JP6250317B2 - 欠陥検査方法 - Google Patents
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Description
例えば、特許文献1には、自動検査による欠陥検査方法として、所定の方向に直線偏光されたレーザービームをフィルムに照射し、フィルムを透過したレーザービームを、照射時のレーザービームの偏光方向と平行する方向に吸収軸をもつ偏光板を透過させた後に受光し、欠陥を検出する方法が開示されている。
一方、目視による欠陥検査方法としては、無偏光の光をフィルムに照射し、照明されたフィルムの画像を直視して観察する方法(明視野観察)が知られている。
一方、目視による明視野観察では、微小欠陥を輝点として検出することができないため、30μm以下のサイズの微小欠陥を精度よく検出することは困難である。
(1)すなわち、本発明の第一の態様に係る欠陥検査方法は、フィルムの欠陥検査方法であって、前記フィルムの第一主面の側に700000cd/m2以上の輝度を有する高輝度光源を配置し、前記高輝度光源によって照明された前記フィルムの画像を前記フィルムの第二主面の側において前記高輝度光源の光軸からずれた位置から目視により観察し、
前記目視による観察方向は、前記高輝度光源から射出された光の光軸に対して50°以上80°以下の角度をなす方向とすることを特徴とする。
図1は、本発明の第1実施形態に係る欠陥検査方法の説明図である。図1において、符号Sf1はフィルムFの下面(第一主面)である。符号Sf2はフィルムFの上面(第二主面)である。
一方、角度θ1が大きすぎると、観察者の目に散乱光が入射しにくくなる。
図2及び図3は、比較例に係る欠陥検査方法の説明図である。
図4及び図5は、本実施形態に係る欠陥検査方法の説明図である。
図6は、本実施形態に係る欠陥検査方法において、実施例1に係る高輝度光源1として富士倉社製のLEDライトを用いたときの検出欠陥を示す図である。
図7は、本実施形態に係る欠陥検査方法において、実施例2に係る高輝度光源1としてシーズシー社製のポラリオンライトを用いたときの検出欠陥を示す図である。
次に、本発明の第2実施形態について図8を用いて説明する。
図8は、本発明の第2実施形態に係る欠陥検査方法の説明図である。
Claims (4)
- フィルムの欠陥検査方法であって、
前記フィルムの第一主面の側に700000cd/m2以上の輝度を有する高輝度光源を配置し、前記高輝度光源によって照明された前記フィルムの画像を前記フィルムの第二主面の側において前記高輝度光源の光軸からずれた位置から目視により観察し、
前記目視による観察方向は、前記高輝度光源から射出された光の光軸に対して50°以上80°以下の角度をなす方向とする欠陥検査方法。 - 前記高輝度光源の輝度は、1000000cd/m2以上である請求項1に記載の欠陥検査方法。
- 前記高輝度光源から射出された光の光軸を前記フィルムの前記第一主面に対して直交する方向に配置し、前記高輝度光源によって照明された前記フィルムの画像を前記フィルムの前記第二主面に対して斜め方向から目視により観察する請求項1又は2に記載の欠陥検査方法。
- 前記高輝度光源から射出された光の光軸を前記フィルムの前記第一主面に対して斜め方向に配置し、前記高輝度光源によって照明された前記フィルムの画像を前記フィルムの前記第二主面に対して直交する方向から目視により観察する請求項1又は2に記載の欠陥検査方法。
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