CN105474002A - 缺陷检查装置、光学构件的制造系统以及光学显示设备的生产系统 - Google Patents

缺陷检查装置、光学构件的制造系统以及光学显示设备的生产系统 Download PDF

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Abstract

本发明的包含偏振器件的光学构件的缺陷检查装置包括：光源；拍摄装置，其拍摄由来自光学构件的透射光形成的像；第1偏振滤光片，其配置在光源与光学构件之间的光路上，具有第1吸收轴；第2偏振滤光片，其配置在拍摄装置与光学构件之间的光路上，具有第2吸收轴；第1移动装置，其使第1偏振滤光片朝光源与光学构件之间的光路进退移动；以及第2移动装置，其使第2偏振滤光片朝拍摄装置与光学构件之间的光路进退移动。

Description

缺陷检查装置、光学构件的制造系统以及光学显示设备的生产系统
技术领域
本发明涉及一种缺陷检查装置、光学构件的制造系统以及光学显示设备的生产系统。
本申请基于2013年8月22日申请的日本专利申请2013-172344号而主张优先权，并将其内容引用于此。
背景技术
作为包含偏振器件的光学构件的缺陷检查装置，已知有专利文献1中所记载的缺陷检查装置。专利文献1的缺陷检查装置包括：光源，其配置在光学构件的一侧；拍摄装置，其配置在光学构件的另一侧；以及偏振滤光片，其配置在拍摄装置与光学构件之间的光路上，具有与偏振器件的吸收轴正交的吸收轴。
缺陷检查装置设置在光学构件的生产线、或者将光学构件朝液晶面板等贴合对象物输送的输送线上。例如，在光学构件的生产线上，对偏振器件的两面贴合成为保护层的保护膜，并呈卷筒状地收卷贴合有该保护膜的偏振器件而制造光学构件的卷材。缺陷检查装置设置于在偏振器件的单面或双面层叠保护膜而成的层叠膜的输送线上，检查偏振器件与保护膜之间有无异物缺陷等。
在缺陷检查装置中，通常是检查光学构件的贴合面侧(与液晶面板等贴合对象物贴合的一面那一侧)有无缺陷。因此，偏振滤光片设置在光学构件的贴合面侧。
例如，在专利文献1的缺陷检查装置中，在光学构件的输送线的下方设置有光源，在输送线的上方设置有偏振滤光片和拍摄装置。
在偏振器件与其上表面侧(贴合面侧)的保护膜之间存在异物的情况下，照射自光源的光在经偏振器件转换为线偏振光之后，其一部分被异物散射。散射后的光的一部分因偏振状态被扰乱，因此穿过偏振滤光片而以亮点的形式被拍摄装置检测到。
另一方面，在偏振器件与其下表面侧(与贴合面相反的一侧)的保护膜之间存在异物的情况下，照射自光源的光在被异物散射后入射至偏振器件，转换为线偏振光。只要在偏振器件与偏振滤光片之间不存在扰乱偏振状态的异物等缺陷，则该线偏振光就不会穿过偏振滤光片。因此，拍摄装置维持暗视野，从而检测不到缺陷。
如此，通过将偏振滤光片设置在光学构件的贴合面侧，仅可选择性地检查光学构件的贴合面侧的缺陷。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利特开2007-212442号
发明内容
发明要解决的问题
将光学构件的上表面和下表面中的哪一面设为贴合面是预先确定好的，相应地，缺陷检查装置的光源、拍摄装置及偏振滤光片的配置也是固定好的。通常而言，是像专利文献1那样光学构件的上表面成为贴合面，偏振滤光片也设置在光学构件的上方。
此处，作为包含偏振器件的光学构件，已知有在由聚乙烯醇(PVA：PolyVinylAlcohol)构成的偏振器件的两面层叠成为保护层的三醋酸纤维素(TAC：TriAcetylCellulose)而成的偏振片(TAC/PVA/TAC)。近年来，偏振片不断多样化，也提出有将偏振器件的两面所层叠的TAC中的一方的TAC替换成其他膜的偏振片。
本发明者通过研究了解到，在这种偏振片中，是将TAC侧设为贴合面还是将其他膜侧设为贴合面，会导致最终产品的翘曲等状态不一样。
因此，在使用上述缺陷检查装置来进行这种偏振片的缺陷检查的情况下，将TAC和其他膜中的任一优选方贴合至偏振器件的上表面侧。但是，在光学构件的生产线的构成上，存在其他膜的输送线的位置定在了偏振器件的输送线的上方侧或下方侧，导致无法进行作为目标的缺陷检查的情况。
例如，在其他膜为表面容易产生划痕的膜的情况下，考虑如下方法：在其他膜的表面预先层叠好保护膜，在贴合偏振器件与其他膜时，将保护膜与其他膜剥离。在该情况下，在偏振器件与其他膜的贴合位置的稍前方设置刀口等剥离机构，一边将保护膜与其他膜剥离，一边将剥离后的其他膜贴合至偏振器件。
然而，在生产线的构成上，存在剥离机构的设置空间仅设置在偏振器件的输送线的上方侧或下方侧中的任一方的情况。在该情况下，其他膜的输送线的位置也被限定在偏振器件的输送线的上方侧或下方侧中的任一方。假设其他膜的输送线被限定在偏振器件的输送线的上方侧，且其他膜被贴合至光学构件的与贴合面侧相反的一侧，在这种情况下，上述缺陷检查装置将无法进行光学构件的贴合面侧的缺陷检查。
因此，考虑根据光学构件的构成来调换光源、拍摄装置及偏振滤光片的位置。但在该情况下，必须大幅变更装置构成，装置的调换作业也需要大量时间。此外，必须按光学构件的每一构成来准备各自的缺陷检查装置，并不现实。出于这种背景，业界一直在寻求一种可根据光学构件的构成而容易地切换光学构件的一面侧与另一面侧的缺陷检查的缺陷检查装置。
本发明的形态的目的在于提供一种可容易地切换光学构件的一面侧与另一面侧的缺陷检查的缺陷检查装置以及光学显示设备的生产系统。
解决问题的技术手段
本发明的形态采用了以下手段。
(1)本发明的形态的缺陷检查装置是包含偏振器件的光学构件的缺陷检查装置，其特征在于，包括：光源，其配置在所述光学构件的第1侧，对所述光学构件照射光；拍摄装置，其配置在所述光学构件的第2侧，拍摄由来自所述光学构件的透射光形成的像；第1偏振滤光片，其配置在所述光源与所述光学构件之间的光路上，具有与所述偏振器件的吸收轴正交的第1吸收轴；第2偏振滤光片，其配置在所述拍摄装置与所述光学构件之间的光路上，具有与所述偏振器件的吸收轴正交的第2吸收轴；第1移动装置，其使所述第1偏振滤光片相对于所述光源与所述光学构件之间的光路进退移动；以及第2移动装置，其使所述第2偏振滤光片相对于所述拍摄装置与所述光学构件之间的光路进退移动。
(2)上述形态(1)可还包括控制装置，所述控制装置为如下装置：在第1拍摄模式下，以所述第1移动装置使所述第1偏振滤光片移动至所述光源与所述光学构件之间的光路上的方式进行控制，并以所述偏振器件的吸收轴与所述第1吸收轴正交的方式控制所述第1偏振滤光片的配置，并且，以所述第2移动装置使所述第2偏振滤光片移动至偏离所述拍摄装置与所述光学构件之间的光路上的位置的方式进行控制，在第2拍摄模式下，以所述第1移动装置使所述第1偏振滤光片移动至偏离所述光源与所述光学构件之间的光路上的位置的方式进行控制，并且，以所述第2移动装置使所述第2偏振滤光片移动至所述拍摄装置与所述光学构件之间的光路上的方式进行控制，并以所述偏振器件的吸收轴与所述第2吸收轴正交的方式控制所述第2偏振滤光片的配置。
(3)本发明的形态的光学构件的制造系统是包含偏振器件的光学构件的制造系统，其特征在于，包括：光学构件的制造装置，其制造所述光学构件；以及根据上述(1)或(2)所述的缺陷检查装置，其检查所述光学构件有无缺陷。
(4)在上述形态(3)中，所述光学构件可包括：偏振器件；第1保护层，其层叠在所述偏振器件的第1面上；以及第2保护层，其层叠在所述偏振器件的第2面上，所述光学构件的制造装置可包括：第1供给部，其供给所述偏振器件；第2供给部，其配置在所述偏振器件的供给路径的第1侧，供给包含所述第1保护层和层叠在所述第1保护层的第3面上的第3保护层的层叠构件；第3供给部，其配置在所述偏振器件的供给路径的第2侧，供给所述第2保护层；以及剥离部，其配置在所述偏振器件的供给路径的第1侧，使所述第3保护层从所述层叠构件中剥离而得到所述第1保护层。
(5)本发明的形态的光学显示设备的生产系统是对光学显示零件贴合光学构件而成的光学显示设备的生产系统，其特征在于，包括：输送装置，其用于输送所述光学构件；贴合装置，其将由所述输送装置输送来的所述光学构件贴合至所述光学显示零件而制作所述光学显示设备；以及根据上述(1)或(2)所述的缺陷检查装置，其等检查从所述输送装置输送至所述贴合装置的所述光学构件有无缺陷。
发明的效果
根据本发明的形态，可提供一种可容易地切换光学构件的一面侧与另一面侧的缺陷检查的缺陷检查装置、光学构件的制造系统以及光学显示设备的生产系统。
附图说明
图1为表示本发明的一实施方式的光学膜的制造系统的侧视图。
图2为本发明的一实施方式的缺陷检查装置的侧视图。
图3为用于说明第1偏振滤光片的第1吸收轴(第2偏振滤光片的第2吸收轴)与偏振器件膜的吸收轴的配置关系的图。
图4为用于说明由缺陷检查装置进行的缺陷的检查原理的图。
图5为用于说明由缺陷检查装置进行的缺陷的检查原理的图。
图6为本发明的一实施方式的缺陷检查装置的俯视图。
图7为表示偏振片(TAC/PVA/TAC)在液晶面板上的贴合例的图。
图8为表示偏振片(COP/PVA/TAC)在液晶面板上的贴合例的图。
图9为用于说明偏振片(TAC/PVA/TAC)的第1拍摄模式下的缺陷检查装置的图。
图10为表示偏振片(TAC/PVA/TAC)的第1拍摄模式下的偏振片在液晶面板上的贴合例的图。
图11为用于说明偏振片(COP/PVA/TAC)的第1拍摄模式下的缺陷检查装置的图。
图12为表示偏振片(TAC/PVA/COP)的第1拍摄模式下的偏振片在液晶面板上的贴合例的图。
图13为用于说明第2拍摄模式下的缺陷检查装置的图。
图14为表示第2拍摄模式下的偏振片在液晶面板上的贴合例的图。
图15为表示本发明的一实施方式的膜贴合系统的装置构成的侧视图。
图16为表示本发明的一实施方式的膜贴合系统的装置构成的侧视图。
图17为液晶面板的俯视图。
图18为偏振膜片的剖视图。
具体实施方式
下面，一边参考附图，一边对本发明的实施方式进行说明，但本发明并不限定于以下实施方式。
再者，在以下所有附图中，为了使附图易于观察，各构成要素的尺寸或比率等酌情存在差异。此外，在以下的说明及附图中，对相同或相当的要素标注同一符号，并省略重复的说明。
(光学构件的制造系统)
图1为表示本发明的一实施方式的光学构件的制造系统即光学膜的制造系统100的一例的侧视图。下面，对制造偏振膜作为光学膜的例子进行说明。但是，光学膜只要至少包含偏振器件膜即可，除了为偏振膜以外，也可为层叠有相位差膜或增亮膜等多个光学元件的膜。
在以下的说明中，视需要设定XYZ正交座标系，一边参考该XYZ正交座标系，一边对各构件的位置关系进行说明。在本实施方式中，将长条的光学膜的输送方向设为X方向，将在光学膜的面内与X方向正交的方向(长条的光学膜的宽度方向)设为Y方向，将与X方向及Y方向正交的方向设为Z方向。
如图1所示，光学膜的制造系统100包括：光学膜的制造装置101(光学构件的制造装置)，其制造光学膜F10；以及缺陷检查装置102，其检查光学膜F10有无缺陷。
本实施方式中所使用的光学膜F10(光学构件)例如为如下结构：由PVA(聚乙烯醇)等构成的偏振器件膜F11(偏振器件)被作为保护膜的COP(环烯烃聚合物)膜F13(第1保护层)和TAC(三醋酸纤维素)膜F15(第2保护层)包夹。再者，在偏振器件膜F11中，可将层叠有COP膜F13的一侧的那一面称为第1面。此外，在偏振器件膜F11中，可将层叠有TAC膜F15的一侧的那一面称为第2面。
再者，作为保护膜，除了TAC膜或COP膜以外，还可使用PET(聚对苯二甲酸乙二酯)膜、MMA(甲基丙烯酸甲酯)膜等。
光学膜的制造装置101包括：第1供给部110，其供给偏振器件膜F11；第2供给部111，其供给包括COP膜F13和COP膜用保护膜F14(第3保护层)的层叠膜F12；第3供给部112，其供给TAC膜F15；剥离部113，其使COP膜用保护膜F14从层叠膜F12中剥离而得到COP膜F13；膜层叠装置114，其将偏振器件膜F11、COP膜F13、TAC膜F15这3张膜层叠而制造1张光学膜F10；以及收卷部115，其收卷光学膜F10。
第1供给部110对卷绕带状的偏振器件膜F11而成的卷材R11进行保持，并将偏振器件膜F11沿其长度方向放出。
第2供给部111对卷绕带状的层叠膜F12而成的卷材R12进行保持，并将层叠膜F12沿其长度方向放出。第2供给部111配置在偏振器件膜F11的供给路径的一侧(图1所示的+Z方向侧)。再者，可将偏振器件膜F11的供给路径的一侧即图1所示的+Z方向侧称为偏振器件膜F11的供给路径的第1侧。
第3供给部112对卷绕带状的TAC膜F15而成的卷材R15进行保持，并将TAC膜F15沿其长度方向放出。第3供给部112配置在偏振器件膜F11的供给路径的另一侧(图1所示的-Z方向侧)。再者，可将偏振器件膜F11的供给路径的另一侧即图1所示的-Z方向侧称为偏振器件膜F11的供给路径的第2侧。
剥离部113为如下构成：将COP膜用保护膜F14从放出自第2供给部111的层叠膜F12中剥离，并收卷成卷筒。剥离部113包括刀口113a和收卷部113b。
COP膜用保护膜F14层叠在COP膜F13的一面上(与偏振器件膜F11贴合的贴合面上)。由此，可抑制COP膜用保护膜F14的表面(与偏振器件膜F11贴合的贴合面)划伤。再者，可像上述那样将COP膜F13的层叠COP膜用保护膜F14的一面称为第3面。
刀口113a以在层叠膜F12的宽度方向上至少跨及其全宽的方式延伸。刀口113a以与从卷材R12放卷出来的层叠膜F12的COP膜用保护膜F14侧滑动接触的方式缠绕层叠膜F12。刀口113a将层叠膜F12呈锐角缠绕在其顶端部。刀口113a在利用其顶端部将层叠膜F12呈锐角折回时，使COP膜F13与COP膜用保护膜F14分离。刀口113a将该COP膜F13供给至膜层叠装置114。
收卷部113b收卷经过刀口113a而成为单独的COP膜用保护膜F14，并以剥离卷筒R14的形式加以保持。
剥离部113在偏振器件膜F11的供给路径的一侧(图1所示的+Z方向侧)配置在第1供给部110与第2供给部111之间。
再者，第2供给部111、第3供给部112及剥离部113的配置构成并不限于此。例如，也可为第2供给部111及剥离部113双方配置在偏振器件膜F11的供给路径的另一侧(图1所示的-Z方向侧)，且第3供给部112配置在偏振器件膜F11的供给路径的一侧(图1所示的+Z方向侧)。
在膜层叠装置114中，上下设置有一对辊114a、114b。偏振器件膜F11、COP膜F13及TAC膜F15以重合的方式被供给至这两个辊114a、114b之间。继而，通过两个辊114a、114b进行挤压，由此，偏振器件膜F11、COP膜F13及TAC膜F15得以贴合，制造成1张光学膜F10。再者，COP膜F13及TAC膜F15的表面可进而层叠有剥离膜或保护膜等。该光学膜F通过未图示的输送辊朝缺陷检查装置102输送。
缺陷检查装置102包括：光源120，其配置在光学膜F10的上方(图1所示的+Z方向侧)；拍摄装置122，其配置在光学膜F10的下方(图1所示的-Z方向侧)；第1偏振滤光片121，其配置在光源120与光学膜F10之间的光路上；以及第2偏振滤光片123，其配置在拍摄装置122与光学膜F10之间的光路上。再者，关于缺陷检查装置102的详情，将于后文中叙述。此外，可将配置如上所述的光源120的图1所示的+Z方向侧称为光学膜F10的第1侧。此外，可将配置如上所述的拍摄装置122的图1所示的-Z方向侧称为光学膜F10的第2侧。
由缺陷检查装置102检测到的光学膜F10的缺陷的数据与光学膜F10的位置(光学膜F10的长度方向的位置以及宽度方向的位置)加以关联并存储至存储装置。经缺陷检查装置102检查后的光学膜F10朝收卷部115输送。继而，在收卷部115上被收卷成卷筒状，从而制造成光学膜F10的卷材R10。
(缺陷检查装置)
图2为本发明的一实施方式的缺陷检查装置102的侧视图。
在图2中，符号Sf1为光学膜F10的上表面(光学构件的一侧那一面)，为COP膜F13侧那一面。符号Sf2为光学膜F10的下表面(光学构件的另一侧那一面)，为TAC膜F15侧那一面。
如图2所示，本实施方式的缺陷检查装置102包括：光源120，其配置在光学膜F10的上表面Sf1侧；拍摄装置122，其配置在光学膜F10的下表面Sf2侧；第1偏振滤光片121，其配置在光源120与光学膜F10之间的光路上；第2偏振滤光片123，其配置在拍摄装置122与光学膜F10之间的光路上；第1移动装置130，其使第1偏振滤光片121朝光源120与光学膜F10之间的光路进退移动；第2移动装置131，其使第2偏振滤光片123朝拍摄装置122与光学膜F10之间的光路进退移动；以及控制装置132。换句话说，第1移动装置130可使第1偏振滤光片121相对于光源120与光学膜F10之间的光路进退移动，第2移动装置131可使第2偏振滤光片123相对于拍摄装置122与光学膜F10之间的光路进退移动。
控制装置132控制第1偏振滤光片121及第2偏振滤光片123各自的进退移动。控制装置132可对第1移动装置130及第2移动装置131各自进行独立控制。
光源120的光射出面120a的中心与拍摄装置122的受光面122a的中心同轴配置(配置在光轴CL上)。
图3为用于说明第1偏振滤光片121的第1吸收轴V1(第2偏振滤光片123的第2吸收轴V2)与偏振器件膜F11的吸收轴V0的配置关系的图。
如图3所示，第1偏振滤光片121具有与偏振器件膜F11的吸收轴V0正交的第1吸收轴V1。第1偏振滤光片121在光源120与光学膜F10之间的光路上以第1偏振滤光片121的第1吸收轴V1与偏振器件膜F11的吸收轴V0相互正交的方式配置(正交尼科耳配置)。
当将第1偏振滤光片121的第1吸收轴V1与偏振器件膜F11的吸收轴V0设为正交尼科耳配置时，在第1偏振滤光片121与偏振器件膜F11的重叠部分SV1不透光。因此，当通过拍摄装置122拍摄重叠部分SV1时，只要在第1偏振滤光片121与偏振器件膜F11之间未配置有具有相位差的缺陷等扰乱偏振状态的物体，则所见为暗视野。
第2偏振滤光片123具有与偏振器件膜F11的吸收轴V0正交的第2吸收轴V2。第2偏振滤光片123在拍摄装置122与光学膜F10之间的光路上以第2偏振滤光片123的第2吸收轴V2与偏振器件膜F11的吸收轴V0相互正交的方式配置(正交尼科耳配置)。
当将第2偏振滤光片123的第2吸收轴V2与偏振器件膜F11的吸收轴V0设为正交尼科耳配置时，在第2偏振滤光片123与偏振器件膜F11的重叠部分SV2也不透光。因此，当通过拍摄装置122拍摄重叠部分SV2时，只要在第2偏振滤光片123与偏振器件膜F11之间未配置有具有相位差的缺陷等扰乱偏振状态的物体，则所见也为暗视野。
图4及图5为用于说明由缺陷检查装置102进行的缺陷E1的检查原理的图。图4为COP膜F13存在缺陷E1的情况的图。图5为COP膜F13不存在缺陷、但TAC膜F15存在缺陷E2的情况的图。再者，在图4及图5中，为方便起见，省略了第2偏振滤光片123、第1移动装置130、第2移动装置131及控制装置132的图示。
如图4所示，从光源120朝光学膜F10射出的光L1被第1偏振滤光片121转换为线偏振光L2。通过第1偏振滤光片121而获得的线偏振光L2入射至COP膜F13。于是，线偏振光L2的偏振状态被COP膜F13上所存在的缺陷E1扰乱，偏振状态被扰乱后的光的一部分(光L3)穿过偏振器件膜F11。结果，穿过偏振器件膜F11后的光L3入射至拍摄装置122，由拍摄装置122以亮点的形式明亮地拍摄到缺陷E1。
如图5所示，从光源120朝光学膜F10射出的光L1被第1偏振滤光片121转换为线偏振光L2。通过第1偏振滤光片121而获得的线偏振光L2入射至COP膜F13。于是，由于COP膜F13不存在缺陷，因此线偏振光L2无法穿过偏振器件膜F11。结果，由于光不入射至拍摄装置122，因此拍摄装置122拍摄到黑图像。在该情况下，观察不到TAC膜F15上所存在的缺陷E2。
如此，通过检测亮点的存在，可判定COP膜F13有无缺陷E1。例如，在通过拍摄装置122拍摄到亮点的情况下，判定COP膜F13“有缺陷”。另一方面，在通过拍摄装置122拍摄到黑图像的情况(什么都没拍摄到的情况)下，判定COP膜F13“无缺陷”。
图6为缺陷检查装置102的俯视图。在图6中，为方便起见，图示有光学膜F10。
如图6所示，构成缺陷检查装置102的光源120的光射出面120a为长方形，沿Y方向具有长边。在本实施方式中，光源120的光射出面120a沿光学膜F10的与输送方向正交的宽度方向具有长边。光源120的光射出面120a以相对于光学膜F10横跨在宽度方向上的方式形成。例如，作为光源120，可使用金属卤化物灯。
第1偏振滤光片121以与光源120的光射出面120a的外周部重叠的方式配置。与光源120的光射出面120a一样，第1偏振滤光片121沿Y方向具有长边。第1偏振滤光片121在X方向及Y方向上分别比光源120的光射出面120a长。
由此，在第1偏振滤光片121被配置在光源120与光学膜F10之间的光路上的情况下，从光源120射出的光全部入射至第1偏振滤光片121。
与光源120的光射出面120a一样，拍摄装置122也是沿Y方向具有长边。例如，作为拍摄装置122，可使用线传感照相机。
第2偏振滤光片123以与拍摄装置122的受光面122a的外周部重叠的方式配置。与拍摄装置122的受光面122a一样，第2偏振滤光片123沿Y方向具有长边。第2偏振滤光片123在X方向及Y方向上分别比拍摄装置122的受光面122a长。
上述光学膜F10通过未图示的切割装置被切割为指定尺寸，被制成作为贴合至液晶面板的片材的偏振片。通过将该偏振片贴合至液晶面板，而制造作为光学显示设备的液晶显示装置。
不过，在液晶面板上贴合有偏振片的液晶显示装置的制造中，在将偏振片贴合至液晶面板时，存在液晶面板因偏振片的应力而产生翘曲的问题。
本发明者经过努力研究，结果发现，若改变偏振片的构成，则可使液晶面板的翘曲的状态不一样。
下面，使用图7及图8来进行说明。
图7为表示将偏振片的构成设为TAC/PVA/TAC的偏振片(TAC/PVA/TAC)在液晶面板P上的贴合例的图。
如图7所示，在偏振片(TAC/PVA/TAC)的与液晶面板P贴合的贴合面上配置有粘着层F16。偏振片(TAC/PVA/TAC)经由粘着层F16而贴合至液晶面板P。
图8为表示将偏振片的构成设为COP/PVA/TAC的偏振片(COP/PVA/TAC)在液晶面板P上的贴合例的图。
如图8所示，在偏振片(COP/PVA/TAC)的与液晶面板P贴合的贴合面(TAC膜侧那一面)上配置有粘着层F16。偏振片(COP/PVA/TAC)以在液晶面板P的贴合面侧配置TAC膜的方式经由粘着层F16而贴合至液晶面板P。
本发明者虽然不清楚其原因，但发现，在以在液晶面板P的贴合面侧配置TAC膜的方式将偏振片(COP/PVA/TAC)贴合在液晶面板P上的情况(参考图8)和将偏振片(TAC/PVA/TAC)贴合在液晶面板P上的情况(参考图7)下，可使液晶面板P的翘曲的状态不一样。
因此，就使液晶面板P的翘曲的状态不同于将偏振片(TAC/PVA/TAC)贴合在液晶面板P上的情况的观点而言，较理想为使用如图8所示的具有COP/PVA/TAC构成的偏振片，并将偏振片的TAC侧那一面与液晶面板P贴合。在该情况下，偏振片的TAC侧那一面成为与液晶面板P的贴合面。因此，在使用图1的制造装置100来制造光学膜F10的情况下，为COP膜F13贴合至偏振器件膜F11的上表面的构成。因此，缺陷检查装置的偏振滤光片必须设置在光学膜F10的输送线的下方。
在像以往的缺陷检查装置那样仅在偏振片的贴合面侧配置偏振滤光片的构成的情况下，若偏振片的构成从图7变更为图8那样，则必须调换光源与拍摄装置及偏振滤光片的位置，从而必须大幅变更装置构成。
例如，在偏振片(TAC/PVA/TAC)的情况下，TAC膜配置在PVA膜的两面。因此，将一对TAC膜中的任一侧作为偏振片的贴合面侧即可，即便是以往的缺陷检查装置也可加以应用而无须变更装置构成。
然而，在偏振片(COP/PVA/TAC)的情况下，TAC膜仅配置在PVA膜的一面。因此，若将TAC膜侧设为偏振片的贴合面侧以使液晶面板P的翘曲的状态不一样，则在以往的缺陷检查装置的情况下，必须大幅变更装置构成。
尤其是在像图1所示那样从层叠膜F12中剥离COP膜用保护膜F14的剥离部113仅配置在偏振器件膜F11的供给路径的上方侧的情况下，供给层叠膜F12的第2供给部111也配置在偏振器件膜F11的供给路径的上方侧。因此，在设为在以往的缺陷检查装置中偏振滤光片仅配置在光学膜F10的上方侧的构成的情况下，虽然可进行COP膜F13的缺陷检查，但无法进行成为偏振片的贴合面侧的TAC膜F15的缺陷检查。
另一方面，作为其对策，虽然也考虑调换光源、偏振滤光片及拍摄装置的位置，但必须大幅变更装置构成，装置的调换作业也需要大量时间。此外，虽然也考虑沿光学膜F10的输送路径设置2台缺陷检查装置，即进行光学膜F10的上表面侧的缺陷检查的缺陷检查装置和进行光学膜F10的下表面侧的缺陷检查的缺陷检查装置，但需要较大的设置空间，并且耗费庞大的设置成本，并不现实。
因此，本发明的形态为了能容易地切换光学膜的一面侧与另一面侧的缺陷检查，采用以下构成。
如图2所示，本发明的一实施方式的缺陷检查装置102的特征在于包括：光源120，其配置在光学膜F10的上方侧，对光学膜F10照射光；拍摄装置122，其配置在光学膜的下方侧，拍摄由来自光学膜的透射光形成的像；第1偏振滤光片121，其配置在光源120与光学膜F10之间的光路上，具有与偏振器件膜F11的吸收轴正交的第1吸收轴；第2偏振滤光片123，其配置在拍摄装置122与光学膜F10之间的光路上，具有与偏振器件膜F11的吸收轴正交的第2吸收轴；第1移动装置130，其使第1偏振滤光片121朝光源120与光学膜F10之间的光路进退移动；以及第2移动装置131，其使第2偏振滤光片123朝拍摄装置122与光学膜F10之间的光路进退移动。换句话说，第1移动装置130可使第1偏振滤光片121相对于光源120与光学膜F10之间的光路进退移动，第2移动装置131可使第2偏振滤光片123相对于拍摄装置122与光学膜F10之间的光路进退移动。
根据该构成，偏振滤光片配置在光学膜F10的上表面侧和下表面侧两方。因此，通过根据光学膜F10的构成来使各偏振滤光片朝光源120与拍摄装置122之间的光路上进退移动，可容易地切换光学膜F10的上表面侧与下表面侧的缺陷检查。因此，构成节省空间且廉价，另一方面，可容易地应对各种构成的光学膜F10的缺陷检查。
图9为用于说明偏振片(TAC(1)/PVA/TAC(2))的第1拍摄模式下的缺陷检查装置102的图。
图10为表示第1拍摄模式下的偏振片(TAC(1)/PVA/TAC(2))在液晶面板P上的贴合例的图。
图11为用于说明偏振片(COP/PVA/TAC)的第1拍摄模式下的缺陷检查装置102的图。图12为表示第1拍摄模式下的偏振片(COP/PVA/TAC)在液晶面板P上的贴合例的图。
图13为用于说明第2拍摄模式下的缺陷检查装置102的图。
图14为表示第2拍摄模式下的偏振片在液晶面板P上的贴合例的图。
再者，在图9、图11及图13中，为方便起见，省略了第1移动装置130、第2移动装置131及控制装置132的图示。在图9及图10中，将偏振片的贴合面侧的TAC膜表示为TAC(1)膜“TAC(1)”，将偏振片的与贴合面侧相反的一侧的TAC膜表示为TAC(2)膜“TAC(2)”。
如图9所示，在第1拍摄模式下，控制装置132以第1移动装置130使第1偏振滤光片121移动至光源120与偏振片(TAC(1)/PVA/TAC(2))之间的光路上(光轴CL上的第1位置Q1)的方式进行控制，并以PVA膜的吸收轴与第1偏振滤光片121的第1吸收轴正交的方式控制第1偏振滤光片121的配置，并且，以第2移动装置131使第2偏振滤光片123移动至偏离拍摄装置122与偏振片(TAC(1)/PVA/TAC(2))之间的光路上的位置(偏离光轴CL的第2位置Q2)的方式进行控制。
具体而言，在第1拍摄模式下，控制装置132以第1移动装置130使第1偏振滤光片121的中心配置在光轴CL上的第1位置Q1的方式进行控制，并以PVA膜的吸收轴与第1偏振滤光片121的第1吸收轴正交的方式控制第1偏振滤光片121的配置，并且，以第2移动装置131使第2偏振滤光片123的中心配置在偏离光轴CL的第2位置Q2的方式进行控制。
第2位置Q2设置在使拍摄装置122的视野范围内没有第2偏振滤光片123的位置。即，第2位置Q2设定在使第2偏振滤光片123不进入至拍摄装置122的视野范围的位置。若第2位置Q2过于靠近光轴CL，则第2偏振滤光片123会侵入至拍摄装置122的视野范围。另一方面，若第2位置Q2过于远离光轴CL，则在使第2偏振滤光片123移动至光轴CL上的位置时会较为耗时，难以顺畅地过渡至另一拍摄模式。出于这种观点，本实施方式中的第2位置Q2例如设定为距光轴CL30mm以上50mm以下的范围的距离。再者，第2位置Q2更优选设定为距光轴CL35mm以上45mm以下的范围的距离。
在第1拍摄模式下，PVA膜的吸收轴与第1偏振滤光片121的第1吸收轴被设为正交尼科耳配置。在第1拍摄模式下，可进行第1偏振滤光片121与PVA膜之间的光路上所配置的TAC膜(1)的缺陷检查。
从光源120朝偏振片(TAC(1)/PVA/TAC(2))射出的光被第1偏振滤光片121转换为线偏振光。通过第1偏振滤光片121而获得的线偏振光入射至TAC膜(1)。在TAC膜(1)无缺陷的情况下，穿过TAC膜(1)后的光被PVA膜遮断。因此，拍摄装置122拍摄到黑图像。在该情况下，TAC膜(1)被判定为“无缺陷”。
另一方面，在TAC膜(1)有缺陷的情况下，已入射至TAC膜(1)的线偏振光因缺陷而导致偏振状态被扰乱，偏振状态被扰乱后的光的一部分穿过PVA膜。结果，穿过PVA膜后的光入射至拍摄装置122，由拍摄装置122以亮点的形式明亮地拍摄到缺陷。在该情况下，TAC膜(1)被判定为“有缺陷”。
如此，通过第1拍摄模式，可进行层叠在PVA膜的上表面的TAC膜(1)侧的正交尼科耳透射检查，从而可进行偏振片(TAC(1)/PVA/TAC(1))与液晶面板P的贴合面侧的缺陷检查。
如图10所示，在偏振片(TAC(1)/PVA/TAC(2))的液晶面板P的贴合面(TAC(1)的表面)配置有粘着层F16。偏振片(TAC(1)/PVA/TAC(2))经由粘着层F16而贴合至液晶面板P。
如图11所示，在偏振片(COP/PVA/TAC)的情况下，也可进行与使用图9加以说明的第1拍摄模式同样的控制。
在偏振片(COP/PVA/TAC)的情况下，在第1拍摄模式下，可进行配置在第1偏振滤光片121与PVA膜之间的光路上的COP膜的缺陷检查。
从光源120朝偏振片(COP/PVA/TAC)射出的光被第1偏振滤光片121转换为线偏振光。通过第1偏振滤光片121而获得的线偏振光入射至COP膜。在COP膜无缺陷的情况下，穿过COP膜后的光被PVA膜遮断。因此，拍摄装置122拍摄到黑图像。在该情况下，COP膜被判定为“无缺陷”。
另一方面，在COP膜有缺陷的情况下，已入射至COP膜的线偏振光因缺陷而导致偏振状态被扰乱，偏振状态被扰乱后的光的一部分穿过PVA膜。结果，穿过PVA膜后的光入射至拍摄装置122，由拍摄装置122以亮点的形式明亮地拍摄到缺陷。在该情况下，COP膜被判定为“有缺陷”。
如此，通过第1拍摄模式，可进行层叠在PVA膜的上表面的COP膜的正交尼科耳透射检查，从而可进行成为偏振片(COP/PVA/TAC)的贴合面侧的COP膜的缺陷检查。
如图12所示，在偏振片(COP/PVA/TAC)的液晶面板P的贴合面(COP的表面)配置有粘着层F16。偏振片(COP/PVA/TAC)以在液晶面板P的贴合面侧配置COP膜的方式经由粘着层F16而贴合至液晶面板P。
如图13所示，在第2拍摄模式下，控制装置132以第1移动装置130使第1偏振滤光片121移动至偏离光源120与偏振片(COP/PVA/TAC)之间的光路上的位置(偏离光轴CL的第3位置Q3)的方式进行控制，并且，以第2移动装置131使第2偏振滤光片123移动至拍摄装置122与偏振片(COP/PVA/TAC)之间的光路上(光轴CL上的第4位置Q4)的方式进行控制，并以PVA膜的吸收轴与第2偏振滤光片123的第2吸收轴正交的方式控制第2偏振滤光片123的配置。
具体而言，在第2拍摄模式下，控制装置132以第1移动装置130使第1偏振滤光片121的中心配置在偏离光轴CL的第3位置Q3的方式进行控制，并且，以第2移动装置131使第2偏振滤光片123的中心配置在光轴CL上的第4位置Q4的方式进行控制，并以PVA膜的吸收轴与第2偏振滤光片123的第2吸收轴正交的方式控制第2偏振滤光片123的配置。
第3位置Q3设定在可避免从光源120射出的光被第1偏振滤光片121与PVA膜的正交尼科耳配置遮挡的位置。若第3位置Q3过于靠近光轴CL，则从光源120射出的光的一部分会被第1偏振滤光片121与PVA膜的正交尼科耳配置遮挡。另一方面，若第3位置Q3过于远离光轴CL，则在使第1偏振滤光片121移动至光轴CL上的位置时会较为耗时，难以顺畅地过渡至另一拍摄模式。出于这种观点，本实施方式中的第3位置Q3例如设定为距光轴CL30mm以上50mm以下的范围的距离。再者，第3位置Q3更优选设定为距光轴CL35mm以上45mm以下的范围的距离。
在第2拍摄模式下，PVA膜的吸收轴与第2偏振滤光片123的第2吸收轴被设为正交尼科耳配置。在第2拍摄模式下，可进行配置在PVA膜与第2偏振滤光片123之间的光路上的TAC膜的缺陷检查。
从光源120朝偏振片(COP/PVA/TAC)射出的光穿过COP膜，并被PVA膜转换为线偏振光。通过PVA膜而获得的线偏振光入射至TAC膜。在TAC膜无缺陷的情况下，穿过TAC膜后的光被第2偏振滤光片123遮断。因此，拍摄装置122拍摄到黑图像。在该情况下，TAC膜被判定为“无缺陷”。
另一方面，在TAC膜有缺陷的情况下，已入射至TAC膜的线偏振光因缺陷而导致偏振状态被扰乱，偏振状态被扰乱后的光的一部分穿过第2偏振滤光片123。结果，穿过第2偏振滤光片123后的光入射至拍摄装置122，由拍摄装置122以亮点的形式明亮地拍摄到缺陷。在该情况下，TAC膜被判定为“有缺陷”。
如此，通过第2拍摄模式，可进行层叠在PVA膜的下表面的TAC膜的正交尼科耳透射检查，从而可进行成为偏振片(COP/PVA/TAC)的贴合面侧的TAC膜的缺陷检查。
如图14所示，在偏振片(COP/PVA/TAC)的液晶面板P的贴合面(TAC膜的表面)配置有粘着层F16。偏振片(COP/PVA/TAC)以在液晶面板P的贴合面侧配置TAC膜的方式经由粘着层F16而贴合至液晶面板P。该构成作为液晶面板P的翘曲对策较为有效。
再者，在各拍摄模式下，光源120和拍摄装置122被固定在确定位置。
如以上所说明，本实施方式的缺陷检查装置102可通过控制装置132的控制来自由选择第1拍摄模式及第2拍摄模式。因此，即便在偏振片的构成不同的情况下，也可通过相同的缺陷检查装置102来检测各偏振片的贴合面侧的缺陷。也就是说，根据本实施方式，无须调换光源与拍摄装置的位置，也无须大幅变更装置构成。因而，根据本实施方式，可容易地切换光学膜F10的一面侧与另一面侧的缺陷检查。
此外，在本实施方式中，光学膜F10包含层叠在偏振器件膜F11的上表面上的COP膜F13和层叠在偏振器件膜F11的下表面上的TAC膜F15，第2供给部111及剥离部113配置在偏振器件膜F11的供给路径的上方侧。通过本发明者的努力研究了解到，若以在液晶面板P的贴合面侧配置TAC膜的方式将偏振片(COP/PVA/TAC)贴合至液晶面板P，则可使液晶面板P的翘曲的状态不一样，从而存在需要进行成为偏振片(COP/PVA/TAC)的贴合面侧的TAC膜侧的缺陷检查的情况。
但在该情况下，若假设偏振滤光片仅配置在光学膜的上方侧，则在这种状态下将无法进行成为偏振片的贴合面侧的TAC膜侧的缺陷检查。因此，必须调换光源、偏振滤光片及拍摄装置的位置，从而必须大幅变更装置构成。
相对于此，根据本实施方式，使用相同的缺陷检查装置102，只需切换至第2拍摄模式，即可进行成为偏振片的贴合面侧的TAC膜侧的缺陷检查。
此外，在各拍摄模式下，为光源120和拍摄装置122被固定在确定位置的构成。因此，与使光源及拍摄装置移动的构成相比，可容易地进行光学膜F10的贴合面侧的缺陷检查。
(光学显示设备的生产系统)
下面，作为本发明的一实施方式的光学显示设备的生产系统，对构成其一部分的膜贴合系统1进行说明。本实施方式的膜贴合系统1中，第1缺陷检查装置9及第2缺陷检查装置由上述缺陷检查装置102构成。
图15及图16为表示本实施方式的膜贴合系统1的装置构成的侧视图。
膜贴合系统1例如对液晶面板或有机EL面板等面板状光学显示零件贴合偏振膜或减反射膜、光扩散膜等膜状光学构件。
在以下的说明中，视需要设定XYZ正交座标系，一边参考该XYZ正交座标系，一边对各构件的位置关系进行说明。在本实施方式中，将作为光学显示零件的液晶面板的输送方向设为X方向，将在液晶面板的面内与X方向正交的方向(液晶面板的宽度方向)设为Y方向，将与X方向及Y方向正交的方向设为Z方向。
再者，在本实施方式中，作为光学显示零件，例示液晶面板P，作为光学构件贴合体，例示对液晶面板P的表背两面贴合贴合片F5而成的双面贴合面板，但本发明并不限定于此。
如图15及图16所示，本实施方式的膜贴合系统1被设置为液晶面板P的生产线中的一道工序。膜贴合系统1的各部由作为电子控制装置的控制部2统括控制。
本实施方式的膜贴合系统1将液晶面板P的姿态在途中相对于液晶面板P的输送方向回旋90°。膜贴合系统1对液晶面板P的表面及背面贴合相互将偏振光轴朝向正交的方向的偏振膜F1。
图17为从液晶面板P的液晶层P3的厚度方向观察液晶面板P的俯视图。液晶面板P包括：第1基板P1，其在俯视下呈长方形状；第2基板P2，其与第1基板P1相对配置，呈形状相对较小的长方形状；以及液晶层P3，其被封入在第1基板P1与第2基板P2之间。液晶面板P将在俯视下呈与第1基板P1的外部形状一致的长方形状、并且在俯视下容纳于液晶层P3的外周的内侧的区域作为显示区域P4。
图18为包含贴合至液晶面板P的光学构件F1的光学片F的剖视图。
再者，在图18中，为方便起见，省略了剖视图中的各层的剖面线。
如图18所示，光学片F包括：光学构件F1，其为膜状；粘着层F2，其设置在光学构件F1的一面(图中为上表面)；隔离膜F3，其经由粘着层F2以可分离的方式层叠在光学构件F1的一面；以及表面保护膜F4，其层叠在光学构件F1的另一面(图中为下表面)。光学构件F1作为偏振片而发挥功能，以跨及液晶面板P的整个显示区域P4及其周边区域的方式加以贴合。
光学构件F1以在其一面留有粘着层F2并将隔离膜F3分离的状态经由粘着层F2而贴合至液晶面板P。以下，将从光学片F中去除隔离膜F3后的部分称为贴合片F5。
隔离膜F3保护粘着层F2及光学构件F1直至与粘着层F2分离为止。表面保护膜F4与光学构件F1一起被贴合至液晶面板P。表面保护膜F4配置在相对于光学构件F1与液晶面板P相反的一侧，保护光学构件F1，并在指定时刻与光学构件F1分离。
再者，光学片F也可为不含表面保护膜F4的构成，或者也可为表面保护膜F4与光学构件F1不分离的构成。
光学构件F1包括：偏振器件F6，其为片状；第1膜F7，其通过粘接剂等接合在偏振器件F6的一面；以及第2膜F8，其通过粘接剂等接合在偏振器件F6的另一面。第1膜F7及第2膜F8例如为保护偏振器件F6的保护膜。
再者，光学构件F1可为由一层光学层构成的单层结构，也可为多个光学层相互层叠而成的层叠结构。除了偏振器件F6以外，所述光学层还可包括相位差膜或增亮膜等。第1膜F7和第2膜F8中的至少一方可实施包括保护液晶显示元件的最外表面的硬化处理或者防眩处理在内的、获得防眩等效果的表面处理。光学构件F1也可不包括第1膜F7和第2膜F8中的至少一方。例如，在省略了第1膜F7的情况下，可将隔离膜F3经由粘着层F2而贴合至光学构件F1的一面。
接着，对本实施方式的膜贴合系统1进行详细说明。
如图15及图16所示，本实施方式的膜贴合系统1包括将液晶面板P以水平状态从图中右侧的液晶面板P的输送方向上游侧(+X方向侧)输送至图中左侧的液晶面板P的输送方向下游侧(-X方向侧)的驱动式辊式输送机3。
辊式输送机3以翻转装置(图示略)为界被分为上游侧输送机和下游侧输送机。在上游侧输送机中，液晶面板P以使显示区域P4的长边沿输送方向的方式加以输送。另一方面，在下游侧输送机中，液晶面板P以使显示区域P4的短边沿输送方向的方式加以输送。对该液晶面板P的表面及背面贴合从带状的光学片F切成指定长度而成的贴合片F5。
本实施方式的膜贴合系统1包括第1供给装置7、第1贴合装置11、翻转装置、第2供给装置、第2贴合装置、检查装置及控制部2。再者，关于翻转装置、第2供给装置、第2贴合装置及检查装置，为方便起见，省略其图示。
在图15中，作为膜贴合系统1的装置构成，列举说明第1供给装置及第2供给装置中的第1供给装置7。第2供给装置因构成与第1供给装置7相同，因此省略其详细说明。
如图15所示，第1供给装置7从卷绕带状的光学片F而成的卷材R1拉出光学片F，并在切割为指定尺寸之后进行供给。第1供给装置7包括第1输送装置8、检查前剥离装置18、第1缺陷检查装置9、检查后贴合装置19及第1切割装置10。
第1输送装置8是沿光学片F的长度方向对其进行输送的输送机构。第1输送装置8包括卷筒保持部8a、轧辊8b、导辊8c、收集器8d及收卷部8e(参考图16)。
卷筒保持部8a保持卷绕带状的光学片F而成的卷材R1，并将光学片F沿其长度方向放出。
轧辊8b夹入光学片F，以沿指定的输送路径对从卷材R1放卷出来的光学片F进行导引。
导辊8c沿输送路径改变输送中的光学片F的行进方向。多个导辊8c中的至少一个作为张力辊而发挥功能。
也就是说可移动，以调整输送中的光学片F的张力。
收集器8d在光学片F被第1切割装置10切割期间吸收输送自卷筒保持部8a的光学片F的放出量。
位于第1输送装置8的起点的卷筒保持部8a与位于第1输送装置8的终点的收卷部8e(参考图16)例如相互同步地驱动。由此，一方面卷筒保持部8a将光学片F朝其输送方向放出，同时收卷部8e收卷经过第1贴合装置11后的隔离膜F3。以下，将第1输送装置8中的光学片F(隔离膜F3)的输送方向上游侧称为片材输送上游侧，将输送方向下游侧称为片材输送下游侧。
检查前剥离装置18为如下构成：从输送自片材输送上游侧的光学片F中剥离第1隔离膜H1(相当于隔离膜F3)并收卷成卷筒。检查前剥离装置18包括刀口18a和收卷部18b。
刀口18a以在光学片F的宽度方向上至少跨及其全宽的方式延伸。刀口18a以与从卷材R1放卷出来的光学片F的第1隔离膜H1侧滑动接触的方式缠绕光学片F。刀口18a将光学片F呈锐角缠绕在其顶端部。刀口18a在利用其顶端部将光学片F呈锐角折回时，使贴合片F5与第1隔离膜H1分离。刀口18a将该贴合片F5供给至第1缺陷检查装置9。
收卷部18b收卷经过刀口18a而成为单独的第1隔离膜H1，并以第1隔离膜卷筒R2的形式加以保持。
第1缺陷检查装置9进行剥离第1隔离膜H1后的光学片F、即贴合片F5的缺陷检查。第1缺陷检查装置9对由CCD相机拍摄到的图像数据进行解析来检查有无缺陷，在有缺陷的情况下，算出其位置座标。该缺陷的位置座标被提供至由第1切割装置10进行的跳跃切割。再者，第1缺陷检查装置9由上述缺陷检查装置102构成。
检查后贴合装置19经由粘着层F2对缺陷检查后的贴合片F5贴合第2隔离膜H2(相当于隔离膜F3)。检查后贴合装置19包括卷筒保持部19a和夹压辊19b。
卷筒保持部19a保持卷绕带状的第2隔离膜H2而成的第2隔离膜卷筒R3，并将第2隔离膜H2沿其长度方向放出。
夹压辊19b将从第2隔离膜卷筒R3放卷出来的第2隔离膜H2贴合至输送自片材输送上游侧的缺陷检查后的贴合片F5的下表面(粘着层F2侧那一面)。夹压辊19b包括轴向相互平行配置的一对贴合辊(上方的贴合辊上下移动)。在一对贴合辊之间形成有指定的间隙，该间隙内成为检查后贴合装置19的贴合位置。贴合片F5及第2隔离膜H2以重合的方式被导入至所述间隙内。这些贴合片F5及第2隔离膜H2一边被夹压辊19b夹压，一边被送出至片材输送下游侧。由此，第2隔离膜H2被贴合至缺陷检查后的贴合片F5的下表面，形成光学片F。
在光学片F已放出指定长度时，第1切割装置10以跨及光学片F的与长度方向正交的宽度方向的全宽的方式进行对光学片F的厚度方向的一部分进行切割的半切。
第1切割装置10以不会因在光学片F的输送中起作用的张力而导致光学片F(隔离膜F3)断裂的方式(隔离膜F3留有指定厚度)调整切割刃的进退位置，实施半切至粘着层F2与隔离膜F3的界面的附近为止。再者，也可使用激光装置代替切割刃。
在半切后的光学片F上，因光学构件F1及表面保护膜F4在其厚度方向上受到切割，所以形成跨及光学片F的宽度方向的全宽的切入线。切入线以在带状的光学片F的长度方向上排列多条的方式形成。例如，在输送同一尺寸的液晶面板P的贴合工序的情况下，在光学片F的长度方向上等间隔地形成多条切入线。光学片F通过所述多条切入线而在长度方向上被分为多个区段。光学片F中的被在长度方向上相邻的一对切入线包夹的区段分别成为贴合片F5中的一张片材。
第1切割装置10根据由第1缺陷检查装置9算出的缺陷的位置座标，以避开缺陷部分的方式切割为指定尺寸(跳跃切割)。包含缺陷部分的切割品作为不合格品在后续工序中被排除。再者，第1切割装置10也可无视缺陷部分而将光学片F连续地切割为指定尺寸。在该情况下，在贴合片F5与液晶面板P的贴合工序中，可将包含缺陷部分的切割品去除而不贴合至液晶面板P。
在图16中，作为膜贴合系统1的装置构成，列举说明第1贴合装置及第2贴合装置中的第1贴合装置11。第2贴合装置因构成与第1贴合装置11相同，所以省略其详细说明。
如图16所示，第1贴合装置11对已导入至贴合位置的液晶面板P的上表面进行已切割为指定尺寸的贴合片F5的贴合。第1贴合装置11包括刀口11a和夹压辊11b。
刀口11a一边呈锐角缠绕已实施半切的光学片F而使贴合片F5与隔离膜F3分离，一边将该贴合片F5供给至贴合位置。
夹压辊11b将用刀口11a从光学片F中分离而得的指定长度的贴合片F5贴合至由上游侧输送机输送的液晶面板P的上表面。夹压辊11b包括轴向相互平行配置的一对贴合辊。在一对贴合辊之间形成有指定的间隙，该间隙内成为第1贴合装置11的贴合位置。液晶面板P及贴合片F5以重合的方式被导入至所述间隙内。这些液晶面板P及贴合片F5一边被夹压辊11b夹压，一边被送出至上游侧输送机的面板输送下游侧。由此，贴合片F5被一体地贴合至液晶面板P的上表面。以下，将该贴合后的面板称为单面贴合面板P11。
收卷部8e收卷经过刀口11a而成为单独的第2隔离膜H2，并以第2隔离膜卷筒R4的形式加以保持。
翻转装置(图示略)设置在较第1贴合装置11靠面板输送下游侧，将已到达至上游侧输送机的终点位置的液晶面板P输送至下游侧输送机的起点位置。
翻转装置通过吸引或夹持等来保持经过第1贴合装置11并已到达至上游侧输送机的终点位置的单面贴合面板P11。翻转装置使单面贴合面板P11的表背面翻转。翻转装置例如以与显示区域P4的短边平行地加以输送的方式使与所述显示区域P4的长边平行地输送过的单面贴合面板P11进行方向转换。
所述翻转是在贴合至液晶面板P的表面及背面的各光学构件F1将偏振光轴方向相互配置为直角这样的情况下进行的。
再者，在只是使液晶面板P的表背面翻转的情况下，例如使用具有翻转臂的翻转装置即可，所述翻转臂具有与输送方向平行的旋动轴。在该情况下，只要以在俯视下相互设为直角的方式配置第1供给装置7的片材输送方向和第2供给装置的片材输送方向，即可对液晶面板P的表面及背面贴合相互将偏振光轴方向设为直角的光学构件F1。
第2供给装置因构成与第1供给装置7相同，所以省略其详细说明。第2供给装置从卷绕带状的光学片F而成的卷材拉出光学片F，并在切割为指定尺寸之后进行供给。第2供给装置虽然没有图示，但包括第2输送装置、检查前剥离装置、第2缺陷检查装置、检查后贴合装置及第2切割装置。
第2贴合装置对已导入至贴合位置的液晶面板P的上表面进行已切割为指定尺寸的贴合片F5的贴合。第2贴合装置包括与第1贴合装置11同样的刀口和夹压辊。
单面贴合面板P11及贴合片F5以重合的状态被导入至夹压辊的一对贴合辊之间的间隙内(第2贴合装置的贴合位置)，使得贴合片F5被一体地贴合至单面贴合面板P11的上表面。以下，将该贴合后的面板称为双面贴合面板(光学构件贴合体)。
检查装置(图示略)设置在较第2贴合装置靠面板输送下游侧的位置。检查装置检查双面贴合面板有无缺陷(贴合不良等)。作为成为检查对象的缺陷，可列举贴合液晶面板与贴合片时的异物或气泡的混入、贴合片的表面的划痕、液晶面板内在的取向不良等缺陷等。
再者，作为在本实施方式中对膜贴合系统1的各部进行统括控制的电子控制装置的控制部2包括电脑系统而构成。该电脑系统包括CPU等运算处理部和存储器或硬盘等存储部。本实施方式的控制部2包括可执行与电脑系统的外部的装置的通信的接口。控制部2上可连接有可输入输入信号的输入装置。上述输入装置包括键盘、鼠标等输入设备，或者可输入来自电脑系统的外部的装置的数据的通信装置等。控制部2可包括表示膜贴合系统1的各部的动作情况的液晶显示器等显示装置，也可与显示装置连接。
在控制部2的存储部中安装有控制电脑系统的操作系统(OS)。在控制部2的存储部中记录有执行处理的程序，所述处理用于使运算处理部控制膜贴合系统1的各部，由此来使膜贴合系统1的各部高精度地输送光学片F。控制部2的运算处理部可读取包括存储部中所记录的程序在内的各种信息。控制部2可包括执行膜贴合系统1的各部的控制所需的各种处理的ASIC等逻辑电路。
存储部这一概念包括RAM(RandomAccessMemory随机存取存储器)、ROM(ReadOnlyMemory只读存储器)等半导体存储器，或者硬盘、CD-ROM读取装置、碟片式存储介质等外部存储装置等。存储部在功能上设定为对记述有第1供给装置7、第1贴合装置11、翻转装置、第2供给装置、第2贴合装置及检查装置的动作的控制程序的程序软件进行存储的存储区域和其他各种存储区域。
如以上所说明，本实施方式的第1缺陷检查装置9由上述缺陷检查装置102构成。因此，即便在贴合片F5的构成不一样的情况下，也可通过相同的缺陷检查装置102来检测各贴合片F5的贴合面侧的缺陷。
因而，根据本实施方式，可容易地切换贴合片F5的一面侧与另一面侧的缺陷检查。
以上，一边参考附图，一边对本实施方式的较佳实施方式例进行了说明，但当然，本发明并不限定于这些例子。在上述例子中展示的各构成构件的各形状或组合等为一例，可在不脱离本发明的主旨的范围内根据设计要求等来进行各种变更。
符号说明
1膜贴合系统(光学显示设备的生产系统)
8第1输送装置(输送装置)
9第1缺陷检查装置(缺陷检查装置)
11第1贴合装置(贴合装置)
100光学膜的制造系统(光学构件的制造系统)
101光学膜的制造装置(光学构件的制造装置)
102缺陷检查装置
110第1供给部
111第2供给部
112第3供给部
113剥离部
120光源
121第1偏振滤光片
122拍摄装置
123第2偏振滤光片
130第1移动装置
131第2移动装置
132控制装置
CL光轴
P液晶面板(光学显示零件)
F1光学构件
F10光学膜(光学构件)
F11偏振器件膜(偏振器件)
F12层叠膜(层叠构件)
F13COP膜(第1保护层)
F14COP膜用保护膜(第2保护层)
F15TAC膜(第2保护层)
Sf1上表面(光学构件的一侧那一面)
Sf2下表面(光学构件的另一侧那一面)。

Claims (5)

1.一种缺陷检查装置，其为包含偏振器件的光学构件的缺陷检查装置，所述缺陷检查装置的特征在于，包括：
光源，其配置在所述光学构件的第1侧，对所述光学构件照射光；
拍摄装置，其配置在所述光学构件的第2侧，拍摄由来自所述光学构件的透射光形成的像；
第1偏振滤光片，其配置在所述光源与所述光学构件之间的光路上，具有与所述偏振器件的吸收轴正交的第1吸收轴；
第2偏振滤光片，其配置在所述拍摄装置与所述光学构件之间的光路上，具有与所述偏振器件的吸收轴正交的第2吸收轴；
第1移动装置，其使所述第1偏振滤光片相对于所述光源与所述光学构件之间的光路进退移动；以及
第2移动装置，其使所述第2偏振滤光片相对于所述拍摄装置与所述光学构件之间的光路进退移动。
2.根据权利要求1所述的缺陷检查装置，其特征在于，
还包括控制装置，所述控制装置为如下装置：
在第1拍摄模式下，以所述第1移动装置使所述第1偏振滤光片移动至所述光源与所述光学构件之间的光路上的方式进行控制，并以所述偏振器件的吸收轴与所述第1吸收轴正交的方式控制所述第1偏振滤光片的配置，并且，以所述第2移动装置使所述第2偏振滤光片移动至偏离所述拍摄装置与所述光学构件之间的光路上的位置的方式进行控制，
在第2拍摄模式下，以所述第1移动装置使所述第1偏振滤光片移动至偏离所述光源与所述光学构件之间的光路上的位置的方式进行控制，并且，以所述第2移动装置使所述第2偏振滤光片移动至所述拍摄装置与所述光学构件之间的光路上的方式进行控制，并以所述偏振器件的吸收轴与所述第2吸收轴正交的方式控制所述第2偏振滤光片的配置。
3.一种光学构件的制造系统，所述光学构件包含偏振器件，该光学构件的制造系统的特征在于，包括：
光学构件的制造装置，其制造所述光学构件；以及
根据权利要求1或2所述的缺陷检查装置，其检查所述光学构件有无缺陷。
4.根据权利要求3所述的光学构件的制造系统，其特征在于，
所述光学构件包括：偏振器件；第1保护层，其层叠在所述偏振器件的第1面上；以及第2保护层，其层叠在所述偏振器件的第2面上，
所述光学构件的制造装置包括：
第1供给部，其供给所述偏振器件；
第2供给部，其配置在所述偏振器件的供给路径的第1侧，供给包含所述第1保护层和层叠在所述第1保护层的第3面上的第3保护层的层叠构件；
第3供给部，其配置在所述偏振器件的供给路径的第2侧，供给所述第2保护层；以及
剥离部，其配置在所述偏振器件的供给路径的第1侧，使所述第3保护层从所述层叠构件中剥离而得到所述第1保护层。
5.一种光学显示设备的生产系统，所述光学显示设备是对光学显示零件贴合光学构件而成的，该光学显示设备的生产系统的特征在于，包括：
输送装置，其用于输送所述光学构件；
贴合装置，其将由所述输送装置输送来的所述光学构件贴合至所述光学显示零件而制作所述光学显示设备；以及
根据权利要求1或2所述的缺陷检查装置，其检查从所述输送装置输送至所述贴合装置的所述光学构件有无缺陷。
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