DE102005036978A1 - Überführungsvorrichtung eines Handlers zum Testen einer Halbleitervorrichtung - Google Patents

Überführungsvorrichtung eines Handlers zum Testen einer Halbleitervorrichtung Download PDF

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DE102005036978A1
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Chul Ho Yongin Ham
Woo Young Lim
Young Geun Yongin Park
Ho Keun Seongnam Song
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements, bei der ein Abstand zwischen jedem Kopf von Aufnehmerköpfen auf einen gewünschten diskreten Abstand eingestellt werden kann, ohne eine Nockenplatte auszutauschen. DOLLAR A Die Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements weist einen Basisteil, mehrere Aufnehmerköpfe, die beweglich horizontal an dem Basisteil befestigt sind, um die Halbleiter zu halten/zu lösen, eine Nockenplatte, die beweglich an dem Basisteil befestigt ist, mehrere darin geneigt gebildete Nockenrillen und Verbindungsteile auf, wobei jede erste Seite davon an jedem Aufnehmerkopf befestigt ist und jede zweite Seite davon relativ beweglich mit jeder Nockenrolle verbunden ist, wodurch jeder Aufnehmerkopf mit jeder Nockenrille verbunden ist, und eine Antriebseinheit für das Hin- und Herbewegen der Nockenplatte, so dass die Aufnehmerköpfe in eine diskrete Position des Basisteils verändert werden können.

Description

  • Diese Anmeldung beansprucht den Nutzen der koreanischen Patentanmeldung Nr. P2004–14284, eingereicht am 3. März 2004, die hiermit durch Bezugnahme so aufgenommen wird, als ob sie zur Gänze im vorliegenden Dokument dargelegt würde.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft einen Handler und insbesondere eine Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbaulements, in welcher ein Abstand eines jeden Kopfes von Aufnehmerköpfen zum Aufnehmen und Transferieren von Halbleitern einfach und auf unterschiedliche Weise eingestellt werden kann.
  • Beschreibung des Stands der Technik
  • Im Allgemeinen werden Modul-ICs, mit Speicher- oder Nicht-Speicher-Halbleitern auf einem Substrat, schaltungsmäßig und in angemessener Weise nach verschiedenen Schritten bei der Herstellung freigegeben. Ein Handler ist eine Vorrichtung, welche die Modul-ICs, wie zum Beispiel Halbleiter, zu einem Verfahren transferiert und diese dann testet.
  • Im Allgemeinen transferiert ein Handler, nachdem ein Handler Halbleiter, die in jedem Benutzer-Magazin eines Ladeteils enthalten sind, in einem Test-Magazin, das eine Transfervorrichtung verwendet, reinstalliert, die Test-Magazine zu einem Testort und führt dann einen Test durch. Danach ordnet der Handler die getesteten Halbleiter wieder in Benutzer-Magazinen eines entladenden Teils gemäß den Testergebnissen an.
  • Da jedoch Abstände zwischen den Halbleitern, die in dem Benutzer-Magazin gereiht sind, von den Abständen zwischen den Halbleitern verschieden sind, die in dem Test-Magazin gereiht sind, sollten die Abstände zwischen jedem Kopf der Aufnehmerköpfe variiert werden.
  • Das heißt, dass in einer Transfervorrichtung die Abstände zwischen jedem Aufnehmerkopf in die Abstände zwischen jedem Halbleiter in dem Benutzer-Magazin und/oder die Abstände zwischen jedem Halbleiter in dem Test-Magazin verändert werden sollten.
  • Der Anmelder der vorliegenden Erfindung entwickelte eine Transfervorrichtung, die in der Lage ist, Abstände von Aufnehmerköpfen in einer einfachen Struktur präzise und schnell einzustellen, ohne eine komplexe Verbindung zu verwenden. In der koreanischen Erstveröffentlichung der Patentschrift 10-0248704 (Datum der Veröffentlichung: 15. März 2000) wird eine Vorrichtung zur Einstellung jedes Halbleiter-Abstandes eines Halbleitertesters offenbart, worin eine Nockenwelle oder eine Nockenplatte, mit mehreren darin geneigt ausgebildeten Nockenrillen, eingebaut ist und wobei ein Teil jedes Aufnehmerkopfes relativ bewegbar mit jeder Nockenrilie der Nockenwelle oder der Nockenplatte verbunden ist. Wenn die Nockenwelle durch Verwendung eines Drehzylinders gedreht wird oder wenn die Nockenplatte durch einen pneumatischen Zylinder geradlinig bewegt wird, bewegt sich in der Vorrichtung zur Einstellung jedes Halbleiter-Abstandes jeder Aufnehmerkopf relativ entlang jeder Nockenrille der Nockenwelle, wodurch zwischen jedem betätigten bzw. bewegten Aufnehmerkopf der Abstand eingestellt wird.
  • Insbesondere gibt es in der Vorrichtung zur Einstellung jedes Halbleiter-Abstandes zwei Abstand-Einstellungsschritte. In einem ersten Schritt, wenn ein Ende eines Aufnehmerkopfes an einem ersten Ende einer Nockenwelle oder einer Nockenrille einer Nockenplatte angeordnet ist, wird der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf minimiert. In einem zweiten Schritt, wenn eine Nockenwelle durch einen Drehzylinder oder einen pneumatischen Zylinder gedreht wird oder sich eine Nockenplatte geradlinig bewegt und sich dann ein Ende eines Aufnehmerkopfes in ein zweites Ende einer Nockenrille bewegt, wird der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf maximiert.
  • Da eine herkömmliche Vorrichtung zum Einstellen jedes Halbleiter-Abstandes jedoch nur zwei Schritte aufweist, den Schritt des maximalen Abstands und den Schritt des minimalen Abstands, um den Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf einzustellen, sollte die Nockenwelle oder die Nockenplatte durch jene ausgetauscht werden, welche jedem Halbleiter in dem Fall entsprechen, dass die Arten und Größen der Halbleiter variieren.
  • Mit anderen Worten, wenn die Arten oder die Größen der zu testenden Halbleiter variieren, variieren auch die Abstände zwischen den Halbleitern in den Benutzer-Magazinen und den Test-Magazinen. Somit stimmen in dem Fall, dass die Nockenwelle oder die Nockenplatte nicht durch jene ausgetauscht wird, die für die Halbleiter geeignet ist, die Abstände zwischen den Halbleitern in dem Benutzer-Magazin und den Halbleitern in dem Test-Magazin nicht mit den Abständen zwischen den Aufnehmerköpfen überein, wodurch der Test nicht durchgeführt wird.
  • Infolgedessen wird herkömmlicherweise, wann immer die Arten und/oder die Größen der zu testenden Halbleiter variieren, die Nockenwelle oder die Nockenplatte durch jene ausgetauscht, die für die Halbleiter geeignet ist. Daher ist der Austauschprozess so komplex und schwierig, dass er viel Zeit beansprucht und zu dem Problem führen kann, dass die Arbeitseffizienz und Produktivität verschlechtert wird.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Demzufolge betrifft die vorliegende Erfindung eine Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements, welche im Wesentlichen eines oder mehrere Probleme aufgrund von Einschränkungen und Nachteilen des bekannten Stands der Technik beseitigt.
  • Ein Ziel der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements bereitzustellen, die in der Lage ist, einen Abstand, zwischen jedem Aufnehmerkopf einzustellen, welcher Halbleiter wie gewünscht aufnimmt, ohne Austausch einer Nockenplatte.
  • Weitere Vorteile, Ziele und Merkmale der Erfindung werden teilweise in der folgenden Beschreibung dargelegt und teilweise Durchschnittsfachleuten bei Prüfung des Folgenden offenbar oder können aus der Anwendung der Erfindung gelernt werden. Die Ziele und anderen Vorteile der Erfindung können durch die Struktur realisiert und erhalten werden, die insbesondere aus der schriftlichen Beschreibung und den Patentansprüchen sowie den beiliegenden Zeichnungen hervorgeht.
  • Um diese Ziele und andere Vorteile zu erreichen und in Übereinstimmung mit dem Zweck der Erfindung, so wie hierin ausgeführt und allgemein beschrieben, ist eine Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements zum lösbaren Halten mehrerer Halbleiter und zum Transferieren derselben zu einem vorbestimmten Ort ausgestattet mit einem Basisteil; mehreren Aufnehmerköpfen zum Halten/Lösen der Halbleiter; einer Nockenplatte, die beweglich in dem Basisteil montiert ist, wobei mehrere Nockenrillen geneigt ausgebildet sind; Verbindungsteilen zum Verbinden eines jeden Aufnehmerkopfs mit einer jeden Nockenrille, wobei eine erste Seite davon an jedem Aufnehmer befestigt ist und eine zweite Seite davon relativ bewegbar an jeder Nockenrille befestigt ist; und einer Antriebseinheit zum Hin- und Herbewegen der Nockenplatte, so dass jeder Verbindungsteil abwechselnd in einer ersten diskreten Position oder einer zweiten diskreten Position angeordnet ist und dann jeder Aufnehmerkopf in eine erste diskrete Position oder eine zweite diskrete Position verändert werden kann.
  • Gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung weist die Antriebseinheit einen Motor, der in dem Basisteil montiert und in der Lage ist, eine diskrete Position zu steuern, einen Kraftübertragungsteil zum Umwandeln einer Kraft des Motors in eine Hin- und Herbewegung der Nockenplatte und ein Führungselement zum Führen der Hin- und Herbewegung der Nockenplatte auf.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung wird für den Fall, dass ein Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf eingestellt werden sollte, weil die Arten oder die Größen der getesteten Halbleiter in einem Handler variieren, ein Steuersignal eines Motors, der eine Nockenplatte antreibt, variiert, ohne eine Nockenplatte auszutauschen, so dass die Position der Nockenplatte diskret variiert werden kann, wodurch der Abstand jedes Aufnehmerkopfes auf einen gewünschten diskreten Abstand eingestellt werden kann.
  • Es gilt zu verstehen, dass sowohl die vorhergehende allgemeine Beschreibung als auch die folgende detaillierte Beschreibung der vorliegenden Erfindung beispielhaft und erläuternd sind und beabsichtigen, weitergehende Erläuterung der beanspruchten Erfindung zu liefern.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die begleitenden Zeichnungen, die beinhaltet sind, um ein besseres Verständnis der Erfindung zu liefern und in die vorliegende Anmeldung aufgenommen werden und einen Teil derselben darstellen, zeigen (eine) Ausführungsformen) der Erfindung und dienen gemeinsam mit der Beschreibung dazu, das Prinzip der Erfindung zu erklären. Es zeigen:
  • 1 eine perspektivische Vorderansicht, welche eine Struktur einer Ausführungsform einer Transfervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 2 eine perspektivische Rückansicht der Transfervorrichtung in 1;
  • 3 eine Schnittansicht von Hauptbestandteilen der Transfervorrichtung in 1;
  • 4 eine Draufsicht der Transfervorrichtung in 1;
  • 5 eine teilweise perspektivische Ansicht, welche eine Teilstruktur der Transfervorrichtung in 1 zeigt;
  • 6 bis 9 Diagramme, welche jeweils ein Betriebsbeispiel einer Transfervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigen;
  • 10 und 11 perspektivische Vorderansichten, welche jeweils eine weitere Ausführungsform einer Transfervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigen.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
  • Es wird nun im Detail auf die bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung Bezug genommen, von der Beispiele in den begleitenden Zeichnungen dargestellt sind. Wo immer dies möglich ist, werden dieselben Bezugszahlen über alle Zeichnungen hinweg verwendet, um sich auf dieselben oder ähnliche Teile zu beziehen.
  • Unter Bezugnahme auf 1 bis 5 erfolgt eine detaillierte Beschreibung einer Ausführungsform einer Transfervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • Wie in 1 bis 4 gezeigt, weist eine Transfervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung einen Basisteil 10 auf, der bewegbar horizontal an einer ersten bis dritten Welle eines X-Y-Portal-Roboters (nicht gezeigt) befestigt ist, der an einem Körper (nicht gezeigt) eines Handlers befestigt ist, wobei mehrere Aufnehmerköpfe 20 in dem Basisteil 10 angeordnet sind, um Halbleiter mit Hilfe eines Vakuumdrucks aufzunehmen. Die Aufnehmerköpfe 20 sind in einem vorderen und einem hinteren Teil des Basisteils 10 angeordnet, die jeweils acht in zwei Reihen aufweisen.
  • Der Basisteil 10 weist einen sich hin- und herbewegenden Block 11 auf, der aufwärts-/abwärts-bewegbar an dem X-Y-Portal-Roboter (nicht gezeigt) befestigt ist, zwei Seitenplatten 12, 13, die senkrecht in beiden Seitenenden des sich hin- und herbewegenden Blocks 11 verbunden sind und einander gegenüber liegen, und zwei Basisplatten 14, 15, die parallel mit einem vorbestimmten Abstand dazwischen angeordnet sind, wobei beide Enden davon mit den Seitenplatten 12, 13 verbunden sind.
  • Eine Nockenplatte 30 ist aufwärts-/abwärts-bewegbar zwischen den Basisplatten 14, 15 zum Einstellen eines Abstandes zwischen jedem Aufnehmerkopf 20 angeordnet. An der Nockenplatte 30 sind mehrere Nockenrillen 32 (acht Nockenrillen in einer Ausführungsform) geneigt in einer diffusen bzw. sich ausbreitenden Richtung von einer Oberseite zu einer Unterseite ausgebildet. Hier sind die Nockenrillen 32 so gebildet, dass sie durch eine Vorderfläche und eine Rückfläche der Nockenplatte 30 verlaufen.
  • Ebenfalls sind eine erste bis eine vierte LM-Führungsschiene 41 bis 44, welche die Bewegung jedes Aufnehmerkopfes 20 in horizontaler Richtung führen, horizontal an einer Oberseite und einer Unterseite jeder Basisplatte 14, 15 in einem vorbestimmten Abstand montiert. LM-Blöcke 45, 46, die jeweils an den Aufnehmerköpfen 20 befestigt sind, sind mit den LM-Führungsschienen 41 bis 44 verbunden, um sich entlang der LM-Führungsschienen zu bewegen.
  • Die LM-Blöcke 45, die mit den Aufnehmerköpfen 20 ungerader Zahl von einer ersten Seite verbunden sind, sind mit einer ersten und einer dritten LM-Führung 41, 43 der LM-Führungsschienen verbunden, und die LM-Blöcke 46, die mit den Aufnehmerköpfen 20 gerader Zahl von einer ersten Seite verbunden sind, sind mit einer zweiten und einer vierten LM-Führungsschiene 42, 44 der LM-Führungsschienen verbunden.
  • Der Grund, warum die LM-Blöcke 45, 46, die mit jedem Aufnehmerkopf 20 verbunden sind, abwechselnd mit der Oberseite und der Unterseite der LM-Führungsschienen 41 bis 44 verbunden sind, besteht darin, zu vermeiden, dass die Größen der LM-Blöcke 45, 46 die Einstellung eines Mindest-Abstandes zwischen jedem Aufnehmerkopf 20 beeinträchtigen.
  • Mit anderen Worten, falls die LM-Blöcke 45, 46, genau wie eine Ausführungsform, mit denselben LM-Führungsschienen 41 bis 44 in einer Reihe verbunden sind, können die LM-Blöcke 45, 46 aneinander stoßen, wenn der minimale Abstand jedes Aufnehmerkopfes 20 eingestellt wird, wodurch die Einstellung des minimalen Abstands jedes Aufnehmerkopfes 20 nicht ausgeführt wird, da die Breite jedes LM-Blocks 45, 46 größer als die Breite jedes Aufnehmerkopfes 20 ist.
  • Für den Fall, dass die Breite jedes LM-Blocks 45, 46 kleiner als die Breite jedes Aufnehmerkopfes 20 ist, ist es natürlich möglich, nur eine oder zwei LM-Führungsschienen zu verwenden und die LM-Blöcke, die mit jedem Aufnehmerkopf 20 verbunden sind, können mit denselben LM-Führungsschienen in Linie verbunden sein.
  • Die LM-Führungsschienen 35 sind in einer nach oben und nach unten verlaufenden Richtung an beiden Seiten der Nockenplatte 30 angeordnet, um die Nockenplatte 30 nach oben/nach unten hin- und herzubewegen.
  • Um die Nockenplatte 30 nach oben/nach unten hin- und herzubewegen, sind LM-Führungsschienen 35 in beiden Seiten der Nockenplatte 30 installiert und einem LM Block 36, wobei die LM-Führungsschienen 35, die beweglich verbunden sind, in Innenseiten der Seitenplatten 12, 13 eingebaut sind.
  • Wenn somit eine Außenkraft in der Nockenplatte 30 in einer nach oben/nach unten verlaufenden Richtung erzeugt wird, werden die LM-Führungsschienen 35 von den LM-Blöcken 36 geführt, wodurch die Nockenplatte 30 gleichmäßig nach oben/nach unten hin- und herbewegt wird.
  • Ferner ist ein Servomotor 51 in einer ersten Seite des sich hin- und herbewegenden Blocks 11 eingebaut, um so eine Antriebskraft zu erzeugen, welche die Nockenplatte 30 nach oben/nach unten hin- und herbewegt. Eine Kraftübertragungswelle 53 ist drehbar in einem oberen Ende des sich hin- und herbewegenden Blocks 11 eingebaut. Eine Antriebs scheibe 54, die mit einer Welle 52 des Servomotors 51 mittels eines Riemens 55 in Eingriff ist, um eine Kraft aufzunehmen, ist an einem ersten Ende der Kraftübertragungswelle 53 eingebaut. Ebenfalls ist eine erste obere Scheibe 56 mit einer ersten Seite der Antriebsscheibe 54 an derselben Welle verbunden, und eine zweite obere Scheibe 57 ist ebenfalls mit der gegenüberliegenden Seite der ersten oberen Scheibe 56 an derselben Welle verbunden.
  • Eine erste untere Scheibe 58 und eine zweite untere Scheibe 59, die jeweils mit der ersten oberen Scheibe 56 und der zweiten oberen Scheibe 57 in Eingriff sind, sind drehbar in beiden Seiten eines unteren Endes des sich hin- und herbewegenden Blocks 11 mittels des ersten und des zweiten Kraftübertragungsriemens 61, 62 angeordnet.
  • Der erste und der zweite Kraftübertragungsriemen 61, 62 sind jeweils mit beiden Seiten der Nockenplatte 30 durch Teile 63, 64 einer ersten und einer zweiten Kugelumlaufspindel 152 verbunden.
  • Folglich wird, wenn ein Signal am Servomotor 51 angelegt und eine Welle 52 in eine Richtung gedreht wird, eine Kraft auf eine Antriebsscheibe 54 durch einen Riemen 55 übertragen, und dann werden eine Kraftübertragungswelle 53 und die erste und eine zweite obere Scheibe 56, 57, die mit der Kraftübertragungswelle 53 in Eingriff sind, gedreht. Somit bewegen sich der erste und der zweite Übertragungsriemen 61, 62 nach oben/nach unten hin und her, und eine Nockenplatte bewegt sich nach oben/nach unten hin und her, mittels der Führung eines LM-Blocks 36.
  • Wie in 5 gezeigt, sind Führungsöffnungen 14a als längliche Öffnungsformen in einer Rechts-und-Links-Richtung an einem zentralen Teil der Basisplatten 14, 15 gebildet. Ferner sind Stäbe 25 von Kugelumlaufspindeln 152, die mit Nockenrillen 32 der Nockenplatte 30 durch die Führungsöffnungen 14a verbunden sind, mit jedem Aufnehmerkopf 20 verbunden. Rollen 26 sind an dem Ende des Stabs 25 der Kugelumlaufspindel 152 rollbeweglich befestigt, um die relative Bewegung zwischen den Nockenrillen 32 und den Stäben 25 der Kugelumlaufspindel 152 zu erleichtern.
  • Die Stäbe 25 der Kugelumlaufspindel 152, die mit den Aufnehmerköpfen 20 eines Vorderteils des Basisteils 10 verbunden sind, und die Verbindungsstäbe 25, die mit den Aufnehmerköpfen 20 eines hinteren Teils verbunden sind, sind gemeinsam mit den Nockenrillen 32 der Nockenplatte 30 verbunden und bewegen sich relativ synchron zueinander, wodurch jeder Abstand zwischen den Aufnehmerköpfen 20 gleichmäßig eingestellt wird.
  • Im Gegensatz zu einer Ausführungsform, sind Nockenrillen in beiden Seiten einer Nockenplatte gebildet, um eine gegensätzliche Phasendifferenz zueinander aufzuweisen, so dass die Einstellung des Abstandes zwischen jedem Aufnehmerkopf einer vorderen Aufnehmerkopf-Reihe und jedem Aufnehmerkopf einer hinteren Aufnehmerkopf-Reihe umgekehrt zueinander ausgeführt werden kann.
  • Es wird ein Arbeitsverfahren einer Transfervorrichtung beschrieben.
  • Wie in 6 gezeigt, sollen Verbindungsstäbe 25, die mit jedem Aufnehmerkopf 20, angeordnet in einer ersten voreingestellten Position (P1) eines oberen Endes von Nockenrillen 32 einer Nockenplatte 30, verbunden sind, und danach ein Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf 20 den Mindestabstand (D1) aufrechterhalten. In diesem Zustand nimmt jeder Aufnehmerkopf 20 einer Transfervorrichtung Halbleiter (nicht gezeigt) auf einem Benutzer-Magazin (nicht gezeigt) durch Vakuum auf und transferiert die Halbleiter zur Position eines Test-Magazins (nicht gezeigt).
  • Inmitten der Bewegung der Transfervorrichtung wird ein voreingestelltes Steuersignal am Servomotor 51 (mit Bezug auf 1) durch einen Steuerteil eines Handlers angelegt, und dann arbeitet der Servomotor 51. Wie oben beschrieben, wird die Kraft auf die Antriebsscheibe 54 (mit Bezug auf 1) mit Hilfe des Betriebs des Servomotors 51 übertragen, und dann wird die Kraftübertragungswelle 53 (mit Bezug auf 1) gedreht, und in der Folge bewegt der Antrieb des ersten und des zweiten Kraftübertragungsriemens 61, 62 (mit Bezug auf 1) die Nockenplatte 30 nach oben/nach unten hin und her.
  • Wie in 7 gezeigt, werden die Verbindungsstäbe 25 entlang eines Pfades jeder Nockenrille 32 gemäß der nach oben verlaufenden Bewegung der Nockenplatte 30 zu einer zweiten voreingestellten Position P2 aufgeweitet. Somit wird jeder Aufnehmerkopf 20, der mit den Verbindungsstäben 25 verbunden ist, in einer Rechts-Links-Richtung entlang einer ersten bis zu einer vierten LM-Führungsschiene 41 bis 44 aufgeweitet bzw. gespreizt, wodurch der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf auf den Maximalabstand D2 eingestellt wird. Zu diesem Zeitpunkt ist der Abstand jedes Aufnehmerkopfes 20 gleich dem Abstand, in welchem die Halbleiter in einem Test-Magazin (nicht gezeigt) abgelegt werden.
  • Somit bewegt eine Transfervorrichtung Halbleiter, welche durch die Aufnehmerköpfe 20 aufgenommen sind, in dem Zustand, in dem der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf 20 auf eine Aufweitung eingestellt wird, zum Test-Magazin und legt diese ab oder eine Transfervorrichtung nimmt beim Entladen die getesteten Halbleiter durch Vakuum vollständig in dem Test-Magazin auf und transferiert sie zu einem Benutzer-Magazin zum Entladen.
  • Für den Fall, dass die Transfervorrichtung sich von einer Test-Magazin-Position zu einer Benutzer-Magazin-Position bewegt, wird somit ein vorbestimmtes Steuersignal an einem Servomotor 51 angelegt, und dann arbeitet der Servomotor 51 in einer dem oben beschriebenen Betrieb entgegengesetzten Weise. Da der Servomotor 51 in entgegengesetzter Weise arbeitet, arbeiten auch der erste und der zweite Kraftübertragungsriemen 61, 62 in entgegengesetzter Weise. Somit bewegt sich die Nockenplatte 30 wieder nach unten zu einer ersten voreingestellten Position P1, und dann werden die Verbindungsstäbe 25 entlang des Pfades jeder Nockenrille 32 verengt bzw. zusammengeführt, wie in 6 gezeigt.
  • Somit bewegt sich jeder Aufnehmerkopf 20 horizontal, wodurch der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf 20 auf den minimalen Abstand eingestellt wird.
  • Wenn die Arten und Größen der Halbleiter, die getestet werden, variieren, variiert auch der Abstand zwischen jedem Halbleiter in einem Benutzer-Magazin und der Abstand zwischen jedem Halbleiter in einem Test-Magazin. Ebenfalls muss der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf 20 gemäß jedem variierten Abstand geändert werden. Zu diesem Zeitpunkt gibt der Benutzer einen neuen Steuerbefehl eines Servomotors 51 in einen Steuerteil gemäß der Art jedes Halbleiters ein, ohne eine Nockenplatte 30 auszutauschen, und dann passt er den Betriebsbereich des Servomotors 51 neu an, wodurch ein neuer Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf 20 eingestellt wird.
  • Wie in 8 gezeigt, wird, wenn ein neues Steuersignal an einem Servomotor 51 angelegt wird, der Servomotor 51 entgegen dem oben beschriebenen Betriebsbereich angetrieben, und dann bewegt sich die Nockenplatte 30 in eine dritte voreingestellte Position P3.
  • Somit befinden sich die Verbindungsstäbe 25, die mit den Aufnehmerköpfen 20 verbunden sind, nicht an den höchsten Enden der Nockenrillen 32, sondern an Enden der Nockenrillen 32, die etwas niedriger als die höchsten sind. Entsprechend können die Aufnehmerköpfe 20 einen anderen Mindestabstand D3 untereinander aufweisen als oben beschrieben.
  • Ebenfalls ist, wenn ein weiteres unterschiedliches Signal an dem Servomotor 51 angelegt wird, wie in 9 gezeigt, und sich die Nockenplatte 30 nach oben zu einer vierten voreingestellten Position P4 bewegt, der Verbindungsstab 25 jedes Aufnehmerkopfes 20 in einer weiteren anderen Position angeordnet. Zu diesem Zeitpunkt wird der Abstand zwi schen jedem Aufnehmerkopf 20 auf einen Maximalabstand D4 eingestellt, der sich von dem oben beschriebenen unterscheidet.
  • Für den Fall, dass jeder Abstand zwischen Aufnehmerköpfen 20 wieder eingestellt werden muss, aufgrund der Änderung der Art und/oder der Größe der Halbleiter, die getestet werden, passt der Benutzer ein Steuersignal des Servomotors 51 an, ohne eine Nockenplatte auszutauschen. Der Benutzer stellt somit eine Bewegungsposition der Nockenplatte diskret ein, mit anderen Worten eine relative Position zwischen den Verbindungsstäben 25 und den Nockenrillen 32, wodurch er in der Lage ist, den Abstand zwischen den Aufnehmerköpfen 20 auf den diskreten Abstand einzustellen, den er/sie wünscht.
  • In der Ausführungsform der oben beschriebenen Transfervorrichtung werden ein Servomotor 51, mehrere Scheiben 56 bis 59, Kraftübertragungsriemen 61, 62 als Antriebsmittel verwendet, um die Nockenplatte 30 nach oben/nach unten hin- und herzubewegen, wobei jedoch die Nockenplatte 30 mittels eines Linearmotors geradliniger Gestalt mit einer Bewegungsvorrichtung und einem Stator nach oben/nach unten hin- und herbewegt werden kann.
  • Ebenso werden Kraftübertragungsriemen und Scheiben, wie oben beschrieben, als Kraftübertragungssystem zum Übertragen der Kraft des Servomotors 51 verwendet, wobei jedoch auch Kugelumlaufspindeln verwendet werden können.
  • 10 und 11 zeigen eine Ausführungsform einer Transfervorrichtung unter Verwendung einer Kugelumlaufspindel als Kraftübertragungssystem. LM-Führungsschienen 141 und LM-Blöcke 142 sind an einer hinteren Basisplatte 111 installiert, um die nach rechts und nach links gerichtete Bewegung von mehreren Aufnehmerköpfen 120 zu führen.
  • Eine vordere Basisplatte 112 mit einer viereckigen Rahmenform, deren Zentrum offen ist, wird parallel beabstandet vor der hinteren Basisplatte 111 installiert. Eine Nockenplatte 130 wird nach oben/nach unten bewegbar hinter der vorderen Basisplatte 112 installiert. Mehrere Nockenrillen 132 sind auf der Nockenplatte 130 gebildet, sich geneigt in einer diffusen Richtung von einer Oberseite zu einer Unterseite erstreckend.
  • In jeder Nockenrille 132 sind Rollen 126 installiert, die entsprechend mit einem jeden Aufnehmerkopf 120 verbunden sind. Die Rollen 126 drehen sich und kontaktieren eine Innenumfangsfläche jeder Nockenrille 132.
  • In einem oberen Teil der vorderen Basisplatte 112 ist ein Servomotor 151 installiert, der eine Position in eine diskrete Position steuern kann. Ebenso ist in einem vorderen Teil der vorderen Basisplatte 112 eine Kugelumlaufspindel 152 in einer Abwärts-/Aufwärts-Richtung installiert. Ein Mutternteil 153, der sich entlang der Kugelumlaufspindel 152 durch Drehung der Kugelumlaufspindel 152 bewegt, ist mit der Kugelumlaufspindel 152 verbunden. Der Mutternteil 153 ist mit der Vorderseite der Nockenplatte 130 durch die Öffnung der vorderen Basisplatte 112 verbunden. Das obere Ende der Kugelumlaufspindel 152 ist mit einem Servomotor 151 über einen Riemen 155 verbunden, um die Kraft aufzunehmen.
  • Wenn somit ein vorbestimmtes Signal an dem Servomotor 151 angelegt wird, wird die Kraft auf die Kugelumlaufspindel 152 durch den Riemen 155 übertragen, danach wird die Kugelumlaufspindel 152 um einen vorbestimmten Betrag gedreht, und dann bewegt sich der Mutternteil 153 nach oben/nach unten entlang der Kugelumlaufspindel 152 hin und her, wodurch die Nockenplatte 130 nach oben/nach unten hin- und herbewegt wird.
  • Jeder Aufnehmerkopf 120 bewegt sich nach links/nach rechts entlang jeder LM-Führungsschiene 141, und der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf 120 variiert. Die Abstand-Einstellung jedes Aufnehmerkopfes 120 mit Hilfe der Nockenplatte 130, welche sich nach oben/nach unten hin- und herbewegt, ist beinahe dieselbe wie jene der beschriebenen Ausführungsform, weshalb auf eine detaillierte Beschreibung verzichtet wird.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung kann für den Fall, dass der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf 120 eingestellt werden muss, weil die Arten oder die Größen der in einem Handler getesteten Halbleiter variieren, die Position der Nockenplatte variiert werden, indem ein Steuersignal eines Motors variiert wird, welcher die Nockenplatte antreibt, ohne die Nockenplatte auszutauschen. Daher kann der Abstand jedes Aufnehmerkopfes auf den diskreten Abstand wunschgemäß eingestellt werden.
  • Entsprechend kann der Arbeitszeitverlust, der durch das Austauschen der Nockenplatte hervorgerufen wird, beseitigt und die Produktivität stark verbessert werden.
  • Fachleuten wird klar sein, dass verschiedene Modifikationen und Variationen an der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden können, ohne vom Gedanken oder Umfang der Erfindung abzuweichen. Folglich ist beabsichtigt, dass die vorliegende Erfindung die Modifikationen und Variationen dieser Erfindung abdeckt, sofern diese in den Schutzumfang der beiliegenden Ansprüche und ihrer Äquivalente fallen.

Claims (21)

  1. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements, welche mehrere Halbleiter lösbar hält und diese zu einem vorbestimmten Ort transferiert, umfassend: einen Basisteil; mehrere Aufnehmerköpfe, die horizontal bewegbar an dem Basisteil zum Halten/Lösen der Halbleiter montiert sind; eine an dem Basisteil bewegbar befestigte Nockenplatte, wobei mehrere Nockenrillen darin geneigt ausgebildet sind; Verbindungsteile, wobei jede erste Seite davon an jedem Aufnehmerkopf befestigt ist und jede zweite Seite davon relativ bewegbar mit jeder Nockenrille verbunden ist, wodurch jeder Aufnehmerkopf und jede Nockenrille verbunden werden; und eine Antriebseinheit zum Hin- und Herbewegen der Nockenplatte, so dass die Aufnehmerköpfe in eine erste diskrete Position und eine zweite diskrete Position verändert werden können, wobei jeder Verbindungsteil abwechselnd in einer ersten diskreten Position und/oder einer zweiten diskreten Position jeder Nockenrille der Nockenplatte angeordnet ist.
  2. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 1, wobei die Nockenplatte an dem Basisteil befestigt ist, um sich nach oben/nach unten hin- und herzubewegen.
  3. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 2, wobei die Antriebseinheit umfasst: einen Motor, der im Basisteil installiert ist und eine diskrete Position steuern kann; einen Kraftübertragungsteil, welcher die Kraft des Motors zur Aufwärts- und Abwärts-Bewegung der Nockenplatte überträgt; und sich hin- und herbewegende Führungselemente, welche die Hin- und Herbewegung der Nockenplatte führen.
  4. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 3, wobei der Kraftübertragungsteil umfasst: eine Antriebsscheibe, die mit einer Welle des Motors in Eingriff ist, um die Kraft des Motors aufzunehmen; erste Scheiben, die drehbar in dem Basisteil montiert sind, welche mit der Antriebsscheibe auf derselben Welle in Eingriff sind und gemeinsam mit der Antriebsscheibe gedreht werden; zweite Scheiben, die drehbar montiert und von den ersten Scheiben in einem vorbestimmten Abstand in einer Aufwärts-/Abwärts-Richtung beabstandet sind; Kraftübertragungsriemen, welche die ersten Scheiben mit den zweiten Scheiben verbinden; und Verbindungsteile, welche die Kraftübertragungsriemen mit der Nockenplatte verbinden.
  5. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 4, wobei die ersten Scheiben, die zweiten Scheiben und die Kraftübertragungsriemen auf beiden Seiten jedes Basisteils einander gegenüberliegend in einem Paar befestigt sind, und wobei das Paar der ersten Scheiben durch eine Kraftübertragungswelle verbunden und dann synchron gedreht wird.
  6. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 3, wobei die sich hin- und herbewegenden Führungselemente LM-Führungsschienen, die auf beiden Seitenteilen der Nockenplatte in einer Aufwärts-/Abwärts-Richtung befestigt sind, und LM-Blöcke umfassen, die beweglich im Basisteil befestigt sind, wobei die LM-Führungsschienen daran beweglich befestigt sind.
  7. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 3, wobei der Motor ein Servomotor ist.
  8. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 3, wobei der Kraftübertragungsteil eine Kugelumlaufspindel aufweist, die in dem Basisteil montiert ist, die sich in einer nach oben und nach unten verlaufenden Richtung erstreckt und durch den Motor gedreht wird, und einen Mutternteil, der sich nach oben/nach unten hin- und herbewegt, wobei eine erste Seite davon mit der Nockenplatte verbunden ist.
  9. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 1, wobei die Aufnehmerköpfe in 2 Reihen in Mehrzahl mit Bezug auf die Nockenplatte angeordnet sind, wobei sie eine erste Aufnehmerkopf-Reihe und eine zweite Aufnehmerkopf-Reihe umfassen.
  10. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 9, wobei Verbindungsteile, die mit jedem Aufnehmerkopf der ersten Aufnehmerkopf-Reihe verbunden sind, und Verbindungsteile, die mit jedem Aufnehmerkopf der zweiten Aufnehmerkopf-Reihe verbunden sind, mit jeder Nockenrille in beiden Seiten der Nockenplatte verbunden sind und sich synchron zueinander bewegen.
  11. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 10, wobei die Verbindungsteile, die mit jedem Aufnehmerkopf der ersten Aufnehmerkopf-Reihe verbunden sind, und die Verbindungsteile, die mit jedem Aufnehmerkopf der zweiten Aufnehmerkopf-Reihe verbunden sind, mit jeder Nockenrille in derselben Position verbunden sind, und wobei die Einstellung des Abstandes zwischen jedem Aufnehmerkopf der ersten Aufnehmerkopf-Reihe und des Abstandes zwischen jedem Aufnehmerkopf der zweiten Aufnehmerkopf-Reihe in gleicher Weise erfolgt.
  12. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 10, wobei der Verbindungsteil, der mit jedem Aufnehmerkopf der ersten Aufnehmerkopf-Reihe verbunden ist, und die Verbindungsteile, die mit jedem Aufnehmerkopf der zweiten Aufnehmerkopf-Reihe verbunden sind, mit jeder Nockenrille in der gegenüberliegenden Position verbunden sind, und wobei das Einstellen des Abstandes zwischen jedem Aufnehmerkopf der ersten Aufnehmerkopf-Reihe und des Abstandes zwischen jedem Aufnehmerkopf der zweiten Aufnehmerkopf-Reihe entgegen gesetzt zueinander erfolgen.
  13. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 9, wobei mehrere Nockenrillen, die mit den Verbindungsteilen der ersten Aufnehmerkopf-Reihe korrespondieren, auf einer ersten Fläche der Nockenplatte gebildet sind, und mehrere Nockenrillen, die mit den Verbindungsteilen der zweiten Aufnehmerkopf-Reihe korrespondieren, auf einer zweiten Fläche der Nockenplatte gebildet sind, mit einer entgegengesetzten Phasendifferenz der Nockenrillen der ersten Fläche, wodurch der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf der ersten Aufnehmerkopf-Reihe und der Abstand zwischen jedem Aufnehmerkopf der zweiten Aufnehmerkopf-Reihe entgegen gesetzt eingestellt wird.
  14. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 9, wobei die Nockenplatte in eine erste Nockenplatte, welche mehrere Nockenrillen aufweist, die mit den Verbindungsteilen der ersten Aufnehmerkopf-Reihe korrespondieren, und eine zweite Nockenplatte eingeteilt wird, welche mehrere Nockenrillen aufweist, die mit den Verbindungsteilen der zweiten Aufnehmerkopf-Reihe korrespondieren, die sich in dieselbe Richtung mit der ersten Nockenplatte bewegt.
  15. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 14, wobei die Nockenrillen der ersten Nockenplatte und die Nockenrillen der zweiten Nockenplatte dieselbe Phasendifferenz aufweisen.
  16. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 14, wobei die Nockenrillen der ersten Nockenplatte und die Nockenrillen der zweiten Nockenplatte die entgegengesetzte Phasendifferenz aufweisen.
  17. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 1, welche ferner mindestens eine horizontale Führungsschiene aufweist, die horizontal an dem Basisteil zum Führen der Bewegung der Aufnehmerköpfe montiert ist.
  18. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 17, wobei die horizontalen Führungsschienen eine erste horizontale Führungsschiene und eine zweite horizontale Führungsschiene, die parallel montiert sind, Aufnehmerköpfe gerader Zahl und Aufnehmerköpfe ungerader Zahl, die abwechselnd bewegbar daran befestigt sind, aufweist.
  19. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 2, wobei die Antriebseinheit ein Linearmotor ist, umfassend: einen Stator, der an dem Basisteil in einer Aufwärts-/Abwärts-Richtung befestigt ist; und eine Bewegungsvorrichtung, die in der Nockenplatte befestigt ist und sieh entlang des Stators bewegt.
  20. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 19, welche ferner ein Führungselement zum Führen der Hin- und Herbewegung der Nockenplatte aufweist.
  21. Transfervorrichtung eines Handlers zum Testen eines Halbleiterbauelements nach Anspruch 1, welche ferner Rollen aufweist, die an dem Ende der Verbindungsteile montiert sind, welche mit jeder Nockenrille verbunden sind, um entlang jeder Nockenrille zu rollen.
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