JP2014240816A - 欠陥検査システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】長尺帯状のフィルムを搬送する搬送ラインと、搬送ラインで搬送されるフィルムの欠陥検査を行う欠陥検査装置と、欠陥検査の結果に基づく欠陥情報を搬送ラインで搬送されるフィルムF105に記録する記録装置13と、を備え、記録装置13は、フィルムF105の端縁部に沿った記録領域Sにインクiを吐出させることによって欠陥情報を印字する印字ヘッド13aと、フィルムF105の少なくとも記録領域Sよりも内側の領域にインクiが付着することを防止するカバー30と、を有する。
【選択図】図5
Description
本実施形態では、光学表示デバイスの生産システムとして、その一部を構成するフィルム製造装置について説明する。
先ず、光学表示デバイスとして、図1及び図2に示す液晶表示パネルPの構成について説明する。なお、図1は、液晶表示パネルPの構成を示す平面図である。図2は、図1中に示す切断線A−Aによる液晶表示パネルPの断面図である。なお、図2では、断面を示すハッチングの図示を省略している。
次に、図3に示す光学フィルムF1Xを構成する光学シートFXの一例について説明する。なお、図3は、光学シートFXの構成を示す断面図である。なお、図3では、断面を示すハッチングの図示を省略している。
次に、図4に示すフィルム製造装置1について説明する。なお、図4は、フィルム製造装置1の構成を示す側面図である。
次に、上記フィルム製造装置1が備える欠陥検査システム10について説明する。
欠陥検査システム10は、図4に示すように、搬送ラインLと、第1の欠陥検査装置11及び第2の欠陥検査装置12と、記録装置13と、第1の測長器14及び第2の測長器15と、制御装置16とを概略備えて構成されている。
10…欠陥検査システム 11…第1の欠陥検査装置 12…第2の欠陥検査装置 13…記録装置 13a…印字ヘッド 14…第1の測長器 15…第2の測長器 16…制御装置 21a,22a,23a,24a,25a…照明部 21b,22b,23b,24b,25b…光検出部
30…カバー 30a…第1の側板部 30b…第2の側板部 30c…第3の側板部 30d…第4の側板部 31…カバー 32…カバー 32…窓部 40…静電気除去装置
P…液晶表示パネル(光学表示デバイス) F1X…光学フィルム F10X…光学フィルム F101…第1のフィルム F102…第2のフィルム F103…第3のフィルム F104…片面貼合フィルム F105…両面貼合フィルム
Claims (8)
- 長尺帯状のフィルムを搬送する搬送ラインと、
前記搬送ラインで搬送されるフィルムの欠陥検査を行う欠陥検査装置と、
前記欠陥検査の結果に基づく欠陥情報を前記搬送ラインで搬送されるフィルムに記録する記録装置と、を備え、
前記記録装置は、前記フィルムの端縁部に沿った記録領域にインクを吐出させることによって前記欠陥情報を印字する印字ヘッドと、
前記フィルムの少なくとも前記記録領域よりも内側の領域にインクが付着することを防止するカバーと、を有することを特徴とする欠陥検査システム。 - 前記カバーは、前記フィルムと前記印字ヘッドとが対向する空間のうち、少なくとも前記フィルムの内側に面する側を覆う第1の側板部を有することを特徴とする請求項1に記載の欠陥検査システム。
- 前記カバーは、前記空間のうち、前記フィルムの搬送方向の上流側に面する側を覆う第2の側板部と、前記フィルムの搬送方向の下流側に面する側を覆う第3の側板部と、を有することを特徴とする請求項2に記載の欠陥検査システム。
- 前記カバーは、前記空間のうち、前記フィルムの外側に面する側を覆う第4の側板部を有することを特徴とする請求項3に記載の欠陥検査システム。
- 前記カバーは、前記フィルムと対向する面と、前記フィルムの表面との間の間隔が1mm以下であることを特徴とする請求項1〜4の何れか一項に記載の欠陥検査システム。
- 前記カバーは、前記印字ヘッドに対して着脱自在に取り付けられていることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の欠陥検査システム。
- 前記カバーは、前記フィルムに近接した状態で前記フィルムに対向して配置されると共に、前記記録領域に臨む位置に窓部を有することを特徴とする請求項1に記載の欠陥検査システム。
- 前記フィルムの搬送方向における前記記録装置よりも上流側に位置して、前記フィルムの表面を除電する静電気除去装置を備えることを特徴とする請求項1〜7の何れか一項に記載の欠陥検査システム。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013124040A JP6177017B2 (ja) | 2013-06-12 | 2013-06-12 | 欠陥検査システム |
PCT/JP2014/065231 WO2014199952A1 (ja) | 2013-06-12 | 2014-06-09 | 欠陥検査システム |
KR1020217010535A KR102369758B1 (ko) | 2013-06-12 | 2014-06-09 | 결함 검사 시스템 |
KR1020157034307A KR20160018510A (ko) | 2013-06-12 | 2014-06-09 | 결함 검사 시스템 |
CN201480030723.4A CN105247351B (zh) | 2013-06-12 | 2014-06-09 | 缺陷检查系统 |
TW103120087A TWI626439B (zh) | 2013-06-12 | 2014-06-10 | 缺陷檢查系統 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013124040A JP6177017B2 (ja) | 2013-06-12 | 2013-06-12 | 欠陥検査システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014240816A true JP2014240816A (ja) | 2014-12-25 |
JP6177017B2 JP6177017B2 (ja) | 2017-08-09 |
Family
ID=52022245
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013124040A Active JP6177017B2 (ja) | 2013-06-12 | 2013-06-12 | 欠陥検査システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6177017B2 (ja) |
KR (2) | KR20160018510A (ja) |
CN (1) | CN105247351B (ja) |
TW (1) | TWI626439B (ja) |
WO (1) | WO2014199952A1 (ja) |
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- 2014-06-09 KR KR1020157034307A patent/KR20160018510A/ko not_active IP Right Cessation
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JP7086642B2 (ja) | 2017-03-03 | 2022-06-20 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム、フィルム製造装置、フィルム製造方法、印字装置及び印字方法 |
KR20180101208A (ko) * | 2017-03-03 | 2018-09-12 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 마킹 장치, 결함 검사 시스템 및 필름 제조 방법 |
CN111886474A (zh) * | 2017-06-16 | 2020-11-03 | 株式会社欧普同 | 检查装置 |
JP2019002834A (ja) * | 2017-06-16 | 2019-01-10 | 株式会社オプトン | 検査装置 |
WO2018230134A1 (ja) * | 2017-06-16 | 2018-12-20 | 株式会社オプトン | 検査装置 |
JP6408654B1 (ja) * | 2017-06-16 | 2018-10-17 | 株式会社オプトン | 検査装置 |
CN109425616A (zh) * | 2017-09-05 | 2019-03-05 | 住友化学株式会社 | 缺陷记录系统、膜制造系统以及膜的制造方法 |
US11124379B2 (en) | 2018-02-22 | 2021-09-21 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Method of producing film, and film winding apparatus |
KR20190101290A (ko) | 2018-02-22 | 2019-08-30 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 필름의 제조 방법, 필름 권회 장치 |
JP2019215371A (ja) * | 2019-08-26 | 2019-12-19 | 住友化学株式会社 | 光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI626439B (zh) | 2018-06-11 |
CN105247351B (zh) | 2019-12-24 |
KR102369758B1 (ko) | 2022-03-03 |
JP6177017B2 (ja) | 2017-08-09 |
KR20210043007A (ko) | 2021-04-20 |
CN105247351A (zh) | 2016-01-13 |
TW201502495A (zh) | 2015-01-16 |
KR20160018510A (ko) | 2016-02-17 |
WO2014199952A1 (ja) | 2014-12-18 |
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