TWI341945B - - Google Patents

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TWI341945B
TWI341945B TW098112322A TW98112322A TWI341945B TW I341945 B TWI341945 B TW I341945B TW 098112322 A TW098112322 A TW 098112322A TW 98112322 A TW98112322 A TW 98112322A TW I341945 B TWI341945 B TW I341945B
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TW
Taiwan
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liquid crystal
film
sheet
crystal panel
bonding
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TW098112322A
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TW201005372A (en
Inventor
Kouji Kimura
Takayoshi Yamano
Takuya Nakazono
Kazuo Kitada
Tomokazu Yura
Fumihito Shimanoe
Satoru Koshio
Original Assignee
Nitto Denko Corp
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Description

1341945 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關針對形成預定尺寸的液晶面板,至少包 含有:包含具有對應該液晶面板寬度的寬度之黏著層的偏 光薄膜,及可自由剝離地層疊在該黏著層上的載體薄膜所 成的光薄膜的連續帶狀體上,根據偏光薄膜的事先檢查所 偵測出的缺點位置來決定含缺點的不良薄片切斷位置及不 含缺點的正常薄片切斷位置,從該等不良薄片切斷位置及 正常薄片切斷位置的相關切斷位置資訊作爲代碼資訊加以 記錄之光薄膜的連續帶狀體,將形成對應液晶面板尺寸的 偏光薄膜的薄片貼合在液晶面板的液晶顯示元件的液晶顯 示元件之連續製造方法及裝置。 【先前技術】 液晶面板w採畫面尺寸爲對角42吋的大型電視用的 ^液晶面板爲例時,如第2圖表示,以縱(540〜560 ) mmx 橫( 950〜970) mmx厚度0.7mm( 700"m)左右的矩形玻 璃基板,配置有透明電極與濾色片等的5//m左右的液晶 層LY所構成,形成層狀的面板。因此,液晶面板W本身 的厚度爲1 jmm ( 1400 /z m )左右。液晶顯示元件在其液 晶面板W的表面側(視覺側)與內面側(背光側)分別 貼合一般通稱名爲「偏光板」的偏光薄膜的薄片11’藉此 所生成。薄片11’是如第1圖(使用前)表示從層疊構造 的可撓性光薄膜的連續帶狀體1〇所包含的偏光薄膜11,
-5- 1341945 如第1圖(使用後)及第2圖表示成形爲縱(5 20〜540 ) mmx橫(930~95 0 ) mm的矩形薄片11’。 另一方面,貼合在液晶面板W的偏光薄膜的薄片n’ 使用的光薄膜的連續帶狀體i ϋ典型爲包含:偏光薄膜 11:具有黏著面的表面保護膜13;及載體薄膜14所成層 疊構造的可撓性薄膜。偏光薄膜11通常是在兩面層疊有 保護膜的偏光片連續層的一面’形成有貼合在液晶面板W 的丙烯酸系的黏著層12具有偏光功能的薄膜。載體薄膜 14爲具有保護偏光薄膜11露出狀態的黏著層12的薄膜 ,可自由剝離地層疊在該黏著層12。偏光薄膜11例如是 經以下的步驟所生成。首先,以碘將5〇〜80#m厚左右的 PVA (聚乙烯醇系)薄膜染色後進行交聯處理,對該PVA 薄膜施以朝著縱或橫向延伸的定向處理’藉此生成20~30 厚的偏光片的連續層。此一結果是在與該PVA薄膜 延伸方向的平行方向排列碘配位基,藉此吸收具有此一方 向振動的偏光,其結果,形成與延伸方向平行的方向具有 吸收軸的偏光片。並且,爲了製作除具有優異的均一性及 精度外,並具有優異光學特性的偏光片,該PVA薄膜的 延伸方向以和薄膜的縱向或橫向一致爲佳。因此’ 一般’ 偏光片或包含偏光片的光薄膜的吸收軸是和連續帶狀體的 長方向平行,偏光軸是形成和其垂直的橫向。接著’在所 生成的偏光片連續層的單面或兩面藉黏著劑層疊保護膜° 最後,在層疊著保護膜的偏光片連續層的一面’形成貼合 在液晶面板W的丙烯酸系的黏著層1 2。保護偏光片連續 -6- k 1341945 層的保護膜一般多使用40〜80/zm厚左右的透明TAC (三 乙酸纖維系)薄膜。再者,偏光片的連續層以下簡稱爲「 偏光片」。 另外,根據包含液晶顯示元件的平面·面板顯示元件
的偏光薄膜(FPD Polarizing Films)有關的 “SEMI Draft Document”用語的定義時,對應使用於液晶顯示元件之光 薄膜的「偏光薄膜構成薄膜•層」的用語爲“Films and layer composing polarizing films” 。如此一來,第 I 圖( 使用前)的偏光薄膜 11是相當於"films composing polarizing films” 。從偏光薄膜1 1成型爲矩形的第1圖 (使用後)的偏光薄膜的薄片11’是相當於“ polarizing films” ’因此從通稱的「偏光板」以使用「偏光薄膜的 薄片」爲佳。以下,貼合在單面或雙面層疊有保護膜的偏 光片(polarizer )之液晶面板 W的一面形成有黏著層的 薄膜稱爲偏光薄膜’將通稱爲「偏光板」的偏光薄膜成型 φ爲矩形的薄片稱爲「偏光薄膜的薄片」或僅單爲「薄片」 。並且’從和表面保護膜及載體薄膜一體的偏光薄膜形成 薄片的場合’必須將該薄片與「偏光薄膜的薄片」區別的 場合’將此稱爲「光薄膜的薄片」,其中所包含的表面保 護膜或載體薄膜所成型的薄片則稱之爲「表面保護膜的薄 片」或「載體薄膜的薄片」。 偏光薄膜11的厚度通常爲ll〇~220//m左右。偏光 薄膜11通常是由:厚度爲20〜30;zm左右的偏光片;層 疊在該偏光片兩面的場合厚度形成爲80〜160//m左右的 v 1341945 保護膜;及形成在貼合於液晶面板w的偏光片一面的厚 度爲10〜3 O/zm左右的黏著層12所構成。偏光薄膜11在 液晶面板W的表面側與內面側藉黏著層1 2貼合使各偏光 軸的交义角形成y〇:。因此,例如在製造畫曲_尺寸爲對角 42吋的大型電視用液晶顯示元件的場合,液晶面板的厚 度爲1400 #m左右,偏光薄膜11的厚度爲110〜220 //m ,因此液晶顯示元件整體的厚度是形成1 620〜1 840 /zm左 右。即便如此,液晶顯示元件的厚度在2.0mm以下。此 時,具有液晶顯示元件厚度的液晶面板W和薄片1 1 ’厚度 的比例爲1 〇對1 . 5〜3左右。從液晶顯示元件薄型化的觀 點來看,使用僅偏振片的一面貼合有保護膜,另一面形成 有黏著層12的偏光薄膜11的場合,偏光薄膜11本身的 厚度可形成薄至7〇~ 140 # m厚度爲止,因此所製造液晶 顯示元件整體的厚度形成1540〜1680# m左右,液晶面板 W和薄片1 1 ’的厚度比例也是1 0對1 ~2左右。 使用於液晶顯示元件的光學膜的連續帶狀體1〇是如 第1圖(使用前)表示。槪略說明含製造步驟的光學膜的 連續帶狀體10的構造時,不具偏光薄膜Π的黏著層的面 上,層疊有可自由剝離之黏著面的60〜70# m厚度左右的 表面保護膜1 3,形成在貼合於液晶面板W的面的偏光薄 膜11的黏著層12上,層疊有可自由剝離之具有保護該黏 著層12的功能的載體薄膜14。表面保護膜13及載體薄 膜14通常是使用PET (聚對苯二甲酸乙二醇酯系)薄膜 。載體薄膜14通常在液晶顯示元件的製造步驟中除了保 -8 - 1341945 護黏著層12之外,並可作爲偏光薄膜11的搬運媒體(載 體)。以下,稱此爲「載體薄膜」。 表面保護膜13及載體薄膜14至液晶顯示元件之製造 最終步驟爲止皆是被剝離除去的所謂製造步驟材料,丨吏 於液晶顯不兀件的製造步驟中,保護偏光薄膜11不i黏 著層的面不致污染或受損,或者保護黏著層露出的面的薄 膜。
偏光薄膜11可以將保護偏光片用的其中之一保護膜 置換成使用環烯烴系聚合物或TAC系聚合物等的具有# 學補償功能的相位差薄膜。並且,TAC系等的透明基材上 塗抹/定向聚醋系或聚酿亞fee系等的聚合物材料,也可以 賦予固定化後的層。且貼合在液晶顯示元件的背光側的偏 光薄膜也可以在偏光片的背光側的保護膜上貼合提升輝度 薄膜附加功能。除此之外,在偏光件的一面貼合TAC薄 膜,另一面貼合PET薄膜等,針對偏光薄膜11的構造提 出種種的變化。 在偏光片的單面或雙面層疊有保護膜,未形成有貼合 於液晶面板W用之黏著層的偏光薄膜110上形成該黏著 層的方法之一是在貼合於偏光薄膜110的液晶面板W的 面上層疊形成可轉印黏著層的載體薄膜14的方法。具體 的轉印方法是如以下說明。首先,在載體薄膜14的製造 步驟中,對層疊在貼合於偏光薄膜1 1 0的液晶面板面上之 載體薄膜的一面施以脫模處理,其面上塗抹含黏著劑的溶 劑,藉著該溶劑的乾燥在載體薄膜14上生成黏著層。接 -9 - TT41945 著,例如將包含生成後之黏著層的載體薄膜14 ,層疊在與此同樣送出的偏光薄膜110上,藉此 膜14的黏著層轉印至偏光薄膜110形成黏著層 所形成黏著層的取代上:當然齿可以在貼合偏光 的液晶面板的面上直接塗抹含黏著劑的溶劑使其 黏著層12。 表面保護膜13通常具有黏著面。該黏著面 膜U的黏著層12不同,在液晶顯示元件的製造 從偏光薄膜的薄片1 1 ’剝離除去表面保護膜的薄 示)時,必須將表面保護膜的薄片成一體剝離。 和偏光薄膜的薄片11’一體成形的表面保護膜的 護使偏光薄膜的薄片11’不具黏著層12的面不 或損傷等的薄片,而不是轉印在其面上的黏著面 第1圖(使用後)的圖是表示剝離除去表面保護 的狀態。另外追加說明時,不論是否在偏光薄膜 表面保護膜1 3,也可以在偏光薄膜1 1表側的保 上,施以保護液晶顯示元件最外面的硬塗層處理 含抗眩處理之防眩等效果的表面處理。 但是,液晶顯示元件的功能中,液晶分子的 和偏光片的偏光方向是緊密相關聯著。液晶顯示 是首先將使用TN ( Twisted Nematic )型液晶的 晶顯示裝置)予以實用化,隨後乃至使用 VA Alignment )型液晶、IPS ( Inplane Switching ) 的LCD予以實用化。雖省略技術性說明,但是值 連續送出 將載體薄 1 2。上述 薄膜1 1 〇 乾燥形成 與偏光薄 步驟中, 片(未圖 iS胃由方令 薄片是保 致被污染 。並且, 膜的薄片 1 1層疊 護膜表面 或可獲得 定向方向 元件技術 LCD (液 (Vertical 型液晶等 ί用TN型 -10-
1341945 液晶面板的LCD中,液晶分子是以配 璃基板GS內側面之各個摩擦方向具有 ,以90°扭轉的狀態配列於光軸方向夾 垂直排列在定向膜。但是,從顯示畫面 像時,辨識側定向膜的摩擦方向必須死 向膜的摩擦方向爲135°)。因此,配合 晶面板的表面側與內面側的偏光薄膜月 偏光片的偏光方向也必須對顯示畫面 4 5 °方向傾斜。 爲此,製造TN型液晶面板的液| 的偏光薄膜的薄片是配合TN型液晶3 其相對於朝著偏光片的縱或橫向延伸的 或短邊方向爲45°方向,必須在朝著縱 處理後的偏光片上層疊保護膜,並將包 面形成有黏著層的偏光薄膜的光薄膜, 斷加工以作爲光薄膜的薄片。這是如曰 2003- 1 6 1 93 5號公報(專利文獻1)或 3 6 1 6 8 6 6號公報(專利文獻2 )所示。 片寬度,即薄片的短邊當然是小於連續 總稱爲從光薄膜的連續板以衝切或 光薄膜的薄片,稱爲液晶顯示元件用的 型薄片製造方法及裝置。如上述衝切或 膜的薄片不僅是對包含在光薄膜的表面 偏光薄膜黏著層的露出面的載體薄膜整 置在液晶面板的玻 的上下2片定向膜 持,施加電壓時, 的左右形成相同的 》成45° (另一方定 •此由分別貼合在液 形成之薄片所包含 的縱或橫向配置呈 1顯示元件時所使用 板的大小,且爲使 定向方向形成長邊 或橫向延伸的定向 含貼合液晶面板的 衝切成矩形或者切 本特開 者曰本發明專利第 加工成矩形的的薄 板寬度。 切斷加工成矩形的 逐片型薄片或逐片 切斷加工後之光薄 保護膜,並將保護 個一體衝切或切斷 -11 - 1341945 加工所成。一體衝切或切斷加工後載體薄膜的薄片稱爲脫 模用薄膜之剝離片應較之稱爲載體薄膜的薄片適當。因此 ,液晶顯示元件的製造步驟,首先,包含將剝離片從光薄 ΑΛ-» Ttar I_L.ΐίι Λ=^ 、『/ "rt*: IWSf -rtfc LL- Λ “ «U rfeir 两 AA rl- xw 肢口得n水两e 1夂路山ί肺兀辟朕蹲n 口'J柏有膊tTJ少称 ° 伎有 ,在露出黏著層的薄片上不論是否層疊表面保護膜的薄片 ,該薄片是例如一片一片地吸附搬運貼合在液晶面板上。 如上述在製造液晶顯示元件的場合,由光薄膜的連續片一 體衝切或切斷加工後之光薄膜的薄片必須是撓曲或翹曲小 ,容易搬運和貼合,且具有某程度剛性的四邊整形的逐片 型薄片。液晶顯示元件製造的初期階段中,該光薄膜的薄 片或該薄片所包含的偏光薄膜的薄片一般是稱「偏光板」 ,即使現在仍是其通稱名。 TN型的液晶顯示元件製造中,使光薄膜的層疊體捲 所送出的光薄膜朝送出方向的橫向,進行一體連續衝切或 切斷加工藉以成形光薄膜的薄片。該薄片也包含同時成形 的偏光薄膜的薄片。但是,此時在連續著衝切或者切斷加 工步驟的步驟中,由於成形後的薄片在其狀態下連續地貼 合在液晶面板上不能進行液晶顯示元件的精加工。這是由 於成形後的薄片不能以相同的姿勢連續貼合在液晶面板上 ,使得長邊或短邊的方向相對於偏光片之縱或橫向延伸的 定向方向(即,成形前的光薄膜的送出方向)形成45°方 向的原因。從專利文獻1或2可得知,偏光薄膜的薄片供 應至與液晶面板的貼合位置,貼合在液晶面板對液晶顯示 元件進行精加工時,將比液晶面板的長邊寬度寬的光薄膜 -12- 1341945 朝著長方向送出,使得一片一片的薄片,例如以模 個光薄膜長方向朝著45°方向進行衝切加工,適當 晶面板的貼合步驟。或者將相當寬之寬度的光薄膜 片對長方向朝著45°事先進行衝切或切斷加工,可 形後的一片薄片作爲長型的光薄膜使用,或者將成 一片一片的薄片連結成薄膜狀以作爲長型光薄膜使 利文獻3所示,由具有上述液晶面板寬度的光薄膜 片的步驟中,連續送出光薄膜,並對其送出的方向 向切斷成形爲所需長度的薄片,貼合在依序送來包 薄片之偏光薄膜的薄片的液晶面板W上,進行液 元件的精加工。該等的方法都不脫離逐片型薄片製 域。 專利文獻3是揭示在VA型液晶或IPS型液晶 化以前,一邊連續供應包含偏光薄膜的光薄膜一邊 爲所需長度的薄片依序貼合在液晶面板生成液晶面 置的日本特公昭62- 1 48 1 0號公報。在此揭示一種 離片的載體功能連續送出包含偏光薄膜(同文獻稱 型偏光板」)和保護偏光薄膜的黏著層之剝離片的 (同文獻稱爲「偏光板帶」),形成「殘留剝離片 切斷偏光板4和黏著劑層5 (以下稱半切斷)」, 途所切斷的薄片的缺點部分,最後將殘留在剝離片 持續從剝離片剝離,在構成電子計算機等小型顯示 液晶面板(同文獻稱爲「液晶單元」)上,連續貼 後的薄片精加工成「層疊偏振薄膜和液晶片後的製 具對整 供應液 的連續 以此成 形後的 用的專 成形薄 朝著橫 含於該 晶顯示 造的領 等實用 將成形 板的裝 藉著剝 爲「長 光薄膜 6,僅 除去中 的薄片 畫面的 合剝離 品」。 -13- 1341945 該裝置是製造使用TN型液晶之LCD的貼標籤裝置。所使 用光薄膜當然是必須是由相當寬之寬度的光薄膜配合液晶 面板寬度朝著45°方向進行切斷加工後的一片長型的光薄 膜的薄片,或者一片一片光薄膜的薄片連結成薄膜狀長型 的光薄膜的薄片。因此,該裝置是以配合液晶面板寬度使 用對偏光薄膜的延伸方向成45°方向進行切斷加工後的一 片長型薄片爲前提,因此由層疊構造的光薄膜連續成形偏 光薄膜的薄片,貼合在使用VA型液晶或IPS型液晶的液 晶面板作爲液晶顯示元件的製造裝置上,並不能直接地應 用。 針對使用逐片型薄片的液晶顯示元件之製造的自動化 說明時,槪略如以下說明。光薄膜的製造步驟中,事先由 檢查有無缺點之包含偏光薄膜的光薄膜的連續片,生成矩 形的逐片型薄片。生成後缺點檢查完成的逐片型薄片被複 數片匯集後送至液晶顯示元件的製造步驟。所送入的逐片 型薄片一般是藉著手動作業重新收納於逐片型薄片用匣內 。收納後的逐片型薄片是層疊至少包含黏著層的偏光薄膜 的薄片與保護該黏著層露出面的剝離片的薄片。收納逐片 型薄片的匣被組入於液晶顯示元件的製造步驟。同樣從收 納有組入製造步驟的液晶面板的液晶面板用匣各取出一片 液晶面板,經清洗/硏磨步驟後搬運。與其液晶面板傳送 同步,藉著吸附搬運裝置將逐片型薄片從逐片型薄片用匣 各取出1片。將取出後的逐片型薄片剝離剝離片’露出薄 片的黏著層。如上述,使用逐片型薄片製造液晶顯示元件 -14- 1341945 的場合,必須每逐片型薄片剝離剝離片。接著使露出黏著 層的逐片型薄片與液晶面板的貼合位置吸附搬運。將搬運 後的逐片型薄片貼合在液晶面板一方的面上,連續地製造 液晶顯示元件。此一方法是例如日本特開2002-23151號 公報(專利文獻4)所掲示。可撓性的逐片型薄片由於端 部的彎曲或垂直等,容易產生撓曲或翹曲,對於和液晶面 板的定位或貼合的精度或速度會造成大的技術性障礙。因 此,逐片型薄片應採對吸附搬運或液晶面板的定位或貼合 容易,追求某程度的厚度與剛性。例如,日本特開 2 004- 1 449 1 3號公報(專利文獻5 )、日本特開 2〇05 -2982〇8號公報(專利文獻6 )或者日本特開 2006-58411號公報(專利文獻7)所揭示,著眼於上述之 技術性課題努力硏創所得。 相對於此,VA型液晶或IPS型液晶面板液晶分子並 非配列成扭轉的狀態。因此,使用該等液晶面板製造液晶 顯示元件的場合,從液晶定向狀態所獲得的視野角特性, 如使用TN型液晶面板的場合,不須使偏光薄膜的偏光方 向相對於液晶顯示元件的長邊或短邊的方向呈45°方向。 使用該等液晶面板的液晶顯示元件是使得薄片的偏光方向 分別與液晶面板的表面側與內面側呈9 0 °不同的方向,貼 合著薄片的元件。VA型液晶或IPS型液晶面板中考慮視 角特性的場合,薄片的偏光軸方向是表示最大反差的方向 ’從視角特性的對稱性與辨識性的技術性觀點來看,薄片 的光學軸是以對液晶面板的縱或橫向成平行爲佳。亦即, •15- 1341945 貼合在該等液晶面板的薄片具有連續送出包含朝著縱或橫 向延伸處理後之偏光薄膜的光薄膜,相對於該光薄膜的送 出方向朝著橫向切斷,可藉此連續成形包含具有和光薄膜 /-A-r t.r-f I—ΓΤ r-&r^ r-^e- 1.. fcZ, 、t, τΜΤ r*-*·· -f-Λ- »1 XL t-r- τΤ/ -rf-tr- r_r_ Α-Λτ nut 見S怕W見皮乙俩兀得朕叼溥/T的祀形搏斤寺衍M ° 並且另一方面,使用於大型電視用的顯示元件的液晶 從提高視野角特性的觀點來看,從TN型液晶變換成VA 型液晶或IPS型液晶。至今爲止以TN型液晶製作之顯示 元件不得不藉逐片型薄片製造獲得已如說明。從製品精度 及製造速度兩面的界限,有著使得藉著該方法的生產效率 更爲提升困難的狀況。如對此技術開發環境未曾變化的曰 本專利特開2004-36 1 74 1號公報(專利文獻8 )所示,連 續送出光薄膜配合液晶面板的大小進行切斷加工,將包含 切斷加工後的偏光薄膜的薄片的矩形薄片連續黏合在液晶 面板的發明等,也曾有以提高生產效率的 VA型液晶或 IPS型液晶面板爲前提的提案。 本發明的課題與聯想是如後述,具有和根據上述VA 型液晶或IPS型液晶等與TN型液晶不同原理製造液晶顯 示元件有著密不可分的關係。 但是,由於具有如以下的技術性課題,液晶顯示元件 的製造依然是以逐片型薄片製造爲主流的狀態。液晶顯示 元件的製造之重要技術性課題在於事先確認所製造顯示元 件的缺陷,不產生不良品。如此一來,可跳躍式提升製造 的良率。多數的缺陷主要是起因於包含在光薄膜的偏光薄 膜內在的缺點。但是,以完全除去包含在所層疊的各個薄 -16- 1341945 膜的缺點的狀態提供光薄膜並不一定可獲得實現。這是由 於在調查構成所有未形成有黏著層的偏光薄膜的偏光片與 層疊在該偏光片的保護膜及形成在偏光薄膜的黏著層時, 包含偏光片的PVA薄膜本身內在的缺點,或隨著保護膜 層疊在偏光片所產生的缺點’或形成後之偏光薄膜的黏著 層產生的缺點,其明顯有著偏光薄膜每l,000m達到 2 0〜2 0 0處之種種形態的缺點的分布,因此在此現狀下, 製造無缺點的光薄膜極爲困難。其另一方面,即使稍有可 辨識的傷或缺陷而將包含該傷或缺點的光薄膜的薄片作爲 電視用的薄片,從液晶顯示元件本身品質維持的觀點而言 並不被容許。由偏光薄膜所成型的薄片長邊設定爲大約 1 m左右時,如事先不能排除缺陷部位的場合,則以單純 的計算,所製造的液晶顯示元件每1,000個會產生包含及 於20〜200個缺陷之不良品的產生。 因此,現狀中,不存在有區分爲矩形缺點的正常區域 爲了適當迴避內存在有區分爲相同矩形缺點的不良區域, 從偏光薄膜衝切或切斷加工成正常品的薄片(以下,稱「 正常薄片」)。並且不良區域是衝切或切斷加工爲不良品 的薄片(以下,稱「不良薄片」),成型爲矩形的不良薄 片只有在隨後的步驟加以區分排出加以處置之外別無他法 〇 本申請人,例如日本特許第3 974400號公報(專利文 獻9 )、特開200 5-62 1 65號公報(專利文獻10 )、或特 開2007-64989號公報(專利文獻η )所示,曾提出偏光 -17- 1341945 薄膜的事先檢查裝置。這些提案,是關於以製造逐片型薄 片爲前提的裝置,主要包含以下2個製造歩驟。在第1步 驟,首先,檢查連續供應的偏光薄膜內存在的缺陷,將所 偵測出的缺陷位置或座標實施影像處埋,將影像處埋所得 的資訊編碼,接著藉由記錄裝置,在逐片型薄片的製造中 將偏光薄膜衝切成逐片型薄片時所殘留的偏光薄膜的切屑 或端部上直接列印編碼資訊後的資訊,暫時捲取而生成捲 體的步驟。第2個步驟是裝上暫時捲取的捲體,藉由讀取 裝置來讀取從該捲體送出的偏光薄膜上所列印的編碼資訊 ,根據判定良窳的結果在缺陷部位利用標記器劃上標記的 步驟:而在其後段步驟中,從偏光薄膜衝切成逐片型薄片 的步驟,是根據事先劃上的標記,來區分實施衝切或切斷 加工後的逐片型薄片是正常品或不良品。這些步驟,是爲 了提昇製造逐片型薄片時的良率不可或缺的技術手段。 附帶一提,在專利文獻9或11是將偏光薄膜稱爲「 薄片狀成形體」,而例示出「例如,偏光薄膜、相位差薄 膜、有機EL用塑膠薄片、液晶單元用塑膠薄片、太陽電 池基板用塑膠薄片」,在該文獻的第1(a) (b)圖所示 的實施例是包含在偏光子的兩面積層保護薄膜而構成的偏 光薄膜,在此之被施以衝切的薄片也稱爲「製品」。另外 ,專利文獻1 〇所例示的偏光薄膜是稱爲「偏光板原板」 ,同樣的被施以衝切後的稱爲「薄片狀製品」。 更具體的說,在該等專利文獻記載著以下的點,藉由 事先檢查裝置來偵測「薄片成形體」或「偏光板原板」所 -18- 1341945 含的缺陷的位置或座標’將偵測的資訊編碼。以在從「薄 片成形體」或「偏光板原板」衝切成「製品」或「薄片狀 製品」時可由讀取裝置讀取的方式,藉由記錄裝置將事先 ' 編碼的資訊列印在「薄片成形體」或「偏光板原板」而生 • 成捲體爲第]步驟。在該等專利文獻進一步記載著有別於 第1製造步驟之裝入捲體的「薄片成形體」或「偏光板原 板」的第2製造步驟’該製造步驟,包括:根據讀取裝置 |所讀取的編碼資訊,在「薄片成形體」或「偏光板原板」 的缺陷的位置或座標直接劃上標記的步驟,在隨後的步驟 中’經由從所生成的捲體送出而衝切「薄片成形體」或「 偏光板原板」的步驟’區分衝切後的「薄片成形體」或「 偏光板原板」的「製品」或「薄片狀製品」是正常品或不 良品的步驟。 然而,應注意:以對應於依序搬運的複數個液晶面板 而供應包含偏光薄膜之光學薄膜,在該光學薄膜的供應中 I ,從該光學薄膜保留載體薄膜而利用切入線將包含黏著層 之偏光薄膜切斷成一定尺寸後,將切斷後的偏光薄膜的薄 片黏貼在液晶面板的一方面上生成液晶顯示元件的本發明 爲目標之液晶顯示元件之連續製造方法及裝置,與事先從 . 光學薄膜的連續帶狀體形成爲複數片的逐片型,將該等再 度放入液晶顯示元件的製造步驟中貼合在液晶面板的到現 在爲止的液晶顯示元件之製造方法及裝置是完全不同。 在利用薄片的連續成形來連續製造出液晶顯示元件的 情況,必須另外具備以下的技術手段:亦即,在從包含偏 -19- 1341945 光薄膜之光學薄膜之積層體捲送出光學薄膜的連續帶狀體 的期間,識別根據偏光薄膜所含的缺陷的位置或座標而事 先決定出的不良區域以形成不良偏光薄片,接著將該不良 偏光薄片排除不送到該不良薄片與液晶面板的站合位置。 若在光學薄膜的供應中排除使其不送到不良薄片與液晶面 板不黏合的位置時,光學薄膜的供應當然會中斷。爲了避 免光學薄膜的供應發生中斷,若對偏光薄膜的不良區域置 之不理,發生液晶顯示元件的不良品是難以避免的,其結 果,爲了維持製造速度,則不得不犧牲製品良率的提升。 這是本發明所要解决的技術課題之一。 本申請人,在日本特開2007-140046號公報(專利文 獻12)提出一種製造方法,將從光學薄膜之積層體捲連 續送出的光學薄膜(該文獻稱爲「偏光板原板」)所包含 的載體薄膜(該文獻稱爲「脫膜薄膜」)剝離使包含黏著 層的偏光薄膜(該文獻稱爲「偏光板」)露出,在偵測偏 光薄膜內存在的缺陷後,以保留偏光薄膜缺陷部位的狀態 ,避開缺陷部位,僅將偏光薄膜的正常區域衝切或切斷加 工成矩形,將衝切或裁斷加工後的正常薄片(該文獻稱爲 「薄片狀製品」)利用其他的搬運媒體移送至液晶面板的 貼合站。然而該技術並無法實現將光學薄膜的連續帶狀體 所形成的偏光薄膜的正常偏光薄片利用載體薄膜搬運至其 與液晶面板的貼合站。該技術一旦將裁斷加工後的逐片型 薄片貼合在其他的搬運媒體並移送到與液晶面板的貼合站 時仍是屬於逐片型薄片之製造範圍的液晶顯示元件的製造 -20- 1341945 方法。 另外,本申請人在日本特願2007-26 62 00號提出:第 4圖所示的偏光薄膜的薄片貼合在液晶面板的方法及裝置 的相關發明。其爲包含具有以下步驟的液晶顯示元件的製 造方法及裝置》該方法,首先包含剝離第1載體薄膜(保 護光學薄膜所含的偏光薄膜的黏著層)的步驟。該方法, 進一步包含:事先檢查含有黏著層(因剝離第1載體薄膜 而變成露出狀態)的偏光薄膜內存在的缺陷之步驟:在該 步驟之後,供應第2載體薄膜,在露出狀態的偏光薄膜的 黏著層上以可自由剝離的方式積層第2載體薄膜而再度對 黏著層賦予保護的步驟,藉此維持包含偏光薄膜之光學薄 膜的連續供應。接著,該方法,切斷站中,具有:以分別 對應於偏光薄膜的含有缺陷的不良區域和不含缺陷的正常 區域(根據偏光薄膜內存在的缺陷的檢查結果來決定)的 方式,在光學薄膜的連續帶狀體之進給方向的上游側及下 游側的2處形成切入線(相對於該連續帶狀體的進給方向 是沿著橫方向,且深度到達第2載體薄膜表面),在將形 成於2處的切入線之間不良偏光薄片及正常偏光薄片和依 序送入的液晶面板進行貼合的步驟之前’從第2載體薄膜 僅將不良偏光薄片自動排除的步驟’以及’僅將保留在第 2載體薄膜上的正常偏光薄片藉由第2載體薄膜移送到其 與液晶面板的貼合站的步驟。該方法最後是包含:藉由剝 離第2載體薄膜,將剝離後的正常偏光薄片貼合於液晶面 板的一面的步驟。這是一個劃時代的發明’可從逐片型薄 -21 - 1341945 片的製造(將事先成形出的逐片型薄片貼合於液晶面板) 轉換成連續型偏光薄片的製造(將偏光薄片連續地成形而 貼合於在液晶面板)。 s-fr. T7SC. rtn t^.r^ .VU Χ4- Α£Τ =〇〇 Ο* c=l rT\ —^ c=3 Rtdto *rt3 » I · ·、· 联毁明m安w ίχ; ί又w杯越’定场」兵遐員:%m以 Γ 的技術手段,亦即,在光學薄膜的連續帶狀體之進給方向 的上游側和下游側的2處形成切入線(相對於帶狀體的進 給方向是沿著橫方向,且深度到達載體薄膜的表面),而 在保留成未切斷之載體薄膜上形成與事先決定出的偏光薄 膜的不良區域和正常區域對應之不良偏光薄片和正常偏光 薄片,並從該載體薄膜上僅將不良偏光薄片自動排除。結 果所採用的解決手段是包含以下步驟:爲了決定偏光薄膜 的不良區域和正常區域而進行事先檢查,從光學薄膜的連 續帶狀體將製造液晶顯示元件的製造過程材料之載體薄膜 、表面保護薄膜暫時剝離的步驟;在事先檢查後,將代替 載體薄膜、代替表面保護薄膜再度積層於光學薄膜的連續 帶狀體上的步驟。該等步驟,是在液晶顯示元件的製造過 程中,爲了保護偏光薄膜的黏著層、表面而避免其露出所 必須的步驟。然而,這些必須步驟,不僅會使所形成的正 常偏光薄片對於液晶面板的貼合方法或裝置全體變得相當 複雜,且步驟數目增多,每個步驟的控制變困難,當然會 犧牲製造速度。 本發明是以前述相關聯發明爲基礎,爲了大幅提昇製 造液晶顯示元件時的製品精度及製造速度且徹底改善製品 良率而進行深入探討所開發完成的。 -22- 1341945 專利文獻1:日本特開2003-161935號公報 專利文獻2:日本特許第3616866號公報 專利文獻3 :日本特公昭62- 1 48 1 0號公報 專利文獻4:日本特開2002-23151號公報 專利文獻5:日本特開2004-144913號公報 專利文獻6:日本特開2005-298208號公報 專利文獻7:日本特開2006-58411號公報 專利文獻8:日本特開2004-361741號公報 專利文獻9:日本特許第3974400號公報 專利文獻1 0 :日本特開2 0 0 5 - 62 1 6 5號公報 專利文獻1 1 :日本特開2007-64989號公報 專利文獻12:日本特開2007-140046號公報 【發明內容】 [發明所要解決的課題] 如以上顯示,從液晶定向狀態所獲得的視野角特性, 貼合在液晶面板表面側和內面側面上的偏光薄膜的偏光方 向是相對於形成90°不同方向的液晶面板一邊的方向大致 正確之〇°或者90°的方向,因此在VA型液晶面板或IPS 型液晶面板上,對於液晶面板的長邊或短邊的方向使得偏 光薄膜的偏光方向形成45°方向不致造成必須貼合在液晶 面板的表面側或內面側面之TN型液晶面板特有的技術性 限制。因此,使用VA型液晶面板或IPS型液晶面板的液 晶顯示元件在供應含偏光薄膜的光學薄膜中,將對該光學 -23- 1341945 薄膜的進給方向橫方向切斷所形成的偏光薄膜的薄片連續 地貼合在液晶面板上,可藉此進行連續製造。並且,含偏 光薄膜之光學薄膜的供應中,該光學薄膜的供應不會中斷 ,分別形成包含於該光學薄膜之偏光薄膜的事先檢查所偵 測之包含缺陷的不良薄片及不含缺陷的正常薄片,僅將其 中的正常薄片供應與液晶面板的貼合站,因此,只要貼合 在液晶面板,可藉此生成液晶顯示元件時,可跳躍式提升 液晶顯示元件製造的製品精度及製造速度,可大幅度改善 製品的良率。 本發明是如後述,對形成預定尺寸的液晶面板,包含 具有對應該液晶面板寬度的寬度之黏著層的偏光薄膜和至 少包含可剝離自如積層在該黏著層之載體薄膜的光學薄膜 的連續帶狀體上,根據偏光薄膜的事先檢查所偵測出的缺 陷的位置,決定以包含缺陷的不良薄片的不良薄片切斷位 置和不包含缺陷的正常薄片切斷位置作爲朝著光學薄膜的 連續帶狀體寬度方向延伸的線,從以該等不良薄片切斷位 置及正常薄片切斷位置相關聯的切斷位置資訊作爲編碼資 訊所記錄的光學薄膜的連續帶狀體,將形成對應液晶面板 尺寸的偏光薄膜的薄片貼合在液晶面板而成液晶顯示元件 的液晶顯示元件的連續製造中,將上述光學薄膜的連續帶 狀體一邊朝向貼合站連續地送出,一邊計測該連續帶狀體 的送出量並根據該送出量算出測長資料,讀取記錄在該連 續帶狀體上的編碼資訊,在該連續帶狀體所決定的切斷位 置到達切斷站時,對於該連續帶狀體根據編碼資訊與測長 -24- 1341945 資料,從載體薄膜的相反側沿著該切斷位置到達載體薄膜 的黏著層側的面的深度爲止,進行切入以形成切入線,在 依序形成於該連續帶狀體的切入線之間所形成的偏光薄膜 的薄片,根據該編碼資訊來決定是否爲包含缺陷的不良薄 片或不包含缺陷的正常薄片,是以從依序形成在該連續帶 狀體的切入線之間所形成的偏光薄膜的薄片之中,將判定 爲正常薄片的薄片從載體薄膜剝離送入到貼合站,並與正 常薄片朝貼合站的送入同步供應液晶面板至貼合站,將正 常薄片貼合在液晶面板爲前提。亦即,本案的技術性課題 是提供將包含偏光薄片的光學薄膜的連續帶狀體供應至與 液晶面板的貼合站,上述連續帶狀體的供應中,在切斷位 置從上述連續帶狀體分別連續形成藉上述偏光薄膜的事先 檢查所偵測出之包含缺陷的不良薄片與不包含缺陷的正常 薄片,將所形成的上述不良薄片貼合在液晶面板的手段, 藉以使上述連續帶狀體的供應不中斷的狀態下,即可將所 形成的正常薄片供應至貼合站實現液晶面板的連續貼合。 上述技術性課題的解決,係基於對形成預定尺寸的液 晶面板,在至少包含著含具有對應該液晶面板寬度的寬度 之黏著層的偏光薄膜和可剝離自如地積層在該黏著層上的 載體薄膜的光學薄膜的連續帶狀體上,根據偏光薄膜的事 先檢查所偵測出的缺陷位置以包含缺陷的不良薄片切斷位 置與不包含缺陷的正常薄片切斷位置作爲朝光學薄膜的連 續帶狀體寬度方向延伸的線來決定,將以該等不良薄片切 斷位置及正常薄片切斷位置相關聯的切斷位置資訊作爲編 -25- 1341945 碼資訊加以記錄的光學薄膜的連續帶狀體形成對應液晶面 板的尺寸的偏光薄膜的薄片貼合在液晶面板上形成液晶顯 示元件之液晶顯示元件的連續製造中,朝著貼合站一邊連 續送出上述光學薄膜的連續帶狀體,一邊計滿該連續帶狀 體的送出量並根據該送出量算出測長資料,讀取記錄在該 連續帶狀體上的編碼資訊,在該連續帶狀體所決定的切斷 位置到達切斷站時,該連續帶狀體上,根據編碼資訊與測 長資料從與載體薄膜的相反側沿著該切斷位置到達載體薄 膜的黏著層側的面的深度爲止,進行切入以形成切入線, 在依序形成於該連續帶狀體的切入線之間所形成的偏光薄 膜的薄片,根據該編碼資訊來判定是否爲包含缺陷的不良 薄片或不包含缺陷的正常薄片,以從依序形成在該連續帶 狀體的切入線之間所形成的偏光薄膜的薄片之中,將判定 爲正常薄片的薄片從載體薄膜剝離送入到貼合站,並與正 常薄片朝貼合站的送入同步供應液晶面板至貼合站,將正 常薄片貼合在液晶面板生成液晶顯示元件所構成的知識, 並根據具有以下特徵的發明得以達成。 申請專利範圍第1項所記載發明的方法,係針對形成 預定尺寸的液晶面板,在至少包含著含具有對應該液晶面 板寬度的寬度之黏著層的偏光薄膜和可剝離自如地積層在 該黏著層上的載體薄膜的光學薄膜的連續帶狀體上,根據 上述偏光薄膜的事先檢查所偵測出的缺陷位置來決定包含 缺陷的不良薄片切斷位置與不包含缺陷的正常薄片切斷位 置,將以該等不良薄片切斷位置及正常薄片切斷位置相關 -26- 1341945 聯的切斷位置資訊作爲編碼資訊加以記錄的上述光學薄膜 的連續帶狀體形成對應液晶面板的尺寸的偏光薄膜的薄片 貼合在液晶面板上形成液晶顯示元件的液晶顯示元件之連 續製造方法,其特徵爲,包含:朝著貼合站連續送出上述 光學薄膜的連續帶狀體的步驟;計測該連續帶狀體的送出 量並根據該送出量算出測長資料的步驟;讀取記錄在該連 續帶狀體上的編碼資訊的步驟:在該連續帶狀體所決定的 切斷位置到達切斷站時,該連續帶狀體上,根據編碼資訊 與測長資料從與載體薄膜的相反側沿著該切斷位置到達載 體薄膜的黏著層側的面的深度爲止,進行切入以形成切入 線的步驟;判定依序形成在該連續帶狀體的切入線之間所 形成的偏光薄膜的薄片是否爲包含缺陷的不良薄片或是不 包含缺陷的正常薄片的步驟:從依序形成在該連續帶狀體 的切入線之間所形成的偏光薄膜的薄片之中,將判定爲正 常薄片的薄片從載體薄膜剝離送入到貼合站的步驟;及, 與正常薄片朝貼合站的送入同步供應液晶面板至貼合站, 將正常薄片貼合在液晶面板的步驟。 申請專利範圍第2項所記載發明的方法,其特徵爲: 於申請專利範圍第1項所記載發明的特徵之外,更包含依 序形成在光學薄膜的連續帶狀體的切入線之間所形成偏光 薄膜的薄片之中,判定爲不良薄片的薄片不貼合在液晶面 板的步驟。 申請專利範圍第3項所記載發明的方法,其特徵爲: 於申請專利範圍第1項所記載發明的特徵之外,在貼合站 -27- 1341945 中正常薄片貼合在液晶面板的步驟,更包含使用設置在貼 合站可接離的一對貼合輥,偵測出與液晶面板朝貼合站之 供應同步送入的正常薄片的位置,調整貼合站的正常薄片 和液晶薄片的貼合位置的歩驟,該步驟是調整使朝著分離 後的上述貼合輥的間隙所送入正常薄片的前端和與該正常 薄片的送入同步所供應的液晶面板的前端一致,然後封閉 上述貼合輕’藉此將該正常薄片貼合在該液晶面板上。 申請專利範圍第4項所記載發明的方法,其特徵爲: 於申請專利範圍第2項所記載發明的特徵之外,在貼合位 置中正常薄片貼合在液晶面板的步驟,更包含使用設置在 貼合位置可接離的一對貼合輥,偵測出與液晶面板朝貼合 位置之供應同步送入的正常薄片的位置,調整貼合位置的 正常薄片和液晶薄片的貼合位置的步驟,該步驟是調整使 朝著分離後的上述貼合輥的間隙所送入正常薄片的前端和 與該正常薄片的送入同步所供應的液晶面板的前端一致, 然後封閉上述貼合輥’藉此將該正常薄片貼合在該液晶面 板上。 申請專利範圍第5項所記載發明的方法,其特徵爲: 於申請專利範圍第1項至第4項中任一項所記載發明的特 徵之外’更包含確認對光學薄膜的連續帶狀體實際進行切 入的位置是否與應進行切入的位置一致的切入位置確認步 驟。 申請專利範圍第6項所記載發明的方法,其特徵爲: 於申請專利範圍第5項所記載發明的特徵之外,根據光學 28- 1341945 薄膜的連續帶狀體的進給方向顯示對於該連續帶狀體實際 進行切入的位置和應進行切入的位置之間的偏差量,調整 形成在該連續帶狀體的切入線的位置。 申請專利範圍第7項所記載發明的方法,其特徵爲: 於申請專利範圍第2項所記載發明的特徵之外,判定爲不 良薄片的薄片不貼合在液晶面板的步驟是當形成在光學薄 膜的連續帶狀體的不良薄片到達排除站時,利用貼附不良 薄片的擬薄膜搬運路徑與朝著該擬薄膜搬運路徑來移動該 連續帶狀體的移動輥,藉著該移動輥來移動該連續帶狀體 ,藉以使該不良薄片連續於該擬薄膜搬運路徑而從該連續 帶狀體剝離,貼附在該擬薄膜搬運路徑上。 申請專利範圍第8項所記載發明的方法,其特徵爲: 於申請專利範圍第2項所記載發明的特徵之外,判定爲不 良薄片的薄片不貼合在液晶面板的步驟是當形成在光學薄 膜的連續帶狀體的不良薄片到達設置在貼合站之分離後的 貼合輥的間隙時,利用貼附不良薄片的擬薄膜搬運路徑與 構成該擬薄膜搬運路徑一部分的移動輥,藉著該移動輥的 移動將該移動輥置換成該貼合輥一方的貼合輥,藉以使該 移動輥和該貼合輥另一方的貼合輥連動,將此不良薄片從 該連續帶狀體剝離,貼附在該擬薄膜搬運路徑上。 申請專利範圍第9項所記載發明的方法,其特徵爲: 於申請專利範圍第1項至第4項、第7項、第8項中任一 項所記載發明的特徵之外,更包含將液晶面板事先收容在 收容匣內,從該收容匣依序搬出該液晶面板,將形成在光 -29- 1341945 學薄膜的連續帶狀體的正常薄片送入到貼合站時 常薄片的送入同步,控制供應至貼合站之液晶面 步驟。 • —. - » «.>« » I · · Κ_· _ . _ ·—« · · » · · 甲諝専利軺圍耒 1 u J·貝^rr 戰鼓明的万法, :於申請專利範圍第5項項所記載發明的特徵之 含將液晶面板事先收容在收容匣內,從該收容匣 該液晶面板,將形成在光學薄膜的連續帶狀體的 送入到貼合站時,與該正常薄片的送入同步,控 貼合站之液晶面板姿勢的步驟。 申請專利範圍第1 1項所記載發明的方法, :於申請專利範圍第6項所記載發明的特徵之外 將液晶面板事先收容在收容匣內,從該收容匣依 液晶面板,將形成在光學薄膜的連續帶狀體的正 入到貼合站時,與該正常薄片的送入同步,控制 合站之液晶面板姿勢的步驟。 申請專利範圍第1 2項所記載發明的方法, :於申請專利範圍第9項所記載發明的特徵之外 晶面板的姿勢的步驟是偵測出對光學薄膜的連續 進給方向朝著橫方向延伸的正常薄片前端緣部的 對液晶面板的進給方向朝著橫方向延伸的液晶面 部的位置,根據正常薄片前端緣部的位置資訊和 前端緣部的位置資訊,控制該液晶面板的姿勢。 申請專利範圍第1 3項所記載發明的裝置, 成預定尺寸的液晶面板,在至少包含著含具有對 ,與該正 板姿勢的 其特徵爲 外,更包 依序搬出 正常薄片 制供應至 其特徵爲 ,更包含 序搬出該 常薄片送 供應至貼 其特徵爲 ,控制液 帶狀體的 位置,及 板前端緣 液晶面板 係針對形 應該液晶 -30- 1341945 面板寬度的寬度之黏著層的偏光薄膜和可剝離自如地積層 在該黏著層上的載體薄膜的光學薄膜的連續帶狀體上,根 據上述偏光薄膜的事先檢查所偵測出的缺陷位置來決定包 含缺陷的不良薄片切斷位置與不包含缺陷的正常薄片切斷 位置,將以該等不良薄片切斷位置及正常薄片切斷位置相 關聯的切斷位置資訊作爲編碼資訊加以記錄的上述光學薄 膜的連續帶狀體形成對應液晶面板的尺寸的偏光薄膜的薄 片貼合在液晶面板上形成液晶顯示元件的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其特徵爲,包含:朝貼合站連續送出上述 光學薄膜的連續帶狀體的送出裝置:計測該連續帶狀體的 送出量並根據該送出量算出測長資料的計測裝置;讀取記 錄在該連續帶狀體上的上述編碼資訊的讀取裝置;在該連 續帶狀體所決定的該切斷位置到達切斷站時,該連續帶狀 體上,根據編碼資訊與測長資料從與載體薄膜的相反側沿 著該切斷位置到達載體薄膜的黏著層側的面的深度爲止, 進行切入以形成切入線的切斷裝置:判定依序形成在該連 續帶狀體的切入線之間所形成的偏光薄膜的薄片是否爲包 含缺陷的不良薄片或是不包含缺陷的正常薄片的控制手段 ;從依序形成在該連續帶狀體的切入線之間所形成的偏光 薄膜的薄片之中,將判定爲正常薄片的薄片從載體薄膜剝 離送入到貼合站的剝離裝置:及,與正常薄片朝貼合站的 送入同步供應液晶面板至貼合站,將正常薄片貼合在該液 晶面板的貼合裝置。 申請專利範圍第1 4項所記載發明的裝置,其特徵爲 -31 - J341945 :於申請專利範圍第1 3項所記載發明的特徵之外,更包 含依序形成在光學薄膜的連續帶狀體的切入線之間所形成 偏光薄膜的薄片之中,判定爲不良薄片的薄片不貼合在液 晶面板的不良薄片排除裝置。 申請專利範圍第1 5項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第13項所記載發明的特徵之外,正常 薄片貼合在液晶面板的貼合裝置,更包含設置在貼合站可 接離的一對貼合輥,及偵測出與液晶面板朝貼合站之供應 同步送入的正常薄片的位置,調整貼合站的正常薄片和液 晶薄片的貼合位置的裝置,該裝置是調整使朝著分離後的 該貼合輥的間隙所送入正常薄片的前端和與該正常薄片的 送入同步所供應的液晶面板的前端一致,然後封閉該貼合 輥,藉此將該正常薄片貼合在該液晶面板上。 申請專利範圍第1 6項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第1 4項所記載發明的特徵之外,正常 薄片貼合在液晶面板的貼合裝置,更包含設置在貼合站可 接離的一對貼合輥,及偵測出與液晶面板朝貼合站之供應 同步送入的正常薄片的位置,調整貼合站的正常薄片和液 晶薄片的貼合位置的裝置,該裝置是調整使朝著分離後的 該貼合輥的間隙所送入正常薄片的前端和與該正常薄片的 送入同步所供應的液晶面板的前端一致,然後封閉該貼合 輥,藉此將該正常薄片貼合在該液晶面板上。 申請專利範圍第1 7項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第1 3項至第1 6項中任一項所記載發明 -32- 1341945 的特徵之外,更包含確認對光學薄膜的連續帶狀體實際進 行切入的位置是否與應進行切入的位置一致的切入位置確 認裝置。 申請專利範圍第1 8項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第1 7項所記載發明的特徵之外,切入 位置確認裝置是根據光學薄膜的連續帶狀體的進給方向顯 示對於該連續帶狀體實際進行切入的位置和應進行切入的 位置之間的偏差量控制上述切斷裝置,調整形成在該連續 帶狀體的切入線的位置。 申請專利範圍第1 9項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第14項所記載發明的特徵之外,不良 薄片排除裝置,包含:具有貼附光學薄膜的連續帶狀體所 形成的不良薄片之擬薄膜搬運路徑的擬薄膜驅動裝置與朝 著該擬薄膜搬運路徑移動該連續帶狀體的移動裝置,當不 良薄片到達排除站時,利用該移動裝置來移動該連續帶狀 體’藉以使該不良薄片連續於該擬薄膜搬運路徑而從該連 續帶狀體剝離,貼附在該擬薄膜搬運路徑上。 申請專利範圍第2 0項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第1 4項所記載發明的特徵之外,不良 薄片排除裝置’包含:具有貼附光學薄膜的連續帶狀體所 形成的不良薄片之擬薄膜搬運路徑的擬薄膜驅動裝置與構 成該擬薄膜搬運路徑一部分的移動輥,當不良薄片到達設 置在貼合站之分離後的貼合輥的間隙時,利用該移動輕的 移動將該移動輥置換成該貼合輥一方的輥,藉以使該移動 -33- 1341945 輥和該貼合輥另一方的輥連動,將此不良薄片從該連續帶 狀體剝離,貼附在該擬薄膜搬運路徑上。 申請專利範圍第2 1項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第i 3項至第16項、第i 9項、第20項 中任一項所記載發明的特徵之外,更包含液晶面板搬運裝 置,該液晶面板搬運裝置,是由:事先收容液晶面板的收 容匣;從該收容匣依序搬出該液晶面板的搬出裝置;及將 形成在光學薄膜的連續帶狀體的正常薄片送入到貼合站時 ,與該正常薄片的送入同步,控制供應至貼合站之液晶面 板姿勢的液晶面板姿勢控制裝置所構成。 申請專利範圍第22項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範園第1 7項所記載發明的特徵之外,更包 含液晶面板搬運裝置,該液晶面板搬運裝置,是由:事先 收容液晶面板的收容匣;從該收容匣依序搬出該液晶面板 的搬出裝置:及將形成在光學薄膜的連續帶狀體的正常薄 片送入到貼合站時,與該正常薄片的送入同步,控制供應 至貼合站之液晶面板姿勢的液晶面板姿勢控制裝置所構成 〇 申請專利範圍第2 3項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第18項所記載發明的特徵之外,更包 含液晶面板搬運裝置,該液晶面板搬運裝置,是由:事先 收容液晶面板的收容匣;從該收容匣依序搬出該液晶面板 的搬出裝置;及將形成在光學薄膜的連續帶狀體的正常薄 片送入到貼合站時’與該正常薄片的送入同步,控制供應 -34 - 1341945 至貼合站之液晶面板姿勢的液晶面板姿勢控制裝置所構成 〇 申請專利範圍第24項所記載發明的裝置,其特徵爲 :於申請專利範圍第2 1項所記載發明的特徵之外,液晶 面板姿勢控制裝置,包含:偵測出與光學薄膜的連續帶狀 體的進給方向平行延伸的正常薄片側緣部位置的直線前進 位置偵測裝置;偵測出對該連續帶狀體的進給方向朝著橫 方向延伸之正常薄片的前端緣部位置的前端位置偵測裝置 :偵測出對該液晶面板的進給方向朝著橫方向延伸之液晶 面板的前端緣部位置的液晶面板前端位置偵測裝置;及根 據該等直線前進位置偵測裝置、前端位置偵測裝置及液晶 面板前端位置偵測裝置所算出正常薄片及與液晶面板的側 緣部與前端緣部的位置資訊控制該液晶面板的姿勢的姿勢 控制裝置。 【實施方式】 以下,參照圖式來詳細說明本發明的實施態樣。 1-液晶顯示元件之連續製造裝置及連續製造方法 (液晶顯示元件的連續製造裝置的槪要) 第5圖是顯示液晶顯示元件的連續製造裝置1的槪念 圖,該裝置1’包含:裝設有本發明的液晶顯示元件用的 光學薄膜之積層體捲的光學薄膜供應裝置100'以及讓從 所供應的光學薄膜的連續帶狀體生成的偏光薄片的正常薄 -35- 1341945 片貼合的液晶面板的搬運裝置300。連續製造裝置1,具 有:至少從光學薄膜的連續帶狀體形成偏光薄膜的薄片的 切斷站A ;排除偏光薄膜的不良薄片的排除站C :及將偏 光薄膜的止常薄片貼合在液晶面板的貼合站B,該貼合站 B和該排除站C也可以如後述重複配置。第6圖係顯示, 第5圖所示的製造液晶顯示元件的各製造過程,亦即製造 步驟的流程圖。 光學薄膜供應裝置1 〇〇,具備:將本實施態樣的光學 薄膜之積層體捲10裝設成旋轉自如的支架裝置110;用 來讀取編碼資訊的讀取裝置1 2 0 ;包含進給輥之薄膜供應 裝置13〇;包含用來進行一定速度的薄膜供應之聚積輥之 速度調整裝置140:在切斷站A,沿著相對於光學薄膜的 連續帶狀體的進給方向之橫方向形成從載體薄膜相反側至 深度到達載體薄膜黏著層側的面爲止地切入該連續帶狀體 之切入線的切斷裝置150;確認在同樣切斷站A所形成的 切入線的位置之切斷位置確認裝置1 6 0 ;包含進給輥之薄 膜供應裝置170;包含用來進行一定速度的薄膜供應之聚 積輥之速度調整裝置180;在排除站C,用來將切斷後的 不良薄片從載體薄膜排除之不良薄片排除裝置190;包含 在貼合站B ’用來將切斷後的正常薄片從載體薄膜剝離後 貼合於液晶面板的一對貼合輥的貼合裝置2 0 0 ;用來捲取 載體薄膜之載體薄膜捲取驅動裝置2 1 0 :用來確認相同貼 合站B上偏光薄膜之正常薄片前端的邊緣偵測裝置2 2 〇 ; 及用來偵測形成有包含於光學薄膜的連續帶狀體之切入線 -36- 1341945 的正常薄片的直線前進位置之直線前進位置偵測裝置230 (光學薄膜之積層體捲10的配備) 裝設於光學薄膜的供應裝置1〇〇之本實施態樣的光學 薄膜之積層體捲10,較佳爲具有與貼合的液晶面板的長 邊或短邊大致相同的寬度。如第1圖表示,積層在偏光子 的一面或兩面之保護薄膜較佳爲透明保護薄膜。積層體捲 10是光學薄膜的連續帶狀體所捲繞成之光學薄膜之積層 體捲,該光學薄膜,具備:積層有透明保護薄膜之偏光子 貼合在液晶面板的面上形成有黏著層12之偏光薄膜11; 具有可剝離自如地積層於該偏光薄膜11之未形成黏著層 12的面上之黏著面的表面保護薄膜13;及可剝離自如地 積層於偏光薄膜Π之黏著層12的載體薄膜14。並且, 載體薄膜14,在液晶顯示元件的製造過程中是用來保護 偏光薄膜1 1的黏著層1 2,在和液晶面板貼合前或貼合時 將形成於光學薄膜的連續帶狀體之偏光薄膜的薄片剝離時 ,被捲取除去的脫模薄膜。在本實施態樣中’由於具有將 偏光薄膜11的正常薄片搬運至貼合站B爲止的載體薄膜 的功能,因此在此是採用「載體薄膜」用語。 光學薄膜之積層體捲1〇,是依據以下方式來生成。 另外,隨後會說明光學薄膜的積層體捲丨〇的詳細製造方 法。在積層體捲10的製造過程中’首先,藉由檢查裝置 來偵測,連續送出包含於光學薄膜的偏光薄膜Η內存在 -37- 1341945 的缺陷。根據所偵測出的偏光薄膜11內存在的缺 置或座標來事先決定出第3圖所示之偏光薄膜11 區域和正常區域。在連續送出的光學薄膜上記錄有 置資訊,及按照需要而記錄有用來識別正常區域和 域的識別資訊的資訊。切斷位置資訊是指定光學薄 續帶狀體上應形成切入線的位置之資訊,切入線的 根據偏光薄膜1 1的不良區域和正常區域,在液晶 件的製造過程中,在切斷站A藉由切斷裝置150 薄膜的連續帶狀體沿著相對於進給方向之橫方向, 體薄膜的相反側到達載體薄膜的黏著層側面的深度 切入線依序進入該連續帶狀體。光學薄膜的連續帶 所記錄資訊(包括:切斷位置資訊與按照需要的識 )是和製造批號、捲體公尺數等一起(或是和該等 關聯)進行編碼而得的編碼資訊。編碼資訊較佳爲 連續送出的光學薄膜所包含的載體薄膜14。關於 訊記錄在載體薄膜1 4的態樣,可將儲存著所有必 之1個編碼資訊記錄在1處,亦可將分別儲存著分 之複數個編碼資訊隔著一定間隔(例如間隔1 m 1 〇 〇m等)而進行記錄,亦即能有許多不同的態樣 ,編碼資訊,除了載體薄膜14以外,也能記錄在 護薄膜1 3。不論是在哪個情況,編碼資訊都能由 造裝置1的讀取裝置1 20所讀取。 裝設有光學薄膜之積層體捲10的連續製造裝: 切斷站A中的切斷裝置15〇,在液晶顯示元件的製 陷的位 的不良 切斷位 不良區 膜的連 形成是 顯示元 使光學 且從載 爲止使 狀體上 別資訊 資訊相 記錄在 編碼資 須資訊 散資訊 、間隔 。另外 表面保 連續製 置1的 造過程 -38- 1341945 中,和從積層體捲1〇送出光學薄膜時所算出光學薄膜送 出量的測長資料及由相同連續製造裝置1的讀取裝置120 讀取的編碼資訊所包含的切斷位置資訊相關聯而進行動作 。在利用2處的切入線所形成的區域,含有:具有既定長 度(依要貼合的液晶面板的邊長所決定出)無缺陷的偏光 薄膜的正常區域、通常是比既定長度更短之有缺陷的偏光 薄膜的不良區域。在液晶顯示元件的製造過程中,利用切 斷裝置1 5〇所形成的2處切入線來進行切斷後的偏光薄膜 11的不良區域是形成:利用連續製造裝置1的排除站C 的不良薄片排除裝置190來從光學薄膜的連續帶狀體(具 體而言是載體薄膜14)排除之不良薄片Xp。以同樣的方 式切斷後的偏光薄膜11的正常區域則是形成:從光學薄 膜的連續帶狀體(具體而言是載體薄膜14)剝離而利用 連續製造裝置1的貼合站B的貼合裝置200來貼合於液晶 面板的其中一側之正常薄片。 參閱第3圖,根據偏光薄膜11的正常區域及不良區 域詳述對偏光薄膜之切入線的形成時,如後述般,根據偏 光薄膜11內存在的缺陷的位置或座標而事先決定出之正 常區域的長度(χα),是取決於貼合的液晶面板的邊長而 始終爲一定。以同樣的方式事先決定出的不良區域,從進 給方向觀察,正前方的正常區域的下游側切入線是形成不 良區域的上游側切入線。因此,不良區域的長度(xp )是 由上游側切入線及根據缺陷的位置或座標而形成在稍微下 游的下游側切入線來決定出。從進給方向觀察,由於從偏 -39- 1341945 光薄膜11的上游側切入線至缺陷的位置或座標的長度有 各種情況,不良區域的長度(XP)是可變的。在一個實施 態樣’對切斷位置資訊(用來指定應形成切入線的位置) 進行資訊處理時,不良區域的長度(XP)是始終與正常區 域的長度(X α )不同,例如X P < X α。在其他的實施態樣, 當正常區域的長度(Χ„)與不良區域的長度(χρ)相同時 ,可生成用來識別正常區域和不良區域之識別資訊Χγ。在 此情況,所生成的識別資訊Χγ是和切斷位置資訊相關聯, 而和切斷位置資訊一起包含於編碼資訊。在液晶顯示元件 的製造過程中,連續製造裝置1,可根據讀取裝置1 20所 讀取的切斷位置資訊,在切斷站中切斷裝置150來形成正 常薄片Χα和不良薄片Χβ,在排除位置不良薄片排除裝置 190可簡單地僅辨識長度χρ (與正常薄片的長度xe不同 )的不良薄片而動作予以排除。當編碼資訊中包含用來識 別不良區域和正常區域之識別資訊χγ的情況,其不良薄片 排除裝置1 90是根據該識別資訊而僅辨識不良薄片χγ並動 作予以排除。此外,連續製造裝置1所使用光學薄膜的積 層體捲1 〇的製造過程是如後詳述。 光學薄膜之積層體捲10是裝設於光學薄膜供應裝置 100的支架裝置110。較佳爲,在支架裝置Η0設置用來 算出光學薄膜的送出量之編碼器(未圖示),該編碼器所 算出的測長資料是儲存於控制裝置400的記憶裝置420。 光學薄膜的連續帶狀體送出量的算出,亦可藉由與光學薄 膜供應裝置1 00分開設置的計測裝置來進行。 -40- 1341945 在裝置全體運轉時’首先是將擬薄膜的捲體裝設於支 架裝置π。擬薄膜的連續帶狀體是藉由包含進給輥的薄 膜供應裝置130及170,從擬薄膜捲體在張緊狀態下進行 供應。擬薄膜的連續帶狀體前端的邊緣部分,通常是在正 常薄片從載體薄膜14剝離而藉由載體薄膜捲取裝置 210將通過設置在貼合站Β的貼合裝置200之剝離後的載 體薄膜I4捲取的期間,被送出的。然後,擬薄膜的後端 部和從積層體捲10所送出的光學薄膜的前端部連接,而 開始進行光學薄膜的供應。即使是在切斷站Α藉由切斷 裝置1 5 0來在偏光薄膜形成切入線的位置或是正常薄片貼 合於液晶面板的貼合站B,光學薄膜的供應發生暫時停止 的情況,爲了使光學薄膜的連續帶狀體仍能以一定速度的 張緊狀態來供應,在其等的位置的正前端配置包含聚積輥 之速度調整裝置140及180。 然而,連續製造裝置1,設定積層體捲1捲的光學薄 膜的薄膜長度例如爲l,〇〇〇m,每1台連續製造裝置每天 的處理量到達5,000m〜20,000m左右的情況時,每天每1 台的連續製造裝置1必須連接5〜20捲左右的光學薄膜之 積層體捲1 〇來運轉。如此,本實施態樣的液晶顯示元件 的連續製造裝置1使用該積層體捲1 〇製造液晶顯示元件 時,在依序供應液晶面板W沒有問題的前提下’與使用 逐片型薄片的習知型的製造裝置比較,製品精度及製造速 度會倍增。如此一來,所處理的積層體捲數也會倍增,可 藉以使光學薄膜之積層體捲間的自動連接等全新的技術課 -41 - 1341945 題也會開始受到關注。 (編碼資訊的讀取及資訊處理) 本實施態樣,在切斷站A利用切斷裝置150在光 薄膜的連續帶狀體上殘留載體薄膜14依序形成切入線, 藉著該等切入線來切斷後的偏光薄膜11的正常薄片Χα, 在貼合站Β的貼合裝置200的正前方從載體薄膜14剝離 ’露出剝離後的正常薄片b是透過黏著層12來貼合於、液 晶面板來製造液晶顯示元件。這時,藉由載體薄膜捲取驅 動裝置210來捲取載體薄膜14而將其除去。表面保護薄 膜13,通常是和貼合於液晶面板的偏光薄膜11之正常薄 片Χα形成一體的薄片,其表面保護薄膜的薄片是在完成 的液晶顯示元件的包含洗淨/乾燥的最終步驟後予以剝離 除去。載體薄膜及表面保護薄膜都是製造過程中必要的製 造過程材料,而在製品的最終階段被除去而廢棄。因此, 本實施態樣的光學薄膜之積層體捲10的特徵之一是使用 該等的製造過程材料來作爲製造過程中必要的資訊媒體。 以下,作爲資訊媒體之製造過程材料,僅使用載體薄膜來 作說明。 第7圖係顯示編碼資訊20和控制裝置400的關係之 模式圖,該編碼資訊20是被連續製造裝置1之讀取裝置 1 20所讀取且被資訊處理裝置4 1 0實施資訊處理:該控制 裝置400是用來控制配備在第5圖所示的光學薄膜的供應 裝置1 〇〇及液晶面板搬運裝置3 00 (用來依序搬運液晶面 -42- 1341945 板)等各個裝置。附帶一提,記錄在光學薄膜之積層體捲 10的編碼資訊20,係包含用來指定光學薄膜的連續帶狀 體上應形成切入線的位置之切斷位置資訊,及按照需要而 含有用來識別偏光薄膜1 1的正常區域和不良區域的識別 資訊》切入線的形成,是在後述的光學薄膜之積層體捲 10的製造過程,藉由檢查裝置來偵測光學薄膜所包含的 偏光薄膜1 1內存在的缺陷,根據所偵測出的缺陷位置或 座標而事先決定出偏光薄膜的不良區域和正常區域,在連 續製造裝置1的切斷站,切斷裝置150將連續送出的光學 薄膜相對於進給方向的橫方向,且對光學薄膜的連續帶狀 體進行切入(從載體薄膜的相反側深度到達載體薄膜的黏 著層側的面)所形成。 編碼資訊20,如第7圖所示,較佳爲記錄在包含於 光學薄膜的載體薄膜上Λ由包含碼讀取器或CCD攝影機 的讀取裝置120所讀取,將所讀取的編碼資訊20送往連 續製造裝置1之控制裝置400所包含的資訊處理裝置410 。從第5圖及第6圖所示的各裝置的控制及各製造步驟的 流程及第7圖的模式圖可知,由讀取裝置1 20所讀取的編 碼資訊20,被送往資訊處理裝置4 1 0,而用資訊處理裝置 4 1 0,將所接收的編碼資訊2 0施以資訊處理。控制裝置 400是根據資訊處理裝置410處理後的編碼資訊20來控 制裝置全體,而使包含切斷站Α的切斷裝置150、排除站 C的不良偏光薄片排除裝置190及貼合站B的貼合裝置 2 00之光學薄膜的供應裝置100的各裝置、以及液晶面板 -43- 1341945 W的搬運裝置300所包含的各裝置進行動作,並使各裝置 連動。 以下槪略說明關於裝置全體的控制。控制裝置4〇〇是 根據處理後的編碼資訊20所包含的切斷位置資訊,使包 含進給輥之薄膜供應裝置130動作而供應光學薄膜,並使 速度調整裝置140動作而暫時停止光學薄膜的供應。控制 裝置400,接著在切斷站A使切斷裝置150動作,對光學 薄膜的連續帶狀體沿著相對於其進給方向的橫方向從載體 薄膜的相反側進行切入深度到達載體薄膜的黏著層側的面 爲止,形成切入線。 形成有切入線之光學薄膜的連續帶狀體是藉由切斷位 置確認裝置1 6 0來確認切入線的位置。接著,在排除位置 C藉由與包含進給輥的薄膜供應裝置1*70及速度調整裝置 180連動的不良偏光薄片排除裝置190,將光學薄膜的連 續帶狀體所包含切斷後的偏光薄膜之不良偏光薄片Χιβ和 正常薄片Χα,依長度的不同而予以識別或區分,而僅將 不良薄片^從載體薄膜14上剝離並排除。在編碼資訊包 含用來識別不良區域和正常區域之識別資訊的情況,不良 薄片排除裝置1 90可根據該識別資訊,而僅將不良薄片 xs從載體薄膜14上剝離並排除。排除不良薄片後之光 學薄膜的連續帶狀體是藉由載體薄膜捲取驅動裝置210, 以和依序進給的液晶面板的進給同步的方式供應至貼合站 Β。切斷後的偏光薄膜之正常薄片χα前端緣部分,在到達 送入的液晶面板前端的邊緣部分的位置,將載體薄膜1 4 -44- 1341945 捲取而使正常薄片Χα從該載體薄膜14上剝離,在貼合站 Β藉由包含一對貼合輥的貼合裝置200而開始進行正常薄 片χα和液晶面板的貼合動作。 接著詳細說明,在液晶顯示元件的製造過程中,藉由 控制裝置4〇〇來進行動作之各裝置的具體動作,包含‘:貼 合站Β所進行之正常薄片χα和液晶面板的貼合動作。 (不良薄片的排除) 不良薄片的排除裝置1 90是由控制裝置400所控制, 而從光學薄膜的連續帶狀體所包含之載體薄膜14(可剝 離自如地積層著利用切入線切斷後的偏光薄膜1 1之正常 薄片xa和不良薄片xp),僅識別或區別長度不同於正常 薄片xa的不良薄片xp、或是與作爲不良薄片的識別資訊 相關聯的不良薄片xP,而將其從載體薄膜14上剝離並排 除。第8 ( 1 )圖及第8 ( 2 )圖係顯示藉由控制裝置400 的控制,識別或區別不良薄片xp而進行動作之不良薄片 排除裝置190。 第8(1)圖的不良薄片排除裝置190,包含:將可剝 離自如地積層在載體薄膜14的不良薄片xp貼附及剝離的 擬薄膜驅動裝置191、在不良薄片xp到達光學薄膜的搬運 路徑之排除起點時進行動作之移動裝置192;藉由該移動 裝置192使光學薄膜的搬運路徑移動,而使該搬運路徑能 相對於擬薄膜驅動裝置191的擬薄膜搬運路徑形成接近或 遠離。 -45 - 1341945 另外’第8(2)圖的不良薄片排除裝置19〇是在貼 合站B’與包含一對貼合輥的貼合裝置2〇〇 (由控制裝置 400控制而動作)形成連動的裝置,其包含:具有將不良 薄片X p貼附及剝離的功能之擬薄膜驅動裝置1 9丨、構成該 擬薄膜驅動裝置191的擬薄膜搬運路徑之移動輥192。第 8(2)圖的裝置和第8(1)圖的裝置之不同點,在於: 在第8(2)圖的裝置是在黏貼位置b中,配置在貼合裝 置200所包含的一對貼合輥附近之移動輥192 (構成擬薄 膜搬運路徑)是和貼合裝置200的貼合輥形成連動。具體 而言,在貼合站B ’依據控制裝置400的控制,當不良薄 片χΡ到達光學薄膜的搬運路徑的終點(亦即排除起點) 時,使一對的貼合輥分離,接著使構成擬薄膜搬運路徑的 移動輥1 92移動至分離後的貼合輥間的間隙,藉著將移動 輥1 92置換成貼合輥一方的輥,使移動輥丨92和貼合輥另 一方的輥連動。並藉由載體薄膜捲取驅動裝置210來捲 取載體薄膜14,將載體薄膜14上的不良薄片Χρ剝離,並 藉著使剝離後的不良薄片χρ與貼合輥另一方的輥連動的 移動輥192,貼附在擬薄膜搬運路徑並予排除。 (形成於光學薄膜的連續帶狀體之切入線的確認) 在光學薄膜之積層體捲10的製造過程,是根據所偵 測出的偏光薄膜11內存在的缺陷的位置或座標來事先決 定出不含缺陷的正常區域及含有缺陷的不良區域的2個區 域,據此,以編碼資訊20的形態將切斷位置資訊(用來 -46- 1341945 指定在液晶顯不兀件的製造過程中連續送出的光學薄膜的 連續帶狀體上應形成切入線的位置)記錄在從積層體捲連 續送出之光學薄膜的載體薄膜上。切斷位置資訊在液晶顯 示元件的製造過程中,藉連續製造裝置1的讀取裝置120 所讀取。接著,在切斷站A,切斷裝置150是根據所讀取 的切斷位置資訊,對光學薄膜的連續帶狀體,沿著相對於 其進給方向之橫方向依序進行切入而形成切入線。若無法 正確地進行該依序所形成的切入線時,與光學薄膜的送出 量所算出的測長資料(從積層體捲將光學薄膜的連續帶狀 體送出時所測定)相關聯而使切斷裝置1 5 0進行切斷動作 即變得失去意義。 第9圖係顯示切斷位置確認裝置1 6 0的動作之模式圖 ’該切斷位置確認裝置1 60包含檢查手段,其係確認光學 薄膜的連續帶狀體上所形成的切入線的形成位置,和與光 學薄膜的送出量之測長資料相關聯,讀取裝置1 20所讀取 的應形成切入線的形成位置之間的偏差。 切斷位置確認裝置160,從光學薄膜的進給方向觀察 是隔著切斷裝置1 5 0而設置在夾持其前後的上游側和下游 側。在下游側的切斷位置確認裝置1 6 0之更下游側,設置 包含進給輥之薄膜供應裝置1 7 0,藉此,使形成切入線時 暫時停止的光學薄膜的連續帶狀體的供應能再度開始。另 一方面,在上游側的切斷位置確認裝置1 60之更上游側, 設置包含聚積輥之速度調整裝置140,藉此,即使在形成 切入線時光學薄膜的連續帶狀體暫時停止,仍能維持藉由 -47- 1341945 包含進給輥的薄膜供應裝置1 3 0之光學薄膜的連續帶狀體 的供應。 光學薄膜的連續帶狀體之形成於橫方向(相對於進給 方向)的切入線的形成位置,是否和根據光學薄膜的送出 量的測長資料所算出的位置一致的確認,可藉由求出薄膜 的輸送方向(X方向)和薄膜的橫越方向(Υ方向)的正 確位置來進行。較佳爲,在夾持光學薄膜的切入線形成位 置的前後2處,測定實際切入線的形成位置及光學薄膜的 邊緣(側端部)位置和各個基準線在X方向及Υ方向的 偏差’藉此來進行確認。例如,藉由包含CCD攝影機的 切斷位置確認裝置1 60,拍攝光學薄膜的切入線的形成位 置及光學薄膜的邊緣位置並予以影像化。在拍攝範圍內事 先分別設定基準線。根據所拍攝的影像內的對比差來判定 光學薄膜的切入線的形成位置及光學薄膜的邊緣位置。接 著,算出事先設定的基準線和切入線的形成位置及光學薄 膜的邊緣位置之距離(偏差),根據所算出的距離(偏差 ),將切斷裝置150的位置及角度,從光學薄膜的連續帶 狀體的進給方向的前後方向進行修正。 更具體而Η,如第6圖所示,在張緊狀態下進行供應 光學薄膜的連續帶狀體之步驟3、4及7,步驟5中,在 光學薄膜的連續帶狀體形成切入線。接著,藉由2個切斷 位置確認裝置1 60來確認實際的光學薄膜的切入線的形成 位置和依據讀取裝置120所讀取的切斷位置資訊而在光學 薄膜上應形成切入線的位置是否有偏差。在產生偏差的情 ~ 48 - 1341945 況’則進彳了步驟6及8 ’其中一例是依以下所示的順序進 行修正。 用來確認是否有偏差(形成於光學薄膜的連續帶狀體 的切入線的形成位置和讀取裝置1 2 0所讀取的應形成切入 線的位置)之檢查手法,其中一例是依以下表示的順序進 行處理。 (1 )藉由包含CCD攝影機的切斷位置確認裝置16〇 ’來拍攝光學薄膜的切入線的形成位置(X)和2處的邊 緣位置(Υ 1、Υ2 )並予以影像化,根據影像內的對比差 來測定光學薄膜的切入線的形成位置(X )及邊緣位置( Υ 1、Υ2 )。 (2 )從X方向觀察在上游側且在切斷位置確認裝置 160的拍攝範圍內事先設定沿Υ方向延伸的基準線,及從 X方向觀察在下游側且在切斷位置確認裝置1 60的拍攝範 圍內事先設定沿Υ方向延伸的基準線的中間位置事先設 定沿Υ方向延伸的切入線基準位置,將資料γ (代表上游 側的基準線和下游側的基準線之間的距離)透過資訊處理 裝置410事先儲存於記億裝置420。另外,從X方向觀察 在上游側及下游側1且在切斷位置確認裝置1 60的拍攝範 圍內事先設定沿X方向延伸的基準線。 (3 )根據所測定的光學薄膜的切入線的形成位置( X )及邊緣位置(Υ 1、Υ2 )和上述基準線,算出切入線形 成位置的修正量α和切入線形成角度的修正量δ。光學薄 膜的切入線形成位置的修正量α是所測定的偏差量α,亦 -49- 1341945 即切入線的形成位置(χ)和下游側的沿γ方向延伸的基 準線之間的偏差量α。切入線形成角度的修正量δ是根據 與光學薄膜的邊緣位置的距離而測定的Υ方向的2處的 偏差量,根據與沿X方向延伸的卜·游側的基準線及上游 側的基準線的偏差量(β!及Ρ2 )和兩基準線間的距離資 料γ,可由以下的式子算出。 [數1] δ = c 〇 s_ 1 - -, :.7=.. , 士2+(01—万2)2 (4 )根據所測定、算出的資料,將用來指示給切斷 裝置150的修正量(^及δ)的角度修正量5和X方向的 位置修正量α (爲了和沿Υ方向延伸的切入線形成基準 位置一致)儲存於記憶裝置420。 (5 )切斷裝置150是藉著控制裝置400,根據所儲 存的修正量(α及δ ),將進給方向的修正及相對於進給 方向的橫方向之角度修正指示給切斷裝置1 5 0,以在形成 下個光學薄膜的切入線時能對準光學薄膜的切入線形成基 準位置的基準線。 (6)然後,使切斷裝置150動作在光學薄膜的連續 帶狀體上形成下個切入線。 (不良薄片xp的排除和正常薄片Χα對液晶面板w的貼合 -50- 1341945 本實施態樣的光學薄膜之積層體捲1 〇相關之第]特 徵’是在供應的光學薄膜的連續帶狀體所包含的偏光薄膜 1 1之切斷後正常薄片Χα和液晶面板w的貼合動作之前, 僅將偏光薄膜11之切斷後的不良薄片xp,藉由不良薄片 排除裝置190而以光學薄膜的供應不中斷的方式予以事先 排除。本實施態樣的第2特徵是讓逐片型薄片或逐片型薄 片的製造上所無法想像之光學薄膜的供應不致中斷,且能 僅將偏光薄膜11之切斷後的正常薄片χα,藉由載體薄膜 捲取驅動裝置2 1 0在貼合站Β供應至要貼合於液晶面板 W之貼合裝置200。藉由將該光學薄膜之積層體捲1〇應 用於液晶顯示元件製造過程,可大幅提昇正常薄片χα和 液晶面板W的貼合速度及貼合精度。 (液晶面板W的搬運及與正常薄片χα的貼合) 在詳細說明包含可沿上下方向進行接觸或分離之一對 貼合輥的貼合裝置200之前(用來讓偏光薄膜1 1之切斷 後的正常薄片X α的和液晶面板W貼合),首先槪略說明 液晶面板(和從供應的光學薄膜的連續帶狀體生成的偏光 薄膜11的正常薄片貼合)的搬運裝置3 00。 以對角42吋的大型電視用液晶顯示元件爲例,如第 2圖所示,矩形的液晶面板w大小爲縱長(5 4 0〜5 6 0 ) mmx橫寬( 950〜970) mm。液晶顯示元件的製造過程中的 液晶面板W,在包含電子零件的組裝之配線組裝階段,其 周緣被施以些微的切削加工。或是’液晶面板W是以周 -51 - 1341945 緣已實施切削加工後的狀態被搬入。液晶面板w是利用 供應裝置而從收容多數個液晶面板的面板匣逐片取出,例 如經由洗淨/硏磨後,如第6圖及第10圖所示,藉由搬運 裝置300調整成一定間隔和一定速度,而被搬運到和偏光 薄膜的正常薄片之貼合站B的貼合裝置2 00爲止。正常薄 片xa是從光學薄膜的連續帶狀體所生成之尺寸比液晶面 板W稍小的薄片。搬運裝置300,如第10圖所示,在正 常薄片送入貼合站Β時,與正常薄片χα的送入同步, 在依序供應於貼合站Β的液晶面板W的最終階段,具備 :用來控制該液晶面板W的姿勢的預對準裝置310、對準 裝置3 20、往貼合裝置的搬運裝置330及用來偵測液晶面 板W前端的邊緣部分之邊緣偵測裝置340所構成的液晶 面板姿勢控制裝置。 第1 0圖的模式圖是顯示,在液晶顯示元件的製造過 程中,根據讀取裝置120所讀取的光學薄膜的連續帶狀體 的編碼資訊20,來控制液晶面板搬運裝置3 00所包含的 預對準裝置310、對準裝置3 20、往貼合位置的搬運裝置 330及液晶面板邊緣偵測裝置340的各裝置,來搬運姿勢 被控制的液晶面板W。另外,第11圖的模式圖是顯示, 包含邊緣偵測裝置220和直線前進位置偵測裝置23 0之液 晶面板W的貼合裝置200,該邊緣偵測裝置220是用來偵 測從供應的光學薄膜的連續帶狀體所生成的偏光薄膜的正 常薄片xa前端的邊緣部分;該直線前進位置偵測裝置230 是用來偵測所生成的偏光薄膜的正常薄片是否與進給 -52- 1341945 方向一致。 正常偏光薄片Χα,較佳爲藉由載體薄膜14調整成一 定速度後供應至貼合站Β的貼合裝置200。在貼合站Β, 如第1 〇圖及第1 1圖所示,僅載體薄膜1 4是經剝離板 211藉由載體薄膜捲取驅動裝置210施以銳角剝離。藉由 將載體薄膜14施以銳角剝離,能使正常薄片\(1的黏著層 逐漸露出。如此,使正常薄片χα前端的邊緣部分稍微露 出,而容易讓液晶面板W的前端邊緣部分對準該前端的 邊緣部分。 正常薄片前端的邊緣部分是如第10圖所示,位在 貼合裝置200的上下方向形成分離狀態的一對貼合輥的間 隙,而藉由邊緣檢查裝置220來進行確認。正常薄片χα 是以積層在載體薄膜14的狀態送來,相對於載體薄膜14 長邊方向之進給方向的角度θ = 0 (正確送來)的情況很少 。於是,關於正常薄片x«的進給方向及橫方向的偏差量 ,例如是用直線前進位置偵測裝置23 0的CCD攝影機拍 攝並予以影像化,使用X、y、Θ來算出所測定的偏差量, 並藉由控制裝置400將算出的資訊儲存於記憶裝置420 » 接著,液晶面板W是從包含第5圖所示的液晶面板 的收容匣的搬出裝置而以一定間隔和一定速度依序送出, 每次送出一片的液晶面板W是藉由第10圖所示的液晶面 板搬運裝置300來進行姿勢控制。關於該姿勢的控制一邊 參照第1 〇圖來作說明。 液晶面板W是藉由預對準裝置3 1 0依序進行定位, -53- 1341945 使其縱長及橫寬分別對準搬運路徑的進給方向及與其 的方向。搭載著定位後運送來的液晶面板w之對準 3 20具備藉由驅動裝置(受控制裝置400的控制)而 轉動的對準台32 1。對準台所搭載的液晶囟板W的前 緣部分是藉由邊緣偵測裝置340進行偵測。前端邊緣 的位置是和儲存於記憶裝置420之基準貼合位置核對 體而言,是和使用X、y、θ(代表供應的正常薄片χα 勢)而算出的算出資料核對。例如,使用第2圖所示 晶面板W的對準標記,測定前端邊緣部分的位置和 貼合位置之間的位置偏差量,運算偏差Θ角,而使搭 液晶面板W之對準台321僅轉動Θ量。接著,使對 3 2 1連接於前往貼合站Β的搬運裝置3 3 0。液晶面板 藉由前往貼合站Β的搬運裝置330而以同樣的姿勢送 合裝置200,液晶面板W的前端邊緣部分,對準正常 χα的前端邊緣部分且重疊在一起。在最終階段,對準 正常薄片Χα和液晶面板W是藉由一對貼合輥進行壓 運,而完成液晶顯示元件。 正常薄片Χα,是藉由在張緊狀態下供應的光學 的連續帶狀體,而以和載體薄膜14形成一體的方式 至與液晶面板W的貼合裝置200,因此正常薄片Xtt 緣不容易成爲彎曲或下垂的狀態。如此,正常薄片: 會發生撓曲或翹曲。因此,液晶面板W的姿勢容易 送入到貼合站B的正常薄片χα,而能形成液晶顯示 製造的高速化及液晶顯示元件的高精度化。這種方法 正交 裝置 進行 端邊 部分 ,具 的姿 的液 基準 載著 準台 W是 至貼 薄片 後的 接搬 薄膜 供應 的周 ία不 配合 元件 及裝 -54 - 1341945 置,在逐片型薄片的製造上根本無法採用製造逐片型薄片 時,必須將每個逐片型薄片的剝離片剝離後使黏著層露出 ,吸附搬運至與液晶面板w的貼合位置’和液晶面板w 對準、重疊 '貼合而完成液晶顯示元件。亦即’本實施態 樣在至少包含:對形成預定尺寸的液晶面板w包含具有 對應液晶面板寬度之寬度的黏著層12的偏光薄膜11 ’及 可剝離自如地層積在黏著層12的載體薄膜14所成光學薄 膜10的連續帶狀體上,以根據偏光薄膜11的事先檢査所 偵測出缺陷位置的包含缺陷的不良薄片切斷位置和不包含 缺陷的正常薄片切斷位置作爲朝光學薄膜的連續帶狀體的 寬度方向延伸的線來決定,以使用該等不良薄片切斷位置 及正常薄片切斷位置相關聯的切斷位置資訊作爲編碼資訊 20而加以記錄的光學薄膜之積層體捲1 0爲前提的液晶顯 示元件之連續製造方法及裝置。 2.光學薄膜之積層體捲、其製造方法以及製造裝置 以下參照圖式來說明本發明所使用的光學薄膜之積層 體捲、其製造方法以及製造裝置有關的最佳實施態樣》 (偏光薄膜的構造) 貼合於液晶面板W的光學薄膜的薄片,典型上,如 第1圖所示,是由包含偏光薄膜(形成有貼合在液晶面板 w的玻璃基板GS上的丙烯酸系的黏著層)的可撓性光學 薄膜所生成。偏光薄膜是將基材(PVA薄膜)使用碑等染 -55· 1341945 色並實施交聯處理’再施以朝縱或橫方向延伸之疋向處理 而生成,其中含有20~30yUm厚的偏光子(偏光子的連續 層),在偏光子的一面或兩面積層著用來保護偏光子的透 明保護薄膜(以4 U〜8 U a m厚左右的T A C薄膜爲基材)° 在偏光子之貼合於液晶面板W的面上’通常形成有丙儲 酸系的黏著層。 (習知的逐片型薄片的處理方法) 如前述,逐片型薄片在製造逐片型薄片時’從光學薄 膜的連續帶狀體事先實施衝切或切斷加工’以在黏著層上 貼附剝離片的狀態成形出矩形的逐片型薄片◊事先’在黏 著層上貼附剝離片而成形爲矩形的逐片型薄片是被收容在 液晶顯示元件製造過程的收容匣。收容於收容匣的逐片型 薄片,在和液晶面板W貼合時,例如是藉由吸收搬運裝 置而逐一搬運至液晶面板的貼合位置。將可剝離自如地積 層於黏著層(形成在逐片型薄片)之剝離片剝離,透過露 出的黏著層而將逐片型薄片貼合於液晶面板W。這時,由 於逐片型薄片具有可撓性,發生於矩形周緣的撓曲和翹曲 會造成問題。在使用逐片型薄片之液晶顯示元件的製造過 程中,爲了容易進行每一片的剝離片的剝離動作,且爲了 高精度且迅速地進行和液晶面板的對準及貼合,不得不採 用降低撓曲及翹曲的逐片型薄片。例如,不在偏光子的一 面而是在兩面積層厚度4〇〜8 0// m左右的保護薄膜,是爲 了利用厚度來使逐片型薄片具有剛性。 -56·
1341945 (光學薄膜之積層體捲之製造方法及裝置) 第12圖至第14圖係顯示本發明所使用之 膜的光學薄膜的積層體捲之製造方法及裝置的 15圖至第]7圖係顯示包含偏光薄膜的光學薄 捲之製造方法及裝置之各製造過程、即製造步 構成本實施態樣的光學薄膜之積層體捲10 膜11,在以PVA爲基材之偏光子的至少一面, 層透明的保護薄膜,在另一面形成黏著層12即 著層1 2上,可剝離自如地積層著製造過程材料 膜1 4。在使用逐片型薄片之習知的液晶顯示元 程中,作爲薄片,爲了具備剛性而使用在偏光子 層保護薄膜的偏光薄膜。然而,在使用本實施態 薄膜之積層體捲的液晶顯示元件製造過程,從構 態樣的光學薄膜的積層體捲1 〇之偏光薄膜1〗所 常薄片是在和液晶面板w貼合的貼合位置從 1 4開始剝離,而逐漸露出其形態。當然,像使 薄片的情況逐片將剝離片剝離的步驟是不需要的 正常薄片^的前端邊緣部分’在正常薄片 薄膜1 4剝離的期間是和每一片送入的液晶面板 邊緣部分進行對準,正常薄片X α和液晶面板W 合站Β的貼合裝置200之一對貼合輥在被緊壓的 行貼合。於是,逐漸露出的正常薄片的周緣 ,含偏光薄 式圖。第 的積層體 的流程圖 之偏光薄 較佳爲積 可。在黏 之載體薄 件製造過 的兩面積 樣的光學 成本實施 生成的正 載體薄膜 用逐片型 xa從載體 W的前端 是藉由貼 狀態下進 發生撓曲 -57- 1341945 或翹曲的可能性降低。因此,不同於逐片型薄片,本實施 態樣之光學薄膜所包含的偏光薄膜11,不同於逐片型薄 片,積層在偏光子的保護薄膜只要設在其中一面即可,保 護薄膜的厚度πJ抑制在4 ϋ # m以卜。 關於本發明的光學薄膜之積層體捲的製造方法及裝置 之第1、第2及第3實施態樣,使用第1 2圖和第丨5圖、 第13圖和第16圖、以及第14圖和第17圖來說明。 (第1實施態樣的光學薄膜之積層體捲的製造方法及裝置 ) 第12圖係製造本實施態樣的光學薄膜之積層體捲的 製造裝置500的模式圖,該裝置500,包含:用來製造偏 光子的連續層(以下仍如前述簡稱爲「偏光子」)的偏光 子製造線51〇、積層於偏光子的保護薄膜的製造線5 20、 積層有保護薄膜的偏光子(這是尙未形成黏著層的偏光薄 膜,即爲了和形成有黏著層的偏光薄膜1 1區別,以下稱 爲「偏光薄膜110」)所構成的偏光薄膜之製造線530、 藉由在偏光薄膜積層載體薄膜和表面保護薄膜來製造光學 薄膜之積層體捲之光學薄膜的製造線5 80。第15圖係顯 示本裝置500的各製造過程(亦即製造步驟)的流程圖。 偏光薄膜的製造線530,包含:藉由檢查裝置560來 檢查偏光薄膜110內存在的缺陷之檢查步驟、用來積層形 成有黏著層12(可轉印在偏光薄膜110上)的載體薄膜 1 4之載體薄膜供應步驟、將包含切斷位置資訊的編碼資 -58- 1341945 訊記錄在載體薄膜14表面之資訊記錄步驟、用來在積層 有載體薄膜14之偏光薄膜110的相反側的面透過黏著面 來積層表面保護薄膜13用的表面保護薄膜供應步驟及將 記錄有編碼資訊的光學薄膜的連續帶狀體捲取成光學薄膜 之積層體捲的捲取步驟。在載體薄膜供應步驟,裝設有黏 著層12貼附著脫模薄膜之載體薄膜14的捲體;在表面保 護薄膜供應步驟,裝設有黏著面貼附著脫模薄膜之表面保 護薄膜13的捲體。切斷位置資訊是根據事先決定出的偏 光薄膜110的不含缺陷的正常區域及含有缺陷的不良區域 (依據檢查步驟所偵測出的偏光薄膜110內存在的缺陷的 位置或座標)來進行資訊處理所生成,用來在形成含有黏 著層之偏光薄膜的正常偏光薄片和不良偏光薄片時,至少 指定在所供應的光學薄膜的連續帶狀體上應形成切入線的 位置。 偏光子的製造線510,包含將偏光子的基材(PVA薄 膜)的捲體裝設成旋轉自如,將藉由貼合驅動裝置540或 未圖示的其他驅動裝置而從捲體送出的PVA薄膜實施染 色、交聯、延伸處理後施以乾燥的步驟。保護薄膜的製造 線52 0,包含將保護薄膜的基材(通常爲透明的TAC薄膜 )的捲體裝設成旋轉自如,將藉由貼合驅動裝置540或未 圖示的其他驅動裝置而從捲體送出的.透明TAC薄膜實施 皂化處理後施以乾燥的步驟。保護薄膜的製造線520和偏 光薄膜1 1 0的製造線5 3 0,包含在偏光子和保護薄膜的界 面塗抹以聚乙烯醇系樹脂爲主劑的黏著劑,將兩薄膜利用 -59- 1341945 僅數;zm的黏著層予以乾燥黏著的步驟。 偏光薄膜1 1 〇的製造線5 3 0具備包含一對貼合輥的貼 合驅動裝置540。貼合驅動裝置540,包含:將用來算出 從所生成的偏光薄膜110前端的送出童之編碼器組裝於貼 合輥的任一個所構成的測長裝置550。貼合輥是將偏光子 和保護薄膜在壓接狀態下施以積層生成偏光薄膜1 1 〇,且 送出並供應該偏光薄膜110。 本裝置500,包含:用來偵測所送出偏光薄膜丨丨〇的 表面及內面的缺陷之檢查裝置5 6 0。在偵測缺陷後,必須 在偏光薄膜110上形成黏著層12來完成偏光薄膜11。於 是’在本裝置500,進一步包含:裝設著具有黏著層12 的載體薄膜14的捲體之載體薄膜供應裝置570。在載體 薄膜14的製造過程中,將載體薄膜14的面(可剝離自如 地積層在偏光薄膜1 1 〇之液晶面板貼合面上)施以脫模處 理,在該面塗抹含有黏著劑的溶劑並施以乾燥,而事先製 造出載體薄膜14的黏著層12。藉由將從載體薄膜供應裝 置570供應的載體薄膜14可剝離自如地積層在偏光薄膜 110,使事先生成的黏著層12轉印在偏光薄膜110,藉此 構成偏光薄膜U的黏著層12。 接著,本裝置500,包含:在例如載體薄膜14的表 面記錄編碼資訊之資訊記錄裝置630。藉由該資訊記錄裝 置630,在使用所生成的光學薄膜之積層體捲10來製造 液晶顯示元件時,可將包含切斷位置資訊(爲了形成含有 黏著層之偏光薄膜的正常薄片及不良薄片,而指定所供應 -60- 1341945 的光學薄膜的連續帶狀體上應形成切入線的位置) 資訊記錄在所供應的光學薄膜的連續帶狀體。本裝 可包含表面保護薄膜供應裝置640,用來在偏光薄 與積層有載體薄膜14的面的相反側面透過黏著面 表面保護薄膜13。本裝置500,最後可進一步包含 膜捲取驅動裝置5 80,用來捲取並驅動可剝離自如 著載體薄膜14(包含可轉印在偏光薄膜110的表 著層)和表面保護薄膜13之光學薄膜。 另外,在偏光子的兩面積層保護薄膜的情況, 5〇〇變成含有2個保護薄膜的製造線520、520’( 略製造線520’)。另外,在將保護薄膜積層於偏 前,可在保護薄膜表面(非積層面)實施硬塗層處 眩處理,或者在保護薄膜的製造線5 20附加用來實 層處理、防眩處理或抗眩處理的加工處理線。 檢查裝置560包含具備如CCD攝影機之影像 置59 0。影像讀取裝置5 90是連接於控制裝置600 的資訊處理裝置6 1 0,影像讀取裝置5 90所讀取的 料是和連接於資訊處理裝6 1 0的測長裝置5 5 0所測 長資料相關聯而進行資訊處理。控制裝置600是讓 理裝置6 1 0及記憶裝置620動作,使影像讀取裝置 讀取的影像資料和測長裝置5 5 0的測長資料(根據 光薄膜110前端的送出量)相關聯而進行資訊處理 成與偏光薄膜110內存在缺陷的位置或座標相關的 料,並儲存於記憶裝置620。控制裝置600,首先 的編碼 置 500 膜 "〇 來積層 光學薄 地積層 裏之黏 本裝置 此處省 光子之 理、防 施硬塗 讀取裝 所包含 影像資 定的測 資訊處 590所 來自偏 ,以生 位置資 是根據 -61 - 1341945 與缺陷的位置或座標相關的位置資料來決定偏光薄膜n 的不良區域和正常區域。 控制裝置600 ’首先是根據與缺陷的位置或座標相關 m固_貝村不伏zt w兀得朕 i i π」不良區域和正常區域。 控制裝置600’進一步是根據所決定的偏光薄膜M的不 良區域和正常區域來生成切斷位置資訊。切斷位置資訊是 用來指定在光學薄膜的連續帶狀體上應形成切入線的位置 。切入線的形成是在製造液晶顯示元件時,藉由切斷裝置 1 5 0將所供應的光學薄膜的連續帶狀體沿著相對於進給方 向的橫方向,且從載體薄膜的相反側到達載體薄膜的黏著 層側面的深度爲止,在該光學薄膜的連續帶狀體進行切入 。此處所生成的切斷位置資訊,也儲存於記憶裝置620。 接著,資訊處理裝置6 1 0是從所儲存的切斷位置資訊,和 製造批號、捲體公尺數等一起,或是和該等資訊相關聯進 行編碼而生成編碼資訊。編碼資訊,如前述,在使用所生 成的光學薄膜之積層體捲來製造液晶顯示元件時,較佳爲 記錄在所供應的光學薄膜的連續帶狀體包含的載體薄膜 1 4。關於記錄在載體薄膜1 4的態樣,可將儲存著所有必 須資訊的1個編碼資訊記錄在1處,也可將分別儲存著分 散資訊的複數個編碼資訊隔著一定間隔(例如間隔1 m、 間隔1 00m等)而進行記錄,當然也能有許多不同的態樣 。另外,編碼資訊,除了載體薄膜1 4以外,也能記錄在 表面保護薄膜1 3。 然而,藉由2處的切入線所形成的偏光薄膜的區域’ -62- 1341945 包括:依貼合的液晶面板的邊長來決定的一定長度的不含 缺陷的正常區域、以及通常比一定長度更短之含有缺陷的 不良區域。在液晶顯示元件的製造過程中,必須用讀取裝 置120來讀取編碼資訊,根據編碼資訊所包含的切斷位置 資訊,藉由切斷裝置150並利用2處的切入線進行切斷’ 切斷後的偏光薄膜11的不良區域形成在藉由不良薄片排 除裝置190來從載體薄膜14排除的不良薄片xp,同樣地 切斷後的偏光薄膜11的正常區域則形成在從載體薄膜14 剝離而藉由貼合裝置200貼合在液晶面板W的一方側的 正常薄片xa。 因此,根據與偏光薄膜11內存在的缺陷的位置或座 標相關的位置資料來決定的正常區域之長度(Χα )是按照 貼合的液晶面板的邊長來決定而始終是一定。以同樣的方 式決定的不良區域的長度(Χρ),由於從進給方向觀察, 位於前方的正常區域的上游側切入線是成爲不良區域的下 游側切入線’因此是藉由下游側切入線、和形成於缺陷的 位置或座標的稍上游之上游側切入線來決定。從進給方向 觀察’由於從偏光薄膜1 1的下游側切入線至缺陷的位置 或座標爲止的長度有各種情況,不良區域的長度(XfJ)是 可變的。不良區域的長度(Xp),如後述,在對切斷位置 資訊(用來指定應形成切入線的位置)進行資訊處理時較 佳爲資訊處理成使其始終與正常區域的長度(Χα)不同的 長度’例如Χρ<Χα。並且,生成編碼資訊的實施態樣,由 於是第1、第2及第3實施態樣中共通的技術事項,因此 -63- 1341945 參照第18圖及第19-21圖容後詳述。 接著說明,用來在偏光薄膜11〇上積層載體薄膜14 之載體薄膜貼合裝置570。載體薄膜14是事先在載體薄 膜的製造線(未圖不)上’使用20〜Wgm厚左右的PET (聚對苯二甲酸乙二醇酯系)薄膜作爲基材來生成。通常 是在PET薄膜的一面實施脫模處理後,在其面上塗抹含 有丙烯酸系黏著劑的溶劑並使其乾燥,如此可在載體薄膜 14的一面形成10〜3〇em厚左右的可轉印的黏著層。藉由 將載體薄膜1 4剝離自如地積層在偏光薄膜1 1 0,能使所 生成的黏著層轉印,而生成包含偏光薄膜11 (形成有黏 著層12)的光學薄膜。使用如此所生成的光學薄膜之積 層體捲1 〇來製造液晶顯示元件時,將所生成的含有黏著 層12的偏光薄膜11的正常偏光薄片從載體薄膜14剝離 貼合在液晶面板W之後,黏著層12可和正常偏光薄片一 體地剝離。事先,在載體薄膜的製造線所生成的載體薄膜 1 4僅以和偏光薄膜11的捲取量相同的長度進行捲取而構 成捲體。 在製造第2及第3實施態樣的擬光學薄膜之積層體捲 的情況,同樣可在擬載體薄膜同樣生成可轉印的黏著層。 在第2及第3實施態樣中,同樣如後述,在將擬載體薄膜 及/或擬表面保護薄膜剝離時,由於生成於擬載體薄膜的 黏著層會轉印到偏光薄膜1 ],而能在偏光薄膜1 1形成黏 著層1 2。 載體薄膜14的捲體是旋轉自如地裝設在支架裝置 -64 - 1341945 571,被送出的載體薄膜14是藉由載體薄膜貼合裝置570 而可剝離自如地積層於偏光薄膜11〇。脫模薄膜捲取驅動 裝置572在載體薄膜1 4可剝離自如地積層於偏光薄膜 110時,將脫模薄膜(用來保護生成於載體薄膜14的黏 著層)予以捲取而讓黏著層露出。 依據第15圖的流程圖,在步驟1,藉由貼合驅動裝 置5 40,在偏光子的一面積層保護薄膜,以生成並供應偏 光薄膜110。在步驟2中,一面供應所生成的偏光薄膜 110,一面藉由檢查裝置 560來偵測內存在的缺陷。在步 驟3中,將載體薄膜14的捲體旋轉自如地裝設在支架裝 置571。在步驟4中,藉由脫模薄膜捲取驅動裝置572和 光學薄膜捲取驅動裝置580,使生成於載體薄膜14的可 轉印的黏著層露出並從捲體送出載體薄膜14。在步驟5 中,藉由載體薄膜貼合裝置5 70將載體薄膜14透過黏著 層而可剝離自如地積層在偏光薄膜11〇,以生成形成有黏 著層12的偏光薄膜11。 資訊處理裝置6 1 0是根據步驟2中所偵測的缺陷的位 置或座標來決定偏光薄膜1 1的不良區域和正常區域,根 據所決定的不良區域和正常區域來生成切斷位置資訊(用 來使偏光薄膜11形成不良偏光薄片h和正常偏光薄片xp )。所生成的切斷位置資訊在步驟6中,藉由資訊記錄裝 置630來記錄在生成後的偏光薄膜Π上所積層的載體薄 膜14的表面。最後,在步驟7中,將依序經由各步驟所 生成的光學薄膜藉由光學薄膜捲取驅動裝置580來捲取, -65- 1341945 以生成光學薄膜之積層體捲。 在此雖顯示在偏光薄膜11形成黏著層12的動作和在 該黏著層12可剝離自如地積層載體薄膜14的動作爲同時 進行的構成,但事先在偏光薄膜i i形成黏著層1 2當然也 可以。另外,尤其不論在保護薄膜積層於偏光子之前是否 在保護薄膜的表面實施硬塗層處理、防眩處理或抗眩處理 ,在步驟7之前,可藉由另外設置的貼合裝置640,在偏 光薄膜11與層積有載體薄膜14的面的相反側的面,積層 具有黏著面的表面保護薄膜13。藉此,所完成的光學薄 膜會變成在偏光薄膜1 1的兩面積層有載體薄膜1 4和表面 保護薄膜1 3的構造體。 (第2實施態樣的光學薄膜之積層體捲的製造方法及裝置 ) 第13圖係顯示光學薄膜的製造裝置之模式圖,在偏 光薄膜11 (在偏光子積層保護薄膜)上透過黏著層12可 剝離自如地積層擬載體薄膜14’而構成擬光學薄膜之積層 體捲10’,將該積層體捲10’裝設於支架裝置,從連續送 出的擬光學薄膜的連續帶狀體將擬載體薄膜14’剝離,檢 查包含露出狀態的黏著層12之偏光薄膜11內存在的缺陷 之後,將載體薄膜1 4可剝離自如地積層於偏光薄膜1 1的 黏著層12,在新積層的載體薄膜14的表面,和第1實施 態樣的情況同樣地記錄切斷位置資訊,以製造光學薄膜的 積層體捲10。第16圖係顯示該裝置的各製造過程(亦即 -66 - 1341945 製造步驟)之流程圖。 雖重複如前述,擬光學薄膜之積層體捲10’的製造過 程中’在擬載體薄膜14’上事先形成可轉印的黏著層。因 此’從連續送出的擬光學薄膜的連續帶狀體將擬載體薄膜 I4’剝離時’藉由使生成於擬載體薄膜I4’的黏著層轉印於 偏光薄膜,而在偏光薄膜11上形成黏著層12。也能取代 這種形成有可轉印的黏著層的擬載體薄膜14,,而在偏光 薄膜上事先形成黏著層12,並在該黏著層12上積層僅實 施脫模處理的擬載體薄膜14”》另外,作爲在偏光子上積 層的保護薄膜’可使用在其表面實施硬塗層處理、防眩處 理或抗眩處理者。 第13圖所示之本實施態樣的製造光學薄膜的積層體 捲1 0的裝置5 00 ’和第12圖所示的第1實施態樣的裝置 是具備以下共通的裝置’亦即,具備:包含影像讀取裝置 590(用來檢查包含黏著層12之偏光薄膜11內存在的缺 陷)之檢查裝置560、包含支架裝置571 (將載體薄膜14 的捲體裝設成旋轉自如)之載體薄膜貼合裝置5 70、用來 捲取並驅動所生成的光學薄膜之光學薄膜的捲取驅動裝置 580 '包含資訊處理裝置610及記憶裝置620 (用來進行 並記億裝置整體的資訊處理)之控制裝置600、以及將所 生成的編碼資訊記錄在光學薄膜之資訊記錄裝置630 ^本 裝置5〇0進一步具備包含支架裝置531 (將擬光學薄膜之 積層體捲10’裝設成旋轉自如)之擬光學薄膜的供應線 530,該供應線530具備的薄膜供應驅動裝置540,包含 -67- 1341945 用來連續供應擬光學薄膜的一對供應驅動輥。薄膜供應驅 動裝置540具備測長裝置550,將用來算出從擬光學薄膜 前端的送出量之編碼器組裝在貼合輥的任一個所構成。本 裝置5UU進一步具備包芑擬戰體溥膜棰取龌勤袈置Z擬載 體薄膜剝離裝置5 7 5。 針對第16圖所示的各製造步驟,在步驟1是將擬光 學薄膜之積層體捲10’裝設於支架裝置531。擬光學薄膜 是在偏光薄膜11 (偏光子的一面或兩面積層保護薄膜) 上,將生成有可轉印的黏著層之擬載體薄膜14’予以積層 所構成。在步驟2中,藉由薄膜供應驅動裝置540將擬光 學薄膜的連續帶狀體供應至貼合線530。在步驟3及4中 ,藉由擬載體薄膜剝離裝置575的擬載體薄膜捲取驅動裝 置576來剝離並除去擬載體薄膜I4’;在步驟5中,藉由 檢查裝置5 60來偵測包含露出的黏著層12之偏光薄膜11 內存在的缺陷。 檢查裝置560,包含:具備例如CCD攝影機之影像 讀取裝置5 90。影像讀取裝置590是連接於控制裝置600 所包含的資訊處理裝置61〇,影像讀取裝置5 90所讀取的 影像資料是和連接於資訊處理裝6 1 0的測長裝置5 5 0所測 定的測長資料相關聯而進行·資訊處理。控制裝置600是讓 資訊處理裝置6 1 0及記億裝置62〇動作,使影像讀取裝置 590所讀取的影像資料和測長裝置550的測長資料(根據 擬偏光薄膜前端的送出量)相關聯而進行資訊處理,藉此 生成與含有黏著層12的偏光薄膜11內存在的缺陷的位置 -68· 1341945 或座標相關的位置資料,並儲存於記憶裝置620。控制裝 置6 00,首先是根據與缺陷的位置或座標相關的位置資料 來決定偏光薄膜11的不良區域和正常區域。控制裝置 6 00是進一步根據所決定的偏光薄膜11的不良區域和正 常區域來生成切斷位置資訊。切斷位置資訊是用來指定在 光學薄膜的連續帶狀體上應形成切入線的位置的資訊’切 入線的形成是在製造液晶顯示元件時,藉由切斷裝置1 50 將所供應的光學薄膜的連續帶狀體沿著相對於進給方向之 橫方向,且在該光學薄膜的連續帶狀體進行切入(深度從 載體薄膜的相反側到達載體薄膜的黏著層側的面爲止)所 形成。此處所生成的切斷位置資訊,也儲存於記憶裝置 620。接著,資訊處理裝置610是根據所儲存的切斷位置 資訊,和製造批號、捲體公尺數等一起(或是和該等資訊 相關聯)進行編碼而生成編碼資訊。再者’生成編碼資訊 之實施態樣,由於是第1、第2、第3實施態樣共通的技 術事項,因此參照第1 8圖及第1 9圖〜第2 1圖如後述。 在步驟6及7中,藉由兼作爲薄膜供應驅動裝置之載 體薄膜貼合裝置570,將僅實施脫模處理的載體薄膜1 4 送出。步驟8中,所送出的載體薄膜14是積層在露出狀 態的黏著層1 2。資訊處理裝置6 1 0是根據步驟5所偵測 出的缺陷的位置或座標來決定偏光薄膜Π的不良區域和 正常區域,根據所決定的不良區域和正常區域來生成切斷 位置資訊(用來使偏光薄膜1 1形成不良偏光薄片Χα和正 常偏光薄片xp )。所生成的切斷位置資訊’在步驟9是 -69 - 1341945 藉由資訊記錄裝置63 0來記錄在所生成偏光薄膜1 1上積 層的載體薄膜14的表面。最後,在步驟10中,將依序經 由各步驟所生成的光學薄膜藉由光學薄膜驅動裝置580來 • ,/. TTW »、 » t* I、- 、f, « »·· TV**- .1 - elf**· f '/、 A-Ar- · . « « . i.t- -*·. ···. 枪取’以王炚亢学溥)3吴乙W僧遐炝。弟 Z貫她悲懐和弟 1 實施態樣的不同點在於,首先,擬光學薄膜之積層體捲 1 0 ’是事先製造準備的。第2實施態樣和第1實施態樣的 不同點在於,其次,藉由剝離生成有可轉印的黏著層之擬 載體薄膜14’,在露出狀態的偏光薄膜11上藉由轉印來 形成黏著層12,其內存在缺陷的檢查對象是包含黏著層 1 2的偏光薄膜1 1。 另外,在第13圖或第16圖中雖未圖示,尤其在擬光 學薄膜之積層體捲的製造過程中,不論在保護薄膜積層於 偏光子之前是否對保護薄膜的表面實施硬塗層處理、防眩 處理或抗眩處理,在步驟10之前,可藉由另外設置的貼 合裝置6 40,在偏光薄膜11的與載體薄膜14的積層面相 反側的面,積層具有黏著面的表面保護薄膜13。藉此, 所完成的光學薄膜會變成在偏光薄膜11的兩面積層有載 體薄膜14和表面保護薄膜13的構造體。 (第3實施態樣的光學薄膜之積層體捲的製造方法及裝置 ) 第14圖係顯示光學薄膜的製造裝置之模式圖,在偏 光薄膜Π (在偏光子積層保護薄膜)上透過黏著層可剝 離自如地積層擬載體薄膜14’,且在偏光薄膜11的相反 -70- 1341945 側(未積層有擬載體薄膜1 4 ’側)的面上透過黏著面可剝 離自如地積層著擬表面保護薄膜13’,藉此構成擬光學薄 膜之積層體捲10”,將該積層體捲10”裝設於支架裝置, 從連續送出的擬光學薄膜的連續帶狀體將擬載體薄膜14’ 及擬表面保護薄膜13’依序剝離,檢查包含露出狀態的黏 著層12之偏光薄膜11內存在的缺陷後,依序將載體薄膜 14可剝離自如地積層在偏光薄膜11的黏著層12,在偏光 薄膜的相反側(未積層有載體薄膜1 4側)的面透過黏著 面來積層表面保護薄膜13,在新積層的載體薄膜14的表 面上,和第1及第2實施態樣的情況同樣地記錄切斷位置 資訊,以製造光學薄膜之積層體捲10。第17圖係顯示該 裝置的各製造過程(亦即製造步驟)之流程圖。 雖形成重複如前,擬光學薄膜之積層體捲10”的製造 過程中,在擬載體薄膜14’上事先形成可轉印的黏著層。 因此,從連續送出的擬光學薄膜的連續帶狀體將擬載體薄 膜14’剝離時,藉由使事先生成於擬載體薄膜的黏著層轉 印至偏光薄膜11,而在偏光薄膜11上形成黏著層12。也 能取代這種生成有可轉印的黏著層之擬載體薄膜14’,而 在偏光薄膜11上事先形成黏著層12,並在該黏著層12 上積層僅實施脫模處理之擬載體薄膜1 4,,。另外,作爲在 偏光子上積層的保護薄膜,可使用在積層有表面保護薄膜 1 3的一側表面實施硬塗層處理、防眩處理或抗眩處理者 。擬表面保護薄膜13’及表面保護薄膜13,在積層於偏光 薄膜11的面上形成無法轉印的黏著面。表面保護薄膜13 -71 - 1341945 ,通常是和偏光薄膜1 1的正常薄片(貼合於液晶 形成一體的薄片,因此形成有黏著面之表面保護i 的薄片,在液晶顯示元件的製造過程中會保護所完 晶顯示兀件的表面,而在最終步驟後和黏著面呈一 除去。 第14圖所示之本實施態樣的光學薄膜之積層I 的製造裝置500,和第13圖所示的第2實施態樣 共通具備包含支架裝置531(將擬光學薄膜之積 1 〇 ”裝設成旋轉自如)之擬光學薄膜的供應線5 3 0 應線530所具備的薄膜供應驅動裝置540,包含用 地供應擬光學薄膜的一對供應驅動輥。薄膜供應驅 540具備測長裝置550,是將用來算出從擬光學薄 的送出量之編碼器組裝於貼合輥的任一個所構成。 500,進一步具備:包含擬載體薄膜捲取驅動裝置 擬載體薄膜剝離裝置5 75。再者,本裝置500是f 圖所示的第1實施態樣的裝置共通,具備以下裝置 ,包含影像讀取裝置590(用來檢查含有黏著層1 光薄膜11內存在的缺陷)之檢查裝置560、包含 置571 (將載體薄膜14的捲體裝設成旋轉自如) 薄膜貼合裝置570、用來捲取並驅動所生成的光學 光學薄膜的捲取驅動裝置5 8 0 '包含資訊處理裝置 記憶裝置620 (用來進行並儲存裝置整體的資訊處 控制裝置600、以及將所生成的編碼資訊記錄在光 之資訊記錄裝置630。另外,本裝置5〇〇,進—步 面板) I膜13 成的液 體剝離 豊捲10 的裝置 層體捲 ,該供 來連續 動裝置 膜前端 本裝置 576之 口第12 ,亦即 2之偏 支架裝 之載體 薄膜之 610及 理)之 學薄膜 具備: -72- 1341945 包含捲取驅動裝置646 (用來剝離並捲取擬表面保護薄膜 13’)之擬表面保護薄膜剝離裝置64 5、用來在偏光薄膜 的相反側(未積層有載體薄膜1 4側)的面上積層具有黏 著面的表面保護薄膜13之兼作爲薄膜供應驅動裝置之表 面保護薄膜貼合裝置640。 關於第17圖所示的各製造步驟,在步驟1中,將擬 光學薄膜之積層體捲1〇”裝設於支架裝置531。擬光學薄 膜是在偏光薄膜11 (偏光子的一面或兩面積層保護薄膜 所成)上,將生成有可轉印的黏著層之擬載體薄膜14’予 以積層而構成。在步驟2中,藉由薄膜供應驅動裝置540 將擬光學薄膜的連續帶狀體供應至貼合線53 0。在步驟3 及4中,藉由擬載體薄膜剝離裝置575的擬載體薄膜捲取 驅動裝置5 76來剝離並除去擬載體薄膜14’;接著,在步 驟5及6中,藉由擬表面保護薄膜剝離裝置645的擬表面 保護薄膜捲取驅動裝置646來剝離並除去擬表面保護薄膜 13’,該擬表面保護薄膜13’是透過黏著面而積層在偏光薄 膜的相反側(非擬載體薄膜1 4 ’積層側)的面上。步驟7 中,藉由檢查裝置560來偵測包含露出狀態的黏著層1 2 之偏光薄膜11內存在的缺陷。 檢查裝置560,包含:具備例如CCD攝影機之影像 讀取裝置5 90。影像讀取裝置590是連接於控制裝置600 所包含的資訊處理裝置610,影像讀取裝置590所讀取的 影像資料是和連接於資訊處理裝6 1 0的測長裝置5 50所測 定的測長資料相關聯而進行資訊處理。控制裝置600是讓 -73- 1341945 資訊處理裝置6 1 0及記憶裝置620動作,使影像讀取裝置 590所讀取的影像資料和測長裝置55〇的測長資料(根據 從擬偏光薄膜的前端的送出量)相關聯而進行資訊處理, 以生成與含有黏箸層1 2的偏光薄膜11內存在的缺陷的位 置或座標相關的位置資料,並儲存在記憶裝置620。控制 裝置600’首先是根據與缺陷的位置或座標相關的位置資 料來決定偏光薄膜11的不良區域和正常區域。控制裝置 600是進一步根據所決定的偏光薄膜11的不良區域和正 常區域來生成切斷位置資訊。切斷位置資訊是用來指定在 光學薄膜的連續帶狀體上應形成切入線的位置的資訊,切 入線的形成是在製造液晶顯示元件時,藉由切斷裝置1 5 0 將所供應的光學薄膜的連續帶狀體沿著相對於進給方向之 橫方向,且對該光學薄膜的連續帶狀體進行切入(深度從 載體薄膜的相反側到達載體薄膜的黏著層側的面)所形成 。此處所生成的切斷位置資訊,也儲存在記憶裝置620。 接著,資訊處理裝置6 1 0是根據所儲存的切斷位置資訊, 和製造批號、捲體公尺數等一起(或是和該等資訊相關聯 )進行編碼而生成編碼資訊。再者,生成編碼資訊之實施 態樣,由於是第1、第2、第3實施態樣中共通的技術事 項,因此參照第1 8圖及第1 9圖~第2 1圖如後述。 在步驟8及9中,藉由兼作爲薄膜供應驅動裝置之載 體薄膜貼合裝置570,將僅實施脫模處理後的載體薄膜1 4 送出。在步驟1〇中,所送出的載體薄膜14是可剝離自如 地積層在露出狀態的黏著層1 2。並且在步驟1 1及1 2中 -74- 1341945 ,藉由兼作爲薄膜供應驅動裝置之表面保護薄膜貼合裝置 64〇,將具有黏著面的表面保護薄膜13送出。在步驟13 中,所送出的表面保護薄膜13是透過黏著面而積層在偏 光薄膜之相反側(未積層有載體薄膜1 4側)的面上。 接著,資訊處理裝置6 1 0是根據步驟7所偵測出的缺 陷的位置或座標來決定偏光薄膜11的不良區域和正常區 域,根據所決定的不良區域和正常區域來生成切斷位置資 訊(用來使偏光薄膜11形成不良偏光薄片和正常偏光 薄片xp)。所生成的切斷位置資訊,在步驟14是藉由資 訊記錄裝置630來記錄在所生成偏光薄膜11上積層的載 體薄膜14的表面。最後,在步驟1 5中,將依序經由各步 驟所生成的光學薄膜藉由光學薄膜捲取驅動裝置580來捲 取,以生成光學薄膜之積層體捲。 第3實施態樣和第2實施態樣不同的點在於,首先, 擬光學薄膜之積層體捲10”,不僅是將擬載體薄膜14’且 進一步將擬表面保護薄膜13’積層在偏光薄膜Π所構成 ,而且是事先製造準備的。因此,在第3實施態樣中,包 含黏著層12之偏光薄膜11內存在的缺陷的檢查對象是將 擬載體薄膜14’及擬表面保護薄膜13’的兩薄膜依序剝離 而形成包含露出狀態的黏著層12的偏光薄膜11。 光學薄膜捲取驅動裝置580,在第1實施態樣中,至 少和貼合驅動裝置540、檢查裝置560及載體薄膜貼合裝 置570連動,以捲取在載體薄膜14表面記錄有編碼資訊 20之光學薄膜。第2及第3實施態樣中’光學薄膜捲取 -75- 1341945 驅動裝置5 80是至少和薄膜供應驅動裝置540、 裝置576及646、載體薄膜貼合裝置570及表面 貼合裝置64 0連動,以捲取在載體薄膜14表面 碼資訊20之光學薄膜10。裝置500爲/調整光 捲取速度,視需要亦可設置包含進給輥之速度調 未圖示)。另外,資訊記錄裝置630之編碼資 了載體薄膜14以外,也能記錄在表面保護薄膜1 (編碼資訊的生成) 表1及第2 1圖的模式圖係顯示本實施態樣 含缺陷位置的編碼資訊2 0的實施態樣。編碼資| 將所有資訊儲存在1個記憶媒體,亦可分散在隔 隔(例如間隔1 m或間隔100m等)配置的記憶 存資訊等有許多不同的態樣。選擇哪個方式或將 置資訊儲存成編碼資訊20是按照記錄媒體的容 顯示元件製造方法及裝置所要求的功能來作選擇 因此,第1 8圖及第19〜2 1圖的模式圖及流 的實施態樣應注意不僅只是一例。 編碼資訊2 0是將識別資訊(根據包含黏著遷 光薄膜11所事先決定的不良區域和正常區域來 測出的內在缺陷)及切斷位置資訊(用來形成相 區域和正常區域的偏光薄膜的不良薄片和正常薄 製造批號、捲體公尺數等一起(或和該等資訊相 行編碼所得的資訊是記錄在從本實施態樣的光學 捲取驅動 保護薄膜 記錄有編 學薄膜的 整裝置( 气2〇,除 3 〇 的生成包 Η 20,可 著一定間 媒體來儲 這樣的位 量、液晶 〇 程圖所示 『1 2之偏 識別所偵 當於不良 片),和 關聯)進 薄膜之積 -76- 1341945 層體捲10所送出光學薄膜的連續帶狀體。編碼資訊20只 要是在液晶顯示元件的製造過程中能利用液晶顯示元件的 連續製造裝置1之讀取裝置120來自動讀取者即可,可採 用任何方式。 第18圖係顯示在所供應的光學薄膜的連續帶狀體上 ’算出應形成切入線(用來區分偏光薄膜的不良區域和正 常區域)位置的方法的模式圖。 控制裝置600是讓資訊處理裝置610及記億裝置620 動作’使影像讀取裝置590所讀取的影像資料和測長裝置 5 5 0的測長資料(根據偏光薄膜〗1前端的送出量)相關 聯而進行資訊處理,以生成與偏光薄膜11內存在的缺陷 的位置或座標相關的位置資料,儲存於記憶裝置62 0。控 制裝置600首先是根據與缺陷的位置或座標相關的位置資 料來決定偏光薄膜1 1的不良區域和正常區域。控制裝置 600是進一步根據所決定的偏光薄膜11的不良區域和正 常區域來生成切斷位置資訊。切斷位置資訊是用來指定在 光學薄膜的連續帶狀體上應形成切入線的位置,切入線的 形成是在製造液晶顯示元件時,藉由切斷裝置1 50將所供 應的光學薄膜的連續帶狀體沿著相對於進給方向的橫方向 ,且在該光學薄膜的連續帶狀體進行切入(深度從載體薄 膜的相反側到達載體薄膜的黏著層側的面爲止)。此處所 生成的切斷位置資訊也儲存在記憶裝置620。資訊處理裝 置6 1 0是根據所儲存的切斷位置資訊,和製造批號、捲體 公尺數等一起(或是和該等資訊相關聯)進行編碼而生成 -77- 1341945 編碼資訊,並儲存於記憶裝置62 0。第1 9圖~第 顯示爲了算出在所供應光學薄膜的連續帶狀體上 入線的位置之不同方法的流程圖。 以下,使用第18圖的模式圖及第19圖全第 流程圖來作說明。第1 8圖的模式圖係顯示將在 層保護薄膜所構成的偏光薄膜110或含有黏著層 膜11(以下,將兩者總稱爲「偏光薄膜11」) 體薄膜貼合裝置570的進給輥而往右連續供應的 是,光學薄膜由於是藉著載體薄膜貼合裝置570 有可轉印的黏著層之載體薄膜1 4可剝離自如地 光薄膜110(在偏光子上積層保護薄膜所構成) 因此,在此處是將藉由進給輥連續供應的偏光薄 「光學薄膜」。第19圖至第21圖的流程圖是顯 薄膜,較佳爲在載體薄膜14表面記錄,記錄有 20的光學薄膜直到藉由光學薄膜捲取驅動裝置 捲取爲止的具體步驟。 在任一個情況,步驟1中,控制裝置600使 裝置540及光學薄膜捲取驅動裝置5 80動作,以 薄膜。步驟2中,控制裝置600是藉由包含影像 590的檢查裝置560來偵測光學薄膜內存在的缺 或座標,並將缺陷的位置或座標和所偵測出的缺 大小一起儲存到記憶裝置620。在步驟3及4中 置600是根據所偵測出的缺陷的位置或座標,來 薄膜的薄片長度和相當於正常區域的長度(xtt) 21圖係 應形成切 2 1圖的 偏光子積 的偏光薄 ,藉由載 狀態。但 ,將生成 積層在偏 而生成, 膜總稱爲 示將光學 編碼資訊 5 8 0進行 貼合驅動 供應光學 讀取裝置 陷的位置 陷種類或 ,控制裝 界定光學 的關係。 -78 - 1341945 關於界定該關係的方法是在以下具體說明。 步驟3中,控制裝置600是藉由資訊處理裝置610, 來運算所供應的光學薄膜的從基準位置到缺陷位置的距離 X ’將運算結果儲存在記憶裝置620。距離X,如第1 8圖 所示,例如是載體薄膜貼合裝置570的位置(光學薄膜的 基準位置)和檢查裝置560 (或影像讀取裝置590 )的位 置(缺陷位置)間的距離。 · 接著步驟4中,控制裝置6 00是進一步藉由資訊處理 裝置610,算出距離X減去相當於正常區域的長度(Χα) 後的距離(Χ-χα) =Χ’,並儲存在記憶裝置620。相當於 光學薄膜的正常區域的長度(χα )是根據液晶面板的大小 而由系統管理員來設定,且事先儲存在記憶裝置620。接 著控制裝置600是根據資訊處理裝置610來判定所算出的 距離X’是比事先儲存在記憶裝置620的相當於光學薄膜 的正常區域的長度(xa)更長或更短。 亦即’在第18圖所示的X’(或X”)>Χα時,由於表 示可確保光學薄膜的正常區域(χβ),因此控制裝置600 會指示貼合驅動裝置540及光學薄膜捲取驅動裝置580, 而以張緊狀態僅供應正常區域長度(χα)量的光學薄膜。 這時的(Χα)値是用來形成相當於光學薄膜的正常區域之 正常薄片Χα的切斷位置資訊。 另外’在Χ’$Χα時,亦即第18圖所示的父”^一時 ’則表示無法確保光學薄膜的正常區域(Χα )。在此情況 ,光學薄膜的長度(ΧΡ)的區域變成不良區域(χρ),控 -79- 1341945 制裝置600會藉由資訊處理裝置61〇,將χ,( 18圖所示 的X”’)加上一定尺寸XQ而算出相當於不良區域(χρ)的 長度(Χ’+Χ〇) =Χρ’並指示貼合驅動裝置54〇及光學薄膜 捲取驅動裝置580 ’以張緊狀態僅拱應不良區域長度(xp )量的光學薄膜。這時的(xp)値是用來形成相當於光學 薄膜的不良區域之不良薄片xp的切斷位置資訊。 亦即’控制裝置600是進行以下(a)及(b)的運算 ,即 (a ) X’>x„時’到應形成下個切入線的位置的距離 =Χα (b) 乂’$〜時,到應形成下個切入線的位置的距離= (Χ,+Χ〇) =Χβ 而將切斷位置資訊(用來指定在液晶顯示元件的製造 過程中所供應光學薄膜的連續帶狀體上應形成切入線的位 置,以形成偏光薄膜的正常薄片χα和不良薄片Xp)儲存 在記憶裝置620。 然而,在相當於不良區域的長度(X’ + x〇) =(xp)和 相當於正常區域的長度()相等的値時,亦即(X’ + x0 )=(“)時,控制裝置600無法識別或區別正常區域( X α )和不良區域(X Ρ )。亦即’不良區域無法以不良區域 (xp)的形式被辨識出,例如無法從光學薄膜的送出量( 測長資料)來判定該區域是屬於(x<* )或(XP )哪一個等 ,因此根據該測長資料(X’ +XQ )所生成的編碼資訊變得 不完全。這種事態,可想像的情況是包括:光學薄膜內存 -80-
1341945 在的缺陷的位置或座標和光學薄膜之應形成 位置非常接近的情況,或是連續的缺陷是跨 域的長度(X α )來分布的情況。 步驟5中’當(Χ’+χ〇) = (χα)時,控制 根據至少下述任一方法,藉由資訊處理裝置6 ,而生成用來識別或區別正常區域(χβ )和不 )的資訊。 在第1 9圖的步驟5中,即使資訊處理裝 算的到應形成下個切入線的位置的距離(X’-於正常區域的長度(χα)時,該區域並非正雋 。爲了辨識此情況,如第22圖所示的含有缺 所示,例如能讓用來指定應形成相當於正常區 的位置之切斷位置資訊和數値「〇」相關聯, 成相當於不良區域的切入線的位置之切斷位置 「1」相關聯。第20圖的步驟5中,在藉由資 6 1 0運算出的到應形成下個切入線的位置之S )形成相當於正常區域的長度(χα )的情況, 理而使應形成下個切入線的位置成爲(X’ x〇’>x〇的關係),並儲存在記憶裝置620。如 示,該資訊處理藉由計算不同於之(X’ + 識別或區別()長度的區域和正常區域 21圖的步驟5中,在藉由資訊處理裝置610 應形成下個切入線的位置的距離(X ’ + )形 常區域的長度(Χα )的情況,進行資訊處理而 「個切入線的 丨當於正常區 裝置600是 1 〇進行運算 、良區域(Χρ 置6 1 0所運 —)是相當 :區域(X α ) 陷的資訊Χγ 域的切入線 讓指定應形 資訊和數値 訊處理裝置 ί巨離(Χ’+χ0 進行資訊處 + x〇’)(有 第23圖所 x〇’ ),即可 :(X<I )。第 運算出的到 成相當於正 使應形成下 -81 - 1341945 個切入線的位置成爲(X’ + xq) /m(m = 2以上,最好是2 或3 ),並儲存於記憶裝置62 0。如第24圖所示,該資訊 處理也可如第20圖的場合藉由計算不同於Xa2 ( X’ + x〇 )/m,即可識別或區別{ ( X’+XQ ) /m}長度的區域和正常 區域(χα )。 綜上所述,用來識別或區別不良區域和正常區域的資 訊之生成方法,例如可採用以下任一個方法。 (1 )作爲用來識別或區別資訊處理裝置6 1 0所運算 的(X’+x〇)的長度區域和正常區域(xe)的資訊是生成 含有缺陷的資訊Χγ的方法。 (2) 生成藉由資訊處理裝置610所運算的不同於xa 的到應形成下個切入線的位置之距離X’+XQ’(但有χ〇’> x〇的關係)的方法。 (3) 生成藉由資訊處理裝置610所運算的不同於χα 的到應形成下個切入線的位置之距離(χ’+χ0 ) /m (但 m = 2以上)的方法。 特別是在採用(2 )或(3 )的方法的情況,(X’ + x〇 )=Χα是經由第20圖或第21圖所示的資訊處理’而成爲 (Χ,+χ〇,)*χα或(X’+xG) /mMa’因此該等應形成切入 線的位置,變成能和正常區域(χ α )識別或區別的表示不 良區域(xP)的資訊。 接著,步驟6中,在任一個情況都是’控制裝置600 會根據步驟4、5所運算的結果,藉由資訊處理裝置6 1 0 來決定從基準位置到應形成下個切入線的位置的長度。步 -82- 1341945 驟7中,在上述(2 )或(3 )的情況,控制裝置600將步 驟6中所決定的到應形成下個切入線的位置的長度儲存於 記億裝置620。但在上述(1 )的情況,控制裝置600是 將所決定的到應形成下個切入線的位置的長度,以和含有 ,缺陷的資訊χγ相關聯的形式加以儲存。 步驟8中,在任一個情況都是,控制裝置600藉由資 訊處理裝置610,將切斷位置資訊(根據步驟7中所儲存 I 的到應形成下個切入線的位置的長度,來指定所供應的光 學薄膜的前端應形成切入線的位置),和製造批號、捲體 公尺數等一起(或者和該等資訊相關聯)轉換成編碼資訊 。在上述(1 )的情況,與此同時也將含有缺陷的資訊χγ 轉換成編碼資訊。 在步驟9中,控制裝置600是將藉由資訊處理裝置 61〇在步驟8進行轉換後的編碼資訊,藉由資訊記錄裝置 630來記錄在光學薄膜(較佳爲載體薄膜的表面)。在上 φ述(1 )的情況,轉換成編碼資訊後的含有缺陷資訊χγ也 —起進行記錄。最後,在步驟1 〇中,控制裝置600使貼 合驅動裝置540及光學薄膜捲取驅動裝置58 0動作,將所 生成的光學薄膜予以捲取。如此即完成光學薄膜之積層體 -捲。附帶一提,編碼資訊的例子是如表1及第22圖至第 24圖所示。 - · (明白揭示缺陷檢查步驟之光學薄膜之積層體捲的詳細製 造裝置) -83- 1341945 參照第25圖及第26圖,來詳細說明光 體捲10之製造裝置(包含形成有黏著層1 11內存在的缺陷之具體檢查方法)。第25 明的第2實施態樣的包含2個檢查裝置之光 體捲的製造裝置700的模式圖。 擬光學薄膜之積層體捲10’的製造過程 的至少一面積層保護薄膜而生成偏光薄膜1 膜110的另一面形成黏著層12,藉此生成 接著,在偏光薄膜11的黏著層12上可剝離 載體薄膜14’,將其捲取而生成擬光學薄丨 10’。如此事先所生成的擬光學薄膜之積層體 自如地裝設在擬光學薄膜供應裝置7 1 0的支 裝置700除了擬光學薄膜供應裝置710以外 載體薄膜捲取驅動裝置72 0、第1檢查裝置 查裝置731、控制裝置740、載體薄膜供應 體薄膜貼合裝置760、光學薄膜捲取驅動裝 資訊記錄裝置7 8 0。 擬光學薄膜是藉由擬光學薄膜供應裝置 學薄膜之積層體捲10’連續地供應。擬載體 裝置720是沿著擬光學薄膜的進給方向配設 學薄膜將擬載體薄膜14’予以剝離並捲取除f 裝置73 0及第2檢查裝置731是用來偵測包 薄膜14’的剝離所露出黏著層12的偏光薄腫 內部的缺陷。第1檢查裝置730是表2所示 學薄膜之積層 2之偏光薄膜 圖係顯示本發 學薄膜之積層 中,在偏光子 1 〇,在偏光薄 爵光薄膜1 1。 自如地積層擬 漠之積層體捲 捲1 〇 ’是旋轉 架裝置7 1 1。 ,並具備:擬 730 '第2檢 裝置750 、載 置770 、以及 7 1 〇而從擬光 薄膜捲取驅動 ,用來從擬光 έ。第1檢查 含根據擬載體 丨11的表面及 的透過檢查裝 -84- 1341945 置。透過檢查是讓光源所發出的可見光朝偏光薄膜π垂 直射入,藉由光學式偵測單元來接收透過偏光薄膜11的 光,藉此將光學薄膜內存在的缺陷以陰影的形式偵測的檢 查方法。第2檢查裝置731是表2所示的正交偏光透過檢 查裝置。正交偏光透過檢查是讓光源所發出的可見光朝偏 光薄膜1 1垂直或傾斜射入’在光學式偵測單元的前方設 置偏光過濾器(偏光過濾器的吸收軸相對於偏光薄膜的吸 收軸形成90°)的狀態下’藉由光學式偵測單元來接收透 過偏光薄膜11的光,將光學薄膜內存在的缺陷以亮點的 形式偵測的檢査方法。 控制裝置740是藉由資訊處理裝置741,根據第1檢 查裝置73 0及第2檢查裝置所偵測出的缺陷的位置或座標 來決定偏光薄膜11的不良區域和正常區域。控制裝置 740,進一步藉由資訊處理裝置741來生成切斷位置資訊 (用來根據所決定的不良區域和正常區域使偏光薄膜11 形成不良薄片xtt和正常薄片xp),將所生成的切斷位置 資訊轉換成編碼資訊20。編碼資訊是藉由資訊記錄裝置 780’記錄在新積層在偏光薄膜U上的載體薄膜14的表 面。 接續於第2檢查裝置73 1所配置的載體薄膜供應裝置 750是從旋轉自如地裝設在支架裝置751之載體薄膜14 的捲體’使載體薄膜14沿著偏光薄膜11的進給方向連續 地供應。包含一對輥之貼合裝置7 6 〇,在檢查裝置進行的 檢查完成後’在露出狀態的黏著層1 2上可剝離自如地積 -85- 1341945 層載體薄膜14,以生成光學薄膜。雖然重複如上述,在 新積層的載體薄膜14的表面,藉由資訊記錄裝置780來 記錄編碼資訊20。將所生成的光學薄膜藉由光學薄膜捲 取驅勤裝置770捲取而成爲光學薄膜之積層體捲10。藉 由控制裝置740使各裝置分別以能連動的方式進行動作。 第26圖係顯示第3實施態樣之包含4個檢查裝置之 光學薄膜之積層體捲的製造裝置8 00的模式圖。 擬光學薄膜之積層體捲10”的製造過程中,在偏光子 的至少一面積層保護薄膜而生成偏光薄膜110,在偏光薄 膜110的另一面形成黏著層12,藉此生成偏光薄膜11。 接著,在偏光薄膜11的黏著層12上可剝離自如地積層擬 載體薄膜14’,在偏光薄膜的相反側(未積層有擬偏光薄 膜1 4 ’側)的面透過黏著面而可剝離自如地積層擬表面保 護薄膜13’,將其捲取而生成擬光學薄膜之積層體捲10” 。事先所生成的擬光學薄膜之積層體捲1 0”是旋轉自如地 裝設在擬光學薄膜供應裝置810的支架裝置811。 裝置800,除了擬光學薄膜供應裝置8 1 0以外,具備 :擬載體薄膜捲取驅動裝置820、擬表面保護薄膜捲取驅 動裝置830、第1檢査裝置840、第2檢查裝置850、第3 檢查裝置851、第4檢查裝置852、控制裝置860、表面 保護薄膜供應裝置870、載體薄膜供應裝置8 80、2組的 貼合裝置890 (載體薄膜貼合裝置891及表面保護薄膜貼 合裝置892 )、光學薄膜捲取驅動裝置910、以及資訊記 錄裝置9 2 0。 -86- 1341945 擬ρ光學薄膜是藉由擬光學薄膜供應裝置 薄膜之積層體捲10連續地供應擬光學薄模 保護薄膜捲取驅動裝置830是沿著擬光學薄 配設,用來從擬光學薄膜將擬表面保護薄膜 並捲取除去。接著,擬載體薄膜捲取驅動裝 擬光學薄膜的進給方向配設,用來從擬光學 薄膜14’予以剝離並捲取除去。 如第26圖所示,配設於裝置8 00的檢 。第1檢查裝置840是在擬表面保護薄膜 830和擬載體薄膜捲取驅動裝置820之間, 表面保護薄膜13’被剝離而積層有擬載體薄 之擬光學薄膜。利用來自露出狀態的偏光薄 薄膜的光反射,來偵測偏光薄膜1 1表面的ί 查裝置850、第3檢查裝置851、第4檢查 擬載體薄膜捲取驅動裝置8 20和載體薄膜供 間,讓光線透過包含露出狀態的黏著層12;; (藉由擬載體薄膜捲取驅動裝置820將擬載 以剝離並捲取除去),以偵測偏光薄膜11 缺陷。 具體內容說明如下。第2檢查裝置850 透過檢查用的裝置。透過檢查是讓從光源發 偏光薄膜Π垂直射入,藉由光學式偵測單 偏光薄膜11的光,將光學薄膜內存在的缺 式偵測出。第3檢查裝置8 5 1是表2所示的 810從擬光學 1 〇’。擬表面 膜的進給方向 1 3 ’予以剝離 置820是沿著 薄膜將擬載體 查裝置有4處 捲取驅動裝置 用來檢查僅擬 膜1 4 ’的狀態 膜1 1的保護 决陷。第2檢 裝置852是在 應裝置8 8 0之 艺偏光薄膜1 1 體薄膜14’予 表面及內部的 是表2所示的 出的可見光朝 元來接收透過 陷以陰影的形 傾斜透過檢查 -87- 1341945 用的裝置。傾斜透過檢查是讓從傾斜透過光源發出的可見 光朝偏光薄膜π傾斜射入,藉由光學式偵測單元來接收 透過偏光薄膜的光’將光學薄膜內存在的缺陷以陰影的形 式偵測出。另外’第4檢查裝置8 5 2是表2所示的正芡偏 光透過檢查裝置。正交偏光透過檢查是讓從光源發出的可 見光朝偏光薄膜垂直或傾斜射入,在光學式偵測單元的前 方設置偏光過濾器(偏光過濾器的吸收軸相對於偏光薄膜 的吸收軸形成90° )的狀態下,藉由光學式偵測單元來接 收透過偏光薄膜Π的光,將光學薄膜內存在的缺陷以亮 點的形式偵測出。 控制裝置860是藉由資訊處理裝置861,根據第1檢 查裝置84〇、第2檢查裝置850、第3檢查裝置851及第 4檢査裝置8 5 2的4個檢查裝置所偵測的缺陷的位置或座 標來決定偏光薄膜11的不良區域和正常區域。控制裝置 860’進一步藉由資訊處理裝置861來生成切斷位置資訊 (用來根據所決定的不良區域和正常區域使偏光薄膜11 形成不良薄片Χα和正常薄片Xp ),將所生成的切斷位置 資訊轉換成編碼資訊20。編碼資訊是藉由資訊記錄裝置 920記錄在新積層於偏光薄膜η上的載體薄膜14的表面 〇 .接續在第4檢查裝置85 2所配置的載體薄膜供應裝置 880是從旋轉自如地裝設在支架裝置871之載體薄膜14 的捲體’將載體薄膜1 4沿著偏光薄膜1 1的進給方向連續 地供應。並將接續在載體薄膜供應裝置8 8 0所配置的表面 -88- 1341945 保護薄膜供應裝置870,從旋轉自如地裝設在支架裝置 871之表面保護薄膜13的捲體,使表面保護薄膜13沿著 偏光薄膜1 1的進給方向連續地供應。分別包含一對輥之 貼合裝置890(亦即載體薄膜貼合裝置891及表面保護薄 膜貼合裝置8 92 ),在設置於4處的檢查裝置所進行的檢 查完成後,在露出狀態的黏著層12及偏光薄膜11的未形 成黏著層的面上,分別可剝離自如地積層載體薄膜1 4及 表面保護薄膜13,藉此生成光學薄膜。雖重複說明,在 新積層的載體薄膜14的表面,藉由資訊記錄裝置920來 記錄編碼資訊20。所生成的光學薄膜藉由光學薄膜捲取 驅動裝置910捲取而成爲光學薄膜之積層體捲10。藉由 控制裝置8 60,使各裝置分別以可連動的方式進行動作。 關於本發明雖是記載較佳的實施態樣,但可理解的是 只要該業者即可在不脫離本發明的範圍內進行各種改變, 而用均等物來代替相關要素。因此,本發明並不限定於所 揭示的特定實施態樣(爲了實施本發明所考慮到的最佳實 施態樣),而是包含屬於申請專利範圍的所有的實施態樣 【圖式簡單說明】 第1圖係顯示本發明液晶顯示元件製造用的光學薄膜 的構造模式圖。 第2圖係畫面尺寸爲對角4 2吋的大型電視用液晶顯 示元件的典型例。 -89- 1341945 第3圖係顯示本發明液晶顯示元件製造用的光學薄膜 之含內存在有缺陷的不良區域和不含缺陷的正常區域之模 式圖。 第4圖係顯示液晶顯示元件的連續製造裝置的槪念圖 ,將所供應的光學薄膜的連續帶狀體不中斷地經由偏光薄 膜的缺陷檢查而將偏光薄膜的薄片貼合於液晶面板。 辨5圖係顯示本發明的一實施態樣之液晶顯示元件的 連續製造裝置之槪念圖;該連續製造裝置,包含:從所裝 設的光學薄膜之積層體捲供應光學薄膜的連續帶狀體之供 應裝置、以及讓從所供應的光學薄膜的連續帶狀體生成( 藉由形成切入線而切斷後)的偏光薄膜的正常薄片貼合的 液晶面板搬運裝置。 第6圖係顯示第5圖所示的本發明液晶顯示元件的連 續製造裝置的各製造過程、亦即製造步驟的流程圖。 第7圖係顯示本發明的一實施態樣的液晶顯示元件的 製造裝置中的編碼資訊和控制裝置的關係之模式圖;該編 碼資訊是被讀取裝置所讀取且被資訊處理裝置實施資訊處 理,該控制裝置是用來控制第5圖所示的光學薄膜的連續 帶狀體的供應裝置及液晶面板的搬運裝置等各裝置。 第8 ( 1 )圖係顯示,本發明的一實施態樣之配置於 光學薄膜的搬運路徑之擬薄膜驅動裝置的模式圖:第8( 2 )圖係顯示,本發明的一實施態樣之包含擬薄膜驅動裝 置(可在貼合裝置之互相分離的一對貼合輥間進行出入) 之不良偏光薄片的排出裝置之模式圖。 -90- 1341945 第9圖係顯示本發明的一實施態樣之液晶顯示元件的 連續製造裝置中的切斷位置確認裝置的動作之模式圖;該 切斷位置確認裝置包含檢查手段,以確認光學薄膜的送出 量的測長資料(根據供應的光學薄膜的連續帶狀體上所形 成的切入線來算出)和讀取裝置所讀取的應形成切入線的 位置間的偏差。 第1 0圖係本發明的一實施態樣之液晶顯示元件的連 續製造裝置中,藉由讀取裝置來讀取光學薄膜的連續帶狀 體上所記錄的編碼資訊’根據該編碼資訊來控制液晶面板 搬運裝置所包含的預對準裝置、對準裝置、往貼合位置的 搬運裝置及液晶面板邊緣偵測裝置等的各裝置,來搬運姿 勢被控制的液晶面板的模式圖。 第1 1圖係顯示包含邊緣偵測裝置和直線前進位置偵 測裝置之液晶面板的貼合裝置之模式圖,該邊緣偵測裝置 是用來偵測從第10圖表示從光學薄膜的連續帶狀體所生 成的偏光薄膜的正常薄片的前端的邊緣部分,該直線前進 位置偵測裝置是用來偵測所生成的偏光薄膜的正常薄片是 否與進給方向一致。 第1 2圖係模式顯示本發明的第1實施態樣之包含偏 光薄膜的光學薄膜之積層體捲之製造方法及裝置的模式圖 〇 第1 3圖係模式顯示本發明的第2實施態樣之包含偏 光薄膜的光學薄膜之積層體捲之製造方法及裝置的模式圖 -91 - 1341945 第14圖係模式顯示本發明的第3實施態樣之包含偏 光薄膜的光學薄膜之積層體捲之製造方法及裝置的模式圖 〇 第15圖係顯示,第12_所示的包含偏光薄膜的光學 薄膜之積層體捲之製造方法及裝置的各製造過程(即製造 步驟)的流程圖。 第16圖係顯示,第13圖所示的包含偏光薄膜的光學 薄膜之積層體捲之製造方法及裝置的各製造過程(即製造 步驟)的流程圖。 第17圖係顯示,第14圖所示的包含偏光薄膜的光學 薄膜之積層體捲之製造方法及裝置的各製造過程(即製造 步驟)的流程圖。 第18圖係顯示本發明的一實施態樣之爲區分偏光薄 膜的不良區域和正常區域而算出所供應的光學薄膜的連續 帶狀體上應形成切入線的位置的方法的模式圖。 第19圖係分別顯示爲算出光學薄膜的連續帶狀體上 應形成切入線的位置的不同方法的流程圖。 第20圖係分別顯示爲算出光學薄膜的連續帶狀體上 應形成切入線的位置的不同方法的流程圖。 第21圖係分別顯示爲算出光學薄膜的連續帶狀體上 應形成切入線的位置的不同方法的流程圖。 第22圖係顯示本發明的一實施態樣之光學薄膜的切 入線形成位置的編碼資訊例(對應第1 9圖的儲存含有缺 陷資訊χγ的方法)的圖。 -92- 1341945 第23圖係顯示本發明的一實施態樣之光學薄膜的切 入線形成位置的編碼資訊例(對應第20圖的下個切入線 的形成位置的距離= X,+ XQ,(有xQ’>xQ的關係)的方法) 的圖。 第2 4圖係顯示本發明的一實施態樣之光學薄膜的切 入線形成位置的編碼資訊例(對應第21圖的下個切入線 的形成位置的距離=(X’ + x〇) /m ( m = 2以上)的方法)的 圖。 第2 5圖係顯示本發明的第2實施態樣之包含2個檢 查裝置的光學薄膜之積層體捲的製造裝置之模式圖。 第2 6圖係顯示本發明的第3實施態樣之包含4個檢 杳裝置的光學薄膜之積層體捲的製造裝置之模式圖。 表1係顯示本發明的一實施態樣之光學薄膜的位置資 訊的編碼例及記錄內容的列表。 -93- 1341945 S 葙S a CM l τ~* s ο r·^ 1 r-H 蝤 i 1m m 坳 e Ο s ON 鲰 Μ 雜 酺 δ 键 臺鲥駿Η廿 Κ r lllK ffl di ΕΚ 运 ^ ^ m m m ^ m ^ m M M M u ^ 酗 s 纏 £峨©坦κ g g筚湮湮銎糊迤 5蚝堪谨爲肜运 mK ifr ^ 截瞍Μ W i:砟 梂夺郷 m m M •μ此忤 ^ m _ 拗 〇 1 H- M 駿 W wm ; 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S E ^ 口 m m ·· y 莩 〇 »—Η CN m 類 --一 m 二 種 陷 缺 和 置 裝 查 檢 陷 缺 的 樣 態 施 實 的 明 發 本 係 2 表 和缺陷檢查方法的列表。 -94 - 1341945 m ittwn 卿 m JiP κ- ψ 湮 m 〇 X 〇 a 回 〇 < X tUBL 歡 X < 〇 m 减 筢 e < 〇 〇 瞰 m K < 〇 〇 醎 % 槲 1 粕 m 麗 -^sili «^i^i— * 越截—Ya;M製1雲33i奕—義粕-¾ - 00^IsisiiiE.sisii«i 明 說 feL· 符 件 元 要 主 10 :光學薄膜 -95 1341945 10’、10” :擬光學薄膜 11 :形成有黏著層的偏光薄膜 110:未形成有黏著層的偏光薄膜 12 :黏著層 1 3 :表面保護薄膜 13’ :擬表面保護薄膜 1 4 :載體薄膜 14’ :擬載體薄膜 2 0 .編碼資訊 100:光學薄膜供應裝置 1 10 :支架裝置 120 :資訊讀取裝置 1 30、1 70 :薄膜供應裝置 140、1 80 :速度調整裝置 1 50 :切斷裝置 160 :切斷位置確認裝置 190:不良薄片排除裝置 200 :貼合裝置 210:載體薄膜捲取驅動裝置 2 20 :邊緣偵測裝置 2 3 0 :直線前進位置偵測裝置 3 00 :液晶面板搬運裝置 400 :控制裝置 4 1 0 :資訊處理裝置 -96 - 1341945 420 :記憶裝置 5 00、7 00、800:光學薄膜之積層體捲的製造裝置 5 1 0 :偏光子的製造線 520 :保護薄膜的製造線 5 3 0 :貼合線或擬光學薄膜供應裝置 540.貼合驅動裝置 5 5 0 :測長裝置 560 :檢查裝置 5 70 :載體薄膜貼合裝置 57 1 :支架裝置 5 72 :脫模薄膜捲取驅動裝置 5 75 :擬載體薄膜剝離裝置 576:擬載體薄膜捲取驅動裝置 580:光學薄膜捲取驅動裝置 590 :影像讀取裝置 600 :控制裝置 6 1 0 :資訊處理裝置 620 :記憶裝置 63 0 :資訊記錄裝置 640 :表面保護薄膜貼合裝置 645 :擬表面保護薄膜剝離裝置 646:擬表面保護薄膜捲取驅動裝置 710:擬光學薄膜供應裝置 72 0:擬載體薄膜捲取驅動裝置 -97- 1341945 7 3 Ο :第1檢查裝置 73 1 :第2檢查裝置 740 :控制裝置
一 4 4 · —*Ατ» —Tt — t I 1J M f» L_»AJ / H 1 · 買明《艇牲我直 742 :記憶裝置 75 0 :載體薄膜供應裝置 760 :載體薄膜貼合裝置 770 :光學薄膜捲取驅動裝置 78 0 :資訊記錄裝置 810:擬光學薄膜供應裝置 820 :擬載體薄膜捲取驅動裝置 830:擬表面保護薄膜捲取驅動裝置 840 :第1檢查裝置 8 5 0 :第2檢查裝置 85 1 :第3檢查裝置 8 52 :第4檢查裝置 8 6 0 :控制裝置 8 6 1 :資訊處理裝置 862 :記憶裝置 8 70 :表面保護薄膜供應裝置 8 8 0 :載體薄膜供應裝置 890 :貼合裝置 89 1:載體薄膜貼合裝置 8 92 :表面保護薄膜貼合裝置 -98 - 1341945 910:光學薄膜捲取驅動裝置 920 :資訊記錄裝置
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Claims (1)

1341945 七、申請專利範圍: 1. 一種液晶顯示元件之連續製造方法,係針對形成 預定尺寸的液晶面板,在至少包含著含具有對應該液晶面 板寬度的寬度之黏箸層的偏光薄膜和可剝離自如地積層在 該黏著層上的載體薄膜的光學薄膜的連續帶狀體上,根據 上述偏光薄膜的事先檢查所偵測出的缺陷位置來決定包含 缺陷的不良薄片切斷位置與不包含缺陷的正常薄片切斷位 置’將以該等不良薄片切斷位置及正常薄片切斷位置相關 聯的切斷位置資訊作爲編碼資訊加以記錄的上述光學薄膜 的連續帶狀體形成對應液晶面板的尺寸的偏光薄膜的薄片 貼合在液晶面板上形成液晶顯示元件的液晶顯示元件之連 續製造方法,其特徵爲,包含: 朝著貼合站連續送出上述光學薄膜的連續帶狀體的步 驟: 計測該連續帶狀體的送出量並根據該送出量算出測長 資料的步驟; 讀取記錄在該連續帶狀體上的上述編碼資訊的步驟; 在上述連續帶狀體所決定的上述切斷位置到達切斷站 時,上述連續帶狀體上,根據上述編碼資訊與上述測長資 料從與上述載體薄膜的相反側沿著該切斷位置到達載體薄 膜的黏著層側的面的深度爲止,進行切入以形成切入線的 步驟; 判定依序形成在上述連續帶狀體的上述切入線之間所 形成的上述偏光薄膜的薄片是否爲包含缺陷的不良薄片或 -100- 1341945 是不包含缺陷的正常薄片的步驟: 從依序形成在上述連續帶狀體的上述切入線之間所形 成的上述偏光薄膜的薄片之中,將判定爲正常薄片的薄片 從上述載體薄膜剝離送入到上述貼合站的步驟;及 與正常薄片朝貼合站的送入同步供應液晶面板至貼合 站,將該正常薄片貼合在該液晶面板的步驟。 2. 如申請專利範圍第1項記載的液晶顯示元件之連 續製造方法,其中,更包含依序形成在上述光學薄膜的連 續帶狀體的上述切入線之間所形成上述偏光薄膜的薄片之 中,判定爲不良薄片的薄片不貼合在液晶面板的步驟。 3. 如申請專利範圍第1項記載的液晶顯示元件之連 續製造方法,其中,在貼合站中正常薄片貼合在液晶面板 的步驟,更包含使用設置在貼合站可接離的一對貼合輥, 偵測出與液晶面板朝貼合站之供應同步送入的正常薄片的 位置,調整貼合站的正常薄片和液晶面板的貼合位置的步 驟,該步驟是調整使朝著分離後的上述貼合輥的間隙所送 入正常薄片的前端和與該正常薄片的送入同步所供應的液 晶面板的前端一致,然後封閉上述貼合輥,藉此將該正常 薄片貼合在該液晶面板上。 4 ·如申請專利範圍第2項記載的液晶顯示元件之連 續製造方法,其中,在貼合站中正常薄片貼合在液晶面板 的步驟,更包含使用設置在貼合站可接離的一對貼合輕, 偵測出與液晶面板朝貼合站之供應同步送入的正常薄片的 位置,調整貼合站的正常薄片和液晶面板的貼合位置的步 -101 - 1341945 驟,該步驟是調整使朝著分離後的上述貼合輥的間隙所送 入正常薄片的前端和與該正常薄片的送入同步所供應的液 晶面板的前端一致,然後封閉上述貼合輕,藉此將該正常 薄片貼合在該液晶面板上。 5. 如申請專利範圍第1項至第4項中任一項記載的 液晶顯示元件之連續製造方法,其中,更包含確認對光學 薄膜的連續帶狀體實際進行切入的位置是否與應進行切入 的位置一致的切入位置確認步驟。 6. 如申請專利範圍第5項記載的液晶顯示元件之連 續製造方法,其中,切人位置確認步驟是根據上述光學薄 膜的連續帶狀體的進給方向顯示對於上述連續帶狀體實際 進行切入的位置和應進行切入的位置之間的偏差量,調整 形成在上述連續帶狀體的切入線的位置。 7 ·如申請專利範圍第2項記載的液晶顯示元件之連 續製造方法,其中,判定爲不良薄片的薄片不貼合在液晶 面板的步驟是當形成在上述光學薄膜的連續帶狀體的不良 薄片到達排除站時,利用貼附不良薄片的擬薄膜搬運路徑 與朝著該擬薄膜搬運路徑來移動上述連續帶狀體的移動輥 ’藉著該移動輥來移動上述連續帶狀體,藉以使該不良薄 片連續於該擬薄膜搬運路徑而從上述連續帶狀體剝離,貼 附在上述擬薄膜搬運路徑上。 8 .如申請專利範圍第2項記載的液晶顯示元件之連 續製造方法,其中,判定爲不良薄片的薄片不貼合在液晶 面板的步驟是當形成在上述光學薄膜的連續帶狀體的不良 -102- 1341945 薄片到達設置在貼合站之分離後的上述貼合輥的間隙# , 利用貼附不良薄片的擬薄膜搬運路徑與構成該擬薄膜搬胃 路徑一部分的移動輥,藉著該移動輥的移動將該移動輥置 換成上述貼合輥一方的輥,藉以使該移動輥和上述貼合輕 另一方的輥連動,將此不良薄片從上述連續帶狀體剝離, 貼附在上述擬薄膜搬運路徑上。 9 ·如申請專利範圍第1項至第4項、第7項、第8 _ 項中任一項記載的液晶顯示元件之連續製造方法,其中, 更包含將液晶面板事先收容在收容匣內,從該收容匣依序 搬出該液晶面板,將形成在上述光學薄膜的連續帶狀體的 正常薄片送入到貼合站時,與該正常薄片的送入同步,控 制供應至貼合站之液晶面板姿勢的步驟。 10·如申請專利範圍第5項記載的液晶顯示元件之連 續製造方法,其中,更包含將液晶面板事先收容在收容匣 內’從該收容匣依序搬出該液晶面板,將形成在上述光學 φ薄膜的連續帶狀體的正常薄片送入到貼合站時,與該正常 薄片的送入同步,控制供應至貼合站之液晶面板姿勢的步 驟。 11.如申請專利範圍第6項記載的液晶顯示元件之連 .續製造方法,其中,更包含將液晶面板事先收容在收容厘 , 內’從該收容匣依序搬出該液晶面板,將形成在上述光學 薄膜的連續帶狀體的正常薄片送入到貼合站時,與該正常 薄片的送入同步,控制供應至貼合站之液晶面板姿勢的步 驟。 -103- 1341945 1 2.如申請專利範圍第9項記載的液晶顯示元件之連 續製造方法,其中,控制液晶面板的姿勢的步驟是偵測出 對上述光學薄膜的連續帶狀體的進給方向朝著橫方向延伸 的正常薄片前端緣部的位置,及對上述液晶面板的進給方 向朝著橫方向延伸的液晶面板前端緣部的位置,根據正常 薄片前端緣部的位置資訊和液晶面板前端緣部的位置資訊 ,控制上述液晶面板的姿勢。 1 3 · —種液晶顯示元件之連續製造裝置,係針對形成 預定尺寸的液晶面板,在至少包含著含具有對應該液晶面 板寬度的寬度之黏著層的偏光薄膜和可剝離自如地積層在 該黏著層上的載體薄膜的光學薄膜的連續帶狀體上,根據 上述偏光薄膜的事先檢查所偵測出的缺陷位置來決定包含 缺陷的不良薄片切斷位置與不包含缺陷的正常薄片切斷位 置,將以該等不良薄片切斷位置及正常薄片切斷位置相關 聯的切斷位置資訊作爲編碼資訊加以記錄的上述光學薄膜 的連續帶狀體形成對應液晶面板的尺寸的偏光薄膜的薄片 貼合在液晶面板上形成液晶顯示元件的液晶顯示元件之連 續製造裝置,其特徵爲,包含: 朝貼合站連續送出上述光學薄膜的連續帶狀體的送出 裝置; 計測該連續帶狀體的送出量並根據該送出量算出測長 資料的計測裝置; 讀取記錄在上述連續帶狀體上的上述編碼資訊的讀取 裝置; -104- 1341945 在上述連續帶狀體所決定的上述切斷位置到達切斷站 時’上述連續帶狀體上,根據上述編碼資訊與上述測長資 料從與上述載體薄膜的相反側沿著該切斷位置到達上述載 體薄膜的黏著層側的面的深度爲止,進行切入以形成切入 線的切斷裝置; 判定依序形成在上述連續帶狀體的上述切入線之間所 形成的上述偏光薄膜的薄片是否爲包含缺陷的不良薄片或 是不包含缺陷的正常薄片的控制手段; 從依序形成在上述連續帶狀體的上述切入線之間所形 成的上述偏光薄膜的薄片之中,將判定爲正常薄片的薄片 從上述載體薄膜剝離送入到上述貼合站的剝離裝置;及 與正常薄片朝貼合站的送入同步供應液晶面板至貼合 站’將該正常薄片貼合在該液晶面板的貼合裝置。 1 4.如申請專利範圍第1 3項記載的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其中,更包含依序形成在上述光學薄膜的 連續帶狀體的上述切入線之間所形成上述偏光薄膜的薄片 之中,判定爲不良薄片的薄片不貼合在液晶面板的不良薄 片排除裝置。 15.如申請專利範圍第1 3項記載的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其中,正常薄片貼合在液晶面板的貼合裝 置’更包含設置在貼合站的可接離的一對貼合輥,及偵測 出與液晶面板朝貼合站之供應同步送入的正常薄片的位置 ’調整貼合站的正常薄片和液晶面板的貼合位置的裝置, 該裝置是調整使朝著分離後的上述貼合輥的間隙所送入正 -105- 1341945 常薄片的前端和與該正常薄片的送入同步所供應的液晶面 板的前端一致,然後封閉該貼合輥,藉此將該正常薄片貼 合在該液晶面板上。 16. 中請專利範圍第〗4項記載的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其中,正常薄片貼合在液晶面板的貼合裝 置,更包含設置在貼合站的可接離的一對貼合輥,及偵測 出與液晶面板朝貼合站之供應同步送入的正常薄片的位置 ,調整貼合站的正常薄片和液晶面板的貼合位置的裝置, 該裝置是調整使朝著分離後的上述貼合輥的間隙所送入正 常薄片的前端和與該正常薄片的送入同步所供應的液晶面 板的前端一致,然後封閉該貼合輥,藉此將該正常薄片貼 合在該液晶面板上。 1 7 .如申請專利範圍第1 3項至第1 6項中任一項記載 的液晶顯示元件之連續製造裝置,其中,更包含確認對光 學薄膜的連續帶狀體實際進行切入的切入位置是否與應進 行切入的位置一致的切入位置確認裝置。 1 8 ·如申請專利範圍第1 7項記載的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其中,切入位置確認裝置是根據上述光學 薄膜的連續帶狀體的進給方向顯示對於上述連續帶狀體實 際進行切入的切入位置和應進行切入的位置之間的偏差量 控制上述切斷裝置,調整形成在上述連續帶狀體的切入線 的位置。 1 9 .如申請專利範圍第1 4項記載的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其中,不良薄片排除裝置,包含:具有貼 -106- 1341945 附上述光學薄膜的連續帶狀體所形成的不良薄片之擬薄膜 搬運路徑的擬薄膜驅動裝置與朝著該擬薄膜搬運路徑移動 上述連續帶狀體的移動裝置,當不良薄片到達排除站時, 利用該移動裝置來移動上述連續帶狀體,藉以使該不良薄 片連續於該擬薄膜搬運路徑而從上述連續帶狀體剝離,貼 附在上述擬薄膜搬運路徑上。 20·如申請專利範圍第1 4項記載的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其中,不良薄片排除裝置,包含:具有貼 附上述光學薄膜的連續帶狀體所形成的不良薄片之擬薄膜 搬運路徑的擬薄膜驅動裝置與構成該擬薄膜搬運路徑一部 分的移動輥,當不良薄片到達設置在貼合站之分離後的上 述貼合輥的間隙時,利用該移動輥的移動將該移動輥置換 成上述貼合輥一方的輥,藉以使該移動輥和上述貼合輥另 一方的輥連動,將此不良薄片從上述連續帶狀體剝離,貼 附在上述擬薄膜搬運路徑上。 2 1 .如申請專利範圍第1 3至第1 6項、第1 9項、第 20項中任一項記載的液晶顯示元件之連續製造裝置,其 中,更包含液晶面板搬運裝置,該液晶面板搬運裝置,是 由:事先收容上述液晶面板的收容匣;從該收容匣依序搬 出上述液晶面板的搬出裝置;及將形成在上述光學薄膜的 連續帶狀體的正常薄片送入到貼合站時,與該正常薄片的 送入同步,控制供應至貼合站之液晶面板姿勢的液晶面板 姿勢控制裝置所構成。 22.如申請專利範圍第1 7項記載的液晶顯示元件之 -107- 1341945 連續製造裝置,其中,更包含液晶面板搬運裝置,該液晶 面板搬運裝置,是由:事先收容上述液晶面板的收容匣; 從該收容匣依序搬出上述液晶面板的搬出裝置:及將形成 在上述光學薄膜的連續帶狀體的止常薄片送入到貼合站時 ,與該正常薄片的送入同步,控制供應至貼合站之液晶面 板姿勢的液晶面板姿勢控制裝置所構成。 23. 如申請專利範圍第1 8項記載的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其中,更包含液晶面板搬運裝置,該液晶 面板搬運裝置,是由:事先收容上述液晶面板的收容匣; 從該收容匣依序搬出上述液晶面板的搬出裝置;及將形成 在上述光學薄膜的連續帶狀體的正常薄片送入到貼合站時 ,與該正常薄片的送入同步,控制供應至貼合站之液晶面 板姿勢的液晶面板姿勢控制裝置所構成。 24. 如申請專利範圍第2 1項記載的液晶顯示元件之 連續製造裝置,其中,液晶面板姿勢控制裝置,包含:偵 測出與上述連續帶狀體的進給方向朝著橫方向延伸的正常 薄片前端緣部位置的前端位置偵測裝置;偵測出上述液晶 面板的進給方向朝著橫方向延伸之液晶面板的前端緣部位 置的液晶面板前端位置偵測裝置:及根據該等前端位置偵 測裝置及液晶面板前端位置偵測裝置所算出正常薄片及與 液晶面板的前端緣部的位置資訊控制上述液晶面板的姿勢 的姿勢控制裝置。 -108-
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