JP2009244064A - 偏光フィルムの検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】帯状の偏光フィルムに対して欠陥検査装置を用いて欠陥の検出を行い(S2)、欠陥の検出結果に基づき、欠陥の位置を示す欠陥位置データを作成して記憶媒体に保存し(S3)、帯状の偏光フィルムをロールに巻き取り(S5)、ロールから帯状の偏光フィルムを巻き出し(S6)、帯状の偏光フィルムに対して他のフィルムを積層し(S7)、他のフィルムの積層後に、記憶媒体に保存された欠陥位置データを読み込み、読み込んだ欠陥位置データに基づいて偏光フィルムの欠陥位置を特定し(S8)、特定された欠陥位置に基づいて上記他のフィルムにおける欠陥の近傍位置にマークを形成する(S9)。
【選択図】図1
Description
2 撮像装置
4 偏光フィルム原反
7 撮像装置
12 偏光フィルム原反
13 ロール
14 画像処理装置
15 バーコード制御装置
16 データCD
17 バーコード
21 剥離フィルム
22 偏光フィルム原反
24 バーコードリーダ
25 PC
27 マーカ
28 マーカ制御装置
29 ロール
31 偏光フィルム
32 マーク
Claims (4)
- 帯状の偏光フィルムに対して欠陥検査装置を用いて欠陥の検出を行う工程と、
欠陥の検出結果に基づき、欠陥の位置を示す欠陥位置データを作成して記憶媒体に保存する欠陥位置記録工程と、
上記欠陥の検出後に、帯状の偏光フィルムをロールに巻き取る工程と、
上記ロールから帯状の偏光フィルムを巻き出す工程と、
巻き出された帯状の偏光フィルムに対して他のフィルムを積層する工程と、
他のフィルムの積層後に、記憶媒体に保存された欠陥位置データを読み込み、読み込んだ欠陥位置データに基づいて偏光フィルムの欠陥位置を特定し、特定された欠陥位置に基づいて上記他のフィルムにおける欠陥の近傍位置にマークを形成するマーク形成工程とを含むことを特徴とする偏光フィルムの検査方法。 - 上記欠陥位置記録工程では、欠陥の検出結果に基づき、帯状の偏光フィルムの全域を偏光フィルムの幅方向に沿った分割線で分割してなる複数の領域のうちで欠陥を含む領域の偏光フィルム幅方向端部に対して、欠陥を含む領域を識別するための識別コードを印刷し、上記欠陥位置データとして、欠陥を含む領域内における欠陥の位置を示す欠陥位置データを作成し欠陥を含む各領域に対応付けて記憶媒体に保存し、
上記マーク形成工程では、偏光フィルム上の識別コードを読み出し、読み出された識別コードによって識別される領域に対応付けられた欠陥位置データに基づいて偏光フィルムの欠陥位置を特定することを特徴とする請求項1記載の偏光フィルムの検査方法。 - 上記識別コードの印刷前に、上記偏光フィルムの幅方向端部に対してコロナ放電処理を施す工程をさらに含むことを特徴とする請求項2記載の偏光フィルムの検査方法。
- 上記マークを形成する工程では、上記偏光フィルムの幅方向端部に複数並ぶように配置されたマーカを用いてマークを形成することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の偏光フィルムの検査方法。
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