JP2005062165A - シート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】帯状の偏光板原反に存在する結果を記録することができ、しかも欠陥をいたずらに拡大させることのない偏光板原反の検査方法を提供すること。
【解決手段】帯状の偏光板原反Nの欠陥を検出する工程と、検出された欠陥の位置情報をバーコードBの形態で偏光板原反Nの幅方向端部に印字する工程と、バーコードBが記録された帯状の偏光板原反Nをロール10に巻き取る工程とを有する。さらに、ロール10から帯状の偏光板原反Nを引き出す工程と、偏光板原反の幅方向端部に印字されているバーコードBを検出する工程と、検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行う工程と、このマーキング後に、偏光板原反から個々の偏光板を打ち抜く工程とを有する。
【選択図】図1
【解決手段】帯状の偏光板原反Nの欠陥を検出する工程と、検出された欠陥の位置情報をバーコードBの形態で偏光板原反Nの幅方向端部に印字する工程と、バーコードBが記録された帯状の偏光板原反Nをロール10に巻き取る工程とを有する。さらに、ロール10から帯状の偏光板原反Nを引き出す工程と、偏光板原反の幅方向端部に印字されているバーコードBを検出する工程と、検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行う工程と、このマーキング後に、偏光板原反から個々の偏光板を打ち抜く工程とを有する。
【選択図】図1
Description
本発明は、帯状のシート状製品に存在する欠陥を記録し、欠陥位置にマーキングを行うシート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置に関する。
帯状のシート状製品として、例えば、液晶表示装置に用いられる偏光板原反がある。帯状の偏光板原反から個々の偏光板を打ち抜くまでの工程は、次のように行われている。まず、偏光板原反の表面に存在するキズ等の欠陥を検出する。欠陥が検出されると、その欠陥箇所にマーキングを行い、偏光板原反をロールに巻き取り保管する。最終製品としての偏光板には、ユーザーからの仕様に応じて種々の大きさがあるが、偏光板原反としては共通に使用することができるので、偏光板原反を大量に製造しておき、後日必要に応じて(個々のユーザーからの注文に応じて)、偏光板原反から必要な大きさの偏光板製品を打ち抜きするようにしている。
なお、欠陥箇所にマーキングを行う方法としては、例えば、特開2002−303580号公報に開示されている(特許請求の範囲、図1、図2を参照のこと)。この先行技術では、欠陥が検出された箇所にマーキング手段により傷マークを付与する。具体的には、シート状製品の幅方向に沿って配置された複数の傷付け部材により、傷マークを付与するようにしている。
偏光板製品を得る場合には、ロールに巻き取った偏光板原反を引き出していき、必要な大きさの偏光板製品を打ち抜く。偏光板製品にマーキングされているものは、最終製品とすることができないので取り除く。
特開2002−303580号公報(特許請求の範囲、図1、図2)
しかしながら、上記の欠陥箇所にマーキングを行う検査方法は、次のような課題がある。すなわち、 前述したように、マーキングを施した後に、シート状製品を巻き取ってロールにするようにしているが、マーキングを行うと、マーキングをした箇所にわずかな膨らみが生じるため、ロールに巻き取ると他の正常な箇所に新たな欠陥を生じさせてしまう可能性があった。このように新たに生じた欠陥箇所にはマーキングを施していないために、欠陥が存在する製品をユーザーに提供してしまう可能性があった。また、新たに欠陥が生じてしまうことにより、歩留まりが低下してしまうという問題もあった。マーキング方法としては、前述したような傷マークの付与の他、インクで所定の形状を印字する方法等もあるが、インクによるマーキングも厚みがあるため、新たな欠陥を生じさせることにおいては、変わりがない。
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、その課題は、帯状のシート状製品に存在する欠陥を記録することができ、しかも欠陥をいたずらに拡大させることのないシート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置を提供することである。
上記課題を解決するため本発明に係るシート状製品の検査方法は、
帯状のシート状製品の欠陥を検出する工程と、
前記検出された欠陥の位置情報をシート状製品の幅方向端部に記録する工程と、
前記位置情報が記録された帯状のシート状製品をロールに巻き取る工程とを有することを特徴とするものである。
帯状のシート状製品の欠陥を検出する工程と、
前記検出された欠陥の位置情報をシート状製品の幅方向端部に記録する工程と、
前記位置情報が記録された帯状のシート状製品をロールに巻き取る工程とを有することを特徴とするものである。
この構成によるシート状製品の検査方法の作用・効果は、以下の通りである。まず、帯状のシート状製品の欠陥を検出し、この検出された欠陥の位置情報をシート状製品の幅方向端部に記録する。その後、帯状のシート状製品を巻き取ってロールとする。ここで、欠陥の位置情報は、シート状製品の幅方向端部に記録するが、この幅方向端部は製品としては使用しない領域である。したがって、この幅方向端部に何らかの形態で位置情報を記録して、シート状製品をロールに巻き取っても、最終製品として使用する領域に新たに欠陥を生じさせることはない。その結果、帯状のシート状製品に存在する結果を記録することができ、しかも欠陥をいたずらに拡大させることのないシート状製品の検査方法を提供することができる。
本発明の好適な実施形態として、前記ロールから帯状のシート状製品を引き出す工程と、
シート状製品の幅方向端部に記録されている前記位置情報を検出する工程と、
前記検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行う工程と、
このマーキング後に、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜く工程とを有するものがあげられる。
シート状製品の幅方向端部に記録されている前記位置情報を検出する工程と、
前記検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行う工程と、
このマーキング後に、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜く工程とを有するものがあげられる。
この構成によると、ロールから帯状のシート状製品を引き出し、幅方向端部に記録されている位置情報を検出する。この検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行う。ついで、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜くようにする。マーキングをした後に、直ちに個々のシート状製品を得るようにしているので、マーキングにより欠陥が拡大されることはない。
本発明の別の好適な実施形態として、前記位置情報として、幅方向端部からの距離情報が記録されるものがあげられる。
シート状製品の欠陥は、幅方向のどこかに存在するものであるが、位置情報の記録は、幅方向端部に行われる。位置情報として、幅方向端部からの距離情報を記録することで、容易に欠陥位置を特定することができる。
本発明の別の好適な実施形態として、前記位置情報は、バーコードの形態で記録されるものがあげられる。バーコードで記録することにより、バーコードを読み取る際に市販のバーコードセンサーを用いることができるので、コスト面で有利である。
本発明の更に別の好適な実施形態として、前記位置情報は、幅方向端部からの距離情報がバーコードと数字の両方で記録されるものがあげられる。
バーコードとあわせて距離情報を数字で記録することにより、目視による欠陥位置の確認も容易に行うことができる。
上記課題を解決するため本発明に係るシート状製品の検査システムは、
帯状のシート状製品の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記検出された欠陥の位置情報をシート状製品の幅方向端部に記録する欠陥記録手段と、
前記位置情報が記録された帯状のシート状製品をロールに巻き取る手段とを備えたことを特徴とするものである。
帯状のシート状製品の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記検出された欠陥の位置情報をシート状製品の幅方向端部に記録する欠陥記録手段と、
前記位置情報が記録された帯状のシート状製品をロールに巻き取る手段とを備えたことを特徴とするものである。
本発明の好適な実施形態として、前記ロールから帯状のシート状製品を引き出す手段と、
シート状製品の幅方向端部に記録されている前記位置情報を検出する位置情報検出手段と、
前記検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行うマーキング手段と、
このマーキング後に、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜く打ち抜き手段とを備えたものがあげられる。
シート状製品の幅方向端部に記録されている前記位置情報を検出する位置情報検出手段と、
前記検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行うマーキング手段と、
このマーキング後に、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜く打ち抜き手段とを備えたものがあげられる。
本発明の別の好適な実施形態として、前記位置情報は、バーコードの形態で記録され、前記位置情報検出手段は、バーコードリーダであるものがあげられる。
かかる検査システムによる作用・効果は、既に述べた通りである。
本システムにおいて扱うシート状製品の例として、偏光板原反をあげて説明する。偏光板原反は、長い帯状に形成され、フィルム状の偏光板原反から個々の大きさの偏光板を打ち抜きにより得るようにしている。偏光板原反Nは、予め製造しておいたPVAフィルムの表裏両面に例えばTACフィルムを貼り合わせることで得ることができる。この多層構造とされた偏光板原反Nの表面あるいは内部に存在する欠陥(キズや異物など)を検出する必要がある。
偏光板原反Nは、(A)染色、架橋および延伸処理を施したポリビニルアルコール系フィルムを乾燥して偏光子を得る工程、(B)該偏光子の片側または両側に保護層を貼り合わせる工程、(C)貼り合わせた後に加熱処理する工程、を含む製造方法により製造される。
ポリビニルアルコール系フィルムの染色、架橋、延伸の各処理は、別々に行う必要はなく同時に行ってもよく、また、各処理の順番も任意でよい。なお、ポリビニルアルコール系フィルムとして、膨潤処理を施したポリビニルアルコール系フィルムを用いてもよい。一般には、ポリビニルアルコール系フィルムを、ヨウ素や二色性色素を含む溶液に浸漬し、ヨウ素や二色性色素を吸着させて染色した後洗浄し、ホウ酸やホウ砂等を含む溶液中で延伸倍率3倍〜7倍で一軸延伸した後、乾燥する。ヨウ素や二色性色素を含む溶液中で延伸した後、ホウ酸やホウ砂等を含む溶液中でさらに延伸(二段延伸)した後、乾燥することにより、ヨウ素の配向が高くなり、偏光度特性が良くなるため、特に好ましい。
上記のポリビニルアルコール系ポリマーとしては、例えば、酢酸ビニルを重合した後にケン化したものや、酢酸ビニルに少量の不飽和カルボン酸、不飽和スルホン酸、カチオン性モノマー等の共重合可能なモノマーを共重合したもの、等が挙げられる。ポリビニルアルコール系ポリマーの平均重合度は、特に制限されず任意のものを使用することができるが、1000以上が好ましく、より好ましくは2000〜5000である。また、ポリビニルアルコール系ポリマーのケン化度は85モル%以上が好ましく、より好ましくは98〜100モル%である。
製造される偏光子の厚さは、5〜80μmが一般的であるが、これに限定するものではなく、また、偏光子の厚さを調整する方法に関しても、特に限定するものではなく、テンター、ロール延伸や圧延等の通常の方法を用いることができる。
偏光子と保護層である透明保護フィルムとの接着処理は、特に限定されるものではないが、例えば、ビニルアルコール系ポリマーからなる接着剤、あるいは、ホウ酸やホウ砂、グルタルアルデヒドやメラミン、シュウ酸などのビニルアルコール系ポリマーの水溶性架橋剤から少なくともなる接着剤等を介して行うことができる。かかる接着層は、水溶液の塗布乾燥層等として形成されるが、その水溶液の調製に際しては必要に応じて、他の添加剤や、酸等の触媒も配合することができる。
偏光子の片側又は両側に設ける保護フィルムには、適宜な透明フィルムを用いることができる。中でも、透明性や機械的強度、熱安定性や水分遮蔽性等に優れるポリマーからなるフィルムが好ましく用いられる。そのポリマーとしては、トリアセチルセルロースの如きアセテート系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリアリレート、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリスルホン系樹脂、ポリエーテルスルホン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン系樹脂、ポリビニルアルコール系樹脂、ポリ塩化ビニル系樹脂、ポリノルボルネン系樹脂、ポリメチルメタクリレート系樹脂、液晶ポリマー等が挙げられる。フィルムは、キャスティング法、カレンダー法、押出し法のいずれで製造したものでもよい。
また、特開2001−343529号公報(WO01/37007)に記載のポリマーフィルム、たとえば、(A)側鎖に置換および/または非置換イミド基を有する熱可塑性樹脂と、(B)側鎖に置換および/非置換フェニルならびにニトリル基を有する熱可塑性樹脂を含有する樹脂組成物があげられる。具体例としてはイソブチレンとN−メチルマレイミドからなる交互共重合体とアクリロニトリル・スチレン共重合体とを含有する樹脂組成物のフィルムがあげられる。フィルムは樹脂組成物の混合押出品などからなるフィルムを用いることができる。これらのフィルムは位相差が小さく、光弾性係数が小さいため偏光板の歪みによるムラなどの不具合を解消することができ、また透湿度が小さいため、加湿耐久性に優れる。
また、保護フィルムは、できるだけ色付きがないことが好ましい。したがって、Rth=[(nx+ny)/2−nz]・d(ただし、nx、nyはフィルム平面内の主屈折率、nzはフィルム厚方向の屈折率、dはフィルム厚みである)で表されるフィルム厚み方向の位相差値が−90nm〜+75nmである保護フィルムが好ましく用いられる。かかる厚み方向の位相差値(Rth)が−90nm〜+75nmのものを使用することにより、保護フィルムに起因する偏光板の着色(光学的な着色)をほぼ解消することができる。厚み方向位相差値(Rth)は、さらに好ましくは−80nm〜+60nm、特に−70nm〜+45nmが好ましい。
偏光特性や耐久性などの点から、トリアセチルセルロースの如きアセテート系樹脂が好ましく、特に表面をアルカリなどでケン化処理したトリアセチルセルロースフィルムが好ましい。なお、偏光フィルムの両側に透明保護フィルムを設ける場合、その表裏で異なるポリマーからなる透明保護フィルムを用いてもよい。
保護フィルムの厚さは、任意であるが、一般には偏光板の薄型化等を目的に、500μm以下、好ましくは1〜300μm、特に好ましくは5〜200μmとされる。なお、偏光フィルムの両側に透明保護フィルムを設ける場合、その表裏で異なるポリマー等からなる透明保護フィルムとすることもできる。
透明保護フィルムは、本発明の目的を損なわない限り、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキングの防止や拡散ないしアンチグレア等を目的とした処理等を施したものであってもよい。ハードコート処理は、偏光板表面の傷付き防止などを目的に施されるものであり、例えばシリコーン系などの適宜な紫外線硬化型樹脂による硬度や滑り性等に優れる硬化皮膜を透明保護フィルムの表面に付加する方式などにて形成することができる。
一方、反射防止処理は、偏光板表面での外光の反射防止を目的に施されるものであり、従来に準じた反射防止膜などの形成により達成することができる。また、スティッキング防止は隣接層との密着防止を目的に、アンチグレア処理は偏光板の表面で外光が反射して偏光板透過光の視認を阻害することの防止などを目的に施されるものであり、例えばサンドブラスト方式やエンボス加工方式等による粗面化方式や透明微粒子の配合方式などの適宜な方式にて透明保護フィルムの表面に微細凹凸構造を付与することにより形成することができる。
前記の透明微粒子には、例えば平均粒径が0.5〜20μmのシリカやアルミナ、チタニアやジルコニア、酸化錫や酸化インジウム、酸化カドミウムや酸化アンチモン等が挙げられ、導電性を有する無機系微粒子を用いてもよく、また、架橋又は未架橋のポリマー粒状物等からなる有機系微粒子などを用いることができる。透明微粒子の使用量は、透明樹脂100質量部あたり2〜70質量部、特に5〜50質量部が一般的である。
さらに、透明微粒子配合のアンチグレア層は、透明保護層そのものとして、あるいは透明保護層表面への塗工層などとして設けることができる。アンチグレア層は、偏光板透過光を拡散して視角を拡大するための拡散層(視角補償機能など)を兼ねるものであってもよい。なお、上記した反射防止層やスティッキング防止層、拡散層やアンチグレア層等は、それらの層を設けたシートなどからなる光学層として透明保護層とは別体のものとして設けることもできる。
本発明によるシート状製品は、実用に際して各種光学層を積層して光学フィルムとして用いることができる。その光学層については特に限定されるものではないが、例えば、前記透明保護フィルムの偏光子を接着させない面(前記接着剤塗布層を設けない面)に対して、ハードコート処理や反射防止処理、スティッキング防止や、拡散ないしアンチグレアを目的とした表面処理を施したり、視角補償等を目的とした配向液晶層を積層する方法があげられる。また、反射板や半透過板、位相差板(1/2や1/4等の波長板(λ板)を含む)、視角補償フィルムなどの液晶表示装置等の形成に用いられる光学フィルムを1層または2層以上貼りあわせたものもあげられる。特にシート状製品が偏光板であれば、反射板または半透過反射板が積層されてなる反射型偏光板または半透過型偏光板、位相差板が積層されてなる楕円偏光板または円偏光板、視角補償層または視角補償フィルムが積層されてなる広視野角偏光板、あるいは輝度向上フィルムが積層されてなる偏光板として好ましく適用される。
反射型偏光板は、偏光板に反射層を設けたもので、視認側(表示側)からの入射光を反射させて表示するタイプの液晶表示装置などを形成するためのものであり、バックライト等の光源の内蔵を省略できて、液晶表示装置の薄型化を図りやすいなどの利点を有する。反射型偏光板の形成は、必要に応じ透明保護層等を介して偏光板の片面に金属等からなる反射層を付設する方式などの適宜な方式にて行なうことができる。
反射型偏光板の具体例としては、必要に応じマット処理した透明保護フィルムの片面に、アルミニウム等の反射性金属からなる箔や蒸着膜を付設して反射層を形成したものなどがあげられる。また前記透明保護フィルムに微粒子を含有させて表面微細凹凸構造とし、その上に微細凹凸構造の反射層を有するものなどもあげられる。前記した微細凹凸構造の反射層は、入射光を乱反射により拡散させて指向性やギラギラした見栄えを防止し、明暗のムラを抑制しうる利点などを有する。また微粒子含有の透明保護フィルムは、入射光及びその反射光がそれを透過する際に拡散されて明暗ムラをより抑制しうる利点なども有している。透明保護フィルムの表面微細凹凸構造を反映させた微細凹凸構造の反射層の形成は、例えば真空蒸着方式、イオンプレーティング方式、スパッタリング方式等の蒸着方式やメッキ方式などの適宜な方式で金属を透明保護層の表面に直接付設する方法などにより行なうことができる。
反射板は前記の偏光板の透明保護フィルムに直接付与する方式に代えて、その透明フィルムに準じた適宜なフィルムに反射層を設けてなる反射シートなどとして用いることもできる。なお反射層は、通常、金属からなるので、その反射面が透明保護フィルムや偏光板等で被覆された状態の使用形態が、酸化による反射率の低下防止、ひいては初期反射率の長期持続の点や、保護層の別途付設の回避の点などより好ましい。
なお、半透過型偏光板は、上記において反射層で光を反射し、かつ透過するハーフミラー等の半透過型の反射層とすることにより得ることができる。半透過型偏光板は、通常液晶セルの裏側に設けられ、液晶表示装置などを比較的明るい雰囲気で使用する場合には、視認側(表示側)からの入射光を反射させて画像を表示し、比較的暗い雰囲気においては、半透過型偏光板のバックサイドに内蔵されているバックライト等の内蔵光源を使用して画像を表示するタイプの液晶表示装置などを形成できる。すなわち、半透過型偏光板は、明るい雰囲気下では、バックライト等の光源使用のエネルギーを節約でき、比較的暗い雰囲気下においても内蔵光源を用いて使用できるタイプの液晶表示装置などの形成に有用である。
偏光板に更に位相差板が積層されてなる楕円偏光板または円偏光板について説明する。直線偏光を楕円偏光または円偏光に変えたり、楕円偏光または円偏光を直線偏光に変えたり、あるいは直線偏光の偏光方向を変える場合に、位相差板などが用いられる。特に、直線偏光を円偏光に変えたり、円偏光を直線偏光に変える位相差板としては、いわゆる1/4波長板(λ/4板とも言う)が用いられる。1/2波長板(λ/2板とも言う)は、通常、直線偏光の偏光方向を変える場合に用いられる。
楕円偏光板はスーパーツイストネマチック(STN)型液晶表示装置の液晶層の複屈折により生じた着色(青又は黄)を補償(防止)して、前記着色のない白黒表示する場合などに有効に用いられる。更に、三次元の屈折率を制御したものは、液晶表示装置の画面を斜め方向から見た際に生じる着色も補償(防止)することができて好ましい。円偏光板は、例えば画像がカラー表示になる反射型液晶表示装置の画像の色調を整える場合などに有効に用いられ、また、反射防止の機能も有する。
位相差板としては、高分子素材を一軸または二軸延伸処理してなる福屈折性フィルム、液晶ポリマーの配向フィルム、液晶ポリマーの配向層をフィルムにて支持したものなどがあげられる。延伸処理は、例えばロール延伸法、長間隙沿延伸法、テンター延伸法、チューブラー延伸法などにより行うことができる。延伸倍率は、一軸延伸の場合には1.1〜3倍程度が一般的である。位相差板の厚さも特に制限されないが、一般的には10〜200μm、好ましくは20〜100μmである。
前記高分子材料としては、例えば、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、ポリメチルビニルエーテル、ポリヒドロキシエチルアクリレート、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロース、メチルセルロース、ポリカーボネイト、ポリアリレート、ポリスルホン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルファイド、ポリフェニレンオキサイド、ポリアリルスルホン、ポリビニルアルコール、ポリアミド、ポリイミド、ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、セルロース系重合体、またはこれらの二元系、三元系各種共重合体、グラフト共重合体、ブレンド物などがあげられる。これら高分子素材は延伸等により配向物(延伸フィルム)となる。
前記液晶ポリマーとしては、例えば、液晶配向性を付与する共役性の直線状原子団(メソゲン)がポリマーの主鎖や側鎖に導入された主鎖型や側鎖型の各種のものなどがあげられる。主鎖型の液晶性ポリマーの具体例としては、屈曲性を付与するスペーサ部でメソゲン基を結合した構造の、例えばネマチック配向性のポリエステル系液晶性ポリマー、ディスコティックポリマーやコレステリックポリマーなどがあげられる。側鎖型の液晶性ポリマーの具体例としては、ポリシロキサン、ポリアクリレート、ポリメタクリレートまたはポリマロネートを主鎖骨格とし、側鎖として共役性の原子団からなるスペーサ部を介してネマチック配向付与性のパラ置換環状化合物単位からなるメソゲン部を有するものなどがあげられる。これら液晶性ポリマーは、例えば、ガラス板上に形成したポリイミドやポリビニルアルコール等の薄膜の表面をラビング処理したもの、酸化ケイ素を斜方蒸着したものなどの配向処理面上に液晶性ポリマーの溶液を展開して熱処理することにより行われる。
位相差板は、例えば各種波長板や液晶層の複屈折による着色や視角等の補償を目的としたものなどの使用目的に応じた適宜な位相差を有するものであってよく、2種以上の位相差板を積層して位相差等の光学特性を制御したものなどであってもよい。
視角補償フィルムは、液晶表示装置の画面を、画面に垂直でなくやや斜めの方向から見た場合でも、画像が比較的鮮明にみえるように視野角を広げるためのフィルムである。このような視角補償位相差板としては、例えば位相差フィルム、液晶ポリマー等の配向フィルムや透明基材上に液晶ポリマー等の配向層を支持したものなどからなる。通常の位相差板は、その面方向に一軸に延伸された複屈折を有するポリマーフィルムが用いられるのに対し、視角補償フィルムとして用いられる位相差板には、面方向に二軸に延伸された複屈折を有するポリマーフィルムとか、面方向に一軸に延伸され厚さ方向にも延伸された厚さ方向の屈折率を制御した複屈折を有するポリマーや傾斜配向フィルムのような二方向延伸フィルムなどが用いられる。傾斜配向フィルムとしては、例えばポリマーフィルムに熱収縮フィルムを接着して加熱によるその収縮力の作用下にポリマーフィルムを延伸処理又は/及び収縮処理したものや、液晶ポリマーを斜め配向させたものなどが挙げられる。位相差板の素材原料ポリマーは、先の位相差板で説明したポリマーと同様のものが用いられ、液晶セルによる位相差に基づく視認角の変化による着色等の防止や良視認の視野角の拡大などを目的とした適宜なものを用いうる。
また良視認の広い視野角を達成する点などより、液晶ポリマーの配向層、特にディスコティック液晶ポリマーの傾斜配向層からなる光学的異方性層をトリアセチルセルロースフィルムにて支持した光学補償位相差板が好ましく用いうる。
偏光板と輝度向上フィルムを貼り合わせた偏光板は、通常液晶セルの裏側サイドに設けられて使用される。輝度向上フィルムは、液晶表示装置などのバックライトや裏側からの反射などにより自然光が入射すると所定偏光軸の直線偏光または所定方向の円偏光を反射し、他の光は透過する特性を示すもので、輝度向上フィルムを偏光板と積層した偏光板は、バックライト等の光源からの光を入射させて所定偏光状態の透過光を得ると共に、前記所定偏光状態以外の光は透過せずに反射される。この輝度向上フィルム面で反射した光を更にその後ろ側に設けられた反射層等を介し反転させて輝度向上フィルムに再入射させ、その一部又は全部を所定偏光状態の光として透過させて輝度向上フィルムを透過する光の増量を図ると共に、偏光子に吸収させにくい偏光を供給して液晶表示画像表示等に利用しうる光量の増大を図ることにより輝度を向上させうるものである。すなわち、輝度向上フィルムを使用せずに、バックライトなどで液晶セルの裏側から偏光子を通して光を入射した場合には、偏光子の偏光軸に一致していない偏光方向を有する光は、ほとんど偏光子に吸収されてしまい、偏光子を透過してこない。すなわち、用いた偏光子の特性によっても異なるが、およそ50%の光が偏光子に吸収されてしまい、その分、液晶画像表示等に利用しうる光量が減少し、画像が暗くなる。輝度向上フィルムは、偏光子に吸収されるような偏光方向を有する光を偏光子に入射させずに輝度向上フィルムで一旦反射させ、更にその後ろ側に設けられた反射層等を介して反転させて輝度向上フィルムに再入射させることを繰り返し、この両者間で反射、反転している光の偏光方向が偏光子を通過し得るような偏光方向になった偏光のみを、輝度向上フィルムは透過させて偏光子に供給するので、バックライトなどの光を効率的に液晶表示装置の画像の表示に使用でき、画面を明るくすることができる。
輝度向上フィルムと上記反射層等の間に拡散板を設けることもできる。輝度向上フィルムによって反射した偏光状態の光は上記反射層等に向かうが、設置された拡散板は通過する光を均一に拡散すると同時に偏光状態を解消し、非偏光状態となる。すなわち、拡散板は偏光を元の自然光状態にもどす。この非偏光状態、すなわち自然光状態の光が反射層等に向かい、反射層等を介して反射し、再び拡散板を通過して輝度向上フィルムに再入射することを繰り返す。このように輝度向上フィルムと上記反射層等の間に、偏光を元の自然光状態にもどす拡散板を設けることにより表示画面の明るさを維持しつつ、同時に表示画面の明るさのむらを少なくし、均一で明るい画面を提供することができる。かかる拡散板を設けることにより、初回の入射光は反射の繰り返し回数が程よく増加し、拡散板の拡散機能と相俟って均一の明るい表示画面を提供することができたものと考えられる。
前記の輝度向上フィルムとしては、例えば誘電体の多層薄膜や屈折率異方性が相違する薄膜フィルムの多層積層体の如き、所定偏光軸の直線偏光を透過して他の光は反射する特性を示すもの、コレステリック液晶ポリマーの配向フィルムやその配向液晶層をフィルム基材上に支持したものの如き、左回り又は右回りのいずれか一方の円偏光を反射して他の光は透過する特性を示すものなどの適宜なものを用いうる。
従って、前記した所定偏光軸の直線偏光を透過させるタイプの輝度向上フィルムでは、その透過光をそのまま偏光板に偏光軸を揃えて入射させることにより、偏光板による吸収ロスを抑制しつつ効率よく透過させることができる。一方、コレステリック液晶層の如く円偏光を透過するタイプの輝度向上フィルムでは、そのまま偏光子に入射させることもできるが、吸収ロスを抑制する点よりその円偏光を位相差板を介し直線偏光化して偏光板に入射させることが好ましい。なお、その位相差板として1/4波長板を用いることにより、円偏光を直線偏光に変換することができる。
可視光域等の広い波長範囲で1/4波長板として機能する位相差板は、例えば波長550nmの淡色光に対して1/4波長板として機能する位相差層と他の位相差特性を示す位相差層、例えば1/2波長板として機能する位相差層とを重畳する方式などにより得ることができる。従って、偏光板と輝度向上フィルムの間に配置する位相差板は、1層又は2層以上の位相差層からなるものであってよい。
なお、コレステリック液晶層についても、反射波長が相違するものの組合せにして2層又は3層以上重畳した配置構造とすることにより、可視光領域等の広い波長範囲で円偏光を反射するものを得ることができ、それに基づいて広い波長範囲の透過円偏光を得ることができる。
また、本発明のシート状製品(例えば偏光板)は、上記の偏光分離型偏光板の如く、偏光板と2層又は3層以上の光学層とを積層したものからなっていてもよい。従って、上記の反射型偏光板や半透過型偏光板と位相差板を組み合わせた反射型楕円偏光板や半透過型楕円偏光板などであってもよい。
偏光板に前記光学層を積層した光学フィルムは、液晶表示装置等の製造過程で順次別個に積層する方式にても形成することができるが、予め積層して光学フィルムとしたのものは、品質の安定性や組立作業等に優れていて液晶表示装置などの製造工程を向上させうる利点がある。積層には粘着剤層等の適宜な接着手段を用いうる。前記の偏光板と他の光学層の接着に際し、それらの光学軸は目的とする位相差特性などに応じて適宜な配置角度とすることができる。
本発明による偏光板や、前記の積層光学部材には、液晶セル等の他部材と接着するための粘着層を設けることもできる。その粘着層は、特に限定されるものではないが、アクリル系等の従来に準じた適宜な粘着剤にて形成することができる。吸湿による発泡現象や剥がれ現象の防止、熱膨脹差等による光学特性の低下や液晶セルの反り防止、ひいては高品質で耐久性に優れる画像表示装置の形成性等の点により、吸湿率が低くて耐熱性に優れる粘着層であることが好ましい。また、微粒子を含有して光拡散性を示す粘着層などとすることができる。粘着層は必要に応じて必要な面に設ければよく、例えば、偏光子と保護フィルムからなる偏光板について言及するならば、必要に応じて、保護フィルムの片面または両面に粘着層を設ければよい。
前記粘着層の露出面に対しては、実用に供するまでの間、その汚染防止等を目的にセパレータが仮着されてカバーされる。これにより、通例の取扱状態で粘着層に接触することを防止できる。セパレータとしては、上記厚さ条件を除き、例えばプラスチックフィルム、ゴムシート、紙、布、不織布、ネット、発泡シートや金属箔、それらのラミネート体等の適宜な薄葉体を、必要に応じシリコーン系や長鎖アルキル系、フッ素系や硫化モリブデン等の適宜な剥離剤でコート処理したものなどの、従来に準じた適宜なものを用いうる。
なお本発明において、上記した偏光板を形成する偏光子や透明保護フィルムや光学フィルム等、また粘着層などの各層には、例えばサリチル酸エステル系化合物やべンゾフェノール系化合物、ベンゾトリアゾール系化合物やシアノアクリレート系化合物、ニッケル錯塩系化合物等の紫外線吸収剤で処理する方式などの方式により紫外線吸収能をもたせたものなどであってもよい。
本発明によるシート状製品は、液晶表示装置、有機EL表示装置、PDP等の画像表示装置の形成に好ましく用いることができる。
本発明の偏光板または光学フィルムは液晶表示装置等の各種装置の形成などに好ましく用いることができる。液晶表示装置の形成は、従来に準じて行いうる。すなわち液晶表示装置は一般に、液晶セルと偏光板または光学フィルム、及び必要に応じての照明システム等の構成部品を適宜に組立てて駆動回路を組込むことなどにより形成されるが、本発明においては本発明による偏光板または光学フィルムを用いる点を除いて特に限定はなく、従来に準じうる。液晶セルについても、例えばTN型やSTN型、π型などの任意なタイプのものを用いうる。
液晶セルの片側又は両側に偏光板または光学フィルムを配置した液晶表示装置や、照明システムにバックライトあるいは反射板を用いたものなどの適宜な液晶表示装置を形成することができる。その場合、本発明による偏光板または光学フィルムは液晶セルの片側又は両側に設置することができる。両側に偏光板または光学フィルムを設ける場合、それらは同じものであってもよいし、異なるものであってもよい。さらに、液晶表示装置の形成に際しては、例えば拡散板、アンチグレア層、反射防止膜、保護板、プリズムアレイ、レンズアレイシート、光拡散板、バックライトなどの適宜な部品を適宜な位置に1層又は2層以上配置することができる。
次いで有機エレクトロルミネセンス装置(有機EL表示装置)について説明する。一般に、有機EL表示装置は、透明基板上に透明電極と有機発光層と金属電極とを順に積層して発光体(有機エレクトロルミネセンス発光体)を形成している。ここで、有機発光層は、種々の有機薄膜の積層体であり、例えばトリフェニルアミン誘導体等からなる正孔注入層と、アントラセン等の蛍光性の有機固体からなる発光層との積層体や、あるいはこのような発光層とペリレン誘導体等からなる電子注入層の積層体や、またあるいはこれらの正孔注入層、発光層、および電子注入層の積層体等、種々の組合せをもった構成が知られている。
有機EL表示装置は、透明電極と金属電極とに電圧を印加することによって、有機発光層に正孔と電子とが注入され、これら正孔と電子との再結合によって生じるエネルギーが蛍光物質を励起し、励起された蛍光物質が基底状態に戻るときに光を放射する、という原理で発光する。途中の再結合というメカニズムは、一般のダイオードと同様であり、このことからも予想できるように、電流と発光強度は印加電圧に対して整流性を伴う強い非線形性を示す。
有機EL表示装置においては、有機発光層での発光を取り出すために、少なくとも一方の電極が透明でなくてはならず、通常酸化インジウムスズ(ITO)などの透明導電体で形成した透明電極を陽極として用いている。一方、電子注入を容易にして発光効率を上げるには、陰極に仕事関数の小さな物質を用いることが重要で、通常Mg−Ag、Al−Liなどの金属電極を用いている。
このような構成の有機EL表示装置において、有機発光層は、厚さ10nm程度ときわめて薄い膜で形成されている。このため、有機発光層も透明電極と同様、光をほぼ完全に透過する。その結果、非発光時に透明基板の表面から入射し、透明電極と有機発光層とを透過して金属電極で反射した光が、再び透明基板の表面側へと出るため、外部から視認したとき、有機EL表示装置の表示面が鏡面のように見える。
電圧の印加によって発光する有機発光層の表面側に透明電極を備えるとともに、有機発光層の裏面側に金属電極を備えてなる有機エレクトロルミネセンス発光体を含む有機EL表示装置において、透明電極の表面側に偏光板を設けるとともに、これら透明電極と偏光板との間に位相差板を設けることができる。
位相差板および偏光板は、外部から入射して金属電極で反射してきた光を偏光する作用を有するため、その偏光作用によって金属電極の鏡面を外部から視認させないという効果がある。特に、位相差板を1/4波長板で構成し、かつ偏光板と位相差板との偏光方向のなす角をπ/4に調整すれば、金属電極の鏡面を完全に遮蔽することができる。
すなわち、この有機EL表示装置に入射する外部光は、偏光板により直線偏光成分のみが透過する。この直線偏光は位相差板により一般に楕円偏光となるが、とくに位相差板が1/4波長板でしかも偏光板と位相差板との偏光方向のなす角がπ/4のときには円偏光となる。
この円偏光は、透明基板、透明電極、有機薄膜を透過し、金属電極で反射して、再び有機薄膜、透明電極、透明基板を透過して、位相差板に再び直線偏光となる。そして、この直線偏光は、偏光板の偏光方向と直交しているので、偏光板を透過できない。その結果、金属電極の鏡面を完全に遮蔽することができる。
本発明によるシート状製品(例えば偏光板)は、液晶表示装置等の各種装置の形成などに好ましく用いることができる。液晶表示装置は、本発明によるシート状製品(例えば偏光板)を液晶セルの片側または両側に配置してなる透過型や反射型、あるいは透過・反射両用型の従来に準じた適宜な構造を有するものとして形成することができる。従って、液晶表示装置を形成する液晶セルは任意であり、例えば薄膜トランジスタ型に代表される単純マトリクス駆動型のものなどの適宜なタイプの液晶セルを用いたものであってもよい。
また液晶セルの両側に偏光板や光学部材を設ける場合、それらは同じ物であってもよいし、異なるものであっても良い。さらに、液晶表示装置の形成に際しては、例えばプリズムアレイシートやレンズアレイシート、光拡散板やバックライトなどの適宜な部品を適宜な位置に1層または2層以上配置することができる。
<検査システムの構成>
本発明に係るシート状製品の検査システムの好適な実施形態を図面を用いて説明する。
本発明に係るシート状製品の検査システムの好適な実施形態を図面を用いて説明する。
図1は、シート状製品の検査システムのうち、バーコードを印字する機構を示す図である。図2は、検査システムのうち、バーコードを読み取りマーキングを行う機構を示す図である。
偏光板原反Nの表面欠陥を検出するために、第1カメラ列1と第2カメラ列2とが配置されている。第1カメラ列1には、偏光板原反Nの幅方向に沿って3台のCCDカメラ1aが設けられ、第2カメラ列2には、同じく幅方向に沿って6台のCCDカメラ2aが設けられている。第2カメラ列2は、第1カメラ列1の下流側に配置されており、欠陥検出を確実に行うために2列配列としている。
これら第1・第2カメラ列1,2により取得された画像は、画像処理部3に送られて、画像処理技術を用いて偏光板原反Nの表面や内部に存在する欠陥の検出を行う。画像処理部3は、画像処理プログラム等のソフトウェアにより構成することができる。もちろん、画像処理部3をハードウェアにより構成しても良い。画像処理部3により、欠陥であるか否かの判定を行うと共に、欠陥位置も求める。以上のように、第1・第2カメラ列1,2及び画像処理部3は、帯状シート状製品の欠陥を検出する欠陥検出手段として機能する。また、画像処理プログラムにより行う場合の、欠陥判定アルゴリズムは公知のものを採用することができる。
プリンター6(欠陥記録手段に相当)は、インクジェットプリンタであり、画像処理部3により処理された結果、欠陥が存在することが検出されると、偏光板原反Nの幅方向端部(シート面上)にバーコードBを印字する。なお、プリンター6は、インクジェット式以外のものを使用しても良い。プリンター駆動部5は、システム制御部4からの指令に基づきプリンター6を駆動する。すなわち、 画像処理部3による処理の結果、欠陥が検出されると、その欠陥の位置情報をバーコードの形で印字(記録)するようにしている。
図1には、欠陥をKで示しており、バーコードBにより、幅方向端部から欠陥位置までの距離Lの情報が記録されるようにしている。バーコードBを拡大して示しているが、バーコードBの下側に距離情報を数値(0815)でも印字するようにしている。この数値は、距離Lをmm単位で表わしたものである。図1には、欠陥Kを大きく描いているが、実際は目視では確認できないレベルの欠陥であることが多い。バーコードBと共に数字も印字することで、欠陥位置を目視により知ることができるようにもなっている。バーコードBは、幅方向端部に印字されるが、搬送方向におけるバーコードBの印字位置については、欠陥位置と搬送方向における位相が同じになるような位置に印字するようにする。したがって、バーコードBの印字先端位置から幅方向に沿ってたどっていけば、記録されている距離の位置に欠陥が存在することになる。
バーコードBが印字された偏光板原反Nは、巻き取られていきロール10の形態とされ保管される。バーコードBの印字は幅方向端部に行われるものであり、最終的に製品として使用されない箇所に印字される。したがって、バーコードBを印字した偏光板原反Nをロール10に巻き取ったとしても、バーコードB印字箇所の膨らみにより他の正常な領域に欠陥が拡大されていくということがない。
偏光板原反Nの搬送は、搬送ローラにより行われ、搬送経路に沿った適宜の位置に搬送ローラを配置する。この搬送ローラ等により、偏光板原反Nをロール10に巻き取る手段を構成することができる。また、偏光板原反Nの搬送に連動するロータリエンコーダ(不図示)が設けられており、各カメラ列1,2による画像取得のタイミングと、プリンター6によるバーコード印字のタイミングを同期できるようにしている。
次に、図2により、バーコードを読み取るシステムの構成を説明する。ロール10から偏光板原反Nが搬送ローラ11等の引き出し手段により、順次引き出されていく。バーコードリーダ7(位置情報検出手段に相当)は、偏光板原反Nの幅方向端部に印字されているバーコードBを読み取る。バーコードリーダ7に読み取られたバーコード信号は、バーコード解析部12に送られる。マーカー8(マーキング手段に相当)は、バーコードBに記録されている位置情報に基づいて、欠陥位置にマーキングMを行う。マーカー8は、偏光板原反Nの幅方向に沿って多数配置されており、欠陥位置に対応しているマーカー8のみを作動させる。マーカー駆動部9は、システム制御部4の指令に基づいて、選択された場所のマーカー8を駆動してマーキングをさせる。マーキングMは、欠陥位置Kに対して行うものであり、マーキングMの形状については、目視で認識できるものであれば、どのような形状・大きさであってもよい。マーキングは、インクによる印字の他、カッターにより傷マークをつけるものなど、適宜のマーキング方法で行うことができる。
図2には示していないが、バーコードリーダはもう一組が原反の反対側の端部に設けられている。この原反が途中奇数回の巻き替えをされると、バーコードが反対側に移動してしまうためである。なお、その場合、バーコードの先端ではなく終端から幅方向に向ったところに欠陥があるので、バーコードの長さ分を予め差し引いてからマーキングする。
マーカー8の下流側には、不図示の打ち抜き装置(手段)が設けられており、帯状の偏光板原反Nから最終製品の形態を有する個々の偏光板20が打ち抜かれる。打ち抜かれた偏光板20のうちで、マーキングMが施されているものについては、製品として使用できないので検査工程で除去される。打ち抜き装置の打ち抜き型を変えることで、種々の大きさの偏光板20を打ち抜くことができる。つまり、同じ偏光板原反Nからいろいろな大きさの偏光板20を得ることができる。そのために、図1で説明したように、予め、偏光板原反Nの検査を行った上でロール10に巻き取り保管するようにしているのである。
偏光板原反Nの搬送動作に連動するロータリエンコーダにより、バーコードリーダ7によるバーコード読み取りのタイミングと、マーカー8によるマーキングのタイミングとが同期するように構成している。
<システムの動作>
次に、図1,2に示すシステムの動作について、図3のフローチャートにより説明する。まず、PVAシートの両面にTACフィルムを貼り合わせることで、偏光板原反を次々と製造していく(#1)。偏光板原反Nは、搬送経路に沿って配置された搬送ローラにより一定速度で搬送される。第1カメラ列1と第2カメラ列2により、偏光板原反Nの画像を取得し、画像処理部3に送信する(#3)。画像処理部3は、取得された画像データの画像処理と解析を行い、欠陥が存在するか否かを判定する(#5)。欠陥が検出された場合は、プリンター6を駆動させてバーコードの印字を行う(#7,9,11)。また、バーコードBの印字と共に数字もあわせて印字する。バーコードBの印字が行われた後、偏光板原反Nはロール10に巻き取られ保管される(#13)。
次に、図1,2に示すシステムの動作について、図3のフローチャートにより説明する。まず、PVAシートの両面にTACフィルムを貼り合わせることで、偏光板原反を次々と製造していく(#1)。偏光板原反Nは、搬送経路に沿って配置された搬送ローラにより一定速度で搬送される。第1カメラ列1と第2カメラ列2により、偏光板原反Nの画像を取得し、画像処理部3に送信する(#3)。画像処理部3は、取得された画像データの画像処理と解析を行い、欠陥が存在するか否かを判定する(#5)。欠陥が検出された場合は、プリンター6を駆動させてバーコードの印字を行う(#7,9,11)。また、バーコードBの印字と共に数字もあわせて印字する。バーコードBの印字が行われた後、偏光板原反Nはロール10に巻き取られ保管される(#13)。
偏光板原反Nから製品としての偏光板を打ち抜く場合は、次のような手順で行われる。まず、ロール10から偏光板原反Nを順次引き出し搬送させる。バーコードリーダ7により、バーコードBの印字がされているか否かを検出する(#17)。バーコードの印字を検出した場合は、これを読み取ってバーコード信号をバーコード解析部12に送る(#19)。バーコード解析部12は、バーコードを解析し欠陥位置を読み取る。この欠陥位置に対応するマーカー8を作動させ、欠陥位置にマーキングを行う(#23)。マーカー8の位置を通過した後、打ち抜き装置により個々の偏光板20を打ち抜く(#25)。打ち抜かれた偏光板20のうち、マーキングがされているものは、製造ラインから除去する。
不良の偏光板20を製造ラインから取り除くタイミングについては、適宜設定できるものである。例えば、個々の偏光板20を取り出す位置にもバーコードリーダを設け、バーコードが検出されたときにブザーやLEDにより表示を行い、機械を一時的に停止させる。LEDは幅方向に沿って多数並べて配置し、欠陥が存在している位置のLEDのみを点灯させる。作業者は、LEDの点灯している位置にある偏光板のみを取り出し、機械を再起動させる。これにより、正常な偏光板のみを下流工程に流すことができる。
その他、機械により自動的に不良の偏光板のみをライン外に排出させるような構成でも良い。また、欠陥を含むような場合には、その偏光板については、打ち抜き装置による打ち抜きを行わないようにすることもできる。
<他の形態との比較>
本発明による欠陥記録方法と、他の方法との比較を行う。図4は、他の方法について、簡単に説明する図である。(A)はCCDカメラにより検出した欠陥位置を紙にマップ表示させる方法である。(B)は紙やフレキシブルディスク等の記録装置に、欠陥の位置情報を記録させておく方法である。(C)は偏光板原反の端部にラベルを貼る方法である。(D)は偏光板原反の欠陥位置にラベルを貼る方法である。(E)は偏光板原反の欠陥位置のマーキングを行う方法である。なお、上記いずれの方法も欠陥情報を記録した後、偏光板原反をロールに巻き取って保管する。評価結果を表1に示す。
本発明による欠陥記録方法と、他の方法との比較を行う。図4は、他の方法について、簡単に説明する図である。(A)はCCDカメラにより検出した欠陥位置を紙にマップ表示させる方法である。(B)は紙やフレキシブルディスク等の記録装置に、欠陥の位置情報を記録させておく方法である。(C)は偏光板原反の端部にラベルを貼る方法である。(D)は偏光板原反の欠陥位置にラベルを貼る方法である。(E)は偏光板原反の欠陥位置のマーキングを行う方法である。なお、上記いずれの方法も欠陥情報を記録した後、偏光板原反をロールに巻き取って保管する。評価結果を表1に示す。
<別実施形態>
(1)偏光板原反の画像を取得するためのカメラ列を本実施形態では2列としているが、これに限定されるものではなく、1列としてもよいし、3列以上としても良い。また、幅方向に沿って配置されるCCDカメラの台数も適宜設定することができる。さらに、欠陥検出手段はCCDカメラでなくてもよく、他のタイプのセンサーを用いても良い。CCDカメラにより撮影される画像は、反射光像でもよいし、透過光像でもよい。透過光像の場合は、シートの裏面側に光源を配置し、シートの表面側にCCDカメラを配置する。
(2)本実施形態では、位置情報の記録をバーコードで行っているがこれに限定されるものではない。バーコード以外の形態で印字をしても良い。バーコードで行う場合、数字の印字は行わなくても良い。バーコードも1次元ではなく2次元バーコードとしても良い。また、バーコードに記録する情報としては、位置情報だけでなく、製造年月日等の他の任意の情報もあわせて記録するようにしても良い。距離情報で記録する場合、距離の単位はmm以外の単位を用いても良い。
(3)本実施形態では、シート状製品の例として偏光板をあげているが、これに限定されるものではない。
(1)偏光板原反の画像を取得するためのカメラ列を本実施形態では2列としているが、これに限定されるものではなく、1列としてもよいし、3列以上としても良い。また、幅方向に沿って配置されるCCDカメラの台数も適宜設定することができる。さらに、欠陥検出手段はCCDカメラでなくてもよく、他のタイプのセンサーを用いても良い。CCDカメラにより撮影される画像は、反射光像でもよいし、透過光像でもよい。透過光像の場合は、シートの裏面側に光源を配置し、シートの表面側にCCDカメラを配置する。
(2)本実施形態では、位置情報の記録をバーコードで行っているがこれに限定されるものではない。バーコード以外の形態で印字をしても良い。バーコードで行う場合、数字の印字は行わなくても良い。バーコードも1次元ではなく2次元バーコードとしても良い。また、バーコードに記録する情報としては、位置情報だけでなく、製造年月日等の他の任意の情報もあわせて記録するようにしても良い。距離情報で記録する場合、距離の単位はmm以外の単位を用いても良い。
(3)本実施形態では、シート状製品の例として偏光板をあげているが、これに限定されるものではない。
1 第1カメラ列
2 第2カメラ列
3 画像処理部
6 プリンター
7 バーコードリーダ
8 マーカー
10 ロール
20 偏光板
N 偏光板原反
2 第2カメラ列
3 画像処理部
6 プリンター
7 バーコードリーダ
8 マーカー
10 ロール
20 偏光板
N 偏光板原反
Claims (14)
- 帯状のシート状製品の欠陥を検出する工程と、
前記検出された欠陥の位置情報をシート状製品の幅方向端部に記録する工程と、
前記位置情報が記録された帯状のシート状製品をロールに巻き取る工程とを有することを特徴とするシート状製品の検査方法。 - 前記ロールから帯状のシート状製品を引き出す工程と、
シート状製品の幅方向端部に記録されている前記位置情報を検出する工程と、
前記検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行う工程と、
このマーキング後に、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜く工程とを有することを特徴とする請求項1に記載のシート状製品の検査方法。 - ロールに巻き取られている帯状のシート状製品を引き出す工程と、
シート状製品の幅方向端部に記録されている欠陥の位置情報を検出する工程と、
前記検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行う工程と、
このマーキング後に、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜く工程とを有することを特徴とするシート状製品の検査方法。 - 前記位置情報として、幅方向端部からの距離情報が記録されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のシート状製品の検査方法。
- 前記位置情報は、バーコードの形態で記録されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のシート状製品の検査方法。
- 前記位置情報は、幅方向端部からの距離情報がバーコードと数字の両方で記録されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のシート状製品の検査方法。
- 帯状のシート状製品の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記検出された欠陥の位置情報をシート状製品の幅方向端部に記録する欠陥記録手段と、
前記位置情報が記録された帯状のシート状製品をロールに巻き取る手段とを備えたことを特徴とするシート状製品の検査システム。 - 前記ロールから帯状のシート状製品を引き出す手段と、
シート状製品の幅方向端部に記録されている前記位置情報を検出する位置情報検出手段と、
前記検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行うマーキング手段と、
このマーキング後に、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜く打ち抜き手段とを備えたことを特徴とする請求項7に記載のシート状製品の検査システム。 - ロールに巻き取られている帯状のシート状製品を引き出す手段と、
シート状製品の幅方向端部に記録されている欠陥の位置情報を検出する位置情報検出手段と、
前記検出された位置情報に基づいて、欠陥箇所にマーキングを行うマーキング手段と、
このマーキング後に、帯状のシート状製品から個々のシート状製品を打ち抜く打ち抜き手段とを備えたことを特徴とするシート状製品の検査システム。 - 前記位置情報は、バーコードの形態で記録され、前記位置情報検出手段は、バーコードリーダであることを特徴とする請求項7〜9のいずれか1項に記載のシート状製品の検査システム。
- 請求項1〜6のいずれか1項に記載の検査方法により検査された帯状シート状製品であって、
検出された欠陥の位置情報が幅方向端部に記録された後、ロールに巻き取られたことを特徴とする帯状シート状製品。 - 請求項1〜6のいずれか1項に記載の検査方法により検査されたシート状製品であって、
帯状シート状製品の幅方向端部に記録されている位置情報に基づいて欠陥箇所にマーキングを行った後、前記帯状シート状製品から個々に打ち抜かれたことを特徴とするシート状製品。 - 請求項12に記載のシート状製品に少なくとも1層の光学層を積層したシート状製品。
- 請求項12又は13に記載のシート状製品を有する画像表示装置。
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Cited By (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006329819A (ja) * | 2005-05-26 | 2006-12-07 | Casio Comput Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス層検査装置 |
JP2007085913A (ja) * | 2005-09-22 | 2007-04-05 | Gunze Ltd | 検査データ加工装置、検査データ加工方法、検査データ加工プログラム及び検査データ加工プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
WO2007058023A1 (ja) | 2005-11-17 | 2007-05-24 | Nitto Denko Corporation | 光学表示装置の製造システム及びその製造方法 |
JP2008082704A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-10 | Olympus Corp | 基板検査装置および基板検査方法 |
JP2008116437A (ja) * | 2006-10-11 | 2008-05-22 | Nitto Denko Corp | 光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム |
JP2008116438A (ja) * | 2006-10-11 | 2008-05-22 | Nitto Denko Corp | 検査データ処理装置及び検査データ処理方法 |
JP2009075002A (ja) * | 2007-09-21 | 2009-04-09 | Sentekku:Kk | 硬化状態測定装置 |
WO2009123002A1 (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | 住友化学株式会社 | 偏光フィルムの検査方法 |
WO2009128115A1 (ja) * | 2008-04-15 | 2009-10-22 | 日東電工株式会社 | 光学フィルム積層体ロールならびにその製造方法および装置 |
JP4503693B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置 |
JP4503689B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子の連続製造方法及び装置 |
JP4503690B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子を連続製造する装置に用いられる情報格納読出システム、及び、前記情報格納読出システムを製造する方法及び装置 |
JP4503692B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子を連続製造する装置において用いられる情報格納読出演算システム及び情報格納読出演算システムの製造方法 |
JP4503691B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液層表示素子の連続製造方法及び装置 |
WO2010116944A1 (ja) | 2009-04-10 | 2010-10-14 | 日東電工株式会社 | 光学フィルムロール原反 |
US7913734B2 (en) * | 2006-10-17 | 2011-03-29 | Nitto Denko Corporation | Method and system for laminating optical elements |
JP2011220967A (ja) * | 2010-04-14 | 2011-11-04 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 光学フィルム作製用原反フィルム、光学フィルムおよびその製造方法 |
US20120055607A1 (en) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Nitto Denko Corporation | Method of producing roll of optical film laminate with polarizing film |
WO2012153662A1 (ja) * | 2011-05-10 | 2012-11-15 | 旭硝子株式会社 | 透光性板状体の微小欠点の検査方法および透光性板状体の微小欠点の検査装置 |
CN103336014A (zh) * | 2013-07-25 | 2013-10-02 | 罗中玉 | 纺织品面料双面污损检测系统 |
US8557069B2 (en) | 2008-04-14 | 2013-10-15 | Nitto Denko Corporation | Optical display device manufacturing system and optical display device manufacturing method |
EP2717089A1 (en) * | 2007-12-27 | 2014-04-09 | Nitto Denko Corporation | Manufacturing system and manufacturing method for optical display device |
WO2014196476A1 (ja) * | 2013-06-04 | 2014-12-11 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置 |
WO2015068599A1 (ja) * | 2013-11-05 | 2015-05-14 | シャープ株式会社 | 光拡散部材、光拡散部材の検査装置、光拡散部材の製造装置及び製造方法 |
US20150183199A1 (en) * | 2010-09-03 | 2015-07-02 | Nitto Denko Corporation | Method and apparatus for continuously producing optical panel assemblies |
US9138067B2 (en) | 2008-06-26 | 2015-09-22 | Kingsdown, Inc. | Methods and apparatuses for comfort/support analysis of a sleep support member |
US9229256B2 (en) | 2007-12-27 | 2016-01-05 | Nitto Denko Corporation | Manufacturing system and manufacturing method for optical display device |
JP2016113721A (ja) * | 2014-12-15 | 2016-06-23 | セイコーエプソン株式会社 | シート製造装置及びシート製造方法 |
JP2016142657A (ja) * | 2015-02-03 | 2016-08-08 | 住友化学株式会社 | 光学フィルムの欠陥検査方法 |
WO2016208708A1 (ja) * | 2015-06-26 | 2016-12-29 | シグマ紙業株式会社 | 識別子を含む媒体 |
JP2017068124A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 日東電工株式会社 | 長尺状偏光子の検査方法 |
JP2017068123A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 日東電工株式会社 | 長尺状偏光子の検査方法 |
JP2017068122A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 日東電工株式会社 | 長尺状偏光子の検査方法 |
JP2017137527A (ja) * | 2016-02-02 | 2017-08-10 | 日東電工株式会社 | マーキング形成方法およびマーキング装置、ならびにフィルムの製造方法および真空成膜装置 |
CN107703152A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-02-16 | 深圳精创视觉科技有限公司 | 光学膜缺点自动标示装置 |
KR20180078237A (ko) | 2015-11-05 | 2018-07-09 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 시트의 검사 장치 및 검사 방법 |
JP2020098248A (ja) * | 2018-12-17 | 2020-06-25 | 株式会社トッパンTomoegawaオプティカルフィルム | フィルム |
WO2021117274A1 (ja) * | 2019-12-10 | 2021-06-17 | 日東電工株式会社 | 機能フィルムの検査方法、検査システム及び原反ロール |
KR20220145816A (ko) | 2020-02-28 | 2022-10-31 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 광투과성 적층체의 검사 방법 |
CN117553712A (zh) * | 2023-12-29 | 2024-02-13 | 江苏广亚建设集团有限公司 | 一种桥梁钢模板平整度检测装置 |
CN117553712B (zh) * | 2023-12-29 | 2024-04-19 | 江苏广亚建设集团有限公司 | 一种桥梁钢模板平整度检测装置 |
-
2004
- 2004-07-22 JP JP2004214526A patent/JP2005062165A/ja active Pending
Cited By (93)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006329819A (ja) * | 2005-05-26 | 2006-12-07 | Casio Comput Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス層検査装置 |
JP4720290B2 (ja) * | 2005-05-26 | 2011-07-13 | カシオ計算機株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス層検査装置 |
JP2007085913A (ja) * | 2005-09-22 | 2007-04-05 | Gunze Ltd | 検査データ加工装置、検査データ加工方法、検査データ加工プログラム及び検査データ加工プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
WO2007058023A1 (ja) | 2005-11-17 | 2007-05-24 | Nitto Denko Corporation | 光学表示装置の製造システム及びその製造方法 |
JP2008082704A (ja) * | 2006-09-25 | 2008-04-10 | Olympus Corp | 基板検査装置および基板検査方法 |
EP1914539A3 (en) * | 2006-10-11 | 2010-01-20 | Nitto Denko Corporation | Test data processing apparatus and test data processing method |
KR101394690B1 (ko) * | 2006-10-11 | 2014-05-14 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 광학 필름을 갖는 시트상 제품의 결점 검사 장치, 그 검사 데이터 처리 장치, 그 절단 장치 및 그 제조 시스템 |
KR101383934B1 (ko) * | 2006-10-11 | 2014-04-10 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 광학 필름을 갖는 시트상 제품의 결점 검사 장치, 그 검사데이터 처리 장치, 그 절단 장치 및 그 제조 시스템 |
JP2008116438A (ja) * | 2006-10-11 | 2008-05-22 | Nitto Denko Corp | 検査データ処理装置及び検査データ処理方法 |
US8149376B2 (en) | 2006-10-11 | 2012-04-03 | Nitto Denko Corporation | Test data processing apparatus and test data processing method |
US7908026B2 (en) | 2006-10-11 | 2011-03-15 | Nitto Denko Corporation | Apparatus for testing defects of sheet-shaped product having optical film, apparatus for processing test data thereof, apparatus for cutting the same, and production thereof |
EP1914540A3 (en) * | 2006-10-11 | 2010-03-31 | Nitto Denko Corporation | Apparatus for testing defects of sheet-shaped product having optical film, apparatus for processing test data thereof,apparatus for cutting the same,and production thereof |
JP2008116437A (ja) * | 2006-10-11 | 2008-05-22 | Nitto Denko Corp | 光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム |
US8078307B2 (en) | 2006-10-11 | 2011-12-13 | Nitto Denko Corporation | Apparatus for testing defects of sheet-shaped product having optical film, apparatus for processing test data thereof, apparatus for cutting the same, and production thereof |
EP2905608A1 (en) * | 2006-10-11 | 2015-08-12 | Nitto Denko Corporation | Apparatus for testing defects of sheet-shaped product having optical film, apparatus for processing test data thereof, apparatus for cutting the same, and production thereof |
EP2905609A1 (en) * | 2006-10-11 | 2015-08-12 | Nitto Denko Corporation | Apparatus for testing defects of sheet-shaped product having optical film, apparatus for processing test data thereof, apparatus for cutting the same, and production thereof |
KR101529423B1 (ko) * | 2006-10-11 | 2015-06-16 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 광학 필름을 갖는 시트상 제품의 결점 검사 장치, 그 검사 데이터 처리 장치, 그 절단 장치 및 그 제조 시스템 |
US7922843B2 (en) * | 2006-10-17 | 2011-04-12 | Nitto Denko Corporation | Method and system for laminating optical elements |
US7913734B2 (en) * | 2006-10-17 | 2011-03-29 | Nitto Denko Corporation | Method and system for laminating optical elements |
JP2009075002A (ja) * | 2007-09-21 | 2009-04-09 | Sentekku:Kk | 硬化状態測定装置 |
US9229256B2 (en) | 2007-12-27 | 2016-01-05 | Nitto Denko Corporation | Manufacturing system and manufacturing method for optical display device |
EP2717089A1 (en) * | 2007-12-27 | 2014-04-09 | Nitto Denko Corporation | Manufacturing system and manufacturing method for optical display device |
JP2009244064A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 偏光フィルムの検査方法 |
WO2009123002A1 (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-08 | 住友化学株式会社 | 偏光フィルムの検査方法 |
US8557069B2 (en) | 2008-04-14 | 2013-10-15 | Nitto Denko Corporation | Optical display device manufacturing system and optical display device manufacturing method |
WO2009128115A1 (ja) * | 2008-04-15 | 2009-10-22 | 日東電工株式会社 | 光学フィルム積層体ロールならびにその製造方法および装置 |
US8404334B2 (en) | 2008-04-15 | 2013-03-26 | Nitto Denko Corporation | Continuous web of optical film laminate with predefined slit lines, and method and system for manufacturing the same |
US8248558B2 (en) | 2008-04-15 | 2012-08-21 | Nitto Denko Corportation | Roll of optical film laminate, and method and system for manufacturing the same |
US8657976B2 (en) | 2008-04-15 | 2014-02-25 | Nitto Denko Corporation | Continuous web of optical film laminate with predefined slit lines, and method and system for manufacturing the same |
EP2687899A1 (en) | 2008-04-15 | 2014-01-22 | Nitto Denko Corporation | Method and system for manufacturing a roll of optical film laminate |
US8259263B2 (en) | 2008-04-15 | 2012-09-04 | Nitto Denko Corporation | Roll of optical film laminate, and method and system for manufacturing the same |
US8491737B2 (en) | 2008-04-15 | 2013-07-23 | Nitto Denko Corporation | Continuous web of optical film laminate with predefined slit lines, and method and system for manufacturing the same |
US8277587B2 (en) | 2008-04-15 | 2012-10-02 | Nitto Denko Corporation | Continuous method and system for manufacturing liquid-crystal display elements |
US9138067B2 (en) | 2008-06-26 | 2015-09-22 | Kingsdown, Inc. | Methods and apparatuses for comfort/support analysis of a sleep support member |
WO2010116944A1 (ja) | 2009-04-10 | 2010-10-14 | 日東電工株式会社 | 光学フィルムロール原反 |
US8821674B2 (en) | 2009-04-10 | 2014-09-02 | Nitto Denko Corporation | Optical film material roll and method for manufacturing image display device using thereof |
JP2010262265A (ja) * | 2009-04-10 | 2010-11-18 | Nitto Denko Corp | 光学フィルムロール原反、およびそれを用いた画像表示装置の製造方法 |
US8911838B2 (en) | 2009-04-10 | 2014-12-16 | Nitto Denko Corporation | Optical film material roll and method for manufacturing image display device using thereof |
KR101101470B1 (ko) | 2009-04-10 | 2012-01-03 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 화상 표시 장치의 제조 방법 |
EP2312382A1 (en) | 2009-10-13 | 2011-04-20 | Nitto Denko Corporation | Information storing, readout and calculation system for use in a system for continuously manufacturing liquid-crystal display elements, and methods for producing the same |
US9091881B2 (en) | 2009-10-13 | 2015-07-28 | Nitto Denko Corporation | Roll of continuous web of optical film laminate with predefined slit lines, and method and system for manufacturing the same |
US9573356B2 (en) | 2009-10-13 | 2017-02-21 | Nitto Denko Corporation | Information storage/readout device for use in continuously manufacturing system for liquid-crystal display elements, and method and system for producing the same |
US8016965B2 (en) | 2009-10-13 | 2011-09-13 | Nitto Denko Corporation | Information storing, readout and calculation system for use in a system for continuously manufacturing liquid-crystal display elements, and method for producing the same |
US7993476B2 (en) | 2009-10-13 | 2011-08-09 | Nitto Denko Corporation | Method and system for continuously manufacturing liquid-crystal display element |
US8294872B2 (en) | 2009-10-13 | 2012-10-23 | Nitto Denko Corporation | Information storage/readout device for use in continuously manufacturing system for liquid-crystal display elements, and method and system for producing the same |
JP4503693B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置 |
US8325318B2 (en) | 2009-10-13 | 2012-12-04 | Nitto Denko Corporation | Information storage/readout device for use in continuously manufacturing system for liquid-crystal display elements, and method and system for producing the same |
US7976657B2 (en) | 2009-10-13 | 2011-07-12 | Nitto Denko Corporation | Method and system for continuously manufacturing liquid-crystal display element |
US8414993B2 (en) | 2009-10-13 | 2013-04-09 | Nitto Denko Corporation | Roll of continuous web of optical film laminate with predefined slit lines, and method and system for manufacturing the same |
US8460490B2 (en) | 2009-10-13 | 2013-06-11 | Nitto Denko Corporation | Roll of continuous web of optical film laminate with predefined slit lines, and method and system for manufacturing the same |
EP2325008A1 (en) | 2009-10-13 | 2011-05-25 | Nitto Denko Corporation | Information storage/readout device for use in continuously manufacturing system for liquid-crystal display elements, and method and system for producing the same |
EP2631710A1 (en) | 2009-10-13 | 2013-08-28 | Nitto Denko Corporation | Information storing, readout and calculation system for use in a system for continuously manufacturing liquid-crystal display elements, and method for producing the same |
JP4503689B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子の連続製造方法及び装置 |
EP2325007A1 (en) | 2009-10-13 | 2011-05-25 | Nitto Denko Corporation | Method and system for continuously manufacturing liquid-crystal display element |
JP2011085629A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Nitto Denko Corp | 液晶表示素子を連続製造する装置に用いられる情報格納読出システム、及び、前記情報格納読出システムを製造する方法及び装置 |
JP2011085628A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Nitto Denko Corp | 液晶表示素子の連続製造方法及び装置 |
JP2011085630A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Nitto Denko Corp | 液層表示素子の連続製造方法及び装置 |
JP2011085631A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Nitto Denko Corp | 液晶表示素子を連続製造する装置において用いられる情報格納読出演算システム及び情報格納読出演算システムの製造方法 |
JP4503690B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子を連続製造する装置に用いられる情報格納読出システム、及び、前記情報格納読出システムを製造する方法及び装置 |
JP2011085632A (ja) * | 2009-10-13 | 2011-04-28 | Nitto Denko Corp | 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置 |
EP2315071A1 (en) | 2009-10-13 | 2011-04-27 | Nitto Denko Corporation | Method and system for continuously manufacturing liquid-crystal display element |
JP4503692B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子を連続製造する装置において用いられる情報格納読出演算システム及び情報格納読出演算システムの製造方法 |
JP4503691B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液層表示素子の連続製造方法及び装置 |
EP2312381A1 (en) | 2009-10-13 | 2011-04-20 | Nitto Denko Corporation | A roll of continuous optical film laminate with predefined slit lines, and method and apparatus for manufacturing the same |
JP2011220967A (ja) * | 2010-04-14 | 2011-11-04 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 光学フィルム作製用原反フィルム、光学フィルムおよびその製造方法 |
US8721816B2 (en) * | 2010-09-03 | 2014-05-13 | Nitto Denko Corporation | Method of producing roll of optical film laminate with polarizing film |
US9744750B2 (en) * | 2010-09-03 | 2017-08-29 | Nitto Denko Corporation | Method and apparatus for continuously producing optical panel assemblies |
US20150183199A1 (en) * | 2010-09-03 | 2015-07-02 | Nitto Denko Corporation | Method and apparatus for continuously producing optical panel assemblies |
US20120055607A1 (en) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Nitto Denko Corporation | Method of producing roll of optical film laminate with polarizing film |
WO2012153662A1 (ja) * | 2011-05-10 | 2012-11-15 | 旭硝子株式会社 | 透光性板状体の微小欠点の検査方法および透光性板状体の微小欠点の検査装置 |
JP2014235123A (ja) * | 2013-06-04 | 2014-12-15 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置 |
CN105308441A (zh) * | 2013-06-04 | 2016-02-03 | 住友化学株式会社 | 缺陷检查系统以及膜的制造装置 |
WO2014196476A1 (ja) * | 2013-06-04 | 2014-12-11 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置 |
CN103336014A (zh) * | 2013-07-25 | 2013-10-02 | 罗中玉 | 纺织品面料双面污损检测系统 |
WO2015068599A1 (ja) * | 2013-11-05 | 2015-05-14 | シャープ株式会社 | 光拡散部材、光拡散部材の検査装置、光拡散部材の製造装置及び製造方法 |
JP2016113721A (ja) * | 2014-12-15 | 2016-06-23 | セイコーエプソン株式会社 | シート製造装置及びシート製造方法 |
JP2016142657A (ja) * | 2015-02-03 | 2016-08-08 | 住友化学株式会社 | 光学フィルムの欠陥検査方法 |
WO2016125616A1 (ja) * | 2015-02-03 | 2016-08-11 | 住友化学株式会社 | 光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査装置、光学フィルムの製造方法、及び、光学フィルムの製造装置 |
WO2016208708A1 (ja) * | 2015-06-26 | 2016-12-29 | シグマ紙業株式会社 | 識別子を含む媒体 |
JP2017016171A (ja) * | 2015-06-26 | 2017-01-19 | シグマ紙業株式会社 | 識別子を含む媒体 |
US10204250B2 (en) | 2015-06-26 | 2019-02-12 | Sigma P.I. Co., Ltd. | Medium containing identifier |
JP2017068123A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 日東電工株式会社 | 長尺状偏光子の検査方法 |
JP2017068122A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 日東電工株式会社 | 長尺状偏光子の検査方法 |
JP2017068124A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 日東電工株式会社 | 長尺状偏光子の検査方法 |
KR20180078237A (ko) | 2015-11-05 | 2018-07-09 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 시트의 검사 장치 및 검사 방법 |
JP2017137527A (ja) * | 2016-02-02 | 2017-08-10 | 日東電工株式会社 | マーキング形成方法およびマーキング装置、ならびにフィルムの製造方法および真空成膜装置 |
CN107703152A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-02-16 | 深圳精创视觉科技有限公司 | 光学膜缺点自动标示装置 |
JP2020098248A (ja) * | 2018-12-17 | 2020-06-25 | 株式会社トッパンTomoegawaオプティカルフィルム | フィルム |
WO2021117274A1 (ja) * | 2019-12-10 | 2021-06-17 | 日東電工株式会社 | 機能フィルムの検査方法、検査システム及び原反ロール |
WO2021117671A1 (ja) * | 2019-12-10 | 2021-06-17 | 日東電工株式会社 | 機能フィルムの検査方法、検査システム及び原反ロール |
KR20220145816A (ko) | 2020-02-28 | 2022-10-31 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 광투과성 적층체의 검사 방법 |
CN117553712A (zh) * | 2023-12-29 | 2024-02-13 | 江苏广亚建设集团有限公司 | 一种桥梁钢模板平整度检测装置 |
CN117553712B (zh) * | 2023-12-29 | 2024-04-19 | 江苏广亚建设集团有限公司 | 一种桥梁钢模板平整度检测装置 |
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