JP5755685B2 - 積層チップ電子部品、積層チップ電子部品が実装された基板、および、包装ユニット - Google Patents
積層チップ電子部品、積層チップ電子部品が実装された基板、および、包装ユニット Download PDFInfo
- Publication number
- JP5755685B2 JP5755685B2 JP2013123532A JP2013123532A JP5755685B2 JP 5755685 B2 JP5755685 B2 JP 5755685B2 JP 2013123532 A JP2013123532 A JP 2013123532A JP 2013123532 A JP2013123532 A JP 2013123532A JP 5755685 B2 JP5755685 B2 JP 5755685B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- cover layer
- ceramic body
- active region
- multilayer chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0271—Arrangements for reducing stress or warp in rigid printed circuit boards, e.g. caused by loads, vibrations or differences in thermal expansion
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K1/111—Pads for surface mounting, e.g. lay-out
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09209—Shape and layout details of conductors
- H05K2201/09372—Pads and lands
- H05K2201/09427—Special relation between the location or dimension of a pad or land and the location or dimension of a terminal
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10007—Types of components
- H05K2201/10015—Non-printed capacitor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10621—Components characterised by their electrical contacts
- H05K2201/10636—Leadless chip, e.g. chip capacitor or resistor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/20—Details of printed circuits not provided for in H05K2201/01 - H05K2201/10
- H05K2201/2045—Protection against vibrations
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Description
また、特許文献2及び特許文献3には、積層キャパシタの上部カバー層と下部カバー層の厚さが異なることが記載されているが、アコースティックノイズの改善または低減という課題を解決するための方案は提案されていない。
さらに、アコースティックノイズを低減するために、本特許出願の請求項及び本発明の実施例が提案する活性層の中心部が積層チップキャパシタの中心部から外れる程度の範囲や上部カバー層と下部カバー層との間の比率、セラミック本体の厚さに対する下部カバー層が占める比率、又は活性層の厚さに対して下部カバー層が占める比率等を開示または予想していない。
多数の内部電極が相互対向するように選択的に配置され、誘電体層が前記内部電極の間に配置されて容量が形成される活性領域、前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面において前記上部カバー層より大きい厚さを有する下部カバー層を含むセラミック本体と、
前記セラミック本体上における第1及び第2外部電極と、を含み、
前記多数の内部電極は、選択的に前記第1及び第2外部電極と連結され、
前記活性領域の厚さ方向の中心が前記セラミック本体の厚さ方向の中心より上部にあり、
前記活性領域に外部電源が印加されるとき、長さ方向のセラミック本体の両側における最大変曲点は、厚さ方向の前記半田の高さまたはそれ以上にある、積層チップ電子部品である。
前記上部カバー層の厚さDは、D≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たしても良い。
多数の内部電極が相互対向するように選択的に配置され、誘電体層が前記内部電極の間に配置されて容量が形成される活性領域、前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面において前記上部カバー層より大きい厚さを有する下部カバー層を含むセラミック本体と、
前記セラミック本体上における第1及び第2外部電極と、を含み、
前記多数の内部電極は、選択的に前記第1及び第2外部電極と連結され、
前記活性領域の厚さ方向の中心が前記セラミック本体の厚さ方向の中心より上部にあり、
前記活性領域に外部電源が印加されるとき、膨張及び収縮が転換される長さ方向のセラミック本体の両側における変曲点は、厚さ方向の前記半田の高さまたはそれ以上にある、積層チップ電子部品である。
前記上部カバー層の厚さDは、D≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たしても良い。
多数の内部電極が相互対向するように選択的に配置され、誘電体層が前記内部電極の間に配置されて容量が形成される活性領域、前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面において前記上部カバー層より大きい厚さを有する下部カバー層を含むセラミック本体と、
前記セラミック本体上における第1及び第2外部電極と、を含み、
前記多数の内部電極は、選択的に前記第1及び第2外部電極と連結され、
前記活性領域の厚さ方向の中心が前記セラミック本体の厚さ方向の中心より上部にあり、前記活性領域に外部電源が印加されるとき、長さ方向に前記セラミック本体の両側における最大変曲点は、厚さ方向の前記半田の高さまたはそれ以上にある、積層チップ電子部品である。
前記上部カバー層の厚さDは、D≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たしても良い。
多数の内部電極が相互対向するように選択的に配置され、誘電体層が前記内部電極の間に配置されて容量が形成される活性領域、前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面において前記上部カバー層より大きい厚さを有する下部カバー層を含むセラミック本体と、
前記セラミック本体上における第1及び第2外部電極と、を含み、
前記多数の内部電極は、選択的に前記第1及び第2外部電極と連結され、
前記活性領域の厚さ方向の中心が前記セラミック本体の厚さ方向の中心より上部にあり、前記活性領域に外部電源が印加されるとき、膨張及び収縮が転換されるセラミック本体の両側における変曲点は、厚さ方向の前記セラミック本体の中心部またはそれ以下にある、積層チップ電子部品である。
前記上部カバー層の厚さDはD≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たしても良い。
前記セラミック本体内に配置されており、前記外部電極と電気的に連結され、厚さ方向に相対するように配置され、容量形成のために配置される誘電体層がその間に挿入される多数の内部電極を含む活性領域と、
前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層と、
前記活性領域の最下側の内部電極の下面における下部カバー層と、
外部電源が印加されるとき、積層チップ電子部品によって発生するアコースティックノイズを減少させる手段と、を含む、積層チップ電子部品である。
前記上部カバー層の厚さDは、D≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たしても良い、請求項26に記載の積層チップ電子部品。
半田付けによって前記外部電極と電気的に連結される電極パッドと、
前記電極パッドが配置され、前記積層チップ電子部品が前記電極パッド上に実装される印刷回路基板と、を含む、積層チップ電子部品が実装された基板である。
前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面における下部カバー層を含む積層チップ電子部品と、
前記積層チップ電子部品が配置される収容部を含む包装シートと、を含む、包装ユニットである。
図1は、本発明の一実施例による積層チップキャパシタを一部切開して図示した概略切開斜視図であり、図2は、図1の積層チップキャパシタを長さ方向及び厚さ方向に切断して図示した断面図であり、図3は、図1の積層チップキャパシタの寸法関係を説明するための長さ方向及び厚さ方向の概略断面図である。
図4は、図1の積層チップキャパシタが印刷回路基板に実装された状態を概略的に示した概略斜視図であり、図5は、図4の積層チップキャパシタが印刷回路基板に実装された状態を示した概略平面図であり、図6は、図4の積層チップキャパシタが印刷回路基板に実装された状態を長さ方向及び厚さ方向に切断して示した断面図である。
図9は、本発明の一実施例による積層チップキャパシタが包装体に実装される様子を示した概略斜視図であり、図10は、図9の包装体をリール状に巻取したことを示した概略断面図である。
本発明の実施例と比較例による積層セラミックキャパシタは、下記のようにして製作された。
42、44 第1及び第2外部電極
20 内部電極
50 誘電体層
53 上部カバー層
55 下部カバー層
Claims (27)
- 半田を通じて印刷回路基板上に実装される積層チップ電子部品において、
複数の第1及び第2内部電極が相互対向するように配置され、誘電体層が前記内部電極の間に配置されて容量が形成される活性領域、前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面において前記上部カバー層より大きい厚さを有する下部カバー層を含むセラミック本体と、
前記セラミック本体上における第1及び第2外部電極と、を含み、
前記複数の第1及び第2内部電極は、それぞれ前記第1及び第2外部電極と連結され、
前記活性領域の厚さ方向の中心が前記セラミック本体の厚さ方向の中心より上部にあり、
前記活性領域に外部電源が印加されるとき、長さ方向のセラミック本体の両側における最大変曲点は、厚さ方向の前記半田の高さまたはそれ以上にあり、
前記セラミック本体の厚さの1/2をA、前記下部カバー層の厚さをB、前記活性領域の厚さの1/2をC、前記上部カバー層の厚さをDと規定するとき、
前記上部カバー層の厚さDは、D≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たす、積層チップ電子部品。 - 前記第1及び第2外部電極は、前記セラミック本体においてそれぞれ対向する両側に配置される、請求項1に記載の積層チップ電子部品。
- 前記上部カバー層の厚さDと下部カバー層の厚さBとの比率D/Bは、0.021≦D/B≦0.422の範囲を満たす、請求項1に記載の積層チップ電子部品。
- 前記セラミック本体の厚さの1/2であるAに対する前記下部カバー層の厚さBの比率B/Aは、0.329≦B/A≦1.522の範囲を満たす、請求項1に記載の積層チップ電子部品。
- 前記下部カバー層の厚さBに対する前記活性領域の厚さの1/2であるCの比率C/Bは、0.146≦C/B≦2.458の範囲を満たす、請求項1に記載の積層チップ電子部品。
- 前記セラミック本体の上面及び底面のうち少なくとも一つには、上部及び下部を区分するためのマーキングが形成される、請求項1に記載の積層チップ電子部品。
- 半田を通じて印刷回路基板上に実装される積層チップ電子部品において、
複数の第1及び第2内部電極が相互対向するように配置され、誘電体層が前記内部電極の間に配置されて容量が形成される活性領域、前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面において前記上部カバー層より大きい厚さを有する下部カバー層を含むセラミック本体と、
前記セラミック本体上における第1及び第2外部電極と、を含み、
前記複数の第1及び第2内部電極は、それぞれ前記第1及び第2外部電極と連結され、
前記活性領域の厚さ方向の中心が前記セラミック本体の厚さ方向の中心より上部にあり、
前記活性領域に外部電源が印加されるとき、膨張及び収縮が転換される長さ方向のセラミック本体の両側における変曲点は、厚さ方向の前記半田の高さまたはそれ以上にあり、
前記セラミック本体の厚さの1/2をA、前記下部カバー層の厚さをB、前記活性領域の厚さの1/2をC、前記上部カバー層の厚さをDと規定するとき、
前記上部カバー層の厚さDは、D≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たす、積層チップ電子部品。 - 前記第1及び第2外部電極は、前記セラミック本体においてそれぞれ対向する両側に配置される、請求項7に記載の積層チップ電子部品。
- 前記上部カバー層の厚さDと下部カバー層の厚さBとの比率D/Bは、0.021≦D/B≦0.422の範囲を満たす、請求項7に記載の積層チップ電子部品。
- 前記セラミック本体の厚さの1/2であるAに対する前記下部カバー層の厚さBの比率B/Aは、0.329≦B/A≦1.522の範囲を満たす、請求項7に記載の積層チップ電子部品。
- 前記下部カバー層の厚さBに対する前記活性領域の厚さの1/2であるCの比率C/Bは、0.146≦C/B≦2.458の範囲を満たす、請求項7に記載の積層チップ電子部品。
- 半田を通じて印刷回路基板上に実装される積層チップ電子部品において、
複数の第1及び第2内部電極が相互対向するように配置され、誘電体層が前記内部電極の間に配置されて容量が形成される活性領域、前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面において前記上部カバー層より大きい厚さを有する下部カバー層を含むセラミック本体と、
前記セラミック本体上における第1及び第2外部電極と、を含み、
前記複数の第1及び第2内部電極は、それぞれ前記第1及び第2外部電極と連結され、
前記活性領域の厚さ方向の中心が前記セラミック本体の厚さ方向の中心より上部にあり、前記活性領域に外部電源が印加されるとき、長さ方向に前記セラミック本体の両側における最大変曲点は、厚さ方向の前記半田の高さまたはそれ以上にあり、
前記セラミック本体の厚さの1/2をA、前記下部カバー層の厚さをB、前記活性領域の厚さの1/2をC、前記上部カバー層の厚さをDと規定するとき、
前記上部カバー層の厚さDは、D≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たす、積層チップ電子部品。 - 前記第1及び第2外部電極は、前記セラミック本体においてそれぞれ対向する両側に配置される、請求項12に記載の積層チップ電子部品。
- 前記上部カバー層の厚さDと下部カバー層の厚さBとの比率D/Bは、0.021≦D/B≦0.422の範囲を満たす、請求項12に記載の積層チップ電子部品。
- 前記セラミック本体の厚さの1/2であるAに対する前記下部カバー層の厚さBの比率B/Aは、0.329≦B/A≦1.522の範囲を満たす、請求項12に記載の積層チップ電子部品。
- 前記下部カバー層の厚さBに対する前記活性領域の厚さの1/2であるCの比率C/Bは、0.146≦C/B≦2.458の範囲を満たす、請求項12に記載の積層チップ電子部品。
- 半田を通じて印刷回路基板上に実装される積層チップ電子部品において、
複数の第1及び第2内部電極が相互対向するように配置され、誘電体層が前記内部電極の間に配置されて容量が形成される活性領域、前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層及び前記活性領域の最下側の内部電極の下面において前記上部カバー層より大きい厚さを有する下部カバー層を含むセラミック本体と、
前記セラミック本体上における第1及び第2外部電極と、を含み、
前記複数の第1及び第2内部電極は、それぞれ前記第1及び第2外部電極と連結され、
前記活性領域の厚さ方向の中心が前記セラミック本体の厚さ方向の中心より上部にあり、前記活性領域に外部電源が印加されるとき、膨張及び収縮が転換されるセラミック本体の両側における変曲点は、厚さ方向の前記セラミック本体の中心部またはそれ以下にあり、
前記セラミック本体の厚さの1/2をA、前記下部カバー層の厚さをB、前記活性領域の厚さの1/2をC、前記上部カバー層の厚さをDと規定するとき、
前記上部カバー層の厚さDはD≧4μmの範囲を満たし、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aは、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たす、積層チップ電子部品。 - 前記第1及び第2外部電極は、前記セラミック本体においてそれぞれ対向する両側に配置される、請求項17に記載の積層チップ電子部品。
- 前記上部カバー層の厚さDと下部カバー層の厚さBとの比率D/Bは、0.021≦D/B≦0.422の範囲を満たす、請求項17に記載の積層チップ電子部品。
- 前記セラミック本体の厚さの1/2であるAに対する前記下部カバー層の厚さBの比率B/Aは、0.329≦B/A≦1.522の範囲を満たす、請求項17に記載の積層チップ電子部品。
- 前記下部カバー層の厚さBに対する前記活性領域の厚さの1/2であるCの比率C/Bは、0.146≦C/B≦2.458の範囲を満たす、請求項17に記載の積層チップ電子部品。
- 六面体形状を有するセラミック本体の対向する側面における外部電極と、
前記セラミック本体内に配置されており、前記外部電極と電気的に連結され、厚さ方向に相対するように配置され、容量形成のために配置される誘電体層がその間に挿入される多数の内部電極を含む活性領域と、
前記活性領域の最上側の内部電極の上面における上部カバー層と、
前記上部カバー層より大きい厚さを有し、前記活性領域の最下側の内部電極の下面における下部カバー層と、を備え、
前記セラミック本体の厚さの1/2をA、前記下部カバー層の厚さをB、前記活性領域の厚さの1/2をCと規定するとき、
前記活性領域の中心部が前記セラミック本体の中心部から外れた比率(B+C)/Aが、1.063≦(B+C)/A≦1.745の範囲を満たすことにより、
外部電源が印加されるとき、積層チップ電子部品によって発生するアコースティックノイズを減少させる積層チップ電子部品。 - 前記上部カバー層の厚さをDと規定するとき、
前記上部カバー層の厚さDは、D≧4μmの範囲を満たす、請求項22に記載の積層チップ電子部品。 - 前記上部カバー層の厚さDと下部カバー層の厚さBとの比率D/Bは、0.021≦D/B≦0.422の範囲を満たす、請求項23に記載の積層チップ電子部品。
- 前記セラミック本体の厚さの1/2であるAに対する前記下部カバー層の厚さBの比率B/Aは、0.329≦B/A≦1.522の範囲を満たす、請求項23に記載の積層チップ電子部品。
- 前記下部カバー層の厚さBに対する前記活性領域の厚さの1/2であるCの比率C/Bは、0.146≦C/B≦2.458の範囲を満たす、請求項23に記載の積層チップ電子部品。
- 請求項1から26のいずれか一項に記載の積層チップ電子部品と、
半田付けによって前記外部電極と電気的に連結される電極パッドと、
前記電極パッドが配置され、前記積層チップ電子部品が前記電極パッド上に実装される印刷回路基板と、を含む、積層チップ電子部品が実装された基板。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20120057723 | 2012-05-30 | ||
KR10-2012-0057723 | 2012-05-30 | ||
KR10-2012-0089522 | 2012-08-16 | ||
KR1020120089522A KR101309479B1 (ko) | 2012-05-30 | 2012-08-16 | 적층 칩 전자부품, 그 실장 기판 및 포장체 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012227732A Division JP5319007B1 (ja) | 2012-05-30 | 2012-10-15 | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 |
Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014022441A Division JP2014112712A (ja) | 2012-05-30 | 2014-02-07 | 包装ユニット |
JP2014087129A Division JP2014158040A (ja) | 2012-05-30 | 2014-04-21 | 包装ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013251551A JP2013251551A (ja) | 2013-12-12 |
JP5755685B2 true JP5755685B2 (ja) | 2015-07-29 |
Family
ID=49456330
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012227732A Active JP5319007B1 (ja) | 2012-05-30 | 2012-10-15 | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 |
JP2013123532A Active JP5755685B2 (ja) | 2012-05-30 | 2013-06-12 | 積層チップ電子部品、積層チップ電子部品が実装された基板、および、包装ユニット |
JP2014022441A Pending JP2014112712A (ja) | 2012-05-30 | 2014-02-07 | 包装ユニット |
JP2014087129A Pending JP2014158040A (ja) | 2012-05-30 | 2014-04-21 | 包装ユニット |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012227732A Active JP5319007B1 (ja) | 2012-05-30 | 2012-10-15 | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014022441A Pending JP2014112712A (ja) | 2012-05-30 | 2014-02-07 | 包装ユニット |
JP2014087129A Pending JP2014158040A (ja) | 2012-05-30 | 2014-04-21 | 包装ユニット |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9099242B2 (ja) |
EP (2) | EP2827351B1 (ja) |
JP (4) | JP5319007B1 (ja) |
KR (3) | KR101309479B1 (ja) |
CN (3) | CN103456495B (ja) |
TW (1) | TWI455162B (ja) |
Families Citing this family (54)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5998724B2 (ja) * | 2012-08-03 | 2016-09-28 | Tdk株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
KR101474065B1 (ko) * | 2012-09-27 | 2014-12-17 | 삼성전기주식회사 | 적층 칩 전자부품, 그 실장 기판 및 포장체 |
KR101452054B1 (ko) * | 2012-12-03 | 2014-10-22 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
JP5987812B2 (ja) * | 2013-01-25 | 2016-09-07 | 株式会社村田製作所 | 積層コンデンサ、テーピング積層コンデンサ連及び積層コンデンサの実装構造 |
JP6798766B2 (ja) * | 2013-06-19 | 2020-12-09 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
KR20140038916A (ko) * | 2013-10-31 | 2014-03-31 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
JP6247188B2 (ja) * | 2013-10-31 | 2017-12-13 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミックキャパシタ |
JP5790817B2 (ja) * | 2013-11-05 | 2015-10-07 | 株式会社村田製作所 | コンデンサ、コンデンサの実装構造体及びテーピング電子部品連 |
KR101525696B1 (ko) * | 2013-11-14 | 2015-06-03 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자 부품 및 적층 세라믹 전자 부품의 실장 기판 |
KR102078012B1 (ko) * | 2014-01-10 | 2020-02-17 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
US10283271B2 (en) * | 2014-01-17 | 2019-05-07 | Kyocera Corporation | Laminated electronic component and laminated electronic component mounting structure |
KR102004781B1 (ko) * | 2014-01-27 | 2019-07-29 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
JP6011573B2 (ja) * | 2014-03-24 | 2016-10-19 | 株式会社村田製作所 | 電子部品 |
KR20150114747A (ko) * | 2014-04-02 | 2015-10-13 | 삼성전기주식회사 | 칩형 코일 부품 및 그 실장 기판 |
JP6481446B2 (ja) * | 2014-06-13 | 2019-03-13 | 株式会社村田製作所 | 積層コンデンサの実装構造体 |
KR101630050B1 (ko) | 2014-07-25 | 2016-06-13 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 |
JP2014212349A (ja) | 2014-08-13 | 2014-11-13 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2014212352A (ja) | 2014-08-13 | 2014-11-13 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2016040819A (ja) | 2014-08-13 | 2016-03-24 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2014220529A (ja) | 2014-08-13 | 2014-11-20 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2015026844A (ja) | 2014-08-13 | 2015-02-05 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2015008312A (ja) | 2014-08-13 | 2015-01-15 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2014212351A (ja) | 2014-08-13 | 2014-11-13 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2014212350A (ja) | 2014-08-13 | 2014-11-13 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2016040817A (ja) | 2014-08-13 | 2016-03-24 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2016040816A (ja) | 2014-08-13 | 2016-03-24 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
JP2014232898A (ja) | 2014-09-18 | 2014-12-11 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ、これを含む積層セラミックコンデンサ連、および、積層セラミックコンデンサの実装体 |
KR102097325B1 (ko) * | 2014-09-23 | 2020-04-06 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
KR102037268B1 (ko) * | 2014-10-15 | 2019-10-29 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
JP6256306B2 (ja) * | 2014-11-05 | 2018-01-10 | 株式会社村田製作所 | 電子部品内蔵基板およびその製造方法 |
JP6218725B2 (ja) | 2014-12-26 | 2017-10-25 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
KR101659209B1 (ko) * | 2015-02-10 | 2016-09-22 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자부품 및 이를 구비한 기판 |
KR101681410B1 (ko) | 2015-04-20 | 2016-11-30 | 삼성전기주식회사 | 커패시터 부품 |
JP6361570B2 (ja) * | 2015-05-11 | 2018-07-25 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサの姿勢判別方法、積層セラミックコンデンサの姿勢判別装置、および積層セラミックコンデンサ連の製造方法 |
JP2017069417A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 株式会社村田製作所 | 積層コンデンサ |
KR101823246B1 (ko) * | 2016-06-21 | 2018-01-29 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 전자 부품 및 그 실장 기판 |
KR102029529B1 (ko) * | 2016-12-19 | 2019-10-07 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 |
JP6822155B2 (ja) | 2017-01-12 | 2021-01-27 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサおよびその実装構造体 |
JP6863458B2 (ja) * | 2017-05-15 | 2021-04-21 | 株式会社村田製作所 | 積層型電子部品 |
KR102426214B1 (ko) | 2017-12-22 | 2022-07-28 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 및 그 실장 기판 |
JP7197985B2 (ja) | 2018-02-21 | 2022-12-28 | 太陽誘電株式会社 | セラミックコンデンサおよびその製造方法 |
JP7374594B2 (ja) | 2019-02-25 | 2023-11-07 | 太陽誘電株式会社 | セラミック電子部品、実装基板、セラミック電子部品の包装体、およびセラミック電子部品の製造方法 |
KR102127803B1 (ko) | 2019-04-26 | 2020-06-29 | 삼성전기주식회사 | 인터포저 및 이 인터포저를 포함하는 전자 부품 |
US20210090809A1 (en) | 2019-09-20 | 2021-03-25 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Board having multilayer capacitor mounted thereon and multilayer capacitor package |
CN110662352A (zh) * | 2019-10-28 | 2020-01-07 | 维沃移动通信有限公司 | 一种电路板装置及其加工方法和移动终端 |
KR102351179B1 (ko) * | 2019-11-25 | 2022-01-14 | 삼성전기주식회사 | 복합 전자부품 |
KR102268390B1 (ko) | 2019-12-09 | 2021-06-23 | 삼성전기주식회사 | 전자 부품 |
CN111157879B (zh) * | 2020-01-03 | 2022-09-13 | 深圳市景旺电子股份有限公司 | 印制电路板的层偏检测方法及层偏检测结构 |
JP2021174829A (ja) * | 2020-04-22 | 2021-11-01 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
JP2021174837A (ja) * | 2020-04-23 | 2021-11-01 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
KR20220058118A (ko) * | 2020-10-30 | 2022-05-09 | 삼성전기주식회사 | 적층형 전자 부품 |
KR20220084603A (ko) * | 2020-12-14 | 2022-06-21 | 삼성전기주식회사 | 적층형 커패시터 및 그 실장 기판 |
JP2022181894A (ja) * | 2021-05-27 | 2022-12-08 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
KR20230053904A (ko) * | 2021-10-15 | 2023-04-24 | 삼성전기주식회사 | 커패시터 부품 |
Family Cites Families (47)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56110220A (en) * | 1980-02-05 | 1981-09-01 | Tdk Electronics Co Ltd | Method of manufacturing porcelain laminated layer zone |
JPS6352770A (ja) | 1986-08-21 | 1988-03-05 | Mitsubishi Electric Corp | ナロ−ラップシ−ム溶接機の溶接部圧加装置 |
JPS6352770U (ja) | 1986-09-25 | 1988-04-09 | ||
JPS63105325U (ja) | 1986-12-25 | 1988-07-08 | ||
JPH0787277B2 (ja) | 1987-03-25 | 1995-09-20 | ティーディーケイ株式会社 | 表面実装部品の基板搭載方法 |
JPH06215978A (ja) | 1993-01-21 | 1994-08-05 | Murata Mfg Co Ltd | 積層型コンデンサ |
JPH06268464A (ja) | 1993-03-17 | 1994-09-22 | Mitsubishi Materials Corp | ノイズフィルタブロック |
JPH0745469A (ja) * | 1993-07-27 | 1995-02-14 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
JPH07329915A (ja) | 1994-06-10 | 1995-12-19 | Rohm Co Ltd | 電子部品の連続式テーピング装置 |
JPH0855752A (ja) * | 1994-08-10 | 1996-02-27 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層コンデンサの実装方法及び積層コンデンサ |
JP3012490U (ja) | 1994-10-27 | 1995-06-20 | 浦和ポリマー株式会社 | キャリアテープ |
JPH08130160A (ja) | 1994-10-31 | 1996-05-21 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
JPH1022161A (ja) | 1996-07-04 | 1998-01-23 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品 |
JP3882954B2 (ja) | 1997-03-19 | 2007-02-21 | Tdk株式会社 | チップ型積層セラミックコンデンサ |
JPH11297565A (ja) * | 1998-04-07 | 1999-10-29 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック電子部品およびその製造方法 |
JPH11340106A (ja) | 1998-05-29 | 1999-12-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 積層セラミック電子部品とその選別方法 |
JP2000243657A (ja) | 1999-02-18 | 2000-09-08 | Nec Corp | 積層チップコンデンサ |
US6830989B1 (en) * | 1999-08-27 | 2004-12-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for handling arrayed part |
CN1171257C (zh) | 1999-09-22 | 2004-10-13 | 松下电器产业株式会社 | 陶瓷电容器的制造方法和陶瓷电容器 |
JP3888446B2 (ja) | 2002-03-25 | 2007-03-07 | 株式会社村田製作所 | セラミック電子部品、及びセラミック電子部品の製造方法 |
JP4827157B2 (ja) | 2002-10-08 | 2011-11-30 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
JP4134675B2 (ja) * | 2002-10-21 | 2008-08-20 | 株式会社村田製作所 | 積層電子部品及びその製造方法 |
JP2004193352A (ja) | 2002-12-11 | 2004-07-08 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層コンデンサ及び積層コンデンサ実装体 |
JP2004259991A (ja) | 2003-02-26 | 2004-09-16 | Kyocera Corp | 積層セラミック部品 |
EP1598872A1 (en) | 2003-02-27 | 2005-11-23 | TDK Corporation | High dielectric constant insulating film, thin-film capacitive element, thin-film multilayer capacitor, and method for manufacturing thin-film capacitive element |
US6958899B2 (en) | 2003-03-20 | 2005-10-25 | Tdk Corporation | Electronic device |
JP2005217136A (ja) | 2004-01-29 | 2005-08-11 | Tdk Corp | 積層電子部品の整列方法及び装置 |
JP4432586B2 (ja) | 2004-04-02 | 2010-03-17 | パナソニック株式会社 | 静電気対策部品 |
WO2006022060A1 (ja) | 2004-08-27 | 2006-03-02 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層セラミックコンデンサおよびその等価直列抵抗調整方法 |
JP4038621B2 (ja) * | 2004-08-27 | 2008-01-30 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサおよびその等価直列抵抗調整方法 |
US7092236B2 (en) * | 2005-01-20 | 2006-08-15 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer chip capacitor |
KR100674841B1 (ko) * | 2005-01-20 | 2007-01-26 | 삼성전기주식회사 | 적층형 칩 커패시터 |
JP3861927B1 (ja) | 2005-07-07 | 2006-12-27 | 株式会社村田製作所 | 電子部品、電子部品の実装構造および電子部品の製造方法 |
US7573697B2 (en) * | 2005-08-31 | 2009-08-11 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Method of manufacturing capacitor for incorporation in wiring board, capacitor for incorporation in wiring board, and wiring board |
JP2007142342A (ja) | 2005-11-22 | 2007-06-07 | Kyocera Corp | 積層セラミックコンデンサおよびその製法 |
JP4744609B2 (ja) | 2006-03-10 | 2011-08-10 | ジョインセット カンパニー リミテッド | セラミック部品要素、セラミック部品及びその製造方法 |
US7742276B2 (en) * | 2007-03-30 | 2010-06-22 | Industrial Technology Research Institute | Wiring structure of laminated capacitors |
JP5297011B2 (ja) | 2007-07-26 | 2013-09-25 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ及びその製造方法 |
JP5303884B2 (ja) | 2007-09-14 | 2013-10-02 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
JP2009200168A (ja) | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Tdk Corp | セラミック電子部品、セラミック電子部品の製造方法、及びセラミック電子部品の梱包方法 |
JP4636196B2 (ja) | 2009-05-27 | 2011-02-23 | 株式会社村田製作所 | 部品整列装置及び電子部品の製造方法 |
JP5293506B2 (ja) | 2009-08-31 | 2013-09-18 | Tdk株式会社 | セラミック電子部品及びセラミック電子部品の製造方法 |
JP5458821B2 (ja) * | 2009-11-17 | 2014-04-02 | Tdk株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
KR101058697B1 (ko) * | 2010-12-21 | 2011-08-22 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터의 회로 기판 실장 구조, 실장 방법과 이를 위한 회로 기판의 랜드 패턴, 수평 방향으로 테이핑한 적층 세라믹 커패시터의 포장체 및 수평 방향 정렬방법 |
JP2012204831A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-10-22 | Ibiden Co Ltd | 電子部品内蔵配線板及びその製造方法 |
JP5375877B2 (ja) | 2011-05-25 | 2013-12-25 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ及び積層コンデンサの製造方法 |
JP5899699B2 (ja) | 2011-08-10 | 2016-04-06 | Tdk株式会社 | 積層型コンデンサ |
-
2012
- 2012-08-16 KR KR1020120089522A patent/KR101309479B1/ko active IP Right Grant
- 2012-08-17 US US13/588,696 patent/US9099242B2/en active Active
- 2012-08-23 EP EP14174616.4A patent/EP2827351B1/en active Active
- 2012-08-23 EP EP12275125.8A patent/EP2669915B1/en active Active
- 2012-09-04 TW TW101132128A patent/TWI455162B/zh active
- 2012-09-24 CN CN201210359200.7A patent/CN103456495B/zh active Active
- 2012-09-24 CN CN201410043307.XA patent/CN103787001B/zh active Active
- 2012-09-24 CN CN201310218442.9A patent/CN103456494B/zh active Active
- 2012-10-15 JP JP2012227732A patent/JP5319007B1/ja active Active
- 2012-11-09 KR KR1020120126533A patent/KR101616596B1/ko active IP Right Grant
-
2013
- 2013-06-12 JP JP2013123532A patent/JP5755685B2/ja active Active
- 2013-06-14 US US13/918,512 patent/US9576728B2/en active Active
-
2014
- 2014-01-23 KR KR1020140008460A patent/KR101983167B1/ko active IP Right Grant
- 2014-02-07 JP JP2014022441A patent/JP2014112712A/ja active Pending
- 2014-04-21 JP JP2014087129A patent/JP2014158040A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2827351B1 (en) | 2017-02-22 |
TWI455162B (zh) | 2014-10-01 |
EP2669915A1 (en) | 2013-12-04 |
JP2014112712A (ja) | 2014-06-19 |
KR20140028092A (ko) | 2014-03-07 |
JP2013251551A (ja) | 2013-12-12 |
CN103456495A (zh) | 2013-12-18 |
CN103787001A (zh) | 2014-05-14 |
KR101616596B1 (ko) | 2016-04-28 |
EP2669915B1 (en) | 2017-06-28 |
CN103787001B (zh) | 2016-09-28 |
KR101983167B1 (ko) | 2019-05-29 |
KR20130135014A (ko) | 2013-12-10 |
TW201349268A (zh) | 2013-12-01 |
US20130319741A1 (en) | 2013-12-05 |
CN103456494A (zh) | 2013-12-18 |
JP2014158040A (ja) | 2014-08-28 |
US9099242B2 (en) | 2015-08-04 |
US9576728B2 (en) | 2017-02-21 |
EP2827351A1 (en) | 2015-01-21 |
JP5319007B1 (ja) | 2013-10-16 |
US20140151103A1 (en) | 2014-06-05 |
CN103456494B (zh) | 2017-05-03 |
KR101309479B1 (ko) | 2013-09-23 |
CN103456495B (zh) | 2017-04-12 |
JP2013251522A (ja) | 2013-12-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5755685B2 (ja) | 積層チップ電子部品、積層チップ電子部品が実装された基板、および、包装ユニット | |
JP6593424B2 (ja) | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 | |
JP6275377B2 (ja) | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 | |
JP5485351B2 (ja) | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 | |
JP6673573B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ、積層セラミックキャパシタの回路基板実装構造及び積層セラミックキャパシタの包装体 | |
JP5536244B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ、積層セラミックキャパシタの回路基板実装構造及び積層セラミックキャパシタの包装体 | |
JP5563111B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及び積層セラミックキャパシタが実装された回路基板 | |
US10242804B2 (en) | Multilayer ceramic capacitor and mounting board therefor | |
JP5579886B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及びその実装基板 | |
JP5676671B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及び積層セラミックキャパシタの実装基板 | |
JP6147592B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及び積層セラミックキャパシタの実装基板 | |
JP6696703B2 (ja) | 積層チップ電子部品、その実装基板及び包装体 | |
JP5718389B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及びその実装基板 | |
JP5694409B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及び積層セラミックキャパシタの実装基板 | |
JP5587455B2 (ja) | 積層セラミックキャパシタ及びその実装基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140107 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20140407 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20140410 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140421 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20141028 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150226 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20150306 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150512 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150527 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5755685 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |