JP2013251583A - 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光源(1)からの光に基づいて被照射面を照明する照明光学系は、回折光学素子(6)が、その第1位置に配置され得る第1光路と、二次元的に配列されて個別に制御される複数の光学要素(3a)を有する空間光変調器(3)が、その第2位置に配置され得る第2光路と、第1光路および第2光路のうちの少なくとも一方を経た光の光路であり、分布形成光学系(11)が配置された第3光路と、を備える。分布形成光学系(11)は、第1及び第2光路のうち少なくとも一方を経た光に基づいて第3光路中に位置する照明瞳に所定の光強度分布を形成する。
【選択図】 図1
Description
Claims (15)
- マスクに設けられたパターンを照明光で照明するために前記照明光の光路に配置されたオプティカルインテグレータと該オプティカルインテグレータの入射側における前記光路に配置された第1光学系とを備えた照明光学装置の製造方法であって、
前記第1光学系と異なる第2光学系を、前記第1光学系と交換することを含み、
前記第1光学系は、空間光変調器と回折光学素子との一方を備え、
前記第2光学系は、前記空間光変調器と前記回折光学素子との他方を備えていることを特徴とする製造方法。 - 請求項1に記載の製造方法において、
前記第2光学系を前記光路から退避させることと、
前記第1光学系を前記光路に挿入することと、
を含むことを特徴とする製造方法。 - 請求項1または2に記載の製造方法において、
前記第1光学系の前記空間光変調器または前記回折光学素子を、前記光路のうち前記照明光学装置の照明瞳に対して実質的に光学的な共役位置に配置することを含むことを特徴とする製造方法。 - 請求項1または2に記載の製造方法において、
前記第1光学系の前記空間光変調器または前記回折光学素子を、前記光路のうち前記オプティカルインテグレータの入射面に対して実質的にフーリエ変換の関係にある位置に配置することを含むことを特徴とする製造方法。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の製造方法において、
前記空間光変調器は、前記光路に交差する平面に沿って配置された複数のミラー要素と、該複数のミラー要素の姿勢を個別に変更可能な駆動部と、を含むことを特徴とする製造方法。 - 請求項5に記載の製造方法において、
前記空間光変調器は、前記照明光を反射して、前記複数のミラー要素の姿勢に対応した光強度分布を前記照明光学装置の照明瞳に形成することを特徴とする製造方法。 - 請求項1〜6のいずれか一項に記載の製造方法において、
前記照明光学装置は、前記空間光変調器への前記照明光の入射角度を所定の角度に設定するための反射ミラーを備えていることを特徴とする製造方法。 - 請求項1〜6のいずれか一項に記載の製造方法において、
前記照明光学装置は、前記光路を折り曲げるための反射ミラーを含み、
前記反射ミラーおよび前記空間光変調器は、前記反射ミラーと前記空間光変調器とからなる組に対して入射側の前記光路と射出側の前記光路とが平行になるように配置されていることを特徴とする製造方法。 - 請求項1〜8のいずれか一項に記載の製造方法において、
前記回折光学素子は、前記照明光を回折して前記照明光学装置の照明瞳に所定の光強度分布を形成することを特徴とする製造方法。 - 請求項1〜9のいずれか一項に記載の製造方法を用いて照明光学装置を製造することと、
前記照明光学装置を用いて、マスクに設けられたパターンを照明光で照明することと、
を含む照明方法。 - ステージにより基板を保持することと、
請求項10に記載の照明方法を用いて、マスクに設けられたパターンを照明光で照明することと、
前記ステージに保持された前記基板を、前記パターンを介した前記照明光により露光することと、
を含む露光方法。 - 請求項11に記載の露光方法において、
前記照明光により照明された前記パターンの像を、前記ステージに保持された前記基板上に投影光学系によって投影すること、
を含む露光方法。 - 請求項12に記載の露光方法において、
前記投影光学系と前記ステージに保持された前記基板との間に液体を設けることを含み、
前記パターンの像は前記液体を介して前記基板上に投影される露光方法。 - 請求項10に記載の照明方法を用いて、マスクに設けられたパターンを照明光で照明することと、
前記パターンを介した前記照明光で基板を露光することと、
前記照明光で露光された前記基板を現像することと、
を含むデバイス製造方法。 - 請求項14に記載のデバイス製造方法において、
前記基板上に液体を供給することを含み、
前記基板は、前記パターンを介した前記照明光により、前記液体を介して露光されるデバイス製造方法。
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US96008507P | 2007-09-14 | 2007-09-14 | |
US60/960,085 | 2007-09-14 | ||
US7194908P | 2008-05-27 | 2008-05-27 | |
US61/071,949 | 2008-05-27 | ||
US12/191,821 | 2008-08-14 | ||
US12/191,821 US8451427B2 (en) | 2007-09-14 | 2008-08-14 | Illumination optical system, exposure apparatus, optical element and manufacturing method thereof, and device manufacturing method |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008226683A Division JP5428250B2 (ja) | 2007-09-14 | 2008-09-04 | 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014186426A Division JP2015046601A (ja) | 2007-09-14 | 2014-09-12 | 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013251583A true JP2013251583A (ja) | 2013-12-12 |
JP5626433B2 JP5626433B2 (ja) | 2014-11-19 |
Family
ID=40101133
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008226683A Expired - Fee Related JP5428250B2 (ja) | 2007-09-14 | 2008-09-04 | 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法 |
JP2013192079A Expired - Fee Related JP5626433B2 (ja) | 2007-09-14 | 2013-09-17 | 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法 |
JP2014186426A Pending JP2015046601A (ja) | 2007-09-14 | 2014-09-12 | 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008226683A Expired - Fee Related JP5428250B2 (ja) | 2007-09-14 | 2008-09-04 | 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014186426A Pending JP2015046601A (ja) | 2007-09-14 | 2014-09-12 | 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US8451427B2 (ja) |
EP (3) | EP2631699B1 (ja) |
JP (3) | JP5428250B2 (ja) |
KR (1) | KR101614958B1 (ja) |
CN (3) | CN102385258B (ja) |
HK (3) | HK1143210A1 (ja) |
TW (2) | TWI452438B (ja) |
WO (1) | WO2009035129A2 (ja) |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101163435B1 (ko) * | 2003-04-09 | 2012-07-13 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 방법 및 장치, 그리고 디바이스 제조 방법 |
TW201834020A (zh) | 2003-10-28 | 2018-09-16 | 日商尼康股份有限公司 | 照明光學裝置、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法 |
TWI512335B (zh) | 2003-11-20 | 2015-12-11 | 尼康股份有限公司 | 光束變換元件、光學照明裝置、曝光裝置、以及曝光方法 |
TWI395068B (zh) * | 2004-01-27 | 2013-05-01 | 尼康股份有限公司 | 光學系統、曝光裝置以及曝光方法 |
TWI412067B (zh) | 2004-02-06 | 2013-10-11 | 尼康股份有限公司 | 偏光變換元件、光學照明裝置、曝光裝置以及曝光方法 |
TW200923418A (en) * | 2005-01-21 | 2009-06-01 | Nikon Corp | Exposure device, exposure method, fabricating method of device, exposure system, information collecting device, and measuring device |
DE102006032810A1 (de) | 2006-07-14 | 2008-01-17 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungsoptik für eine Mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage, Beleuchtungssystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik, mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Beleuchtungssystem, mikrolithografisches Herstellungsverfahren für Bauelemente sowie mit diesem Verfahren hergestelltes Bauelement |
KR20090021755A (ko) * | 2007-08-28 | 2009-03-04 | 삼성전자주식회사 | 노광 장치 및 반도체 기판의 노광 방법 |
US8451427B2 (en) | 2007-09-14 | 2013-05-28 | Nikon Corporation | Illumination optical system, exposure apparatus, optical element and manufacturing method thereof, and device manufacturing method |
JP5267029B2 (ja) | 2007-10-12 | 2013-08-21 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、露光装置及びデバイスの製造方法 |
EP2179329A1 (en) | 2007-10-16 | 2010-04-28 | Nikon Corporation | Illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method |
WO2009050976A1 (en) | 2007-10-16 | 2009-04-23 | Nikon Corporation | Illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method |
US8379187B2 (en) | 2007-10-24 | 2013-02-19 | Nikon Corporation | Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method |
US9116346B2 (en) | 2007-11-06 | 2015-08-25 | Nikon Corporation | Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method |
WO2009145048A1 (ja) * | 2008-05-28 | 2009-12-03 | 株式会社ニコン | 空間光変調器の検査装置および検査方法、照明光学系、照明光学系の調整方法、露光装置、およびデバイス製造方法 |
WO2010016288A1 (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-11 | 株式会社ニコン | 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
KR101646814B1 (ko) * | 2009-03-19 | 2016-08-08 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피 투영 노광 장치의 조명 시스템 |
US20110037962A1 (en) * | 2009-08-17 | 2011-02-17 | Nikon Corporation | Polarization converting unit, illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method |
JP5598733B2 (ja) | 2009-12-23 | 2014-10-01 | 株式会社ニコン | 空間光変調ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
WO2011096453A1 (ja) | 2010-02-03 | 2011-08-11 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、照明方法、並びに露光方法及び装置 |
JP5842808B2 (ja) * | 2010-02-20 | 2016-01-13 | 株式会社ニコン | 瞳強度分布を調整する方法 |
US20110205519A1 (en) | 2010-02-25 | 2011-08-25 | Nikon Corporation | Polarization converting unit, illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method |
JP2012004465A (ja) * | 2010-06-19 | 2012-01-05 | Nikon Corp | 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
JP5366019B2 (ja) | 2010-08-02 | 2013-12-11 | 株式会社ニコン | 伝送光学系、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
KR102170875B1 (ko) | 2011-10-24 | 2020-10-28 | 가부시키가이샤 니콘 | 조명 광학계, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법 |
CN104395985B (zh) * | 2012-05-02 | 2018-01-30 | 株式会社尼康 | 光瞳亮度分布的评价方法和改善方法、照明光学系统及其调整方法、曝光装置、曝光方法以及器件制造方法 |
CN103278913B (zh) * | 2013-05-15 | 2015-07-01 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种非球面光刻耦合物镜 |
JP6259825B2 (ja) * | 2013-06-06 | 2018-01-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | 補償光学システムの調整方法、補償光学システム、及び補償光学システム用プログラムを記憶する記録媒体 |
CN105264429B (zh) * | 2013-06-06 | 2018-06-29 | 浜松光子学株式会社 | 自适应光学系统的对应关系确定方法、波前畸变补偿方法、自适应光学系统及存储自适应光学系统用程序的记录介质 |
CN103744180A (zh) * | 2013-11-18 | 2014-04-23 | 四川星烁光电科技有限公司 | 用能量观点进行微投影照明系统的设计方法 |
EP2876499B1 (en) * | 2013-11-22 | 2017-05-24 | Carl Zeiss SMT GmbH | Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus |
EP3021153B1 (en) * | 2014-11-13 | 2018-12-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical apparatus, processing apparatus, and article manufacturing method |
US9625726B2 (en) * | 2014-12-05 | 2017-04-18 | Kla-Tencor Corp. | Lens array-based illumination for wafer inspection |
CN105301781B (zh) * | 2015-10-20 | 2018-12-14 | 浙江科技学院 | 可消除零极点的光学系统及其光场发散角调节方法 |
CN106814548A (zh) * | 2015-11-30 | 2017-06-09 | 上海微电子装备有限公司 | 自由光瞳照明方法及照明系统 |
KR102372800B1 (ko) * | 2016-03-30 | 2022-03-10 | 가부시키가이샤 니콘 | 빔 주사 장치 및 패턴 묘화 장치 |
CN107577108B (zh) * | 2016-07-04 | 2019-09-20 | 深圳光峰科技股份有限公司 | 一种显示系统及方法 |
TWI655455B (zh) * | 2017-05-22 | 2019-04-01 | 國立中央大學 | 激發波段可調式之時域聚焦多光子激發螢光顯微鏡系統及其激發光選擇模組 |
CN110770626B (zh) * | 2017-06-21 | 2022-04-01 | 依视路国际公司 | 光学物品的制造方法和光学成形设备 |
CN109426091B (zh) * | 2017-08-31 | 2021-01-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 曝光装置、曝光方法及光刻方法 |
US11835838B2 (en) | 2017-10-27 | 2023-12-05 | Exciting Technology LLC | System, method and apparatus for non-mechanical optical and photonic beam steering |
US11112691B2 (en) * | 2019-01-16 | 2021-09-07 | Kla Corporation | Inspection system with non-circular pupil |
EP4127813A4 (en) * | 2020-04-17 | 2024-04-03 | Exciting Technology LLC | DECENTRATED LENS BEAM CONTROL |
US20230038746A1 (en) | 2020-04-17 | 2023-02-09 | Exciting Technology LLC | System, method, and apparatus for high precision light beam steering using a triplet lens |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001176766A (ja) * | 1998-10-29 | 2001-06-29 | Nikon Corp | 照明装置及び投影露光装置 |
JP2002353105A (ja) * | 2001-05-24 | 2002-12-06 | Nikon Corp | 照明光学装置,該照明光学装置を備えた露光装置,およびマイクロデバイスの製造方法 |
JP2003022967A (ja) * | 2001-06-01 | 2003-01-24 | Asml Netherlands Bv | リトグラフ装置、デバイス製造方法、その方法により製造されたデバイス、制御システム、コンピュータ・プログラムおよびコンピュータ・プログラム製品 |
JP2004247737A (ja) * | 2003-02-11 | 2004-09-02 | Asml Netherlands Bv | リソグラフ装置および光リソグラフシミュレーションを用いて照明源を最適化する方法 |
US20060050261A1 (en) * | 2004-07-09 | 2006-03-09 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system for microlithography |
JP2007505488A (ja) * | 2003-09-12 | 2007-03-08 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | マイクロリソグラフィ投影露光設備のための照明系 |
JP2009093175A (ja) * | 2007-10-03 | 2009-04-30 | Nikon Corp | 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
WO2010016288A1 (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-11 | 株式会社ニコン | 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
JP5262063B2 (ja) * | 2007-10-23 | 2013-08-14 | 株式会社ニコン | 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
Family Cites Families (244)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2450470A1 (fr) * | 1979-02-27 | 1980-09-26 | Thomson Csf | Systeme optique de projection en photorepetition |
EP0023231B1 (de) | 1979-07-27 | 1982-08-11 | Tabarelli, Werner, Dr. | Optisches Lithographieverfahren und Einrichtung zum Kopieren eines Musters auf eine Halbleiterscheibe |
FR2474708B1 (fr) | 1980-01-24 | 1987-02-20 | Dme | Procede de microphotolithographie a haute resolution de traits |
US4346164A (en) | 1980-10-06 | 1982-08-24 | Werner Tabarelli | Photolithographic method for the manufacture of integrated circuits |
US4683420A (en) | 1985-07-10 | 1987-07-28 | Westinghouse Electric Corp. | Acousto-optic system for testing high speed circuits |
JP2527807B2 (ja) | 1989-05-09 | 1996-08-28 | 住友大阪セメント株式会社 | 光学的連想識別装置 |
US5153428A (en) | 1990-06-15 | 1992-10-06 | Hamamatsu Photonics K.K. | Confocal laser scanning microscope having relay lens and a slit for removing stray light |
US5251222A (en) | 1991-04-01 | 1993-10-05 | Teledyne Industries, Inc. | Active multi-stage cavity sensor |
US5229872A (en) | 1992-01-21 | 1993-07-20 | Hughes Aircraft Company | Exposure device including an electrically aligned electronic mask for micropatterning |
US5312513A (en) | 1992-04-03 | 1994-05-17 | Texas Instruments Incorporated | Methods of forming multiple phase light modulators |
JPH06124873A (ja) | 1992-10-09 | 1994-05-06 | Canon Inc | 液浸式投影露光装置 |
US5383000A (en) | 1992-11-24 | 1995-01-17 | General Signal Corporation | Partial coherence varier for microlithographic system |
US5461410A (en) | 1993-03-29 | 1995-10-24 | Texas Instruments Incorporated | Gray scale printing using spatial light modulators |
US5815248A (en) | 1993-04-22 | 1998-09-29 | Nikon Corporation | Illumination optical apparatus and method having a wavefront splitter and an optical integrator |
EP0656555B1 (en) | 1993-12-01 | 2003-03-19 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display for 3D images |
US5850300A (en) | 1994-02-28 | 1998-12-15 | Digital Optics Corporation | Diffractive beam homogenizer having free-form fringes |
US5815247A (en) | 1995-09-21 | 1998-09-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Avoidance of pattern shortening by using off axis illumination with dipole and polarizing apertures |
DE19535392A1 (de) | 1995-09-23 | 1997-03-27 | Zeiss Carl Fa | Radial polarisationsdrehende optische Anordnung und Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage damit |
KR100505202B1 (ko) | 1995-09-27 | 2005-11-25 | 칼 짜이스 에스엠테 아게 | 줌장치 |
RU2084941C1 (ru) | 1996-05-06 | 1997-07-20 | Йелстаун Корпорейшн Н.В. | Адаптивный оптический модуль |
CN1144263C (zh) | 1996-11-28 | 2004-03-31 | 株式会社尼康 | 曝光装置以及曝光方法 |
JP3747566B2 (ja) | 1997-04-23 | 2006-02-22 | 株式会社ニコン | 液浸型露光装置 |
JPH1116816A (ja) | 1997-06-25 | 1999-01-22 | Nikon Corp | 投影露光装置、該装置を用いた露光方法、及び該装置を用いた回路デバイスの製造方法 |
JP4210871B2 (ja) | 1997-10-31 | 2009-01-21 | 株式会社ニコン | 露光装置 |
AU1175799A (en) | 1997-11-21 | 1999-06-15 | Nikon Corporation | Projection aligner and projection exposure method |
WO1999031716A1 (fr) | 1997-12-16 | 1999-06-24 | Nikon Corporation | Aligneur, methode d'exposition et procede de fabrication de ce dispositif |
TW449672B (en) | 1997-12-25 | 2001-08-11 | Nippon Kogaku Kk | Process and apparatus for manufacturing photomask and method of manufacturing the same |
AU2747899A (en) | 1998-03-20 | 1999-10-18 | Nikon Corporation | Photomask and projection exposure system |
AU2747999A (en) | 1998-03-26 | 1999-10-18 | Nikon Corporation | Projection exposure method and system |
WO1999050712A1 (fr) | 1998-03-26 | 1999-10-07 | Nikon Corporation | Procede et systeme d'exposition, photomasque et son procede de fabrication, micro-composant et son procede de fabrication |
WO1999066370A1 (fr) | 1998-06-17 | 1999-12-23 | Nikon Corporation | Procede relatif a l'elaboration d'un masque |
US6198576B1 (en) | 1998-07-16 | 2001-03-06 | Nikon Corporation | Projection optical system and exposure apparatus |
AU4930099A (en) | 1998-08-18 | 2000-03-14 | Nikon Corporation | Illuminator and projection exposure apparatus |
US6466304B1 (en) | 1998-10-22 | 2002-10-15 | Asm Lithography B.V. | Illumination device for projection system and method for fabricating |
US6406148B1 (en) | 1998-12-31 | 2002-06-18 | Texas Instruments Incorporated | Electronic color switching in field sequential video displays |
AU4143000A (en) | 1999-04-28 | 2000-11-17 | Nikon Corporation | Exposure method and apparatus |
WO2001003170A1 (fr) | 1999-06-30 | 2001-01-11 | Nikon Corporation | Procede et dispositif d'exposition |
DE10029938A1 (de) | 1999-07-09 | 2001-07-05 | Zeiss Carl | Optisches System für das Vakuum-Ultraviolett |
US6280034B1 (en) | 1999-07-30 | 2001-08-28 | Philips Electronics North America Corporation | Efficient two-panel projection system employing complementary illumination |
AU5653699A (en) | 1999-09-20 | 2001-04-24 | Nikon Corporation | Parallel link mechanism, exposure system and method of manufacturing the same, and method of manufacturing devices |
WO2001027978A1 (fr) | 1999-10-07 | 2001-04-19 | Nikon Corporation | Substrat, dispositif a etage, procede d'attaque d'etage, systeme d'exposition et procede d'exposition |
EP1109067B1 (en) | 1999-12-13 | 2006-05-24 | ASML Netherlands B.V. | Illuminator |
JP2005233979A (ja) | 2000-02-09 | 2005-09-02 | Nikon Corp | 反射屈折光学系 |
US7301605B2 (en) | 2000-03-03 | 2007-11-27 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method, catadioptric optical system and manufacturing method of devices |
KR100775796B1 (ko) | 2000-08-18 | 2007-11-12 | 가부시키가이샤 니콘 | 광학소자 유지장치 |
JP2002231619A (ja) | 2000-11-29 | 2002-08-16 | Nikon Corp | 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置 |
SE0100336L (sv) | 2001-02-05 | 2002-08-06 | Micronic Laser Systems Ab | Adresseringsmetod och apparat som använder densamma tekniskt område |
CN1491427A (zh) | 2001-02-06 | 2004-04-21 | ������������ʽ���� | 曝光装置、曝光法和器件制造法 |
US20020198765A1 (en) | 2001-02-22 | 2002-12-26 | Magrino Susan A. | Human capital management performance capability matching system and methods |
WO2002080185A1 (fr) | 2001-03-28 | 2002-10-10 | Nikon Corporation | Dispositif a etages, dispositif d'exposition et procede de fabrication du dispositif |
JP2002305140A (ja) | 2001-04-06 | 2002-10-18 | Nikon Corp | 露光装置及び基板処理システム |
WO2002084850A1 (fr) | 2001-04-09 | 2002-10-24 | Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki | Induit de moteur lineaire protege et moteur lineaire protege |
US7015491B2 (en) | 2001-06-01 | 2006-03-21 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, device manufacturing method and device manufactured thereby, control system |
WO2002101804A1 (fr) | 2001-06-11 | 2002-12-19 | Nikon Corporation | Dispositif d'exposition, procede de fabrication et element de passage de flux de stabilisation de temperature |
WO2002103766A1 (fr) | 2001-06-13 | 2002-12-27 | Nikon Corporation | Procede et systeme d'exposition au balayage, et procede de production d'un dispositif associe |
TW529172B (en) | 2001-07-24 | 2003-04-21 | Asml Netherlands Bv | Imaging apparatus |
EP1280007B1 (en) | 2001-07-24 | 2008-06-18 | ASML Netherlands B.V. | Imaging apparatus |
JPWO2003023832A1 (ja) | 2001-09-07 | 2004-12-24 | 株式会社ニコン | 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
US6819490B2 (en) | 2001-09-10 | 2004-11-16 | Micronic Laser Systems Ab | Homogenization of a spatially coherent radiation beam and printing and inspection, respectively, of a pattern on a workpiece |
SE0103006D0 (sv) | 2001-09-10 | 2001-09-10 | Micronic Lasersystems Ab | Homogenization of a spatially coherent radiation beam and reading/writing of a pattern on a workpiece |
DE60227854D1 (de) | 2001-10-01 | 2008-09-04 | Sony Corp | Polarisationsselektives Prisma für einen Projektor |
JP3881865B2 (ja) | 2001-10-19 | 2007-02-14 | 株式会社 液晶先端技術開発センター | 光学的な記録装置及び方法並びに露光装置及び方法 |
US6577379B1 (en) | 2001-11-05 | 2003-06-10 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for shaping and/or orienting radiation irradiating a microlithographic substrate |
JP4307813B2 (ja) | 2001-11-14 | 2009-08-05 | 株式会社リコー | 光偏向方法並びに光偏向装置及びその光偏向装置の製造方法並びにその光偏向装置を具備する光情報処理装置及び画像形成装置及び画像投影表示装置及び光伝送装置 |
US6900915B2 (en) | 2001-11-14 | 2005-05-31 | Ricoh Company, Ltd. | Light deflecting method and apparatus efficiently using a floating mirror |
US6577429B1 (en) | 2002-01-15 | 2003-06-10 | Eastman Kodak Company | Laser projection display system |
TW200302507A (en) | 2002-01-21 | 2003-08-01 | Nikon Corp | Stage device and exposure device |
TWI253105B (en) * | 2002-03-01 | 2006-04-11 | Nikon Corp | Projection optical system adjustment method, prediction method, evaluation method, adjustment method, exposure method, exposure device, recording medium, and device manufacturing method |
JP4352458B2 (ja) | 2002-03-01 | 2009-10-28 | 株式会社ニコン | 投影光学系の調整方法、予測方法、評価方法、調整方法、露光方法及び露光装置、露光装置の製造方法、プログラム並びにデバイス製造方法 |
DE10210899A1 (de) | 2002-03-08 | 2003-09-18 | Zeiss Carl Smt Ag | Refraktives Projektionsobjektiv für Immersions-Lithographie |
CN1650401B (zh) | 2002-04-09 | 2010-04-21 | 株式会社尼康 | 曝光方法与曝光装置、以及器件的制造方法 |
US6960035B2 (en) | 2002-04-10 | 2005-11-01 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Laser apparatus, exposure head, exposure apparatus, and optical fiber connection method |
CN1659479A (zh) | 2002-04-10 | 2005-08-24 | 富士胶片株式会社 | 曝光头及曝光装置和它的应用 |
DE60208083T2 (de) | 2002-04-29 | 2006-08-31 | Micronic Laser Systems Ab | Vorrichtung zum schutz eines chips und verfahren zu dessen anwendung |
US20050095749A1 (en) | 2002-04-29 | 2005-05-05 | Mathias Krellmann | Device for protecting a chip and method for operating a chip |
TW200307179A (en) * | 2002-05-27 | 2003-12-01 | Nikon Corp | Lighting device, exposing device and exposing method |
JP4324957B2 (ja) | 2002-05-27 | 2009-09-02 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、露光装置および露光方法 |
DE60319462T2 (de) | 2002-06-11 | 2009-03-12 | Asml Netherlands B.V. | Lithographischer Apparat und Verfahren zur Herstellung eines Artikels |
JP2004051717A (ja) | 2002-07-17 | 2004-02-19 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | バイオマスのガス化装置 |
EP1395049A1 (en) | 2002-09-02 | 2004-03-03 | Sony International (Europe) GmbH | Illumination unit for a projection system |
US20050141583A1 (en) | 2002-09-02 | 2005-06-30 | Torbjorn Sandstrom | Method and device for coherence reduction |
JP2004104654A (ja) | 2002-09-12 | 2004-04-02 | Ricoh Co Ltd | 画像読取装置 |
JP2004111579A (ja) | 2002-09-17 | 2004-04-08 | Canon Inc | 露光方法及び装置 |
KR100480620B1 (ko) | 2002-09-19 | 2005-03-31 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 미러 어레이를 구비한 노광 장치 및 이를 이용한노광 방법 |
US6958867B2 (en) | 2002-09-30 | 2005-10-25 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Illumination optical system, exposure device using the illumination optical system, and exposure method |
US6665119B1 (en) | 2002-10-15 | 2003-12-16 | Eastman Kodak Company | Wire grid polarizer |
CN100568101C (zh) | 2002-11-12 | 2009-12-09 | Asml荷兰有限公司 | 光刻装置和器件制造方法 |
US6844927B2 (en) | 2002-11-27 | 2005-01-18 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Apparatus and methods for removing optical abberations during an optical inspection |
US6958806B2 (en) | 2002-12-02 | 2005-10-25 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
TW200412617A (en) | 2002-12-03 | 2004-07-16 | Nikon Corp | Optical illumination device, method for adjusting optical illumination device, exposure device and exposure method |
DE10258718A1 (de) | 2002-12-09 | 2004-06-24 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsobjektiv, insbesondere für die Mikrolithographie, sowie Verfahren zur Abstimmung eines Projektionsobjektives |
DE10257766A1 (de) | 2002-12-10 | 2004-07-15 | Carl Zeiss Smt Ag | Verfahren zur Einstellung einer gewünschten optischen Eigenschaft eines Projektionsobjektivs sowie mikrolithografische Projektionsbelichtungsanlage |
WO2004053957A1 (ja) | 2002-12-10 | 2004-06-24 | Nikon Corporation | 面位置検出装置、露光方法、及びデバイス製造方法 |
KR101036114B1 (ko) | 2002-12-10 | 2011-05-23 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광장치 및 노광방법, 디바이스 제조방법 |
JP4352874B2 (ja) | 2002-12-10 | 2009-10-28 | 株式会社ニコン | 露光装置及びデバイス製造方法 |
WO2004053951A1 (ja) | 2002-12-10 | 2004-06-24 | Nikon Corporation | 露光方法及び露光装置並びにデバイス製造方法 |
TW200421444A (en) | 2002-12-10 | 2004-10-16 | Nippon Kogaku Kk | Optical device and projecting exposure apparatus using such optical device |
CN100429748C (zh) | 2002-12-10 | 2008-10-29 | 株式会社尼康 | 曝光装置和器件制造方法 |
KR20050085236A (ko) | 2002-12-10 | 2005-08-29 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 |
KR20050062665A (ko) | 2002-12-10 | 2005-06-23 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광장치 및 디바이스 제조방법 |
SG171468A1 (en) | 2002-12-10 | 2011-06-29 | Nikon Corp | Exposure apparatus and method for producing device |
JP4362867B2 (ja) | 2002-12-10 | 2009-11-11 | 株式会社ニコン | 露光装置及びデバイス製造方法 |
US20040108973A1 (en) | 2002-12-10 | 2004-06-10 | Kiser David K. | Apparatus for generating a number of color light components |
JP2004191660A (ja) | 2002-12-11 | 2004-07-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 露光装置 |
US6891655B2 (en) | 2003-01-02 | 2005-05-10 | Micronic Laser Systems Ab | High energy, low energy density, radiation-resistant optics used with micro-electromechanical devices |
EP1583946B1 (en) | 2003-01-15 | 2006-11-08 | Micronic Laser Systems Ab | A method to detect a defective pixel |
JP4280509B2 (ja) | 2003-01-31 | 2009-06-17 | キヤノン株式会社 | 投影露光用マスク、投影露光用マスクの製造方法、投影露光装置および投影露光方法 |
JP4366948B2 (ja) | 2003-02-14 | 2009-11-18 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、露光装置および露光方法 |
TW201908879A (zh) | 2003-02-26 | 2019-03-01 | 日商尼康股份有限公司 | 曝光裝置、曝光方法及元件製造方法 |
SE0300516D0 (sv) | 2003-02-28 | 2003-02-28 | Micronic Laser Systems Ab | SLM direct writer |
EP1610361B1 (en) | 2003-03-25 | 2014-05-21 | Nikon Corporation | Exposure system and device production method |
JP2004304135A (ja) | 2003-04-01 | 2004-10-28 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法及びマイクロデバイスの製造方法 |
WO2004090956A1 (ja) | 2003-04-07 | 2004-10-21 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
WO2004091079A1 (ja) | 2003-04-07 | 2004-10-21 | Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki | キャンド・リニアモータ電機子およびキャンド・リニアモータ |
WO2004094940A1 (ja) | 2003-04-23 | 2004-11-04 | Nikon Corporation | 干渉計システム、干渉計システムにおける信号処理方法、該信号処理方法を用いるステージ |
EP1620350A1 (en) | 2003-04-24 | 2006-02-01 | Metconnex Canada Inc. | A micro-electro-mechanical-system two dimensional mirror with articulated suspension structures for high fill factor arrays |
US7095546B2 (en) | 2003-04-24 | 2006-08-22 | Metconnex Canada Inc. | Micro-electro-mechanical-system two dimensional mirror with articulated suspension structures for high fill factor arrays |
TW200507055A (en) | 2003-05-21 | 2005-02-16 | Nikon Corp | Polarized cancellation element, illumination device, exposure device, and exposure method |
TWI421906B (zh) | 2003-05-23 | 2014-01-01 | 尼康股份有限公司 | An exposure method, an exposure apparatus, and an element manufacturing method |
TWI424470B (zh) | 2003-05-23 | 2014-01-21 | 尼康股份有限公司 | A method of manufacturing an exposure apparatus and an element |
CN100541717C (zh) | 2003-05-28 | 2009-09-16 | 株式会社尼康 | 曝光方法、曝光装置以及器件制造方法 |
DE10324477A1 (de) | 2003-05-30 | 2004-12-30 | Carl Zeiss Smt Ag | Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage |
WO2004109780A1 (ja) | 2003-06-04 | 2004-12-16 | Nikon Corporation | ステージ装置、固定方法、露光装置、露光方法、及びデバイスの製造方法 |
KR101146962B1 (ko) | 2003-06-19 | 2012-05-22 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 장치 및 디바이스 제조방법 |
US6867844B2 (en) | 2003-06-19 | 2005-03-15 | Asml Holding N.V. | Immersion photolithography system and method using microchannel nozzles |
WO2005006418A1 (ja) | 2003-07-09 | 2005-01-20 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
EP2264531B1 (en) | 2003-07-09 | 2013-01-16 | Nikon Corporation | Exposure apparatus and device manufacturing method |
WO2005008754A1 (ja) | 2003-07-18 | 2005-01-27 | Nikon Corporation | フレア計測方法、露光方法、及びフレア計測用のマスク |
KR20180077311A (ko) | 2003-08-29 | 2018-07-06 | 가부시키가이샤 니콘 | 액체회수장치, 노광장치, 노광방법 및 디바이스 제조방법 |
DE10343333A1 (de) | 2003-09-12 | 2005-04-14 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungssystem für eine Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage |
WO2005029559A1 (ja) | 2003-09-19 | 2005-03-31 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
TW200521477A (en) | 2003-09-25 | 2005-07-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Projector and projection method |
US7692784B2 (en) | 2003-09-26 | 2010-04-06 | Tidal Photonics, Inc. | Apparatus and methods relating to enhanced spectral measurement systems |
KR20060126949A (ko) | 2003-10-08 | 2006-12-11 | 가부시키가이샤 니콘 | 기판 반송 장치와 기판 반송 방법, 노광 장치와 노광 방법,및 디바이스 제조 방법 |
JP2005136364A (ja) | 2003-10-08 | 2005-05-26 | Zao Nikon Co Ltd | 基板搬送装置、露光装置、並びにデバイス製造方法 |
JPWO2005036619A1 (ja) | 2003-10-09 | 2007-11-22 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、露光装置および露光方法 |
WO2005036620A1 (ja) | 2003-10-10 | 2005-04-21 | Nikon Corporation | 露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
WO2005041276A1 (ja) | 2003-10-28 | 2005-05-06 | Nikon Corporation | 露光装置、露光方法、デバイスの製造方法 |
TW201834020A (zh) | 2003-10-28 | 2018-09-16 | 日商尼康股份有限公司 | 照明光學裝置、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法 |
US7148952B2 (en) | 2003-10-31 | 2006-12-12 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
JP4631707B2 (ja) | 2003-11-13 | 2011-02-16 | 株式会社ニコン | 照明装置、露光装置、露光方法及びデバイスの製造方法 |
JPWO2005048325A1 (ja) | 2003-11-17 | 2007-11-29 | 株式会社ニコン | ステージ駆動方法及びステージ装置並びに露光装置 |
KR101499405B1 (ko) | 2003-12-15 | 2015-03-05 | 가부시키가이샤 니콘 | 스테이지 장치, 노광 장치, 및 노광 방법 |
US8064044B2 (en) | 2004-01-05 | 2011-11-22 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, exposure method, and device producing method |
CN102169226B (zh) | 2004-01-14 | 2014-04-23 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 反射折射投影物镜 |
WO2005071717A1 (ja) | 2004-01-26 | 2005-08-04 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
US7580559B2 (en) | 2004-01-29 | 2009-08-25 | Asml Holding N.V. | System and method for calibrating a spatial light modulator |
WO2005076321A1 (ja) | 2004-02-03 | 2005-08-18 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
TWI412067B (zh) | 2004-02-06 | 2013-10-11 | 尼康股份有限公司 | 偏光變換元件、光學照明裝置、曝光裝置以及曝光方法 |
EP1724815B1 (en) | 2004-02-10 | 2012-06-13 | Nikon Corporation | Aligner, device manufacturing method, maintenance method and aligning method |
WO2005081291A1 (ja) | 2004-02-19 | 2005-09-01 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイスの製造方法 |
KR101106497B1 (ko) | 2004-02-20 | 2012-01-20 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 장치, 공급 방법 및 회수 방법, 노광 방법, 및디바이스 제조 방법 |
US7551261B2 (en) | 2004-02-26 | 2009-06-23 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system for a microlithography projection exposure installation |
US6977718B1 (en) | 2004-03-02 | 2005-12-20 | Advanced Micro Devices, Inc. | Lithography method and system with adjustable reflector |
JP2005309380A (ja) | 2004-03-26 | 2005-11-04 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像露光装置 |
JP2005302825A (ja) | 2004-04-07 | 2005-10-27 | Canon Inc | 露光装置 |
EP2490248A3 (en) | 2004-04-19 | 2018-01-03 | Nikon Corporation | Exposure apparatus and device manufacturing method |
US7123348B2 (en) | 2004-06-08 | 2006-10-17 | Asml Netherlands B.V | Lithographic apparatus and method utilizing dose control |
US7116403B2 (en) | 2004-06-28 | 2006-10-03 | Asml Netherlands B.V | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US7259827B2 (en) | 2004-07-14 | 2007-08-21 | Asml Netherlands B.V. | Diffuser unit, lithographic apparatus, method for homogenizing a beam of radiation, a device manufacturing method and device manufactured thereby |
EP1788694A4 (en) | 2004-07-15 | 2014-07-02 | Nikon Corp | EQUIPMENT FOR PLANAR MOTOR, STAGE EQUIPMENT, EXPOSURE EQUIPMENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE DEVICE |
DE102004035489A1 (de) | 2004-07-19 | 2006-02-16 | Jenoptik Laser, Optik, Systeme Gmbh | Optisches System zur Umwandlung einer primären Intensitätsverteilung in eine vorgegebene, raumwinkelabhängige Intensitätsverteilung |
JP2006049758A (ja) | 2004-08-09 | 2006-02-16 | Nikon Corp | 露光装置の制御方法、並びに、これを用いた露光方法及び装置 |
JP2006054328A (ja) | 2004-08-12 | 2006-02-23 | Nikon Corp | 照明光学装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 |
JP4599936B2 (ja) | 2004-08-17 | 2010-12-15 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、照明光学装置の調整方法、露光装置、および露光方法 |
EP1801853A4 (en) | 2004-08-18 | 2008-06-04 | Nikon Corp | EXPOSURE DEVICE AND COMPONENT MANUFACTURING METHOD |
ATE535015T1 (de) | 2004-09-01 | 2011-12-15 | Nikon Corp | Substrathalter, bühnenvorrichtung und belichtungsvorrichtung |
WO2006028188A1 (ja) | 2004-09-10 | 2006-03-16 | Nikon Corporation | ステージ装置及び露光装置 |
EP1804278A4 (en) | 2004-09-14 | 2011-03-02 | Nikon Corp | CORRECTION METHOD AND EXPOSURE DEVICE |
US20080318152A1 (en) | 2004-09-17 | 2008-12-25 | Takeyuki Mizutani | Substrate for Exposure, Exposure Method and Device Manufacturing Method |
JP4804358B2 (ja) | 2004-09-27 | 2011-11-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 空間光変調装置、光学処理装置、及びカップリングプリズムの使用方法 |
US7177012B2 (en) | 2004-10-18 | 2007-02-13 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
JP4335114B2 (ja) | 2004-10-18 | 2009-09-30 | 日本碍子株式会社 | マイクロミラーデバイス |
GB2419208A (en) | 2004-10-18 | 2006-04-19 | Qinetiq Ltd | Optical correlation employing an optical bit delay |
WO2006049134A1 (ja) | 2004-11-01 | 2006-05-11 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
WO2006051909A1 (ja) | 2004-11-11 | 2006-05-18 | Nikon Corporation | 露光方法、デバイス製造方法、及び基板 |
US7333177B2 (en) | 2004-11-30 | 2008-02-19 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
KR20190006097A (ko) | 2004-12-15 | 2019-01-16 | 가부시키가이샤 니콘 | 기판 유지 장치, 노광 장치 및 디바이스 제조방법 |
US20080073982A1 (en) | 2004-12-24 | 2008-03-27 | Nikon Corporation | Magnetic Guide Apparatus, Stage Apparatus, Exposure Apparatus, and Device Manufacturing Method |
US20060138349A1 (en) | 2004-12-27 | 2006-06-29 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
TW200923418A (en) | 2005-01-21 | 2009-06-01 | Nikon Corp | Exposure device, exposure method, fabricating method of device, exposure system, information collecting device, and measuring device |
US8053937B2 (en) | 2005-01-21 | 2011-11-08 | Nikon Corporation | Linear motor, stage apparatus and exposure apparatus |
WO2006080285A1 (ja) | 2005-01-25 | 2006-08-03 | Nikon Corporation | 露光装置及び露光方法並びにマイクロデバイスの製造方法 |
JP2006208432A (ja) | 2005-01-25 | 2006-08-10 | Fuji Photo Film Co Ltd | 露光方法および装置 |
KR100664325B1 (ko) | 2005-02-04 | 2007-01-04 | 삼성전자주식회사 | 광 터널 및 이를 포함하는 프로젝션 장치 |
JP2006216917A (ja) | 2005-02-07 | 2006-08-17 | Canon Inc | 照明光学系、露光装置およびデバイス製造方法 |
WO2006085626A1 (ja) | 2005-02-14 | 2006-08-17 | Nikon Corporation | 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
WO2006085524A1 (ja) | 2005-02-14 | 2006-08-17 | Nikon Corporation | 露光装置 |
KR101134174B1 (ko) | 2005-03-15 | 2012-04-09 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 투사 노광 방법 및 이를 위한 투사 노광 시스템 |
US7622710B2 (en) | 2005-03-18 | 2009-11-24 | Danmarks Tekniske Universitet | Optical manipulation system using a plurality of optical traps |
WO2006100889A1 (ja) | 2005-03-23 | 2006-09-28 | Konica Minolta Holdings, Inc. | 有機el層の形成方法 |
JP4561425B2 (ja) | 2005-03-24 | 2010-10-13 | ソニー株式会社 | ホログラム記録再生装置およびホログラム記録再生方法 |
US7317506B2 (en) | 2005-03-29 | 2008-01-08 | Asml Netherlands B.V. | Variable illumination source |
US7548302B2 (en) | 2005-03-29 | 2009-06-16 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
EP1879219A4 (en) | 2005-04-27 | 2012-08-08 | Nikon Corp | EXPOSURE METHOD, EXPOSURE DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING COMPONENTS AND FILM EVALUATION METHOD |
US7400382B2 (en) | 2005-04-28 | 2008-07-15 | Asml Holding N.V. | Light patterning device using tilting mirrors in a superpixel form |
US7724379B2 (en) | 2005-05-12 | 2010-05-25 | Technodream21, Inc. | 3-Dimensional shape measuring method and device thereof |
JP4771753B2 (ja) | 2005-06-08 | 2011-09-14 | 新光電気工業株式会社 | 面光源制御装置および面光源制御方法 |
US7701555B2 (en) | 2005-07-01 | 2010-04-20 | Nikon Corporation | Exposure apparatus, exposure method, device manufacturing method, and system |
DE102005030839A1 (de) | 2005-07-01 | 2007-01-11 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsbelichtungsanlage mit einer Mehrzahl von Projektionsobjektiven |
JP5309565B2 (ja) | 2005-08-05 | 2013-10-09 | 株式会社ニコン | ステージ装置、露光装置、方法、露光方法、及びデバイス製造方法 |
JPWO2007055237A1 (ja) | 2005-11-09 | 2009-04-30 | 株式会社ニコン | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
JP2007150295A (ja) | 2005-11-10 | 2007-06-14 | Carl Zeiss Smt Ag | ラスタ要素を有する光学装置、及びこの光学装置を有する照射システム |
JPWO2007055373A1 (ja) | 2005-11-14 | 2009-04-30 | 株式会社ニコン | 液体回収部材、露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法 |
WO2007058188A1 (ja) | 2005-11-15 | 2007-05-24 | Nikon Corporation | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
KR20080071552A (ko) | 2005-12-06 | 2008-08-04 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 방법, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 |
EP1962329B1 (en) | 2005-12-08 | 2014-08-06 | Nikon Corporation | Substrate holding device, exposure device, exposure method, and device fabrication method |
WO2007072639A1 (ja) | 2005-12-21 | 2007-06-28 | Nikon Corporation | オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置、およびデバイスの製造方法 |
US7532378B2 (en) | 2006-02-21 | 2009-05-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laser irradiation apparatus, method of laser irradiation, and method for manufacturing semiconductor device |
US7525642B2 (en) | 2006-02-23 | 2009-04-28 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
CN101389982A (zh) | 2006-02-27 | 2009-03-18 | 株式会社尼康 | 分色镜 |
JP2007234110A (ja) | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Toshiba Corp | 光情報記録装置および光情報記録装置の制御方法 |
EP1993120A1 (en) | 2006-03-03 | 2008-11-19 | Nikon Corporation | Exposure method and apparatus, and device manufacturing method |
US7215478B1 (en) | 2006-03-06 | 2007-05-08 | Olympus Corporation | Immersion objective optical system |
JPWO2007132862A1 (ja) | 2006-05-16 | 2009-09-24 | 株式会社ニコン | 投影光学系、露光方法、露光装置、及びデバイス製造方法 |
JP4893112B2 (ja) | 2006-06-03 | 2012-03-07 | 株式会社ニコン | 高周波回路コンポーネント |
DE102006032810A1 (de) * | 2006-07-14 | 2008-01-17 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungsoptik für eine Mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage, Beleuchtungssystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik, mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Beleuchtungssystem, mikrolithografisches Herstellungsverfahren für Bauelemente sowie mit diesem Verfahren hergestelltes Bauelement |
WO2008015973A1 (fr) | 2006-08-02 | 2008-02-07 | Nikon Corporation | Appareil de détection de défauts et procédé de détection de défauts |
EP2068349A4 (en) | 2006-09-29 | 2011-03-30 | Nikon Corp | STAGE EQUIPMENT AND EXPOSURE DEVICE |
KR100855628B1 (ko) | 2006-10-02 | 2008-09-03 | 삼성전기주식회사 | 광변조기 검사를 위한 장치 및 방법 |
US7804603B2 (en) | 2006-10-03 | 2010-09-28 | Asml Netherlands B.V. | Measurement apparatus and method |
JP4924879B2 (ja) | 2006-11-14 | 2012-04-25 | 株式会社ニコン | エンコーダ |
WO2008061681A2 (de) | 2006-11-21 | 2008-05-29 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungsoptik für die projektions-mikrolithografie sowie mess- und überwachungsverfahren für eine derartige beleuchtungsoptik |
WO2008065977A1 (fr) | 2006-11-27 | 2008-06-05 | Nikon Corporation | Procédé d'exposition, procédé de formation de motif, dispositif d'exposition, et procédé de fabrication du dispositif |
JP4910679B2 (ja) | 2006-12-21 | 2012-04-04 | 株式会社ニコン | 可変キャパシタ、可変キャパシタ装置、高周波回路用フィルタ及び高周波回路 |
KR20090106555A (ko) | 2006-12-27 | 2009-10-09 | 가부시키가이샤 니콘 | 스테이지 장치, 노광 장치, 및 디바이스의 제조 방법 |
WO2008090975A1 (ja) | 2007-01-26 | 2008-07-31 | Nikon Corporation | 支持構造体及び露光装置 |
US8937706B2 (en) | 2007-03-30 | 2015-01-20 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method |
US9250536B2 (en) | 2007-03-30 | 2016-02-02 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method |
US20080259304A1 (en) | 2007-04-20 | 2008-10-23 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method |
CN101669071B (zh) | 2007-04-25 | 2012-03-21 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 微光刻曝光装置中照明掩模的照明系统 |
KR101497886B1 (ko) | 2007-05-09 | 2015-03-04 | 가부시키가이샤 니콘 | 포토마스크용 기판, 포토마스크용 기판의 성형 부재, 포토마스크용 기판의 제조 방법, 포토마스크, 및 포토마스크를 사용한 노광 방법 |
US7573564B2 (en) | 2007-06-26 | 2009-08-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Systems for doppler tracking using photonic mixing detectors |
CN101796460B (zh) | 2007-08-30 | 2013-05-01 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 微光刻投射曝光设备中用于照明掩模的照明系统 |
US8451427B2 (en) | 2007-09-14 | 2013-05-28 | Nikon Corporation | Illumination optical system, exposure apparatus, optical element and manufacturing method thereof, and device manufacturing method |
DE102007043958B4 (de) | 2007-09-14 | 2011-08-25 | Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 | Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
JP5267029B2 (ja) | 2007-10-12 | 2013-08-21 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、露光装置及びデバイスの製造方法 |
WO2009050976A1 (en) | 2007-10-16 | 2009-04-23 | Nikon Corporation | Illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method |
EP2179329A1 (en) | 2007-10-16 | 2010-04-28 | Nikon Corporation | Illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method |
US8379187B2 (en) | 2007-10-24 | 2013-02-19 | Nikon Corporation | Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method |
JP2010004008A (ja) | 2007-10-31 | 2010-01-07 | Nikon Corp | 光学ユニット、照明光学装置、露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法 |
WO2009153925A1 (ja) | 2008-06-17 | 2009-12-23 | 株式会社ニコン | ナノインプリント方法及び装置 |
WO2009157154A1 (ja) | 2008-06-26 | 2009-12-30 | 株式会社ニコン | 表示素子の製造方法及び製造装置 |
WO2010001537A1 (ja) | 2008-06-30 | 2010-01-07 | 株式会社ニコン | 表示素子の製造方法及び製造装置、薄膜トランジスタの製造方法及び製造装置、及び回路形成装置 |
-
2008
- 2008-08-14 US US12/191,821 patent/US8451427B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-04 JP JP2008226683A patent/JP5428250B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-10 CN CN201110307567.XA patent/CN102385258B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-10 KR KR1020107008059A patent/KR101614958B1/ko active IP Right Grant
- 2008-09-10 WO PCT/JP2008/066803 patent/WO2009035129A2/en active Application Filing
- 2008-09-10 EP EP13156736.4A patent/EP2631699B1/en not_active Not-in-force
- 2008-09-10 EP EP08830323.5A patent/EP2188664B1/en not_active Not-in-force
- 2008-09-10 CN CN201310320160.XA patent/CN103488056B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-10 CN CN200880024806A patent/CN101743497A/zh active Pending
- 2008-09-10 EP EP09015719A patent/EP2278380B1/en not_active Not-in-force
- 2008-09-12 TW TW097135029A patent/TWI452438B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-09-12 TW TW103122813A patent/TWI556064B/zh not_active IP Right Cessation
-
2010
- 2010-10-13 HK HK10109685.9A patent/HK1143210A1/xx not_active IP Right Cessation
-
2012
- 2012-06-01 HK HK12105345.7A patent/HK1165019A1/xx not_active IP Right Cessation
-
2013
- 2013-04-19 US US13/866,447 patent/US9057963B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-09-17 JP JP2013192079A patent/JP5626433B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-05-09 HK HK14104414.4A patent/HK1191411A1/zh not_active IP Right Cessation
- 2014-08-11 US US14/456,563 patent/US9366970B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-09-12 JP JP2014186426A patent/JP2015046601A/ja active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001176766A (ja) * | 1998-10-29 | 2001-06-29 | Nikon Corp | 照明装置及び投影露光装置 |
JP2002353105A (ja) * | 2001-05-24 | 2002-12-06 | Nikon Corp | 照明光学装置,該照明光学装置を備えた露光装置,およびマイクロデバイスの製造方法 |
JP2003022967A (ja) * | 2001-06-01 | 2003-01-24 | Asml Netherlands Bv | リトグラフ装置、デバイス製造方法、その方法により製造されたデバイス、制御システム、コンピュータ・プログラムおよびコンピュータ・プログラム製品 |
JP2004247737A (ja) * | 2003-02-11 | 2004-09-02 | Asml Netherlands Bv | リソグラフ装置および光リソグラフシミュレーションを用いて照明源を最適化する方法 |
JP2007505488A (ja) * | 2003-09-12 | 2007-03-08 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | マイクロリソグラフィ投影露光設備のための照明系 |
US20060050261A1 (en) * | 2004-07-09 | 2006-03-09 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system for microlithography |
JP2009093175A (ja) * | 2007-10-03 | 2009-04-30 | Nikon Corp | 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
JP5262063B2 (ja) * | 2007-10-23 | 2013-08-14 | 株式会社ニコン | 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法 |
WO2010016288A1 (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-11 | 株式会社ニコン | 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2188664A2 (en) | 2010-05-26 |
JP2015046601A (ja) | 2015-03-12 |
US9057963B2 (en) | 2015-06-16 |
CN103488056A (zh) | 2014-01-01 |
CN103488056B (zh) | 2015-11-25 |
JP5428250B2 (ja) | 2014-02-26 |
US20130229639A1 (en) | 2013-09-05 |
TWI452438B (zh) | 2014-09-11 |
HK1191411A1 (zh) | 2014-07-25 |
CN102385258B (zh) | 2015-07-01 |
EP2631699B1 (en) | 2016-11-09 |
EP2188664B1 (en) | 2014-08-06 |
EP2278380B1 (en) | 2012-05-30 |
CN102385258A (zh) | 2012-03-21 |
US8451427B2 (en) | 2013-05-28 |
US9366970B2 (en) | 2016-06-14 |
KR101614958B1 (ko) | 2016-04-22 |
US20090073411A1 (en) | 2009-03-19 |
CN101743497A (zh) | 2010-06-16 |
WO2009035129A3 (en) | 2009-05-07 |
EP2278380A1 (en) | 2011-01-26 |
KR20100057084A (ko) | 2010-05-28 |
HK1165019A1 (en) | 2012-09-28 |
EP2631699A1 (en) | 2013-08-28 |
US20140347645A1 (en) | 2014-11-27 |
TW201439690A (zh) | 2014-10-16 |
JP5626433B2 (ja) | 2014-11-19 |
JP2009117801A (ja) | 2009-05-28 |
TWI556064B (zh) | 2016-11-01 |
TW200923591A (en) | 2009-06-01 |
HK1143210A1 (en) | 2010-12-24 |
WO2009035129A2 (en) | 2009-03-19 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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