JP2009267905A - 弾性波素子と、これを用いたフィルタ及び電子機器 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は弾性波基板における不要応答発生を抑制することを目的とする。
【解決手段】そして、この目的を達成するために本発明は圧電基板1上面に設けられた第1の誘電体層2と、第1の誘電体層2上面に設けられた第2の誘電体層4の膜厚を適切に与えることにより主要波として用いるSH波のエネルギーを圧電基板1と第1の誘電体層2の境界に閉じ込めつつ、不要波として検出されるストンリー波と同様の変位分布を有するSV波の変位を第2の誘電体層4の上面に分布させることにより、第2の誘電体層4の上面に設けられた吸音層5を用いて不要波を抑制することが可能となる。
【選択図】図1

Description

本発明は、弾性波素子と、これを用いたフィルタ及び電子機器に関するものである。
従来、圧電基板の一面に誘電体が積層されており、圧電基板と誘電体との間の境界に電極としてIDT及び反射器が配置されており、誘電体の上面に吸音層を有し高次モードによる不要応答を抑制した弾性境界波装置が提案されてきた。従来の弾性境界波装置は、図21に示すように、第1の媒質層である圧電基板21と、第2の媒質層である誘電体膜22と、IDT電極であるAu膜23と、吸音層24とにより構成される(特許文献1)。
国際公開第2005/069486号パンフレット
しかし、このような従来の基板構成では吸音層24により高次モードの抑制は可能であったが、吸音層24の誘電体の厚みが1λ程度を厚いため、圧電基板21と誘電体膜22との境界を伝搬する不要波を抑制することは難しかった。
そして、この目的を達成するために本発明は、圧電基板の上面に異なる材料の誘電体層を複数積層した上に吸音層を設け、誘電体層の膜厚を適切に定めることにより不要波のみを抑制することを特徴とする弾性波素子である。
本発明によれば、弾性境界波素子の機能として使用する弾性境界波の近傍の周波数に出現するストンリー波を抑圧することが可能な弾性境界波素子、フィルタ及び電子機器を提供することができる。
(実施の形態1)
以下、本発明の実施の形態1における弾性波素子について図面を参照しながら説明する。
図1に本発明の実施の形態を示す。本実施の形態の弾性波素子は、LiNbO3からなる圧電基板1と、圧電基板1の上面に設けられた第1の誘電体層2と、圧電基板1と第1の誘電体層2の境界に設けられたIDT電極3と、第1の誘電体層2の上面に設けられた第2の誘電体層4と、第2の誘電体層4の上面に設けられた吸音層5から成っている。ここで圧電基板1として回転Y板のカット角度が−10度以上+30度以下の範囲で弾性波がX軸方向あるいは前記X軸方向に対して±5度の範囲で伝搬するLiNbO3を用い、第1の誘電体層2として酸化ケイ素、第2の誘電体層4として窒化ケイ素または窒化アルミを用いる。IDT電極3としては弾性波の閉じ込め効果を向上させるために、密度が比較的大きく導体損の少ないCuを用いる。
本実施の形態において圧電基板1と第1の誘電体層2の境界に主にエネルギーが閉じ込められて伝搬する横波成分が支配的であるSH波と、基板深さ方向の成分と弾性波伝搬方向成分が支配的なSV波が伝搬する。このSV波はストンリー波と同様の変位分布を有する。SH波は弾性波の結合係数k2が高いため、フィルタや共用器などデバイス応用が可能である。そしてSH波を主要波として用いる場合、SV波は不要波として検出される。弾性波デバイスとして用いるためには不要波であるSV波の抑制が必要となる。
また弾性波素子は、伝搬減衰が小さいことが望まれる。伝搬減衰を小さくするには弾性波の閉じ込めを強くする必要がある。圧電基板1と第1の誘電体層2の中にSH波を閉じ込めるためにはSH波が圧電基板1を伝搬する遅い横波の音速と第2の誘電体層4を伝播する横波の音速よりも遅い必要がある。そのため、第2の誘電体層4としては横波の音速の速い媒質である窒化ケイ素、あるいは窒化アルミが望ましい。また、IDT電極3については圧電基板1の遅い横波よりも十分にSH波の音速を下げる必要があるため密度の大きいCuが望ましい。
比較のための従来の弾性表面波素子の構成を図2に、この弾性表面波素子による共振器のアドミタンス特性の測定結果を図3に示す。ここで、共振器はIDT電極とその両側に反射器電極を備えた構成である。第1の誘電体層2として酸化ケイ素を、第2の誘電体層4を窒化ケイ素とし、それらの膜厚をそれぞれH1、H2とすると弾性波の動作中心周波数での波長をλとしたときに、H1/λ=0.2、H2/λ=0.5とした。またIDT電極3としてCuを用い、その膜厚をhとするとh/λ=0.076とした。図3より、主要波であるSH波の近傍に不要応答であるSV波が存在している。
図4に本発明の実施の形態による弾性波素子による共振器のアドミタンス特性の測定結果を示す。ここで、共振器はIDT電極3とその両側に反射器電極を備えた構成である。図4より、SV波による不要応答が抑制されていることがわかる。
ここで、第1の誘電体層2、第2の誘電体層4の膜厚を変化させた場合のSH波とSV波の変位分布について数値計算を行った。解析法としてCampbellらの方法を用い、LiNbO3の材料定数としてはSmithらによる定数を用いた。
第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.5とした場合のSV波の変位分布を図5に、SH波の変位分布を図6に示す。これを見るとSV波の変位分布は第2の誘電体層4表面まで及んでいるのに対し、第2の誘電体層4表面におけるSH波の変位分布は非常に小さくなっていることがわかる。
また、図7に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.4とした場合のSV波の変位分布を、図8に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.4とした場合のSH波の変位分布を示す。
また、図9に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.6とした場合のSV波の変位分布を、図10に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.6とした場合のSH波の変位分布を示す。
また、図11に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.7とした場合のSV波の変位分布を、図12に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.7とした場合のSH波の変位分布を示す。
図7から図12より、第2の誘電体層4の膜厚に対しH2/λ<0.4となると主要波であるSH波の変位分布も第2の誘電体層4表面に現れ、吸音層を付加することで主要波も減衰する。また第2の誘電体層4の膜厚がH2/λ>0.7となると不要波であるSV波の変位分布が第2の誘電体層4表面で小さくなり、吸音層による抑圧ができなくなる。
よって、第2の誘電体層4の膜厚は0.5<H2/λ<0.7となるように構成することにより、主要波をほとんど減衰させることなく、不要波をより効果的に抑圧することができる。
また、図13に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.1、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.5とした場合のSV波の変位分布を、図14に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.1、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.5とした場合のSH波の変位分布を示す。
また、図15に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.3、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.5とした場合のSV波の変位分布を、図16に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.3、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.5とした場合のSH波の変位分布を示す。
また図17に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.4、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.5とした場合のSV波の変位分布を、図18に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.4、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=0.5とした場合のSH波の変位分布を示す。
図13から図18より、第1の誘電体層2の膜厚に対しH1/λ<0.1となるとSH波の変位分布も第2の誘電体層4表面に現れ、吸音層を付加することで主要波も減衰する。また、第1の誘電体層2の膜厚がH1/λ>0.3となると不要波であるSV波の変位分布が第2の誘電体層4表面で小さくなり、吸音層による抑圧ができなくなる。
よって、第1の誘電体層2の膜厚が0.1<H1/λ<0.3となるように構成することにより、主要波をほとんど減衰させることなく、不要波をより効果的に抑圧することができる。
図19に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=1.0とし、吸音層がない場合の共振器のアドミタンス特性の測定結果を示す。また、図20に第1の誘電体層2の膜厚をH1/λ=0.2、第2の誘電体層4の膜厚をH2/λ=1.0とし、吸音層を設けた共振器のアドミタンス特性の測定結果を示す。図19、及び図20を比較すると、吸音層によりSV波が抑圧できていないことがわかる。
このように第1の誘電体層2、第2の誘電体層4の膜厚を適切に選ぶことで吸音層によるSV波抑制の効果は得られる。
本発明を用いればSV波の応答を効果的に抑えることができるため、本発明を実施しない場合に比べて、回転Y板のカット角度について、結合係数の高いカット角を用いることができ、フィルタ、及び共用器を広帯域とすることができ、挿入損失を改善することが出来る。特に、結合係数が0.15以上、好ましくは0.2以上であれば、UMTSシステムにおける送受間隔の広いBand1やBand4、10のDup.の高性能化に有用である。
特に圧電基板1において回転Y板のカット角度を−5度以上、10度未満とすることによって高い結合係数を得ることができる。
また、弾性波がX軸方向あるいはX軸方向に対して±5度の範囲で伝搬するような共振器を構成することでパワーフローによる伝搬損失を抑えることができる。
また酸化ケイ素は温度特性補償の効果を持つため、この弾性波基板を用いることで弾性波素子の温度特性を向上することが出来る。
本発明にかかる弾性波素子は、フィルタ帯域内に発生する不要応答を抑制し、且つ低損失な特性を有し、携帯電話等の各種電子機器において有用である。
本発明における弾性波素子の断面図 比較のための弾性波素子の断面図 比較のための弾性波素子による共振器のアドミタンス特性図 本発明における弾性波素子による共振器のアドミタンス特性図 H1/λ=0.2、H2/λ=0.5とした場合のSV波の変位分布図 H1/λ=0.2、H2/λ=0.5とした場合のSH波の変位分布図 H1/λ=0.2、H2/λ=0.4とした場合のSV波の変位分布図 H1/λ=0.2,H2/λ=0.4とした場合のSH波の変位分布図 H1/λ=0.2,H2/λ=0.6とした場合のSV波の変位分布図 H1/λ=0.2、H2/λ=0.6とした場合のSH波の変位分布図 H1/λ=0.2、H2/λ=0.7とした場合のSV波の変位分布図 H1/λ=0.2、H2/λ=0.7とした場合のSH波の変位分布図 H1/λ=0.1、H2/λ=0.5とした場合のSV波の変位分布図 H1/λ=0.1、H2/λ=0.5とした場合のSH波の変位分布図 H1/λ=0.3、H2/λ=0.5とした場合のSV波の変位分布図 H1/λ=0.3、H2/λ=0.5とした場合のSH波の変位分布図 H1/λ=0.4、H2/λ=0.5とした場合のSV波の変位分布図 H1/λ=0.4、H2/λ=0.5とした場合のSH波の変位分布図 H1/λ=0.2、H2/λ=1.0で、吸音層がない場合の共振器のアドミタンス特性図 H1/λ=0.2、H2/λ=1.0で,吸音層を設けた場合の共振器のアドミタンス特性図 従来の弾性波素子の断面図
符号の説明
1 圧電基板
2 第1の誘電体層
3 IDT電極
4 第2の誘電体層
5 吸音層

Claims (6)

  1. 圧電基板と、
    前記圧電基板上方に設けられたIDT電極と、
    前記IDT電極上方に設けられた酸化ケイ素からなる第1の誘電体層と、
    前記第1の誘電体層上方に設けられた窒化ケイ素または窒化アルミからなる第2の誘電体層と、
    前記第2の誘電体層上方に設けられた吸音層とを備え、
    前記第2の誘電体層の膜厚が
    前記圧電基板における擬似弾性波の動作中心周波数での波長をλとしたときに
    0.4λ〜0.7λの範囲内にある
    弾性波素子。
  2. 前記第1の誘電体層の膜厚が
    前記圧電基板における擬似弾性波の動作中心周波数での波長をλとしたときに
    0.1λ〜0.3λの範囲内にある
    請求項1に記載の弾性波素子。
  3. 前記IDT電極がCuからなる
    請求項1に記載の弾性波素子。
  4. 前記圧電基板が
    回転Y板のカット角度が−10度以上+30度以下の範囲で弾性波がX軸方向あるいは前記X軸方向に対して±5度の範囲で伝搬するLiNbO3基板である
    請求項1に記載の弾性波素子。
  5. 請求項1に記載の弾性波素子を用いたフィルタ。
  6. 請求項1に記載の弾性波素子を用いた電子機器。
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