CN106940320B - 纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置。在该检查方法中，对具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板的外观恰当地进行检查。一种纵长状的偏振板的检查方法，其是一边将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板沿着该长度方向输送一边对该偏振板的外观进行检查的方法，其包括：对该偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测的工序。

Description

纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置
技术领域
本发明涉及具有非偏振部的纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置。作为代表，涉及包括具有非偏振部的偏振片的偏振板的检查方法以及外观检查装置。
背景技术
对于移动电话、笔记本型个人计算机(PC)等的图像显示装置，存在搭载有照相机等内部电子零部件的图像显示装置。以提高这样的图像显示装置的照相机性能等为目的，进行了各种研究(例如，专利文献1～7)。不过，由于智能手机、触摸面板式的信息处理装置的快速普及，期望的是进一步提高照相机性能等。另外，为了应对图像显示装置的形状的多样化以及高功能化，要求局部地具有偏振性能的偏振板。为了在工业上以及商业上实现这些期望，期望的是以能够容许的成本制造图像显示装置和/或其零部件，结果，为了确定那样的技术，还残留有各种研究事项。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2011－81315号公报
专利文献2：日本特开2007－241314号公报
专利文献3：美国专利申请公开第2004/0212555号说明书
专利文献4：韩国公开专利第10－2012－0118205号公报
专利文献5：韩国专利第10－1293210号公报
专利文献6：日本特开2012－137738号公报
专利文献7：美国专利申请公开第2014/0118826号说明书
发明内容
发明要解决的问题
本发明人等直面如下问题：作为局部地具有偏振性能的偏振板，使用具有非偏振部的偏振片来制作偏振板，将所获得的偏振板供于外观检查，将非偏振部误检测为缺陷。本发明是为了解决该问题而做成的，其主要目的在于提供一种恰当地检查纵长状的偏振板的外观的方法，该纵长状的偏振板包括具有非偏振部的偏振片、且具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部。
用于解决问题的方案
根据本发明，可提供一种一边将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板沿着该长度方向输送一边对该纵长状的偏振板的外观进行检查的方法。该检查方法包括：对该偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；对该缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及基于该缺陷候选部的尺寸对该缺陷进行检测的工序。
在1个技术方案中，上述偏振板具有沿着长度方向以及宽度方向以预定的间隔配置的非偏振部。
在1个技术方案中，上述图像数据的取得是基于上述偏振板的连续的拍摄而进行的。
在1个技术方案中，上述缺陷候选部的提取是基于上述图像数据的亮度信息而进行的。
在1个技术方案中，还包括对上述缺陷候选部是否沿着上述长度方向具有周期性进行判断的工序，上述对缺陷进行检测的工序是基于上述缺陷候选部的尺寸和周期性的有无对缺陷进行检测的工序。
在1个技术方案中，仅对具有超过上述基准值的尺寸的缺陷候选部是否沿着上述长度方向具有周期性进行判断。
在1个技术方案中，上述缺陷候选部的周期性的有无的判断是基于上述缺陷候选部的长度方向上的位置坐标而进行的。
在1个技术方案中，上述缺陷候选部的周期性的有无的判断是基于作为判断对象的缺陷候选部与存在于该缺陷候选部的输送方向上游侧的非偏振部之间的长度方向上的距离是否是预定的距离而进行的。
根据本发明的另一技术方案，可提供偏振板的制造方法。该制造方法包括由上述检查方法检查偏振板。
根据本发明的又一技术方案，可提供纵长状的偏振板的外观检查装置。该外观检查装置包括：拍摄装置，其用于对具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板进行拍摄而取得图像数据；以及图像分析装置，其用于对该图像数据进行分析而对该偏振板的缺陷进行检测。该图像分析装置具有：缺陷候选部提取部，其基于该图像数据提取缺陷候选部；尺寸判断部，其对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断；周期性判断部，其对缺陷候选部是否沿着该长度方向具有周期性进行判断；缺陷检测部，其基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测、或基于缺陷候选部的尺寸和周期性的有无对缺陷进行检测。
发明的效果
根据本发明的检查方法，可避免将非偏振部误检测为缺陷，因此，能够对纵长状的偏振板的外观恰当地进行检查，该纵长状的偏振板包括具有非偏振部的偏振片、且具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部。
附图说明
图1是可供于本发明的检查方法的偏振板的概略剖视图。
图2A是说明非偏振部的配置图案的一个例子的概略俯视图。
图2B是说明非偏振部的配置图案的另一例的概略俯视图。
图2C是说明非偏振部的配置图案的又一例的概略俯视图。
图3是说明可用于本发明的检查方法的检查装置的概略图。
图4是说明本发明的1个实施方式中的缺陷检测的具体的顺序的流程图。
图5是说明本发明的另一实施方式中的缺陷检测的具体的顺序的流程图。
图6是说明在图5中所示的实施方式中的缺陷检测的具体的顺序的概略图。
附图标记说明
10、偏振片；10a、非偏振部；30、偏振板；50、拍摄装置；80、图像分析装置；82、缺陷候选部提取部；84、尺寸判断部；86、周期性判断部；88、缺陷检测部；100、检查装置。
具体实施方式
[A.检查方法以及检查装置]
本发明提供一种一边将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板沿着该长度方向输送一边对该偏振板的外观进行检查的方法。本发明的检查方法包括：对具有非偏振部的偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测的工序。在对缺陷进行检测的工序中，例如，能够将具有超过基准值的尺寸的缺陷候选部识别为非偏振部并加以区别，将具有基准值以下的尺寸的缺陷候选部检测为缺陷。
本发明的检查方法还可包括对缺陷候选部是否沿着长度方向具有周期性进行判断的工序。在该情况下，在上述对缺陷进行检测的工序中，基于缺陷候选部的尺寸以及周期性的有无对缺陷进行检测。更具体而言，将具有基准值以下的尺寸的缺陷候选部检测为缺陷，并且也将不具有周期性的缺陷候选部检测为缺陷。通过从尺寸和周期性这两个侧面对缺陷候选部进行评价，能够提高检查精度。从检查效率的观点出发，优选的是，仅针对具有超过基准值的尺寸的缺陷候选部，判断其有无周期性。在该情况下，将具有基准值以下的尺寸的全部的缺陷候选部检测为缺陷，并且对于具有超过基准值的尺寸的缺陷候选部，仅将其中没有周期性的缺陷候选部检测为缺陷。
A－1.偏振板
供于本发明的检查方法的偏振板是纵长状，具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部。作为代表，该非偏振部源自在偏振片形成的非偏振部。此外，在本说明书中，“纵长状”是指，长度相对于宽度足够长的细长形状，包括例如长度是宽度的10倍以上，优选是20倍以上的细长形状。
图1是可供于本发明的检查方法的偏振板的概略剖视图。偏振板30包括：具有非偏振部的偏振片10；配置于偏振片10的两侧的保护膜11、12。在图示例中，在偏振片的两侧配置有保护膜，但也可以仅在单侧配置有保护膜。或者，偏振板也可以仅由偏振片构成(即、偏振板也可以是偏振片)。
作为代表，偏振片10由含有二色性物质的树脂膜构成。偏振板30是纵长状，因此，偏振片10也是纵长状。偏振片10具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部。在1个实施方式中，偏振片10具有沿着长度方向以及宽度方向以预定的间隔配置的非偏振部。非偏振部的配置图案可根据目的恰当地设定。作为代表，上述非偏振部可在为了将偏振片安装于预定尺寸的图像显示装置而将偏振片裁断成预定尺寸(例如，沿着长度方向和/或宽度方向进行切断、冲裁)之际配置于与该图像显示装置的照相机部相对应的位置。在1个实施方式中，非偏振部沿着长度方向和宽度方向都实质上以等间隔配置。此外，“沿着长度方向和宽度方向都实质上以等间隔”是指，长度方向的间隔是等间隔、且宽度方向的间隔是等间隔，长度方向的间隔和宽度方向的间隔无需相等。在另一实施方式中，也可以是，非偏振部沿着长度方向实质上以等间隔配置、且沿着宽度方向以不同的间隔配置。于在宽度方向上非偏振部以不同的间隔配置的情况下，相邻的非偏振部的间隔既可以全部不同，也可以仅一部分(特定的相邻的非偏振部的间隔)不同。另外，也可以是，沿着偏振片的长度方向规定多个区域，在每个区域设定长度方向和/或宽度方向上的非偏振部的间隔。
图2A～图2C分别说明偏振片10中的非偏振部的配置图案的一个例子的概略俯视图。在1个实施方式中，如图2A所示，非偏振部10a配置成，将在长度方向上相邻的非偏振部连结的直线与长度方向实质上平行，以及将在宽度方向上相邻的非偏振部连结的直线与宽度方向实质上平行。
非偏振部的俯视形状可根据目的采用任意恰当的形状。例如，只要不对使用偏振片的图像显示装置的照相机性能带来不良影响，非偏振部的俯视形状可采用任意恰当的形状。图示例的非偏振部是圆形，但也可以形成为例如椭圆形、正方形、矩形、菱形等。
对于非偏振部的透射率(例如，23℃的条件下以波长为550nm的光测定出的透射率)，优选是50％以上，更优选是60％以上，进一步优选是75％以上，特别优选是90％以上。只要是这样的透射率，就能够在例如以非偏振部与图像显示装置的照相机部相对应的方式配置有偏振片的情况下防止对照相机的拍摄性能的不良影响。
非偏振部可以是任意恰当的形态。在1个实施方式中，非偏振部是局部地脱色而成的脱色部。脱色部是通过例如激光照射或化学处理形成的。在另一实施方式中，非偏振部是贯通孔。贯通孔是通过例如机械冲裁(例如，冲头、汤姆逊刀冲裁、切绘仪(日文：プロッター)、水刀切割)或预定部分的去除(例如，激光烧蚀或化学溶解)形成的。
作为保护膜11、12的形成材料，可列举出例如二乙酰纤维素、三醋酸纤维素等纤维素系树脂、甲基丙烯酸系树脂、环烯系树脂、聚丙烯等烯烃系树脂、聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂等脂系树脂、聚酰胺系树脂、聚碳酸酯系树脂、它们的共聚物树脂等。也可以根据目的、所期望的结构，省略保护膜11、12中的一者。
对于保护膜的厚度，作为代表的是10μm～100μm。作为代表，保护膜借助粘接层(具体而言，粘接剂层、粘合剂层)层叠于偏振片。对于粘接剂层，作为代表的是由PVA系粘接剂、活性能量射线固化型粘接剂形成。对于粘合剂层，作为代表的是由丙烯酸系粘合剂形成。
在实际应用方面，偏振板30具有粘合剂层13作为最外层。作为代表，粘合剂层13成为图像显示装置侧的最外层。在粘合剂层13上以能够剥离的方式临时固定有隔离膜14，能够将粘合剂层保护到实际的使用为止，并且能够形成卷。
偏振板30也可以根据目的还具有任意恰当的光学功能层。作为光学功能层的代表例，可列举出相位差膜(光学补偿膜)、表面处理层。例如，可在保护膜12与粘合剂层13之间配置相位差膜(未图示)。对于相位差膜的光学特性(例如，折射率椭圆体、面内相位差、厚度方向相位差)，可根据目的、图像显示装置的特性等恰当地设定。
表面处理层可配置于保护膜11的外侧(未图示)。作为表面处理层的代表例，可列举出硬涂层、防反射层、防炫层。对于表面处理层，出于例如使偏振片的加湿耐久性提高的目的而优选的是透湿度较低的层。替代设置表面处理层，也可以对保护膜11的表面实施同样的表面处理。
A－2.检查装置
图3是说明可用于本发明的检查方法的检查装置的概略图。在图示的实施方式中，纵长状的偏振板30被向检查装置100输送来进行外观检查。检查装置100包括对偏振板30进行拍摄而取得图像数据的拍摄装置50以及对所获得的图像数据进行分析而对该偏振板30的缺陷进行检测的图像分析装置80。图像分析装置80具有：缺陷候选部提取部82，其基于所获得的图像数据提取缺陷候选部；尺寸判断部84，其对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断；周期性判断部86，其对缺陷候选部是否沿着长度方向具有周期性进行判断；以及缺陷检测部88，其基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测、或基于缺陷候选部的尺寸和周期性的有无对缺陷进行检测。
A－3.取得图像数据的工序(1)
对于工序(1)，可通过使用拍摄装置50对具有上述非偏振部的偏振板进行拍摄而获得图像数据来进行。作为代表，拍摄装置50具有照明部52和拍摄部54。
照明部52可使用任意恰当的光源来构成。对于光源，既可以是白色光源，也可以是单色光源。作为光源的具体例，可列举出荧光灯、卤钨灯、金属卤化灯、LED等。
对于拍摄部54，作为代表的是使用镜头以及图像传感器而构成的照相机。对于拍摄部，优选以能够对偏振板的整个宽度进行拍摄的方式设有1个或多个。另外，对于拍摄部，优选能够拍摄沿着长度方向连续的图像。在1个实施方式中，拍摄部是线传感器照相机。
在图3所示的实施方式中，从配置于上述偏振板的一侧的照明部52向偏振板30照射光，利用以与照明部52相对的方式配置于偏振板30的另一侧的拍摄部54对透过了偏振板30的光进行拍摄。通过对透过光进行拍摄，可获得与非偏振部相对应的区域的亮度比与其他部分相对应的区域的亮度高的像。
在另一实施方式(未图示)中，在上述偏振板的一侧配置有照明部和拍摄部，从该照明部向偏振板从倾斜方向照射光，利用配置于与照明部相同的一侧的拍摄部对被偏振板反射的光进行拍摄。
在又一实施方式(未图示)中，在上述偏振板的一侧配置有照明部和拍摄部，以该拍摄部的照相机的光轴与照射光的光轴一致的方式向偏振板垂直地照射光，并对该光的反射光进行拍摄。
通过根据非偏振部的形态(脱色部、贯通孔等)、偏振板的结构等而选择恰当的拍摄方法来对偏振板进行拍摄，从而可获得与非偏振部相对应的区域的亮度同与其他部分相对应的区域的亮度之差较大的(作为结果，对比度比较大的)图像。对于偏振板的拍摄，既可以按照上述实施方式中的任1个来进行，也可以组合两个以上的实施方式来进行。
优选的是，一边将纵长状的偏振板沿着长度方向输送一边进行拍摄。通过一边进行输送一边进行拍摄，可避免制造生产线的停止进而维持制造效率。
A－4.提取缺陷候选部的工序(2)
由拍摄装置50获得的图像数据作为电信号向图像分析装置80发送。所发送的图像数据由缺陷候选部提取部82分析，由此，可提取缺陷候选部。
在1个实施方式中，基于图像数据的亮度信息提取缺陷候选部。具体而言，预先对正常的偏振板进行拍摄而设定被判定为正常的亮度基准，基于该基准提取缺陷候选部。例如，可将超过被判定为正常的亮度的上限的高亮度部、超过被判定为正常的亮度的下限的低亮度部等判定为缺陷候选部。对于成为异物、气泡、针孔等外观不良的原因的缺陷部，通常其透过率、反射率等与偏振板的正常区域的透过率、反射率等不同，因此，可利用上述那样的亮度基准提取为缺陷候选部。另一方面，在所获得的图像数据中，与非偏振部相对应的区域的透过率、反射率等也同与其他部分相对应的区域的透过率、反射率等不同，因此，可提取为缺陷候选部。
缺陷候选提取部82优选存储缺陷候选部的位置信息(例如、沿着长度方向连续的图像中的长度方向和宽度方向的位置坐标(X，Y))，并向周期性判断部86发送。
A－5.对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序(3)
若由缺陷候选部提取部82提取出缺陷候选部，则针对所提取出的各缺陷候选部，由尺寸判断部84决定其尺寸，进而，对该尺寸是否是基准值以下进行判断。
缺陷候选部的尺寸的决定可通过任意恰当的方法进行。能够基于例如图像数据中的缺陷候选部的像素数、直径、面积等来决定尺寸。对于缺陷候选部的直径，作为代表，在图像数据中，可将连结缺陷候选部的外周上的任意两点的直线中的、最长的长度决定为直径。面积可基于像素数或直径算出。
上述基准值可通过任意恰当的方法来决定。例如，上述基准值可基于非偏振部的尺寸来决定。在例如通过直径判断尺寸的情况下，上述基准值(直径的基准值)能够以下那样来决定。即、基于设计上的非偏振部的形状以及尺寸计算出非偏振部的直径(理论值)、或者、对实际上形成于偏振片的非偏振部的直径(实测值)进行测定，能够将所获得的非偏振部的直径的例如90％、优选95％作为基准值。另外，例如，在缺陷的平均尺寸比非偏振部的尺寸足够小的情况下(例如，在缺陷的平均直径是非偏振部的直径的1/8以下的情况下)，上述基准值能够设为非偏振部的直径的1/4～1/2的值。作为具体例，在非偏振部的直径是2800μm左右，缺陷的平均直径是150μm～300μm的情况下，能够将上述基准值设为1000μm左右。
A－6.对缺陷候选部是否沿着该长度方向具有周期性进行判断的工序(4)
周期性判断部86既可以将所提取的缺陷候选部的全部作为周期性的判断对象，也可以仅将在尺寸判断部84中确认了具有超过基准值的尺寸的缺陷候选部作为判断对象。优选的是，仅将在尺寸判断部84中确认了具有超过基准值的尺寸的缺陷候选部设为判断对象。
在1个实施方式中，3个以上的缺陷候选部以等间隔存在于沿着任意的方向延伸的直线上时，能够判断这些缺陷候选部具有周期性。
在检查对象的偏振板中，至少沿着长度方向以预定的间隔配置有非偏振部，因此，能够基于长度方向上的非偏振部之间的间隔判断周期性。因而，决定偏振板表面上的判断对象的缺陷候选部的位置，通过对以上述预定的间隔存在的非偏振部进行筛选等，能够高效地判断周期性的有无。
在1个实施方式中，缺陷候选部的周期性的有无的判断是基于缺陷候选部的位置坐标(例如，长度方向上的位置坐标)来进行的。例如，将从缺陷候选部提取部发送的缺陷候选部(例如沿着长度方向两个以上、优选3个以上相邻的缺陷候选部)的位置坐标与设计上(理论上)的非偏振部的位置坐标相对照，在位置坐标一致的情况下，能够判断为该缺陷候选部具有周期性。另外，例如，基于从缺陷候选部提取部发送的缺陷候选部的长度方向的位置坐标，求出判断对象的缺陷候选部与存在于判断对象的缺陷候选部的输送方向上游侧的非偏振部(可以是已判断为不是缺陷的缺陷候选部)之间的长度方向的距离，基于该距离是否是预定的距离而进行缺陷候选部的周期性的有无的判断。该距离可以是例如长度方向上的非偏振部的配置间隔(即、上述长度方向上的预定的间隔)、或者、是该预定的间隔的整数倍的距离。
A－7.检测缺陷的工序(5)
缺陷检测部88基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测、或基于缺陷候选部的尺寸和周期性的有无对缺陷进行检测。具体而言，缺陷检测部88将在尺寸判断部84中判断为具有基准值以下的尺寸的缺陷候选部检测为缺陷。缺陷检测部88还能够将在周期性判断部86中判断为具有周期性的缺陷候选部识别为非偏振部并与缺陷候选部区别，将剩余的缺陷候选部检测为缺陷。换言之，缺陷检测部88可将判断为具有基准值以下的尺寸的缺陷候选部以及判断为没有周期性的缺陷候选部检测为缺陷。
图4是说明本发明的1个实施方式中的缺陷检测的具体的顺序的流程图。在图4所示的实施方式中，首先，取得偏振板的图像数据(上述工序(1))。接下来，基于图像数据提取缺陷候选部(上述工序(2))。接下来，对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断(上述工序(3))，将具有超过基准值的尺寸的缺陷候选部判断为非偏振部，而将具有基准值以下的尺寸的缺陷候选部检测为缺陷(上述工序(5))。
图5是说明本发明的另一实施方式中的缺陷检测的具体的顺序的流程图。在图5所示的实施方式中，首先，取得偏振板的图像数据(上述工序(1))。接下来，基于图像数据提取缺陷候选部(上述工序(2))。接下来，对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断(上述工序(3))，针对具有超过基准值的尺寸的缺陷候选部，判断周期性的有无(上述工序(4))。基于所获得的结果，将具有基准值以下的尺寸的缺陷候选部以及具有超过基准值的尺寸、但没有周期性的缺陷候选部检测为缺陷(上述工序(5))。此外，图6的(a)中的白圆表示该实施方式中的工序(2)中所提取的全部的缺陷候选部，图6的(b)中的白圆表示具有超过基准值的尺寸、且作为周期性的有无的判断对象的缺陷候选部，图6的(c)中的黑圆表示判断为具有周期性的缺陷候选部(非偏振部)，白圆表示判断为不具有周期性的缺陷候选部(缺陷)，图6的(d)中的白圆表示最终检测出的缺陷。
A－8.标记工序(6)
检查装置100也可以还具有标记装置(未图示)。标记装置与图像处理装置连接，若图像处理装置(实质上是缺陷检测部)检测出缺陷，则将该缺陷的位置信息向标记装置发送。标记装置基于该位置信息对缺陷部作标记。被标记了的区域在裁断后可作为不良偏振板而被容易地排除。作为标记，可列举出使用了标记笔进行的标记、激光标记。
[B.偏振板的制造方法]
本发明的包括具有非偏振部的偏振片的纵长状的偏振板的制造方法包括：在纵长状的偏振片形成非偏振部；使用具有该非偏振部的纵长状的偏振片来制作偏振板；以及利用上述检查方法对偏振板的外观进行检查。
B－1.偏振片
作为偏振片，作为代表的是，由含有二色性物质的树脂膜构成。作为二色性物质，可列举出例如碘、有机染料等。这些物质可单独使用或可组合二种以上使用。优选使用碘。
作为形成上述树脂膜的树脂，可使用任意恰当的树脂。优选可使用聚乙烯醇系树脂。作为聚乙烯醇系树脂，可列举例如聚乙烯醇、乙烯-乙烯醇共聚物。聚乙烯醇是通过对聚醋酸乙烯进行皂化而获得的。乙烯-乙烯醇共聚物是通过对乙烯-醋酸乙烯共聚物进行皂化而获得的。
对于偏振片(除了非偏振部之外)，优选的是，在波长为380nm～780nm中的任一波长下呈现吸收二色性。对于偏振片(除了非偏振部之外)的单体透射率，优选是39％以上，更优选是39.5％以上，进一步优选是40％以上，特别优选是40.5％以上。此外，单体透射率的理论上的上限是50％，实际应用的上限是46％。另外，单体透射率是利用JIS Z8701的2度视场(C光源)测定并进行了能见度校正而得到的Y值，能够使用例如显微分光系统(LambdaVision Inc.制、LVmicro)来测定。对于偏振片的偏振度(除了非偏振部之外)，优选是99.9％以上，更优选是99.93％以上，进一步优选是99.95％以上。
偏振片的厚度可设定成任意恰当的值。对于厚度，优选是30μm以下，更优选是25μm以下，进一步优选是20μm以下，特别优选是10μm以下。另一方面，对于厚度，优选是0.5μm以上，进一步优选是1μm以上。
偏振片的吸收轴可根据目的设定于任意恰当的方向。吸收轴的方向既可以是例如长度方向也可以是宽度方向。在长度方向具有吸收轴的偏振片具有例如制造效率优异这样的优点。在宽度方向具有吸收轴的偏振片具有例如能够通过卷对卷与在长度方向具有慢轴的相位差膜层叠这样的优点。在1个实施方式中，吸收轴与长度方向或宽度方向实质上平行，且偏振片的宽度方向两端被与长度方向平行地分割加工。根据这样的结构，能够以偏振片的端边为基准进行裁断，能够容易地制造在所期望的位置具有非偏振部、且在恰当的方向具有吸收轴的多个偏振片。此外，偏振片的吸收轴可与后述的延伸处理中的延伸方向相对应。
作为代表，偏振片通过对上述树脂膜实施膨润处理、延伸处理、利用上述二色性物质进行的染色处理、交联处理、清洗处理、干燥处理等各种处理而获得。在实施各种处理时，树脂膜也可以是在基材上形成的树脂层。上述非偏振部的形成也可在偏振片的制作工序的中途进行。
B－2.非偏振部的形成
优选的是，非偏振部是脱色部。根据这样的结构，与以机械方式(利用使用例如汤姆逊刀冲裁、切绘机、水刀切割等而机械性地落料的方法)形成贯通孔的情况相比，裂纹、分层(层间剥离)、糊溢出等品质上的问题被避免。脱色部优选是通过使碱性溶液与偏振片(含有二色性物质的树脂膜)的所期望的位置接触而形成的。由这样的方法形成的非偏振部可设为二色性物质的含量比其他部位(非接触部)的二色性物质的含量低的低浓度部。低浓度部的二色性物质自身的含量较低，因此，与利用激光等使二色性物质分解而形成脱色部的情况相比，良好地维持非偏振部的透明性。
对于上述低浓度部的二色性物质的含量，优选是1.0重量％以下，更优选是0.5重量％以下，进一步优选是0.2重量％以下。低浓度部的二色性物质的含量的下限值通常是检测极限值以下。对于上述其他部位的二色性物质的含量与低浓度部中的二色性物质的含量之差，优选是0.5重量％以上，进一步优选是1重量％以上。在使用碘作为二色性物质的情况下，对于碘含量，根据例如以荧光X线分析测定的X线强度并利用预先使用标准试样而作成的检量线求出。
作为上述碱性溶液所含有的碱性化合物，可使用任意恰当的化合物。作为碱性化合物，可列举出例如氢氧化钠、氢氧化钾、氢氧化锂等碱金属的氢氧化物、氢氧化钙等碱土类金属的氢氧化物、碳酸钠等无机碱金属盐、醋酸钠等有机碱金属盐、氨水等。其中，优选使用碱金属和/或碱土类金属的氢氧化物，进一步优选使用氢氧化钠、氢氧化钾、氢氧化锂。能够使二色性物质效率良好地离子化，能够更简便地形成脱色部。对于这些的碱性化合物，既可以单独使用，也可以组合使用二种以上。
作为碱性溶液的溶剂，优选使用水、酒精。对于碱性溶液的浓度，例如是0.01N～5N，优选是0.05N～3N，进一步优选是0.1N～2.5N。碱性溶液的液温例如是20℃～50℃。碱性溶液的接触时间可根据偏振片的厚度、碱性溶液所含有的碱性化合物的种类、浓度设定。对于接触时间，例如是5秒～30分，优选是5秒～5分。
作为碱性溶液的接触方法，可采用任意恰当的方法。可列举出例如使碱性溶液相对于偏振片滴下、涂敷、喷雾的方法、使偏振片浸渍于碱性溶液的方法。也可以是，在接触碱性溶液之际，用任意恰当的保护材料保护偏振片，以使碱性溶液不与所期望的部位以外的部位接触。作为这样的保护材料，可使用例如保护膜、表面保护膜。保护膜能够直接用作偏振片的保护膜。表面保护膜可在制造偏振片时临时使用。表面保护膜在任意恰当的时刻从偏振片拆除，因此，作为代表，借助粘合剂层贴合于偏振片。作为保护材料的另一具体例，可列举光致抗蚀剂等。另外，也可将在上述偏振片的制作工序中使用的基材用作保护材料。
优选的是，在接触碱性溶液之际，偏振片表面以其至少一部分暴露的方式被表面保护膜包覆。对于具有图示例那样的非偏振部的配置图案的偏振片，将在与该配置图案相对应的位置形成有与所期望的非偏振部尺寸相对应的小圆形的贯通孔的表面保护膜贴合于偏振片的单侧来准备偏振膜层叠体，使该偏振膜层叠体与碱性溶液接触，从而制造出该偏振板。此时，优选偏振片的另一侧(形成有贯通孔的表面保护膜(第1保护膜)没有配置的一侧)也被保护。优选的是保护膜、表面保护膜的贴合通过卷对卷的方式来进行。在本说明书中，“卷对卷”是指，一边输送卷状的膜一边将彼此的长度方向对齐而层叠。
作为上述表面保护膜的形成材料，可列举出聚对苯二甲酸乙二醇脂系树脂等脂系树脂、降冰片烯系树脂等环烯系树脂、聚乙烯、聚丙烯等烯烃系树脂、聚酰胺系树脂、聚碳酸酯系树脂、它们的共聚物树脂等。优选是脂系树脂(尤其是，聚对苯二甲酸乙二醇脂系树脂)。其原因在于，弹性模量充分高，例如即使在输送和/或贴合时施加张力，也难以产生贯通孔的变形。对于表面保护膜的厚度，作为代表的是20μm～250μm，优选是30μm～150μm。
第1表面保护膜具有以预定的图案配置的贯通孔。贯通孔的位置与要形成非偏振部的位置相对应。贯通孔的形状与所期望的非偏振部的形状相对应。贯通孔是通过例如机械冲裁(例如，冲头、汤姆逊刀冲裁、切绘机、水刀切割)或膜的预定部分的去除(例如，激光烧蚀或化学溶解)而形成的。
在1个实施方式中，上述碱性溶液在与偏振片接触后，可利用任意恰当的方法从偏振片去除。根据这样的实施方式，能够更可靠地防止例如非偏振部的透射率随着偏振片的使用而降低。作为碱性溶液的去除方法的具体例，可列举出清洗、由废棉纱头等进行的擦拭去除、吸引去除、自然干燥、加热干燥、送风干燥、减压干燥等。优选的是，碱性溶液被清洗。作为清洗所用的清洗液，可列举出例如水(纯水)、甲醇、乙醇等醇、以及它们的混合溶剂等。优选使用水。清洗次数并没有特别限定，也可以进行多次。在通过干燥将碱性溶液去除的情况下，其干燥温度例如是20℃～100℃。
优选的是，在与上述碱性溶液接触后，在与碱性溶液接触的接触部中，使树脂膜所含有的碱金属和/或碱土类金属减少。通过使碱金属和/或碱土类金属减少，能够获得尺寸稳定性优异的非偏振部。具体而言，即使在加湿环境下，也能够一直维持通过与碱性溶液接触而形成的非偏振部的形状。
通过与碱性溶液接触，可在接触部残存碱金属和/或碱土类金属的氢氧化物。另外，通过与碱性溶液接触，可在接触部生成碱金属和/或碱土类金属的金属盐(例如，硼酸盐)。这些金属盐可生成氢氧化物离子，所生成的氢氧化物离子作用(使分解·还原)于在接触部周围存在的二色性物质(例如，碘络合物)，可使非偏振区域扩大。因而，认为：通过使碱金属和/或碱土类金属盐减少来抑制非偏振区域随着时间经过而扩大，可维持所期望的非偏振部形状。
对于上述非偏振部的碱金属和/或碱土类金属的含量，优选是3.6重量％以下，更优选是2.5重量％以下，进一步优选是1.0重量％以下，特别优选是0.5重量％以下。对于碱金属和/或碱土类金属的含量，例如能够根据利用荧光X线分析测定的X线强度并通过预先使用标准试样而作成的检量线求出。
作为上述使碱金属和/或碱土类金属减少的方法，优选使用使酸性溶液同其与碱性溶液的接触部接触的方法。根据这样的方法，使碱金属和/或碱土类金属向酸性溶液高效地转移，能够使其含量减少。与酸性溶液的接触既可以在去除上述碱性溶液后进行，也可以不去除碱性溶液就进行。
作为上述酸性溶液所含有的酸性化合物，能够使用任意恰当的酸性化合物。作为酸性化合物，可列举例如盐酸、硫酸、硝酸、氟化氢等无机酸、甲酸、草酸、柠檬酸、醋酸、苯甲酸等有机酸等。对于酸性溶液所含有的酸性化合物，在这些之中优选无机酸，进一步优选盐酸、硫酸、硝酸。对于这些酸性化合物，既可以单独使用，也可以组合使用两种以上。
作为酸性溶液的溶剂，可优选使用水、酒精。对于酸性溶液的浓度，例如是0.01N～5N，优选是0.05N～3N，进一步优选是0.1N～2.5N。酸性溶液的液温例如是20℃～50℃。酸性溶液的接触时间例如是5秒～5分。此外，对于酸性溶液的接触方法，可采用与上述碱性溶液的接触方法同样的方法。另外，酸性溶液可从偏振片去除。对于酸性溶液的去除方法，可采用与上述碱性溶液的去除方法同样的方法。
作为代表，在如上述那样形成非偏振部后(优选在使碱金属和/或碱土类金属减少后)，表面保护膜可被剥离去除。
B－3.偏振板的制作
作为代表，如上述那样获得的具有非偏振部的纵长状的偏振片构成了偏振片/保护膜的层叠体。该层叠体能够直接用作偏振板，另一方面，根据目的等通过在该层叠体层叠保护膜等其他构成构件，可获得作为最终产品的具有任意恰当的结构的偏振板。另外，获得由单一的树脂膜形成的偏振片的情况也同样，根据用途等，通过在其单侧或两侧层叠保护膜等其他构成构件，可获得作为最终产品的具有任意恰当的结构的偏振板。对于所层叠的其他构成构件，如A－1项中所记载那样。
上述其他构成构件的层叠可通过所谓的卷对卷的方式进行。
B－4.偏振板的外观检查
将如上述那样获得的偏振板供于A项所记载的检查方法。在A项所记载的检查方法中，通过对具有非偏振部的偏振板的外观进行检查，不将非偏振部误检测为缺陷，而能够检测作为目标的缺陷(异物、气泡、针孔等)，因此，能够高级地兼顾检查效率和检查精度。其结果，可以优异的制造效率获得高品质的偏振板。
B－5.偏振板的裁断
本发明的偏振板的制造方法还可包括将纵长状的偏振板裁断成所期望的尺寸的工序。对于裁断，可通过切断、冲裁等来进行。对于纵长状的偏振板，优选裁断成，具有与要安装的图像显示装置相对应的尺寸、并且在安装到图像显示装置之际在与图像显示装置的照相机部对应的位置具有非偏振部。
对于被裁断的偏振板，优选对缺陷部作标记，因此，可在裁断后基于该标记将次品的偏振板容易地排除。
产业上的可利用性
本发明的检查方法可适合用于制造例如智能手机等移动电话、笔记本型PC、平板PC等带照相机的图像显示装置(液晶显示装置、有机EL器件)所具有的偏振板之际。

Claims (9)

1.一种纵长状的偏振板的检查方法，其是将具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板一边沿着该长度方向输送一边对该偏振板的外观进行检查的方法，其中，
该检查方法包括：
对该偏振板进行拍摄而取得图像数据的工序；
对该图像数据进行分析而提取缺陷候选部的工序；
对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断的工序；以及
基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测的工序，
所述缺陷候选部的提取是基于所述图像数据的亮度信息而进行的。
2.根据权利要求1所述的纵长状的偏振板的检查方法，其中，
所述偏振板具有沿着长度方向和宽度方向以预定的间隔配置的非偏振部。
3.根据权利要求1或2所述的纵长状的偏振板的检查方法，其中，
所述图像数据的取得是基于所述偏振板的连续的拍摄而进行的。
4.根据权利要求1或2所述的纵长状的偏振板的检查方法，其中，
该检查方法还包括对所述缺陷候选部是否沿着所述长度方向具有周期性进行判断的工序，
所述对缺陷进行检测的工序是基于所述缺陷候选部的尺寸和周期性的有无来对缺陷进行检测的工序。
5.根据权利要求4所述的纵长状的偏振板的检查方法，其中，
仅对具有超过所述基准值的尺寸的缺陷候选部，判断是否沿着所述长度方向具有周期性。
6.根据权利要求4所述的纵长状的偏振板的检查方法，其中，
所述缺陷候选部的周期性的有无的判断是基于所述缺陷候选部的长度方向上的位置坐标而进行的。
7.根据权利要求4所述的纵长状的偏振板的检查方法，其中，
所述缺陷候选部的周期性的有无的判断是基于判断对象的缺陷候选部与存在于该判断对象的缺陷候选部的输送方向上游侧的非偏振部之间的长度方向的距离是否是预定的距离而进行的。
8.一种纵长状的偏振板的制造方法，该偏振板包括具有非偏振部的偏振片，该偏振板的制造方法包括利用权利要求1～7中任一项所述的纵长状的偏振板的检查方法对偏振板进行检查。
9.一种纵长状的偏振板的外观检查装置，其包括：
拍摄装置，其对具有沿着长度方向以预定的间隔配置的非偏振部的纵长状的偏振板进行拍摄而取得图像数据；
图像分析装置，其对该图像数据进行分析而对该偏振板的缺陷进行检测，
该图像分析装置具有：
缺陷候选部提取部，其基于该图像数据提取缺陷候选部；
尺寸判断部，其对缺陷候选部是否具有基准值以下的尺寸进行判断；
周期性判断部，其对缺陷候选部是否沿着该长度方向具有周期性进行判断；以及
缺陷检测部，其基于缺陷候选部的尺寸对缺陷进行检测、或基于缺陷候选部的尺寸和周期性的有无对缺陷进行检测，
所述缺陷候选部的提取是基于所述图像数据的亮度信息而进行的。
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