JP3786427B2 - 発光装置の製造方法 - Google Patents

発光装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3786427B2
JP3786427B2 JP50681398A JP50681398A JP3786427B2 JP 3786427 B2 JP3786427 B2 JP 3786427B2 JP 50681398 A JP50681398 A JP 50681398A JP 50681398 A JP50681398 A JP 50681398A JP 3786427 B2 JP3786427 B2 JP 3786427B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
electrode
liquid
line
optical material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP50681398A
Other languages
English (en)
Inventor
睦 木村
浩史 木口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Application granted granted Critical
Publication of JP3786427B2 publication Critical patent/JP3786427B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09FDISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
    • G09F9/00Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
    • G09F9/30Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/133377Cells with plural compartments or having plurality of liquid crystal microcells partitioned by walls, e.g. one microcell per pixel
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1341Filling or closing of cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286Wiring, e.g. gate line, drain line
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/122Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/17Passive-matrix OLED displays
    • H10K59/173Passive-matrix OLED displays comprising banks or shadow masks
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/13613Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit the semiconductor element being formed on a first substrate and thereafter transferred to the final cell substrate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/351Thickness
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/81Anodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/1201Manufacture or treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131Interconnections, e.g. wiring lines or terminals
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/17Passive-matrix OLED displays
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/50Forming devices by joining two substrates together, e.g. lamination techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Description

【発明の属する技術分野】
本発明は、表示基板上の所定位置に選択的に蛍光材料(発光材料)や光変調材料等の光学剤を配置された表示素子に関するものである。
【背景技術】
LCD(Liquid Crystal Display)やEL(Electroluminescense)表示素子等のマトリクス型表示素子は、軽量、薄型、高画質および高精細を実現する表示素子として、多種かつ多数用いられている。マトリクス型表示素子は、マトリクス状のバス配線と、光学材料(発光材料または光変調材料)と、必要に応じて他の構造とにより構成される。
ここで、単色のマトリクス型表示素子であれば、配線や電極は表示基板上にマトリクス状に配置する必要はあるが、光学材料は、表示基板全面に一様に塗布することも可能である。
これに対し、例えば自己が発光するタイプであるEL表示素子でいわゆるカラーのマトリクス型表示素子を実現しようとする場合、一画素毎に、RGBという光の三原色に対応して三つの画素電極を配置するとともに、各画素電極毎にRGBいずれかに対応した光学材料を塗布しなければならない。つまり、光学材料を所定の位置に選択的に配置する必要がある。
そこで、光学材料をパターニングする方法の開発が望まれるのであるが、有効なパターニング方法の候補としては、エッチングと塗布とが挙げられる。
エッチングによる場合の工程は、次のようになる。
先ず、表示基板上に、光学材料の層を形成する。次に、光学材料の層の上にレジスト膜を形成し、そのレジスト膜をマスクを介して露光した後にパターニングする。そして、エッチングを行い、レジストのパターンに応じて、光学材料の層のパターニングを行う。
しかしながら、この場合は、工程数が多く、各材料、装置が高価であることにより、コストが高くなる。また、工程数が多く、各工程が複雑であることにより、スループットも悪い。さらに、光学材料の化学的性質によっては、レジストやエッチング液に対する耐性が低く、これらの工程が不可能な場合もある。
一方、塗布による場合の工程は、次のようになる。
先ず、光学材料を溶媒に溶かして液状にし、この液状の光学材料を、表示基板上の所定位置に、インクジェット方式等により選択的に塗布する。そして、必要に応じて、加熱や光照射等により、光学材料を固形化する。この場合は、工程数が少なく、各材料、装置が安価であることにより、コストが安くなる。また、工程数が少なく、各工程が簡略であることにより、スループットも良い。さらに、光学材料の化学的性質に関係なく、液状化ができれば、これらの工程が可能である。
【発明が解決しようとする課題】
上記のような塗布によるパターニングの方法は、一見容易に実行可能なようにも思える。しかし、インクジェット方式により光学材料を塗布する際には、その光学材料を溶媒により数十倍以上希釈しなければならないため、その流動性が高く、塗布した後にそれの固形化が完了するまで塗布位置に保持しておくことが困難であることが判った。
つまり、液状の光学材料の流動性に起因して、パターニングの精度が悪いことである。例えば、ある画素に塗布した光学材料が、隣接する画素に流出することにより、画素の光学特性が劣化する。また、各画素毎に、塗布面積にバラツキが生じることにより、塗布厚さにバラツキが生じ、光学材料の光学特性にバラツキが生じる。
かかる問題点は、塗布する際には液状で、後に固形化されるEL表示素子用の発光材料等で顕著であるが、塗布した際及びその後も液状である液晶を、表示基板上に選択的に塗布する場合にも同様に生じる問題点である。
本発明は、このような従来の技術が有する未解決の課題に着目してなされたものであって、低コスト、高スループットおよび光学材料の自由度が高いこと等の特徴を維持しつつ、液状の光学材料を所定位置に確実に配置することができる表示素子の製造方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
本発明の発光装置の製造方法は、基板上に第1電極と、第2電極と、前記第1電極と前記第2電極の間に配置された発光材料層と、前記第1電極を制御するために配置された複数のスイッチング素子のいずれかに接続された走査線、信号線及び共通給電線を有する発光装置の製造方法であって、
前記基板上に前記走査線、前記走査線と交差する前記信号線及び前記信号線と平行に設けられた共通給電線を配置して、該走査線、信号線及び共通給電線により段差を形成し、
前記走査線、信号線及び共通給電線の段差により囲まれた凹部の所定位置に前記第1電極を形成し、
前記段差内の前記第1電極に対向する位置にインクジェット法により発光材料を選択的に塗布して、前記凹部の内側の領域に発光材料層を形成し、
しかる後に前記第1電極に対向するように前記第2電極を形成することを
特徴とする。
本発明の発光装置の製造方法は、前記走査線、信号線及び共通給電線の膜厚は、前記発光材料層の膜厚よりも大きいことを特徴とする。
本発明の発光装置の製造方法は、前記走査線、信号線及び共通給電線上に絶縁膜を形成する工程を有することを特徴とする。
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施の形態を、図面に基づいて説明する。
(1)第1の実施の形態
第1図乃至第5図は、本発明の第1の実施の形態を示す図であって、この実施の形態は、本発明に係るマトリクス型表示素子及びその製造方法を、EL表示素子を用いたアクティブマトリクス型の表示装置に適用したものである。より具体的には、配線としての走査線、信号線及び共通給電線を利用して、光学材料としての発光材料の塗布を行う例を示している。
第1図は、本実施の形態における表示装置1の一部を示す回路図であって、この表示装置1は、透明の表示基板上に、複数の走査線131と、これら走査線131に対して交差する方向に延びる複数の信号線132と、これら信号線132に並列に延びる複数の共通給電線133と、がそれぞれ配線された構成を有するとともに、走査線131及び信号線132の各交点毎に、画素領域素1Aが設けられている。
信号線132に対しては、シフトレジスタ、レベルシフタ、ビデオライン、アナログスイッチを備えるデータ側駆動回路3が設けられている。また、走査線131に対しては、シフトレジスタおよびレベルシフタを備える走査側駆動回路4が設けられている。さらに、また、画素領域1Aの各々には、走査線131を介して走査信号がゲート電極に供給されるスイッチング薄膜トランジスタ142と、このスイッチング薄膜トランジスタ142を介して信号線線132から供給される画像信号を保持する保持容量capと、該保持容量capによって保持された画像信号がゲート電極に供給されるカレント薄膜トランジスタ143と、このカレント薄膜トランジスタ143を介して共通給電線133に電気的に接続したときに共通給電線133から駆動電流が流れ込む画素電極141と、この画素電極141と反射電極154との間に挟み込まれる発光素子140と、が設けられている。
かかる構成であれば、走査線131が駆動されてスイッチング薄膜トランジスタ142がオンとなると、その時の信号線132の電位が保持容量capに保持され、該保持容量capの状態に応じて、カレント薄膜トランジスタ143のオン・オフ状態が決まる。そして、カレント薄膜トランジスタ143のチャネルを介して、共通給電線133から画素電極141に電流が流れ、さらに発光素子140を通じて反射電極154に電流が流れるから、発光素子140は、これを流れる電流量に応じて発光する。
ここで、各画素領域1Aの平面構造は、反射電極や発光素子を取り除いた状態での拡大平面図である第2図に示すように、平面形状が長方形の画素電極141の四辺が、信号線132、共通給電線133、走査線131及び図示しない他の画素電極用の走査線によって囲まれた配置となっている。
第3図〜第5図は、画素領域1Aの製造過程を順次示す断面図であって、第2図のA−A線断面に相当する。以下、第3図〜第5図に従って、画素領域1Aの製造工程を説明する。
先ず、第3図(a)に示すように、透明の表示基板121に対して、必要に応じて、TEOS(テトラエトキシシラン)や酸素ガスなどを原料ガスとしてプラズマCVD法により厚さが約2000〜5000オングストロームのシリコン酸化膜からなる下地保護膜(図示せず)。を形成する。次いで、表示基板121の温度を約350℃に設定して、下地保護膜の表面にプラズマCVD法により厚さが約300〜700オングストロームのアモルファスのシリコン膜からなる半導体膜200を形成する。次にアモルファスのシリコン膜からなる半導体膜200に対して、レーザアニールまたは固相成長法などの結晶化工程を行い、半導体膜200をポリシリコン膜に結晶化する。レーザアニール法では、例えば、エキシマレーザでビームの長寸が400mmのラインビームを用い、その出力強度はたとえば200mJ/cm2である。ラインビームについてはその短寸方向におけるレーザ強度のピーク値の90%に相当する部分が各領域毎に重なるようにラインビームを走査する。
次いで、第3図(b)に示すように、半導体膜200をパターニングして島状の半導体膜210とし、その表面に対して、TEOS(テトラエトキシシラン)や酸素ガスなどを原料ガスとしてプラズマCVD法により厚さが約600〜1500オングストロームのシリコン酸化膜または窒化膜からなるゲート絶縁膜220を形成する。なお、半導体膜210は、カレント薄膜トランジスタ143のチャネル領域及びソース・ドレイン領域となるものであるが、異なる断面位置においてはスイッチング薄膜トランジスタ142のチャネル領域及びソース・ドレイン領域となる半導体膜も形成されている。つまり、第3図〜第5図に示す製造工程では二種類のトランジスタ142、143が同時に作られるのであるが、同じ手順で作られるため、以下の説明では、トランジスタに関しては、カレント薄膜トランジスタ143についてのみ説明し、スイッチング薄膜トランジスタ142については説明を省略する。
次いで、第3図(c)に示すように、アルミニウム、タンタル、モリブデン、チタン、タングステンなどの金属膜からなる導電膜をスパッタ法により形成した後、パターニングし、ゲート電極143Aを形成する。
この状態で、高濃度のリンイオンを打ち込んで、シリコン薄膜210に、ゲート電極143Aに対して自己整合的にソース・ドレイン領域143a、143bを形成する。なお、不純物が導入されなかった部分がチャネル領域143cとなる。
次いで、第3図(d)に示すように、層間絶縁膜230を形成した後、コンタクトホール232、234を形成し、それらコンタクトホール232、234内に中継電極236、238を埋め込む。
次いで、第3図(e)に示すように、層間絶縁膜230上に、信号線132、共通給電線133及び走査線(第3図には図示せず。)を形成する。このとき、信号線132、共通給電線133及び走査線の各配線は、配線として必要な厚さに捕らわれることなく、十分に厚く形成する。
具体的には、各配線を1〜2μm程度の厚さに形成する。ここで中継電極238と各配線とは、同一工程で形成されていてもよい。この時、中継電極236は、後述するITO膜により形成されることになる。
そして、各配線の上面をも覆うように層間絶縁膜240を形成し、中継電極236に対応する位置にコンタクトホール242を形成し、そのコンタクトホール内にも埋め込まれるようにITO膜を形成し、そのITO膜をパターニングして、信号線132、共通給電線133及び走査線に囲まれた所定位置に、ソース・ドレイン領域143aに電気的に接続する画素電極141を形成する。
ここで、第3図(e)では、信号線132及び共通給電線133に挟まれた部分が、光学材料が選択的に配置される所定位置に相当するものである。そして、その所定位置とその周囲との間には、信号線132や共通給電線133によって段差111が形成されている。具体的には、所定位置の方がその周囲よりも低くなっている凹型の段差111が形成されている。
次いで、第4図(a)に示すように、表示基板121の上面を上に向けた状態で、インクジェットヘッド方式により、発光素子140の下層部分に当たる正孔注入層を形成するための液状(溶媒に溶かされた溶液状)の光学材料(前駆体)114Aを吐出し、これを段差111で囲まれた領域内(所定位置)に選択的に塗布する。なお、インクジェット方式の具体的な内容は、本発明の要旨ではないため、省略する(かかる方式については、例えば、特開昭56−13184号公報や特開平2−167751号公報を参照)。
正孔注入層を形成するための材料としては、ポリマー前駆体がポリテトラヒドロチオフェニルフェニレンであるポリフェニレンビニレン、1,1−ビス−(4−N,N−ジトリルアミノフェニル)シクロヘキサン、トリス(8−ヒドロキシキノリノール)アルミニウム等が挙げられる。
このとき、液状の前駆体114Aは、流動性が高いため、水平方向に広がろうとするが、塗布された位置を取り囲むように段差111が形成されているため、その液状の前駆体114Aの1回当たりの塗布量を極端に大量にしなければ、液状の前駆体114Aが段差111を越えて所定位置の外側に広がることは防止される。
次いで、第4図(b)に示すように、加熱或いは光照射により液状の前駆体114Aの溶媒を蒸発させて、画素電極141上に、固形の薄い正孔注入層140aを形成する。ここでは、液状の前駆体114Aの濃度にもよるが、薄い正孔注入層140aしか形成されない。そこで、より厚い正孔注入層140aを必要とする場合には、第4図(a)及び(b)の工程を必要回数繰り返し実行し、第4図(c)に示すように、十分な厚さの正孔注入層140Aを形成する。
次いで、第5図(a)に示すように、表示基板121の上面を上に向けた状態で、インクジェットヘッド方式により、発光素子140の上層部分に当たる有機半導体膜を形成するための液状(溶媒に溶かされた溶液状)の光学材料(有機蛍光材料)114Bを吐出し、これを段差111で囲まれた領域内(所定位置)に選択的に塗布する。
有機蛍光材料としては、シアノポリフェニレンビニレン、ポリフェニレンビニレン、ポリアルキルフェニレン、2,3,6,7−テトラヒドロ−11−オキソ−1H,5H,11H(1)ベンゾピラノ[6,7,8−ij]−キノリジン−10ーカルボン酸、1,1−ビス−(4−N,N−ジトリルアミノフェニル)シクロヘキサン、2−13’,4’−ジヒドロキシフェニル)−3,5,7−トリヒドロキシ−1−ベンゾピリリウムパークロレート、トリス(8−ヒドロキシキノリノール)アルミニウム、2,3,6,7−テトラヒドロ−9−メチル−11−オキソ−1H,5H,11H(1)ベンゾピラノ[6,7,8−ij]−キノリジン、アロマティックジアミン誘導体(TDP)、オキシジアゾールダイマー(OXD)、オキシジアゾール誘導体(PBD)、ジスチルアリーレン誘導体(DSA)、キノリノール系金属錯体、ベリリウム−ベンゾキノリノール錯体(Bebq)、トリフェニルアミン誘導体(MTDATA)、ジスチリル誘導体、ピラゾリンダイマー、ルブレン、キナクリドン、トリアゾール誘導体、ポリフェニレン、ポリアルキルフルオレン、ポリアルキルチオフェン、アゾメチン亜鉛錯体、ポリフィリン亜鉛錯体、ベンゾオキサゾール亜鉛錯体、フェナントロリンユウロピウム錯体等が挙げられる。
このとき、液状の有機蛍光材料114Bは、流動性が高いため、やはり水平方向に広がろうとするが、塗布された位置を取り囲むように段差111が形成されているため、その液状の有機蛍光材料114Bの1回当たりの塗布量を極端に大量にしなければ、液状の有機蛍光材料114Bが段差111を越えて所定位置の外側に広がることは防止される。
次いで、第5図(b)に示すように、加熱或いは光照射により液状の有機蛍光材料114Bの溶媒を蒸発させて、正孔注入層140A上に、固形の薄い有機半導体膜140bを形成する。ここでは、液状の有機蛍光材料114Bの濃度にもよるが、薄い有機半導体膜140bしか形成されない。そこで、より厚い有機半導体膜140bを必要とする場合には、第5図(a)及び(b)の工程を必要回数繰り返し実行し、第5図(c)に示すように、十分な厚さの有機半導体膜140Bを形成する。正孔注入層140A及び有機半導体膜140Bによって、発光素子140が構成される。最後に、第5図(d)に示すように、表示基板121の表面全体に若しくはストライプ状に反射電極154を形成する。
このように、本実施の形態にあっては、発光素子140が配置される処置位置を四方から取り囲むように信号線132、共通配線133等の配線を形成するとともに、それら配線を通常よりも厚く形成して段差111を形成し、そして、液状の前駆体114Aや液状の有機蛍光材料114Bを選択的に塗布するようにしているため、発光素子140のパターニング精度が高いという利点がある。
そして、段差111を形成すると、反射電極154は比較的凹凸の大きな面に形成されることになるが、その反射電極154の厚さをある程度厚くしておけば、断線等の不具合が発生する可能性は極めて小さくなる。
しかも、信号線132や共通配線133等の配線を利用して段差111を形成するため、特に新たな工程が増加する訳ではないから、製造工程の大幅な複雑化等を招くこともない。
なお、液状の前駆体114Aや液状の有機蛍光材料114Bが、段差111の内側から外側に流れ出すことをより確実に防止するためには、液状の前駆体114Aや液状の有機蛍光材料114Bの塗布厚さdaと、段差111の高さdrとの間に、
da<dr ……(1)
という関係が成立するようにしておくことが望ましい。
ただし、液状の有機蛍光材料114Bを塗布する際には、既に正孔注入層140Aが形成されているため、段差111の高さdrは、当初の高さからその正孔注入層140Aの分を差し引いて考えることが必要である。
また、上記(1)式を満足するとともに、さらに、有機半導体膜140Bに印加される駆動電圧Vdと、液状の有機蛍光材料114Bの各塗布厚さの和dbと、液状の有機蛍光材料114Bの濃度rと、有機半導体膜140Bに光学特性変化が現れる最少の電界強度(しきい電界強度)Etとの間に、
Vd/(db・r)>Et ……(2)
という関係が成立するようにすれば、塗布厚さと駆動電圧との関係が明確化され、有機半導体膜140Bの電気光学効果が発現することが補償される。
一方、段差111と発光素子140との平坦性が確保でき、有機半導体膜140Bの光学特性変化の一様性と、短絡の防止を可能とするためには、発光素子140の完成時の暑さdfと、段差111の高さdrとの間に、
df=dr ……(3)
という関係を成立させればよい。
さらに、上記(3)式を満足するとともに、下記の(4)式を満足すれば、発光素子140の完成時の厚さと駆動電圧との関係が明確化され、有機蛍光材料の電気光学効果が発現することが補償される。
Vd/df>Et ……(4)
ただし、この場合のdfは、発光素子140全体ではなく、有機半導体膜140Bの完成時の厚さである。
なお、発光素子140の上層部を形成する光学材料は、有機蛍光材料114Bに限定されるものではなく、無機の蛍光材料であってもよい。
また、スイッチング素子としての各トランジスタ142、143は、600℃以下の低温プロセスで形成された多結晶シリコンにより形成することが望ましく、これにより、ガラス基板の使用による低コスト化と、高移動度による高性能化が両立できる。なお、スイッチング素子は、非晶質シリコンまたは600℃以上の高温プロセスで形成された多結晶シリコンにより形成されてもよい。
そして、スイッチング薄膜トランジスタ142およびカレント薄膜トランジスタ143の他にトランジスタを設ける形式であってもよいし、或いは、一つのトランジスタで駆動する形式であってもよい。
また、段差111は、パッシブマトリクス型表示素子の第1のバス配線、アクティブマトリクス型表示素子の走査線131および、遮光層によって形成してもよい。
なお、発光素子140としては、発光効率(正孔注入率)がやや低下するものの、正孔注入層140Aを省略してもよい。また、正孔注入層140Aに代えて電子注入層を有機半導体膜140Bと反射電極154との間に形成してもよいし、或いは、正孔注入層及び電子注入層の双方を形成してもよい。
また、上記実施の形態では、特にカラー表示を念頭において、各発光素子140全体を選択的に配置した場合について説明したが、例えば単色表示の表示装置1の場合には、第6図に示すように、有機半導体膜140Bは、表示基板121全面に一様に形成してもよい。ただし、この場合でも、クロストークを防止するために正孔注入層140Aは各所定位置毎に選択的に配置しなければならないため、段差111を利用した塗布が極めて有効である。
(2)第2の実施の形態
第7図は本発明の第2の実施の形態を示す図であって、この実施の形態は、本発明に係るマトリクス型表示素子及びその製造方法を、EL表示素子を用いたパッシブマトリクス型の表示装置に適用したものである。
なお、第7図(a)は、複数の第1のバス配線300と、これに直交する方向に配設された複数の第2のバス配線310と、の配置関係を示す平面図であり、第7図(b)は、同(a)のB−B線断面図である。なお、上記第1の実施の形態と同様の構成には、同じ符号を付し、その重複する説明は省略する。また、細かな製造工程等も上記第1の実施の形態と同様であるため、その図示及び説明は省略する。
即ち、本実施の形態にあっては、発光素子140が配置される所定位置を取り囲むように、例えばSiO2等の絶縁膜320が配設されていて、これにより、所定位置とその周囲との間に、段差111が形成されている。
このような構成であっても、上記第1の実施の形態と同様に、液状の前駆体114Aや液状の有機蛍光材料114Bを選択的に塗布する際に、それらが周囲に流れ出ることが防止でき、高精度のパターニングが行える等の利点がある。
(3)第3の実施の形態
第8図は本発明の第3の実施の形態を示す図であって、この実施の形態も、上記第1の実施の形態と同様に、本発明に係るマトリクス型表示素子及びその製造方法を、EL表示素子を用いたアクティブマトリクス型の表示装置に適用したものである。より具体的には、画素電極141を利用して段差111を形成することにより、高精度のパターニングが行えるようにしたものである。なお、上記実施の形態と同様の構成には、同じ符号を付しておく。また、第8図は製造工程の途中を示す断面図であり、その前後は上記第1の実施の形態と略同様であるためその図示及び説明は省略する。
即ち、本実施の形態では、画素電極141を通常よりも厚く形成し、これにより、その周囲と間に段差111を形成している。つまり、本実施の形態では、後に光学材料が塗布される画素電極141の方がその周囲よりも高くなっている凸型の段差が形成されている。
そして、上記第1の実施の形態と同様に、インクジェットヘッド方式により、発光素子140の下層部分に当たる正孔注入層を形成するための液状(溶媒に溶かされた溶液状)の光学材料(前駆体)114Aを吐出し、画素電極141上面に塗布する。
ただし、上記第1の実施の形態の場合とは異なり、表示基板121を上下逆にした状態、つまり液状の前駆体114Aが塗布される画素電極141上面を下方に向けた状態で、液状の前駆体114Aの塗布を行う。
すると、液状の前駆体114Aは、重力と表面張力とによって、画素電極141上面に溜まり、その周囲には広がらない。よって、加熱や光照射等を行って固形化すれば、第4図(b)と同様の薄い正孔注入層を形成でき、これを繰り返せば正孔注入層が形成される。同様の手法で、有機半導体膜も形成される。
このように、本実施の形態では、凸型の段差111を利用して液状の光学材料を塗布して発光素子のパターニング精度を向上することができる。
なお、遠心力等の慣性力を利用して、画素電極141上面に溜まる液状の光学材料の量を調整するようにしてもよい。
(4)第4の実施の形態
第9図は本発明の第4の実施の形態を示す図であって、この実施の形態も、上記第1の実施の形態と同様に、本発明に係るマトリクス型表示素子及びその製造方法を、EL表示素子を用いたアクティブマトリクス型の表示装置に適用したものである。なお、上記実施の形態と同様の構成には、同じ符号を付しておく。また、第9図は製工程の途中を示す断面図であり、その前後は上記第1の実施の形態と略同様であるためその図示及び説明は省略する。
即ち、本実施の形態では、先ず、表示基板121上に、反射電極154を形成し、次いで、反射電極154上に、後に発光素子140が配置される所定位置を取り囲むように絶縁膜320を形成し、これにより所定位置の方がその周囲よりも低くなっている凹型の段差111を形成する。
そして、上記第1の実施の形態と同様に、段差111で囲まれた領域内に、インクジェット方式により液状の光学材料を選択的に塗布することにより、発光素子140を形成する。
一方、剥離用基板122上に、剥離層152を介して、走査線131、信号線132、画素電極141、スイッチング薄膜トランジスタ142、カレント薄膜トランジスタ143および絶縁膜240を形成する。
最後に、表示基板121上に、剥離用基板122上の剥離層122から剥離された構造を転写する。
このように、本実施の形態であっても、段差111を利用して液状の光学材料を塗布するようにしたから、高精度のパターニングが行える。
さらに、本実施の形態では、発光素子140等の下地材料への、その後の工程によるダメージ、あるいは、走査線131、信号線132、画素電極141、スイッチング薄膜トランジスタ142、カレント薄膜トランジスタ143または絶縁膜240への、光学材料の塗布等によるダメージを、軽減することが可能となる。
本実施の形態では、アクティブマトリクス型表示素子として説明したが、パッシブマトリクス型表示素子であってもよい。
(5)第5の実施の形態
第10図は本発明の第6の実施の形態を示す図であって、この実施の形態も、上記第1の実施の形態と同様に、本発明に係るマトリクス型表示素子及びその製造方法を、EL表示素子を用いたアクティブマトリクス型の表示装置に適用したものである。なお、上記実施の形態と同様の構成には、同じ符号を付しておく。また、第10図は製造工程の途中を示す断面図であり、その前後は上記第1の実施の形態と略同様であるためその図示及び説明は省略する。
即ち、本実施の形態では、層間絶縁膜240を利用して凹型の段差111を形成していて、これにより、上記第1の実施の形態と同様の作用効果を得るようにしている。
また、層間絶縁膜240を利用して段差111を形成するため、特に新たな工程が増加する訳ではないから、製造工程の大幅な複雑化等を招くこともない。
(6)第6の実施の形態
第11図は本発明の第6の実施の形態を示す図であって、この実施の形態も、上記第1の実施の形態と同様に、本発明に係るマトリクス型表示素子及びその製造方法を、EL表示素子を用いたアクティブマトリクス型の表示装置に適用したものである。なお、上記実施の形態と同様の構成には、同じ符号を付しておく。また、第11図は製造工程の途中を示す断面図であり、その前後は上記第1の実施の形態と略同様であるためその図示及び説明は省略する。
即ち、本実施の形態では、段差を利用してパターニング精度を向上させるのではなく、液状の光学材料が塗布される所定位置の親水性を、その周囲の親水性よりも相対的に強くすることにより、塗布された液状の光学材料が周囲に広がらないようにしたものである。
具体的には、第11図に示すように、層間絶縁膜240を形成した後に、その上面に非晶質シリコン層155を形成している。非晶質シリコン層155は、画素電極141を形成するITOよりも相対的に撥水性が強いので、ここに、画素電極141表面の親水性がその周囲の親水性よりも相対的に強い撥水性・親水性の分布が形成される。
そして、上記第1の実施の形態と同様に、画素電極141の上面に向けて、インクジェット方式により液状の光学材料を選択的に塗布することにより、発光素子140を形成し、最後に反射電極を形成する。
このように、本実施の形態であっても、所望の撥水性・親液性の分布を形成してから液状の光学材料を塗布するようにしているから、パターニングの精度を向上させることができる。
なお、本実施の形態の場合も、パッシブマトリクス型表示素子に適用できることは勿論である。
また、剥離用基板121上に剥離層152を介して形成された構造を、表示基板121に転写する工程を含んでいてもよい。
さらに、本実施の形態では、所望の撥水性・親水性の分布を、非晶質シリコン層155によって形成しているが、撥水性・親水性の分布は、金属や、陽極酸化膜、ポリイミドまたは酸化シリコン等の絶縁膜や、他の材料により形成されていてもよい。なお、パッシブマトリクス型表示素子であれば第1のバス配線、アクティブマトリクス型表示素子であれば走査線131、信号線132、画素電極141、絶縁膜240或いは遮光層によって形成してもよい。また、本実施の形態では、液状の光学材料が水溶液であることを前提に説明したが、他の液体の溶液を用いた液状の光学材料であってもよく、その場合は、その溶液に対して撥液性・親液性が得られるようにすればよい。
(7)第7の実施の形態
本発明の第7の実施の形態は、断面構造は上記第5の実施の形態で使用した第10図と同様であるため、これを用いて説明する。
即ち、本実施の形態では、層間絶縁膜240をSiO2で形成するとともに、その表面に紫外線を照射し、その後に、画素電極141表面を露出させ、そして液状の光学材料を選択的に塗布するようになっている。
このような製造工程であれば、段差111が形成されるだけでなく、層間絶縁膜240表面に沿って撥液性の強い分布が形成されるため、塗布された液状の光学材料は、段差111と層間絶縁膜240の撥液性との両方の作用によって所定位置に溜まり易くなっている。つまり、上記第5の実施の形態と、上記第6の実施の形態との両方の作用が発揮されるから、さらに発光素子140のパターニング精度を向上させることができる。
なお、紫外線を照射するタイミングは、画素電極141の表面を露出させる前後いずれでもよく、層間絶縁膜240を形成する材料や、画素電極141を形成する材料等に応じて適宜選定すればよく。ちなみに、画素電極141の表面を露出させる前に紫外線を照射する場合には、段差111の内壁面は撥液性が強くならないから、段差111で囲まれた領域に液状の光学材料を溜めることにとって有利である。これとは逆に、画素電極141の表面を露出させた後に紫外線を照射する場合には、段差111の内壁面の撥液性が強くならないように垂直に紫外線を照射する必要があるが、画素電極141の表面を露出する際のエッチング工程の後で紫外線を照射するため、そのエッチング工程によって撥液性が弱まるような懸念がないという利点がある。
また、層間絶縁膜240を形成する材料としては、例えばフォトレジストを用いることもできるし、或いはポリイミドを用いてもよく、これらであればスピンコートにより膜を形成できるという利点がある。
そして、層間絶縁膜240を形成する材料によっては、紫外線を照射するのではなく、例えばO2、CF4、Ar等のプラズマを照射することにより撥液性が強くなるようにしてもよい。
(8)第8の実施の形態
第12図は本発明の第8の実施の形態を示す図であって、この実施の形態も、上記第1の実施の形態と同様に、本発明に係るマトリクス型表示素子及びその製造方法を、EL表示素子を用いたアクティブマトリクス型の表示装置に適用したものである。なお、上記実施の形態と同様の構成には、同じ符号を付しておく。また、第12図は製造工程の途中を示す断面図であり、その前後は上記第1の実施の形態と略同様であるためその図示及び説明は省略する。
即ち、本実施の形態では、段差や撥液性・親液性の分布等を利用してパターニング精度を向上させるのではなく、電位による引力や斥力を利用してパターニング精度の向上を図っている。
つまり、第12図に示すように、信号線132や共通給電線133を駆動するとともに、図示しないトランジスタを適宜オン・オフすることにより、画素電極141がマイナス電位となり、層間絶縁膜240がプラス電位となる電位分布を形成する。そして、インクジェット方式により、プラスに帯電した液状の光学材料114を所定位置に選択的に塗布する。
このように、本実施の形態であれば、表示基板121上に所望の電位分布を形成し、その電位分布と、プラスに帯電した液状の光学材料114との間の引力及び斥力を利用して、液状の光学材料を選択的に塗布しているから、パターニングの精度を向上させることができる。
特に、本実施の形態では、液状の光学材料114を帯電させているので、自発分極だけでなく帯電電荷も利用することにより、パターニングの精度を向上する効果が、さらに高まる。
本実施の形態では、アクティブマトリクス型表示素子に適用した場合を示しているが、パッシブマトリクス型表示素子であっても適用可能である。
なお、剥離用基板121上に剥離層152を介して形成された構造を、表示基板121に転写する工程を含んでいてもよい。
また、本実施の形態では、所望の電位分布は、走査線131に順次電位を印加し、同時に信号線132および共通線133に電位を印加し、画素電極141にスイッチング薄膜トランジスタ142およびカレント薄膜トランジスタ143を介して電位を印加することにより形成される。
電位分布を走査線131、信号線132、共通線133および画素電極141で形成することにより、工程の増加が抑制できる。なお、パッシブマトリクス型表示素子であれば、電位分布は、第1のバス配線および遮光層によって形成することができる。
さらに、本実施の形態では、画素電極141と、その周囲の層間絶縁膜240との両方に電位を与えているが、これに限定されるものではなく、例えば第13図に示すように、画素電極141には電位を与えず、層間絶縁膜240にのみプラス電位を与え、そして、液状の光学材料114をプラスに帯電させてから塗布するようにしてもよい。このようにすれば、塗布された後にも、液状の光学材料114は確実にプラスに帯電した状態を維持できるから、周囲の層間絶縁膜240との間の斥力によって、液状の光学材料114が周囲に流れ出ることをより確実に防止することができるようになる。
なお、上記各実施の形態で説明したものとは異なり、例えば、段差111を、液状の材料を塗布することにより形成してもよいし、或いは、段差111を、剥離用基板上に剥離層を介して材料を形成し、表示基板上に剥離用基板上に剥離層から剥離された構造を転写することにより形成してもよい。
また、上記各実施の形態では、光学材料として有機又は無機のELが適用可能であるとして説明したが、これに限定されるものではなく、光学材料は液晶であってもよい。
産業上の利用可能性
以上説明したように、本発明によれば、発光材料を所定の第1バス配線と第2バス配線の内側の第一電極に対向する位置に的確に塗布することができ、液状の発光材料が周囲に広がることを防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態における表示装置の一部を示す回路図である。
【図2】画素領域の平面構造を示す拡大平面図である。
【図3】第1の実施の形態における製造工程の流れを示す断面図である。
【図4】第1の実施の形態における製造工程の流れを示す断面図である。
【図5】第1の実施の形態における製造工程の流れを示す断面図である。
【図6】第1の実施の形態の変形例を示す断面図である。
【図7】第2の実施の形態を示す平面図及び断面図である。
【図8】第3の実施の形態の製造工程の一部を示す断面図である。
【図9】第4の実施の形態の製造工程の一部を示す断面図である。
【図10】第5の実施の形態の製造工程の一部を示す断面図である。
【図11】第6の実施の形態の製造工程の一部を示す断面図である。
【図12】第8の実施の形態の製造工程の一部を示す断面図である。
【図13】第8の実施の形態の変形例を示す断面図である。

Claims (3)

  1. 基板上に第1電極と、第2電極と、前記第1電極と前記第2電極の間に配置された発光材料層と、前記第1電極を制御するために配置された複数のスイッチング素子のいずれかに接続された走査線、信号線及び共通給電線を有する発光装置の製造方法であって、
    前記基板上に前記走査線、前記走査線と交差する前記信号線及び前記信号線と平行に設けられた共通給電線を配置して、該走査線、信号線及び共通給電線により段差を形成し、
    前記走査線、信号線及び共通給電線の段差により囲まれた凹部の所定位置に前記第1電極を形成し、
    前記段差内の前記第1電極に対向する位置にインクジェット法により発光材料を選択的に塗布して、前記凹部の内側の領域に発光材料層を形成し、
    しかる後に前記第1電極に対向するように前記第2電極を形成することを
    特徴とする発光装置の製造方法。
  2. 前記走査線、信号線及び共通給電線の膜厚は、前記発光材料層の膜厚よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の発光装置の製造方法。
  3. 前記走査線、信号線及び共通給電線上に絶縁膜を形成する工程を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の発光装置の製造方法。
JP50681398A 1996-09-19 1997-09-18 発光装置の製造方法 Expired - Lifetime JP3786427B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24808796 1996-09-19
PCT/JP1997/003297 WO1998012689A1 (fr) 1996-09-19 1997-09-18 Ecran matriciel et son procede de fabrication

Related Child Applications (6)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002330875A Division JP3770225B2 (ja) 1996-09-19 2002-11-14 有機el素子用基板の製造方法
JP2002330873A Division JP3858810B2 (ja) 1996-09-19 2002-11-14 発光素子の製造方法
JP2002330872A Division JP3858809B2 (ja) 1996-09-19 2002-11-14 発光素子の製造方法
JP2002330874A Division JP3900068B2 (ja) 1996-09-19 2002-11-14 発光素子の製造方法
JP2004017285A Division JP2004253375A (ja) 1996-09-19 2004-01-26 有機半導体膜の形成方法、及び発光素子の製造方法
JP2004217364A Division JP3858916B2 (ja) 1996-09-19 2004-07-26 発光素子の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP3786427B2 true JP3786427B2 (ja) 2006-06-14

Family

ID=17173021

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50681398A Expired - Lifetime JP3786427B2 (ja) 1996-09-19 1997-09-18 発光装置の製造方法
JP2008054485A Pending JP2008210808A (ja) 1996-09-19 2008-03-05 表示素子の製造方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008054485A Pending JP2008210808A (ja) 1996-09-19 2008-03-05 表示素子の製造方法

Country Status (9)

Country Link
US (3) US20060210704A1 (ja)
EP (4) EP1365443A3 (ja)
JP (2) JP3786427B2 (ja)
KR (4) KR100525642B1 (ja)
CN (5) CN1882206A (ja)
DE (3) DE69735022T2 (ja)
HK (1) HK1017120A1 (ja)
TW (1) TW438992B (ja)
WO (1) WO1998012689A1 (ja)

Families Citing this family (127)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1882206A (zh) 1996-09-19 2006-12-20 精工爱普生株式会社 矩阵式显示元件及其制造方法
JP3520396B2 (ja) 1997-07-02 2004-04-19 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板と表示装置
JP3729195B2 (ja) * 1997-08-21 2005-12-21 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法
JP3729196B2 (ja) * 1997-08-21 2005-12-21 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置
JP3803355B2 (ja) * 1997-08-21 2006-08-02 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
JP3690406B2 (ja) * 1997-08-21 2005-08-31 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置
CN100517424C (zh) 1997-08-21 2009-07-22 精工爱普生株式会社 显示装置
JP3803342B2 (ja) * 1997-08-21 2006-08-02 セイコーエプソン株式会社 有機半導体膜の形成方法、及びアクティブマトリクス基板の製造方法
WO1999048339A1 (fr) * 1998-03-17 1999-09-23 Seiko Epson Corporation Substrat de formation de motifs sur film mince et son traitement de surface
US20030148024A1 (en) * 2001-10-05 2003-08-07 Kodas Toivo T. Low viscosity precursor compositons and methods for the depositon of conductive electronic features
JP4258860B2 (ja) * 1998-09-04 2009-04-30 セイコーエプソン株式会社 光伝達手段を備えた装置
US6221438B1 (en) * 1998-11-03 2001-04-24 Sarnoff Corporation Patterned deposition of a material
JP3900724B2 (ja) * 1999-01-11 2007-04-04 セイコーエプソン株式会社 有機el素子の製造方法および有機el表示装置
US6576926B1 (en) 1999-02-23 2003-06-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and fabrication method thereof
JP4524810B2 (ja) * 1999-04-12 2010-08-18 カシオ計算機株式会社 有機el装置
JP2000323276A (ja) * 1999-05-14 2000-11-24 Seiko Epson Corp 有機el素子の製造方法、有機el素子およびインク組成物
JP4515349B2 (ja) * 1999-06-04 2010-07-28 株式会社半導体エネルギー研究所 電気光学装置
JP4515469B2 (ja) * 1999-06-04 2010-07-28 株式会社半導体エネルギー研究所 電気光学装置の作製方法
JP4094437B2 (ja) * 1999-06-04 2008-06-04 株式会社半導体エネルギー研究所 電気光学装置の作製方法
JP2001052864A (ja) * 1999-06-04 2001-02-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 電気光学装置の作製方法
US7288420B1 (en) 1999-06-04 2007-10-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing an electro-optical device
TW512543B (en) 1999-06-28 2002-12-01 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing an electro-optical device
JP2001085162A (ja) * 1999-09-10 2001-03-30 Sharp Corp 有機発光素子及びその製造方法
JP2001110575A (ja) 1999-10-04 2001-04-20 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示装置
JP4780826B2 (ja) * 1999-10-12 2011-09-28 株式会社半導体エネルギー研究所 電気光学装置の作製方法
TW480722B (en) 1999-10-12 2002-03-21 Semiconductor Energy Lab Manufacturing method of electro-optical device
TW468283B (en) 1999-10-12 2001-12-11 Semiconductor Energy Lab EL display device and a method of manufacturing the same
TW471011B (en) 1999-10-13 2002-01-01 Semiconductor Energy Lab Thin film forming apparatus
JP2001126867A (ja) * 1999-10-26 2001-05-11 Seiko Epson Corp 表示装置の製造方法
US6580094B1 (en) * 1999-10-29 2003-06-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro luminescence display device
US7102280B1 (en) * 1999-11-29 2006-09-05 Paulus Cornelis Duineveld Organic electroluminescent device and a method of manufacturing thereof
TW465122B (en) 1999-12-15 2001-11-21 Semiconductor Energy Lab Light-emitting device
JP4533489B2 (ja) * 2000-01-28 2010-09-01 大日本印刷株式会社 画像表示媒体およびその製造方法
US6559594B2 (en) * 2000-02-03 2003-05-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
TW495808B (en) 2000-02-04 2002-07-21 Semiconductor Energy Lab Thin film formation apparatus and method of manufacturing self-light-emitting device using thin film formation apparatus
JP2001230077A (ja) * 2000-02-18 2001-08-24 Dainippon Printing Co Ltd エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
JP4831873B2 (ja) * 2000-02-22 2011-12-07 株式会社半導体エネルギー研究所 自発光装置及びその作製方法
TW525305B (en) * 2000-02-22 2003-03-21 Semiconductor Energy Lab Self-light-emitting device and method of manufacturing the same
KR20010085420A (ko) 2000-02-23 2001-09-07 기타지마 요시토시 전계발광소자와 그 제조방법
JP4601842B2 (ja) * 2000-02-28 2010-12-22 株式会社半導体エネルギー研究所 薄膜形成方法
TW521226B (en) * 2000-03-27 2003-02-21 Semiconductor Energy Lab Electro-optical device
JP4637391B2 (ja) * 2000-03-27 2011-02-23 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の作製方法
JP4618918B2 (ja) * 2000-03-27 2011-01-26 株式会社半導体エネルギー研究所 自発光装置の作製方法
JP4637390B2 (ja) * 2000-03-27 2011-02-23 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の作製方法
KR100436303B1 (ko) 2000-03-31 2004-06-19 세이코 엡슨 가부시키가이샤 유기 이엘소자 및 유기 이엘소자의 제조방법
JP4048687B2 (ja) * 2000-04-07 2008-02-20 セイコーエプソン株式会社 有機el素子および有機el素子の製造方法
KR100649722B1 (ko) 2000-04-21 2006-11-24 엘지.필립스 엘시디 주식회사 일렉트로루미네센스 표시소자의 패터닝장치 및 이를이용한 패터닝방법
US6356031B1 (en) * 2000-05-03 2002-03-12 Time Warner Entertainment Co, Lp Electroluminescent plastic devices with an integral thin film solar cell
JP4713010B2 (ja) * 2000-05-08 2011-06-29 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びその作製方法
JP4860052B2 (ja) * 2000-05-12 2012-01-25 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
JP2002083689A (ja) * 2000-06-29 2002-03-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置
JP2002015866A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Seiko Epson Corp 有機el表示体の製造方法
JP3943900B2 (ja) * 2000-11-09 2007-07-11 株式会社東芝 自己発光型表示装置
US6980272B1 (en) 2000-11-21 2005-12-27 Sarnoff Corporation Electrode structure which supports self alignment of liquid deposition of materials
JP3628997B2 (ja) 2000-11-27 2005-03-16 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
CN1905126A (zh) * 2000-11-27 2007-01-31 精工爱普生株式会社 有机电致发光装置及其电子装置
SG143944A1 (en) 2001-02-19 2008-07-29 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method of manufacturing the same
JP2002373781A (ja) * 2001-03-29 2002-12-26 Hitachi Ltd 有機el表示体、及びカラーフィルターの製造装置
JP3599047B2 (ja) 2001-06-25 2004-12-08 セイコーエプソン株式会社 カラーフィルタおよびその製造方法、カラーフィルタ用液滴材料着弾精度試験基板、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置、ならびに電子機器
JP4766218B2 (ja) * 2001-07-09 2011-09-07 セイコーエプソン株式会社 有機elアレイ露光ヘッドとその作製方法及びそれを用いた画像形成装置
US6845016B2 (en) * 2001-09-13 2005-01-18 Seiko Epson Corporation Electronic device and method of manufacturing the same, and electronic instrument
JP3705264B2 (ja) 2001-12-18 2005-10-12 セイコーエプソン株式会社 表示装置及び電子機器
US7109653B2 (en) 2002-01-15 2006-09-19 Seiko Epson Corporation Sealing structure with barrier membrane for electronic element, display device, electronic apparatus, and fabrication method for electronic element
TWI280532B (en) * 2002-01-18 2007-05-01 Semiconductor Energy Lab Light-emitting device
WO2003065474A1 (en) * 2002-02-01 2003-08-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. Structured polmer substrate for ink-jet printing of an oled matrix
CN101336022A (zh) * 2002-02-12 2008-12-31 出光兴产株式会社 有机el显示装置及其制造方法
JP3951750B2 (ja) * 2002-03-07 2007-08-01 セイコーエプソン株式会社 物質充填方法、膜形成方法、デバイスおよびデバイスの製造方法
GB0216055D0 (en) * 2002-03-20 2002-08-21 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix electroluminescent display devices and their manufacture
CN1299360C (zh) * 2002-03-20 2007-02-07 皇家飞利浦电子股份有限公司 有源矩阵显示装置及其制造
WO2003079442A1 (en) * 2002-03-20 2003-09-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. Active matrix electroluminescent display devices, and their manufacture
GB0216058D0 (en) * 2002-03-20 2002-08-21 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix electroluminscent display devices and their manufacture
GB0216053D0 (en) * 2002-03-20 2002-08-21 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix electroluminescent display devices and their manufacture
GB0216057D0 (en) * 2002-03-20 2002-08-21 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix display devices and their manufacture
CN1297948C (zh) 2002-04-26 2007-01-31 三洋电机株式会社 显示装置
US7242441B2 (en) * 2002-06-10 2007-07-10 Seiko Epson Corporation Method for manufacturing electro-optical device, and electro-optical device and electronic device manufactured with this manufacturing method
US6858464B2 (en) 2002-06-19 2005-02-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing light emitting device
JP2004055159A (ja) * 2002-07-16 2004-02-19 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 有機el素子の製造方法および有機el表示装置
JP2004127933A (ja) * 2002-09-11 2004-04-22 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置およびその作製方法
KR101061882B1 (ko) 2002-09-11 2011-09-02 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광장치 및 그의 제조방법
JP3719431B2 (ja) 2002-09-25 2005-11-24 セイコーエプソン株式会社 光学部品およびその製造方法、表示装置および撮像素子
JP4588445B2 (ja) * 2002-11-11 2010-12-01 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の作製方法
KR100521272B1 (ko) * 2002-12-20 2005-10-12 삼성에스디아이 주식회사 휘도가 개선된 유기전계 발광표시장치
JP4151420B2 (ja) 2003-01-23 2008-09-17 セイコーエプソン株式会社 デバイスの製造方法
JP4251080B2 (ja) 2003-04-15 2009-04-08 セイコーエプソン株式会社 膜形成方法、電子装置の製造方法、膜形成装置及び電子装置、電子機器
JP3823981B2 (ja) * 2003-05-12 2006-09-20 セイコーエプソン株式会社 パターンと配線パターン形成方法、デバイスとその製造方法、電気光学装置、電子機器及びアクティブマトリクス基板の製造方法
JP4239873B2 (ja) 2003-05-19 2009-03-18 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器
JP4389480B2 (ja) 2003-05-28 2009-12-24 セイコーエプソン株式会社 振動子の支持機構及び振動子ユニット
DE10324880B4 (de) * 2003-05-30 2007-04-05 Schott Ag Verfahren zur Herstellung von OLEDs
KR100803426B1 (ko) * 2003-06-04 2008-02-13 니폰 제온 가부시키가이샤 기판 및 그 제조 방법과 표시 장치 및 그 제조 방법
JP4507513B2 (ja) * 2003-06-20 2010-07-21 コニカミノルタエムジー株式会社 有機薄膜トランジスタの製造方法
US7917941B2 (en) 2003-09-22 2011-03-29 International Business Machines Corporation System and method for providing physical web security using IP addresses
JP4686967B2 (ja) * 2003-10-14 2011-05-25 セイコーエプソン株式会社 光素子の製造方法
GB0325747D0 (en) * 2003-11-05 2003-12-10 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix display device and method of producing the same
JP3915806B2 (ja) 2003-11-11 2007-05-16 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器
WO2005055332A1 (en) * 2003-12-03 2005-06-16 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Display with reflective isolating separator layer
US7586171B2 (en) * 2004-04-14 2009-09-08 Yong Cao Organic electronic device comprising conductive members and processes for forming and using the organic electronic device
JP2006081985A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Seiko Epson Corp パターン形成方法、電子機器の製造方法、および基体の製造方法
JP4151652B2 (ja) * 2005-01-11 2008-09-17 セイコーエプソン株式会社 識別コード描画方法
JP4876415B2 (ja) * 2005-03-29 2012-02-15 セイコーエプソン株式会社 有機el装置の製造方法、デバイスの製造方法
JP4752303B2 (ja) * 2005-03-29 2011-08-17 セイコーエプソン株式会社 El装置の製造方法、el装置、電子機器
KR101124502B1 (ko) 2005-05-18 2012-03-15 삼성전자주식회사 컬러필터 및 그 제조방법
EP1775780A1 (en) * 2005-10-14 2007-04-18 STMicroelectronics S.r.l. Organic electroluminescent device and process for manufacturing the device
KR100707601B1 (ko) * 2005-10-18 2007-04-13 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광표시장치 및 그 제조방법
US8138075B1 (en) 2006-02-06 2012-03-20 Eberlein Dietmar C Systems and methods for the manufacture of flat panel devices
US7731377B2 (en) * 2006-03-21 2010-06-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Backlight device and display device
KR100770267B1 (ko) * 2006-05-04 2007-10-25 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광소자
DE102006052029B4 (de) * 2006-09-22 2020-01-09 Osram Oled Gmbh Lichtemittierende Vorrichtung
JP2008078011A (ja) * 2006-09-22 2008-04-03 Seiko Epson Corp 発光装置および電子機器
US8884322B2 (en) 2006-09-22 2014-11-11 Osram Opto Semiconductor Gmbh Light-emitting device
JP5343330B2 (ja) * 2007-06-28 2013-11-13 住友化学株式会社 薄膜形成方法、有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法、半導体素子の製造方法及び光学素子の製造方法
JP2010010235A (ja) * 2008-06-25 2010-01-14 Hitachi Ltd 有機発光表示装置
EP2302981B1 (en) * 2008-06-17 2013-05-15 Hitachi Ltd. Organic light-emitting element, method for manufacturing the organic light-emitting element, apparatus for manufacturing the organic light-emitting element, and organic light-emitting device using the organic light-emitting element
JP5212405B2 (ja) * 2010-03-04 2013-06-19 カシオ計算機株式会社 ディスプレイパネル
KR101805923B1 (ko) * 2011-08-04 2017-12-08 엘지디스플레이 주식회사 터치센서 일체형 표시장치
US9589852B2 (en) * 2013-07-22 2017-03-07 Cree, Inc. Electrostatic phosphor coating systems and methods for light emitting structures and packaged light emitting diodes including phosphor coating
CN104238217B (zh) * 2014-09-05 2017-03-01 深圳市华星光电技术有限公司 一种抗色偏显示面板
CN104299968B (zh) 2014-09-22 2017-04-26 京东方科技集团股份有限公司 电致发光器件及其制造方法、显示基板和显示装置
JP6528517B2 (ja) * 2015-04-06 2019-06-12 三菱電機株式会社 配向膜の塗布方法
CN105789484B (zh) * 2016-03-09 2018-05-15 纳晶科技股份有限公司 发光器件及其制作方法
CN106601779A (zh) 2016-12-29 2017-04-26 深圳市华星光电技术有限公司 Oled基板及其制作方法
CN108630829B (zh) * 2017-03-17 2019-11-08 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的制作方法、显示面板及显示装置
KR102525822B1 (ko) 2017-07-06 2023-04-26 삼성디스플레이 주식회사 표시 소자 및 그 제조 방법
KR102486552B1 (ko) 2018-01-15 2023-01-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법
WO2019180882A1 (ja) * 2018-03-22 2019-09-26 コニカミノルタ株式会社 インクジェットヘッド及びその製造方法
EP3570329B1 (en) 2018-05-14 2022-12-14 Samsung Display Co., Ltd. Display device
KR102659865B1 (ko) * 2019-03-29 2024-04-24 삼성전자주식회사 디스플레이 모듈 및 디스플레이 모듈의 제조 방법
CN110632796B (zh) * 2019-09-27 2022-06-28 京东方科技集团股份有限公司 一种背板、背光模组、显示装置及背板的制备方法

Family Cites Families (131)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3792308A (en) * 1970-06-08 1974-02-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electrophoretic display device of the luminescent type
US3792309A (en) * 1972-08-30 1974-02-12 Multi Electric Mfg Inc Strobe light intensity control
US3863332A (en) * 1973-06-28 1975-02-04 Hughes Aircraft Co Method of fabricating back panel for liquid crystal display
US3956032A (en) * 1974-09-24 1976-05-11 The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration Process for fabricating SiC semiconductor devices
US4042854A (en) * 1975-11-21 1977-08-16 Westinghouse Electric Corporation Flat panel display device with integral thin film transistor control system
US4007462A (en) * 1975-12-24 1977-02-08 Recognition Equipment Incorporated Light absorption printing process
DE2815485A1 (de) 1978-04-10 1979-10-18 Messer Griesheim Gmbh Verfahren und vorrichtung zum verzinken von draht
US4499149A (en) * 1980-12-15 1985-02-12 M&T Chemicals Inc. Siloxane-containing polymers
US4569305A (en) * 1981-10-09 1986-02-11 Ferco S.R.L. Apparatus to provide the application of glue on preselected zones of printed circuit boards
JPS5975205A (ja) * 1982-10-25 1984-04-27 Seiko Epson Corp カラ−フイルタの製造方法
US4792817A (en) * 1983-08-29 1988-12-20 Diagraph Corporation Ink jet printing systems
US4683146A (en) * 1984-04-16 1987-07-28 Canon Kabushiki Kaisha Process for producing deposition films
US4687352A (en) * 1984-12-29 1987-08-18 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Printer with an image reader
EP0218117A3 (en) 1985-10-11 1989-11-23 Allied Corporation Cyclosilazane polymers as dielectric films in integrated circuit fabrication technology
US4891110A (en) * 1986-11-10 1990-01-02 Zenith Electronics Corporation Cataphoretic process for screening color cathode ray tubes
JPS63186216A (ja) * 1987-01-28 1988-08-01 Nec Corp アクテイブマトリツクス液晶表示器
JPH01140188A (ja) * 1987-11-26 1989-06-01 Komatsu Ltd 薄膜el表示パネル
JP2653099B2 (ja) * 1988-05-17 1997-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクスパネル,投写型表示装置及びビューファインダー
US5132248A (en) * 1988-05-31 1992-07-21 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Direct write with microelectronic circuit fabrication
US5200051A (en) 1988-11-14 1993-04-06 I-Stat Corporation Wholly microfabricated biosensors and process for the manufacture and use thereof
GB8909011D0 (en) * 1989-04-20 1989-06-07 Friend Richard H Electroluminescent devices
US5705302A (en) 1989-04-28 1998-01-06 Seiko Epson Corporation Color filter for liquid crystal display device and method for producing the color filter
US5246782A (en) 1990-12-10 1993-09-21 The Dow Chemical Company Laminates of polymers having perfluorocyclobutane rings and polymers containing perfluorocyclobutane rings
JPH0333824A (ja) * 1989-06-30 1991-02-14 Idemitsu Kosan Co Ltd 液晶材料の製膜方法
JP2807510B2 (ja) * 1989-11-29 1998-10-08 大日本印刷株式会社 転写シート及び液晶表示素子の製造方法
US5066512A (en) * 1989-12-08 1991-11-19 International Business Machines Corporation Electrostatic deposition of lcd color filters
JPH03192334A (ja) * 1989-12-22 1991-08-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示パネル
EP0443861B2 (en) * 1990-02-23 2008-05-28 Sumitomo Chemical Company, Limited Organic electroluminescence device
JP3069139B2 (ja) * 1990-03-16 2000-07-24 旭化成工業株式会社 分散型電界発光素子
US5326692B1 (en) * 1992-05-13 1996-04-30 Molecular Probes Inc Fluorescent microparticles with controllable enhanced stokes shift
US5041190A (en) * 1990-05-16 1991-08-20 Xerox Corporation Method of fabricating channel plates and ink jet printheads containing channel plates
JP2911552B2 (ja) * 1990-06-18 1999-06-23 パイオニア株式会社 有機電界発光素子及びその製造方法
JP2717454B2 (ja) * 1990-07-16 1998-02-18 日本石油株式会社 有機薄膜エレクトロルミネッセンス素子
US5202261A (en) * 1990-07-19 1993-04-13 Miles Inc. Conductive sensors and their use in diagnostic assays
US5250439A (en) * 1990-07-19 1993-10-05 Miles Inc. Use of conductive sensors in diagnostic assays
GB9018698D0 (en) * 1990-08-24 1990-10-10 Lynxvale Ltd Semiconductive copolymers for use in electroluminescent devices
JPH04123007A (ja) * 1990-09-14 1992-04-23 Toray Ind Inc カラーフィルタ製造方法
US5477352A (en) * 1990-10-31 1995-12-19 Sharp Kaushiki Kaisha Liquid crystal display device with liquid crystal dispersed or impregnated in a perfluoro-type polymer of perfluoroalkyl acrylate or methacrylate
US5347154A (en) * 1990-11-15 1994-09-13 Seiko Instruments Inc. Light valve device using semiconductive composite substrate
US5206749A (en) * 1990-12-31 1993-04-27 Kopin Corporation Liquid crystal display having essentially single crystal transistors pixels and driving circuits
WO1992022922A2 (en) * 1991-06-12 1992-12-23 Case Western Reserve University Process for the controlled growth of single-crystal films of silicon carbide polytypes on silicon carbide wafers
KR930005559B1 (ko) * 1991-06-14 1993-06-23 삼성전관 주식회사 평판 디스플레이 장치
KR940000143B1 (ko) * 1991-06-25 1994-01-07 재단법인 한국전자통신연구소 대형 박막 트랜지스터(TFT) 액정 디스플레이 패널(LCD panel)의 제조방법
US5214350A (en) * 1991-09-11 1993-05-25 Zenith Electronics Identification of image displays and their component parts
US5276380A (en) * 1991-12-30 1994-01-04 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent image display device
US5294870A (en) 1991-12-30 1994-03-15 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent multicolor image display device
JP2823725B2 (ja) 1992-01-18 1998-11-11 シャープ株式会社 カラー薄膜elパネル
WO1993019022A1 (fr) 1992-03-25 1993-09-30 Kanegafuchi Chemical Industry Co., Ltd. Couche mince de polysilicium et sa fabrication
JP2781492B2 (ja) * 1992-04-01 1998-07-30 シャープ株式会社 カラー・エレクトロ・ルミネッセンス・ディスプレイ装置
DE4212501C1 (en) 1992-04-14 1993-08-05 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De Deposition of silicon nitride polymer layer on substrate - using linear or cyclic silazane in gas, giving good quality and high coating ratio
US5439519A (en) * 1992-04-28 1995-08-08 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Solution applying apparatus
WO1993024240A1 (en) * 1992-06-01 1993-12-09 Advanced Technology Incubator, Inc. Light influencing element for high resolution optical systems and method of making same
JP2964780B2 (ja) * 1992-06-10 1999-10-18 富士ゼロックス株式会社 配向性多層強誘電体薄膜およびその作製方法
US5997122A (en) * 1992-06-30 1999-12-07 Canon Kabushiki Kaisha Ink jet recording apparatus capable of performing liquid droplet diameter random variable recording and ink jet recording method using ink for liquid droplet random variable recording
GB9215929D0 (en) * 1992-07-27 1992-09-09 Cambridge Display Tech Ltd Electroluminescent devices
US5510066A (en) * 1992-08-14 1996-04-23 Guild Associates, Inc. Method for free-formation of a free-standing, three-dimensional body
US5652067A (en) * 1992-09-10 1997-07-29 Toppan Printing Co., Ltd. Organic electroluminescent device
ATE173839T1 (de) * 1992-09-11 1998-12-15 Kopin Corp Farbfiltersystem fuer anzeigetafeln
JP3033067B2 (ja) * 1992-10-05 2000-04-17 富士ゼロックス株式会社 多層強誘電体導膜の製造方法
JP2577111Y2 (ja) * 1992-11-17 1998-07-23 日本エー・エム・ピー株式会社 テンプレート
KR100294194B1 (ko) * 1993-02-05 2001-09-17 김순택 액정표시소자
JPH06281917A (ja) * 1993-03-29 1994-10-07 Dainippon Printing Co Ltd 高分子分散型液晶表示装置及びその製造方法
JP3098651B2 (ja) * 1993-03-31 2000-10-16 松下電器産業株式会社 高分子電気デバイス
JP2991270B2 (ja) * 1993-04-26 1999-12-20 キヤノン株式会社 カラーフィルターの製造方法
JP3724592B2 (ja) * 1993-07-26 2005-12-07 ハイニックス セミコンダクター アメリカ インコーポレイテッド 半導体基板の平坦化方法
JP2790163B2 (ja) * 1993-07-29 1998-08-27 富士通株式会社 シリコン酸化膜の形成方法、半導体装置の製造方法及びフラットディスプレイ装置の製造方法
JP2814049B2 (ja) * 1993-08-27 1998-10-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置およびその作製方法
JP3534445B2 (ja) * 1993-09-09 2004-06-07 隆一 山本 ポリチオフェンを用いたel素子
US5410806A (en) * 1993-09-15 1995-05-02 Lsi Logic Corporation Method for fabricating conductive epoxy grid array semiconductors packages
US5340619A (en) * 1993-10-18 1994-08-23 Brewer Science, Inc. Method of manufacturing a color filter array
JPH07134288A (ja) * 1993-11-10 1995-05-23 Dainippon Printing Co Ltd 液晶光学素子及びその製造方法
TW417034B (en) * 1993-11-24 2001-01-01 Canon Kk Color filter, method for manufacturing it, and liquid crystal panel
JP2860869B2 (ja) 1993-12-02 1999-02-24 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置およびその作製方法
JP3017912B2 (ja) * 1993-12-13 2000-03-13 シャープ株式会社 液晶表示装置用電極基板及び液晶表示装置
US5536603A (en) 1993-12-21 1996-07-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Phase shift mask and method of fabricating the same
JP2952143B2 (ja) * 1993-12-21 1999-09-20 キヤノン株式会社 カラーフィルタの製造方法
JP3463362B2 (ja) * 1993-12-28 2003-11-05 カシオ計算機株式会社 電界発光素子の製造方法および電界発光素子
US5399390A (en) * 1994-01-27 1995-03-21 Motorola, Inc. Liquid crystal display with polymeric substrate
EP0665449B1 (en) * 1994-01-28 2001-10-24 Canon Kabushiki Kaisha Color filter, production process thereof, and liquid crystal panel
JP3813217B2 (ja) * 1995-03-13 2006-08-23 パイオニア株式会社 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイパネルの製造方法
AUPM483294A0 (en) * 1994-03-31 1994-04-28 Chulalongkorn University Amorphous semiconductor thin film light emitting diode
MY114271A (en) * 1994-05-12 2002-09-30 Casio Computer Co Ltd Reflection type color liquid crystal display device
JP3246189B2 (ja) * 1994-06-28 2002-01-15 株式会社日立製作所 半導体表示装置
JPH0836169A (ja) * 1994-07-25 1996-02-06 Sharp Corp 液晶表示装置およびその製造方法
JP3517975B2 (ja) * 1994-08-12 2004-04-12 ソニー株式会社 液晶表示装置及びその製造方法
US5935331A (en) * 1994-09-09 1999-08-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus and method for forming films
US5665857A (en) * 1994-09-12 1997-09-09 Motorola Conjugated polymer with built-in fluorescent centers and method of manufacture
JPH08122768A (ja) * 1994-10-19 1996-05-17 Sony Corp 表示装置
JP3431700B2 (ja) * 1994-11-14 2003-07-28 理想科学工業株式会社 孔版印刷用原紙の製版方法及び製版装置
US5550066A (en) * 1994-12-14 1996-08-27 Eastman Kodak Company Method of fabricating a TFT-EL pixel
US5929464A (en) * 1995-01-20 1999-07-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix electro-optical device
US5610932A (en) * 1995-01-25 1997-03-11 Physical Sciences, Inc. Solid state dye laser host
JP3684603B2 (ja) 1995-01-26 2005-08-17 松下電器産業株式会社 プラズマディスプレイパネルの製造方法
JP3208638B2 (ja) * 1995-01-31 2001-09-17 双葉電子工業株式会社 有機エレクトロルミネセント表示装置およびその製造方法
US5804917A (en) * 1995-01-31 1998-09-08 Futaba Denshi Kogyo K.K. Organic electroluminescent display device and method for manufacturing same
TW334474B (en) * 1995-02-01 1998-06-21 Sumitomo Kagaku Kk Method for making a polymeric fluorescent substrate and organic electrolumninescent element
EP0809420B1 (en) * 1995-02-06 2002-09-04 Idemitsu Kosan Company Limited Multi-color light emission apparatus and method for production thereof
JP3364081B2 (ja) * 1995-02-16 2003-01-08 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP3401356B2 (ja) * 1995-02-21 2003-04-28 パイオニア株式会社 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイパネルとその製造方法
US5663573A (en) * 1995-03-17 1997-09-02 The Ohio State University Bipolar electroluminescent device
US5771562A (en) * 1995-05-02 1998-06-30 Motorola, Inc. Passivation of organic devices
KR100303134B1 (ko) * 1995-05-09 2002-11-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자및그제조방법.
JPH08325564A (ja) 1995-06-05 1996-12-10 Nec Corp 有機薄膜el素子
TW477905B (en) * 1995-06-14 2002-03-01 Hitachi Ltd Liquid crystal display device formed of high resistance black matrix with wide view angle
JP3124722B2 (ja) 1995-07-31 2001-01-15 キヤノン株式会社 カラーフィルタの製造方法及び製造装置及びカラーフィルタの区画された領域間の混色の低減方法及びカラーフィルタの区画された領域へのインク付与位置の精度向上方法及びカラーフィルタの区画された領域の着色ムラ低減方法
US5593788A (en) * 1996-04-25 1997-01-14 Eastman Kodak Company Organic electroluminescent devices with high operational stability
US5652019A (en) * 1995-10-10 1997-07-29 Rockwell International Corporation Method for producing resistive gradients on substrates and articles produced thereby
JPH09123513A (ja) * 1995-11-06 1997-05-13 Fuji Xerox Co Ltd 導電性高分子薄膜及びその製造方法、導電性高分子薄 膜の駆動方法並びに画像形成方法及び画像形成装置
US5830272A (en) * 1995-11-07 1998-11-03 Sputtered Films, Inc. System for and method of providing a controlled deposition on wafers
US6195142B1 (en) * 1995-12-28 2001-02-27 Matsushita Electrical Industrial Company, Ltd. Organic electroluminescence element, its manufacturing method, and display device using organic electroluminescence element
EP0885461B1 (en) * 1996-03-04 2003-08-13 DuPont Displays, Inc. Polyfluorenes as materials for photoluminescence and electroluminescence
EP1450412A3 (en) * 1996-05-15 2005-03-09 Seiko Epson Corporation Thin film device and method for making
US5779799A (en) * 1996-06-21 1998-07-14 Micron Technology, Inc. Substrate coating apparatus
US5824374A (en) * 1996-07-22 1998-10-20 Optical Coating Laboratory, Inc. In-situ laser patterning of thin film layers during sequential depositing
US6104311A (en) * 1996-08-26 2000-08-15 Addison Technologies Information storage and identification tag
CN1882206A (zh) 1996-09-19 2006-12-20 精工爱普生株式会社 矩阵式显示元件及其制造方法
US5874200A (en) 1996-10-15 1999-02-23 Daewoo Electronics Co., Ltd. Method for forming a pattern preventing water mark formation
WO1998024273A1 (fr) * 1996-11-27 1998-06-04 Tdk Corporation Element electroluminescent organique et procede de fabrication dudit element
US6013982A (en) * 1996-12-23 2000-01-11 The Trustees Of Princeton University Multicolor display devices
GB9701680D0 (en) * 1997-01-28 1997-03-19 Cambridge Display Tech Ltd Viscosity modification of precursor solutions
US5972419A (en) * 1997-06-13 1999-10-26 Hewlett-Packard Company Electroluminescent display and method for making the same
GB9718516D0 (en) * 1997-09-01 1997-11-05 Cambridge Display Tech Ltd Methods of Increasing the Efficiency of Organic Electroluminescent Devices
US6087196A (en) * 1998-01-30 2000-07-11 The Trustees Of Princeton University Fabrication of organic semiconductor devices using ink jet printing
JP4348746B2 (ja) * 1998-02-18 2009-10-21 セイコーエプソン株式会社 機能素子、発光素子、光学デバイス、及び機能素子の製造方法
JP3646510B2 (ja) 1998-03-18 2005-05-11 セイコーエプソン株式会社 薄膜形成方法、表示装置およびカラーフィルタ
US6137221A (en) * 1998-07-08 2000-10-24 Agilent Technologies, Inc. Organic electroluminescent device with full color characteristics
JP4434411B2 (ja) * 2000-02-16 2010-03-17 出光興産株式会社 アクティブ駆動型有機el発光装置およびその製造方法
TW490997B (en) * 2000-03-31 2002-06-11 Seiko Epson Corp Method of manufacturing organic EL element, and organic EL element
JP3815269B2 (ja) * 2000-07-07 2006-08-30 セイコーエプソン株式会社 有機el表示体及びその製造方法、孔開き基板、電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器
US7023012B2 (en) 2000-08-30 2006-04-04 Cambridge Display Technology Limited Formulation for depositing a conjugated polymer layer
CN1465100A (zh) * 2001-04-26 2003-12-31 皇家菲利浦电子有限公司 有机电致发光装置及其制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE69735023D1 (de) 2006-02-02
DE69733057T2 (de) 2005-09-29
US8580333B2 (en) 2013-11-12
US20100173450A1 (en) 2010-07-08
KR20050010961A (ko) 2005-01-28
US20060210704A1 (en) 2006-09-21
EP1367431A3 (en) 2004-01-21
TW438992B (en) 2001-06-07
CN100481560C (zh) 2009-04-22
DE69735022T2 (de) 2006-08-10
EP1365443A3 (en) 2004-11-17
EP1365276B1 (en) 2005-12-28
KR100477153B1 (ko) 2005-08-01
EP0862156B1 (en) 2005-04-20
EP1367431B1 (en) 2005-12-28
EP1365276A3 (en) 2004-01-21
CN1480913A (zh) 2004-03-10
KR100572238B1 (ko) 2006-04-24
EP1365276A2 (en) 2003-11-26
EP1367431A2 (en) 2003-12-03
CN100403355C (zh) 2008-07-16
CN1173315C (zh) 2004-10-27
CN1901159A (zh) 2007-01-24
DE69733057D1 (de) 2005-05-25
CN1205096A (zh) 1999-01-13
JP2008210808A (ja) 2008-09-11
CN100485904C (zh) 2009-05-06
KR20050008842A (ko) 2005-01-21
DE69735022D1 (de) 2006-02-02
WO1998012689A1 (fr) 1998-03-26
US20090053396A1 (en) 2009-02-26
KR100525642B1 (ko) 2005-11-02
HK1017120A1 (en) 1999-11-12
EP1365443A2 (en) 2003-11-26
KR19990067364A (ko) 1999-08-16
KR100524284B1 (ko) 2005-10-28
KR20050008841A (ko) 2005-01-21
EP0862156A1 (en) 1998-09-02
US8431182B2 (en) 2013-04-30
DE69735023T2 (de) 2006-08-17
EP0862156A4 (en) 2000-09-27
CN1516528A (zh) 2004-07-28
CN1882206A (zh) 2006-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3786427B2 (ja) 発光装置の製造方法
US20020075422A1 (en) Matrix type display device and manufacturing method thereof
US8232940B2 (en) Organic electroluminescent display device and production method thereof
KR20070073394A (ko) 잉크젯 프린팅 시스템 및 이를 이용한 표시 장치의 제조방법
JP2006134624A (ja) 電気光学装置、及び、それを用いた電子機器
JP3858809B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP3770225B2 (ja) 有機el素子用基板の製造方法
JP3900068B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP3858810B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP3858916B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP4124253B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP4067028B2 (ja) 光学装置の製造方法
JP4079183B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP4470385B2 (ja) 電気光学装置、及び電気光学装置の製造方法、並びに電子機器
JP2004253375A (ja) 有機半導体膜の形成方法、及び発光素子の製造方法
KR100524285B1 (ko) 매트릭스형 발광 장치
JP2007035441A (ja) 電気光学装置の製造方法、および電気光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
RD07 Notification of extinguishment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7427

Effective date: 20031218

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040525

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040726

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050124

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050329

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050524

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20050609

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20050704

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060320

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090331

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100331

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100331

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110331

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120331

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120331

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130331

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140331

Year of fee payment: 8

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term