MXPA01009113A - Pastas impurificadoras para la produccion de las regiones p, p+ y n, n+ en semiconducores - Google Patents

Pastas impurificadoras para la produccion de las regiones p, p+ y n, n+ en semiconducores

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MXPA01009113A
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boron
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Claudia Zielinski
Lilia Heider
Werner Stockum
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Abstract

La invención se refiere a las novedosas pastas impurificadoras basadas en boro, fósforo o boro-aluminio para la producción de zonas p, p+ y n, n+ en plaquitas de Silicio monocristalinas y policristalinas. La invención se refiere además al uso de las pastas correspondientes como pastas de enmascaramiento en la producción de semiconductores, en componentes electrónicos en polvo o en aplicaciones fotovoltaic

Description

PASTAS IMPURIFICADORAS PARA LA PRODUCCIÓN DE LAS REGIONES p, p+ Y n, n+ EN SEMICONDUCTORES DESCRIPCIÓN DE LA INVENCIÓN La invención se refiere a las nuevas pastas impurificadoras de boro, fósforo o boro-aluminio para la producción de las regiones p, p+ y n, n+ en plaquitas de silicio monocristalinas y policristalinas, y de las pastas correspondientes para el uso como pastas de enmascaramiento en la fabricación de semiconductores, componentes electrónicos de energía o en aplicaciones fotovoltaicas . La impurificación con boro o fósforo de las plaquitas de silicio monocristalinas en la tecnología fotovoltaica y en el caso de los semiconductores de energía (por ejemplo, diodos, tiristores) es llevada a cabo por medio de la fase de vapor (por ejemplo, POCl3, fosfina, BBr3) o con sólidos (películas o rebanadas sólidas) o con medios líquidos tales como por ejemplo ácido fosfórico, y otros sistemas B o P orgánicos. La aplicación directamente en patrón no es posible con estas técnicas. Las regiones definidas no pueden ser selectivamente impurificadas sin el uso de procesos elaborados, por ejemplo fotolitográficos, para enmascarar las áreas que no van a ser impurificadas.
REF: 132241 En la tecnología fotovoltaica, un campo superficial posterior extenso o local (BSF) puede ser logrado por la impurificación p++ sobre la parte posterior. Las lineas de producción existentes actualmente operan únicamente con un campo superficial posterior extenso, el cual es obtenido ya sea mediante una capa metálica de aluminio o una fuente de boro liquido. Los BSFs locales han sido únicamente actualmente realizados a una escala de laboratorio, por razones que serán explicadas con detalle más adelante. Un campo superficial posterior extenso es especialmente ventajoso, entre otros, en el caso de plaquitas de silicio delgadas (=250 µm) , ya que de otro modo la eficacia de la celda llega a ser significativamente menor. Tal BSF es actualmente obtenido en el caso de las plaquitas de silicio de >300 µm de espesor por la impresión extensa con una pasta de aluminio [P. Lolgen; F. J. Bisschop; . C. Sinke; R. A. Steeman; L. A. Verhoef y colaboradores, 6a. PV Science and Engineering Conference, New Delhi, 1992, pp. 239] . Este caso es ventajoso ya que, por otra parte, la impurificación de p+, por ejemplo de un BSF, está constituida por el aluminio y, por otra parte, la electricidad generada en la celda es también disipada por el aluminio. En el caso de plaquitas delgadas, no obstante, la curvatura de la plaquitas ocurre después de que la pasta de aluminio ha sido quemada. El manejo y procesamiento posterior de tales plaquitas, requiere por lo tanto medidas especiales, ya que existen dificultades pronunciadas involucradas con la incorporación de tales celdas flexionadas en los módulos PV usualmente diseñados planos . En la patente Alemana DE 195 08712 C2 y en K. A. Münzer, R. R. King, R. E. Schlosser, H. J. Schmidt, J. Schmalzbauer, S. Sterk, H. L. Mayer, 13th European Photovoltaic Solar Energy Conference, 23-27 10.1995, p. 1398, se realizan intentos para resolver este problema por un proceso de centrifugación con boro. En este caso, la impurificación p++ es producida por el boro y un armazón de aluminio es implementado en una impresión subsecuente por medio de una pasta de aluminio. Las desventajas de este proceso son: a) el requerimiento grande de material del proceso de centrifugación b) el desembolso considerable de equipo, con el cual van a ser recubiertas las plaquitas angulares uniformemente, utilizando el proceso de centrifugación c) el manejo de alto rendimiento y caro, que tiene que ser realizado en la producción en masa únicamente con gran dificultad, y d) la formación en patrón selectiva de las plaquitas no es posible, como se describe anteriormente. El objetivo de la presente invención fue por lo tanto proporcionar pastas impurificadoras no caras, mejoradas, utilizables en la tecnología de los semiconductores, que no tienen las desventajas descritas anteriormente y pueden ser utilizadas de una manera directa. El objetivo de la presente invención fue también proporcionar las pastas para impresión por estarcido, correspondientes. El objetivo es logrado por las pastas impurificadoras para la formación en patrón selectiva y para la impresión extensa de plaquitas de silicio por impresión por estarcido, por rodillo, por almohadilla, por esténcil u otras técnicas de impresión acostumbradas en la tecnología de los semiconductores para la producción de regiones p, p+, p++, n, n+, n++ en la plaquitas de silicio, que contiene: a) uno o más componentes con acción impurificadora; b) una matriz de Si02/ c) solventes, d) opcionalmente un ácido y agua, y opcionalmente e) aditivos tales como agentes espesantes o agentes humectantes, la composición total tiene impurezas en la forma de iones metálicos en concentraciones respectivas de menos de 500 ppb, preferentemente menores de 200 ppb. A través de las pruebas, se encontró que son eliminadas las desventajas anteriormente mencionadas por las pastas impurificadoras imprimibles por estarcido, encontradas aqui . Las pastas de acuerdo con la invención pueden contener una fuente impurificadora, seleccionada del grupo de sales de boro, óxido de boro, ácido bórico, compuestos de boro orgánicos, compuestos de boro-aluminio, y sales de fósforo, óxido de fósforo, pentóxido de fósforo, ácido fosfórico, compuestos organofosfóricos, compuestos orgánicos de aluminio y sales de aluminio. En principio, los compuestos conocidos por la persona experta en la técnica principalmente de los grupos principales III y V de la tabla periódica, son adecuados. Las pastas correspondientes contienen además una matriz de Si02, que consiste de uno o más precursores de S102. Las pastas impurificadoras que han sido encontradas pueden contener una o más fuentes impurificadoras seleccionadas del grupo de óxido de boro (B203) , ácido fosfórico (H3P04) , pentóxido de fósforo (P205) y sal de aluminio, siendo posible que las fuentes de impurificación sean utilizadas en diferentes concentraciones . La presente invención también se refiere a las pastas impurificadoras que contienen una o más fuentes impurificadoras del grupo de compuestos orgánicos de boro, de fósforo y de aluminio, siendo posible que las fuentes de impurificación sean utilizadas en diferentes concentraciones . El objetivo es además logrado por las pastas impurificadoras, que contienen una o más fuentes impurificadoras seleccionadas del grupo de óxido de boro (B2O3) , ácido fosfórico (H3PO4) , pentóxido de fósforo (P2O5) y sal de aluminio o compuestos orgánicos de aluminio, y opcionalmente una o más fuentes impurificadoras del grupo de los compuestos orgánicos de boro, de fósforo y de aluminio, siendo posible que las fuentes impurificadoras sean utilizadas en concentraciones diferentes. La matriz de Si02, la cual contiene la pasta impurificadora, puede, de acuerdo con la invención, ser formada por un compuesto orgánico de silicio de la fórmula general R' nSi (OR) 4_n en la cual R' denota metilo, etilo o fenilo, R denota metilo, etilo, n-propilo o i-propilo, y n denota 0, 1 ó 2.
La presente invención se refiere además a una pasta impurificadora que contiene una matriz de Si02, la cual es formada por silanos, seleccionados del grupo de tetrametoxisilano, tetraetoxisilano, tetrabutoxisilano, individualmente o como una mezcla. La presente invención también se refiere al uso de las nuevas pastas impurificadoras descritas, en la tecnología de los semiconductores, la tecnología fotovoltaica o en los componentes electrónicos de energía. Además de las pastas impurificadoras, la invención también se refiere a las pastas de enmascaramiento, que contienen: a) una matriz de Si02, b) solventes, c) opcionalmente un ácido y agua, y opcionalmente d) aditivos, tales como agentes espesantes o agentes humectantes, la composición total tiene impurezas en la forma de iones metálicos en concentraciones respectivas de menos de 500 ppb, preferentemente menores de 200 ppb. Las pastas de enmascaramiento, como las pastas impurificadoras, mencionadas anteriormente están compuestas de la misma manera, excepto que las pastas de enmascaramiento están libres de impurificadores, y son utilizadas de acuerdo con la invención en la tecnología de los semiconductores, la tecnología fotovoltaica y en componentes electrónicos de energía. Es igualmente posible lograr la impurificación extensa y selectiva con fósforo (emisor selectivo) de manera barata y con alto rendimiento, por medio de pastas imprimibles por estarcido. Las etapas de formación en patrón, las cuales son actualmente hechas posibles por los procesos fotolitográficos, pueden ser reemplazadas de manera barata por el uso de la pasta impurificadora imprimible por estarcido . La pasta de enmascaramiento, la cual puede ser descrita como la pasta de matriz de Si02 pura sin aditivos impurificadores, puede ser empleada para la formación de capa protectora, intencionalmente definida. Para este propósito, la pasta puede ser aplicada extensamente a la plaquitas de silicio, o incluso en forma de patrón. Esto hace posible proteger las regiones definidas de la impurificación durante el proceso de difusión. El objetivo es logrado mediante las nuevas pastas para la producción selectiva de capas de silicato impurificadas con fósforo, con boro, y con boro-aluminio.
Estas pastas son adecuadas para el uso en los procesos de impresión técnicos en la industria de los componentes electrónicos. Éstos incluyen, especialmente, la tecnología de impresión por estarcido o la impresión con almohadilla. Dependiendo del campo de aplicación deseado, las concentraciones de los componentes individuales y las viscosidades pueden ser variadas en las pastas que son utilizadas . Las pastas impurificadoras de acuerdo con la invención son además distinguidas por una matriz definida. Esto es formado por un componente formador de Si02 durante el calentamiento en el proceso de difusión. Junto con el componente que distribuye el boro o el fósforo, lo que se describe en la literatura [K. Spanowsky, The Diffusion of Boron with the aid of Spin-on Glasses in MOS Technology, diploma dissertation, 1996; R. Fischer, Experiments to Clarify the Diffusion Mechanism of Phosphorus in Silicon, diploma dissertation, 1994] y conocida para la persona experta en la técnica como vidrio de boro- o fósforo-silicato (B203)z* (Si02)y o (P205)?* (Si02)v es formado Este vidrio forma la fuente efectiva del impurificador durante la impur-ficación. La cantidad del componente formador de Si02 en la pasta impurificadora está en un intervalo modificable de 0.1-5% en peso. En relación a los componentes impurificadores B203 o P205, la proporción de Si02 a B203 o P205 puede ser ajustada arbitrariamente, aunque el intervalo de 10-80% en impurificador de Si02 es ventajoso. La concentración del impurificador que va a ser lograda en el silicio puede ser controlada perfectamente a través de esta proporción. La profundidad de penetración del impurificador es, como es conocido en la literatura [A. Goetzberger; B. Voß; J. Knobloch, Solar Power: Photovoltaic Technalogy, Teubner Studienbücher Stuttgart 1997, pp. 40; 107], controlada a través de los parámetros del tiempo de difusión y de la temperatura de difusión. El proceso de impurificación es llevado a cabo por la difusión controlada en atmósfera de aire o de oxigeno. Las temperaturas para la difusión del fósforo son por ejemplo de 900-950°C para el fósforo, y para la difusión con boro de aproximadamente 950-1250 °C . La temperatura de difusión es dictada por las plaquitas de silicio utilizadas. En el caso de plaquitas monocristalinas, la temperatura de difusión puede ser más alta, por ejemplo hasta de aproximadamente 1250 °C, ya que éstas son térmicamente más estables que las plaquitas poliscristalinas . La difusión puede también ser llevada a cabo con la tecnología de procesamiento térmico rápido (RTP) (siglas en Ingles) . El tiempo de difusión puede, dependiendo del propósito de aplicación, ser de unos pocos minutos a tantas como 60 horas o más. Después de la difusión, las plaquitas son tratadas con HF (concentración de aproximadamente 2-50% de HF) , con el fin de disolver el vidrio de fósforo o de borosilicato (PSG, BSG) formado. Después de este tratamiento, la plaquitas de silicio tiene una superficie de silicio libre. El componente impurificador está en el intervalo de concentración de 0-10% con relación a la pasta impurificadora. En el caso de una composición libre de impurificador (0% en peso), es producida una pasta de enmascaramiento. Esto es realizado bajo las mismas condiciones de proceso que en el caso de las pastas impurificadoras . El solvente forma el constituyente principal de la pasta. La proporción puede estar en el intervalo de 50-80% en peso de la cantidad total. La proporción de los agentes espesantes, que son necesarios para el ajuste controlado del intervalo de viscosidad y fundamentalmente para la capacidad de impresión del impurificador, por ejemplo para formar una pasta imprimible, está en el intervalo de aproximadamente 1-20% en peso en relación a la cantidad total de la pasta. Otros aditivos con propiedades ventajosas para el propósito deseado son los agentes antiespumantes, moderadores de la adhesión, agentes espesantes, agentes humectantes, agentes de nivelación o agentes tixotrópicos . Éstos pueden afectar de manera positiva la capacidad de impresión de la pasta. Los alcoxisilanos son en general adecuados para la formación de la matriz de silicio, en particular silanos de la fórmula general R' nSi (OR) _n/ en la cual R' denota metilo, etilo o fenilo, R denota metilo, etilo, n-propilo o i-propilo, y n denota 0, 1 ó 2. Los ejemplos de silanos adecuados son tetrametoxisilano, tetraetoxisilano, tetrabutoxisilano, tetrapropoxisilano, así como los ejemplos superiores y mixtos, por ejemplo silanos con cadenas de alquilo más largas o silanos con diversos residuos de alquilo. Las mezclas de diversos alquil- o alcoxisilanos pueden también ser utilizadas ventajosamente. Puede ser necesario el prehidrolizar estos compuestos. El uso de tales siloxanos ya que no necesitan pretratamiento, tales como por ejemplo, los polisiloxanos, es ventajoso para la producción de las pastas de acuerdo con la invención. Cuando el sustrato es calentado en el horno de difusión, los compuestos orgánicos de silicio forman dióxido de silicio, por ejemplo de acuerdo con la presente ecuación: C8H20O4Si -» C02 + H20 + Si02 (TEOS, ortosilicato de tetraetilo) Con el fin de producir la matriz impurificadora, los compuestos de boro y de fósforo, así como los compuestos de aluminio, pueden ser utilizados como los componentes inorgánicos. Los ejemplos incluyen óxido de boro B203, ácido bórico B(OH)3, ácido fosfórico H3PO4, P2O5 y sales de aluminio o compuestos orgánicos de aluminio. Los compuestos orgánicos de boro y de fósforo así como los compuestos orgánicos de aluminio pueden ser utilizados como los componentes orgánicos. - Pueden ser además mezclados aditivos con las pastas _ de acuerdo con la invención. Éstos pueden ser ^ácidos orgánicos e inorgánicos tales como por ejemplo, ácido nítrico, ácido clorhídrico, ácido láctico, ácido oxálico, ácido fórmico o similares. En particular, estos ácidos son agregados cuando necesita ser llevada a cabo la hidrólisis del compuesto orgánico de silicio. En general, tales ácidos orgánicos cuyos residuos de alquilo tienen una longitud de cadena de n = 1 - 10 son utilizables. Es posible utilizar ácidos orgánicos que tienen un residuo R = OH o = alquilo con n = 1 - 10. Los residuos de alquilo de las sales que pueden ser utilizadas pueden ser de cadena lineal y de cadena ramificada. Los aditivos correspondientes en las pastas de acuerdo con la invención son necesarios cuando el compuesto orgánico de silicio necesita ser prehidrolizado . No obstante, en el caso del siloxano, por ejemplo, este aditivo puede ser omitido. Los agentes espesantes adecuados incluyen Thixoton® (aceite de ricino) , Borchigen TS® (aditivo reológico para ácidos silícicos) , bentonitas con diversas cualidades y propiedades, en general aditivos inorgánicos de reología para diversas mezclas de solvente polar, nitrocelulosa, etilcelulosa y otros compuestos de celulosa, polivinilpirrolidonas con calidad variable, almidón (+NH4OH) , gelatina, ácido algínico, ácido silícico amorfo altamente disperso (Aerosil®) , polivinilbutiral (Mowital®) (altamente soluble, por ejemplo en butilglicol) , carboximetilcelulosa de sodio (Vivistar) , resina de poliamida termoplástica (Eurelon®) (necesita ser calentada a ebullición a aproximadamente 180°C) , derivado orgánico de aceite de ricino (Thixin®) , cera de diamida (Thixatrol plus®) , poliacrilatos de hinchamiento (Rheolate®) , polieterurea-poliuretano (Rheolate®) , polieter-polioles (Rheolate®) .
Los polisiloxanos, siloxanos y trisiloxanos pueden ser utilizados como agentes de nivelación. Particularmente, los aditivos altamente adecuados son aquéllos que se enlazan perfectamente con los otros componentes, ventajosamente pueden ser presecados, liberados de adherencia a temperaturas por debajo de 200°C y quemados sin dejar residuos a 200-500°C. La viscosidad de la pasta impuríficadora altamente pura, es ajustada por el agente espesante, así como por el solvente utilizado. Un requerimiento básico para una pasta impurificadora en la tecnología fotovoltaica es la más baja contaminación posible con los componentes metálicos. En particular, los cationes de los metales hierro, cromo, cobre, níquel, oro, calcio, etc., frecuentemente denominados en la literatura como "asesinos" del tiempo de vida del portador, en particular, son indeseables. Sus concentraciones deben ser tanto como sea posible menores de 500 ppb en la pasta. En casos particulares, las concentraciones deben, tanto como sea posible no exceder 200 ppb. Con el fin de hacer posible el cumplir con estas condiciones, en casos particulares pueden ser utilizados únicamente materiales iniciales purificados.
Además de los componentes mencionados anteriormente, la adición de solventes es necesaria para la producción de las pastas. Los solventes orgánicos adecuados incluyen polialcoholes hidrofílicos, tales como etilenglicol, metilcelosolve, acetato de metilcelosolve, etilcelosolve, dietilcelosolve, acetato de celosolve, éter monobutilico de etilenglicol, éter monofenílico de etilenglicol, metoximetoxietanol, monoacetato de etilenglicol, diacetato de etilenglicol, dietilenglicol, éter monometílico de dietilenglicol, acetato del éter monoetílico de dietilenglicol, éter monobutilico de dietilenglicol, acetato del éter monobutílico de dietilenglicol, éter dimetílico de dietilenglicol, éter metiletilico de dietilenglicol, éter dietílico de dietilenglicol, acetato de dietilenglicol, trietilenglicol, éter monometílico de trietilenglicol, éter monoetílico de trietilenglicol, tetraetilenglicol, polietilenglicoles líquidos, propilenglicol, éter monometílico de propilenglicol, éter monoetílico de propilenglicol, éter monobutilico de propilenglicol, 1-butoxietoxipropanol, dipropilglicol, éter monometílico de dipropilenglicol, éter monoetílico de dipropilenglicol, éter monometílico de tripropilenglicol, polipropilenglicoles, trimetilenglicol, butanodial, 1,5-pentanodial, hexilenglicol, glicerina, acetato de glicerilo, diacetato de glicerilo, triacetato de glicerilo, trimetilolpropino, 1, 2, 6-hexanotriol o derivados hidrofílicos de los mismos, así como alcoholes polivalentes alifáticos y aromáticos tales como por ejemplo, 1,2-propanodiol, 1, 5-pentanodiol, octanodiol y también esteres y éteres de los mismos o mezclas de estos solventes. Un constituyente adecuado puede contener por ejemplo, 1, 2-butanodiol como su constituyente principal. Tales mezclas de solventes que contienen 30-95% en peso de 1, 5-pentanodiol han probado ser adecuadas. Tal mezcla puede contener éter monobutílico de etilenglicol (EGB) , éter monobutilico de dietilenglicol (DGB) , éter monometílíco de dipropilenglicol (DPM), 1, 4-butanodiol (1,4BD) y 1, 3-butanodiol (1,3BD) como otros solventes. Los éteres hidrofílicos, tales como dioxano, trioxano, tetrahidrofurano, tetrahidropirano, pueden ser además utilizados como solventes. El metilal, dietilacetal, metiletilcetona, metilisobutilcetona, dietilcetana, acetonilacetona, diacetonalcohol o esteres hidrofílicos como formiato de metilo, formiato de etilo, formiato de propilo, acetato de metilo y acetato de etilo, son también adecuados . Las pruebas han mostrado que la aplicación de una cantidad de 50-100 mg de pasta a una plaquitas acostumbradamente utilizada, por ejemplo, una plaquitas de 10 cm (4 pulgadas) es suficiente para lograr un efecto impurificador. La aplicación de la pasta de acuerdo con la invención a la plaquitas que va a ser tratada, puede ser llevada a cabo con los métodos conocidos por la persona experta en la técnica. En particular, la aplicación mediante el proceso de impresión por estarcido, es adecuada para este propósito. La conversión de la pasta aplicada a las capas impurificadas deseadas tiene lugar, de una manera conocida, mediante calentamiento a temperaturas de 200 a 600 °C, preferentemente a aproximadamente 500 °C. El tiempo de calentamiento requerido depende del espesor de la capa de pasta aplicada. La pasta de acuerdo con la invención es adecuada para la producción de uniones p-n, tales como por ejemplo en la tecnología de los semiconductores, en particular, pero también para el uso en la producción de celdas solares utilizadas en la tecnología solar. Por ejemplo, se ha encontrado que a través del uso de pastas de boro de acuerdo con la invención para la producción de capas de vidrio impurificadas, la eficiencia de las celdas solares, que es usualmente de 14% en producción, es incrementada por aproximadamente 1.5 a 2%. Para mejor entendimiento y para aclaración, serán dados los ejemplos siguientes que caen dentro del alcance de la protección de la presente invención, pero no restringen la invención a estos ejemplos.
Ejemplo 1: Se colocó TEOS (1.43 g) en un vaso de precipitados. Se agregó luego el solvente N-metilpirrolidona NMP (83 g) y la mezcla básica se preparó con la ayuda de un agitador. Se agregaron luego 11 g de polivinilpirrolidona, 4.6 g de trióxido de diboro y finalmente 3 g de ácido láctico en sucesión. Durante la adición, fue además necesario agitar vigorosamente. Después de que se completó la adición, la mezcla se agitó por aproximadamente 30 minutos más. La transferencia a los recipientes tuvo lugar después de un tiempo de espera corto. Este tiempo de espera fue necesario para que las burbujas formadas en la mezcla fueran capaces de romperse. Esta mezcla dio una pasta por medio de la cual se formó un vidrio de boro sobre la plaquitas, por ejemplo, la impurificación de la plaquitas de silicio monocristalina y policristalina fue obtenida de una manera controlada con la concentración de boro deseada. La pasta obtenida es estable en el almacenamiento, fácil de manejar e imprimible. Ésta puede ser removida de la tela de impresión de estarcido con solventes estándares. 2. Ejemplos de pastas con un solvente o con mezclas de solventes .
Pasta P: g 1 , 4-butanodiol g P203 g 1 , 2-propanodiol 5 g Trasi l® (fuente de silicio; resina de alquilsilicona con grupos alcoxi) 2 g Foamex N® (polidimetilsiloxano; desaireador) 2 g Aerex® (polímero orgánico de alto peso molecular con puntas de silicona; agente antiespumante) g Byk 410® (urea modificada; agente tixotrópico) 05 g TEGO Glíde 40( (Polisiloxanos modificados con poliéter; agente de nivelación) g PVP (polivinilpirrolidona; espesante) : Pasta de boro: g 1, 2-propanodiol 4.6 g B203 1.43 g TEOS 3* g Ácido láctico 2.5 g Byk 410® Agente tixotrópico 0.05 g TEGO Glide 400® Agente de nivelación 0.2 g Aerex® Agente antiespumante 0.2 g Foamex N® Desaireador 4 g PVP Espesante II. Pasta de silicio: 48 g 1, 2-propanodiol 3 g TEOS 3 g Ácido láctico 35 g Éter monobutílico etilenglicol 3 g Trasil® 5 g Byk 410® Agente tixotrópico 0.4 g TEGO Glide 400® Agente de nivelación 4 g PVP Espesante Se hace constar que con relación a esta fecha, el mejor método conocido por la solicitante para llevar a la práctica la citada invención, es el convencional para la manufactura de los objetos a que la misma se refiere.

Claims (14)

REIVINDICACIONES Habiéndose descrito la invención como antecede, se reclama como propiedad lo contenido en las siguientes reivindicaciones:
1. Las pastas impurificadoras para la impresión selectiva y extensa de plaquitas de silicio mediante impresión por estarcido, por rodillo, por cojín, por esténcil u otras técnicas de impresión acostumbradas en la tecnología de los semiconductores para la producción de regiones p, p+, p++, n, n+, n++ en la plaquitas de silicio, caracterizadas porque contienen: a) uno o más componentes con acción impurificadora; b) una matriz de Si02, c) solventes, d) opcionalmente un ácido y agua, y opcionalmente e) aditivos tales como agentes espesantes o agentes humectantes, la composición total que tiene impurezas en la forma de iones metálicos en concentraciones respectivas menores de 500 ppb, preferentemente menores de 200 ppb.
2. La pasta impurificadora de conformidad con la reivindicación 1, caracterizada porque contiene una fuente impurificadora del grupo de sales de boro, óxido de boro, ácido bórico, compuestos orgánicos de boro, compuestos de boro-aluminio y sales de fósforo, óxido de fósforo, pentóxido de fósforo, ácido fosfórico, compuestos organosfosfóricos, compuestos orgánicos de aluminio y sales de aluminio.
3. La pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 y 2, caracterizada porque contiene una matriz de Si02 que consiste de uno o más precursores de Si02.
4. La pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 a 3, caracterizada porque contiene una o más fuentes impurificadoras seleccionadas del grupo de óxido de boro (B2O3) , ácido bórico B(OH) , ácido fosfórico (H3PO4) , pentóxido de fósforo (P205) y sal de aluminio y compuestos orgánicos de aluminio, siendo posible que las fuentes de impurificación sean utilizadas en diferentes concentraciones.
5. La pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 a 3, caracterizada porque contiene una o más fuentes impurificadoras del grupo de compuestos orgánicos de boro, fósforo y aluminio, siendo posible que las fuentes de impurificación sean utilizadas en diferentes concentraciones .
6. La pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 a 3, caracterizada porque contiene una o más fuentes impurificadoras seleccionadas del grupo de óxido de boro (B203) , ácido bórico B(OH)3, ácido fosfórico (H3PO4) , pentóxido de fósforo (P205) y sal de aluminio, y opcionalmente una o más fuentes impurificadoras del grupo de compuestos orgánicos de boro, fósforo y aluminio, siendo posible que las fuentes de impurificación sean utilizadas en diferentes concentraciones.
7. La pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 a 3, caracterizada porque contiene una matriz de Si02/ que es formada por silanos de la fórmula general R' nSi (OR) 4-n, en la cual R' -denota metilo, etilo o fenilo, R denota metilo, etilo, n-propilo o i-propilo, y n denota 0, 1 ó 2.
8. La pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 a 3 y 7, caracterizada porque contiene una matriz de Si02 que es formada por silanos seleccionados del grupo de tetrametoxisilano, tetraetoxisilano, tetrabutoxisilano, tetrapropoxisilano, tetrametoxisilano individualmente o como una mezcla.
9. La pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 a 8, caracterizada porque contiene uno o más solventes del grupo de ^polialcoholes hidrofílicos, sus éteres o esteres, de éteres hidrofílicos, aldehidos, cetonas o esteres o mezclas de los mismos.
10. La pasta impurificadora de conformidad con la reivindicación 9, caracterizada porque contiene 30-95i en peso de 1, 2-propanodiol como una mezcla con uno o más solventes seleccionados del grupo de éter monobutílico de etilenglicol (EGB) , éter monobutílico de dietilenglicol (DGB) , éter monometilico de dipropilenglicol (DPM), 1,4-butanodiol (1,4BD), y 1, 3-butanodiol (1,3BD) y/o uno o más solventes seleccionados del grupo de dioxano, trioxano, tetrahidrofurano, y tetrahidropiran-metilal, dietilacetal, metiletilcetona, metilisobutilcetona, dietilcetona, acetonilacetona, diacetonalcohol, formiato de metilo, formiato de etilo, formiato de propilo, acetato de metilo y acetato de etilo.
11. La pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 a 10, caracterizada porque contiene ortosilicato de tetraetilo como matriz de Si02, 1,2-propanodiol, N-metilpirrolidona, éter monobutílico de etilenglic?l, 1, 4-butanodiol o mezclas de los mismos como solventes, ácido láctico como ácido, P2O5 o B203 como impurificador y, como aditivos, agentes de nivelación, agentes tixotrópicos, espesantes y opcionalmente agentes antiespumantes y desaireadores, la cantidad de componente formador de Si02 en la pasta impurificadora está en un intervalo de 0.1-5% en peso y, en relación a los componentes impurificadores B203 o P20=, en el intervalo de 10-80% de impurificador en Si02. -
12. El uso de una pasta impurificadora de conformidad con las reivindicaciones 1 a 11, en la tecnología de los semiconductores, tecnología fotovoltaica o en componentes electrónicos de energía.
13. La pasta de enmascaramiento, caracterizada porque contiene: a) una matriz de Si02, b) solventes, c) opcionalmente un ácido y agua, y opcionalmente d) aditivos, agentes espesantes o agentes humectantes, la composición total tiene impurezas en la forma de iones metálicos en concentraciones respectivas de menos de 500 ppb, preferentemente menos de 200 ppb.
14. El uso de una pasta de enmascaramiento de conformidad con la reivindicación 13, en la tecnología de los semiconductores, tecnología fotovoltaica y componentes electrónicos de energía.
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Families Citing this family (145)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2001242510B2 (en) * 2000-04-28 2006-02-23 Merck Patent Gmbh Etching pastes for inorganic surfaces
JP3922334B2 (ja) * 2000-07-12 2007-05-30 サンケン電気株式会社 半導体装置の製造方法
JP3922337B2 (ja) * 2000-08-28 2007-05-30 サンケン電気株式会社 液状不純物源材料及びこれを使用した半導体装置の製造方法
DE10058031B4 (de) * 2000-11-23 2007-11-22 Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale Verfahren zur Bildung leicht dotierter Halogebiete und Erweiterungsgebiete in einem Halbleiterbauelement
DE10104726A1 (de) 2001-02-02 2002-08-08 Siemens Solar Gmbh Verfahren zur Strukturierung einer auf einem Trägermaterial aufgebrachten Oxidschicht
JP2002299274A (ja) * 2001-04-02 2002-10-11 Sanken Electric Co Ltd 半導体装置の製造方法
JP4726354B2 (ja) * 2001-08-22 2011-07-20 東洋アルミニウム株式会社 ペースト組成物およびそれを用いた太陽電池
JP2003179243A (ja) * 2001-08-31 2003-06-27 Basf Ag 光電池活性材料およびこれを含む電池
DE10150040A1 (de) * 2001-10-10 2003-04-17 Merck Patent Gmbh Kombinierte Ätz- und Dotiermedien
JP3910072B2 (ja) * 2002-01-30 2007-04-25 東洋アルミニウム株式会社 ペースト組成物およびそれを用いた太陽電池
JP4549655B2 (ja) * 2003-11-18 2010-09-22 メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 機能性塗料
JP4368230B2 (ja) * 2004-03-30 2009-11-18 電気化学工業株式会社 ホウ素化合物の固定方法及びホウ素拡散源
CN100538915C (zh) * 2004-07-01 2009-09-09 东洋铝株式会社 糊组合物及使用该糊组合物的太阳能电池元件
JP2006156646A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Sharp Corp 太陽電池の製造方法
US7790574B2 (en) * 2004-12-20 2010-09-07 Georgia Tech Research Corporation Boron diffusion in silicon devices
JP2006310368A (ja) * 2005-04-26 2006-11-09 Shin Etsu Handotai Co Ltd 太陽電池の製造方法及び太陽電池
JP4481869B2 (ja) * 2005-04-26 2010-06-16 信越半導体株式会社 太陽電池の製造方法及び太陽電池並びに半導体装置の製造方法
DE102005025933B3 (de) * 2005-06-06 2006-07-13 Centrotherm Photovoltaics Gmbh + Co. Kg Dotiergermisch für die Dotierung von Halbleitern
JP4541328B2 (ja) * 2005-07-22 2010-09-08 日本合成化学工業株式会社 リン拡散用塗布液
JP4541243B2 (ja) * 2005-07-22 2010-09-08 日本合成化学工業株式会社 ホウ素拡散用塗布液
JP2007049079A (ja) * 2005-08-12 2007-02-22 Sharp Corp マスキングペースト、その製造方法およびマスキングペーストを用いた太陽電池の製造方法
JP4684056B2 (ja) * 2005-09-16 2011-05-18 シャープ株式会社 太陽電池の製造方法
EP1923906A1 (en) * 2005-08-12 2008-05-21 Sharp Kabushiki Kaisha Masking paste, method for producing same, and method for manufacturing solar cell using masking paste
JP5283824B2 (ja) * 2006-01-18 2013-09-04 東京応化工業株式会社 膜形成組成物
JP4827550B2 (ja) * 2006-02-14 2011-11-30 シャープ株式会社 太陽電池の製造方法
WO2007099042A1 (en) * 2006-02-28 2007-09-07 Ciba Holding Inc. Antimicrobial compounds
US8076570B2 (en) 2006-03-20 2011-12-13 Ferro Corporation Aluminum-boron solar cell contacts
US8575474B2 (en) * 2006-03-20 2013-11-05 Heracus Precious Metals North America Conshohocken LLC Solar cell contacts containing aluminum and at least one of boron, titanium, nickel, tin, silver, gallium, zinc, indium and copper
DE502006004697D1 (de) * 2006-05-04 2009-10-08 Elektrobit Wireless Comm Ltd Verfahren zum Betrieb eines RFID-Netzwerks
JP4876723B2 (ja) * 2006-06-14 2012-02-15 セイコーエプソン株式会社 静電アクチュエータの製造方法、液滴吐出ヘッドの製造方法及び液滴吐出装置の製造方法
JP5026008B2 (ja) * 2006-07-14 2012-09-12 東京応化工業株式会社 膜形成組成物
FR2906405B1 (fr) * 2006-09-22 2008-12-19 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation de regions dopees dans un substrat et de cellule photovoltaique
FR2906406B1 (fr) * 2006-09-26 2008-12-19 Commissariat Energie Atomique Procede de realisation de cellule photovoltaique a heterojonction en face arriere.
US8512581B2 (en) * 2006-10-09 2013-08-20 Solexel, Inc. Methods for liquid transfer coating of three-dimensional substrates
JP2008186927A (ja) * 2007-01-29 2008-08-14 Sharp Corp 裏面接合型太陽電池とその製造方法
CN101675531B (zh) 2007-02-16 2013-03-06 纳克公司 太阳能电池结构、光生伏打模块及对应的工艺
DE102007012277A1 (de) * 2007-03-08 2008-09-11 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle sowie damit hergestellte Solarzelle
JP5530920B2 (ja) * 2007-04-25 2014-06-25 ヘレウス プレシャス メタルズ ノース アメリカ コンショホーケン エルエルシー 銀及びニッケル、もしくは、銀及びニッケル合金からなる厚膜導電体形成、及びそれから作られる太陽電池
CA2684967C (en) * 2007-05-07 2014-08-19 Georgia Tech Research Corporation Formation of high quality back contact with screen-printed local back surface field
US8309844B2 (en) 2007-08-29 2012-11-13 Ferro Corporation Thick film pastes for fire through applications in solar cells
JP5236914B2 (ja) 2007-09-19 2013-07-17 シャープ株式会社 太陽電池の製造方法
US20090092745A1 (en) * 2007-10-05 2009-04-09 Luca Pavani Dopant material for manufacturing solar cells
JP5382606B2 (ja) * 2007-12-25 2014-01-08 日本電気硝子株式会社 半導体用ホウ素ドープ材の製造方法
TW200939509A (en) * 2007-11-19 2009-09-16 Applied Materials Inc Crystalline solar cell metallization methods
WO2009067483A1 (en) * 2007-11-19 2009-05-28 Applied Materials, Inc. Solar cell contact formation process using a patterned etchant material
US8460983B1 (en) 2008-01-21 2013-06-11 Kovio, Inc. Method for modifying and controlling the threshold voltage of thin film transistors
JP5329107B2 (ja) * 2008-02-28 2013-10-30 三洋電機株式会社 太陽電池及びその製造方法
US20090239363A1 (en) * 2008-03-24 2009-09-24 Honeywell International, Inc. Methods for forming doped regions in semiconductor substrates using non-contact printing processes and dopant-comprising inks for forming such doped regions using non-contact printing processes
JP5357442B2 (ja) * 2008-04-09 2013-12-04 東京応化工業株式会社 インクジェット用拡散剤組成物、当該組成物を用いた電極及び太陽電池の製造方法
DE102008019402A1 (de) * 2008-04-14 2009-10-15 Gebr. Schmid Gmbh & Co. Verfahren zur selektiven Dotierung von Silizium sowie damit behandeltes Silizium-Substrat
US20090286349A1 (en) * 2008-05-13 2009-11-19 Georgia Tech Research Corporation Solar cell spin-on based process for simultaneous diffusion and passivation
WO2010009297A2 (en) 2008-07-16 2010-01-21 Applied Materials, Inc. Hybrid heterojunction solar cell fabrication using a doping layer mask
US20100035422A1 (en) * 2008-08-06 2010-02-11 Honeywell International, Inc. Methods for forming doped regions in a semiconductor material
US8053867B2 (en) * 2008-08-20 2011-11-08 Honeywell International Inc. Phosphorous-comprising dopants and methods for forming phosphorous-doped regions in semiconductor substrates using phosphorous-comprising dopants
US7951637B2 (en) * 2008-08-27 2011-05-31 Applied Materials, Inc. Back contact solar cells using printed dielectric barrier
US7951696B2 (en) * 2008-09-30 2011-05-31 Honeywell International Inc. Methods for simultaneously forming N-type and P-type doped regions using non-contact printing processes
KR101002282B1 (ko) * 2008-12-15 2010-12-20 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 그 제조 방법
US8518170B2 (en) * 2008-12-29 2013-08-27 Honeywell International Inc. Boron-comprising inks for forming boron-doped regions in semiconductor substrates using non-contact printing processes and methods for fabricating such boron-comprising inks
US7820532B2 (en) * 2008-12-29 2010-10-26 Honeywell International Inc. Methods for simultaneously forming doped regions having different conductivity-determining type element profiles
US20100294349A1 (en) * 2009-05-20 2010-11-25 Uma Srinivasan Back contact solar cells with effective and efficient designs and corresponding patterning processes
KR101194064B1 (ko) * 2009-06-08 2012-10-24 제일모직주식회사 에칭 및 도핑 기능을 가지는 페이스트 조성물
US7910393B2 (en) * 2009-06-17 2011-03-22 Innovalight, Inc. Methods for forming a dual-doped emitter on a silicon substrate with a sub-critical shear thinning nanoparticle fluid
US8324089B2 (en) * 2009-07-23 2012-12-04 Honeywell International Inc. Compositions for forming doped regions in semiconductor substrates, methods for fabricating such compositions, and methods for forming doped regions using such compositions
NL2003324C2 (en) * 2009-07-31 2011-02-02 Otb Solar Bv Photovoltaic cell with a selective emitter and method for making the same.
JP5815215B2 (ja) 2009-08-27 2015-11-17 東京応化工業株式会社 拡散剤組成物、および不純物拡散層の形成方法
KR20120051764A (ko) * 2009-09-08 2012-05-22 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 광전지용 전도체
WO2011050889A2 (de) * 2009-10-30 2011-05-05 Merck Patent Gmbh Verfahren zur herstellung von solarzellen mit selektivem emitter
KR20110071378A (ko) * 2009-12-21 2011-06-29 현대중공업 주식회사 후면전계형 이종접합 태양전지의 제조방법
JP4868079B1 (ja) * 2010-01-25 2012-02-01 日立化成工業株式会社 n型拡散層形成組成物、n型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法
JP5447397B2 (ja) * 2010-02-03 2014-03-19 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法
US20110256658A1 (en) * 2010-02-05 2011-10-20 Hitachi Chemical Company, Ltd. Method for producing photovoltaic cell
US20110195540A1 (en) 2010-02-05 2011-08-11 Hitachi Chemical Company, Ltd. Composition for forming p-type diffusion layer, method for forming p-type diffusion layer, and method for producing photovoltaic cell
TWI539493B (zh) * 2010-03-08 2016-06-21 黛納羅伊有限責任公司 用於摻雜具有分子單層之矽基材之方法及組合物
KR101127076B1 (ko) * 2010-03-19 2012-03-22 성균관대학교산학협력단 폴리머를 포함한 도핑 페이스트를 이용한 선택적 이미터 형성 방법
JP5573946B2 (ja) * 2010-04-23 2014-08-20 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
KR101835897B1 (ko) * 2010-04-23 2018-03-07 히타치가세이가부시끼가이샤 n 형 확산층 형성 조성물, n 형 확산층의 제조 방법, 및 태양 전지 소자의 제조 방법
JP5626340B2 (ja) * 2010-04-23 2014-11-19 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
WO2011132779A1 (ja) * 2010-04-23 2011-10-27 日立化成工業株式会社 n型拡散層形成組成物、n型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
US9359513B1 (en) * 2010-05-07 2016-06-07 Thin Film Electronics Asa Dopant inks, methods of making dopant inks, and methods of using dopant inks
EP2398071B1 (en) * 2010-06-17 2013-01-16 Imec Method for forming a doped region in a semiconductor layer of a substrate and use of such method
CN104844268A (zh) * 2010-06-24 2015-08-19 日立化成工业株式会社 杂质扩散层形成组合物,n型、p型扩散层形成组合物、太阳能电池元件及它们的制造方法
JP5625538B2 (ja) * 2010-06-24 2014-11-19 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法
JP5691268B2 (ja) * 2010-07-07 2015-04-01 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法
US8105869B1 (en) 2010-07-28 2012-01-31 Boris Gilman Method of manufacturing a silicon-based semiconductor device by essentially electrical means
JP5803080B2 (ja) * 2010-09-24 2015-11-04 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層形成組成物の製造方法、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法
JP5666254B2 (ja) * 2010-11-11 2015-02-12 東京応化工業株式会社 拡散剤組成物および不純物拡散層の形成方法
JP5666267B2 (ja) * 2010-11-25 2015-02-12 東京応化工業株式会社 塗布型拡散剤組成物
US8858843B2 (en) * 2010-12-14 2014-10-14 Innovalight, Inc. High fidelity doping paste and methods thereof
US8778231B2 (en) 2010-12-16 2014-07-15 E I Du Pont De Nemours And Company Aluminum pastes comprising boron nitride and their use in manufacturing solar cells
JP5541138B2 (ja) * 2010-12-16 2014-07-09 日立化成株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法及び太陽電池セルの製造方法
JP5541139B2 (ja) * 2010-12-16 2014-07-09 日立化成株式会社 n型拡散層形成組成物、n型拡散層の製造方法、及び太陽電池セルの製造方法
WO2012096311A1 (ja) 2011-01-13 2012-07-19 日立化成工業株式会社 p型拡散層形成組成物、p型拡散層を有するシリコン基板の製造方法、太陽電池素子の製造方法、及び太陽電池
CN105161404A (zh) * 2011-01-13 2015-12-16 日立化成株式会社 p型扩散层形成用组合物、p型扩散层的制造方法和太阳能电池元件的制造方法
US8912083B2 (en) 2011-01-31 2014-12-16 Nanogram Corporation Silicon substrates with doped surface contacts formed from doped silicon inks and corresponding processes
CN103348449A (zh) * 2011-02-17 2013-10-09 日立化成株式会社 n型扩散层形成用组合物、n型扩散层的制造方法和太阳能电池单元的制造方法
JP2012234990A (ja) * 2011-05-02 2012-11-29 Hitachi Chem Co Ltd p型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
JP2012234989A (ja) * 2011-05-02 2012-11-29 Hitachi Chem Co Ltd n型拡散層形成組成物、n型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
US9156740B2 (en) * 2011-05-03 2015-10-13 Innovalight, Inc. Ceramic boron-containing doping paste and methods therefor
KR20140019473A (ko) * 2011-07-05 2014-02-14 히타치가세이가부시끼가이샤 n 형 확산층 형성 조성물, n 형 확산층의 제조 방법 및 태양 전지 소자의 제조 방법
US20150099352A1 (en) * 2011-07-19 2015-04-09 Hitachi Chemical Company, Ltd. COMPOSITION FOR FORMING n-TYPE DIFFUSION LAYER, METHOD OF PRODUCING n-TYPE DIFFUSION LAYER, AND METHOD OF PRODUCING PHOTOVOLTAIC CELL ELEMENT
JP5842432B2 (ja) * 2011-07-22 2016-01-13 日立化成株式会社 p型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
JP2013026524A (ja) * 2011-07-22 2013-02-04 Hitachi Chem Co Ltd n型拡散層形成組成物、n型拡散層の製造方法、太陽電池素子の製造方法、及び太陽電池
JP5842431B2 (ja) * 2011-07-22 2016-01-13 日立化成株式会社 n型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
CN105448677A (zh) * 2011-07-25 2016-03-30 日立化成株式会社 半导体基板及其制造方法、太阳能电池元件、以及太阳能电池
JP2013055334A (ja) * 2011-08-11 2013-03-21 Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The 太陽電池の製法およびそれにより得られた太陽電池
US8629294B2 (en) * 2011-08-25 2014-01-14 Honeywell International Inc. Borate esters, boron-comprising dopants, and methods of fabricating boron-comprising dopants
WO2013028689A2 (en) * 2011-08-25 2013-02-28 Honeywell International Inc. Phosphate esters, phosphate-comprising dopants, and methods for fabricating phosphate-comprising dopants using silicon monomers
US8586397B2 (en) * 2011-09-30 2013-11-19 Sunpower Corporation Method for forming diffusion regions in a silicon substrate
US8975170B2 (en) * 2011-10-24 2015-03-10 Honeywell International Inc. Dopant ink compositions for forming doped regions in semiconductor substrates, and methods for fabricating dopant ink compositions
TWI424584B (zh) * 2011-11-30 2014-01-21 Au Optronics Corp 製作太陽能電池之方法
TW201339248A (zh) * 2012-01-10 2013-10-01 Hitachi Chemical Co Ltd 遮罩形成用組成物、太陽電池用基板的製造方法以及太陽電池元件的製造方法
TW201331312A (zh) * 2012-01-10 2013-08-01 Hitachi Chemical Co Ltd 遮罩形成用組成物、太陽電池用基板的製造方法以及太陽電池元件的製造方法
TW201332897A (zh) * 2012-01-10 2013-08-16 Hitachi Chemical Co Ltd 阻擋層形成用組成物、太陽電池用基板的製造方法以及太陽電池元件的製造方法
CN104011882A (zh) 2012-01-12 2014-08-27 应用材料公司 制造太阳能电池装置的方法
JP6178543B2 (ja) * 2012-01-25 2017-08-09 直江津電子工業株式会社 P型拡散層用塗布液
TW201335119A (zh) * 2012-02-23 2013-09-01 Hitachi Chemical Co Ltd 不純物擴散層形成組成物、帶有不純物擴散層的半導體基板的製造方法以及太陽電池元件的製造方法
WO2013125252A1 (ja) * 2012-02-23 2013-08-29 日立化成株式会社 不純物拡散層形成組成物、不純物拡散層付き半導体基板の製造方法及び太陽電池素子の製造方法
KR101387718B1 (ko) * 2012-05-07 2014-04-22 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 이의 제조 방법
CN102797040B (zh) * 2012-08-22 2015-08-12 中国科学院电工研究所 一种硼(b)扩散掺杂的方法
US9306087B2 (en) * 2012-09-04 2016-04-05 E I Du Pont De Nemours And Company Method for manufacturing a photovoltaic cell with a locally diffused rear side
US9196486B2 (en) 2012-10-26 2015-11-24 Innovalight, Inc. Inorganic phosphate containing doping compositions
US8853438B2 (en) 2012-11-05 2014-10-07 Dynaloy, Llc Formulations of solutions and processes for forming a substrate including an arsenic dopant
EP2938760A1 (de) * 2012-12-28 2015-11-04 Merck Patent GmbH Flüssige dotiermedien zur lokalen dotierung von siliziumwafern
EP2938762A1 (de) * 2012-12-28 2015-11-04 Merck Patent GmbH Oxidmedien zum gettern von verunreinigungen aus siliziumwafern
WO2014101989A1 (de) * 2012-12-28 2014-07-03 Merck Patent Gmbh Dotiermedien zur lokalen dotierung von siliziumwafern
CN104903497B (zh) * 2012-12-28 2018-07-20 默克专利股份有限公司 用于硅晶片的可印刷的扩散阻挡层
US9093598B2 (en) * 2013-04-12 2015-07-28 Btu International, Inc. Method of in-line diffusion for solar cells
JP6361505B2 (ja) * 2013-07-04 2018-07-25 東レ株式会社 不純物拡散組成物および半導体素子の製造方法
US9076719B2 (en) 2013-08-21 2015-07-07 The Regents Of The University Of California Doping of a substrate via a dopant containing polymer film
JP6072129B2 (ja) 2014-04-30 2017-02-01 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア ドーパント含有ポリマー膜を用いた基体のドーピング
US20150325442A1 (en) * 2014-05-07 2015-11-12 Dynaloy, Llc Formulations of Solutions and Processes for Forming a Substrate Including a Dopant
JP6855794B2 (ja) * 2015-01-30 2021-04-07 東レ株式会社 不純物拡散組成物、それを用いた半導体素子の製造方法および太陽電池
WO2016165812A1 (de) * 2015-04-15 2016-10-20 Merck Patent Gmbh Siebdruckbare bor-dotierpaste mit gleichzeitiger hemmung der phosphordiffusion bei co-diffusionsprozessen
US20180062022A1 (en) * 2015-04-15 2018-03-01 Merck Patent Gmbh Sol-gel-based printable doping media which inhibit parasitic diffusion for the local doping of silicon wafers
JP2015213177A (ja) * 2015-06-15 2015-11-26 日立化成株式会社 n型拡散層形成組成物、n型拡散層の製造方法、太陽電池素子の製造方法、及び太陽電池
CN105070841B (zh) * 2015-07-21 2017-11-24 苏州大学 一种钙钛矿太阳能电池的制备方法
JP2016027665A (ja) * 2015-09-28 2016-02-18 日立化成株式会社 p型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
JP2016036034A (ja) * 2015-09-28 2016-03-17 日立化成株式会社 n型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法
CN108886068B (zh) * 2016-03-23 2022-02-01 松下知识产权经营株式会社 太阳能电池、太阳能电池组件和太阳能电池的制造方法
WO2018021121A1 (ja) * 2016-07-29 2018-02-01 東レ株式会社 不純物拡散組成物およびこれを用いた半導体素子の製造方法
CN108257857A (zh) * 2018-01-11 2018-07-06 华东理工大学 一种多元醇硼酸酯络合物硼扩散源及其制备方法
CN111370304B (zh) * 2018-12-25 2023-03-28 天津环鑫科技发展有限公司 一种硼铝源及其配置方法
US11978815B2 (en) 2018-12-27 2024-05-07 Solarpaint Ltd. Flexible photovoltaic cell, and methods and systems of producing it
CN111628047B (zh) * 2020-06-01 2023-02-28 常州顺风太阳能科技有限公司 一种N型TOPCon太阳能电池的制作方法
WO2023021515A1 (en) * 2021-08-19 2023-02-23 Solarpaint Ltd. Improved flexible solar panels and photovoltaic devices, and methods and systems for producing them

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL99619C (es) * 1955-06-28
US4104091A (en) * 1977-05-20 1978-08-01 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Application of semiconductor diffusants to solar cells by screen printing
US4243427A (en) * 1977-11-21 1981-01-06 Trw Inc. High concentration phosphoro-silica spin-on dopant
US4152824A (en) 1977-12-30 1979-05-08 Mobil Tyco Solar Energy Corporation Manufacture of solar cells
JPS5534258A (en) * 1978-09-01 1980-03-10 Tokyo Denshi Kagaku Kabushiki Coating solution for forming silica film
LU83831A1 (fr) * 1981-12-10 1983-09-01 Belge Etat Procede de fabrication de dispositifs semi-conducteurs et dispositifs semi-conducteurs ainsi obtenus
US4571366A (en) * 1982-02-11 1986-02-18 Owens-Illinois, Inc. Process for forming a doped oxide film and doped semiconductor
US4588455A (en) * 1984-08-15 1986-05-13 Emulsitone Company Planar diffusion source
JPS61279665A (ja) 1985-06-05 1986-12-10 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 部分乾式メツキ方法
US4785041A (en) * 1987-12-31 1988-11-15 Dow Corning Corporation Screen printable organosiloxane resin coating compositions
US4891331A (en) * 1988-01-21 1990-01-02 Oi-Neg Tv Products, Inc. Method for doping silicon wafers using Al2 O3 /P2 O5 composition
JPH01199678A (ja) * 1988-02-03 1989-08-11 Mitsubishi Electric Corp 高純度SiO↓2薄膜の形成方法
JPH0266916A (ja) * 1988-08-31 1990-03-07 Nec Corp 積層型セラミックコンデンサの製造方法
JP2658395B2 (ja) * 1989-06-08 1997-09-30 三菱マテリアル株式会社 ヒ素拡散用塗布液
JP2639591B2 (ja) * 1989-10-03 1997-08-13 東京応化工業株式会社 ドーパントフィルム及びそれを使用した不純物拡散方法
JPH0485821A (ja) * 1990-07-26 1992-03-18 Tonen Chem Corp ホウ素拡散ソースおよびホウ素拡散方法
US5472488A (en) * 1990-09-14 1995-12-05 Hyundai Electronics America Coating solution for forming glassy layers
US5358597A (en) 1991-09-04 1994-10-25 Gte Laboratories Incorporated Method of protecting aluminum nitride circuit substrates during electroless plating using sol-gel oxide films and article made therefrom
WO1993024960A1 (en) 1992-05-27 1993-12-09 Mobil Solar Energy Corporation Solar cells with thick aluminum contacts
US5387480A (en) 1993-03-08 1995-02-07 Dow Corning Corporation High dielectric constant coatings
US5554684A (en) 1993-10-12 1996-09-10 Occidental Chemical Corporation Forming polyimide coating by screen printing
DE19508712C2 (de) 1995-03-10 1997-08-07 Siemens Solar Gmbh Solarzelle mit Back-Surface-Field und Verfahren zur Herstellung
JP3824334B2 (ja) * 1995-08-07 2006-09-20 東京応化工業株式会社 シリカ系被膜形成用塗布液及び被膜形成方法
JPH09283457A (ja) * 1996-04-12 1997-10-31 Toshiba Corp 半導体用塗布拡散剤
JPH09283458A (ja) * 1996-04-12 1997-10-31 Toshiba Corp 半導体用塗布拡散剤
US5776235A (en) 1996-10-04 1998-07-07 Dow Corning Corporation Thick opaque ceramic coatings

Also Published As

Publication number Publication date
CN1343376A (zh) 2002-04-03
NO20014384D0 (no) 2001-09-10
DE19910816A1 (de) 2000-10-05
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JP2002539615A (ja) 2002-11-19
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IL145333A0 (en) 2002-06-30
IL145333A (en) 2009-06-15
US6695903B1 (en) 2004-02-24
EP1166366B1 (de) 2011-11-30
AU3960100A (en) 2000-09-28
EP1166366A1 (de) 2002-01-02
KR20010112313A (ko) 2001-12-20
IN2001KO01049A (es) 2006-03-17
KR100697439B1 (ko) 2007-03-20
CA2367137A1 (en) 2000-09-14
EP2276058A1 (de) 2011-01-19
PL350966A1 (en) 2003-02-24
AU766807B2 (en) 2003-10-23
EP2276058B1 (de) 2016-02-17

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