200946994 j臀 ^ 六、發明說明： ' 【發明所屬之技術領域】 本發縣關於—種偏_之檢財法，其在檢測存在 於帶狀偏光㈣缺陷之後，捲取於輕上，從減出所捲取 之帶狀偏光膜，對於帶狀之偏_層合其他薄膜後，於缺 陷位置之附近進行標記。 【先前技術】
在使用於液晶顯示面板等之偏光膜的製造步驟中，一 般係=定的寬、長帶狀之狀態自動地實施各種處理，最 終依衣σ 口規格而切割成預定的形狀。 c自動：杳撫帶狀之狀態的偏光膜，以藉缺陷檢查裝置 缺ρ之方i，動地檢測出缺陷，並在後步驟巾容易識別 古 ；於缺^之附近位置形成標記之偏光膜的檢查 方法已為人知(參照例如，曰本國公開專利公 歷-一3瞻以公報」（讀年1G月心公開））。 、般而。，以缺陷檢查裝置檢測出缺陷之偏光膜係並 非’ j G °使用。以缺陷檢查裳置檢測出缺陷之缺陷於其 尺寸很！ flf亦有時會被容許。缺陷檢查裝置—般而言係無 f判疋缺^之大小是否超過容許尺寸者，且不管是否屬於 谷許尺寸仏挪出全部之缺陷。—般，以缺陷檢查裝置所 檢測出之缺陷是否在容許範圍，最後係由人們以目視檢查 進行判斷。 偏光膜般係不可能消去標記。尤其以奇異筆（felt pen)所t成之襟記，—般係不可能從偏光膜拭去。 321139 200946994 因此’如習知之檢查方法，以缺陷檢查裝置檢測出偏 · 光膜之缺陷時，若直接以其狀態於偏光膜表面之缺陷的附 近位置直接形成標記，之後在目視檢查判定為可容許缺陷 時，無法消去標記。因此，存在著在偏光膜中之以缺陷檢 | 查裝置所檢測出之缺陷中，所含有被容許之缺陷的部分， ^ 儘管本來亦可使用來作為製品，但因已形成標記，而無法 使用來作為製品之問題。 【發明内容】 本發明係有鑑於上述之問題而研創者，其目的係在於 Ο 提供一種偏光膜之檢測方法，其係在偏光膜中之以缺陷檢 查裝置所檢測出之缺陷中，含有被容許之缺陷的部分，可 使用其來作為製品，並在以缺陷檢查裝置所檢測出之缺陷 的附近位置形成標記。 本發明之偏光膜之檢查方法係為解決上述之課題，其 特徵在於包含如下步驟：對於帶狀之偏光膜使用缺陷檢查 裝置進行缺陷檢測之步驟；依據缺陷之檢測結果，製成顯 ❹ 不缺陷位置的缺陷位置資料而保存於記憶媒體之缺陷位置 。己錄步驟，於上述缺陷之檢測後，將帶狀之偏光膜捲取於 輥上之步驟；從上述輥捲出帶狀之偏光膜的步驟；對於所 $出之帶狀偏光膜層合其他薄膜之步驟；於其他薄膜的層 ^後，讀入被保存於記憶媒體之缺陷位置資料，依據所讀 入之缺陷位置資料而特定偏光膜的缺陷位置，依據所特定 之缺位置而於上述其他薄膜之缺陷的附近位置形成標記 的標記形成步驟。 4 321139 ,200946994 • 又本發明之偏紐之檢查方法，係為 題，其特徵在於包含如下步驟:對於 1迷之绿 檢查裝置進行缺陷檢測之步 用缺陷 於上述偏光膜之寬度方㈣部，印刷顯對 的資料之識別石馬，並將上述已 ^、有關缺陷之位置 光膜捲取於輥上之步有上述識別碼之帶狀偏 驟;對於所捲出之帶狀偏光之偏光臈的步 ❹ 他薄膜的層合後，讀出偏光膜上之識別^膜之步驟；於其 識別碼而特定偏光膜的缺陷位置，依據所牲依據所讀出之 而於上述其他薄膜之缺陷的附近位置妒成!定之缺陷位置 步驟。 /成‘圮的標記形成 在習知之檢查方法中係同時地 置之偏光膜的缺陷檢測、與於缺=缺陷檢查裝 ❹ ;:的缺陷之步驟、與於缺陷之附近位置;=而檢測偏 -離，於前者之步驟舆後者 :成“之步驟 之步驟:藉此，可得到以下說明之效，層合其他薄膜 "*，在偏光膜之上係層合剝 離膜一般係使用於液晶顯示裝置等之時^其他的薄膜。剝 其他的薄臈係可消去標記。尤其，以^ =離。剝離膜等 一般係可從制離膜等其他的薄膜拭去了、戶斤形成之標記 進行=陷查方法中係於以缺陷檢查裝置所 曰杈查牯不形成標記，而於 吓 膜等其他的細（例如於偏光膜介—貼上^合膜Τ 321139 5 200946994 其他的薄膜）後，於其他之薄膜（之最上層）的缺陷之附近位 置形成標記，在其後之目視檢查中判定缺陷為屬於容許尺 寸時為可消去標記。藉此，在偏光膜中之以缺陷檢查裝置 所檢測出之缺陷之中含有所容許之缺陷的部分，可消去標 記而使用來作為製品。 因此，若依本發明之檢查方法，可提供一種偏光膜之 檢查方法，其係可使用在偏光膜中之以缺陷檢查裝置所檢 測出之缺陷之中含有所容許之缺陷的部分來作為製品，並 於以缺陷檢查裝置所檢測出之缺陷的附近位置形成標記。 又，在習知之檢查方法中，亦可考慮在對於偏光膜全 部層合其他之薄膜後，同時進行以缺陷檢查裝置所作之偏 光膜的缺陷檢測、與於缺陷之附近位置形成標記。但，於 如此之方法中，係無法判別以缺陷檢查裝置所檢測出之缺 陷為偏光膜的缺陷，或，層合於偏光膜上之其他的薄膜之 缺陷。對於此，在本案發明之檢查方法中，於其他之薄膜 的層合前以缺陷檢查裝置進行檢測缺陷，故可確實地檢測 出偏光膜之缺陷。 於日本特開2001 - 305070號公報所記載之習知的檢 查方法係在檢查到偏光膜之缺陷時於缺陷之附近位置形成 標記者。 對此，本發明之方法係在對帶狀偏光膜進行缺陷檢查 之步驟、與於帶狀之偏光膜上層合其他的薄膜之步驟之 間，進行將帶狀之偏光膜捲取於輥之步驟、與將帶狀之偏 光膜從輥捲出之步驟。此係製造帶狀之偏光膜而進行缺陷 6 321139 200946994 - 檢查之步驟與於▼狀之偏光膜上層合其他薄膜之步驟， -—般係為於不同工礙進行，必須從-者之卫祕帶狀之偏 光膜搬送至另一工礙，又’帶狀之偏光膜係一般為長條狀， 因此於進行工廠間之搬送時若補取於輥，料很難搬送。 e 右為s知之;u查方法’由於與缺陷檢查同時地進行形 成標記，，故不須記錄下有關缺陷之資訊，只要從缺陷檢查 裝置轉达訊號至標記裝置即可。對此，在本發明之檢查方 法中^上述使缺陷檢查步驟與標記形成步驟分離，於缺 形成步驟之間進行將偏光膜捲取於輥之
二:檢=捧出之步驟，故必須於缺陷檢查時 將缺㈣查結果錄何的H 形成步驟可利用。 τ佴在其後之铋》己 a此’在本發明之檢查方位 中係依據缺陷之檢測結果:位置吾己錄步驟 資料而保存於記憶媒體；於^乍顯示缺陷位置的缺陷位置 ❹ 驟中，讀入被保存於記憶媒體^專膜層合後之標記形成步 入之缺陷位置資料而特、㈣位置資料，依據所讀 之缺陷位置而於上述其他薄，的缺陷位置’依據所特定 記。藉此，即使將缺陷檢杳=之缺陷的附近位置形成標 缺陷檢查步釋與標記形成ϋ與標記形成步驟分離，於 之步驟、與將偏光膜從輥捲出之間進行將偏光膜捲取於輥 位置形成標記。 之步驟’亦可於缺陷之附近 在本發明之檢查方法中， 驟中，依據缺陷的檢測妗果’、在上述缺陷位置記錄步 '，封於以沿著偏光膜之寬度方 321139 7 200946994 向的分割線分割帶狀之偏光膜的全域而成之複數個區域中 含有缺陷之區域的偏光膜寬度方向端部，印刷用以識別含 缺陷之區域的識別碼，就上述缺陷位置資料而言，係製作 表示含有缺陷之區域内的缺陷位置之缺陷位置資料，並與 含有缺陷之各區域建立對應關係而保存於記憶媒體，在上 述標記形成步驟中係讀出偏光膜上之識別碼，並依據對應 於藉所讀出之識別碼所識別之區域的缺陷位置資料而特定 偏光膜之缺陷位置之方式為佳。 以本案發明之方法而言，可考慮只依據表示以偏光膜 之前頭位置為基準之缺陷位置的座標之缺陷位置資料來特 定偏光膜之缺陷位置的方法。但，偏光膜係有缺陷檢查後， 至形成標記止朝長方向延伸之情形。因此，在只依據表示 以偏光膜之前頭位置為基準之缺陷位置的座標之缺陷位置 資料來特定偏光膜之缺陷位置的方法，係有可能於特定之 缺陷位置產生長度方向的誤差之情形。 相對於此，若依上述方法，則由於係依據識別碼（條 碼）與缺陷位置資料之兩者來特定偏光膜之缺陷位置，故與 只依據缺陷位置資料而特定偏光膜之缺陷位置之情形比 較，可無誤差地特定缺陷位置。又，若依上述方法，與只 依據識別碼來特定偏光膜之缺陷位置之情形比較，由於可 依據資訊量更多之資訊來特定偏光膜之缺陷位置，故可更 精密地特定偏光膜之缺陷位置，進行更精密之標記的形成。 又，在印刷識別碼之本發明的檢查方法中係於上述識 別碼的印刷前，宜進一步含有對於上述偏光膜之寬度方向 8 321139 200946994 端部實施電暈放電處理之步驟。 — 光膜係印刷油墨很難印上去’印刷適性 電晕放電處理（於偏光m扁;^之寬度方向端部實施 偏光膜之寬度方向端呷表 軍放電之處理）’粗化 卩表面而楗尚印刷油墨的接著性（印 易黏&)’可防止所印刷之識別碼剝離（印刷油墨 弭值土因此’若依上述方法’亦可確實地應用於接著性 弱之偏光膜。 ❹ 在本發明之檢查方法中係在形成上述標記之步驟 中且^於上述偏細㈣度方㈣部所配置之複數個並 排之標δ己器（marker)以形成標記。 以形成上述標記之方法而言，可考慮 :=偏光膜之寬度方向移動而只二個删形成： :己的=。然而’在如此之方法中於—次發生多數個缺陷 時，^可祕-部分之缺陷的附近位置不能形成標記。 邱西罢亡，右依上述方法’因使用於偏光膜的寬度方向端 =有複數個併排之標記器來形成標記，故即使一次發 生=個缺陷時，純於全部之缺陷_近位置無遺漏地 形成標§己。因此，可防止含有缺陷之偏光膜_良品側。 ，本發明之其他的目的、特徵、及優點，依由以下之記 載可充分瞭解。又，本發明之功效係由參照添附圖面之如 下說明即可瞭解。 $ 【實施方式】 有關 本案說明之偏光膜的撿查方法之實施一形 態的 321139 9 200946994 概要’依第1圖而進行說明。 π首先，對於原材之偏光膜（形成長帶狀，可藉裁切而 仔到具有依照用途之大小的複數片偏光膜之偏光膜）的寬 度方向端部㈣電暈放電處理（S1)。制於電暈放電處理 之電暈放電裝置的輪出係只要適當、最適化即可。此步驟 Sl+係粗化偏光膜之寬度方向端部表面而提高印刷油墨之 接著性，用以防止所印刷之識別碼剝離者，但在偏光膜為 接著性強者之情形等中係可省略。
然後，對於原材之偏光膜，使用缺陷檢查裝置進行4 在於偏光膜表面或内部的缺陷（損傷或異物、氣泡等）之相 查，對於將帶狀之偏光膜的全域以沿著偏光膜之寬度方诗 的分割線進行分割而成之複數個區域分別檢查缺陷之有 無’檢測含有缺陷之區域内的缺陷位置（S2)。
檢查對象之偏光膜係亦可為一層之偏光膜，或可為当 於一層之偏光膜，層合有保護膜；反射膜、半透過膜、和 位差膜、視角補償膜、亮度提昇膜等光學薄膜；等丨層或 1層=上者。上述1層之偏光膜係可使用例如將聚乙烯基 醇系薄膜以二色性色素（蜗或二色性染料等）染色者。上述 1層之偏紐之厚度並無特別限定，例如為Ura至150以『 =右。若亦考慮延伸之容易性等，其料宜為·m以上 2。檢查料之偏光麟輯於丨層Μ光㈣於兩❹ γ相者。對於i層之偏光膜，層合保護膜時雖無特^ 宜為介由由W基醇系樹脂所構成之接著劑 接者劑而層合保護膜。上述保護膜係可舉例如三 321139 10 200946994 基纖維素（TAC)之醋酸纖維素系樹脂、或降伯烯系樹脂、聚 ^ 碳酸酯系樹脂、丙烯酸系樹脂等，’但從偏光特性或耐久性 等觀點，尤宜為三乙醯基纖維素。保護膜一般可使用100 /zm以下之厚度者，但宜為60#m以下，更宜為50//m以 下。與保護膜之接合面為相反侧之面（露出面）係亦可實施 防眩處理、硬塗處理、抗反射處理、抗靜電處理等適當的 表面處理。醋酸纖維素系之樹脂係對於聚乙烯基醇系樹脂 未必具有充分的接著力，故宜於其接合面實施皂化處理。 ❹ 然後，依據S2之缺陷的檢測結果，藉由將有關缺陷 位置的資料進行編碼化，製作顯示在含有缺陷之區域内的 缺陷位置之缺陷位置資料，並將缺陷位置資料對應於含有 缺陷之各區域而保存於記憶媒體（S3)。在此步驟中，例如， 將含有缺陷之區域呈祺盤的眼狀分割成複數個區隔，且將 含有以攝像裝置所攝影之缺陷的區域之圖像資料，變換成 以2值表不各區隔之貢料（表不具缺陷之區隔的貧訊設為 ❹ 黑色’表不無缺陷之區隔的貧訊設為白色）的2值貧料。進 一步，將此2值資料變換成以「1」表示具缺陷之區隔（黑 色之區隔），以「0」表示無缺陷之區隔（白色之區隔）的由 2值編碼列所構成之缺陷位置資料，保存於記憶媒體。 然後，依據S2之缺陷的檢測結果，將帶狀之偏光膜 的全域以沿著偏光膜之寬度方向的分割線進行分割而成之 複數個區域中，對於含有缺陷之區域的偏光膜寬度方向端 部，印刷以1對l·之關係用以辨識含有缺陷之區域的識別 碼之（1次元的）條碼（S4)。條碼係例如表示第幾號之含有 11 321139 200946994 者’如位於含有缺陷之區域（含有缺陷之區域） n ’以喷墨印刷裝置等之印刷裝置印刷。 於偏係广於不_ 之滚之寬度方向端部以預定寬（例如1〇咖）存在 :。條碼係印刷成例如偏光膜之寬度方向端部的 ς為7咖。51之電暈放電處理係至少對於印刷有條媽之 =域m對偏光财之料部進行即可。 ==宜對於偏光膜之有效範圍（使用來作為製品之範圍） 輥二’ LS2之：陷的檢測後’將帶狀之偏光膜捲取到 甘y /、後，▼狀之偏光膜係以輥形態保管及搬送。 將帶狀之偏細從輕捲出（S6)
捲出之帶狀偏光膜層合其他的薄膜！層或2層以上(U 膜"=:之，膜係可舉例如剝離薄膜(分隔膜）；反射 膜+透過膜、相位差膜、視角補償膜、 =學薄膜;保護媒等。剝離薄膜係將用以與設= ===:構件接著之剛,至實用地供給 易地剝離的程度,適當地具密著=”使用前可容 =又^吏用例如=聚乙稀系樹脂所構成之薄膜、或由聚酷 乐树月曰所構成之薄膜。為適當 "s 離性，亦可對接合於上=整f離膜之密著性或剝 處理、紫外線照射處理處2電漿處理、電暈 人焰處理4之表面處理，或亦可 321139 12 200946994 對其表面適當賦予黏著層、聚矽氧系或氟系之脫模劑層、 界面活性層等。剝離膜之厚度例如以30//m以上者為佳。 又，於S7中之其他的薄膜之層合後，讀出被印刷於 偏光膜之寬度方向端部之條編（S8)。表示條碼為第幾號之 » 含有缺陷的區域者之情形，係於當讀出條碼時，讀出條碼 為第幾號之含有缺陷的區域。 又，讀入被保存於記憶媒體之缺陷位置資料（S8)。在 第1圖之製造方法中一般係，如第1圖所示，步驟S1至 〇 S5係在偏光膜製造工廠實施，另一方面，步驟S6至S10 係在不同於偏光膜製造工薇的另一加工工薇實施。因此， 一般，在S8使用缺陷位置資料之前，必須將於S3被保存 於記憶媒體之缺陷位置的資料從偏光膜製造工廠之記憶媒 體移送至加工工廠。資料之移送方法係可舉例如：（1)於 S3將缺陷位置資料收藏於USBQJniversal serial bus)記 憶體或CD-R(CD recordable)等之可取下的記憶媒體中， 0 將該可取下的記憶媒體從輸出缺陷位置資料之裝置取下而 搬運至加工工廠，在加工工廠從該可取下之記憶媒體讀入 缺陷位置的資料之方法；（2)於S3將缺陷位置資料收藏於 硬碟等之記憶媒體，將缺陷位置資料從其記憶媒體藉由 LAN (Local area network)等之通訊網路而移送至加工工廉 之方法等。 進一步，比對所讀出之條碼與位置資訊資料，依據對 應於措條碼所辨識之區域的缺陷位置貧料而特定（計鼻）偏 光膜之缺陷位置（S8)。此時之計算方法係只要與S3之編碼 13 321139 200946994 二即可。亦即，在此步驟中係只要比對從條碼所讀取 t 陷區域的編號、與從記憶媒體所讀出之缺陷位置 貪科’藉S2之編瑪化的逆變換處理而計算偏光膜之缺 置即可。 —然後，依據在S8所特定之缺陷位置而在上述其他的 溥膜上’於所特t之缺陷的附近位置形成標記⑽。 宜使標記形成作為挾住缺陷之2條線狀的標記。藉此，可 容易地認識缺陷，同時於被標記挾住之區域的外部曰可 地保證缺陷不存在。 貝 最後，將形成有標記之帶狀偏光膜捲取至輕⑽）。 所捲取之偏光膜係其後，裁切成具有依照用途之大小 的複數片偏光膜，依據標記之有無等而區分成良品盘不良 品，良品成為最終製品。最終製品之偏光膜係例如可使用 於液晶顯示裝置、有機EL||示裝置、電漿顯示器等。又， 亦可省略步驟S1〇,在步驟％後，直接進行裁切及區分。 又’在步驟S7中，亦可使其他之薄膜層合於單面， 亦可層合於雙面。在步驟87中使其他之薄膜層合於單面時 係在步驟S8中於層合後之偏光膜中的其他薄膜被層合之 側的面上形成標記即可。在步驟S7中將其他之薄膜層合於 兩面時’係只要於層合後之偏光膜中的任一個面上形成桿 記即可。 下 第1圖之步驟S2至S5係可使用例如第2圖所示之偏 光膜製造生產線而進行。 如第2圖所示，偏光膜製造生產線係藉由未圖示之搬 321139 14 200946994 : 送輥等而搬送偏光膜原材〗，於偏光臈原材】之雙面層人 由：TAC等所構成之保護膜3而製造偏光膜原材‘二 輥13者。 於 偏光膘之線上自動檢查裝置係在上述偏光膜製造生 產線尹，自動地進行偏光膜原材丨及偏光膜眉材4之缺陷 檢查者，以攝影裝置2、7、與未圖示之圖像處理裝置所構 成。偏光膜原材1係例如使用為液晶顯示裝置之偏光板的 ❹ 偏光膜，即使有以肉眼難以辨識那麼小的表面微小的缺
Pa，亦會降低鬲精細化之液晶顯示裝置的顯示畫質，故不 宜存在。又，即使有遍及比較廣的範圍之缺陷，亦有時難 以用肉眼來判別。在此構成係藉由對於以攝影裝置2、7 所攝影之偏光膜原材1的晝像實施各種之晝像處理等，而 即使為以肉眼报難判別之缺陷，.亦可檢測出缺陷。 攝影裝置2係從偏光胆原# q七北 明偏去， 尤膜原材1之月面側藉光源2b照 月偏先膜原材1，以配置於 ❹ 機％攝影偏光膜原材i之^膜原材1之表面側的攝影 δ -t 、” 之穿透光像，使所攝影之圖像的 農之圖像處理裝置者。未圖示之圖像處理 原材1的缺陷。藉此，可m圖^貝料而檢測偏光膜 薪物作為缺陷而檢測出。又1光膜原材1的附著異物及 膜屌鉍！ ♦主 又，亦可併用如下方法：從偏光 於偏光膜原材光源’而照明偏光膜原材1，以配置 從偏=之表面側的攝影機攝影反射圖像之方法； 每先膜原材1之背面側 以配置於偏光膜1 源’而照明偏光膜原材1， …、 之背面側的攝影機攝影反射圖像之 321139 1«； 200946994 方法；從偏光膜原材！之背面側藉光源，而照明偏光膜原 材1，透過偏光膜原材1與正交偏光（cr〇ssnic〇i)配置之 偏光板而以配置於表面側的攝影機攝影圖像之方法等，而 可感度佳地檢測出偏光膜原材〗之缺陷。 攝影裝置7係從偏光膜原材4之背面側藉光源7b，而 照明偏光膜原材4,以配置於偏光膜原材4之表面側的攝 影機7a攝影偏光膜原材4之正穿透光像，使所攝影之圖像 的貪料輸出至未圖示之圖像處理裝置者。未圖示之圖像處 理裝置係依據從攝影機7 a所輪出之圖像資料而檢測偏光 =材4的缺陷。藉此’可將存在於偏光膜原材！與保護 膜之間的泡狀氣泡及異物（有核氣泡）、以及存在於保護 從偏為缺陷而檢測。又’亦可併用如下方法： 原材4+之表面側藉光源，而照明偏光膜原材4， 偏光膜原材4之表面側的攝影機攝影反射圖像之 ’ ’仗偏光膜原材4之背面侧藉光源，而照明偏光膜原 圖像之置於偏光膜原材4之背面側的攝影機攝影反射 光從偏光膜原材4之背面側藉光源，而照明偏 而以配>^賴細原材4與正交偏光配置之偏光板 ==表面側的攝影機攝影圖像之方法等，而可感度 仏測出偏光膜原材4之缺陷。 又’以攝影機2a、7a而言宜為crr)摄旦乂 使用其他型式的攝影機。且為c⑶攝域，但亦可 方向=75係宜為能遍及整個偏光_之寬度 白而進仃均-的照明者。以光源2b、7^言係可使用螢 321139 16 200946994 光燈等管狀的發光體、或傳送光源等的線狀光源。傳送光 •»1 源係於棒狀之導光體的軸方向之端面配置金屬鹵素燈等強 力光源，將入射於端面之光導入於兩端面間的側面，發揮 棒狀之光源功能。光源2b、7b係亦可為擴展雷射光而照射 ψ 者。光源2 b、7 b之照射至偏光膜原材1或4之光係設定成 容易檢測缺陷之波長或偏光特性。 如以上所述，在第2圖所示之自動檢查裝置中係使用 沿著搬送方向而配置之複數種的攝影裝置2、7而進行缺陷 ❹ 檢查，且，在偏光膜3之層合步驟前後進行使用攝影正穿 透光像之攝影裝置2、7的缺陷檢查。再者，未圖示之圖像 處理裝置當藉由使用任一種之攝影裝置2、7的缺陷檢查而 檢測出缺陷，即判定為於偏光膜（1或4)具有缺陷者。 在上述構成中由於可使用最適於檢測各種缺陷模式 ,的各個缺陷之光學系（攝影裝置2、7)，故可提昇檢測複數 種缺陷之感度。又，在上述構成中因係在第2圖所示之製 φ 造生產線中的較上游侧進行檢查，故能在構件數較少之狀 態下進行偏光膜原材的檢查。結果，可降低缺陷之誤檢測 出（虛報）。 又，自動檢查裝置之構成係不限定於第2圖所示之構 成，亦可為只使用攝影裝置2、7之中的一部份之構成。又， 自動檢查裝置雖以如第2圖所示之構成，在製造生產線中 進行檢查之方式製造效率較為有利，但亦可為與製造生產 線不同地進行檢查者。 偏光膜原材4係於其表面印刷表示有關缺陷之缺陷資 17 321139 200946994 訊（缺陷部位、缺陷座標、缺陷内容等）的條碼η， 於輥13。 ^欠’對於第1圖之步的一例，依據第4 圖及第5圖詳細地說明。 如第4圖所示，執行第1圖之步驟S1至S5的自動檢 查裝置係具備：用以檢測出偏光膜原材！之缺陷的攝影裝 =、圖像處理裝置u、條碼控制裝置15—^ 二Γ動檢查裝置雖在第4圖中省略，但偏光臈 、_ 、 2圖所不，藉由沿著搬送路徑所配置之未圖 ㈣搬送滾料⑽送域13，㈣枝鶴機構而旋轉 輥13，以捲取於輥13。 德2影裝置2係攝影整個偏歧原材1之圖像，而將圖 理裝置14者，具備未圖示之光源(對應 所不之光源2b)、與配置成沿著偏光膜原材】之 見度方向併排的3個攝影機仏。攝影機列雖在第4圖中為 置1二Z定於此’亦可為2列以上’沿著寬度方向配 2 △二A台數，亦無_限定，可為1台，亦可為 歹纏像辛之^ _如具襟高 如，檢杳對感測器作為攝影元件者。例 攝H置2的2光膜原材1的寬度為約^⑽麵的範圍， ㈣區域係偏光卿1寬度方向的尺寸約 料實：ϋ里裝置14係對於從攝影機2a所送來之圖像資 、 ，檢财無存在於偏歧原材1之表面或 32J139 18 200946994 ? 内部之缺陷，同時並對於將整個帶狀偏光膜原材1沿著偏 光膜原材1的寬度方向之分割線分割成複數個區域而成之 各區域（在第5圖中係沿著偏光膜原材1之長度方向的各區 , 域的尺寸為1〇〇 )分別判定為有缺陷之區域，係將該區域 呈棋盤之眼狀分割成複數個區隔（在第5圖中係20腿2之 正方形區域），將含有缺陷的區域之圖像資料，變換成以2 值表示各區隔之缺陷的有無（表示具缺陷之區隔的資訊設 為黑色’表示無缺陷之區隔的資訊設為白色）之2值資料。 © 圖像處理裝置14係例如將有關第4圖所示之偏光膜原材j 的缺陷區段（含有缺陷之區域）002之第5圖（a)所示的圖 像資料，變換成有關缺陷區段〇〇2之第5圖（|3)所示的2 值資料。圖像處理裝置14係將所得到之2值資料輸出至條 碼控制裝置15。圖像處理裝置14係可藉執行圖像處理程 式與圖像處理程式之電腦來構成。圖像處理程式之缺陷判 疋肩异法係可採用公知之各種演算法。圖像處理裝置14 ❹係亦可以硬體構成。 條碼控制裝置15係將從圖像處理裝置所送來之2 隹資料變換成以「1」表示具缺陷之區隔（黑色之區隔），以 〇」表示無缺陷之區隔（白色之區隔）的2值編碼列所構成 之缺陷位置資料（編碼化）。若使含有缺陷之區域分割成棋 盤眼狀而成之複數個區隔為由偏光膜原材丨長度方向1}1個 (在弟5圖之例中m=5)x偏光膜原材1寬度方向11個（在第$ 圖之例中n=9)所構成，則有關缺陷區段002之2值編碼 列，如第5圖（c)所示，分別由偏光臈原材i長度方向丄 321139 19 200946994 個χ偏光膜原材1寬度方向n個所構成之複數個小區段（在 第5圖例中小區段為01至〇5)分別以相關的2值編碼列所 構成，各小區段的2值編碼列係從最上位位元側起由：在 含有缺陷之區域中顯示第幾號之缺陷區段編號的資料列 (在第5圖之例中為3位元）、表示小區段編號之資料列（在 第5圖之例中為2低）、及表示在各區隔中之缺陷有益（以 表示為有缺陷、以「G」表示無缺陷）之2值編碼列（在 第5圖之例中為9位元）所構成。而且，條碼控制裝置u 係將缺陷位置資料保存在作為記憶媒體之資料_七 16。條码控觀置15係藉由例如產業關人電腦等來實 現。表示在各區隔中有無缺陷之資料係不限定於2值編' 藉由使用16進位等，可表示複數個圖像處理裝置的資 =例如，若設成將表示缺陷之有無的㈣⑼ 在第1圖像處理襄置檢測到缺陷之情形，以「2」表示^ 2圖像處理裝置檢測出缺陷時，以「4」表 ： 理裝置檢_軸時，而在賴_像處 的數值來表示= Γ處理裝置檢測出缺陷時 晉㈣一 像處理裝置及第3圖像處理裝 、’出缺陷時，表示缺陷之有無的數 可由置所進行的檢查結果具有她 了於後奴彻標妹裝置計算顧 -個圖像處理裝 "硪疋在哪 理裝置檢測出之缺_ 而可只對由特定之圖像處 又’條碼控制農置15係依據來自圖像處理裝置“之 321139 20 200946994 2值資料，驅動條碼控制裝置18者。條碼控制裝置15係 ' 當從圖像處理裝置14接受有關含缺陷之區域的2值資料 時，對於同一的偏光膜原材1將表示第幾次接受到有關含 缺陷之區域的2值資料之編號作為缺陷區段編號，生成表 ft 不該缺陷區段編號之條碼的印字貧料。繼而5條碼控制裝 置15係在從圖像處理裝置14接受到有關含缺陷之區域的 2值資料之後，於預定時間後將印刷指令及條碼之印字資 料送至條碼印刷裝置18。上述預定時間係藉條碼印刷裝置 ® 18而印刷條碼17之時點，設定成對應於該條碼17之偏光 膜原材4的區域之前頭位置與通過被條碼印刷裝置18所印 刷之位置的時點一致。 條碼印刷裝置18並無特定限定，但為喷墨印表機等。 條碼印刷裝置18係當從條碼控制裝置15接受印刷指令及 條碼之印字資料時，將表示缺陷區段編號之條碼17印刷至 偏光膜原材4之寬度方向端部。結果，條碼印刷裝置18 ^ 係對於偏光膜原材4之寬度方向端部，可將表示缺陷區段 編號之條碼17印刷至對應於該缺陷區段編號之區域的前 頭位置。 其次，對於第1圖之步驟S6至S10的一例，依據第6 圖至第8圖詳細地說明。 如第8圖所示，偏光膜原材4係藉由未圖示之搬送滾 輪等而從輥13卷出，實施將剝離膜21層合於偏光膜原材 4之處理而形成偏光膜原材22後，搬送至標記化裝置，捲 取於輕29。 21 321139 200946994 標記化裝置係於偏光膜原材22之剝離膜21上形成標 。己32(苓知、第6圖）者，如第8圖所示，具備感測器23、編 碼讀取器（編碼讀取感測器）24、HDD(硬碟驅動器）26、桿記 益27、及標記器控制裝置28(參照第6圖、）。 感測器23、及配置於標記器27附近之未圖示的編碼 器係檢測偏光膜原材22之搬送速度，並將時點訊號輸出至 PC(個人電腦）25。 條碼讀取器24係依據來自pc 25之讀入指令，讀取 被印刷於偏光膜原材22的寬度方向端部之條碼17，且將 條碼17顯示之缺陷區段編號以RS232C等之通訊方式送至 PC 25 。 … ^ PC 25係將讀入指令送訊至條碼讀取器24，並從條碼 項取器24接受缺陷區段編號，同時讀入被保存於資料⑶ 16之缺陷位置資料。繼而，PC 25係比對缺陷區段資料與 位置資訊資料，依據對應於缺陷區段資料之缺陷位置資料 而特定（計算）偏光膜之缺陷位置。pc 25係依此計算而例 如從第7圖（a)所示之缺陷位置資料，得到以2值表示如示 於第7圖（b)之含有缺陷之區域内各區隔中之缺陷的有無 (以黑色表示具缺陷之區隔的資訊’以白色表示無缺陷 隔的資訊）之2值數據。繼而，PC 25係依據此2值資料， 將用以使位在;^寬度方向的兩側包央含有缺陷之區隔（在 第5圖（b)之例中係黑色的區隔）的標記器27執行動作之標 記化指令輸出至標記器控制裝置2 δ (參照第6圖）。不 PC 25係從標記器控制裝置2δ(參照第6圖）接受標記 321139 200946994 r 形成之開始/停止指令，應答開始 制裝置28(參照第6圖)通知標記形成二==控 (Answer)及準備結束後，將上述標 σ、:、，a答 輸出至標記器控制裝置烈（參照第6 S 田的時點 依據感測器23及未圊示之編碼器之 柄，PC 25係 ο 24所進行之條碼讀取的時點、與襟t出以使條瑪5貝取器 的時點同步之方式，控制標記化指^卿成之襦記 26係用以記憶控制pc 25之動作的程式=犄點。又，_ ^器27係奇異筆（例如以「___ 斤市。者），相對於條碼讀取$ 24在搬送方向的下游側 以相等於得到缺陷結果資料時所使用之區隔的沿著偏光膜 =材1寬度方向的大小（在第6圖中為2Q画）的間隔、 f偏光膜原材22之寬度方向，設置有複數標記器。標記器 7之數目係宜為可顧及整個偏光膜原材22之寬度方向的° 數目，例如75個。標記器27係於偏光膜原材22之表 成平行於搬送方向之線狀的標記32。各標記器27係 使前端接觸於偏光膜原材22之表面，而可於搬送方向曰 線狀之標記32。各標記器27係以於不使用時覆蓋蓋子^ 7止溶劑或稀釋劑等蒸發而降低書寫流暢感等為宜。就以 払圮器27所書寫之標記32的形狀、大小而言，係只要為 可以目視辨認者即可，並無特別限定，但，可形成例如2〇 _之線狀的標記。又，在本實施形態中係使用奇異筆之標 ，器27，但可取代標記器27而採用喷墨式之標記器、^ 藉切割刀以刮痕來形成作為標記32之標記器等公知之| 321139 23 200946994 種的標記器。 標記控制裝置28係依據來自PC 25之標記化指令， 使位在伙I度方向的兩側包失含有來自pc 2 5之標記化指 令中之含缺陷的區隔（在第7圖（b)之例中係黑色的區隔） 的位置之彳示5己器2 7選擇性作動，並藉由作動之標記器2 7 以從寬方向之兩侧挾住含缺陷的區隔的方式，形成標記 32。結果’偏光膜原材22之表面係形成例如表示於第7 圖（c)之以2條線狀標記32挾住含有缺陷之各個區隔之狀 態。 又’依據來自輥32之偏光膜原材22的送出方向，有 從缺陷區段編號大的區域依序將含有偏光膜原材22之複 數缺陷的區域送至標記化裝置之情形。因此，在標記化裝 置中係依據缺陷區段編號而自動辨識偏光膜原材22之送 出方向，依照偏光膜原材22之送出方向而進行缺陷位置資 料之重新排列。 藉由標記化裝置而形成標記32之偏光膜原材22係其 後，如第3圖所示，裁切成複數個預定形狀（在此例為矩形） 之區隔部分（由第3圖的虛線區隔之部分），成為具有依照 用途之形狀及尺寸的複數個偏光膜31。對於各偏光膜31 7進行標記32之有無的檢查，上述複數個偏光膜31藉區 刀衣置或人工而區分成為無標記32之偏光膜31、與有標 記32之偏光膜3卜檢查標記犯之有無時，若以挾住缺 陷，兩側的方式賦予標記32,則_使為不易以肉眼辨認之 缺，亦可容易地辨識。對於有標記32之偏光膜W，係 321139 24 200946994 進行步驟S11之目視之缺陷確認。步驟S11之目視檢查係 判定偏光膜31之缺陷是否為可容許的缺陷。此判定的結 果，若判定偏光膜31之缺陷為可容許的缺陷，則在進行步 驟S12的偏光膜31之檢查時間短的目視檢查後，即以製品 ♦ 方式將偏光膜31出貨。另一方面，若偏光膜31之缺陷為 無法容許的缺陷，則於步驟S14廢棄偏光膜31。又，對於 無標記32之偏光膜31係在進行步驟S12的檢查時間短的 目視檢查後，作為製品而出貨。 ❿ 又，在上述實施形態中雖印刷表示缺陷區段編號之1 次元條碼作為辨識碼，但本發明之辨識碼係只要為可以1 對1之關係辨識含缺陷之區域（缺陷區段）者，不限定於1 次元條碼，亦可為2次元條碼、或亦可為文字（例如表示缺 陷區段編號之數字）等。 又，在上述之實施形態中係依據辨識碼（條碼）與缺陷 位置資料之兩者來特定偏光膜之缺陷位置，但在本發明之 @ 檢查方法中係亦可只依據缺陷位置資料來特定偏光膜之缺 陷位置。又，使用辨識碼來特定偏光膜之缺陷位置時，辨 識碼係除了含缺陷之區域的編號或缺陷位置之座標等外， 尚亦可為顯示缺陷之内容者。 如上所述，本發明之偏光膜之檢查方法係發揮如下之 效果：即在偏光膜中之由缺陷檢查裝置所檢測出之缺陷 中，能將含有被容許之缺陷的部分，使用其來作為製品， 在以缺陷檢查裝置所檢測出之缺陷的附近位置形成標記。 本發明係可利用於各種之偏光膜的製造業。 25 321139 200946994 或•二：:！態之說明項目中所說明之具體的實施態樣 /月匕'’、土本上為揭不本發明之技術内容者，不應只限 於如此之具體例而狹義地解釋，在本發明之精神與如下記 載之令請專利範圍，可實施各種變更。 【圖式簡單說明】 、第1圖係表示本發明實施的一形態之偏光膜的檢查方 法概要流程圖。 八弟2圖係表示使用於本發明實施的一形態之偏光膜的 檢查方法之缺陷檢查等的偏光膜製造生產線概略之方塊 圖。 第3圖係說明裁切偏光膜原材後之區分方法的圖。 八第4圖係表示使用於本發明實施的一形態之偏光膜的 檢查方法之自動檢查裝置的概略方塊圖。 第5圖（a)至（c)係表示在上述自動檢查裝置中將偏光 膜原材的圖像資料進行編碼化之方法的概略圖。 ^第6圖係表示使用於本發明實施的一形態之偏光膜的 才双查方法之標記化裝置概略的方塊圖。 第7圖（a)至（c)係表示在上述自動檢查裝置中依據條 碼及缺卩曰位置貧料而決定標記形成位置的方法之概略圖。 第8圖係表示本發明實施的—形態之偏光膜的檢查方 法之標記化裝置概略的另一方塊圖。 【主要元件符號說明】 1 ' 4 ' 12 ' 22偏光膜原材 2 7 攝影裝置 13、29輥 26 321139 200946994 14 圖像處理裝置 15 16 資料CD 17 21 剝離膜 24 25 PC 27 28 標記器控制裝置 31 32 標記 條碼控制裝置 條碼 條碼讀取器 標記器 偏光膜 ❹ 321139