KR20110000564A - 편광 필름의 검사 방법 - Google Patents

편광 필름의 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20110000564A
KR20110000564A KR1020107023436A KR20107023436A KR20110000564A KR 20110000564 A KR20110000564 A KR 20110000564A KR 1020107023436 A KR1020107023436 A KR 1020107023436A KR 20107023436 A KR20107023436 A KR 20107023436A KR 20110000564 A KR20110000564 A KR 20110000564A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
defect
polarizing film
film
mark
defect position
Prior art date
Application number
KR1020107023436A
Other languages
English (en)
Inventor
아츠히코 시노즈카
도시유키 가사이
히사노리 야마네
Original Assignee
스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 filed Critical 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
Publication of KR20110000564A publication Critical patent/KR20110000564A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8861Determining coordinates of flaws
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/888Marking defects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9511Optical elements other than lenses, e.g. mirrors

Abstract

본 발명의 편광 필름의 검사 방법에서는, 띠형의 편광 필름에 대하여 결함 검사 장치를 이용하여 결함을 검출하고(S2), 결함의 검출 결과에 기초하여, 결함의 위치를 나타내는 결함 위치 데이터를 작성하여 기억 매체에 보존하며(S3), 띠형의 편광 필름을 롤에 권취하고(S5), 롤로부터 띠형의 편광 필름을 권출하며(S6), 띠형의 편광 필름에 대하여 다른 필름을 적층하고(S7), 다른 필름의 적층 후에, 기억 매체에 보존된 결함 위치 데이터를 읽어들이며, 읽어들인 결함 위치 데이터에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하고(S8), 특정된 결함 위치에 기초하여 상기 다른 필름에서의 결함의 근방 위치에 마크를 형성한다(S9). 이것에 의해, 편광 필름에 있어서, 결함 검사 장치로 검출한 결함 중에서 허용되는 결함만을 포함하는 부분을 제품으로서 사용 불가능한 것으로 하지 않고서, 결함 검사 장치로 검출한 결함의 근방 위치에 마크를 형성할 수 있다.

Description

편광 필름의 검사 방법{METHOD OF INSPECTING POLARIZING FILM}
본 발명은, 띠형의 편광 필름에 존재하는 결함을 검출한 후, 롤에 권취하고, 권취한 띠형의 편광 필름을 롤로부터 권출하며, 띠형의 편광 필름에 대하여 다른 필름을 적층한 후, 결함 위치 근방에 마킹을 하는 편광 필름의 검사 방법에 관한 것이다.
액정 표시 패널 등에 사용되는 편광 필름의 제조 공정에서는, 일반적으로, 일정한 폭으로 장대한 띠형의 상태로 각종 처리가 자동적으로 실시되고, 최종적으로 제품사양에 따라 소정 형상이 되도록 커팅되고 있다.
종래부터, 띠형 상태의 편광 필름에 대하여 결함 검사 장치(자동 검사기)에 의해 자동적으로 결함을 검출하고, 뒤 행정에서 결함의 식별이 용이해지도록, 결함의 근방 위치에 마크를 형성하는 편광 필름의 검사 방법이 알려져 있다(예컨대 특허문헌 1).
일반적으로, 결함 검사 장치로 결함을 검출한 편광 필름은, 100% 사용할 수 없는 것이 아니다. 결함 검사 장치로 결함이 검출되는 결함은, 그 크기가 작은 경우에는 허용되는 경우도 있다. 결함 검사 장치는, 일반적으로 결함의 크기가 허용 사이즈를 초과하는 것인지를 판정할 수는 없어, 허용 사이즈인지에 관계없이 모든 결함을 검출해 버린다. 일반적으로, 결함 검사 장치로 검출한 결함이 허용되는지의 여부는, 최종적으로 사람이 육안으로 확인하는 검사로 판단한다.
편광 필름은, 일반적으로 마크의 소거가 불가능하다. 특히 펠트펜으로 형성된 마크는, 일반적으로 편광 필름으로부터 닦아내는 것이 불가능하다.
이 때문에, 종래의 검사 방법과 같이, 결함 검사 장치로 편광 필름의 결함을 검출했을 때에, 그 대로의 상태로 편광 필름 표면에서의 결함의 근방 위치에 직접 마크를 형성해 버리면, 뒤의 육안으로 확인하는 검사에서 결함이 허용된다고 판정되었을 때에, 마크를 소거할 수 없다. 이 때문에, 편광 필름에 있어서, 결함 검사 장치로 검출한 결함 중에서 허용되는 결함만을 포함하는 부분이, 원래는 제품으로서 사용할 수 있음에도 불구하고, 마크가 형성되어 있기 때문에 제품으로서 사용할 수 없는 문제가 있다.
특허문헌 1: 일본 공개 특허 공보「일본 특허 공개 제2001-305070호 공보」(2001년 10월31일 공개)
본 발명은, 상기한 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은, 편광 필름에 있어서, 결함 검사 장치로 검출한 결함 중에서 허용되는 결함만을 포함하는 부분을 제품으로서 사용 불가능한 것으로 하지 않고서, 결함 검사 장치로 검출한 결함의 근방 위치에 마크를 형성할 수 있는 편광 필름의 검사 방법을 제공하는 것에 있다.
본 발명에 따른 편광 필름의 검사 방법은, 상기한 과제를 해결하기 위해, 띠형의 편광 필름에 대하여 결함 검사 장치를 이용하여 결함을 검출하는 공정과, 결함의 검출 결과에 기초하여, 결함의 위치를 나타내는 결함 위치 데이터를 작성하여 기억 매체에 보존하는 결함 위치 기록 공정과, 상기 결함의 검출 후에, 띠형의 편광 필름을 롤에 권취하는 공정과, 상기 롤로부터 띠형의 편광 필름을 권출하는 공정과, 권출된 띠형의 편광 필름에 대하여 다른 필름을 적층하는 공정과, 다른 필름의 적층 후에, 기억 매체에 보존된 결함 위치 데이터를 읽어들이고, 읽어들인 결함 위치 데이터에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하며, 특정된 결함 위치에 기초하여 상기 다른 필름에서의 결함의 근방 위치에 마크를 형성하는 마크 형성 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다. 또한, 본 발명에 따른 편광 필름의 검사 방법은, 상기한 과제를 해결하기 위해, 띠형의 편광 필름에 대하여 결함 검사 장치를 이용하여 결함을 검출하는 공정과, 결함의 검출 결과에 기초하여, 상기 편광 필름의 폭방향 단부에 대하여, 결함의 위치에 관한 정보를 나타내는 식별 코드를 인쇄하고, 상기 식별 코드가 인쇄된 띠형의 편광 필름을 롤에 권취하는 공정과, 상기 롤로부터 띠형의 편광 필름을 권출하는 공정과, 권출된 띠형의 편광 필름에 대하여 다른 필름을 적층하는 공정과, 다른 필름의 적층 후에, 편광 필름 상의 식별 코드를 독출하며, 독출된 식별 코드에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하고, 특정된 결함 위치에 기초하여 상기 다른 필름에서의 결함의 근방 위치에 마크를 형성하는 마크 형성 공정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
종래의 검사 방법에서는, 결함 검사 장치를 이용한 편광 필름의 결함의 검출과, 결함의 근방 위치에 대한 마크의 형성을 동시에 행하고 있는 것에 비하여, 본 발명의 검사 방법에서는, 결함 검사 장치를 이용하여 편광 필름의 결함을 검출하는 공정과, 결함의 근방 위치에 마크를 형성하는 공정을 분리하고, 전자(前者)의 공정과 후자(後者)의 공정 사이에, 다른 필름을 적층하는 공정을 실시하고 있다. 이것에 의해, 이하에 설명하는 효과를 얻을 수 있다.
일반적으로, 편광 필름 상에는, 박리 필름 등의 다른 필름이 적층된다. 박리 필름은, 일반적으로 액정 표시 장치 등에 사용할 때에 박리된다. 박리 필름 등의 다른 필름은 마크 소거가 가능하다. 특히 펠트펜으로 형성된 마크는, 일반적으로 박리 필름 등의 다른 필름으로부터 닦아내는 것이 가능하다.
이 때문에, 본 발명의 검사 방법에서는, 결함 검사 장치에 의한 결함 검사시에는 마크를 형성하지 않고, 편광 필름 상에 박리 필름 등의 다른 필름을 적층한(예컨대 편광 필름에 풀을 통해 박리 필름 등의 다른 필름을 접착한) 후에, 다른 필름(의 최상층)에서의 결함의 근방 위치에 마크를 형성하며, 그 후의 육안으로 확인하는 검사에서 결함이 허용 사이즈라고 판정되었을 때에 마크를 소거할 수 있도록 하고 있다. 이것에 의해, 편광 필름에 있어서, 결함 검사 장치로 검출한 결함 중에서 허용되는 결함만을 포함하는 부분은, 마크를 소거하여 제품으로서 사용할 수 있다.
따라서, 본 발명의 검사 방법에 의하면, 편광 필름에 있어서, 결함 검사 장치로 검출한 결함 중에서 허용되는 결함만을 포함하는 부분을 제품으로서 사용 불가능한 것으로 하지 않고서, 결함 검사 장치로 검출한 결함의 근방 위치에 마크를 형성할 수 있는 편광 필름의 검사 방법을 제공할 수 있다.
또한, 종래의 검사 방법에 있어서, 편광 필름에 대하여 다른 필름을 전부 적층한 후에, 결함 검사 장치에 의한 편광 필름의 결함의 검출과, 결함의 근방 위치에 대한 마크의 형성을 동시에 행하는 것도 고려할 수 있다. 그러나, 이와 같은 방법으로는, 결함 검사 장치로 검출한 결함이 편광 필름의 결함인 것인지, 편광 필름 상에 적층된 다른 필름의 결함인 것인지를 판별할 수 없다. 이에 비하여, 본원 발명의 검사 방법에서는, 다른 필름의 적층 전에 결함 검사 장치에 의해 결함을 검출하기 때문에, 편광 필름의 결함을 확실하게 검출할 수 있다.
특허문헌 1에 기재되어 있는 종래의 검사 방법은, 편광 필름의 결함을 검사했을 때에 결함의 근방 위치에 마크를 형성하는 것이었다.
이에 비하여, 본 발명의 방법은, 띠형의 편광 필름에 대하여 결함 검사를 행하는 공정과 띠형의 편광 필름 상에 다른 필름을 적층하는 공정 사이에, 띠형의 편광 필름을 롤에 권취하는 공정과 띠형의 편광 필름을 롤로부터 권출하는 공정을 행한다. 이것은, 띠형의 편광 필름을 제조하여 결함 검사를 행하는 공정과, 띠형의 편광 필름 상에 다른 필름을 적층하는 공정은, 일반적으로 별도의 공장에서 행해지기 때문에, 한쪽 공장으로부터 다른쪽 공장까지 띠형의 편광 필름을 반송(搬送)해야 하고, 또한 띠형의 편광 필름은, 일반적으로 길기 때문에, 공장간의 반송을 행할 때에는 롤에 권취하지 않으면 반송이 어렵기 때문이다.
종래의 검사 방법의 경우, 결함 검사와 동시에 마크를 형성하기 때문에, 결함에 관한 정보를 기록해 둘 필요가 없고, 결함 검사 장치로부터 마킹 장치에 신호를 전송하는 것만으로 끝난다. 이에 비하여, 본 발명의 검사 방법에서는, 전술한 바와 같이 결함 검사 공정과 마크 형성 공정을 분리하고, 결함 검사 공정과 마크 형성 공정 사이에 편광 필름을 롤에 권취하는 공정과 편광 필름을 롤로부터 권출하는 공정을 행하고 있기 때문에, 결함 검사시에 결함 검사 결과를 어떠한 형태로 기록해 두고, 그 후의 마크 형성 공정에서 이용할 수 있도록 해야 한다.
이 때문에, 본 발명의 검사 방법에서는, 결함 위치 기록 공정에서, 결함의 검출 결과에 기초해, 결함의 위치를 나타내는 결함 위치 데이터를 작성하여 기억 매체에 보존하고, 다른 필름 적층 후의 마크 형성 공정에서, 기억 매체에 보존된 결함 위치 데이터를 읽어들이며, 읽어들인 결함 위치 데이터에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하고, 특정된 결함 위치에 기초하여 상기 다른 필름에서의 결함의 근방 위치에 마크를 형성한다. 이것에 의해, 결함 검사 공정과 마크 형성 공정을 분리하고, 결함 검사 공정과 마크 형성 공정 사이에 편광 필름을 롤에 권취하는 공정과 편광 필름을 롤로부터 권출하는 공정을 행하고 있어도, 결함의 근방 위치에 마크를 형성할 수 있다.
본 발명의 검사 방법에 있어서, 상기 결함 위치 기록 공정에서는, 결함의 검출 결과에 기초해, 띠형의 편광 필름의 전체 영역을 편광 필름의 폭방향을 따른 분할선으로 분할하여 이루어지는 복수의 영역 중에 결함을 포함하는 영역의 편광 필름 폭방향 단부에 대하여, 결함을 포함하는 영역을 식별하기 위한 식별 코드를 인쇄하고, 상기 결함 위치 데이터로서, 결함을 포함하는 영역 내에서의 결함의 위치를 나타내는 결함 위치 데이터를 작성하여 결함을 포함하는 각 영역에 대응시켜 기억 매체에 보존하며, 상기 마크 형성 공정에서는, 편광 필름 상의 식별 코드를 독출하고, 독출된 식별 코드에 의해 식별되는 영역에 대응된 결함 위치 데이터에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하는 것이 바람직하다.
본원 발명의 방법으로서는, 편광 필름의 선두 위치를 기준으로 한 결함 위치의 좌표를 나타내는 결함 위치 데이터에만 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하는 방법을 고려할 수 있다. 그러나, 편광 필름은, 결함 검사 후, 마크가 형성될 때까지 길이 방향으로 신장되는 경우가 있다. 이 때문에 편광 필름의 선두 위치를 기준으로 한 결함 위치의 좌표를 나타내는 결함 위치 데이터에만 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하는 방법에서는, 특정한 결함 위치에 길이 방향의 오차가 생길 가능성이 있다.
이에 비하여, 상기 방법에 의하면, 식별 코드(바코드)와 결함 위치 데이터 모두에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하기 때문에, 결함 위치 데이터에만 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하는 경우와 비교하여, 오차없이 결함 위치를 특정할 수 있다. 또한, 상기 방법에 의하면, 식별 코드에만 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하는 경우와 비교하여, 보다 정보량이 많은 정보에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정할 수 있기 때문에, 편광 필름의 결함 위치를보다 정밀하게 특정하여, 보다 정밀하게 마크를 형성할 수 있다.
또한, 식별 코드를 인쇄하는 본 발명의 검사 방법에 있어서는, 상기 식별 코드의 인쇄 전에, 상기 편광 필름의 폭방향 단부에 대하여 코로나 방전 처리를 실시하는 공정을 더 포함하는 것이 바람직하다.
일반적인 편광 필름은, 인쇄 잉크가 잘 묻지 않고, 인쇄 적성이 비교적 좋지 않다. 상기 방법에 의하면, 편광 필름의 폭방향 단부에 대하여 코로나 방전 처리(편광 필름 상에 코로나 방전을 거는 처리)를 실시하는 것에 의해, 편광 필름의 폭방향 단부 표면을 거칠게 하여 인쇄 잉크의 접착성(인쇄 잉크가 묻기 쉬운 정도)을 높이고, 인쇄된 식별 코드가 벗겨지는 것(인쇄 잉크의 박리)을 방지할 수 있다. 따라서, 상기 방법에 의하면, 접착성이 약한 편광 필름에도 확실하게 적용 가능해진다.
또한, 본 발명의 검사 방법에 있어서는, 상기 마크를 형성하는 공정에서는, 상기 편광 필름의 폭방향으로 복수 나열되도록 배치된 마커를 이용하여 마크를 형성하는 것이 바람직하다.
상기 마크를 형성하는 방법으로서는, 예컨대 하나의 마커를 편광 필름의 폭방향으로 움직이는 것에 의해 하나의 마커만으로 마크를 형성하는 방법을 고려할 수 있다. 그러나, 이와 같은 방법에서는, 한번에 다수의 결함이 발생한 경우, 일부 결함의 근방 위치에 마크를 형성하지 못할 가능성이 있다.
이에 비하여, 상기 방법에 의하면, 편광 필름의 폭방향으로 복수 나열되도록 배치된 마커를 이용하여 마크를 형성하기 때문에, 한번에 다수의 결함이 발생한 경우라도, 모든 결함의 근방 위치에 빠짐없이 마크를 형성할 수 있다. 따라서, 결함을 포함하는 편광 필름이 양품(良品)측으로 유출되는 것을 방지할 수 있다.
본 발명의 또 다른 목적, 특징 및 우수한 점은, 이하에 나타내는 기재에 의해 충분히 알 수 있을 것이다. 또한, 본 발명의 이익은 첨부 도면을 참조한 이하의 설명으로 명백해질 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 편광 필름의 검사 방법의 개요를 나타내는 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시형태에 따른 편광 필름의 검사 방법에서의 결함 검사 등에 이용하는 편광 필름 제조 라인의 개략을 도시하는 블록도이다.
도 3은 편광 필름 원반(原反)을 재단한 후의 분류 방법을 설명하는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시형태에 따른 편광 필름의 검사 방법에 이용하는 자동 검사 장치의 개략을 도시하는 블록도이다.
도 5는 상기 자동 검사 장치에서 편광 필름 원반의 화상 데이터를 코드화하는 방법의 개략을 도시하는 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시형태에 따른 편광 필름의 검사 방법에 이용하는 마킹 장치의 개략을 도시하는 블록도이다.
도 7은 상기 자동 검사 장치에서 바코드 및 결함 위치 데이터에 기초하여 마크 형성 위치를 결정하는 방법의 개략을 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시형태에 따른 편광 필름의 검사 방법에 이용하는 마킹 장치의 개략을 도시하는 다른 블록도이다.
본원 발명의 편광 필름 검사 방법의 일 실시형태의 개요에 대해서, 도 1에 기초하여 설명한다.
우선, 원반(原反)의 편광 필름(긴 띠형으로 형성되고, 용도에 따른 크기를 갖는 복수의 편광 필름을 재단에 의해 얻을 수 있는 편광 필름)의 폭방향 단부에 대하여 코로나 방전 처리를 실시한다(S1). 코로나 방전 처리에 이용하는 코로나 방전 장치의 출력은, 적절하게 최적화하면 좋다. 이 공정 S1은, 편광 필름의 폭방향 단부 표면을 거칠게 하여 인쇄 잉크의 접착성을 높이고, 인쇄된 식별 코드가 박리되는 것을 방지하기 위한 것이지만, 편광 필름이 접착성이 강한 것인 경우 등에서는, 생략할 수 있다.
이어서, 원반의 편광 필름에 대하여, 결함 검사 장치를 이용하여 편광 필름의 표면 또는 내부에 존재하는 결함(흠집이나 이물, 기포 등)을 검사하고, 띠형의 편광 필름의 전체 영역을 편광 필름의 폭방향을 따른 분할선으로 분할하여 이루어지는 복수 영역의 각각에 대해서 결함의 유무를 검출하며, 결함을 포함하는 영역 내에서의 결함의 위치를 검출한다(S2).
검사 대상인 편광 필름은, 1층의 편광 필름이어도 좋고, 1층의 편광 필름에 대하여, 보호 필름; 반사 필름, 반투과 필름, 위상차 필름, 시각 보상 필름, 휘도 향상 필름 등의 광학 필름; 등을 1층 또는 2층 이상 적층한 것이어도 좋다. 상기 1층의 편광 필름으로서는, 예컨대 폴리비닐알코올계 필름을 이색성 색소(요오드나 이색성 염료 등)로 염색한 것을 이용할 수 있다. 상기 1층의 편광 필름의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 예컨대 1 ㎛∼150 ㎛ 정도이다. 연신의 용이성 등도 고려하면, 그 막 두께는 10 ㎛ 이상인 것이 바람직하다. 검사 대상인 편광 필름은 1층의 편광 필름에 대하여 양면에 보호 필름이 적층된 것인 것이 바람직하다. 1층의 편광 필름에 대하여, 보호 필름을 적층할 때는, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 예컨대 비닐알코올계 수지로 이루어지는 접착제 등의 접착제를 통해 보호 필름을 적층하는 것이 바람직하다. 상기 보호 필름으로서는, 트리아세틸셀룰로오스(TAC)와 같은 초산셀룰로오스계 수지나, 노르보넨계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 아크릴계 수지 등을 들 수 있지만, 편광 특성이나 내구성 등의 점에서, 트리아세틸셀룰로오스가 특히 바람직하다. 보호 필름으로서는, 통상 100 ㎛ 이하 두께의 것이 이용되지만, 바람직하게는 60 ㎛ 이하, 더 바람직하게는 50 ㎛ 이하 두께의 것이 이용된다. 보호 필름의 접합면과 반대측의 면(노출면)에는, 방현(防眩) 처리, 하드코트 처리, 반사 방지 처리, 대전 방지 처리 등, 적절한 표면 처리가 실시되어 있어도 좋다. 초산셀룰로오스계의 수지는, 폴리비닐알코올계 수지에 대하여 반드시 충분한 접착력을 갖고 있지 않기 때문에, 그 접합면에 비누화 처리를 실시해 두는 것이 바람직하다.
이어서, S2의 결함의 검출 결과에 기초하여, 결함의 위치에 관한 데이터를 코드화하는 것에 의해, 결함을 포함하는 영역 내에서의 결함의 위치를 나타내는 결함 위치 데이터를 작성하고, 결함 위치 데이터를, 결함을 포함하는 각 영역에 대응시켜 기억 매체에 보존한다(S3). 이 공정에서는, 예컨대 결함을 포함하는 영역을 격자무늬로 복수의 구획으로 분할하고, 촬상 장치로 촬상된 결함을 포함하는 영역의 화상 데이터를, 각 구획의 정보를 2진법으로 나타내는(결함이 있는 구획의 정보를 흑색으로서 나타내고, 결함이 없는 구획의 정보를 백색으로서 나타냄) 2진 데이터로 변환한다. 또한, 이 2진 데이터를, 결함이 있는 구획(흑색 구획)을 「1」로 나타내고, 결함이 없는 구획(백색 구획)을 「0」으로 나타내는 2진 코드열로 이루어지는 결함 위치 데이터로 변환하여, 기억 매체에 보존한다.
이어서, S2의 결함의 검출 결과에 기초하여, 띠형의 편광 필름의 전체 영역을 편광 필름의 폭방향을 따른 분할선으로 분할하여 이루어지는 복수 영역 중에 결함을 포함하는 영역의 편광 필름 폭방향 단부에 대하여, 결함을 포함하는 영역을 1대1의 관계로 식별하기 위한 식별 코드로서의(1차원의) 바코드를 인쇄한다(S4). 바코드는, 예컨대 몇번째의 결함 포함 영역인지를 나타내는 것이고, 결함을 포함하는 영역(결함 포함 영역)의 선두에 위치하도록, 잉크젯 인쇄 장치 등의 인쇄 장치로 인쇄된다.
공정 S4에서의 바코드의 인쇄 위치는, 편광 필름에 있어서 최종적으로 제품으로서 사용되지 않는 지점에 설정된다. 예컨대, 바코드의 인쇄 위치는 편광 필름의 폭방향 단부에 소정 폭(예컨대 10 ㎜)으로 존재하는 널링부 내에 설정된다. 바코드는, 예컨대 편광 필름의 폭방향 단부에서의 폭이 7 ㎜가 되도록 인쇄된다. S1의 코로나 방전 처리는, 적어도 바코드가 인쇄되는 영역, 즉 편광 필름에서의 널링부에 대하여 행하면 좋다. 코로나 방전 처리는, 편광 필름의 유효 범위(제품으로서 이용하는 범위) 외에 대하여 행하는 것이 바람직하다.
또한, S2의 결함의 검출 후에, 띠형의 편광 필름을 롤에 권취한다(S5). 그 후, 띠형의 편광 필름은 롤 형태로 보관 및 반송된다.
그 후, 띠형의 편광 필름을 롤로부터 권출한다(S6). 이어서, 권출된 띠형의 편광 필름에 대하여 다른 필름을 1층 또는 2층 이상 적층한다(S7).
상기 다른 필름으로서는, 박리 필름(세퍼레이터); 반사 필름, 반투과 필름, 위상차 필름, 시각 보상 필름, 휘도 향상 필름 등의 광학 필름; 보호 필름 등을 들 수 있다. 박리 필름은, 편광 필름 표면에 마련된 액정 셀 등의 다른 부재와 접착하기 위한 점착층을, 실용에 제공할 때까지, 오염으로부터 보호하기 위한 것이다. 박리 필름은, 편광 필름의 사용 전에 용이하게 박리할 수 있는 정도로, 적절히 밀착성이 있는 것이면 좋다. 박리 필름으로서는, 구체적으로는, 예컨대 폴리에틸렌계 수지로 이루어지는 필름이나, 폴리에스테르계 수지로 이루어지는 필름이 일반적으로 이용된다. 박리 필름의 밀착성이나 박리성을 적절히 조정하기 위해, 편광 필름에 접합되는 표면에, 플라즈마 처리, 코로나 처리, 자외선 조사 처리, 프레임 처리 등의 표면 처리를 실시하여도 좋고, 또는 그 표면에, 점착층, 실리콘계나 불소계의 이형제층, 계면활성층 등을 적절하게 마련하여도 좋다. 박리 필름의 두께는, 예컨대 30 ㎛ 이상인 것이 유리하다.
또한, S7에서의 다른 필름의 적층 후에, 편광 필름의 폭방향 단부에 인쇄된 바코드를 독출한다(S8). 바코드가 몇번째의 결함 포함 영역인지를 나타내는 것인 경우에는, 바코드를 독출할 때에, 바코드가 몇번째의 결함 포함 영역인지를 독출한다.
또한, 기억 매체에 보존되어 있는 결함 위치 데이터를 읽어들인다(S8). 도 1의 제조 방법에서는, 일반적으로 도 1에 도시하는 바와 같이, 공정 S1∼S5는 편광 필름 제조 공장에서 실시되는 한편, 공정 S6∼S10은 편광 필름 제조 공장과는 별도의 가공 공장에서 실시된다. 이 때문에 일반적으로, S8에서 결함 위치 데이터를 이용하기 전에, S3에서 기억 매체에 보존된 결함 위치의 데이터를, 편광 필름 제조 공장의 기억 매체로부터 가공 공장으로 전송해 두어야 한다. 데이터의 전송 방법으로서는, (1) S3에서 결함 위치 데이터를 USB(Universal Serial Bus) 메모리나 CD-R(CD recordable) 등의 분리 가능한 기억 매체에 저장하고, 그 분리 가능한 기억 매체를 결함 위치 데이터를 출력하는 장치로부터 분리하여 가공 공장으로 운반하며, 가공 공장에서 그 분리 가능한 기억 매체로부터 결함 위치의 데이터를 읽어들이는 방법; (2) S3에서 결함 위치 데이터를 하드디스크 등의 기억 매체에 저장하고, 결함 위치 데이터를 그 기억 매체로부터 LAN(Local Area Network) 등의 통신 네트워크를 통해 가공 공장으로 전송하는 방법 등을 들 수 있다.
또한, 독출된 바코드와 위치 정보 데이터를 대조하고, 바코드에 의해 식별되는 영역에 대응된 결함 위치 데이터에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정(계산)한다(S8). 이 때의 계산 방법은, S3의 코드화의 역으로 하면 된다. 즉, 이 공정에서는, 바코드로부터 판독된 결함 포함 영역의 번호와, 기억 매체로부터 독출된 결함 위치 데이터를 대조하고, S3의 코드화의 역변환 처리에 의해 편광 필름의 결함 위치를 계산하면 된다.
이어서, S8에서 특정된 결함 위치에 기초하여 상기 다른 필름 상에 있어서, 특정된 결함의 근방 위치에 마크를 형성한다(S9). 이 때, 마크를, 결함을 사이에 두는 2개의 선형 마크로서 형성하는 것이 바람직하다. 이것에 의해, 결함을 용이하게 인식할 수 있고, 마크 사이에 있는 영역의 외부에는 결함이 존재하지 않는 것을 확실하게 보증할 수 있다.
마지막으로, 마크가 형성된 띠형의 편광 필름을 롤에 권취한다(S10).
권취된 편광 필름은, 그 후, 용도에 따른 크기를 갖는 복수의 편광 필름으로 재단되고, 마크의 유무 등에 기초하여 양품과 불량품으로 분류되며, 양품이 최종 제품이 된다. 최종 제품의 편광 필름은, 예컨대 액정 표시 장치, 유기 EL 표시 장치, 플라즈마 디스플레이 등에 이용할 수 있다. 또한, 공정 S10을 생략하고, 공정 S9 후, 직접, 재단 및 분류를 행하여도 좋다.
또한, 공정 S7에 있어서, 다른 필름을 한 면에 적층하여도 좋고 양면에 적층하여도 좋다. 공정 S7에서 다른 필름을 한 면에 적층한 경우에는, 공정 S8에서 적층 후의 편광 필름에 있어서 다른 필름이 적층된 측의 면 상에 마크를 형성하면 된다. 공정 S7에서 다른 필름을 양면에 적층한 경우에는, 적층 후의 편광 필름에 있어서 어느 하나의 면 상에 마크를 형성하면 된다.
도 1의 공정 S2∼S5는, 예컨대 도 2에 도시하는 편광 필름 제조 라인을 이용하여 행할 수 있다.
편광 필름 제조 라인은, 도 2에 도시하는 바와 같이, 도시하지 않는 반송 롤러 등에 의해 편광 필름 원반(1)을 반송하고, 편광 필름 원반(1)의 양면에 TAC 등으로 이루어지는 보호 필름(3)을 적층하여 편광 필름 원반(4)을 제조하며, 롤(13)에 권취하는 것이다.
편광 필름의 인라인 자동 검사 장치는, 상기 편광 필름 제조 라인중에서, 편광 필름 원반(1) 및 편광 필름 원반(4)의 결함 검사를 자동적으로 행하는 것이고, 촬상 장치(2, 7)와, 도시하지 않는 화상 처리 장치로 구성되어 있다. 편광 필름 원반(1)은, 예컨대 액정 표시 장치의 편광판으로서 사용하는 편광 필름이며, 육안으로는 식별하기 어려울 정도로 작은, 표면의 미소한 결함이어도, 고선명화되어 있는 액정 표시 장치 등의 표시 화질을 저하시켜 버리기 때문에, 존재하는 것은 바람직하지 않다. 또한 비교적 넓은 범위에 걸친 결함이어도, 육안으로는 판별이 어려운 경우도 있다. 이 구성에서는, 촬상 장치(2, 7)로 촬상된 편광 필름 원반(1)의 화상에 대하여 각종 화상 처리를 실시하는 것 등에 의해, 육안으로는 판별이 어려운 결함이어도, 결함으로서 검출할 수 있다.
촬상 장치(2)는, 편광 필름 원반(1)의 이면측으로부터 광원(2b)에 의해 편광 필름 원반(1)을 조명하고, 편광 필름 원반(1)의 표면측에 배치한 카메라(2a)로 편광 필름 원반(1)의 정투과광상을 촬상하며, 촬상된 화상의 데이터를 도시하지 않는 화상 처리 장치에 출력하는 것이다. 도시하지 않는 화상 처리 장치는, 카메라(2a)로부터 출력된 화상 데이터에 기초하여 편광 필름 원반(1)의 결함을 검출한다. 이것에 의해, 편광 필름 원반(1)의 부착 이물 및 오염을 결함으로서 검출할 수 있다. 또한, 편광 필름 원반(1)의 표면측으로부터 광원에 의해, 편광 필름 원반(1)을 조명하고, 편광 필름 원반(1)의 표면측에 배치한 카메라로 반사 화상을 촬상하는 방법, 편광 필름 원반(1)의 이면측으로부터 광원에 의해, 편광 필름 원반(1)을 조명하며, 편광 필름 원반(1)의 이면측에 배치한 카메라로 반사 화상을 촬상하는 방법, 편광 필름 원반(1)의 이면측으로부터 광원에 의해, 편광 필름 원반(1)을 조명하고, 편광 필름 원반(1)과 크로스 니콜로 배치한 편광판을 통해 표면측에 배치한 카메라로 화상을 촬상하는 방법 등을 병용하여, 편광 필름 원반(1)의 결함을 감도 좋게 검출할 수도 있다.
촬상 장치(7)는, 편광 필름 원반(4)의 이면측으로부터 광원(7b)에 의해 편광 필름 원반(4)을 조명하고, 편광 필름 원반(4)의 표면측에 배치한 카메라(7a)로 편광 필름 원반(4)의 정투과광상을 촬상하며, 촬상된 화상의 데이터를 도시하지 않는 화상 처리 장치에 출력하는 것이다. 도시하지 않는 화상 처리 장치는, 카메라(7a)로부터 출력된 화상 데이터에 기초하여 편광 필름 원반(4)의 결함을 검출한다. 이것에 의해, 편광 필름 원반(1)과 보호 필름(3) 사이에 존재하는 거품형 기포 및 이물(핵이 있는 기포), 및 보호 필름(3) 상에 존재하는 이물을 결함으로서 검출할 수 있다. 또한, 편광 필름 원반(4)의 표면측으로부터 광원에 의해, 편광 필름 원반(4)을 조명하고, 편광 필름 원반(4)의 표면측에 배치한 카메라로 반사 화상을 촬상하는 방법, 편광 필름 원반(4)의 이면측으로부터 광원에 의해, 편광 필름 원반(4)을 조명하며, 편광 필름 원반(4)의 이면측에 배치한 카메라로 반사 화상을 촬상하는 방법, 편광 필름 원반(4)의 이면측으로부터 광원에 의해, 편광 필름 원반(4)을 조명하고, 편광 필름 원반(4)과 크로스 니콜로 배치한 편광판을 통해 표면측에 배치한 카메라로 화상을 촬상하는 방법 등을 병용하여, 편광 필름 원반(4)의 결함을 감도 좋게 검출할 수도 있다.
또한, 카메라(2a, 7a)로서는, CCD 카메라가 적합하지만, 다른 타입의 카메라를 이용하여도 좋다.
광원(2b, 7b)은, 편광 필름 원반(1)의 폭방향 전체에 걸쳐, 균일한 조명을 행할 수 있는 것이 바람직하다. 광원(2b, 7b)으로서는, 형광등 등의 관형의 발광체나, 전송 라이트 등의 선형의 광원을 사용할 수 있다. 전송 라이트는, 막대형의 도광체의 축방향의 단부면에 메탈할로겐램프 등의 강력한 광원을 배치하고, 단부면에 입사된 광을 양단부면 사이의 측면에 유도하여, 막대형의 광원으로서 기능한다. 광원(2b, 7b)은, 레이저광을 넓리 퍼지게 조사하는 것이어도 좋다. 광원(2b, 7b)이 편광 필름 원반(1 또는 4)에 조사하는 광은, 결함의 검출이 용이한 파장이나 편광 특성이 되도록 설정된다.
이상과 같이 하여, 도 2에 도시하는 자동 검사 장치에서는, 반송 방향을 따라 배치한 복수 종류의 촬상 장치(2, 7)를 이용하여 결함 검사를 행하고, 정투과광상을 촬상하는 촬상 장치(2, 7)를 이용한 결함 검사를 보호 필름(3)의 적층 공정 전후에 행한다. 그리고, 도시하지 않는 화상 처리 장치는, 어느 한 종류의 촬상 장치(2, 7)를 이용한 결함 검사에 의해 결함이 검출되면, 편광 필름(1 또는 4)에 결함이 있는 것으로 판정한다.
상기 구성에서는, 각종 결함 모드의 결함 각각을, 그 결함을 검출하는 데 최적의 광학계[촬상 장치(2, 7)]를 이용하여 검출할 수 있기 때문에, 복수 종류의 결함을 검출하는 감도를 향상시킬 수 있다. 또한, 상기 구성에서는, 도 2에 도시하는 제조 라인에 있어서, 보다 상류측에서 검사를 하기 때문에, 부재수가 보다 적은 상태로 편광 필름 원반을 검사할 수 있다. 그 결과, 결함의 오검출(허보)을 저감할 수 있다.
또한, 자동 검사 장치의 구성은, 도 2에 도시하는 구성에 한정되는 것이 아니라, 촬상 장치(2, 7) 중 일부만을 이용한 구성이어도 좋다. 또한, 자동 검사 장치는, 도 2에 도시하는 구성과 같이 제조라인중에서 검사를 행하는 것인 편이 제조 효율의 점에서 유리하지만, 제조 라인과는 별도로 검사하는 것이어도 좋다.
편광 필름 원반(4)은, 결함에 관한 결함 정보(결함 부위, 결함 좌표, 결함 내용 등)를 나타내는 바코드(17)가 그 표면에 인쇄되어, 롤(13)에 권취된다.
다음에, 도 1의 공정 S1∼S5의 일례에 대해서, 도 4 및 도 5에 기초하여 상세히 설명한다.
도 1의 공정 S1∼S5를 실행하는 자동 검사 장치는, 도 4에 도시하는 바와 같이, 편광 필름 원반(1)의 결함을 검출하기 위한 촬상 장치(2), 화상 처리 장치(14), 바코드 제어 장치(15), 및 바코드 인쇄 장치(18)를 구비하고 있다. 또한, 이 자동 검사 장치는, 도 4에서는 생략하고 있지만, 편광 필름 원반(1)이, 도 2에 도시하는 바와 같이, 반송 경로를 따라 배치된 도시하지 않는 반송 롤러 등에 의해 롤(13)에 반송되고, 구동 수단에 의해 롤(13)이 회전되는 것에 의해, 롤(13)에 권취된다.
촬상 장치(2)는, 편광 필름 원반(1)의 전체 영역의 화상을 촬상하여, 화상 데이터를 화상 처리 장치(14)에 보내는 것이고, 도시하지 않는 광원[도 2에 도시하는 광원(2b)에 대응]과, 편광 필름 원반(1)의 폭방향을 따라 나열되도록 배치된 3개의 카메라(2a)를 구비하고 있다. 카메라열은, 도 4에서는 1열로 하고 있지만, 이것에 한정되는 것이 아니라, 2열 이상으로 하여도 좋다. 또한, 폭방향을 따라 배치되는 카메라(2a)의 대수도, 특별히 한정되는 것이 아니라, 1대여도 좋고, 2대여도 좋으며, 4대 이상이어도 좋다. 카메라(2a)는, 예컨대 5000화소를 고밀도로 배열한 1차원의 CCD 센서를 촬상 소자로서 구비하는 것이다. 예컨대, 검사 대상인 편광 필름 원반(1)의 폭은, 약 1300 ㎜의 범위이고, 촬상 장치(2)의 검사 영역은, 편광 필름 원반(1) 폭방향의 사이즈가 약 1300 ㎜이다.
화상 처리 장치(14)는, 카메라(2a)로부터 보내진 화상 데이터에 대하여 화상 처리를 실시하고, 편광 필름 원반(1)의 표면이나 내부에 존재하는 결함의 유무를 검출하며, 띠형의 편광 필름 원반(1)의 전체 영역을 편광 필름 원반(1)의 폭방향을 따른 분할선으로 복수 영역으로 분할하여 이루어지는 각 영역[도 5에서는 편광 필름 원반(1)의 길이 방향을 따른 각 영역의 사이즈는 100 ㎜] 각각에 대해서, 결함 있음으로 판정된 영역에 대해서는, 그 영역을 격자무늬로 복수의 구획(도 5의 예에서는 한변이 20 ㎜인 정사각형 영역)으로 분할하고, 결함을 포함하는 영역의 화상 데이터를, 각 구획에서의 결함의 유무를 2진법으로 나타내는(결함이 있는 구획의 정보를 흑색으로서 나타내고, 결함이 없는 구획의 정보를 백색으로 나타냄) 2진 데이터로 변환한다. 화상 처리 장치(14)는, 예컨대 도 4에 도시하는 편광 필름 원반(1)의 결함 블록(결함을 포함하는 영역) 002에 관한 도 5(a)에 도시하는 화상 데이터를, 결함블록 002에 관한 도 5(b)에 도시하는 2진 데이터로 변환한다. 화상 처리 장치(14)는, 얻어진 2진 데이터를 바코드 제어 장치(15)에 출력한다. 화상 처리 장치(14)는, 화상 처리 프로그램과 화상 처리 프로그램을 실행하는 컴퓨터에 의해 구성할 수 있다. 화상 처리 프로그램의 결함 판정 알고리즘으로서는, 공지의 여러 가지의 알고리즘을 채용할 수 있다. 화상 처리 장치(14)는 하드웨어에 의해 구성하여도 좋다.
바코드 제어 장치(15)는, 화상 처리 장치(14)로부터 보내진 2진 데이터를, 결함이 있는 구획(흑색 구획)을 「1」로 나타내고 결함이 없는 구획(백색 구획)을 「0」으로 나타내는 2진 코드열로 이루어지는 결함 위치 데이터로 변환(코드화)한다. 결함을 포함하는 영역을 격자무늬로 분할하여 이루어지는 복수의 구획이, 편광 필름 원반(1) 길이 방향 m개(도 5의 예에서는 m=5)×편광 필름 원반(1) 폭방향 n개(도 5의 예에서는 n=9)로 이루어지는 것으로 하면, 결함 블록 002에 관한 2진 코드열은, 도 5(c)에 도시하는 바와 같이, 각각이 편광 필름 원반(1) 길이 방향 1개×편광 필름 원반(1) 폭방향 n개로 이루어지는 복수의 소블록(도 5의 예에서는 소블록 01∼05) 각각에 관한 2진 코드열로 구성되어 있고, 각 소블록의 2진 코드열은, 최상위 비트측으로부터, 결함을 포함하는 영역 중에 몇번째인지를 나타내는 결함 블록 번호의 데이터열(도 5의 예에서는 3비트), 소블록 번호를 나타내는 데이터열(도 5의 예에서는 2비트), 및 각 구획에서의 결함의 유무를 나타내는(결함 있음을 「1」로 나타내고, 결함 없음을 「0」으로 나타냄) 2진 코드열(도 5의 예에서는 9비트)로 이루어진다. 그리고, 바코드 제어 장치(15)는 결함 위치 데이터를 기억 매체로서의 데이터 CD(CD-R)(16)에 보존한다. 바코드 제어 장치(15)는, 예컨대 산업용 퍼스널 컴퓨터 등에 의해 실현된다. 각 구획에서의 결함의 유무를 나타내는 데이터는 2진 코드에 한정되는 것이 아니라, 16진수 등을 사용하는 것에 의해, 복수의 화상 처리 장치의 데이터를 나타낼 수 있다. 예컨대 결함의 유무를 나타내는 데이터가, 제1 화상 처리 장치로 결함을 검출한 경우를 「1」, 제2 화상 처리 장치로 결함을 검출한 경우를 「2」, 제3 화상 처리 장치로 결함을 검출한 경우를 「4」로 나타내고, 복수의 화상 처리 장치로 동시에 결함이 검출된 경우를, 각각의 화상 처리 장치로 결함을 검출한 경우를 나타내는 수치를 가산한 수치로 나타내는 것으로 하면, 제1 화상 처리 장치 및 제3 화상 처리 장치로 동시에 결함을 검출한 경우, 결함의 유무를 나타내는 데이터는 「5」가 된다. 각각의 화상 처리 장치에 의한 검사 결과에 개별 값을 갖게 하는 것에 의해, 후술하는 마킹 장치에 의해 결함 위치를 계산할 때에 어느 화상 처리 장치로 검출한 불량인지를 식별하는 것이 가능해지고, 특정한 화상 처리 장치에 의해 검출한 결함에만 마킹할 수 있다.
또한, 바코드 제어 장치(15)는 화상 처리 장치(14)로부터의 2진 데이터에 기초하여 바코드 인쇄 장치(18)를 구동하는 것이다. 바코드 제어 장치(15)는 결함을 포함하는 영역에 관한 2진 데이터를 화상 처리 장치(14)로부터 받으면, 동일한 편광 필름 원반(1)에 대해서 결함을 포함하는 영역에 관한 2진 데이터를 몇회째에 받았는지를 나타내는 번호를 결함 블록 번호로 하고, 그 결함 블록 번호를 나타내는 바코드의 인자(印字) 데이터를 생성한다. 그리고, 바코드 제어 장치(15)는, 결함을 포함하는 영역에 관한 2진 데이터를 화상 처리 장치(14)로부터 받은 후 소정 시간 후에 바코드 인쇄 장치(18)에 인쇄 지령 및 바코드의 인자 데이터를 보낸다. 상기 소정 시간은, 바코드 인쇄 장치(18)에 의해 바코드(17)가 인쇄되는 타이밍이, 그 바코드(17)에 대응하는 편광 필름 원반(4)의 영역의 선두 위치가 바코드 인쇄 장치(18)에 의해 인쇄되는 위치를 통과하는 타이밍과 일치하도록 설정된다.
바코드 인쇄 장치(18)는, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 잉크젯 프린터 등이다. 바코드 인쇄 장치(18)는 바코드 제어 장치(15)로부터 인쇄 지령 및 바코드의 인자 데이터를 받으면, 결함 블록 번호를 나타내는 바코드(17)를, 편광 필름 원반(4)의 폭방향 단부에 인쇄한다. 그 결과, 바코드 인쇄 장치(18)는, 편광 필름 원반(4)의 폭방향 단부에 대하여, 결함 블록 번호를 나타내는 바코드(17)를, 그 결함 블록 번호에 대응하는 영역의 선두 위치에 인쇄할 수 있다.
다음에, 도 1의 공정 S6∼S10의 일례에 대해서, 도 6∼도 8에 기초하여 상세히 설명한다.
도 8에 도시하는 바와 같이, 편광 필름 원반(4)은 도시하지 않는 반송 롤러 등에 의해, 롤(13)로부터 권출되고, 박리 필름(21)을 편광 필름 원반(4)에 적층하는 처리가 실시되어 편광 필름 원반(22)이 된 후, 마킹 장치에 반송되어, 롤(29)에 권취된다.
마킹 장치는, 편광 필름 원반(22)에서의 박리 필름(21) 상에 마크(32)(도 6 참조)를 형성하는 것이고, 도 8에 도시하는 바와 같이, 센서(23), 바코드리더(바코드 판독 센서)(24), HDD(하드디스크 드라이브)(26), 마커(27), 및 마커 제어 장치(28)(도 6 참조)를 구비하고 있다.
센서(23), 및 마커(27) 근방에 배치된 도시하지 않는 인코더는, 편광 필름 원반(22)의 반송 속도를 검출하여, 타이밍 신호를 PC(퍼스널 컴퓨터)(25)에 출력한다.
바코드리더(24)는, PC(25)로부터의 읽어들이기 지령에 따라, 편광 필름 원반(22)의 폭방향 단부에 인쇄되어 있는 바코드(17)을 판독하고, 바코드(17)가 나타내는 결함 블록 번호를 RS232C 등의 통신 방식으로 PC(25)에 보낸다.
PC(25)는, 바코드리더(24)에 읽어들이기 지령을 송신하고, 바코드리더(24)로부터 결함 블록 번호를 받으며, 데이터 CD(16)에 보존된 결함 위치 데이터를 읽어들인다. 그리고 PC(25)는, 결함 블록 번호와 위치 정보 데이터를 대조하여, 결함 블록 번호에 대응된 결함 위치 데이터에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정(계산)한다. PC(25)는, 이 계산에 의해, 예컨대 도 7(a)에 도시하는 결함 위치 데이터로부터, 도 7(b)에 도시한 바와 같은, 결함을 포함하는 영역 내의 각 구획에서의 결함의 유무를 2진법으로 나타내는(결함이 있는 구획의 정보를 흑색으로서 나타내고, 결함이 없는 구획의 정보를 백색으로서 나타냄) 2진 데이터를 얻는다. 그리고, PC(25)는 이 2진 데이터를 바탕으로, 결함을 포함하는 구획[도 5(b)의 예에서는 흑색 구획]을 폭방향의 양측 사이에 두는 위치에 있는 마커(27)를 동작시키는 마킹 지령을 마커 제어 장치(28)(도 6 참조)에 출력한다.
PC(25)는, 마커 제어 장치(28)(도 6 참조)로부터 마크 형성의 시작/정지 지령을 수신하고, 시작/정지 지령에 응답하여 마커 제어 장치(28)(도 6 참조)에 마크형성의 시작/정지 응답(앤서) 및 준비 완료를 통지한 후, 상기 마킹 지령을 적절한 타이밍에 마커 제어 장치(28)(도 6 참조)에 출력한다. 이 때, PC(25)는 센서(23) 및 도시하지 않는 인코더의 출력에 기초하여, 바코드리더(24)에 의한 바코드 판독의 타이밍과, 마커(27)에 의한 마크 형성의 타이밍을 동기시키도록, 마킹 지령의 출력 타이밍을 제어한다. 또한, HDD(26)는, PC(25)의 동작을 제어하는 프로그램을 기억하고 있는 것이다.
마커(27)는, 펠트펜[예컨대「매직(등록상표)잉크」로서 시판되어 있는 것]이며, 바코드리더(24)에 대하여 반송 방향의 하류측에, 결함 위치 데이터를 얻을 때에 이용하는 구획의, 편광 필름 원반(1) 폭방향을 따른 사이즈(도 6에는 20 ㎜)와 동등한 간격으로, 편광 필름 원반(22)의 폭방향으로 나열되도록 복수 설치되어 있다. 마커(27)의 수는, 편광 필름 원반(22)의 폭방향 전체를 커버할 수 있는 수, 예컨대 75개인 것이 바람직하다. 마커(27)는, 편광 필름 원반(22)의 표면에, 반송 방향에 평행한 선형의 마크(32)를 형성한다. 각 마커(27)는, 선단을 편광 필름 원반(22)의 표면에 접촉시키는 것에 의해, 반송 방향으로 선형의 마크(32)를 형성할 수 있다. 각 마커(27)는, 사용하지 않을 때에는 캡을 덮어, 용제나 희석제 등이 증발하여 필기감 등이 저하되는 것을 막는 것이 바람직하다. 마커(27)에 의해 형성되는 마크(32)의 형상·크기에 대해서는, 육안으로 확인할 수 있는 것이면, 특별히 한정되는 것이 아니지만, 예컨대 20 ㎜의 선형의 마크로 할 수 있다. 또한, 본 실시형태에서는, 펠트펜인 마커(27)를 사용하고 있지만, 마커(27) 대신에 잉크젯식 마커나, 커터에 의해 흠집을 마크(32)로서 형성하는 마커 등, 공지의 여러 가지의 마커를 채용할 수 있다.
마커 제어 장치(28)는, PC(25)로부터의 마킹 지령에 기초하여, PC(25)로부터의 마킹 지령에서의 결함을 포함하는 구획[도 7(b)의 예에서는 흑색 구획]을 폭방향의 양측 사이에 두는 위치에 있는 마커(27)를 선택적으로 작동시키고, 작동시킨 마커(27)에 의해 결함을 포함하는 구획을 폭방향의 양측 사이에 두도록 마크(32)를 형성한다. 그 결과, 편광 필름 원반(22)의 표면은, 예컨대 도 7(c)에 도시되어 있는 바와 같이 결함을 포함하는 구획 각각이 2개의 선형 마크(32) 사이에 있는 상태가 된다.
또한, 롤(13)로부터의 편광 필름 원반(22)의 송출 방향에 따라서는, 편광 필름 원반(22)에서의 복수의 결함을 포함하는 영역이 결함 블록 번호가 큰 영역부터 순서대로 마킹 장치에 보내지는 경우가 있다. 이 때문에, 마킹 장치에서는, 결함 블록 번호에 기초하여 편광 필름 원반(22)의 송출 방향을 자동 인식하고, 편광 필름 원반(22)의 송출 방향에 따라 결함 위치 데이터를 재배열한다.
마킹 장치에 의해 마크(32)가 형성된 편광 필름 원반(22)은, 그 후, 도 3에 도시하는 바와 같이, 복수의 소정 형상(이 예에서는 직사각형)의 구획 부분(도 3의 파선으로 구획된 부분)으로 재단되어, 용도에 따른 형상 및 사이즈를 갖는 복수의 편광 필름(31)이 된다. 각 편광 필름(31)에 대해서 마크(32) 유무의 검사가 행해져, 상기 복수의 편광 필름(31)은, 분류 장치 또는 손에 의해, 마크(32)가 없는 편광 필름(31)과, 마크(32)가 있는 편광 필름(31)으로 분류된다. 마크(32)의 유무를 검사할 때, 결함의 양측을 사이에 두도록 마크(32)가 부착되어 있으면, 육안으로는 식별하기 어려운 결함이어도 용이하게 식별할 수 있다. 마크(32)가 있는 편광 필름(31)에 대해서는, 단계 S11에서 육안으로 결함 확인을 행한다. 단계 S11의 육안으로 확인하는 검사는, 편광 필름(31)의 결함이 허용할 수 있는 결함인지를 판정하는 것이다. 이 판정의 결과, 편광 필름(31)의 결함이 허용할 수 있는 결함이면, 단계 S12에서 편광 필름(31)의 검사 시간이 짧은 육안으로 확인하는 검사를 행한 후, 편광 필름(31)을 제품으로서 출하한다. 한편, 편광 필름(31)의 결함이 허용할 수 없는 결함이면, 단계 S14에서 편광 필름(31)을 폐기한다. 또한, 마크(32)가 없는 편광 필름(31)에 대해서는, 단계 S12에서 검사 시간이 짧은 육안으로 확인하는 검사를 행한 후, 제품으로서 출하한다.
또한, 전술한 실시형태에서는 식별 코드로서 결함 블록 번호를 나타내는 1차원 바코드를 인쇄했었지만, 본 발명에서의 식별 코드는, 결함을 포함하는 영역(결함 블록)을 1대1의 관계로 식별할 수 있는 것이면, 1차원 바코드에 한정되는 것이 아니라, 2차원 바코드나, 문자(예컨대 결함 블록 번호를 나타내는 숫자) 등이어도 좋다.
또한, 전술한 실시형태에서는 식별 코드(바코드)와 결함 위치 데이터 모두에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정했었지만, 본 발명의 검사 방법에서는, 결함 위치 데이터에만 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하여도 좋다. 또한 식별 코드를 이용하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하는 경우, 식별 코드는 결함을 포함하는 영역의 번호나 결함 위치의 좌표 등에 추가로, 결함 내용을 나타내는 것이어도 좋다.
본 발명에 따른 편광 필름의 검사 방법은, 이상과 같이, 편광 필름에 있어서, 결함 검사 장치로 검출한 결함 중에서 허용되는 결함만을 포함하는 부분을 제품으로서 사용 불가능한 것으로 하지 않고서, 결함 검사 장치로 검출한 결함의 근방 위치에 마크를 형성할 수 있는 효과를 나타낸다.
또한, 발명을 실시하기 위한 가장 바람직한 형태의 항에서 다룬 구체적인 실시형태 또는 실시예는, 어디까지나, 본 발명의 기술 내용을 명백하게 하는 것으로서, 그와 같은 구체예에만 한정하여 협의로 해석되어야 하는 것이 아니라, 본 발명의 정신과 이하에 기재하는 청구범위 내에서, 여러 가지로 변경하여 실시할 수 있는 것이다.
본 발명은, 여러 편광 필름의 제조업에 이용할 수 있다.

Claims (4)

  1. 띠형의 편광 필름에 대하여 결함 검사 장치를 이용하여 결함을 검출하는 공정과,
    결함의 검출 결과에 기초하여, 결함의 위치를 나타내는 결함 위치 데이터를 작성하여 기억 매체에 보존하는 결함 위치 기록 공정과,
    상기 결함의 검출 후에, 띠형의 편광 필름을 롤에 권취하는 공정과,
    상기 롤로부터 띠형의 편광 필름을 권출하는 공정과,
    권출된 띠형의 편광 필름에 대하여 다른 필름을 적층하는 공정과,
    다른 필름의 적층 후에, 기억 매체에 보존된 결함 위치 데이터를 읽어들이고, 읽어들인 결함 위치 데이터에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하며, 특정된 결함 위치에 기초하여 상기 다른 필름에서의 결함의 근방 위치에 마크를 형성하는 마크 형성 공정
    을 포함하는 것인 편광 필름의 검사 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 결함 위치 기록 공정에서는, 결함의 검출 결과에 기초하여, 띠형의 편광 필름의 전체 영역을 편광 필름의 폭방향을 따른 분할선으로 분할하여 이루어지는 복수의 영역 중에 결함을 포함하는 영역의 편광 필름 폭방향 단부에 대하여, 결함을 포함하는 영역을 식별하기 위한 식별 코드를 인쇄하고, 상기 결함 위치 데이터로서, 결함을 포함하는 영역 내에서의 결함의 위치를 나타내는 결함 위치 데이터를 작성하여 결함을 포함하는 각 영역에 대응시켜 기억 매체에 보존하며,
    상기 마크 형성 공정에서는, 편광 필름 상의 식별 코드를 독출하고, 독출된 식별 코드에 의해 식별되는 영역에 대응된 결함 위치 데이터에 기초하여 편광 필름의 결함 위치를 특정하는 것인 편광 필름의 검사 방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 식별 코드의 인쇄 전에, 상기 편광 필름의 폭방향 단부에 대하여 코로나 방전 처리를 실시하는 공정을 더 포함하는 것인 편광 필름의 검사 방법.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 마크 형성 공정에서는, 상기 편광 필름의 폭방향으로 복수 나열되도록 배치된 마커를 이용하여 마크를 형성하는 것인 편광 필름의 검사 방법.
KR1020107023436A 2008-03-31 2009-03-26 편광 필름의 검사 방법 KR20110000564A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008090436A JP2009244064A (ja) 2008-03-31 2008-03-31 偏光フィルムの検査方法
JPJP-P-2008-090436 2008-03-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20110000564A true KR20110000564A (ko) 2011-01-03

Family

ID=41135381

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020107023436A KR20110000564A (ko) 2008-03-31 2009-03-26 편광 필름의 검사 방법

Country Status (8)

Country Link
JP (1) JP2009244064A (ko)
KR (1) KR20110000564A (ko)
CN (1) CN101981438A (ko)
CZ (1) CZ2010740A3 (ko)
PL (1) PL392794A1 (ko)
SK (1) SK50392010A3 (ko)
TW (1) TW200946994A (ko)
WO (1) WO2009123002A1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170066430A (ko) * 2014-10-10 2017-06-14 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 세퍼레이터 원단의 제조 방법, 세퍼레이터의 제조 방법, 세퍼레이터 원단, 및 세퍼레이터 원단 제조 장치
KR20170117429A (ko) * 2015-03-20 2017-10-23 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 적층 광학 필름의 결함 검사 방법, 광학 필름의 결함 검사 방법 및 적층 광학 필름의 제조 방법
KR20170118933A (ko) * 2015-04-09 2017-10-25 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 적층 광학 필름의 결함 검사 방법, 광학 필름의 결함 검사 방법 및 적층 광학 필름의 제조 방법

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5306053B2 (ja) * 2009-05-19 2013-10-02 三菱レイヨン株式会社 連続する多孔質電極基材の外観欠陥自動検査方法とその記録媒体を添付してなる多孔質電極基材の巻体
JP4503690B1 (ja) 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 液晶表示素子を連続製造する装置に用いられる情報格納読出システム、及び、前記情報格納読出システムを製造する方法及び装置
JP4503693B1 (ja) 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置
JP4503692B1 (ja) 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 液晶表示素子を連続製造する装置において用いられる情報格納読出演算システム及び情報格納読出演算システムの製造方法
KR101435126B1 (ko) * 2009-12-25 2014-09-01 닛토덴코 가부시키가이샤 액정표시소자의 연속제조방법 및 장치
JP5569791B2 (ja) * 2010-04-14 2014-08-13 住友化学株式会社 光学フィルム作製用原反フィルム、および光学フィルムの製造方法
JP5966307B2 (ja) * 2011-10-12 2016-08-10 日立化成株式会社 光導波路の製造方法
CN104204785B (zh) * 2012-03-23 2017-03-08 东丽株式会社 被测长产品的检查方法以及检查装置
JP6177017B2 (ja) * 2013-06-12 2017-08-09 住友化学株式会社 欠陥検査システム
JP6250317B2 (ja) * 2013-07-08 2017-12-20 住友化学株式会社 欠陥検査方法
JP6421519B2 (ja) * 2014-09-25 2018-11-14 大日本印刷株式会社 包装材料
JP6484127B2 (ja) * 2015-06-26 2019-03-13 シグマ紙業株式会社 識別子を含む媒体
CN104949996A (zh) * 2015-06-29 2015-09-30 广东溢达纺织有限公司 不停机自动标识纺织面料疵点的方法及系统
CN106353332B (zh) * 2015-07-15 2019-05-28 明眼有限公司 利用图案透光板的偏光膜检查装置
JP6010674B1 (ja) * 2015-09-18 2016-10-19 住友化学株式会社 フィルム製造方法及びフィルム製造装置
JP6556008B2 (ja) * 2015-09-30 2019-08-07 日東電工株式会社 長尺状偏光子の検査方法
CN107024482B (zh) * 2015-12-15 2020-11-20 住友化学株式会社 缺陷拍摄装置及方法、膜制造装置及方法、缺陷检查方法
KR101955757B1 (ko) * 2016-06-08 2019-03-07 삼성에스디아이 주식회사 필름 처리장치 및 처리방법
JP2018054356A (ja) * 2016-09-27 2018-04-05 株式会社日本マイクロニクス ガス検知用フィルム、ガス検知装置、及びガス検知方法
KR102475056B1 (ko) * 2017-03-03 2022-12-06 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 마킹 방법 및 결함 마킹 장치, 원반의 제조 방법 및 원반, 그리고 시트의 제조 방법 및 시트
KR102438892B1 (ko) * 2017-03-03 2022-08-31 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법
CN112740083B (zh) * 2018-07-30 2023-03-14 日本化药株式会社 标记装置、标记方法、偏振片制造方法以及偏振片

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001305070A (ja) * 2000-04-19 2001-10-31 Sumitomo Chem Co Ltd シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP4343456B2 (ja) * 2001-04-03 2009-10-14 大日本印刷株式会社 シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP3974400B2 (ja) * 2002-01-07 2007-09-12 日東電工株式会社 シート状成形体の検査結果記録方法及び検査結果記録システム及びロール状成形体
JP4233813B2 (ja) * 2002-06-17 2009-03-04 日東電工株式会社 シート状成形体の加工方法
JP2005062165A (ja) * 2003-07-28 2005-03-10 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置
JP2005114624A (ja) * 2003-10-09 2005-04-28 Nitto Denko Corp シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
TWI269116B (en) * 2004-09-24 2006-12-21 Optimax Tech Corp Improved method for printing patterns on optical film
JP2006194721A (ja) * 2005-01-13 2006-07-27 Nagase & Co Ltd 欠陥マーキング装置
JP2009069142A (ja) * 2007-08-23 2009-04-02 Nitto Denko Corp 積層フィルムの欠陥検査方法およびその装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170066430A (ko) * 2014-10-10 2017-06-14 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 세퍼레이터 원단의 제조 방법, 세퍼레이터의 제조 방법, 세퍼레이터 원단, 및 세퍼레이터 원단 제조 장치
KR20170117429A (ko) * 2015-03-20 2017-10-23 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 적층 광학 필름의 결함 검사 방법, 광학 필름의 결함 검사 방법 및 적층 광학 필름의 제조 방법
KR20170118933A (ko) * 2015-04-09 2017-10-25 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 적층 광학 필름의 결함 검사 방법, 광학 필름의 결함 검사 방법 및 적층 광학 필름의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
TW200946994A (en) 2009-11-16
SK50392010A3 (sk) 2011-03-04
JP2009244064A (ja) 2009-10-22
WO2009123002A1 (ja) 2009-10-08
PL392794A1 (pl) 2011-02-28
CZ2010740A3 (cs) 2010-11-24
CN101981438A (zh) 2011-02-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20110000564A (ko) 편광 필름의 검사 방법
JP2009244064A5 (ko)
KR101227298B1 (ko) 물질 웹에 결함을 자동 마킹하기 위한 장치 및 방법
JP6177017B2 (ja) 欠陥検査システム
JP5415709B2 (ja) 偏光フィルムの仕分けシステム
JP4503690B1 (ja) 液晶表示素子を連続製造する装置に用いられる情報格納読出システム、及び、前記情報格納読出システムを製造する方法及び装置
US20100165333A1 (en) Laminated film defect inspection method and laminated film defect inspection device
JP4514059B2 (ja) シート状成形体の検査結果記録方法及び検査結果記録システム
JP2005114624A (ja) シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
US8911838B2 (en) Optical film material roll and method for manufacturing image display device using thereof
JP2009243911A (ja) 欠陥検査システム
KR20070068422A (ko) 라벨 인쇄 및 라벨 분배에서의 광학 마크의 사용
JP6978963B2 (ja) 欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシート
JP4705402B2 (ja) 欠陥マーキング装置、シート材料の製造方法およびシート材料
TWI718132B (zh) 層積光學薄膜的缺陷檢查方法,光學薄膜的缺陷檢查方法及層積光學薄膜的製造方法
JPH09109372A (ja) 製品検査装置及びそのマーク有無検査手段
JP2012177713A (ja) シート状製品の検査システム及びシート状製品の検査方法
WO2022149299A1 (ja) 光学積層フィルムの検査方法及びフィルム製品の製造方法
JP2009080131A (ja) シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物
JP2001059821A (ja) 表面検査方法及び装置
JP7195042B2 (ja) 欠陥情報読取方法、欠陥情報読取システム及びフィルム製造装置
CN114953764B (zh) 一种偏光膜缺点汇整标记系统
JP2000009659A (ja) 表面検査方法及び装置
KR20230104169A (ko) 시트상 제품의 제조 방법, 시트상 제품, 원반 및 중간체

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid