CN108982362A - 一种基板检测支撑装置及其检测方法 - Google Patents

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盛科
王正平
唐广学
历余超
李清
张玉松
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Nanjing CEC Panda LCD Technology Co Ltd
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Abstract

本发明提供一种基板检测支撑装置，包括基台、沿基台上下移动且支撑显示基板的多个支撑柱、位于每个支撑柱内的光源组件，其中，显示基板放置在基台上；所述光源组件由下至上依次包括LED灯、凸透镜和滤光片。本发明通过在基台的支撑柱凹槽内设置光源组件，使光束能够投射到玻璃基板背面，产生透射光，并可以选择支撑柱具有凹槽的位置作为观察点或测量点，可有效提高设备测量和识别的精度，进而提高面板的品质和生产的效率。

Description

一种基板检测支撑装置及其检测方法
技术领域
本发明涉及显示装置制造领域，特别涉及一种基板检测支撑装置。
背景技术
目前面板生产设备因对设备上基台的平整度要求较高，基台(stage)无法使用透光材质，现有基台都是不透光材质，如图1和图2所示，基台10上分布有若干可以伸缩的用于支撑玻璃基板30的支撑柱(pin)20，基台10是不透光材质，这就造成设备在拾取面板的玻璃基板上的标识时经常会出现误差，进而造成面板的良率不高。
发明内容
本发明的目的是提供一种基板检测支撑装置，解决现有设备中测量和识别精度不高的问题。
本发明提供一种基板检测支撑装置，包括基台、沿基台上下移动且支撑显示基板的多个支撑柱、位于每个支撑柱内的光源组件，其中，显示基板放置在基台上；所述光源组件由下至上依次包括LED灯、凸透镜和滤光片。
进一步，所述支撑柱包括收容光源组件的凹槽，所述凹槽位于支撑柱的端部。
进一步，所述支撑柱还包括位于凹槽底部的底壁以及位于凹槽周围的侧壁，LED灯固定在底壁上，侧壁的上端支撑显示基板。
进一步，凸透镜和滤光片间隔一定的距离且均固定在侧壁上。
进一步，所述基台上设有多个收容槽，支撑柱固定对应收容槽内，支撑柱位于显示基板的下方。
进一步，所述LED灯设置于凸透镜的焦点处。
进一步，还包括位于所述基台上方的CCD图像识别装置。
本发明提出一种基板检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：显示基板放置在基台上且由支撑柱支撑；步骤S2：启动检测按钮，支撑柱内的LED灯发出的点光源经过位于支撑柱内的凸透镜产生平行光，平行光投射到显示基板的背面，产生透射光；步骤S3：CCD图像识别装置对显示基板进行图像抓取和检测。在步骤S2的检测过程中，选择支撑柱的凹槽的位置作为观察点或测量点。在步骤S2的检测过程中，使用支撑柱内的滤光片，滤光片过滤掉对显示基板制造过程中对显示基板使用性能产生影响的波段。
本发明通过在基台的支撑柱凹槽内设置光源组件，使光束能够投射到玻璃基板背面，产生透射光，并可以选择支撑柱具有凹槽的位置作为观察点或测量点，可有效提高设备测量和识别的精度，进而提高面板的品质和生产的效率。
附图说明
图1为现有设备基台上支撑柱的分布示意图；
图2为现有设备基台剖面示意图；
图3为本发明面板生产设备剖面图；
图4为本发明生产设备光源组件局部放大图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
如图3和图4所示，本发明提供一种基板检测支撑装置，其包括基台(stage)40、设置基台40上且可沿基台40上下移动的多个支撑柱(pin)50、位于每个支撑柱50内的光源组件60、以及位于基台40上方的CCD图像识别装置70。其中，显示基板30为玻璃基板；CCD图像识别装置70用来精确的识别显示基板30上的图像或者标识。
显示基板30放置在基台(stage)40上，基台(stage)40上设有多个收容槽41，每个收容槽41内固定一个支撑柱50。支撑柱50位于显示基板30的下方。
支撑柱50包括收容光源组件60的凹槽71、位于凹槽71底部的底壁72以及位于凹槽71周围的侧壁73，在本实施例中，凹槽71呈圆柱体，底壁72的表面呈圆形，侧壁73为圆柱体，侧壁73的上端用于支撑显示基板30。
所述光源组件60由下至上依次包括位于底壁72上的LED灯61、凸透镜62和滤光片63，LED灯61设置于凸透镜62的焦点处，凸透镜62和滤光片63间隔一定的距离且均固定在侧壁73上。LED灯61发出的点光源经过凸透镜62产生平行光，平行光能够投射到显示基板30背面，产生透射光，并可以选择支撑柱50具有凹槽的位置作为观察点或测量点，可有效提高设备测量和识别的精度，使用滤光片63可以过滤掉对制程产生影响的波段，可按要求使用长波段通过、短波段通过、固定波段滤光片得到所需波段。
本发明还提供一种基板检测方法，包括如下步骤：
步骤S1：显示基板30放置在基台40上且由支撑柱50支撑；
步骤S2：启动检测按钮，支撑柱50内的LED灯61发出的点光源经过位于支撑柱50内的凸透镜62产生平行光，平行光投射到显示基板30的背面，产生透射光；
步骤S3：CCD图像识别装置70对显示基板30进行图像抓取和检测。
在步骤S2的检测过程中，选择支撑柱50的凹槽的位置作为观察点或测量点，可有效提高设备测量和识别的精度；同时使用滤光片63可以过滤掉对显示基板30制造过程中对显示基板30使用性能产生影响的波段。
本发明通过在支撑柱内设置光源组件，使光束能够投射到玻璃基板背面，产生透射光，并可以选择支撑柱具有凹槽的位置作为观察点或测量点，可有效提高设备测量和识别的精度，进而提高面板的品质和生产的效率。

Claims (10)

1.一种基板检测支撑装置，其特征在于：包括基台、沿基台上下移动且支撑显示基板的多个支撑柱、位于每个支撑柱内的光源组件，其中，显示基板放置在基台上；所述光源组件由下至上依次包括LED灯、凸透镜和滤光片。
2.根据权利要求1所述的基板检测支撑装置，其特征在于：所述支撑柱包括收容光源组件的凹槽，所述凹槽位于支撑柱的端部。
3.根据权利要求2所述的基板检测支撑装置，其特征在于：所述支撑柱还包括位于凹槽底部的底壁以及位于凹槽周围的侧壁，LED灯固定在底壁上，侧壁的上端支撑显示基板。
4.根据权利要求3所述的基板检测支撑装置，其特征在于：凸透镜和滤光片间隔一定的距离且均固定在侧壁上。
5.根据权利要求1所述的基板检测支撑装置，其特征在于：所述基台上设有多个收容槽，支撑柱固定对应收容槽内，支撑柱位于显示基板的下方。
6.根据权利要求1所述的基板检测支撑装置，其特征在于：所述LED灯设置于凸透镜的焦点处。
7.根据权利要求1所述的基板检测支撑装置，其特征在于：还包括位于所述基台上方的CCD图像识别装置。
8.一种基板检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤S1：显示基板放置在基台上且由支撑柱支撑；
步骤S2：启动检测按钮，支撑柱内的LED灯发出的点光源经过位于支撑柱内的凸透镜产生平行光，平行光投射到显示基板的背面，产生透射光；
步骤S3：CCD图像识别装置对显示基板进行图像抓取和检测。
9.根据权利要求8所述的基板检测方法，其特征在于：在步骤S2的检测过程中，选择支撑柱的凹槽的位置作为观察点或测量点。
10.根据权利要求8所述的基板检测方法，其特征在于：在步骤S2的检测过程中，使用支撑柱内的滤光片，滤光片过滤掉对显示基板制造过程中对显示基板使用性能产生影响的波段。
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