JP6570977B2 - 表面検査装置および表面検査方法 - Google Patents
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Description
2…外装体(低光沢度領域)
3a,3b…電極タブ(高光沢度領域)
4…撮像装置
6…画像処理装置
7…モニタ(表示装置)
10…濃淡画像生成部
11…反転画像生成部
12…画像合成部
C1,C2…寸法検査ガイド線
L1〜L4…平行光照明器
Lw…拡散光照明器
Claims (8)
- 検査対象物の表面のうち相対的に光沢度が低い低光沢度領域に平行光を照射する平行光照明器と、
上記平行光照明器に代わって検査対象物の表面のうち相対的に光沢度が高い高光沢度領域に拡散光を照射する拡散光照明器と、
上記検査対象物の表面のうち平行光が照射された低光沢度領域を撮像するとともに、これとは別に拡散光が照射された高光沢度領域を撮像する撮像装置と、
上記撮像装置による撮像画像がそれぞれ入力され、低光沢度領域の撮像画像と高光沢度領域の撮像画像とを合成して検査対象物の表面の全体画像を生成する画像処理装置と、
上記画像処理装置で生成された全体画像を表示する表示装置と、
を備えていることを特徴とする表面検査装置。 - 上記画像処理装置にて高光沢度領域の撮像画像と合成されることになる低光沢度領域の撮像画像は、当該低光沢度領域に対し平行光の照射方向を変えてその都度撮像した複数の撮像画像を合成して、その低光沢度領域の凹凸形状を含む三次元形状を濃淡で表した二次元濃淡合成画像であることを特徴とする請求項1に記載の表面検査装置。
- 上記画像処理装置は、
上記低光沢度領域に対し平行光の照射方向を変えてその都度撮像した複数の撮像画像を合成して、その低光沢度領域の凹凸形状を含む三次元形状を濃淡で表した二次元濃淡合成画像を生成する濃淡画像生成部と、
上記濃淡画像生成部で生成された低光沢度領域の二次元濃淡合成画像と高光沢度領域の撮像画像とを合成した画像を生成する画像合成部と、
を有していることを特徴とする請求項2に記載の表面検査装置。 - 上記画像処理装置の濃淡画像生成部は、
上記低光沢度領域の凹凸形状を含む三次元形状を濃淡で表した二次元濃淡合成画像を生成するのとは別に、
上記低光沢度領域に対し平行光の照射方向を変えてその都度撮像した複数の撮像画像を合成して、低光沢度領域のX−Y二次元平面におけるX方向での凹凸形状を濃淡で表したX方向濃淡合成画像と、Y方向での凹凸形状を濃淡で表したY方向濃淡合成画像と、
上記X方向濃淡合成画像とY方向濃淡合成画像のそれぞれについて、それらの画像の濃淡を反転した濃淡反転画像と、
を生成する機能を有していることを特徴とする請求項3に記載の表面検査装置。 - 上記表示装置では、二次元濃淡合成画像とともに、X方向濃淡合成画像とY方向濃淡合成画像およびそれらの濃淡反転画像とを、予め定めた順番で交互に表示するようになっていることを特徴とする請求項4に記載の表面検査装置。
- 上記検査対象物は、電池要素が収容されているラミネートフィルム製の外装体の周縁部が接合・封止されているとともに、外装体の一部から電極が外部に突出している薄型二次電池であって、
上記低光沢度領域が外装体であり、高光沢度領域が電極であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の表面検査装置。 - 上記表示装置に全体画像を表示する際に、外装体の接合部に相当する部分にガイド線を重ねて表示するようにしたことを特徴とする請求項6に記載の表面検査装置。
- 検査対象物の表面のうち相対的に光沢度が低い低光沢度領域に平行光を照射した状態で、その低光沢度領域を撮像装置で撮像する工程と、
上記検査対象物の表面のうち相対的に光沢度が高い高光沢度領域に拡散光を照射した状態で、その高光沢度領域を撮像装置で撮像する工程と、
上記低光沢度領域の撮像画像と高光沢度領域の撮像画像とを合成して検査対象物の表面の全体画像を生成する工程と、
上記生成された全体画像を表示装置に表示する工程と、
を含むことを特徴とする表面検査方法。
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