CN101910924B - 连续带状光学膜层积体及其制造方法及制造装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒及其制造方法和制造装置。本发明的具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，能将制造液晶显示元件的精度及速度提高，且彻底解决提高成品率的问题。本发明的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒是以用于如下装置为前提，该装置将光学功能膜的薄片贴合而连续制造出液晶显示元件。光学膜层积体包括具有粘着层的光学功能膜以及可自由剥离地层积于粘着层的载体膜，根据所检测到的缺陷的位置，该光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向被划分的具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度且不含缺陷的区域、以及具有与不含缺陷的区域不同的规定长度且含有缺陷的区域；通过在该光学膜层积体上沿着光学膜层积体的宽度方向形成与上述各区域对应的切割线，在载体膜上形成不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片。

Description

连续带状光学膜层积体及其制造方法及制造装置

技术领域

本发明是关于连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体及其制造方法和制造装置，该光学膜层积体是用于如下装置，该装置对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为对应于该液晶面板尺寸的规定尺寸的光学功能膜的薄片进行贴合，来连续制造出液晶显示元件。 

背景技术

液晶面板W，如果以画面尺寸为对角42英寸的大型电视机用的液晶面板为例，则如图1所示，是由配置有透明电极或彩色滤光片等的5μm左右的液晶层构成的层状的面板，该液晶层被长(540～560)mm×宽(950～970)mm×厚0.7mm(700μm)左右的矩形玻璃基板夹持。因此，液晶面板W本身的厚度为1.4mm(1400μm)左右。液晶显示元件是通过分别在该液晶面板W的表面侧(目视确认侧)与背面侧(背光侧)贴合通常通称为「偏光板」的光学功能膜11的薄片所生成。 

关于液晶显示元件的功能，是与液晶分子的取向方向与偏光片的偏光方向紧密地相关。关于液晶显示元件技术，首先是使用TN(Twisted Nematic)型液晶的LCD(液晶表示装置)达到了实用化，然后是使用VA(VerticalAlignment)型液晶、IPS(Inplane Switching)型液晶等的LCD达到了实用化。虽然省略技术说明，但在使用了TN型液晶面板的LCD中，是由上下两片配向膜以在光轴方向扭转90度的状态将液晶分子配向、夹持，该配向膜在液晶面板的玻璃基板的内侧面配置且具有各自的摩擦方向，当施加电压时，则液晶分子会垂直配向膜而配向。如果要将表示画面左右的图像表示为相同的话，则必须使目视确认侧的配向膜的摩擦方向成为45度(使另一方的配向膜的摩擦方向成为135度)。于是，与之对应，必须使分别贴在液晶面板的表面侧与背面侧的、由偏光膜所形成的薄片中所含有的偏光片的偏光方向也 配置成相对于表示画面的纵向或横向倾斜45度方向。 

因此，将制造TN型液晶面板的液晶显示元件时所使用的偏光膜的薄片，配合TN型液晶面板的大小，以偏光片的由于在纵向或横向延伸而导致长边或短边相对于配向方向成为45度方向的方式，在利用在纵向或横向的延伸而进行配向处理的偏光片上层积保护膜，从包含有在贴合于液晶面板的面上形成粘着层的偏光膜的光学膜，需要将其作为薄片而冲裁或切割加工成矩形。该技术是例如公开于日本特开2003-161935号公报(专利文献1)或日本专利第3616866号公报(专利文献2)。加工成矩形的光学膜的薄片的宽度，也就是薄片的短边，当然小于光学膜的宽度。 

从光学膜将薄片进行冲裁或切割加工成矩形的技术总称为：液晶显示元件用单片型薄片或单片型薄片制造方法及装置。以该方式进行冲裁或切割加工的光学膜的薄片，不只是包含于光学膜的表面保护膜，连用来保护偏光膜的粘着层的露出面的载体膜，都一体地被进行冲裁或切割加工。一体地经过冲裁或切割加工的载体膜的薄片，并非成为输送介质，所以与其称之为载体膜的薄片，更应该称之为脱模膜的剥离片。于是，在液晶显示元件的制造过程中，首先，包含有从光学膜的薄片将该剥离片剥离，使偏光膜的薄片的粘着层露出的步骤。接着，无论露出了粘着层的偏光膜的薄片有无层积表面保护膜的薄片，都将该薄片一片一片地吸附输送而贴合在液晶面板上。在以该方式制造液晶显示元件时，从光学膜一体地经过冲裁或切割加工的薄片，需要是挠曲或弯曲较少、容易进行输送或贴合、且具有一定程度的刚性的、四边被整形的单片型薄片。在液晶显示元件制造的初期阶段，光学膜的薄片或该薄片含有的偏光膜的薄片，一般来说称为「偏光板」，至今仍是通称的名称。 

在TN型的液晶显示元件制造方面，在相对于进给方向的横向，将从连续卷筒所放出的光学膜一体地连续进行冲裁或切割加工，由此形成光学膜的薄片。在该薄片也含有同时成形的偏光膜的薄片。可是，在该情况下，在与该连续冲裁或切割加工步骤接续的步骤中，并不能将成形的薄片就这样贴在液晶面板上而加工成液晶显示元件。这是因为，相对于由于偏光片朝纵向或横向的延伸而实现的配向方向(也就是成形前的光学膜的进给方向)，成形为长边或短边的方向成为45度方向的薄片，无法以相同姿态贴合于液晶面板。而如专利文献1或2所示，将偏光膜的薄片供给至其与液晶面板的贴合位置， 当贴合于液晶面板而要加工成液晶显示元件时，将比液晶面板的长边更宽的连续带状形态的光学膜，沿长轴方向送出，将一片一片的薄片，例如以模具，连光学膜一起朝相对于长轴方向成45度的方向进行冲裁加工，适当供给至与液晶面板的贴合步骤。或如专利文献3或4所示，公开了液晶显示元件的制造方法，将相当宽的连续带状形态的光学膜朝相对于长轴方向成45度的方向预先进行冲裁或切割加工，将由此所成形的一片薄片作为长型光学膜，或将成形的一片一片的薄片接合成膜状作为长型光学膜。将成形后的具有液晶面板宽度的长型光学膜加工成连续滚筒，从该连续滚筒将长型光学膜放出，相对于其进给方向在横向裁切，形成需要长度的薄片，将该薄片含有的偏光膜贴合在依次输送过来的液晶面板W上，而制造出液晶显示元件。这些方法，都是包含在以TN型液晶显示元件为前提的单片型薄片制造的技术领域。 

日本特公昭62-14810号公报(专利文献3)公开了在VA型液晶、IPS型液晶等迈入实用化以前，连续供给含有偏光膜的光学膜，且将形成为需要长度的薄片依次贴合于液晶面板来制造液晶面板的装置。其所公开的技术是，将含有偏光膜(该文献中称为「长型偏光板」)和用来保护偏光膜的粘着层的剥离片的光学膜(该文献中称为「偏光板带体」)，利用剥离片的载体功能来连续地送出，实施「保留剥离片6，而仅将偏光板4和粘着剂层5切割(以下称半切割)的作业」，将中途被切割的偏光薄片的缺陷部分除去，最后将残留在剥离片上的偏光薄片从剥离片予以剥离，并将剥离的薄片连续地贴合于用来构成计算器等小型的表示画面的液晶面板(该文献中称为「液晶单元」)而加工成「偏光薄片和液晶单元的层积产品」。该装置是用来制造使用TN型液晶的LCD的贴标签装置(labeler)，所使用的光学膜，必须是配合液晶面板的宽度将相当宽的光学膜朝45°方向进行切割加工而形成的一片长型的光学膜的薄片，或是将一片一片的光学膜的薄片接合成膜状而成的长型的光学膜的薄片。因此，该装置的前提是使用配合液晶面板宽度而相对于偏光膜的延伸方向以45°方向进行切割加工而形成的一片长型的薄片，所以并无法直接适用于由光学膜来将偏光膜的薄片连续成形，直接贴合于使用VA型液晶或IPS型液晶的液晶面板而制造液晶显示元件的制造装置。 

专利文献4，即日本特开昭55-120005号与专利文献3同样地，公开了在VA型液晶、IPS型液晶等迈入实用化以前，连续供应含有用以下顺序制 作的偏光膜的光学膜，且将成形为需要长度的薄片依次贴合在液晶面板来制造液晶显示元件的装置。该光学膜的制作顺序为，首先，在宽幅的偏光膜上形成粘着层。从该宽幅的含有粘着层的偏光膜切出规定宽度的长型偏光膜的薄片。将该薄片贴在另外准备的完成脱模处理的输送介质(也就是载体膜)上，而生成光学膜。接着，以相对于长轴方向设置在规定间隔的两片刀刃，将该光学膜以残留输送介质的方式在垂直方向半切割，将在输送介质上被切割的光学膜的薄片连续形成，将所形成的薄片依次贴合在输送过来的液晶面板上，而制造出液晶显示元件。该装置的前提也是使用配合液晶面板宽度而朝相对于偏光膜的延伸方向成45度的方向切割加工的一片偏光膜的长型薄片，所以并不能直接适用在将偏光膜的薄片从光学膜连续成形，直接贴合在使用VA型液晶或IPS型液晶的液晶面板来制造液晶显示元件的制造装置。 

关于使用单片型薄片的液晶显示元件的制造自动化，大概如以下所说明。在光学膜的制造过程，由将事前检查好是否有缺陷的检查完成的包含偏光膜的连续带状形态的光学膜，来生成矩形的单片型薄片。所生成的完成缺陷检查的单片型薄片在集合多数片之后被置入液晶显示元件的制造过程。所送入的单片型薄片，通常是经由手动作业来收纳于单片型薄片用零件库。所收纳的单片型薄片中层积有：至少含有粘着层的偏光膜的薄片与保护该粘着层的露出面的剥离片。收纳有单片型薄片的零件库装入液晶显示元件的制造过程。同样地从用于制造过程的收纳有液晶面板的液晶面板用零件库将液晶面板逐片取出，经由洗净/研磨步骤而进行输送。与该液晶面板的输送同步地，通过吸附输送装置，从单片型薄片用零件库将单片型薄片予以逐片取出。所取出的单片型薄片，将其剥离片剥离而使薄片的粘着层露出。当使用单片型薄片来制造液晶显示元件时，必须对每个单片型薄片将剥离片剥离。接着，将粘着层露出的单片型薄片吸附输送到与液晶面板贴合的位置。将所输送的单片型薄片贴合在液晶面板的一个面上，来连续制造液晶显示元件。该方法例如公开于日本特开2002-23151号公报(专利文献5)。可挠性的单片型薄片，若端部发生弯曲或下垂等，对于其与液晶面板的自动对准或自动贴合，容易产生挠曲或弯曲情形，对作业的精度、速度而言，会造成极大的技术障碍。因此，吸附输送时为了容易进行其与液晶面板的定位及贴合，要求单片型薄片具有一定程度的厚度及刚性。例如日本特开2004-144913号公报(专利文献6)、日本特开2005-298208号公报(专利文献7)或日本特开2006-58411号公 报(专利文献8)所公开的，都是着眼于此技术课题而考虑的解决方法。 

相对于此，VA型液晶或IPS型液晶面板中，液晶分子并不是以扭转状态来配向。因此，使用该液晶面板来制造液晶显示元件时，不须像使用TN型液晶面板那样，基于根据液晶配向状态的视角特性，相对于液晶显示元件的长边或短边方向使偏光膜的薄片的偏光方向成为45°方向。使用该液晶面板的液晶显示元件，只要分别贴合于液晶面板的表面和背面侧的偏光薄片的偏光方向是相差90°的方向即可。在VA型液晶或IPS型液晶面板中，在考虑视角特性的情况，由于偏光薄片的偏光轴方向表示最大对比度的方向，基于视角特性的对称性和目视性的技术性观点，偏光薄片的光学轴，优选为与液晶面板的纵向或横向平行。也就是说，贴合于该液晶面板的薄片的特征在于：将含有朝纵向或横向实施延伸处理的偏光膜的光学膜连续送出，沿着相对于该光学膜的进给方向的横向进行切割，将具有与光学膜相同宽度的薄片连续地成形。 

另一方面，基于提升视角特性的观点，大型电视用的显示元件所使用的液晶从TN型液晶转变成VA型液晶或IPS型液晶。迄今为止的TN型液晶构成的显示元件，如前所述必须经由单片型薄片制造才能制得。受到产品精度及制造速度这两方面的制约，该方法的生产效率难以进一步提升。随着技术开发环境的改变，如日本特开2004-361741号公报(专利文献9)所示，将连续送出的包含偏光膜的光学膜配合液晶面板的大小而实施切割加工，将切割加工后的薄片连续贴合于液晶面板；像这种以高生产效率的VA型液晶和IPS型液晶面板为前提的技术已被提出。 

本发明的课题及想法，如后所述，与基于这样的VA型液晶、IPS型液晶等的、不同于TN型液晶的原理来进行液晶显示元件制造的技术有密不可分的关系。 

然而，由于存在着以下的技术课题，液晶显示元件的制造仍然是以单片型薄片的制造为主流。液晶显示元件的制造中的重要技术课题，是事前确认出所制造的显示元件的缺陷，而避免发生不良品。如此可大幅提升制造成品率。大多数的缺陷，主要是起因于光学膜所含的偏光膜内部存在的缺陷。然而，要以在层积的各个膜所含的缺陷完全除去的状态来提供光学膜，完全不切合实际。其理由在于：对构成未形成粘着层的偏光膜的偏光片、层积于该偏光片的保护膜、及形成于偏光膜的粘着层全部都加以调查发现，存在于偏 光膜内的缺陷包含：偏光片的PVA膜本身内部存在的缺陷、或随着保护膜层积在偏光片上所产生的缺陷、或所形成的偏光膜的粘着层中所生成的缺陷等，从每1000m的偏光膜来看，已知有多达20-200处存在着各种形态的缺陷分布。这证明目前要制造出零缺陷的光学膜是非常困难的。另一方面，即使可目视的伤痕或缺陷只有微量，将包含该伤痕和缺陷的光学膜的薄片当作电视用显示元件的薄片来使用时，基于维持液晶显示元件本身品质的观点而言，是不允许的。若从偏光膜产生的薄片的长边约1m左右，在事前无法除去缺陷部位的情况下，依单纯的计算，每1000个所制造的液晶显示元件，会发生多达20-200个有缺陷的不良品。 

因此，在目前的状况下，是以让划分为矩形而不含缺陷的区域适当避开同样划分为矩形而含有缺陷的区域的方式，对偏光膜实施冲裁或切割加工，获得成形为矩形的正常品的正常薄片(以下称「正常薄片」)。在随后的步骤贴合于液晶面板。而包含缺陷的区域，是以不良品的薄片(以下称「不良薄片」)的形式被实施冲裁或切割加工后，在随后的步骤仅选取并排除所成形为矩形的不良薄片。 

本申请人例如如日本特许第3974400号公报(专利文献10)、日本特开2005-62165号公报(专利文献11)、或日本特开2007-64989号公报(专利文献12)中所示，曾提出偏光膜的事前检查装置。这些技术，是关于以制造单片型薄片为前提的装置，主要包含以下两个制造步骤。在第1步骤是包含首先检查连续供应的偏光膜内部存在的缺陷，将检测出的缺陷的位置或座标实施图像处理，将经过图像处理所得的信息进行编码的步骤。第1步骤接着包含：在单片型薄片的制造中，通过记录装置将由偏光膜冲裁成单片型薄片时所残留的偏光膜的切屑或端部上直接印刷编码信息后，暂时卷取该偏光膜而生成连续卷筒的步骤。第2步骤包含：通过读取装置来读取从暂时卷取的连续卷筒送出的偏光膜上所印刷的编码信息，根据判断良否的结果在缺陷部位利用标记器划上标记的步骤：而在其后的步骤中，是从偏光膜冲裁成单片型薄片的步骤，包含：根据事先划上的标记，来划分实施冲裁或切割加工后的单片型薄片是正常品或不良品的步骤。这些步骤，是为了提升制造单片型薄片时的成品率不可或缺的技术手段。 

值得一提的，在专利文献10或12中，是将偏光膜称为「薄片状成形体」，而例示出「例如，偏光膜、相位差膜、有机EL用塑料薄片、液晶单元用塑 料薄片、太阳电池基板用塑料薄片」，在该文献的图1(a)(b)所示的实施例中，包含在偏光片的两面层积保护膜而构成的偏光膜，在此之后被施以冲裁的薄片称为「产品」。另外，专利文献11所例示的偏光膜是称为「偏光板原料卷筒」，同样的被施以冲裁后的薄片称为「薄片状产品」。在这些专利文献首先记载着以下的要点，事先通过检查装置来检测偏光膜所含的缺陷的位置或座标。接着将检测的信息编码。编码信息以在从偏光膜冲裁成薄片时可由读取装置读取的方式，印刷在该偏光膜的适当部位。制造出将编码信息印刷在偏光膜的连续卷筒。以上为第1步骤。并且在这些专利文献中记载着：将在第1步骤所制造的连续卷筒以另外方式组装入，从该连续卷筒放出偏光膜，从偏光膜将薄片成形的第2步骤。第2步骤包含：根据读取装置所读取的编码信息，在偏光膜的缺陷的位置或座标直接划上标记的步骤，在随后的步骤中，经由从所制造的连续卷筒送出的偏光膜而冲裁薄片的步骤，包含：通过有无划上的标记，划分冲裁后的偏光膜的薄片是正常品或不良品的步骤。 

如后所述，本发明的目标是提供一种手段，通过该手段，供给连续带状形态的具有切割线的光学膜，在该具有切割线的光学膜的供给期间，在载体膜上以切割的状态依次形成的偏光膜的正常薄片与不良薄片之中，将判断为不良薄片的薄片不贴合于液晶面板，由此，不间断该具有切割线的光学膜的供给，仅将判断为正常薄片的薄片供给到贴合站，将其贴合于液晶面板W。应注意，这种液晶元件的连续制造方式，与现有的、事先从光学膜将单片型薄片成形，集合多数片薄片进入到制造液晶显示元件的工序，来一片一片贴合于液晶面板W的液晶显示元件的制造方式是完全不同的方式。 

在包含偏光膜的光学膜的供给期间，为了不将偏光膜的不良薄片输送到与液晶面板W的贴合站，通常是将偏光膜的包含缺陷的区域，从光学膜作为不良薄片切割，而将其排除。结果，会间断光学膜的供给。如果为了不间断光学膜的供给而让偏光膜的包含缺陷的区域就这样过去的话，则很难避免液晶显示元件的不良品的产生。尽管能够维持制造速度，而却牺牲了产品的成品率。这是本发明要解决的技术课题之一。主要是要不间断光学膜的供给，在光学膜的供给期间，如何将其所包含的偏光膜的含有缺陷的区域作为不良薄片予以排除。 

本申请人，在日本特开2007-140046号公报(专利文献13)中提出一种制造方法，将从连续卷筒送出的光学膜所包含的载体膜剥离，使含有粘着层的 偏光膜露出，在检测出偏光膜内部存在的缺陷之后，保留偏光膜的缺陷部位，避开偏光膜的缺陷部位，仅将偏光膜的不含缺陷的区域冲切或切割加工成矩形，仅将加工后的不含缺陷的正常薄片利用其他的输送介质移送至贴合位置。然而该技术并无法实现下面的目的，即利用载体膜而仅将从光学膜成形的偏光膜的正常薄片输送至其与液晶面板的贴合站。该技术类似于在专利文献4中公开的方法，即、在另外准备的输送介质(也就是载体膜)上，可自由剥离地层积包含粘着层的偏光膜之后，保留输送介质而将偏光膜的薄片进行切割加工，而将该薄片移送到与液晶面板的贴合站；它们都是将暂时切割加工过的单片型薄片可自由剥离地层积于另外的输送介质，然后移送到与液晶面板的贴合站的方法。不得不承认该技术仍是属于制造单片型薄片范围内的液晶显示元件的制造方法。 

另外，本申请人在日本特愿2007-266200号中提出：如图2所示的偏光膜的薄片对于液晶面板的贴合方法及装置。其为具有以下步骤的液晶显示元件的制造方法及装置。该方法首先包含：剥离第1载体膜(用来保护光学膜所含的偏光膜的粘着层)的步骤。该方法进一步包含：事前检查含有粘着层的偏光膜内部存在的缺陷的步骤，该粘着层因剥离第1载体膜而变成露出状态；在该步骤之后还包含：供应第2载体膜，在偏光膜的露出状态的粘着层上以可自由剥离的方式层积第2载体膜而再度对粘着层赋予保护的步骤。由此不会间断光学膜的供给，在光学膜的供给中，仍可以检查偏光膜内部存在的缺陷。该方法接下来具有：在光学膜中，相对于其进给方向在横向切入，形成直达第2载体膜面的深度的切割线，在从该进给方向观察的光学膜中依次形成的切割线之间，将根据偏光膜内部存在的缺陷的检查结果所确定的偏光膜的划分为矩形的包含缺陷的区域及不含缺陷的区域所相当的不良薄片及正常薄片予以成形的步骤。该方法还包括：从第2载体膜仅将不良薄片自动排除的步骤、以及仅将第2载体膜中所剩余的正常薄片供给到与液晶面板的贴合站的步骤。该方法最后包含：通过从第2载体膜将正常薄片剥离，将正常偏光薄片贴合于液晶面板的其中一面的步骤。这是一个划时代的发明，可由将事先准备的多片单片型薄片集中输送到液晶显示元件的制造过程中，一片一片贴合于液晶面板来制造液晶显示元件的装置，转换成：从连续卷筒放出的光学膜将偏光膜的薄片连续成形，同时将成形的薄片直接贴合于液晶面板来连续制造液晶显示元件的装置。这里所准备的光学膜的连续卷筒是由 至少没有进行事先的缺陷检查的包含粘着层的偏光膜、与可自由剥离地层积于该粘着层的载体膜所构成的连续带状形态的光学膜的连续卷筒。 

图2所示的方法及装置欲解决的技术课题为如何将下述的技术手段予以实现，即、在连续带状形态的光学膜的供给过程中，在该光学膜中，在相对于其进给方向的横向，从与第2载体膜相反侧切入直达第2载体膜的粘着层侧的面的深度，形成切割线，在从该进给方向观察的光学膜中依次形成的切割线之间，将与根据偏光膜内部存在缺陷的检查结果所确定的偏光膜的包含缺陷区域及不含缺陷区域相当的不良薄片及正常薄片予以成形，如何只不将不良薄片运送到与液晶面板贴合的位置。该技术课题结果通过下述方式而得以解决，即、将为了检查决定偏光膜的包含缺陷区域及不包含缺陷区域，而从连续带状形态的光学膜将载体膜及表面保护膜暂时剥离的步骤、及检查后将代替载体膜或代替表面保护膜再层积于连续带状形态的光学膜的步骤，包含于液晶显示元件的一连串的制造过程中。在这些步骤中，在液晶显示元件的制造过程中，通过从包含偏光膜的光学膜将载体膜及表面保护膜暂时剥离，使含有粘着层的偏光膜露出，则可检查偏光膜内部存在的缺陷。这些步骤，为了将偏光膜的与粘着层相反侧的面，及偏光膜的粘着层的露出面加以保护而当然是必须的制造过程。可是，虽然是必须的制造过程，但是这些步骤不仅导致将成形的正常薄片贴合于液晶面板的方法或装置全体相当复杂，而且步骤数量会增加，对于每个步骤的控制很复杂，会让制造速度降低。 

[专利文献] 

专利文献1：日本特开2003-161935号公报 

专利文献2：日本特许第3616866号公报 

专利文献3：日本特公昭62-14810号公报 

专利文献4：日本特开昭55-120005号公报 

专利文献5：日本特开2002-23151号公报 

专利文献6：日本特开2004-144913号公报 

专利文献7：日本特开2005-298208号公报 

专利文献8：日本特开2006-58411号公报 

专利文献9：日本特开2004-361741号公报 

专利文献10：日本特许第3974400号公报 

专利文献11：日本特开2005-62165号公报 

专利文献12：日本特开2007-64989号公报 

专利文献13：日本特开2007-140046号公报 

发明内容

本发明是以相关发明为基础，为了大幅提升制造液晶显示元件时的产品精度及制造速度且彻底改善产品成品率而进行深入探讨所开发完成的。 

发明欲解决的课题 

如上所示，根据从液晶配向状态所得到的视角特性，在液晶面板的表面侧与背面侧所贴合的光学功能膜也就是偏光膜的薄片的偏光方向，相对于90度差异的液晶面板的边的方向大致准确地成为0度或90度的方向，所以在VA型液晶面板或IPS型液晶面板中没有TN型液晶面板特有的技术限制。在TN型液晶面板中，必须以相对于液晶面板的长边或短边的方向让偏光膜的薄片的偏光方向成为45度方向的方式，将光学功能膜贴合于液晶面板的表面侧与背面侧。因此，使用VA型液晶面板或IPS型液晶面板的液晶显示元件，在包含将光学功能膜的薄片可自由剥离地层积的载体膜的光学膜层积体的供给中，通过从该载体膜将光学功能膜的薄片剥离，而连续贴合于液晶面板，由此可连续进行制造。在包含可自由剥离地层积光学功能膜的薄片的载体膜的光学膜层积体的供给中，不会间断该光学膜层积体的供给，通过仅将判断为不含缺陷的正常薄片的薄片贴合于液晶面板，就能制造液晶显示元件的话，则可以大幅提高液晶显示元件制造的产品精度及制造速度，且能大幅改善产品的成品率。 

用以解决课题的手段 

上述技术课题通过基于以下观点且具有如下所述的技术特征的本发明而得以解决，该观点为：在连续带状形态的光学膜层积体的连续卷筒中，在从该连续卷筒放出的光学膜层积体中，根据预先检测的光学功能膜的缺陷的位置，在相对于长度方向的直角方向上被划分的区域分别加入对应的切割线，由此来连续制造液晶显示元件的装置中，将判断为贴合于液晶面板的光学功能膜的正常薄片的薄片形成于光学膜层积体包含的载体膜上；所述连续带状形态的光学膜层积体的连续卷筒用于将相对于形成为规定尺寸的液晶面板形成为对应于该液晶面板尺寸的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件的装置。 

第1发明是一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，其用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；该光学膜层积体的连续卷筒的特征在于：至少具有包含粘着层的光学功能膜以及可自由剥离地层积于该粘着层的载体膜，根据事先检查所检测到的缺陷的位置，该光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在当中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度；沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于该光学膜层积体的上述不合缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒，从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别。 

第2发明，是针对第1发明，其中，光学功能膜至少具有偏光特性。 

第3发明，是针对第1或2发明，其中，具有液晶面板宽度的连续带状形态的光学膜层积体还包含有可自由剥离地层积于光学功能膜的非粘着层一侧的面上的表面保护膜。 

第4发明，一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，该连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；该光学膜层积体的制造方法的特征在于，分别包含有下述步骤：(a)通过在连续带状形态的偏光片的至少一个面上层积连续带状形态的保护膜，生成光学功能膜；(b)通过检查上述光学功能膜的表面及内部，来检测该光学功能膜内部存在的缺陷；(c)根据所检测到的缺陷的位置，该连续带状形态的光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在其中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度，在该光学功能膜上，通过隔着粘着层可自由剥离地层积 连续带状形态的载体膜，生成连续带状形态的光学膜层积体；(d)沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于该光学膜功能膜的上述不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的所述光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒且从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别，由此，生成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体，(e)将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状并加工成连续卷筒。 

第5发明，是针对第4发明，其中，制造连续带状形态的光学膜层积体的步骤还包括以下步骤：在光学功能膜的非粘着层侧的面上，可自由剥离地层积表面保护膜。 

第6发明，是针对第4或5发明，其中，用来检测光学功能膜内部存在的缺陷的步骤包含有下述步骤之一或这些步骤的组合：通过反射光主要检查光学功能膜的表面的步骤、通过使从光源照射的光透射，将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影来检测的步骤、将光学功能膜与偏光滤光片的吸收轴以正交偏光方式配置，将来自光源的光照射于光学功能膜与偏光滤光片，通过观察透射的光，将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的步骤。 

第7发明，一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，该光学膜层积体的连续卷筒用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；该连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法的特征在于，分别包含有下述步骤：(a)准备连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒，该临时光学膜层积体至少包含：由连续带状形态的偏光片、层积于该偏光片的至少一个面上的保护膜、及形成于一个面上的粘着层构成的光学功能膜；可自由剥离地层积于该粘着层的临时载体膜；(b)一边从所准备的连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒将临时光学膜层积体送出，一边通过从该临时光学膜层积体将临时载体膜剥离，使包含粘着层的光学功能膜露出；(c)通过检查露出的包含粘着层的光学功能膜的表面及内部，来检测含有粘着层的该光学功能膜内部存在的缺陷，(d)根据所检测到的含有粘着层的光学功能膜的缺陷 的位置，该含有粘着层的光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在其中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度，在该光学功能膜的该粘着层上，可自由剥离地层积载体膜，由此生成连续带状形态的光学膜层积体，(e)沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于光学功能膜的上述不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的所述光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒且从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别，由此，生成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体，(f)将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状并加工成连续卷筒。 

第8发明，是针对第7发明，其中，临时载体膜具有可转印的粘着层，该粘着层通过在临时载体膜的一个面上实施脱模处理后将含有粘着剂的溶剂进行涂布干燥而形成。 

第9发明，是针对第7、8发明中的任一项发明，其中，在载体膜的层积于光学功能膜所露出的粘着层的面上实施脱模处理。 

第10发明，是针对第7～9发明中的任一项发明，其中，生成连续带状形态的光学膜层积体的步骤还包含有如下步骤：在光学功能膜的非粘着层侧的面上可自由剥离地层积连续带状形态的表面保护膜。 

第11发明，是针对第7～10发明中的任一项发明，其中，用来检测光学功能膜内部存在的缺陷的步骤包含有下述步骤的其中之一或彼此的组合：利用反射光主要来检查光学功能膜的表面的步骤、使光源照射的光透射来将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影而检测出的步骤、将光学功能膜与偏光滤光片以使他们的吸收轴成为正交偏光的方式配置，将来自光源的光照射于该处，通过观察透射的光，将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的步骤。 

第12发明，一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体连续卷筒的的制造装置，该光学膜层积体的连续卷筒用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的 光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；该制造装置的特征在于，包含有如下装置：(a)光学功能膜生成装置，其将连续带状形态的保护膜层积于连续带状形态的偏光片的至少一面，来生成光学功能膜；(b)检查装置，其通过检查上述光学功能膜的表面及内部，来检测该光学功能膜内部存在的缺陷；(c)光学膜层积体生成装置，根据所检测到的光学功能膜的缺陷的位置，该光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在其中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度，该光学膜层积体生成装置在该光学功能膜上，通过隔着粘着层可自由剥离地层积的载体膜，生成连续带状形态的光学膜层积体；(d)具有切割线的光学膜层积体生成装置，其沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于光学功能膜的上述不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的所述光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒且从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别，由此，生成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体；(e)卷绕装置，其将所制成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状并加工成连续卷筒；(f)控制装置，其至少使光学功能膜生成装置、检查装置、光学膜层积体生成装置、具有切割线的光学膜层积体生成装置、以及卷绕装置分别连动而动作。 

第13发明，是针对第12发明，其中，光学膜层积体生成装置还包括：在光学功能膜的非粘着层侧的面上可自由剥离地层积表面保护膜的表面保护膜层积装置。 

第14发明，是针对第12和13发明中的任一项发明，其中，检查装置包含有下述装置的其中之一或彼此的组合：通过反射光而主要来检查光学功能膜的表面的第一检查装置、使光源照射的光透射来将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影而检测出的第二检查装置、使用偏光滤光片，将从光源照射的光正交偏光透射，由此将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测出的第三检查装置。 

第15发明，一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，该光学膜层积体的连续卷筒用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；该制造装置的特征 在于，包含有如下装置：(a)临时光学膜层积体供给装置，其安装有连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒，从该连续卷筒中放出连续带状形态的临时光学膜层积体来供给临时光学膜层积体，该临时光学膜层积体至少包含：由连续带状形态的偏光片、层积于该偏光片的至少一个面上的保护膜、及形成于一个面上的粘着层构成的连续带状形态的光学功能膜；可自由剥离地层积于该粘着层的临时载体膜；(b)临时载体膜剥离装置，其通过从被放出的连续带状形态的临时光学膜层积体将临时载体膜剥离，使包含粘着层的光学功能膜露出；(c)检查装置，其通过检查露出的包含粘着层的光学功能膜的表面及内部，来检测包含粘着层的该光学功能膜内部存在的缺陷；(d)光学膜层积体生成装置，根据所检测到的包含粘着层的光学功能膜的缺陷的位置，该连续带状形态的光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在其中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度，该光学膜层积体生成装置在包含粘着层的该光学功能膜的该粘着层上可自由剥离地层积载体膜，来生成连续带状形态的光学膜层积体；(e)具有切割线的光学膜层积体生成装置，其沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于光学功能膜的上述不合缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的所述光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒且从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别，由此，生成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体；(f)卷绕装置，其将所制成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状并加工成连续卷筒；(g)控制装置，其至少使临时光学膜层积体供给生成装置、临时载体膜剥离装置、检查装置、光学膜层积体生成装置、具有切割线的光学膜层积体生成装置、以及卷绕装置分别连动而动作。 

第16发明，是针对第15发明，其中，临时载体膜具有可转印的粘着层，该粘着层通过在临时载体膜的一个面上实施脱模处理后将含有粘着剂的溶剂进行涂布干燥而形成。 

第17发明，是针对第15、16发明中的任一项发明，其中，在载体膜的层积于光学功能膜所露出的粘着层的面实施脱模处理。 

第18发明，是针对第15～17发明中的任一项发明，其中，光学膜层积体生成装置还包括有：在光学功能膜的非粘着层侧的面上可自由剥离地层积 表面保护膜的表面保护膜层积装置。 

第19发明，是针对第15～18发明中的任一项发明，其中，检查装置，包含有下述检查装置的其中之一或这些组合：通过反射光而主要来检查光学功能膜的表面的第一检查装置、使光源照射的光透射来将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影而检测出的第二检查装置、将光学功能膜与偏光滤光片的吸收轴以正交偏光方式配置，将来自光源的光照射于光学功能膜与偏光滤光片，通过观察透射的光，将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的第三检查装置。 

图1是画面尺寸为对角42英寸的大型电视用液晶显示元件的典型例子。 

图2是表示液晶显示元件的连续制造装置的概念图，是经由光学功能膜的缺陷检查，不间断地供应连续带状物的光学膜，形成光学功能膜的不含缺陷的薄片，将其贴合于液晶面板。 

图3是用于液晶显示元件的连续制造，表示本发明的连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的结构的示意图。 

图4是表示本发明的一种实施方式的液晶显示元件的连续制造装置的概念图：该连续制造装置包含：用来供给连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的供应装置、以及用来供给液晶面板的液晶面板供给装置，该液晶面板上贴合着构成连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的包含粘着层的偏光膜的薄片。 

附图说明

图5是表示图4所示的连续制造液晶显示元件的装置的各制造过程，也就是表示制造步骤的流程图。 

图6是表示本发明的一种实施方式的液晶显示元件的连续制造装置中的图像化信息和控制装置之间关系的示意图：该图像化信息被判断装置所读取且被图像化；该控制装置用来控制图4所示的连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的供应装置及液晶面板输送装置的各个装置。 

图7是表示本发明的一实施方式的，(1)包含在连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的输送路线中设置的移动辊的虚设分离片驱动装置的不良薄片排除装置的示意图，或(2)包含与设置于贴合站B的贴合装置的一对贴合辊中的其中一个辊可置换的移动辊的虚设分离片驱动装置的不良薄片排除装置的示意图。 

图8是在本发明的一种实施方式的连续制造液晶显示元件的装置中，根据利用判断装置所判断的薄片的信息，来将液晶面板输送装置中所包含的预 校准装置、校准装置、朝向贴合位置的输送装置、及液晶面板边缘检测装置的各装置予以控制，由此控制液晶面板的姿态来进行输送的示意图。 

图9是表示偏光膜的正常薄片与液晶面板的贴合装置的示意图，该贴合装置包含边缘检测装置，该边缘检测装置用来检测构成连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的偏光膜的正常薄片的前端的边缘部分。 

图10是示意性地表示本发明的第一实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的制造方法及装置的示意图。 

图11是示意性地表示本发明的第二实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的制造方法及装置的示意图。 

图12是表示本发明的第一实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的制造方法及装置的各制造过程即制造步骤的流程图。 

图13是表示本发明的第二实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的制造方法及装置的各制造过程即制造步骤的流程图。 

图14是本发明的一实施方式的用来表示切割位置确认装置的动作的示意图，该确认装置包含检查单元，该检查单元确认：在连续带状形态的光学膜层积体中，相对于其进给方向在横向实际加入切割线的位置、与根据连续带状形态的光学膜层积体的供给量的测长数据而算出的应加入切割线的位置(基准线的位置)之间的偏差。 

图15是本发明的一实施方式中，计算出在划分为偏光膜的包含缺陷的区域与不含缺陷的区域的连续带状形态的光学膜层积体中应形成切割线的位置的方法的示意图。 

图16表示本发明的一实施方式的对应于存储含有缺陷的信息Xγ的方法来形成切割线的步骤的图。 

图17是表示本发明的一实施方式的对应于采用到下个切割线的形成位置的距离X’+X₀’(有X₀’＞X₀的关系)的方法，来形成切割线的步骤的图。 

图18是表示本发明的一实施方式的对应于采用到下个切割线的形成位置的距离(X’+X₀)/m(m＝2以上)的方法，来形成切割线的步骤的图。 

图19是表示本发明的第三实施方式的包含3个检查装置的连续带状形态的光学膜层积体的制造装置的示意图。 

图20是表示本发明的实施方式的缺陷检查装置和缺陷种类和缺陷检查方法的列表。 

附图标记说明 

10：具有切割线的光学膜层积体 

11：包含粘着层的偏光膜 

11⁰：没有形成粘着层的偏光膜 

12：粘着层 

13：载体膜 

13’：临时载体膜 

14：表面保护膜 

15：光学膜层积体 

16：切割线 

1：连续制造液晶显示元件的装置 

100：供给装置 

110：支架装置 

120：包含进给辊的膜供给装置 

130：判断装置 

140：包含累积辊的速度调整装置 

150：不良薄片排除装置 

160：包含进给辊的膜供给装置 

170：直线前进位置检测装置 

180：载体膜卷绕驱动装置 

190：边缘检测装置 

200：贴合装置 

300：液晶面板输送装置 

400：控制装置 

410：信息处理装置 

420：存储装置 

500：第一实施方式的为连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造装置 

500’：第二实施方式的为连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的制造装置 

510：偏光片的生产线 

510’：临时光学膜层积体的连续卷筒 

520：保护膜的生产线 

530：偏光膜11⁰的生产线 

530’：含有粘着层的偏光膜的生产线 

540：连续带状形态的光学膜层积体的生产线 

550：连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的生产线 

560：贴合驱动装置 

560’：膜供给驱动装置 

570、570’：测长装置 

580：检查装置 

590：载体膜贴合装置 

600：切割装置 

610：切割位置确认装置 

620：所制造的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒 

630：卷绕驱动装置 

640：贴合装置 

650：临时载体膜卷绕驱动装置 

700：控制装置 

710：信息处理装置 

720：存储装置 

800：制造连续带状形态的光学膜层积体的连续卷筒的装置 

810：膜供给装置 

820：卷绕驱动装置 

830：第一检查装置 

840：第二检查装置 

850：第三检查装置 

860：载体膜供给装置 

870：表面保护膜供给装置 

900：控制装置 

910：信息处理装置 

920：存储装置 

具体实施方式

【实施方式】 

以下参考附图来详细说明本发明的实施方式。 

1.连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的概要 

第3(1)图表示连续带状形态的光学膜层积体15，第3(2)图表示本发明的一实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体10的示意图。通过在宽度方向上依次形成于该连续带状形态的光学膜层积体15的切割线16，在载体膜13上光学功能膜11的薄片形成为被切割的状态。贴合于液晶面板W的光学功能膜11的薄片，如后述，是在载体膜13上以切割状态形成的光学功能膜的薄片之中，将根据光学功能膜内部存在的缺陷的位置所划分的光学功能膜的不含缺陷的区域通过前后两处切割线16而形成的薄片。第3(3)图是将其贴合于液晶面板而加工成液晶显示元件的示意图。 

包含有贴合于液晶面板W的光学功能膜11的薄片的本发明的一实施方式的具有切割线的光学膜层积体10是在连续带状形态的光学膜层积体15中，通过依次形成于宽度方向的切割线，而在载体膜13上以一体切割的状态形成有光学功能膜11的薄片及表面保护膜14的薄片的具有切割线的光学膜层积体10。该连续带状形态的光学膜层积体15包含有在层积着透明保护膜的偏光片的与液晶面板W贴合的面上形成有粘着层12的光学功能膜11、可自由剥离地层积于粘着层12的载体膜13、以及在与载体膜13相反侧的光学功能膜面上可自由剥离地层积的表面保护膜14。具有切割线的光学膜层积体，除了需要另外区分的情况，简称为「具有切割线的光学膜」。 

光学功能膜11通常是在两面层积有保护膜的连续带状形态的偏光片的其中一面上，形成有与液晶面板W贴合的丙烯酸类粘着层12的膜。载体膜13是具有将偏光膜11的露出状态的粘着层12予以保护的功能的膜，可自由剥离地层积于粘着层12。光学功能膜11例如经过以下的步骤所生成。首先是将50～80μm厚左右的PVA(聚乙烯醇系)膜使用碘染色并实施交联处理，对该PVA膜施以朝纵向或横向延伸的配向处理，由此产生20～30μm厚的连续带状形态的偏光片。结果是在与该PVA膜延伸方向的平行方向配向碘配 位基，由此吸收具有此方向振动的偏光，其结果，形成具有与延伸方向平行的方向的吸收轴的偏光片。并且，为了制作除具有优异的均一性及精度外，还具有优异光学特性的连续带状形态的偏光片，优选该PVA膜的延伸方向和膜的纵向或横向一致。一般，偏光片或包含偏光片的光学功能膜的吸收轴和光学功能膜的长轴方向平行，偏光轴是形成为与其垂直的横向。接着，在所生成的连续带状形态的偏光片的单面或两面隔着粘着剂层积保护膜。最后，在层积着保护膜的连续带状形态的偏光片的一面，形成贴合在液晶面板W的丙烯酸类粘着层12。保护连续带状形态的偏光片的保护膜，一般多使用40～80μm厚左右的透明TAC(三醋酸纤维素类)膜。连续带状形态的偏光片以下简称为「偏光片」。光学功能膜，除了需要另外区分的情况，以下称为「偏光膜」。 

另外，根据关于包含液晶显示元件的平板显示元件的偏光膜(FPDPolarizing Films)的“SEMI Draft Document”用语的定义，对应用于液晶显示元件的偏光膜的「偏光膜构成膜/层」的用语为“Films and layer composingpolarizing films”。如此一来，第3(1)图(使用前)的偏光膜11是“films composingpolarizing films”，相当于所谓的偏光膜。从偏光膜11成型为矩形的第3(3)图的薄片是相当于“polarizing films”，因此与通称的「偏光板」相比，优选使用「偏光膜的薄片」。以下，在单面或双面层积有保护膜的偏光片(polarizer)的、与液晶面板W贴合的一面上形成有粘着层的膜称为偏光膜，将通称为「偏光板」的偏光膜成型为矩形的薄片称为「偏光膜的薄片」或仅称为「薄片」。另外，在从和表面保护膜及载体膜一体的偏光膜形成薄片的情况下，即、必须将该薄片与「偏光膜的薄片」区别的情况下，将此称为「光学膜的薄片」，其中所包含的表面保护膜或载体膜所成型的薄片，则分别称为「表面保护膜的薄片」或「载体膜的薄片」。 

偏光膜11的厚度通常为110～220μm左右。偏光膜11通常是由厚度为20～30μm左右的偏光片、层积在该偏光片两面的情况下厚度形成为80～160μm左右的保护膜、形成在偏光片的贴合于液晶面板W的一面的厚度为10～30μm左右的粘着层12构成。偏光膜11在液晶面板W的表面侧与背面侧隔着粘着层12贴合，并使各偏光轴的交叉角形成为90°。因此，例如在制造画面尺寸为对角42英寸的大型电视用液晶显示元件的场合，液晶面板W的厚度为1400μm左右，偏光膜11的厚度为110～220μm，因此液晶显示元 件整体的厚度是形成为1720～1840μm左右。即便如此，液晶显示元件的厚度在2.0mm以下。此时，液晶面板W和偏光膜11的厚度占液晶显示元件厚度的比例为10比1.5～3左右。从液晶显示元件薄型化的观点来看，使用仅偏光片的一面贴合有保护膜、另一面形成有粘着层12的偏光膜11的场合，偏光膜11本身的厚度可形成为薄至70～140μm的厚度，因此所制造的液晶显示元件整体的厚度形成为1540～1680μm左右，液晶面板W和薄片11的厚度比例是10比1～2左右。 

本发明的用于液晶显示元件的连续带状形态的具有切割线的光学膜10如第3(2)图所示。包含制造步骤在内概略说明具有切割线的光学膜10的构造时，则为在偏光膜11的不具有粘着层的面上，层积有可自由剥离的具有粘着面的60～70μm厚度左右的表面保护膜14，在形成于与液晶面板W贴合的面上的偏光膜11的粘着层12上，层积有可自由剥离的具有保护该粘着层12的功能的载体膜13。载体膜13及表面保护膜14通常是使用PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯类)膜。载体膜13通常在液晶显示元件的制造步骤中除了保护粘着层12之外，并可作为偏光膜11的输送介质。以下，称此为「载体膜」。载体膜13及表面保护膜14至液晶显示元件的制造最终步骤为止皆是被剥离除去的所谓制造步骤材料。分别是用于在液晶显示元件的制造步骤中，保护偏光膜11不具粘着层的面不致污染或受损，或者保护粘着层露出的面的膜。 

对于偏光膜11，可以将用于保护偏光片的其中一个保护膜替换成使用环烯烟类聚合物或TAC类聚合物等的具有光学补偿功能的相位差膜。并且，也可以在TAC类等透明基材上施加涂覆、配向聚酯类或聚酰亚胺类等聚合物材料并固定化后形成的层。贴合在液晶显示元件的背光侧的偏光膜中，也可以在偏光片的背光侧的保护膜上贴合提升亮度膜来附加功能。除此之外，在偏光片的一面贴合TAC膜，在另一面贴合PET膜等，针对偏光膜11的构造提出有各种的变更方案。 

在偏光片的单面或双面层积有保护膜且未形成用于与液晶面板W贴合的粘着层的偏光膜11⁰上，形成该粘着层的方法之一，是在偏光膜11⁰的与液晶面板W贴合的面上层积可转印形成粘着层的载体膜13。具体的转印方法如以下说明。首先，在载体膜13的制造步骤中，对层积在偏光膜11⁰上的与液晶面板贴合的面上的载体膜13的一面施以脱模处理，在该面上涂覆含 粘着剂的溶剂，通过该溶剂的干燥在载体膜13上生成粘着层。接着，例如将包含生成后的粘着层的载体膜13连续送出，层积在与之同样连续送出的偏光膜11⁰上，由此将载体膜13的粘着层转印至偏光膜11⁰上形成粘着层12。代替上述形成的粘着层，当然也可以在偏光膜11⁰的与液晶面板贴合的面上直接涂覆含粘着剂的溶剂使其干燥形成粘着层12。 

表面保护膜14通常具有粘着面。该粘着面与偏光膜11的粘着层12不同，在液晶显示元件的制造过程中，从偏光膜11的薄片剥离除去表面保护膜14的薄片(未图示)时，必须将该粘着面与表面保护膜14的薄片一体地剥离。这是由于和偏光膜11的薄片一体成形的表面保护膜14的薄片是保护偏光膜11的薄片的不具有粘着层12的面不致被污染或损伤等的薄片，而不是转印在该面上的粘着面。并且，第3(3)图是表示剥离除去表面保护膜14的薄片后的状态。另外追加说明，不论是否在偏光膜11上层积表面保护膜14，也可以在偏光膜11表侧的保护膜的表面上，施以保护液晶显示元件最外面的硬涂层处理或可获得含抗眩处理的防眩等效果的表面处理。 

2.液晶显示元件的连续制造装置及连续制造方法 

(液晶显示元件的连续制造装置的概要) 

图4是表示液晶显示元件的连续制造装置1的概念图，该装置1包含用来供给本发明的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的供给装置100。该装置1还包含液晶面板供给装置300。将连续带状形态的具有切割线的光学膜10送入贴合站B，该光学膜10包含：通过在宽度方向依次形成的切割线16而以被分割的状态形成的偏光膜11的正常薄片Xα及不良薄片Xβ、以及可自由剥离地层积于偏光膜11的粘着层12的载体膜13。液晶面板供给装置300与正常薄片xα的进给同步地供给液晶面板W，以在贴合站，仅将从载体膜13剥离的正常薄片xα连续贴合在液晶面板W上。 

图5是表示将图4所示的液晶显示元件连续制造的各工序也就是制造过程(步骤)的流程图。 

图6的示意图用来表示在本发明的一实施方式的连续制造液晶显示元件的装置1中，通过判断装置130读取在连续带状形态的具有切割线的光学膜10中依次形成的切割线16并予以图像化的信息、与包含判断装置130的用来供给连续带状形态的具有切割线的光学膜10的供给装置100、以及控制装置400之间的关系，该控制装置400使仅将正常薄片xα贴合于液晶面板 W的贴合装置200和液晶面板输送装置300的各装置彼此关联而对其进行控制。 

如图4所示，用来供给连续带状形态的具有切割线的光学膜10的供给装置100具有：可自由旋转地安装着本实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的连续卷筒的支架装置110；包含进给辊的膜供给装置120；判断装置130，通过相对于所供给的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的进给方向依次形成于横向的切割线16，在载体膜13上以被切割的状态形成偏光膜11的薄片，在判断站A，该判断装置130与控制装置400相关联地来判断该偏光膜11的薄片是正常薄片Xα还是不良薄片Xβ；包含将膜供给控制为恒定速度的累积辊的速度调整装置140；在排除站C，与控制装置400相关联地使移动辊152动作，将以被切割的状态形成于载体膜13上的不良薄片Xβ从载体膜13剥离并将其排除的不良薄片排除装置150；包含进给辊的膜供给装置160；在贴合站B，与控制装置400相关联地使至少一对可自由接合分离的贴合辊动作，将通过在宽度方向依次形成于载体膜13上的切割线16而以被切割状态形成的正常薄片xα从载体膜13剥离，将其贴合于液晶面板W的贴合装置200；用来卷绕载体膜13的载体膜卷绕驱动装置180；在贴合站B，用来确认正常薄片xα的前端的边缘检测装置190；将载体膜13上形成的正常薄片xα的进给方向及横向的偏移量，例如利用CCD照相机来摄影并图像化，而作为测量偏移量使用x、y、θ来进行计算的直线前进位置检测装置170。 

(连续带状形态的具有切割线的光学膜的构造) 

装备于供给装置100的本实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜10最好具有与所要贴合的液晶面板W的长边或短边的尺寸对应的宽度。如第3(1)图所示，构成形成切割线之前的连续带状形态的光学膜层积体15的偏光膜11，是在偏光膜的单面或双面层积有透明的保护膜的结构。如第3(2)图所示，连续带状形态的具有切割线的光学膜10是在连续带状形态的光学膜层积体15中，通过在其宽度方向依次形成的切割线，在载体膜13上以被切割的状态形成有偏光膜11的薄片的连续带状形态的具有切割线的光学膜。其中，光学膜层积体15包含有：在层积着透明保护膜的偏光片的贴合于液晶面板W的面上形成有粘着层12而构成的偏光膜11、及可自由剥离地层积于粘着层12的载体膜13。第3(3)图表示从载体膜13剥离下来的偏 光膜11的薄片，以使其偏光方向分别相差90度的方向的方式与液晶面板W的表面侧与背面侧来贴合的状态的液晶显示元件的示意图。如图3(1)及(2)所示，根据需要，可以使用在与载体膜13相反侧的偏光膜的面上可自由剥离地层积具有粘着面的表面保护膜14的连续带状形态的光学膜层积体15，以成为在载体膜13上将偏光膜11的薄片及表面保护膜14的薄片以一体切割的状态形成的连续带状形态的具有切割线的光学膜。 

载体膜13原本在连续带状形态的具有切割线的光学膜的制造过程及液晶显示元件的制造过程中，是用来保护偏光膜11的薄片的粘着层12的脱模膜。因此，在要和液晶面板W贴合前或贴合时，将其从粘着层12剥离，卷绕而去除。在本实施方式中，载体膜13虽然也是脱模膜，但由于可发挥将通过在宽度方向形成于载体膜13上的切割线以切割状态形成的偏光膜11的薄片输送至贴合位置的输送介质(也就是载体膜)的作用，因此在此不称之为脱模膜，而是采用“载体膜”的用语。 

制造步骤的详细情形如后所述，连续带状形态的具有切割线的光学膜10通过两种制造方法制造。以下大致说明各种制造方法。首先，在偏光片的至少一面层积保护膜且将所生成的连续带状形态的偏光膜11⁰立刻送入检查站M。在检查站M，通过检查所供给的连续带状形态的偏光膜11⁰的表面及内部，检测出偏光膜11⁰内部存在的缺陷。进而根据所检测出的缺陷的位置，对于连续带状形态的偏光膜11⁰执行信息处理。由此，在连续带状形态的偏光膜11⁰中确定在相对于长轴方向的横向划分的、在长轴方向具有与液晶面板W的尺寸对应的规定长度的不含缺陷的区域(Xα)、将缺陷位置夹在其中且与不含缺陷的区域具有不同的规定间隔的含有缺陷的区域(Xβ)。 

经过信息处理的数据最终使配备于切割线形成站N的切割装置动作，对经过信息处理后所制造的连续带状形态的光学膜层积体15，在宽度方向施加在与相对于长轴方向的横向划分的各区域对应的切割线，而依次形成切割线。在检查站M的信息处理后，在连续带状形态的偏光膜11⁰中，隔着粘着层12，可自由剥离地层积载体膜13，制造出连续带状形态的光学膜层积体15。而根据需要也可制造出在与载体膜13相反侧的偏光膜的面上可自由剥离地层积具有粘着面的表面保护膜14的连续带状形态的光学膜层积体15。 

接着，将所制造的光学膜层积体15送入到切割线形成站N。在切割线形成站N，切割装置对于所供给的光学膜层积体15分别与相对于长轴方向 的横向划分的上述区域，也就是不包含缺陷的区域(Xα)及包含缺陷的区域(Xβ)，将宽度方向的切割线形成为从与载体膜13相反侧直达载体膜13的粘着层侧的面的深度，由此依次形成切割线16。由此，在载体膜13上依次形成的前后两处的切割线16之间，形成为根据需要包含表面保护膜14的薄片的偏光膜11⁰的不含缺陷的薄片与含有缺陷的薄片，也就是正常薄片Xα与不良薄片Xβ以被切割开的状态形成。由此，最后完成了连续带状形态的具有切割线的光学膜10。这是第一制造方法。 

第二制造方法是使用连续带状形态的临时光学膜层积体15’来制造连续带状形态的具有切割线的光学膜10的方法，该临时光学膜层积体15’包含有：事先准备的至少包含粘着层12的偏光膜11、可自由剥离地层积于粘着层12的临时载体膜13’。一开始，将连续带状形态的临时光学膜层积体15’例如以连续卷筒的形态配备于制造步骤。接着，从连续卷筒放出连续带状形态的临时光学膜层积体15’，将其供给到剥离站L。在剥离站L，将构成所供给的连续带状形态的临时光学膜层积体15’的临时载体膜13’从偏光膜11的粘着层12剥离。由此，让包含粘着层12的偏光膜11露出。 

包含所露出的粘着层12的偏光膜11，以连续带状形态被送入到检查站M。在检查站M，通过将所供给的连续带状形态的包含粘着层12的偏光膜11的表面及内部予以检查，来检测出包含粘着层12的偏光膜11内部存在的缺陷。根据所检测出的缺陷的位置，相对于连续带状形态的包含粘着层12的偏光膜11执行信息处理。由此，在连续带状形态的包含粘着层12的偏光膜11中确定在相对于长轴方向的横向所划分的、在长轴方向具有对应于液晶面板W的尺寸的规定长度且不含缺陷的区域(Xα)、与将该缺陷的位置夹在其中而具有与不含缺陷的区域不同的规定间隔而包含缺陷的区域(Xβ)。在第一制造方法中，检查缺陷的对象是形成粘着层12之前的偏光膜11⁰，相对于此，在第二制造方法中，检查缺陷的对象是包含粘着层12的偏光膜11。 

经过信息处理的数据最终使配备于切割线形成站N的切割装置动作，对经过信息处理后所制造的连续带状形态的光学膜层积体15，在宽度方向施加在与相对于长轴方向的横向划分的各区域对应的切割线，而依次形成切割线16。在检查站M的信息处理后，在连续带状形态的包含粘着层12的偏光膜11中，将代替被剥离的临时载体膜13’的载体膜13可自由剥离地层积于粘着层12，制造出连续带状形态的光学膜层积体15。而根据需要也可制造 出在与载体膜13相反侧的偏光膜的面上可自由剥离地层积表面保护膜14的连续带状形态的光学膜层积体15。 

接着，两制造方法经过相同的制造步骤，将所制造的光学膜层积体15送入到切割线形成站N，完成连续带状形态的具有切割线的光学膜10。也就是说，在已完成的连续带状形态的具有切割线的光学膜10中，在载体膜13上依次形成的前后两处的切割线16之间，形成为根据需要包含表面保护膜14的薄片的偏光膜11⁰的不含缺陷的薄片与含有缺陷的薄片，也就是正常薄片Xα与不良薄片Xβ以被切割开的状态形成。任何一种方法，可根据需要包含将连续带状形态的具有切割线的光学膜10加工成连续卷筒的步骤。 

(制造液晶显示元件的概要) 

利用连续带状形态的具有切割线的光学膜10所进行的制造液晶显示元件的过程，大致如下所述。参考图4及图5大致说明。如图4所示，连续带状形态的具有切割线的光学膜10，例如以连续卷筒的形态可自由旋转地安装于支架装置110。如图5的步骤1所示，从连续卷筒放出的具有切割线的光学膜10，通过包含进给辊的膜供给装置120，供给到配备有判断装置130的判断站A，该判断装置130具有与控制装置400相关联的CCD照相机等读取装置。控制装置400如图6所示。 

在判断站A，判断装置130与控制装置400相关联地来判断利用相对于具有切割线的光学膜10的进给方向在横向上形成的切割线16、而在载体膜13上以被切割状态形成的偏光膜11的薄片是正常薄片Xα还是不良薄片Xβ。判断装置130例如通过包含CCD照相机的光学传感器，来拍摄在具有切割线的光学膜10上依次形成的切割线，将其图像化。接着，例如通过包含编码器的测定装置，来测量在前后两处切割线之间的薄片的长轴方向的长度(X)。在图5的步骤2，例如用以下的方式则能判断所测量的薄片是正常薄片xα还是不良薄片xβ。 

具体来说，所测量的薄片的长轴方向的长度(x)，例如在内置于控制装置400的信息处理装置410及存储装置420，依次执行信息处理。 

(1)通过以光学传感器130拍摄的图像内的对比度差来判断从连续卷筒放出的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的最初的切割线16。 

(2)同时，例如通过内置于膜供给装置120的进给辊中的编码器，来测量出连续带状形态的具有切割线的光学膜10的放出量。 

(3)与上述(1)同样地，判断下一条切割线16，来计算两处切割线16之间的进给量，也就是薄片的长度(X)，将其予以存储。 

(4)接着，在判断薄片的长度(X)是与例如预先存储的正常薄片xα的规定长度(xα)不同的长度，也就是与正常薄片Xα相比较短或较长时，将该薄片判断为不良薄片Xβ。在判断薄片的长度(X)为正常薄片xα的规定长度(Xα)，也就是判断两者的长度相等的情况，则判断该薄片为正常薄片Xα。 

(5)控制装置400将所判断的正常薄片Xα及不良薄片Xβ的各自的位置作为例如从在连续带状形态的具有切割线的光学膜10中所记录的基准点起算的放出量，将其存储于存储装置420。 

当将载体膜13上的不良薄片Xβ送入到排除站C时，如图5的步骤3～步骤6所示，控制装置400通过根据之前存储的不良薄片Xβ的位置信息，而发出不良薄片Xβ的排除指令，由此，使将膜供给调整为一定速度的速度调整装置140、及包含进给辊的其他膜供给装置160连动，使包含移动辊152的不良薄片排除装置150动作。由此，不良薄片排除装置150，如图5的步骤7所示，在载体膜13上以切割状态依次形成的偏光膜11的薄片中，仅将判断为不良薄片Xβ的薄片从载体膜13剥离、排除。 

在排除站C，如图5的步骤8～步骤10所示，从载体膜13排除了不良薄片Xβ的连续带状形态的具有切割线的光学膜10，仅在载体膜13上包含在前后两处的切割线16之间残留的、被切割状态的正常薄片xα，通过包含有与控制装置400相关联的进给辊的膜供给装置160、及用来卷绕载体膜的载体膜卷绕驱动装置180的动作，被送入到贴台站B。此时，通过直线前进位置检测装置170来确认在载体膜13上形成的正常薄片xα的进给方向及横向有无与基准线一致。 

如图9所示，只有载体膜13经由剥离板201而通过载体膜卷绕驱动装置180被以锐角剥离。通过将载体膜13以锐角剥离，能使正常薄片xα的粘着层面渐渐露出。而从载体膜13渐渐剥离的正常薄片xα的前端边缘，通过边缘检测装置190予以检测。将正常薄片xα一边渐渐剥离，一边最好调整为液晶面板W的贴合速度而将其供给到贴合站B的贴合装置200。由此，使正常薄片xα的前端的边缘部分稍微露出，将依次输送到该边缘部分的液晶面板W的前端的边缘部分对位。而图5的步骤11～步骤16所示的液晶面板输送装置300的详细情形后面会叙述。 

(液晶显示元件制造的动作时) 

在连续制造液晶显示元件的装置1的装置全体动作时，一开始将连续带状形态的虚设膜(ダミ一フイルム)的连续卷筒安装于连续制造装置1。连续带状形态的虚设膜，通过控制装置400使包含进给辊的膜供给装置120、160、及包含累积辊的速度调整装置140动作，以张紧状态从连续卷筒供给。连续带状状态的虚设膜的前端的边缘部分，平常是放出到将载体膜13从正常薄片xα剥离，已剥离的载体膜13通过剥离板201，而通过载体膜卷绕驱动装置180卷绕载体膜13的位置。然后，将连续带状形态的虚设膜的后端部与连续带状形态的具有切割线的光学膜10的前端部连接，开始进行连续带状形态的具有切割线的光学膜10的供给。 

(不良薄片Xβ的排除) 

接着，在液晶显示元件的制造步骤，针对与控制装置400相关联的不良薄片排除装置150的具体动作，详加叙述。不良薄片排除装置150由控制装置400所控制。第7(1)图及第7(2)图表示将连续带状形态的具有切割线的光学膜10中所包含的、在载体膜13上以切割状态形成的正常薄片xα与不良薄片Xβ中，通过判断装置130判断为不良薄片Xβ的薄片从载体膜13剥离而被排除的不良薄片排除装置150。不良薄片排除装置150都包含有虚设膜驱动装置151及移动辊152。 

第7(1)图的不良薄片排除装置150包含有虚设膜驱动装置151与移动辊152。该虚设膜驱动装置151具有将可自由剥离地层积于载体膜13上的不良薄片Xβ予以粘贴剥离的功能，当不良薄片Xβ到达连续带状形态的具有切割线的光学膜10的输送路线的排除起点时，根据控制装置400的排除指令让移动辊152动作，由此，连续带状形态的具有切割线的光学膜10的输送路线移动，而接触于虚设膜驱动装置151的虚设膜输送路线。载体膜13上的不良薄片Xβ，从载体膜13剥离，粘贴于虚设膜输送路线，从连续带状形态的具有切割线的光学膜10的输送路线排除。当排除不良薄片Xβ时，移动辊152回复原本的状态，则解除了连续带状形态的具有切割线的光学膜10的输送路线与虚设膜驱动装置151的虚设膜输送路线的接触状态。 

第7(2)图的不良薄片排除装置150是通过由控制装置400发出不良薄片Xβ的排除指示，与包含在贴合站B处配备的一对贴合辊的贴合装置200连动来动作的装置。包含具有将不良薄片Xβ粘贴剥离的功能的虚设膜驱动装 置151、与构成虚设膜驱动装置151的虚设膜输送路线的移动辊152。第7(2)图的装置与第7(1)图的装置的相异之处在于，在贴合站B，可将移动辊152置换成贴合装置200的一对贴合辊中的其中一个贴合辊，移动辊152构成与包含于贴合装置200的一对贴合辊接近配置的虚设膜输送路线。 

具体来说，在贴合站B，当不良薄片Xβ到达连续带状形态的具有切割线的光学膜的输送路线的终点(也就是排除起点)时，控制装置400使一对贴合辊分离，使构成虚设膜输送路线的移动辊152，移动到已分离的贴合辊之间的间隙，置换成贴合辊中的一个辊。由此，移动辊152与贴合辊中的另一个辊连动。此时，载体膜13被载体膜卷绕驱动装置180卷绕，所以将不良薄片Xβ从载体膜13上剥离，所剥离的不良薄片Xβ通过与贴合辊中的另一个辊连动的移动辊152粘贴于虚设膜输送路线，不是贴合于液晶面板W，而是被排除。当不良薄片Xβ被排除时，移动辊152回复到原本状态，被置换的贴合辊中的一个辊回到与贴合辊的另一辊连动的位置。也就是说，不良薄片排除装置150与贴合装置200的连动被解除了。接着，当将载体膜13上的正常薄片xα运送过来时，贴合装置200进行动作以使所置换的贴合辊中的一个辊与贴合辊中的另一个辊连动，将正常薄片Xα贴合于液晶面板。 

(液晶面板W的输送) 

大致说明用来将液晶面板W供给到贴合装置200的液晶面板输送装置300。该贴合装置200包含有一对贴合辊，该一对贴合辊在连续带状形态的具有切割线的光学膜10的载体膜13上以被切割的状态形成的正常薄片Xα与液晶面板W贴合的上下方向上可接合分离。 

以对角42英寸的大型电视用液晶显示元件为例，如图1所示，矩形的液晶面板W的大小为长(540～560)mm×宽(950～970)mm。液晶显示元件的制造过程中的液晶面板W，在包含电子零件的组装的配线组装阶段，其周缘被施以些许的切削加工。或是，液晶面板W是以周缘已实施切削加工后的状态被输送来。液晶面板W是利用供给装置而从收容多个液晶面板的面板零件库逐片取出，例如经由洗净/研磨处理后，如图5的步骤11～步骤16所示，通过输送装置300调整成一定间隔和一定速度，而被输送到与正常薄片Xα的贴合站B的贴合装置200。正常薄片Xα是从连续带状形态的具有切割线的光学膜所生成的尺寸比液晶面板W稍小的薄片。 

图8是在液晶显示元件的制造步骤中，根据通过判断装置130判断为正 常薄片Xα的薄片信息，控制装置400通过控制包含于液晶面板输送装置300的预校准装置310、校准装置320、向贴合位置的输送装置330、以及液晶面板边缘检测装置340的各个装置，对液晶面板W进行姿态控制来进行输送的示意图。输送装置300包含有液晶面板姿态控制装置，该液晶面板姿态控制装置是当将正常薄片xα送入到贴合站B时，在与正常薄片xα的送入同步地依次向贴合站B供给液晶面板W的最终阶段，用来控制液晶面板W的姿态的装置，由预校准装置310、校准装置320、向贴合装置的输送装置330、以及用来检测出液晶面板w的前端的边缘部分的边缘检测装置340所构成。 

(正常薄片xα向液晶面板W的贴合) 

如图9所示，正常薄片xα前端的边缘部分出现在贴合装置200的一对贴合辊在上下方向处于分离状态下的间隙中，通过边缘检查装置190来进行确认。正常薄片Xα是以层积在载体膜13上的状态送来，但相对于载体膜14长轴方向，进给方向的角度θ＝0(正确输送)的情况很少。于是，关于正常薄片xα的进给方向及横向的偏移量，例如是用直线前进位置检测装置170的CCD照相机拍摄并予以图像化，使用X、y、θ来算出所测定的偏差量，并通过控制装置400将算出的信息存储于存储装置420。 

液晶面板W通过预校准装置310依次进行定位，使其长及宽分别对准液晶面板W输送路线的进给方向及与其正交的方向。搭载着定位后运送来的液晶面板W的校准装置320包含通过控制装置400所控制的驱动装置而进行转动的校准台320。校准台上所搭载的液晶面板W的前端边缘部分通过边缘检测装置340进行检测。前端边缘部分的位置与存储于存储装置420的基准贴合位置进行对照，具体而言，是和使用x、y、θ(代表供应的正常薄片xα的姿态)而算出的算出数据进行对照。例如，使用图1所示的液晶面板W的校准标记，测定前端边缘部分的位置和基准贴合位置之间的位置偏移量，计算偏移θ角，而使搭载着液晶面板W的校准台仅转动θ。接着，使校准台连接于朝向贴合站B的贴合装置200的输送装置330。液晶面板W通过输送装置330朝向贴台站B的贴合装置200以同样的姿态运送。如图8所示，在贴合装置200中，液晶面板W的前端边缘部分，对准正常薄片xα的前端边缘部分且重叠在一起。在最终阶段，对准后的正常薄片xα和液晶面板W通过一对贴合辊进行压接输送，而完成液晶显示元件。 

正常薄片xα通过在张紧状态下供应的连续带状形态的具有切割线的光 学膜10，以和载体膜13形成为一体的方式供应至与液晶面板W的贴合位置。如图9所示，由于其能够在此从载体膜13渐渐剥离，因此正常薄片xα的周缘不容易出现弯曲或下垂的现象。因此，液晶面板W的姿态容易与正常薄片xα相匹配。这种方法及装置能够实现在单片型薄片的制造过程中根本无法实现的液晶显示元件制造的高速化及液晶显示元件的高精度化。在采用制造单片型薄片时，必须将每个单片型薄片的剥离片剥离后使粘着层露出，吸附输送至与液晶面板w的贴合位置，和液晶面板w对准、重叠、贴合而完成液晶显示元件。 

进而附加说明的是，构成使用连续带状形态的具有切割线的光学膜10的连续带状形态的光学膜层积体15的偏光膜11，在以PVA为基材的偏光片的至少一面，层积优选为透明的保护膜，在另一面形成粘着层12即可。在粘着层12上，可剥离自如地层积着连续带状形态的载体膜13。如上所述，在使用单片型薄片的现有的液晶显示元件制造过程中，作为薄片，为了具备刚性而通常使用在偏光片的两面层积着保护膜的偏光膜11。然而，在使用本实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的液晶显示元件制造过程中，偏光膜11的正常薄片xα，是在载体膜13上以被切割的状态连续形成，所以在贴合站B的贴合装置200中，连续的正常薄片xα从载体膜13连续剥离，依次贴合于液晶面板W。此时正常薄片xα，逐渐露出其形态。当然，不需要像使用单片型薄片的情况那样逐片将剥离片剥离的步骤。正常薄片Xα的前端边缘部分，在正常薄片xα从载体膜13剥离的期间，是和每一片送入的液晶面板w的前端边缘部分连续进行对准，正常薄片xα和液晶面板w是通过贴合装置200的一对贴合辊在被紧压的状态下进行贴合。于是，逐渐露出的正常薄片xα的周缘发生挠曲或翘曲的可能性降低。因此，不同于单片型薄片，本实施方式的用于连续带状形态的具有切割线的光学膜10的连续带状形态的光学膜层积体15的偏光膜11中，层积在偏光片上的保护膜只要设在偏光片的单面即可。 

3.连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体的制造方法及制造装置 

本发明是关于连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体与其制造方法及制造装置，该光学膜层积体是用于对于形成为规定尺寸的液晶面板，将对应于该液晶面板的尺寸形成为规定尺寸的光学功能膜的薄片进行贴合，来连续制造出液晶显示元件的装置。针对其最佳实施方式，以下参考附图来进 行说明。具有切割线的光学膜层积体，称为“具有切割线的光学膜”，光学功能膜称为“偏光膜”。 

图10及图11是表示本实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的制造方法及装置的第一及第二实施方式的示意图。图12及图13，是表示本实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的制造方法及装置的第一及第二实施方式的各制造过程也就是制造步骤的流程图。 

针对本发明的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的制造方法及装置的第一及第二实施方式，使用图10及图12、图11与图13来进行说明。 

(第一实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜的制造方法及装置) 

图10是包含有以下生产线的制造装置500的示意图。制造装置500包含：用来制造连续带状形态的偏光片(以下仍如前述简称为「偏光片」)的偏光片生产线510、制造层积于偏光片的保护膜的生产线520、制造层积有保护膜的偏光片(为了和形成有粘着层的偏光膜11区别，以下称为「偏光膜11⁰」)所构成的连续带状形态的偏光膜11⁰的生产线530。生产线530还包括有：通过检查偏光膜11⁰的表面及内部，来检查出内部存在的缺陷的偏光膜11⁰的检查站M。 

制造装置500还包括在检查完成的偏光膜11⁰上可自由剥离地层积载体膜13与表面保护膜14，来制造连续带状形态的光学膜层积体15的生产线540。生产线540还包括有切割线形成站N和切割线确认站P。在切割线形成站N，在连续带状形态的光学膜层积体15中，分别对应于规定的相对于偏光膜11⁰的长轴方向在横向划分的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(xβ)，在连续带状形态的光学膜层积体15的宽度方向进行切割，依次形成切割线16。在切割线确认站P是在与切割线形成站N重叠的位置，用来确认在连续带状形态的光学膜层积体15中形成的切割线16的位置。制造装置500最后可以包含有将所制造的连续带状形态的具有切割线的光学膜10卷绕而加工成连续卷筒的生产线550。 

图12是表示制造装置500的各过程也就是制造步骤的流程图。在装置500于偏光片的单面层积保护膜来制造连续带状形态的偏光膜11⁰的生产线530和最后将所制造的连续带状形态的具有切割线的光学膜10加工成连续卷筒620的生产线550之间，包含有图12所示的工序即步骤。 

在偏光片的生产线510中，包含：将作为偏光片的基材的PVA膜的连续卷筒旋转自如地安装，将通过贴合驱动装置560或未图示的其他驱动装置而从连续卷筒送出的PVA膜实施染色、交联、延伸处理后施以干燥的步骤。在保护膜的生产线520中，包含将作为保护膜的基材的通常为透明的TAC膜的连续卷筒旋转自如地安装，将通过贴合驱动装置540或未图示的其他驱动装置而从卷筒送出的透明TAC膜实施皂化处理后施以干燥的步骤。当在偏光片的两面层积保护膜时，制造装置500包含有保护膜的两条生产线520、520(这里将生产线520’省略)。在生产线520中也可包含：在将保护膜层积于偏光片之前，在保护膜表面(非层积面)实施硬涂层处理、防眩处理的加工处理步骤。 

偏光膜11⁰的生产线530中包含：在偏光片和保护膜的界面涂覆以聚乙烯醇类树脂为主剂的粘着剂，将两膜利用仅数μm的粘着层予以干燥粘着的步骤。生产线530中进而设置有包含一对贴合辊561的贴合驱动装置560，在每个贴合辊561上装备有例如组装有编码器的测长装置570，由此包含有将从贴合驱动装置560放出的偏光膜11⁰的放出量予以测量的测量步骤。 

生产线530包含有检查站M，这里包含有：通过检查所供给的连续带状形态的偏光膜11⁰的表面及内部，来检查出内部存在的缺陷的检查步骤。 

详细情形如后所述，在检查站M，与检查装置580相关联的控制装置700使用信息处理装置710及存储装置720，根据所检测的缺陷的位置，相对于偏光膜11°的长轴方向在横向进行划分，划分为在长轴方向具有规定长度且不含缺陷的区域(Xα)、及将缺陷位置夹在其中且具有与不含缺陷的区域不同的规定间隔的包含缺陷的区域(Xα)，对此予以存储，当制造连续带状形态的光学膜层积体15时，利用配置于切割线形成站N的切割装置600，在连续带状形态的光学膜层积体15中，分别对应于所存储的没有包含缺陷的区域(Xα)及包含缺陷的区域(Xβ)在宽度方向施加切割线，执行用来产生在连续带状形态的光学膜层积体15中依次形成切割线16的切割位置信息的信息处理步骤。根据通过信息处理所生成的切割位置信息，控制装置700在构成连续带状形态的光学膜层积体15的载体膜13上，通过依次形成偏光膜的薄片，来将连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体10予以制造的信息处理步骤，在以下简要说明。 

控制装置700使信息处理装置710及存储装置720动作，使基于图像读 取装置581所得到的图像数据、与基于测长装置570所得到的从偏光膜11⁰的前端起算的放出量而获得的测长数据相关联，来进行信息处理，由此生成与偏光膜11⁰内部存在的缺陷的位置相关的位置数据，将其存储于存储装置720。控制装置700接着根据关于缺陷的位置的位置信息来划分偏光膜11⁰的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(Xβ)。控制装置700进而生成切割位置信息，该切割位置信息用于在随后的步骤中所制造的连续带状形态的光学膜层积体15的载体膜13上，在切割线形成站N，使用切割装置600，将分别对应于所划分的偏光膜11⁰的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(Xβ)的包含粘着层12的偏光膜11的正常薄片xα及不良薄片Xβ，以切割状态依次形成。切割位置信息是用来指定在连续带状形态的光学膜层积体15中需要形成切割线16的位置的信息，也将其存储于存储装置720。 

具有与液晶面板W的尺寸对应的宽度，在相对于长轴方向的横向，通过前后两处的切割线16所形成的包含粘着层12的偏光膜11的正常薄片xα，具有与液晶面板W一致的规定长度Xα。与此相对，不良薄片Xβ将单一的或多个缺陷夹在其中，具有规定间隔的长度xβ，具体来说，从进给方向观察，正前方的正常薄片Xα的上游测切割线16成为不良薄片xβ的下游侧切割线16，所以具有长度xβ，该长度xβ是通过不良薄片Xβ的下游侧切割线16、与隔着缺陷形成于上游的不良薄片Xβ的上游侧切割线16(这是与下个正常薄片xα的下游侧切割线16相当的切割线)来确定的。从进给方向观察，分别划分出了从不良薄片Xβ的下游侧切割线16到最近的缺陷的长度，所以不良薄片Xβ的长度Xβ也是可改变的。不良薄片Xβ的详细情形如后述，当对用来指定需要形成切割线16的位置的切割位置信息进行信息处理时，总是以与正常薄片Xα的长度Xα不同的长度，也就是让xβ≠xα的方式进行信息处理。 

信息处理步骤的详细情形，对于第一及第二实施方式是共通的技术事项，所以根据图15在后面详细叙述。 

在用来制造连续带状形态的光学膜层积体15的生产线540中包含有如以下方式来制造连续带状形态的光学膜层积体15的步骤。也就是说，该步骤包含有通过载体膜贴合装置590，在检查完成的偏光膜11⁰上可自由剥离地层积载体膜13的载体膜层积步骤、及根据需要，使用贴合装置640在与载体膜13相反侧的偏光膜的面上，可自由剥离地层积表面保护膜14的表面 保护膜层积步骤。 

具体的步骤如以下所示。从第12图的流程图来看，在步骤1，通过贴合驱动装置560，在偏光片的单面层积保护膜，制造并供给偏光膜11⁰。在步骤2，将制造好的偏光膜11⁰送入检查站M，通过检查装置580检测出内部存在的缺陷。在步骤3，在支架装置591可自由旋转地安装载体膜13的连续卷筒。在步骤4，通过脱模膜卷绕驱动装置592及卷绕驱动装置630，使可转印地生成的粘着层12露出而从连续卷筒放出载体膜13。在步骤5，载体膜13通过载体膜贴合装置590可自由剥离地层积于偏光膜11⁰，从而制造出包含粘着层12的偏光膜11。 

这里虽然表示同时进行粘着层12形成在偏光膜11⁰的过程及载体膜13层积在粘着层12的过程，但当然也可以事先在偏光膜11⁰上形成粘着层12。尤其是在将保护膜层积于偏光片之前，无论是否在保护膜的表面实施硬涂层处理、防眩处理都没关系，也可通过贴合装置640，将具有粘着面的表面保护膜14层积在偏光膜11的与载体膜13相反侧的面上。由此所制造的连续带状形态的光学膜层积体15，在偏光膜11的两面可自由剥离地层积着载体膜13与表面保护膜14。 

生产线540包含有切割线形成站N，在这里所包含的步骤是：根据在检查站M经过信息处理的连续带状形态的光学膜层积体15中依次形成切割线16的指示信息，装备于切割线形成站N的切割装置600，在连续带状形态的光学膜层积体15中，从与载体膜13相反侧进行切割，直到载体膜13的粘着层侧的面，从而依次形成切割线16，由此，在载体膜13上，分别将偏光膜11⁰的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(Xβ)所分别对应的包含粘着层12的偏光膜11的正常薄片Xα及不良薄片Xβ，以切割状态依次形成。 

生产线540还包括切割线确认站P。在这里包含有如下步骤：通过隔着切割装置600在前后分别包含有图像读取装置611的切割位置确认装置610，确认在连续带状形态的光学膜层积体15的应施加切割线16的位置(基准位置)、与实际施加切割线16的位置之间有无产生偏移的步骤、以及当产生偏移时，修正切割装置600的切割位置或角度的步骤。详细来说，根据图14加以说明。 

图14是用来表示包含检查单元的切割位置确认装置610的动作的示意图，检查单元用来确认在连续带状形态的光学膜层积体15中，在相对于其 进给方向的横向实际施加切割线16的位置、与将光学膜层积体15的供给量与测长装置570的测长数据相关联所算出的应施加切割线的位置(基准线的位置)之间的偏移。 

切割位置确认装置610的图像读取装置611从光学膜的进给方向观察是隔着切割装置600而设置在其前后的上游侧和下游侧。在下游侧的图像读取装置611的更下游侧，配备包含于卷绕驱动装置630的一对进给辊631，在上游侧的图像读取装置611的更上游侧，配备有包含累积辊的速度调整装置660。通过使这些装置连动，让连续带状形态的光学膜层积体15，即使在切割位置暂时停止，也能总是以张紧状态供给。 

光学膜层积体的相对于进给方向形成于横向的切割线16，是否和将光学膜层积体15的供给量与测长装置570的测长数据相关联所算出的应施加切割线16的位置(基准线的位置)一致的确认，可通过求出光学膜层积体15的输送方向(X方向)和光学膜层积体15的横越方向(Y方向)的正确位置来进行。优选为，在光学膜层积体15的、夹持着形成切割线16的切割位置(切割装置600的位置)的前后两处，测定实际切割线16的形成位置及光学膜层积体15的边缘(侧端部)位置、和包含应施加切割线的位置的各个基准线在X方向及Y方向的偏差，由此来进行确认。例如，通过包含CCD照相机的图像读取装置611，拍摄光学膜层积体15中实际施加切割线的位置及光学膜层积体15的边缘位置并予以图像化。在拍摄范围内事先分别设定对应的基准线。根据所拍摄的图像内的对比度差，来判断其位置。接着，算出事先设定的基准线和这些位置的距离(偏移)，根据所算出的距离(偏移)，将切割装置600的位置及角度，从连续带状形态的光学膜层积体15的进给方向的前后方向进行修正。 

更具体而言，如图12所示，在张紧状态下进行供应连续带状形态的光学膜层积体15的步骤5及9，步骤5中，在连续带状形态的光学膜层积体15中形成切割线16。接着，通过图像读取装置611来读取实际的切割线16的形成位置，通过两个图像读取装置611来确认：所读取的切割线16与通过切割位置信息而确定的应形成切割线16的位置，也就是与基准线之间是否有偏差。在产生偏差的情况，则进行步骤10及11，其中一例是依以下所示的顺序进行修正。 

用来确认在连续带状形态的光学膜层积体15中、实际的切割线16的形 成位置和应形成切割线16的位置之间是否有偏差的检查手法，其中一例是依以下表示的顺序进行处理。 

(1)通过图像读取装置611，来拍摄在连续带状形态的光学膜层积体15中实际切割线16的形成位置(X)和两处边缘位置(Y1、Y2)并予以图像化，根据图像内的对比度差来测定连续带状形态的光学膜层积体15的实际切割线16的形成位置(X)及边缘位置(Y1、Y2)。 

(2)从X方向观察在上游侧且在切割位置确认装置160的拍摄范围内事先设定的沿Y方向延伸的基准线、与从X方向观察在下游侧且在图像读取装置611的拍摄范围内事先设定的沿Y方向延伸的基准线之间的中间位置，事先设定沿Y方向延伸的切割线基准位置，将代表上游侧的基准线和下游侧的基准线之间的距离数据的γ通过信息处理装置710，事先存储于存储装置720。另外，从X方向观察在上游侧及下游侧且在图像读取装置611的拍摄范围内事先设定沿X方向延伸的基准线。 

(3)根据所测定的连续带状形态的光学膜层积体15中的实际切割线16的形成位置(X)及边缘位置(Y1、Y2)和上述基准线，通过切割位置信息，算出将应形成切割线16的位置朝X方向修正的修正量α、和朝切割线16的Y方向作角度修正的修正量δ。修正量α是所测定的偏移量α，也就是实际切割线16的形成位置(X)和下游侧的沿Y方向延伸的基准线之间的偏移量α。修正量δ是根据与连续带状形态的光学膜层积体15的边缘位置的距离而测定的Y方向的两处偏移量，根据与沿X方向延伸的下游侧的基准线及从上游侧的基准线起算的偏移量(β1及β2)和两基准线间的距离数据γ，可由以下的式子算出。 

[数学式子1] 

$\mathrm{\δ}={\cos }^{-1}\left\{\frac{\mathrm{\γ}}{\sqrt{{\mathrm{\γ}}^2+{({\mathrm{\β}}_1+{\mathrm{\β}}_2)}^2}}\right\}$

(4)为了和应形成沿Y方向延伸的切割线19的基准位置一致，根据所测定、算出的数据，将用来指示给切割装置600的修正量(α及δ)即角度修正量δ和X方向的位置修正量α存储于存储装置720。 

(5)切割装置600通过控制装置700，根据所存储的修正量(α及δ)，将进给方向的修正及相对于进给方向的横向的角度修正指示给切割装置150， 以在连续带状形态的光学膜层积体15中形成下一条切割线16时，能对准连续带状形态的光学膜层积体15的应形成切割线16的位置的基准线。 

(6)然后，使切割装置600动作，以在连续带状形态的光学膜层积体15上形成下一条切割线16。 

在生产线550中，包含有卷绕驱动装置630，该卷绕驱动装置630包含有将连续带状形态的具有切割线的光学膜10卷绕而加工成连续卷筒620的一对进给辊631。 

在第一实施方式中，包含粘着层12的偏光膜11的制造，也可在检查完成的偏光膜11⁰的贴合于液晶面板W的面上，直接涂布包含粘着剂的溶剂而使其干燥。可是，包含粘着剂12的偏光膜11，通常是由以下方式所制造。首先，在载体膜13的制造过程中，在载体膜的将层积于偏光膜11⁰的面上实施脱模处理，该偏光膜11⁰的面将与液晶面板w贴合，将包含粘着剂的溶剂涂布然后干燥，而制造出包含粘着层12的载体膜13。在生产线540的载体膜层积步骤中，使用贴合装置590，通过将预先制造的包含粘着层12的载体膜13层积于检查完成的偏光膜11⁰，将粘着层12转印到检查完成的偏光膜11⁰，制造出包含粘着层12的偏光膜11。在生产线540中，也可包含：在检查完成的偏光膜11⁰的与载体膜13相反侧的面上，通过贴合装置640，来层积表面保护膜14的表面保护膜的层积步骤。 

(第二实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜的制造方法及装置) 

第二实施方式的制造装置500’的特征在于准备了事先制造的连续带状形态的临时光学膜层积体15’。因此，制造装置500’，当然不具有偏光片的生产线及保护膜的生产线。也不需要如第一实施方式的生产线530那样的、通过贴合驱动装置560的一对贴合辊561，在界面涂布粘接剂来将偏光片与保护膜干燥粘接的步骤。而与其相对应的生产线，是如图11所示，连续带状形态的临时光学膜层积体15’的供给线530’。是图13所示的步骤1。这里包含有膜供给驱动装置560’，该驱动装置560’包含有将安装于支架装置520’的连续带状形态的临时光学膜层积体15’的连续卷筒510’放出的一对进给辊561’。 

图11是包含有以下的生产线的制造装置500’的示意图。这里，当图11的生产线或装置对应于图10的制造装置500包含的生产线或装置时，则使 用相同附图标记。 

图13是表示该装置的各制造过程也就是制造步骤的流程图。 

图11所示的临时光学膜层积体15’的供给线530’包含有如下工序，即，将在图11的下段所示的包含临时载体膜13’的连续带状形态的临时光学膜层积体15’送入到剥离站L，将构成临时光学膜层积体15’的包含粘着层12的偏光膜11，从同样构成的临时载体膜13’剥离的步骤，由此，也相当于用来制造包含粘着层12的偏光膜11的生产线530’。以下将该线路称为生产线530’。 

生产线530’设置有：包含一对进给辊561’的膜供给驱动装置560’，在一对进给辊561’中的任一个上，例如装备着组装有编码器的测长装置570’，由此，包含有将从膜供给驱动装置560’供给的连续带状形态的临时光学膜层积体15’的放出量予以测量的测量步骤。生产线530’还包括：将所制造的包含粘着层12的偏光膜11送入到检查站M，将包含粘着层12的偏光膜11内部存在的缺陷检测出的检查步骤。第二实施方式的连续带状形态的具有切割线的光学膜10的制造，是通过生产线530’开始进行。 

事先准备的连续带状形态的临时光学膜层积体15’，在其制造步骤，最好使用包含可转印的粘着层的临时载体膜13’。这是因为在制造装置500’，当从连续带状形态的临时光学膜层积体15’将临时载体膜13’剥离时，临时载体膜13’的粘着层会转印到偏光膜11，而制造出包含粘着层12的偏光膜11。 

如图11所示，制造装置500’包含有用来制造包含有连续带状形态的粘着层12的偏光膜11的生产线530’。生产线530’包含有与第一实施方式的制造装置500所包含的检查站M相同的检查站M，与第一实施方式的制造装置500的不同之处在于检查的对象是包含粘着层12的偏光膜11。制造装置500’还与第一实施方式的制造装置500同样还包含有生产线540及生产线550。因此，制造装置500’包含有与第一实施方式的制造装置500共通的以下各装置，也就是：包含图像读取装置581的检查装置580、包含安装着载体膜13的连续卷筒的支架装置591的载体膜贴合装置590、位于切割线形成站N的切割装置600、包含有隔着切割装置600配备在其前后的图像读取装置611且位于切割线确认站P的切割线确认装置610、包含有将所制造的连续带状形态的具有切割线的光学膜10予以卷绕的一对进给辊631的卷绕驱动装置630、以及包含有连续信息处理装置710与存储装置720的控制装置 700；根据需要也可包含有表面保护膜14的贴合装置640。在第一实施方式的制造装置500中不存在的制造装置500’所包含的装置是包含有配备于剥离站L的临时载体膜剥离装置651的临时载体膜卷绕驱动装置650。 

制造装置500’包含有在图13的流程图中所示的过程也就是步骤。首先，在步骤1，例如将临时光学膜层积体15’的连续卷筒510’安装于支架装置520’。临时光学膜层积体15’例如使用如下结构，即，在偏光片的单面或两面层积着保护膜的偏光膜11上，层积着形成有可转印的粘着层12的临时载体膜13’。在步骤2，连续带状形态的临时光学膜层积体15’，通过包含一对进给辊561’的膜供给驱动装置560’，供给到用来制造包含粘着层12的偏光膜11的生产线530’。在步骤3及步骤4，通过临时载体膜卷绕驱动装置650的临时载体膜剥离装置651，从临时光学膜层积体15’将临时载体膜13’剥离去除，而制造出包含转印的粘着层12的偏光膜11。在步骤5，通过检查装置580，检测包含露出的粘着层12的偏光膜11的表面及内部，从而与第一实施方式同样地检测出内部存在的缺陷。 

在检查站M，与检查装置580相关联的控制装置700，使用信息处理装置710及存储装置720，根据所检测的缺陷的位置，确定相对于包含粘着层12的偏光膜11的长轴方向在横向划分的、在长轴方向具有规定长度且不含缺陷的区域(Xα)、及将缺陷的位置夹在其中且具有与不含缺陷的区域不同的规定间隔的包含缺陷的区域(Xβ)，并予以存储，当制造连续带状形态的光学膜层积体15时，利用在切割线形成站N配备的切割装置600，在光学膜层积体15中，分别对应于所存储的没有包含缺陷的区域(Xα)及包含缺陷的区域(Xβ)在宽度方向施加切割线，执行用来产生在光学膜层积体15中依次形成切割线16的切割位置信息的信息处理步骤。根据通过信息处理所生成的切割位置信息，控制装置700在构成连续带状形态的光学膜层积体15的载体膜13上，通过依次形成偏光膜的薄片，来制造连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体10。 

具体来说，控制装置700使信息处理装置710及存储装置720动作，使图像读取装置581所得到的图像数据、与测长装置570所得到的基于从包含粘着层12的偏光膜11的前端起算的放出量确定的测长数据相关联，来进行信息处理，由此生成与包含粘着层的偏光膜11内部存在的缺陷的位置相关的位置数据，将其存储于存储装置720。控制装置700接着根据关于缺陷的 位置的位置信息，划分包含粘着层12的偏光膜11的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(Xβ)。控制装置700在随后的步骤中所制造的连续带状形态的光学膜层积体15的载体膜13上，使用在切割线形成站N配备的切割装置600，生成将分别对应于所划分的包含粘着层12的偏光膜11的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(Xβ)的正常薄片Xα及不良薄片Xβ以切割状态依次形成的切割位置信息。切割位置信息是用来指定在连续带状形态的光学膜层积体15中要形成切割线16的位置的信息，也将其存储于存储装置720。任何一个信息处理步骤，都与第一实施方式的制造装置500的情况相同。 

在用来制造连续带状形态的光学膜层积体15的生产线540中，包含有如以下方式来制造连续带状形态的光学膜层积体15的步骤。即、该步骤包含有：通过载体膜贴合装置590，在检查完成的包含粘着层12的偏光膜11上可自由剥离地层积载体膜13的载体膜层积步骤；及根据需要，使用贴合装置640，在与载体膜13相反侧的偏光膜的面上，可自由剥离地层积表面保护膜14的表面保护膜层积步骤。具体步骤从图13的流程图来看，在步骤6～步骤8，载体膜13通过载体膜贴合装置590，将于要层积的面上实施过脱模处理的载体膜13可自由剥离地层积于包含粘着层12的偏光膜11，制造出连续带状形态的光学膜15。所制造的连续带状形态的光学膜15具有与第一实施方式的制造装置500所制造的连续带状形态的光学膜15相同的构造。 

在将保护膜层积于偏光片之前，无论是否在保护膜的表面实施硬涂层处理、防眩处理都没关系，也可通过贴合装置640，将具有粘着面的表面保护膜14可自由剥离地层积在偏光膜11的与载体膜13相反侧的面上。由此所制造的连续带状形态的光学膜层积体15，在包含粘着层12的偏光膜11的两面可自由剥离地层积着载体膜13与表面保护膜14。 

生产线540与第一实施方式的生产线540同样，包含有切割线形成站N，在此所包含的步骤，是根据在检查站M经过信息处理的连续带状形态的光学膜层积体15中依次形成切割线16的指示信息，装备于切割线形成站N的切割装置600在连续带状形态的光学膜层积体15中，从与载体膜13相反侧进行切割直到载体膜13的粘着层侧的面，依次形成切割线16，由此在载体膜13上，分别将包含粘着层12的偏光膜11的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(Xβ)所分别对应的包含粘着层12的偏光膜11的正常薄片Xα及不良薄片Xβ以切割状态依次形成。关于具有对应于液晶面板W的尺寸的宽 度且通过相对于长轴方向的横向在前后两处的切割线16所形成的包含粘着层12的偏光膜11的正常薄片Xα及不良薄片Xβ在长轴方向的大小的说明，分别与在第一实施方式中详细叙述的内容重复，所以在这里省略说明。 

生产线540还包含切割线确认站P。在此包含有如下步骤：即、利用隔着切割装置600在前后分别包含图像读取装置611的切割位置确认装置610，确认在连续带状形态的光学膜层积体15中应施加切割线16的位置(基准位置)与实际施加切割线16的位置之间有无产生偏移的步骤、以及当产生偏移时，修正切割装置600的切割位置或角度的步骤。 

更具体而言，如图13所示，实行在张紧状态下供应连续带状形态的光学膜层积体15的步骤8及12，步骤12中，在连续带状形态的光学膜层积体15中形成切割线16。接着，通过下游侧的图像读取装置611来读取实际的切割线16的形成位置，通过两个图像读取装置611来确认所读取的切割线16与通过切割位置信息而确定的应形成切割线16的位置，也就是与基准线之间是否有偏移。在产生偏移的情况下，则进行步骤13及14。用来确认在连续带状形态的光学膜层积体15中实际的切割线16的形成位置与应形成切割线16的位置之间是否有偏移的检查方法，根据图14，作为第一实施方式的切割线确认站P的步骤与已经详细叙述的内容重复，所以在此省略。 

生产线550是与第一实施方式的制造装置同样的生产线，包含有卷绕驱动装置630，该卷绕驱动装置630包含有将连续带状形态的具有切割线的光学膜10卷绕而加工成连续卷筒620的一对进给辊631。第一实施方式与第二实施方式的制造装置的差异，可以从图10及图11的下段所示的各生产线的膜剖面图中容易地了解。 

(切割位置信息的生成) 

在第一实施方式或第二实施方式的检查站M，与检查装置580相关联的控制装置700使用信息处理装置710及存储装置720，根据所检测的缺陷的位置，将相对于偏光膜11⁰(第一实施方式)或包含粘着层12的偏光膜11(第二实施方式)的长轴方向的横向划分的不含缺陷的区域(Xα)及包含缺陷的区域(Xβ)予以存储，当在随后步骤中制造连续带状形态的光学膜层积体15时，利用在切割线形成站N配备的切割装置600，在光学膜层积体15中，分别对应于所存储的没有包含缺陷的区域(Xα)及包含缺陷的区域(Xβ)在宽度方向依次施加切割线，来执行用来产生在光学膜层积体15中依次形成切割线 16的切割位置信息的信息处理步骤。根据通过信息处理所生成的切割位置信息，控制装置700在构成连续带状形态的光学膜层积体15的载体膜13上，通过依次形成偏光膜的薄片，来制造连续带状形态的具有切割线的光学膜层积体10。 

以下使用图15的示意图及图16～图18的流程图来说明：通过确定在相对于长轴方向的横向划分的不含缺陷的区域(Xα)及包含缺陷的区域(Xβ)的信息处理，而生成切割位置信息的具体的步骤。注意该实施方式只是一个例子。 

图15是表示将在偏光片上层积了保护膜的偏光膜11⁰或包含粘着层12的偏光膜11(以下将两者总称为「偏光膜11」)通过贴合驱动装置560或膜供给驱动装置560’、经由包含载体膜贴合装置590的进给辊及累积辊的速度调整装置650而包含于卷绕驱动装置630的一对进给辊631，连续朝右方供给的状态。 

图16～图18是表示计算出在所供给的连续带状形态的光学膜层积体15中应形成切割线16的不同方法的流程图。 

在任一个情况下，步骤1中，控制装置700使贴合驱动装置560或膜供给驱动装置560’及卷绕驱动装置630所包含的一对进给辊631动作，以提供偏光膜11。步骤2中，控制装置700使信息处理装置710及存储装置720动作，使图像读取装置581所得到的图像数据、与基于测长装置570所得到的从偏光膜11的前端起算的放出量而确定的测长数据相关联，来进行信息处理，由此生成与偏光膜11内部存在的缺陷的位置相关的位置数据，将其存储于存储装置720。在步骤3及步骤4，控制装置700接着根据关于缺陷的位置的位置信息，划分偏光膜11的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(Xβ)。控制装置700进而生成在随后的步骤中所制造的连续带状形态的光学膜层积体15的载体膜13上，在切割线形成站N，使用切割装置600，将分别对应于所划分的偏光膜11⁰的不含缺陷的区域(Xα)及含有缺陷的区域(Xβ)的、包含粘着层12的偏光膜11的正常薄片Xα及不良薄片Xβ以切割状态依次形成的切割位置信息。切割位置信息是用来指定在连续带状形态的光学膜层积体15的要形成切割线16的位置的信息，也将其存储于存储装置720。 

步骤3中，控制装置700通过信息处理装置710，来运算所供应的偏光 膜的缺陷位置与基准位置之间的距离X，将运算结果存储在存储装置720。如图15所示，距离X例如是载体膜贴合装置590的位置(偏光膜11的基准位置)和检查装置580的位置(缺陷位置)之间的距离。 

步骤4中，控制装置700进一步通过信息处理装置710算出从距离X减去相当于不含缺陷的区域的长度Xα后的距离(X-xα)＝X’，并存储在存储装置720。相当于偏光膜的不含缺陷的区域的长度Xα′是根据液晶面板W的大小而由系统管理员来设定，且事先存储在存储装置720。接着控制装置700根据信息处理装置710来判断所算出的距离X’是否比事先存储在存储装置720中的相当于偏光膜的不含缺陷的区域的长度Xα更长。也就是说，在图15所示的X’(或X”)＞Xα时，由于表示可确保偏光膜11的不含缺陷的区域Xα′，因此控制装置700会指示贴合驱动装置560或膜供给驱动装置560’及卷绕驱动装置630所包含的一对进给辊631，以张紧状态仅供应与不含缺陷的区域的长度(Xα)相应长度的偏光膜。这时的Xα值是用来形成相当于偏光膜11的不含缺陷的区域(Xα)的正常薄片Xα的切割位置信息。 

另外，在X’(或X”)≤Xα时，也就是图15所示的X”’≤Xα时，表示无法确保偏光膜11的不含缺陷的区域Xα。在此情况下，偏光膜11的长度Xβ的区域变成包含缺陷的区域(Xβ)，控制装置700会通过信息处理装置710，将X’(15图所示的X”’)加上一定尺寸X₀而算出相当于包含缺陷的区域(Xβ)的长度(X’+X₀)＝Xβ’，并指示贴合驱动装置560或膜供给驱动装置560’及卷绕驱动装置630所包含的一对进给辊631，以张紧状态供应与包含缺陷的区域长度(Xβ)相应长度的偏光膜11。这时的Xβ值是用来形成相当于偏光膜的包含缺陷的区域(Xβ)的不良薄片Xβ的切割位置信息。 

控制装置700是进行以下(a)及(b)的运算，也就是说计算： 

(a)X’＞Xα时，到应形成下一条切割线的位置的距离＝Xα 

(b)X’≤Xα时，到应形成下一条切割线的位置的距离＝(X’+X₀)＝Xβ 

将切割位置信息存储在存储装置720，该切割位置信息用来指定在随后步骤中所制造的连续带状形态的光学膜层积体15上应形成切割线16的位置，以形成包含粘着层12的偏光膜11的正常薄片Xα和不良薄片Xβ。 

然而，在相当于包含缺陷的区域(Xβ)的长度(X’+Xβ)＝(Xβ)和相当于不含缺陷的区域(Xα)的长度(xα)相等的值时，也就是当(X’+X₀)＝Xα时，控制装置700无法识别或区别不含缺陷的区域(Xα)和含有缺陷的区域(Xβ)。也就 是说，含有缺陷的区域无法以含有缺陷的区域(Xβ)的形式被辨识出，例如无法从偏光膜11的送出量(测长数据)来判断该区域是属于(Xα)和(Xβ)中哪一个，因此根据该测长数据(X’+X₀)所生成的信息变得不完全。这种状况可想象在如下情况下会发生，即，偏光膜11内部存在的缺陷的位置，和偏光膜11的应形成下一条切割线16的位置非常接近的情况，或是多数的连续缺陷分布在相当于不含缺陷的区域的长度(Xα)的情况。 

步骤5中，当(X’+X₀)＝(Xα)时，控制装置700根据至少下述任一方法，通过使信息处理装置710动作来进行运算，而生成用来识别或区别不含缺陷的区域(Xα)和含有缺陷的区域(Xβ)的信息。 

在图16的步骤5中，即使信息处理装置710所运算出的、到应形成下一条切割线16的位置的距离(X’+X₀)是相当于不含缺陷的区域(Xα)的长度Xα时，该区域也并非不含缺陷的区域(Xα)。为了辨识此情况，例如如下生成缺陷含有信息Xγ，也就是生成不良薄片Xβ的识别信息Xγ，并将其存储于存储装置720：即，让用来指定应形成相当于不含缺陷的区域(Xα)的切割线16的位置的切割位置信息和数值「0」相关联，让指定应形成相当于包含缺陷的区域的切割线16的位置的切割位置信息和数值「1」相关联。 

图17的步骤5中，在通过信息处理装置710运算出的到应形成下一条切割线16的位置的距离(X’+X₀)是相当于不含缺陷的区域(Xα)的长度Xα的情况下，进行信息处理而使应形成下一条切割线16的位置成为(X’+X₀’)(有X₀’＞X₀的关系)，并存储在存储装置720。该信息处理通过计算不同于长度Xα的(X’+X₀’)，即可识别或区别具有(X’+X₀’)长度的区域和不含缺陷的区域(Xα)。 

图18的步骤5中，在通过信息处理装置710运算出的到应形成下一条切割线16的位置的距离(X’+x₀)相当于不含缺陷的区域(Xα)的长度Xα的情况下，进行信息处理而使应形成下一条切割线16的位置成为(X’+x₀)/m(m＝2以上，最好是2或3)，并存储于存储装置720。该信息处理也可如图17的情况通过计算不同于Xα的(X’+x₀)/m，即可识别或区别具有{(X’+x₀)/m}长度的区域和不含缺陷的区域(xα)。 

综上所述，用来识别或区别不含缺陷的区域(Xα)和含有缺陷的区域(Xβ)的信息的生成方法，例如可采用以下任一种方法。 

(1)作为用来识别或区别信息处理装置710所运算的具有(X’+X₀)的长度 的区域和不含缺陷的区域(xα)的信息，生成缺陷含有信息xγ的方法。 

(2)生成通过信息处理装置710所运算的不同于长度Xα的、到应形成下一条切割线16的位置的距离X’+x0’(但有X0’＞X0的关系)的方法。 

(3)生成通过信息处理装置710所运算的不同于长度Xα的、到应形成下一条切割线16的位置的距离(X’+x₀)/m(m＝2以上)的方法。 

特别是在采用(2)或(3)的方法的情况下，(X’+x₀)＝Xα是成为(X’+x₀’)≠xα或(X’+x₀)/m≠xα，因此这些应形成切割线16的位置，成为能与不含缺陷的区域(Xα)相识别或区别的表示包含缺陷的区域(Xβ)的信息。 

接着，步骤6中，在任一个情况下，控制装置700都会根据步骤4、5所运算的结果，通过信息处理装置710来决定从基准位置(图15所示的载体膜贴合装置590的位置)到应形成下一条切割线16的位置的长度。接着，在步骤7中，在上述(2)或(3)的情况下，控制装置700将步骤6中所决定的到应形成下一条切割线16的位置的长度存储于存储装置720。但在上述(1)的情况下，控制装置700将所决定的到应形成下一条切割线16的位置的长度以和缺陷含有信息xγ相关联的形式加以存储。 

步骤8中，在任一个情况下，控制装置700通过信息处理装置710，根据在步骤7存储的直到应形成下一条切割线16的位置的长度，使配备于切割线形成站N的切割装置600动作，当将在随后步骤中所制造的连续带状形态的光学膜层积体15供给到切割线形成站N时，在连续带状形态的光学膜层积体15中，在构成该光学膜层积体15的载体膜13上，以使包含构成该光学膜层积体15的粘着层12的偏光膜11的正常薄片Xα及不良薄片xβ依次形成为切割状态的方式，从与载体膜13相反侧切入切割线，直到载体膜13的粘着层侧的面的深度，而依次形成切割线16。 

在步骤9，通过切割线确认站P的切割位置确认装置610来执行确认实际施加切割线16的位置、与所存储的应施加切割线16的位置是否一致的确认步骤。如之前所指出的那样，确认在连续带状形态的光学膜层积体15中应施加切割线16的位置(基准位置)与实际施加切割线16的位置之间是否产生偏移，如果产生了偏移，则在下次形成切割线16之前，修正切割装置600的切割位置或角度。 

(缺陷检查装置的详细情形) 

图19是本发明的第二实施方式的其中一种优选实施例，将连续带状形 态的临时光学膜层积体15’送入剥离站L，通过将构成连续带状形态的临时光学膜层积体15’的临时载体膜13’剥离，而制造出包含粘着层12的偏光膜11，对所制造的包含粘着层12的偏光膜11，在包含三个检查装置的检查站M进行检查而检测出内部存在的缺陷，检查装置并不限于此，当然也可适用于本发明的第一实施方式的检查站M。图19又表示了在检查过的包含粘着层12的偏光膜11上可自由剥离地层积着载体膜13、及根据需要在与载体膜13相反侧的面上可自由剥离地层积表面保护膜，来制造连续带状形态的光学膜层积体15的连续卷筒的装置800。制造连续带状形态的光学膜层积体15的生产线，是在第一及第二实施方式的制造装置500及500’中有详细叙述，所以这里省略说明。 

装置800除了具有包含用来供给临时光学膜层积体15’的进给辊811的膜供给装置810之外，还具有将临时载体膜13’卷绕驱动的卷绕驱动装置820。装置800作为检查装置具有：第一检查装置830、第二检查装置840、第三检查装置850，这些装置是被控制装置900所控制，控制装置900包含有信息处理装置910及存储装置920。包含贴合装置861的载体膜供给装置860、及根据需要设置的包含贴合装置871的表面保护膜供给装置870，在检查完成的包含粘着层12的偏光膜11的露出状态的粘着层12的面上，可自由剥离地层积载体膜13，及根据需要，在与载体膜13相反侧的偏光膜的面上可自由剥离地层积表面保护膜。由此，制造出连续带状形态的光学膜层积体15。 

如图19所示，装备于装置800的检查装置有三处。第一检查装置840是在膜供给装置810的进给辊811与将临时载体膜卷绕驱动的卷绕装置820之间，检查层积着临时载体膜13’的连续带状形态的临时光学膜层积体。其是通过光反射来检测偏光膜11的表面的装置。能检测的缺陷，如图20所示，仅限于CCD照相机可检测出的表面的凹凸及伤痕或斑点。 

第二检查装置840中，通过光源照射的光相对于包含粘着层12的偏光膜11垂直入射，且由光学式检查单元受光，包含粘着层12的偏光膜11内部存在的缺陷作为阴影而被检测出。能检测出的缺陷，如图20所示，是内部的异物及在内部形成的气泡等。 

第三检查装置850是利用正交偏光条件的缺陷检测装置。伴随着该缺陷检查装置的实用化，偏光膜的缺陷检查的精确度大幅提升。作为大型液晶显 示元件用的偏光膜，通常倾向只利用通过了基于正交偏光条件所进行的缺陷检查的膜。检查方法如下。首先，将检查对象也就是包含粘着层12的偏光膜11及与其对应的偏光滤光片配置成让其吸收轴成为正交偏光。将来自光源的光照射于该处，观察透射的光。由此，让包含粘着层12的偏光膜11内部存在的缺陷作为亮点检测出。第三检查装置850中，使通过光源发出的光相对于包含粘着层12的偏光膜11垂直或倾斜地入射，在光学式检测单元的正前方将偏光滤光片设置成相对于包含粘着层12的偏光膜11的吸收轴让偏光滤光片的吸收轴成为90度的状态，将包含粘着层12的偏光膜11透射的光由光学式检测单元受光，由此让包含粘着层12的偏光膜11内部存在的缺陷作为亮点检测出的检查方法。能检测出的缺陷，如图20所示，除了表面的凹凸的外，大致包含全部的缺陷。 

第一～第三检查装置虽然都是以包含粘着层12的偏光膜11作为检查对象，而当然也可以用没有形成粘着层的偏光膜11⁰，也可以用其他的光学功能膜。 

关于本发明虽是记载了优选的实施方式，但可理解的是只要本领域技术人员即可在不脱离本发明的范围内进行各种改变，而用等同的技术特征来代替相关要素。因此，本发明并不限定于所公开的特定实施方式即为了实施本发明所考虑到的最佳实施方式，而是包含属于权利要求的所有的实施方式。 

Claims (19)

1.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，其用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；

该光学膜层积体的连续卷筒的特征在于：

至少具有包含粘着层的光学功能膜以及可自由剥离地层积于该粘着层的载体膜，

根据事先检查所检测到的缺陷的位置，该光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，

该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在当中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度；

沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于该光学膜层积体的上述不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒，从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别。

2.如权利要求1所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，其中，光学功能膜至少具有偏光特性。

3.如权利要求1或2所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒，其中，连续带状形态的光学膜层积体还包含有可自由剥离地层积于光学功能膜的非粘着层一侧的面上的表面保护膜。

4.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，该连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；

该光学膜层积体的连续卷筒的制造方法的特征在于，分别包含有下述步骤：

(a)通过在连续带状形态的偏光片的至少一个面上层积连续带状形态的保护膜，生成光学功能膜；

(b)通过检查上述光学功能膜的表面及内部，来检测该光学功能膜内部存在的缺陷；

(c)根据所检测到的缺陷的位置，该连续带状形态的光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在其中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度，在该光学功能膜上，通过隔着粘着层可自由剥离地层积连续带状形态的载体膜，生成连续带状形态的光学膜层积体；

(d)沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于该光学膜功能膜的上述不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的所述光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒且从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别，由此，生成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体；

(e)将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状并加工成连续卷筒。

5.如权利要求4所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其中，制造连续带状形态的光学膜层积体的步骤还包括以下步骤：在光学功能膜的非粘着层侧的面上，可自由剥离地层积表面保护膜。

6.如权利要求4或5所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其中，用来检测光学功能膜内部存在的缺陷的步骤包含有下述步骤之一或这些步骤的组合：

通过反射光检查光学功能膜的表面的步骤、

通过使从光源照射的光透射，将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影来检测的步骤、

将光学功能膜与偏光滤光片的吸收轴以正交偏光方式配置，将来自光源的光照射于光学功能膜与偏光滤光片，通过观察透射的光，将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的步骤。

7.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，该光学膜层积体的连续卷筒用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；

该连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法的特征在于，分别包含有下述步骤：

(a)准备连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒，该临时光学膜层积体至少包含：

由连续带状形态的偏光片、层积于该偏光片的至少一个面上的保护膜、及形成于一个面上的粘着层构成的光学功能膜；

可自由剥离地层积于该粘着层的临时载体膜；

(b)通过一边从所准备的连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒将临时光学膜层积体送出，一边从该临时光学膜层积体将临时载体膜剥离，使包含粘着层的光学功能膜露出；

(c)通过检查露出的包含粘着层的光学功能膜的表面及内部，来检测含有粘着层的该光学功能膜内部存在的缺陷，

(d)根据所检测到的含有粘着层的光学功能膜的缺陷的位置，该含有粘着层的光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在其中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度，在该光学功能膜的该粘着层上，可自由剥离地层积载体膜，由此生成连续带状形态的光学膜层积体，

(e)沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于光学功能膜的上述不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的所述光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒且从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别，由此，生成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体，

(f)将生成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状并加工成连续卷筒。

8.如权利要求7所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其中，临时载体膜具有可转印的粘着层，该粘着层通过在临时载体膜的一个面上实施脱模处理后将含有粘着剂的溶剂进行涂布干燥而形成。

9.如权利要求7或8所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其中，在载体膜的层积于光学功能膜所露出的粘着层的面上实施脱模处理。

10.如权利要求7或8中任一项所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其中，生成连续带状形态的光学膜层积体的步骤还包含有如下步骤：在光学功能膜的非粘着层侧的面上可自由剥离地层积连续带状形态的表面保护膜。

11.如权利要求7或8中任一项所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造方法，其中，用来检测光学功能膜内部存在的缺陷的步骤包含有下述步骤的其中之一或这些步骤的组合：

利用反射光来检查光学功能膜的表面的步骤、

使光源照射的光透射来将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影而检测出的步骤、

将光学功能膜与偏光滤光片以使他们的吸收轴成为正交偏光的方式配置，将来自光源的光照射于该处，通过观察透射的光，将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的步骤。

12.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，该光学膜层积体的连续卷筒用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；

该制造装置的特征在于，包含有如下装置：

(a)光学功能膜生成装置，其将连续带状形态的保护膜层积于连续带状形态的偏光片的至少一面，来生成光学功能膜；

(b)检查装置，其通过检查上述光学功能膜的表面及内部，来检测该光学功能膜内部存在的缺陷；

(c)光学膜层积体生成装置，根据所检测到的光学功能膜的缺陷的位置，该光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在其中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度，该光学膜层积体生成装置在该光学功能膜上，通过隔着粘着层可自由剥离地层积载体膜，生成连续带状形态的光学膜层积体；

(d)具有切割线的光学膜层积体生成装置，其沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于光学功能膜的上述不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的所述光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒且从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别，由此，生成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体；

(e)卷绕装置，其将所制成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状并加工成连续卷筒；

(f)控制装置，其至少使光学功能膜生成装置、检查装置、光学膜层积体生成装置、具有切割线的光学膜层积体生成装置、以及卷绕装置分别连动而动作。

13.如权利要求12所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其中，光学膜层积体生成装置还包括：在光学功能膜的非粘着层侧的面上可自由剥离地层积表面保护膜的表面保护膜层积装置。

14.如权利要求12或13所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其中，检查装置包含有下述装置的其中之一或这些装置的组合：

通过反射光而来检查光学功能膜的表面的第一检查装置、

使光源照射的光透射来将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影而检测出的第二检查装置、

使用偏光滤光片，将从光源照射的光正交偏光透射，由此将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测出的第三检查装置。

15.一种连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，该光学膜层积体的连续卷筒用于如下装置，该装置相对于形成为规定尺寸的液晶面板，将形成为与该液晶面板的尺寸对应的规定尺寸的光学功能膜的薄片予以贴合，来连续制造液晶显示元件；

该制造装置的特征在于，包含有如下装置：

(a)临时光学膜层积体供给装置，其安装有连续带状形态的临时光学膜层积体的连续卷筒，从该连续卷筒中放出连续带状形态的临时光学膜层积体来供给临时光学膜层积体，该临时光学膜层积体至少包含：

由连续带状形态的偏光片、层积于该偏光片的至少一个面上的保护膜、及形成于一个面上的粘着层构成的连续带状形态的光学功能膜；

可自由剥离地层积于该粘着层的临时载体膜；

(b)临时载体膜剥离装置，其通过从被放出的连续带状形态的临时光学膜层积体将临时载体膜剥离，使包含粘着层的光学功能膜露出；

(c)检查装置，其通过检查露出的包含粘着层的光学功能膜的表面及内部，来检测包含粘着层的该光学功能膜内部存在的缺陷；

(d)光学膜层积体生成装置，根据所检测到的包含粘着层的光学功能膜的缺陷的位置，该连续带状形态的光学功能膜包括在相对于长轴方向的直角方向上被划分的不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，该不含缺陷的区域具有与液晶面板的尺寸对应的规定长度，该含有缺陷的区域将该缺陷的位置夹在其中、具有与所述不含缺陷的区域不同的规定长度，该光学膜层积体生成装置在包含粘着层的该光学功能膜的该粘着层上可自由剥离地层积载体膜，来生成连续带状形态的光学膜层积体；

(e)具有切割线的光学膜层积体生成装置，其沿着该光学膜层积体的宽度方向，对应于光学功能膜的上述不含缺陷的区域和含有缺陷的区域，从与载体膜相反的一侧，直到载体膜的粘着层侧的面的深度进行切割，在连续带状形态的所述光学膜层积体上依次形成切割线，在载体膜上依次形成光学功能膜的不含缺陷的正常薄片以及含有缺陷的不良薄片，当在连续制造液晶显示元件的所述装置中被用作连续卷筒且从该连续卷筒放出时，上述正常薄片和不良薄片能够被识别，由此，生成连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体；

(f)卷绕装置，其将所制成的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体卷绕成卷筒状并加工成连续卷筒；

(g)控制装置，其至少使临时光学膜层积体供给生成装置、临时载体膜剥离装置、检查装置、光学膜层积体生成装置、具有切割线的光学膜层积体生成装置、以及卷绕装置分别连动而动作。

16.如权利要求15所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其中，在临时载体膜具有可转印的粘着层，该粘着层通过在临时载体膜的一个面上实施脱模处理后将含有粘着剂的溶剂进行涂布干燥而形成。

17.如权利要求15或16所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其中，在载体膜的层积于光学功能膜所露出的粘着层的面实施脱模处理。

18.如权利要求15或16中任一项所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其中，光学膜层积体生成装置还包括有：在光学功能膜的非粘着层侧的面上可自由剥离地层积表面保护膜的表面保护膜层积装置。

19.如权利要求15或16中任一项所述的连续带状形态且具有切割线的光学膜层积体的连续卷筒的制造装置，其中，检查装置，包含有下述检查装置的其中之一或这些装置的组合：

通过反射光而来检查光学功能膜的表面的第一检查装置、

使光源照射的光透射来将光学功能膜内部存在的缺陷作为阴影而检测出的第二检查装置、

将光学功能膜与偏光滤光片的吸收轴以正交偏光方式配置，将来自光源的光照射于光学功能膜与偏光滤光片，通过观察透射的光，将光学功能膜内部存在的缺陷作为亮点来检测的第三检查装置。

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