JP6978963B2 - 欠陥マーキング方法及び欠陥マーキング装置、原反の製造方法及び原反、並びにシートの製造方法及びシート - Google Patents
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Description
本実施形態では、例えば光学表示デバイスの生産システムとして、その一部を構成するフィルム製造装置(原反の製造装置)、並びに、このフィルム製造装置を用いたフィルム製造方法(原反の製造方法)について説明する。
先ず、光学表示デバイスとして、図1及び図2に示す液晶表示パネルPの構成について説明する。なお、図1は、液晶表示パネルPの構成を示す平面図である。図2は、図1中に示す切断線A−Aによる液晶表示パネルPの断面図である。なお、図2では、断面を示すハッチングの図示を省略している。
次に、図3に示す光学フィルムF1Xを構成する光学シートFXの一例について説明する。なお、図3は、光学シートFXの構成を示す断面図である。なお、図3では、断面を示すハッチングの図示を省略している。
次に、図4に示すフィルム製造装置100について説明する。なお、図4は、フィルム製造装置100の構成を示す側面図である。
次に、上記フィルム製造装置100が備える欠陥マーキング装置10、並びに、この欠陥マーキング装置10を用いた欠陥マーキング方法について説明する。
例えば、第1の印字パターンPT1及び第2の印字パターンPT2については、上述したマークDMの数や間隔を変更する場合に限らず、それ以外にも、例えばサイズ(径)や色(赤、青、黒など。好ましくは黒。)などを変更することが可能である。すなわち、ドット状のマークDMの数、間隔、サイズ(径)、色のうち何れか1つ以上を変更すればよい。これにより、これらの印字パターンPT1,PT2を更に細かく設定し、より多くの情報を記録することが可能である。
10…欠陥マーキング装置 L…搬送ライン 11…第1の欠陥検査装置 12…第2の欠陥検査装置 13…記録装置(印字装置) 13a…印字ヘッド 13b…ノズル部(印字部) 14…第1の測長器 15…第2の測長器 16…制御装置(制御部) 21a,22a,23a,24a,25a…照明部 21b,22b,23b,24b,25b…光検出部
P…液晶表示パネル(光学表示デバイス) F1X…光学フィルム F10X…光学フィルム F101…第1のフィルム F102…第2のフィルム F103…第3のフィルム F104…片面貼合フィルム F105…両面貼合フィルム(原反) DM…ドット状のマーク LM…線状のマーク PT1…第1の印字パターン PT2…第2の印字パターン PT3…第3の印字パターン D…欠陥 K…空白
Claims (18)
- 被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す欠陥マーキング方法であって、
前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向において隣り合う第1の印字パターンと第2の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記被検査物の表面に前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを印字し、
前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンはそれぞれ、前記一の方向に並び且つ少なくとも一部の間隔を変更した複数のマークで構成され、
前記複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白は、前記他の方向において前記欠陥と隣り合う位置に配置され、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とする欠陥マーキング方法。 - 前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項1に記載の欠陥マーキング方法。
- 前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、ドット状のマークを前記一の方向に複数並べて印字することを特徴とする請求項2に記載の欠陥マーキング方法。
- 前記何れか一方又は両方の印字パターンとして、線状のマークを前記一の方向に複数並べて印字することを特徴とする請求項2又は3に記載の欠陥マーキング方法。
- 前記マークの数、間隔、サイズ、色のうち何れか1つ以上を変更した印字パターンによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項3又は4に記載の欠陥マーキング方法。
- 前記他の方向において、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方と隣り合う第3の印字パターンを印字することによって、前記欠陥に関する情報を記録することを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。
- 前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥以外に関する情報を記録することを特徴とする請求項1〜6の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。
- 前記印字パターンを消し取り可能なインクを用いて印字することを特徴とする請求項1〜7の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。
- 前記被検査物として、前記一の方向に搬送される長尺帯状の原反の欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とする請求項1〜8の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。
- 前記被検査物として、長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートの欠陥箇所にマーキングを施すことを特徴とする請求項1〜9の何れか一項に記載の欠陥マーキング方法。
- 一の方向に搬送される長尺帯状の原反に対して欠陥検査を行う工程と、
請求項9に記載の欠陥マーキング方法を用いて、前記原反の欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とする原反の製造方法。 - 長尺帯状の原反を切断することにより得られるシートに対して欠陥検査を行う工程と、
請求項10に記載の欠陥マーキング方法を用いて、前記シートの欠陥箇所にマーキングを施す工程と、を含むことを特徴とするシートの製造方法。 - 被検査物の欠陥箇所にマーキングを施す印字装置を備え、
前記印字装置は、前記被検査物の面内における一の方向と交差する他の方向に所定の間隔で並んで配置されると共に、前記被検査物の表面に印字パターンを印字する複数の印字部と、前記複数の印字部の駆動を制御する制御部と、を有し、
前記制御部は、前記他の方向において隣り合う第1の印字パターンと第2の印字パターンとの間に欠陥が位置するように、前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンを印字する印字部を選択する制御を行い、
前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンはそれぞれ、前記一の方向に並び且つ少なくとも一部の間隔を変更した複数のマークで構成され、
前記複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白は、前記他の方向において前記欠陥と隣り合う位置に配置され、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とする欠陥マーキング装置。 - 前記制御部は、前記選択された何れか一方又は両方の印字部に対して、記録すべき前記欠陥に関する情報に応じて、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンを変更する制御を行うことを特徴とする請求項13に記載の欠陥マーキング装置。
- 欠陥箇所にマーキングが施された長尺帯状の原反であって、
前記マーキングにより表面に印字され、短手方向において隣り合う第1の印字パターン及び第2の印字パターンを有し、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの間に欠陥が位置し、
前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンはそれぞれ、前記原反の長手方向に並び且つ少なくとも一部の間隔を変更した複数のマークで構成され、
前記複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白は、前記短手方向において前記欠陥と隣り合う位置に配置され、前記長手方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とする原反。 - 前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されていることを特徴とする請求項15に記載の原反。
- 欠陥箇所にマーキングが施されたシートであって、
前記マーキングにより表面に印字され、一の方向と交差する他の方向において隣り合う第1の印字パターン及び第2の印字パターンを有し、前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの間に欠陥が位置し、
前記第1の印字パターン及び前記第2の印字パターンはそれぞれ、前記一の方向に並び且つ少なくとも一部の間隔を変更した複数のマークで構成され、
前記複数のマークの少なくとも一部の間隔を空けた空白は、前記他の方向において前記欠陥と隣り合う位置に配置され、前記一の方向における前記欠陥の位置を表示することを特徴とするシート。 - 前記第1の印字パターンと前記第2の印字パターンとの何れか一方又は両方の印字パターンによって、前記欠陥に関する情報が記録されていることを特徴とする請求項17に記載のシート。
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