JP6801142B1 - 偏光板の検査方法および検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
1つの実施形態においては、上記偏光板が、長尺方向および幅方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。
1つの実施形態においては、上記画像データの取得が、上記偏光板の連続的な撮像に基づいて行われる。
1つの実施形態においては、上記欠陥候補部の抽出が、上記画像データの輝度情報に基づいて行われる。
1つの実施形態においては、上記欠陥候補部が上記長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程をさらに含み、上記欠陥を検出する工程が、上記欠陥候補部のサイズおよび周期性の有無に基づいて欠陥を検出する工程である。
1つの実施形態においては、上記基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部についてのみ、上記長尺方向に周期性を有するか否かを判断する。
1つの実施形態においては、上記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、上記欠陥候補部の長尺方向における位置座標に基づいて行われる。
1つの実施形態においては、上記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、判断対象の欠陥候補部と、その搬送方向上流側に存在する非偏光部との長尺方向の距離が、所定の距離であるか否かに基づいて行われる。
本発明の別の局面によれば、偏光板の製造方法が提供される。該製造方法は、上記検査方法によって偏光板を検査することを含む。
本発明のさらに別の局面によれば、長尺状の偏光板の外観検査装置が提供される。該外観検査装置は、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を撮像して画像データを取得する撮像装置と、該画像データを解析して該偏光板の欠陥を検出する画像解析装置と、を備える。該画像解析装置が、該画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する欠陥候補部抽出部と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断するサイズ判断部と、欠陥候補部が該長尺方向に周期性を有するか否かを判断する周期性判断部と、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する欠陥検出部と、を有する。
本発明は、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を、該長尺方向に搬送しながらその外観を検査する方法を提供する。本発明の検査方法は、非偏光部を有する偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、欠陥候補部のサイズに基づいて欠陥を検出する工程と、を含む。欠陥を検出する工程においては、例えば、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部を非偏光部と認識して区別し、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部を欠陥として検出することができる。
本発明の検査方法に供される偏光板は、長尺状であり、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。該非偏光部は、代表的には、偏光子に形成された非偏光部に起因する。なお、本明細書において「長尺状」とは、幅に対して長さが十分に長い細長形状を意味し、例えば、幅に対して長さが10倍以上、好ましくは20倍以上の細長形状を含む。
図3は、本発明の検査方法に用いられ得る検査装置を説明する概略図である。図示した実施形態においては、長尺状の偏光板30が検査装置100に搬送されて外観検査が行われる。検査装置100は、偏光板30を撮像して画像データを取得する撮像装置50と、得られた画像データを解析して該偏光板30の欠陥を検出する画像解析装置80と、を備える。画像解析装置80は、得られた画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する欠陥候補部抽出部82と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断するサイズ判断部84と、欠陥候補部が長尺方向に周期性を有するか否かを判断する周期性判断部86と、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する欠陥検出部88と、を有する。
工程(1)は、撮像装置50を用いて、上記非偏光部を有する偏光板を撮像して画像データを得ることにより行われ得る。撮像装置50は、代表的には、照明部52と撮像部54とを備える。
撮像装置50によって得られた画像データは、電気信号として画像解析装置80に送信される。送信された画像データは、欠陥候補部抽出部82によって解析され、これにより、欠陥候補部が抽出される。
欠陥候補部抽出部82によって欠陥候補部が抽出されると、抽出された個々の欠陥候補部について、サイズ判断部84でそのサイズを決定し、さらには、そのサイズが基準値以下であるか否かを判断する。
周期性判断部86は、抽出された欠陥候補部の全てを周期性の判断対象としてもよく、サイズ判断部84において基準値を超えるサイズを有することが確認された欠陥候補部のみを判断対象としてもよい。好ましくは、サイズ判断部84において基準値を超えるサイズを有することが確認された欠陥候補部のみを判断対象とする。
欠陥検出部88は、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する。具体的には、欠陥検出部88は、サイズ判断部84において基準値以下のサイズを有すると判断された欠陥候補部を欠陥として検出する。欠陥検出部88はさらに、周期性判断部86において周期性を有すると判断された欠陥候補部を非偏光部と認識して欠陥候補部と区別し、残りの欠陥候補部を欠陥として検出することができる。換言すれば、欠陥検出部88は、基準値以下のサイズを有すると判断された欠陥候補部および周期性を有さないと判断された欠陥候補部を欠陥として検出し得る。
検査装置100は、マーキング装置(図示せず)をさらに備えていてもよい。マーキング装置は、画像処理装置と接続され、画像処理装置(実質的には、欠陥検出部)が欠陥を検出すると、該欠陥の位置情報をマーキング装置に送信する。マーキング装置は、該位置情報に基づいて、欠陥部にマーキングを行う。マーキングされた領域は、裁断後に不良偏光板として容易に排除され得る。マーキングとしては、マーカーペンを用いたマーキングやレーザーマーキングが挙げられる。
本発明の非偏光部を有する偏光子を含む長尺状の偏光板の製造方法は、長尺状の偏光子に非偏光部を形成すること、該非偏光部を有する長尺状の偏光子を用いて偏光板を作製すること、および、上記検査方法により偏光板の外観を検査することを含む。
偏光子は、代表的には、二色性物質を含む樹脂フィルムから構成される。二色性物質としては、例えば、ヨウ素、有機染料等が挙げられる。これらは、単独で、または二種以上組み合わせて用いられ得る。好ましくはヨウ素が用いられる。
好ましくは、非偏光部は、脱色部である。このような構成によれば、機械的に(例えば、トムソン刃打抜き、プロッター、ウォータージェット等を用いて機械的に抜き落とす方法により)、貫通穴が形成されている場合に比べて、クラック、デラミ(層間剥離)、糊はみ出し等の品質上の問題が回避される。脱色部は、好ましくは、偏光子(二色性物質を含む樹脂フィルム)の所望の位置に塩基性溶液を接触させることにより形成される。このような方法により形成される非偏光部は、他の部位(非接触部)よりも二色性物質の含有量が低い低濃度部とされ得る。低濃度部は二色性物質自体の含有量が低いので、レーザー光等により二色性物質を分解して脱色部が形成されている場合に比べて、非偏光部の透明性が良好に維持される。
上記のようにして得られる非偏光部を有する長尺状の偏光子は、代表的には、偏光子/保護フィルムの積層体を構成している。該積層体は、そのまま偏光板として用いることができる一方で、目的等に応じて、該積層体に保護フィルム等の他の構成部材を積層することにより、最終製品としての任意の適切な構成を有する偏光板が得られ得る。また、単一の樹脂フィルムからなる偏光子が得られる場合も同様に、用途等に応じて、その片側または両側に保護フィルム等の他の構成部材を積層することにより、最終製品としての任意の適切な構成を有する偏光板が得られ得る。積層される他の構成部材については、A−1項で記載したとおりである。
上記のようにして得られた偏光板をA項に記載の検査方法に供する。A項に記載の検査方法で、非偏光部を有する偏光板の外観を検査することにより、非偏光部を欠陥として誤って検出することなく、目的とする欠陥(異物、気泡、ピンホール等)を検出できるので、検査効率と検査精度とが高次に両立可能となる。その結果、高品質の偏光板が優れた製造効率で得られ得る。
本発明の偏光板の製造方法は、長尺状の偏光板を所望のサイズに裁断する工程をさらに含み得る。裁断は、切断、打ち抜き等によって行われ得る。長尺状の偏光板は、好ましくは、取り付けられる画像表示装置に対応するサイズを有するとともに、画像表示装置に取り付けられた際にそのカメラ部と対応する位置に非偏光部を有するように裁断される。
10a 非偏光部
30 偏光板
50 撮像装置
80 画像解析装置
82 欠陥候補部抽出部
84 サイズ判断部
86 周期性判断部
88 欠陥検出部
100 検査装置
Claims (8)
- 長尺状の偏光子に長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を形成すること、該非偏光部を有する長尺状の偏光子を用いて長尺状の偏光板を作製すること、および、該長尺状の偏光板を長尺方向に搬送しながらその外観を検査することを含む、偏光板の製造方法であって、
該長尺状の偏光板の外観を検査することが、
該偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、
該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、
欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、
基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部についてのみ、該欠陥候補部が長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程と、
欠陥を検出する工程と、
を含み、
該欠陥を検出する工程は、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部および基準値を超えるサイズを有し、かつ、周期性を有さない欠陥候補部を欠陥として検出することを含む、偏光板の製造方法。 - 前記長尺状の偏光子に、長尺方向および幅方向に所定の間隔で配置された非偏光部を形成する、請求項1に記載の偏光板の製造方法。
- 前記画像データの取得が、前記偏光板の連続的な撮像に基づいて行われる、請求項1または2に記載の偏光板の製造方法。
- 前記欠陥候補部の抽出が、前記画像データの輝度情報に基づいて行われる、請求項1から3のいずれかに記載の偏光板の製造方法。
- 前記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、前記欠陥候補部の長尺方向における位置座標に基づいて行われる、請求項1から4のいずれかに記載の偏光板の製造方法。
- 前記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、判断対象の欠陥候補部と、その搬送方向上流側に存在する非偏光部との長尺方向の距離が、長尺方向における前記非偏光部の配置間隔または該間隔を整数倍した距離であるか否かに基づいて行われる、請求項1から4のいずれかに記載の偏光板の製造方法。
- 外観を検査した後に、前記長尺状の偏光板を所望のサイズに裁断することをさらに含む、請求項1から6のいずれかに記載の偏光板の製造方法。
- 塩基性溶液との接触によって前記長尺状の偏光子に前記非偏光部を形成する、請求項1から7のいずれかに記載の偏光板の製造方法。
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