JP4295712B2 - リソグラフィ装置及び装置製造方法 - Google Patents
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Description
本発明の別の目的は、たとえば浸漬液供給システムからの漏れにより、浸漬液によってリソグラフィ装置の構成部品が汚染される危険性を低減することである。
−放射線の投射ビームを提供するための照射系と、
−投射ビームにその断面においてパターンを付与するように働くパターン化手段を支持するための支持構造と、
−基板を保持するための基板テーブルと、
−基板の目標部分上にパターン化されたビームを投射するための投射系と、
−前記投射系の最終要素と前記基板の間の空間を浸漬液で充填するための浸漬液供給システムとを含み、
前記浸漬液が、(i)最終要素及び/若しくは浸漬液供給システムとの間で60°より小さい接触角を有し、かつ/或いは(ii)前記基板の表面との間で80°より小さい接触角を有することを特徴とするリソグラフィ装置が提供される。
−放射線の投射ビームを提供するための照射系と、
−投射ビームにその断面においてパターンを付与するように働くパターン化手段を支持するための支持構造と、
−基板を保持するための基板テーブルと、
−基板の目標部分上にパターン化されたビームを投射するための投射系と、
−前記基板、センサ又はシャッタ部材と前記投射系の最終要素の間の空間を少なくとも部分的に浸漬液で充填するための浸漬液供給システムとを含み、
前記浸漬液が、前記基板、センサ、シャッタ部材及び/又は最終要素の表面との間で90°より大きい接触角を有し、その表面が、装置の光軸又は前記投射系の表面及び/又は前記基板テーブルの上表面の実質的にすべてと整合可能なことを特徴とするリソグラフィ装置が提供される。
−基板を提供するステップと、
−照明系を使用して放射線の投射ビームを提供するステップと、
−パターン化手段を使用して、投射ビームにその断面においてパターンを付与するステップと、
−投射系の最終要素と前記基板の間の空間を浸漬液で充填するステップと、
−前記投射系を使用して、基板の目標部分上に放射線の投射ビームを投射するステップとを含み、
前記浸漬液が、(i)最終要素及び/若しくは浸漬液供給システムとの間で60°より小さい接触角を有し、かつ/或いは(ii)前記基板の表面との間で80°より小さい接触角を有ることを特徴とする装置製造方法が提供される。
−基板を提供するステップと、
−照明系を使用して、放射線の投射ビームを提供するステップと、
−パターン化手段を使用して、投射ビームにその断面においてパターンを付与するステップと、
−投射系の最終要素と前記基板、センサ又はシャッタ部材の間の空間を少なくとも部分的に浸漬液で充填するステップと、
−前記投射系を使用して、基板の目標部分上に放射線のパターン化されたビームを投射するステップとを含み、
前記浸漬液が、前記基板、センサ、シャッタ部材及び/又は最終要素の表面との間で90°より大きい接触角を有し、その表面が、装置の光軸又は前記投射系の表面及び/又は前記基板テーブルの上表面の実質的にすべてと整合可能であることを特徴とする装置製造方法が提供される。
図1は、本発明の具体的な実施例によるリソグラフィ装置を概略的に示す。この装置は、
−放射線(たとえば、紫外線)の投射ビームPBを提供するための照射系(照明装置)ILと、
−アイテムPLに対してパターン化手段(たとえば、マスク)MAを正確に位置決めするための第1の位置決め手段PMに接続され、パターン化手段を支持するための第1の支持構造(たとえば、マスク・テーブル)MTと、
−アイテムPLに対して基板(たとえば、レジスト被膜ウェハ)Wを正確に位置決めするための第2の位置決め手段PWに接続され、基板を保持するための基板テーブル(たとえば、ウェハ・テーブル)WTと、
−パターン化手段MAによって投射ビームPBに付与されるパターンを、(たとえば、1個又は複数のダイを有する)基板Wの目標部分C上に結像するための投射系(たとえば、屈折投射レンズ)PLと
を含む。
1.ステップ・モードでは、投射ビームに付与されたパターン全体が一度に目標部分C上に投射される間(たとえば、単一静止状態露光)、マスク・テーブルMT及び基板テーブルWTは、基本的に静止状態に保たれる。次いで、基板テーブルWTは、X及び/又はY方向にシフトされ、したがって異なる目標部分Cの露光ができる。ステップ・モードでは、露光域の最大サイズが、単一静止状態露光中に結像される目標部分Cのサイズを限定する。
2.走査モードでは、投射ビームに付与されたパターンが、目標部分C上に投射される間(たとえば、単一動的露光)、マスク・テーブルMT及び基板テーブルWTは、同時に走査される。マスク・テーブルMTに対する基板テーブルWTの相対移動の速度及び方向は、拡大率(縮小率)及び投射系PLの影像反転特性によって決まる。走査モードでは、露光域の最大サイズが単一動的露光中の目標部分の(走査方向でない方向の)幅を限定し、走査運動の長さは目標部分の(走査方向の)高さを決める。
3.他のモードでは、マスク・テーブルMTは、プログラム可能なパターン化手段を保持しながら基本的に静止状態に保たれる。基板テーブルWTは、投射ビームに付与されたパターンが、目標部分C上に投射される間、移動又は走査される。このモードでは、一般に、パルス状の放射線源が使用され、走査中、基板テーブルWTの移動した後ごとに、又は連続する放射線パルスの間に必要に応じてプログラム可能なパターン化手段が更新される。この運用モードは、上記のプログラム可能なミラー・アレイのタイプなどのプログラム可能なパターン化手段を利用するマスクを使用しないリソグラフィに容易に適用することができる。
第2の実施例を図5に示す。この例は、以下に述べる点を除き第1の実施例と同じである。
実施例3及び4をそれぞれ図6及び7に示す。それらは、第1の実施例と同じであり、それら実施例のいくつかの態様をより詳しく述べる。
図8及び9を参照して第5の実施例を述べる。第5の実施例は、以下に述べる点を除き第1の実施例と同じである。
投射ビームの波長として193nmを使用するとき、浸漬液は実質的に水とすることが可能である。表面処理がされていないガラス上では、水は約70°の接触角になり、表面処理がされていないアルミニウム又はステンレス鋼上では、約80°の接触角になる。接触角は、液がなす角度である。本発明は、他のタイプの浸漬液にも等しく適用される。
R=4γ/ΔP
本発明の一実施例では、保護膜を基板に、すなわちその基板のレジストの上面上に塗布して、ガス又は気泡がレジスト又はレジスト・スタックの表面に張り付くことを防止する。露光中、レジスト上の気泡によって、印刷像の焦点ボケ及び/又はゆがみによる欠陥が引き起され、歩留まりが低下する。本発明のこの実施例によれば、保護膜は親液性(すなわち、浸漬液が水ベースの場合、親水性)であり、80°より小さい範囲、たとえば65°〜75°の接触角を有する。65°及び72°の接触角を有する表面を使用する実験では、基板1枚当りの気泡欠陥の数は、同じ条件下で、疎水性の保護膜又は保護膜のないレジストの場合の約500に比べ、10より少ない数まで減少することができる。親水性保護膜の使用は、気泡の形成を防止するとは考えられず、むしろ気泡が基板に付着し、そこで欠陥を起こすことになるのを防止すると考えられる。レジストに付着しないようにされた気泡を浸漬液から取り除いて、結像欠陥が起こるのを防止することができる。
IN 積分器
CO 集光器
PB 投射ビーム
MA パターン化手段、マスク
MT 支持構造、マスク・テーブル
M1、M2 マスク位置合せマーク
PL アイテム、投射系、屈折投射レンズ
BD ビーム送出系
W 基板
C 目標部分
WT 基板テーブル
IF 位置センサ
PM、PW 位置決め手段
P1、P2 基板位置合せマーク
OUT 排出口
IN 注入口
SO 放射線源
5 浸漬液
7、9 レベル
10 シール部材
15 シール手段
18 注入口
19 抽出口
20 投射系PLの最終要素、最終要素の外側表面
22 投射系の表面
40 基板Wの上表面
50 矢印
100 第1の層
110 第2の層
200 スルー・レンズ・センサ、センサ
210 検出要素
220 吸収要素
222 透過センサ回折格子
230 レンズ、最終要素
240 被覆
300 シャッタ部材
360、370 磁石
400 ガス入口、入口
Claims (9)
- 放射線の投射ビームを提供するための照射系と、
投射ビームにその断面においてパターンを付与するように働くパターン化手段を支持するための支持構造と、
基板を保持するための基板テーブルと、
基板の目標部分上にパターン化されたビームを投射するための投射系と、
前記投射系の最終要素と前記基板の間の空間を浸漬液で充填するための浸漬液供給システムとを含み、
前記浸漬液が、(i)最終要素及び/若しくは浸漬液供給システムとの間で60°より小さい接触角を有し、かつ/或いは(ii)前記基板の表面との間で80°より小さい接触角を有しており、
前記浸漬液が、前記浸漬液の表面張力を減少させるための添加剤を含む、
ことを特徴とするリソグラフィ装置。 - 前記添加剤が界面活性剤又は石鹸又は塩である、請求項1に記載の装置。
- 前記浸漬液と前記基板、最終要素及び/又は浸漬液供給システムとの間の表面張力が、前記浸漬液と空気の間の表面張力より大きい、請求項1から2までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記浸漬液との間で60°より小さい接触角を有する前記表面が、ガラス、ガラス・セラミック、金属酸化物又は金属である、請求項1から3までのいずれか一項に記載の装置。
- 前記表面が、表面処理を施されており、被覆又はポリマーである、請求項4に記載の装置。
- 前記浸漬液が、前記基板の前記表面との間で75°より小さい接触角を有する、請求項1から5までのいずれか一項に記載の装置。
- 基板を提供するステップと、
照明系を使用して、放射線の投射ビームを提供するステップと、
パターン化手段を使用して、投射ビームにその断面においてパターンを付与するステップと、
投射系の最終要素と前記基板の間の空間を浸漬液で充填するステップと、
前記投射系を使用して、基板の目標部分上に放射線のパターン化されたビームを投射するステップとを含み、
前記浸漬液が、(i)最終要素及び/若しくは浸漬液供給システムとの間で60°より小さい接触角を有し、かつ/或いは(ii)前記基板の表面との間で80°より小さい接触角を有しており、
前記浸漬液が、前記浸漬液の表面張力を減少させるための添加剤を含む、
ことを特徴とする装置製造方法。 - 前記浸漬液が、前記基板の前記表面との間で75°より小さい接触角を有する、請求項7に記載の方法。
- 前記浸漬液に添加剤を添加するステップを含む、請求項7に記載の方法。
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