CN101910925A - 用于连续制造液晶显示元件的方法与装置 - Google Patents
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Abstract
提高液晶显示元件的连续制造的精度和速度以从根本上解决提高成品率的问题。连续制造液晶元件的方法具有以下步骤:基于在对于光学膜的连续带状体的预先检查中检测到的缺陷的位置来定义有缺陷板片和正常板片的切口位置的步骤;以及在液晶面板上贴合从连续带状体中以根据液晶面板的尺寸而形成的偏光模的板片的步骤,其中在所述连续带状体上将关于切口位置的切口位置信息记录作为编码信息。在用于连续制造液晶元件的方法和装置中,从连续带状体的供应量计算长度测量数据,读取记录在连续带状体上的编码信息,基于编码信息和长度测量数据从载体膜的相对侧沿着切口位置在连续带状体上形成切口线,对于在切口线之间形成的偏光膜的板片判断该板片是否是正常的,将判断为正常的板片从载体膜剥离并传递到层积工作台,并且将正常板片贴合到被供应到层积工作台的液晶面板。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于通过分别将偏光膜板片依序层积在每个具有预定义的尺寸的液晶面板上以生产液晶元件来连续制造液晶显示元件的方法和系统,所述偏光膜板片是通过在预定义的切口位置处将光学膜层积板的连续带状体切割为与液晶面板的尺寸相对应的尺寸来从该光学膜层积板的连续带状体形成的,所述光学膜层积板至少包括具有粘贴层的偏光膜、以及可剥离地层积到该粘贴层的载体膜,所述光学膜层积板具有与所述液晶面板的宽度相对应的宽度,光学膜的所述连续带状体中的所述切口位置包括:有缺陷偏光板片切口位置,用于定义包括至少一个缺陷的至少一个有缺陷偏光板片;以及正常偏光板片切口位置,用于定义至少一个无缺陷的正常偏光板片,该切口位置是根据通过预先检查检测到的所述偏光膜中的缺陷的位置确定的,切口位置信息与以编码信息的形式被记录在连续带状体上的有缺陷偏光板片切口位置和正常偏光板片切口位置有关。
背景技术
采用具有42英寸的对角屏幕尺寸的宽屏电视机作为示例,如图2所示,其液晶面板W包括分层的液晶面板,该分层的液晶面板包括一对矩形形状的玻璃基板以及液晶层,每个矩形形状的玻璃基板具有长度大约540到560mm×宽度大约950到970mm×厚度大约0.7mm(700μm)的尺寸,而液晶层具有大约5μm的厚度,具有透明电极、滤色片等,并且夹在玻璃基板之间。因此,液晶面板W自身的厚度大约为1.4mm(1400μm)。液晶显示元件典型地具有通常被称为“偏光板”的偏光板片11’,其粘贴地贴合到所述宽屏电视机的液晶面板W的前侧(观看侧)和背侧(背光侧)每一侧。偏光板片11’从包括在层积结构的挠性光学膜10的连续带状体中的偏光合成膜11形成,如在图1的(使用前)部分处的透视图中示出的,从而具有长度520到540mm×宽度930到950mm的尺寸的矩形形状,如在图1和图2的(使用后)部分处的透视图中示出的。
要被层积到液晶面板W的、用于形成偏光板片11’的光学膜10的连续带状体典型地由层积结构的挠性膜组成,该挠性膜包括偏光合成膜11、具有粘贴表面的表面保护膜13、以及载体膜14。偏光合成膜11展现偏光功能,并且通常包括连续偏光片层、层积在连续偏光片层的相对表面中的各个表面上的两个保护膜、以及形成在连续偏光片层的要贴合到液晶面板W的一侧上的丙烯酸粘贴层12。载体膜14是以可剥离的方式层积到粘贴层12的膜,以提供保护偏光合成膜11的粘贴层12的暴露侧的功能。例如通过以下过程形成偏光合成膜11。通过使具有大约50到80μm厚度的基于PVA(聚乙烯醇)的膜经历使用碘酒的染色处理和联接(cross-linking)处理,并且使作为结果的基于PVA的膜经历基于沿其长度或者宽度方向拉伸的配向(orientation)处理,来首先形成具有20到30μm厚度的连续偏光片层。作为结果,碘络合物朝向与基于PVA的膜的延伸方向平行的方向,以获得吸收具有与碘络合物(iodinecomplex)的配向匹配的振动平面的偏光的性质,从而提供具有与延伸方向平行的方向上的吸收轴的偏光片。由此,为了生产具有优秀的光学性质以及优秀的均匀性和精度的偏光片,期望基于PVA的膜的延伸方向对应于膜的长度方向或者宽度方向。因此,通常偏光片或者包括这样的偏光片的光学膜的吸收轴与连续带状体的长度方向平行,并且偏光轴处于与吸收轴垂直的宽度方向。然后,通过粘合剂将保护膜层积到所形成的连续偏光片层的相对表面的一个或每个。最后,在连续的偏光片层的层积有保护膜的一侧上形成要贴合到液晶面板W的丙烯酸粘贴层12。通常,经常将具有大约40到80μm厚度的透明的基于TAC(三醋酸纤维素)的膜用作用于保护连续的偏光片层的保护膜。在以下描述中,连续的偏光片层可以被简称为“偏光片”。
根据关于包含液晶显示元件的平板显示元件的偏光膜(FPD偏光膜)”的“SEMI(Semiconductor Equipment and Materials International)Draft Document”中的术语定义,与构成用于液晶显示元件中的光学膜的“偏光合成膜和层”相对应的术语被称为“膜和层构成偏光膜(Films and layer composing polarizing films)”。因此,在图1的(使用前)部分处的透视图中的偏光合成膜11被解释为对应于“膜构成偏光膜(film composing polarizing film)”。以矩形形状从偏光合成膜11形成的、在图1的(使用后)部分处的透视图中的偏光板片11’对应于“偏光膜”,从而可以优选的是将术语“偏光板片”应用于后者、而不是应用通常所称的名称“偏光板”。在以下描述中,包括偏光片、层积在偏光片的相对表面中的一个或两个上的保护膜、以及在偏光片的要层积到液晶面板W的一侧上形成的粘贴层的膜将被称为“偏光合成膜”,并且以矩形形状从偏光合成膜形成的通常被称为“偏光板”的板片将被称为“偏光板片”或者被简称为“板片”。另外,当从向其贴合有表面保护膜的载体膜的偏光合成膜形成板片时、并且在此板片必须与“偏光板片”加以区别时,前者被称为“光学膜板片”,并且从在合成膜中包括的表面保护膜或者载体膜形成的板片分别被称为“表面保护膜板片”或者“载体膜板片”。
偏光合成膜11的厚度通常具有大约110到220μm的厚度。偏光合成膜11通常由具有大约20到30μm的厚度的偏光片、总厚度可以为大约80到160μm的两个保护膜(在将所述保护膜层积在偏光片的相对表面中的各个表面上时)、以及形成在偏光片的要层积到液晶面板W的一侧上的厚度为大约10到30μm的粘贴层12组成。利用粘贴层12将偏光合成膜11以以下方式层积到液晶面板W的前侧和背侧中的各侧:偏光轴以90度角相互交叉。由此,在制造具有42英寸对角线屏幕尺寸的宽屏电视机的液晶显示元件时,在假设液晶面板自身的厚度大约为1400μm时,并且由于每个偏光合成膜11的厚度在110到220μm的范围内,因此液晶显示元件自身具有大约1620到1840μm的总厚度。液晶显示元件的厚度仍在2.0mm之内或在2.0mm以下。在该情况下,对于液晶显示元件的总厚度,液晶面板W的厚度与板片11’的厚度之比大约为10∶1.5到10∶3。如果使用仅在偏光片的一个表面上层积有保护膜并且在偏光片的另一表面上形成有粘贴层的偏光合成膜11,从减少液晶显示元件的厚度的观点出发,可以将偏光合成膜11自身的厚度减少至70到140μm,从而将作为结果的液晶显示元件的总厚度减少至大约1540到1680μm的范围。对于液晶元件的厚度,液晶面板W的厚度与板片11’的厚度之比将在大约10∶1到10∶2的范围内。
用于液晶显示元件的光学膜10的连续带状体具有如在图1的(使用前)部分处的透视图中所示的结构。下面将结合光学膜10的连续带状体的制造过程来简要描述光学膜10的连续带状体的结构。将带有粘贴表面的、具有大约60到70μm厚度的表面保护膜13可剥离地层积到偏光合成膜11的无粘贴层的表面,并且将载体膜14可剥离地层积到在偏光合成膜11的、要层积到液晶面板W的表面上提供的粘贴层12,以便提供保护粘贴层12的功能。典型地,基于PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)的膜用于表面保护膜13和载体膜14中的每一个。在液晶显示元件的制造过程期间,载体膜14通常充当偏光合成膜11的承载介质(载体)以及充当用于保护粘贴层12的部件。下文中将具有这种功能的膜称为“载体膜”。表面保护膜13和载体膜14两者是所谓的“制造过程材料”,所谓的“制造过程材料”在液晶显示元件的制造过程的最后阶段之前要被剥离和去除,并且要被用于在液晶显示元件的制造过程期间保护非粘贴表面不被污染或者损坏而且还保护偏光合成膜11的粘贴层的暴露的表面。
在偏光合成膜11中,用于保护偏光片的保护膜之一可以被由基于环烯的聚合物(cycloolefin-based polymer)或基于TAC的聚合物(TAC-based polymer)等制成的、并且具有光学补偿功能的相位差膜(phase difference film)来替代。该相位差膜还可以被提供为诸如基于TAC的基板之类的透明基板的一层,向该层涂覆(apply)/布置诸如基于环烯的聚合物或者基于聚酰亚胺的聚合物之类的聚合物材料并且然后固化。此外,在要将偏光合成膜层积到液晶显示元件的背光侧的情况下,可以通过将亮度提升膜层积到偏光片的背光侧保护膜来提供附加功能。另外,关于偏光合成膜11的结构,已经提出了各种其它变型,诸如,将基于TAC的膜层积到偏光片的相对表面之一并且将PET膜层积到偏光片的另一表面的技术。
提供用于贴合到液晶面板W的、包括偏光片和被层积到无粘贴层偏光片的相对表面中的一或两个相对表面上的保护膜的偏光合成膜110的方法之一包括以下步骤:将在其上形成有可转印的粘贴层的载体膜14层积到偏光合成膜110的要层积到液晶面板W的表面上。具体的转印技术如下。在载体膜14的制造过程中,载体膜在要层积到偏光合成膜110的表面上经过脱膜处理(releasing treatment),在偏光合成膜110的要层积到液晶面板的表面上将所述载体膜层积到偏光合成膜110,并且然后将包含粘合剂的溶剂涂覆到经过处理的表面上并且烘干,以在载体膜14上形成粘贴层。然后,例如,在连续传送出载体膜14并且以相同方式传送出偏光合成膜110的同时,将形成有粘贴层的载体膜14层积到偏光合成膜110,从而可以将在载体膜14上形成的粘贴层转印到偏光合成膜110,并且形成粘贴层12。由此,代替以此方式形成的粘贴层,当然可以通过直接将包含粘合剂的溶剂涂覆到偏光合成膜110的要层积到液晶面板的表面上并且对其进行烘干来形成粘贴层12。
表面保护膜13典型地具有粘贴表面。与偏光合成膜11上的粘贴层12不同,在液晶显示元件的制造过程期间,当将表面保护膜板片(未示出)从偏光板片11’剥离以及去除时,粘贴表面必须与表面保护膜板片一起从偏光合成膜的偏光板片11’剥离。原因在于:与偏光板片11’一起形成的表面保护膜板片被适配用于保护偏光板片11’的无粘贴层12的表面免于被污染或者损坏的风险,而不是保护要被转印到偏光板片11’的表面的粘贴层免于被污染或者损坏的风险。图1的(使用后)部分的透视图示出了表面保护膜板片被剥离和去除之后的状态。还应注意,无论偏光合成膜11是否在其上层积有表面保护膜13,都可以在偏光合成膜11的前侧上的保护膜的表面上向偏光合成膜11提供用于保护液晶显示元件的最外表面的硬涂层处理(hard coat treatment)以及/或者用于获得防眩效果等的表面处理,诸如防眩处理。
附带提及,对于液晶显示元件的功能,液晶分子的配向方向和偏光片的偏光方向彼此密切相关。在液晶显示元件技术中,使用TN(扭曲向列Twisted Nematic)型液晶的LCD(液晶显示器)首先被投入实际使用,然后使用VA(纵向对准,Vertical Alignment)型液晶、IPS(平板开关,Inplane Switching)型液晶等的LCD被投入实际使用。尽管将省略技术上的说明,但是在使用这样的TN型液晶面板的LCD中,在液晶面板的玻璃基板的内表面上具有各自的研磨方向(rubbing direction)的上下两片配向膜之间提供液晶分子,使得液晶分子沿着光学轴被扭转90度,其中,当施加电压时,液晶分子沿着与配向膜垂直的方向排列。然而,在LCD被设计为允许当从显示屏幕的右侧和左侧看时以相同的质量形成图像的情况下,观看侧的配向膜上的研磨方向必须为45度(另一配向膜的研磨方向为135度)。因此,有必要:由要分别层积到液晶面板的前侧和后侧的偏光合成膜制成的偏光板片必须具有分别沿相对于显示屏幕的长度方向或宽度方向倾斜45度的方向而分别配向的偏光片,从而符合研磨方向。
因此,在用于生产TN型液晶面板的液晶元件的偏光板片中,需要将光学膜冲压出或者切割成具有根据TN液晶面板的尺寸确定的长边或者短边的矩形形状的板片,并且需要相对于通过沿长度方向或宽度方向拉伸而生产的偏光片的配向方向倾斜45度,该光学膜包括包含通过沿长度方向或宽度方向拉伸而经过配向处理的偏光片、被层积在偏光片上的保护膜、以及在偏光片的要贴合到液晶面板的侧上形成的粘贴层的偏光合成膜。这例如在日本特许公开专利公布JP2003-161935A(专利文献1)或日本专利3616866B(专利文献2)中有所描述。不必说,要被处理为矩形形状的板片的宽度、即板片的短边,小于连续带状体的宽度。
将光学膜板片从光学膜的连续带状体冲压或者切割成矩形形状的板片可以统称为液晶显示元件的“单片型板片(individualized sheet)”或者“用于制造单片型板片的方法和系统”。通过不仅冲压或者切割在光学膜中包含的表面保护膜、而且一起冲压或者切割保护偏光合成膜中的粘贴层的暴露表面的载体膜,而生产如此冲压或切割后的光学膜板片。整体冲压或切割后的载体膜板片可以被称为“剥离片”,而不是“载体膜板片”。因此,液晶显示元件的制造过程包括第一步骤:将剥离片从每个光学膜板片中剥离以使偏光板片的粘贴层暴露。随后,无论是否层积有表面保护膜板片、以及无论表面保护膜是否被层积到多个液晶面板中的各个液晶面板,通过例如真空吸引器逐一传送每一个使粘贴层暴露的光学膜板片。根据液晶显示元件的上述制造过程,已经要求从光学膜的连续带状体整体冲压或切割后的板片是偏转或者弯曲较少并且可以容易传送和层积的、具有四个平整的边和一定刚度的单片型板片的形式。在液晶显示元件的制造过程历程的初期阶段,该光学膜板片或者在光学膜板片中包含的偏光板片通常被称为“偏光板”,其仍被用作通用名称。
在TN型液晶显示元件的制造过程中,从光学膜层积板的卷筒传送出的光学膜被沿着横跨(transverse)传送方向的方向整体并且依序冲压或切割,从而形成多个光学膜板片。同时形成的多个偏光板片要包括在各个光学膜板片中。然而,在该情况下,不可能通过将通过冲压或切割过程之后的过程形成的板片依序层积到多个液晶面板中的各个液晶面板上来简单地获得完成后的液晶显示元件。这是因为:利用沿相对于沿长度方向或宽度方向延伸而生产的偏光片的配向方向(即,相对于冲压或切割过程之前的光学膜的传送方向)为45度的方向延伸的长边或短边形成的每个板片,不能以相同姿势依序层积到多个液晶面板的各个液晶面板上。为了通过将偏光板片输送至要与液晶面板层积的位置并且然后将偏光板片层积到液晶面板上,来提供完成后的液晶显示元件,如在专利文献1或2中所看到的,沿长度方向传送出具有比液晶面板的长边更长的宽度的光学膜,并且以相对于每个光学膜的长度方向为45度的倾斜方向、例如使用模具冲压以制成多个独立的板片,并且被适当地传送至液晶面板的层积过程。替代地,可以通过制备具有很大宽度的光学膜的连续带状体并且以相对于径向成45度的角度冲压或者切割该带状体以提供可被用作具有大的长度的光学膜的膜板片,来提供具有大的径向长度的光学膜,或者如在专利文献3中所看到的、通过将多个这样倾斜切割的光学膜的板片连接在一起,来提供所述具有大的径向长度的光学膜,然后,将在从具有液晶面板的宽度的光学膜形成板片的这样的过程中生产的光学膜沿相对于其传送方向的宽度方向连续传送以及切割,从而提供每个具有所要求的长度并且每个包括多个偏光板片的多个板片条(sheet strip),板片条中的多个偏光板片然后被层积到被依序传送的多个液晶面板中的各个液晶面板,以提供完成后的液晶显示元件。无论如何,上面的技术未超出用于制造单片型板片的系统。
专利文献3是日本专利公开第62-14810B号,其在VA型液晶和IPS型液晶投入实际使用之前已经公开,并且其公开了一种用于通过将被形成为所需要的长度的多个板片依序层积到多个液晶面板中的各个液晶面板上、同时连续传送包含偏光合成膜的光学膜来生产液晶面板的装置。专利文献3公开了连续传送包括偏光合成膜(在专利文献3中,被称为“细长的偏光板”)的光学膜的技术、以及用于保护偏光合成膜上的粘贴层的剥离片,“仅切割偏光板4和粘贴层5,而保留剥离片6未切割(下文中被称为“半切割”)”,在传送过程中去除通过半切割过程形成的有缺陷偏光板片,并且依序将剥离的板片层积到多个液晶面板中的各个液晶面板(在专利文献3中,被称为“液晶单元”),以便构成电子计算器等的小尺寸显示屏幕,而将剥离片从仍保留在剥离片上的偏光板片中剥离,以便完成“每个使偏光合成膜和液晶单元层积在一起的产品”。该装置是贴标签单元,其生产使用TN型液晶的LCD。由此,要使用的光学膜必须是细长的板片或者通过将多个光学膜板片连接而形成的膜状的细长的光学膜板片,该细长的板片是通过沿与具有非常宽宽度的光学膜的径向倾斜45度的方向切割光学膜而从该光学膜生产的,该光学膜具有与液晶面板相对应的宽度。因此,此装置基于使用细长的板片,该细长的板片被沿与具有与液晶面板的宽度相对应的宽度的偏光合成膜的拉伸方向倾斜45度的方向切割,从而其不能被直接应用于被适配用于执行以下步骤的制造装置:从具有层积结构的光学膜连续形成多个偏光板片,并且将各个板片层积到使用VA型液晶和IPS型液晶的液晶面板中的各个液晶面板,以产生液晶显示元件。
关于使用单片型板片的液晶显示元件的制造过程的自动化,下面将总地进行描述。在光学膜制造线中从包含偏光合成膜的光学膜的连续带状体形成多个经检查的矩形单片型板片,并且使其预先经过对于存在还是不存在任何缺陷的检查。将所检查的存在缺陷的所形成的单片型板片成组(包括多个这样的板片)地送入液晶显示元件制造线。通常,所送入的单片型板片被手动地送到单片型板片储料库中以存储在其中。每个所存储的单片型板片至少具有在其上具有粘贴层的偏光合成膜板片、以及层积到其上用于保护粘贴层的暴露表面的剥离片。其中存储有单片型板片的储料库被引入液晶显示元件制造线中。由于将其中存储有多个液晶面板的液晶面板储料库并入制造线,因此从液晶面板储料库中逐一取出多个液晶面板,并且将所述多个液晶面板传送通过清洗/研磨(cleaning/polishing)过程。与传送液晶面板同步地,通过吸附型传送单元将单片型板片从单片型板片储料库中逐一取出。将剥离片从每一个所取出的单片型板片中剥离,以使板片的粘贴层暴露。由此,将理解:在以此方式使用单片型板片生产液晶显示单元时,必须将剥离片从各个逐片型板片中去除。然后,在吸附到层积位置以与液晶面板层积的情况下,传送具有处于暴露状态中的粘贴层的单片型板片。将每个所传送的单片型板片层积到液晶面板的一侧,以便依序生产液晶显示元件。例如,在日本特许公开专利公布第2002-23151A号(专利文献4)中公开了该方法。通过将挠性单片型板片在其边缘部分处弯曲或者变形,挠性单片型板片趋于被弯曲或卷曲,并且这样的趋向对于与液晶面板的对准和层积时的精度和速度造成了严重的技术阻碍。由此,将理解,要求单片型板片具有一定厚度和刚度,以便于在吸附下传送和层积到液晶面板。例如,可以将日本特许公开专利公布第2004-144913A号(专利文献5)、日本特许公开专利公布第2005-298208A号(专利文献6)、或日本特许公开专利公布第2006-58411A号(专利文献7)中的公开内容考虑为解决这样的技术问题的手段。
另一方面,VA型液晶面板和IPS型液晶面板没有被设计成具有扭曲结构的液晶分子。由此,在使用这些类型的液晶面板来生产液晶显示元件时,不再需要使偏光板片的偏光轴以相对于液晶显示元件的长边或短边的方向45度来配向,以便如在使用TN型液晶面板的情况下那样、获得增加的液晶的配向所固有的观看角度。在使用这些类型的液晶面板的液晶显示元件的情况下,通过将其偏光轴彼此以90度相交地配向的偏光板片贴合到液晶显示面板的相对面,来形成液晶显示元件。在VA型液晶面板和IPS型液晶面板的情况下,关于视角(view angle)特性,沿着偏光板片的偏光轴的方向可以获得最大对比度,从而优选的是:从视角特性的对称性和可视性的技术观点出发,板片具有被沿与液晶面板的径向或横向平行配向的光学轴。因此,将理解,要被贴合到液晶面板的这些板片具有以下特征:包括已经过径向或横向拉伸的偏光合成膜的光学膜可以连续地从卷筒中传送出并且相对于光学膜的传送方向沿着横线切割,以便依序生产包括具有与光学膜宽度相同的宽度的偏光板片的矩形板片。
还应指出:从改进视角特性的观点出发,存在以下趋势:对于用于宽屏电视机的显示元件的液晶而言,VA型和IPS型液晶比TN型液晶更广泛地被采用。如所描述的,使用TN型液晶的传统显示元件必须使用单片型板片来制造。由于产品精度和制造速度两方面的局限,已经再难以提高该方法的制造效率。考虑到技术开发环境下的这种趋势,已经作出了以下建议:诸如在日本特许公开专利公布第2004-361741A号(专利文献8)中描述的技术,其是基于使用VA型液晶面板和IPS型液晶面板的用于提高制造效率的技术,并且包括以下步骤:连续传送光学膜,依照液晶面板的尺寸切割光学膜,并且依序将包括已经通过切割步骤生产的偏光板片的多个切割的矩形板片层积到多个液晶面板中的各个液晶面板上。
如后面所述,本发明的目的和构思接近基于在原理上与TN型液晶不同的诸如VA型液晶和IPS型液晶之类的液晶来制造液晶显示元件,并且与之密不可分地关联。
然而,由于以下技术问题,液晶显示元件的制造的主流技术仍基于利用单片型板片的制造技术。在制造液晶显示元件时,关键的技术挑战是:检测任何缺陷(如果不检测的话,其将保留在将形成的显示元件中),并且防止生产出任何有缺陷的产品。这使得可以显著地提高制造成品率。绝大多数的产品缺陷主要由在光学膜中包含的偏光合成膜中的缺陷引起。然而,实际上,在实践中不可能在将各个膜层积到一起以形成光学膜之前、在完全去除了在各个膜中包含的所有缺陷后才提供光学膜。原因在于:对用于提供在其上没有形成粘贴层的偏光合成膜的偏光片以及层积在偏光片上的保护膜、以及在偏光合成膜上形成的粘贴层全部的观察已经揭示了在偏光合成膜的单位长度1000m上在20到200个位置中分布各种模式的缺陷(包括偏光片自身的PVA膜中固有的缺陷、关于将保护膜层积到偏光片而出现的缺陷、或者在所形成的偏光合成膜的粘贴层中产生的缺陷),从而,在现有环境下,很难生产无缺陷的光学膜。然而,考虑到保持液晶显示元件本身的质量,即使可视的划痕或缺陷较小,也不允许使用具有这样的划痕或缺陷的光学膜板片作为电视机的板片。假设从偏光合成膜形成的偏光板片的长边尺寸为大约1m,如果不能预先去除有缺陷区域,根据简单计算,在1000个液晶显示元件中将生产20到200个有缺陷的产品。
因此,在现有环境下,将正常区域定义为以矩形形状划分的没有缺陷的区域,并且通过适当地避开在其中具有缺陷的、同样以矩形形状划分的有缺陷区域,从偏光合成膜中冲压出或切割出无缺陷的板片产品(下文中称为“正常偏光板片”)。也从偏光合成膜中冲压出或切割出有缺陷区域作为有缺陷偏光板片产品(下文中称为“有缺陷偏光板片”),并且在后面的过程中仅仅选择性地去除矩形形状的有缺陷偏光板片。
本申请的申请人已经提出了偏光合成膜的预先检查装置,例如,如在日本专利第3974400B号(专利文献9)、日本特许公开专利公布第2005-62165A号(专利文献10)以及第2007-64989A号(专利文献11)中所公开的。这些建议涉及基于使用单片型板片的装置,并且主要包括以下两个步骤。第一步骤包括:通过图像处理检查正在连续传送出的偏光合成膜中所含的缺陷以确定所检测到的缺陷的位置或坐标,编码通过图像处理所获得的信息,并且然后直接将编码信息印制在偏光合成膜的边际或边缘部分(所印制的编码信息将在生产单片型板片期间在冲压或切割偏光合成膜之后残留在带状体中),并且将作为结果的偏光合成膜卷绕以形成卷筒。第二步骤包括:读取印制在从卷筒中展开的偏光合成膜上的编码信息,并且基于缺陷出现的确定结果在缺陷的位置处提供标记,其后接着随后步骤:冲压或切割以便从偏光合成膜生产单片型板片,并且基于事先提供的标记将通过冲压或切割生产的单片型板片分类为正常产品和有缺陷产品。以上步骤是对于提高制造这样的单片型板片的成品率而言必须的技术手段。
仅作为参考,在专利文献9或11中,偏光合成膜被称为“板片状元件”,并且描述了“例如,偏光合成膜、相位差膜、用于有机电致发光(EL)元件的塑料板片、用于液晶单元的塑料板片、以及用于太阳能电池板的塑料板片”。在专利文献9或11的图1(a)和1(b)所例示的示例中,板片状元件包括偏光合成膜,其具有偏光片和层积到偏光片的相对表面中的各个相对表面的两个保护膜,并且要冲压出或切割出的板片被称为“产品”。在专利文献10中,偏光合成膜被称为“偏光板原板”,并且冲压出或切割出的片被称为“板片状产品”。
更具体地,专利文献9到11首先描述了以下各点。使用预先检查设备以检测在“板片状元件“或“偏光板原板”中存在的缺陷的位置或坐标。然后,编码所检测到的信息。通过记录设备将编码信息印制到“板片状元件”或“偏光板原板”上。以如下方式印制编码信息,所述方式使在从“板片状元件“或“偏光板原板”中冲压出或切割出“产品”或“板片状产品”时通过读取设备可以读取该编码信息。形成具有印制在“板片状元件“或“偏光板原板”上的编码信息的卷筒。第一制造过程如上所述。除了第一制造过程,专利文献9到11还公开了使用卷绕卷筒的“板片状元件“或“偏光板原板”的第二制造过程。第二制造过程包括以下步骤:基于在“板片状元件“或“偏光板原板”上的、并由读取设备读取的编码信息,直接对“板片状元件“或“偏光板原板”的缺陷的位置或坐标作出标记;冲压或切割正在从卷绕卷筒展开的“板片状元件“或“偏光板原板”;并且允许在下一过程中将从卷绕卷筒中展开的“板片状元件”或“偏光板原板”冲压出或切割出的“产品”或“板片状产品”分类为正常产品和有缺陷产品。
应注意,在传统液晶显示元件制造方法和系统与使用包括偏光合成膜的光学膜的本发明的液晶显示元件制造方法和系统之间,在周围环境中存在明显区别,在传统液晶显示元件制造方法和系统中,从光学膜的连续带状体中预先形成多个单片型板片,并且然后将其送入液晶显示元件的制造过程中,以便层积到多个液晶面板中的各个液晶面板上;在本发明的液晶显示元件制造方法和系统中,在输送光学膜以便对应于正在依序传送的多个液晶面板时,沿着多条切口线仅将包括粘贴层的偏光合成膜切割为预定尺寸,而保留载体膜未被切割,从而通过将多个切割的偏光合成膜板片层积在液晶面板的各侧之一上来形成多个液晶显示元件。
在多个液晶显示元件的连续制造过程中,当连续形成多个板片时,需要提供附加的技术手段:当从光学膜层积板的卷筒连续地展开光学膜时(所述光学膜层积板的卷筒包括偏光合成膜),识别已经基于偏光合成膜中缺陷的定位或坐标位置而预先确定有缺陷区域并且定义有缺陷偏光板片,并且然后去除有缺陷偏光板片,使得有缺陷偏光板片将不被传送到用于与液晶面板层积的位置。用于去除有缺陷偏光板片以便有缺陷偏光板片不被传送到用于与液晶面板进行层积的位置的过程可能使得光学膜的传送不可避免地中断。如果为了避免光学膜传送的中断而照原样保留偏光合成膜的有缺陷区域,则变得难以避免形成有缺陷的液晶显示元件。由此,即使可以保持制造速度,也被迫牺牲产品成品率(product yield)。这是本发明要解决的技术问题之一。
申请人已经通过日本特许公开专利公布第2007-140046A号(专利文献12)提出了一种制造方法。其中,该方法包括:从自光学膜层积板的卷筒连续传送出的光学膜(在专利文献12中被称为“偏光板原板”)中剥离载体膜(在专利文献12中被称为“可剥离膜”),以暴露具有粘贴层的偏光合成膜(在该专利文献中被称为“偏光板”);检测在偏光合成膜中存在的一个或多个缺陷;仅将偏光合成膜的正常区域冲压或切割为矩形形状,而保留偏光合成膜的一个或者多个有缺陷区域不被接触,并且使用另一传送介质将所产生的正常偏光板片(在专利文献12中被称为“板片形状的产品”)与液晶面板一起输送到层积工作台。然而,应注意:此过程不是使得可以通过载体膜将从光学膜的连续带状体形成的正常偏光板片与液晶面板一起输送到层积工作台。应当提及:此技术未超出其中多个切割的单片型板片被层积到另一传送介质并且被与液晶面板一起输送到层积工作台的、液晶显示元件的单片型板片的制造系统。
申请人还已经通过日本专利申请第2007-266200号公开了涉及如图4所示的用于将偏光膜板片层积到液晶面板的方法和系统的发明。该发明涉及包括以下步骤的、用于制造液晶显示元件的方法和系统。首先,该方法包括以下步骤:剥离被提供来保护光学膜所含的偏光合成膜的粘贴层的第一载体膜。该方法还包括以下步骤:预先检查通过剥离该第一载体膜而使粘贴层暴露的偏光合成膜中存在的一个或者多个缺陷。该方法还包括以下步骤:然后传送第二载体膜并且将第二载体膜可剥离地层积到偏光合成膜的暴露的粘贴层以便再次提供对粘贴层的保护,同时保持包含偏光合成膜的光学膜的连续传送。然后,此方法包括以下步骤:在切口工作台处,沿着横跨连续带状体的传送方向的方向在光学膜的连续带状体中形成多条切口线,切口线被形成至到达第二载体膜的内表面的深度,以由此在沿着传送方向在连续带状体上依序形成的相应的径向相邻的两条切口线之间定义有缺陷偏光板片和无缺陷的正常偏光板片,而有缺陷偏光板片和无缺陷的正常偏光板片分别对应于由检查偏光合成膜中存在一个或者多个缺陷的结果确定的、以多个矩形形状分段的、偏光合成膜的包括一个或者多个缺陷的有缺陷区域以及不包括缺陷的正常区域。此方法还包括以下步骤:仅从第二载体膜自动去除有缺陷偏光板片,并且仅将在第二载体膜上剩下的正常偏光板片与液晶面板一起传送到层积工作台。最后,该方法还包括以下步骤:从第二载体膜中剥离正常偏光板片,并且将每个剥离的正常偏光板片层积到每个液晶面板的相对表面之一。此发明包含以下创新的提议:其允许从被设计用于在液晶显示元件的制造过程中传送多个预先形成的单片型板片的液晶显示元件制造系统转换到被设计用于在液晶显示元件的制造过程中连续形成多个偏光膜板片并且将各个板片直接层积到多个液晶面板中的对应液晶面板的连续型的液晶显示元件制造系统。
上述发明意在解决的技术问题是如何实现以下技术手段:所述技术手段用于沿着横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向、在连续带状体中形成直至达到第二载体膜的内表面的深度的多条切口线,以沿着传送方向、在连续带状体上依序形成的相应的径向相邻的两条切口线之间形成有缺陷偏光板片和正常偏光板片,而有缺陷偏光板片和正常偏光板片分别对应于预先定义的、由检查偏光合成膜中存在的缺陷的结果确定的偏光合成膜中包括缺陷的有缺陷区域以及不包括缺陷的正常区域,并且仅防止有缺陷偏光板片与液晶面板一起传送到层积工作台。作为结果,通过提供以下步骤来解决所述技术挑战:对于用于定义有缺陷区域和正常区域的检查而言,从载体膜和/或表面保护膜中分离光学膜的连续带状体,并且在检查之后,再次将替代载体膜和/或替代表面保护膜层积到光学膜的连续带状体上,并且将这些步骤包括在液晶显示元件的连续型制造过程中。在液晶显示元件的制造过程期间,这些步骤对于保护偏光合成膜的表面、以及偏光合成膜的粘贴层的表面而避免其暴露而言是必须的。然而,这些步骤不仅造成用于将正常偏光板片层积到多个液晶面板中的对应液晶面板的整个系统中的很大的复杂程度,而且造成步骤数目的增加以及每个步骤的控制的难度的增加,并且当然造成制造速度的相应降低。
基于以上有关发明并且通过深入研究和考虑,已经开发了本发明,以便在液晶显示元件的制造中明显增加产品精度和制造速度,并且显著提升产品成品率。
专利文献1:日本特许公开专利公布2003-161935A
专利文献2:日本专利第3616866B号
专利文献3:日本专利特许公开62-14810B
专利文献4:日本特许公开专利公布2002-23151A
专利文献5:日本特许公开专利公布2004-144913A
专利文献6:日本特许公开专利公布2005-298208A
专利文献7:日本特许公开专利公布2006-58411A
专利文献8:日本特许公开专利公布2004-361741A
专利文献9:日本特许公开专利公布3974400B
专利文献10:日本特许公开专利公布2005-62165A
专利文献11:日本特许公开专利公布2007-64989A
专利文献12:日本特许公开专利公布2007-140046A
发明内容
本发明要解决的技术问题
如上所述,相对于沿彼此成90度交叉的方向延伸的液晶面板的各边的方向基本平行地配向被层积到液晶面板的前表面和后表面中的各个表面的偏光合成膜的偏光轴,从而在使用VA型和IPS型液晶面板时,不存在在使用TN型液晶面板时经历的技术约束,在TN型液晶面板中,两个偏光膜板片将必须以每个偏光膜板片的偏光轴相对于液晶显示元件的长边或短边的方向倾斜45度而配向的方式,而层积到液晶面板的前表面和后表面中的各个表面,以便获得增加的观看角度特征。因此,利用这样的VA型和IPS型液晶面板,变得可以实现液晶显示元件的连续制造:其中连续供应包含偏光合成膜的光学膜的带状体,并且沿横跨光学膜的传送方向的方向切割所述光学膜的带状体,以形成单片型偏光板片,并且这样的偏光板片被依序层积到多个液晶面板中的各个液晶面板。另外,如果变得可以在连续传送包含偏光合成膜的光学膜的同时定义包括通过预先检查在光学膜中包含的偏光合成膜而检测到的一个或多个缺陷的有缺陷板片以及不包括缺陷的正常偏光板片,并且变得可以在不干扰光学膜的传送的情况下仅将正常偏光板片传递到层积工作台以便与多个依序供应的液晶面板中的各个液晶面板层积,从而产生液晶显示元件,那么,在以下方面将会有显著的改进:在液晶显示元件的制造中,实现增加的产品精度和提高的制造速度、以及明显提高的产品成品率。
如下面所述的,本发明针对液晶显示元件的连续制造,其中提供光学膜的连续带状体,该光学膜具有对应于具有预定义尺寸的液晶面板的宽度的宽度、并且至少包括其上具有粘贴层的偏光片膜以及可剥离地贴合到粘贴层的载体膜,所述光学膜的连续带状体具有基于在光学膜的连续带状体中存在并且通过预先检查偏光合成膜而检测到的缺陷的位置、以在光学膜的连续带状体的宽度方向上延伸的线的形式而在光学膜的连续带状体上定义的多个有缺陷偏光板片切口位置以及正常偏光板片切口位置,所述有缺陷偏光板片切口位置用于定义包含一个或者多个缺陷的区域,所述正常偏光板片切口位置用于定义没有缺陷的区域,将有缺陷偏光板片切口位置和正常偏光板片切口位置作为编码信息记录在所述带状体上,其中由所述光学膜的连续带状体形成单片型偏光膜板片以具有对应于液晶面板的尺寸的尺寸、并且将所述单片型偏光膜板片贴合到液晶面板以形成液晶显示元件,其中将光学膜的连续带状体连续传送到层积工作台,同时测量所述连续带状体的传送距离并基于传送距离来计算传送长度测量数据、并且读取记录在连续带状体上的编码信息,其中当在所述连续带状体上定义的切口位置进入切口工作台时,基于编码信息和传送长度测量数据、通过沿着切口位置从与载体膜相对的表面直至达到载体膜与粘贴层相邻的表面的深度对所述连续带状体进行切口来在所述连续带状体中形成多条切口线,所述编码信息用于确定在所述连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片是具有缺陷的有缺陷偏光板片、还是没有缺陷的正常偏光板片,其中然后将在光学膜的连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片中被确定为正常偏光板片的偏光板片从载体膜剥离,并且将其输送到层积工作台,其中与将正常偏光板片输送到层积工作台同步地将液晶面板输送到层积工作台,并且将正常偏光板片贴合到液晶面板。具体地,本发明的技术目的是通过以下手段在不对光学膜的连续带状体的传送产生任何干扰的情况下、通过依序供应所形成的正常偏光板片,来实现正常偏光板片到液晶显示面板的无干扰的依序层积,在所述手段中,将包含偏光合成膜的光学膜的连续带状体传送到层积工作台以与液晶面板层积,随后,在传送连续带状体的同时,通过在切口工作台处从连续带状体分别依序形成包括通过预先检查在光学膜中包含的偏光合成膜而检测到的一个或多个缺陷的有缺陷偏光板片以及不包括缺陷的正常偏光板片,防止所形成的有缺陷偏光板片被层积到液晶面板。
[用于解决问题的手段]
本发明基于以下发现:可以通过以下处理在液晶显示元件的连续制造中实现上述技术问题的解决方案,在所述处理中,提供光学膜的连续带状体,所述光学膜具有对应于具有预定义尺寸的液晶面板的宽度的宽度、并且至少包括其上具有粘贴层的偏光片膜以及可剥离地贴合到粘贴层的载体膜,所述光学膜的连续带状体具有基于在光学膜的连续带状体中存在并且通过预先检查偏光合成膜而检测到的一个或者多个缺陷的位置、以在光学膜的连续带状体的宽度方向上延伸的线的形式而在光学膜的连续带状体上定义的多个有缺陷偏光板片切口位置以及正常偏光板片切口位置,所述有缺陷偏光板片切口位置用于定义包含一个或者多个缺陷的区域,所述正常偏光板片切口位置用于定义没有缺陷的区域,将有缺陷偏光板片切口位置和正常偏光板片切口位置作为编码信息记录在所述带状体上,其中由所述光学膜的连续带状体形成单片型偏光膜板片以具有对应于液晶面板的尺寸的尺寸、并且将所述单片型偏光膜板片贴合到液晶面板以形成液晶显示元件,其中将光学膜的连续带状体连续传送到层积工作台,同时测量所述连续带状体的传送距离且基于传送距离来计算传送长度测量数据、并且读取记录在连续带状体上的编码信息,其中当在所述连续带状体上定义的切口位置进入切口工作台时,基于编码信息和传送长度测量数据、通过沿着切口位置从与载体膜相对的表面直至达到载体膜与粘贴层相邻的表面的深度对所述连续带状体进行切口来在所述连续带状体中形成多条切口线,所述编码信息用于确定在所述连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片是具有缺陷的有缺陷偏光板片、还是没有缺陷的正常偏光板片,其中然后从载体膜中剥离在光学膜的连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片中被确定为正常偏光板片的偏光板片,并且将其输送到层积工作台,其中与将正常偏光板片输送到层积工作台同步地将液晶面板输送到层积工作台,并且将正常偏光板片贴合到液晶面板。
由权利要求1限定的发明提供了一种液晶显示元件的连续制造方法,其包括以下步骤:提供光学膜的连续带状体,所述光学膜具有对应于具有预定义尺寸的液晶面板的宽度的宽度、并且至少包括其上具有粘贴层的偏光片膜以及可剥离地贴合到粘贴层的载体膜,所述光学膜的连续带状体具有基于在光学膜的连续带状体中存在并且通过预先检查偏光合成膜而检测到的一个或者多个缺陷的位置、以在光学膜的连续带状体的宽度方向上延伸的线的形式而在光学膜的连续带状体上定义的多个有缺陷偏光板片切口位置以及正常偏光板片切口位置,所述有缺陷偏光板片切口位置用于定义包含一个或者多个缺陷的区域,所述正常偏光板片切口位置用于定义没有缺陷的区域,将有缺陷偏光板片切口位置和正常偏光板片切口位置作为编码信息记录在所述带状体上;从所述光学膜的连续带状体中形成单片型偏光膜板片,以具有对应于液晶面板的尺寸的尺寸;以及将所述单片型偏光膜板片分别贴合到液晶面板,以形成液晶显示元件;其中所述方法还包括以下步骤:将光学膜的连续带状体连续传送到层积工作台;测量所述连续带状体的传送距离;基于传送距离来计算传送长度测量数据;读取记录在连续带状体上的编码信息;当在所述连续带状体上定义的切口位置进入切口工作台时,基于编码信息和传送长度测量数据,通过沿着切口位置、从与载体膜相对的表面直至达到载体膜与粘贴层相邻的表面的深度对所述连续带状体进行切口,来在所述连续带状体中形成多条切口线;使用编码信息,用于确定在所述连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片是具有一个或多个缺陷的有缺陷偏光板片、还是没有缺陷的正常偏光板片;从载体膜中剥离在光学膜的连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片中被确定为正常偏光板片的偏光板片;将剥离的偏光板片输送到层积工作台;与将正常偏光板片输送到层积工作台同步地,将液晶面板依序输送到层积工作台;以及以依序的方式将偏光板片贴合到各个液晶面板。
由权利要求2限定的发明提供了一种包括权利要求1中所述特征的方法,其还包括以下步骤:防止在光学膜的连续带状体中依序形成的各对切口线之间形成的偏光板片中被确定为有缺陷偏光板片的偏光板片被贴合到液晶面板。
由权利要求3限定的发明提供了一种包括权利要求1或2中任一项中所述特征的方法,其中在层积工作台处将正常偏光板片贴合到液晶面板的步骤包括以下步骤:在层积工作台处提供一对层积辊,用于向着彼此移动或者远离彼此移动;检测与液晶面板向着层积工作台的移动同步地输送的正常偏光板片的位置;在层积工作台处调整正常偏光板片和液晶面板的层积位置;调整所输送的正常偏光板片的前边缘和与向着以相间隔的关系定位的一对层积辊之间的辊隙输送正常偏光板片同步地传送的液晶面板的前边缘之间的对齐;然后使层积辊向着彼此移动;以及通过层积辊将正常偏光板片层积到液晶面板。
由权利要求4限定的发明提供了一种包括权利要求1至3中任一项中所述特征的方法,其还包括切口位置检验步骤,用于检验在光学膜的连续带状体中实际形成的切口线的位置是否与要形成切口线的位置一致。
由权利要求5限定的发明提供了一种包括权利要求4中所述特征的方法,其中切口位置检验步骤的特征在于:基于在所述连续带状体中实际形成的切口线的位置和要形成切口线的切口位置之间在传送方向上的偏差,来调整要在光学膜的连续带状体中形成切口线的位置。
由权利要求6限定的发明提供了一种包括权利要求2中所述特征的方法,其中防止被确定为有缺陷偏光板片的偏光板片被贴合到液晶面板的步骤还包括以下步骤:提供要将有缺陷偏光板片贴合到其上的虚设膜传送路径;提供可移动辊,用于使所述连续带状体朝向所述虚设膜传送路径;以及当在光学膜的连续带状体中形成的有缺陷偏光板片到达去除工作台时,通过可移动辊移动连续带状体,以使有缺陷偏光板片与虚设膜传送路径对齐,从而剥离有缺陷偏光板片并且将所述有缺陷偏光板片贴合到虚设膜传送路径。
由权利要求7限定的发明提供了一种包括权利要求2中所述特征的方法,其中防止在光学膜的连续带状体中形成的被确定为有缺陷偏光板片的偏光板片被贴合到液晶面板的步骤还包括以下步骤:提供用于传送要将有缺陷偏光板片贴合到其上的虚设膜的虚设膜传送路径;提供可移动辊,其构成虚设膜传送路径的一部分;以及当在光学膜的连续带状体中形成的有缺陷偏光板片到达在层积工作台中提供的并位于分开的位置的层积辊之间的辊隙时,移动可移动辊以利用可移动辊替代层积辊之一,使得可移动辊与另一层积辊协作;将有缺陷偏光板片从所述连续带状体中剥离,并且将有缺陷偏光板片贴合到虚设膜传送路径。
由权利要求8限定的发明提供了一种包括权利要求1至7中的任一项中所述特征的方法,其还包括以下步骤:预先将多个液晶面板存储在液晶面板储料库中;从液晶面板储料库中依序取出液晶面板;以及当将在光学膜的连续带状体上形成的正常偏光板片输送到层积工作台时,与正常偏光板片同步地控制被供应到层积工作台的液晶面板中的每一个的定向。
由权利要求9限定的发明提供了一种包括权利要求8中所述特征的方法,其中控制液晶面板的定向的步骤还包括以下步骤:沿横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向延伸的正常偏光板片的前边缘的位置、以及沿横跨液晶面板的传送方向的方向延伸的液晶面板的前边缘的位置;以及基于与正常偏光板片的前边缘的位置有关的信息以及与液晶面板的前边缘有关的信息,来控制液晶面板的定向。
由权利要求10限定的发明提供了一种用于液晶显示元件的连续制造系统,其被适配用于使用光学膜的连续带状体,所述光学膜具有对应于具有预定义尺寸的液晶面板的宽度的宽度、并且至少包括其上具有粘贴层的偏光片膜以及可剥离地贴合到粘贴层的载体膜,所述光学膜的连续带状体具有基于在光学膜的连续带状体中存在并且通过预先检查偏光合成膜而检测到的一个或者多个缺陷的位置、以在光学膜的连续带状体的宽度方向上延伸的线的形式而在光学膜的连续带状体上定义的多个有缺陷偏光板片切口位置以及正常偏光板片切口位置,所述有缺陷偏光板片切口位置用于定义包含一个或者多个缺陷的区域,所述正常偏光板片切口位置用于定义没有缺陷的区域,将有缺陷偏光板片切口位置和正常偏光板片切口位置作为编码信息记录在所述带状体上,其中从光学膜的连续带状体中将偏光膜板片形成为对应于液晶面板的尺寸的尺寸,并且将所述偏光膜板片贴合到液晶面板;所述系统包括:传送单元,用于将光学膜的连续带状体连续传送到层积工作台;测量设备,用于测量所述连续带状体的传送距离,并且基于传送距离来计算传送长度测量数据;读取单元,用于读取在所述连续带状体上记录的编码信息;切口单元,用于:当在所述连续带状体上定义的切口位置进入切口工作台时,基于编码信息和传送长度测量数据,通过沿着切口位置、从与载体膜相对的表面直至达到载体膜与粘贴层相邻的表面的深度对所述连续带状体进行切口,来在所述连续带状体中形成多条切口线;控制单元,用于确定在所述连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片是具有一个或多个缺陷的有缺陷偏光板片、还是没有缺陷的正常偏光板片;剥离单元,用于从载体膜中剥离在光学膜的连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片中被确定为正常偏光板片的偏光板片,并且将剥离的偏光板片输送到层积工作台;以及层积单元,用于与将正常偏光板片输送到层积工作台同步地、将液晶面板依序输送到层积工作台,并且以依序的方式将偏光板片贴合到各个液晶面板。
由权利要求11限定的发明提供了一种包括权利要求10中所述特征的系统,其还包括有缺陷偏光板片去除单元,用于防止在光学膜的连续带状体中依序形成的各对切口线之间形成的偏光板片中被确定为有缺陷偏光板片的偏光板片被贴合到液晶面板。
由权利要求12限定的发明提供了一种包括权利要求10或11中的任一项中所述特征的系统,其中用于将正常偏光板片贴合到液晶面板的层积单元还包括:在层积工作台处提供的一对层积辊,用于向着彼此移动或者远离彼此移动;调整单元,用于检测与液晶面板向着层积工作台的传送同步地输送的正常偏光板片的位置,并且用于在层积工作台处调整正常偏光板片相对于液晶面板的位置;所述调整单元被适配用于执行以下操作:调整所输送的正常偏光板片的前边缘和与向着以相间隔的关系定位的一对层积辊之间定义的辊隙输送正常偏光板片同步地传送的液晶面板的前边缘之间的对齐;此后,闭合层积辊;以及通过层积辊将正常偏光板片层积到液晶面板。
由权利要求13限定的发明提供了一种包括权利要求10到12中的任一项中所述特征的系统,还包括切口位置检验单元,用于检验在横跨传送方向的方向上、在光学膜的连续带状体中实际形成的切口线的位置是否与要形成切口线的切口位置一致。
由权利要求14限定的发明提供了一种包括权利要求13中所述特征的系统,其中所述切口位置检验单元被适配为用于基于在光学膜的连续带状体中实际形成的切口线的位置和在横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向上要形成切口线的切口位置之间在传送方向上的偏差,来通过控制切口单元而调整要在光学膜的连续带状体中形成切口线的位置。
由权利要求15限定的发明提供了一种包括权利要求11中所述特征的系统,其中有缺陷偏光板片去除单元包括具有虚设膜传送路径的虚设膜驱动机构、以及用于向着虚设膜传送路径移动光学膜的连续带状体的移动机构,其中要将在光学膜的连续带状体中形成的有缺陷偏光板片贴合到所述虚设膜传送路径,当有缺陷偏光板片到达去除工作台时,所述移动机构被移动以使光学膜的连续带状体移动到接触虚设膜传送路径,以便从连续带状体剥离有缺陷偏光板片并且将所述有缺陷偏光板片贴合到虚设膜传送路径。
由权利要求16限定的发明提供了一种包括权利要求11中所述特征的系统,其中有缺陷偏光板片去除单元包括具有用于将有缺陷偏光板片贴合到其上的虚设膜传送路径的虚设膜驱动机构、以及构成虚设膜传送路径的一部分的可移动辊,当有缺陷偏光板片到达在所述层积工作台中提供的并且彼此相间隔的层积辊的辊隙时,所述可移动辊被移动以利用所述可移动辊替代层积辊之一,使得可移动辊与另一层积辊协作,以将有缺陷偏光板片从所述连续带状体中剥离,并且将有缺陷偏光板片贴合到虚设膜传送路径。
由权利要求17限定的发明提供了一种包括权利要求10到16中的任一项中所述特征的系统,还包括液晶面板输送单元,其包括:存储储料库,用于预先存储多个液晶面板;取出单元,用于从存储储料库中依序取出液晶面板;以及液晶定向控制单元,用于在将在光学膜的连续带状体上形成的正常偏光板片依序输送到层积工作台的时刻、与所述正常偏光板片同步地控制被传送到层积工作台的液晶面板的定向。
由权利要求18限定的发明提供了一种包括权利要求17中所述特征的系统,其中液晶定向控制单元还包括:板片前边缘检测单元,用于检测正常偏光板片的前边缘的位置,所述前边缘沿横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向延伸;液晶面板前边缘检测单元,用于检测液晶面板的前边缘的位置,所述前边缘沿横跨液晶面板的传送方向的方向延伸;以及定向控制单元,用于根据与由板片前边缘检测单元和液晶面板前边缘检测单元提供的正常偏光板片的前边缘的位置以及液晶面板的前边缘的位置有关的信息,来控制液晶面板的定向。
附图说明
图1是示出根据本发明的用于制造液晶显示元件的光学膜的结构的示意图。
图2图示了具有42英寸对角线屏幕尺寸的宽屏电视机的液晶显示元件的典型示例。
图3是示出根据本发明的包括在用于液晶显示元件的光学膜中存在的缺陷的有缺陷区域和没有缺陷的正常区域的示意图。
图4是示出用于连续制造液晶显示元件的系统的概念图,其中,通过检查偏光合成膜中的缺陷,将偏光板片层积在液晶面板上,而不中断正在传送的光学膜的连续带状体的传送。
图5是示出根据本发明的一个实施例的、液晶显示元件的连续制造系统的概念图,其中,该系统包括:光学膜传送装置,其用于传送来自光学膜层积板的卷筒的光学膜的带状体;以及液晶面板传送装置,其用于传送要与通过在正在传送的光学膜的连续带状体中形成切口线而切割形成的正常偏光板片层积的液晶面板。
图6是示出根据本发明的图5中液晶显示元件的连续制造系统中的制造过程或步骤的流程图。
图7是示出根据本发明的一个实施例的用于控制在图5中例示的光学膜传送装置和液晶面板传送装置的设备的控制单元、和由读取单元读取并且由液晶显示元件的连续制造系统中的信息处理设备处理的编码信息之间的关系的示意图。
图8是示出根据本发明的一个实施例的液晶显示元件的连续制造系统中有缺陷偏光板片去除单元的示意图,该有缺陷偏光板片去除单元包括:(1)布置在光学膜的传送路径中的虚设膜驱动机构,或者(2)被适配为要向着在可彼此更接近和彼此远离的一对层积辊之间的辊隙移动以及远离所述辊隙移动的虚设膜驱动机构。
图9是示出根据本发明的一个实施例的液晶显示元件的连续制造系统中切口位置检查单元的操作、以及用于检查基于在正在传送的光学膜的连续带状体中形成的切口线而测量的关于光学膜传送长度的传送长度测量数据和由读取设备读取的用于形成切口线的位置之间的差别的检查方法的示意图。
图10是示出在根据本发明的一个实施例的液晶显示元件的连续制造系统中,在由读取单元读取在光学膜的连续带状体上记录的编码信息并且基于该编码信息控制液晶面板传送装置中的预对准单元、最终对准单元、朝向层积位置定向的传送单元以及面板边缘检测单元以便允许以被控姿势传送液晶面板时的状态的示意图。
图11是示出层积单元的示意图,该层积单元包括:板片边缘检测单元,其用于检测从光学膜的连续带状体形成的偏光合成膜的正常偏光板片的前边缘;以及直线前进姿势(straight-ahead-posture)检测单元,其用于检测与所形成的偏光合成膜的正常偏光板片的传送方向的对准(alignment)。
图12是示出根据本发明的第一实施例的光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统的示意图。
图13是示出根据本发明的第二实施例的光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统的示意图。
图14是示出根据本发明的第三实施例的光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统的示意图。
图15是示出图12中所例示的光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统中的制造过程或过程步骤的流程图。
图16是示出图13中所例示的光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统中的制造过程或过程步骤的流程图。
图17是示出图14中所例示的光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统中的制造过程或过程步骤的流程图。
图18是示出根据本发明的一个实施例的、在液晶显示元件的连续制造系统中计算用于在正在传送的光学膜的连续带状体中形成切口线以将偏光合成膜的区域分段为有缺陷区域和正常区域的位置的技术的示意图。
图19是示出计算用于在正在传送的光学膜的连续带状体中形成切口线的位置的技术的流程图。
图20是示出计算用于在正在传送的光学膜的连续带状体中形成切口线的位置的另一技术的流程图。
图21是示出计算用于在正在传送的光学膜的连续带状体中形成切口线的位置的又一技术的流程图。
图22是示出根据本发明的一个实施例的、在液晶显示元件的连续制造系统中光学膜的位置信息的编码和记录的示例的表格。
图23是示出根据本发明的一个实施例的、在液晶显示元件的连续制造系统中在图19中标识信息或包括缺陷的信息Xγ的技术中用于在光学膜中形成切口线的位置的编码的示例的图。
图24是示出根据本发明的一个实施例的、在液晶显示元件的连续制造系统中在图20中将至下一切口线形成位置的距离修改为(X′+X0′)(其中X0’>X0)的技术中指示用于在光学膜中形成切口线的位置的切口位置信息的编码的示例的图。
图25是示出根据本发明的一个实施例的、在液晶显示元件的连续制造系统中在图21中将至下一切口线形成位置的距离修改为[(X′+X0)/m](其中m=2)的技术中指示用于在光学膜中形成切口线的位置的切口位置信息的编码的示例的图。
图26是示出根据本发明的第二实施例的、具有两个检查单元的光学膜层积板的卷筒的制造系统的示意图。
图27是示出根据本发明的第三实施例的、具有四个检查单元的光学膜层积板的卷筒的制造系统的示意图。
图28是示出缺陷检查设备、缺陷类型以及缺陷检查方法的表格。
附图标记的解释
10:光学膜层积板的卷筒
10’,10”:临时光学膜层积板的卷筒
11:形成有粘贴层的偏光合成膜
110:没有粘贴层的偏光合成膜
12:粘贴层
13:表面保护膜
13’:临时表面保护膜
14:载体膜
14’,14”:临时载体膜
20:编码信息
100:光学膜传送装置
110:支架
120:读取单元
130,170:膜传送单元
140,180:速度调节单元
150:切口单元
160:切口位置检查单元
190:有缺陷偏光板片去除单元
200:层积单元
210:载体膜重绕驱动机构
220:板片边缘检测单元
230:直线前进姿势(straight-ahead-posture)检测单元
300:液晶面板传送装置
400:控制单元
410:信息处理设备
420:存储设备
500,700,800:光学膜层积板的卷筒的制造系统
510:偏光片制造线
520:保护膜制造线
530:层积线或临时光学膜传送线
540:膜传送驱动机构
550:测量设备
560:检查单元
570:载体膜层积机构
571:支架
572:可剥离膜重绕驱动机构
575:临时载体膜剥离单元
576:临时载体膜卷绕驱动机构
580:光学膜卷绕驱动机构
590:图像读取设备
600:控制单元
610:信息处理设备
620:存储设备
630:信息记录设备
640:表面保护膜层积机构
645:临时表面保护膜剥离单元
646:临时表面保护膜重绕驱动机构
710:临时光学膜传送单元
720:临时载体膜重绕驱动机构
730:第一检查单元
731:第二检查单元
740:控制单元
741:信息处理设备
742:存储设备
750:载体膜传送单元
760:载体膜层积机构
770:光学膜卷绕驱动机构
780:信息记录单元
810:临时光学膜传送单元
820:临时载体膜重绕驱动机构
830:临时表面保护膜重绕驱动机构
840:第一检查单元
850:第二检查单元
851:第三检查单元
852:第四检查单元
860:控制单元
861:信息处理设备
862:存储设备
870:临时表面保护膜传送单元
880:载体膜传送单元
890:层积机构
891:载体膜层积机构
892:表面保护膜层积机构
910:光学膜卷绕驱动机构
920:信息记录单元
具体实施方式
现在将参考附图中所例示的具体实施例来描述本发明。
I.液晶显示元件的连续制造系统和方法
(液晶显示元件的连续制造系统的总的描述)
图5是示出液晶显示元件的连续制造系统1的示意图,其包括:光学膜传送装置100,其具有用于制造根据本发明的液晶显示元件的光学膜层积板的卷筒;以及液晶面板传送装置300,其用于传送要与从自该卷筒传送的光学膜的连续带状体形成的正常偏光板片层积的液晶面板。连续制造系统1至少包括:切口工作台(slitting station)A,用于由光学膜的连续带状体形成多个偏光板片;去除工作台C,用于去除有缺陷偏光板片;以及层积工作台B,用于将正常偏光板片层积到液晶面板,如后面所描述的,层积工作台B以及去除工作台C可以重复地放置。图6是示出图5中所例示的液晶显示元件的连续制造系统1中的制造过程或过程步骤的流程图。
光学膜传送装置100包括:支架110,其用于可旋转地安装根据本发明的一个实施例的光学膜层积板的卷筒10;读取单元120,其用于读取编码信息;膜传送单元130,其包括传送辊;速度调节单元140,其包括用于提供恒定速度膜传送的浮动辊(dancer roller);在切口工作台A处提供的切口单元150,其用于从与载体膜相对的表面到达到载体膜的粘贴层表面的深度、沿横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向、在连续带状体中形成多个切口,从而形成切口线;同样在切口工作台A处提供的切口位置检查单元160,其用于检查所形成的切口线;膜传送单元170,其包括传送辊;速度调节单元180,其包括用于提供恒定速度膜传送的浮动辊;在去除工作台C处提供的有缺陷偏光板片去除单元190,其用于从载体膜中去除所切开的有缺陷偏光板片;在层积工作台B处提供的层积单元200,其包括用于将已经从载体膜切开并剥离的正常偏光板片贴合到液晶面板的一对层积辊;载体膜卷绕机构210,其用于卷绕载体膜;同样在层积工作台B处提供的边缘检测单元220,其用于检测正常偏光板片的前边缘;以及前进方向检测单元230,其用于检测具有要包括在光学膜的连续带状体中的切口线的正常偏光板片的前进方向。
(光学膜层积板的卷筒10的供应)
优选地,安装在光学膜传送装置100中的、根据该实施例的光学膜层积板的卷筒10具有近似等于该光学膜所贴合到的液晶面板的长边或短边的长度的宽度。优选地,将透明保护膜用于层积在如图1的示意图所示的偏光片的相对表面中一个表面或每个表面上的保护膜。光学膜层积板的卷筒10包括由偏光合成膜11、表面保护膜13以及载体膜14组成的光学膜的连续带状体,偏光合成膜11包括偏光片,在偏光片的表面上提供有粘贴层12,在粘贴层12上层积有透明保护膜并且粘贴层12要贴合到液晶面板上,表面保护膜13具有可剥离地层积到偏光合成膜11的与具有粘贴层12的表面相对的表面上的粘贴表面,以及载体膜14可剥离地层积在偏光合成膜11的粘贴层12上。载体膜14是被适配为在液晶显示元件的制造过程期间保护偏光合成膜11的粘贴层12、并且通过当在用于将在光学膜的连续带状体中形成的偏光板片贴合到液晶面板的层积过程之前或期间剥离偏光板片时进行卷取而被去除的可剥离膜。在该实施例中,使用术语“载体膜”,这是因为该膜具有将偏光合成膜11中的正常偏光板片承载到层积工作台B的功能。
如下地形成光学膜层积板的卷筒10。后面将描述用于制造光学膜层积板的卷筒10的方法的细节。在光学膜层积板的卷筒10的制造过程期间,首先使用检查单元检测在正在连续传送的光学膜的偏光合成膜11中存在的缺陷。然后,基于所检测的偏光合成膜11中缺陷的定位或坐标位置,在偏光合成膜11中预先定义有缺陷区域和无缺陷的正常区域,如图3中所示。然后,将包括切口位置信息以及可选的用于标识有缺陷区域和正常区域的标识信息的信息记录在正在连续传送的光学膜上。切口位置信息指示要在光学膜的连续带状体中形成多条切口线中各条切口线的位置,并且在液晶显示元件的制造过程期间,以以下方式基于偏光合成膜11的有缺陷区域和正常区域通过切口工作台A处的切口单元150成对地形成切口线,所述方式为:沿横跨正在传送的光学膜的连续带状体的传送方向的方向依序切开该连续带状体达到直至载体膜的粘贴层表面的深度。要记录在光学膜的连续带状体上的、包括切口位置信息和可选标识信息的信息是与诸如关于制造批号(manufacturing lot)和卷筒中连续带状体的长度的信息之类的附加信息一起或相关联地创建的编码信息。优选地,将编码信息记录在要连续传送的光学膜中的载体膜14上。应理解,可以以多种模式中任一种模式将编码信息记录在载体膜14上,所述多种模式诸如:其中将包括所有必要信息的编码信息记录在单个存储定位的模式、或者其中将包括不同信息的多个编码信息中的每个编码信息以给定间隔(例如,以1m或100m的间隔)记录在多个存储定位上的模式。替代载体膜14,可以将编码信息记录在表面保护膜13上。在任一情况下,编码信息被配置为可由连续制造系统1的读取单元120读取。
在液晶显示元件的制造过程期间,通过与在编码信息中包括的并由连续制造系统1(在其上安装有光学膜层积板的卷筒10)的读取单元120读取的切口位置信息相关地、在从光学膜层积板的卷筒10中展开光学膜时计算光学膜传送出的距离的传送长度测量数据,来操作在连续制造系统1中切口工作台A处提供的切口单元150。由相应的径向相邻的两个切口线定义的偏光合成膜的区域可以包括:无缺陷的正常区域,其具有由要与偏光合成膜层积的液晶面板的边的长度确定的给定长度;以及有缺陷区域,其具有通常比所述给定长度短的长度。在液晶显示元件的制造过程期间,将利用切口单元150沿着成对的切口线切割的偏光合成膜11的有缺陷区域定义为要在去除工作台C处利用连续制造系统1的有缺陷偏光板片去除单元190从光学膜的连续带状体(具体地,载体膜14)中去除的有缺陷偏光板片Xβ。以相同方式切割偏光合成膜11的正常区域,并且将其定义为要从光学膜的连续带状体(具体地,载体膜14)中剥离并且要在层积工作台B处利用连续制造系统1的层积单元200层积到液晶面板的相对表面之一的正常偏光板片Xα。
参照图3,如下地描述基于偏光合成膜的正常区域和有缺陷区域将切口线具体形成到偏光合成膜11。将根据偏光合成膜11中缺陷的定位或坐标位置预先定义的正常区域的长度(Xα)确定为根据要与正常偏光板片层积的液晶面板的一个边的长度的恒定值。类似地,关于同样被预先定义的有缺陷区域,通过定义如沿着该带状体的传送方向看上去紧接地位于该有缺陷区域的上游侧的正常区域的下流侧切口线来定义用于定义该有缺陷区域的上游侧切口线。因此,通过该上游侧切口线和在缺陷的定位或坐标位置的稍下游侧形成的下流侧切口线来确定有缺陷区域的长度(Xβ)。由于沿传送方向看上去有缺陷区域的上游侧切口线和偏光合成膜的缺陷的定位或坐标位置之间的长度可能不固定,因此,有缺陷区域的长度(Xβ)也相应变化。根据一个实施例,当进行用于确定指定要形成切口线的位置的切口位置信息的处理时,通过信息处理确定有缺陷区域的长度(Xβ),使得在任何情况下有缺陷区域的长度(Xβ)总是不同于正常区域的长度(Xα),例如成立关系Xβ<Xα。根据另一实施例,当有缺陷区域的长度(Xβ)变得等于正常区域的长度(Xα)时,可以产生标识信息Xγ来从正常区域中标识有缺陷区域。在该情况下,将所产生的标识信息Xγ与切口位置信息一起或者相关联地并入编码信息中。可以配置连续制造装置1,使得:在液晶显示元件的制造过程期间,在切口工作台处,切口单元150起作用以根据由读取单元120读取的切口位置信息来形成正常偏光板片Xα和有缺陷偏光板片Xβ,并且去除工作台处的有缺陷偏光板片去除单元190起作用以容易区分并仅去除具有与正常偏光板片的长度(Xα)不同的长度(Xβ)的有缺陷偏光板片。在编码信息包括用于相对于正常区域标识有缺陷区域的标识信息Xγ的情况下,有缺陷偏光板片去除单元190基于该标识信息而起作用以区分并仅去除有缺陷偏光板片。后面将描述在连续制造系统1中所使用的光学膜层积板的卷筒10的具体制造过程。
光学膜层积板的卷筒10安装在连续制造系统1的支架110上。优选地,支架110配备有用于确定光学膜的传送长度的编码器(未示出),将通过该编码器获得的传送长度测量数据存储在控制单元400的存储设备420中。替代地,可以在光学膜传送装置100中附加地提供测量设备,以计算光学膜的连续带状体的传送长度。
在整个系统的操作中,首先将虚设膜(dummy film)的卷筒安装在支架110上。利用第一和第二膜传送单元130、170(每个都包括传送辊)在施加张力的情况下从虚设膜的卷筒展开虚设膜的连续带状体。一直传送虚设膜,直到其前边缘到达以下位置为止,在正常操作情况下,在所述位置处,从其中剥离了正常偏光板片Xα的载体膜14通过在层积工作台B处提供的层积单元200并被载体膜卷绕驱动机构210卷绕。然后,虚设膜的尾端连接到从光学膜层积板的卷筒10展开的光学膜的前端,并且开始光学膜的供应。为了即使在光学膜的传送在通过切口单元150在偏光合成膜中形成切口线的切口工作台A处或者在正常偏光板片层积在液晶面板上的层积工作台B处临时停止时也允许在施加张力的情况下维持光学膜的连续带状体处于恒定速度,紧接在这些位置之前提供第一和第二速度调节单元140和180,第一和第二速度调节单元140和180每一个包括前述的浮动辊。
顺便提及,在连续制造系统中,假设:光学膜层积板的单个卷筒包括例如1000米长度的层积板的带状体,并且连续制造系统1的生产能力达到每天5000到20000米的级别,则单个这样的连续制造系统1将操作为在一天中依序与5个到20个光学膜层积板的卷筒连接。可以说,在可以无任何问题地依序传送多个液晶面板W的情况下,用于产生液晶显示元件的、根据该实施例的使用光学膜层积板的卷筒10的液晶显示元件的连续制造系统1与使用单片型板片的传统制造系统相比,使得可以提高产品精度并且使制造速度加倍。在此情况下,要处理的光学膜层积板的卷筒的数目将显著增加,其导致自动更换光学膜层积板的卷筒的新的技术需要。
(编码信息的读取和信息处理)
在该实施例中,在切口工作台A处在光学膜的连续带状体上依序形成切口线、而保持载体膜14不被切口单元150切割,在层积工作台B处,紧接在层积单元200之前,将沿两个相邻切口线切割的偏光合成膜11的正常偏光板片Xα从载体膜14中剥离,并且剥离的正常偏光板片Xα被通过暴露的粘贴层12层积到液晶面板,从而产生液晶显示元件。在该过程期间,通过载体膜卷绕驱动机构210卷绕载体膜14。通常,表面保护膜13被制成板片结构,其与要层积到液晶面板的、偏光合成膜11的正常偏光板片Xα保持在一起,并且在对要生产的液晶显示元件执行包括清洗/干燥的最后步骤之后,剥离并去除表面保护膜的板片。载体膜和表面保护膜两者都是执行该过程所需的制造过程材料,但是在制造过程的最后阶段中被去除并且被丢弃。因此,根据该实施例的光学膜层积板的卷筒10的特征之一在于:使用这样的制造过程材料作为制造过程必须的信息存储介质。在下文中,将关于仅利用载体膜作为用于信息存储介质的制造过程材料的示例单独进行描述。
图7是示出要由连续制造系统1的读取单元120读取并且由信息处理设备410处理的编码信息20、和用于控制分别在光学膜传送装置100(参见图5)和用于依序传送液晶面板的液晶面板传送装置300(参见图5)中提供的各单元中每个单元的前述控制单元400之间的关系的示意图。仅作为参考,记录在光学膜层积板的卷筒10中的编码信息20包括指示在光学膜的连续带状体中成对形成各条切口线的位置的切口位置信息、以及可选的用于相对于偏光合成膜的正常区域标识有缺陷区域的标识信息。如下面所述,在光学膜层积板的卷筒10的连续带状体的制造过程中,通过检查单元检测在光学膜中包括的偏光合成膜中存在的缺陷,并且基于从所检测的缺陷的定位或坐标位置而确定的偏光合成膜中的有缺陷区域和正常区域,在连续制造系统1的切口工作台处,切口单元150沿横跨被依序传送的光学膜的传送方向的方向、在光学膜的连续带状体中形成从与载体膜相对的表面直至达到载体膜的粘贴层表面的深度的多个切口。
如图7中所示,编码信息20优选地被记录在光学膜中包含的载体膜上。通过包括代码读取器或CCD照相机之类的读取单元读取所记录的编码信息20,并且将以此方式读取的编码信息20传送到在连续制造系统1的控制单元中包括的信息处理设备410。如从图5和图6中所例示的每个单元的控制和制造过程流程、以及图7的示意图中清楚的,将通过读取单元120读取的编码信息20传送到信息处理设备410,并且然后信息处理设备410起作用以便处理所接收的编码信息20。控制单元400还可以基于由信息处理设备410处理的编码信息20而操作,以便以相互关联的方式系统地控制在液晶面板W传送装置300和光学膜传送装置100中包括的各单元,诸如在切口工作台A处提供的切口单元150、在去除工作台C处提供的有缺陷偏光板片去除单元190和在层积工作台B处提供的层积单元200。
下面将描述整个系统的控制的概况。基于在所处理的编码信息中包括的切口位置信息,控制单元400起作用为:控制包括传送辊的膜传送单元130的操作以便传送光学膜,并且然后控制第一速度调节单元140的操作以便临时停止光学膜的传送。然后,控制单元400起作用为:控制切口工作台A处的切口单元150的操作,以便沿横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向、在光学膜的连续带状体中形成从与载体膜相对的表面直至达到载体膜的粘贴层表面的深度的多条切口线。
在其上形成有切口线的光学膜的连续带状体被传送到切口位置检查单元160,在该切口位置检查单元160中,确认该带状体上的切口线位置。然后,基于长度上的区别,识别或者彼此区分在光学膜的连续带状体中通过切口线形成的有缺陷偏光板片Xβ和正常偏光板片Xα,并且与包括传送辊的膜传送单元170和速度调节单元180相互关联地使用去除工作台C处的有缺陷偏光板片去除单元190仅将有缺陷偏光板片Xβ从载体膜14剥离和去除。在编码信息包括用于相对于正常区域标识有缺陷区域的标识信息的情况下,对于有缺陷偏光板片去除单元190,可以基于该标识信息从载体膜14中仅剥离和去除有缺陷偏光板片Xβ。然后,与正在依序传送的液晶面板的传送同步地,通过载体膜卷绕驱动机构210将从其中去除了有缺陷偏光板片Xβ的光学膜的连续带状体传送到层积工作台B。在由偏光合成膜中的切口线定义的正常偏光板片Xα的前边缘到达所传送的液晶面板的前边缘的位置处卷绕载体膜14,其中剥离正常偏光板片Xα,并且层积工作台B处的包括一对层积辊的层积单元200开始层积操作以将正常偏光板片Xα贴合到液晶面板中的对应液晶面板。
现在将关于由控制单元400操作的各单元的、包括在层积工作台B处的用于将正常偏光板片Xα贴合到液晶面板中对应液晶面板的层积操作的具体操作来描述液晶显示元件的制造过程。
(有缺陷偏光板片的去除)
有缺陷偏光板片去除单元190在控制单元400的控制下操作,以便从载体膜14(在该载体膜14上以可剥离的方式将由切口线形成的偏光合成膜11的正常偏光板片Xα和有缺陷偏光板片Xβ层积在光学膜的连续带状体中)中仅将具有与正常偏光板片Xα的长度不同的长度的有缺陷偏光板片Xβ、或者与标识信息相关联的有缺陷偏光板片Xβ标识或区分为有缺陷偏光板片,并且从载体膜14中仅剥离和去除有缺陷偏光板片Xβ。图8(1)和图8(2)示出了这样的有缺陷偏光板片去除单元190,其被适配为在控制单元400的控制下仅标识或区分有缺陷偏光板片Xβ。
图8(1)中例示的有缺陷偏光板片去除单元190包括:虚设膜驱动机构191,其具有将有缺陷偏光板片贴合到其上并从载体膜14中剥离的功能;移动机构192,其被适配为在有缺陷偏光板片Xβ到达传送路径中要开始去除有缺陷偏光板片的位置时被激活,其中,移动机构192被适配为移动光学膜的传送路径,使得光学膜的传送路径朝向或者远离虚设膜驱动机构191的虚设膜传送路径移动。
图8(2)中例示的有缺陷偏光板片去除单元190被配置为在层积工作台B处、在控制单元400的控制下以与包括一对层积辊的层积单元200相互关联的方式移动,并且包括:虚设膜驱动机构191,其具有将有缺陷偏光板片Xβ贴合到其上和从载体膜14剥离的功能;可移动辊192,其定义虚设膜驱动机构191的虚设膜传送路径。图8(2)中例示的去除单元与图8(1)中例示的去除单元的区别在于:在图8(2)中例示的去除单元中,在层积工作台B处,定义虚设膜传送路径的可移动辊192与层积单元200的一对层积辊相邻地布置,并且被适配为以与层积单元200的层积辊相互关联的方式移动。更具体地,当有缺陷偏光板片Xβ到达层积工作台B处的光学膜的传送路径的终点位置(即,去除开始位置)时,将那对层积辊相互分离地移动,并且将定义虚设膜传送路径的可移动辊192移动到以间隔开的关系定位的层积辊之间的辊隙,并且通过用可移动辊192来代替其中一个层积辊而以相互关联的方式移动可移动辊192和其中另一个层积辊。在该情况下,由于通过载体膜卷绕驱动机构210卷绕载体膜14,因此有缺陷偏光板片Xβ从载体膜14剥离,并且通过与一对层积辊中的另一个辊相互关联的方式操作的可移动辊192,将所剥离的有缺陷偏光板片Xβ贴合到虚设膜传送路径并且去除。
(光学膜的连续带状体中的切口线的检查)
在光学膜层积板的卷筒10的连续带状体的制造过程中,基于在所检查的偏光合成膜11中存在的缺陷的定位或坐标位置,预先定义两种区域,所述两种区域包括:没有缺陷的正常区域、以及有一个或多个缺陷的有缺陷区域,并且基于这样的区域,从光学膜层积板的卷筒展开的光学膜的连续带状体具有以编码信息20的形式的切口位置信息,切口位置信息指示要在在液晶显示元件的制造过程期间正在传送的光学膜中包含的载体膜中形成各条切口线的位置。在液晶显示元件的制造过程期间,通过连续制造系统1中的读取单元120读取切口位置信息。然后,在切口工作台A处,切口单元150基于所读取的切口位置信息起作用以便沿横跨传送方向的方向在光学膜的连续带状体中依序形成切口线。如果没有精确地形成顺序的切口线,则与依据在从光学膜层积板的卷筒10传送光学膜期间测量的光学膜传送出距离而获得的传送长度测量数据相关联地控制切口单元150的操作将变得没有意义。
图9是示出包括用于连同光学膜传送出距离的传送长度测量数据而确定在光学膜的连续带状体中沿着横跨其传送方向的方向实际形成的切口线的位置与如由读取单元120读取的要形成切口线的切口线形成位置之间的不同的检查手段的切口位置检查单元160的操作的示意图。相对于切口单元150,在沿光学膜的传送方向看上去的上游侧和下游侧提供两个切口位置检查单元160。在下游的切口位置检查单元160的下游侧布置包括传送辊的膜传送单元170,使得下游的切口位置检查单元160起作用以重新开始在形成切口线时临时停止的光学膜的连续带状体的传送。在上游的切口位置检查单元160的上游侧布置包括浮动辊的速度调节单元140,使得即使在形成切口线时临时停止光学膜的连续带状体的传送,也可以维持由包括传送辊的膜传送单元130进行的光学膜的连续带状体的传送。
通过确定光学膜的行进方向(X方向)和横跨方向(Y方向)中的精确位置,可以确认沿横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向实际形成的切口线的位置与基于关于光学膜传送长度的传送长度测量数据而获得的位置之间的一致性。一个优选方式是在光学膜上要形成切口线的位置的相对侧的两个定位执行测量,以获得实际形成的切口线的位置和光学膜的边缘(侧端)相对于各条参考线在X方向和Y方向上的偏差。例如,可以向切口位置检查单元160提供CCD照相机,以拍摄实际形成的切口线的位置以及光学膜边缘的位置的图像,并且产生图片化的图像。在图像拍摄区域中预先提供参考线。可以根据所拍摄的图像中的对比度差异,确定实际形成的切口线的位置和光学膜边缘的位置。然后,进行计算以确定在预先确定的参考线与实际形成的切口线的位置和光学膜边缘的位置之间的距离(偏差),并且基于所计算的距离(偏差),相对于光学膜的连续带状体的传送方向,前向地或后向地校正切口单元150的定位和角度位置。
更具体地,如图6中所示,执行步骤3、4和7以便在施加张力的情况下传送光学膜的连续带状体,并且在步骤5中,在光学膜的连续带状体中形成切口线。然后,由两个切口位置检查单元160执行下一步骤,以便确定在光学膜上实际形成的切口线的位置和要形成切口线的位置之间是否存在任何偏差,要形成切口线的位置是基于由读取单元120读取的切口位置信息而确定的,并且在存在任何偏差的情况下,例如以如下方式执行步骤6和8。
例如根据以下例程执行用于确定光学膜的连续带状体上实际形成的切口线的位置和如由读取单元120读取的要形成切口线的位置之间的偏差的检查方式。(1)通过切口位置检查单元160的CCD照相机拍摄光学膜上实际形成的切口线的位置(X)和光学膜边缘的两个位置(Y1,Y2)的图像,并且图像被图片化以便根据对比度差异测量光学膜上实际形成的切口线的位置(X)和光学膜边缘的位置(Y1,Y2)。(2)在切口位置检查单元160之一的成像区域中在如沿X方向看上去的上游位置处沿Y方向延伸的参考线和在另一个切口位置检查单元160的成像区域中在如沿X方向看上去的下游位置处沿Y方向延伸的另一参考线之间的中间位置处,切口线参考位置以沿Y方向延伸的线的形式存在,并且经由信息处理设备410预先在存储设备420中存储表示上游参考线和下游参考线之间的距离的数据γ。此外,在切口位置检查单元160的各图像拍摄区域中分别存在沿X方向延伸的上游和下游参考线。(3)基于参考线和所测量的切口线(X)的位置与光学膜边缘的位置,计算切口线位置的校正值α和切口线角度位置的校正值δ。光学膜中切口线位置的校正值α对应于所测量的偏差α、或者实际切口线位置(X)和沿Y方向延伸的下游侧参考线之间的偏差α。可以基于光学膜边缘在两个位置处沿Y方向的偏差、或者光学膜的边缘相对于沿X方向延伸的上游参考线和下游参考线中的相应参考线的偏差(β1,β2)、以及两个参考线之间的距离数据γ,根据以下公式来计算切口线角度位置的校正值δ。
【公式1】
(4)使用存储设备420存储校正值(α,δ),以便基于所测量和计算的数据向切口单元150施加指令以按照值δ执行角度位置校正和在X方向上按照值α执行位置校正,从而使得切口线与沿Y方向延伸的参考切口线位置符合。
(5)切口单元150接收来自控制单元400的、对于在光学膜中形成切口线的下一操作的指令,以便基于所存储的校正值(α,δ)执行沿传送方向的位置校正和沿相对于传送方向的横跨方向的角度位置校正。(6)此后,切口单元150在光学膜的连续带状体中形成下一切口线。
(去除有缺陷偏光板片Xβ、以及将正常偏光板片Xα层积在液晶面板W上)
关于根据该实施例的光学膜层积板的卷筒10的第一特征在于:在将从在正在供应的光学膜的连续带状体中包含的偏光合成膜11中切割的正常偏光板片Xα层积在液晶面板W上之前,通过有缺陷板片去除单元190仅取出从偏光合成膜11中切割的有缺陷偏光板片Xβ,而不中断光学膜的传送。该实施例的第二特征在于:可以通过载体膜卷绕驱动机构210仅将从偏光合成膜11中切割的正常偏光板片Xα传送到层积工作台B处的层积单元200,以便与各个液晶面板W层积,而同时消除了对于中断传送光学膜的需要,在单片型板片的情况下或者在单片型板片的制造中,这样的特征是不可想象的。明显的是,在液晶显示元件的制造过程中使用这样的光学膜层积板的卷筒10导致将正常偏光板片Xα贴合到液晶面板W的速度的显著增加和精度的显著提高。
(传送液晶面板W、以及与正常偏光板片Xα层积)
在具体详细描述用于将液晶面板W与已经从偏光合成膜11切割出的正常偏光板片Xα层积的、包括被适配为在垂直方向上向着彼此或者远离彼此移动的一对层积辊的层积单元200之前,将简要地进行关于液晶面板W的输送或传送装置300的描述,所述液晶面板W要与从同样正在供应的光学膜的连续带状体形成的偏光合成膜11的正常偏光板片层积。
采用具有42英寸的对角线屏幕尺寸的大尺寸电视机作为示例,矩形形状的液晶面板W具有长度大约为540到560mm和宽度大约为950到970mm的尺寸。在液晶显示元件的制造过程中,在包括电子组件的安装操作的布线阶段期间,沿着液晶面板W的外围对其稍微进行修整。替代地,液晶面板W可以在外围已经被修整过的情况下被输送或传送。利用液晶面板供应装置从包含大量液晶面板的储料库中逐个地取出液晶面板W,并且如图6和10所示,其被通过传送装置300例如通过被调节为相等的间隔和恒定的输送速度来经过清洗/干燥阶段传送到层积工作台B处的层积单元200以与各正常偏光板片层积。从光学膜的连续带状体形成正常偏光板片Xα,以具有比液晶面板W的尺寸稍小的尺寸。如图10所示,与在将正常偏光板片Xα传送到层积工作台B时正常偏光板片Xα的传送同步地,在液晶面板W被依序传送到层积工作台B以将正常偏光板片Xα层积在液晶面板W上的最终阶段中,传送装置300包括包含用于控制液晶面板W的配向的预对准单元310和最终对准单元320的液晶面板配向控制单元、用于将面板传送到层积位置的传送单元330、以及用于检测液晶面板W的前边缘的面板边缘检测单元340。
图10是示出基于在液晶显示元件的制造过程期间由读取单元120从光学膜的连续带状体读取的编码信息20,利用在液晶面板传送装置300中提供的预对准单元310、最终对准单元320、用于将面板传送到层积位置的传送单元330、以及面板边缘检测单元340以对准的配向输送液晶面板W的示意图。此外,图11是示出用于将偏光合成膜板片与液晶面板W层积的层积单元200的示意图,该层积单元200包括用于检测从正在传送的光学膜的连续带状体形成的正常偏光板片Xα的前边缘的板片边缘检测单元220、用于检测与正常偏光板片Xα的传送方向的对准的直线前进姿势检测单元230、以及用于通过使载体膜14相对于正常偏光板片Xα以锐角弯曲而剥离载体膜14的剥离板211。
优选地,载体膜14以恒定速度将正常偏光板片Xα传送到层积工作台B处的层积单元200。如图10或图11所示,在层积工作台B处,通过载体膜卷绕驱动机构210、经由剥离板211、通过以锐角弯曲载体膜14来仅将载体膜14剥离。通过以锐角弯曲载体膜14来剥离载体膜14,可以逐渐暴露正常偏光板片Xα上的粘贴层。这使得可以些许暴露正常偏光板片Xα的前边缘,以便允许容易将液晶面板W的前边缘与正常偏光板片Xα的前边缘对准。
如图10所示,正常偏光板片Xα的前边缘向层积单元200的一对层积辊(其现在彼此垂直地间隔开)之间定义的辊隙移动,并且由板片边缘检测单元220检测。尽管以被层积在载体膜14上的状态传送正常偏光板片Xα,但是很少精确地传送正常偏光板片Xα以使得传送方向和载体膜14的长度方向之间的角度θ变为零。因此,例如通过使用直线前进姿势检测单元230的CCD照相机拍摄板片的图像并且使所拍摄的图像经过图像处理,来测量正常偏光板片Xα在传送方向和横跨方向上的偏差,由此根据x、y和θ计算所测量的偏差,并且通过控制单元400将所计算的数据存储在存储设备420中。
然后,以均匀间隔和恒定速度从图5所例示的包括包含多个液晶面板的储料库的传送单元依序供应多个液晶面板W,此外,通过图10所例示的液晶面板传送装置300逐一地供应液晶面板W,并且使液晶面板W经过对准控制。现在将参考图10描述该对准控制。
通过预对准单元310依序安置液晶面板W,使得它们在长度方向和宽度方向上分别与传送路径中的传送方向和与传送方向垂直的方向对准。所安置的液晶面板W被传送到最终对准单元320,并且被放置在最终对准单元320上,该最终对准单元320包括被适配为由受控制单元400控制的驱动机构转动的对准台(table)。由面板边缘检测单元340检测放置在对准台上的液晶面板W的前边缘。检查所检测的液晶面板W的前边缘的位置是否与在存储设备中存储的参考层积位置相匹配,所述参考层积位置具体地为关于x、y和θ(表示要层积到液晶面板W的正常偏光板片Xα的定向)的计算数据。例如,使用图2所例示的液晶面板W的对准标记来测量液晶面板W的前边缘和参考层积位置之间的偏差,以计算角位移θ,并且将在其上放置有液晶面板W的对准台321旋转角度位移θ。然后,将对准台321连接到朝向层积工作台B的传送单元330。通过朝向层积工作台B的传送单元330将液晶面板W传送到层积位置,同时保持相同的定向,并且液晶面板W的前边缘与正常偏光板片Xα的前边缘对准,并且放置在正常偏光板片Xα的前边缘上。在最后阶段,在一对层积辊之间保持彼此为对准关系的正常偏光板片Xα和液晶面板W,并且由此传送正常偏光板片Xα和液晶面板W以便获得所完成的液晶显示元件。
将正常偏光板片Xα与在施加张力的情况下前进的光学膜的连续带状体内的载体膜14一起传送到层积单元200,以与液晶面板W层积,使得正常偏光板片Xα的外围被弯曲或下垂的可能性最小。因此,正常偏光板片Xα不太可能被折曲或弯曲。这使得容易使液晶面板W的配向与被传送到层积工作台B的正常偏光板片Xα对准,从而可以提高液晶显示元件的制造速度,并且可以提高产品精度。这样的方法和系统不可能应用于利用单片型板片的制造过程,其中,在将剥离片从每个单片型板片剥离以便暴露粘贴层、通过真空吸附将每个板片传送到层积位置、并且相对于液晶面板W调节板片的位置之后,将板片层积到液晶面板W以便完成液晶显示元件。由此,本实施例是基于以下特征的液晶显示元件的连续制造方法和系统:提供和使用光学膜的连续带状体的卷筒10,其具有对应于具有预定义尺寸的液晶面板的宽度的宽度、并且至少包括在其上提供有粘贴层12的偏光合成膜11以及可剥离地贴合到粘贴层12的载体膜14,光学膜的连续带状体10具有基于通过预先检查偏光合成膜11而检测到的光学膜的连续带状体中存在的一个或者多个缺陷的位置、作为在光学膜的连续带状体的宽度方向上延伸的线而在所述光学膜的连续带状体上定义的多个有缺陷偏光板片切口位置以及正常偏光板片切口位置,该有缺陷偏光板片切口位置定义具有一个或者多个缺陷的区域,该正常偏光板片切口位置定义没有缺陷的区域,将与有缺陷偏光板片切口位置和正常偏光板片切口位置有关的切口位置的信息记录为编码信息20。
II.光学膜层积板的卷筒,光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统
现在将参考附图描述根据本发明的优选实施例的光学膜层积板的卷筒、光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统。
(偏光合成膜的结构)
如图1所示,要层积到液晶面板上的光学膜的板片典型地包括挠性光学膜,该挠性光学膜包括用于与液晶面板W的玻璃基板层积的、形成有丙烯酸粘贴层的偏光合成膜。偏光合成膜包括具有20到30μm厚度的偏光片(连续的偏光片层),该偏光片包括已经经过使用碘酒的染色处理和交联处理的、并且此后通过长度方向或宽度方向的拉伸而经过配向处理的、由基于PVA的膜制成的基板,在偏光片的一个表面或每个表面上提供层积在其上的透明保护膜,并且偏光片包括用于保护偏光片的、具有40到80μm厚度的、基于TAC的膜的基板。典型地,在偏光片的表面上形成丙烯酸粘贴层以与液晶面板W层积。
(使用传统的单片型板片的过程)
如已经描述的,在单片型板片的制造过程中,通过将光学膜的连续带状体冲压或切割成矩形形状的片来制备单片型板片,每个单片型板片通过粘贴层与剥离片进行层积。每个被形成为矩形形状并且与剥离片进行层积的单片型板片被预先存储在液晶显示元件制造线的储料库中。然后,在将单片型板片与多个液晶面板W中各液晶面板进行层积的过程中,存储在储料库中的单片型板片被在吸附下逐个地传送到层积位置。可剥离地层积到在每个单片型板片上形成的粘贴层的剥离片被剥离以暴露粘贴层,并且通过暴露的粘贴层将单片型板片层积到多个液晶面板W的对应的一个液晶面板。在该过程期间,由于单片型板片是挠性的,所以所经历的问题在于:矩形形状的单片型板片的外围被弯曲或卷曲。因此,在使用这样的单片型板片的液晶显示元件制造过程中,为了以高度精确度迅速地执行与液晶面板的对准和层积,除了使用可能具有较少的弯曲或卷曲问题的单片型板片之外没有其它选择。为此目的,例如,将每个具有40到80μm厚度的保护膜层积到偏光片的两个相对面,而不是相对面之一,以便通过增加厚度来向单片型板片提供硬度。
(用于制造光学膜层积板的卷筒的方法和系统)
图12到图14是示出用于本发明的、用于制造包括偏光合成膜的光学膜层积板的卷筒的方法和系统的示意图。图15到图17是示出根据第一到第三实施例的制造方法和系统中各制造过程或制造步骤的流程图。
在第一到第三实施例中,构成光学膜层积板的卷筒10的偏光合成膜11可以由包括基于PVA的材料的基板的偏光片制成,该偏光片至少一个表面层积有优选地是透明材料的保护膜并且在另一表面上提供有粘贴层12。被采用为制造过程材料的载体膜14被可剥离地粘合到粘贴层12。在使用单片型板片的液晶显示元件的传统制造过程中,在此使用的偏光合成膜在相对表面处向其上层积两个保护膜,以便向偏光板片提供刚度。然而,在使用根据第一到第三实施例的光学膜层积板的卷筒的液晶显示元件制造过程中,在层积位置处从载体膜14剥离从光学膜层积板的卷筒10中的偏光合成膜11形成的正常偏光板片Xα,并且其将被从带状体中逐渐分离。应理解,当然不存在如在使用单片型板片的制造过程中对于在单片的基础上剥离剥离片的需要。
当从载体膜14剥离正常偏光板片Xα时,将正常偏光板片Xα的前边缘与正在朝向层积位置依序逐个传送的多个液晶面板W的对应的一个液晶面板的前边缘对准,然后,通过由层积工作台B处的层积单元200的一对层积辊将正常偏光板片Xα和对应液晶面板W相对彼此挤压来将它们层积在一起。在该过程中,由于板片是逐渐传出的,因此不存在正常偏光板片Xα的外围弯曲或者卷曲的风险。因此,不同于单片型板片,在第一到第三实施例中的包含于光学膜中的偏光合成膜11中,可以仅将保护膜层积到偏光片的表面之一,并且另外可以使保护膜的厚度为40μm或更少。
现在将分别参考图12和15、图13和16、以及图14和17关于根据第一到第三实施例的光学膜层积板的卷筒的制造方法和系统进行描述。
(根据第一实施例的用于制造光学膜层积板的卷筒的方法和系统)
图12是示出用于制造光学膜层积板的卷筒的系统500的示意图,其包括:偏光片制造线510,其用于生产连续的偏光片层(如在之前的描述中一样,下文中称为“偏光片”);保护膜制造线520,其用于生产要层积在偏光片上的保护膜;偏光合成膜制造线530,其用于生产由偏光片和保护膜构成的层积板(下文中,该层积板将被称为“偏光合成膜110”,以便将其与不具有粘贴层的偏光合成膜11区分开);以及光学膜制造线580,其用于将载体膜和表面保护膜层积到偏光合成膜上以便生产光学膜。图15是示出系统500中的制造过程或步骤的流程图。
偏光合成膜制造线530包括:检查子线,其用于通过检查单元560检查在偏光合成膜110中存在的缺陷;载体膜传送子线,其用于将在其上形成有可转印粘贴层12的载体膜14层积到偏光合成膜110的相对表面之一;信息记录子线,其用于将包括切口位置信息的编码信息记录在载体膜14的表面上;表面保护膜传送子线,其用于通过粘贴表面将表面保护膜13层积到偏光合成膜110的、与向其层积有载体膜14的表面相对的表面;以及卷绕子线,其用于卷绕在其上记录有编码信息的光学膜的连续带状体以便形成光学膜的卷筒。载体膜传送子线在其上安装有载体膜14的卷筒,在载体膜14上贴合有可剥离膜,并且表面保护膜传送子线在其上安装有表面保护膜13的卷筒,在表面保护膜13的粘贴表面上贴合有可剥离膜。切口位置信息是通过处理关于正常区域(没有缺陷的区域)和有缺陷区域(具有一个或多个缺陷的区域)的信息而获得的,所述正常区域和有缺陷区域是基于在检查子线处检测到的偏光合成膜110中缺陷的定位或坐标位置而预先在偏光合成膜110中定义的,并且在形成包括粘贴层的正常偏光板片和有缺陷偏光板片时,所述切口位置信息被用来至少指定要在正在传送的光学膜的连续带状体中形成切口线的位置。
偏光片制造线510具有基于PVA的膜的卷筒,基于PVA的膜的卷筒构成偏光片的基板并且以可旋转的方式安装在偏光片制造线510上,偏光片制造线510包括以下子线,其用于使利用层积板驱动机构540或其他驱动机构(未示出)从卷筒中展开的基于PVA的膜经过染色、交联、拉伸以及然后的干燥的处理。保护膜制造线520在其上可旋转地安装有构成保护膜的基板的、典型地透明的基于TAC的膜的卷筒,并且包括以下子线,其用于使利用层积板驱动机构540或其他驱动机构(未示出)从卷筒中展开的透明的基于TAC的膜经过皂化处理,并且之后进行干燥。保护膜制造线520和偏光合成膜110制造线530每一个包括以下子线,其用于将主要由基于聚乙烯醇的树脂构成的粘合剂涂覆到偏光片和保护膜之间的界面,并且干燥粘合剂以便通过仅具有若干-厚度的粘贴层将它们粘合在一起。
偏光合成膜110的制造线530包括包含一对层积辊的层积板驱动机构540。层积板驱动机构540包括具有并入在层积辊之一中的编码器的长度或距离测量设备550,用于计算从所形成的偏光合成膜110的前边缘开始所传送的长度。层积辊被适配为通过将保护膜和偏光片相对彼此挤压而将保护膜层积到偏光片,以便形成偏光合成膜110,并且传送偏光合成膜110。
该制造系统500包括检查单元560,其用于检测偏光合成膜110的表面和内部的缺陷。需要仅在检测缺陷之后向偏光合成膜110提供粘贴层12,以便完成偏光合成膜11。因此,本制造系统500还包括载体膜供应机构570,在该载体膜供应机构570上安装有具有粘贴层12的载体膜14的卷筒。载体膜14上的粘贴层12是在载体膜14的制造过程中通过使载体膜14的相对表面中的以下一个表面经过脱膜处理、然后向那个表面涂覆包含粘合剂的溶剂、并且干燥该溶剂而预先形成的,载体膜的相对表面中的所述一个表面将可剥离地层积到偏光合成膜110的相对表面中的要层积到液晶面板W的一个相对表面上。当从载体膜供应机构570传送的载体膜14以可剥离方式层积在偏光合成膜110上时,在载体膜14上预先形成的粘贴层12被转印到偏光合成膜110上以便在偏光合成膜11上提供粘贴层12。
本制造系统500还包括信息记录单元630,其用于将编码信息记录在例如载体膜14的表面上。更具体地,信息记录单元630可操作为:在使用所生产的光学膜层积板的卷筒进行的液晶显示元件制造过程期间,在正在传送的光学膜的连续带状体上,记录包括切口位置信息的编码信息,该切口位置信息指示要在光学膜的连续带状体中形成切口线以形成具有粘贴层的正常偏光板片和有缺陷偏光板片的位置。制造系统500还可以包括表面保护膜供应机构640,其用于通过粘贴表面将表面保护膜13层积到偏光合成膜110的、与在其上层积有载体膜14的表面相对的表面上。最后,制造系统500包括光学膜卷绕驱动机构580,其用于驱动地卷绕由偏光合成膜110构成的光学膜,在偏光合成膜110的相对表面上层积有具有可转印的粘贴层的载体膜14和表面保护膜13。
在将保护膜层积在偏光片的相对表面上的情况下,本制造系统500将包括两个保护膜制造线520、520’(在图中省略了保护膜制造线520’)。此外,保护膜制造线520可以另外包括处理子线,其用于在将保护膜层积到偏光片之前,使保护膜的表面经过硬涂层处理、以及/或者防耀眼或防眩处理。
检查单元560包括包含例如CCD照相机的图像读取设备590。图像读取设备590电连接到在控制单元600中包括的信息处理设备610,其中,将由图像读取设备590读取的图像数据与由电连接到信息处理设备610的长度或距离测量设备550测量的传送长度测量数据相关联地处理。控制单元600起作用为操作信息处理设备610和存储设备620以便将来自图像读取设备590的图像数据与作为距离偏光合成膜110的前边缘的长度的、基于长度或距离测量设备550所测量的输送长度的传送长度测量数据相关联地处理,从而产生表示偏光合成膜110中的一个或多个缺陷的定位或坐标位置的位置数据,然后将该位置数据存储在存储设备620中。控制单元600起作用为基于关于所检测的一个或多个缺陷的定位或坐标位置的位置数据来定义偏光合成膜110中的有缺陷区域和正常区域。
控制单元600起作用为基于关于所检测的一个或多个缺陷的定位或坐标位置的位置数据来在偏光合成膜11中定义有缺陷区域和正常区域。此外,控制单元600起作用为基于偏光合成膜11的有缺陷区域和正常区域来创建切口位置信息。提供切口位置信息以指示要在光学膜的连续带状体中形成各条切口线的位置,此外,在液晶显示元件的制造过程期间,以以下方式通过切口单元150成对地形成切口线:即,使得沿横跨正在传送的光学膜的连续带状体的传送方向的方向、从与载体膜相对的表面到达到载体膜的粘贴层表面的深度对所述连续带状体进行切口。所产生的切口位置信息也被存储在存储设备620中。然后,信息处理设备610起作用为:基于所存储的切口位置信息与诸如关于制造批号和卷筒中光学膜的以米为单位的长度之类的附加信息一起、或者与附加信息相关联地,创建编码信息。如已经提及的,编码信息优选地在使用光学膜层积板的卷筒的液晶显示元件的制造过程期间记录在包括于光学膜的连续带状体中的载体膜14上。应理解,将编码信息记录在载体膜14上的方式可以以多种方式改变,诸如,将编码信息全部记录在单个存储定位上的方式、以及将编码信息记录在以给定间隔(例如,以1m或100m的间隔)布置的多个存储区域上的方式。替代地,可以将编码信息记录在表面保护膜13(如果有的话)上,而不是在载体膜14上。
应注意,由各对切口线定义的区域可以包括具有由液晶面板的要与偏光合成膜层积的边的长度确定的给定长度的无缺陷的正常区域、或者具有通常小于给定长度的长度的有缺陷区域。在液晶显示元件的制造过程期间,有必要允许切口单元150沿着基于在编码信息中包括的切口位置信息的多对切口线中对应的成对切口线切割偏光合成膜11的有缺陷区域和正常区域,使得通过有缺陷偏光板片去除单元190从载体膜14中去除所形成的有缺陷偏光板片Xβ,并且将类似地形成的正常偏光板片Xα从载体膜14剥离以便被层积到液晶面板W的一个表面上。
因此,根据液晶面板的要与正常偏光板片层积的边的长度、基于与在偏光合成膜11中存在的缺陷的定位或坐标位置相关的位置数据,确定正常区域的长度(Xα),使得该长度总是具有恒定值。然而,关于以相同方式定义的有缺陷区域,可以将用于沿传送方向恰恰位于有缺陷区域的上游的正常区域的两条切口线的上游切口线用作用于有缺陷区域的两条切口线的下游切口线,从而通过该下游切口线和稍稍位于缺陷的定位或坐标位置的上游的上游切口线来确定有缺陷区域的长度(Xβ)。由于该下游切口线和缺陷的定位或坐标位置之间的长度可能不相同,因此,有缺陷区域的长度(Xβ)变化。优选地,用于产生指示用于形成切口线的位置的切口位置信息的计算算法被配置为使得有缺陷区域的长度(Xβ)不同于正常区域的长度(Xα),如后面所述,例如,在任何情况下具有以下关系:Xβ<Xα。在第一到第三实施例中,创建编码信息的例程是共同的,从而后面将结合参考图18以及图19到21来描述该例程。
现在将在下面描述用于将载体膜14层积到偏光合成膜110的载体膜层积机构570。使用基于PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)的具有大约20到40μm厚度的膜作为基板,预先在载体膜制造线(未示出)中形成载体膜14。在使基于PET的膜的相对表面之一经过脱膜处理、通过将包含丙烯酸粘合剂的溶剂涂覆到经过处理的表面、并且干燥该溶剂之后,可以在载体膜14的该相对表面上形成具有大约10到30μm厚度的可转印的粘贴层。通过使载体膜14以可剥离方式层积在偏光合成膜110上,将粘贴层转印到偏光合成膜110以便形成包括具有粘贴层12的偏光合成膜11的光学膜。在使用以上述方式形成的光学膜层积板的卷筒10的液晶显示元件的制造过程期间,在将正常偏光板片从载体膜14剥离并且将其贴合到液晶面板W时,将粘贴层12与正常偏光板片一起从载体膜14剥离。以与偏光合成膜11的卷绕长度相对应的长度,在载体膜制造线中预先生产的载体膜14被卷绕为卷筒。
在根据第二和第三实施例的生产临时光学膜层积板的卷筒的过程中,可以以相同方式在临时光学膜上形成可转印的粘贴层。如后面所描述的,在第二和第三实施例中,当剥离临时载体膜和/或临时表面保护膜时,在临时载体膜上形成的粘贴层以相同方式被转印到偏光合成膜11,使得可以在偏光合成膜11的相对表面之一上形成粘贴层12。
载体膜14的卷筒安装在支架571上以便进行旋转,并且通过载体膜层积机构570将从该卷筒中展开的载体膜14可剥离地层积在偏光合成膜110上。提供可剥离膜卷绕驱动机构572以起作用为:在将载体膜14可剥离地层积在偏光合成膜110上时,卷绕被提供来保护在载体膜14上形成的粘贴层的可剥离膜并且暴露出粘贴层。
参考图15的流程图,在步骤1中,层积驱动机构540起作用以将保护膜层积到偏光片的一个表面上,由此生产然后被传送的偏光合成膜110。在步骤2中,通过检查单元560检测在如此生产和传送的偏光合成膜110中存在的缺陷。在步骤3中,将载体膜14的卷筒可旋转地安装在支架571上。在步骤4中,可剥离膜卷绕驱动机构572和光学膜卷绕驱动机构580起作用以从卷筒中展开被形成有可转印的粘贴层的载体膜14,并且使所述粘贴层处于暴露状态。在步骤5中,通过载体膜层积机构570经过粘贴层将载体膜14可剥离地层积在偏光合成膜110上,以形成具有粘贴层12的偏光合成膜11。
信息处理设备610起作用为:基于在步骤2中所检测的缺陷的定位或坐标位置来定义偏光合成膜11中的有缺陷区域和正常区域,并且然后基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光合成膜11中形成有缺陷偏光板片Xβ和正常偏光板片Xα的切口位置信息。在步骤6中,通过信息记录单元630将所创建的切口位置信息记录在被层积在偏光合成膜11上的载体膜14的表面上。最后,在步骤7中,通过光学膜卷绕驱动机构580卷绕通过以上步骤形成的光学膜,以形成光学膜层积板的卷筒。
尽管这里关于其中将载体膜14可剥离地层积在粘贴层12的步骤与在偏光合成膜11上形成粘贴层12的步骤同步的过程作出了描述,但是应理解可以预先在偏光合成膜11上形成粘贴层12。另外,在步骤7之前,可以通过表面保护膜层积机构640附加地将表面保护膜13的粘贴表面层积在偏光合成膜11的与向其层积有载体膜14的表面相对的表面上,而与在将保护膜层积到偏光片之前该保护膜是否经过硬涂层处理、或者防耀眼或防眩处理无关。在此情况下,作为结果的光学膜具有在偏光合成膜11的相应相对表面上层积有载体膜14和表面保护膜13的结构。
(根据第二实施例的用于制造光学膜层积板的卷筒的方法和系统)
图13是示出光学膜层积板的卷筒的制造系统的示意图,其中,临时光学膜层积板的卷筒10’安装在支架上,该卷筒包括包含与保护膜层积的偏光片的偏光合成膜11、以及通过粘贴层可剥离地层积在偏光合成膜11上的临时载体膜14’,并且连续地展开临时光学膜的连续带状体并从临时光学膜的连续带状体中剥离临时载体膜14’,以便在粘贴层12处于暴露状态的情况下经过用于检测偏光合成膜11中存在的缺陷的检查,此后载体膜14以可剥离的方式层积在偏光合成膜11的粘贴层12上,切口位置信息以与第一实施例中相同的方式记录在载体膜14的表面上,从而生产了光学膜层积板的卷筒10。图16是示出该系统中的制造过程或步骤的流程图。
在生产临时光学膜层积板的卷筒10’的过程中,可以重复以下过程:在临时载体膜14’上预先形成可转印的粘贴层。因此,当将临时载体膜14’从正在从卷筒中连续地引出的临时光学膜的连续带状体中剥离时,将在临时载体膜上形成的粘贴层转印到偏光合成膜,从而被并入偏光合成膜11中。替代在临时载体膜14’上形成可转印的粘贴层,可以在偏光合成膜上预先形成粘贴层12,并且然后可以将经过脱膜处理的、被形成为简单膜的临时载体膜14”层积到粘贴层12上。此外,可以使要层积到偏光片的保护膜的表面经过硬涂层处理、或者防耀眼或防眩处理。
根据图13中例示的实施例的光学膜层积板的卷筒10的制造系统500与根据图12中例示的第一实施例的制造系统共同地包括以下元件:检查单元560,其包括用于检测在包括粘贴层12的偏光合成膜11中存在的一个或多个缺陷的图像读取设备590;载体膜层积机构570,其包括将载体膜14的卷筒安装在其上以便进行旋转的支架571;光学膜卷绕驱动机构580,其用于将所生产的光学膜驱动并卷绕成卷筒;控制单元600,其包括用于执行信息处理的信息处理设备610和用于将处理后的信息存储在其中的存储设备620;以及信息记录单元630,其用于将所产生的编码信息记录在光学膜(最终的光学膜)上。制造系统500还包括临时光学膜传送线530,该临时光学膜传送线530包括:将临时光学膜层积板的卷筒10’安装在其上以便进行旋转的支架531;以及包括用于连续地传送临时光学膜的一对传送驱动辊的膜传送驱动机构540。膜传送驱动机构540包括具有并入在传送驱动辊之一中的编码器的长度或距离测量设备550,以便计算从临时光学膜的前边缘传送的长度。另外,制造系统500包括包含临时载体膜重绕驱动机构576的临时载体膜剥离单元575。
参考图16中例示的制造过程,在步骤1中,在支架531上安装临时光学膜层积板的卷筒10’。临时光学膜包括包含偏光片的偏光合成膜11、以及形成有可转印的粘贴层并且层积在偏光合成膜11上的临时载体膜14’,在所述偏光片的相对表面之一或每个相对表面上层积有保护膜。在步骤2中,通过膜传送驱动机构540将临时光学膜的连续带状体传送到层积线530。在步骤3和4中,通过临时载体膜剥离单元575的临时载体膜卷绕驱动机构576剥离并除去临时载体膜14’,然后,在步骤5中,通过检查单元560检测在粘贴层12处于暴露状态的情况下的偏光合成膜11中存在的一个或多个缺陷。
检查单元560包括包含例如CCD照相机的图像读取设备590。图像读取设备590电连接到在控制单元600中包括的信息处理设备610,由此,将由图像读取设备590读取的图像数据与由电连接到信息处理设备610的距离测量设备550测量的测量数据相关联地处理。控制单元600起作用为操作信息处理设备610和存储设备620以便将来自图像读取设备590的图像数据与由距离测量设备550根据从临时光学膜的前边缘开始的长度而测量的关于传送出的距离的传送长度测量数据相关联地处理,从而创建表示粘贴层12处于暴露状态的偏光合成膜11中的缺陷的定位或坐标位置的位置数据,然后将该位置数据存储在存储设备620中。首先,控制单元600可操作为基于关于所检测的缺陷的定位或坐标位置的位置数据来定义偏光合成膜11中的有缺陷区域和正常区域。此外,控制单元600起作用为基于在偏光合成膜11中定义的有缺陷区域和正常区域来创建切口位置信息。切口位置信息是指示要在光学膜(最终的光学膜)的连续带状体中形成各条切口线的位置的信息,并且在液晶显示元件的制造过程期间,通过切口单元150以以下方式成对地形成切口线:即,使得沿横跨正在传送的光学膜的连续带状体的传送方向的方向、从与载体膜相对的表面到达到载体膜的粘贴层表面的深度对所述连续带状体进行切口。如此创建的切口位置信息也被存储在存储设备620中。然后,信息处理设备610起作用为:基于所存储的切口位置信息与诸如制造批号和光学膜的卷筒中带状体的以米为单位的长度之类的附加信息一起、或者与附加信息相关联地,创建编码信息。创建编码信息的方式在第一到第三实施例中是共同的,从而后面将结合图18和图19到21来对其进行描述。
在步骤6和7中,通过载体膜层积机构570将仅经过脱膜处理的载体膜14送出,该载体膜层积机构570还充当为膜传送驱动机构。在步骤8中,将所送出的载体膜14层积到所暴露的粘贴层12。信息处理设备610基于在步骤5中所检测的缺陷的定位或坐标位置来在偏光合成膜11中定义有缺陷区域和正常区域,并且然后基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光合成膜11中形成有缺陷偏光板片Xβ和正常偏光板片Xα的切口位置信息。在步骤9中,通过信息记录单元630将所创建的切口位置信息记录在被层积在偏光合成膜11上的载体膜14的表面上。最后,在步骤10中,通过光学膜卷绕驱动机构580将通过以上步骤形成的光学膜卷绕成光学膜层积板的卷筒。第二实施例与第一实施例的不同之处在于:预先生产和制备临时光学膜层积板的卷筒10’。此外,第二实施例与第一实施例的不同之处在于:当剥离在其上提供有可转印的粘贴层12的临时载体膜14’时,在通过剥离而暴露的表面上形成具有转印的粘贴层12的偏光合成膜11,并且在具有如此暴露的粘贴层12的偏光合成膜上进行对于在偏光合成膜11中存在的缺陷的检测。
尽管没有在图13或图16中图示,但是具体地在制造临时光学膜层积板的卷筒的过程中,在步骤10之前,可以利用分离地提供的表面保护膜层积机构640将具有粘贴表面的表面保护膜13层积在偏光合成膜11的与在其上层积有载体膜14的表面相对的表面上,而与在将保护膜层积到偏光片之前该保护膜在一个表面上是否经过硬涂层处理、或者防耀眼或防眩处理无关。在此情况下,作为结果的光学膜具有在偏光合成膜11的相应相对表面上分别层积有载体膜14和表面保护膜13的结构。
(根据第三实施例的用于制造光学膜层积板的卷筒的方法和系统)
图14是示出光学膜层积板的卷筒10的光学膜的制造系统的示意图,其中,临时光学膜层积板的卷筒10”安装在支架上,临时光学膜层积板包括包含偏光片和层积在偏光片上的保护膜的偏光合成膜11、通过粘贴层可剥离地层积在偏光合成膜11上的临时载体膜14’、以及层积在偏光合成膜11的与在其上层积有临时载体膜14’的表面相对的表面上的临时表面保护膜13’,其中,按照顺序,从正在从卷筒中连续展开的临时光学膜的连续带状体中连续地剥离临时载体膜14’和临时表面保护膜13’以使粘贴层暴露,并且具有暴露的粘贴层的光学膜经过对于偏光合成膜11中存在缺陷的检查,然后载体膜14可剥离地层积在偏光合成膜11的粘贴层12上,以及表面保护膜13通过粘贴层可剥离地层积在偏光合成膜的与在其上未层积有载体膜14的表面相对的表面上;此后,切口位置信息以与第一和第二实施例中相同的方式记录在载体膜14的表面上。图17是示出该系统中的制造过程或步骤的流程图。
在生产临时光学膜层积板的卷筒10”的过程中,重复以下过程:预先在临时载体膜14’上提供可转印的粘贴层。因此,当将临时载体膜14’从正在从卷筒中连续地传送出的临时光学膜的连续带状体中剥离时,将在临时载体膜上形成的粘贴层12转印到偏光合成膜11,从而被并入偏光合成膜11中。替代在临时载体膜14’上形成可转印的粘贴层,可以在偏光合成膜上预先提供粘贴层12,并且然后可以在经过脱膜处理之后将临时载体膜14”层积到粘贴层12上。此外,作为要贴合到偏光片的保护膜,可以使用在贴合有表面保护膜的表面处经过硬涂层处理、或者防耀眼或防眩处理的膜。临时表面保护膜13’和表面保护膜13被形成为在要层积到偏光合成膜11上的侧上无可转印的粘贴表面。典型地,表面保护膜13被形成为与要层积到液晶面板的正常偏光板片一体的板片,因此,具有粘贴表面的表面保护膜的板片13在液晶显示元件制造过程期间被用作用于保护相关联的液晶显示元件的表面的部件,并且在完成制造过程之后,将其与粘贴表面一起剥离和去除。
根据图14中例示的第三实施例的光学膜层积板的卷筒10的制造系统500包括如在图13中例示的实施例中的临时光学膜传送线530,其包括具有在其上可旋转地安装有临时光学膜层积板的卷筒10”的支架531,并且该传送线530包括包含用于连续地传送临时光学膜的一对传送驱动辊的膜传送驱动机构540。膜传送驱动机构540包括具有并入在传送驱动辊之一中的编码器的长度或距离测量设备550,以便根据从临时光学膜的前边缘开始的长度来计算传送出的距离。制造系统500还包括包含临时载体膜卷绕驱动机构576的临时载体膜剥离单元575。制造系统500还包括如在根据图12例示的第一实施例的系统中的以下元件:检查单元560,其包括用于检测在偏光合成膜11中存在缺陷的图像读取设备590;载体膜层积机构570,其包括在其上可旋转地安装有载体膜14的卷筒的支架571;光学膜卷绕驱动机构580,其用于将所生产的光学膜驱动地卷绕成卷筒;控制单元600,其包括用于执行信息处理的信息处理设备610和用于将处理后的信息存储在其中的存储设备620;以及信息记录单元630,其用于将编码信息记录在光学膜上。另外,制造系统500包括临时表面保护膜剥离单元645,该临时表面保护膜剥离单元645包括:临时表面保护膜卷绕驱动机构646,其用于卷绕并剥离临时表面保护膜13’;以及表面保护膜层积机构640,其用于在偏光合成膜的与在其上层积有最终的载体膜14的表面相对的表面处将最终的表面保护膜13贴合到偏光合成膜,该机构640还充当膜传送驱动机构。
参考图17中例示的各制造步骤,在步骤1中,在支架531上安装临时光学膜层积板的卷筒10”。临时光学膜包括包含偏光片的偏光合成膜11、以及形成有可转印的粘贴层并且层积在偏光合成膜11上的临时载体膜14’,在所述偏光片的相对表面之一或每个相对表面上层积有保护膜。在步骤2中,通过膜传送驱动机构540传送临时光学膜的连续带状体。在步骤3和4中,通过临时载体膜剥离单元575的临时载体膜卷绕驱动机构576剥离并除去临时载体膜14’。接下来,在步骤5和6中,通过临时表面保护膜剥离单元645的临时表面保护膜卷绕驱动机构646剥离并去除在层积有临时载体膜14’的表面处通过粘贴表面层积在偏光合成膜上的临时表面保护膜13’。在步骤7中,通过检查单元560在粘贴层处于暴露状态的偏光合成膜11上检查其中缺陷的存在。
检查单元560包括包含例如CCD照相机的图像读取设备590。图像读取设备590电连接到在控制单元600中包括的信息处理设备610,其中,将由图像读取设备590读取的图像数据与由电连接到信息处理设备610的长度或距离测量设备550测量的传送长度测量数据相关联地处理。控制单元600可操作为使得信息处理设备610和存储设备620将来自图像读取设备590的图像数据与由长度或距离测量设备550根据从临时光学膜的前边缘开始的长度而测量的关于传送出的距离的传送长度测量数据相关联地处理,从而创建表示粘贴层12处于暴露状态的偏光合成膜11中的缺陷的定位或坐标位置的位置数据,然后将该位置数据存储在存储设备620中。然后,控制单元600起作用为基于与所检测的缺陷的定位或坐标位置有关的位置数据来定义偏光合成膜11中的有缺陷区域和正常区域。此外,控制单元600起作用为基于如此定义的偏光合成膜11中的有缺陷区域和正常区域来创建切口位置信息。切口位置信息是指示要在光学膜的连续带状体中形成各条切口线的位置的信息,并且在液晶显示元件的制造过程期间,通过切口单元150以以下方式成对地形成切口线:即,使得沿横跨正在传送的光学膜的连续带状体的传送方向的方向、从与载体膜相对的表面到达到载体膜的粘贴层表面的深度对所述连续带状体进行切口。所创建的切口位置信息也被存储在存储设备620中。然后,信息处理设备610起作用为:基于所存储的切口位置信息与诸如制造批号和该卷筒中光学膜的以米为单位的长度之类的附加信息一起、或者与附加信息相关联地,创建编码信息。创建编码信息的方式与第一到第三实施例中的方式是相同的,从而后面将结合图18和图19到21来对其进行描述。
在步骤8和9中,还充当为膜传送驱动机构的载体膜层积机构570传送仅经过脱膜处理的载体膜14。在步骤10中,将所传送的载体膜14以可剥离方式层积在所暴露的粘贴层12上。此外,在步骤11和12中,通过还充当膜传送驱动机构的表面保护膜层积机构640送出具有粘贴表面的表面保护膜13。在步骤13中,通过所传送的最终表面保护膜13的粘贴表面将其层积在偏光合成膜的与在其上将不层积载体膜14的表面相对的表面上。这就是步骤13。
然后,信息处理设备610起作用为:基于在步骤7中所检测的缺陷的定位或坐标位置来在偏光合成膜11中定义有缺陷区域和正常区域,并且然后基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光合成膜11中形成有缺陷偏光板片Xβ和正常偏光板片Xα的切口位置信息。在步骤14中,通过信息记录单元630将所创建的切口位置信息记录在被层积在偏光合成膜11上的载体膜14的表面上。最后,在步骤15中,通过光学膜卷绕驱动机构580将通过以上步骤形成的光学膜卷绕以形成光学膜层积板的卷筒。
第三实施例与第二实施例的不同之处在于:利用不仅将临时载体膜14’而且还将临时表面保护膜13’层积在偏光合成膜11上的结构,预先制备临时光学膜层积板的卷筒10”。因此,在第三实施例中,对于包括通过依序剥离临时载体膜14’和临时表面保护膜13’而暴露的粘贴层12的偏光合成膜,执行缺陷检查。
在第一实施例中,光学膜卷绕驱动机构580被配置为以与至少层积板驱动机构540、检查单元560以及载体膜层积机构570的操作相互关联的方式操作,以便卷绕在载体膜14的表面上记录有编码信息20的光学膜。在第二和第三实施例中,光学膜卷绕驱动机构580被配置为以与至少膜传送驱动机构540、重绕驱动机构(576,646)、载体膜层积机构570以及表面保护膜层积机构640相互关联的方式操作,以便卷绕在载体膜14的表面上记录有编码信息20的光学膜。当需要时,为了调节光学膜的卷绕速度,制造系统500可以被提供有包括传送辊的速度调节机构(未示出)。此外,可以将编码信息记录在表面保护膜13上,而不是在载体膜14上。
(编码信息的创建)
在图22到25的表格和示意图中示出了创建包括与以上实施例中的缺陷位置相关的信息的编码信息20的实施例。应理解,可以以多种方式记录编码信息20,所述多种方式包括例如将编码信息全部记录在单个存储介质上的模式、以及将编码信息记录在以给定间隔(例如,以1m或100m的间隔)布置的多个存储介质上的模式。可以取决于液晶显示元件制造方法和系统所需的功能来确定对于要被存储为编码信息的位置信息的记录模式或内容的选择。
因此,应注意,仅作为示例示出在图18和图19-21中的示意图和流程图中例示的实施例。
编码信息20包括与诸如制造批号和该卷筒中带状体的以米为单位的长度之类的附加信息一起或者与所述附加信息相关联地记录在从光学膜层积板的卷筒10中展开的连续带状体上的编码信息,并且包括:用于标识包括粘贴层12的偏光合成膜11中预先定义的有缺陷区域和正常区域的信息,以及用于形成对应于有缺陷区域和正常区域的有缺陷偏光板片和正常偏光板片的切口位置信息。编码信息20可以是任何形式的代码,只要在液晶显示元件制造过程期间可由液晶显示元件连续制造系统1的读取单元120读取即可。
图18是示出计算为了对正在输送的光学膜的连续带状体中的有缺陷区域和正常区域划定界线而要形成各条切口线的位置的方式的示意图。
控制单元600起作用为操作信息处理设备610和存储设备620以便将来自图像读取设备590的图像数据与由长度或距离测量设备550测量的关于从偏光合成膜11的前边缘传送的长度的传送长度测量数据相关联地处理,从而创建表示在偏光合成膜中存在的缺陷的定位或坐标位置的位置数据,并且然后将该位置数据存储在存储设备620中。然后,控制单元600起作用为基于与所检测的缺陷的定位或坐标位置相关的位置数据来定义偏光合成膜11中的有缺陷区域和正常区域。此外,控制单元600起作用为基于偏光合成膜11中的有缺陷区域和正常区域来创建切口位置信息。切口位置信息是指示要在光学膜的连续带状体中形成各条切口线的位置的信息,在液晶显示元件的制造过程期间,通过切口单元150以以下方式来成对地形成切口线:即,使得沿横跨正在传送的光学膜的连续带状体的传送方向的方向、从与载体膜相对的表面到达到载体膜的粘贴层表面的深度对所述连续带状体进行切口。所创建的切口位置信息也被存储在存储设备620中。然后,信息处理设备610操作为:基于所存储的切口位置信息与诸如制造批号和光学膜层积板的卷筒中带状体的以米为单位的长度之类的附加信息一起、或者与所述附加信息相关联地,创建编码信息。图19到21是示出用于计算要在正在传送的光学膜的连续带状体中形成各条切口线的位置的三种不同过程的流程图。
下面将基于图19到21的示意图和流程图来描述计算过程。图18的示意图示出了正在由载体膜层积机构570的传送辊沿右方向连续传送的包括在其上层积有保护膜的偏光片的偏光合成膜110、或者具有粘贴层的偏光合成膜11(下文中将偏光合成膜110和偏光合成膜11统称为“偏光合成膜11”)。然而,考虑到由载体膜层积机构570、通过将其上形成有可转印的粘贴层的载体膜14可剥离地层积在由在其上层积有保护膜的偏光片组成的偏光合成膜110上从而形成光学膜的事实,正在由传送辊连续供应的偏光合成膜在这里将被统称为“光学膜”。图19到21的流程图示出了直到由控制单元600创建的编码信息20被记录在光学膜上(优选地在载体膜14的表面上)、并且通过光学膜卷绕驱动机构580卷绕在其上记录有编码信息的光学膜的时间的具体步骤。
在任一种情况下,在步骤1中,控制单元600操作为指令层积板驱动机构540和光学膜卷绕驱动机构580传送光学膜。在步骤2中,控制单元600指令包括图像读取设备590的检查单元560检测在光学膜中存在的缺陷的定位或坐标位置,并且将所检测的缺陷的定位或坐标位置与所检测的缺陷的类型和尺寸一起存储。在步骤3和4中,控制单元600起作用为确定光学膜的板片的长度和与正常区域的长度相对应的长度(Xα)之间的关系。确定该关系的方法如下。
在步骤3中,控制单元600起作用为操作信息处理设备610以计算正在传送的光学膜的参考位置和缺陷的定位之间的距离X,并且将所计算的距离X存储在存储设备620中。如图18所示,该距离X是例如载体膜层积机构570的位置(光学膜的参考位置)和检查单元560(或图像读取设备590)的位置(缺陷位置)之间的距离。
在步骤4中,控制单元600还起作用为操作信息处理设备610以从距离X中减去与正常区域的长度相对应的长度(Xα)从而获得距离(X-Xα)=X′,并且然后将距离X′存储在存储设备620中。由系统管理员基于预先存储在存储设备620中的液晶面板的尺寸确定与光学膜的正常区域的长度相对应的长度(Xα)。然后,控制单元600起作用为操作信息处理设备610以确定所计算的距离X′是大于还是小于与光学膜的正常区域的长度相对应的长度(Xα)。
具体地,如果图18中的X′(或X″)>Xα关系成立,则应理解可以确保光学膜的正常区域(Xα),从而控制单元600指令层积板驱动机构540和光学膜卷绕驱动机构580在施加张力的情况下使光学膜传送正常区域的长度(Xα)。在该情况下,长度(Xα)的值是用于形成与光学膜中的正常区域相对应的正常偏光板片Xα的切口位置信息。
相反,如果关系是X′≤Xα,即图18中的X″′≤Xα,应理解不能确保光学膜的正常区域(Xα)。在该情况下,具有长度(Xβ)的光学膜的区域提供有缺陷偏光板片(Xβ),从而控制单元600起作用为操作信息处理设备610以通过将恒定值X0加到X′(图18中的X″′)来计算与有缺陷区域(Xβ)相对应的长度(X′+X0)=Xβ,并且指令层积板驱动机构540和光学膜卷绕驱动机构580在施加张力的情况下使光学膜传送有缺陷区域的长度(Xβ)。在该情况下,值(Xβ)是用于形成与光学膜的有缺陷区域相对应的有缺陷偏光板片Xβ的切口位置信息。
具体地,控制单元600操作以计算以下(a)和(b),从而创建指示要在液晶显示元件的制造过程期间要传送的光学膜的连续带状体中形成各条切口线的位置以便形成偏光合成膜的正常偏光板片Xα和有缺陷偏光板片Xβ的切口位置信息,并且然后将该切口位置信息存储在存储设备620中:
(a)如果X′>Xα,则到用于形成下一切口线的位置的距离为(Xα);以及
(b)如果X′≤Xα,则到用于形成下一切口线的位置的距离为(X′+X0=Xβ)。
顺便提及,如果与有缺陷区域的长度相对应的长度(X′+X0=Xβ)变得等于与正常区域的长度相对应的长度(Xα),即如果(X′+X0)=(Xα),则控制单元600不能相对于有缺陷区域(Xβ)标识或区分正常区域(Xα)。这意味着要被辨认为有缺陷区域(Xβ)的区域不能被辨认为有缺陷区域(Xβ),从而例如基于关于光学膜的传送长度的传送长度测量数据不能将正常区域(Xα)和有缺陷区域(Xβ)彼此区分开,并且基于传送长度测量数据(X′+X0)创建的编码信息不可避免地变为有缺点的。假设,这种情况在光学膜中的缺陷的定位或坐标位置无限接近用于在光学膜中形成下一切口线的位置时、或者在与正常区域的长度相对应的长度(Xα)上分布一连串缺陷时出现。
在步骤5中,如果(X′+X0)变得等于(Xα),则控制单元600起作用为操作信息处理设备610以基于以下方法中的至少一种方法来执行计算,以便创建用于相对于有缺陷区域(Xβ)标识或区分正常区域(Xα)的信息。
在图19例示的步骤5中,即使作为由信息处理设备610进行的计算的结果,到用于形成下一切口线的位置的距离(X′+X0)变得等于与正常区域的长度相对应的长度(Xα),所述距离中的区域也不一定是正常区域(Xα)。为了使得可以辨认这样的区别,例如,作为图23中例示的包括缺陷的信息Xγ,可以将数字后缀“0”与指示用于形成与正常区域相对应的切口线的位置的切口位置信息相关联,并且将数字后缀“1”与指示用于形成与有缺陷区域相对应的切口线的位置的切口位置信息相关联。在图20例示的步骤5中,作为信息处理设备610的计算结果,如果到要形成下一切口线的位置的距离(X′+X0)变得等于与正常区域的长度相对应的长度(Xα),则进行信息处理使得到要形成下一切口线的位置的距离满足关系(X′+X0′),其中X0′>X0,并且将距离(X′+X0′)存储在存储设备620中。如图24所示,该信息处理使得通过计算不同于Xα的(X′+X0′)可以允许相对于正常区域(Xα)标识或区分具有长度(X′+X0′)的区域。此外,在图21例示的步骤5中,作为信息处理设备610所进行的计算的结果,如果到要形成下一切口线的位置的距离(X′+X0)变得等于与正常区域的长度相对应的长度(Xα),则进行信息处理以允许到要形成下一切口线的位置的距离变为[(X′+X0)/m],其中m=2或更大,优选地2或3,并且将距离[(X′+X0)/m]存储在存储设备620中。如在图20的情况下,图25中例示的信息处理也被配置为计算不同于Xα的[(X′+X0)/m],以便允许相对于正常区域(Xα)标识或区分具有长度[(X′+X0)/m]的区域。
综上所述,在创建用于识别或区分有缺陷区域和正常区域的信息的过程中,可以采用以下方法中的任一种方法:
(1)将包括缺陷的信息Xγ创建作为用于相对于正常区域(Xα)标识或区分具有由信息处理设备610计算的长度(X′+X0)的区域的信息的方法;
(2)将到由信息处理设备610计算的要形成下一切口线的位置的距离创建为不同于Xα的距离(X′+X0′)(其中X0′>X0)的方法;以及
(3)将到由信息处理设备610计算的要形成下一切口线的位置的距离创建为不同于Xα的距离[(X′+X0)/m](其中m=2或更大)的方法。
优选地,在采用方法(2)或(3)的情况下,通过图20或21例示的信息处理将(X′+X0)=(Xα)改变为(X′+X0′)≠Xα或[(X′+X0)/m]≠Xα,因此,可以将要形成下一切口线的位置用作指示相对于正常区域所标识或区分的有缺陷区域的信息。
接下来,在任一种情况下,在步骤6中,控制单元600起作用为基于步骤4和5中的计算结果而操作信息处理设备610以确定参考位置和要形成下一切口线的位置之间的长度。在方法(2)或(3)中,在步骤7中,控制单元600操作以使得信息处理设备610将如在步骤6中所确定的到要形成下一切口线的位置的长度存储在存储设备620中。然而,在方法(1)的情况下,控制单元600起作用为操作信息处理设备610以将到形成下一切口线的位置的长度与包括缺陷的信息Xγ相关联地存储在存储设备620中。
在任一种情况下,在步骤8中,控制单元600起作用为操作信息处理设备610以基于在步骤7中存储的用于形成下一切口线的位置来将指示要相对于正在传送的光学膜的前边缘形成切口线的位置的切口位置信息与诸如制造批号和卷筒中光学膜的以米为单位的长度之类的附加信息一起或相关联地转化为编码信息。在方法(1)中,应理解,同时将包括缺陷的信息Xγ转化为编码信息。
在步骤9中,控制单元600起作用为操作信息记录单元630以将由信息处理设备610在步骤8中转化的编码信息记录在光学膜上,优选地在载体膜的表面上。在方法(1)中,应理解,也将编码后的包括缺陷的信息Xγ与编码信息一起记录。最后,在步骤10中,控制单元600起作用为操作层积板驱动机构540和光学膜卷绕驱动机构580以卷绕完成的光学膜。由此完成了光学膜层积板的卷筒。然后,在图22到25中示出了编码信息的示例。
(具体示出缺陷检查过程的、光学膜层积板的卷筒的制造系统的细节)
参考图26和27,将结合检查在偏光合成膜11中存在的缺陷的具体方法来更具体地描述光学膜层积板的卷筒的制造系统。图26是示出基于根据第二实施例的制造系统的、具有两个检查单元的光学膜层积板的卷筒的制造系统700的示意图。
在临时光学膜10’的制造过程中,偏光合成膜110被形成为包括在其相对表面的至少一个上层积有保护膜的偏光片的结构,并且在偏光合成膜110的另一表面上形成粘贴层12以便形成偏光合成膜11。然后,将临时载体膜14’可剥离地层积在偏光合成膜11的粘贴层12上,并且将作为结果的临时光学膜卷绕为卷筒以形成临时光学膜层积板的卷筒10’。临时光学膜层积板的卷筒10’可旋转地安装在临时光学膜传送单元710的支架711上。除了临时光学膜传送单元710之外,系统700包括临时载体膜卷绕驱动机构720、第一检查单元730、第二检查单元731、控制单元740、载体膜传送单元750、载体膜层积机构760、光学膜卷绕驱动机构770、以及信息记录单元780。
通过临时光学膜传送单元710从临时光学膜层积板的卷筒10’连续传出临时光学膜。沿临时光学膜的传送方向布置临时载体膜卷绕驱动机构720,并且临时载体膜卷绕驱动机构720被适配为通过从临时光学膜剥离并除去临时载体膜14’来卷绕临时载体膜14’。第一和第二检查单元730、731中的每一个被适配为检测具有作为剥离临时载体膜14’的结果而暴露的粘贴层12的偏光合成膜11的表面和内部中的一个或多个缺陷。第一检查单元730包括图28中例示的透射检查设备。设计透射检查方法使得将从光源发出的可见光垂直投影到偏光合成膜11,通过光学检测单元接收已经透过偏光合成膜11的光,以便以阴影形式检测在偏光合成膜11中存在的一个或多个缺陷。第二检查单元731包括图28中例示的正交尼科尔透射检查设备。设计正交尼科尔透射检查方法使得将来自光源的可见光垂直地或倾斜地引入与以如下方式紧接在光学检测单元之前布置的偏光滤光器相关联的偏光膜11,所述方式为偏光滤光器的吸收轴相对于偏光合成膜11的吸收轴以直角配向,通过光学检测单元接收已经透过偏光合成膜11的光,以便将偏光合成膜中存在的一个或多个缺陷检测为亮斑。
控制单元740起作用为基于由第一检查单元730和第二检查单元检测的一个或多个缺陷的定位或坐标位置来在偏光合成膜11中定义有缺陷区域和正常区域。然后,控制单元740起作用为操作信息处理设备741,以便基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光片膜中形成有缺陷偏光板片Xβ和正常偏光板片Xα的切口位置信息,并且将切口位置信息转化为编码信息20。信息记录单元780被适配为将编码信息记录在新层积在偏光合成膜11上的载体膜14的表面上。
布置在第二检查单元731的下游的载体膜传送单元750被适配为沿着偏光片膜11的传送方向从可旋转地安装在支架751中的载体膜14的卷筒中连续展开载体膜14。载体膜层积机构760配备有一对辊,并且被适配为在检查单元完成检查之后将载体膜14可剥离地层积在暴露的粘贴层12上。可以通过信息记录单元780重复地将编码信息记录在新层积在粘贴层上的载体膜14的表面上。所创建的光学膜被光学膜卷绕驱动机构770卷绕,并且被形成为光学膜层积板的卷筒10。控制单元740起作用为以相互关联的方式控制各单元、各机构以及各设备各自的操作。
图27是示出基于根据第三实施例的制造系统的、具有四个检查单元的光学膜层积板的卷筒的制造系统800的示意图。
在临时光学膜10”的制造过程中,将偏光合成膜110制造为包括在其相对表面的至少一个上层积有保护膜的偏光片,并且在偏光合成膜110的另一表面上形成粘贴层12以便形成偏光合成膜11。然后,将临时载体膜14’可剥离地层积在偏光合成膜11的粘贴层12上,并且将临时表面保护膜13’可剥离地层积在偏光合成膜11的、与在其上层积有临时载体膜14’的表面相对的表面上,作为结果的临时光学膜被卷绕为临时光学膜层积板的卷筒10”。临时光学膜层积板的卷筒10”可旋转地安装在临时光学膜传送单元810的支架811上。
除了临时光学膜传送单元810之外,制造系统800还包括临时载体膜卷绕驱动机构820、临时表面保护膜卷绕驱动机构830、第一检查单元840、第二检查单元850、第三检查单元851、第四检查单元852、控制单元860、临时表面保护膜传送单元870、载体膜传送单元880、两组层积机构890(载体膜层积机构891、表面保护膜层积机构892)、光学膜卷绕驱动机构910、以及信息记录单元920。
通过临时光学膜传送单元810从临时光学膜层积板的卷筒10”连续展开临时光学膜10’。沿临时光学膜的传送方向布置临时表面保护膜卷绕驱动机构830,并且临时表面保护膜卷绕驱动机构830被适配为通过从临时光学膜剥离并除去临时表面保护膜13’来卷绕临时表面保护膜13’。在临时表面保护膜卷绕驱动机构830的下游并沿临时光学膜的传送方向布置临时载体膜卷绕驱动机构820,并且临时载体膜卷绕驱动机构820被适配为通过从临时光学膜剥离并除去临时载体膜14’来卷绕临时载体膜14’。
如图27所示,检查单元布置在系统800相应的四个位置。第一检查单元840位于临时表面保护膜卷绕驱动机构830和临时载体膜卷绕驱动机构820之间,并且被适配为在仅剥离临时表面保护膜13’而临时载体膜14’仍在带状体上的状态下检查临时光学膜。具体地,进行检查以基于来自暴露的偏光合成膜11的保护膜的反射光来检测偏光合成膜11的表面中的一个或多个缺陷。第二检查单元850、第三检查单元851和第四检查单元852位于临时载体膜卷绕驱动机构820和载体膜传送单元880之间,使得它们通过使光透射过具有作为由临时载体膜卷绕驱动机构820剥离临时载体膜13’的结果而处于暴露状态的粘贴层12的偏光合成膜11,来检查偏光合成膜的表面和内部中的一个或多个缺陷。
更具体地,第二到第四检查单元每个被配置如下。第二检查单元850被设计用于图28例示的透射检查。设计透射检查方法使得将来自光源的可见光垂直投影到偏光合成膜11,通过光学检测单元接收已经透过偏光合成膜11的光,以便以阴影形式检测在偏光合成膜11中存在的一个或多个缺陷。第三检查单元851被设计用于图28例示的倾斜透射检查。设计倾斜透射检查方法使得将从倾斜透射光源发出的可见光以斜角投影到偏光合成膜11,通过光学检测单元接收已经透过偏光合成膜的光,以便以阴影形式检测在光学膜中存在的一个或多个缺陷。第四检查单元852包括图28中例示的正交尼科尔透射检查设备。设计正交尼科尔透射检查方法使得将来自光源的可见光垂直地或倾斜地引入与以如下方式紧接在光学检测单元之前布置的偏光滤光器相关联的偏光膜11,所述方式为偏光滤光器的吸收轴相对于偏光合成膜11的吸收轴以直角配向,通过光学检测单元接收已经透过偏光合成膜11的光,以便将偏光合成膜11中存在的一个或多个缺陷检测为亮斑。
控制单元860起作用为基于由第一检查单元840、第二检查单元850、第三检查单元851和第四检查单元852检测的一个或多个缺陷的定位或坐标位置来在偏光合成膜11中定义有缺陷区域和正常区域。然后,控制单元860起作用为操作信息处理设备861,以便基于所定义的有缺陷区域和正常区域来创建用于在偏光片合成膜中形成有缺陷偏光板片Xβ和正常偏光板片Xα的切口位置信息,并且将切口位置信息转化为编码信息20。信息记录单元920被适配为将编码信息记录在新层积在偏光合成膜11上的载体膜14的表面上。
布置在第四检查单元852的下游的载体膜传送单元880被适配为沿着偏光片膜11的传送方向从可旋转地安装在支架881中的载体膜层积板14的卷筒中连续展开载体膜14。布置在载体膜传送单元880的下游的表面保护膜传送单元870被适配为沿着偏光片膜11的传送方向从可旋转地安装在支架871中的表面保护膜13的卷筒中连续展开表面保护膜13。层积机构890,或者载体膜层积机构891和表面保护膜层积机构892每个具有一对辊,其起作用为在布置在四个位置处的检查单元完成检查之后将载体膜14和表面保护膜13分别可剥离地层积在暴露的粘贴层12和偏光合成膜的不具有粘贴层的表面上。可以通过信息记录单元920重复地将编码信息记录在新层积在粘贴层上的载体膜14的表面上。所创建的光学膜被光学膜卷绕驱动机构910卷绕,并且被形成为光学膜的卷筒10。控制单元860可操作为以相互关联的方式控制各单元、各机构以及各设备各自的操作。
尽管已经结合本发明的优选实施例描述了本发明,但是将理解本领域技术人员将在不偏离在所附权利要求中所限定的本发明的精神和范围的情况下作出各种改变和修改,并且所附权利要求的合法等效物可以替代所附权利要求的要素。相应地,本发明不限于被作为用于实施本发明的最佳模式而公开的具体实施例,而是意图涵盖包含在其范围之内的所有实施例。
Claims (18)
1.一种液晶显示元件的连续制造方法,其包括以下步骤:
提供光学膜的连续带状体,所述光学膜具有对应于具有预定义尺寸的液晶面板的宽度的宽度、并且至少包括其上具有粘贴层的偏光片膜以及可剥离地贴合到粘贴层的载体膜,所述光学膜的连续带状体具有基于在光学膜的连续带状体中存在并且通过预先检查偏光合成膜而检测到的一个或者多个缺陷的位置、以在光学膜的连续带状体的宽度方向上延伸的线的形式而在光学膜的连续带状体上定义的多个有缺陷偏光板片切口位置以及正常偏光板片切口位置,所述有缺陷偏光板片切口位置用于定义包含一个或者多个缺陷的区域,所述正常偏光板片切口位置用于定义没有缺陷的区域,将有缺陷偏光板片切口位置和正常偏光板片切口位置作为编码信息记录在所述带状体上;
从所述光学膜的连续带状体中形成单片型偏光膜板片,以具有对应于液晶面板的尺寸的尺寸;以及
将所述单片型偏光膜板片分别贴合到液晶面板,以形成液晶显示元件;
其中所述方法还包括以下步骤:
将光学膜的连续带状体连续传送到层积工作台;
测量所述连续带状体的传送距离;
基于传送距离来计算传送长度测量数据;
读取记录在连续带状体上的编码信息;
当在所述连续带状体上定义的切口位置进入切口工作台时,基于编码信息和传送长度测量数据,通过沿着切口位置、从与载体膜相对的表面直至达到载体膜与粘贴层相邻的表面的深度对所述连续带状体进行切口,来在所述连续带状体中形成多条切口线;
使用编码信息,用于确定在所述连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片是具有一个或多个缺陷的有缺陷偏光板片、还是没有缺陷的正常偏光板片;
从载体膜中剥离在光学膜的连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片中被确定为正常偏光板片的偏光板片;
将剥离的偏光板片输送到层积工作台;
与将正常偏光板片输送到层积工作台同步地,将液晶面板依序输送到层积工作台;以及
以依序的方式将偏光板片贴合到各个液晶面板。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:防止在光学膜的连续带状体中依序形成的各对切口线之间形成的偏光板片中被确定为有缺陷偏光板片的偏光板片被贴合到液晶面板。
3.根据权利要求1或2中的任一项所述的方法,其中在层积工作台处将正常偏光板片贴合到液晶面板的步骤包括以下步骤:
在层积工作台处提供一对层积辊,用于向着彼此移动或者远离彼此移动;
检测与液晶面板向着层积工作台的移动同步地输送的正常偏光板片的位置;在层积工作台处调整正常偏光板片和液晶面板的层积位置;
调整所输送的正常偏光板片的前边缘和与向着在以相间隔的关系定位的一对层积辊之间的辊隙输送正常偏光板片同步地传送的液晶面板的前边缘之间的对齐;以及
使层积辊向着彼此移动;以及通过层积辊将正常偏光板片层积到液晶面板。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法,还包括切口位置检验步骤,用于检验在光学膜的连续带状体中实际形成的切口线的位置是否与要形成切口线的位置一致。
5.根据权利要求4所述的方法,其中切口位置检验步骤的特征在于:基于在所述连续带状体中实际形成的切口线的位置和要形成切口线的切口位置之间在传送方向上的偏差,来调整要在光学膜的连续带状体中形成切口线的位置。
6.根据权利要求2所述的方法,其中防止被确定为有缺陷偏光板片的偏光板片被贴合到液晶面板的步骤还包括以下步骤:
提供要将有缺陷偏光板片贴合到其上的虚设膜传送路径;提供可移动辊,用于使所述连续带状体朝向所述虚设膜传送路径;以及
当在光学膜的连续带状体中形成的有缺陷偏光板片到达去除工作台时,通过可移动辊移动连续带状体,以使有缺陷偏光板片与虚设膜传送路径对齐,从而剥离有缺陷偏光板片并且将所述有缺陷偏光板片贴合到虚设膜传送路径。
7.根据权利要求2所述的方法,其中防止在光学膜的连续带状体中形成的被确定为有缺陷偏光板片的偏光板片被贴合到液晶面板的步骤还包括以下步骤:
提供用于传送要将有缺陷偏光板片贴合到其上的虚设膜的虚设膜传送路径;提供可移动辊,其构成虚设膜传送路径的一部分;以及
当在光学膜的连续带状体中形成的有缺陷偏光板片到达在层积工作台中提供的并位于分开的位置的层积辊之间的辊隙时,移动可移动辊以利用可移动辊替代层积辊之一,使得可移动辊与另一层积辊协作;将有缺陷偏光板片从所述连续带状体中剥离,并且将有缺陷偏光板片贴合到虚设膜传送路径。
8.根据权利要求1至7中的任一项所述的方法,还包括以下步骤:
预先将多个液晶面板存储在液晶面板储料库中;从液晶面板储料库中依序取出液晶面板;以及
当将在光学膜的连续带状体上形成的正常偏光板片输送到层积工作台时,与正常偏光板片同步地控制被供应到层积工作台的液晶面板中的每一个的定向。
9.根据权利要求8所述的方法,其中控制液晶面板的定向的步骤还包括以下步骤:
检测沿横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向延伸的正常偏光板片的前边缘的位置、以及沿横跨液晶面板的传送方向的方向延伸的液晶面板的前边缘的位置;以及
基于与正常偏光板片的前边缘的位置有关的信息以及与液晶面板的前边缘有关的信息,来控制液晶面板的定向。
10.一种用于液晶显示元件的连续制造系统,其被适配为使用光学膜的连续带状体,所述光学膜具有对应于具有预定义尺寸的液晶面板的宽度的宽度、并且至少包括其上具有粘贴层的偏光片膜以及可剥离地贴合到粘贴层的载体膜,所述光学膜的连续带状体具有基于在光学膜的连续带状体中存在并且通过预先检查偏光合成膜而检测到的一个或者多个缺陷的位置、以在光学膜的连续带状体的宽度方向上延伸的线的形式而在光学膜的连续带状体上定义的多个有缺陷偏光板片切口位置以及正常偏光板片切口位置,所述有缺陷偏光板片切口位置用于定义包含一个或者多个缺陷的区域,所述正常偏光板片切口位置用于定义没有缺陷的区域,将有缺陷偏光板片切口位置和正常偏光板片切口位置作为编码信息记录在所述带状体上,其中从光学膜的连续带状体中将偏光膜板片形成为对应于液晶面板的尺寸的尺寸,并且将所述偏光膜板片贴合到液晶面板;
所述系统包括:
传送单元,用于将光学膜的连续带状体连续传送到层积工作台;
测量设备,用于测量所述连续带状体的传送距离,并且基于传送距离来计算传送长度测量数据;
读取单元,用于读取在所述连续带状体上记录的编码信息;
切口单元,用于:当在所述连续带状体上定义的切口位置进入切口工作台时,基于编码信息和传送长度测量数据,通过沿着切口位置、从与载体膜相对的表面直至达到载体膜与粘贴层相邻的表面的深度对所述连续带状体进行切口,来在所述连续带状体中形成多条切口线;
控制单元,用于确定在所述连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片是具有一个或多个缺陷的有缺陷偏光板片、还是没有缺陷的正常偏光板片;
剥离单元,用于从载体膜中剥离在光学膜的连续带状体中依序形成的相邻一对切口线之间形成的偏光板片中被确定为正常偏光板片的偏光板片,并且将剥离的偏光板片输送到层积工作台;以及
层积单元,用于与将正常偏光板片输送到层积工作台同步地、将液晶面板依序输送到层积工作台,并且以依序的方式将偏光板片贴合到各个液晶面板。
11.根据权利要求10所述的系统,还包括有缺陷偏光板片去除单元,用于防止在光学膜的连续带状体中依序形成的各对切口线之间形成的偏光板片中被确定为有缺陷偏光板片的偏光板片被贴合到液晶面板。
12.根据权利要求10或11中的任一项所述的系统,其中用于将正常偏光板片贴合到液晶面板的层积单元还包括:
在层积工作台处提供的一对层积辊,用于向着彼此移动或者远离彼此移动;
调整单元,用于检测与液晶面板向着层积工作台的传送同步地输送的正常偏光板片的位置,并且用于在层积工作台处调整正常偏光板片相对于液晶面板的位置;
所述调整单元被适配用于执行以下操作:调整所输送的正常偏光板片的前边缘和与向着在以相间隔的关系定位的一对层积辊之间定义的辊隙输送正常偏光板片同步地传送的液晶面板的前边缘之间的对齐;此后,闭合层积辊;以及通过层积辊将正常偏光板片层积到液晶面板。
13.根据权利要求10到12中的任一项所述的系统,还包括切口位置检验单元,用于检验在横跨传送方向的方向上、在光学膜的连续带状体中实际形成的切口线的位置是否与要形成切口线的切口位置一致。
14.根据权利要求13所述的系统,其中所述切口位置检验单元被适配为基于在光学膜的连续带状体中实际形成的切口线的位置和在横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向上要形成切口线的切口位置之间在传送方向上的偏差,来通过控制切口单元而调整要在光学膜的连续带状体中形成切口线的位置。
15.根据权利要求11所述的系统,其中有缺陷偏光板片去除单元包括具有虚设膜传送路径的虚设膜驱动机构、以及用于向着虚设膜传送路径移动光学膜的连续带状体的移动机构,其中要将在光学膜的连续带状体中形成的有缺陷偏光板片贴合到所述虚设膜传送路径,当有缺陷偏光板片到达去除工作台时,所述移动机构被移动以使连续带状体移动到接触虚设膜传送路径,从而从连续带状体剥离有缺陷偏光板片并且将所述有缺陷偏光板片贴合到虚设膜传送路径。
16.根据权利要求11所述的系统,其中有缺陷偏光板片去除单元包括具有用于将有缺陷偏光板片贴合到其上的虚设膜传送路径的虚设膜驱动机构、以及构成虚设膜传送路径的一部分的可移动辊,当有缺陷偏光板片到达在所述层积工作台中提供的并且彼此相间隔的层积辊的辊隙时,所述可移动辊被移动以利用所述可移动辊替代层积辊之一,使得可移动辊与另一层积辊协作,以将有缺陷偏光板片从所述连续带状体中剥离,并且将所述有缺陷偏光板片贴合到虚设膜传送路径。
17.根据权利要求10到16中的任一项所述的系统,还包括液晶面板输送单元,其包括:存储储料库,用于预先存储多个液晶面板;取出单元,用于从存储储料库中依序取出液晶面板;以及液晶定向控制单元,用于在将在光学膜的连续带状体中形成的正常偏光板片依序输送到层积工作台的时刻、与所述正常偏光板片同步地控制被传送到层积工作台的液晶面板的定向。
18.根据权利要求17所述的系统,其中液晶定向控制单元还包括:
板片前边缘检测单元,用于检测正常偏光板片的前边缘的位置,所述前边缘沿横跨光学膜的连续带状体的传送方向的方向延伸;
液晶面板前边缘检测单元,用于检测液晶面板的前边缘的位置,所述前边缘沿横跨液晶面板的传送方向的方向延伸;以及
定向控制单元,用于根据与由板片前边缘检测单元和液晶面板前边缘检测单元提供的正常偏光板片的前边缘的位置以及液晶面板的前边缘的位置有关的信息,来控制液晶面板的定向。
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