JP3881506B2 - ロール起因欠陥の判定方法および装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ウエブ状物体に各種処理を施す処理装置で、ウエブ状物体に対する処理や搬送等に使用される複数のロールに起因する欠陥が発生する場合に、欠陥発生の原因となるロールを判定するためのロール起因欠陥の判定方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、合成樹脂フィルムや紙等のシート材、金属等の帯材などを含むウエブ状物体は、複数のロールを含む処理装置で、連続的に走行しながら各種処理が施され、種々の製品として生産されている。製品には、品質基準を超えるような欠陥、たとえば疵、汚れ、ゴミ付着、特性不良等が含まれないことが要求される。ウエブ状物体の処理装置の途中に欠陥の原因が存在すると、ウエブ状物体は欠陥を有するようになってしまう。したがって、ウエブ状物体から欠陥が検出されれば、その原因を特定し、特定された原因を迅速に除去することが重要である。
【0003】
特公平7−86474号公報には、走行するウエブ状物体に存在する欠陥の周期を算出し、ウエブ状物体を搬送するローラや加圧するローラのうちから、欠陥の周期に対応するローラ径を有するローラを欠陥の原因として特定する先行技術が開示されている。この先行技術では、被検査物から得られる検査データを、正常データと欠陥データとに2値化し、欠陥データの相互間の距離を求めた後、これらの距離について頻度計算を行って距離の周期成分を抽出し、この周期成分から欠陥データの基本周期を抽出している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
特公平7−86474号公報の先行技術では、検査データを2値化して記憶し、欠陥データの相互間距離を求める必要がある。一般に、欠陥の原因はローラの外周面の一部に生じるので、該ローラに起因する欠陥の周期成分は、複数回転に相当する周長の区間についての検査データから抽出する必要がある。したがって、充分な精度で周期成分を抽出し得るようにするためには、検査データを細かくとって、しかもローラの複数回転分の検査データを記憶しておくことができる記憶容量を有するメモリが必要となる。精度を高くすれば、記憶する検査データの数も多くなり、欠陥データ相互間の距離を求めたり、距離について頻度計算を行うなどの演算処理に要する時間も長くなる。
【0005】
本発明の目的は、高精度で迅速に、ロールを原因として発生する欠陥を検出して、欠陥の原因となっているロールを特定することができるロール起因欠陥の判定方法および装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明は、ウエブ状物体を複数のロールで走行させながら処理する処理装置で、該複数のロールは異なる直径のロールを含み、各ロールの直径が予め定める基本寸法の整数倍となるように設定されている場合に、該ウエブ状物体に存在するロール起因欠陥の判定方法であって、
該ウエブ状物体に欠陥が存在するか否かを、該走行の方向に沿って、該基本寸法の直径を有する円筒の周長に相当する長さに設定される区間毎にそれぞれ1つに集約して判別し、
区間毎にそれぞれ集約される各欠陥判別結果を、該走行の方向に沿って順次的に記憶し、 記憶した各区間についての順次的な欠陥判定結果に基づいて、連続した区間に周期的な欠陥が生じているか否かを判定し、
周期的な欠陥が生じていると判定されるとき、該周期に相当する長さの間隔に含まれる区間数を該基本寸法に乗算した数値の直径を有するロールに、該周期的な欠陥の原因があると判定することを特徴とするロール起因欠陥の判定方法である。
【0007】
本発明に従えば、ウエブ状物体に欠陥を発生させうる複数のロールは、径が異なるものを含み、各ロールの径は、たとえば「1インチ」を基本寸法として、その整数倍となるように設定されている。このようなロールの表面に疵などが存在すると、そのロールで処理されるウエブ状物体には、ロールの回転周期に対応する距離毎に疵などの欠陥が発生する。ウエブ状物体に欠陥が存在するか否かは、走行の方向に沿って、基本寸法に対応する周長の区間毎に判定する。次に、区間毎の欠陥判別結果を、該走行の方向に沿って順次的に記憶する。記憶した各区間についての順次的な欠陥判定結果に基づいて、連続した区間に周期的な欠陥が生じているか否かを判定し、基本寸法の整数倍の周期で欠陥が検出されていれば、その周期に対応する径を有するロールが欠陥の原因であると特定することができる。欠陥検出の判定結果は、基本寸法に対応する周長の区間にまとめてから、周期的な欠陥を生じているか否かの判定に用いるので、判定に必要な記憶容量を低減し、演算処理を少なくすることができる。
【0008】
また本発明で前記区間毎にそれぞれ集約される欠陥判定結果を、欠陥の有無を表す1つの2値データで順次的に記憶して、区間毎の欠陥判定結果を示す2値データが該走行の方向に沿って順に並ぶデータパターンとして記憶し、
前記複数のロールの各ロールに対応して、直径の前記基本寸法に対する倍数分の数よりも1つ多い数の2値データが並ぶ比較パターンであって、そのうち両端の2値データは、欠陥を有することを示す値に定められ、両端以外の残余の2値データは、欠陥が無いことを示す値に定められる比較パターンを設定しておき、
前記周期的な欠陥の判定は、該データパターンと、該比較パターンとを比較し、該データパターンに、該比較パターンが複数回繰返される部分が含まれているか否かで行うことを特徴とする。
【0009】
本発明に従えば、周期的な欠陥の判定結果は、基本寸法に対応する区間毎の順次的な2値データの集まりであるデータパターンとして記憶される。データパターンは、ロールの径についての基本寸法を単位とする2値データが複数集約されているので、ロールの全周長よりも充分に長い距離分の2値データの集まりをデータパターンとして記憶するとしても、必要なメモリの記憶容量は少なくなる。たとえば、欠陥の検出を0.1mm単位に行い、区間の長さを100mmとすると、その1区間毎に、1000回の検出結果が得られることで、通常1000ビットのデータが必要である。これに対して、本発明では、区間毎の欠陥判定結果を2値データで表わすことで、1000ビットのデータではなく、1ビットのデータに集約して記憶することができる。周期的な欠陥の判定は、連続的な欠陥の判定結果を示す2値データの集まりであるデータパターンに、比較パターンが複数回繰返される部分があるか否かで行うので、比較パターンの長さだけ、2値のデータ間で区間毎の比較演算を行えばよく、演算処理を迅速に行うことができる。
【0010】
さらに本発明は、ウエブ状物体を複数のロールで走行させながら処理する処理装置で、該複数のロールは異なる直径のロールを含み、各ロールの直径が予め定める基本寸法の整数倍となるように設定されている場合に、該ウエブ状物体に存在するロール起因欠陥を判定するロール起因欠陥の判定装置であって、
走行するウエブ状物体から、欠陥を検出する欠陥検出センサと、
欠陥検出センサの検出結果に基づいて、該ウエブ状物体の走行の方向に沿って、該基本寸法の直径を有する円筒の周長に相当する長さに設定される区間毎にそれぞれ1つに集約して、欠陥が存在しているか否かを判定し、判定結果を欠陥の有無に対応する2値データで出力する区間判定手段と、
区間判定手段によって区間毎にそれぞれ1つに集約される欠陥判定結果を示す2値データを、該走行の方向に沿って順に並ぶデータパターンとして記憶するデータメモリと、
複数のロールの各ロールに対応して予め設定され、各ロールの直径の該基本寸法に対する倍数の数よりも1つ多い数の2値データが並ぶ比較パターンであって、そのうち両端の2値データは、欠陥を有することを示す値に定められ、両端以外の残余の2値データは、欠陥が無いことを示す値に定められる比較パターンを記憶しておくパターンメモリと、
データメモリに記憶されているデータパターンと、パターンメモリに記憶されている比較パターンとを比較し、該データパターンに、該比較パターンが複数回繰返される部分が含まれているときに、該比較パターンに対応するロールに欠陥の原因があると判定するロール判定手段とを含むことを特徴とするロール起因欠陥の判定装置である。
【0011】
本発明に従えば、ウエブ状物体に欠陥を発生させうる複数のロールのうち、どのロールが欠陥の原因となっているかを特定するためにロール起因欠陥の判定装置を用いることができる。ロール起因欠陥の判定装置は、欠陥検出センサと、区間判定手段と、データメモリと、パターンメモリと、ロール判定手段とを含む。欠陥検出手段は、走行するウエブ状物体から欠陥を検出する。区間検出手段は、欠陥検出センサの検出結果に基づいて、該ウエブ状物体の走行の方向に沿って、基本寸法の直径を有する円筒の周長に相当する長さに設定されるの区間毎に、欠陥が存在しているか否かを判定し、判定結果を欠陥の有無に対応する2値データで出力する。データメモリは、区間判定手段の判定結果を示す2値データを、該走行の方向に沿って連続した複数の2値データの集まりであるデータパターンとして記憶する。パターンメモリには、複数のロールの各ロールに対応して予め設定され、各ロールの直径の基本寸法に対する倍数の数よりも1つ多い2値データが並ぶ比較パターンを記憶しておく。ロール判定手段は、データメモリに記憶されている連続したデータパターンと、パターンメモリに記憶されている比較パターンとを比較し、データパターンに比較パターンが複数回繰返される部分が含まれているときに、比較パターンに対応するロールに欠陥の原因があると判定する。欠陥検出の判定結果は、基本寸法に対応する周長の区間にまとめてから、周期的な欠陥を生じているか否かの判定に用いるので、判定に必要なデータメモリの記憶容量を低減し、ロール判定手段での演算処理を少なくすることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の実施の一形態としてのロール起因の欠陥判定方法の基本的な考え方を簡略化して示す。図1(a)に示すように、ウエブ状物体1は、走行方向2に走行しながら、ロール3による作用を受ける。一般には、ロール3は径が異なるものを含む複数が使用される。複数のロールは、各ロールの直径が予め定める基本寸法、たとえば「インチ」刻みで製作されており、その整数倍となるように設定されている場合が多い。ロール3のロール径が「6インチ」であるとすると、ロール3の直径は、1インチ当り25.4mmとして換算し、
6×25.4=152.4mm
となる。
【0013】
ウエブ状物体1に、疵、汚れ、特性不良等の欠陥4が存在するときは、その原因がロール3に付着しているゴミ5などである場合が多い。ロール3の外周に、1つのゴミ5が付着していると、ゴミ5が付着している部分がウエブ状物体1に接触するタイミングで欠陥4が生じる。したがって、欠陥4は、ウエブ状物体1の走行方向2に沿って、一定の間隔をおいて、周期的に発生する。
【0014】
図1(b)は、ウエブ状物体1の走行方向2に垂直な幅方向について、欠陥4の分布を示す。欠陥4は、ウエブ状物体1の幅方向については同一の位置で検出される。ロール径が異なる複数のロールが欠陥4の原因となりうる場合は、走行方向2に沿っての欠陥4の周期を求めれば、対応する周長を有するロールに原因があると推定することができる。ただし、複数の欠陥4の位置を記憶し、欠陥4の周期を算出するためには、欠陥4を含まない位置についての情報も記憶する必要があるので、特に精度を高める場合は、大量の情報を記憶し、多量の演算処理を行う必要がある。
【0015】
図1(c)は、ウエブ状物体1に欠陥が存在するか否かを判定するために、走行方向2に沿って求められるデータパターン6を示す。データパターン6は、基本寸法に対応する周長の区間7毎に欠陥判定結果を集約して形成する。各区間7についての順次的な判定結果は、「1」で欠陥4が存在することを表し、「0」で欠陥4が存在しないことを表す2値データの列となる。区間7の長さは、基本寸法が「1インチ」のとき、ウエブ状物体1に伸び縮みがなければ、基本寸法に対応する周長として、
25.4×3.14=79.756mm
となる。
【0016】
図1(d)は、走行方向2に沿って、周期的な欠陥が生じているか否かを判定するための比較パターン8を示す。図1(a)に示すロール3が「6インチ」ロールであれば、ロール3に起因する欠陥4は、6つの区間9おきに発生する。全部で7つの区間9分の比較パターン8を、両端の区間9で「1」、中間の区間9で「0」となるように設定しておく。他のロール径のロールについても、同様に、ロール径に対応する区間9より1つの区間9だけ多い比較パターンを設定することができる。図1(c)のデータパターン6中に、周期的な欠陥が生じているか否かは、データパターン6中に比較パターン8の両端と一致するパターンが複数回繰返される部分が存在するか否かで判定することができる。周期的な欠陥4が生じていると判定されるときは、判定に用いている比較パターン8に対応するロール3に欠陥4の原因があると特定することができる。
【0017】
すなわち、周期的な欠陥4の判定結果は、基本寸法に対応する区間7毎の順次的な2値データの集まりであるデータパターン6として記憶される。2値データは、ロール3の径についての基本寸法を単位とする区間7毎に集約されているので、ロール3の全周長よりも充分に長い距離分のデータパターン6を記憶するとしても、必要なメモリの記憶容量は少なくなる。たとえば、欠陥4の検出を100μm単位に行い、区間7の長さを前述のように79.8mmとすると、その1区間毎に、798回の検出結果を798ビットのデータではなく、1ビットのデータに集約して記憶することができる。周期的な欠陥の判定は、連続的な欠陥の判定結果を示す2値データ集まりであるデータパターン6に、比較パターン8が複数回繰返される部分があるか否かで行うので、比較パターン8の長さだけ、2値のデータ間で区間7,9毎の比較演算を行えばよく、演算処理を迅速に行うことができる。
【0018】
図2は、本発明の実施の一形態をしてのロール起因欠陥の判定方法を、フィルム10の生産ラインに適用する例を示す。フィルム10は、フィルムa11の両側に、フィルムb12およびフィルムc13を貼合せて製造される。フィルムa11は、加工工程14で加工処理され、NIPロール17aで後工程に移送される。フィルムb12およびフィルムc13は、NIPロール17b,17cで送られ、糊剤を用いて、貼合ロール19で相互に貼合される。貼合されたフィルム10は、検査装置21での検査を経て、保護フィルム22を表面に重ねて、製品巻取装置23で巻取られる。
【0019】
図2に示すフィルム10の生産ラインでは、複数のロールが使用される。複数のロールは、ロール径が「インチ」刻みとなるように製造されている。貼合ロール19〜検査装置21間には、ロール径が「4インチ」で、
25.4×4=101.6mm
の直径から100Aと称するガイドロール24,25,26が配置されている。ロール径が「8インチ」で、
25.4×8=203.2mm
の直径から200Aと称するロールは、フィルムa11用のNIPロール17aと、全体用の貼合ロール19として配置されている。フィルムb12およびフイルムc13用のNIPロール17b,17cは、ロール径が「10インチ」で、
25.4×10=254mm
の直径から250Aと称される。
【0020】
図2に示すように、複数のロール径のロールが検査装置21の検査対象であるフィルム10の欠陥に関連している場合、欠陥の周期から、その周期に対応する区間数を該基本寸法に乗算した数値の直径を有するロールに、周期的な欠陥の原因があると判定することができる。
【0021】
すなわち、ウエブ状物体としてのフィルム10に欠陥を発生させうる複数のロールは、径が100A,200A,250Aと異なるものを含み、各ロールの径は、たとえば「1インチ」を基本寸法として、その整数倍となるように設定されている。このようなロールの表面に疵などが存在すると、そのロールで処理されるフィルム10には、ロールの回転周期に対応する距離毎に疵などの欠陥が発生する。
【0022】
実際に発生した欠陥としては、たとえばNIPロール17aに起因して、628mmの周期でフィルムa11に発生した凹みを挙げることができる。また、NIPロール17b,17cに起因して、周期797mmの打コンも発生している。貼合ロール19に起因する周期638mmの打コンも発生している。貼合ロール19で糊供給装置が故障したときは、連続的な糊切れの欠陥が発生している。貼合ロール19〜検査装置21間のガイドロール24,25,26に起因する打コンは、周期319mmで発生している。
【0023】
図3は、図2の検査装置21の概要を示す。製品巻取り装置23に巻取られるフィルム10の長さは、走行長さ計測装置29によって計測される。フィルム10の表面の一方側、たとえば下方には、フィルム10の幅方向に延びる形状の照明装置30が配置される。照明装置30に対してフィルム10の表面の他方側、たとえば上方には、欠陥検出センサである複数の撮像手段31,32,…が配置される。複数の撮像手段31,32,…は、フィルム10の表面を、幅方向について複数の区間に区分し、各区間をそれぞれ走行方向2に沿って連続的に撮像する。複数の撮像手段31,32,…が撮像する画像データは、画像処理装置40に入力され、欠陥の検出と、欠陥が検出される場合の原因特定とが行われる。
【0024】
画像処理装置40には、区間判定手段41と、データメモリ42と、パターンメモリ43と、ロール判定手段44とが含まれる。区間検出手段41は、欠陥検出センサである撮像手段31,32,…の検出結果に基づいて、走行長さ計測装置29によって計測されるフィルム10の長さが基本寸法に対応する周長となる区間毎に、欠陥が存在しているか否かを判定し、判定結果を欠陥の有無に対応する2値で出力する。データメモリ42は、区間判定手段41の判定結果を、連続した2値データの集まりであるデータパターンとして記憶する。パターンメモリ43には、複数のロールの各ロールに対応して予め設定され、各ロールの直径の基本寸法に対する倍数分の数よりも1多い数のビット数を有する比較パターンを記憶しておく。ロール判定手段44は、データメモリ42に記憶されているデータパターンと、パターンメモリ43に記憶されている比較パターンとを比較し、データパターンに比較パターンが複数回繰返される部分が含まれているときに、比較パターンに対応するロールに欠陥の原因があると判定する。欠陥検出の判定結果は、基本寸法に対応する周長の区間にまとめてから、周期的な欠陥を生じているか否かの判定に用いるので、判定に必要なデータメモリ42の記憶容量を低減し、ロール判定手段44での演算処理を少なくすることができる。
【0025】
図4は、本実施形態で、区間判定手段41が欠陥の有無を判定出して、データメモリ42に記憶する手順を示す。ステップa0から手順を開始し、ステップa1では、データ値を0に設定する。ステップa2では、撮像手段31,32,…で画像を読取る。ステップa3では、読取られた画像データから欠陥が検出されているか否かを判定する。欠陥検出と判定されるときは、データ値を1に設定する。ステップa4の後、またはステップa3で欠陥が検出されないと判定された後、ステップa5で区間が終了したか否かを判断する。区間が終了していないと判断されるときは、ステップa2に戻る。ステップa5で区間が終了していると判断されるときは、データ値をデータメモリ42に記憶し、ステップa1に戻る。すなわち、各区間内に欠陥が検出されなければ、データ値「0」が記憶され、欠陥が検出されれば、データ値「1」が記憶される。
【0026】
図5は、本実施形態で、ロール判定手段44が周期的な欠陥を検出して、欠陥の原因となるロールを特定する手順を示す。ステップb0から手順を開始し、ステップb1では、関連するロールに対応して比較パターンを設定する。ステップb2では、パラメータnをn=0に設定する。ステップb3では、比較パターンと、図4に従って生成されるデータパターンとを比較する。ステップb4で一致していると判定されれば、ステップb5で、パラメータnの値を1だけ増加させる。ステップb6では、nの値が一定の値、たとえば3になっているか否かを判断する。nが1または2であるときには、ステップb7で比較パターンとデータパターンとを比較する位置を、比較パターンの全区間数から1少ない区間数だけ移動させ、ステップb4に戻る。比較パターンとデータパターンとを比較する位置をずらしながら、連続した3周期でパターンが一致すると、ステップb6からステップb8に移り、その比較パターンに対応するロールが欠陥の原因であると特定し、ステップb9で手順を終了する。なお、複数回、たとえば3回連続してパターンが一致することを周期的欠陥判定の条件にするのは、ノイズなどによる偶発的な欠陥検出を避けるためである。ロールに欠陥の原因が生じていれば、何回でも繰返して欠陥が発生するので、たとえば3回で判断すれば充分である。
【0027】
図4に示す区間判定手段41の動作と、図5に示すロール判定手段44の動作とは、並行して行われる。データメモリ42には、最大のロール径のロールの周長に対し、たとえば3回分を超えるデータパターンを記憶することができればよい。その長さ分のデータを100μm毎に記憶すると、極めて大容量のデータメモリ42を必要とする。本発明では、データメモリ42として必要な容量を、たとえば798分の1に低減することができる。フィルム10は、連続して生産されるので、全長分のデータパターンをデータメモリ42に記憶することはできないこともある。検査装置21での検査対象となっている部分の近傍を、連続して記憶しておくことができれば、周期的欠陥を充分に検出することができる。
【0028】
図6は、欠陥検出センサとしての撮像手段31,32,…の検出結果に基づいて、欠陥の原因となるロールを判定するロール起因欠陥の判定装置を含む欠陥検査装置50の全体的な構成を示す。欠陥検査装置50には、検査情報表示部51や検査装置操作部52が含まれる。欠陥は、複数の撮像手段31,32,…が受持つフィルム10の幅方向の区間毎に検出され、各区間で、走行方向2については、前述のように、基本寸法に基づく区間毎にデータパターンが得られる。欠陥が検出されるときには、パトライト53を点灯させることなどによって、周囲に報知する。検査装置情報表示部51には、検査結果がリアルタイムで表示される。欠陥の検出結果も含めて、検査結果は記録として残される。
【0029】
図7は、図6の検査情報表示部51にリアルタイムで表示される検査結果60の概要を示す。検査結果の横方向は、フィルム10の幅方向について、図7(a)に示すような縮小表示61と、図7(b)に示すような拡大表示62とを切換えて表示することができる。検査結果60の縦方向は、フィルム10の走行方向であり、基本寸法の区間をブロック63として表示する。1つのブロック63の横幅は、縮小表示61ではたとえば160mmに相当し、拡大表示62ではたとえば20mmに相当する。検査結果60の側方では、周期欠陥表示64も行われる。周期欠陥表示は、1B,2B,3Bの3箇所で行うことができ、たとえば100Aに相当する4ブロックを1B、200Aに相当する8ブロックを2B、250Aに相当する10ブロックを3Bとして、周期的な欠陥が発生したことを表示させる。
【0030】
以上説明した本実施形態では、例えば100μm毎に検出する欠陥を基本寸法に対応する区間毎に集約するようにしているけれども、この区間全体の画像から全体的に欠陥があるか否かを判定することもできる。また、光学的に欠陥を検出するようにしているけれども、音響的や電磁的な方法など、他の方法で欠陥を検出することもできる。基本寸法に「インチ」を用いているけれども、他の寸法であっても本発明を同様に適用することができることはもちろんである。
【0031】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、ウエブ状物体に欠陥を発生させうる複数のロールは、径が異なるものを含み、各ロールの径は、基本寸法の整数倍となるように設定されている。このようなロールの表面に疵などが存在すると、そのロールで処理されるウエブ状物体には、ロールの回転周期に対応する距離毎に疵などの欠陥が発生するので、連続した区間に周期的な欠陥が生じているか否かを判定し、基本寸法の整数倍の周期で欠陥が検出されていれば、その周期に対応する径を有するロールが欠陥の原因であると特定することができる。欠陥検出の判定結果は、基本寸法に対応する周長の区間にまとめてから、周期的な欠陥を生じているか否かの判定に用いるので、判定に必要な記憶容量を低減し、演算処理を少なくすることができる。
【0032】
また本発明によれば、周期的な欠陥の判定結果は、基本寸法に対応する区間毎の順次的な2値データの集まりであるデータパターンで記憶され、周期的な欠陥の判定は、連続的な欠陥の判定結果を示すデータデータパタンに、比較パターンが複数回繰返される部分があるか否かで行うので、比較パターンの長さだけ、2値データ間で区間毎の比較演算を行えばよく、演算処理を迅速に行うことができる。
【0033】
さらに本発明によれば、ウエブ状物体に欠陥を発生させうる複数のロールのうち、どのロールが欠陥の原因となっているかを特定することができる。ウエブ状物体の走行の方向に沿って、基本寸法の直径を有する円筒の周長に相当する長さに設定される区間毎に、欠陥が存在しているか否かを判定し、区間毎の判定結果を連続した2値データの集まりであるデータパターンとして記憶する。データパターンと、ロールの径に対応する比較パターンとを比較し、データパターンに比較パターンが複数回繰返される部分が含まれているときに、比較パターンに対応するロールに欠陥の原因があると判定するので、演算処理を少なくし、迅速化することができる。欠陥検出の判定結果は、基本寸法に対応する周長の区間にまとめてから、周期的な欠陥を生じているか否かの判定に用いるので、判定に必要なデータメモリの記憶容量を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態としてのロール起因の欠陥判定方法の基本的な考え方を簡略化して示す図である。
【図2】本発明の実施の一形態をしてのロール起因欠陥の判定方法を、フィルムの生産ラインに適用する例を示す簡略化した側面図である。
【図3】図2の検査装置21の概要を示すブロック図である。
【図4】図3の区間判定手段41の判定手順を示すフローチャートである。
【図5】図3のロール判定手段44の判定手順を示すフローチャートである。
【図6】図2の検査装置21を含む欠陥検査装置50の概略的な構成を示すブロック図である。
【図7】図6の検査情報表示部51の表示情報を示す図である。
【符号の説明】
1 ウエブ状物体
2 走行方向
3 ロール
4 欠陥
5 ゴミ
6 データパターン
7,9 区間
8 比較パターン
10 フィルム
17a,17b,17c NIPロール
19 貼合ロール
24,25,26 ガイドロール
31,32,… 撮像手段
40 画像処理装置
41 区間判定手段
42 データメモリ
43 パターンメモリ
44 ロール判定手段
50 欠陥検査装置
51 検査情報表示部
60 検査結果
63 ブロック
64 周期欠陥表示

Claims (3)

  1. ウエブ状物体を複数のロールで走行させながら処理する処理装置で、該複数のロールは異なる直径のロールを含み、各ロールの直径が予め定める基本寸法の整数倍となるように設定されている場合に、該ウエブ状物体に存在するロール起因欠陥の判定方法であって、
    該ウエブ状物体に欠陥が存在するか否かを、該走行の方向に沿って、該基本寸法の直径を有する円筒の周長に相当する長さに設定される区間毎にそれぞれ1つに集約して判別し、
    区間毎にそれぞれ集約される各欠陥判別結果を、該走行の方向に沿って順次的に記憶し、 記憶した各区間についての順次的な欠陥判定結果に基づいて、連続した区間に周期的な欠陥が生じているか否かを判定し、
    周期的な欠陥が生じていると判定されるとき、該周期に相当する長さの間隔に含まれる区間数を該基本寸法に乗算した数値の直径を有するロールに、該周期的な欠陥の原因があると判定することを特徴とするロール起因欠陥の判定方法。
  2. 前記区間毎にそれぞれ集約される欠陥判定結果を、欠陥の有無を表す1つの2値データで順次的に記憶して、区間毎の欠陥判定結果を示す2値データが該走行の方向に沿って順に並ぶデータパターンとして記憶し、
    前記複数のロールの各ロールに対応して、直径の前記基本寸法に対する倍数分の数よりも1つ多い数の2値データが並ぶ比較パターンであって、そのうち両端の2値データは、欠陥を有することを示す値に定められ、両端以外の残余の2値データは、欠陥が無いことを示す値に定められる比較パターンを設定しておき、
    前記周期的な欠陥の判定は、該データパターンと、該比較パターンとを比較し、該データパターンに、該比較パターンが複数回繰返される部分が含まれているか否かで行うことを特徴とする請求項1記載のロール起因欠陥の判定方法。
  3. ウエブ状物体を複数のロールで走行させながら処理する処理装置で、該複数のロールは異なる直径のロールを含み、各ロールの直径が予め定める基本寸法の整数倍となるように設定されている場合に、該ウエブ状物体に存在するロール起因欠陥を判定するロール起因欠陥の判定装置であって、
    走行するウエブ状物体から、欠陥を検出する欠陥検出センサと、
    欠陥検出センサの検出結果に基づいて、該ウエブ状物体の走行の方向に沿って、該基本寸法の直径を有する円筒の周長に相当する長さに設定される区間毎にそれぞれ1つに集約して、欠陥が存在しているか否かを判定し、判定結果を欠陥の有無に対応する2値データで出力する区間判定手段と、
    区間判定手段によって区間毎にそれぞれ1つに集約される欠陥判定結果を示す2値データを、該走行の方向に沿って順に並ぶデータパターンとして記憶するデータメモリと、
    複数のロールの各ロールに対応して予め設定され、各ロールの直径の該基本寸法に対する倍数の数よりも1つ多い数の2値データが並ぶ比較パターンであって、そのうち両端の2値データは、欠陥を有することを示す値に定められ、両端以外の残余の2値データは、欠陥が無いことを示す値に定められる比較パターンを記憶しておくパターンメモリと、
    データメモリに記憶されているデータパターンと、パターンメモリに記憶されている比較パターンとを比較し、該データパターンに、該比較パターンが複数回繰返される部分が含まれているときに、該比較パターンに対応するロールに欠陥の原因があると判定するロール判定手段とを含むことを特徴とするロール起因欠陥の判定装置。
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