JP2009123717A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009123717A5 JP2009123717A5 JP2007286690A JP2007286690A JP2009123717A5 JP 2009123717 A5 JP2009123717 A5 JP 2009123717A5 JP 2007286690 A JP2007286690 A JP 2007286690A JP 2007286690 A JP2007286690 A JP 2007286690A JP 2009123717 A5 JP2009123717 A5 JP 2009123717A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- nitride semiconductor
- group iii
- iii nitride
- semiconductor layer
- buffer layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 5
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 claims 2
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims 1
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007286690A JP4908381B2 (ja) | 2006-12-22 | 2007-11-02 | Iii族窒化物半導体層の製造方法、及びiii族窒化物半導体発光素子、並びにランプ |
| US12/515,157 US8492186B2 (en) | 2006-12-22 | 2007-12-19 | Method for producing group III nitride semiconductor layer, group III nitride semiconductor light-emitting device, and lamp |
| KR1020097012041A KR101071450B1 (ko) | 2006-12-22 | 2007-12-19 | Ⅲ족 질화물 반도체층의 제조 방법 및 ⅲ족 질화물 반도체 발광 소자, 및 램프 |
| PCT/JP2007/074411 WO2008081717A1 (ja) | 2006-12-22 | 2007-12-19 | Iii族窒化物半導体層の製造方法、及びiii族窒化物半導体発光素子、並びにランプ |
| TW096148970A TWI385822B (zh) | 2006-12-22 | 2007-12-20 | Iii 族氮化物半導體層之製造方法,及iii 族氮化物半導體發光元件,以及燈 |
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006346000 | 2006-12-22 | ||
| JP2006346000 | 2006-12-22 | ||
| JP2007224496 | 2007-08-30 | ||
| JP2007224496 | 2007-08-30 | ||
| JP2007274376 | 2007-10-22 | ||
| JP2007274376 | 2007-10-22 | ||
| JP2007286690A JP4908381B2 (ja) | 2006-12-22 | 2007-11-02 | Iii族窒化物半導体層の製造方法、及びiii族窒化物半導体発光素子、並びにランプ |
Related Child Applications (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009027849A Division JP2009124174A (ja) | 2006-12-22 | 2009-02-09 | Iii族窒化物半導体層の製造方法、及びiii族窒化物半導体発光素子、並びにランプ |
| JP2010026910A Division JP2010103578A (ja) | 2006-12-22 | 2010-02-09 | Iii族窒化物半導体層の製造方法 |
| JP2010162852A Division JP5246213B2 (ja) | 2006-12-22 | 2010-07-20 | Iii族窒化物半導体発光素子の製造方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009123717A JP2009123717A (ja) | 2009-06-04 |
| JP2009123717A5 true JP2009123717A5 (enExample) | 2010-05-27 |
| JP4908381B2 JP4908381B2 (ja) | 2012-04-04 |
Family
ID=40815599
Family Applications (4)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007286690A Active JP4908381B2 (ja) | 2006-12-22 | 2007-11-02 | Iii族窒化物半導体層の製造方法、及びiii族窒化物半導体発光素子、並びにランプ |
| JP2009027849A Pending JP2009124174A (ja) | 2006-12-22 | 2009-02-09 | Iii族窒化物半導体層の製造方法、及びiii族窒化物半導体発光素子、並びにランプ |
| JP2010026910A Pending JP2010103578A (ja) | 2006-12-22 | 2010-02-09 | Iii族窒化物半導体層の製造方法 |
| JP2010162852A Active JP5246213B2 (ja) | 2006-12-22 | 2010-07-20 | Iii族窒化物半導体発光素子の製造方法 |
Family Applications After (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009027849A Pending JP2009124174A (ja) | 2006-12-22 | 2009-02-09 | Iii族窒化物半導体層の製造方法、及びiii族窒化物半導体発光素子、並びにランプ |
| JP2010026910A Pending JP2010103578A (ja) | 2006-12-22 | 2010-02-09 | Iii族窒化物半導体層の製造方法 |
| JP2010162852A Active JP5246213B2 (ja) | 2006-12-22 | 2010-07-20 | Iii族窒化物半導体発光素子の製造方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8492186B2 (enExample) |
| JP (4) | JP4908381B2 (enExample) |
| TW (1) | TWI385822B (enExample) |
Families Citing this family (61)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0752060A (ja) * | 1993-08-13 | 1995-02-28 | Matsushita Electric Works Ltd | インパクトレンチ |
| JP5167974B2 (ja) * | 2008-06-16 | 2013-03-21 | 豊田合成株式会社 | Iii族窒化物系化合物半導体発光素子及びその製造方法 |
| WO2010032423A1 (ja) * | 2008-09-16 | 2010-03-25 | 昭和電工株式会社 | Iii族窒化物半導体発光素子の製造方法、iii族窒化物半導体発光素子並びにランプ |
| JP2010103424A (ja) * | 2008-10-27 | 2010-05-06 | Showa Denko Kk | 半導体発光素子の製造方法 |
| US7952106B2 (en) * | 2009-04-10 | 2011-05-31 | Everlight Electronics Co., Ltd. | Light emitting diode device having uniform current distribution and method for forming the same |
| KR20140082852A (ko) * | 2009-09-07 | 2014-07-02 | 엘시드 가부시끼가이샤 | 반도체 발광 소자 |
| JP2011066073A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Showa Denko Kk | 半導体発光素子 |
| JP5170051B2 (ja) * | 2009-09-30 | 2013-03-27 | 豊田合成株式会社 | Iii族窒化物半導体の製造方法 |
| US8476658B2 (en) * | 2009-11-25 | 2013-07-02 | Jing Jie Dai | Semiconductor light-emitting devices |
| CN102612575A (zh) * | 2009-11-26 | 2012-07-25 | 昭和电工株式会社 | 用于制造led用蓝宝石单晶基板的蓝宝石单晶、led用蓝宝石单晶基板、发光元件以及它们的制造方法 |
| JP5509840B2 (ja) * | 2009-12-22 | 2014-06-04 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子の製造方法 |
| JP4865047B2 (ja) | 2010-02-24 | 2012-02-01 | 株式会社東芝 | 結晶成長方法 |
| JP5533179B2 (ja) * | 2010-04-16 | 2014-06-25 | 豊田合成株式会社 | レチクル、パターン加工基板の製造方法、半導体積層基板の製造方法および半導体発光素子の製造方法 |
| KR101047639B1 (ko) * | 2010-04-19 | 2011-07-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 반도체 발광소자, 발광 소자 패키지 및 반도체 발광 소자 제조방법 |
| JP5789782B2 (ja) | 2010-05-20 | 2015-10-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 窒化物半導体発光素子および窒化物半導体発光素子の製造方法 |
| KR20120029767A (ko) * | 2010-09-17 | 2012-03-27 | 엘지디스플레이 주식회사 | 반도체 발광소자 제조 방법 |
| US8765509B2 (en) * | 2010-09-30 | 2014-07-01 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Method for producing group III nitride semiconductor light-emitting device |
| JP5521981B2 (ja) | 2010-11-08 | 2014-06-18 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子の製造方法 |
| KR101274651B1 (ko) * | 2010-11-30 | 2013-06-12 | 엘지디스플레이 주식회사 | 발광 다이오드 및 이의 제조 방법 |
| JP5492117B2 (ja) | 2011-02-18 | 2014-05-14 | 株式会社東芝 | 窒化物半導体の積層構造およびその製造方法並びに窒化物半導体装置 |
| JP5589942B2 (ja) | 2011-04-15 | 2014-09-17 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光チップの製造方法 |
| JP5095842B2 (ja) | 2011-05-24 | 2012-12-12 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子、窒化物半導体層成長用基板及び窒化物半導体ウェーハ |
| JP5879225B2 (ja) * | 2011-08-22 | 2016-03-08 | 住友化学株式会社 | 窒化物半導体テンプレート及び発光ダイオード |
| US8686433B2 (en) | 2011-09-01 | 2014-04-01 | Rohm Co., Ltd. | Light emitting device and light emitting device package |
| KR20130035658A (ko) * | 2011-09-30 | 2013-04-09 | 서울옵토디바이스주식회사 | 발광 다이오드 소자용 기판 제조 방법 |
| JP2013086976A (ja) * | 2011-10-13 | 2013-05-13 | Tamura Seisakusho Co Ltd | 結晶積層構造体の製造方法 |
| JP5238867B2 (ja) * | 2011-11-08 | 2013-07-17 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子の製造方法 |
| JP5135465B2 (ja) * | 2011-11-29 | 2013-02-06 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
| JP5810907B2 (ja) * | 2011-12-28 | 2015-11-11 | 日亜化学工業株式会社 | 基板の再生方法及び該再生方法を用いた窒化物半導体素子の製造方法 |
| JP5633056B2 (ja) | 2011-12-28 | 2014-12-03 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子、発光装置 |
| KR101233062B1 (ko) * | 2012-04-18 | 2013-02-19 | (주)휴넷플러스 | 나노 급 패턴이 형성된 고효율 질화물계 발광다이오드용 기판의 제조방법 |
| CN102694086A (zh) * | 2012-05-28 | 2012-09-26 | 华南理工大学 | 一种led芯片的图形化衬底及led芯片 |
| JP5888133B2 (ja) | 2012-06-08 | 2016-03-16 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子、発光装置 |
| TWI543398B (zh) * | 2012-08-03 | 2016-07-21 | 國家中山科學研究院 | Led磊晶結構 |
| JP2014038941A (ja) | 2012-08-16 | 2014-02-27 | Toyoda Gosei Co Ltd | 半導体発光素子、発光装置 |
| KR20140027836A (ko) * | 2012-08-27 | 2014-03-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 |
| JP5440674B1 (ja) * | 2012-09-18 | 2014-03-12 | ウシオ電機株式会社 | Led素子及びその製造方法 |
| JP5978893B2 (ja) * | 2012-09-27 | 2016-08-24 | 豊田合成株式会社 | Iii族窒化物半導体の製造方法 |
| JP5838943B2 (ja) * | 2012-09-27 | 2016-01-06 | 豊田合成株式会社 | Iii族窒化物半導体の製造方法 |
| US9214336B2 (en) | 2012-09-27 | 2015-12-15 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Method for producing a group III nitride semiconductor |
| JP5880383B2 (ja) | 2012-10-11 | 2016-03-09 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子、発光装置 |
| KR101982626B1 (ko) | 2012-10-17 | 2019-05-27 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 및 이를 구비한 조명 장치 |
| JP5458162B2 (ja) * | 2012-11-07 | 2014-04-02 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子 |
| JP6048233B2 (ja) * | 2013-03-12 | 2016-12-21 | 豊田合成株式会社 | Iii 族窒化物半導体発光素子 |
| CN105190842B (zh) | 2013-03-14 | 2017-07-28 | 佳能安内华股份有限公司 | 成膜方法、半导体发光元件的制造方法、半导体发光元件和照明装置 |
| WO2015118419A1 (en) * | 2014-02-06 | 2015-08-13 | Koninklijke Philips N.V. | Light emitting diode with structured substrate |
| JP6248786B2 (ja) * | 2014-04-25 | 2017-12-20 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化物半導体素子およびその製造方法 |
| JP2016072388A (ja) * | 2014-09-29 | 2016-05-09 | 豊田合成株式会社 | Iii族窒化物半導体発光素子の製造方法 |
| JP6375890B2 (ja) | 2014-11-18 | 2018-08-22 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化物半導体素子及びその製造方法 |
| JP5864000B2 (ja) * | 2015-01-29 | 2016-02-17 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子、窒化物半導体層成長用基板及び窒化物半導体ウェーハ |
| KR101638738B1 (ko) * | 2015-04-23 | 2016-07-11 | 영남대학교 산학협력단 | 질화갈륨계 발광다이오드용 패터닝 기판 및 이를 이용한 발광다이오드 |
| US9899569B2 (en) | 2015-04-23 | 2018-02-20 | Research Cooperation Foundation Of Yeungnam University | Patterned substrate for gallium nitride-based light emitting diode and the light emitting diode using the same |
| JP2017050439A (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | 豊田合成株式会社 | 紫外発光素子およびその製造方法 |
| US10600825B2 (en) * | 2018-05-21 | 2020-03-24 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Manufacturing method for TFT array substrate and TFT array substrate |
| JP6683237B2 (ja) * | 2018-11-28 | 2020-04-15 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化物半導体素子 |
| JP6902569B2 (ja) | 2019-04-17 | 2021-07-14 | 日機装株式会社 | 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法 |
| JP6811293B1 (ja) | 2019-08-21 | 2021-01-13 | 日機装株式会社 | 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法 |
| CN113838955B (zh) * | 2020-06-24 | 2025-11-18 | 保定中创燕园半导体科技有限公司 | 一种基于氮化铝陶瓷材料的复合衬底及其制备方法和应用 |
| JP7616600B2 (ja) * | 2021-03-04 | 2025-01-17 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子 |
| JP2022163949A (ja) * | 2021-04-15 | 2022-10-27 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 電子部品のウエハ |
| JP2025098661A (ja) * | 2023-12-20 | 2025-07-02 | スタンレー電気株式会社 | 紫外半導体発光素子及びその製造方法 |
Family Cites Families (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60173829A (ja) * | 1984-02-14 | 1985-09-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 化合物半導体薄膜の成長方法 |
| JPH04350156A (ja) | 1991-05-27 | 1992-12-04 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 薄膜形成装置 |
| JPH05166794A (ja) | 1991-12-11 | 1993-07-02 | Brother Ind Ltd | スパッタ成膜時基板前処理法 |
| JPH06177039A (ja) | 1992-12-07 | 1994-06-24 | Canon Inc | エピタキシャル膜の形成方法 |
| JP2836687B2 (ja) | 1993-04-03 | 1998-12-14 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子 |
| US5627105A (en) | 1993-04-08 | 1997-05-06 | Varian Associates, Inc. | Plasma etch process and TiSix layers made using the process |
| JPH07276706A (ja) * | 1994-03-04 | 1995-10-24 | Xerox Corp | ディジタルプリンタ及びledプリントバーにおけるled画素非均一性補正方法 |
| JP3691934B2 (ja) * | 1996-06-17 | 2005-09-07 | 株式会社東芝 | 窒化ガリウム系化合物半導体発光デバイス及びその製造方法 |
| JP4264992B2 (ja) * | 1997-05-28 | 2009-05-20 | ソニー株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| JP3436128B2 (ja) | 1998-04-28 | 2003-08-11 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化物半導体の成長方法及び窒化物半導体素子 |
| JP3700492B2 (ja) | 1999-09-21 | 2005-09-28 | 豊田合成株式会社 | Iii族窒化物系化合物半導体素子 |
| US6367949B1 (en) * | 1999-08-04 | 2002-04-09 | 911 Emergency Products, Inc. | Par 36 LED utility lamp |
| JP3994623B2 (ja) | 2000-04-21 | 2007-10-24 | 豊田合成株式会社 | Iii族窒化物系化合物半導体素子の製造方法 |
| US6841808B2 (en) * | 2000-06-23 | 2005-01-11 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Group III nitride compound semiconductor device and method for producing the same |
| JP3595277B2 (ja) | 2001-03-21 | 2004-12-02 | 三菱電線工業株式会社 | GaN系半導体発光ダイオード |
| CN1284250C (zh) * | 2001-03-21 | 2006-11-08 | 三菱电线工业株式会社 | 半导体发光元件 |
| JP2002302764A (ja) | 2001-04-04 | 2002-10-18 | Anelva Corp | スパッタリング装置 |
| JP2002368344A (ja) | 2001-06-06 | 2002-12-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 窒化物半導体素子の製造方法 |
| JP4023121B2 (ja) * | 2001-09-06 | 2007-12-19 | 豊田合成株式会社 | n型電極、III族窒化物系化合物半導体素子、n型電極の製造方法、及びIII族窒化物系化合物半導体素子の製造方法 |
| JP2003197961A (ja) * | 2001-12-27 | 2003-07-11 | Toyoda Gosei Co Ltd | Iii族窒化物系化合物半導体発光素子 |
| JP4137611B2 (ja) | 2002-11-26 | 2008-08-20 | 新明和工業株式会社 | 積層膜の形成方法 |
| JP2005064492A (ja) | 2003-07-28 | 2005-03-10 | Kyocera Corp | 単結晶サファイア基板とその製造方法及び半導体発光素子 |
| WO2005018008A1 (ja) * | 2003-08-19 | 2005-02-24 | Nichia Corporation | 半導体素子 |
| KR100714639B1 (ko) | 2003-10-21 | 2007-05-07 | 삼성전기주식회사 | 발광 소자 |
| JP2005136106A (ja) | 2003-10-29 | 2005-05-26 | Kyocera Corp | 単結晶サファイア基板とその製造方法及び半導体発光素子 |
| JP2005150675A (ja) * | 2003-11-18 | 2005-06-09 | Itswell Co Ltd | 半導体発光ダイオードとその製造方法 |
| US20050179160A1 (en) * | 2004-02-12 | 2005-08-18 | Jeff Moreau | Method for increasing the surface friction of sheet piling segments |
| KR100568297B1 (ko) * | 2004-03-30 | 2006-04-05 | 삼성전기주식회사 | 질화물 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법 |
| US7560294B2 (en) * | 2004-06-07 | 2009-07-14 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Light emitting element and method of making same |
| JP2006060164A (ja) | 2004-08-24 | 2006-03-02 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 窒化物半導体デバイスおよび窒化物半導体結晶成長方法 |
| JP4450202B2 (ja) | 2004-10-21 | 2010-04-14 | 豊田合成株式会社 | 半導体の製造方法 |
| JP4626306B2 (ja) * | 2005-01-11 | 2011-02-09 | 三菱化学株式会社 | 窒化物半導体発光素子およびその製造方法 |
| JP4189386B2 (ja) | 2005-01-27 | 2008-12-03 | ローム株式会社 | 窒化物半導体結晶層の成長方法および窒化物半導体発光素子の製法 |
| JP2006313944A (ja) * | 2006-08-25 | 2006-11-16 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | 紫外線発光素子 |
-
2007
- 2007-11-02 JP JP2007286690A patent/JP4908381B2/ja active Active
- 2007-12-19 US US12/515,157 patent/US8492186B2/en active Active
- 2007-12-20 TW TW096148970A patent/TWI385822B/zh active
-
2009
- 2009-02-09 JP JP2009027849A patent/JP2009124174A/ja active Pending
-
2010
- 2010-02-09 JP JP2010026910A patent/JP2010103578A/ja active Pending
- 2010-07-20 JP JP2010162852A patent/JP5246213B2/ja active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2009123717A5 (enExample) | ||
| JP5571503B2 (ja) | 基板構造体及びその製造方法 | |
| JP5105621B2 (ja) | シリコン基板上にInGaAlN膜および発光デバイスを形成する方法 | |
| CN104332541B (zh) | 图形化衬底制备方法及外延片制作方法 | |
| CN105190915A (zh) | 一种用于ⅲ-ⅴ族氮化物生长的衬底及其制备方法 | |
| WO2017067333A1 (zh) | 图形化衬底、制备方法及发光二极管 | |
| JP6248786B2 (ja) | 窒化物半導体素子およびその製造方法 | |
| JP2006024914A5 (enExample) | ||
| JP2012507840A5 (enExample) | ||
| CN103038901A (zh) | 半导体模板衬底、使用半导体模板衬底的发光元件及其制造方法 | |
| CN105390375A (zh) | 图形化蓝宝石衬底及发光二极管的制作方法 | |
| JP2009164593A5 (enExample) | ||
| CN103928582B (zh) | 一种化合物半导体元件及其制备方法 | |
| TW201003981A (en) | Substrate structure and method of removing the substrate structure | |
| US10263152B2 (en) | Nitride semiconductor element and method for manufacturing the same | |
| JP2003124115A5 (enExample) | ||
| JP5174052B2 (ja) | 低欠陥密度を有するエピタキシャル構造の製造方法 | |
| WO2017076119A1 (zh) | 图形化蓝宝石衬底、发光二极管及其制作方法 | |
| EP2950356B1 (en) | Nitride semiconductor element and method for manufacturing the same | |
| CN209747453U (zh) | 一种半导体器件 | |
| US20100184279A1 (en) | Method of Making an Epitaxial Structure Having Low Defect Density | |
| TWI728713B (zh) | 發光裝置表面粗化的方法與發光裝置 | |
| CN102479901B (zh) | 磊晶用基板及其制作方法 | |
| KR101392366B1 (ko) | 질화물 발광 다이오드 제조방법 | |
| CN106910807A (zh) | 一种用于生长外延片的复合衬底及其制备方法 |