JP4646951B2 - センサ付き表示装置 - Google Patents

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Description

本発明は、イメージセンサ機能を有する表示装置に関して、特に、イメージセンサ部の配置に関する。
液晶層に画素電極から電圧を加えて液晶を配向させ、表示部に画像を形成させるようにした液晶パネルが知られている。
従来の液晶パネルの構成を簡略に以下に述べる。
薄膜トランジスタからなる表示部および周辺回路を絶縁基板上に形成した素子基板と、対向基板とをスペーサによって基板間隔が保たれ、シール材によって接着する。そして、前記素子基板と対向基板との間に液晶を有している構造となっている。また、前記液晶は一対の基板に挟まれ、シール部によって囲まれている。パネルのシール部の配置は、表示部または表示部及び周辺駆動回路をリング状に取り囲む形状としている。
上記従来の構成において、素子基板とは、アクティブマトリクス回路および周辺回路が設けられた基板を指している。また、対向基板は、素子基板に対向配置して設けられる基板であって、対向電極、カラーフィルター等が形成されたものを指している。
また、上記従来の構成において、シール材には、紫外線硬化性や熱硬化性を有する封止用の樹脂等を用いている。
一方、イメージセンサとしては、現在、複写機、デジタルスチルカメラ、ビデオカメラ、ファクシミリ等の映像を電気信号に変換するための光センサとして広い分野で用いられており、光センサモジュールを組み込んだ装置構成としている。
このような液晶パネルとイメージセンサを同一基板上に作製した場合、パネルとイメージセンサの配置が重要な問題になってくる。
特に、イメージセンサのセンサ部は敏感な素子で構成され、また、ガラス基板の熱発散が悪いので、表示部の周辺回路からの発熱や、Ratio信号(高周波信号)によるノイズによる影響を受けてセンサの感度が低下しやすい。
本発明は、同一基板上に表示部とイメージセンサを有する表示装置に関して、感度が良好なセンサ部を有する安価な液晶表示パネルを提供することを課題とする。
本明細書で開示する本発明の構成は、
2枚の基板を用いてなる一対の基板であって、
一方の基板上に光電変換素子からなるセンサ部と、薄膜トランジスタからなる液晶表示部及び該表示部を駆動させるための周辺駆動回路部とを有し、
前記液晶表示部の少なくとも1辺と平行に周辺駆動回路部が配置されており、 前記液晶表示部の他の1辺と平行に前記センサ部が配置されていることを特徴とするイメージセンサを内蔵した液晶表示装置である。
また、本発明の他の構成としては、
2枚の基板を用いてなる一対の基板であって、
一方の基板上に光電変換素子からなるセンサ部と、薄膜トランジスタからなる液晶表示部及び該表示部を駆動させるための周辺駆動回路部とを有し、
前記表示部及び前記センサ部の配線を外部配線と接続する表示部の引き出し配線端子部と前記センサ部の間には、前記表示部が配置されていることを特徴とするイメージセンサを内蔵した液晶表示装置である。
また、本発明の他の構成としては、
2枚の基板を用いてなる一対の基板であって、
一方の基板上に光電変換素子からなるセンサ部と、薄膜トランジスタからなる液晶表示部及び該表示部を駆動させるための周辺駆動回路部とを有し、
前記表示部の長手方向の対称軸と、前記センサ部の長手方向の対称軸とが一致していることを特徴とするイメージセンサを内蔵した液晶表示装置である。
また、本発明の他の構成としては、
2枚の基板を用いてなる一対の基板であって、
一方の基板上に光電変換素子からなる2つのセンサ部と、薄膜トランジスタからなる液晶表示部及び該表示部を駆動させるための周辺駆動回路部とを有し、
前記2つのセンサ部は、前記表示部の長手方向の対称軸に対称な位置に配置することを特徴とするイメージセンサを内蔵した液晶表示装置である。
本発明においては、イメージセンサを内蔵した液晶表示装置とは、同一基板上に、表示部とセンサ部が形成されたものを指しており、センサ部の位置を以下に詳述するように配置する。
まず、表示部に画像を出力させた場合には、周辺駆動回路部が発熱する。主に、熱が集中する箇所は、周辺駆動回路部の中心点付近であることが発明者らの実験により判明した。
そのため、少なくとも周辺駆動回路104の中心点付近には、センサ部を配置せずに、図1(A)〜(D)で示すような配置にする。また、引き出し配線部105からはノイズおよび静電気が発生し、センサ部(センサ部周辺回路を含む)103に影響を与えるので、図1(A)〜(D)に示すように、センサ部103と引き出し配線部105は間隔を離すことが望ましい。
エリアセンサは、周辺駆動回路部104のない側にセンサ部103を設置する。シングルエリアセンサの場合は、図1(A)、(B)のように、使用者の画像を主に取り入れるため、表示部101の上部中央部に配置されることが望ましい。また、図1(C)は、基板の短辺方向にスペースを取らないように、シングルエリアセンサを表示部の側部に設置して、基板の短辺をできる限り小さくした一例である。
また、図1(D)のように、ダブルエリアセンサは、使用者の立体的な画像を主に取り入れるため、表示部101の対称軸を軸として対称な位置に2つ配置することが望ましい。
また、他の構成としてリニアセンサを用いた場合、図2(A)、(B)のように、周辺駆動回路104のない側にリニアセンサ部107を設置する。
更に、リニアセンサ部107を表示部101に対して水平、または垂直に配置する。このような配置とすることで、移動機構を容易にすることができる。
上記構成とすることで、周辺駆動回路や、引き出し配線端子の影響(ノイズ、熱)を受けることのない、感度の良好なセンサ部を有する安価な液晶表示パネルを得ることできる。
本発明により、周辺駆動回路や、引き出し配線の影響(ノイズ、熱)を受けることのない、感度の良好なセンサ部を有する安価な液晶表示パネルを得ることできる。
また、本発明では、イメージセンサを画素マトリクス及び周辺駆動回路と同一基板上に設けたため、表示機能と撮像機能を備えた表示装置を小型化、軽量化できるとともに、センサ部と表示部とを同時に形成するため、安価に表示装置を提供することができる。
素子基板内の配置を図1(A)に示した。
本実施例では、図1(A)に示すようにセンサ部103は、周辺駆動回路104のない箇所に設けられ、引き出し端子部105は表示部101を挟んで反対側に設けられている。こうすることで、周辺駆動回路104からのノイズ、発熱の影響、そして、引き出し端子部105で発生し易い静電気等の影響を受けることなく、良好な画像の読み込みを可能とした。また、作製工程における基板の分断時にも基板の分断面から離れているので、応力の影響を受けない配置である。
さらに、他の配置構成として、図1(B)で示したように、引き出し端子部105を表示部側部の周辺駆動回路104と並列して設けてもよい。
また、他の配置構成として、基板の短辺方向にスペースを取らないように、シングルエリアセンサ103を表示部101の側部に設置して、基板の短辺をできる限り小さくしたものが図1(C)である。
同一基板上にセンサ部と表示部を配置した電気機器の一例として、表示部601の上部中央部にエリアセンサ603が配置された液晶パネルを適用したノート型パソコンを図6(A)に示し、また、他の応用例として、テレビ携帯電話を図6(B)に示した。
素子基板内の配置を図1(D)に示した。
本実施例では、図1(D)に示すようにセンサ部103は、周辺駆動回路の中央部から遠い箇所に設けられ、左右対象に設けられている。2つのセンサを左右対象に設けることで使用者の画像を立体的に取り込むことができる。本実施例では、周辺駆動回路104の近くに配置されているが、周辺駆動回路の発熱する箇所は中央部であるので、エリアセンサ部103には、影響はない。
このようにして、表示部の上部にエリアセンサが2つ配置された液晶パネルを適用したノート型パソコンを図6(C)に示した。
図3〜5を用いて、実施例1、2の素子基板の作製方法を説明する。先ず、図3(A)に示すように、透明基板100全面に下地膜110を形成する。透明基板100としてガラス基板や石英基板を用いることができる。下地膜110として、プラズマCVD法によって、酸化珪素膜を200nmの厚さに形成した。
次に、プラズマCVD法によって非晶質珪素膜を30〜100nm、好ましくは30nmの厚さに成膜し、エキシマレーザ光を照射して、多結晶珪素膜60を形成した。この結晶化工程は、特にCMOS−TFT400の移動度を高くするのに重要な工程となる。なお、非晶質珪素膜の結晶化方法として、SPCと呼ばれる熱結晶化法、赤外線を照射するRTA法、熱結晶化とレーザアニールとを用いる方法等を用いることができる(図3(A))。
次に、多結晶珪素膜60をパターニングして、TFT200、300、400のソース領域、ドレイン領域、チャネル形成領域を構成する島状の半導体層301、201、401、402を形成する。次に、これら半導体層301、201、401、402を覆うゲイト絶縁膜120を形成する。ゲイト絶縁膜120はシラン(SiH4 )とN2 Oを原料ガスに用いて、プラズマCVD法で120nmの厚さに形成する。
次に、スパッタ法でアルミニウム膜61を300〜500nmの厚さ、本実施例では、300nmに形成する。ヒロックやウィスカーの発生を抑制するために、アルミニウム膜61にはスカンジウム(Sc)やチタン(Ti)やイットリウム(Y)を0.04〜1.0重量%含有させる(図3(B))。
次に、アルミニウム膜61の表面に、図示しない緻密な膜質を有する陽極酸化膜を形成する。陽極酸化膜を形成するには、3%の酒石酸を含んだエチレングリコール溶液中で、アルミニウム膜61を陽極にし白金を陰極にして、この電極間に電流を流せばよい。陽極酸化膜の膜厚は印加電圧によって制御する。本実施例では、陽極酸化膜の膜厚を10〜30nmとする。
次に、レジストマスク62を形成し、アルミニウム膜61をパターニングして、電極パターン202、302、403、404を形成する(図3(C))。
そして、再び陽極酸化を行い、図4(A)に示すように、電極パターン202、302、403、404の側面に多孔質状の陽極酸化膜203、303、405、406をそれぞれ形成する。この場合の陽極酸化工程は、電極パターン202、302、403、404を陽極にし、白金を陰極にして、濃度3%のシュウ酸水溶液中で、この電極間に電流を流せばよい。陽極酸化膜203、303、405、406の膜厚は電圧の印加時間によって制御できる。陽極酸化膜203、303、405、406は、半導体層に低濃度不純物領域を自己整合的に形成するために利用される(図4(A))。
そして、レジストマスク62を専用の剥離液によって除去した後、再び陽極酸化工程を行い、電極パターン202、302、403、404の周囲に、緻密な膜質を有する陽極酸化膜204、304、407、408をそれぞれ形成する。以上の陽極酸化工程において陽極酸化されなかった電極パターン202、302、403、404が、実質的なゲイト電極205、305、409、410として機能する。これらゲイト電極205、305、409、410の周囲に形成された緻密な膜質を有する陽極酸化膜204、304、407、408は、ゲイト電極を電気的、物理的に保護する機能を果たす。更に、これらの陽極酸化膜によって、オフセット構造を自己整合的に形成することができる(図4(B))。
図4(B)に示す状態が得られたら、半導体にN型の導電性を付与するために、Pイオンをドープする。本実施例では、イオンドーピング法を用いる。条件はドーズ量1×1015/cm2 、加速電圧80kvとする。この結果、ゲイト電極および陽極酸化膜がマスクとして機能し、半導体層201、301、401、402にそれぞれ、N型不純物領域206、306、411、412が自己整合的に形成される(図4(C))。
次に、多孔質状の陽極酸化膜203、303、405、406を除去した後、再び、イオンドーピング法でPイオンをドープする。ドーピング条件はドーズ量5×1013/cm2 、加速電圧70kvとする。この結果、2回のドーピング工程ともPイオンが注入された領域207、307、413、414はN型の高濃度不純物領域となり、図4(D)に示した2度目のドーピング工程のみ、Pイオンが注入された領域208、308、415、416はN型の低濃度不純物領域となる。また、2回のドーピング工程ともPイオンが注入されなかった領域209、309、417、418はチャネル形成領域となる。(図4(D))
また、ソース領域とドレイン領域の間の領域の内の緻密な陽極酸化膜の下部領域にはオフセット構造が自己整合的に形成される。
次に、図5(A)に示すように、CMOS−TFT400の半導体層402のN型の不純物領域をP型に反転するため、他の半導体層をレジストマスク63で覆う。この状態で、P型の導電性を付与するBイオンをイオンドーピング法で注入する。条件はドーズ量2×1015/cm2 、加速電圧65kVとする。この結果、N型の不純物領域414、416の導電型が反転し、P型の不純物領域419、420となる。そしてレーザアニールを行い、ドーピングされたPイオン、Bイオンを活性化する(図5(A))。
そして、第1の層間絶縁膜130を形成し、N型高濃度不純物領域207、307、413およびP型不純物領域419に達するコンタクトホールを形成する。しかる後、金属膜を形成し、パターニングして、配線210、211、310、311、421、422、423を形成する。なお、TFT400をCMOS構造とするために、配線422でN型高濃度不純物領域414とP型不純物領域419とが接続される。
本実施例では、第1の層間絶縁膜130を厚さ500nmの窒化珪素膜で形成する。第1の層間絶縁膜130として、窒化珪素膜の他に、酸化珪素膜、酸化窒化珪素膜を用いることができる。また、これらの絶縁膜の多層膜としても良い。
また、配線210、211、310、311、421、422、423の出発膜となる金属膜として、本実施例では、スパッタ法で、チタン膜、アルミニウム膜、チタン膜でなる積層膜を形成する。これらの膜厚はそれぞれ100nm、300nm、100nmとする。
以上のCMOSプロセスを経て、画素TFT200、受光部TFT300、CMOS−TFT400が同時に完成する(図5(B))。
次に、TFT200、300、400を覆う、第2の層間絶縁膜140を形成する。第2の層間絶縁膜140としては、下層の凹凸を相殺して、平坦な表面が得られる樹脂膜が好ましい。このような樹脂膜として、ポリイミド、ポリアミド、ポリイミドアミド、アクリルを用いることができる。また、第2の層間絶縁膜140の表面層は平坦な表面を得るため樹脂膜とし、下層は酸化珪素、窒化珪素、酸化窒化珪素等の無機絶縁材料の単層、多層としても良い。本実施例では、第2の層間絶縁膜140としてポリイミド膜を1.5μmの厚さに形成する。
次に、第2の層間絶縁膜140に受光部TFTの配線310に達するコンタクトホールを形成した後、導電膜を形成する。本実施例では導電膜として厚さ200nmのチタン膜をスパッタ法で成膜する。
次に、導電膜をパターニングし、表示部TFTの遮光膜221と、受光部TFTに接続された下側電極321とをそれぞれ形成する。この導電膜としてチタン、クロムを用いることができる。
次に、光電変換層322として機能する、水素が添加された非晶質珪素膜(以下、a−Si:H膜と表記する)を基板全面に成膜する。そして、受光部だけにa−Si:H膜が残存するようにパターニングをし、光電変換層322とする
そして、第3の層間絶縁膜150を形成する。第3の層間絶縁膜150を構成する絶縁被膜として、ポリイミド、ポリアミド、ポリイミドアミド、アクリル等の樹脂膜を形成すると平坦な表面を得ることができるため、好ましい。あるいは第3の層間絶縁膜150の表面層は上記の樹脂膜とし、下層は酸化珪素、窒化珪素、酸化窒化珪素等の無機絶縁材料の単層、多層膜を成膜してもよい。本実施例では、絶縁被膜として厚さ0.5μmのポリイミド膜を基板全面に形成した。
また、本発明の最高プロセス温度は、ポリイミドの耐熱温度320℃より低い温度になるようにする。
ポリイミド膜を成膜した後パターニングする。このパターニングにより、光電変換層322上のポリイミド膜を除去して、残存したポリイミド膜を第3の層間絶縁膜150とする。
更に、第3、第2の層間絶縁膜に配線211に達するコンタクトホールを形成する。次に、基板全面に透明導電膜を成膜し、パターニングして、画素TFTに接続された画素電極223、光電変換素子の透明電極323を形成する。透明導電膜にはITOやSnO2 を用いることができる。本実施例では、透明導電膜として厚さ120nmのITO膜を形成する。
以上の工程を経て、図5(C)に示すような素子基板が完成する。本実施例では、読みとられた画像データを表示するための制御を行う制御回路を同一基板上に設けたため、多機能化しても装置が大型化することがない。
エリアセンサのパネル配置図 リニアセンサのパネル配置図 TFTの作製工程図 TFTの作製工程図 TFTの作製工程図 本発明の応用例
符号の説明
101 表示部
103 エリアセンサ部
104 周辺駆動回路
105 引き出し端子部
107 リニアセンサ部

Claims (1)

  1. 同一の基板上に、センサ部、表示部、引き出し配線部、並びに第1及び第2の周辺駆動回路を有し、
    前記基板の形状は、第1の長辺と、第2の長辺と、第1の短辺と、第2の短辺と、を有する形状であり、
    前記第1の長辺の一端は前記第1の短辺の他端と接しており、
    前記第1の短辺の一端は前記第2の長辺の他端と接しており、
    前記第2の長辺の一端は前記第2の短辺の他端と接しており、
    前記第2の短辺の一端は前記第1の長辺の他端と接しており、
    前記センサ部は、前記第1の短辺側に設けられており、
    前記第1の周辺駆動回路は、前記第2の短辺側に設けられており、
    前記引き出し配線部及び前記第2の周辺駆動回路は、前記第1の長辺側に設けられており、
    前記引き出し配線部の中心点は、前記第2の周辺駆動回路の中心点よりも前記第2の短辺側に位置し、
    前記表示部は、前記第1の周辺駆動回路と前記センサ部に挟まれて設けられていることを特徴とするセンサ付き表示装置。
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