CN108535259A - 缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片 - Google Patents
缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108535259A CN108535259A CN201810169825.4A CN201810169825A CN108535259A CN 108535259 A CN108535259 A CN 108535259A CN 201810169825 A CN201810169825 A CN 201810169825A CN 108535259 A CN108535259 A CN 108535259A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- defect
- printed patterns
- mark
- film
- coiled strip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/8874—Taking dimensions of defect into account
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/888—Marking defects
Landscapes
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Making Paper Articles (AREA)
Abstract
本发明提供适于表示缺陷的位置的缺陷标注方法及缺陷标注装置、卷料的制造方法及卷料、以及片的制造方法及片。缺陷标注方法进行被检查物的缺陷检查,并根据缺陷检查的结果而在被检查物的缺陷位置实施标注,以缺陷(D)位于在被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案(PT1)与第二印刷图案(PT2)之间的方式在被检查物的表面印刷第一印刷图案(PT1)以及第二印刷图案(PT2),由此表示缺陷(D)的位置。
Description
技术领域
本发明涉及缺陷标注方法及缺陷标注装置、卷料的制造方法及卷料、以及片的制造方法及片。
背景技术
例如,在树脂膜、纸等长条带状的卷料的制造工序中进行如下操作:在搬运卷料的期间,进行卷料的缺陷检查,根据缺陷检查的结果而在卷料的缺陷位置实施标注(以下,称作缺陷标注)(例如,参照专利文献1~4)。
另外,在液晶显示面板所使用的偏振板等光学膜(片)的制造工序中,还进行如下操作:使用印刷头将缺陷的位置、种类、尺寸、检查方法等与缺陷相关的信息(以下,称作缺陷信息)记录(印刷)于光学膜的沿着端缘部的特定的区域(以下,称作记录区域)。
光学膜在完成了缺陷信息的记录后卷绕于芯材,当卷绕量达到一定量时,与搬运方向的上游侧的光学膜分离,并作为卷料辊而出厂。根据产品规格,从卷料辊切出以预先确定的大小、方向而被切割而成的片(薄片)。另外,对于缺陷部分,从产品去除并丢弃。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2001-305070号公报
专利文献2:日本特开2002-303580号公报
专利文献3:日本特开2011-102985号公报
专利文献4:日本特开2014-16217号公报
然而,在上述的以往的缺陷标注中,在从卷料切出缺陷部分时,将标注与缺陷之间切断,从而存在缺陷位于通过切断而切出的一侧与通过切断而残留的一侧的哪一方这样的、在切断后缺陷的位置不明的情况。
另外,在上述专利文献2所记载的发明中,通过标记损伤标识而在缺陷位置实施标注。然而,在标记了损伤标识的情况下,在缺陷检查后无法擦除损伤标识。在该情况下,有时缺陷部分通过标注后的目视检查(检验)而被允许作为产品。然而,在标记了损伤标识的情况下,无法再作为产品而使用。
另一方面,在上述的以往的缺陷标注中,通常通过在缺陷位置实施标注而仅表示缺陷的位置。因此,在以往的缺陷标注中,对于上述的缺陷信息并未记录。因此,例如在出厂前对卷料辊复检时需要缺陷信息的情况下,需要将缺陷信息另外记录于记录区域等。
发明内容
发明所要解决的课题
本发明是鉴于这种以往的情况而完成的,其目的在于提供适于表示缺陷的位置的缺陷标注方法及缺陷标注装置、卷料的制造方法及卷料、以及片的制造方法及片。
用于解决课题的方案
作为用于解决上述课题的方案,本发明的方式提供缺陷标注方法,在被检查物的缺陷位置实施标注,该缺陷标注方法的特征在于,以缺陷位于在所述被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案与第二印刷图案之间的方式在所述被检查物的表面印刷所述第一印刷图案以及所述第二印刷图案。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,通过所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方的印刷图案来记录与所述缺陷相关的信息。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷至少一个点状的标识或者沿所述一方向排列印刷多个点状的标识。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷至少一个线状的标识或者沿所述一方向排列印刷多个线状的标识。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,通过变更所述标识的数量、间隔、尺寸、颜色中的任一个以上来记录与所述缺陷相关的信息。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,通过将沿所述一方向排列的多个标识的至少一部分的间隔变更了的印刷图案来表示所述一方向上的所述缺陷的位置。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,将隔开了沿所述一方向排列的多个标识的至少一部分的间隔的空白配置在与所述缺陷相邻的位置,由此表示所述一方向上的所述缺陷的位置。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,在所述另一方向上,印刷与所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方相邻的第三印刷图案,由此记录与所述缺陷相关的信息。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,通过印刷所述任一方的印刷图案来记录与所述缺陷以外的内容相关的信息。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,使用可擦除的墨水来印刷所述印刷图案。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,在作为所述被检查物且沿所述一方向搬运的长条带状的卷料的缺陷位置实施标注。
另外,在所述方式的缺陷标注方法中,也可以为,在作为所述被检查物且通过将长条带状的卷料切断而得到的片的缺陷位置实施标注。
另外,本发明的方式提供卷料的制造方法,其特征在于,包括:对沿一方向搬运的长条带状的卷料进行缺陷检查的工序;以及使用所述任一方的缺陷标注方法,在沿所述一方向搬运所述卷料的期间,根据所述缺陷检查的结果而在所述卷料的缺陷位置实施标注的工序。
另外,本发明的方式提供片的制造方法,其特征在于,包括:对通过将长条带状的卷料切断而得到的片进行缺陷检查的工序;以及使用所述任一方的缺陷标注方法,根据所述缺陷检查的结构而在所述片的缺陷位置实施标注的工序。
另外,本发明的方式提供缺陷标注装置,其特征在于,所述缺陷标注装置具备在被检查物的缺陷位置实施标注的印刷装置,所述印刷装置具有:多个印刷部,其沿所述被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向以规定的间隔排列配置,并且在所述被检查物的表面印刷印刷图案;以及控制部,其控制所述多个印刷部的驱动,所述控制部进行如下控制:选择印刷所述第一印刷图案以及所述第二印刷图案的印刷部,使得缺陷位于在所述另一方向上相邻的第一印刷图案与第二印刷图案之间。
另外,在所述方式的缺陷标注装置中,也可以为,所述控制部进行如下控制:对于所选择的任一方或者双方的所述印刷部,根据与所要记录的所述缺陷相关的信息来变更所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方的印刷图案。
另外,在所述方式的缺陷标注装置中,也可以为,作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷至少一个点状的标识或者沿所述一方向排列印刷多个点状的标识。
另外,在所述方式的缺陷标注装置中,也可以为,作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷至少一个线状的标识或者沿所述一方向排列印刷多个线状的标识。
另外,在所述方式的缺陷标注装置中,也可以为,变更所述标识的数量、间隔、尺寸、颜色中的任一个以上。
另外,在所述方式的缺陷标注装置中,也可以为,所述控制部进行如下控制:对于所选择的任一方的所述印刷部,变更沿所述一方向排列的多个标识的至少一部分的间隔。
另外,在所述方式的缺陷标注装置中,也可以为,所述控制部进行如下控制:对于所选择的任一方的所述印刷部,将隔开沿所述一方向排列的多个标识的至少一部分的间隔的空白配置在与所述缺陷相邻的位置。
另外,在所述方式的缺陷标注装置中,也可以为,所述控制部进行如下控制:选择印刷第三印刷图案的印刷部,该第三印刷图案在所述另一方向上与所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方相邻,对于所选择的任一方或者双方的印刷部,根据与所要记录的所述缺陷相关的信息来变更所述第三印刷图案。
另外,在所述方式的缺陷标注装置中,也可以为,所述控制部进行如下控制:对于所选择的任一方的所述印刷部,根据与所要记录的所述缺陷以外的内容相关的信息来变更所述任一方的印刷图案。
另外,本发明的方式提供卷料的制造装置,其特征在于,具备:缺陷检查装置,其对沿一方向搬运的长条带状的卷料进行缺陷检查;以及所述任一个缺陷标注装置,在沿所述一方向搬运所述卷料的期间,根据所述缺陷检查的结果而在所述卷料的缺陷位置实施标注。
另外,本发明的方式提供片的制造装置,其特征在于,具备:缺陷检查装置,其对通过将长条带状的卷料切断而得到的片进行缺陷检查;以及所述任一个缺陷标注装置,根据所述缺陷检查的结构而在所述片的缺陷位置实施标注。
另外,本发明的方式提供卷料,其为在缺陷位置被实施了标注的长条带状的卷料,该卷料的特征在于,所述卷料具有通过所述标注而印刷于表面且在短边方向上相邻的第一印刷图案以及第二印刷图案,缺陷位于所述第一印刷图案与所述第二印刷图案之间,由此表示所述缺陷的位置。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,通过所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方的印刷图案来记录与所述缺陷相关的信息。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷有至少一个点状的标识或者沿长度方向排列印刷有多个点状的标识。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷有至少一个线状的标识或者沿长度方向排列印刷有多个线状的标识。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,变更所述标识的数量、间隔、尺寸、颜色中的任一个以上。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,通过将沿所述长度方向排列的多个标识的至少一部分的间隔变更了的印刷图案来表示所述长度方向上的所述缺陷的位置。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,将隔开了沿所述长度方向排列的多个标识的至少一部分的间隔的空白配置在与所述缺陷相邻的位置,由此表示所述长度方向上的所述缺陷的位置。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,在所述短边方向上,具有与所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方相邻的第三印刷图案,通过所述第三印刷图案来记录与所述缺陷相关的信息。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,通过所述任一方的印刷图案来记录与所述缺陷以外的内容相关的信息。
另外,在所述方式的卷料中,也可以为,所述印刷图案由可擦除的墨水印刷。
另外,本发明的方式提供片,其为在缺陷位置被实施了标注的片,该片的特征在于,所述片具有通过所述标注而印刷于表面且在与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案以及第二印刷图案,缺陷位于所述第一印刷图案与所述第二印刷图案之间,由此表示所述缺陷的位置。
另外,在所述方式的片中,也可以为,通过所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方的印刷图案来记录与所述缺陷相关的信息。
另外,在所述方式的片中,也可以为,作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷有至少一个点状的标识或者沿所述一方向排列印刷有多个点状的标识。
另外,在所述方式的片中,也可以为,作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷有至少一个线状的标识或者沿所述一方向排列印刷有多个线状的标识。
另外,在所述方式的片中,也可以为,变更所述标识的数量、间隔、尺寸、颜色中的任一个以上。
另外,在所述方式的片中,也可以为,通过将沿所述一方向排列的多个标识的至少一部分的间隔变更了的印刷图案来表示所述一方向上的所述缺陷的位置。
另外,在所述方式的片中,也可以为,将隔开了沿所述一方向排列的多个标识的至少一部分的间隔的空白配置在与所述缺陷相邻的位置,由此表示所述一方向上的所述缺陷的位置。
另外,在所述方式的片中,也可以为,在所述另一方向上,具有与所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方相邻的第三印刷图案,通过所述第三印刷图案来记录与所述缺陷相关的信息。
另外,在所述方式的片中,也可以为,通过所述任一方的印刷图案来记录与所述缺陷以外的内容相关的信息。
另外,在所述方式的片中,也可以为,所述印刷图案由可擦除的墨水印刷。
发明效果
如以上那样,根据本发明的方式,能够提供适于表示缺陷的位置的缺陷标注方法及缺陷标注装置、卷料的制造方法及卷料、以及片的制造方法及片。
附图说明
图1是示出液晶显示面板的一例的俯视图。
图2是图1中所示的液晶显示面板的剖视图。
图3是示出光学膜的一例的剖视图。
图4是示出膜制造装置以及缺陷标注装置的结构的侧视图。
图5是示出图4所示的缺陷标注装置的结构的俯视图。
图6是示出通过点状的标识而印刷的第一印刷图案以及第二印刷图案的一例的俯视图。
图7是示出通过线状的标识而印刷的第一印刷图案以及第二印刷图案的一例的俯视图。
图8是示出追加了第三印刷图案的例子的俯视图。
图9是例示缺陷的种类与其印刷图案的不同的俯视图。
图10是示出在第一制造工序和第二制造工序中产生的缺陷的剖视图。
图11是示出相对于在第一制造工序和第二制造工序中产生的缺陷而印刷的第一印刷图案以及第二印刷图案的一例的俯视图。
图12是示出第一印刷图案以及第二印刷图案的变形例的俯视图。
图13是例示印刷图案的组合的俯视图。
附图标记说明
100…膜制造装置(卷料的制造装置);101…第一搬运线;102…第二搬运线;103…第三搬运线;104…第四搬运线;105…第五搬运线;106…卷绕部;111a、111b…第一夹持辊;112…第一蓄积器;112a、112b…第一松紧调节辊;113…第一引导辊;121a、121b…第二夹持辊;122…第二蓄积器;122a、122b…第二松紧调节辊;123a、123b…第二引导辊;131a、131b…第三夹持辊;141a、141b…第四夹持辊;142…第三蓄积器;142a、142b…第三松紧调节辊;143a、143b…第四引导辊;151a、151b…第五夹持辊;152…第四蓄积器;152a、152b…第四松紧调节辊;153a…第五引导辊;153b…第六引导辊;153c…第七引导辊;
10…缺陷标注装置;L…搬运线;11…第一缺陷检查装置;12…第二缺陷检查装置;13…记录装置(印刷装置);13a…印刷头;13b…喷嘴部(印刷部);14…第一测长器;15…第二测长器;16…控制装置(控制部);21a、22a、23a、24a、25a…照明部;21b、22b、23b、24b、25b…光检测部;
P…液晶显示面板(光学显示设备);F1X…光学膜;F10X…光学膜;F101…第一膜;F102…第二膜;F103…第三膜;F104…单面贴合膜;F105…两面贴合膜(卷料);DM…点状的标识;LM…线状的标识;PT1…第一印刷图案;PT2…第二印刷图案;PT3…第三印刷图案;D…缺陷;K…空白。
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的实施方式进行详细说明。
在本实施方式中,例如作为光学显示设备的生产系统,对构成其一部分的膜制造装置(卷料的制造装置)、以及使用该膜制造装置的膜制造方法(卷料的制造方法)进行说明。
膜制造装置制造例如在液晶显示面板、有机EL显示面板等面板状的光学显示部件(光学显示面板)贴合的、例如偏振膜、相位差膜、增亮膜等膜状的光学构件(光学膜)。膜制造装置构成生产包含这种光学显示部件、光学构件的光学显示设备的生产系统的一部分。
在本实施方式中,作为光学显示设备例示了透射型的液晶显示装置。透射型的液晶显示装置大体具备液晶显示面板和背光装置。在该液晶显示装置中,通过使从背光装置出射的照明光从液晶显示面板的背面侧入射,并使由液晶显示面板调制后的光从液晶显示面板的表面侧出射,从而能够显示图像。
(光学显示设备)
首先,作为光学显示设备,对图1以及图2所示的液晶显示面板P的结构进行说明。需要说明的是,图1是示出液晶显示面板P的结构的俯视图。图2是图1中所示的切断线A-A处的液晶显示面板P的剖视图。需要说明的是,在图2中省略了表示剖面的剖面线的图示。
如图1以及图2所示,液晶显示面板P大体具备:第一基板P1、与第一基板P1对置地配置的第二基板P2、以及配置在第一基板P1与第二基板P2之间的液晶层P3。
第一基板P1由在俯视观察时呈长方形的透明基板构成。第二基板P2由呈比第一基板P1小的长方形的透明基板构成。液晶层P3通过密封件(未图示)将第一基板P1与第二基板P2之间的周围密封,并配置在被密封件包围的在俯视观察时呈长方形的区域的内侧。在液晶显示面板P中,将在俯视观察时位于液晶层P3的外周的内侧的区域设为显示区域P4,将包围该显示区域P4的周围的外侧的区域设为边框部G。
在液晶显示面板P的背面(背光装置侧)依次层叠贴合有作为偏振膜的第一光学膜F11、以及与该第一光学膜F11重叠且作为增亮膜的第三光学膜F13。在液晶显示面板P的表面(显示面侧)贴合有作为偏振膜的第二光学膜F12。以下,有时将第一、第二以及第三光学膜F11、F12、F13总称为光学膜F1X。
(光学膜)
接下来,对图3所示的构成光学膜F1X的光学片FX的一例进行说明。需要说明的是,图3是示出光学片FX的结构的剖视图。需要说明的是,在图3中省略了表示剖面的剖面线的图示。
光学膜F1X能够通过从图3所示的长条带状的光学片(卷料)FX切出规定的长度的片状件(薄片)而得到。具体而言,该光学片FX具有:基材片F4、在基材片F4的一面(图3中的上表面)设置的粘合层F5、经由粘合层F5在基材片F4的一面设置的分隔片F6、以及在基材片F4的另一面(图3中的下表面)设置的表面保护片F7。
在基材片F4为例如偏振膜的情况下,具有一对保护膜F4b、F4c夹持偏振片F4a的结构。粘合层F5将片状件(光学膜F1X)粘贴于液晶显示面板P。分隔片F6保护粘合层F5,在将片状件(光学膜F1X)向液晶显示面板P贴合前从粘合层F5剥离。需要说明的是,从光学膜F1X去除分隔片F6后的部分作为贴合片F8。
表面保护片F7保护基材片F4的表面。表面保护片F7在将片状件(光学膜F1X)粘贴于液晶显示面板P后从片状件(光学膜F1X)的表面剥离。
需要说明的是,对于基材片F4,可以采用省略一对保护膜F4b、F4c中的任一方的结构。例如,可以采用省略粘合层F5侧的保护膜F4b而在偏振片F4a直接设置有粘合层F5的结构。另外,可以对表面保护片F7侧的保护膜F4c实施例如保护液晶显示面板P的最外面的硬涂处理、得到防眩效果的防眩处理等表面处理。另外,对于基材片F4,不限于上述的层叠结构,也可以为单层结构。另外,对于表面保护片F7,也可以省略。
(膜制造装置以及膜制造方法)
接下来,对图4所示的膜制造装置100进行说明。需要说明的是,图4是示出膜制造装置100的结构的侧视图。
如图4所示,膜制造装置100例如在向成为偏振膜的长条带状的第一膜F101的一面贴合成为表面保护膜的长条带状的第二膜F102后,在第一膜F101的另一面贴合成为表面保护膜的长条带状的第三膜F103,从而制造出在第一膜F101的两面贴合有第二膜F102以及第三膜F103的光学膜F10X。
具体而言,该膜制造装置100大体具备第一搬运线101、第二搬运线102、第三搬运线103、第四搬运线104、第五搬运线105、以及卷绕部106。
其中,第一搬运线101形成搬运第一膜F101的搬运路径,第二搬运线102形成搬运从第一卷料辊R1卷出的第二膜F102的搬运路径,第三搬运线103形成搬运在第一膜F101的一面贴合有第二膜F102的单面贴合膜F104的搬运路径,第四搬运线104形成搬运从第二卷料辊R2卷出的第三膜F103的搬运路径,第五搬运线105形成搬运在单面贴合膜F104的第一膜F101侧的面(第一膜F101的另一面)贴合有第三膜F103而成的两面贴合膜F105(光学膜F10X)的搬运路径。而且,所制造的光学膜F10X在卷绕部106作为第三卷料辊R3而卷绕于芯材。
第一搬运线101朝向第三搬运线103搬运长条带状的第一膜F101,该第一膜F101例如通过在对PVA(Polyvinyl Alcohol;聚乙烯醇)等成为偏振片的基材的膜实施染色处理、交联处理、拉伸处理等后,在其两面贴合TAC(Triacetylcellulose;三乙酰纤维素)等保护膜而得到。
具体而言,在该第一搬运线101中,从隔着第三搬运线103的上游侧的一侧朝向第三搬运线103,沿水平方向依次排列配置有一对第一夹持辊111a、111b、包括多个第一松紧调节辊112a、112b的第一蓄积器112、以及第一引导辊113。
一对第一夹持辊111a、111b将第一膜F101夹在它们之间,并且相互向相反方向旋转,从而向图4中示出的箭头a的方向(右方向)抽出第一膜F101。
第一蓄积器112用于吸收因第一膜F101的进给量的变动而产生的差异,并且减少对第一膜F101施加的张力的变动。具体而言,该第一蓄积器112具有如下结构:在第一夹持辊111a、111b与第一引导辊113之间,交替地排列配置有位于上部侧的多个松紧调节辊112a、以及位于下部侧的多个松紧调节辊112b。
在第一蓄积器112中,在第一膜F101相互不同地张挂于上部侧的松紧调节辊112a和下部侧的松紧调节辊112b的状态下,一边搬运第一膜F101,一边使上部侧的松紧调节辊112a与下部侧的松紧调节辊112b相对地在上下方向上进行升降动作。由此,能够在不停止第一搬运线101的情况下蓄积第一膜F101。例如,在第一蓄积器112中,通过增大上部侧的松紧调节辊112a与下部侧的松紧调节辊112b之间的距离,能够增加第一膜F101的蓄积,另一方面,通过减小上部侧的松紧调节辊112a与下部侧的松紧调节辊112b之间的距离,能够减少第一膜F101的蓄积。第一蓄积器112例如在更换卷料辊R1~R3的芯材后的卷料粘接等作业时运行。
第一引导辊113一边旋转一边将由第一夹持辊111a、111b抽出的第一膜F101朝向第三搬运线103的上游侧引导。需要说明的是,第一引导辊113不限定于配置有一个的结构,也可以为配置有多个的结构。
第二搬运线102从第一卷料辊R1卷出例如PET(Polyethylene terephthalate;聚对苯二甲酸乙二醇酯)等成为表面保护膜的长条带状的第二膜F102,并且将其朝向第三搬运线103搬运。
具体而言,在该第二搬运线102中,从隔着第三搬运线103的上游侧的另一侧朝向第三搬运线103,沿水平方向依次排列配置有一对第二夹持辊121a、121b、包括多个第二松紧调节辊122a、122b的第二蓄积器122、以及多个第二引导辊123a、123b。
一对第二夹持辊121a、121b将第二膜F102夹在它们之间,并且相互向相反方向旋转,从而向图4中示出的箭头b的方向(左方向)抽出第二膜F102。
第二蓄积器122用于吸收因第二膜F102的进给量的变动而产生的差异,并且减少对第二膜F102施加的张力的变动。具体而言,该第二蓄积器122具有如下结构:在第二夹持辊121a、121b与第二引导辊123a、123b之间,交替地排列配置有位于上部侧的多个松紧调节辊122a、以及位于下部侧的多个松紧调节辊122b。
在第二蓄积器122中,在第二膜F102相互不同地张挂于上部侧的松紧调节辊122a和下部侧的松紧调节辊122b的状态下,一边搬运第二膜F102,一边使上部侧的松紧调节辊122a与下部侧的松紧调节辊122b相对地在上下方向上进行升降动作。由此,能够在不停止第二搬运线102的情况下蓄积第二膜F102。例如,在第二蓄积器122中,通过增大上部侧的松紧调节辊122a与下部侧的松紧调节辊122b之间的距离,能够增加第二膜F102的蓄积,另一方面,通过减小上部侧的松紧调节辊122a与下部侧的松紧调节辊122b之间的距离,能够减少第二膜F102的蓄积。第二蓄积器122例如在更换卷料辊R1~R3的芯材后的卷料粘接等作业时运行。
多个第二引导辊123a、123b分别一边旋转一边将由第二夹持辊121a、121b抽出的第二膜F102朝向第三搬运线103的上游侧引导。需要说明的是,第二引导辊123a、123b不限定于配置有多个的结构,也可以为仅配置有一个的结构。
第三搬运线103朝向第五搬运线105搬运在第一膜F101的一面贴合有第二膜F102而成的长条带状的单面贴合膜F104。
具体而言,在该第三搬运线103配置有一对第三夹持辊131a、131b。一对第三夹持辊131a、131b位于第一搬运线101的下游侧与第二搬运线102的下游侧的汇合点,一边将第一膜F101以及第二膜F102夹在它们之间,一边相互向相反方向旋转,从而向图4中示出的箭头c的方向(下方向)抽出将第一膜F101与第二膜F102贴合而成的单面贴合膜F104。
第四搬运线104从第二卷料辊R2卷出例如PET(Polyethylene terephthalate;聚对苯二甲酸乙二醇酯)等成为表面保护膜的长条带状的第三膜F103,并且将其朝向第五搬运线105搬运。
具体而言,在该第四搬运线104中,从隔着第三搬运线103的下游侧的一侧朝向第三搬运线103,沿水平方向依次排列配置有一对第四夹持辊141a、141b、包括多个第三松紧调节辊142a、142b的第三蓄积器142、以及多个第四引导辊143a、143b。
一对第四夹持辊141a、141b将第三膜F103夹在它们之间,并且相互向相反方向旋转,从而向图4中示出的箭头d的方向(右方向)抽出第三膜F103。
第三蓄积器142用于吸收因第三膜F103的进给量的变动而产生的差异,并且减少对第三膜F103施加的张力的变动。具体而言,该第三蓄积器142具有如下结构:在第四夹持辊141a、141b与第四引导辊143a、143b之间,交替地排列配置有位于上部侧的多个松紧调节辊142a、以及位于下部侧的多个松紧调节辊142b。
在第三蓄积器142中,在第三膜F103相互不同地张挂于上部侧的松紧调节辊142a和下部侧的松紧调节辊142b的状态下,一边搬运第三膜F103,一边使上部侧的松紧调节辊142a与下部侧的松紧调节辊142b相对地在上下方向上进行升降动作。由此,能够在不停止第四搬运线104的情况下蓄积第三膜F103。例如,在第三蓄积器142中,通过增大上部侧的松紧调节辊142a与下部侧的松紧调节辊142b之间的距离,能够增加第三膜F103的蓄积,另一方面,通过减小上部侧的松紧调节辊142a与下部侧的松紧调节辊142b之间的距离,能够减少第三膜F103的蓄积。第三蓄积器142例如在更换卷料辊R1~R3的芯材后的卷料粘接等作业时运行。
多个第四引导辊143a、143b分别一边旋转一边将由第四夹持辊141a、141b抽出的第三膜F103朝向第三搬运线103的下游侧(第五搬运线105的上游侧)引导。需要说明的是,第四引导辊143a、143b不限定于配置有多个的结构,也可以为仅配置有一个的结构。
第五搬运线105朝向第三卷料辊R3搬运在单面贴合膜F104的第一膜F101侧的面(第一膜F101的另一面)贴合有第三膜F103而成的长条带状的两面贴合膜F105(光学膜F10X)。
具体而言,在该第五搬运线105中,从隔着第三搬运线103的下游侧的另一侧朝向第三卷料辊R3,沿水平方向依次排列配置有一对第五夹持辊151a、151b、第五引导辊153a、一对第六夹持辊151c、151d、包括多个第四松紧调节辊152a、152b的第四蓄积器152、以及第六引导辊153b。
一对第五夹持辊151a、151b位于第三搬运线103的下游侧与第五搬运线105的上游侧的汇合点,一边将单面贴合膜F104以及第三膜F103夹在它们之间,一边相互向相反方向旋转,从而向图4中示出的箭头e的方向(下方向)抽出将单面贴合膜F104与第三膜F103贴合而成的两面贴合膜F105。
第五引导辊153a一边旋转一边将由第五夹持辊151a、151b抽出的两面贴合膜F105朝向第四蓄积器152引导。需要说明的是,第五引导辊153不限定于配置有一个的结构,也可以为配置有多个的结构。
一对第六夹持辊151c、151d一边将两面贴合膜F105夹在它们之间,一边相互向相反方向旋转,从而向图4中示出的箭头f的方向(右方向)抽出两面贴合膜F105。
在第四蓄积器152中,在两面贴合膜F105相互不同地张挂于上部侧的松紧调节辊152a和下部侧的松紧调节辊152b的状态下,一边搬运两面贴合膜F105,一边使上部侧的松紧调节辊152a与下部侧的松紧调节辊152b相对地在上下方向上进行升降动作。由此,能够在不停止第五搬运线105的情况下蓄积两面贴合膜F105。例如,在第四蓄积器152中,通过增大上部侧的松紧调节辊152a与下部侧的松紧调节辊152b之间的距离,能够增加两面贴合膜F105的蓄积,另一方面,通过减小上部侧的松紧调节辊152a与下部侧的松紧调节辊152b之间的距离,能够减少两面贴合膜F105的蓄积。第四蓄积器152例如在更换卷料辊R1~R3的芯材后的卷料粘接等作业时运行。
第六引导辊153b朝向第三卷料辊R3引导两面贴合膜F105。需要说明的是,第六引导辊153b不限定于配置有一个的结构,也可以为配置有多个的结构。
两面贴合膜F105在卷绕部106作为光学膜F10X的第三卷料辊R3卷绕于芯材后,向下一工序输送。
(缺陷标注装置以及缺陷标注方法)
接下来,对上述膜制造装置100所具备的缺陷标注装置10、以及使用该缺陷标注装置10的缺陷标注方法进行说明。
如图4所示,缺陷标注装置10构成上述膜制造装置100的一部分,构成为大体具备:搬运线L、第一缺陷检查装置11及第二缺陷检查装置12、记录装置13、第一测长器14及第二测长器15、以及控制装置16。
搬运线L形成搬运成为检查对象的膜的搬运路径,在本实施方式中,通过上述第一搬运线101、第三搬运线103以及第五搬运线105构成搬运线L。
第一缺陷检查装置11进行贴合第二膜F102以及第三膜F103前的第一膜F101的缺陷检查。具体而言,该第一缺陷检查装置11对制造第一膜F101时、搬运第一膜F101时产生的异物缺陷、凹凸缺陷、亮点缺陷等各种缺陷进行检测。第一缺陷检查装置11通过对由第一搬运线101搬运的第一膜F101执行例如反射检查、透射检查、斜透射检查、交叉尼科耳透射检查等检查处理,从而对第一膜F101的缺陷进行检测。
第一缺陷检查装置11在第一搬运线101中的比第一夹持辊111a、111b靠上游侧的位置具有向第一膜F101照射照明光的多个照明部21a、22a、23a、以及对透过第一膜F101的光(透射光)或者被第一膜F101反射的光(反射光)进行检测的多个光检测部21b、22b、23b。
在本实施方式中,对透射光进行检测,因此沿第一膜F101的搬运方向排列的多个照明部21a、22a、23a与光检测部21b、22b、23b分别隔着第一膜F101对置地配置。另外,对于第一缺陷检查装置11,不限定于这种对透射光进行检测的结构,也可以为对反射光进行检测的结构,或者为对透射光以及反射光进行检测的结构。在对反射光进行检测的情况下,将光检测部21b、22b、23b配置于照明部21a、22a、23a侧即可。
照明部21a、22a、23a向第一膜F101照射根据缺陷检查的种类而调整了光强度、波长、偏振状态等的照明光。光检测部21a、22a、23a使用CCD等拍摄元件,拍摄第一膜F101的被照射有照明光的位置的图像。由光检测部21a、22a、23a拍摄到的图像(缺陷检查的结果)被输出至控制装置16。
第二缺陷检查装置12进行贴合第二膜F102以及第三膜F103后的第一膜F101、即两面贴合膜F105的缺陷检查。具体而言,该第二缺陷检查装置12对向第一膜F101贴合第二膜F102以及第三膜F103时、搬运单面贴合膜F104以及两面贴合膜F105时产生的异物缺陷、凹凸缺陷、亮点缺陷等各种缺陷进行检测。第二缺陷检查装置12通过对由第五搬运线105搬运的两面贴合膜F105执行例如反射检查、透射检查、斜透射检查、交叉尼科耳透射检查等检查处理,从而对两面贴合膜F105的缺陷进行检测。
第二缺陷检查装置12在第五搬运线105中的比第五夹持辊151a、151b靠下游侧的位置具有向两面贴合膜F105照射照明光的多个照明部24a、25a、以及对透过两面贴合膜F105的光(透射光)或者被两面贴合膜F105反射的光(反射光)进行检测的多个光检测部24b、25b。
在本实施方式中,对透射光进行检测,因此沿两面贴合膜F105的搬运方向排列的多个照明部24a、25a与光检测部24b、25b分别隔着两面贴合膜F105对置地配置。另外,对于第二缺陷检查装置12,不限定于这种对透射光进行检测的结构,也可以为对反射光进行检测的结构,或者为对透射光以及反射光进行检测的结构。在对反射光进行检测的情况,将光检测部24b、25b配置于照明部24a、25a侧即可。
照明部24a、25a向两面贴合膜F105照射根据缺陷检查的种类而调整了光强度、波长、偏振状态等的照明光。光检测部24b、25b使用CCD等拍摄元件,拍摄两面贴合膜F105的被照射有照明光的位置的图像。由光检测部24b、25b拍摄到的图像(缺陷检查的结果)被输出至控制装置16。
记录装置13是根据第一缺陷检查装置11及第二缺陷检查装置12的缺陷检查的结果而在缺陷位置实施标注的印刷装置。记录装置13设置在第五搬运线105中的比第二缺陷检查装置12靠下游侧的位置。记录装置13具有例如采用喷墨方式的多个印刷头13a。需要说明的是,对于印刷头13a,也可以采用激光方式。
如图5所示,多个印刷头13a沿与两面贴合膜F105的搬运方向交叉的方向(宽度方向)排列配置。另外,在各印刷头13a沿与两面贴合膜F105的搬运方向交叉的方向(宽度方向)以规定的间隔排列配置有排出墨水的喷嘴部(印刷部)13b。各印刷头13a的喷嘴部13b与两面贴合膜F105对置,从两面贴合膜F105的宽度方向的一端侧至另一端侧等间隔地排列配置。
另外,在与多个印刷头13a对置的位置,配置有与两面贴合膜F105接触的第七引导辊153c。而且,各印刷头13a的喷嘴部13b从两面贴合膜F105的与同第七引导辊153c接触的位置相反的一侧朝向两面贴合膜F105的表面排出墨水。由此,能够在两面贴合膜F105的表面印刷(标注)点状的标识。
第一测长器14及第二测长器15测定第一膜F101的搬运量。具体而言,在本实施方式中,在第一搬运线101中,在位于比第一蓄积器112靠上游侧的位置的第一夹持辊111a配置有构成第一测长器14的旋转编码器,在位于比第一蓄积器112靠下游侧的位置的第三夹持辊131a配置有构成第二测长器15的旋转编码器。
第一测长器14及第二测长器15根据与第一膜F101接触并旋转的第一夹持辊111a以及第三夹持辊131a的旋转位移量,由旋转编码器测定第一膜F101的搬运量。第一测长器14及第二测长器15的测定结果被输出至控制装置16。
需要说明的是,在本实施方式中,在第一缺陷检查装置11与记录装置13之间仅存在有一个蓄积器,因此成为在该蓄积器的上游侧和下游侧各配置有一个测长器的结构。另一方面,在第一缺陷检查装置11与记录装置13之间存在有多个蓄积器的情况下,设为在位于最上游侧的蓄积器的上游侧、位于最下游侧的蓄积器的下游侧各配置有一个测长器的结构即可。
控制装置16综合控制膜制造装置100的各部。具体而言,该控制装置16具备作为电子控制装置的计算机系统。计算机系统大体具备CPU等运算处理部、存储器、硬盘等信息存储部。
在控制装置16的信息存储部中记录有控制计算机系统的操作系统(OS)、以及使运算处理部对膜制造装置100的各部执行各种处理的程序等。另外,控制装置16也可以包括执行膜贴合系统100的各部分的控制所需要的各种处理的ASIC等逻辑电路。另外,控制装置16包括用于进行计算机系统与外部装置的输入输出的接口。在该接口能够连接例如键盘、鼠标等输入装置、液晶显示器等显示装置、通信装置等。
控制装置16作为根据上述的第一缺陷检查装置11及第二缺陷检查装置12的缺陷检查的结果来控制多个印刷头13a的喷嘴部13b的驱动的控制部而发挥功能。即,该控制装置16对由光检测部21b、22b、23b以及光检测部24b、25b拍摄的图像进行分析,从而辨别缺陷的有无(位置)、种类等。而且,在判断为在第一膜F101、两面贴合膜F105中存在有缺陷的情况下,控制相应的喷嘴部13b的驱动而进行在两面贴合膜F105的缺陷位置实施标注的缺陷标注。
另外,在缺陷标注装置10中,以在两面贴合膜F105的缺陷检查位置与缺陷位置的标注位置之间不产生偏移的方式,在缺陷检查后在规定的时刻进行缺陷标注。例如,在本实施方式中,在进行了由第一缺陷检查装置11或者第二缺陷检查装置12实施的缺陷检查的时刻以后,计算在搬运线L上搬运的膜的搬运量,在计算出的搬运量与偏移距离一致时,通过记录装置13进行缺陷标注。
在此,偏移距离是指,第一缺陷检查装置11及第二缺陷检查装置12与记录装置13之间的膜的搬运距离。严格来说,偏移距离定义为,通过第一缺陷检查装置11及第二缺陷检查装置12进行缺陷检查的位置(缺陷检查位置)与通过记录装置13实施标注的位置(标注位置)之间的膜的搬运距离。另外,偏移距离在使第一蓄积器112运行时变动。
第一蓄积器112非运行时的偏移距离(以下,称作第一偏移距离)预先存储于控制装置16的信息存储部。具体而言,在第一缺陷检查装置11及第二缺陷检查装置12中存在有多个光检测部21b、22b、23b以及光检测部24b、25b,使各个光检测部21b、22b、23b、24b、25b进行缺陷检查。因此,在控制装置16的信息存储部中针对各个光检测部21b、22b、23b、24b、25b而存储有第一偏移距离。
在因第一蓄积器112的运行而使偏移距离变动的情况下,根据第一蓄积器112的上游侧与下游侧的第一膜F101的搬运量之差,来计算偏移距离的修正值。即,在控制装置16中,根据第一测长器14及第二测长器15的测定结果来计算第一蓄积器112对第一膜F101的蓄积量,并根据该第一膜F101的蓄积量来计算偏移距离的修正值。
在缺陷标注装置10中,在第一蓄积器112运行时,根据偏移距离的修正值,来修正记录装置13实施标注的时刻。例如,在本实施方式中,根据第一测长器14及第二测长器15的测定结果来计算偏移距离的修正值。控制装置16根据该修正值以及第一偏移距离来计算第一蓄积器112的运行时的偏移距离(以下,称作第二偏移距离)。
在本实施方式中,根据第一测长器14或者第二测长器15的测定结果,在进行了由第一缺陷检查装置11及第二缺陷检查装置12实施的缺陷检查的时刻以后,计算在搬运线L上搬运的膜的搬运量,在计算出的搬运量与第二偏移距离一致时,通过记录装置13进行缺陷标注。
另外,在本实施方式中,在第一蓄积器112运行时,除缺陷标注以外,还可以将表示第一蓄积器112运行的信息(以下,称作蓄积器运行信息)记录于两面贴合膜F105。在记录了蓄积器运行信息的情况下,通过操作员仔细检查标记了蓄积器运行信息的部分的缺陷位置,能够检测标注位置的偏移等。由此,能够减少错误地将合格品部分判断为缺陷位置的可能性,实现成品率的提高。
然而,在本实施方式的缺陷标注装置10中,例如如图6所示,在两面贴合膜F105的表面,以缺陷D位于在两面贴合膜F105的宽度方向上相邻的第一印刷图案PT1与第二印刷图案PT2之间的方式印刷第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2。
在本实施方式中,作为第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2,沿两面贴合膜F105的搬运方向(长度方向)排列印刷多个点状的标识DM。标识DM具有能够通过目视观察进行视认的程度的大小,具体而言,其直径为5mm以下(更优选为1mm以上且3mm以下)。
控制装置16从沿两面贴合膜F105的宽度方向排列的多个喷嘴部13b中,选择印刷第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2的两个喷嘴部13b。然后,上述所选择的两个喷嘴部13b在隔着缺陷D的两面贴合膜F105的宽度方向(短边方向)的两侧印刷第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2。
在该情况下,通过使缺陷D位于第一印刷图案PT1与第二印刷图案PT2之间,能够表示位于它们之间的缺陷D的位置。由此,在标注后的目视检查(检验)中,能够容易地掌握缺陷D的位置。
并且,能够根据第一印刷图案PT1与第二印刷图案PT2之间的间隔来识别位于它们之间的缺陷D的大小。因此,对于所选择的两个喷嘴部13b,并不限定于一定选择沿两面贴合膜F105的宽度方向排列的多个喷嘴部13b中的、相邻的喷嘴部13b的情况,根据缺陷D的位置以及大小而适当选择两个喷嘴部13b即可。
另外,缺陷D位于第一印刷图案PT1与第二印刷图案PT2之间,从而在从两面贴合膜F105切出缺陷部分时,在第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2中的任一方与缺陷D之间切断。
在该情况下,在通过切断而切出的一侧、通过切断而残留的一侧残留有第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2中的任一方。由此,对于缺陷D位于通过切断而切出的一侧、通过切断而残留的一侧的哪一方,通过切断后残留的第一印刷图案PT1或者第二印刷图案PT2,能够容易地确认缺陷的位置
另外,对于第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2,能够使用可擦除的墨水进行印刷。如上述那样,有时缺陷部分通过标注后的目视检查(检验)而被允许作为产品。在该情况下,通过擦除第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2,能够将该部分作为产品而使用,从而能够实现收率的提高。
对于可擦除的墨水,能够使用向从酮类(甲乙酮、丙酮等)、酯类(乙酸乙酯、丙基=乙酸乙酯丙酯等)、醇类(乙醇、2-丙醇等)中适当选择的溶剂添加着色剂、造膜用树脂等而成的油性墨水。并且,可以根据需要添加固化剂、表面活性剂等。另一方面,对于用于擦除墨水的溶剂,能够使用与上述溶剂相同的溶剂。需要说明的是,对于甲苯、二甲苯等芳香烃类的使用,由于侵蚀光学膜(偏振板)的材质故而并不优选。
另外,在本实施方式的缺陷标注装置10中,通过第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2中的任一方或者双方的印刷图案来记录与缺陷D相关的信息。
具体而言,控制装置16进行如下控制:在印刷第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2时,对于所选择的喷嘴部13b,根据与所要记录的缺陷D相关的信息(缺陷信息)来变更第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2中的任一方或者双方的印刷图案(在本实施方式中为第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2)。
例如,在本实施方式中,根据所要记录的缺陷信息来变更构成第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2的标识DM的数量和间隔。由此,能够在向缺陷位置实施标注的同时,记录缺陷信息。
缺陷信息是缺陷D的位置、种类、尺寸、检查方法(缺陷检查的种类)等与缺陷D相关的信息。在第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2中,以能够识别上述缺陷信息的方式预先设定标识DM的数量和间隔。
例如,在图6所示的第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2中,分别在两面贴合膜F105的一方向即搬运方向(长度方向)排列印刷有5个标识DM。其中,在上游侧配置有2个标识DM,在下游侧配置有3个标识DM。另外,在上游侧的标识DM与下游侧的标识DM之间设置有与1个标识相应的空白(隔开间隔的部分)K。
空白K在两面贴合膜F105的另一方向即宽度方向(短边方向)上与缺陷D大致同列地配置。即,该空白K表示两面贴合膜F105的搬运方向(长度方向)上的缺陷D的位置。需要说明的是,在缺陷D大于空白K的情况下,优选将空白K配置在与缺陷D的中心相邻的位置。
在该情况下,不仅是第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2之间,还能够通过空白K表示缺陷D位于上游侧的标识DM与下游侧的标识DM之间。由此,能够更加容易地掌握缺陷D的位置。并且,在以跨越缺陷D的方式切出薄片时,通过观察剩余的标识DM,能够辨别在该薄片中是否存在有缺陷D。由此,能够提高两面贴合膜F105的利用效率。
另外,根据上游侧与下游侧的标识DM的数量的不同,即使在从两面贴合膜F105切出后,也能够容易地掌握两面贴合膜F105的搬运方向(图6中的箭头所示的方向)。
并且,根据缺陷D与空白K在两面贴合膜F105的搬运方向(长度方向)上的偏移量,能够掌握缺陷检查位置与标注位置之间的时刻的偏移量。而且,根据该偏移量能够容易地调整由记录装置13进行标注的时刻。
对于空白K的大小,优选隔着空白K的两侧的标识DM的间隔(中心间距离)T2大于沿搬运方向以恒定的间隔排列的标识DM的间隔(中心间距离)T1。更具体而言,优选设为1.2≤T2/T1≤3.0的范围,更优选设为1.5≤T2/T1≤2.5的范围。
如以上那样,根据本实施方式,能够通过上述的第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2来表示缺陷D的位置并且记录缺陷信息。
需要说明的是,本发明并非局限于上述实施方式,在不脱离本发明的主旨的范围内能够加以各种变更。
例如,对于第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2,并不限定于上述的变更标识DM的数量、间隔的情况,除此以外,也可以变更例如尺寸(直径)、颜色(红、蓝、黑等。优选为黑)等。即,变更点状的标识DM的数量、间隔、尺寸(直径)、颜色中的任一个以上即可。由此,通过更具体地设定上述印刷图案PT1、PT2,能够记录更多的信息。
另外,例如如图7所示,对于第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2,并不限定于上述的点状的标识DM,也可以沿两面贴合膜F105的搬运方向(长度方向)印刷线状的标识LM。
在该情况下,不仅可以使用上述的喷墨方式的印刷头13a,例如还可以使用沿与两面贴合膜F105的搬运方向交叉的方向(宽度方向)排列的多个标记部(印刷部)。对于标记部,例如可以为笔标记部、激光标记部等,并不特别限定。
在通过印刷线状的标识LM来记录缺陷信息的情况下,根据所要记录的缺陷信息,沿两面贴合膜F105的搬运方向(长度方向)排列配置至少一个或者多个标识LM,并变更线状的标识LM的数量、间隔、尺寸(长度、粗度)、颜色中的任一个以上。由此,能够与印刷点状的标识DM的情况同样地记录缺陷信息。另外,在线状的标识LM中设置空白K的情况下,优选将该空白K的间隔设为3~5mm的程度。
另外,例如也可以如图8的(a)、(b)、(c)所示,在两面贴合膜F105的宽度方向(短边方向)上,印刷与第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2中的任一方或者双方相邻的第三印刷图案PT3。
在该情况下,控制装置16在印刷上述的第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2的两个喷嘴部13b以外,选择印刷第三印刷图案PT3的喷嘴部13b。对于印刷第三印刷图案PT3的喷嘴部13b,能够根据所要记录的缺陷信息来选择至少一个或者多个喷嘴部13b。
即,对于第三印刷图案PT3,能够根据所要记录的缺陷信息来适当选择如图8的(a)所示在以与第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2中的任一方相邻的方式进行印刷的情况、如图8的(b)所示以与第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2的两侧相邻的方式进行印刷的情况、以及如图8的(c)所示以在两面贴合膜F105的宽度方向(短边方向)上排列多个的方式进行印刷的情况等。
另外,对于第三印刷图案PT3,能够在第一印刷图案PT1与第二印刷图案PT2之间进行印刷。在该情况下,能够在隔着缺陷D的两面贴合膜F105的搬运方向(长度方向)的上游侧或下游侧、或者两侧进行印刷。
另外,对于第三印刷图案PT3,与第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2同样地,能够通过点状的标识DM或者线状的标识LM进行印刷。变更第三印刷图案PT3的方法也与变更第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2的情况相同。
因此,对于缺陷信息,根据上述的第一印刷图案PT1、第二印刷图案PT2以及第三印刷图案PT3的组合,能够记录更多的信息。
对于通过上述的第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3中的任一方记录的缺陷信息,预先设定例如根据缺陷D的种类等,变更哪个印刷图案、或者变更构成该被变更的印刷图案的标识DM(LM)的数量、间隔、尺寸(直径、长度、粗度)、颜色中的任一方即可。由此,能够按照预先设定的规则来识别缺陷D的种类等。
例如,对于缺陷D的种类,能够列举例如图9的(a)所示的异物系、图9的(b)所示的气泡系、图9的(c)所示的亮点系、以及图9的(d)所示的褶皱系等。其中,图9的(a)所示的异物系是由于在两面贴合膜F105混入异物而产生的缺陷D。另一方面,图9的(b)所示的气泡系是由于在两面贴合膜F105产生气泡而形成的缺陷D。这种气泡有时在混入异物时以异物为中心而进入。另一方面,图9的(c)所示的亮点系为在成为偏振膜的第一膜F101中产生的缺陷D,并且是以交叉尼科耳的方式对偏振膜配置检偏器时作为亮点(漏光)而观察到的缺陷D。另一方面,图9的(d)所示的褶皱系的缺陷D为在两面贴合膜F105中产生有褶皱而形成的缺陷D。
在本实施方式中,根据缺陷D的种类而使隔着空白K的上游侧的标识DM与下游侧的标识DM中的、配置于上游侧的标识DM的数量不同。例如,配置于上游侧的标识DM的数量在图9的(a)所示的异物系的情况下为3个,在图9的(b)所示的气泡系的情况下为1个,在图9的(c)所示的亮点系的情况下为2个,在图9的(d)所示的褶皱系的情况下为4个。由此,能够根据配置于上游侧的标识DM的数量而容易地识别缺陷D的种类。
另外,在本发明中,还能够通过变更上述的第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3中的任一方的印刷图案来记录与缺陷D以外的内容相关的信息。
例如,作为与缺陷D以外的内容相关的信息,能够记录制造条件、制造场所、同一种缺陷的发生频度及其周期性的有无等制造信息。另外,通过组合上述制造信息,能够确定缺陷D的产生原因、场所、工序等。由此,通过进行成为缺陷D的原因的设备的维护等应对,能够减少缺陷D的产生。
在此,在图10的(a)中示出在上述的偏振膜的制造工序中,在向偏振片(PVA)的两面贴合保护膜(TAC)的工序(第一工序)中产生缺陷D1的情况。另外,在图10的(b)中示出在第一工序之后,在一方的保护膜(TAC)的面上贴合粘合剂和分隔件的工序(第二工序)中产生缺陷D2的情况。
而且,对于在第一工序中产生的缺陷D1,例如印刷如图11的(a)所示的第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2。另一方面,对于在第二工序中产生的缺陷D2,例如印刷如图11的(b)所示的第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2。
在该情况下,对于图11的(a)、(b)所示的缺陷D1、D2的位置,在隔着各个缺陷D1、D2的两侧印刷第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2,需要说明的是,通过在以恒定的间隔排列的标识DM之间设置空白K,能够表示各个缺陷D1、D2的位置。
另外,对于缺陷D1、D2中记录的信息,根据第一印刷图案PT1和第二印刷图案PT2,记录缺陷D1、D2的种类(缺陷信息)、表示该缺陷为在第一工序和第二工序的哪一个工序中产生的缺陷D1、D2的信息(制造信息)。
具体而言,对于缺陷D1、D2的种类,通过构成第一以及第二印刷图案PT1、PT2的标识DM的颜色来区别。例如,根据透射缺陷(蓝)、交叉缺陷(红)、反射缺陷(绿)这样的标识DM的颜色的不同,能够识别缺陷D1、D2的种类。
另一方面,在第一以及第二印刷图案PT1、PT2中,根据比空白K靠上游侧(标识DM的数量较少的一方)的标识DM的数量,来记录表示该缺陷为在第一工序和第二工序的哪一个工序中产生的缺陷D1、D2的信息。例如,在第一以及第二印刷图案PT1、PT2的上游侧的标识DM的数量为1个的情况下,表示是在第一工序中产生的缺陷D1,在为2个的情况下,表示是在第二工序中产生的缺陷D2。
另外,除图11的(b)所示的第一以及第二印刷图案PT1、PT2以外,还可以印刷图11的(c)所示的第三印刷图案PT3。对于第三印刷图案PT3,根据标识DM的数量,来记录表示在层叠的偏振膜中的第几层中存在有缺陷D2的信息(缺陷信息)。例如,对于图11的(c)所示的第三印刷图案PT3,由3个标识DM构成,因此能够识别为按照层叠顺序在第三层(TAC)中存在有缺陷D2。
如以上那样,在本发明中,通过对偏振膜印刷上述的第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3,能够表示缺陷D1、D2的位置,并且记录与该缺陷D1、D2相关的信息等。
另外,在本发明中,例如也可以如图12所示的第一印刷图案PT1以及第二印刷图案PT2那样,代替设置上述的空白K,而是通过缩小标识DM的间隔,来表示两面贴合膜F105的搬运方向(长度方向)上的缺陷D的位置。
并且,在本发明中,为了表示两面贴合膜F105的搬运方向(长度方向)上的缺陷D的位置,也可以代替设置上述的空白K(改变标识DM的间隔),而是通过变更标识DM的大小、或使用第三印刷图案PT3来表示缺陷D的位置。
在本发明中,也可以通过上述的第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3中的任一方的印刷图案的组合,例如如图13的(a)~(g)所示,在缺陷D的周围印刷各种各样的印刷图案。
其中,在图13的(a)所示的印刷图案中,以4个标识DM在四方包围缺陷D的周围的方式印刷第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3。另一方面,在图13的(b)所示的印刷图案中,以4个标识DM在三方包围缺陷D的周围的方式印刷第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3。另一方面,在图13的(c)所示的印刷图案中,以5个标识DM通过邻接的两边包围缺陷D的周围的方式印刷第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3。另一方面,在图13的(d)所示的印刷图案中,以6个标识DM通过邻接的三边包围缺陷D的周围的方式印刷第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3。另一方面,在图13的(e)所示的印刷图案中,以14个标识DM通过四边包围缺陷D的周围的方式印刷第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3。另一方面,在图13的(f)所示的印刷图案中,以6个标识DM通过倾斜地对置的两边包围缺陷D的周围的方式印刷第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3。另一方面,在图13的(g)所示的印刷图案中,以8个标识DM在四方包围缺陷D的周围的方式印刷第一、第二以及第三印刷图案PT1、PT2、PT3。
需要说明的是,上述记录装置13采用配置于第二缺陷检查装置12的下游侧的结构,但也可以配置于第一缺陷检查装置11的下游侧。在该情况下,能够在进行由第一缺陷检查装置11实施的缺陷检查后,进行由记录装置13实施的缺陷信息的记录。
另外,对于上述记录装置13,不限定于在上述的缺陷检查后记录缺陷信息的情况。例如,有时在长距离的搬运线中,配置多个记录装置,每隔一定距离进行距离信息的记录,根据所记录的该距离信息来进行距离的修正。对于进行这种距离信息的记录的记录装置,有时例如配置于第一缺陷检查装置11的上游侧等。
另外,对于上述记录装置13,并不限定于上述的具备排列配置有多个喷嘴部13b的多个印刷头13a的结构,例如在使用横动式的印刷头的情况下,通过对该印刷头进行移动操作,能够与膜的形状、搬运方向无关地在缺陷位置实施标注。
需要说明的是,缺陷标注装置10并不限定于构成上述膜制造装置100的一部分的情况,也可以设为独立于上述膜制造装置100的缺陷标注装置。具体而言,可以设为如下结构:在搬运从第三卷料辊R3卷出的两面贴合膜F105的期间,进行两面贴合膜F105的缺陷检查,在根据缺陷检查的结果而在两面贴合膜F105的缺陷位置实施标注后,再次卷绕于芯材。
另外,在上述膜制造装置100中,也可以不在缺陷位置实施标注,而在追加的加工工序中在缺陷位置实施标注。具体而言,也可以为,在搬运从第三卷料辊R3卷出的两面贴合膜F105的期间,在向两面贴合膜F105的一面或者两面贴合其他膜后,进行缺陷检查,与上述膜制造装置100的缺陷检查的结果一并地在缺陷位置实施标注。
需要说明的是,对于成为本发明的检查对象(被检查物)的卷料,不必限定于上述的偏振膜、相位差膜、增亮膜这样的光学膜,只要为在缺陷位置实施标注的膜、纸等长条带状的卷料即可。
另外,作为本发明的检查对象(被检查物),可以为通过将长条带状的卷料切断而得到的片(薄片)。即,在本发明中,并不限定于在搬运上述卷料的期间进行卷料的缺陷检查,并根据缺陷检查的结果而在卷料的缺陷位置实施标注的情况,也可以在切断后进行片的缺陷检查,根据该缺陷检查的结果而在片的缺陷位置实施标注。另外,也可以在实施片的缺陷检查和朝向片的缺陷位置的标注的期间,对片实施加工处理(例如,其他膜的贴合、片的表面处理等)。由此,与被检查物为卷料的情况同样地,对于作为被检查物的片,能够使用本发明的缺陷标注方法(装置),表示缺陷的位置,并且记录与该缺陷相关的信息等。并且,本发明除应用于上述的卷料、片以外,能够广泛地应用于可应用本发明的构件。
Claims (20)
1.一种缺陷标注方法,在被检查物的缺陷位置实施标注,该缺陷标注方法的特征在于,
以缺陷位于在所述被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案与第二印刷图案之间的方式在所述被检查物的表面印刷所述第一印刷图案以及所述第二印刷图案,由此表示所述缺陷的位置。
2.根据权利要求1所述的缺陷标注方法,其特征在于,
通过所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方的印刷图案来记录与所述缺陷相关的信息。
3.根据权利要求2所述的缺陷标注方法,其特征在于,
作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷至少一个点状的标识或者沿所述一方向排列印刷多个点状的标识。
4.根据权利要求2或3所述的缺陷标注方法,其特征在于,
作为所述任一方或者双方的印刷图案,印刷至少一个线状的标识或者沿所述一方向排列印刷多个线状的标识。
5.根据权利要求3或4所述的缺陷标注方法,其特征在于,
通过将所述标识的数量、间隔、尺寸、颜色中的任一个以上变更了的印刷图案来记录与所述缺陷相关的信息。
6.根据权利要求3至5中任一项所述的缺陷标注方法,其特征在于,
通过将沿所述一方向排列的多个标识的至少一部分的间隔变更了的印刷图案来表示所述一方向上的所述缺陷的位置。
7.根据权利要求6所述的缺陷标注方法,其特征在于,
将隔开了沿所述一方向排列的多个标识的至少一部分的间隔的空白配置在与所述缺陷相邻的位置,由此表示所述一方向上的所述缺陷的位置。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的缺陷标注方法,其特征在于,
在所述另一方向上,印刷与所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方相邻的第三印刷图案,由此记录与所述缺陷相关的信息。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的缺陷标注方法,其特征在于,
通过所述任一方的印刷图案来记录与所述缺陷以外的内容相关的信息。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的缺陷标注方法,其特征在于,
使用可擦除的墨水来印刷所述印刷图案。
11.根据权利要求1至10中任一项所述的缺陷标注方法,其特征在于,
在作为所述被检查物且沿所述一方向搬运的长条带状的卷料的缺陷位置实施标注。
12.根据权利要求1至10中任一项所述的缺陷标注方法,其特征在于,
在作为所述被检查物且通过将长条带状的卷料切断而得到的片的缺陷位置实施标注。
13.一种卷料的制造方法,其特征在于,包括:
对沿一方向搬运的长条带状的卷料进行缺陷检查的工序;以及
使用权利要求11所述的缺陷标注方法在所述卷料的缺陷位置实施标注的工序。
14.一种片的制造方法,其特征在于,包括:
对通过将长条带状的卷料切断而得到的片进行缺陷检查的工序;以及
使用权利要求12所述的缺陷标注方法在所述片的缺陷位置实施标注的工序。
15.一种缺陷标注装置,其特征在于,
所述缺陷标注装置具备在被检查物的缺陷位置实施标注的印刷装置,
所述印刷装置具有:多个印刷部,其沿所述被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向以规定的间隔排列配置,并且在所述被检查物的表面印刷印刷图案;以及控制部,其控制所述多个印刷部的驱动,
所述控制部进行如下控制:选择印刷所述第一印刷图案以及所述第二印刷图案的印刷部,使得缺陷位于在所述另一方向上相邻的第一印刷图案与第二印刷图案之间。
16.根据权利要求15所述的缺陷标注装置,其特征在于,
所述控制部进行如下控制:对于所选择的任一方或者双方的所述印刷部,根据与所要记录的所述缺陷相关的信息来变更所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方的印刷图案。
17.一种卷料,其为在缺陷位置被实施了标注的长条带状的卷料,该卷料的特征在于,
所述卷料具有通过所述标注而印刷于表面且在短边方向上相邻的第一印刷图案以及第二印刷图案,缺陷位于所述第一印刷图案与所述第二印刷图案之间,由此表示所述缺陷的位置。
18.根据权利要求17所述的卷料,其特征在于,
通过所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方的印刷图案而记录有与所述缺陷相关的信息。
19.一种片,其为在缺陷位置被实施了标注的片,该片的特征在于,
所述片具有通过所述标注而印刷于表面且在与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案以及第二印刷图案,缺陷位于所述第一印刷图案与所述第二印刷图案之间,由此表示所述缺陷的位置。
20.根据权利要求19所述的片,其特征在于,
通过所述第一印刷图案和所述第二印刷图案中的任一方或者双方的印刷图案而记录有与所述缺陷相关的信息。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017-040931 | 2017-03-03 | ||
JP2017040931 | 2017-03-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN108535259A true CN108535259A (zh) | 2018-09-14 |
CN108535259B CN108535259B (zh) | 2022-05-06 |
Family
ID=63486407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201810169825.4A Active CN108535259B (zh) | 2017-03-03 | 2018-02-28 | 缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6978963B2 (zh) |
KR (1) | KR102475056B1 (zh) |
CN (1) | CN108535259B (zh) |
TW (1) | TWI766952B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114604678A (zh) * | 2022-03-11 | 2022-06-10 | 凌云光技术股份有限公司 | 一种消除缺陷定位误差的方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021117273A1 (ja) * | 2019-12-10 | 2021-06-17 | 日東電工株式会社 | 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム |
WO2022107756A1 (ja) * | 2020-11-18 | 2022-05-27 | 日東電工株式会社 | シート状製品の製造方法、シート状製品、原反及び中間体 |
JP7330253B2 (ja) * | 2020-12-08 | 2023-08-21 | 住友化学株式会社 | マーク付き光学積層体、及び、マーク付き光学積層体の製造方法 |
JP2022107419A (ja) * | 2021-01-08 | 2022-07-21 | 日東電工株式会社 | 光学積層フィルムの検査方法及びフィルム製品の製造方法 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0830683B2 (ja) * | 1987-01-22 | 1996-03-27 | 大和製罐株式会社 | 製缶用金属コイル薄板の欠陥部の表示方法 |
JPH1074812A (ja) * | 1996-06-26 | 1998-03-17 | Hitachi Ltd | 被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法 |
JP2000097869A (ja) * | 1998-09-18 | 2000-04-07 | Hitachi Ltd | パターンの欠陥検査方法およびその装置 |
CN101210889A (zh) * | 2006-12-30 | 2008-07-02 | 大元科技股份有限公司 | 全像式自动光学检测系统及方法 |
JP2011012986A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Toppan Printing Co Ltd | 印刷物検査装置 |
CN101981438A (zh) * | 2008-03-31 | 2011-02-23 | 住友化学株式会社 | 偏光薄膜的检查方法 |
CN102099672A (zh) * | 2008-07-18 | 2011-06-15 | 旭硝子株式会社 | 用于缺陷检查的图像数据的处理装置及方法、使用它们的缺陷检查装置及方法、使用它们的板状体的制造方法、以及存储介质 |
JP2014224763A (ja) * | 2013-05-16 | 2014-12-04 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム |
JP2015230298A (ja) * | 2014-06-06 | 2015-12-21 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 検査方法 |
CN105247351A (zh) * | 2013-06-12 | 2016-01-13 | 住友化学株式会社 | 缺陷检查系统 |
WO2016163261A1 (ja) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | 住友化学株式会社 | 積層光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査方法及び積層光学フィルムの製造方法 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000051941A (ja) * | 1998-08-06 | 2000-02-22 | Nkk Corp | 薄鋼板への欠陥マーキング方法 |
CA2676748C (en) * | 1999-03-18 | 2011-10-25 | Jfe Steel Corporation | Defect marking method and device |
JP3890430B2 (ja) * | 1999-08-24 | 2007-03-07 | 富士フイルム株式会社 | 表面検査方法及び装置 |
JP2001305070A (ja) | 2000-04-19 | 2001-10-31 | Sumitomo Chem Co Ltd | シート状製品の欠陥マーキング方法および装置 |
JP4343456B2 (ja) | 2001-04-03 | 2009-10-14 | 大日本印刷株式会社 | シート状製品の欠陥マーキング方法および装置 |
JP4049723B2 (ja) * | 2003-09-04 | 2008-02-20 | 沖電気工業株式会社 | 窒化物半導体素子の製造方法及び窒化物半導体素子の製造装置 |
JP2006071560A (ja) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光ファイバの欠陥検出装置 |
JP2007192660A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Fujifilm Corp | フイルムの表面欠陥検出方法及び検出機 |
JP2008020321A (ja) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Purex:Kk | 欠陥マーキング装置付き欠陥布片検出装置 |
JP5446232B2 (ja) * | 2008-04-10 | 2014-03-19 | 凸版印刷株式会社 | カラーフィルタ基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
JP4776739B2 (ja) | 2009-04-10 | 2011-09-21 | 日東電工株式会社 | 光学フィルムロール原反を用いた画像表示装置の製造方法 |
JP2013522595A (ja) * | 2010-03-10 | 2013-06-13 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ウェブ製造プロセスにおける用途固有の繰り返し欠陥検出 |
JP5223998B2 (ja) * | 2010-11-29 | 2013-06-26 | 大日本印刷株式会社 | 評価用基板 |
JP5274622B2 (ja) * | 2011-06-27 | 2013-08-28 | 富士フイルム株式会社 | 欠陥検査装置及び方法 |
JP6004797B2 (ja) | 2012-07-09 | 2016-10-12 | 大倉工業株式会社 | 欠陥マーキング方法、光学フィルムの製造方法および欠陥マーキング装置 |
JP2014048206A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Sharp Corp | 欠陥分類装置、欠陥分類方法、制御プログラム、および記録媒体 |
JP6182806B2 (ja) * | 2013-06-04 | 2017-08-23 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置 |
JP6641093B2 (ja) * | 2015-03-20 | 2020-02-05 | 住友化学株式会社 | 光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法 |
-
2018
- 2018-02-27 KR KR1020180023836A patent/KR102475056B1/ko active IP Right Grant
- 2018-02-28 CN CN201810169825.4A patent/CN108535259B/zh active Active
- 2018-03-01 TW TW107106823A patent/TWI766952B/zh active
- 2018-03-01 JP JP2018036990A patent/JP6978963B2/ja active Active
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0830683B2 (ja) * | 1987-01-22 | 1996-03-27 | 大和製罐株式会社 | 製缶用金属コイル薄板の欠陥部の表示方法 |
JPH1074812A (ja) * | 1996-06-26 | 1998-03-17 | Hitachi Ltd | 被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法 |
JP2000097869A (ja) * | 1998-09-18 | 2000-04-07 | Hitachi Ltd | パターンの欠陥検査方法およびその装置 |
CN101210889A (zh) * | 2006-12-30 | 2008-07-02 | 大元科技股份有限公司 | 全像式自动光学检测系统及方法 |
CN101981438A (zh) * | 2008-03-31 | 2011-02-23 | 住友化学株式会社 | 偏光薄膜的检查方法 |
CN102099672A (zh) * | 2008-07-18 | 2011-06-15 | 旭硝子株式会社 | 用于缺陷检查的图像数据的处理装置及方法、使用它们的缺陷检查装置及方法、使用它们的板状体的制造方法、以及存储介质 |
JP2011012986A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Toppan Printing Co Ltd | 印刷物検査装置 |
JP2014224763A (ja) * | 2013-05-16 | 2014-12-04 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム |
CN105247351A (zh) * | 2013-06-12 | 2016-01-13 | 住友化学株式会社 | 缺陷检查系统 |
JP2015230298A (ja) * | 2014-06-06 | 2015-12-21 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 検査方法 |
WO2016163261A1 (ja) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | 住友化学株式会社 | 積層光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査方法及び積層光学フィルムの製造方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114604678A (zh) * | 2022-03-11 | 2022-06-10 | 凌云光技术股份有限公司 | 一种消除缺陷定位误差的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI766952B (zh) | 2022-06-11 |
JP2018146580A (ja) | 2018-09-20 |
KR102475056B1 (ko) | 2022-12-06 |
KR20180101210A (ko) | 2018-09-12 |
JP6978963B2 (ja) | 2021-12-08 |
TW201837456A (zh) | 2018-10-16 |
CN108535259B (zh) | 2022-05-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108535259A (zh) | 缺陷标注方法及装置、卷料和片的制造方法及卷料和片 | |
JP4377965B1 (ja) | 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置 | |
TWI626439B (zh) | 缺陷檢查系統 | |
JP4503689B1 (ja) | 液晶表示素子の連続製造方法及び装置 | |
CN102043277B (zh) | 信息存储读出运算系统及其制造方法 | |
JP4503691B1 (ja) | 液層表示素子の連続製造方法及び装置 | |
JP2011085632A (ja) | 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置 | |
CN102043280A (zh) | 信息存储读出系统及制造该系统的方法和装置 | |
JP2009244064A5 (zh) | ||
JP2009244064A (ja) | 偏光フィルムの検査方法 | |
WO2016152628A1 (ja) | 積層光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査方法及び積層光学フィルムの製造方法 | |
WO2016163261A1 (ja) | 積層光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査方法及び積層光学フィルムの製造方法 | |
KR102241700B1 (ko) | 결함 검사 시스템 및 필름 제조 장치 | |
JP2011065184A (ja) | 光学フィルムロール原反、およびそれを用いた画像表示装置の製造方法 | |
CN114953764B (zh) | 一种偏光膜缺点汇整标记系统 | |
CN108535272A (zh) | 缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法 | |
JP2019215371A (ja) | 光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法 | |
JP2018146360A (ja) | 欠陥情報読取方法、欠陥情報読取装置及び欠陥情報読取システム | |
JP2018136342A (ja) | 欠陥検査システム及びフィルム製造装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |