JP6296499B2 - 透明基板の外観検査装置および外観検査方法 - Google Patents

透明基板の外観検査装置および外観検査方法 Download PDF

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本発明は透明基板の外観検査装置および外観検査方法に係り、とりわけ透明基板に対して精度良くかつ確実に外観検査を行なうことができる透明基板の外観検査装置および外観検査方法に関する。
従来より、水晶振動子として平板状タイプの水晶ブランクが用いられている。またこのような水晶ブランクの傷を検出する外観検査方法が開発されている。
このような従来の外観検査方法としては、透明支持体上に載置された水晶ブランクに対して光を透過させ、傷等の部分で乱反射した光を検出することにより外観検査を行なう方法がある(特許文献1参照)。
あるいは、透明支持体上に載置された水晶ブランクに対して光を透過させ、傷等の部分で偏光状態が変化する光を偏光板を用いて検出することにより外観検査を行なう方法がある(特許文献2参照)。
しかしながら特許文献1に記載の方法によれば、水晶ブランク上のすべての凹凸が傷として白く検出される。とりわけ水晶ブランク周縁近傍は、凹状となっているため、すべて白く表わされる。このため水晶ブランク周縁の傷を確実に検出することはむずかしい。
また特許文献2に記載の方法によれば、水晶ブランクは強い偏光特性を有するため、透明支持体上に水晶ブランクを載置する際の向きが変わっただけで偏光状態が変わる。このため、透明支持体上における水晶ブランクの向きによっては、水晶ブランクの傷を確実に検出することができないことがある。
さらにまた特許文献1および特許文献2のいずれの場合も、透明支持体上に水晶ブランクを載置しているが、透明支持体に生じた傷と、水晶ブランクに生じた傷を区別することがむずかしい。
特開平9−288063号公報 特開2000−81312号公報
本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、とりわけ水晶ブランクに対して精度良くかつ確実に外観を検出することができる透明基板の外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。
本発明は、透明基板の外観検査装置において、透明基板を載置する透明支持体と、透明支持体上方に配置され、透明基板および透明支持体を撮像して画像を生成する撮像手段と、透明支持体下方に配置され、撮像手段に対して正透過光から外れる第1色光を透明支持体と透明基板に対して入光させる第1照明手段と、透明支持体下方に配置され、撮像手段に対して正透過光としての第2色光を透明支持体と透明基板に対して入光させる第2照明手段と、透明支持体上方に配置され、反射光となる第3色光を透明基板に対して入光させる第3照明手段と、撮像手段により得られた第1色光による拡散透過画像、第2色光による正透過画像、第3色光による拡散反射画像に基づいて、合成画像を生成して透明基板の傷を検出する画像処理装置とを備えたことを特徴とする透明基板の外観検査装置である。
本発明は、第1照明手段は第1色光として赤色光を照射し、第2照明手段は第2色光として緑色光を照射し、第3照明手段は第3色光として青色光を照射することを特徴とする透明基板の外観検査装置である。
本発明は、画像処理装置は、拡散透過画像の出力をP1、正透過画像の出力をP2、拡散反射画像の出力をP3とした場合、−k1×P1+k2×P2+k3×P3(k1、k2、k3は正数)の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする透明基板の外観検査装置である。
本発明は、画像処理装置は、−P1+P2+P3の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする透明基板の外観検査装置である。
本発明は、撮像手段は第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備える、CCDカメラまたはCMOSカメラを有することを特徴とする透明基板の外観検査装置である。
本発明は、透明基板の外観検査方法において、透明基板を透明支持体上に載置する工程と、透明支持体下方に配置された第1照明手段から透明支持体上方に配置された撮像手段に対して正透過光から外れる第1色光を透明支持体と透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、透明支持体下方に配置された第2照明手段から撮像手段に対して正透過光としての第2色光を透明支持体と透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、透明支持体上方に配置された第3照明手段から反射光となる第3色光を透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、撮像手段により得られた第1色光による拡散透過画像、第2色光による正透過画像、第3色光による拡散反射画像に基づいて、画像処理装置により合成画像を生成して透明基板の傷を検出する工程と、を備えたことを特徴とする透明基板の外観検査方法である。
本発明は、第1照明手段は第1色光として赤色光を照射し、第2照明手段は第2色光として緑色光を照射し、第3照明手段は第3色光として青色光を照射することを特徴とする透明基板の外観検査方法である。
本発明は、画像処理装置は、拡散透過画像の出力をP1、正透過画像の出力をP2、拡散反射画像の出力をP3とした場合、−k1×P1+k2×P2+k3×P3(k1、k2、k3は正数)の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする透明基板の外観検査方法である。
本発明は、画像処理装置は、−P1+P2+P3の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする透明基板の外観検査方法である。
本発明は、撮像手段は第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備える、CCDカメラ、またはCMOSカメラを有することを特徴とする透明基板の外観検査方法である。
本発明によれば、透明基板に対して精度良くかつ確実に外観検査を行なうことができる。
図1は本発明による透明基板の外観検査装置を示す概略図。 図2は透明基板に赤色光を入光させた状態を示す図。 図3は透明基板に緑色光を入光させた状態を示す図。 図4は透明基板に青色光を入光させた状態を示す図。 図5は外観検査装置における画像処理を示す図。 図6(a)(b)(c)は外観検査装置における画像処理を示す図。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
ここで図1乃至図4は本発明による透明基板の外観検査装置の一実施の形態を示す図である。
まず透明基板の外観検査装置の検査対象となる透明基板について説明する。
透明基板の外観検査装置の検査対象となる透明基板としては、水晶振動子用の水晶ブランクが用いられる。
図1に示すように、検査対象となる水晶ブランク(透明基板)1は、ガラス板(透明支持体)2に載置されており、中央部が厚くなった両凸形のコンベックスタイプの水晶ブランク、あるいは周辺部を除いて全面を平滑面としたベベリング加工の水晶ブランクからなる。
次に透明基板の外観検査装置10の概略について、図1により説明する。
図1に示すように、透明基板の外観検査装置10は、水晶ブランク1を載置するガラス板2と、ガラス板2の上方に配置され水晶ブランク1とガラス板2を撮像して画像を生成する撮像手段20と、ガラス板2の下方に配置され撮像手段20に対して正透過光から外れる第1色光(赤色光)をガラス板2と水晶ブランク1に対して入光させる第1照明手段11と、ガラス板2の下方に配置され撮像手段20に対して正透過光としての第2色光(緑色光)をガラス板2と水晶ブランク1に対して入光させる第2照明手段12と、ガラス板2の上方に配置され、撮像手段20に対して正反射光から外れる第3色光(青色光)を水晶ブランク1に対して入光させる第3照明手段13とを備えている。ここで、正透過光から外れる第1色光(赤色光)とは、正透過光以外の第1色光をいい、正反射光から外れる第3色光(青色光)とは、正反射光以外の第3色光をいう。
また、撮像手段20はCCDカメラからなり、このCCDカメラは、第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備える。また撮像手段20により得られた画像は、表示部30Aを有する画像処理装置30へ送られる。
そして画像処理装置30は、撮像手段20により生成された赤色光による拡散透過画像30a、緑色光による正透過画像30bおよび青色光による拡散反射画像30cに基づいて、これらの画像30a、30b、30cの出力P1、P2、P3を後述する計算式で計算することにより水晶ブランク1の傷を検出する。
次にこのような構成からなる本実施の形態の作用について説明する。
まずガラス板2上に水晶ブランク1を載置する。その後図2に示すように、第1照明手段11から長波長としての赤色光をガラス板2と水晶ブランク1に対して照射させる。この場合、第1照明手段11は、ガラス板2と水晶ブランク1に向けて、撮像手段20に対する正透過光から外れるよう赤色光を照射する。
ここで撮像手段20に対する正透過光とは、照射された光がガラス板2と水晶ブランク1を透過して直接撮像手段20に入射する光をいい、正透過光から外れる光とは、照射された光がガラス板2と水晶ブランク1を透過するが、直接撮像手段20に入射しない光をいう。
この場合、第1照明手段11から撮像手段20に対する正透過光から外れる例えば4種類の赤色光1−1、1−2、1−3、1−4が照射される。
図2に示すように、第1照明手段11からの赤色光1−1はガラス板2を透過し、かつ水晶ブランク1を外れて進む。ガラス板2は透明体からなり、その透明度が高く、このため赤色光1−1はほとんどがガラス板2を透過し、撮像手段20に達することはない。このため赤色光1−1により得られた拡散透過画像30aは黒くなる。
また赤色光1−2はガラス板2を透過し、かつ水晶ブランク1内を進む。水晶ブランク1は内部が半透明体からなり、赤色光1−2は水晶ブランク1内を拡散透過し、拡散透過した光の一部が撮像手段20に達する。このため赤色光1−2により得られた拡散透過画像30aは一様な暗い灰色となる。
さらに赤色光1−3はガラス板2を透過し、かつ水晶ブランク1内を進む。水晶ブランク1は内部が半透明体からなり、赤色光1−3は水晶ブランク1内を拡散透過する。この際赤色光1−3は、水晶ブランク1の傷部分1aにおいて強く拡散して撮像手段20に入る。このため赤色光1−3により得られた拡散透過画像30aは、傷部分1aにおいて白色を示す。
また赤色光1−4はガラス板2を透過し、水晶ブランク1内に入る。この場合、赤色光1−4はガラス板2の傷部分2aにおいて強く拡散して撮像手段20に入る。このため赤色光1−4により得られた拡散透過画像30aは傷部分2aにおいて白色を示す。
なお、水晶ブランク1はガラス板2に比べて光を大きく拡散させるため、拡散透過画像30aにおいて、水晶ブランク1の傷部分1aの方がガラス板2の傷部分2aより強い白色を呈する。
次に図3に示すように、第2照明手段12から中波長としての緑色光をガラス板2と水晶ブランク1に対して照射する。この場合、第2照明手段12は、ガラス板2と水晶ブランク1に向けて、撮像手段20に対する正透過光となる緑色光を照射する。
ここで撮像手段20に対する正透過光とは、照射された光がガラス板2と水晶ブランク1を透過して直接撮像手段20に入射する光をいう。
この場合、第2照明手段12から撮像手段20に対する正透過光となる例えば4種類の緑色光2−1、2−2、2−3、2−4が照射される。
図3に示すように、第2照明手段12からの緑色光2−1はガラス板2を透過し、かつ水晶ブランク1を外れて進む。ガラス板2は透明体からなり、その透明度が高く、このため緑色光2−1はほとんどがガラス板2を透過して、撮像手段20に達する。このため緑色光2−1により得られた正透過画像30bは白くなる。
また緑色光2−2はガラス板2を透過し、かつ水晶ブランク1内を進む。水晶ブランク1は内部が半透明体からなり、緑色光2−2は水晶ブランク1内を拡散透過し、拡散透過した光が撮像手段20に達する。このため緑色光2−2により得られた正透過画像30bは一様な白色となる。
さらに緑色光2−3はガラス板2を透過し、かつ水晶ブランク1内を進む。水晶ブランク1は内部が半透明体からなり、緑色光2−3は水晶ブランク1内を拡散透過する。この際、緑色光2−3は、水晶ブランク1の傷部分1aにおいて強く拡散しその光量を減らした後撮像手段20に入る。このため緑色光2−3により得られた正透過画像30bは、傷部分1aにおいて光量が減るため黒色を示す。
また緑色光2−4はガラス板2を透過し、水晶ブランク1内に入る。この場合、緑色光2−4はガラス板2の傷部分2aにおいて強く拡散しその光量を減らした後、撮像手段20に入る。このため緑色光2−4により得られた正透過画像30bは傷部分2aにおいて光量が減るため黒色を示す。
なお、水晶ブランク1はガラス板2に比べて光を大きく拡散させるため、正透過画像30bにおいて、水晶ブランク1の傷部分1aにおいて大きく光量が減る。よって、水晶ブランク1の傷部分1aの方がガラス板2の傷部分2aより強い黒色を呈する。
次に図4に示すように、第3照明手段13から短波長としての青色光をガラス板2と水晶ブランク1に対して照射させる。この場合、第3照明手段13は、ガラス板2と水晶ブランク1に向けて、撮像手段20に対する正反射光から外れる青色光を照射する。
ここで撮像手段20に対する正反射光とは、照射された光が水晶ブランク1で反射して直接撮像手段20に入射する光をいい、正透過光から外れる光とは、照射された光が水晶ブランク1で反射して直接撮像手段20に入射しない光をいう。
この場合、第3照射手段13から撮像手段20に対する正反射光としての例えば3種類の青色光3−1、3−2、3−3が照射される。
図4に示すように、第3照明手段13からの青色光3−1は水晶ブランク1を外れ、かつガラス板2を透過する。ガラス板2は透明体からなり、その透明度が高く、このため青色光3−1はほとんどがガラス板2を透過し、ガラス板2で反射しないため撮像手段20に達することはない。このため青色光3−1により得られた拡散反射画像30cは黒くなる。
また青色光3−2は水晶ブランク1表面で均一に拡散反射して撮像手段20に達する。このため青色光3−2により得られた拡散反射画像30cは一様な明るい灰色となる。
さらに青色光3−3は水晶ブランク1表面で拡散反射する。この際、青色光3−3は、水晶ブランク1の傷部分1aにおいて不均一に拡散反射して撮像手段20に入る。このため青色光3−3により得られた拡散反射画像30cは、傷部分1aの部分において黒色を示す。
次に図5および図6により、画像処理装置30における作用について説明する。図5および図6に示すように撮像手段20において生成された画像(カラー画像)30a、30b、30cが画像処理装置30へ送られる。そして画像処理装置30に送られた画像は、赤色光により得られた拡散透過画像30a、緑色光により得られた正透過画像30b、および青色光により得られた拡散反射画像30cを含み、これらの画像30a、30b、30cは各々個別に抽出される。
画像処理装置30において、拡散透過画像30aの出力をP1、正透過画像30bの出力をP2、拡散反射画像30cの出力をP3とした場合、−P1+P2+P3の計算式(1)に基づいて計算を行なって合成画像(傷強調画像)30dを得ることができ、この合成画像30dにより水晶ブランク1の傷部分1aが検出される。
すなわち、上記計算式(1)において、−P1+P2+P3のうち、−P1+P2により、水晶ブランク1の傷部分1aを黒色として現わすことができ、このため水晶ブランク1の傷部分1aを鮮明に示すことができる。
一方、−P1+P2により、水晶ブランク1の傷部分1aだけでなく、ガラス板2の傷部分2aも黒色を示すことになる。
このため、(−P1+P2)に対し、更に拡散反射画像P3の出力を加えることにより、水晶ブランク1の傷部分1aをより強い黒色として現わし、この水晶ブランク1の傷部分1aとガラス板2の傷部分2aとの差別化を図ることができる。
次に画像処理装置30において、上述の計算式(1)により得られた合成画像30dに対して、2値化処理が行なわれて、傷部分1aを鮮明に示す2値化処理画像30eが得られる。
次に2値化処理画像30eに対して、面積が小さくかつ長さが短い部分を消去する抽出処理が行なわれて、結果画像30fが得られる。結果画像30f上において、水晶ブランク1の傷部分1aのみが鮮明に示されている。
ここで本実施の形態の作用効果について図6(a)(b)(c)により説明する。
図6(a)に示すように、拡散透過画像30aの出力をP1、正透過画像30bの出力をP2、拡散反射画像30cの出力をP3としたとき、−P1+P2+P3により合成画像30dを得ることにより、水晶ブランク1の傷部分1aを鮮明に示すことができる。
他方、図6(b)に示すように、−P1+P2のように計算して合成画像30dを生成した場合、合成画像30d上で水晶ブランク1の傷部分1aだけでなくガラス板2の傷部分2aも現われてくる。
また図6(c)に示すように、P2+P3のように計算して合成画像30dを生成した場合、合成画像30d上でガラス板2の傷部分2aは薄くなるが、水晶ブランク1の傷部分1aは薄くならず同程度のままとなる。このため、水晶ブランク1の傷部分1aを鮮明に示すことができる。
このように本実施の形態によれば、上述した−P1+P2+P3の計算式(1)により合成画像30dを得ることにより、水晶ブランク1の傷部分1aを強調して示すことができる。
また図1に示すように、ガラス板2の下方から、散乱しにくい長波長としての赤色光を照射することにより、赤色光をガラス板2内に確実に透過させて、水晶ブランク1内に導くことができ、精度良く確実に拡散透過画像30aを得ることができる。また、水晶ブランク1の上方から散乱しやすい短波長としての青色光を照射することにより、青色光を水晶ブランク1上で確実に拡散反射させて精度良く拡散反射画像30eを得ることができる。
なお、上記実施の形態において、画像処理装置30が、−P1+P2+P3の計算式(1)を用いて合成画像30dを生成する例を示したが、これに限らず
−k1×P1+k2×P2+k3×P4(k1、k2、k3は正数)の計算式(2)を用いて合成画像を生成してもよい。
例えば計算式(2)において、k1=1.0、k2=0.5、k3=0.8とすることができる。
また計算式(2)において、k1、k2、k3を1とした場合、計算式(2)は計算式(1)と同一式となる。
また、上記実施の形態において、撮像手段20は、CCDカメラであるとしたが、3種類の異なる色の光を用いて拡散透過画像、正透過画像、拡散反射画像を撮像することができれば、撮像手段20は、第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備えるCMOSカメラからなっていてもよい。
1 水晶ブランク
2 ガラス板
10 透明基板の外観検査装置
11 第1照明手段
12 第2照明手段
13 第3照明手段
20 撮像手段
30 画像処理装置
30a 拡散透過画像
30b 正透過画像
30c 拡散反射画像
30d 合成画像

Claims (10)

  1. 透明基板の外観検査装置において、
    透明基板を載置する透明支持体と、
    透明支持体上方に配置され、透明基板および透明支持体を撮像して画像を生成する撮像手段と、
    透明支持体下方に配置され、撮像手段に対して正透過光から外れる第1色光を透明支持体と透明基板に対して入光させる第1照明手段と、
    透明支持体下方に配置され、撮像手段に対して正透過光としての第2色光を透明支持体と透明基板に対して入光させる第2照明手段と、
    透明支持体上方に配置され、反射光となる第3色光を透明基板に対して入光させる第3照明手段と、
    撮像手段により得られた第1色光による拡散透過画像、第2色光による正透過画像、第3色光による拡散反射画像に基づいて、合成画像を生成して透明基板の傷を検出する画像処理装置とを備えたことを特徴とする透明基板の外観検査装置。
  2. 第1照明手段は第1色光として赤色光を照射し、第2照明手段は第2色光として緑色光を照射し、第3照明手段は第3色光として青色光を照射することを特徴とする請求項1記載の透明基板の外観検査装置。
  3. 画像処理装置は、拡散透過画像の出力をP1、正透過画像の出力をP2、拡散反射画像の出力をP3とした場合、
    −k1×P1+k2×P2+k3×P3(k1、k2、k3は正数)
    の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする請求項1または2記載の透明基板の外観検査装置。
  4. 画像処理装置は、
    −P1+P2+P3の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする請求項3記載の透明基板の外観検査装置。
  5. 撮像手段は第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備えるCCDカメラまたはCMOSカメラを有することを特徴とする請求項1記載の透明基板の外観検査装置。
  6. 透明基板の外観検査方法において、
    透明基板を透明支持体上に載置する工程と、
    透明支持体下方に配置された第1照明手段から透明支持体上方に配置された撮像手段に対して正透過光から外れる第1色光を透明支持体と透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、
    透明支持体下方に配置された第2照明手段から撮像手段に対して正透過光としての第2色光を透明支持体と透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、
    透明支持体上方に配置された第3照明手段から反射光となる第3色光を透明基板に対して入光させて撮像手段により画像を生成する工程と、
    撮像手段により得られた第1色光による拡散透過画像、第2色光による正透過画像、第3色光による拡散反射画像に基づいて、画像処理装置により合成画像を生成して透明基板の傷を検出する工程と、を備えたことを特徴とする透明基板の外観検査方法。
  7. 第1照明手段は第1色光として赤色光を照射し、第2照明手段は第2色光として緑色光を照射し、第3照明手段は第3色光として青色光を照射することを特徴とする請求項6記載の透明基板の外観検査方法。
  8. 画像処理装置は、拡散透過画像の出力をP1、正透過画像の出力をP2、拡散反射画像の出力をP3とした場合、
    −k1×P1+k2×P2+k3×P3(k1、k2、k3は正数)
    の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする請求項6または7記載の透明基板の外観検査方法。
  9. 画像処理装置は、
    −P1+P2+P3の計算式に基づいて透明基板の傷を検出することを特徴とする請求項8記載の透明基板の外観検査方法。
  10. 撮像手段は第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する1個の撮像板、または第1色光、第2色光、および第3色光を受光して画像を生成する2個以上の撮像板を備えるCCDカメラまたはCMOSカメラを有することを特徴とする請求項6記載の透明基板の外観検査方法。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6625475B2 (ja) * 2016-04-22 2019-12-25 株式会社 東京ウエルズ 欠陥検査方法および欠陥検査システム
DE102016107900B4 (de) * 2016-04-28 2020-10-08 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Kantenermittlung eines Messobjekts in der optischen Messtechnik
KR20170133113A (ko) * 2016-05-25 2017-12-05 코닝정밀소재 주식회사 유리 상면 상의 이물질 검출 방법과 장치, 및 입사광 조사 방법
CN106053484A (zh) * 2016-08-03 2016-10-26 常州驰网智能检测技术有限公司 一种液晶玻璃表面异物的检测设备及其检测方法
KR101867589B1 (ko) * 2017-12-27 2018-06-15 주식회사 세코닉스 투명체 검사장치
US11328407B2 (en) 2018-02-26 2022-05-10 Koh Young Technology Inc. Method for inspecting mounting state of component, printed circuit board inspection apparatus, and computer readable recording medium
CN108508053B (zh) * 2018-04-26 2021-01-12 武汉新芯集成电路制造有限公司 一种系统性极微物理缺陷的检测方法
CN108982362A (zh) * 2018-06-27 2018-12-11 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 一种基板检测支撑装置及其检测方法
JP2020085587A (ja) * 2018-11-21 2020-06-04 日本電気硝子株式会社 ガラス板の製造方法、及びガラス板の製造装置
CN109900705B (zh) * 2019-03-18 2022-06-10 合肥京东方光电科技有限公司 一种基板检测装置和检测方法
KR102602029B1 (ko) * 2021-11-11 2023-11-14 주식회사 에타맥스 광루미네선스 검사와 자동광학검사를 동시에 수행하는 마이크로 led 검사장비

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3314440B2 (ja) * 1993-02-26 2002-08-12 株式会社日立製作所 欠陥検査装置およびその方法
JP2821460B2 (ja) 1996-04-24 1998-11-05 株式会社日本マクシス 透明基板の傷検査装置
JP3102850B2 (ja) * 1996-11-28 2000-10-23 株式会社日本マクシス 水晶ブランクの傷検査装置
JP3037671B2 (ja) 1998-07-07 2000-04-24 株式会社日本マクシス 透明基板の検査方法および透明基板の検査装置
US6618136B1 (en) * 1998-09-07 2003-09-09 Minolta Co., Ltd. Method and apparatus for visually inspecting transparent body and translucent body
JP4227272B2 (ja) * 1999-08-11 2009-02-18 株式会社エヌテック 異なる波長の光を用いた物品の検査装置
JP2002122555A (ja) * 2000-10-16 2002-04-26 Nippi:Kk 透明体検査用光源、透明体検査装置およびその検査方法
JP2002214158A (ja) * 2001-01-19 2002-07-31 Central Glass Co Ltd 透明板状体の欠点検出方法および検出装置
JP4157037B2 (ja) * 2001-09-21 2008-09-24 オリンパス株式会社 欠陥検査装置
JP2005127989A (ja) * 2003-10-03 2005-05-19 Olympus Corp 傷検出装置および傷検出プログラム
JP2006030067A (ja) * 2004-07-20 2006-02-02 Asahi Glass Co Ltd ガラス板の欠点検査方法及びその装置
US7567344B2 (en) * 2006-05-12 2009-07-28 Corning Incorporated Apparatus and method for characterizing defects in a transparent substrate
US7369240B1 (en) * 2006-07-20 2008-05-06 Litesentry Corporation Apparatus and methods for real-time adaptive inspection for glass production
JP2010048745A (ja) * 2008-08-25 2010-03-04 Asahi Glass Co Ltd 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法
JP5585301B2 (ja) * 2010-08-24 2014-09-10 オムロン株式会社 シート用の外観検査システム
DE102011109793B4 (de) * 2011-08-08 2014-12-04 Grenzbach Maschinenbau Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur sicheren Detektion von Materialfehlern in transparenten Werkstoffen
JP6500518B2 (ja) * 2015-03-10 2019-04-17 オムロン株式会社 シート検査装置

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