JP2009093175A - 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法 - Google Patents

空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009093175A
JP2009093175A JP2008257756A JP2008257756A JP2009093175A JP 2009093175 A JP2009093175 A JP 2009093175A JP 2008257756 A JP2008257756 A JP 2008257756A JP 2008257756 A JP2008257756 A JP 2008257756A JP 2009093175 A JP2009093175 A JP 2009093175A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spatial light
modulation unit
optical
light modulator
optical path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008257756A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirohisa Tanaka
裕久 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Publication of JP2009093175A publication Critical patent/JP2009093175A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70283Mask effects on the imaging process
    • G03F7/70291Addressable masks, e.g. spatial light modulators [SLMs], digital micro-mirror devices [DMDs] or liquid crystal display [LCD] patterning devices
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70091Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
    • G03F7/70116Off-axis setting using a programmable means, e.g. liquid crystal display [LCD], digital micromirror device [DMD] or pupil facets
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)

Abstract

【課題】 所望の光路を形成するように光学系中に配置することが可能な空間光変調ユニットを提供すること。
【解決手段】 空間光変調ユニットSM1は、光学系中に配置可能であって、且つ当該光学系の光軸に沿って配置可能である。空間光変調ユニットSM1は、光学系の光軸Axと平行に入射した光を反射する第1の反射面R11と、第1の反射面R11で反射した光を反射する反射型の空間光変調器S1と、空間光変調器S1で反射した光を反射して光学系中に射出する第2の反射面R12と、を備える。空間光変調器S1は、第1の反射面R11で反射した光の当該空間光変調器S1に入射する位置に応じて、その光に空間的な変調を与える。
【選択図】 図4

Description

本発明は、空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法に関する。
従来、露光装置において変形照明用の瞳輝度分布(例えば二極、四極等)を形成する空間変調器として、反射型の空間光変調器が知られている(例えば、特許文献1参照)。反射型の空間光変調器において、露光装置の照明光学系の構成を大幅に変更することなく空間光変調器への入射光路と空間光変調器からの射出光路(反射光路)とを分離するため、特許文献1では反射型空間光変調器に対し光を斜めに入射させている。
特開2002−353105号公報
しかしながら、特許文献1に記載の空間光変調器では、空間光変調器への入射光路と空間光変調器からの射出光路とで光路を同軸とすることができないため、光学系中に配置する場合に所望の光路を形成することが困難である。
本発明の一実施形態は、所望の光路を形成するように光学系中に配置することが可能な空間光変調ユニットを提供することを目的とする。
実施形態に係る空間光変調ユニットは、光学系中に配置可能であって、且つ当該光学系の光軸に沿って配置可能な空間光変調ユニットであって、光学系の光軸と平行に入射した光を反射する第1の偏向面と、第1の偏向面で偏向した光を反射する反射型の空間光変調器と、空間光変調器で反射した光を偏向して光学系中に射出する第2の偏向面と、を備え、空間光変調器は、第1の偏向面で偏向した光の当該空間光変調器に入射する位置に応じて、その光に空間的な変調を与えることを特徴とする
上記空間光変調ユニットは、入射する位置に応じて、その光に空間的な変調を与える空間光変調器を備える。そのため、例えば二極、四極等の所望の瞳輝度分布を形成することが可能である。また、反射型の空間光変調器の他に第1及び第2の反射面を備える。そのため、所望の光路を形成するように光学系中に配置することが可能である。
実施形態に係る照明装置は、光源から供給される光によって第1の面を照明する照明装置において、上記の空間光変調ユニットを備えることを特徴とする。
実施形態に係る照明装置は、光源からの光に基づいて被照射面を照明する照明装置において、二次元的に配列されて個別に制御される複数の光学要素を有する空間光変調器と;照明装置中に配置可能な回折光学素子と;空間光変調器が、その第1位置に配置され得る第1光路と;回折光学素子が、その第2位置に配置され得る第2光路と;光源と第1光路との間の光路であって、且つ光源と第2光路との間の光路である第3光路と;第1光路と被照射面との間の光路であって、且つ第2光路と被照射面との間の光路である第4光路と;を備え、第1光路と第2光路とは切替可能であり、且つ第3光路の出口での光軸と第4光路の入り口での光軸とが共軸(coaxial)であることを特徴とする。
実施形態に係る照明装置は、光源から供給される光によって第1の面を照明する照明装置において、入射する位置に応じてその光に空間的な変調を与える空間光変調器を備える空間光変調ユニットと;該空間光変調ユニットの空間光変調器を経由しない光によって第1の瞳輝度分布を形成する回折光学素子と;を備え、空間光変調ユニットの空間光変調器からの光によって、第1の瞳輝度分布と少なくとも一部が重畳する第2の瞳輝度分布を形成することを特徴とする。
実施形態に係る露光装置は、第1の面の像を第2の面に投影する露光装置であって、第1の面を照明する上記の照明装置と、照明装置によって第1の面上に形成される照明領域からの光に基づいて、第2の面上に第1の面の像を形成する投影光学系と、を備えることを特徴とする。
実施形態に係るデバイスの製造方法は、感光性基板を準備する工程と、上記の露光装置の第2の面に感光性基板を配置して、第1の面に位置する所定のパターンの像を感光性基板上に投影露光する工程と、マスクのパターンの像が投影された感光性基板を現像し、パターンに対応する形状のマスク層を感光性基板の表面に形成するする工程と、マスク層を介して感光性基板の表面を加工する加工工程と、備えることを特徴とする。
本発明の一実施形態によれば、所望の光路を形成するように光学系中に配置することが可能な空間光変調ユニットを提供することができる。
以下、添付図面を参照して、実施形態について詳細に説明する。なお、説明において、同一要素又は同一機能を有する要素には、同一符号を用いることとし、重複する説明は省略する。
(第1実施形態)
図1を参照して、第1実施形態に係る露光装置EA1の構成について説明する。図1は、第1実施形態に係る露光装置を概略的に示す構成図である。
第1実施形態による露光装置EA1は、装置の光軸Axに沿って、空間光変調ユニットSM1を備える照明装置ILと、マスクMを支持するマスクステージMSと、投影光学系PLと、ウェハWを支持するウェハステージWSとを備える。露光装置EA1は、光源1から供給される光に基づいて照明装置ILによってマスクMを照明し、投影光学系PLを用いてマスクMのパターンが形成された面Maである第1の面の像を、ウェハW上の投影面Waである第2の面に投影する。また、光源1から供給される光によってマスクMのパターンが形成された面Maである第1の面を照明する照明装置ILは、空間光変調ユニットSM1によって例えば二極、四極等の変形照明を行う。
照明装置ILは、光軸Axに沿って、空間光変調ユニットSM1と、回折光学ユニット2と、ズーム光学系3と、フライアイレンズ4と、コンデンサ光学系5と、折り曲げミラー6とを備える。空間光変調ユニットSM1及び回折光学ユニット2は何れも、照明装置ILの光路に対して挿脱可能である。空間光変調ユニットSM1及び回折光学ユニット2は何れも、それらの遠視野に所望の瞳輝度分布を形成する。
フライアイレンズ4は、複数のレンズ素子が二次元に密に配列されて構成されている。フライアイレンズ4を構成する複数のレンズ素子は、各レンズ素子の光軸が当該フライアイレンズ4を含む照明装置ILの光軸であり露光装置の光軸でもある光軸Axと平行となるように配列されている。フライアイレンズ4は、入射した光に対し波面分割を施し、その後側焦点面にレンズ素子と同数の光源像からなる二次光源を形成する。本例では、被照射面に配置されるマスクMをケーラー照明しているため、この二次光源が形成される面は、投影光学系PLの開口絞りと共役な面となり、照明装置ILの照明瞳面と呼ぶことができる。典型的には、照明瞳面に対して被照射面(マスクMが配置される面又はウェハWが配置される面)が光学的なフーリエ変換面となる。なお、瞳輝度分布とは、照明装置ILの照明瞳面又は当該照明瞳面と共役な面における輝度分布であるが、フライアイレンズ4による波面分割数が大きな場合には、フライアイレンズ4の入射面に形成される大局的な輝度分布と、二次光源全体の大局的な輝度分布(瞳輝度分布)とが高い相関を示すため、フライアイレンズ4の入射面及び当該入射面と共役な面における輝度分布についても瞳輝度分布と称することができる。
コンデンサ光学系5は、フライアイレンズ4を射出した光を集光し、所定のパターンが形成されたマスクMを照明する。折り曲げミラー6は、コンデンサ光学系5中に配置され、コンデンサ光学系を通過する光束の光路を折り曲げる。マスクステージMSには、マスクMが載置される。
投影光学系PLは、照明装置ILによってマスクMのパターン面(第1の面)Ma上に形成される照明領域からの光に基づいて、ウェハステージWS上に載置されたウェハWの投影面(第2の面)Wa上に第1の面の像を形成する。
次に、図2及び図3を参照して、空間光変調ユニットSM1と回折光学ユニット2との配置の関係を説明する。図2は、空間光変調ユニットSM1が露光装置EA1の光軸Axに沿って挿入されている場合の配置を説明するための図である。図3は、空間光変調ユニットSM1が露光装置EA1の光軸Axから離れ、回折光学ユニット2中の複数の回折光学素子2b中の1つが露光装置EA1の光軸Axに沿って挿入されている場合の配置を説明するための図である。
図2及び図3に示されているように、回折光学ユニット2は、切り欠き2cが形成されたターレット部材2aと、当該ターレット部材2a上に形成された複数の回折光学素子2bとを有する。回折光学素子2bは、ターレット部材2aに露光光(照明光)の波長程度のピッチを有する段差を形成することによって構成され、入射ビームを所望の角度に回折する作用を有する。
図2に示されるように、空間光変調ユニットSM1は、回折光学ユニット2を固定した状態で回折光学ユニット2の切り欠き2cによって形成される空間内に挿入させるように配置することで、露光装置EA1の光軸Ax上に配置することができる。また、図3に示されるように、空間光変調ユニットSM1は、回折光学ユニット2を固定した状態で回折光学ユニット2の切り欠き2c内から移動させることで、露光装置EA1の光軸Axから外すことができる。あるいは、空間光変調ユニットSM1を固定した状態で、回折光学ユニット2を移動してもよい。このように、空間光変調ユニットSM1は、露光装置EA1の光軸Ax、すなわち照明装置ILの光軸Axに沿って配置可能である。
空間光変調ユニットSM1は、回折光学ユニット2よりもサイズが大きく且つ質量も大きいため、同じターレット部材2aに載置せず、回折光学ユニット2の切り欠き2c内に配置する。空間光変調ユニットSM1には駆動信号を伝達するためのケーブルが接続されているため、切り欠き2c内に配置することでケーブルを引きずったままターレットに載せる必要がない。
図3に示されるように、空間光変調ユニットSM1を光軸Axから離れるように移動させた場合には、回折光学ユニット2は、その回転軸が光軸Axに対して平行となり且つ光軸Axから偏心した状態に配置される。そして、ターレット部材2aに設けられた複数の回折光学素子2bの何れか1つが光軸Ax上に配置されるように回転される。図2及び図3に示したように、ターレット部材2aには、その円周方向に沿って回折光学素子2bが円周方向に配列されている。回折光学素子2bは、入射した光束を回折して光軸Axに対して偏心した複数の光束に変換するものであり、各々の回折特性(例えば、回折角)が異なるように設定される。
次に、図4及び図5を参照して空間光変調ユニットSM1の構成を説明する。図4は、図2に示された空間光変調ユニットSM1のIV-IV断面の構成を説明するための図である。図5は、空間光変調ユニットSM1が備える空間光変調器S1の部分斜視図である。なお、図4では見易さのため、その断面へのハッチングの付与は省略している。
図4に示されるように、空間光変調ユニットSM1は、プリズムP1と、プリズムP1に一体的に取り付けられた反射型の空間光変調器S1とを備える。プリズムP1は、例えば蛍石をその硝材とする。プリズムP1は、直方体のうち1つの側面がV字状の楔形に凹んだ形状を呈する。すなわち、プリズムP1では直方体のうちの1つの側面が、接線(直線)P1aが内側に窪むようにして鈍角をなして交差する2つの平面PS1、PS2(第1及び第2の平面PS1、PS2)によって構成されている。空間光変調器S1は、接線P1aで接するこの2つの側面の双方に対向する側面上に取り付けられる。なお、プリズムP1を形成する光学材料としては、蛍石に限定されず、石英ガラスであっても良く、他の光学ガラスであっても良い。
接線P1aで接するこの2つの側面の内面は第1及び第2の反射面R11、R12として機能する。したがって、第1の反射面R11は、第1の平面PS1上に位置する。第2の反射面R12は第1の平面PS1と交差する第2の平面PS2上に位置する。第1及び第2の反射面R11、R12同士のなす角は鈍角である。
ここで、例えば、第1及び第2の反射面R11、R12同士のなす角を120度とし、光軸Axに垂直なプリズムP1の側面と第1の反射面R11とのなす角を60度とし、光軸Axに垂直なプリズムP1の側面と第2の反射面R12とのなす角を60度としてもよい。
プリズムP1は、空間光変調器S1が取り付けられる側面と光軸Axとが平行となり、且つ第1の反射面R11が光源1側(露光装置EA1の上流側)に、第2の反射面R12がフライアイレンズ4側(露光装置EA1の下流側)に位置するように配置される。したがって、プリズムP1の第1の反射面R11は、図4に示されるように、露光装置EA1の光軸Axに対して斜設される。プリズムP1の第2の反射面R12は、図4に示されるように、露光装置EA1の光軸Axに対して第1の反射面R11とは反対方向の傾斜をもって斜設される。
プリズムP1の第1の反射面R11は、露光装置EA1の光軸Axと平行に入射した光を反射する。空間光変調器S1は、第1の反射面R11と第2の反射面R12との間の光路中に配置され、第1の反射面R11で反射した光を反射する。プリズムP1の第2の反射面R12は、空間光変調器S1で反射した光を反射して露光装置EA1の照明装置IL中、具体的にはズーム光学系3に射出する。
したがって、第1及び第2の平面PS1、PS2によって形成される稜線である接線Paは第1及び第2の反射面R11、R12に対して空間光変調器S1側に向けられている。
なお、本例では、プリズムP1を1つの光学ブロックで一体的に形成したが、複数の光学ブロックを用いてプリズムP1を構成しても良い。
空間光変調器S1は、第1の反射面R11で反射した光の空間光変調器S1に入射する位置に応じて、その光に空間的な変調を与える。空間光変調器S1は後述するように、二次元的に配列された多数の微小な要素ミラーSE1を含む。そのため、例えば、空間光変調器S1に入射する光束のうち光線L1は空間光変調器S1の複数の要素ミラーSE1のうち要素ミラーSE1aに、光線L2は空間光変調器S1の複数の要素ミラーSE1のうち要素ミラーSE1aとは異なる要素ミラーSE1bにそれぞれ入射する。要素ミラーSE1a、SE1bはそれぞれ、その位置に応じて設定された空間的な変調を光L1、L2に与える。また、空間光変調器S1は、第2の反射面R12で反射してズーム光学系3に射出する光が第1の反射面R11への入射光と平行になるように光を変調する。
プリズムP1に光L1、L2が入射する入射位置IP1、IP2から、要素ミラーSE1a、SE1bを経て光がプリズムP1から射出する射出位置OP1、OP2までの空気換算長と、プリズムP1が露光装置EA1中に配置されていない場合における入射位置IP1、IP2に相当する位置から射出位置OP1、OP2に相当する位置までの空気換算長が同じであるように、プリズムP1は配置される。ここで、空気換算長とは、光学系中の光路長を屈折率lの空気に換算したときの光路長として表したものであり、屈折率nの媒質中の空気換算長は、その光路長にl/nを乗じたものである。
また、空間光変調器S1は、回折光学ユニット2の回折光学素子2bが設置された設置面と光学的に等価な位置、すなわち空間光変調ユニットSM1の射出側(ズーム光学系3側)から見たとき、第2の反射面R12を介して観察される回折光学素子2bの設置面の位置に配置することできる。
空間光変調器S1は、図5に示されるように、平面形状の反射面を上面にして敷き詰められた多数の微小な反射素子である要素ミラーSE1を含む可動マルチミラーである。各要素ミラーSE1は可動であり,その反射面の傾き、すなわち反射面の傾斜角および傾斜方向は制御系(図示は省略)により独立に駆動制御される。各要素ミラーSE1は、その反射面に平行な二方向であって、互いに直交する二方向を回転軸として所望の回転角度だけ連続的に回転することができる。すなわち、各要素ミラーSE1は、反射面に沿った二次元で傾斜を制御することが可能である。
ここでは,要素ミラーSE1の外形は正方形としているが,これに限定するものではない。ただし,光利用効率の観点から,隙間無く配列可能な形状にすることができる。また,隣接する要素ミラーSE1間の間隔は必要最小限としてもよい。さらにまた,照明条件の細かな変更を可能にするために,要素ミラーSE1は可能な限り小さくしてもよい。また、要素ミラーSE1の反射面の形状は平面には限られず、凹面や凸面などの曲面であってもよい。
ここで、プリズムP1の第1の反射面R11からプリズムP1の第2の反射面R12までの光路であって、空間光変調ユニットSM1の空間光変調器S1が配置され得る第1位置を介する光路を第1光路とする。プリズムP1の第1の反射面R11が配置され得る位置からプリズムP1の第2の反射面R12が配置され得る位置までの光路であって、回折光学ユニット2の回折光学素子2bが配置され得る第2位置を介する光路を第2光路とする。光源1からプリズムP1の第1の反射面R11が配置され得る位置までの光路を第3光路とする。プリズムP1の第2の反射面R12が配置され得る位置から被照射面までの光路を第4光路とする。
すなわち、第1光路は、空間光変調器S1を介した光源1からの光を用いて被照射面を照明する場合にだけ、光が通過する光路である。第2光路は、回折光学素子2bを介した光源1からの光を用いて被照射面を照明する場合にだけ、光が通過する光路である。第3光路は、光源1と第1光路との間の光路であって、且つ光源1と第2光路との間の光路である。第4光路は、第1光路と被照射面との間の光路であって、且つ第2光路と被照射面との間の光路である。なお、光路とは、使用状態において、光が通ることが意図されている経路をいう。
上述したように、空間光変調ユニットSM1と回折光学ユニット2とは、装置の光軸Axに対して挿入が切り替え可能になっている。すなわち、第1光路と第2光路とは切り替え可能である。また、第3光路の出口での装置の光軸Axと第4光路の入り口での装置の光軸Axとが共軸(coaxial)である。
また、プリズムP1の第1の反射面R11は第3光路からの光を空間光変調器S1へ向ける第1光学面として、プリズムP1の第2の反射面R12は空間光変調器S1を介した光を第4光路へ向ける第2光学面として、それぞれ機能する。第1及び第2光学面はいずれも照明装置ILの光路に対して挿脱可能な空間光変調ユニットSM1のプリズムP1の反射面であるので、第1及び第2光学面は照明装置ILの光路中に一体的に挿脱可能である。さらに、空間光変調器S1も、照明装置ILの光路中に挿脱可能である。
また、プリズムP1の第1の反射面R11は、光軸と平行に入射した光を入射方向とは異なる方向へ偏向する第1の偏向面と見なすことができ、プリズムP1の第2の反射面R12は、空間光変調器S1で反射した光を照明装置ILの光路へ向けて偏向する第2の偏向面と見なすことができる。なお、第1及び第2の偏向面として、反射面、屈折面、回折面を用いることができる。
空間光変調ユニットSM1は、円形,輪帯,2極,4極等の所望の瞳輝度分布を形成する変形照明を可能とする。図6は、輪帯照明を行った場合における空間光変調ユニットSM1の遠視野(空間光変調ユニットSM1に対する光学的なフーリエ変換面)での照野の形状を示す図である。図6中の斜線部が照野となる。
次に、図7に示すフローチャートを参照して、本実施形態に係る露光装置EA1を用いてデバイスを製造する方法について説明する。先ず、図7のステップS301において、1ロットのウェハ上に金属膜が蒸着される。次のステップS302において、その1ロットのウェハ上の金属膜上にフォトレジストが塗布される。すなわち、ステップS301及びステップS302は、感光性基板であるウェハWを準備する工程に相当する。
その後、ステップS303において、上述の実施形態の露光装置EA1を用いて、マスクM上のパターンの像が投影光学系PLを介して、その1ロットのウェハ上の各ショット領域に順次露光転写される。
ステップS303では、まず、ウェハステージWS上にウェハWを配置する。光源1から光軸Axに沿って光が空間光変調ユニットSM1又は回折光学ユニット2に出力される。空間光変調ユニットSM1又は回折光学ユニット2を通過する際に光は、空間的に変調される。露光装置EA1では、空間光変調ユニットSM1及び回折光学ユニット2を所望の変形照明の形状に応じて光軸Axから挿脱可能である。
空間光変調ユニットSM1又は回折光学ユニット2で空間的に変調された光は、ズーム光学系3を介して、波面分割型のオプティカルインテグレータとしてのフライアイレンズ4の入射面に、例えば光軸Axを中心とする輪体円形状(輪帯状)の照野を形成する。フライアイレンズ4に入射した光は、フライアイレンズ4で波面分割が施される。これにより、その後側焦点面にフライアイレンズ4のレンズ素子と同数の光源像からなる二次光源を形成する。
フライアイレンズ4から射出された光は、コンデンサ光学系5に入射する。コンデンサ光学系5及びフライアイレンズ4により、マスクMのパターン面Maは均一に照明される。こうして、照明装置ILによってマスクMのパターン面Ma上に形成される照明領域からの光に基づいて、ウェハWの表面である投影面Wa上にパターン面Maの像が形成される。こうして、第1の面に位置するパターン面Maの像は、第2の面に配置されるウェハW上に投影露光される。
その後、ステップS304において、その1ロットのウェハ上のフォトレジストの現像が行われる。これにより、パターン面Maに対応する形状のマスク層がウェハWの投影面Wa上に形成される。
ステップS305において、ステップS304において形成されたマスク層を介してウェハWの投影面Waを加工する。具体的には、その1ロットのウェハ上でレジストパターンをマスクとしてエッチングを行うことによって、マスク上のパターンに対応する回路パターンが、各ウェハ上の各ショット領域に形成される。その後、更に上のレイヤの回路パターンの形成等を行うことによって、半導体素子等のデバイスが製造される。上述の半導体デバイス製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する半導体デバイスをスループット良く得ることができる。
また、上述の実施形態の露光装置では、プレート(ガラス基板)上に所定のパターン(回路パターン、電極パターン等)を形成することによって、マイクロデバイスとしての液晶表示素子を得ることもできる。以下、図8のフローチャートを参照して、このときの手法の一例につき説明する。図8において、パターン形成工程S401では、上述の実施形態の露光装置を用いてマスクのパターンを感光性基板(レジストが塗布されたガラス基板等)に転写露光する、所謂光リソグラフィー工程が実行される。この光リソグラフィー工程によって、感光性基板上には多数の電極等を含む所定パターンが形成される。その後、露光された基板は、現像工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の各工程を経ることによって、基板上に所定のパターンが形成され、次のカラーフィルター形成工程S402へ移行する。
次に、カラーフィルター形成工程S402では、R(Red)、G(Green)、B(Blue)に対応した3つのドットの組がマトリックス状に多数配列される。または、R、G、Bの3本のストライプのフィルターの組を複数水平走査線方向に配列したカラーフィルターを形成する。そして、カラーフィルター形成工程S402の後に、セル組み立て工程S403が実行される。セル組み立て工程S403では、パターン形成工程S401にて得られた所定パターンを有する基板、およびカラーフィルター形成工程S402にて得られたカラーフィルター等を用いて液晶パネル(液晶セル)を組み立てる。
セル組み立て工程S403では、例えば、パターン形成工程S401にて得られた所定パターンを有する基板とカラーフィルター形成工程S402にて得られたカラーフィルターとの間に液晶を注入して、液晶パネル(液晶セル)を製造する。その後、モジュール組み立て工程S404にて、組み立てられた液晶パネル(液晶セル)の表示動作を行わせる電気回路、バックライト等の各部品を取り付けて液晶表示素子として完成させる。上述の液晶表示素子の製造方法によれば、極めて微細な回路パターンを有する液晶表示素子をスループット良く得ることができる。なお、本実施形態は、半導体デバイス、液晶表示素子の製造プロセスへの適用に限定されることなく、例えば、プラズマディスプレイ等の製造プロセスや、撮像素子(CCD等)、マイクロマシーン、MEMS(Microelectromechanical Systems:微小電気機械システム)、薄膜磁気ヘッド、及びDNAチップ等の各種デバイスの製造プロセスにも広く適用できる。
空間光変調ユニットSM1の空間光変調器S1は、光が入射する位置に応じて、その光に空間的な変調を与える。そのため、例えば二極、四極、輪帯等の所望の瞳輝度分布を形成することが可能である。
また、空間光変調ユニットSM1は、空間光変調器S1の他に第1及び第2の反射面R11、R12を備える。そのため、所望の光路を形成するように光学系中に配置することが可能である。
本実施形態に係る露光装置EA1の空間光変調器S1は、空間光変調ユニットSM1を第2の反射面R12で反射してズーム光学系3に射出する光が、第1の反射面R11への入射光とその光路が一致するように光を変調している。すなわち、空間光変調ユニットSM1に入射する光の光路と、空間光変調ユニットSM1から射出する光の光路とが一致している。そのため、空間光変調ユニットSM1を挿入する場合も、又は回折光学ユニット2を挿入する場合も光路が変更されないので、空間光変調ユニットSM1を自由に露光装置EA1の光軸Axから挿脱することが可能である。
特に、空間光変調ユニットSM1を挿入した場合と、光軸Axから空間光変調ユニットSM1を外した場合とで、そこを通る光の空気換算長が変更されない。そのため、露光装置EA1では、構成を変更することなく空間光変調ユニットSM1を挿脱することが可能である。
空間光変調ユニットSM1の入射側と射出側とで光路を一致させることができるため、空間光変調ユニットSM1を用いる照明装置ILの構成を回折光学ユニット2を用いる照明光学系と共用化することができる。これにより、コストを抑制することが可能になる。
図9に第1実施形態に係る露光装置EA1の変形例であるマスクレス露光装置EA2の概略的な構成図を示す。変形例に係る露光装置EA2は、マスクの代わりに空間光変調ユニットSM2を備える点で、第1実施形態に係る露光装置EA1とは異なる。
空間光変調ユニットSM2は、空間光変調ユニットSM1同様、第1及び第2の反射面R21、R22、並びに空間光変調器S2を備える。露光装置EA2の照明装置ILは、空間光変調ユニットSM2の空間光変調器S2の反射面(第1の面)を照明する。投影光学系PLは、照明装置ILによって空間光変調器S2の反射面(第1の面)上に形成される照明領域からの光に基づいて、ウェハW上の投影面Wa(第2の面)上に第1の面の像を形成する。
(第2実施形態)
図10を参照して、第2実施形態に係る露光装置EA3の構成について説明する。図10は、第2実施形態に係る露光装置を概略的に示す構成図である。
第2実施形態による露光装置EA3は、装置の光軸Axに沿って、光源1と、空間光変調ユニットSM1を備える照明装置ILと、マスクMを支持するマスクステージMSと、投影光学系PLと、ウェハWを支持するウェハステージWSとを備える。
照明装置ILは、光軸Axに沿って、偏光状態制御部12と、照明装置ILの光路に対して挿脱可能なデポラライザ13と、空間光変調ユニットSM1と、回折光学ユニット2と、リレー光学系15と、アフォーカル光学系17と、偏光変換素子18と、円錐アキシコン系19と、ズーム光学系21と、折り曲げミラー22と、マイクロフライアイレンズ23と、コンデンサ光学系24と、照明視野絞り(マスクブラインド)25と、結像光学系26と、折り曲げミラー27とを備える。所望の瞳輝度分布を形成する空間光変調ユニットSM1及び回折光学ユニット2は何れも、照明装置ILの光路に対して挿脱可能である。
光源1から射出されたほぼ平行な光束は、光軸Axを中心として回転可能な1/4波長板及び1/2波長板を備える偏光状態制御部12を通過した後、所定の偏光状態の光束に変換され、空間光変調ユニットSM1又は回折光学ユニット2を介して、リレー光学系15を経てアフォーカル光学系17に入射する。なお、マスクMを非偏光状態の光で照明する場合には、偏光状態制御部12を介した光源1からの光束は、照明装置ILの光路に挿入されたデポラライザ13を経た後に空間光変調ユニットSM1又は回折光学ユニット2に入射する。このような偏光状態制御部12及びデポラライザ13に関しては、米国特許公開第2006/0170901A1号公報を参照することができる。
アフォーカル光学系17は、その前側焦点位置と図中破線で示す所定面16の位置とがほぼ一致し且つその後側焦点位置と図中破線で示す所定面20の位置とがほぼ一致するように設定されたアフォーカル系(無焦点光学系)である。一方、空間光変調ユニットSM1又は回折光学ユニット2は、図中破線で示す所定面16の位置と共役な位置に配置される。
したがって、光束変換素子としての空間光変調ユニットSM1又は回折光学ユニット2に入射したほぼ平行光束は、リレー光学系としてのアフォーカル光学系17の瞳面に一例として輪帯状の光強度分布を形成した後、ほぼ平行光束となってアフォーカル光学系17から射出される。なお、アフォーカル光学系17の前側レンズ群17aと後側レンズ群17bとの間の光路中においてその瞳位置またはその近傍には、偏光変換素子18及び円錐アキシコン系19が配置されている。
円錐アキシコン系19は、光源側から順に、光源側に平面を向け且つマスク側に凹円錐状の屈折面を向けた第1プリズム部材19aと、マスク側に平面を向け且つ光源側に凸円錐状の屈折面を向けた第2プリズム部材19bとから構成されている。そして、第1プリズム部材19aの凹円錐状の屈折面と第2プリズム部材19bの凸円錐状の屈折面とは、互いに当接可能なように相補的に形成されている。また、第1プリズム部材19aおよび第2プリズム部材19bのうち少なくとも一方の部材が光軸Axに沿って移動可能に構成され、第1プリズム部材19aの凹円錐状の屈折面と第2プリズム部材19bの凸円錐状の屈折面との間隔が可変に構成されている。円錐アキシコン系19の作用により、輪帯状の二次光源の幅が変化することなく、その輪帯比(内径/外径)および大きさ(外径)がともに変化する。
ここで、第1プリズム部材19aの凹円錐状屈折面と第2プリズム部材19bの凸円錐状屈折面とを互いに当接させると、円錐アキシコン系19は平行平面板として機能し、形成される輪帯状の二次光源に及ぼす影響はない。しかしながら、第1プリズム部材19aの凹円錐状屈折面と第2プリズム部材19bの凸円錐状屈折面とを離間させると、円錐アキシコン系19は、いわゆるビームエキスパンダーとして機能する。したがって、円錐アキシコン系19の間隔の変化に伴って、所定面20への入射光束の角度は変化する。
また、偏光変換素子18は、入射する直線偏光状態の光を、ほぼ周方向に偏光方向を有する周方向偏光状態の光又はほぼ径方向に偏光方向を有する径方向偏光状態の光に変換する機能を有する。このような偏光変換素子18に関しては、上記米国特許公開第2006/0170901A1号公報を参照することができる。
アフォーカル光学系17を介した光束は、σ値可変用のズーム光学系21及び折り曲げミラー22を介して、オプティカルインテグレータとしてのマイクロフライアイレンズ(またはフライアイレンズ)13に入射する。マイクロフライアイレンズ23は、縦横に且つ稠密に配列された多数の正屈折力を有する微小レンズからなる光学素子である。一般に、マイクロフライアイレンズは、たとえば平行平面板にエッチング処理を施して微小レンズ群を形成することによって構成される。
ここで、マイクロフライアイレンズを構成する各微小レンズは、フライアイレンズを構成する各レンズエレメントよりも微小である。また、マイクロフライアイレンズは、互いに隔絶されたレンズエレメントからなるフライアイレンズとは異なり、多数の微小レンズ(微小屈折面)が互いに隔絶されることなく一体的に形成されている。しかしながら、正屈折力を有するレンズ要素が縦横に配置されている点でマイクロフライアイレンズはフライアイレンズと同じ波面分割型のオプティカルインテグレータである。
所定面20の位置はズーム光学系21の前側焦点位置の近傍に配置され、マイクロフライアイレンズ23の入射面はズーム光学系21の後側焦点位置の近傍に配置されている。ズーム光学系21の作用により、輪帯状の二次光源の輪帯比が変化することなく、その幅および大きさ(外径)がともに変化する。ズーム光学系21は、所定面20とマイクロフライアイレンズ23の入射面とを実質的にフーリエ変換の関係に配置し、ひいてはアフォーカル光学系7の瞳面とマイクロフライアイレンズ23の入射面とを光学的にほぼ共役に配置している。
したがって、マイクロフライアイレンズ23の入射面上には、アフォーカル光学系17の瞳面と同様に、たとえば光軸Axを中心とした輪帯状の照野が形成される。この輪帯状の照野の全体形状は、ズーム光学系21の焦点距離に依存して相似的に変化する。マイクロフライアイレンズ23を構成する各微小レンズは、マスクM上において形成すべき照野の形状(ひいてはウェハW上において形成すべき露光領域の形状)と相似な矩形状の断面を有する。
マイクロフライアイレンズ23に入射した光束は多数の微小レンズにより二次元的に分割され、その後側焦点面またはその近傍(ひいては照明瞳面)には、入射光束によって形成される照野とほぼ同じ光強度分布を有する二次光源、すなわち光軸Axを中心とした輪帯状の実質的な面光源からなる二次光源が形成される。マイクロフライアイレンズ23の後側焦点面またはその近傍に形成された二次光源からの光束は、コンデンサ光学系24を介した後、マスクブラインド25を重畳的に照明する。
こうして、照明視野絞りとしてのマスクブラインド25には、マイクロフライアイレンズ23を構成する各微小レンズの形状と焦点距離とに応じた矩形状の照野が形成される。マスクブラインド25の矩形状の開口部(光透過部)を介した光束は、結像光学系26の集光作用を受けた後、所定のパターンが形成されたマスクMを重畳的に照明する。すなわち、結像光学系26は、マスクブラインド25の矩形状開口部の像をマスクM上に形成することになる。
マスクステージMS上に保持されたマスクMのパターンを透過した光束は、投影光学系PLを介して、ウェハステージWS上に保持されたウェハ(感光性基板)W上にマスクパターンの像を形成する。こうして、投影光学系PLの光軸Axと直交する平面内においてウェハステージWSを二次元的に駆動制御しながら、ひいてはウェハWを二次元的に駆動制御しながら一括露光またはスキャン露光を行うことにより、ウェハWの各露光領域にはマスクMのパターンが順次露光される。
なお、アフォーカル光学系(リレー光学系)7と円錐アキシコン系19とズーム光学系(変倍光学系)11とは、空間光変調ユニットSM1又は回折光学ユニット2とマイクロフライアイレンズ(オプティカルインテグレータ)13との間の光路中に配置されて照明瞳面に形成される二次光源(実質的な面光源)の大きさおよび形状を変化させるための整形光学系を構成している。
空間光変調ユニットSM1は、図10では回折光学ユニット2と切り替え可能なように配置されているが、例えば図10の破線で示される面16に配置してもよい。面16の位置は、回折光学ユニット2の位置とは光学的に共役な位置に相当する。
この場合、空間光変調ユニットSM1は、図11に示されるように、光源1から出力される光束の一部のみが通過するように、光軸Ax上に配置してもよい。図11に示される空間光変調ユニットSM1では、例えば図4に示されるような配置に比べ、空間光変調器S1は光軸Axに沿った方向で、第1及び第2の反射面R11、R12に対して相対的に光源1側に移動した配置となっている。このような配置により、例えば光源1から出力される光束のうち光線L1及びL3は、空間光変調ユニットSM1のプリズムP1内に入射することなく、アフォーカル光学系17に入射する。一方、光源1から出力される光束のうち光線L2及びL4は、空間光変調ユニットSM1のプリズムP1内に入射し、第1の反射面R11、空間光変調器S1、及び第2の反射面R12で反射された後、プリズムP1から射出してアフォーカル光学系17に入射する。
この場合、空間光変調器S1は、例えば図10の破線で示される面16の位置に固定することができる。そして、図11から明らかなように、プリズムP1の第1の反射面R11からプリズムP1の第2の反射面R12までの光路であって、空間光変調器S1が配置され得る第1位置を介する光路である第1光路と、回折光学ユニット2と切り替え可能なように空間光変調ユニットSM1を面16の位置に配置する場合のプリズムP1の第1の反射面R11が配置され得る位置からプリズムP1の第2の反射面R12が配置され得る位置までの光路であって、回折光学ユニット2の回折光学素子2bが配置され得る第2光路とを同時に用いるができる。また、この場合、光源1からプリズムP1の第1の反射面R11が配置され得る位置までの光路が第3光路として機能する。回折光学ユニット2と切り替え可能なように空間光変調ユニットSM1を面16の位置に配置する場合にプリズムP1の第2の反射面R12が配置され得る位置から被照射面までの光路が第4光路として機能する。
空間光変調ユニットSM1を所定の面16の位置に配置し、図11で示したように、光束の一部のみを空間光変調ユニットSM1の空間光変調器S1で反射させることにより、例えば図12〜図14に示されるような瞳強度の補正を行うことができる。図12は、回折光学ユニット2を通過し且つ空間光変調ユニットSM1を通過しない光束によって形成される瞳輝度分布を示す。図13は、回折光学ユニット2を通過せず、空間光変調ユニットSM1を通過する光束によって形成される瞳輝度分布を示す。図14は、図12の瞳輝度分布と図13の瞳輝度分布とを瞳面で重ねた瞳輝度分布を示す。なお、図12〜図14の濃淡は、瞳面での輝度の強弱(濃いほど輝度が強い)を表す。
すなわち、回折光学ユニット2は、空間光変調ユニットSM1の空間光変調器S1を経由しない光によって、図12に示されるように、紙面上において左から右に向かって輝度が弱くなるような第1の瞳輝度分布を形成する。一方、空間光変調ユニットSM1の空間光変調器S1は、図13に示されるように、第1の瞳輝度分布と少なくとも一部が重畳する、輝度が強く且つ略均一な第2の瞳輝度分布を形成する。そして、図14に示されるように瞳面上で輝度が不均一な第1の瞳輝度分布に、第1の瞳輝度分布の輝度が弱い部分を補強するような第2の瞳輝度分布を重ね合わせることで、全面的に略均一な瞳輝度分布を得ることができる。なお、上述の例では、全面的に略均一な瞳輝度分布を生成したが、生成される瞳輝度分布は略均一なものには限定されない。一例としてマスクMのパターンの転写状態を調整するために瞳輝度分布を不均一なものに変更することも可能である。
また、空間光変調ユニットSM1では、空間光変調ユニットSM1を挿入した場合と、光軸Axから空間光変調ユニットSM1を外した場合とで、そこを通る光の空気換算長が変更されない。そのため、光線L1、L3による空気換算長と光線L2、L4による空気換算長とは同じであり、空間光変調ユニットSM1を通過した光と通過しなかった光とを、容易に合成して扱える。
なお、空間光変調ユニットSM1を所定の面16の位置に挿入する場合、例えば図15及び図16に示す構成による空間光変調ユニットSM3を用いてもよい。図15は、空間光変調ユニットSM3の第1及び第2の反射面R31、R32が光軸Axと交差するように空間光変調ユニットSM3が配置された場合の配置を示す図である。図16は、空間光変調ユニットSM3の第1及び第2の反射面R31、R32が光軸Axと交差しないように空間光変調ユニットSM3が配置された場合の配置を示す図である。
空間光変調ユニットSM3は、V字型のプリズム(反射部材)P3と空間光変調器S3とを備える。空間光変調器S3は、空間光変調ユニットSM1とは異なり、プリズムP3と一体的に構成されていない。
鈍角である所定の角度をなして隣接するプリズムP3上に設けられた一対の表面反射面が、第1及び第2の反射面R31、R32に相当する。また、図15及び図16に示されるように、プリズムP3と空間光変調器S3とは、光軸Axと交差する方向での位置関係を相対的に変更することができる。すなわち、空間光変調器S3は固定したまま、第1及び第2の反射面R31、R32が光軸Axと交差するように、プリズムP3を移動する。
本実施形態に係る露光装置EA3の空間光変調器S1は、空間光変調ユニットSM1を第2の反射面R12で反射してリレー光学系15に射出する光が、第1の反射面R11への入射光と、その光路が一致するように光を変調している。すなわち、空間光変調ユニットSM1に入射する光の光路と、空間光変調ユニットSM1から射出する光の光路とが一致している。そのため、空間光変調ユニットSM1を挿入する場合も、又は回折光学ユニット2を挿入する場合も光路が変更されないので、空間光変調ユニットSM1を自由に露光装置EA3の光軸Axから挿脱することが可能である。
また、空間光変調ユニットSM1に入射する光の光路と、空間光変調ユニットSM1から射出する光の光路とが一致していることから、照明装置ILの構成を大きく変更することなく、空間光変調ユニットSM1を所定の面16の位置に挿脱できる。
特に、空間光変調ユニットSM1を挿入した場合と、光軸Axから空間光変調ユニットSM1を外した場合とで、そこを通る光の空気換算長が変更されない。そのため、露光装置EA3では、照明装置ILの構成を変更することなく空間光変調ユニットSM1を挿脱することが可能である。
空間光変調ユニットSM1の入射側と射出側とで光路を一致させることができるため、空間光変調ユニットSM1を用いる照明装置ILの構成を回折光学ユニット2を用いる照明光学系と共用化することができる。これにより、コストを抑制することが可能になる。
以上、実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、様々な変形が可能である。例えば、上記実施形態においては、二次元的に配列されて個別に制御される複数の反射要素を有する空間光変調器として、たとえば二次元的に配列されて反射面の傾きを個別に制御可能な空間光変調器が用いられている。このような空間光変調器としては、たとえば特表平10−503300号公報およびこれに対応する欧州特許公開第779530号公報、特開2004−78136号公報およびこれに対応する米国特許第6,900,915号公報、特表2006−524349号公報およびこれに対応する米国特許第7,095,546号公報、並びに特開2006−113437号公報に開示される空間光変調器を用いることができる。これらの空間光変調器では、空間光変調器の個別の反射面を介したそれぞれの光が所定の角度で分布形成光学系に入射し、複数の光学要素への制御信号に応じた所定の光強度分布を照明瞳面において形成することができる。
また、空間光変調器としては、たとえば二次元的に配列されて反射面の高さを個別に制御可能な空間光変調器を用いることもできる。このような空間光変調器としては、たとえば特開平6−281869号公報及びこれに対応する米国特許第5,312,513号公報、並びに特表2004−520618号公報およびこれに対応する米国特許第6,885,493号公報の図1dに開示される空間光変調器を用いることができる。これらの空間光変調器では、二次元的な高さ分布を形成することで回折面と同様の作用を入射光に与えることができる。
なお、上述した二次元的に配列された複数の反射面を持つ空間光変調器を、たとえば特表2006−513442号公報およびこれに対応する米国特許第6,891,655号公報や特表2005−524112号公報およびこれに対応する米国特許公開第2005/0095749号公報の開示に従って変形しても良い。
また、空間光変調ユニットSM1、SM2を挿入した場合と、光軸Axから空間光変調ユニットSM1、SM2を外した場合とで、そこを通る光の空気換算長が変更されてもよい。また、空間光変調ユニットSM1、SM2のプリズムP1、P2の形状は上記実施形態及び変形例に示した形状に限られない。
また、空間光変調ユニットSM1、SM2によって形成される瞳輝度分布を計測するための瞳輝度分布計測装置を、照明装置IL内又は露光装置EA1、EA2、EA3内に設けても良い。照明装置IL内に瞳輝度分布計測装置を組み込んだものとしては、例えば特開2006−54328号公報を参照することができ、露光装置EA1、EA2、EA3内に瞳輝度分布計測装置を組み込んだものとしては、例えば米国特許公開第2006/0170901A1号公報を参照することができる。このような瞳輝度分布計測装置による計測結果に基づいて、空間光変調ユニットSM1、SM2が形成する瞳輝度分布を所望の瞳輝度分布に調整するために、空間光変調ユニットSM1、SM2への駆動信号を補正することも可能である。
なお、上述の実施形態において、光源1として、例えば波長193nmのパルスレーザ光を供給するArFエキシマレーザ光源や、波長248nmのパルスレーザ光を供給するKrFエキシマレーザ光源を用いていることができる。また、これに限定されることなく、たとえばFレーザ光源や超高圧水銀ランプのような他の適当な光源を用いることもできる。また、上述の実施形態では、走査型の露光装置に対して本発明を適用しているが、これに限定されることなく、投影光学系に対してレチクル(マスク)およびウェハ(感光性基板)を静止させた状態で投影露光を行う一括露光型の露光装置に対しても本発明を適用することができる。
また、上述の実施形態において、投影光学系と感光性基板との間の光路中を1.1よりも大きな屈折率を有する媒体(典型的には液体)で満たす手法、所謂液浸法を適用しても良い。この場合、投影光学系と感光性基板との間の光路中に液体を満たす手法としては、国際公開第WO99/49504号パンプレットに開示されているような局所的に液体を満たす手法や、特開平6−124873号公報に開示されているような露光対象の基板を保持したステージを液槽の中で移動させる手法や、特開平10−303114号公報に開示されているようなステージ上に所定深さの液体槽を形成し、その中に基板を保持する手法などを採用することができる。
このように本発明は上述の実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構成を取り得る。
以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。また、上記実施形態の各構成要素等は、いずれの組み合わせ等も可能とすることができる。
第1実施形態に係る露光装置を概略的に示す構成図である。 空間光変調ユニットと回折光学ユニットとの配置の関係を説明するための図である。 空間光変調ユニットと回折光学ユニットとの配置の関係を説明するための図である。 図2に示された空間光変調ユニットのIV-IV断面の構成を説明するための図である。 空間光変調ユニットが備える空間光変調器の部分斜視図である。 帯照明を行った場合の照野の形状を示す図である。 半導体デバイスの製造方法のフローチャート図である。 液晶表示素子の製造方法のフローチャート図である。 第1実施形態に係る露光装置の変形例であるマスクレス露光装置の概略的に示す構成図である。 第2実施形態に係る露光装置を概略的に示す構成図である。 空間光変調ユニットの配置を説明するための図である。 回折光学ユニットを通過し且つ空間光変調ユニットを通過しない光束によって形成される瞳輝度分布を示す図である。 回折光学ユニットを通過せず、空間光変調ユニットを通過する光束によって形成される瞳輝度分布を示す図である。 第1及び第2の瞳輝度分布を瞳面で重ねた瞳輝度分布を示す図である。 空間光変調ユニットの配置を説明するための図である。 空間光変調ユニットの配置を説明するための図である。
符号の説明
EA1〜EA3…露光装置、1…光源、IL…照明装置、SM1〜SM3…空間光変調ユニット、P1〜P3…プリズム、S1〜S3…空間光変調器、2…回折光学ユニット、3…ズーム光学系、4…フライアイレンズ、5、24…コンデンサ光学系、6、22、27…折り曲げミラー、12…偏光状態切替部、13…偏光ビームスプリッタ、15…リレー光学系、17…アフォーカル光学系、18…偏光変換素子、19…円錐アキシコン系、21…ズーム光学系、23…マイクロフライアイレンズ、25…マスクブラインド、26…結像光学系、M…マスク、W…ウェハ。

Claims (40)

  1. 光学系中に配置可能であって、且つ当該光学系の光軸に沿って配置可能な空間光変調ユニットであって、
    前記光学系の光軸と平行に入射した光を反射する第1の偏向面と、
    前記第1の偏向面で偏向した光を反射する反射型の空間光変調器と、
    前記空間光変調器で反射した光を偏向して前記光学系中に射出する第2の偏向面と、を備え、
    前記空間光変調器は、前記第1の偏向面で偏向した光の当該空間光変調器に入射する位置に応じて、その光に空間的な変調を与えることを特徴とする空間光変調ユニット。
  2. 前記第2の偏向面は反射面を有することを特徴とする請求項1に記載の空間光変調ユニット。
  3. 前記第1の偏向面は反射面を有することを特徴とする請求項2に記載の空間光変調ユニット。
  4. 前記第1及び第2の偏向面は内面反射面を有することを特徴とする請求項3に記載の空間光変調ユニット。
  5. 前記第1及び第2の反射面は何れも1つのプリズムの反射面であり、前記空間光変調器が前記プリズムに一体的に取り付けられていることを特徴とする請求項4に記載の空間光変調ユニット。
  6. 前記プリズムへの入射位置から前記プリズムからの射出位置までの空気換算長と、前記プリズムが前記光学系中に配置されていない場合における前記入射位置に相当する位置から前記射出位置に相当する位置までの空気換算長が同じであることを特徴とする請求項4又は5に記載の空間光変調ユニット。
  7. 前記空間光変調器は、前記光学系の前記光軸に沿った方向で、前記第1及び第2の偏向面に対して相対的に移動することが可能であることを特徴とする請求項1〜6の何れか一項記載の空間光変調ユニット。
  8. 前記第1及び第2の偏向面は表面反射面を有することを特徴とする請求項3に記載の空間光変調ユニット。
  9. 前記第1及び第2の偏向面は、所定の角度をなして反射部材上に設けられた一対の反射面であることを特徴とする請求項8に記載の光変調ユニット。
  10. 前記反射部材と前記空間光変調器とは、前記光学系の前記光軸と交差する方向での位置関係を相対的に変更することが可能であることを特徴とする請求項9に記載の空間光変調ユニット。
  11. 前記第1及び第2の偏向面と前記前記空間光変調器とは、前記光学系の前記光軸と交差する方向での位置関係を相対的に変更することが可能であることを特徴とする請求項1〜7の何れか一項に記載の空間光変調ユニット。
  12. 前記空間光変調器は、二次元的に配列された複数の反射素子を有し、
    前記複数の反射素子はそれぞれ独立に制御可能であることを特徴とする請求項1〜11の何れか一項記載の空間光変調ユニット。
  13. 前記空間光変調器の前記複数の反射素子はそれぞれ反射面を有し、
    前記複数の反射素子の反射面の傾きを独立に制御することが可能であることを特徴とする請求項12記載の空間光変調ユニット。
  14. 前記空間光変調器は、前記第2の反射面で反射して前記光学系中に射出する光が前記第1の反射面への入射光と平行になるように光を変調できることを特徴とする請求項1〜13の何れか一項記載の空間光変調ユニット。
  15. 光学系中に配置可能であって、且つ当該光学系の光軸に沿って配置可能な空間光変調ユニットであって、
    前記光学系の光軸に対して斜設される第1の反射面と、
    前記光学系の光軸に対して斜設される第2の反射面と、
    前記第1の反射面と前記第2の反射面との間の光路中に配置可能に設けられた空間光変調器と、を備え、
    前記空間光変調器は、前記空間光変調器に入射する光の前記空間光変調器での位置に応じて、その光に空間的な変調を与えることを特徴とする空間光変調ユニット。
  16. 前記第1の反射面は第1の平面上に位置し、
    前記第2の反射面は前記第1の平面と交差する第2の平面上に位置することを特徴とする請求項15に記載の空間光変調ユニット。
  17. 前記第1及び第2の平面によって形成される稜線は前記第1及び第2の反射面に対して前記空間光変調器側に向けられ、前記第1及び第2の反射面同士のなす角は鈍角であることを特徴とする請求項16に記載の空間光変調ユニット。
  18. 光源から供給される光によって第1の面を照明する照明装置において、
    請求項1〜17の何れか一項記載の空間光変調ユニットを備えることを特徴とする照明装置。
  19. 所望の瞳輝度分布を形成する回折光学素子をさらに備え、
    前記空間光変調器は、前記回折光学素子と共役な位置に配置することが可能であることを特徴とする請求項18に記載の照明装置。
  20. 所望の瞳輝度分布を形成し、所定の設置面に設置することが可能な回折光学素子をさらに備え、
    前記空間光変調器は、前記所定の設置面と光学的に等価な位置に配置することが可能であることを特徴とする請求項18に記載の照明装置。
  21. 前記回折光学素子は、前記照明装置の光路に対して挿脱可能であることを特徴とする請求項19又は20に記載の照明装置。
  22. 光源からの光に基づいて被照射面を照明する照明装置において、
    二次元的に配列されて個別に制御される複数の光学要素を有する空間光変調器と;
    前記照明装置中に配置可能な回折光学素子と;
    前記空間光変調器が、その第1位置に配置され得る第1光路と;
    前記回折光学素子が、その第2位置に配置され得る第2光路と;
    前記光源と前記第1光路との間の光路であって、且つ前記光源と前記第2光路との間の光路である第3光路と;
    前記第1光路と前記被照射面との間の光路であって、且つ前記第2光路と前記被照射面との間の光路である第4光路と;
    を備え、
    前記第1光路と前記第2光路とは切替可能であり、且つ前記第3光路の出口での光軸と前記第4光路の入り口での光軸とが共軸(coaxial)であることを特徴とする照明装置。
  23. 前記第3光路からの光を前記空間光変調器へ向ける第1光学面と、前記空間光変調器を介した光を前記第4光路へ向ける第2光学面とを備えていることを特徴とする請求項22に記載の照明装置。
  24. 前記第1光学面と前記第2光学面とは、前記照明装置の光路中に挿脱可能であることを特徴とする請求項23に記載の照明装置。
  25. 前記第1および第2光学面は、一体的に前記照明装置の光路中に挿脱可能であることを特徴とする請求項24に記載の照明装置。
  26. 前記空間光変調器は、前記照明装置の光路中に挿脱可能であることを特徴とする請求項22〜25の何れか一項に記載の照明装置。
  27. 前記空間光変調器は、所定の位置に固定されていることを特徴とする請求項22〜25の何れか一項に記載の照明装置。
  28. 前記第1光路と前記第2光路とを同時に用いることを特徴とする請求項22〜26の何れか一項に記載の照明装置。
  29. 前記第1および第2光学面は反射面を有することを特徴とする請求項23〜27の何れか一項に記載の照明装置。
  30. 前記空間光変調器は、二次元的に配列された複数の反射素子を有し、
    前記複数の反射素子はそれぞれ独立に制御可能であることを特徴とする請求項22〜29の何れか一項記載の照明装置。
  31. 前記空間光変調器の前記複数の反射素子はそれぞれ反射面を有し、
    前記複数の反射素子の反射面の傾きを独立に制御することが可能であることを特徴とする請求項30記載の照明装置。
  32. 第1の面の像を第2の面に投影する露光装置であって、
    前記第1の面を照明する請求項18〜31の何れか一項に記載の照明装置と、
    前記照明装置によって前記第1の面上に形成される照明領域からの光に基づいて、前記第2の面上に前記第1の面の像を形成する投影光学系と、を備えることを特徴とする露光装置。
  33. 第1の面の像を第2の面に投影する露光装置であって、
    前記第1の面を照明する照明装置と、
    請求項1〜17の何れか一項に記載の空間光変調ユニットと、
    前記照明装置によって前記第1の面上に形成される照明領域からの光に基づいて、前記第2の面上に前記第1の面の像を形成する投影光学系と、を備え、
    前記空間光変調ユニットの空間光変調器は前記第1の面に配置されることを特徴とする露光装置。
  34. デバイスの製造方法であって、
    感光性基板を準備する工程と、
    請求項32又は33に記載の露光装置の前記第2の面に前記感光性基板を配置して、前記第1の面に位置する所定のパターンの像を前記感光性基板上に投影露光する工程と、
    前記マスクのパターンの前記像が投影された前記感光性基板を現像し、前記パターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成する工程と、
    前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工する加工工程と、
    を備えることを特徴とするデバイスの製造方法。
  35. 光源から供給される光によって第1の面を照明する照明装置において、
    請求項1〜17の何れか一項に記載の空間光変調ユニットと、
    該空間光変調ユニットの空間光変調器を経由しない光によって第1の瞳輝度分布を形成する回折光学素子と、を備え、
    前記空間光変調ユニットの空間光変調器からの光によって、前記第1の瞳輝度分布と少なくとも一部が重畳する第2の瞳輝度分布を形成することを特徴とする照明装置。
  36. 光源から供給される光によって第1の面を照明する照明装置において、
    入射する位置に応じてその光に空間的な変調を与える空間光変調器を備える空間光変調ユニットと、
    該空間光変調ユニットの空間光変調器を経由しない光によって第1の瞳輝度分布を形成する回折光学素子と、を備え、
    前記空間光変調ユニットの空間光変調器からの光によって、前記第1の瞳輝度分布と少なくとも一部が重畳する第2の瞳輝度分布を形成することを特徴とする照明装置。
  37. 前記空間光変調器は、二次元的に配列された複数の反射素子を有し、
    前記複数の反射素子はそれぞれ独立に制御可能であることを特徴とする請求項36記載の照明装置。
  38. 前記空間光変調器の前記複数の反射素子はそれぞれ反射面を有し、
    前記複数の反射素子の反射面の傾きを独立に制御することが可能であることを特徴とする請求項37記載の照明装置。
  39. 第1の面の像を第2の面に投影する露光装置であって、
    前記第1の面を照明する請求項36に記載の照明装置と、
    前記照明装置によって前記第1の面上に形成される照明領域からの光に基づいて、前記第2の面上に前記第1の面の像を形成する投影光学系と、を備えることを特徴とする露光装置。
  40. デバイスの製造方法であって、
    感光性基板を準備する工程と、
    請求項39に記載の露光装置の前記第2の面に前記感光性基板を配置して、前記第1の面に位置する所定のパターンの像を前記感光性基板上に投影露光する工程と、
    前記マスクのパターンの前記像が投影された前記感光性基板を現像し、前記パターンに対応する形状のマスク層を前記感光性基板の表面に形成する工程と、
    前記マスク層を介して前記感光性基板の表面を加工する加工工程と、
    を備えることを特徴とするデバイスの製造方法。
JP2008257756A 2007-10-03 2008-10-02 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法 Pending JP2009093175A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US96054607P 2007-10-03 2007-10-03
US12/208,155 US20090091730A1 (en) 2007-10-03 2008-09-10 Spatial light modulation unit, illumination apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009093175A true JP2009093175A (ja) 2009-04-30

Family

ID=40522961

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008257756A Pending JP2009093175A (ja) 2007-10-03 2008-10-02 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20090091730A1 (ja)
EP (1) EP2195710A1 (ja)
JP (1) JP2009093175A (ja)
KR (1) KR20100083801A (ja)
CN (1) CN101743515B (ja)
TW (1) TW200935179A (ja)
WO (1) WO2009044929A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010128327A (ja) * 2008-11-28 2010-06-10 Hamamatsu Photonics Kk 光変調装置
JP2013251583A (ja) * 2007-09-14 2013-12-12 Nikon Corp 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法
CN105242495A (zh) * 2014-05-26 2016-01-13 上海微电子装备有限公司 光刻曝光装置
US9285579B2 (en) 2008-11-28 2016-03-15 Hamamatsu Photonics K.K. Light modulating device and laser processing device
KR20200075034A (ko) * 2009-06-23 2020-06-25 시리얼 테크놀로지즈 에스.에이. 복소 정보를 갖는 파동장을 변조하는 공간 광변조 장치

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2157480B1 (en) * 2003-04-09 2015-05-27 Nikon Corporation Exposure method and apparatus, and device manufacturing method
TWI474132B (zh) 2003-10-28 2015-02-21 尼康股份有限公司 照明光學裝置、投影曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
TWI519819B (zh) 2003-11-20 2016-02-01 尼康股份有限公司 光束變換元件、光學照明裝置、曝光裝置、以及曝光方法
TWI395068B (zh) * 2004-01-27 2013-05-01 尼康股份有限公司 光學系統、曝光裝置以及曝光方法
TWI505329B (zh) 2004-02-06 2015-10-21 尼康股份有限公司 光學照明裝置、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
TW200923418A (en) * 2005-01-21 2009-06-01 Nikon Corp Exposure device, exposure method, fabricating method of device, exposure system, information collecting device, and measuring device
JP5267029B2 (ja) 2007-10-12 2013-08-21 株式会社ニコン 照明光学装置、露光装置及びデバイスの製造方法
KR101562073B1 (ko) * 2007-10-16 2015-10-21 가부시키가이샤 니콘 조명 광학 시스템, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
KR101546987B1 (ko) * 2007-10-16 2015-08-24 가부시키가이샤 니콘 조명 광학 시스템, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
US8379187B2 (en) 2007-10-24 2013-02-19 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9116346B2 (en) * 2007-11-06 2015-08-25 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP5582287B2 (ja) * 2007-11-06 2014-09-03 株式会社ニコン 照明光学装置及び露光装置
WO2009145048A1 (ja) 2008-05-28 2009-12-03 株式会社ニコン 空間光変調器の検査装置および検査方法、照明光学系、照明光学系の調整方法、露光装置、およびデバイス製造方法
JPWO2010024106A1 (ja) * 2008-08-28 2012-01-26 株式会社ニコン 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
EP2343596B1 (en) * 2008-10-31 2013-12-18 NEC Display Solutions, Ltd. Projector and its controlling method
JP5390691B2 (ja) * 2009-03-19 2014-01-15 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー マイクロリソグラフィ投影露光装置の照明系
US8608320B2 (en) * 2009-03-26 2013-12-17 Nec Display Solutions, Ltd. Projector and method for controlling the same
US20110037962A1 (en) * 2009-08-17 2011-02-17 Nikon Corporation Polarization converting unit, illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2011108851A (ja) * 2009-11-17 2011-06-02 Canon Inc 露光装置及びデバイスの製造方法
KR101970091B1 (ko) 2010-02-03 2019-08-13 가부시키가이샤 니콘 조명 광학 장치, 조명 방법, 및 노광 방법 및 장치
KR20120116329A (ko) * 2010-02-20 2012-10-22 가부시키가이샤 니콘 광원 최적화 방법, 노광 방법, 디바이스 제조 방법, 프로그램, 노광 장치, 리소그래피 시스템, 광원 평가 방법 및 광원 변조 방법
US20110205519A1 (en) * 2010-02-25 2011-08-25 Nikon Corporation Polarization converting unit, illumination optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2012004465A (ja) 2010-06-19 2012-01-05 Nikon Corp 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
TWI519816B (zh) * 2011-06-13 2016-02-01 尼康股份有限公司 照明光學系統、曝光裝置以及元件製造方法
DE102012216284A1 (de) * 2011-09-27 2013-03-28 Carl Zeiss Smt Gmbh Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage
CN102495536B (zh) * 2011-12-30 2015-08-05 上海集成电路研发中心有限公司 光刻机
WO2013184700A1 (en) 2012-06-04 2013-12-12 Pinebrook Imaging, Inc. An optical projection array exposure system
EP2876499B1 (en) * 2013-11-22 2017-05-24 Carl Zeiss SMT GmbH Illumination system of a microlithographic projection exposure apparatus
WO2015113408A1 (zh) * 2014-01-28 2015-08-06 上海普利生机电科技有限公司 光固化型3d打印设备及其图像曝光系统
JP6668004B2 (ja) * 2015-06-09 2020-03-18 カンタツ株式会社 回路パターン製造装置、回路パターン製造方法および回路パターン製造プログラム
JP6892727B2 (ja) 2016-09-26 2021-06-23 カンタツ株式会社 パターン製造装置、パターン製造方法およびパターン製造プログラム
JP6839476B2 (ja) 2016-09-26 2021-03-10 カンタツ株式会社 パターン形成用シート
JP2018182126A (ja) 2017-04-17 2018-11-15 カンタツ株式会社 パターン形成用シート、パターン製造装置およびパターン製造方法
CN109426091B (zh) * 2017-08-31 2021-01-29 京东方科技集团股份有限公司 曝光装置、曝光方法及光刻方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08313842A (ja) * 1995-05-15 1996-11-29 Nikon Corp 照明光学系および該光学系を備えた露光装置
JP2002353105A (ja) * 2001-05-24 2002-12-06 Nikon Corp 照明光学装置,該照明光学装置を備えた露光装置,およびマイクロデバイスの製造方法
WO2005017483A1 (ja) * 2003-08-18 2005-02-24 Nikon Corporation 照度分布の評価方法、光学部材の製造方法、照明光学装置、露光装置および露光方法
WO2005062350A1 (ja) * 2003-12-19 2005-07-07 Nikon Corporation 光束変換素子、露光装置、照明光学系及び露光方法
WO2006035775A1 (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Hamamatsu Photonics K.K. 空間光変調装置、光学処理装置、カップリングプリズム、及び、カップリングプリズムの使用方法

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5312513A (en) * 1992-04-03 1994-05-17 Texas Instruments Incorporated Methods of forming multiple phase light modulators
US5461410A (en) * 1993-03-29 1995-10-24 Texas Instruments Incorporated Gray scale printing using spatial light modulators
US5815248A (en) * 1993-04-22 1998-09-29 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and method having a wavefront splitter and an optical integrator
SE0100336L (sv) * 2001-02-05 2002-08-06 Micronic Laser Systems Ab Adresseringsmetod och apparat som använder densamma tekniskt område
US7015491B2 (en) * 2001-06-01 2006-03-21 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method and device manufactured thereby, control system
US6737662B2 (en) * 2001-06-01 2004-05-18 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus, device manufacturing method, device manufactured thereby, control system, computer program, and computer program product
US6819490B2 (en) * 2001-09-10 2004-11-16 Micronic Laser Systems Ab Homogenization of a spatially coherent radiation beam and printing and inspection, respectively, of a pattern on a workpiece
US6900915B2 (en) * 2001-11-14 2005-05-31 Ricoh Company, Ltd. Light deflecting method and apparatus efficiently using a floating mirror
US6577429B1 (en) * 2002-01-15 2003-06-10 Eastman Kodak Company Laser projection display system
WO2003075328A1 (fr) * 2002-03-01 2003-09-12 Nikon Corporation Procede de reglage d'un systeme optique de projection, procede de prediction, procede d'evaluation, procede de reglage, procede d'exposition, dispositif d'exposition, programme et procede de fabrication dudit dispositif
US20050095749A1 (en) * 2002-04-29 2005-05-05 Mathias Krellmann Device for protecting a chip and method for operating a chip
TWI281099B (en) * 2002-12-02 2007-05-11 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method
TW200412617A (en) * 2002-12-03 2004-07-16 Nikon Corp Optical illumination device, method for adjusting optical illumination device, exposure device and exposure method
US6891655B2 (en) * 2003-01-02 2005-05-10 Micronic Laser Systems Ab High energy, low energy density, radiation-resistant optics used with micro-electromechanical devices
US7095546B2 (en) * 2003-04-24 2006-08-22 Metconnex Canada Inc. Micro-electro-mechanical-system two dimensional mirror with articulated suspension structures for high fill factor arrays
JP4244156B2 (ja) * 2003-05-07 2009-03-25 富士フイルム株式会社 投影露光装置
EP1668421A2 (en) * 2003-09-12 2006-06-14 Carl Zeiss SMT AG Illumination system for a microlithography projection exposure installation
JP2005123586A (ja) * 2003-09-25 2005-05-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 投影装置および投影方法
TW200521477A (en) * 2003-09-25 2005-07-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Projector and projection method
EP1709405A1 (en) * 2003-09-26 2006-10-11 Tidal Photonics, Inc. Apparatus and methods relating to enhanced spectral measurement systems
TWI474132B (zh) * 2003-10-28 2015-02-21 尼康股份有限公司 照明光學裝置、投影曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
PT1704437E (pt) * 2004-01-16 2015-10-20 Carl Zeiss Vision Gmbh Dispositivo e processo para a determinação de dados de centragem para óculos
TWI505329B (zh) * 2004-02-06 2015-10-21 尼康股份有限公司 光學照明裝置、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法
JP2005309380A (ja) * 2004-03-26 2005-11-04 Fuji Photo Film Co Ltd 画像露光装置
JP2005302825A (ja) * 2004-04-07 2005-10-27 Canon Inc 露光装置
US20060138349A1 (en) * 2004-12-27 2006-06-29 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
TW200923418A (en) * 2005-01-21 2009-06-01 Nikon Corp Exposure device, exposure method, fabricating method of device, exposure system, information collecting device, and measuring device
JP2006208432A (ja) * 2005-01-25 2006-08-10 Fuji Photo Film Co Ltd 露光方法および装置
JP2006216917A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Canon Inc 照明光学系、露光装置およびデバイス製造方法
US7317506B2 (en) * 2005-03-29 2008-01-08 Asml Netherlands B.V. Variable illumination source
US7548302B2 (en) * 2005-03-29 2009-06-16 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7400382B2 (en) * 2005-04-28 2008-07-15 Asml Holding N.V. Light patterning device using tilting mirrors in a superpixel form
US8937706B2 (en) * 2007-03-30 2015-01-20 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and method
US8491121B2 (en) * 2007-10-09 2013-07-23 Elbit Systems Of America, Llc Pupil scan apparatus
US8081364B2 (en) * 2007-11-27 2011-12-20 Duke University High-speed multi-dimensional beam scanning system with angle amplification

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08313842A (ja) * 1995-05-15 1996-11-29 Nikon Corp 照明光学系および該光学系を備えた露光装置
JP2002353105A (ja) * 2001-05-24 2002-12-06 Nikon Corp 照明光学装置,該照明光学装置を備えた露光装置,およびマイクロデバイスの製造方法
WO2005017483A1 (ja) * 2003-08-18 2005-02-24 Nikon Corporation 照度分布の評価方法、光学部材の製造方法、照明光学装置、露光装置および露光方法
WO2005062350A1 (ja) * 2003-12-19 2005-07-07 Nikon Corporation 光束変換素子、露光装置、照明光学系及び露光方法
WO2006035775A1 (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Hamamatsu Photonics K.K. 空間光変調装置、光学処理装置、カップリングプリズム、及び、カップリングプリズムの使用方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013251583A (ja) * 2007-09-14 2013-12-12 Nikon Corp 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法
JP2015046601A (ja) * 2007-09-14 2015-03-12 株式会社ニコン 照明光学系、露光装置、光学素子およびその製造方法、並びにデバイス製造方法
JP2010128327A (ja) * 2008-11-28 2010-06-10 Hamamatsu Photonics Kk 光変調装置
US9285579B2 (en) 2008-11-28 2016-03-15 Hamamatsu Photonics K.K. Light modulating device and laser processing device
KR20200075034A (ko) * 2009-06-23 2020-06-25 시리얼 테크놀로지즈 에스.에이. 복소 정보를 갖는 파동장을 변조하는 공간 광변조 장치
KR102278465B1 (ko) 2009-06-23 2021-07-16 시리얼 테크놀로지즈 에스.에이. 복소 정보를 갖는 파동장을 변조하는 공간 광변조 장치
CN105242495A (zh) * 2014-05-26 2016-01-13 上海微电子装备有限公司 光刻曝光装置
CN105242495B (zh) * 2014-05-26 2017-08-25 上海微电子装备(集团)股份有限公司 光刻曝光装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2195710A1 (en) 2010-06-16
CN101743515B (zh) 2013-07-24
US20090091730A1 (en) 2009-04-09
WO2009044929A1 (en) 2009-04-09
TW200935179A (en) 2009-08-16
KR20100083801A (ko) 2010-07-22
CN101743515A (zh) 2010-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009093175A (ja) 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法
KR101624140B1 (ko) 조명 광학 장치, 노광 장치, 조명 방법, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법
JP5287113B2 (ja) 照明光学系、露光装置及びデバイスの製造方法
JP5286744B2 (ja) 空間光変調ユニット、照明光学系、露光装置及びデバイスの製造方法
JPWO2008007633A1 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5262063B2 (ja) 空間光変調ユニット、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法
JP6651124B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5688672B2 (ja) 光伝送装置、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5105316B2 (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP5353408B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2011114041A (ja) 光束分割装置、空間光変調ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2008047744A (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
WO2012017783A1 (ja) 伝送光学系、照明光学系、露光装置、及びデバイス製造方法
WO2009128293A1 (ja) 空間光変調ユニット、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP7340167B2 (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2009071010A (ja) 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2008021767A (ja) 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
JP2011009318A (ja) 伝送光学系、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110825

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120116

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120904

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130507

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130910