WO2015025703A1 - 欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システム - Google Patents

欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システム Download PDF

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WO2015025703A1
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optical
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polarizer
polarizing filter
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大輔 橋口
功士 加集
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住友化学株式会社
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    • G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133528—Polarisers

Definitions

  • the present invention relates to a defect inspection apparatus, an optical member manufacturing system, and an optical display device production system.
  • This application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2013-172344 for which it applied on August 22, 2013, and uses the content here.
  • Patent Document 1 As a defect inspection apparatus for an optical member including a polarizer, a defect inspection apparatus described in Patent Document 1 is known.
  • the defect inspection apparatus of Patent Literature 1 is disposed on an optical path between a light source disposed on one side of an optical member, an image capturing apparatus disposed on the other side of the optical member, and the image capturing apparatus and the optical member. And a polarizing filter having an absorption axis perpendicular to the absorption axis of the child.
  • the defect inspection apparatus is installed on a production line of an optical member or a conveyance line that conveys the optical member toward an object to be bonded such as a liquid crystal panel.
  • a protective film serving as a protective layer is bonded to both sides of a polarizer, and the polarizer with the protective film bonded is wound into a roll to produce a raw roll of optical member To do.
  • a defect inspection apparatus is installed on the conveyance line of the laminated
  • the defect inspection apparatus normally inspects the presence or absence of defects on the bonding surface side of the optical member (the surface side bonded to the bonding object such as a liquid crystal panel). Therefore, a polarizing filter is installed in the bonding surface side of an optical member.
  • a light source is installed below the conveyance line of the optical member, and a polarizing filter and an imaging device are installed above the conveyance line.
  • the light emitted from the light source is converted into linearly polarized light by the polarizer, and then part of the light is caused by the foreign matter. Scattered. Since part of the scattered light is disturbed in its polarization state, it passes through the polarizing filter and is detected as a bright spot by the imaging device.
  • the light emitted from the light source is scattered by the foreign matter and then enters the polarizer. , Converted into linearly polarized light.
  • This linearly polarized light does not pass through the polarizing filter unless there is a defect such as a foreign substance that disturbs the polarization state between the polarizer and the polarizing filter. Therefore, in the imaging apparatus, the dark field is maintained and no defect is detected.
  • the upper surface or the lower surface of the optical member is used as the bonding surface is determined in advance, and the arrangement of the light source, the imaging device, and the polarizing filter of the defect inspection device is also fixed accordingly.
  • the upper surface of an optical member serves as a pasting surface, and a polarizing filter is also installed above the optical member.
  • a polarizing plate in which triacetyl cellulose (TAC) serving as a protective layer is laminated on both surfaces of a polarizer made of polyvinyl alcohol (PVA: Poly Vinyl Alcohol). PVA / TAC) is known.
  • TAC triacetyl cellulose
  • PVA Poly Vinyl Alcohol
  • either TAC or another film is preferably bonded to the upper surface side of the polarizer.
  • the position of the other film transport line is determined either above or below the polarizer transport line, and the intended defect inspection cannot be performed. There is.
  • a protective film is laminated on the surface of the other film, and when the polarizer and the other film are bonded, the protective film is removed from the other film.
  • a method of peeling is conceivable.
  • a peeling mechanism such as a knife edge is installed immediately before bonding the polarizer and another film, and the other film after peeling is bonded to the polarizer while peeling the protective film from the other film. become.
  • the installation space for the peeling mechanism may be provided only on either the upper side or the lower side of the polarizer transport line.
  • the position of the other film transport line is also limited to either the upper side or the lower side of the polarizer transport line. If the transport line of the other film is limited to the upper side of the transport line of the polarizer, and the other film is bonded to the side opposite to the bonding surface side of the optical member, In the defect inspection apparatus, defect inspection on the bonding surface side of the optical member cannot be performed.
  • An object of an aspect of the present invention is to provide a defect inspection apparatus and an optical display device production system capable of easily switching defect inspection between one side and the other side of an optical member.
  • a defect inspection apparatus is a defect inspection apparatus for an optical member including a polarizer, disposed on the first side of the optical member, and a light source for irradiating the optical member with light.
  • An imaging device that is disposed on the second side of the optical member and captures an image of transmitted light from the optical member, and is disposed on an optical path between the light source and the optical member, and an absorption axis of the polarizer
  • a first polarizing filter having a first absorption axis perpendicular to the first and a second polarizing axis disposed on an optical path between the imaging device and the optical member and having a second absorption axis perpendicular to the absorption axis of the polarizer;
  • Second moving equipment that moves forward and backward with respect to the optical path Characterized in that it comprises a and.
  • the first moving device in the first imaging mode, is controlled to move the first polarizing filter on the optical path between the light source and the optical member. And controlling the arrangement of the first polarizing filter so that the absorption axis of the polarizer and the first absorption axis are perpendicular to each other, and the second moving device moves the second polarizing filter to the second polarizing filter. Control is performed so as to move to a position shifted from the optical path between the imaging device and the optical member. In the second imaging mode, the first moving device moves the first polarizing filter to the light source and the optical device.
  • Control is performed so as to move to a position shifted from the optical path between the member and the second moving device moves the second polarizing filter onto the optical path between the imaging device and the optical member.
  • Control to let Performs may further include a control device that controls the placement of the second polarizing filter such that the absorption axis of the polarizer and the second absorption axes are orthogonal.
  • An optical member manufacturing system is an optical member manufacturing system including a polarizer, and includes an optical member manufacturing apparatus that manufactures the optical member, and the presence or absence of defects in the optical member. And the defect inspection apparatus according to (1) or (2) to be inspected.
  • the optical member is laminated on a polarizer, a first protective layer laminated on the first surface of the polarizer, and a second surface of the polarizer.
  • the optical member manufacturing apparatus is disposed on the first side of the polarizer supply path, the first supply unit supplying the polarizer, and the first protective layer.
  • a second supply part that supplies a laminated member that includes a third protective layer laminated on the third surface of the first protective layer, and a second supply part that is disposed on the second side of the polarizer supply path,
  • a third supply unit that supplies the second protective layer, and a peeling unit that is disposed on the first side of the supply path of the polarizer and peels the third protective layer from the laminated member to form the first protective layer.
  • a third supply unit that supplies the second protective layer, and a peeling unit that is disposed on the first side of the supply path of the polarizer and peels the third protective layer from the laminated member to form the first protective layer.
  • An optical display device production system is an optical display device production system in which an optical member is bonded to an optical display component, and a transport apparatus for transporting the optical member; A bonding apparatus for producing the optical display device by bonding the optical member conveyed by the conveying apparatus to the optical display component; and a defect of the optical member conveyed from the conveying apparatus to the bonding apparatus. And the defect inspection apparatus according to the above (1) or (2) for inspecting the presence or absence.
  • a defect inspection apparatus capable of easily switching defect inspection between one side and the other side of an optical member. Can do.
  • FIG. 1 is a side view showing an example of an optical film manufacturing system 100 which is an optical member manufacturing system according to an embodiment of the present invention.
  • the example which manufactures a polarizing film as an optical film is demonstrated.
  • the optical film includes at least a polarizer film, a plurality of optical elements such as a retardation film and a brightness enhancement film may be laminated in addition to the polarizing film.
  • the transport direction of the long optical film is the X direction
  • the direction (width direction of the long optical film) orthogonal to the X direction in the plane of the optical film is the Y direction, the X direction, and the Y direction.
  • the direction orthogonal to the direction is the Z direction.
  • an optical film manufacturing system 100 includes an optical film manufacturing apparatus 101 (optical member manufacturing apparatus) that manufactures an optical film F10, and a defect inspection apparatus 102 that inspects the presence or absence of defects in the optical film F10. And.
  • optical film manufacturing apparatus 101 optical member manufacturing apparatus
  • defect inspection apparatus 102 that inspects the presence or absence of defects in the optical film F10.
  • the optical film F10 (optical member) used in the present embodiment is, for example, a polarizer film F11 (polarizer) made of PVA (polyvinyl alcohol) or the like, and a COP (cycloolefin polymer) film F13 (first) as a protective film. 1 protective layer) and a TAC (triacetyl cellulose) film F15 (second protective layer).
  • polarizer film F11 the surface on which the COP film F13 is laminated may be referred to as a first surface.
  • the surface on which the TAC film F15 is laminated may be referred to as a second surface.
  • a PET (polyethylene terephthalate) film, an MMA (methyl methacrylate) film, and the like can be used as the protective film.
  • the optical film manufacturing apparatus 101 supplies a first supply unit 110 that supplies a polarizer film F11, and a second supply that supplies a laminated film F12 having a COP film F13 and a COP film protective film F14 (third protective layer).
  • a film laminating device 114 that laminates three films of the TAC film F15 to produce one optical film F10, and a winding unit 115 that winds up the optical film F10 are provided.
  • the 1st supply part 110 draws out the polarizer film F11 along the longitudinal direction while hold
  • the second supply unit 111 holds the raw fabric roll R12 around which the belt-like laminated film F12 is wound, and feeds the laminated film F12 along its longitudinal direction.
  • the 2nd supply part 111 is arrange
  • the 3rd supply part 112 unwinds TAC film F15 along the longitudinal direction while hold
  • the third supply unit 112 is disposed on the other side of the supply path of the polarizer film F11 (the ⁇ Z direction side shown in FIG. 1). Note that the ⁇ Z direction side shown in FIG. 1, which is the other side of the supply path of the polarizer film F11, may be called the second side of the supply path of the polarizer film F11.
  • the peeling unit 113 has a configuration in which the protective film F14 for COP film is peeled from the laminated film F12 fed out from the second supply unit 111 and wound on a roll.
  • the peeling part 113 has a knife edge 113a and a winding part 113b.
  • the protective film F14 for COP film is laminated on one surface of the COP film F13 (on the bonding surface to be bonded to the polarizer film F11). Thereby, it can suppress that the surface (bonding surface bonded with polarizer film F11) of the protective film F14 for COP films is damaged.
  • one surface of the COP film F13 on which the COP film protective film F14 is laminated may be referred to as a third surface.
  • the knife edge 113a extends over at least the entire width in the width direction of the laminated film F12.
  • the knife edge 113a is wound around the laminated film F12 unwound from the raw roll R12 so as to be in sliding contact with the COP film protective film F14 side.
  • the knife edge 113a winds the laminated film F12 at an acute angle at its tip.
  • the knife edge 113a separates the COP film F13 from the protective film F14 for COP film when the laminated film F12 is folded at an acute angle at the tip.
  • the knife edge 113a supplies the COP film F13 to the film laminating apparatus 114.
  • the winding part 113b winds up the protective film F14 for COP film that has become independent through the knife edge 113a and holds it as a peeling roll R14.
  • the peeling part 113 is arrange
  • the arrangement configuration of the second supply unit 111, the third supply unit 112, and the peeling unit 113 is not limited to this.
  • both the second supply unit 111 and the peeling unit 113 are arranged on the other side of the supply path of the polarizer film F11 (the ⁇ Z direction side shown in FIG. 1), and the third supply unit 112 is the polarizer film F11. May be arranged on one side of the supply path (+ Z direction side shown in FIG. 1).
  • the film laminating apparatus 114 is provided with a pair of rollers 114a and 114b.
  • a polarizer film F11, a COP film F13, and a TAC film F15 are overlapped and supplied between the rollers 114a and 114b. And by pressing by both rollers 114a and 114b, the polarizer film F11, the COP film F13, and the TAC film F15 are bonded together, and one optical film F10 is manufactured.
  • the peeling film, the protective film, etc. may be further laminated
  • the optical film F is transported toward the defect inspection apparatus 102 by a transport roller (not shown).
  • the defect inspection apparatus 102 includes a light source 120 arranged above the optical film F10 (on the + Z direction side shown in FIG. 1) and an imaging device 122 arranged below the optical film F10 (on the ⁇ Z direction side shown in FIG. 1).
  • the ⁇ Z direction side shown in FIG. 1 where the imaging device 122 as described above is arranged may be called the second side of the optical film F10. *
  • the defect data of the optical film F10 detected by the defect inspection apparatus 102 is stored in the storage device in association with the position of the optical film F10 (position in the longitudinal direction and position in the width direction of the optical film F10).
  • the optical film F10 inspected by the defect inspection apparatus 102 is conveyed toward the winding unit 115. And it winds up in roll shape in the winding-up part 115, and the original fabric roll R10 of the optical film F10 is manufactured.
  • FIG. 2 is a side view of the defect inspection apparatus 102 according to an embodiment of the present invention.
  • symbol Sf1 is the upper surface of the optical film F10 (the surface on one side of the optical member), which is the surface on the COP film F13 side.
  • Reference numeral Sf2 is a lower surface of the optical film F10 (the surface on the other side of the optical member), which is a surface on the TAC film F15 side.
  • the defect inspection apparatus 102 of the present embodiment includes a light source 120 disposed on the upper surface Sf1 side of the optical film F10, an imaging device 122 disposed on the lower surface Sf2 side of the optical film F10, The first polarizing filter 121 disposed on the optical path between the light source 120 and the optical film F10, the second polarizing filter 123 disposed on the optical path between the imaging device 122 and the optical film F10, and the first polarization A first moving device 130 that moves the filter 121 forward and backward toward the optical path between the light source 120 and the optical film F10, and a second polarizing filter 123 that moves forward and backward toward the optical path between the imaging device 122 and the optical film F10.
  • a second moving device 131 to be operated, and a control device 132 can move the first moving device 130 forward and backward with respect to the optical path between the light source 120 and the optical film F10, and the second moving device 131 can move the second polarized light.
  • the filter 123 can be moved back and forth with respect to the optical path between the imaging device 122 and the optical film F10.
  • the control device 132 controls the forward / backward movement of the first polarizing filter 121 and the second polarizing filter 123.
  • the control device 132 can control each of the first moving device 130 and the second moving device 131 independently.
  • the center of the light exit surface 120a of the light source 120 and the center of the light receiving surface 122a of the imaging device 122 are arranged coaxially (on the optical axis CL).
  • FIG. 3 is a diagram for explaining the positional relationship between the first absorption axis V1 of the first polarizing filter 121 (the second absorption axis V2 of the second polarizing filter 123) and the absorption axis V0 of the polarizer film F11. is there.
  • the first polarizing filter 121 has a first absorption axis V1 orthogonal to the absorption axis V0 of the polarizer film F11.
  • the first polarizing filter 121 is disposed on the optical path between the light source 120 and the optical film F10 such that the first absorption axis V1 of the first polarizing filter 121 and the absorption axis V0 of the polarizer film F11 are orthogonal to each other ( Cross Nicol arrangement).
  • the second polarizing filter 123 has a second absorption axis V2 orthogonal to the absorption axis V0 of the polarizer film F11.
  • the second polarizing filter 123 is disposed on the optical path between the imaging device 122 and the optical film F10 such that the second absorption axis V2 of the second polarizing filter 123 and the absorption axis V0 of the polarizer film F11 are orthogonal to each other. (Cross Nicol arrangement).
  • FIG. 4 and 5 are diagrams for explaining the inspection principle of the defect E1 by the defect inspection apparatus 102.
  • FIG. FIG. 4 is a diagram when the defect E1 exists in the COP film F13.
  • FIG. 5 is a diagram in the case where there is no defect in the COP film F13, but there is a defect E2 in the TAC film F15. 4 and 5, for convenience, the second polarizing filter 123, the first moving device 130, the second moving device 131, and the control device 132 are not shown.
  • the light L1 emitted from the light source 120 toward the optical film F10 is converted into linearly polarized light L2 by the first polarizing filter 121.
  • the linearly polarized light L2 obtained by the first polarizing filter 121 is incident on the COP film F13.
  • the polarization state of the linearly polarized light L2 is disturbed by the defect E1 present in the COP film F13, and a part of the light (light L3) whose polarization state is disturbed is transmitted through the polarizer film F11.
  • the light L3 transmitted through the polarizer film F11 enters the imaging device 122, and the imaging device 122 images the defect E1 brightly as a bright spot.
  • the light L1 emitted from the light source 120 toward the optical film F10 is converted into linearly polarized light L2 by the first polarizing filter 121.
  • the linearly polarized light L2 obtained by the first polarizing filter 121 is incident on the COP film F13.
  • the linearly polarized light L2 cannot pass through the polarizer film F11.
  • the imaging device 122 captures a black image. In this case, the defect E2 present in the TAC film F15 is not visible.
  • the presence or absence of the defect E1 of the COP film F13 can be determined by detecting the presence of the bright spot. For example, when a bright spot is imaged by the imaging device 122, it is determined that the COP film F13 is “defective”. On the other hand, when a black image is captured by the imaging device 122 (when nothing is captured), it is determined that the COP film F13 is “no defect”.
  • FIG. 6 is a plan view of the defect inspection apparatus 102. In FIG. 6, for convenience, the optical film F10 is illustrated.
  • the light emission surface 120a of the light source 120 that constitutes the defect inspection apparatus 102 is rectangular and has a length along the Y direction.
  • the light exit surface 120a of the light source 120 has a length along the width direction orthogonal to the transport direction of the optical film F10.
  • the light emission surface 120a of the light source 120 is formed across the width direction with respect to the optical film F10.
  • a metal halide lamp can be used as the light source 120.
  • the first polarizing filter 121 is disposed so as to overlap the outer periphery of the light exit surface 120a of the light source 120.
  • the first polarizing filter 121 has a longitudinal direction along the Y direction, similarly to the light exit surface 120 a of the light source 120.
  • the first polarizing filter 121 is longer than the light exit surface 120a of the light source 120 in each of the X direction and the Y direction.
  • the first polarizing filter 121 when the first polarizing filter 121 is disposed on the optical path between the light source 120 and the optical film F10, all the light emitted from the light source 120 enters the first polarizing filter 121.
  • the imaging device 122 also has a longitudinal direction along the Y direction, similarly to the light exit surface 120a of the light source 120.
  • a line sensor camera can be used as the imaging device 122.
  • the second polarizing filter 123 is disposed so as to overlap the outer periphery of the light receiving surface 122a of the imaging device 122. Similar to the light receiving surface 122a of the imaging device 122, the second polarizing filter 123 has a length along the Y direction. The second polarizing filter 123 is longer than the light receiving surface 122a of the imaging device 122 in each of the X direction and the Y direction.
  • the optical film F10 described above is cut into a predetermined size by a cutting device (not shown) and is used as a polarizing plate as a sheet piece to be bonded to a liquid crystal panel.
  • a liquid crystal display device as an optical display device is manufactured by bonding the polarizing plate to the liquid crystal panel.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating a bonding example of a polarizing plate (TAC / PVA / TAC) with respect to the liquid crystal panel P in which the configuration of the polarizing plate is TAC / PVA / TAC.
  • the adhesion layer F16 is arrange
  • the polarizing plate (TAC / PVA / TAC) is bonded to the liquid crystal panel P via the adhesive layer F16.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a bonding example of a polarizing plate (COP / PVA / TAC) with respect to the liquid crystal panel P in which the configuration of the polarizing plate is COP / PVA / TAC.
  • the adhesion layer F16 is arrange
  • the configuration of COP / PVA / TAC as shown in FIG. It is desirable to paste the TAC side surface of the polarizing plate with the liquid crystal panel P using the polarizing plate.
  • the surface on the TAC side of the polarizing plate is a bonding surface with the liquid crystal panel P. Therefore, when manufacturing the optical film F10 using the manufacturing apparatus 100 of FIG. 1, it is the structure by which the COP film F13 is bonded on the upper surface of the polarizer film F11. Therefore, the polarizing filter of the defect inspection apparatus needs to be installed below the conveyance line of the optical film F10.
  • TAC films are arranged on both sides of the PVA film. Therefore, any one side of a pair of TAC films should just be made into the bonding surface side of a polarizing plate, and even if it is a conventional defect inspection apparatus, it is applicable, without changing an apparatus structure.
  • the TAC film is disposed only on one side of the PVA film. Therefore, if the TAC film side is set to the bonding surface side of the polarizing plate so as to change the state of warping of the liquid crystal panel P, in the case of a conventional defect inspection apparatus, the apparatus configuration needs to be significantly changed.
  • the supply part 111 is also arrange
  • the aspect of the present invention employs the following configuration so that the defect inspection between the one surface side and the other surface side of the optical film can be easily switched.
  • the defect inspection apparatus 102 according to an embodiment of the present invention is disposed on the upper side of the optical film F10, and a light source 120 that irradiates light to the optical film F10, and a lower side of the optical film.
  • the first absorption axis that is arranged and arranged on the optical path between the light source 120 and the optical film F10 and orthogonal to the absorption axis of the polarizer film F11, and an imaging device 122 that picks up an image of transmitted light from the optical film
  • a second polarizing filter 123 having a second absorption axis that is disposed on the optical path between the imaging device 122 and the optical film F10 and orthogonal to the absorption axis of the polarizer film F11,
  • a first moving device 130 that moves the first polarizing filter 121 forward and backward toward the optical path between the light source 120 and the optical film F10, and a second polarizing filter 123.
  • a second moving device 131 for advancing and retracting toward the optical path between the imaging device 122 and the optical film F10 characterized in that it comprises a.
  • the first moving device 130 can move the first polarizing filter 121 forward and backward with respect to the optical path between the light source 120 and the optical film F10, and the second moving device 131 can move the second polarized light.
  • the filter 123 can be moved back and forth with respect to the optical path between the imaging device 122 and the optical film F10.
  • the polarizing filter is disposed on both the upper surface side and the lower surface side of the optical film F10. Therefore, it is possible to easily inspect defects on the upper surface side and the lower surface side of the optical film F10 by moving each polarizing filter forward and backward on the optical path between the light source 120 and the imaging device 122 according to the configuration of the optical film F10. Can be switched. Therefore, it is possible to easily cope with the defect inspection of the optical film F10 having various configurations while having a space-saving and inexpensive configuration.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the defect inspection apparatus 102 in the first imaging mode of the polarizing plate (TAC (1) / PVA / TAC (2)).
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a bonding example of the polarizing plate (TAC (1) / PVA / TAC (2)) to the liquid crystal panel P in the first imaging mode.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining the defect inspection apparatus 102 in the first imaging mode of the polarizing plate (COP / PVA / TAC).
  • FIG. 12 is a diagram illustrating a bonding example of the polarizing plate (COP / PVA / TAC) to the liquid crystal panel P in the first imaging mode.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining the defect inspection apparatus 102 in the second imaging mode.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating an example of bonding of the polarizing plate to the liquid crystal panel P in the second imaging mode.
  • the TAC film on the bonding surface side of the polarizing plate is the TAC (1) film “TAC (1)”, and the TAC film on the opposite side to the bonding surface side of the polarizing plate is TAC (2). It is shown as the film “TAC (2)”.
  • the control device 132 is configured such that the first moving device 130 changes the first polarizing filter 121 to the light source 120 and the polarizing plate (TAC (1) / PVA / TAC (2)). Is controlled so as to be moved on the optical path between the optical axis CL (first position Q1 on the optical axis CL) and the absorption axis of the PVA film and the first absorption axis of the first polarizing filter 121 are orthogonal to each other.
  • the second moving device 131 controls the second polarizing filter 123 between the imaging device 122 and the polarizing plate (TAC (1) / PVA / TAC (2)). Is controlled to move to a position shifted from the optical path (second position Q2 shifted from the optical axis CL).
  • the control device 132 performs control so that the first moving device 130 arranges the center of the first polarizing filter 121 at the first position Q1 on the optical axis CL.
  • the arrangement of the first polarizing filter 121 is controlled so that the absorption axis of the PVA film and the first absorption axis of the first polarizing filter 121 are orthogonal to each other, and the second moving device 131 includes the second polarizing filter. Control is performed so that the center of 123 is arranged at the second position Q2 that is offset from the optical axis CL.
  • the second position Q2 is set to a position where the second polarizing filter 123 is retracted from the visual field range of the imaging device 122. That is, the second position Q2 is set to a position where the second polarizing filter 123 does not fall within the field of view of the imaging device 122. If the second position Q2 is too close to the optical axis CL, the second polarizing filter 123 enters the visual field range of the imaging device 122. On the other hand, if the second position Q2 is too far from the optical axis CL, it takes time to move the second polarizing filter 123 to a position on the optical axis CL, and it becomes difficult to smoothly shift to another imaging mode.
  • the second position Q2 in the present embodiment is set to a distance in the range of 30 mm to 50 mm from the optical axis CL, for example.
  • the second position Q2 is more preferably set to a distance in the range of 35 mm to 45 mm from the optical axis CL.
  • the absorption axis of the PVA film and the first absorption axis of the first polarizing filter 121 are arranged in crossed Nicols.
  • the defect inspection of the TAC film (1) disposed on the optical path between the first polarizing filter 121 and the PVA film can be performed.
  • the light emitted from the light source 120 toward the polarizing plate (TAC (1) / PVA / TAC (2)) is converted into linearly polarized light by the first polarizing filter 121.
  • the linearly polarized light obtained by the first polarizing filter 121 is incident on the TAC film (1).
  • the imaging device 122 captures a black image. In this case, the TAC film (1) is determined as “no defect”.
  • the TAC film (1) when the TAC film (1) has a defect, the linearly polarized light incident on the TAC film (1) is disturbed in the polarization state by the defect, and a part of the light whose polarization state is disturbed is transmitted through the PVA film. As a result, the light transmitted through the PVA film enters the image pickup device 122, and the image pickup device 122 picks up an image of the defect as a bright spot. In this case, the TAC film (1) is determined as “defect”.
  • the first imaging mode it is possible to perform a crossed Nicol transmission inspection on the side of the TAC film (1) laminated on the upper surface of the PVA film, and the polarizing plate (TAC (1) / PVA / TAC (1)). And defect inspection on the bonding surface side of the liquid crystal panel P can be performed.
  • the adhesion layer F16 is arrange
  • the polarizing plate (TAC (1) / PVA / TAC (2)) is bonded to the liquid crystal panel P via the adhesive layer F16.
  • a defect inspection of the COP film disposed on the optical path between the first polarizing filter 121 and the PVA film can be performed.
  • the light emitted from the light source 120 toward the polarizing plate (COP / PVA / TAC) is converted into linearly polarized light by the first polarizing filter 121.
  • the linearly polarized light obtained by the first polarizing filter 121 is incident on the COP film.
  • the imaging device 122 captures a black image. In this case, the COP film is determined to be “no defect”.
  • the COP film when the COP film has a defect, the linearly polarized light incident on the COP film is disturbed in the polarization state by the defect, and a part of the light whose polarization state is disturbed is transmitted through the PVA film. As a result, the light transmitted through the PVA film enters the image pickup device 122, and the image pickup device 122 picks up an image of the defect as a bright spot. In this case, the COP film is determined as “defect”.
  • the crossed Nicol transmission inspection of the COP film laminated on the upper surface of the PVA film can be performed, and the COP film serving as the bonding surface side of the polarizing plate (COP / PVA / TAC) Defect inspection can be performed.
  • the adhesion layer F16 is arrange
  • a polarizing plate (COP / PVA / TAC) arrange
  • the control device 132 causes the first moving device 130 to place the first polarizing filter 121 on the optical path between the light source 120 and the polarizing plate (COP / PVA / TAC).
  • the second moving device 131 controls the second polarizing filter 123 with the imaging device 122 and the polarizing plate (COP / COP / COP /).
  • PVA / TAC is controlled so as to move on the optical path (fourth position Q4 on the optical axis CL) between the PVA film and the absorption axis of the PVA film and the second absorption axis of the second polarizing filter 123
  • the arrangement of the second polarizing filter 123 is controlled so that the two are orthogonal to each other.
  • the control device 132 controls the first moving device 130 so that the center of the first polarizing filter 121 is disposed at the third position Q3 that is shifted from the optical axis CL. And the second moving device 131 performs control so that the center of the second polarizing filter 123 is disposed at the fourth position Q4 on the optical axis CL, and the absorption axis of the PVA film and the second polarizing filter 123 are controlled.
  • the arrangement of the second polarizing filter 123 is controlled so that the second absorption axis is orthogonal to the second absorption axis.
  • the third position Q3 is set to a position where the light emitted from the light source 120 can be prevented from being blocked by the crossed Nicols arrangement of the first polarizing filter 121 and the PVA film. If the third position Q3 is too close to the optical axis CL, a part of the light emitted from the light source 120 is blocked by the crossed Nicols arrangement of the first polarizing filter 121 and the PVA film. On the other hand, if the third position Q3 is too far from the optical axis CL, it takes time to move the first polarizing filter 121 to a position on the optical axis CL, and it becomes difficult to smoothly shift to another imaging mode.
  • the third position Q3 in the present embodiment is set to a distance in the range of 30 mm to 50 mm from the optical axis CL, for example.
  • the third position Q3 is more preferably set to a distance in the range of 35 mm to 45 mm from the optical axis CL.
  • the absorption axis of the PVA film and the second absorption axis of the second polarizing filter 123 are arranged in crossed Nicols.
  • the defect inspection of the TAC film disposed on the optical path between the PVA film and the second polarizing filter 123 can be performed.
  • the light emitted from the light source 120 toward the polarizing plate (COP / PVA / TAC) is transmitted through the COP film and is linearly polarized by the PVA film.
  • the linearly polarized light obtained by the PVA film is incident on the TAC film.
  • the imaging device 122 captures a black image. In this case, the TAC film is determined as “no defect”.
  • the TAC film has a defect
  • the polarization state of the linearly polarized light incident on the TAC film is disturbed by the defect, and a part of the light whose polarization state is disturbed is transmitted through the second polarizing filter 123.
  • the light transmitted through the second polarizing filter 123 enters the imaging device 122, and the imaging device 122 captures a bright image of the defect as a bright spot. In this case, it is determined that the TAC film is “defective”.
  • the cross nicols transmission inspection of the TAC film laminated on the lower surface of the PVA film can be performed, and the TAC film which becomes the bonding surface side of the polarizing plate (COP / PVA / TAC). Defect inspection can be performed.
  • the adhesion layer F16 is arrange
  • a polarizing plate (COP / PVA / TAC) arrange
  • This configuration is an effective configuration as a countermeasure against warping of the liquid crystal panel P.
  • the light source 120 and the imaging device 122 are fixed at fixed positions.
  • the defect inspection apparatus 102 can freely select the first imaging mode and the second imaging mode under the control of the control device 132. Therefore, even if the configuration of the polarizing plates is different, the defect on the bonding surface side of each polarizing plate can be detected by the same defect inspection apparatus 102. That is, according to this embodiment, it is not necessary to exchange the positions of the light source and the imaging device, and no significant change in the device configuration is required. Therefore, according to this embodiment, it is possible to easily switch the defect inspection between the one surface side and the other surface side of the optical film F10.
  • the optical film F10 includes a COP film F13 laminated on the upper surface of the polarizer film F11 and a TAC film F15 laminated on the lower surface of the polarizer film F11.
  • the portion 113 is disposed on the upper side of the supply path of the polarizer film F11.
  • the polarizing plate COP / PVA / TAC
  • the warping state of the liquid crystal panel P is different. It becomes clear that it can be applied, and a defect inspection on the TAC film side that becomes the bonding surface side of the polarizing plate (COP / PVA / TAC) may be necessary.
  • the defect inspection on the TAC film side that is the bonding surface side of the polarizing plate cannot be performed as it is. Therefore, it is necessary to change the positions of the light source, the polarizing filter, and the image pickup device, and the device configuration needs to be significantly changed.
  • the light source 120 and the imaging device 122 are fixed in place. Therefore, the defect inspection on the bonding surface side of the optical film F10 can be easily performed as compared with the configuration in which the light source and the imaging device are moved.
  • the film bonding system 1 which comprises the one part is demonstrated as a production system of the optical display device which concerns on one Embodiment of this invention.
  • the film bonding system 1 which concerns on this embodiment is comprised by the defect inspection apparatus 102 which the 1st defect inspection apparatus 9 and the 2nd defect inspection apparatus mentioned above.
  • FIG.15 and FIG.16 is a side view which shows the apparatus structure of the film bonding system 1 of this embodiment.
  • the film bonding system 1 bonds a film-shaped optical member such as a polarizing film, an antireflection film, and a light diffusion film to a panel-shaped optical display component such as a liquid crystal panel or an organic EL panel.
  • the transport direction of the liquid crystal panel which is an optical display component
  • the direction orthogonal to the X direction (the width direction of the liquid crystal panel) in the plane of the liquid crystal panel is the Y direction, X direction, and Y direction.
  • the direction orthogonal to the Z direction is taken as the Z direction.
  • liquid crystal panel P is illustrated as an optical display component
  • seat F5 on the front and back both surfaces of liquid crystal panel P is illustrated as an optical member bonding body.
  • the present invention is not limited to this.
  • the film bonding system 1 of the present embodiment is provided as a step in the production line of the liquid crystal panel P.
  • Each part of the film bonding system 1 is comprehensively controlled by the control part 2 as an electronic control apparatus.
  • the film bonding system 1 turns the posture of the liquid crystal panel P by 90 ° in the middle with respect to the transport direction of the liquid crystal panel P.
  • the film bonding system 1 bonds the polarizing film F1 on the front and back surfaces of the liquid crystal panel P so that the polarization axes are orthogonal to each other.
  • FIG. 17 is a plan view of the liquid crystal panel P viewed from the thickness direction of the liquid crystal layer P3.
  • the liquid crystal panel P includes a first substrate P1 that has a rectangular shape in plan view, a second substrate P2 that has a relatively small rectangular shape that is disposed to face the first substrate P1, a first substrate P1, and a second substrate. And a liquid crystal layer P3 sealed between the substrate P2.
  • the liquid crystal panel P has a rectangular shape that follows the outer shape of the first substrate P1 in a plan view, and a region that fits inside the outer periphery of the liquid crystal layer P3 in a plan view is a display region P4.
  • FIG. 18 is a cross-sectional view of the optical sheet F including the optical member F1 bonded to the liquid crystal panel P.
  • the optical sheet F includes a film-like optical member F1, an adhesive layer F2 provided on one surface (upper surface in the drawing) of the optical member F1, and the optical member F1 via the adhesive layer F2.
  • the separator F3 is detachably stacked on one surface of the optical member F1, and the surface protective film F4 is stacked on the other surface (lower surface in the drawing) of the optical member F1.
  • the optical member F1 functions as a polarizing plate, and is bonded over the entire display area P4 of the liquid crystal panel P and its peripheral area.
  • the optical member F1 is bonded to the liquid crystal panel P via the adhesive layer F2 in a state where the separator F3 is separated while leaving the adhesive layer F2 on one surface thereof.
  • excluding the separator F3 from the optical sheet F is called the bonding sheet
  • the separator F3 protects the adhesive layer F2 and the optical member F1 before being separated from the adhesive layer F2.
  • the surface protective film F4 is bonded to the liquid crystal panel P together with the optical member F1.
  • the surface protective film F4 is disposed on the side opposite to the liquid crystal panel P with respect to the optical member F1, protects the optical member F1, and is separated from the optical member F1 at a predetermined timing.
  • the optical sheet F may be configured not to include the surface protective film F4, or the surface protective film F4 may not be separated from the optical member F1.
  • the optical member F1 includes a sheet-like polarizer F6, a first film F7 bonded to one surface of the polarizer F6 with an adhesive or the like, and a first film F7 bonded to the other surface of the polarizer F6 with an adhesive or the like. 2 film F8.
  • the first film F7 and the second film F8 are protective films that protect the polarizer F6, for example.
  • the optical member F1 may have a single-layer structure including a single optical layer, or a stacked structure in which a plurality of optical layers are stacked on each other.
  • the optical layer may include a retardation film, a brightness enhancement film, and the like in addition to the polarizer F6.
  • At least one of the first film F7 and the second film F8 may be subjected to a surface treatment capable of obtaining an effect such as a hard coat treatment for protecting the outermost surface of the liquid crystal display element or an antiglare treatment.
  • the optical member F1 may not include at least one of the first film F7 and the second film F8.
  • the separator F3 may be bonded to one surface of the optical member F1 via the adhesive layer F2.
  • the film bonding system 1 of this embodiment is the conveyance direction downstream of the liquid crystal panel P of the left side in a figure from the conveyance direction upstream side (+ X direction side) of the liquid crystal panel P of the right side in a figure.
  • a driving roller conveyor 3 that reaches the side ( ⁇ X direction side) and conveys the liquid crystal panel P in a horizontal state is provided.
  • the roller conveyor 3 is divided into an upstream conveyor and a downstream conveyor with a reversing device (not shown) as a boundary.
  • the liquid crystal panel P is transported so that the long side of the display area P4 is along the transport direction.
  • the downstream conveyor the liquid crystal panel P is transported so that the short side of the display area P4 is along the transport direction.
  • a bonding sheet F5 cut out to a predetermined length from the belt-shaped optical sheet F is bonded to the front and back surfaces of the liquid crystal panel P.
  • the film bonding system 1 of the present embodiment includes a first supply device 7, a first bonding device 11, a reversing device, a second supply device, a second bonding device, an inspection device, and a control unit 2.
  • a first supply device 7 a first bonding device 11, a reversing device, a second supply device, a second bonding device, an inspection device, and a control unit 2.
  • the illustration is abbreviate
  • the 1st supply apparatus 7 is mentioned and demonstrated as an apparatus structure of the film bonding system 1 among a 1st supply apparatus and a 2nd supply apparatus. Since the second supply device has the same configuration as that of the first supply device 7, detailed description thereof is omitted.
  • the first supply device 7 draws the optical sheet F from the raw roll R1 around which the belt-shaped optical sheet F is wound, and supplies the optical sheet F after cutting it to a predetermined size.
  • the first supply device 7 includes a first transport device 8, a pre-inspection peeling device 18, a first defect inspection device 9, a post-inspection bonding device 19, and a first cutting device 10.
  • the first transport device 8 is a transport mechanism that transports the optical sheet F along its longitudinal direction.
  • the 1st conveying apparatus 8 has the roll holding
  • the roll holding unit 8a holds the original fabric roll R1 around which the belt-shaped optical sheet F is wound, and feeds the optical sheet F along the longitudinal direction thereof.
  • the nip roller 8b sandwiches the optical sheet F so as to guide the optical sheet F unwound from the raw roll R1 along a predetermined conveyance path.
  • the guide roller 8c changes the traveling direction of the optical sheet F being conveyed along the conveyance path. At least one of the plurality of guide rollers 8c functions as a tension roller. That is, it moves to adjust the tension of the optical sheet F being conveyed.
  • the accumulator 8d absorbs the feeding amount of the optical sheet F conveyed from the roll holding unit 8a while the optical sheet F is cut by the first cutting device 10.
  • the roll holding unit 8a positioned at the start point of the first transport device 8 and the winding unit 8e (see FIG. 16) positioned at the end point of the first transport device 8 are driven in synchronization with each other, for example.
  • the winding part 8e winds up the separator F3 which passed through the 1st bonding apparatus 11, while the roll holding
  • the upstream side in the transport direction of the optical sheet F (separator F3) in the first transport device 8 is referred to as a sheet transport upstream side
  • the downstream side in the transport direction is referred to as a sheet transport downstream side.
  • the pre-inspection peeling device 18 has a configuration in which the first separator H1 (corresponding to the separator F3) is peeled from the optical sheet F conveyed from the upstream side of the sheet conveyance and wound on a roll.
  • the pre-inspection peeling device 18 includes a knife edge 18a and a winding portion 18b.
  • the knife edge 18a extends at least over the entire width in the width direction of the optical sheet F.
  • the knife edge 18a is wound so as to be in sliding contact with the first separator H1 side of the optical sheet F unwound from the raw roll R1.
  • the knife edge 18a winds the optical sheet F at an acute angle at its tip.
  • the knife edge 18a separates the bonding sheet F5 from the first separator H1 when the optical sheet F is folded back at an acute angle at the tip portion.
  • the knife edge 18a supplies the bonding sheet F5 to the first defect inspection apparatus 9.
  • the winding unit 18b winds up the first separator H1 that has become independent through the knife edge 18a and holds it as a first separator roll R2.
  • the 1st defect inspection apparatus 9 performs the defect inspection of the optical sheet F after peeling of the 1st separator H1, ie, the bonding sheet
  • the first defect inspection device 9 analyzes the image data picked up by the CCD camera to inspect for the presence or absence of a defect, and if there is a defect, calculates the position coordinates. The position coordinates of this defect are provided for the skip cut by the first cutting device 10.
  • the first defect inspection apparatus 9 is configured by the defect inspection apparatus 102 described above.
  • the post-inspection bonding apparatus 19 bonds the second separator H2 (corresponding to the separator F3) to the bonding sheet F5 after the defect inspection through the adhesive layer F2.
  • the post-inspection bonding apparatus 19 includes a roll holding unit 19a and a pinching roll 19b.
  • the roll holding part 19a holds the second separator roll R3 around which the belt-like second separator H2 is wound and feeds the second separator H2 along the longitudinal direction thereof.
  • the pinching roll 19b bonds the second separator H2 unwound from the second separator roll R3 to the lower surface (surface on the adhesive layer F2 side) of the bonding sheet F5 after defect inspection conveyed from the sheet conveying upstream side.
  • the pinching roll 19b has a pair of bonding rollers arranged in parallel with each other in the axial direction (the upper bonding roller moves up and down). A predetermined gap is formed between the pair of bonding rollers, and the inside of this gap is the bonding position of the post-inspection bonding apparatus 19. In the gap, the bonding sheet F5 and the second separator H2 are overlapped and introduced.
  • the bonding sheet F5 and the second separator H2 are sent out to the downstream side of the sheet conveyance while being pressed by the pressing roll 19b. Thereby, the 2nd separator H2 is bonded by the lower surface of the bonding sheet
  • the first cutting device 10 performs a half cut for cutting a part in the thickness direction of the optical sheet F over the entire width in the width direction orthogonal to the longitudinal direction of the optical sheet F when the optical sheet F is fed out a predetermined length. Do.
  • the first cutting device 10 adjusts the advancing / retreating position of the cutting blade so that the optical sheet F (separator F3) is not broken by the tension acting during the conveyance of the optical sheet F (so that a predetermined thickness remains in the separator F3). Then, half-cutting is performed to the vicinity of the interface between the adhesive layer F2 and the separator F3. In addition, you may use the laser apparatus replaced with a cutting blade.
  • the optical member F1 and the surface protection film F4 are cut in the thickness direction, whereby a cut line extending over the entire width of the optical sheet F is formed.
  • a plurality of cutting lines are formed so as to be arranged in the longitudinal direction of the belt-shaped optical sheet F.
  • a plurality of score lines are formed at equal intervals in the longitudinal direction of optical sheet F.
  • the optical sheet F is divided into a plurality of sections in the longitudinal direction by the plurality of cut lines. Each section sandwiched between a pair of cut lines adjacent in the longitudinal direction in the optical sheet F is a sheet piece in the bonding sheet F5.
  • the first cutting device 10 cuts to a predetermined size (skip cut) so as to avoid the defective portion based on the position coordinates of the defect calculated by the first defect inspection device 9.
  • a cut product including a defective portion is excluded as a defective product in a subsequent process.
  • the first cutting apparatus 10 may continuously cut the optical sheet F into a predetermined size while ignoring the defective portion. In this case, in the bonding step between the bonding sheet F5 and the liquid crystal panel P, the cut product including the defective portion can be removed without bonding to the liquid crystal panel P.
  • the 1st bonding apparatus 11 is mentioned and demonstrated as an apparatus structure of the film bonding system 1 among a 1st bonding apparatus and a 2nd bonding apparatus. Since the 2nd bonding apparatus is the structure similar to the 1st bonding apparatus 11, the detailed description is abbreviate
  • the 1st bonding apparatus 11 bonds the bonding sheet
  • the 1st bonding apparatus 11 has the knife edge 11a and the pinching roll 11b.
  • the knife edge 11a supplies the bonding sheet F5 to the bonding position while winding the optical sheet F subjected to the half cut at an acute angle to separate the bonding sheet F5 from the separator F3.
  • the pinching roll 11b bonds the bonding sheet F5 having a predetermined length separated from the optical sheet F by the knife edge 11a to the upper surface of the liquid crystal panel P conveyed by the upstream conveyor.
  • the pinching roll 11b has a pair of laminating rollers that are arranged with their axial directions parallel to each other. A predetermined gap is formed between the pair of bonding rollers, and the inside of this gap is the bonding position of the first bonding apparatus 11.
  • the liquid crystal panel P and the bonding sheet F5 are overlapped and introduced into the gap. These liquid crystal panel P and the bonding sheet
  • the panel after this bonding is called single-sided bonding panel P11.
  • the winding unit 8e winds up the second separator H2 that has become independent through the knife edge 11a and holds it as a second separator roll R4.
  • a reversing device conveys the liquid crystal panel P, which is provided downstream of the first laminating device 11 and reaches the end position of the upstream conveyor, to the start position of the downstream conveyor.
  • the reversing device holds the single-sided bonding panel P11 that has reached the end position of the upstream conveyor via the first bonding device 11 by suction or clamping.
  • the reversing device reverses the front and back of the single-sided bonding panel P11.
  • the reversing device changes the direction so that, for example, the single-sided bonding panel P11 that has been transported in parallel with the long side of the display region P4 is transported in parallel with the short side of the display region P4.
  • the reversal is performed when the optical members F1 to be bonded to the front and back surfaces of the liquid crystal panel P are arranged so that the directions of the polarization axes are perpendicular to each other.
  • a reversing device having a reversing arm having a rotation axis parallel to the transport direction may be used.
  • the sheet conveying direction of the first supply device 7 and the sheet conveying direction of the second supply device are arranged so as to be perpendicular to each other in a plan view, the optical axes in which the polarization axis directions are perpendicular to each other on the front and back surfaces of the liquid crystal panel P.
  • the member F1 can be bonded.
  • the second supply device has the same configuration as the first supply device 7, detailed description thereof is omitted.
  • the second supply device draws the optical sheet F from the raw roll around which the belt-shaped optical sheet F is wound, and supplies the optical sheet F after cutting it into a predetermined size.
  • the second supply device includes a second transport device, a pre-inspection peeling device, a second defect inspection device, a post-inspection bonding device, and a second cutting device.
  • the second bonding apparatus performs bonding of the bonding sheet F5 cut into a predetermined size on the upper surface of the liquid crystal panel P introduced into the bonding position.
  • the 2nd bonding apparatus has the same knife edge as the 1st bonding apparatus 11, and a pinching roll.
  • the single-sided bonding panel P11 and the bonding sheet F5 are introduced into the gap between the pair of bonding rollers of the pinching roll (the bonding position of the second bonding apparatus), and the single-sided bonding panel P11.
  • a bonding sheet F5 is integrally bonded to the upper surface of the sheet.
  • this panel after bonding is referred to as a double-sided bonding panel (optical member bonding body).
  • the inspection device (not shown) is provided on the panel transport downstream side of the second bonding device.
  • the inspection device inspects for the presence or absence of defects (such as poor bonding) on the double-sided bonded panel.
  • defects to be inspected include defects such as bites of foreign substances and bubbles when bonding the liquid crystal panel and the bonding sheet, scratches on the surface of the bonding sheet, and alignment defects inherent in the liquid crystal panel. .
  • control part 2 as an electronic control apparatus which controls each part of the film bonding system 1 is comprised including the computer system.
  • This computer system includes an arithmetic processing unit such as a CPU and a storage unit such as a memory and a hard disk.
  • the control unit 2 of the present embodiment includes an interface that can execute communication with an external device of the computer system.
  • An input device that can input an input signal may be connected to the control unit 2.
  • the input device includes an input device such as a keyboard and a mouse, or a communication device that can input data from a device external to the computer system.
  • the control unit 2 may include a display device such as a liquid crystal display that indicates the operation status of each unit of the film bonding system 1 or may be connected to the display device.
  • the storage unit of the control unit 2 includes a program for causing the arithmetic processing unit to control each unit of the film bonding system 1 to execute processing for causing each unit of the film bonding system 1 to accurately convey the optical sheet F. It is recorded.
  • Various types of information including programs recorded in the storage unit can be read by the arithmetic processing unit of the control unit 2.
  • the control unit 2 may include a logic circuit such as an ASIC that performs various processes required for controlling each unit of the film bonding system 1.
  • the storage unit is a concept including a semiconductor memory such as a RAM (Random Access Memory) and a ROM (Read Only Memory), and an external storage device such as a hard disk, a CD-ROM reader, and a disk-type storage medium.
  • the storage unit includes program software in which the control procedure of the operation of the first supply device 7, the first bonding device 11, the reversing device, the second supply device, the second bonding device, and the inspection device is described. A storage area to be stored and various other storage areas are set.
  • the first defect inspection apparatus 9 of the present embodiment is configured by the defect inspection apparatus 102 described above. Therefore, even if it is a case where the structure of the bonding sheet
  • SYMBOLS 1 Film bonding system (production system of an optical display device), 8 ... 1st conveying apparatus (conveying apparatus), 9 ... 1st defect inspection apparatus (defect inspection apparatus), 11 ... 1st bonding apparatus (bonding apparatus) ), 100 ... Optical film manufacturing system (optical member manufacturing system), 101 ... Optical film manufacturing apparatus (optical member manufacturing apparatus), 102 ... Defect inspection apparatus, 110 ... First supply unit, 111 ... Second supply Part 112 112 third supply part 113 peeling unit 120 light source 121 first polarizing filter 122 imaging device 123 second polarizing filter 130 first moving unit 131 second moving unit , 132 ... control device, CL ... optical axis, P ...
  • liquid crystal panel optical display component
  • F1 ... optical member F10 ... optical film (optical member), F11 ... polarizer film (polarizer), F12 ... laminated film Rum (laminate member), F13 ... COP film (first protective layer), F14 ... COP film protective film (second protective layer), F15 ... TAC film (second protective layer), Sf1 ... Upper surface (one of the optical members) Side surface), Sf2... Lower surface (surface on the other side of the optical member)

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Abstract

　偏光子を含む光学部材の欠陥検査装置は、光源と、光学部材からの透過光による像を撮像する撮像装置と、光源と光学部材との間の光路上に配置され、第１の吸収軸を有する第１偏光フィルターと、撮像装置と光学部材との間の光路上に配置され、第２の吸収軸を有する第２偏光フィルターと、第１偏光フィルターを光源と光学部材との間の光路に向けて進退移動させる第１移動装置と、第２偏光フィルターを撮像装置と光学部材との間の光路に向けて進退移動させる第２移動装置と、を含む。

Description

欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システム
　本発明は、欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システムに関する。
　本願は、２０１３年８月２２日に出願された日本国特願２０１３－１７２３４４号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
　偏光子を含む光学部材の欠陥検査装置として、特許文献１に記載の欠陥検査装置が知られている。特許文献１の欠陥検査装置は、光学部材の一方側に配置された光源と、光学部材の他方側に配置された撮像装置と、撮像装置と光学部材との間の光路上に配置され、偏光子の吸収軸と直交する吸収軸を有する偏光フィルターと、を備えている。
　欠陥検査装置は、光学部材の製造ラインや、光学部材を液晶パネルなどの貼合対象物に向けて搬送する搬送ラインに設置される。例えば、光学部材の製造ラインでは、偏光子の両面に保護層となる保護フィルムを貼合し、この保護フィルムが貼合された偏光子をロール状に巻き取って光学部材の原反ロールを製造する。欠陥検査装置は、偏光子の片面もしくは両面に保護フィルムを積層した積層フィルムの搬送ライン上に設置され、偏光子と保護フィルムとの間の異物欠陥等の有無を検査する。
　欠陥検査装置では、通常、光学部材の貼合面側（液晶パネルなどの貼合対象物と貼合される面側）の欠陥の有無を検査する。そのため、偏光フィルターは、光学部材の貼合面側に設置される。
　例えば、特許文献１の欠陥検査装置では、光学部材の搬送ラインの下方に光源が設置され、搬送ラインの上方に偏光フィルターと撮像装置が設置されている。
　偏光子とその上面側（貼合面側）の保護フィルムとの間に異物が存在する場合、光源から照射された光は、偏光子によって直線偏光に変換された後、その一部が異物によって散乱される。散乱された光の一部は偏光状態が乱されるため、偏光フィルターを透過して、撮像装置によって輝点として検出される。
　一方、偏光子とその下面側（貼合面とは反対側）の保護フィルムとの間に異物が存在する場合、光源から照射された光は、異物によって散乱された後、偏光子に入射し、直線偏光に変換される。この直線偏光は、偏光子と偏光フィルターとの間に偏光状態を乱す異物等の欠陥が存在しない限り、偏光フィルターを透過しない。よって、撮像装置では、暗視野が維持され、欠陥は検出されない。
　このように偏光フィルターを光学部材の貼合面側に設置することにより、光学部材の貼合面側の欠陥のみを選択的に検査することができる。
日本国特開２００７－２１２４４２号
　光学部材の上面と下面のどちらの面を貼合面とするかは予め決められており、欠陥検査装置の光源、撮像装置および偏光フィルターの配置もそれに応じて固定されている。通常は、特許文献１のように、光学部材の上面が貼合面となっており、偏光フィルターも光学部材の上方に設置されている。
　ここで、偏光子を含む光学部材としては、ポリビニルアルコール（ＰＶＡ：Poly Vinyl Alcohol）からなる偏光子の両面に保護層となるトリアセチルセルロース（ＴＡＣ：TriAcetyl Cellulose）が積層された偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）が知られている。近年では、偏光板の多様化が進んでおり、偏光子の両面に積層されたＴＡＣのうち一方のＴＡＣを別のフィルムに置き換えた偏光板も提案されている。
　このような偏光板では、ＴＡＣ側を貼合面とするか他のフィルム側を貼合面とするかによって、最終製品の反り等の状態が異なることが、本発明者の検討によって明らかになっている。
　よって、上述の欠陥検査装置を用いてこのような偏光板の欠陥検査を行う場合には、ＴＡＣと他のフィルムのどちらか好ましい方を偏光子の上面側に貼合することになる。しかし、光学部材の製造ラインの構成上、他のフィルムの搬送ラインの位置が、偏光子の搬送ラインの上方側、または、下方側のいずれに決まってしまい、目的とする欠陥検査が行えない場合がある。
　例えば、他のフィルムが表面に傷を生じやすいフィルムである場合、他のフィルムの表面に保護フィルムを積層しておき、偏光子と他のフィルムを貼合する際に保護フィルムを他のフィルムから剥離する方法が考えられる。この場合、偏光子と他のフィルムとを貼合する直前にナイフエッジ等の剥離機構を設置し、保護フィルムを他のフィルムから剥離しながら剥離後の他のフィルムを偏光子に貼合することになる。
　しかしながら、製造ラインの構成上、剥離機構の設置スペースが、偏光子の搬送ラインの上方側または下方側のいずれか一方にしか設けられない場合がある。その場合には、他のフィルムの搬送ラインの位置も偏光子の搬送ラインの上方側または下方側のいずれか一方に限定されることになる。仮に、他のフィルムの搬送ラインが偏光子の搬送ラインの上方側に限定され、且つ、他のフィルムが光学部材の貼合面側とは反対側に貼合されるものである場合、上述の欠陥検査装置では光学部材の貼合面側の欠陥検査は行えなくなる。
　そこで、光学部材の構成に応じて光源と撮像装置および偏光フィルターの位置を入れ替えることが考えられる。しかし、この場合、装置構成の大幅な変更が必要となり、装置の入れ替え作業にも多くの時間を要する。また、光学部材の構成ごとに別々の欠陥検査装置を用意する必要があり、現実的ではない。このような背景から、光学部材の構成に応じて、光学部材の一方面側と他面側との欠陥検査を容易に切り替えることが可能な欠陥検査装置が求められていた。
　本発明の態様は、光学部材の一方面側と他面側との欠陥検査を容易に切り替えることが可能な欠陥検査装置及び光学表示デバイスの生産システムを提供することを目的とする。
　本発明の態様は以下の手段を採用した。
　（１）本発明の態様に係る欠陥検査装置は、偏光子を含む光学部材の欠陥検査装置であって、前記光学部材の第１側に配置され、前記光学部材に光を照射する光源と、前記光学部材の第２側に配置され、前記光学部材からの透過光による像を撮像する撮像装置と、前記光源と前記光学部材との間の光路上に配置され、前記偏光子の吸収軸と直交する第１の吸収軸を有する第１偏光フィルターと、前記撮像装置と前記光学部材との間の光路上に配置され、前記偏光子の吸収軸と直交する第２の吸収軸を有する第２偏光フィルターと、前記第１偏光フィルターを前記光源と前記光学部材との間の光路に対して進退移動させる第１移動装置と、前記第２偏光フィルターを前記撮像装置と前記光学部材との間の光路に対して進退移動させる第２移動装置と、を含むことを特徴とする。
　（２）上記（１）の態様では、第１の撮像モードにおいて、前記第１移動装置が、前記第１偏光フィルターを前記光源と前記光学部材との間の光路上に移動させるように制御を行うとともに、前記偏光子の吸収軸と前記第１の吸収軸とが直交するように前記第１偏光フィルターの配置の制御を行い、且つ、前記第２移動装置が、前記第２偏光フィルターを前記撮像装置と前記光学部材との間の光路上からずれた位置に移動させるように制御を行い、第２の撮像モードにおいて、前記第１移動装置が、前記第１偏光フィルターを前記光源と前記光学部材との間の光路上からずれた位置に移動させるように制御を行い、且つ、前記第２移動装置が、前記第２偏光フィルターを前記撮像装置と前記光学部材との間の光路上に移動させるように制御を行うとともに、前記偏光子の吸収軸と前記第２の吸収軸とが直交するように前記第２偏光フィルターの配置の制御を行う制御装置をさらに含んでいてもよい。
　（３）本発明の態様に係る光学部材の製造システムは、偏光子を含む光学部材の製造システムであって、前記光学部材を製造する光学部材の製造装置と、前記光学部材の欠陥の有無を検査する上記（１）または（２）に記載の欠陥検査装置と、を含むことを特徴とする。
　（４）上記（３）の態様では、前記光学部材は、偏光子と、前記偏光子の第１の面上に積層された第１保護層と、前記偏光子の第２の面上に積層された第２保護層と、を含み、前記光学部材の製造装置は、前記偏光子を供給する第１供給部と、前記偏光子の供給経路の第１側に配置され、前記第１保護層と、前記第１保護層の第３の面上に積層された第３保護層と、を含む積層部材を供給する第２供給部と、前記偏光子の供給経路の第２側に配置され、前記第２保護層を供給する第３供給部と、前記偏光子の供給経路の第１側に配置され、前記積層部材から前記第３保護層を剥離させて前記第１保護層とする剥離部と、を含んでいてもよい。
　（５）本発明の態様に係る光学表示デバイスの生産システムは、光学表示部品に光学部材を貼合してなる光学表示デバイスの生産システムであって、前記光学部材を搬送するための搬送装置と、前記搬送装置で搬送された前記光学部材を前記光学表示部品に貼り合わせて前記光学表示デバイスを作製する貼合装置と、前記搬送装置から前記貼合装置に搬送される前記光学部材の欠陥の有無を検査する上記（１）または（２）に記載の欠陥検査装置と、を含むことを特徴とする。
　本発明の態様によれば、光学部材の一方面側と他面側との欠陥検査を容易に切り替えることが可能な欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システムを提供することができる。
本発明の一実施形態に係る光学フィルムの製造システムを示す側面図である。 本発明の一実施形態に係る欠陥検査装置の側面図である。 第１偏光フィルターの第１の吸収軸（第２偏光フィルターの第２の吸収軸）と偏光子フィルムの吸収軸との配置関係を説明するための図である。 欠陥検査装置による欠陥の検査原理を説明するための図である。 欠陥検査装置による欠陥の検査原理を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る欠陥検査装置の平面図である。 偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルに対する貼り合わせ例を示す図である。 偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルに対する貼り合わせ例を示す図である。 偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の第１の撮像モードにおける欠陥検査装置を説明するための図である。 偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の第１の撮像モードにおける偏光板の液晶パネルに対する貼り合わせ例を示す図である。 偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の第１の撮像モードにおける欠陥検査装置を説明するための図である。 偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＣＯＰ）の第１の撮像モードにおける偏光板の液晶パネルに対する貼り合わせ例を示す図である。 第２の撮像モードにおける欠陥検査装置を説明するための図である。 第２の撮像モードにおける偏光板の液晶パネルに対する貼り合わせ例を示す図である。 本発明の一実施形態に係るフィルム貼合システムの装置構成を示す側面図である。 本発明の一実施形態に係るフィルム貼合システムの装置構成を示す側面図である。 液晶パネルの平面図である。 偏光フィルムシートの断面図である。
　以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態を説明するが、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
　尚、以下の全ての図面においては、図面を見やすくするため、各構成要素の寸法や比率などは適宜異ならせてある。また、以下の説明及び図面中、同一又は相当する要素には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
（光学部材の製造システム）
　図１は、本発明の一実施形態に係る光学部材の製造システムである光学フィルムの製造システム１００の一例を示す側面図である。以下、光学フィルムとして偏光フィルムを製造する例を説明する。しかし、光学フィルムは、少なくとも偏光子フィルムを含むものであれば、偏光フィルムの他に、位相差フィルムや輝度向上フィルム等の複数の光学素子を積層したものでもよい。
　以下の説明においては、必要に応じてＸＹＺ直交座標系を設定し、このＸＹＺ直交座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。本実施形態においては、長尺の光学フィルムの搬送方向をＸ方向としており、光学フィルムの面内においてＸ方向に直交する方向（長尺の光学フィルムの幅方向）をＹ方向、Ｘ方向及びＹ方向に直交する方向をＺ方向としている。
　図１に示すように、光学フィルムの製造システム１００は、光学フィルムＦ１０を製造する光学フィルムの製造装置１０１（光学部材の製造装置）と、光学フィルムＦ１０の欠陥の有無を検査する欠陥検査装置１０２と、を備えている。
　本実施形態で使用される光学フィルムＦ１０（光学部材）は、例えば、ＰＶＡ（ポリビニルアルコール）等からなる偏光子フィルムＦ１１（偏光子）が、保護フィルムとしてのＣＯＰ（シクロオレフィンポリマー）フィルムＦ１３（第１保護層）とＴＡＣ（トリアセチルセルロース）フィルムＦ１５（第２保護層）とによって挟まれた構造である。なお、偏光子フィルムＦ１１において、ＣＯＰフィルムＦ１３が積層された側の面を第１の面と呼んでもよい。また、偏光子フィルムＦ１１において、ＴＡＣフィルムＦ１５が積層された側の面を第２の面と呼んでもよい。
　尚、保護フィルムとしては、ＴＡＣフィルムやＣＯＰフィルムの他にも、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタラート）フィルム、ＭＭＡ（メチルメタクリレート）フィルム等を用いることができる。
　光学フィルムの製造装置１０１は、偏光子フィルムＦ１１を供給する第１供給部１１０と、ＣＯＰフィルムＦ１３とＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４（第３保護層）とを有する積層フィルムＦ１２を供給する第２供給部１１１と、ＴＡＣフィルムＦ１５を供給する第３供給部１１２と、積層フィルムＦ１２からＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４を剥離させてＣＯＰフィルムＦ１３とする剥離部１１３と、偏光子フィルムＦ１１、ＣＯＰフィルムＦ１３、ＴＡＣフィルムＦ１５の３枚のフィルムを積層して１枚の光学フィルムＦ１０を製造するフィルム積層装置１１４と、光学フィルムＦ１０を巻き取る巻き取り部１１５と、を備えている。
　第１供給部１１０は、帯状の偏光子フィルムＦ１１を巻回した原反ロールＲ１１を保持すると共に偏光子フィルムＦ１１をその長手方向に沿って繰り出す。
　第２供給部１１１は、帯状の積層フィルムＦ１２を巻回した原反ロールＲ１２を保持すると共に積層フィルムＦ１２をその長手方向に沿って繰り出す。第２供給部１１１は、偏光子フィルムＦ１１の供給経路の一方側（図１に示す＋Ｚ方向側）に配置されている。なお、偏光子フィルムＦ１１の供給経路の一方側である図１に示す＋Ｚ方向側を、偏光子フィルムＦ１１の供給経路の第１側と呼んでもよい。
　第３供給部１１２は、帯状のＴＡＣフィルムＦ１５を巻回した原反ロールＲ１５を保持すると共にＴＡＣフィルムＦ１５をその長手方向に沿って繰り出す。第３供給部１１２は、偏光子フィルムＦ１１の供給経路の他方側（図１に示す－Ｚ方向側）に配置されている。なお、偏光子フィルムＦ１１の供給経路の他方側である図１に示す－Ｚ方向側を、偏光子フィルムＦ１１の供給経路の第２側と呼んでもよい。
　剥離部１１３は、第２供給部１１１から繰り出されてきた積層フィルムＦ１２からＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４を剥離し、ロールに巻き取る構成である。剥離部１１３は、ナイフエッジ１１３ａと、巻き取り部１１３ｂと、を有する。
　ＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４は、ＣＯＰフィルムＦ１３の一方の面上（偏光子フィルムＦ１１と貼合される貼合面上）に積層されている。これにより、ＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４の表面（偏光子フィルムＦ１１と貼合される貼合面）に傷が付くことを抑制することができる。なお、上述したようにＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４が積層されるＣＯＰフィルムＦ１３の一方の面を、第３の面と呼んでもよい。
　ナイフエッジ１１３ａは、積層フィルムＦ１２の幅方向で少なくともその全幅にわたって延在する。ナイフエッジ１１３ａは、原反ロールＲ１２から巻き出した積層フィルムＦ１２のＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４側に摺接するようにこれを巻きかける。ナイフエッジ１１３ａは、その先端部に積層フィルムＦ１２を鋭角に巻きかける。ナイフエッジ１１３ａは、その先端部で積層フィルムＦ１２を鋭角に折り返す際、ＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４からＣＯＰフィルムＦ１３を分離させる。ナイフエッジ１１３ａは、このＣＯＰフィルムＦ１３をフィルム積層装置１１４に供給する。
　巻き取り部１１３ｂは、ナイフエッジ１１３ａを経て単独となったＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４を巻き取り、剥離ロールＲ１４として保持する。
　剥離部１１３は、偏光子フィルムＦ１１の供給経路の一方側（図１に示す＋Ｚ方向側）において第１供給部１１０と第２供給部１１１との間に配置されている。
　尚、第２供給部１１１、第３供給部１１２及び剥離部１１３の配置構成は、これに限らない。例えば、第２供給部１１１及び剥離部１１３の双方が偏光子フィルムＦ１１の供給経路の他方側（図１に示す－Ｚ方向側）に配置され、且つ、第３供給部１１２が偏光子フィルムＦ１１の供給経路の一方側（図１に示す＋Ｚ方向側）に配置されていてもよい。
　フィルム積層装置１１４には、一対のローラー１１４ａ，１１４ｂが上下に設けられている。この両ローラー１１４ａ，１１４ｂの間に偏光子フィルムＦ１１、ＣＯＰフィルムＦ１３、ＴＡＣフィルムＦ１５が重ね合わされて供給される。そして、両ローラー１１４ａ，１１４ｂによって押圧されることにより、偏光子フィルムＦ１１、ＣＯＰフィルムＦ１３、ＴＡＣフィルムＦ１５が貼合され、１枚の光学フィルムＦ１０が製造される。尚、ＣＯＰフィルムＦ１３及びＴＡＣフィルムＦ１５の表面に剥離フィルムや保護フィルムなどがさらに積層されていてもよい。当該光学フィルムＦは、図示しない搬送ローラーによって、欠陥検査装置１０２に向けて搬送される。
　欠陥検査装置１０２は、光学フィルムＦ１０の上方（図１に示す＋Ｚ方向側）に配置された光源１２０と、光学フィルムＦ１０の下方（図１に示す－Ｚ方向側）に配置された撮像装置１２２と、光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路上に配置された第１偏光フィルター１２１と、撮像装置１２２と光学フィルムＦ１０との間の光路上に配置された第２偏光フィルター１２３と、を備えている。尚、欠陥検査装置１０２の詳細については後述する。また、上述したような光源１２０が配置される図１に示す＋Ｚ方向側を、光学フィルムＦ１０の第１側と呼んでもよい。また、上述したような撮像装置１２２が配置される図１に示す－Ｚ方向側を、光学フィルムＦ１０の第２側と呼んでもよい。　
　欠陥検査装置１０２で検出された光学フィルムＦ１０の欠陥のデータは、光学フィルムＦ１０の位置（光学フィルムＦ１０の長手方向の位置及び幅方向の位置）と関連付けられて記憶装置に記憶される。欠陥検査装置１０２で検査された光学フィルムＦ１０は、巻き取り部１１５に向けて搬送される。そして、巻き取り部１１５においてロール状に巻き取られ、光学フィルムＦ１０の原反ロールＲ１０が製造される。
（欠陥検査装置）
　図２は、本発明の一実施形態に係る欠陥検査装置１０２の側面図である。
　図２において、符号Ｓｆ１は光学フィルムＦ１０の上面（光学部材の一方側の面）であり、ＣＯＰフィルムＦ１３側の面である。符号Ｓｆ２は光学フィルムＦ１０の下面（光学部材の他方側の面）であり、ＴＡＣフィルムＦ１５側の面である。
　図２に示すように、本実施形態の欠陥検査装置１０２は、光学フィルムＦ１０の上面Ｓｆ１の側に配置された光源１２０と、光学フィルムＦ１０の下面Ｓｆ２の側に配置された撮像装置１２２と、光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路上に配置された第１偏光フィルター１２１と、撮像装置１２２と光学フィルムＦ１０との間の光路上に配置された第２偏光フィルター１２３と、第１偏光フィルター１２１を光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路に向けて進退移動させる第１移動装置１３０と、第２偏光フィルター１２３を撮像装置１２２と光学フィルムＦ１０との間の光路に向けて進退移動させる第２移動装置１３１と、制御装置１３２と、を備えている。換言すると、第１移動装置１３０は、第１偏光フィルター１２１を、光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路に対して進退移動することが可能であり、第２移動装置１３１は、第２偏光フィルター１２３を、撮像装置１２２と光学フィルムＦ１０との間の光路に対して進退移動することが可能である。
　制御装置１３２は、第１偏光フィルター１２１及び第２偏光フィルター１２３のそれぞれの進退移動を制御する。制御装置１３２は、第１移動装置１３０及び第２移動装置１３１の各々を独立に制御可能である。
　光源１２０の光射出面１２０ａの中心と撮像装置１２２の受光面１２２ａの中心とは、同軸（光軸ＣＬ上）に配置されている。
　図３は、第１偏光フィルター１２１の第１の吸収軸Ｖ１（第２偏光フィルター１２３の第２の吸収軸Ｖ２）と偏光子フィルムＦ１１の吸収軸Ｖ０との配置関係を説明するための図である。
　図３に示すように、第１偏光フィルター１２１は、偏光子フィルムＦ１１の吸収軸Ｖ０と直交する第１の吸収軸Ｖ１を有する。第１偏光フィルター１２１は、光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路上において、第１偏光フィルター１２１の第１の吸収軸Ｖ１と偏光子フィルムＦ１１の吸収軸Ｖ０とが互いに直交して配置（クロスニコル配置）される。
　第１偏光フィルター１２１の第１の吸収軸Ｖ１と偏光子フィルムＦ１１の吸収軸Ｖ０とをクロスニコル配置させると、第１偏光フィルター１２１と偏光子フィルムＦ１１との重なり部分ＳＶ１においては光を透過しない。そのため、撮像装置１２２によって重なり部分ＳＶ１を撮像すると、第１偏光フィルター１２１と偏光子フィルムＦ１１との間に位相差を有する欠陥等の偏光状態を乱すものが配置されていない限り、暗視野に見える。
　第２偏光フィルター１２３は、偏光子フィルムＦ１１の吸収軸Ｖ０と直交する第２の吸収軸Ｖ２を有する。第２偏光フィルター１２３は、撮像装置１２２と光学フィルムＦ１０との間の光路上において、第２偏光フィルター１２３の第２の吸収軸Ｖ２と偏光子フィルムＦ１１の吸収軸Ｖ０とが互いに直交して配置（クロスニコル配置）される。
　第２偏光フィルター１２３の第２の吸収軸Ｖ２と偏光子フィルムＦ１１の吸収軸Ｖ０とをクロスニコル配置させても、第２偏光フィルター１２３と偏光子フィルムＦ１１との重なり部分ＳＶ２においては光を透過しない。そのため、撮像装置１２２によって重なり部分ＳＶ２を撮像しても、第２偏光フィルター１２３と偏光子フィルムＦ１１との間に位相差を有する欠陥等の偏光状態を乱すものが配置されていない限り、暗視野に見える。
　図４及び図５は、欠陥検査装置１０２による欠陥Ｅ１の検査原理を説明するための図である。図４は、ＣＯＰフィルムＦ１３に欠陥Ｅ１が存在する場合の図である。図５は、ＣＯＰフィルムＦ１３には欠陥が存在しないが、ＴＡＣフィルムＦ１５に欠陥Ｅ２が存在する場合の図である。尚、図４及び図５においては、便宜上、第２偏光フィルター１２３、第１移動装置１３０、第２移動装置１３１及び制御装置１３２の図示を省略している。
　図４に示すように、光源１２０から光学フィルムＦ１０に向けて射出された光Ｌ１は、第１偏光フィルター１２１によって直線偏光Ｌ２とされる。第１偏光フィルター１２１により得られた直線偏光Ｌ２は、ＣＯＰフィルムＦ１３に入射する。すると、ＣＯＰフィルムＦ１３に存在する欠陥Ｅ１により直線偏光Ｌ２の偏光状態が乱され、偏光状態が乱された光の一部（光Ｌ３）が偏光子フィルムＦ１１を透過する。その結果、偏光子フィルムＦ１１を透過した光Ｌ３が撮像装置１２２に入射し、撮像装置１２２によって欠陥Ｅ１が輝点として明るく撮像される。
　図５に示すように、光源１２０から光学フィルムＦ１０に向けて射出された光Ｌ１は、第１偏光フィルター１２１によって直線偏光Ｌ２とされる。第１偏光フィルター１２１により得られた直線偏光Ｌ２は、ＣＯＰフィルムＦ１３に入射する。すると、ＣＯＰフィルムＦ１３には欠陥が存在しないため、直線偏光Ｌ２は偏光子フィルムＦ１１を透過することができない。その結果、撮像装置１２２には光が入射しないため、撮像装置１２２では黒い画像が撮像される。この場合、ＴＡＣフィルムＦ１５に存在する欠陥Ｅ２は見えない。
　このように、輝点の存在を検出することで、ＣＯＰフィルムＦ１３の欠陥Ｅ１の有無を判定することができる。例えば、撮像装置１２２によって輝点が撮像された場合、ＣＯＰフィルムＦ１３には「欠陥有り」と判定される。一方、撮像装置１２２によって黒い画像が撮像された場合（何も撮像されない場合）、ＣＯＰフィルムＦ１３には「欠陥無し」と判定される。
　図６は、欠陥検査装置１０２の平面図である。図６では、便宜上、光学フィルムＦ１０を図示している。
　図６に示すように、欠陥検査装置１０２を構成する光源１２０の光射出面１２０ａは、長方形であり、Ｙ方向に沿って長手を有している。本実施形態において、光源１２０の光射出面１２０ａは、光学フィルムＦ１０の搬送方向と直交する幅方向に沿って長手を有している。光源１２０の光射出面１２０ａは、光学フィルムＦ１０に対して幅方向に跨って形成されている。例えば、光源１２０としては、メタルハライドランプを用いることができる。
　第１偏光フィルター１２１は、光源１２０の光射出面１２０ａの外周部と重なるように配置されている。第１偏光フィルター１２１は、光源１２０の光射出面１２０ａと同様に、Ｙ方向に沿って長手を有している。第１偏光フィルター１２１は、Ｘ方向及びＹ方向の各々において光源１２０の光射出面１２０ａよりも長くなっている。
　これにより、第１偏光フィルター１２１が光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路上に配置された場合において、光源１２０から射出された光はすべて第１偏光フィルター１２１に入射する。
　撮像装置１２２も、光源１２０の光射出面１２０ａと同様に、Ｙ方向に沿って長手を有している。例えば、撮像装置１２２としては、ラインセンサカメラを用いることができる。
　第２偏光フィルター１２３は、撮像装置１２２の受光面１２２ａの外周部と重なるように配置されている。第２偏光フィルター１２３は、撮像装置１２２の受光面１２２ａと同様に、Ｙ方向に沿って長手を有している。第２偏光フィルター１２３は、Ｘ方向及びＹ方向の各々において撮像装置１２２の受光面１２２ａよりも長くなっている。
　上述した光学フィルムＦ１０は、不図示の切断装置によって所定サイズにカットされ、液晶パネルに貼合されるシート片としての偏光板とされる。当該偏光板が液晶パネルに貼合されることにより、光学表示デバイスとしての液晶表示装置が製造される。
　ところで、液晶パネルに偏光板が貼合された液晶表示装置の製造では、偏光板を液晶パネルに貼り合わせる際、偏光板の応力で液晶パネルに反りが生じるという問題があった。
　本発明者は鋭意研究の結果、偏光板の構成を変えると、液晶パネルの反りの状態を異ならせることができることを見出した。
　以下、図７及び図８を用いて説明する。
　図７は、偏光板の構成をＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣとした偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルＰに対する貼り合わせ例を示す図である。
　図７に示すように、偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルＰとの貼合面には粘着層Ｆ１６が配置されている。偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）は、粘着層Ｆ１６を介して液晶パネルＰに貼合される。
　図８は、偏光板の構成をＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣとした偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルＰに対する貼り合わせ例を示す図である。
　図８に示すように、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルＰとの貼合面（ＴＡＣフィルム側の面）には粘着層Ｆ１６が配置されている。偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）は、液晶パネルＰの貼合面側にＴＡＣフィルムを配置して粘着層Ｆ１６を介して液晶パネルＰに貼合される。
　本発明者は、その原因は明らかではないが、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）を液晶パネルＰの貼合面側にＴＡＣフィルムを配置して液晶パネルＰに貼り合わせた場合と（図８参照）、偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）を液晶パネルＰに貼り合わせた場合（図７参照）とで、液晶パネルＰの反りの状態を異ならせることができることを突き止めた。
　よって、偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）を液晶パネルＰに貼り合わせた場合とは液晶パネルＰの反りの状態を異ならせる観点からは、図８に示すようなＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣの構成を有する偏光板を用い、偏光板のＴＡＣ側の面を液晶パネルＰと貼合することが望ましい。この場合、偏光板のＴＡＣ側の面が液晶パネルＰとの貼合面となる。よって、図１の製造装置１００を用いて光学フィルムＦ１０を製造する場合には、ＣＯＰフィルムＦ１３が偏光子フィルムＦ１１の上面に貼合される構成である。そのため、欠陥検査装置の偏光フィルターは、光学フィルムＦ１０の搬送ラインの下方に設置される必要がある。
　従来の欠陥検査装置のように偏光フィルターが偏光板の貼合面側にのみ配置される構成の場合、偏光板の構成が図７から図８のように変更されると、光源と撮像装置および偏光フィルターとの位置を入れ替える必要があり、装置構成の大幅な変更が必要となる。
　例えば、偏光板（ＴＡＣ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の場合、ＴＡＣフィルムがＰＶＡフィルムの両面に配置される。そのため、一対のＴＡＣフィルムのうちいずれか一方側を偏光板の貼合面側とすればよく、従来の欠陥検査装置であっても装置構成を変更せずに適用可能である。
　しかしながら、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の場合、ＴＡＣフィルムがＰＶＡフィルムの一方面にのみ配置される。そのため、液晶パネルＰの反りの状態を異ならせるべくＴＡＣフィルム側を偏光板の貼合面側とすると、従来の欠陥検査装置の場合、装置構成の大幅な変更が必要となる。
　特に、図１に示すように積層フィルムＦ１２からＣＯＰフィルム用保護フィルムＦ１４を剥離する剥離部１１３が偏光子フィルムＦ１１の供給経路の上方側のみに配置される場合、積層フィルムＦ１２を供給する第２供給部１１１も偏光子フィルムＦ１１の供給経路の上方側に配置される。そのため、従来の欠陥検査装置において偏光フィルターが光学フィルムＦ１０の上方側にのみ配置される構成とした場合、ＣＯＰフィルムＦ１３の欠陥検査はできるが、偏光板の貼合面側となるＴＡＣフィルムＦ１５の欠陥検査ができない。
　一方、この対策としては、光源、偏光フィルター及び撮像装置の位置を入れ替えることも考えられるが、装置構成の大幅な変更が必要となり、装置の入れ替え作業にも多くの時間を要する。また、光学フィルムＦ１０の上面側の欠陥検査を行う欠陥検査装置と、光学フィルムＦ１０の下面側の欠陥検査を行う欠陥検査装置を光学フィルムＦ１０の搬送経路に沿って２台設けることも考えられるが、広い設置スペースを要するとともに膨大な設置コストがかかるため、現実的ではない。
　そこで本発明の態様は、光学フィルムの一方面側と他面側との欠陥検査を容易に切り替えることが可能とするべく、以下の構成を採用している。
　本発明の一実施形態に係る欠陥検査装置１０２は、図２に示したように、光学フィルムＦ１０の上方側に配置され、光学フィルムＦ１０に光を照射する光源１２０と、光学フィルムの下方側に配置され、光学フィルムからの透過光による像を撮像する撮像装置１２２と、光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路上に配置され、偏光子フィルムＦ１１の吸収軸と直交する第１の吸収軸を有する第１偏光フィルター１２１と、撮像装置１２２と光学フィルムＦ１０との間の光路上に配置され、偏光子フィルムＦ１１の吸収軸と直交する第２の吸収軸を有する第２偏光フィルター１２３と、第１偏光フィルター１２１を光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路に向けて進退移動させる第１移動装置１３０と、第２偏光フィルター１２３を撮像装置１２２と光学フィルムＦ１０との間の光路に向けて進退移動させる第２移動装置１３１と、を含むことを特徴とする。換言すると、第１移動装置１３０は、第１偏光フィルター１２１を、光源１２０と光学フィルムＦ１０との間の光路に対して進退移動することが可能であり、第２移動装置１３１は、第２偏光フィルター１２３を、撮像装置１２２と光学フィルムＦ１０との間の光路に対して進退移動することが可能である。
　この構成によれば、光学フィルムＦ１０の上面側と下面側の双方に偏光フィルターが配置される。そのため、それぞれの偏光フィルターを光学フィルムＦ１０の構成に応じて、光源１２０と撮像装置１２２との間の光路上に進退移動させることで、光学フィルムＦ１０の上面側と下面側の欠陥検査を容易に切り替えることができる。よって、省スペースで安価な構成でありながら、様々な構成の光学フィルムＦ１０の欠陥検査に容易に対応することができる。
　図９は、偏光板（ＴＡＣ（１）／ＰＶＡ／ＴＡＣ（２））の第１の撮像モードにおける欠陥検査装置１０２を説明するための図である。
　図１０は、第１の撮像モードにおける偏光板（ＴＡＣ（１）／ＰＶＡ／ＴＡＣ（２））の液晶パネルＰに対する貼り合わせ例を示す図である。
　図１１は、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の第１の撮像モードにおける欠陥検査装置１０２を説明するための図である。図１２は、第１の撮像モードにおける偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルＰに対する貼り合わせ例を示す図である。
　図１３は、第２の撮像モードにおける欠陥検査装置１０２を説明するための図である。
　図１４は、第２の撮像モードにおける偏光板の液晶パネルＰに対する貼り合わせ例を示す図である。
　尚、図９、図１１及び図１３においては、便宜上、第１移動装置１３０、第２移動装置１３１及び制御装置１３２の図示を省略している。図９及び図１０においては、偏光板の貼合面側のＴＡＣフィルムをＴＡＣ（１）フィルム「ＴＡＣ（１）」、偏光板の貼合面側とは反対側のＴＡＣフィルムをＴＡＣ（２）フィルム「ＴＡＣ（２）」として示している。
　図９に示すように、制御装置１３２は、第１の撮像モードにおいて、第１移動装置１３０が、第１偏光フィルター１２１を光源１２０と偏光板（ＴＡＣ（１）／ＰＶＡ／ＴＡＣ（２））との間の光路上（光軸ＣＬ上の第１の位置Ｑ１）に移動させるように制御を行うとともに、ＰＶＡフィルムの吸収軸と第１偏光フィルター１２１の第１の吸収軸とが直交するように第１偏光フィルター１２１の配置の制御を行い、且つ、第２移動装置１３１が、第２偏光フィルター１２３を撮像装置１２２と偏光板（ＴＡＣ（１）／ＰＶＡ／ＴＡＣ（２））との間の光路上からずれた位置（光軸ＣＬからずれた第２の位置Ｑ２）に移動させるように制御を行う。
　具体的には、制御装置１３２は、第１の撮像モードにおいて、第１移動装置１３０が、第１偏光フィルター１２１の中心を光軸ＣＬ上の第１の位置Ｑ１に配置させるように制御を行うとともに、ＰＶＡフィルムの吸収軸と第１偏光フィルター１２１の第１の吸収軸とが直交するように第１偏光フィルター１２１の配置の制御を行い、且つ、第２移動装置１３１が、第２偏光フィルター１２３の中心を光軸ＣＬからずれた第２の位置Ｑ２に配置させるように制御を行う。
　第２の位置Ｑ２は、撮像装置１２２の視野範囲から第２偏光フィルター１２３が退避される位置に設定されている。すなわち、第２の位置Ｑ２は、第２偏光フィルター１２３が撮像装置１２２の視野範囲に入らない位置に設定されている。第２の位置Ｑ２が光軸ＣＬに近すぎると、撮像装置１２２の視野範囲に第２偏光フィルター１２３が侵入してしまう。一方、第２の位置Ｑ２が光軸ＣＬから遠すぎると、第２偏光フィルター１２３を光軸ＣＬ上の位置に移動させる際に時間がかかり、スムーズに別の撮像モードに移行しにくくなる。このような観点から、本実施形態における第２の位置Ｑ２は、例えば、光軸ＣＬから３０ｍｍ以上５０ｍｍ以下の範囲の距離に設定されている。尚、第２の位置Ｑ２は、より好ましくは光軸ＣＬから３５ｍｍ以上４５ｍｍ以下の範囲の距離に設定される。
　第１の撮像モードでは、ＰＶＡフィルムの吸収軸と第１偏光フィルター１２１の第１の吸収軸とがクロスニコル配置される。第１の撮像モードでは、第１偏光フィルター１２１とＰＶＡフィルムとの間の光路上に配置されたＴＡＣフィルム（１）の欠陥検査を行うことができる。
　光源１２０から偏光板（ＴＡＣ（１）／ＰＶＡ／ＴＡＣ（２））に向けて射出された光は、第１偏光フィルター１２１によって直線偏光とされる。第１偏光フィルター１２１により得られた直線偏光は、ＴＡＣフィルム（１）に入射する。ＴＡＣフィルム（１）に欠陥が無い場合、ＴＡＣフィルム（１）を透過した光は、ＰＶＡフィルムによって遮断される。そのため、撮像装置１２２では黒い画像が撮像される。この場合、ＴＡＣフィルム（１）は「欠陥無し」と判定される。
　一方、ＴＡＣフィルム（１）に欠陥がある場合、ＴＡＣフィルム（１）に入射した直線偏光は欠陥で偏光状態が乱され、偏光状態が乱された光の一部がＰＶＡフィルムを透過する。その結果、ＰＶＡフィルムを透過した光が撮像装置１２２に入射し、撮像装置１２２によって欠陥が輝点として明るく撮像される。この場合、ＴＡＣフィルム（１）は「欠陥有り」と判定される。
　このように第１の撮像モードにより、ＰＶＡフィルムの上面に積層されたＴＡＣフィルム（１）側のクロスニコル透過検査を行うことができ、偏光板（ＴＡＣ（１）／ＰＶＡ／ＴＡＣ（１））と液晶パネルＰの貼合面側の欠陥検査を行うことができる。
　図１０に示すように、偏光板（ＴＡＣ（１）／ＰＶＡ／ＴＡＣ（２））の液晶パネルＰの貼合面（ＴＡＣ（１）の表面）には粘着層Ｆ１６が配置されている。偏光板（ＴＡＣ（１）／ＰＶＡ／ＴＡＣ（２））は、粘着層Ｆ１６を介して液晶パネルＰに貼合される。
　図１１に示すように、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の場合においても、図９を用いて説明した第１の撮像モードと同様の制御を行うことができる。
　偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の場合、第１の撮像モードでは、第１偏光フィルター１２１とＰＶＡフィルムとの間の光路上に配置されたＣＯＰフィルムの欠陥検査を行うことができる。
　光源１２０から偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）に向けて射出された光は、第１偏光フィルター１２１によって直線偏光とされる。第１偏光フィルター１２１により得られた直線偏光は、ＣＯＰフィルムに入射する。ＣＯＰフィルムに欠陥が無い場合、ＣＯＰフィルムを透過した光は、ＰＶＡフィルムによって遮断される。そのため、撮像装置１２２では黒い画像が撮像される。この場合、ＣＯＰフィルムは「欠陥無し」と判定される。
　一方、ＣＯＰフィルムに欠陥がある場合、ＣＯＰフィルムに入射した直線偏光は欠陥で偏光状態が乱され、偏光状態が乱された光の一部がＰＶＡフィルムを透過する。その結果、ＰＶＡフィルムを透過した光が撮像装置１２２に入射し、撮像装置１２２によって欠陥が輝点として明るく撮像される。この場合、ＣＯＰフィルムは「欠陥有り」と判定される。
　このように第１の撮像モードにより、ＰＶＡフィルムの上面に積層されたＣＯＰフィルムのクロスニコル透過検査を行うことができ、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の貼合面側となるＣＯＰフィルムの欠陥検査を行うことができる。
　図１２に示すように、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルＰの貼合面（ＣＯＰの表面）には粘着層Ｆ１６が配置されている。偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）は、液晶パネルＰの貼合面側にＣＯＰフィルムを配置して、粘着層Ｆ１６を介して液晶パネルＰに貼合される。
　図１３に示すように、制御装置１３２は、第２の撮像モードにおいて、第１移動装置１３０が、第１偏光フィルター１２１を光源１２０と偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）との間の光路上からずれた位置（光軸ＣＬからずれた第３の位置Ｑ３）に移動させるように制御を行い、且つ、第２移動装置１３１が、第２偏光フィルター１２３を撮像装置１２２と偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）との間の光路上（光軸ＣＬ上の第４の位置Ｑ４）に移動させるように制御を行うとともに、ＰＶＡフィルムの吸収軸と第２偏光フィルター１２３の第２の吸収軸とが直交するように第２偏光フィルター１２３の配置の制御を行う。
　具体的には、制御装置１３２は、第２の撮像モードにおいて、第１移動装置１３０が、第１偏光フィルター１２１の中心を光軸ＣＬからずれた第３の位置Ｑ３に配置させるように制御を行い、且つ、第２移動装置１３１が、第２偏光フィルター１２３の中心を光軸ＣＬ上の第４の位置Ｑ４に配置させるように制御を行うとともに、ＰＶＡフィルムの吸収軸と第２偏光フィルター１２３の第２の吸収軸とが直交するように第２偏光フィルター１２３の配置の制御を行う。
　第３の位置Ｑ３は、光源１２０から射出される光が第１偏光フィルター１２１とＰＶＡフィルムとのクロスニコル配置によって遮られることを回避することができる位置に設定されている。第３の位置Ｑ３が光軸ＣＬに近すぎると、光源１２０から射出される光の一部が第１偏光フィルター１２１とＰＶＡフィルムとのクロスニコル配置によって遮られてしまう。一方、第３の位置Ｑ３が光軸ＣＬから遠すぎると、第１偏光フィルター１２１を光軸ＣＬ上の位置に移動させる際に時間がかかり、スムーズに別の撮像モードに移行しにくくなる。このような観点から、本実施形態における第３の位置Ｑ３は、例えば、光軸ＣＬから３０ｍｍ以上５０ｍｍ以下の範囲の距離に設定されている。尚、第３の位置Ｑ３は、より好ましくは光軸ＣＬから３５ｍｍ以上４５ｍｍ以下の範囲の距離に設定される。
　第２の撮像モードでは、ＰＶＡフィルムの吸収軸と第２偏光フィルター１２３の第２の吸収軸とがクロスニコル配置される。第２の撮像モードでは、ＰＶＡフィルムと第２偏光フィルター１２３との間の光路上に配置されたＴＡＣフィルムの欠陥検査を行うことができる。
　光源１２０から偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）に向けて射出された光は、ＣＯＰフィルムを透過し、ＰＶＡフィルムによって直線偏光とされる。ＰＶＡフィルムにより得られた直線偏光は、ＴＡＣフィルムに入射する。ＴＡＣフィルムに欠陥が無い場合、ＴＡＣフィルムを透過した光は、第２偏光フィルター１２３によって遮断される。そのため、撮像装置１２２では黒い画像が撮像される。この場合、ＴＡＣフィルムは「欠陥無し」と判定される。
　一方、ＴＡＣフィルムに欠陥がある場合、ＴＡＣフィルムに入射した直線偏光は欠陥で偏光状態が乱され、偏光状態が乱された光の一部が第２偏光フィルター１２３を透過する。その結果、第２偏光フィルター１２３を透過した光が撮像装置１２２に入射し、撮像装置１２２によって欠陥が輝点として明るく撮像される。この場合、ＴＡＣフィルムは「欠陥有り」と判定される。
　このように第２の撮像モードにより、ＰＶＡフィルムの下面に積層されたＴＡＣフィルムのクロスニコル透過検査を行うことができ、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の貼合面側となるＴＡＣフィルムの欠陥検査を行うことができる。
　図１４に示すように、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の液晶パネルＰの貼合面（ＴＡＣフィルムの表面）には粘着層Ｆ１６が配置されている。偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）は、液晶パネルＰの貼合面側にＴＡＣフィルムを配置して、粘着層Ｆ１６を介して液晶パネルＰに貼合される。この構成は、液晶パネルＰの反り対策として効果的な構成である。
　尚、各撮像モードにおいて、光源１２０と撮像装置１２２とは定位置に固定される。
　以上、説明したように本実施形態の欠陥検査装置１０２は、制御装置１３２の制御により、第１の撮像モード及び第２の撮像モードを自由に選択することができる。そのため、偏光板の構成が異なる場合であっても、同じ欠陥検査装置１０２によって各偏光板の貼合面側の欠陥を検出することができる。つまり、本実施形態によれば、光源と撮像装置の位置を入れ替える必要がなく、装置構成の大幅な変更も必要とならない。従って、本実施形態によれば、光学フィルムＦ１０の一方面側と他面側との欠陥検査を容易に切り替えることができる。
　また、本実施形態では、光学フィルムＦ１０が偏光子フィルムＦ１１の上面上に積層されたＣＯＰフィルムＦ１３と偏光子フィルムＦ１１の下面上に積層されたＴＡＣフィルムＦ１５からなり、第２供給部１１１及び剥離部１１３が偏光子フィルムＦ１１の供給経路の上方側に配置されている。本発明者の鋭意研究により、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）を液晶パネルＰの貼合面側にＴＡＣフィルムを配置して液晶パネルＰに貼り合わせると、液晶パネルＰの反りの状態を異ならせることができることが明らかになり、偏光板（ＣＯＰ／ＰＶＡ／ＴＡＣ）の貼合面側となるＴＡＣフィルム側の欠陥検査が必要な場合がある。
　しかしこの場合、仮に、偏光フィルターが光学フィルムの上方側にのみ配置されると、このままでは偏光板の貼合面側となるＴＡＣフィルム側の欠陥検査ができない。そのため、光源、偏光フィルター及び撮像装置の位置を入れ替える必要があり、装置構成の大幅な変更が必要となる。
　これに対し、本実施形態によれば、同じ欠陥検査装置１０２を用いて、第２撮像モードに切り替えるだけで、偏光板の貼合面側となるＴＡＣフィルム側の欠陥検査を行うことができる。
　また、各撮像モードにおいて、光源１２０と撮像装置１２２とが定位置に固定される構成である。そのため、光源及び撮像装置を移動させる構成に比べて、光学フィルムＦ１０の貼合面側の欠陥検査を容易に行うことができる。
（光学表示デバイスの生産システム）
　以下、本発明の一実施形態に係る光学表示デバイスの生産システムとして、その一部を構成するフィルム貼合システム１について説明する。本実施形態に係るフィルム貼合システム１は、第１欠陥検査装置９及び第２欠陥検査装置が上述した欠陥検査装置１０２によって構成されている。
　図１５及び図１６は、本実施形態のフィルム貼合システム１の装置構成を示す側面図である。
　フィルム貼合システム１は、例えば液晶パネルや有機ＥＬパネルといったパネル状の光学表示部品に、偏光フィルムや反射防止フィルム、光拡散フィルムといったフィルム状の光学部材を貼合するものである。
　以下の説明においては、必要に応じてＸＹＺ直交座標系を設定し、このＸＹＺ直交座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。本実施形態においては、光学表示部品である液晶パネルの搬送方向をＸ方向としており、液晶パネルの面内においてＸ方向に直交する方向（液晶パネルの幅方向）をＹ方向、Ｘ方向及びＹ方向に直交する方向をＺ方向としている。
　なお、本実施形態では、光学表示部品として液晶パネルＰを例示し、光学部材貼合体として、液晶パネルＰの表裏両面に貼合シートＦ５を貼合してなる両面貼合パネルを例示しているが、本発明はこれに限定されるものではない。
　図１５及び図１６に示すように、本実施形態のフィルム貼合システム１は液晶パネルＰの製造ラインの一工程として設けられている。フィルム貼合システム１の各部は、電子制御装置としての制御部２により統括制御される。
　本実施形態のフィルム貼合システム１は、液晶パネルＰの搬送方向に対して、液晶パネルＰの姿勢を途中で９０°旋回する。フィルム貼合システム１は、液晶パネルＰの表裏面に、互いに偏光軸を直交する方向に向けた偏光フィルムＦ１を貼り合わせる。
　図１７は、液晶パネルＰをその液晶層Ｐ３の厚さ方向から見た平面図である。液晶パネルＰは、平面視で長方形状をなす第１基板Ｐ１と、第１基板Ｐ１に対向して配置される比較的小形の長方形状をなす第２基板Ｐ２と、第１基板Ｐ１と第２基板Ｐ２との間に封入された液晶層Ｐ３とを備える。液晶パネルＰは、平面視で第１基板Ｐ１の外形状に沿う長方形状をなし、平面視で液晶層Ｐ３の外周の内側に収まる領域を表示領域Ｐ４とする。
　図１８は、液晶パネルＰに貼合する光学部材Ｆ１を含む光学シートＦの断面図である。
　尚、図１８においては、便宜上、断面図の各層のハッチングを省略している。
　図１８に示すように、光学シートＦは、フィルム状の光学部材Ｆ１と、光学部材Ｆ１の一方の面（図では上面）に設けられた粘着層Ｆ２と、粘着層Ｆ２を介して光学部材Ｆ１の一方の面に分離可能に積層されたセパレータＦ３と、光学部材Ｆ１の他方の面（図では下面）に積層された表面保護フィルムＦ４とを有する。光学部材Ｆ１は偏光板として機能し、液晶パネルＰの表示領域Ｐ４の全域とその周辺領域とにわたって貼合される。
　光学部材Ｆ１は、その一方の面に粘着層Ｆ２を残しつつセパレータＦ３を分離した状態で、液晶パネルＰに粘着層Ｆ２を介して貼合される。以下、光学シートＦからセパレータＦ３を除いた部分を貼合シートＦ５という。
　セパレータＦ３は、粘着層Ｆ２から分離されるまでの間に粘着層Ｆ２及び光学部材Ｆ１を保護する。表面保護フィルムＦ４は、光学部材Ｆ１とともに液晶パネルＰに貼合される。表面保護フィルムＦ４は、光学部材Ｆ１に対して液晶パネルＰと反対側に配置されて光学部材Ｆ１を保護すると共に、所定のタイミングで光学部材Ｆ１から分離される。
　尚、光学シートＦが表面保護フィルムＦ４を含まない構成であったり、表面保護フィルムＦ４が光学部材Ｆ１から分離されない構成であったりしてもよい。
　光学部材Ｆ１は、シート状の偏光子Ｆ６と、偏光子Ｆ６の一方の面に接着剤等で接合される第１フィルムＦ７と、偏光子Ｆ６の他方の面に接着剤等で接合される第２フィルムＦ８とを有する。第１フィルムＦ７及び第２フィルムＦ８は、例えば偏光子Ｆ６を保護する保護フィルムである。
　尚、光学部材Ｆ１は、一層の光学層からなる単層構造でもよく、複数の光学層が互いに積層された積層構造でもよい。前記光学層は、偏光子Ｆ６の他に、位相差フィルムや輝度向上フィルム等を有していてもよい。第１フィルムＦ７と第２フィルムＦ８の少なくとも一方は、液晶表示素子の最外面を保護するハードコート処理やアンチグレア処理を含む防眩などの効果が得られる表面処理が施されてもよい。光学部材Ｆ１は、第１フィルムＦ７と第２フィルムＦ８の少なくとも一方を含まなくてもよい。例えば第１フィルムＦ７を省略した場合、セパレータＦ３を光学部材Ｆ１の一方の面に粘着層Ｆ２を介して貼り合わせてもよい。
　次に、本実施形態のフィルム貼合システム１について、詳しく説明する。
　図１５及び図１６に示すように、本実施形態のフィルム貼合システム１は、図中右側の液晶パネルＰの搬送方向上流側（＋Ｘ方向側）から図中左側の液晶パネルＰの搬送方向下流側（－Ｘ方向側）に至り、液晶パネルＰを水平状態で搬送する駆動式のローラコンベア３を備えている。
　ローラコンベア３は、反転装置（図示略）を境に、上流側コンベアと下流側コンベアとに分かれる。上流側コンベアでは、液晶パネルＰは表示領域Ｐ４の長辺を搬送方向に沿うようにして搬送される。一方、下流側コンベアでは、液晶パネルＰは表示領域Ｐ４の短辺を搬送方向に沿うようにして搬送される。この液晶パネルＰの表裏面に対して、帯状の光学シートＦから所定長さに切り出した貼合シートＦ５が貼合される。
　本実施形態のフィルム貼合システム１は、第１供給装置７、第１貼合装置１１、反転装置、第２供給装置、第２貼合装置、検査装置、制御部２を備えている。尚、反転装置、第２供給装置、第２貼合装置及び検査装置については、便宜上、その図示を省略する。
　図１５では、フィルム貼合システム１の装置構成として、第１供給装置及び第２供給装置のうち第１供給装置７を挙げて説明する。第２供給装置は、第１供給装置７と同様の構成であるため、その詳細な説明を省略する。
　図１５に示すように、第１供給装置７は、帯状の光学シートＦを巻回した原反ロールＲ１から光学シートＦを引き出して、所定サイズに切断した後に供給する。第１供給装置７は、第１搬送装置８、検査前剥離装置１８、第１欠陥検査装置９、検査後貼合装置１９、第１切断装置１０を備えている。
　第１搬送装置８は、光学シートＦをその長手方向に沿って搬送する搬送機構である。第１搬送装置８は、ロール保持部８ａと、ニップローラ８ｂと、ガイドローラ８ｃと、アキュムレータ８ｄと、巻き取り部８ｅ（図１６参照）と、を有する。
　ロール保持部８ａは、帯状の光学シートＦを巻回した原反ロールＲ１を保持すると共に光学シートＦをその長手方向に沿って繰り出す。
　ニップローラ８ｂは、原反ロールＲ１から巻き出した光学シートＦを所定の搬送経路に沿って案内するべく光学シートＦを挟みこむ。
　ガイドローラ８ｃは、搬送中の光学シートＦの進行方向を搬送経路に沿って変化させる。複数のガイドローラ８ｃのうち少なくとも一つは、テンションローラとして機能する。
　つまり、搬送中の光学シートＦのテンションを調整するべく可動する。
　アキュムレータ８ｄは、光学シートＦが第１切断装置１０で切断される間に、ロール保持部８ａから搬送される光学シートＦの繰り出し量を吸収する。
　第１搬送装置８の始点に位置するロール保持部８ａと第１搬送装置８の終点に位置する巻き取り部８ｅ（図１６参照）とは、例えば互いに同期して駆動する。これにより、ロール保持部８ａが光学シートＦをその搬送方向へ繰り出しつつ、巻き取り部８ｅが第１貼合装置１１を経たセパレータＦ３を巻き取る。以下、第１搬送装置８における光学シートＦ（セパレータＦ３）の搬送方向上流側をシート搬送上流側、搬送方向下流側をシート搬送下流側という。
　検査前剥離装置１８は、シート搬送上流側から搬送されてきた光学シートＦから第１セパレータＨ１（セパレータＦ３に相当）を剥離し、ロールに巻き取る構成である。検査前剥離装置１８は、ナイフエッジ１８ａと、巻き取り部１８ｂと、を有する。
　ナイフエッジ１８ａは、光学シートＦの幅方向で少なくともその全幅にわたって延在する。ナイフエッジ１８ａは、原反ロールＲ１から巻き出した光学シートＦの第１セパレータＨ１側に摺接するようにこれを巻きかける。ナイフエッジ１８ａは、その先端部に光学シートＦを鋭角に巻きかける。ナイフエッジ１８ａは、その先端部で光学シートＦを鋭角に折り返す際、第１セパレータＨ１から貼合シートＦ５を分離させる。ナイフエッジ１８ａは、この貼合シートＦ５を第１欠陥検査装置９に供給する。
　巻き取り部１８ｂは、ナイフエッジ１８ａを経て単独となった第１セパレータＨ１を巻き取り、第１セパレータロールＲ２として保持する。
　第１欠陥検査装置９は、第１セパレータＨ１の剥離後の光学シートＦ、すなわち貼合シートＦ５の欠陥検査を行う。第１欠陥検査装置９は、ＣＣＤカメラで撮像された画像データを解析して欠陥の有無を検査し、欠陥がある場合には、その位置座標を算出する。この欠陥の位置座標は、第１切断装置１０によるスキップカットに提供される。尚、第１欠陥検査装置９は、上述した欠陥検査装置１０２によって構成されている。
　検査後貼合装置１９は、欠陥検査後の貼合シートＦ５に、第２セパレータＨ２（セパレータＦ３に相当）を、粘着層Ｆ２を介して貼り合わせる。検査後貼合装置１９は、ロール保持部１９ａと、挟圧ロール１９ｂと、を有する。
　ロール保持部１９ａは、帯状の第２セパレータＨ２を巻回した第２セパレータロールＲ３を保持すると共に第２セパレータＨ２をその長手方向に沿って繰り出す。
　挟圧ロール１９ｂは、第２セパレータロールＲ３から巻き出した第２セパレータＨ２をシート搬送上流側から搬送される欠陥検査後の貼合シートＦ５の下面（粘着層Ｆ２側の面）に貼合する。挟圧ロール１９ｂは、互いに軸方向を平行にして配置された一対の貼合ローラを有する（上の貼合ローラは上下する）。一対の貼合ローラ間には所定の間隙が形成され、この間隙内が検査後貼合装置１９の貼合位置となる。前記間隙内には、貼合シートＦ５及び第２セパレータＨ２が重なり合って導入される。これら貼合シートＦ５及び第２セパレータＨ２が、挟圧ロール１９ｂに挟圧されつつシート搬送下流側に送り出される。これにより、欠陥検査後の貼合シートＦ５の下面に第２セパレータＨ２が貼合され、光学シートＦが形成される。
　第１切断装置１０は、光学シートＦが所定長さ繰り出された際、光学シートＦの長手方向と直交する幅方向の全幅にわたって、光学シートＦの厚さ方向の一部を切断するハーフカットを行う。
　第１切断装置１０は、光学シートＦの搬送中に働くテンションによって光学シートＦ（セパレータＦ３）が破断しないように（所定の厚さがセパレータＦ３に残るように）、切断刃の進退位置を調整し、粘着層Ｆ２とセパレータＦ３との界面の近傍までハーフカットを施す。尚、切断刃に代わるレーザー装置を用いてもよい。
　ハーフカット後の光学シートＦには、その厚さ方向で光学部材Ｆ１及び表面保護フィルムＦ４が切断されることにより、光学シートＦの幅方向の全幅にわたる切込線が形成される。切込線は、帯状の光学シートＦの長手方向で複数並ぶように形成される。例えば同一サイズの液晶パネルＰを搬送する貼合工程の場合、複数の切り込み線は光学シートＦの長手方向で等間隔に形成される。光学シートＦは、前記複数の切込線によって長手方向で複数の区画に分けられる。光学シートＦにおける長手方向で隣り合う一対の切込線に挟まれる区画は、それぞれ貼合シートＦ５における一つのシート片とされる。
　第１切断装置１０は、第１欠陥検査装置９で算出された欠陥の位置座標に基づいて、欠陥部分を避けるように所定サイズに切断する（スキップカット）。欠陥部分を含む切断品は、不良品として後工程で排除される。尚、第１切断装置１０は、欠陥部分を無視して、光学シートＦを連続的に所定サイズに切断してもよい。この場合、貼合シートＦ５と液晶パネルＰとの貼合工程において、欠陥部分を含む切断品を液晶パネルＰに貼り合わせずに除去することができる。
　図１６では、フィルム貼合システム１の装置構成として、第１貼合装置及び第２貼合装置のうち第１貼合装置１１を挙げて説明する。第２貼合装置は、第１貼合装置１１と同様の構成であるため、その詳細な説明を省略する。
　図１６に示すように、第１貼合装置１１は、貼合位置に導入された液晶パネルＰの上面に対して、所定サイズにカットした貼合シートＦ５の貼合を行う。第１貼合装置１１は、ナイフエッジ１１ａと、挟圧ロール１１ｂと、を有する。
　ナイフエッジ１１ａは、ハーフカットを施した光学シートＦを鋭角に巻きかけてセパレータＦ３から貼合シートＦ５を分離させつつこの貼合シートＦ５を貼合位置に供給する。
　挟圧ロール１１ｂは、ナイフエッジ１１ａが光学シートＦから分離させた所定長さの貼合シートＦ５を上流側コンベアにより搬送される液晶パネルＰの上面に貼合する。挟圧ロール１１ｂは、互いに軸方向を平行にして配置された一対の貼合ローラを有する。一対の貼合ローラ間には所定の間隙が形成され、この間隙内が第１貼合装置１１の貼合位置となる。前記間隙内には、液晶パネルＰ及び貼合シートＦ５が重なり合って導入される。これら液晶パネルＰ及び貼合シートＦ５が、挟圧ロール１１ｂに挟圧されつつ上流側コンベアのパネル搬送下流側に送り出される。これにより、液晶パネルＰの上面に貼合シートＦ５が一体的に貼合される。以下、この貼合後のパネルを片面貼合パネルＰ１１という。
　巻き取り部８ｅは、ナイフエッジ１１ａを経て単独となった第２セパレータＨ２を巻き取り、第２セパレータロールＲ４として保持する。
　反転装置（図示略）は、第１貼合装置１１よりもパネル搬送下流側に設けられて上流側コンベアの終着位置に達した液晶パネルＰを下流側コンベアの始発位置まで搬送する。
　反転装置は、第１貼合装置１１を経て上流側コンベアの終着位置に達した片面貼合パネルＰ１１を吸着や挟持等により保持する。反転装置は、片面貼合パネルＰ１１の表裏を反転させる。反転装置は、例えば前記表示領域Ｐ４の長辺と平行に搬送されていた片面貼合パネルＰ１１を表示領域Ｐ４の短辺と平行に搬送されるように方向転換させる。
　前記反転は、液晶パネルＰの表裏面に貼合する各光学部材Ｆ１が偏光軸方向を互いに直角に配置するような場合になされる。
　尚、単に液晶パネルＰの表裏を反転させる場合には、例えば搬送方向と平行な回動軸を有する反転アームを有する反転装置を用いればよい。この場合、第１供給装置７のシート搬送方向と第２供給装置のシート搬送方向とを平面視で互いに直角にして配置すれば、液晶パネルＰの表裏面に互いに偏光軸方向を直角にした光学部材Ｆ１を貼合できる。
　第２供給装置は、第１供給装置７と同様の構成であるため、その詳細な説明を省略する。第２供給装置は、帯状の光学シートＦを巻回した原反ロールから光学シートＦを引き出して、所定サイズに切断した後に供給する。第２供給装置は、図示はしないが、第２搬送装置、検査前剥離装置、第２欠陥検査装置、検査後貼合装置、第２切断装置を備えている。
　第２貼合装置は、貼合位置に導入された液晶パネルＰの上面に対して、所定サイズにカットした貼合シートＦ５の貼合を行う。第２貼合装置は、第１貼合装置１１と同様のナイフエッジと、挟圧ロールと、を有する。
　挟圧ロールの一対の貼合ローラ間の間隙内（第２貼合装置の貼合位置）には、片面貼合パネルＰ１１及び貼合シートＦ５が重なり合った状態で導入され、片面貼合パネルＰ１１の上面に貼合シートＦ５が一体的に貼合される。以下、この貼合後のパネルを両面貼合パネル（光学部材貼合体）という。
　検査装置（図示略）は、第２貼合装置よりもパネル搬送下流側に設けられている。検査装置は、両面貼合パネルの欠陥（貼合不良等）の有無を検査する。検査対象となる欠陥としては、液晶パネルと貼合シートとを貼合する際の異物や気泡のかみ込み、貼合シートの表面の傷、液晶パネルに内在する配向不良などの欠陥などが挙げられる。
　尚、本実施形態においてフィルム貼合システム１の各部を統括制御する電子制御装置としての制御部２は、コンピュータシステムを含んで構成されている。このコンピュータシステムは、ＣＰＵ等の演算処理部と、メモリやハードディスク等の記憶部とを備える。本実施形態の制御部２は、コンピュータシステムの外部の装置との通信を実行可能なインターフェースを含む。制御部２には、入力信号を入力可能な入力装置が接続されていてもよい。上記の入力装置は、キーボード、マウス等の入力機器、あるいはコンピュータシステムの外部の装置からのデータを入力可能な通信装置等を含む。制御部２は、フィルム貼合システム１の各部の動作状況を示す液晶表示ディスプレイ等の表示装置を含んでいてもよいし、表示装置と接続されていてもよい。
　制御部２の記憶部には、コンピュータシステムを制御するオペレーティングシステム（ＯＳ）がインストールされている。制御部２の記憶部には、演算処理部にフィルム貼合システム１の各部を制御させることによって、フィルム貼合システム１の各部に光学シートＦを精度よく搬送させるための処理を実行させるプログラムが記録されている。記憶部に記録されているプログラムを含む各種情報は、制御部２の演算処理部が読み取り可能である。制御部２は、フィルム貼合システム１の各部の制御に要する各種処理を実行するＡＳＩＣ等の論理回路を含んでいてもよい。
　記憶部は、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）などといった半導体メモリや、ハードディスク、ＣＤ－ＲＯＭ読取り装置、ディスク型記憶媒体などといった外部記憶装置などを含む概念である。記憶部は、機能的には、第１供給装置７、第１貼合装置１１、反転装置、第２供給装置、第２貼合装置、検査装置の動作の制御手順が記述されたプログラムソフトを記憶する記憶領域、その他各種の記憶領域が設定される。
　以上、説明したように本実施形態の第１欠陥検査装置９は、上述した欠陥検査装置１０２によって構成されている。そのため、貼合シートＦ５の構成が異なる場合であっても、同じ欠陥検査装置１０２によって各貼合シートＦ５の貼合面側の欠陥を検出することができる。
　従って、本実施形態によれば、貼合シートＦ５の一方面側と他面側との欠陥検査を容易に切り替えることができる。
　以上、添付図面を参照しながら本実施形態に係る好適な実施の形態例について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。
１…フィルム貼合システム（光学表示デバイスの生産システム）、８…第１搬送装置（搬送装置）、９…第１欠陥検査装置（欠陥検査装置）、１１…第１貼合装置（貼合装置）、１００…光学フィルムの製造システム（光学部材の製造システム）、１０１…光学フィルムの製造装置（光学部材の製造装置）、１０２…欠陥検査装置、１１０…第１供給部、１１１…第２供給部、１１２…第３供給部、１１３…剥離部、１２０…光源、１２１…第１偏光フィルター、１２２…撮像装置、１２３…第２偏光フィルター、１３０…第１移動装置、１３１…第２移動装置、１３２…制御装置、ＣＬ…光軸、Ｐ…液晶パネル（光学表示部品）、Ｆ１…光学部材、Ｆ１０…光学フィルム（光学部材）、Ｆ１１…偏光子フィルム（偏光子）、Ｆ１２…積層フィルム（積層部材）、Ｆ１３…ＣＯＰフィルム（第１保護層）、Ｆ１４…ＣＯＰフィルム用保護フィルム（第２保護層）、Ｆ１５…ＴＡＣフィルム（第２保護層）、Ｓｆ１…上面（光学部材の一方側の面）、Ｓｆ２…下面（光学部材の他方側の面）

Claims (5)

  1. 　偏光子を含む光学部材の欠陥検査装置であって、
    　前記光学部材の第１側に配置され、前記光学部材に光を照射する光源と、
    　前記光学部材の第２側に配置され、前記光学部材からの透過光による像を撮像する撮像装置と、
    　前記光源と前記光学部材との間の光路上に配置され、前記偏光子の吸収軸と直交する第１の吸収軸を有する第１偏光フィルターと、
    　前記撮像装置と前記光学部材との間の光路上に配置され、前記偏光子の吸収軸と直交する第２の吸収軸を有する第２偏光フィルターと、
    　前記第１偏光フィルターを前記光源と前記光学部材との間の光路に対して進退移動させる第１移動装置と、
    　前記第２偏光フィルターを前記撮像装置と前記光学部材との間の光路に対して進退移動させる第２移動装置と、
    　を含む欠陥検査装置。
  2. 　第１の撮像モードにおいて、前記第１移動装置が、前記第１偏光フィルターを前記光源と前記光学部材との間の光路上に移動させるように制御を行うとともに、前記偏光子の吸収軸と前記第１の吸収軸とが直交するように前記第１偏光フィルターの配置の制御を行い、且つ、前記第２移動装置が、前記第２偏光フィルターを前記撮像装置と前記光学部材との間の光路上からずれた位置に移動させるように制御を行い、
    　第２の撮像モードにおいて、前記第１移動装置が、前記第１偏光フィルターを前記光源と前記光学部材との間の光路上からずれた位置に移動させるように制御を行い、且つ、前記第２移動装置が、前記第２偏光フィルターを前記撮像装置と前記光学部材との間の光路上に移動させるように制御を行うとともに、前記偏光子の吸収軸と前記第２の吸収軸とが直交するように前記第２偏光フィルターの配置の制御を行う制御装置をさらに含む請求項１に記載の欠陥検査装置。
  3. 　偏光子を含む光学部材の製造システムであって、
    　前記光学部材を製造する光学部材の製造装置と、
    　前記光学部材の欠陥の有無を検査する請求項１または２に記載の欠陥検査装置と、
    　を含む光学部材の製造システム。
  4. 　前記光学部材は、
    　偏光子と、前記偏光子の第１の面上に積層された第１保護層と、前記偏光子の第２の面上に積層された第２保護層と、を含み、
    　前記光学部材の製造装置は、
    　前記偏光子を供給する第１供給部と、
    　前記偏光子の供給経路の第１側に配置され、前記第１保護層と、前記第１保護層の第３の面上に積層された第３保護層と、を含む積層部材を供給する第２供給部と、
    　前記偏光子の供給経路の第２側に配置され、前記第２保護層を供給する第３供給部と、
    　前記偏光子の供給経路の第１側に配置され、前記積層部材から前記第３保護層を剥離させて前記第１保護層とする剥離部と、
    　を含む請求項３に記載の光学部材の製造システム。
  5. 　光学表示部品に光学部材を貼合してなる光学表示デバイスの生産システムであって、
    　前記光学部材を搬送するための搬送装置と、
    　前記搬送装置で搬送された前記光学部材を前記光学表示部品に貼り合わせて前記光学表示デバイスを作製する貼合装置と、
    　前記搬送装置から前記貼合装置に搬送される前記光学部材の欠陥の有無を検査する請求項１または２に記載の欠陥検査装置と、
    　を含む光学表示デバイスの生産システム。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106940320A (zh) * 2015-09-30 2017-07-11 日东电工株式会社 纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置
CN109655457A (zh) * 2017-10-11 2019-04-19 住友化学株式会社 缺陷检查装置、缺陷检查方法及膜的制造方法
JPWO2019188906A1 (ja) * 2018-03-30 2020-12-03 日東電工株式会社 積層フィルムの製造方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102438892B1 (ko) * 2017-03-03 2022-08-31 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법
US10509265B2 (en) 2017-04-10 2019-12-17 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Photo-alignment apparatus and photo-alignment method
CN106842717A (zh) * 2017-04-10 2017-06-13 深圳市华星光电技术有限公司 光配向装置及光配向方法
KR102124184B1 (ko) 2017-09-26 2020-06-17 주식회사 엘지화학 광학필름 부착시스템
JP7051445B2 (ja) * 2018-01-10 2022-04-11 日東電工株式会社 光学表示パネルの連続検査方法および連続検査装置、並びに、光学表示パネルの連続製造方法および連続製造システム
CN108273768B (zh) * 2018-02-09 2020-04-21 明基材料有限公司 一种偏光片筛选装置及筛选方法
KR102179373B1 (ko) * 2018-12-20 2020-11-16 (주)소닉스 디스플레이패널 검사장치 및 그 검사 방법
KR102207321B1 (ko) * 2019-10-01 2021-01-26 주식회사 디월드 시트 광학 검사장치

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5748643A (en) * 1980-08-08 1982-03-20 Sharp Corp Detector for defect of polarizing plate for automatic affixing device of self-adhesive polarizing plate
JPH06331337A (ja) * 1993-05-26 1994-12-02 Ricoh Co Ltd 光ディスク欠陥検査方法
JP2002162364A (ja) * 2000-11-24 2002-06-07 Sumitomo Chem Co Ltd ロール起因欠陥の判定方法および装置
JP2005049158A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Sumitomo Chemical Co Ltd 透明性フィルムの異物検査方法
JP2006337085A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Seiko Epson Corp 劣化試験方法及び劣化試験装置
JP2007212442A (ja) * 2006-01-11 2007-08-23 Nitto Denko Corp 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置
JP2011002305A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 Topcon Corp 回路パターンの欠陥検出装置、回路パターンの欠陥検出方法およびプログラム
JP2011226957A (ja) * 2010-04-21 2011-11-10 Sanritz Corp 偏光板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2013007689A (ja) * 2011-06-27 2013-01-10 Fujifilm Corp 欠陥検査装置及び方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE173394T1 (de) * 1994-09-15 1998-12-15 Procter & Gamble Orale zusammensetzungen
JP5024935B2 (ja) * 2007-01-16 2012-09-12 富士フイルム株式会社 光透過性部材の欠陥検出装置及び方法
US7798617B2 (en) * 2007-02-05 2010-09-21 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Inkjet recording apparatus, manufacturing method of inkjet head, and checking method of the head
JP5112268B2 (ja) * 2007-12-06 2013-01-09 日東電工株式会社 画像表示装置の製造方法
JP5665622B2 (ja) * 2011-03-09 2015-02-04 株式会社サンリッツ 偏光板の製造装置、偏光板の製造方法、偏光板及びそれを用いた液晶表示装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5748643A (en) * 1980-08-08 1982-03-20 Sharp Corp Detector for defect of polarizing plate for automatic affixing device of self-adhesive polarizing plate
JPH06331337A (ja) * 1993-05-26 1994-12-02 Ricoh Co Ltd 光ディスク欠陥検査方法
JP2002162364A (ja) * 2000-11-24 2002-06-07 Sumitomo Chem Co Ltd ロール起因欠陥の判定方法および装置
JP2005049158A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Sumitomo Chemical Co Ltd 透明性フィルムの異物検査方法
JP2006337085A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Seiko Epson Corp 劣化試験方法及び劣化試験装置
JP2007212442A (ja) * 2006-01-11 2007-08-23 Nitto Denko Corp 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置
JP2011002305A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 Topcon Corp 回路パターンの欠陥検出装置、回路パターンの欠陥検出方法およびプログラム
JP2011226957A (ja) * 2010-04-21 2011-11-10 Sanritz Corp 偏光板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2013007689A (ja) * 2011-06-27 2013-01-10 Fujifilm Corp 欠陥検査装置及び方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106940320A (zh) * 2015-09-30 2017-07-11 日东电工株式会社 纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置
CN106940320B (zh) * 2015-09-30 2021-03-16 日东电工株式会社 纵长状的偏振板的检查方法、制造方法以及外观检查装置
CN112782798A (zh) * 2015-09-30 2021-05-11 日东电工株式会社 偏振板的制造方法
CN112782798B (zh) * 2015-09-30 2023-06-09 日东电工株式会社 偏振板的制造方法
CN109655457A (zh) * 2017-10-11 2019-04-19 住友化学株式会社 缺陷检查装置、缺陷检查方法及膜的制造方法
JPWO2019188906A1 (ja) * 2018-03-30 2020-12-03 日東電工株式会社 積層フィルムの製造方法

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