側 に、該吸音層よりも弾性波の減衰定数力 、さい低減衰定数層が設けられている。
[0022] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、前記吸音層が、榭脂
、ガラス、セラミックス及び金属力 なる群力 選択された少なくとも 1種により構成され ている。
[0023] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、前記吸音層が、フィ ラーが含有されて 、る榭脂により構成されて 、る。
[0024] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、前記吸音層が、前記 第 1及び Zまたは第 2の媒質層の表面において、前記境界における弾性境界波伝 搬路に対向する部分に設けられて!/、る。
[0025] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、前記吸音層の少なく とも片面に、導体層が積層されている。
[0026] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、前記境界に設けられ た前記電極に電気的に接続されており、かつ前記第 1及び Zまたは第 2の媒質層を 貫通するように設けられたスルーホール電極と、該スルーホール電極に接続されて おり、かつ弾性境界波装置の外表面に設けられた外部電極とがさらに備えられてい る。
[0027] 本発明に係る弾性境界波装置では、好ましくは、スルーホール電極内に弾性体が 充填されている。
[0028] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、第 1の媒質層に設け られたスルーホール電極と、第 2の媒質層に設けられたスルーホール電極とを有し、 該第 1の媒質層に設けられたスルーホール電極と、第 2の媒質層に設けられたスル 一ホール電極とが連続しな!、ように形成されて!、る。
[0029] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、前記境界に設けられ た電極に電気的に接続されており、かつ弾性境界波装置の外表面に設けられた配 線電極がさらに備えられて!/、る。
[0030] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、前記弾性境界波装 置が前記境界と交叉する側面に段差部を有し、前記境界に設けられた電極に接続さ れており、かつ該段差部に引き出されている接続電極とをさらに備え、前記配線電極 が該段差部〖こ至るように形成されており、段差部にお ヽて前記接続電極と接続され ている。
[0031] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、第 1の媒質層と第 2 の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の外側表面の少なくと も 1つに、前記境界面と平行な方向の線膨張係数が第 1,第 2の媒質層よりも低い第 3の材料層が設けられている。なお、媒質層の「外側表面」とは、境界面とは反対側 の面をいうものとする。
[0032] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、第 1の媒質層と第 2 の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の外側表面の少なくと も 1つに、前記境界面と平行な方向の線膨張係数の符号が第 1,第 2の媒質層の線 膨張係数の符号と異なる第 3の材料層が設けられている。
[0033] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、第 1の媒質層と第 2 の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の外側表面の少なくと も 1つに、前記第 1,第 2の媒質層よりも熱伝導率が高い第 4の材料層が設けられて いる。
[0034] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、前記境界または第 1 ,第 2の媒質層の外側表面にインピーダンス整合回路が構成されている。
[0035] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、第 2の媒質層の厚み が 0. 5 λ以上であり、吸音層の厚みが 1. Ο λ以上である。
[0036] 本発明に係る弾性境界波装置では、好ましくは、吸音層が積層構造を有する。
[0037] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに別の特定の局面では、吸音層が複数の吸 音材料層を積層してなる積層構造を有し、第 2の媒質層に近 ヽ側の吸音材料層の音 響特性インピーダンスが、該吸音材料層よりも第 2の媒質層カゝら隔てられた吸音材料 層の音響インピーダンスと、第 2の媒質層の音響インピーダンスとの間の中間の値を 有する。
[0038] 本発明に係る弾性境界波装置の他の特定の局面では、実装側の面にバンプを介 して接合されており、かつ第 1,第 2の媒質層及び吸音層を有する構造部分よりも固 い材料力 なる実装用基板をさらに備え、該実装用基板を用いて実装されるように構 成されている。
[0039] 本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の特定の局面では、実装側の面に設けら れた応力緩衝体がさらに備えられる。
[0040] 本発明に係る弾性境界波装置の製造方法は、第 1の媒質層上に電極を形成する 工程と、該電極を覆うように第 2の媒質層を形成する工程と、前記第 1の媒質層及び
Ζまたは第 2の媒質層の前記境界面とは反対側の面に吸音層を形成する工程とを 備える。
[0041] 本発明に係る弾性境界波装置の製造方法のある特定の局面では、前記吸音層を 形成する工程にお!ヽて、吸音層内のガスを脱気する工程が含まれる。
[0042] 本発明に係る弾性境界波装置の製造方法のさらに別の特定の局面では、前記弾 性境界波装置の製造方法が、複数の弾性境界波装置を連結してなるマザ一の状態 で行われ、前記吸音層を形成した後に、個々の弾性境界波装置単位に分割される。
[0043] 本発明に係る弾性境界波装置の製造方法のさらに他の特定の局面では、前記吸 音層を形成する工程までの工程がマザ一の状態で行われ、個々の弾性境界波装置 に分割された後に前記吸音層を形成する工程が行われる。
[0044] 本発明に係る弾性境界波装置では、第 1の媒質層の第 2の媒質層の境界に電極が 設けられており、さらに第 1及び Zまたは第 2の媒質層の境界面とは反対側の面であ る外側面にスプリアスとなるモードを減衰させる吸音層が備えられている。従って、後 述の実験例から明らかなように、吸音層の存在により、共振周波数よりも高域側や通 過帯域の高域側における複数のスプリアス応答を効果的に抑圧することができる。従 つて、共振特性やフィルタ特性の良好な弾性境界波装置を提供することが可能とな る。
[0045] 吸音層における横波の音速が、吸音層が積層されている第 1及び Zまたは第 2の 媒質層の横波の音速よりも低速である場合には、横波によるスプリァス応答を効果的 に抑圧することができる。
[0046] 吸音層における縦波の音速が、吸音層が積層されている第 1及び Zまたは第 2の 媒質層における縦波の音速よりも低速である場合には、縦波による所望でないスプリ ァス応答を効果的に抑圧することができる。
[0047] 特に、吸音層の横波の音速が、吸音層が積層されている第 1及び Zまたは第 2の 媒質層における横波の音速の 0. 13倍以上、 1. 23倍以下の範囲にある場合には、 横波による所望でないスプリアス応答を効果的に抑圧することができる。
[0048] また、吸音層における音響インピーダンスが、第 1及び Zまたは第 2の媒質層の音 響インピーダンスの 0. 2-5. 3倍の範囲にある場合には、上記所望でない複数のス プリアス応答を効果的に抑圧することができる。
[0049] 吸音層が第 1及び Zまたは第 2の媒質層と同種の材料を用いて構成されている場 合には、吸音層を第 1及び Zまたは第 2の媒質層と同様の工程で製造することができ る。
[0050] また、吸音層の外側に、該吸音層よりも減衰定数が小さい低減衰定数層が設けら れている場合には、減衰定数の小さい膜が緻密性に優れていることが多いため、耐 湿性能を向上することができる。従って、吸音層やその下の層を効果的に保護するこ とがでさる。
[0051] 本発明においては、吸音層は様々な材料で構成されるが、榭脂、ガラス、セラミック ス及び金属からなる群力 選択された少なくとも 1種により構成されている場合には、 十分な吸音性をもつものを有し、かつ比較的硬いため、所望でないスプリアスを効果 的に抑圧することができ、かつ強度に優れた弾性境界波装置を提供することができる 。上記吸音層は単一材料で形成される必要は必ずしもない。また、榭脂材料は減衰 定数の大きい材料が多ぐ炭素やシリカ、タングステンなどのセラミックスや金属等を フイラ一として加えることにより、様々な音速や音響特性インピーダンスをもつ吸音媒 質を構成することができる。例えば、エポキシ系榭脂などの榭脂材料に、上記のよう なフイラ一を含有させることにより、音速や音響特性インピーダンスを調整し得るだけ でなぐ弾性波を散乱させることにより、減衰定数の増大効果を得ることもできる。
[0052] 吸音層が、第 1及び Zまたは第 2の媒質層の表面において、境界における弾性境 界波伝搬路と対向する部分に設けられている場合には、吸音層の存在により、所望 でな 、スプリアスを効果的に抑圧することができる。
[0053] 吸音層の少なくとも片面に導体層が積層されている場合には、導体層により電磁シ 一ルド機能を果たすことができる。
[0054] 境界に設けられた電極に電気的に接続されており、第 1及び Zまたは第 2の媒質層 を貫通するように設けられたスルーホール電極と、該スルーホール電極に接続されて おり、かつ弾性境界波装置の外表面に設けられた外部電極とをさらに備える場合に は、弾性境界波装置をスルーホール電極を用いて電気的に接続することができるの で、弾性境界波装置の小型化を図ることができる。
[0055] スルーホール電極内に弾性体が充填されている場合には、空洞を有しないので、 媒質層との音響インピーダンス差を小さくすることができる。従って、弾性境界波の所 望でない反射や散乱を抑制できる。また、腐食性ガスの侵入を抑制することもできる [0056] 第 1の媒質層に設けられたスルーホール電極と、第 2の媒質層に設けられたスルー ホール電極とを有し、第 1の媒質層に設けられたスルーホール電極と、第 2の媒質層 に設けられたスルーホール電極とが厚み方向に重ならな ヽように形成されて ヽる場 合には、腐食性ガス等の内部への侵入を抑制することができる。
[0057] 境界に設けられた電極に電気的に接続されており、かつ弾性境界波装置の外表面 に設けられた配線電極をさらに備える場合には、外部表面を利用して弾性境界波装 置の電極を外部に取り出すことができる。
[0058] 弾性境界波装置は、境界と交差する側面に段差部を有し、該段差部において、外 表面に形成された配線電極が接続電極に接続されている場合には、電気的接続の 信頼性を高めることができる。
[0059] 第 1の媒質層と第 2の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の 外側表面の少なくとも 1つに、境界面と平行な方向の線膨張係数が第 1,第 2の媒質 層よりも低い第 3の材料層が設けられている場合には、温度変化による反りなどの外 形の歪みを抑制できるとともに、フィルタの場合には中心周波数、共振子の場合には 共振周波数などの周波数特性の温度特性を改善できる。
[0060] 第 1の媒質層と第 2の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の 外側表面の少なくとも 1つに、境界面と平行な方向の線膨張係数の符号が第 1,第 2 の媒質層の線膨張係数の符号と異なる第 3の材料層が設けられている場合には、さ らに温度変化による反りなどの外形の歪みを抑制できるとともに、フィルタの場合には 中心周波数、共振子の場合には共振周波数などの周波数特性の温度特性を改善 できる。
[0061] 第 1の媒質層と第 2の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の 外側表面の少なくとも 1つに、第 1,第 2の媒質層よりも熱伝導率が高い第 4の材料層 が配置されている場合には、放熱性が高められ、大電力印加時の温度上昇が抑制 でき、耐電力性能が改善する。
[0062] 境界または第 1,第 2の媒質層の表面に、インピーダンス整合回路が構成されてい る場合には、弾性境界波装置にインピーダンス整合回路を内蔵させることができる。 [0063] 第 2の媒質層の厚みは 0. 5 λ以上であり、吸音層の厚みは 1. Ο λ以上である場合 には、本発明に従って、所望でないスプリアス応答をより効果的に抑圧することがで きる。
[0064] 吸音層が積層構造を有する場合には、吸音層を構成する各層の厚み及び材料を 選択することにより、所望とする性能を有する吸音層を容易に構成することができる。
[0065] 吸音層が複数の材料層を有する積層構造を有し、第 2の媒質層に近い側の吸音材 料層の音響特性インピーダンスが、該吸音材料層よりも第 2の媒質層から隔てられた 吸音材料層の音響インピーダンスと、第 2の媒質層の音響インピーダンスとの中間の 値を有する場合には、第 2の媒質層と、外側の吸音材料層との音響インピーダンスの 整合性を高めることができる。
[0066] 本発明に係る弾性境界波装置において、実装側の面にバンプを介して実装用基 板が接合されており、該実装用基板が第 1,第 2の媒質層及び吸音層を有する構造 部分よりも固い材料力もなる場合には、該実装用基板を用いてプリント回路基板など により本発明に係る弾性境界波装置を容易に実装することができる。この場合、実装 用基板が相対的に高い強度を有するため、プリント基板などに半田により実装された としても、プリント回路基板側力もの応力が弾性境界波チップ側に加わることを抑制 することができる。従って、例えばプリント回路基板が曲がったりした場合であっても、 弾性境界波装置の周波数特性の劣化や割れを抑制することができる。
[0067] また、弾性境界波装置と実装基板との間に応力緩衝体が設けられている場合には 、該応力緩衝体によって、実装構造が固定されるプリント基板の曲げ等による応力の 境界波チップへの伝達が抑制されるので、境界波チップが曲がらず、周波数特性の 劣化やチップの割れが防げる。
[0068] 本発明に係る弾性境界波装置の製造方法では、第 1の媒質層上に電極を形成す る工程と、該電極を覆うように第 2の媒質層を形成する工程と、第 1の媒質層及び Ζま たは第 2の媒質層の境界面とは反対側の面に吸音層を形成する工程とを備えるため 、本発明に係る弾性境界波装置を提供することができる。
[0069] 吸音層を形成する工程にぉ 、て、吸音層内のガスを脱気する工程が含まれて!/、る 場合には、経時による周波数特性の変化を抑制とすることができる。 [0070] 本発明の製造方法において、複数の弾性境界波装置を連結してなるマザ一の状 態で吸音層形成までの製造工程が行われ、吸音層を形成した後に、個々の弾性境 界波装置単位に分割される場合には、本発明の弾性境界波装置を効率良く製造す ることができる。また、吸音層を形成する前までの工程がマザ一の状態で行われ、個 々の弾性境界波装置に分割された後に吸音層を形成する工程が行われる場合には 、外部端子を除くチップ全体を吸音層で覆うことができるので、境界波装置の耐環境 特性を高めることができる。
図面の簡単な説明
[0071] [図 1]図 1 (a)及び (b)は、本発明の一実施形態に係る弾性境界波装置の正面断面 図及び模式的斜視図である。
[図 2]図 2は、 SiO /Au/LiNbO構造において、 Auの厚みを 0. 05 λ、 SiO膜の
2 3 2 厚みを 1. 5 λとした時のメインモードである弾性境界波の変位分布を示す図である。
[図 3]図 3 (a)及び (b)は、図 2と同じ条件における各スプリアスモードの変位分布を示 す図である。
[図 4]図 4 (a)及び (b)は、図 2と同じ条件における各スプリアスモードの変位分布を示 す図である。
[図 5]図 5 (a)及び (b)は、図 2と同じ条件における各スプリアスモードの変位分布を示 す図である。
[図 6]図 6 (a)及び (b)は、図 2と同じ条件における各スプリアスモードの変位分布を示 す図である。
[図 7]図 7は、図 2に示した場合と同一条件におけるその他のスプリアスモードの変位 分布を示す図である。
[図 8]図 8は、図 1に示した弾性境界波装置のインピーダンス 周波数特性及び位相 -周波数特性を示す図である。
[図 9]図 9 (a)及び (b)は、吸音層の密度 pが変化した場合の SH型境界波、ストンリ 一波及び様々なスプリアスモードの音速の変化及び減衰定数の変化を示す各図で ある。
[図 10]図 10 (a)及び (b)は、吸音層の横波音速 Vsが変化した場合の SH型境界波、 ストンリー波及び様々なスプリアスモードの音速の変化及び減衰定数の変化を示す 各図である。
[図 11]図 11 (a)及び (b)は、吸音層の音響特性インピーダンス Zsを固定した条件で 吸音層の横波音速 Vsを変化させた場合の SH型の弾性境界波、ストンリー波及び様 々なスプリアスモードの音速の変化及び減衰定数の変化を示す各図である。
圆 12]図 12 (a)及び (b)は、吸音層の横波音速を固定した条件で、吸音層の音響特 性インピーダンス Zsが変化した場合の SH型境界波、ストンリー波及び様々なスプリ ァスモードの音速の変化及び減衰定数の変化を示す各図である。
[図 13]図 13は、 SiO膜の膜厚を変化させた場合の横波音速の比と、スプリアスモー
2
ドのインピーダンス比との関係を示す図である。
[図 14]図 14は、 SiO膜の膜厚を変化させた場合の音響インピーダンスの比と、スプリ
2
ァスモードのインピーダンス比との関係を示す図である。
[図 15]図 15は、本実施形態の弾性境界波共振子のインピーダンス及び位相一周波 数特性を示す図である。
圆 16]図 16、本発明の実施形態に係る弾性境界波フィルタの減衰量-周波数特性 を示す図である。
[図 17]図 17は、本発明に係る弾性境界波装置の変形例を示す部分切欠正面断面 図である。
[図 18]図 18は、本発明に係る弾性境界波装置の他の変形例を示す部分切欠正面 断面図である。
[図 19]図 19は、本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の変形例を示す部分切欠 正面断面図である。
[図 20]図 20は、本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の変形例を示す部分切欠 正面断面図である。
[図 21]図 21は、本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の実施形態を説明するた めの部分切欠正面断面図である。
[図 22]図 22は、本発明に係る弾性境界波装置の他の実施形態を説明するための部 分切欠正面断面図である。 [図 23]図 23は、図 22に示した弾性境界波装置の要部を示す斜視図である。
[図 24]図 24は、本発明の弾性境界波装置のさらに別の実施形態を示す正面断面図 である。
[図 25]図 25は、本発明の弾性境界波装置のさらに他の実施形態を示す正面断面図 である。
[図 26]図 26は、本発明の弾性境界波装置のさらに別の実施形態を示す正面断面図 である。
[図 27]図 27は、(a)— (g)は、本発明の弾性境界波装置の製造方法の一例を説明 するための正面断面図である。
[図 28]図 28 (a)一 (f)は、本発明の弾性境界波装置の製造方法の他の例を説明する ための各正面断面図である。
[図 29]図 29 (a)一 (h)は、本発明の弾性境界波装置の製造方法のさらに他の例を説 明するための正面断面図である。
[図 30]図 30 (a)一 (f)は、本発明の弾性境界波装置の製造方法のさらに別の例を説 明するための各正面断面図である。
[図 31]図 31は、本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の実施形態を説明するた めの部分切欠正面断面図である。
[図 32]図 32は、従来の弾性境界波装置を説明するための正面断面図である。
[図 33]図 33は、従来の弾性境界波装置として形成した 1ポート型弾性境界波共振子 の電極構造を模式的平面図である。
[図 34]図 34は、従来の弾性境界波装置のインピーダンス 周波数特性上に現れるス プリアスモードを説明するための図である。
[図 35]図 35は、従来の弾性境界波装置を複数用いて構成されたラダー型回路の回 路図である。
[図 36]図 36は、従来の弾性境界波素子を複数用いて構成されたラダー型フィルタの 減衰量周波数特性を示す図である。
符号の説明
1…弾性境界波装置 · · '第 2の媒質層
· · IDT
, 5…反射器
· · '第 2の媒質層
... •吸音層
a- ··第 1の吸音材料層b- ··第 2の吸音材料層1· 弾性境界波装置2· ··第 1の媒質層
3· ••IDT
6· 第 2の媒質層
6a, 26b…媒質材料層1· 弾性境界波装置1, 42…導体層
1 · 弾性境界波装置2· "配線電極
3, 54· . 'スノレ一ホール電極5· "配線電極
1· 弾性境界波装置3· ••IDT
6· 第 2の媒質層
7· "接続電極
8· 第 3の媒質層
9· "配線電極
1 · ··配線電極
2· "配線電極
3· ··外部接続電極
· "保護膜 81·· -弾性境界波装置
82·· -熱伝導性材料層
83·· -エポキシ榭脂層
84, 85…配線電極
86·· '保護膜
90··弾性境界波装置
91··· '弾性境界波装置チップ
91a, 91b…電極
92a, 92b…バンプ
93··· 'セラミック基板
93a, 93b…電極
94··'保護膜
96···弾性境界波装置
97a, 97b…導電ペースト
98a, 98b…外部端子
99···補強榭脂層
101· "ウェハー
102· ••IDT
103, 104…反射器
105, 106···配線電極
107· 第 2の媒質層
107a…上面
108· "配線電極
109· ··吸音層
110· ••SiN膜
in, 112…開口部
113, 114···外部端子
121· ··第 4の媒質層 121Α· · ·パターユングされた感光性榭脂薄膜
123…吸音層
124, 125· · ·開口部
126, 127…外部接続端子
132, 133…外部接続端子
134…吸音層
発明を実施するための最良の形態
[0073] 以下、図面を参照しつつ本発明の具体的な実施形態を説明することにより、本発明 を明らかにする。
[0074] 本願発明者らは、上記スプリアスの原因を調べるため、数値解析を行った。この数 値解 、文献「A method for estimating optimal cuts and propagation directions for
excitation and propagation directions for excitation of piezoelectric surface wavesj (J.J.Campvell and W.R.Jones, IEEE Trans. Sonics and Ultras on., Vol.
SU-15(1968)pp.209-217)に開示されている方法を元に行ったものである。ここでは、 SiOと Auとの境界及び Auと LiNbOとの境界における変位と上下方向の応力を連
2 3
続とし、短絡境界であるため電位を 0とし、 SiOの厚みを所定の値とし、 15° Y— X伝
2
搬の LiNbOの厚みを無限大として、境界波の変位分布とスプリアスモードの変位分
3
布を求めた。
[0075] 図 2は、 Auの厚みを 0· 05 λ、 SiOの厚みを 1 · 5 λとした時のメインモードである
2
弾性境界波の変位分布を示す。
[0076] また、図 3 (a)—図 7は、図 2と同一条件における各スプリアスモードの変位分布を 示す図である。また、図 2に示されている変位分布を示す境界波と、図 3 (a)—図 7に 示す各変位分布が示されて 、るスプリアスモードは、応答周波数が低!、順力 並べ られている。すなわち、図 2に示す境界波の周波数が最も低ぐ図 7に示すスプリアス モードの周波数が最も高い。また、 λは、メインモードである境界波の波長である。
[0077] また、図 2—図 7において、実線は U1成分 (変位の X方向成分)、破線は U2成分(
1
変位の X方向成分)、一点鎖線 U3成分 (変位の X方向成分)を示す。 [0078] 上記 X方向とは、境界面において境界波が伝搬する方向をいうものとし、 X方向と
1 2 は、境界面に含まれる方向であって、かつ X
1方向と直交する方向であり、 X
3方向とは
、境界面と直交する方向である。
[0079] 一般に、弾性波には、 U1成分で構成される P波、 U2成分で構成される SH波及び U3成分で構成される SV波が存在する。弾性境界波や上記スプリアスモードは、部 分波である P波、 SH波及び SV波の組み合わせによるモードである。なお、図 3 (b) 一図 7では、 Au層の位置のみを示し、 SiO層及び LiNbO層の表示は図示を容易と
2 3
するために省略している。
[0080] 図 2から明らかなように、メインモードである境界波では、 U2成分が主体である SH 型の境界波であることがわかる。
[0081] そして、図 3 (a)—図 7から明らかなように、スプリアスモードは U2成分主体のスプリ ァスモードと、 U1及び U3成分主体のスプリアスモードと、 U1成分主体のスプリアス モードの 3種類に大別されることがわかる。この 3種類のスプリアスモードは、第 2の媒 質層である SiO膜の表面と境界層に配置された Auカゝらなる電極との間でエネルギ
2
一の多くを閉じ込められて伝搬する。そして、 3種類のスプリアスモードが発生するた め、上述した図 34及び 36に示した複数の高域側のスプリアス応答が生じたと考えら れる。
[0082] なお、図 3 (a)—図 7に示したスプリアスモードの他に、 U1及び U3成分主体のスト ンリ一波と類似したモード (以下、ストンリ一波と総称する)も伝搬するが、 SiO /Au (
2
0. 05 λ ) Zl5° Y-X伝搬 LiNbO構造では、ストンリ一波の電気機械結合係数は
3
ほぼ 0であり、ストンリ一波は励振されない。
[0083] 本願発明者らは、上記図 2—図 7に示した結果を考慮し、第 2の媒質層にエネルギ 一が閉じ込められて伝搬するモードを抑制すれば、上述した高域側の複数のスプリ ァス応答を抑制し得ると考え、本発明をなすに至った。
[0084] 図 1 (a)及び (b)は、本発明の第 1の実施形態に係る弾性境界波装置を示す正面 断面図及び模式的斜視図である。
[0085] 弾性境界波装置 1は、第 1の媒質層 2を有する。第 1の媒質層 2は、 15° Y - X伝搬 の LiNbO単結晶基板により構成されている。もっとも、本発明において、第 1の媒質 層 2は、他の単結晶基板、例えば他の結晶核の LiNbO圧電単結晶基板などにより
3
構成されていてもよぐ LiTaOなどの他の圧電単結晶により構成されていてもよい。
3
[0086] 第 1の媒質層 2の上面には、 IDT3及び反射器 4, 5が形成されている。本実施形態 では、 IDT3の両側にグレーティング反射器 4, 5が配置されて、 1ポート型弾性境界 波素子が構成されている。
[0087] 上記 IDT3及び反射器 4, 5を覆うように第 2の媒質層 6が形成されている。第 2の媒 質層 6は、本実施形態では、 SiO膜により構成されている。
2
[0088] そして、第 2の媒質層 6の上面に、吸音層 7が形成されている。吸音層 7は、弾性波 の減衰定数が第 2の媒質層 6よりも大きな榭脂により構成されている。本実施形態で は、上記 IDT3及び反射器 4, 5は、厚さ 0. 003えの NiCrからなる密着層上に、厚さ 0. 05えの Auからなる主電極層を積層することにより構成した。そして、 IDTには、図 34に示した特性を得た弾性境界波素子の場合と同様に、交叉幅重み付けを施し、 電極指の対数は 50対、対向するバスバー間の距離は 30. 5え、 IDT3を構成する電 極指のデューティ比は 0. 55とした。また、反射器 4, 5の電極指の本数はそれぞれ 5 0本とした。さらに IDTの電極指の電極指先端間距離は 0. 25 λ、最大交差幅は 30 えとした。 IDT3と反射器 4, 5のえは一致させ、 IDT3と反射器 4, 5との電極指中心 間距離は 0. 5えとした。さらに、 SiO膜の厚みは 2えとし、図 34に示した特性の比較
2
例の場合と同様に、 RFマグネトロンスパッタによりウェハー加熱温度 200°Cで成膜を 行った。
[0089] 従って、弾性境界波装置 1は、吸音層 7が設けられていることを除いては、上記した 比較例と同様に構成されている。
[0090] そして、吸音層 7は、硬度調整したエポキシ系榭脂により構成されており、 5 λ以上 の厚みを有する。吸音層 7の形成は、第 2の媒質層 6上にエポキシ系榭脂を塗布し、 硬化することにより行った。
[0091] 弾性境界波装置 1のインピーダンス 周波数特性及び位相 周波数特性を図 8〖こ 示す。
[0092] 図 8を、図 34と比較すれば明らかなように、 1700MHz付近のスプリアス応答のイン ピーダンス比(共振周波数と反共振周波数におけるインピーダンスの比)は、図 34で は 29. 3dBであったのに対し、本時実施形態では 7. ldBと著しく小さくなつているこ とがわかる。すなわち、吸音層 7の形成により、高域側の所望でないスプリアス応答を 効果的に抑圧し得ることがわかる。
[0093] もっとも、図 8に示した周波数特性では、 1700MHz付近のスプリアスを完全に抑圧 することはできていない。
[0094] 本願発明者の知見によれば、音速の遅い層と音速の速い層が混在する積層構造 を伝搬する弾性波は、音速の遅い層にエネルギーを集中させて伝搬することがわか つている。従って、第 2の媒質層の表面に配置される吸音層 7は、弾性波の音速が遅 い材料で構成し、吸音層 7Z第 2の媒質層 Z電極 Z第 1の媒質層 2の積層構造を用 いることにより、第 2の媒質層から吸音層 7にスプリアスとなるモードのエネルギーを移 行させ得ることがゎカゝる。
[0095] すなわち、吸音層 7は、吸音媒質として作用し、吸音層 7に移行したスプリアスモー ドのエネルギーは再度第 2の媒質層 6には戻らないことになる。この場合、弾性境界 波装置 1の主応答である弾性境界波は境界面近傍にエネルギーを集中して伝搬し て 、るため、弾性境界波自体のエネルギーの劣化は生じ難!、。
[0096] 図 2—図 7に示した上述した解析結果では、 SV波が主成分とするスプリアスモード 、 SH波が主成分となるスプリアスモード及び P波が主成分となるスプリアスモードの 3 種類のスプリアスモードが確認された。
[0097] 従って、 SH波と SV波が主成分となるスプリアスモードを抑制するには、第 2の媒質 層における横波の音速よりも、吸音層 7の横波の音速を遅くすれば強く抑制し得るこ とがわかる。また、 P波が主成分となるスプリアスモードを効果的に抑制するには、第 2 の媒質層における縦波の音速よりも吸音層 7の縦波の音速を遅くすればよいことがわ かる。
[0098] 他方、第 2の媒質層 6から吸音層 7に移行するモードのエネルギー Tは、第 2の媒質 層 6の音響特性インピーダンスを Z、吸音層 7の音響特性インピーダンスを Zとすると
0 し
、 T=4Z Z Z(Z +Z )2で表される。
0 し 0 し
[0099] 上記式から明らかなように、第 2の媒質層 6の音響特性インピーダンス Zと吸音層 7
0 の音響特性インピーダンス Zとが近いほど、第 2の媒質層 6から吸音層 7に移行する エネルギー量 Tが増加し、スプリアスモードを効率良く抑制し得ることがわかる。
[0100] 従って、 SH波と SV波を主成分とするスプリアスモードを抑制するには、第 2の媒質 層 6と吸音層 7の横波の音響特性インピーダンスを整合、すなわち近接させることが 望ましい。また、 Ρ波を主成分とするスプリアスモードを抑制するには、第 2の媒質層 6 と吸音層 7における縦波の音響インピーダンスを整合させることが望ましい。
[0101] よって、第 2の媒質層よりも低速であり、音響整合性が高ぐ吸音効果の高い材料に より吸音層 7を構成することが望ましい。
[0102] また、上記検討結果を確かめるために、図 1に示した弾性境界波装置 1における解 析を行った。この解析においては、第 1の媒質層 2は、厚み無限大の 15° Y-X Li NbO基板からなり、第 2の媒質層 6が厚さ 1. 5 λの SiO膜、 IDTが厚さ 0. 05 λの A
3 2
u膜とした。吸音層 7と SiO膜との境界、 SiO膜と Auとの境界及び Auと LiNbOとの
2 2 3 境界における変位と上下方向の応力を連続とし、 SiOと Auとの境界及び Auと LiNb
2
Oの境界は短絡境界であるため、電位を 0とした。吸音層 7は等方体として扱い、厚
3
さを無限とし、 SiO膜から吸音層 7に通過した波が吸収される様子を模した。この構
2
造にぉ 、て、境界波とスプリアスモードの音速と伝搬損失を求めた。
[0103] 等方体を伝搬する縦波と横波の音速と音響特性インピーダンスにっき説明する。等 方体の弾性スチフネス係数 Cl l, C12と、密度 pより、横波の音速を Vs、縦波の音 速を Vp、横波の音響特性インピーダンスを Zs、縦波の音響特性インピーダンスを Zp とした時、 Vs、 Vpは以下の式で表される。
[0104] [数 1]
Figure imgf000022_0001
図 9 (a)—図 10 (b)は、上記弹'性境界波装置において、吸音層の密度 pを様々に 変化させたことを除いては、上記と同様に構成された弾性境界波装置における吸音 層の密度 pと、横波音速 Vsと、伝搬する境界波、 U2成分主体のスプリアスモード及 び U3成分主体のスプリアスモードの各音速及び減衰定数との関係を示す各図であ る。
[0106] なお、図 9から後述の図 12までにおいて、 U2成分主体のスプリアスモードとしては 、 U2成分主体の次数の低いスプリアスモード、すなわち U2高次 1モードと、 U2成 分主体の次数の高 、スプリアスモード、すなわち U2高次— 2モードが示されて!/、る。 また、 U3成分主体のスプリアスモードとしては、 U3成分主体の次数の低い U3高次 1モードと、次数の高!ヽ U3高次ー2モードとが示されて!/、る。
[0107] SiO 2の横波音速は 3757mZ秒であり、密度は 2210kgZm3であるため、吸音層 の横波音速は 3757mZ秒、密度が 2210kgZm3でスプリアスモードの減衰定数が 極大となり、スプリアスが抑圧される。他方、 SH型境界波とストンリ一波は全く減衰し ない。なお、ここで計算した構成では、ストンリ一波の電気機械結合係数は前述した ようにほぼ 0となるため、ストンリ一波は伝搬可能である力 励振されないため、スプリ ァスとはならない。
[0108] 図 9 (a)—図 10 (b)では、吸音層の密度を変化させただけであるため、吸音層の横 波音速と横波の音響特性インピーダンスによる効果を評価することはできな 、。そこ で、吸音層における横波の音響特性インピーダンス Zsを、 SiO 2の横波の音響特性ィ ンピーダンスである 8. 30 X 106kgZm2'秒に固定し、下記の関係式を用いて定数を 決定し、吸音層の横波音速 Vsを変化させ、 SH型の弾性境界波と、 U2成分主体の スプリアスモード及び U3成分主体のスプリアスモードの各音速及び減衰定数との関 係を求めた。図 11 (a)及び (b)に結果を示す。
Figure imgf000023_0001
[0110] 次に、吸音層の横波音速 Vsを 3757mZ秒に固定し、下記の関係式を用いて定数 を決定し、音響特性インピーダンス Zsを変化させ、 SH型境界波、 U2成分主体のス プリアスモード及び U3成分主体のスプリアスモードの各音速及び減衰定数との関係 を求めた。図 12 (a)及び (b)に結果を示す。
[0111] Cl l = C12 + 2 p Vs2
[0112] 図 12 (a)及び (b)から、吸音層の横波音速 Vsが SiO 2の音速 3757mZ秒に近いほ ど、スプリアスモードの減衰定数が大きくなり、かつ SiOの音速よりも低音速の場合に 減衰定数が大きいことがわかる。弾性境界波装置に用いられる IDTの電極指の対数 は通常 10— 50対であり、伝搬波長に対して 10 λ— 50えの範囲とされている。計算 で求められた減衰定数 αは ±Χ方向のエネルギーの放射を表す。スプリアスモード
3
が減衰定数が 0. 5dBZ であれば 10 λで例えば 5dB減衰し、 50 λでは例えば 25 dB減衰する。この減衰は、吸音層側に弾性波が放射することによる減衰である。
[0113] さらに、吸音層自体の吸音効果による減衰も加わる。従って、十分なスプリアス抑制 効果が得られる。スプリアスモードの減衰定数が 1. 0-1. 5dBZ 以上であれば、 さらに優れたスプリアス抑制効果が得られる。
[0114] 吸音層の横波音速 Vsは、より好ましくは、 SiOの横波音速の 0. 13-1. 23倍の範
2
囲で、 U2成分主体及び U3成分主体の次数の高いスプリアスモード、すなわち U2 高次 2モード及び U3高次 2モードが 1. 5dBZ 以上減衰し、また U 2成分主体 の次数の低いスプリアスモードすなわち U2高次 1が 0. 5dBZ λ以上減衰すること が確認できた。さらに好ましくは、吸音層の横波音速 Vsが、 SiOの横波音速の 0. 6
2
一 1. 00倍の範囲で、 U3成分主体の次数が低いスプリアスモード、すなわち U3高 次モードが 0. 5dB以上減衰する。同一の部分波成分を主体とするモードの場合、次 数が低いモードほど電気機械結合係数が大きい傾向があり、大きなスプリアスとなり やすい。
[0115] なお、 U2成分主体の 2つ目の高次スプリアスモードである U2高次 2と表記されて いるスプリアスモードは、吸音層の横波音速 Vsが 5000mZ秒以上であっても、 0. 0 03dB/ λの減衰定数を有する。また、 U3成分主体の 2つ目の高次スプリアスモード (U3高次— 2)も、吸音層の横波音速 Vsが 5000mZ秒以上であっても、 0. 477dB Ζ λの減衰定数を持つ。これらの減衰定数は、スプリアスモードの音速力 LiNbO
3 単結晶基板の SH波の音速または SV波の音速よりも速いため、単結晶基板側にェ ネルギーを放射するために発生する。
[0116] また、図 12 (a)及び (b)から、吸音層の音響特性インピーダンス Zsが SiOの音響特
2 性インピーダンスである 8. 30 X 106kgZm2'秒に近いほどスプリアスモードの減衰定 数が大きいことがわかる。 U2高次- 1と表記されているスプリアスモードは、吸音層の 音響特性インピーダンス Zsが、 SiOの音響特性インピーダンスの 0. 45倍一 3. 61倍 で 0. 5dBZ 以上減衰し、 0. 75倍一 1. 99倍で 1. OdBZ λ以上減衰し望ましぐ 0. 89倍一 1. 48倍で 1. 5dBZ 以上減衰しさらに望ましい。
[0117] また、 U2高次 2で表されるスプリアスモードは、吸音層の音響特性インピーダンス が SiOの音響特性インピーダンスの 0. 20倍一 5. 30倍で 0. 5dBZ 以上減衰し、
2
0. 41倍一 3. 25倍で 1. OdB以上減衰し望ましく、 0. 57倍一 1. 88倍で 1. 5dB/ λ以上減衰しさらに望ましい。
[0118] また、 U3高次 1で表されているスプリアスモードは、吸音層の音響特性インピーダ ンス Zsが SiOの音響特性インピーダンスの 0. 84倍
2 一 1. 29倍以上で 0. 5άΒ/ λ 以上減衰し、 0. 96倍一 1. 08倍で 1. OdBZ 以上減衰し望ましぐ 0. 99倍一 1. 0 2倍で 1. 5dB以上減衰しさらに望ましい。
[0119] さらに、 U3高次 2と表されているスプリアスモードは、吸音層の音響特性インピー ダンス Zsが SiOの音響特性インピーダンスの 0. 71倍以上で 0. 5dB/ 以上減衰
2
し、 0. 76倍一 1. 98倍で 1. OdBZ λ以上減衰し望ましぐ 0. 89倍一 1. 47倍で 1. 5dB/ λ以上減衰しさらに望まし!/、。
[0120] 計算結果を実証するために、実験を行った。図 34に示した特性を有する比較例の 弾性境界波共振子の SiO表面に、種々の吸音層を密着形成し、図 1に示した実施
2
形態の弾性境界波装置 1を構成した。図 13は吸音層の横波音速を SiOの横波音速
2 で除算することにより得られた横波音速比 (Vs比)と、スプリアスモードのインピーダン ス比の関係を示し、図 14は、吸音層の横波の音響インピーダンスを SiOの横波の音
2 響インピーダンスで除算して得られた音響インピーダンス比 (Zs比)と、スプリアスモー ドのインピーダンス比との関係を示す。なお、スプリアスモードのインピーダンス比とは 、スプリアスモードの共振周波数と反共振周波数のインピーダンスの比が、最も大き Vヽスプリアスモードのインピーダンスの比を 、うものとする。
[0121] 上記弾性境界波装置においては、 Vs比を 0. 273及び Zs比を 0. 127とした場合、 スプリアスモードのインピーダンス比は 7. ldB以上であるが、吸音層の Zs比を 0. 39 3以上とすると、スプリアスモードのインピーダンス比は 3. 9dB以下となり、 Zs比が 1に 近づくほどスプリアスモードのインピーダンス比が小さくなる。また、 Vs比を 0. 488以 上とすれば、スプリアスモードのインピーダンス比は 3. 9dB以下となり、 Vs比が 1に近 づくほど、スプリアスモードのインピーダンス比は小さくなる。
[0122] 図 15は、 SiO膜の表面に、 Vs比 0. 633及び Zs比 0. 547の吸音層を形成した場
2
合の弾性境界波共振子の共振特性を示し、図 16は、上記弾性境界波共振子を用い て構成されたラダー型フィルタのフィルタ特性を示す。
[0123] 前述した図 7では、吸音層の吸音効果による横波の減衰定数は 7. ldBZ であつ たのに対し、図 15及び図 16に示した特性で得られた構成では、吸音層の横波の減 衰定数は 1. 75dBZえであった。この結果から、吸音層は、減衰定数が大きいのみ では、スプリアスモードを十分に抑圧できず、音響インピーダンスを整合させることに より、スプリアスモードをより一層効果的に抑圧し得ることがわかる。
[0124] なお、本発明においては、吸音層は、第 2の媒質層と同種類の材料により構成され てもよい。その場合であっても、主応答である弾性境界波のエネルギーが存在する 領域においてのみ減衰定数を小さくし、その外側の減衰定数を大きくすればよい。な お、「同種の材料」とは、必ずしも全く同一であることを意味せず、例えば、以下に述 ベる例のように、 SiO 2膜であっても、成膜方法の相違により特性が異なるものとなる。 このように、製法が異なる 2種の SiO膜のような組み合わせ力 上記同種の材料の表
2
現に含まれるものである。第 2の媒質層をスパッタ膜などで構成する場合、一般に減 衰定数の大きな低品位な膜は高速で成膜でき、かつ安価であるのに対し、減衰定数 の小さな高品位の膜では、低速成膜でありかつ高価である。例えば、 SiO 2膜 ZA1電 極 ZAu電極 ZLiNbOカゝらなる弾性境界波装置において、吸音層として、 SiO膜の
3 2 上方に、第 2の SiO膜を形成してもよい。この場合、第 2の媒質層を構成する SiO膜
2 2 については、減衰定数が小さく高品位な SiO膜で構成し、厚さを 0. 5 λ程度とし、吸
2
音層を構成する第 2の SiO膜は、減衰定数の大きな低品位な SiO膜により、例えば
2 2
厚み 1. Ο λ程度に形成すればよい。このような構成では、弾性境界波装置の性能を ほとんど劣化させず、安価にスプリアス応答を抑制することができる。この場合、高品 位の SiO膜と、低品位の SiOの弾性定数や密度は近い値であるため、主モードであ
2 2
る弾性境界波の深さ方向の変位分布はほとんど変化しない。低品位の膜は、高品位 の膜と同一の装置で連続的に成膜することができるが、後述の工程で製造されてもよ い。すなわち、高品位の膜及び低品位の膜の一方をスパッタリング、スピンコート法、 スクリーン印刷及び CVDの!、ずれ力により、他方他の!/、ずれかにより形成してもよ!/ヽ
[0125] また、第 1,第 2の媒質層は、それぞれ、第 1の材料層で構成されている必要は必ず しもない。例えば、第 2の媒質層は、複数の媒質材料層を積層した積層構造を有して いてもよい。図 17は、第 2の媒質層が積層構造を有する変形例の弾性境界波装置の 部分切欠正面断面図である。この弾性境界波装置 21では、第 1の媒質層 22上に ID T23が形成されており、 IDT23を覆うように、第 2の媒質層 26が形成されている。ここ では、第 2の媒質層 26は、媒質材料層 26a上に、媒質材料層 26bを積層した構造を 有する。また、第 2の媒質層 26上に、吸音層 27が形成されている。
[0126] 媒質材料層 26a, 26bは、適宜の材料により構成される。例えば、媒質材料層 26a は SiOにより、媒質材料層は SiNにより構成されることができる。 3以上の媒質材料層
2
を積層し、それによつて第 2の媒質層を構成してもよい。
[0127] さらに、減衰定数が大きい媒質材料層と、減衰定数が小さい媒質材料層とを積層し た構造としてもよぐ減衰定数が大きい媒質材料層と、減衰定数が小さい媒質材料層 とを交互に積層してもょ ヽ。減衰定数の小さ ヽ媒質材料層は緻密性に優れて ヽるこ とが多ぐ従って、境界面に対して外側に配置することにより、境界面付近の耐湿性 を高めることができる。
[0128] また、本発明においては、第 1の媒質層も、積層構造を有していてもよい。本発明 は、境界波が伝搬する境界面及びその近傍における境界波伝搬材料の減衰定数を 小さくし、かつ外側の少なくとも一部の層に吸音層を構成することによりスプリアスモ ードを抑制したことに特徴を有する。さらに、吸音層により吸音効率を高めるために、 上記のように吸音層と境界波伝搬媒質層の音響特性インピーダンスが整合されたり、 吸音層が低音速ィ匕されて、スプリアスモードを漏洩モードとし、スプリアスを効果的に 抑圧したことに特徴を有する。従って、吸音層の弾性波の減衰定数は、第 1,第 2の 媒質層の減衰定数よりも大き ヽことが望ま 、。
[0129] 本発明において用いられる上記吸音層を構成する材料は、第 1,第 2の媒質層に 比べて、弾性波の減衰定数が大きければ特に限定されない。吸音層を構成する材 料の例としては、例えば、エポキシ、フエノール、アタリレート、ポリエステル、シリコー ン、ウレタン、ポリイミドなどの各種榭脂、低融点ガラスや水ガラスなどの各種ガラス、 アルミナセラミックスや金属膜なども利用できる。
[0130] 特に榭脂材料は減衰定数が大きい材料が多ぐその組成を容易に調製することが できる。従って、様々な音速や音響特性インピーダンスを有する吸音層を構成するこ とができるため、吸音層は、好ましくは榭脂材料により構成される。
[0131] 吸音層も複数の吸音材料層を積層してなる積層構造を有していてもよい。例えば、 図 18に示す変形例の弾性境界波装置 31では、第 2の媒質層 6の上面に、第 1の吸 音材料層 7aと、第 2の吸音材料層 7bとが積層された吸音層 7が構成されている。ここ では、吸音材料層 7aの音響特性インピーダンスが、好ましくは、第 2の媒質層 6の音 響特性インピーダンスと、第 2の吸音材料層 7bの音響特性インピーダンスの中間の 値とされ、それによつて音響特性インピーダンスの整合状態が高められる。この場合 、吸音材料層 7aは、第 2の媒質層 6と吸音材料層 7bの音響整合を図るために設けら れているものであるため、吸音材料層 7aは、媒質層 6よりも減衰定数が大きいことが 望ま ヽが、必ずしも減衰定数が媒質層 6の減衰定数よりも大き 、必要はな ヽ。
[0132] 本発明に係る弾性境界波装置では、図 19に示すように、吸音層 7の下方に導体層 41が形成されていてもよい。また、図 20に示すように、吸音層 7の上面に導体層 42 が設けられていてもよい。このように、本発明においては、吸音層の上面及び下面の 少なくとも一方に導体層が備えられていてもよぐそれによつて、例えばフィルタを構 成した場合には入出力端子間の直達電磁波による減衰量の劣化を抑制することが できる。好ましくは、上記導体層 41, 42は、 IDTや反射器が設けられている領域と、 媒質層を介して対向している領域に形成されていることが望ましぐそれによつて減 衰量の劣化を抑制する効果を高めることができる。
[0133] さらに、入力側 IDTと出力側 IDTとを含む場合には、入力側 IDTと媒質層を介して 対向される導体層と、出力側 IDTと媒質層を介して対向される導体層とが分割されて いることが望ましぐかつそれぞれの導体層が別の配線電極によりグラウンド電位に 接続されることが望ましい。それによつて、減衰量劣化抑制効果をより一層高めること ができる。
[0134] また、本発明に係る弾性境界波装置では、上記吸音層 7は、榭脂系接着剤などの 榭脂材料により構成することが望ましい。しかし、内部にガスが残留していると、リフロ 一半田時に割れが発生したり、経時的な脱気によりチップ応力の変化が生じ、周波 数特性の経時変化が生じるおそれがある。これを防止するには、吸音層を榭脂材料 により形成する工程において、すなわち例えば室温で吸音層を塗布した後、真空中 で脱気することが望ましい。この場合、真空中で加熱し、吸音材料層を硬化すればよ い。
[0135] 本発明に係る弾性境界波装置では、第 2の媒質層や吸音層の上面に引き回しなど のために、配線電極を形成してもよい。例えば、図 21に示す変形例の弾性境界波装 置 51では、吸音層 7の上面に、配線電極 52が形成されている。配線電極 52の一端 力 スルーホール電極 53、スルーホール電極 54及び配線電極 55を介して IDT3に 電気的に接続されている。ここで、スルーホール電極 53は、吸音層 7に設けられてお り、スルーホール電極 54は第 2の媒質層 6に設けられて!/、る。
[0136] 例えば、第 1の媒質層 2が LiNbO基板、第 2の媒質層 6が SiOで構成されている
3 2
場合、第 1の媒質層 2の誘電率が相対的に高ぐ第 2の媒質層 6の誘電率が相対的 に低くなる。このような場合には、第 2の媒質層 6の上面に前記各種電極間を電気的 に接続するための引き回し等のための配線電極 52等を形成することが望ましぐそ れによって引き回し配線による寄生容量を抑制することができる。また、例えば、第 1 の媒質層 2がガラス基板、第 2の媒質層 6が ZnO薄膜、吸音層 7が低誘電率の誘電 体により構成されている場合には、第 2の媒質層 6の誘電率が相対的に高ぐ吸音層 7の誘電率が相対的に低くなる。このような場合には、吸音層 7の上面に引き回し等 のための配線電極等を形成することが望ましぐそれによつて引き回し配線による寄 生容量を抑制することができる。従って、弾性境界波装置において、フィルタ特性や 共振特性の劣化を抑制することができる。寄生容量が存在すると、減衰量が劣化した り、フィルタや共振子の帯域が狭くなつたりし、望ましくない。
[0137] また、上記のように、 IDT3が配置されて 、る部分と、配線電極 52とが異なる層に配 置されている場合、層間の接続はスルーホール電極 53, 54を用いることが望ましい 。また、弾性境界波が伝搬する際には、 IDT3の形成されている領域のみではなぐ 電極力も僅かに滲み出しながら伝搬する。そのため、スルーホール電極 53, 54、特 にスルーホール電極 54内が空洞の場合、空洞部と媒質層 6との音響インピーダンス 差が大きくなり、スルーホール部における反射係数が大きくなる。従って、スルーホー ル電極 54の形成位置によっては、弾性境界波を反射もしくは散乱したり、共振を生じ たりするおそれがある。そのため、スプリアスや減衰量の劣化などの問題を生じるお それがある。そこで、好ましくは、スルーホール電極 54内には、弾性体が充填され、 それによつて上記音響インピーダンスの差を低減することが望ましい。なお、スルーホ ール電極 53につ 、ても同様に弾性体を充填することが望ま ヽ。
[0138] また、 IDT3の形成は、通常フォトリソグラフィ一で行われる力 スルーホール電極 5 4内が空洞である場合、レジストのコーティングやウェハーの真空宫中などにより不具 合を生じるおそれがある。従って、このような不具合を防止するためによも、スルーホ ール電極 53, 54内に、弾性体を充填することが望ましい。また、上記弾性体として、 Cuなどの導電材を用いた場合には、配線抵抗を低める効果も期待できる。
[0139] スルーホール電極 53, 54内が弾性体で充填されていない場合には、外部力もガス が弾性境界波装置の深部まで流入しやすくなり、腐食性ガスによる性能劣化を生じ るおそれがある。また、スルーホール電極 53, 54内が弾性体で充填されている場合 にお 、ても、該弾性体と弾性境界波装置の第 2の媒質層 6などとの熱膨張率や弾性 率が異なり、応力が発生し、クラックなどが入りやすくなる。従って、外部からの腐食性 ガスの侵入に対して脆弱となるおそれがある。特に、弾性境界波装置の一部の層が SiOなどの非晶体ゃ ZnOなどの多結晶体で形成されている場合、上記クラックにより
2
膜内部に腐食性ガスが侵入、電極の腐食等を引き起こすおそれがある。
[0140] そこで、上記のように、複数のスルーホール電極 53, 54が形成されている構造では ゝ図 21に示されているように、スルーホール電極 53とスルーホール電極 54とが弾性 境界波装置内において厚み方向に連続していないことが望ましい。図 21では、スル 一ホール電極 53, 54は、平面視した場合に異なる位置に配置され、接続電極 56に より接続されている。それによつて、弾性境界波装置の深部への腐食性ガスの侵入 を抑制することができる。
[0141] 上記スルーホール電極による層間結線は、配線の自由度が高いため、弾性境界波 装置のチップサイズを縮小することができる。し力しながら、弾性境界波装置の第 1, 第 2の媒質層等に単結晶材料を用いた場合には、スルーホール形成が困難となるこ とがある。すなわち、 Arと CF混合ガスによる反応性イオンエッチングなどによりスル
4
一ホールが形成され得るが、弾性境界波装置の媒質層の厚みが厚い場合には、ス ルーホール側壁の垂直性を確保することが困難となったり、加工時間が長くなつたり するという問題がある。また、穴あけ加工により、媒質層の強度が低下したり、回路基 板への実装時や環境温度の変化により、チップ割れが生じたりするおそれがある。さ らにスルーホール部分での弾性境界波の反射や散乱が生じたり、腐食性ガスによる 問題が生じるおそれもある。これらの問題は、スルーホール電極を用いずに、弾性境 界波装置の外表面に設けられた配線電極により結線を行うことにより解決することが できる。
[0142] 図 22は、外表面に配線電極が形成されている変形例の弾性境界波装置を示す模 式的部分切欠断面図である。
[0143] 弾性境界波装置 61では、第 1の媒質層 2上に IDT63と反射器 (図示せず)が形成 されている。 IDT63及び反射器を覆うように第 2の媒質層 66が積層されている。第 1 の媒質層 2と第 2の媒質層 66との境界面において、 IDT63に接続されるように接続 電極 67が形成されている。接続電極 67は、弾性境界波装置 61の外表面に引き出さ れている。そして、第 2の媒質層 66の上面に、第 3の媒質層 68が積層されている。第 2の媒質層 66と第 3の媒質層 68との間の境界に、配線電極 69が形成されている。配 線電極 69もまた、弾性境界波装置 61の外側面に引き出されて!/ヽる。
[0144] なお、第 1,第 2の媒質層 2, 66は、第 1の実施形態の弾性境界波装置の第 1,第 2 の媒質層 2, 6と同様に構成され得る。第 3の媒質層 68は、第 2の媒質層 66と同種の 材料で構成されている。すなわち、本実施形態では、第 2の媒質層 66と第 3の媒質 層 68とを有する積層構造により、境界面の上方の媒質層が構成されている。もっとも 、第 3の媒質層 68は、第 2の媒質層 66と異種の材料で構成されていてもよい。
[0145] 第 3の媒質層 68の上面には、吸音層 7が形成されている。吸音層 7は、第 1の実施 形態における吸音層 7と同様の材料で構成され得る。
[0146] 第 3の媒質層 68と吸音層 7との間の界面に、配線電極 71が形成されている。配線 電極 71もまた、弾性境界波装置 61の外表面に引き出されて!/ヽる。 [0147] そして、弾性境界波装置 61の外側面には、配線電極 72が形成されている。配線電 極 72は、接続電極 67、配線電極 69, 71を弾性境界波装置 61の外表面において電 気的に接続している。
[0148] また、弾性境界波装置 61では、吸音層 7の上面に外部接続電極 73が形成されて おり、外部接続電極 73に配線電極 72が接続されている。また、弾性境界波装置 61 では、第 2の媒質層 66、第 3の媒質層 68及び吸音層 7が積層されている構造の外表 面が、外部接続電極 73が設けられている部分を除いて保護膜 74により被覆されて いる。保護膜 74は、適宜の絶縁性榭脂、例えばエポキシ榭脂などにより構成され得 る。保護膜 74の形成により、弾性境界波装置 61の耐湿性などの耐環境特性を高め ることがでさる。
[0149] 図 23は、図 22に示す弾性境界波装置 61において、上記保護膜 74及び外部接続 電極 73とを除去した構造を模式的に示す斜視図である。図 22及び図 23から明らか なように、弾性境界波装置 61では、上記第 2の媒質層 66、第 3の媒質層 68及び吸 音層 7が、配線電極 72が設けられて ヽる外側面部分にぉ ヽて段差を有するように積 層されている。言い換えれば、第 2の媒質層 66、第 3の媒質層 68及び吸音層 7の、 配線電極 72が設けられて 、る外側面部分力 Sこの順序で中央寄りに位置して 、る。ま た、接続電極 67、及び配線 69, 71は、該段差部に引き出されている。そのため、配 線電極 72は、接続電極 67及び配線 69, 71と大きな面積で確実に電気的に接続さ れている。
[0150] 上記段差部を有する弾性境界波装置 61の製造に際しては、マザ一のウェハー段 階で多数の弾性境界波装置 61を構成し、し力る後フォトリソグラフィー、スクリーン印 刷またはめつきなどにより、一括して外部接続電極 73を形成した後、配線電極 72を 形成した後、個々の弾性境界波装置 61単位にマザ一のウェハーを分割することによ り得られる。従って、層間結線を効率良くかつ安価に行うことができる。
[0151] 図 24は、本発明のさらに他の実施形態に係る弾性境界波装置を示す模式的正面 断面図である。本実施形態の弾性境界波装置 81では、 LiNbOからなる第 1の媒質
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層 2上に IDT3及び反射器 4, 5が形成されている。そして、 IDT3及び反射器 4, 5を 含む電極構造を被覆するように第 2の媒質層 6が形成されている。第 2の媒質層 6は 、 SiO膜により形成されている。
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[0152] そして、第 2の媒質層 6の上面には、 LiNbO基板よりも線膨張係数が小さぐ熱伝
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導率が大きい熱伝導性材料層 82が積層されている。熱伝導性材料層 82は、本実施 形態では、ダイヤモンドライクカーボン薄膜により形成されている。熱伝導性材料層 8 2の上面には、吸音層 7が積層されている。吸音層 7は、第 1の実施形態の吸音層 7と 同様の材料で構成され得る。
[0153] また、吸音層 7の上面には、エポキシ榭脂層 83が形成されている。エポキシ榭脂層 83の上面には、配線電極 84, 85が形成されている。そして、配線電極 84, 85を覆う ように保護膜 86が形成されている。エポキシ榭脂層 83、配線電極 84, 85及び保護 膜 86は、弾性境界波装置 81において、上方に配線回路部分を構成するために設け られている。
[0154] 保護膜 86は、前述した保護膜 74と同様に、エポキシ榭脂などカゝらなり、弾性境界 波装置 81の上方部分において耐湿性等を高めるために設けられている。
[0155] 本実施形態の弾性境界波装置 81では、第 2の媒質層 6の上面に熱伝導性材料層 82が設けられているため、放熱効果が高められ、大電力投入時の温度上昇を抑制 することができる。従って、弾性境界波装置の耐電力性を高めることができる。
[0156] カロえて、吸音層 7が設けられているため、第 1の実施形態の弾性境界波装置と同様 に、不要スプリアスを効果的に抑圧することができる。
[0157] また、熱伝導性材料層 82を構成する材料としては、上記のように第 1の媒質層 2を 構成している基板材料よりも熱膨張係数が小さぐ熱伝導率が高い適宜の材料を用 いることがでさる。
[0158] なお、本発明に係る弾性境界波装置の温度変化による特性の変化量は、単位温 度あたりの音速変化量と、単位温度あたりの伝搬方向の基板の長さ変化量により決 定される。従って、温度による基板の伸縮を抑制できれば、温度変化による周波数変 動を小さくすることができる。そこで、線膨張係数が弾性境界波伝搬基体にある第 1 の媒質層よりも小さい線膨張係数材料層を第 1,第 2の媒質層間や、第 1または第 2 の媒質層の表面に配置すればよい。それによつて第 1及び Zまたは第 2の媒質層の 伸縮を抑制し、温度変化による特性変化を小さくすることができる。上記のような低線 膨張係数材料層を構成する材料としては、例えば前述したダイヤモンドライクカーボ ン薄膜などを挙げることができる。
[0159] また、弾性境界波装置の境界面と平行な方向における熱膨張を抑制することにより 、熱膨張係数の小さなセラミック基板力 なる実装基板に実装された際の熱膨張係 数差により生じる応力を軽減することができ、該応力による破壊を抑制することができ る。なお、線膨張係数の極性が、第 1,第 2の媒質層と逆である層を同様に第 1及び Zまたは第 2の媒質層表面に形成した場合においても、同様に、熱膨張係数差によ り生じる応力を破壊することにより、弾性境界波装置の破壊や実装構造の破壊を抑 ff¾することができる。
[0160] すなわち、図 24に示した熱伝導性材料層 82の代わりに、上記のように、低線膨張 係数材料層や、極性が逆の線膨張係数を有する材料層を配置することにより、実装 された際の実装構造の温度変化による破壊を抑制することができる。
[0161] また、図 24に示した弾性境界波装置 81では、上記配線電極 84, 85により配線回 路が構成されている。この場合、配線電極 84, 85が構成されている配線回路におい て、インダクタンス素子、キヤノ シタンス素子、レジスタンス素子、ストリップライン、ある いはスタブやストリップラインで構成されたマイクロストリップフィルタもしくはミキサーな どを構成してもよい。すなわち、このような様々な電極や回路素子部分を上記ェポキ シ榭脂層 83の上面に形成し、様々な整合回路などを内蔵した弾性境界波装置 81を 構成することができる。このような回路を内蔵させた場合には、インピーダンス整合回 路ゃ変調回路などの外部回路を省略することができる。
[0162] もっとも、配線電極 84, 85を含む上記回路部分は、エポキシ榭脂層 83の上面に形 成される必要は必ずしもなぐ例えば第 2の媒質層 6の境界面とは反対側の面、ある いは吸音層 7の少なくとも片面に形成されていてもよい。すなわち、エポキシ榭脂層 8 3及び保護膜 86を有しな ヽ弾性境界波装置にお!、ても、図 24に示した弾性境界波 装置 81の場合と同様に様々な回路を内蔵させることができる。
[0163] また、弾性境界波装置 81にワイヤボンディングやバンプボンドを接合した場合、数
^一数百/ z mの線路が外部に存在することが多い。これらの線路の特性インピーダ ンスは、弾性境界波装置の入出力インピーダンスと通常ずれている。従って、インピ 一ダンスミスマッチングによる反射損失などの劣化を生じるおそれがある。従って、弹 性境界波装置の内部に、配線電極 84, 85などを含む回路層を形成した場合には、 上述したような長 、経路の線路を省略することができ、上記反射損失を低減すること ができる。特に、 1GHzを超える周波数帯では、経路の短縮により、特性を効果的に 改善することができる。
[0164] なお、前記配線電極や回路素子、外部接続電極は、 IDTや反射器と厚さ方向に重 ねて配置してもよい。このように配置することで、弾性境界波装置チップの面積を小 型化できる。
[0165] なお、本発明に係る弾性境界波装置では、弾性境界波は第 1,第 2の媒質層間の 境界を伝搬するため、ケースにパッケージングされずとも、伝搬特性はさほど劣化し ない。そのため、短期的な使用目的に用いられる場合には、弾性境界波装置のパッ ケージングは必ずしも必要ではな 、。
[0166] し力しながら、例えば携帯電話機などに組み込まれる用途などのように、長期的に 用いられる場合には、弾性境界波装置の外表面に、例えば図 22に示した保護膜 74 を形成することが望ましい。保護膜 74は、耐環境特性や耐湿性を高めるために設け られる。従って、保護膜は、 IDTや反射器などの腐食に弱い電極、またはスルーホー ル周辺などのクラックの入りやす 、箇所を覆うように配されることが望ま 、。保護膜 7 4の形成により、吸音層を構成している SiO膜の腐食を抑制したり、腐食性ガスによ
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る電極の腐食を抑制したり、耐湿性を高めたりすることができる。
[0167] 上記保護膜としては、例えば、金属材料層及び合成樹脂層を積層した構造、合成 榭脂層、あるいは金属材料層などで構成され得る。一例を挙げると、 Au層、 Ni層、 A
1合金層もしくは Au層、 Ni層 ZA1N層からなる金属材料層を形成し、さらにその表面 を合成樹脂で被覆することにより保護膜が形成され得る。
[0168] また、厚膜形成法により形成された金属材料層上に、合成樹脂層を形成することに より保護膜を構成してもよい。
[0169] 図 25は、本発明のさらに他の実施形態に係る弾性境界波装置の正面断面図であ る。弾性境界波装置 90では、弾性境界波装置チップ 91の下面に、電極 91a, 91bが 設けられている。弾性境界波装置チップ 91は、これまで説明してきた各弾性表面波 装置と同様にして構成されており、図 25では、ノ、ツチングをして略図的に示されてい る。
[0170] 電極 91a, 91b力 Auからなるバンプ 92a, 92bにより、セラミック基板 93上の電極 93a, 93bに接合されている。バンプ 92a, 92bは、電極 91a, 91b上に超音波接合 により接合されている。上記バンプ 92a, 92bを接合した後に、榭脂からなる保護膜 9 4により弾性境界波 91が被覆されている。このように、保護膜 94の形成は、弾性境界 波装置チップ 91をセラミック基板 93上に実装した後に行われてもよい。この場合に は、保護膜 94により、セラミック基板 93から弾性境界波装置チップに加わる応力の緩 和も期待され得る。
[0171] セラミック基板 93は、弾性境界波装置チップ 91よりも固い材料により構成されてい る。より具体的には、弾性境界波装置チップ 91を構成している媒質層及び誘電体層 を積層した構造よりも固い材料で構成されている。電極 93a, 93bは、下面に設けら れた端子 93c, 93dに電気的に接続されている。ここで、電極 93aは、基板 93の側面 を経て下面に延長され、下面の外部端子 93cに電気的に接続されている。他方、電 極 93bは、スルーホール電極 93eにより下面の外部端子 93dに接続されている。この ように、基板 93の下面の外部端子と上面の電極との接続は、スルーホール電極を用 いてもよい。
[0172] 本実施例形態の弾性境界波装置 90では、セラミック基板 93に Au力もなるバンプ 9 2a, 92bを用いて、弾性境界波装置チップ 91が接合されている。
[0173] 従って、弾性境界波装置 90は、外部端子 93c, 93dを利用してプリント回路基板など に表面実装され得る。この場合、プリント回路基板が温度変化等により曲がったりした としても、該プリント回路基板からの応力がセラミック基板 93により受け止められ、弹 性境界波装置チップ 91へ該応力が伝わることが抑制される。従って、弾性境界波装 置チップ 91における周波数特性の劣化が生じ 1 、またチップの割れも生じ難い。
[0174] なお、上記電極 91a, 91bは、例えば、 Au、 Ni、及び A1などの適宜の金属から構 成されることができ、またこれらの金属からなる複数の電極層が積層されたものであつ てもよい。
[0175] 図 26は、本発明のさらに他の実施形態に係る弾性境界波装置の正面断面図であ る。弾性境界波装置 96では、弾性境界波装置チップ 91の下面に電極 91a, 91bが 設けられている。ここまでは、弾性境界波装置 96は、弾性境界波装置 90と同様に構 成されている。異なるところは、弾性境界波装置チップ 91の下面において、電極 91a , 91b上に、導電ペースト 97a, 97bを介して外部端子 98a, 98bが接合されているこ と、並びにこの導電ペースト 97a, 97bが設けられている部分において、補強榭脂層 99力 S設けられて 、ることにある。
[0176] 導電ペースト 97a, 97bは、榭脂系接着剤中に導電性粉末を添加した構成を有す る。従って、硬化後においても、比較的柔らかい。よって、外部端子 98a, 98b側から プリント回路基板などに実装した場合、プリント回路基板側から伝わる応力が導電べ 一スト 97a, 97bにおいて緩和される。すなわち、応力緩和層として、導電ペースト 97 a, 97bが機能する。そのため、弾性境界波装置チップ 91における特性の劣化や割 れが生じ難い。
[0177] なお、上記導電ペースト 97a, 97bが比較的柔らかい場合には、好ましくは、図 26 に示されている補強榭脂層 99を設けることが望ましい。補強榭脂層 99は、導電べ一 スト 97a, 97bの硬化後の強度が十分な場合であり、かつ応力緩和機能を有する場 合には必ずしも設けられずともよい。補強榭脂層 99は、例えばエポキシ系接着剤な どにより構成され得る。
[0178] なお、本発明に係る弾性境界波装置では、第 1,第 2の媒質層間の境界を弾性境 界波は伝搬するものであるため、該境界波はモードがチップ表面に達することがほと んどない。従って、ノ ッケージングに際して空洞の形成は不要である。すなわち、弹 性境界波装置ゃ圧電フィルタでは、振動を妨げな 、ための空隙を有するようにパッケ 一ジングを構成しなければならな力つた。これに対して、本発明に係る弾性境界波装 置では、空隙の形成が不要であるため、ノ ッケージングを施した場合であっても、小 型化を進めることができる。
[0179] 図 27 (a)一 (g)は、本発明に係る弾性境界波装置の製造方法の一例を示す正面 断面図である。
[0180] 本実施形態では、まず、マザ一のウェハー 101が用意される。ウェハー 101は、 3 一 4インチの LiNbO基板により構成されており、第 1の媒質層を構成するために用 意されている。
[0181] ウェハー 101の上面に、 IDT102、反射器 103, 104及び配線電極 105, 106など を含む電極構造が形成される。電極構造は、フォトリソグラフィ一—リフトオフ法などの 適宜の方法により形成され得る。
[0182] 図 27 (b)に示すように、第 2の媒質層 107が電極構造を覆うように形成される。第 2 の媒質層 107は、本実施形態では、 SiO薄膜をスパッタリングにより成膜することに
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より形成されている。
[0183] し力る後、図 27 (c)に示すように、外部接続部分である配線電極 105, 106を露出 するように、第 2の媒質層 107がエッチングされる。
[0184] し力る後、図 27 (d)に示すように、接続電極 108が配線電極 106に電気的に接続さ れるように形成される。接続電極 108は、第 2の媒質層 107の上面 107a上に至るよう に形成されている。
[0185] し力る後、感光性榭脂をスピンコートすることにより、吸音層 109が形成される。吸音 層 109の上面に、保護膜として、 SiN膜 110がスパッタリングにより成膜される。
[0186] し力る後、図 27 (e)に示すように、フォトリソグラフィ一一エッチングにより、配線電極 105と、配線電極 108を露出するための開口部 111, 112が形成される。この開口部 111, 112内に、外部端子 113, 114がスクリーン印刷により付与される。外部端子 1 13, 114は、配線電極 105及び接続電極 108に電気的に接続されている。
[0187] このようにして、外部端子 113, 114が形成された多数の弾性境界波装置力 図 27
(f)に示すように、マザ一のウェハー 101において多数構成される。そして、図 27 (g) に示すように、マザ一のウェハー 101を分割することにより、多数の弾性境界波装置 115を得ることができる。
[0188] 本実施形態の製造方法では、上記のようにマザ一のウェハー 101の段階で一括し て吸音層 109が形成される。従って、多数の弾性境界波装置 115において、吸音層 109のばらつきを低減することができる。また、吸音層 109が、感光性榭脂を用いて 構成されて 、るので、吸音層 109のパターニングを高精度にかつ容易に行うことがで きる。さらに、保護膜として、 SiN膜 110の形成により、耐湿性に優れた弾性境界波装 置を提供することができる。 [0189] 図 28 (a)一 (f)は、本発明の弾性境界波装置の製造方法の他の実施形態を説明 するための各正面断面図である。
[0190] 本実施形態では、第 2の媒質層 107の形成工程が異なることを除いては、図 27に 示した製造方法と同様である。すなわち、図 28 (a)に示すように、ウェハー 101上に 図 27 (a)と同様の電極構造を形成する。し力る後、ウェハー 101上において、スパッ タ粒子をマスキングしながら外部端子が形成される部分を除いて上記電極構造を覆 うように第 2の媒質層 107を構成する薄膜をスパッタリング法により形成する。このよう にして、開口部 111, 112 (図 27 (e) )に相当する開口部が設けられるようにパター- ングされた第 2の媒質層 107が形成される。
[0191] 以下、図 28 (c)— (e)に示す各工程は、図 27 (d)一(g)に示す工程と同様にして行 われる。
[0192] 本実施形態では、第 2の媒質層 107がエッチングにより除去されにくい材料で構成 されて 、た場合であっても、上記のように第 2の媒質層 107を外部端子が設けられて いる開口部を有するように高精度に形成することができる。
[0193] 図 29 (a)一 (h)は、本発明の弾性境界波装置の製造方法のさらに他の実施形態を 説明するための正面断面図である。
[0194] 本実施形態では、マザ一のウェハー 101上に、第 4の媒質層 121が形成される(図 29 (a) )。次に、上記第 4の媒質層 121をパターユングする。図 29 (b)に示されている ように、パターユングされた第 4の媒質層 121Aでは、後述の電極構造が形成される 部分が開口部とされている。
[0195] し力る後、図 29 (c)に示すように、上記開口部に開口部の深さと同じ力、開口部の 深さよりも僅かに薄い厚みとなるように電極構造をフォトリソグラフィ一法により形成す る。この電極構造では、 IDT102、反射器 103, 104及び配線電極 105, 106などが 形成される。
[0196] しカゝる後、図 29 (c)に示す第 2の媒質層 107が形成される。本実施形態では、第 2 の媒質層は第 4の媒質層と同じ材料であるが、別の材料でもよい。
[0197] 次に、図 29 (d)に示すように、第 2の媒質層 107上に、第 3の媒質層 122が形成さ れる。そして、図 29 (e)に示すように、第 3の媒質層 122上に吸音層 123が成膜され る。
[0198] 第 3の媒質層 122は、 Si単結晶カゝらなる基板により構成されており、該基板を第 2の 媒質層 107に貼り合わせることにより、図 29 (d)に示す構造が得られている。
[0199] 次に、感光性榭脂からなる吸音層 123をフォトリソグラフィ一法によりエッチングし、 図 29 (f)に示されている開口部 124, 125を形成する。開口部 124, 125は、配線電 極 105, 106を露出するように設けられる。そして、この開口部 124, 125に、外部接 続端子 126, 127が設けられる。し力る後、図 29 (g)に示すように、上記弾性境界波 装置が多数形成されたマザ一のウェハー 101を分割し、図 29 (h)に示すように、多 数の弾性境界波装置を得ることができる。
[0200] 図 30 (a)一 (f)は、本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の製造方法を説明す るための断面図である。
[0201] 本実施形態では、図 27 (a)一 (c)に示す工程と同様の工程を、図 30 (a)一 (c)に示 すように実施する。このようにして、マザ一のウェハー 101上において、複数の弾性 境界波装置の IDT102、反射器 103, 104及び配線電極 105, 106が形成され、か つ第 2の媒質層 107がパターユングされた状態で形成される。
[0202] 本実施形態では、図 30 (d)に示すように、上記第 2の媒質層 107のパターユングが 完了した段階で、図 30 (d)に示すように、マザ一のウェハー 101を個々の弾性境界 波装置単位にダイシングにより分割する。し力る後、図 30 (f)に示す弾性境界波装置 131を得るために、個々の弾性境界波チップ段階で外部接続端子 132, 133及び吸 音層 134が設けられる。ここで、吸音層 134は、本実施形態では、第 2の媒質層にお ける横波の音速より、横波の音速が低速となるように組成を調整したエポキシ榭脂に より個々の弾性境界波装置を外部接続端子 132, 133の露出部分を除くように被覆 することにより形成される。すなわち、榭脂モールド法により吸音層 134が設けられて いる。
[0203] このように、吸音層を形成する工程は、マザ一のウェハーを個々の弾性境界波装 置単位に分割した後に行われてもよい。また、吸音層は、外部接続端子を除く部分を モールドするように形成されてもよぐそれによつて、弾性境界波装置の耐環境特性 をより一層高めることができる。 [0204] 図 31は、本発明に係る弾性境界波装置のさらに他の変形例を説明するための正 面断面図である。
[0205] 図 31に示す弾性境界波装置では、第 1の媒質層 2の下面に第 2の吸音層 151が設 けられている。その他の構造は、図 1に示した弾性境界波装置 1と同様である。このよ うに、吸音層は、第 2の媒質層の境界面とは反対側の面だけでなぐ第 1の媒質層の 境界面と反対側の面にも設けられてもよい。
[0206] さらに、吸音層は、第 2の媒質層の表面ではなぐ第 1の媒質層の表面にのみ設け られてちよい。

Claims

請求の範囲
[1] 第 1の媒質層と第 2の媒質層との境界を伝搬する弾性境界波を利用した弾性境界 波装置であって、
第 1の媒質層と、
前記第 1の媒質層に積層された第 2の媒質層と、
前記第 1,第 2の媒質層の境界に設けられた電極とを備え、
前記第 1及び Zまたは第 2の媒質層の境界面とは反対側の面にスプリアスとなるモ ードを減衰させる吸音層をさらに備えることを特徴とする、弾性境界波装置。
[2] 前記吸音層における横波の音速が、前記吸音層が積層されている第 1及び Zまた は第 2の媒質層の横波の音速よりも低速である、請求項 1に記載の弾性境界波装置
[3] 前記吸音層における縦波の音速が、前記吸音層が積層されている第 1及び Zまた は第 2の媒質層における縦波の音速よりも低速である、請求項 1に記載の弾性境界 波装置。
[4] 前記吸音層の横波の音速が、前記吸音層が積層されている第 1及び Zまたは第 2 の媒質層における横波の音速の 0. 13倍以上、 1. 23倍以下の範囲にある、請求項
1に記載の弾性境界波装置。
[5] 前記吸音層における音響インピーダンスが、前記吸音層が積層されている第 1及 び Zまたは第 2の媒質層の音響インピーダンスの 0. 20倍一 5. 30倍の範囲にある、 請求項 1一 4のいずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[6] 前記吸音層が、前記第 1及び Zまたは第 2の媒質層と同種の材料を用いて構成さ れている、請求項 1一 5のいずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[7] 前記吸音層の外側に、該吸音層よりも弾性波の減衰定数が小さい低減衰定数層 が設けられている、請求項 1一 6のいずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[8] 前記吸音層が、榭脂、ガラス、セラミックス及び金属力 なる群力 選択された少な くとも 1種により構成されている、請求項 1一 7のいずれ力 1項に記載の弾性境界波装 置。
[9] 前記吸音層が、フィラーが含有されている榭脂により構成されている、請求項 1一 7 の!、ずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[10] 前記吸音層が、前記第 1及び Zまたは第 2の媒質層の表面において、前記境界に おける弾性境界波伝搬路に対向する部分に設けられている、請求項 1一 9のいずれ 力 1項に記載の弾性境界波装置。
[11] 前記吸音層の少なくとも片面に、導体層が積層されている、請求項 1一 10のいず れか 1項に記載の弾性境界波装置。
[12] 前記境界に設けられた前記電極に電気的に接続されており、かつ前記第 1及び Z または第 2の媒質層を貫通するように設けられたスルーホール電極と、該スルーホー ル電極に接続されており、かつ弾性境界波装置の外表面に設けられた外部電極とを さらに備える、請求項 1一 11のいずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[13] 前記スルーホール電極内に、弾性体が充填されている、請求項 12に記載の弾性 境界波装置。
[14] 第 1の媒質層に設けられたスルーホール電極と、第 2の媒質層に設けられたスルー ホール電極とを有し、該第 1の媒質層に設けられたスルーホール電極と、第 2の媒質 層に設けられたスルーホール電極とが連続しな ヽように形成されて ヽる、請求項 12ま たは 13に記載の弾性境界波装置。
[15] 前記境界に設けられた電極に電気的に接続されており、かつ弾性境界波装置の外 表面に設けられた配線電極をさらに備える、請求項 1一 14のいずれか 1項に記載の 弾性境界波装置。
[16] 前記弾性境界波装置が前記境界と交叉する側面に段差部を有し、前記境界に設 けられた電極に接続されており、かつ該段差部に引き出されて ヽる接続電極とをさら に備え、前記配線電極が該段差部に至るように形成されており、段差部において前 記接続電極と接続されて ヽる、請求項 15に記載の弾性境界波装置。
[17] 第 1の媒質層と第 2の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の 外側表面の少なくとも 1つに、前記境界面と平行な方向の線膨張係数が第 1,第 2の 媒質層よりも低い第 3の材料層が設けられている、請求項 1一 16のいずれ力 1項に記 載の弾性境界波装置。
[18] 第 1の媒質層と第 2の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の 外側表面の少なくとも 1つに、前記境界面と平行な方向の線膨張係数の符号が第 1, 第 2の媒質層の線膨張係数の符号と異なる第 3の材料層が設けられている、請求項
1一 16のいずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[19] 第 1の媒質層と第 2の媒質層との間、第 1の媒質層の外側表面及び第 2の媒質層の 外側表面の少なくとも 1つに、前記第 1,第 2の媒質層よりも熱伝導率が高い第 4の材 料層が設けられている、請求項 1一 16のいずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[20] 前記境界または第 1,第 2の媒質層の外側表面にインピーダンス整合回路が構成さ れている、請求項 1一 19のいずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[21] 第 2の媒質層の厚みが 0. 5 λ以上であり、吸音層の厚みが 1. Ο λ以上である、請 求項 1一 20のいずれか 1項に記載の弾性境界波装置。
[22] 前記吸音層が積層構造を有する、請求項 1一 21のいずれか 1項に記載の弾性境 界波装置。
[23] 吸音層が複数の吸音材料層を積層してなる積層構造を有し、第 2の媒質層に近い 側の吸音材料層の音響特性インピーダンスが、該吸音材料層よりも第 2の媒質層か ら隔てられた吸音材料層の音響インピーダンスと、第 2の媒質層の音響インピーダン スとの間の中間の値を有する、請求項 22に記載の弾性境界波装置。
[24] 実装側の面にバンプを介して接合されており、かつ第 1,第 2の媒質層及び吸音層 を有する構造部分よりも固い材料力もなる実装用基板をさらに備え、該実装用基板を 用いて実装されるように構成されている、請求項 1一 23のいずれか 1項に記載の弹 性境界波装置。
[25] 実装側の面に設けられた応力緩衝体をさらに備える、請求項 1一 23のいずれか 1 項に記載の弾性境界波装置。
[26] 第 1の媒質層上に電極を形成する工程と、
該電極を覆うように第 2の媒質層を形成する工程と、
前記第 1の媒質層及び Ζまたは第 2の媒質層の前記境界面とは反対側の面に吸 音層を形成する工程とを備える、弾性境界波装置の製造方法。
[27] 前記吸音層を形成する工程にぉ ヽて、吸音層内のガスを脱気する工程を含む、請 求項 26に記載の弾性境界波装置の製造方法。
[28] 前記弾性境界波装置の製造方法が、複数の弾性境界波装置を連結してなるマザ 一の状態で行われ、前記吸音層を形成した後に、個々の弾性境界波装置単位に分 割される、請求項 26または 27に記載の弾性境界波装置の製造方法。
[29] 前記吸音層を形成する工程までの工程がマザ一の状態で行われ、個々の弾性境 界波装置に分割された後に前記吸音層を形成する工程が行われる、請求項 26また は 27に記載の弾性境界波装置の製造方法。
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