KR20180101211A - 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법 - Google Patents

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Abstract

긴 띠 형상의 필름(F105)을 반송하는 사이에, 필름(F105)의 단연부를 따른 기록 영역(S)에 인자를 행하는 인자 장치(50)는, 필름(F105)에 대하여 인자를 행하는 인자 헤드(13a)와, 필름(F105)의 사행을 검출하는 사행 검출부(53)와, 인자 헤드(13a)를 필름(F105)의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작하는 헤드 조작부(51)를 구비하고, 사행 검출부(53)가 검출한 필름(F105)의 사행에 맞춰, 헤드 조작부(51)가 인자 헤드(13a)를 기록 영역(S)과 대향하는 위치까지 이동시킨다.

Description

결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법{DEFECT INSPECTION SYSTEM, FILM MANUFACTURING APPARATUS, FILM MANUFACTURING METHOD, PRINTING APPARATUS, AND PRINTING METHOD}
본 발명은 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법에 관한 것이다.
예컨대, 편광판 등의 광학 필름은, 이물 결함이나 요철 결함 등의 결함을 검사한 후, 심재의 주위에 권취된다. 결함의 위치나 종류에 관한 정보(이하, 결함 정보라고 한다.)는, 광학 필름의 단부에 바코드를 인자하거나 결함 부위에 마킹을 실시하거나 함으로써 광학 필름에 기록된다. 심재에 권취된 광학 필름은, 권취량이 일정량에 달하면, 상류 측의 광학 필름으로부터 분리되어 원단 롤로서 출하된다. 예컨대, 일본국 특허공개 2011-7779호 공보에는, 광학 필름의 반송 라인 상에, 결함 검사 장치와, 결함 정보를 필름에 기록하는 기록 장치를 구비한 결함 검사 시스템이 개시되어 있다.
그런데, 상술한 결함 검사 시스템에서는, 결함 정보를 광학 필름에 기록할 때에, 광학 필름의 상태나 반송 조건 등에 따라서, 반송 중인 광학 필름에 사행이 생기는 경우가 있었다. 이러한 사행이 광학 필름에 생긴 경우, 인자 헤드로부터 토출된 잉크에 의해서 인자되는 결함 정보가, 광학 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 깔끔하게 기록되지 않고서 인자 미스로 되어 버릴 가능성이 있다.
본 발명의 양태는 이러한 종래의 사정에 감안하여 제안된 것으로, 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 사이에 사행이 생긴 경우라도, 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 인자를 적절히 행할 수 있게 한 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 과제를 해결하기 위해서 본 발명의 양태는 이하의 구성을 채용한다.
본 발명의 일 양태에 따른 결함 검사 시스템은, 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 반송 라인과, 상기 반송 라인으로 반송되는 필름의 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와, 상기 결함 검사 결과에 기초한 결함 정보를 상기 반송 라인으로 반송되는 필름에 기록하는 기록 장치를 구비하고, 상기 기록 장치는, 상기 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 상기 결함 정보를 인자하는 인자 헤드와, 상기 필름의 사행을 검출하는 사행 검출부와, 상기 인자 헤드를 상기 필름에 대하여 상대적으로 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작하는 헤드 조작부를 가지고, 상기 사행 검출부가 검출한 상기 필름의 사행에 맞춰 상기 헤드 조작부가 상기 인자 헤드를 상기 기록 영역과 대향하는 위치까지 이동시킨다.
또한, 상기 양태의 결함 검사 시스템에서는, 상기 사행 검출부가, 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 나란히 배치되는 복수의 센서를 가지고, 상기 복수의 센서가, 상기 헤드 조작부에 의해 상기 인자 헤드와 일체로 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작되어도 좋다.
또한, 상기 양태의 결함 검사 시스템에서는, 상기 인자 헤드가 상기 기록 영역과 대향하는 위치에 있는 경우에 있어서, 상기 복수의 센서 중 적어도 인접하는 한쪽의 센서와 다른 쪽의 센서 사이에서 다른 신호가 검출되어도 좋다.
또한, 상기 양태의 결함 검사 시스템에서는, 상기 사행 검출부가, 상기 필름으로 향하여 광을 출사하는 적어도 하나 또는 복수의 광원과, 상기 센서로서 상기 필름을 사이에 두고서 상기 광원과 대향하도록 배치되는 복수의 수광 소자를 갖더라도 좋다.
또한, 본 발명의 다른 일 양태는, 상기한 어느 결함 검사 시스템을 구비하는 필름 제조 장치이다.
또한, 본 발명의 또 다른 일 양태는, 상기한 어느 결함 검사 시스템을 이용하여 결함 검사하는 공정을 포함하는 필름 제조 방법이다.
또한, 본 발명의 또 다른 일 양태는, 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 사이에, 상기 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 인자를 하는 인자 장치로서, 상기 필름에 대하여 인자를 행하는 인자 헤드와, 상기 필름의 사행을 검출하는 사행 검출부와, 상기 인자 헤드를 상기 필름에 대하여 상대적으로 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작하는 헤드 조작부를 구비하고, 상기 사행 검출부가 검출한 상기 필름의 사행에 맞춰 상기 헤드 조작부가 상기 인자 헤드를 상기 기록 영역과 대향하는 위치까지 이동시킨다.
또한, 상기 양태의 인자 장치에서는, 상기 사행 검출부가, 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 나란히 배치되는 복수의 센서를 가지고, 상기 복수의 센서가 상기 헤드 조작부에 의해 상기 인자 헤드와 일체로 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작되어도 좋다.
또한, 상기 양태의 인자 장치에서는, 상기 인자 헤드가 상기 기록 영역과 대향하는 위치에 있는 경우에 있어서, 상기 복수의 센서 중, 적어도 인접하는 한쪽의 센서와 다른 쪽의 센서 사이에서 다른 신호가 검출되어도 좋다.
또한, 상기 양태의 인자 장치에서는, 상기 사행 검출부가, 상기 필름으로 향하여 광을 출사하는 적어도 하나 또는 복수의 광원을 갖더라도 좋다.
또한, 본 발명의 또 다른 일 양태는, 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 사이에, 인자 헤드를 이용하여 상기 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 인자를 행하는 인자 방법으로서, 상기 필름의 사행을 검출하는 공정과, 상기 검출한 상기 필름의 사행에 맞춰 상기 인자 헤드를 상기 필름에 대하여 상대적으로 상기 기록 영역과 대향하는 위치까지 이동시키는 공정과, 상기 인자 헤드를 이용하여 상기 기록 영역에 인자를 행하는 공정을 포함한다.
또한, 상기 양태의 인자 방법에서는, 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 나란히 배치됨과 더불어 상기 인자 헤드와 일체로 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작되는 복수의 센서를 이용하여, 상기 필름의 단연부를 검출하여도 좋다.
또한, 상기 양태의 인자 방법에서는, 상기 인자 헤드가 상기 기록 영역과 대향하는 위치에 있는 경우에 있어서, 상기 복수의 센서 중 적어도 인접하는 한쪽의 센서와 다른 쪽의 센서 사이에서 다른 신호를 검출하여도 좋다.
또한, 상기 양태의 인자 방법에서는, 상기 필름으로 향하여 광을 출사하는 적어도 하나 또는 복수의 광원을 이용하여도 좋다.
이상과 같이, 본 발명의 양태에 따르면, 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 사이에 사행이 생긴 경우라도, 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 인자를 적절히 행할 수 있게 한 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 액정 표시 패널의 일례를 도시하는 평면도이다.
도 2는 도 1 중에 도시하는 액정 표시 패널의 단면도이다.
도 3은 광학 필름의 일례를 도시하는 단면도이다.
도 4는 필름 제조 장치 및 결함 검사 시스템의 구성을 도시하는 측면도이다.
도 5는 양면 접합 필름의 구성을 도시하는 평면도이다.
도 6은 인자 장치의 구성을 도시한다. 도 6(a)은 필름의 상측에서 본 인자 장치의 평면도이다. 도 6(b)은 필름의 반송 방향에서 본 인자 장치의 측면도이다.
도 7은 도 6에 도시하는 인자 장치의 동작을 도시한다. 도 7(a)은 인자 헤드가 정상 위치에 있는 경우의 측면도이다. 도 7(b)은 인자 헤드가 외측에 있는 경우의 측면도이다. 도 7(c)은 인자 헤드가 내측에 있는 경우의 측면도이다.
도 8은 기록 장치의 일례를 도시하는 측면도이다.
도 9는 커버의 일례를 도시한다. 도 9(a)는 필름의 상측에서 본 커버의 평면도이다. 도 9(b)는 필름의 상류 측에서 본 커버의 측면도이다. 도 9(c)는 필름의 외측에서 본 커버의 측면도이다.
도 10은 커버의 변형예를 도시하는 평면도이다.
도 11은 커버의 변형예를 도시한다. 도 11(a)은 커버의 사시도이다. 도 11(b)은 커버의 측면도이다.
도 12는 커버의 다른 실시형태를 도시한다. 도 12(a)는 커버의 평면도이다. 도 12(b)는 커버의 측면도이다.
이하, 본 발명의 실시형태에 관해서 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
본 실시형태에서는, 광학 표시 장치의 생산 시스템의 일부를 구성하는 필름 제조 장치, 그리고 이 필름 제조 장치를 이용한 필름 제조 방법에 관해서 설명한다.
필름 제조 장치는, 예컨대 액정 표시 패널이나 유기 EL 표시 패널 등과 같은 패널형의 광학 표시 부품(광학 표시 패널)에 접합되는, 예컨대 편광 필름이나 위상차 필름, 휘도 향상 필름 등과 같은 필름형의 광학 부재(광학 필름)를 제조하는 장치이다. 필름 제조 장치는 이러한 광학 표시 부품이나 광학 부재를 포함하는 광학 표시 장치를 생산하는 생산 시스템의 일부를 구성하고 있다.
본 실시형태에서는 광학 표시 장치로서 투과형의 액정 표시 장치를 예시하고 있다. 투과형 액정 표시 장치는 액정 표시 패널과 백라이트를 구비하고 있다. 이 액정 표시 장치에는, 백라이트로부터 출사된 조명광을 액정 표시 패널의 이면 측으로부터 입사하고, 액정 표시 패널에 의해 변조된 광을 액정 표시 패널의 표면 측으로부터 출사함으로써 화상을 표시할 수 있다.
(광학 표시 장치)
우선 광학 표시 장치로서 도 1 및 도 2에 도시하는 액정 표시 패널(P)의 구성에 관해서 설명한다. 여기서, 도 1은 액정 표시 패널(P)의 구성을 도시하는 평면도이다. 도 2는 도 1 중에 도시하는 절단선 A-A에 의한 액정 표시 패널(P)의 단면도이다. 한편, 도 2에서는 단면을 나타내는 해칭의 도시를 생략하고 있다.
액정 표시 패널(P)은, 도 1 및 도 2에 도시한 것과 같이, 제1 기판(P1)과, 제1 기판(P1)에 대향하여 배치된 제2 기판(P2)과, 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2)의 사이에 배치된 액정층(P3)을 구비하고 있다.
제1 기판(P1)은 평면에서 봤을 때 장방형을 이루는 투명 기판으로 이루어진다. 제2 기판(P2)은 제1 기판(P1)보다도 비교적 소형의 장방형을 이루는 투명 기판으로 이루어진다. 액정층(P3)은, 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2) 사이의 주위를 시일재(도시하지 않는다.)로 밀봉하고, 시일재에 의해서 둘러싸인 평면에서 봤을 때 장방형을 이루는 영역의 내측에 배치되어 있다. 액정 표시 패널(P)에서는, 평면에서 봤을 때 액정층(P3) 외주의 내측에 수습되는 영역을 표시 영역(P4)으로 하고, 이 표시 영역(P4)의 주위를 둘러싸는 외측의 영역을 액자부(G)로 한다.
액정 표시 패널(P)의 이면(백라이트 측)에는, 편광 필름으로서의 제1 광학 필름(F11)과 휘도 향상 필름으로서의 제3 광학 필름(F13)이 순차 적층되어 접합되어 있다. 액정 표시 패널(P)의 표면(표시면 측)에는, 편광 필름으로서의 제2 광학 필름(F12)이 접합되어 있다. 이하, 제1, 제2 및 제3 광학 필름(F11, F12, F13)을 광학 필름(F1X)이라고 총칭하는 경우가 있다.
(광학 필름)
이어서, 도 3에 도시하는 광학 필름(F1X)을 구성하는 광학 시트(FX)의 일례에 관해서 설명한다. 여기서, 도 3은 광학 시트(FX)의 구성을 도시하는 단면도이다. 한편, 도 3에서는 단면을 나타내는 해칭의 도시를 생략하고 있다.
광학 필름(F1X)은, 도 3에 도시하는 긴 띠 형상의 광학 시트(원단)(FX)로부터 소정 길이의 시트편(칩)을 잘라냄으로써 얻어진다. 구체적으로 이 광학 시트(FX)는, 기재 시트(F4)와, 기재 시트(F4)의 한쪽의 면(도 3 중 상면)에 마련된 점착층(F5)과, 점착층(F5)을 통해 기재 시트(F4)의 한쪽의 면에 마련된 세퍼레이터 시트(F6)와, 기재 시트(F4)의 다른 쪽의 면(도 3 중 하면)에 마련된 표면 보호 시트(F7)를 갖는다.
기재 시트(F4)는, 예컨대 편광 필름의 경우, 편광자(F4a)를 한 쌍의 보호 필름(F4b, F4c)이 사이에 끼우는 구조를 갖고 있다. 점착층(F5)은 시트편(광학 필름(F1X))을 액정 표시 패널(P)에 점착시키는 층이다. 세퍼레이터 시트(F6)는 점착층(F5)을 보호하는 시트이다. 세퍼레이터 시트(F6)는 시트편(광학 필름(F1X))을 액정 표시 패널(P)에 접합하기 전에 점착층(F5)으로부터 박리된다. 이하, 광학 필름(F1X)에서 세퍼레이터 시트(F6)를 제외한 부분을 접합 시트(F8)라고 한다. 표면 보호 시트(F7)는 기재 시트(F4)의 표면을 보호하는 시트이다. 표면 보호 시트(F7)는 시트편(광학 필름(F1X))이 액정 표시 패널(P)에 점착된 후에 시트편(광학 필름(F1X))의 표면으로부터 박리된다.
또한, 기재 시트(F4)에 관해서는, 한 쌍의 보호 필름(F4b, F4c) 중 어느 한쪽을 생략하여도 좋다. 예컨대, 점착층(F5) 측의 보호 필름(F4b)을 생략하고, 편광자(F4a)에 점착층(F5)을 직접 형성할 수 있다. 또한, 표면 보호 시트(F7) 측의 보호 필름(F4c)에는, 예컨대, 액정 표시 패널(P)의 가장 바깥면을 보호하는 하드코트 처리나 방현 효과를 얻을 수 있는 안티글레어 처리 등의 표면 처리가 실시되어 있어도 좋다. 또한, 기재 시트(F4)는, 상술한 적층 구조의 시트에 한하지 않고, 단층 구조의 시트라도 좋다. 또한, 표면 보호 시트(F7)은 생략할 수도 있다.
(필름 제조 장치 및 필름 제조 방법)
이어서, 도 4에 도시하는 필름 제조 장치(100)에 관해서 설명한다. 여기서, 도 4는 필름 제조 장치(100)의 구성을 도시하는 측면도이다.
필름 제조 장치(100)는, 도 4에 도시한 것과 같이, 예컨대, 편광 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제1 필름(F101)의 한 면에 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제2 필름(F102)을 접합한 후, 제1 필름(F101)의 다른 면에 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제3 필름(F103)을 접합함으로써, 제1 필름(F101)의 양면에 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합된 광학 필름(F10X)을 제조하는 장치이다.
구체적으로, 이 필름 제조 장치(100)는 제1 반송 라인(101)과 제2 반송 라인(102)과 제3 반송 라인(103)과 제4 반송 라인(104)과 제5 반송 라인(105)과 권취부(106)를 구비하고 있다.
제1 반송 라인(101)은 제1 필름(F101)을 반송하는 반송 경로를 형성한다. 제2 반송 라인(102)은 제1 원단 롤(R1)로부터 풀어내어진 제2 필름(F102)을 반송하는 반송 경로를 형성한다. 제3 반송 라인(103)은 제1 필름(F101)의 일면에 제2 필름(F102)이 접합된 편면 접합 필름(F104)을 반송하는 반송 경로를 형성한다. 제4 반송 라인(104)은 제2 원단 롤(R2)로부터 풀어내어진 제3 필름(F103)을 반송하는 반송 경로를 형성한다. 제5 반송 라인(105)은 편면 접합 필름(F104)의 제1 필름(F101) 측의 면(제1 필름(F101)의 다른 면)에 제3 필름(F103)이 접합된 양면 접합 필름(F105)(광학 필름(F10X))을 반송하는 반송 경로를 형성하고 있다. 그리고, 제조된 광학 필름(F10X)은 권취부(106)에 있어서 제3 원단 롤(R3)로서 심재에 권취된다.
제1 반송 라인(101)은, 예컨대 PVA(Polyvinyl Alcohol) 등의 편광자의 기재가 되는 필름에 대하여 염색 처리나 가교 처리, 연신 처리 등을 실시한 후, 그 양면에 TAC(Triacetylcellulose) 등의 보호 필름을 접합함으로써 얻어진 긴 띠 형상의 제1 필름(F101)을 제3 반송 라인(103)으로 향해서 반송시킨다.
구체적으로 이 제1 반송 라인(101)에는, 제3 반송 라인(103)의 상류 측을 사이에 둔 일측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향해서, 한 쌍의 제1 닙 롤(111a, 111b)과, 복수의 제1 댄서 롤(112a, 112b)을 포함하는 제1 어큐뮬레이터(112)와, 제1 가이드 롤(113)이 수평 방향으로 순차 나란히 배치되어 있다.
한 쌍의 제1 닙 롤(111a, 111b)은, 그 사이에 제1 필름(F101)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 나타내는 화살표 a 방향(우측 방향)으로 제1 필름(F101)을 인출한다.
제1 어큐뮬레이터(112)는, 제1 필름(F101)의 이송량 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제1 필름(F101)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제1 어큐뮬레이터(112)는, 제1 닙 롤(111a, 111b)과 제1 가이드 롤(113)의 사이에서, 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(112a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(112b)이 교대로 나란히 배치된 구성을 갖고 있다.
제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b)에 제1 필름(F101)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제1 필름(F101)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제1 반송 라인(101)을 정지하지 않고서 제1 필름(F101)을 축적하는 것이 가능하게 되고 있다. 예컨대, 제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제1 필름(F101)의 축적을 늘릴 수 있다. 한편, 제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부 측의 댄서 롤(112a)과 하부 측의 댄서 롤(112b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제1 필름(F101)의 축적을 줄일 수 있다. 제1 어큐뮬레이터(112)는 예컨대 원단 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다.
제1 가이드 롤(113)은, 회전하면서 제1 닙 롤(111a, 111b)에 의해 인출된 제1 필름(F101)을 제3 반송 라인(103)의 상류 측으로 향해서 안내한다. 또한, 제1 가이드 롤(113)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다.
제2 반송 라인(102)은, 예컨대 PET(Polyethylene terephthalate) 등의 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제2 필름(F102)을 제1 원단 롤(R1)로부터 풀어내면서 제3 반송 라인(103)으로 향해서 반송시킨다.
구체적으로 이 제2 반송 라인(102)에는, 제3 반송 라인(103)의 상류 측을 사이에 둔 타측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향해서, 한 쌍의 제2 닙 롤(121a, 121b)과, 복수의 제2 댄서 롤(122a, 122b)을 포함하는 제2 어큐뮬레이터(122)와, 복수의 제2 가이드 롤(123a, 123b)이 수평 방향으로 순차 나란히 배치되어 있다.
한 쌍의 제2 닙 롤(121a, 121b)은, 그 사이에 제2 필름(F102)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 나타내는 화살표 b 방향(좌측 방향)으로 제2 광학 필름(F102)을 인출한다.
제2 어큐뮬레이터(122)는, 제2 필름(F102)의 이송량 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제2 필름(F102)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제2 어큐뮬레이터(122)는, 제2 닙 롤(121a, 121b)과 제2 가이드 롤(123a, 123b)의 사이에서 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(122a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(122b)이 교대로 나란히 배치된 구성을 갖고 있다.
제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b)에 제2 필름(F102)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제2 필름(F102)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제2 반송 라인(102)을 정지하지 않고서 제2 필름(F102)을 축적하는 것이 가능하게 되고 있다. 예컨대, 제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제2 필름(F102)의 축적을 늘릴 수 있다. 한편, 제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부 측의 댄서 롤(122a)과 하부 측의 댄서 롤(122b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제2 필름(F102)의 축적을 줄일 수 있다. 제2 어큐뮬레이터(122)는 예컨대 원단 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다.
복수의 제2 가이드 롤(123a, 123b)은, 각각 회전하면서 제2 닙 롤(121a, 121b)에 의해 인출된 제2 필름(F102)을 제3 반송 라인(103)의 상류 측으로 향해서 안내한다. 또한, 제2 가이드 롤(123a, 123b)은 복수 배치된 구성에 한하지 않고 하나만 배치된 구성이라도 좋다.
제3 반송 라인(103)은, 제1 필름(F101)의 일면에 제2 필름(F102)을 접합한 긴 띠 형상의 편면 접합 필름(F104)을 제5 반송 라인(105)으로 향해서 반송시킨다.
구체적으로, 이 제3 반송 라인(103)에는 한 쌍의 제3 닙 롤(131a, 131b)이 배치되어 있다. 한 쌍의 제3 닙 롤(131a, 131b)은, 제1 반송 라인(101)의 하류 측과 제2 반송 라인(102)의 하류 측의 합류점에 위치하고, 그 사이에 제1 필름(F101) 및 제2 필름(F102)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 제1 필름(F101)과 제2 필름(F102)을 접합한 편면 접합 필름(F104)을 도 4 중에 나타내는 화살표 c 방향(아래 방향)으로 인출한다.
제4 반송 라인(104)은, 예컨대 PET(Polyethylene terephthalate) 등의 표면 보호 필름으로 되는 긴 띠 형상의 제3 필름(F103)을 제2 원단 롤(R2)로부터 풀어내면서 제5 반송 라인(105)으로 향해서 반송시킨다.
구체적으로 이 제4 반송 라인(104)에는, 제3 반송 라인(103)의 하류 측을 사이에 둔 일측으로부터 제3 반송 라인(103)으로 향해서, 한 쌍의 제4 닙 롤(141a, 141b)과, 복수의 제3 댄서 롤(142a, 142b)을 포함하는 제3 어큐뮬레이터(142)와, 복수의 제4 가이드 롤(143a, 143b)이 수평 방향으로 순차 나란히 배치되어 있다.
한 쌍의 제4 닙 롤(141a, 141b)은, 그 사이에 제3 필름(F103)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 나타내는 화살표 d 방향(우측 방향)으로 제3 필름(F103)을 인출한다.
제3 어큐뮬레이터(142)는, 제3 필름(F103)의 이송량 변동에 의한 차를 흡수함과 더불어 제3 필름(F103)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 것이다. 구체적으로 이 제3 어큐뮬레이터(142)는, 제4 닙 롤(141a, 141b)과 제4 가이드 롤(143a, 143b)의 사이에서 상부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(142a)과 하부 측에 위치하는 복수의 댄서 롤(142b)이 교대로 나란히 배치된 구성을 갖고 있다.
제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b)에 제3 필름(F103)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 제3 필름(F103)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제4 반송 라인(104)을 정지하지 않고서 제3 필름(F103)을 축적하는 것이 가능하게 되고 있다. 예컨대, 제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b) 사이의 거리를 넓힘으로써 제3 필름(F103)의 축적을 늘릴 수 있다. 한편, 제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부 측의 댄서 롤(142a)과 하부 측의 댄서 롤(142b) 사이의 거리를 좁힘으로써 제3 필름(F103)의 축적을 줄일 수 있다. 제3 어큐뮬레이터(142)는 예컨대 원단 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다.
복수의 제4 가이드 롤(143a, 143b)은, 각각 회전하면서 제4 닙 롤(141a, 141b)에 의해 인출된 제3 필름(F103)을 제3 반송 라인(103)의 하류 측(제5 반송 라인(105)의 상류 측)으로 향해서 안내한다. 또한, 제4 가이드 롤(143a, 143b)은 복수 배치된 구성에 한하지 않고 하나만 배치된 구성이라도 좋다.
제5 반송 라인(105)은, 편면 접합 필름(F104)의 제1 필름(F101) 측의 면(제1 필름(F101)의 다른 면)에 제3 필름(F103)을 접합한 긴 띠 형상의 양면 접합 필름(F105)(광학 필름(F10X))을 제3 원단 롤(R3)로 향해서 반송시킨다.
구체적으로 이 제5 반송 라인(105)에는, 제3 반송 라인(103)의 하류 측을 사이에 둔 타측으로부터 제3 원단 롤(R3)로 향해서, 한 쌍의 제5 닙 롤(151a, 151b)과, 제5 가이드 롤(153a)과, 한 쌍의 제6 닙 롤(151c, 151d)과, 복수의 제4 댄서 롤(152a, 152b)을 포함하는 제4 어큐뮬레이터(152)와, 제6 가이드 롤(153b)이 수평 방향으로 순차 나란히 배치되어 있다.
한 쌍의 제5 닙 롤(151a, 151b)은, 제3 반송 라인(103)의 하류 측과 제5 반송 라인(105)의 상류 측의 합류점에 위치하고, 그 사이에 편면 접합 필름(F104) 및 제3 필름(F103)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 편면 접합 필름(F104)과 제3 필름(F103)을 접합한 양면 접합 필름(F105)을 도 4 중에 나타내는 화살표 e 방향(아래 방향)으로 인출한다.
제5 가이드 롤(153a)은, 회전하면서 제5 닙 롤(151a, 151b)에 의해 인출된 양면 접합 필름(F105)을 제4 어큐뮬레이터(152)로 향해서 안내한다. 또한, 제5 가이드 롤(153a)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다.
한 쌍의 제6 닙 롤(151c, 151d)은, 그 사이에 양면 접합 필름(F105)을 끼우면서 상호 역방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 나타내는 화살표 f 방향(우측 방향)으로 양면 접합 광학 필름(F105)을 인출하는 것이다.
제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b)에 양면 접합 필름(F105)이 번갈아서 걸려진 상태에서, 양면 접합 필름(F105)을 반송시키면서 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 따라, 제5 반송 라인(105)을 정지하지 않고서 양면 접합 필름(F105)을 축적하는 것이 가능하게 되고 있다. 예컨대, 제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b) 사이의 거리를 넓힘으로써 양면 접합 필름(F105)의 축적을 늘릴 수 있다. 한편, 제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부 측의 댄서 롤(152a)과 하부 측의 댄서 롤(152b) 사이의 거리를 좁힘으로써 양면 접합 필름(F105)의 축적을 줄일 수 있다. 제4 어큐뮬레이터(152)는 예컨대 원단 롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 이어맞추기 등의 작업 시에 가동된다.
제6 가이드 롤(153b)은 양면 접합 필름(F105)을 제3 원단 롤(R3)로 향해서 안내한다. 또한, 제6 가이드 롤(153b)은 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이라도 좋다.
양면 접합 필름(F105)은, 권취부(106)에 있어서 광학 필름(F10X)의 제3 원단 롤(R3)로서 심재에 권취된 후, 다음 공정으로 보내진다.
(결함 검사 시스템)
이어서, 상기 필름 제조 장치(100)가 구비하는 결함 검사 시스템(10)에 관해서 설명한다.
결함 검사 시스템(10)은, 도 4에 도시한 것과 같이, 반송 라인(L)과 제1 결함 검사 장치(11)와 제2 결함 검사 장치(12)와 기록 장치(13)와 제1 측장기(14)와 제2 측장기(15)와 제어 장치(16)를 구비한다.
반송 라인(L)은 검사 대상이 되는 필름을 반송하는 반송 경로를 형성한다. 본 실시형태에서는 상기 제1 반송 라인(101), 제3 반송 라인(103) 및 제5 반송 라인(105)에 의해서 반송 라인(L)이 구성되어 있다.
제1 결함 검사 장치(11)는 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합되기 전의 제1 필름(F101)의 결함을 검사한다. 구체적으로 이 제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 필름(F101)을 제조할 때나 제1 필름(F101)을 반송할 때에 생긴 이물 결함, 요철 결함, 휘점 결함 등의 각종 결함을 검출한다. 제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 반송 라인(101)으로 반송되는 제1 필름(F101)에 대하여, 예컨대, 반사 검사, 투과 검사, 경사 투과 검사, 직교 니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써 제1 필름(F101)의 결함을 검출한다.
제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 반송 라인(101)에 있어서 제1 닙 롤(111a, 111b)보다도 상류 측에, 제1 필름(F101)에 조명광을 조사하는 복수의 조명부(21a, 22a, 23a)와, 제1 필름(F101)을 투과한 광(투과광) 또는 제1 필름(F101)에서 반사된 광(반사광)을 검출하는 복수의 광검출부(21b, 22b, 23b)를 갖고 있다.
본 실시형태에서는, 투과광을 검출하는 구성을 위해서, 제1 필름(F101)의 반송 방향으로 나란한 복수의 조명부(21a, 22a, 23a)와 광검출부(21b, 22b, 23b)가 각각 제1 필름(F101)을 사이에 두고서 대향하여 배치되어 있다. 또한, 제1 결함 검사 장치(11)에서는, 이러한 투과광을 검출하는 구성에 한하지 않고, 반사광을 검출하는 구성 혹은 투과광 및 반사광을 검출하는 구성이라도 좋다. 반사광을 검출하는 경우에는, 광검출부(21b, 22b, 23b)를 조명부(21a, 22a, 23a) 측에 배치하면 된다.
조명부(21a, 22a, 23a)는, 결함 검사의 종류에 따라서 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 조명광을 제1 필름(F101)에 조사한다. 광검출부(21b, 22b, 23b)는 CCD 등의 촬상 소자를 이용하여 제1 필름(F101)의 조명광이 조사된 위치의 화상을 촬상한다. 광검출부(21b, 22b, 23b)에서 촬상된 화상(결함 검사 결과)은 제어 장치(16)에 출력된다.
제2 결함 검사 장치(12)는, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합된 후의 제1 필름(F101), 즉 양면 접합 필름(F105)의 결함을 검사한다. 구체적으로 이 제2 결함 검사 장치(12)는, 제1 필름(F101)에 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)을 접합할 때나 편면 접합 필름(F104) 및 양면 접합 필름(F105)을 반송할 때에 생긴 이물 결함, 요철 결함, 휘점 결함 등의 각종 결함을 검출한다. 제2 결함 검사 장치(12)는, 제5 반송 라인(105)으로 반송되는 양면 접합 필름(F105)에 대하여, 예컨대, 반사 검사, 투과 검사, 경사 투과 검사, 직교 니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써 양면 접합 필름(F105)의 결함을 검출한다.
제2 결함 검사 장치(12)는, 제5 반송 라인(105)에 있어서 제5 닙 롤(151a, 151b)보다도 하류 측에, 양면 접합 필름(F105)에 조명광을 조사하는 복수의 조명부(24a, 25a)와, 양면 접합 필름(F105)을 투과한 광(투과광) 또는 양면 접합 필름(F105)에서 반사된 광(반사광)을 검출하는 복수의 광검출부(24b, 25b)를 갖고 있다.
본 실시형태에서는, 투과광을 검출하는 구성을 위해서, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향으로 나란한 복수의 조명부(24a, 25a)와 광검출부(24b, 25b)가 각각 양면 접합 필름(F105)를 사이에 두고서 대향하여 배치되어 있다. 또한, 제2 결함 검사 장치(12)에서는, 이러한 투과광을 검출하는 구성에 한하지 않고, 반사광을 검출하는 구성 혹은 투과광 및 반사광을 검출하는 구성이라도 좋다. 반사광을 검출하는 경우에는, 광검출부(24b, 25b)를 조명부(24a, 25a) 측에 배치하면 된다.
조명부(24a, 25a)는, 결함 검사의 종류에 따라서 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 조명광을 양면 접합 필름(F105)에 조사한다. 광검출부(24b, 25b)는, CCD 등의 촬상 소자를 이용하여 양면 접합 필름(F105)의 조명광이 조사된 위치의 화상을 촬상한다. 광검출부(24b, 25b)에서 촬상된 화상(결함 검사 결과)은 제어 장치(16)에 출력된다.
기록 장치(13)는, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)의 결함 검사 결과에 기초한 결함 정보를 양면 접합 필름(F105)에 기록하는 것(인자 장치)이다. 구체적으로, 결함 정보는 결함의 위치나 종류 등에 관한 정보를 포함하며, 예컨대, 문자, 바코드, 이차원 코드(DataMatrix 코드, QR 코드(등록상표) 등) 등의 식별 코드로서 기록(인자)된다. 식별 코드에는, 예컨대, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에서 검출된 결함이 식별 코드가 인자된 위치로부터 필름 폭 방향을 따라서 어느 거리만큼 떨어진 위치에 존재하지를 나타내는 정보(결함의 위치에 관한 정보)가 포함된다. 또한, 식별 코드에는 검출된 결함의 종류에 관한 정보가 포함되어 있어도 좋다. 또한, 본 실시형태에서는 결함 정보로서 7 mm×7 mm의 이차원 코드를 인자하고 있다.
기록 장치(13)는 제5 반송 라인(105)에 있어서 제2 결함 검사 장치(12)보다도 하류 측에 마련되어 있다. 기록 장치(13)는 예컨대 잉크젯 방식을 채용한 인자 헤드(13a)를 갖고 있다. 또한, 인자 헤드(13a)와 대향하는 위치에는 양면 접합 필름(F105)과 접하는 제7 가이드 롤(153c)이 배치되어 있다. 그리고, 이 인자 헤드(13a)는, 양면 접합 필름(F105)의 제7 가이드 롤(153c)과 접하는 위치와는 반대쪽에서 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향의 단연부를 따른 기록 영역에 잉크를 토출하여, 상기 결함 정보를 인자한다.
여기서, 양면 접합 필름(F105)은, 도 5에 도시한 것과 같이, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 제1 필름(F101)보다도 폭넓게 형성됨으로써, 제2 필름(F102)과 제3 필름(F103)의 사이에 끼워진 제1 필름(F101)의 폭 방향의 양측에, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)으로 이루어지는 여백 영역(Ma)이 마련된 구성을 갖고 있다.
여백 영역(Ma)은, 제1 필름(F101)이 배치된 영역, 즉 편광 필름으로서 기능하는 영역(이하, 편광 영역이라고 한다.)(Pa)보다도 외측에 위치하고, 양면 접합 필름(F105)을 상기 액정 표시 패널(P)에 접합했을 때에, 이 액정 표시 패널(P)의 표시 영역(P4)과 겹치는 영역보다도 외측에 위치하게 된다. 또한, 여백 영역(Ma)은 상기 액정 표시 패널(P)에 접합하기 전에 절단되어 제거되는 영역이다.
기록 장치(13)는, 양면 접합 필름(F105)의 편광 영역(Pa)과 여백 영역(Ma)의 경계(B)에서부터 일정한 거리만큼 떨어진 여백 영역(Ma)에 결함 정보를 기록한다. 따라서, 이 여백 영역(Ma) 중에서 결함 정보가 기록되는 영역을 기록 영역(S)으로 한다. 또한, 본 실시형태에서는 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향의 일측에 있는 여백 영역(Ma)에 기록 영역(S)이 마련되어 있다.
또한, 기록 장치(13)는, 양면 접합 필름(F105)의 결함 부위에, 결함을 포함하는 크기의 도트형, 라인형 혹은 프레임형의 마크를 인자(마킹)함으로써, 결함 부위에 직접 기록하여도 좋다. 이 때, 마크 외에도 결함의 종류를 나타내는 기호나 모양을 결함 부위에 인자함으로써 결함의 종류에 관한 정보를 기록하여도 좋다.
제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)는 제1 필름(F101)의 반송량을 측정한다. 구체적으로 본 실시형태에서는, 제1 반송 라인(101)에 있어서 제1 어큐뮬레이터(112)보다도 상류 측에 있는 제1 닙 롤(111a)에 제1 측장기(14)를 구성하는 로터리 인코더와, 제1 어큐뮬레이터(112)보다도 하류 측에 있는 제3 닙 롤(131a)에 제2 측장기(15)를 구성하는 로터리 인코더가 배치되어 있다.
제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)는, 제1 필름(F101)에 접하여 회전하는 제1 닙 롤(111a) 및 제3 닙 롤(131a)의 회전 변위량에 따라서 로터리 인코더가 제1 필름(F101)의 반송량을 측정한다. 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과는 제어 장치(16)에 출력된다.
또한, 본 실시형태에서는 제1 결함 검사 장치(11)와 기록 장치(13)의 사이에 어큐뮬레이터가 하나밖에 존재하지 않기 때문에, 이 어큐뮬레이터의 상류 측과 하류 측에 측장기가 하나씩 배치되어 있다. 한편, 제1 결함 검사 장치(11)와 기록 장치(13)의 사이에 어큐뮬레이터가 복수 존재하는 경우에는, 그 가장 상류 측에 있는 어큐뮬레이터의 상류 측과 가장 하류 측에 있는 어큐뮬레이터의 하류 측에 측장기가 하나씩 배치하면 된다.
제어 장치(16)는 필름 제조 장치(100)의 각 부를 통괄 제어한다. 구체적으로 이 제어 장치(16)는 전자 제어 장치로서의 컴퓨터 시스템을 구비하고 있다. 컴퓨터 시스템은 CPU 등의 연산 처리부와 메모리나 하드디스크 등의 정보 기억부를 개략 구비하고 있다.
제어 장치(16)의 정보 기억부에는, 컴퓨터 시스템을 제어하는 오퍼레이팅 시스템(OS)이나, 연산 처리부에 필름 제조 장치(100)의 각 부에 각종 처리를 실행시키는 프로그램 등이 기록되어 있다. 또한 제어 장치(16)는, 필름 제조 장치(100)의 각 부의 제어에 필요한 각종 처리를 실행하는 ASIC 등의 논리 회로를 포함하고 있어도 좋다. 또한, 제어 장치(16)는 컴퓨터 시스템의 외부 장치와의 입출력을 행하기 위한 인터페이스를 포함한다. 이 인터페이스에는, 예컨대 키보드나 마우스 등의 입력 장치나 액정 표시 디스플레이 등의 표시 장치, 통신 장치 등이 접속 가능하게 되어 있다.
제어 장치(16)는, 광검출부(21b, 22b, 23b) 및 광검출부(24b, 25b)에서 촬상된 화상을 해석하여 결함의 유무(위치)나 종류 등을 판별한다. 제어 장치(16)는, 제1 필름(F101)이나 양면 접합 필름(F105)에 결함이 존재한다고 판정한 경우에는 기록 장치(13)를 제어하여 양면 접합 필름(F105)에 결함 정보를 기록한다.
결함 검사 시스템(10)에서는, 양면 접합 필름(F105)의 결함 검사 위치와 결함 정보의 정보 기록 위치의 사이에 어긋남이 생기지 않도록 결함 검사 후에 소정의 타이밍에 결함 정보를 기록한다. 예컨대 본 실시형태에서는, 제1 결함 검사 장치(11) 또는 제2 결함 검사 장치(12)에 의한 결함 검사가 행해진 시각 이후에, 반송 라인(L) 상에서 반송되는 필름의 반송량을 산출하고, 산출된 반송량이 오프셋 거리와 일치했을 때에 기록 장치(13)에 의해 기록이 행해진다.
여기서, 오프셋 거리는 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)와 기록 장치(13) 사이의 필름의 반송 거리를 말한다. 엄밀하게는, 오프셋 거리는 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의해 결함 검사가 행해지는 위치(결함 검사 위치)와 기록 장치(13)에 의해 결함 정보의 기록이 행해지는 위치(정보 기록 위치) 사이의 필름의 반송 거리로서 정의된다. 또한, 오프셋 거리는 제1 어큐뮬레이터(112)를 가동시키면 변동된다.
제1 어큐뮬레이터(112)의 비가동 시에 있어서의 오프셋 거리(이하, 제1 오프셋 거리라고 한다.)는 미리 제어 장치(16)의 정보 기억부에 기억되어 있다. 구체적으로, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에는 복수의 광검출부(21b, 22b, 23b) 및 광검출부(24b, 25b)가 존재하여, 광검출부(21b, 22b, 23b, 24b, 25b)마다 결함 검사가 행해진다. 이 때문에, 제어 장치(16)의 정보 기억부에는 광검출부(21b, 22b, 23b, 24b, 25b)마다 제1 오프셋 거리가 기억되어 있다.
제1 어큐뮬레이터(112)의 가동에 의해서 오프셋 거리가 변동되는 경우에는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 상류 측과 하류 측의 제1 필름(F101)의 반송량의 차에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다. 즉, 제어 장치(16)에서는, 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과로부터 제1 어큐뮬레이터(112)에 의한 제1 필름(F101)의 축적량을 산출하고, 이 제1 필름(F101)의 축적량에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다.
결함 검사 시스템(10)에서는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동 시에, 오프셋 거리의 보정치에 기초하여 기록 장치(13)가 결함 정보를 기록하는 타이밍을 보정한다. 예컨대 본 실시형태에서는, 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과에 기초하여 오프셋 거리의 보정치를 산출한다. 제어 장치(16)는, 이 보정치 및 제1 오프셋 거리에 기초하여, 제1 어큐뮬레이터(112) 가동 시에 있어서의 오프셋 거리(이하, 제2 오프셋 거리라고 한다.)를 산출한다.
본 실시형태에서는, 제1 측장기(14) 또는 제2 측장기(15)의 측정 결과에 기초하여 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의한 결함 검사가 행해진 시각 이후에 반송 라인(L) 상에서 반송되는 필름의 반송량을 산출하고, 산출된 반송량이 제2 오프셋 거리와 일치했을 때에 기록 장치(13)에 의해 기록이 행해진다.
또한 본 실시형태에서는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동 시에, 결함 정보와는 별도로 제1 어큐뮬레이터(112)가 가동했음을 나타내는 정보(이하, 어큐뮬레이터 가동 정보라고 한다.)를 양면 접합 필름(F105)에 기록하여도 좋다. 어큐뮬레이터 가동 정보를 기록한 경우에는, 어큐뮬레이터 가동 정보가 첨부된 부분의 결함 부위를 오퍼레이터가 세심하게 검사함으로써 기록 위치의 틀어짐 등을 검출할 수 있다. 이에 따라, 양품 부분을 잘못하여 결함 부위라고 판정할 가능성이 적어져 수율의 향상이 도모된다.
그런데, 본 실시형태의 결함 검사 시스템(10)에서는, 양면 접합 필름(F105)의 상태(예컨대, 필름 단부의 컬, 필름 접합 시의 어긋남이나 필름 폭 방향의 두께 불균일 등.)나 반송 조건(예컨대, 롤의 정렬 불량, 필름 폭 방향으로 걸리는 장력 밸런스의 어긋남 등.) 등에 따라서 반송 중인 양면 접합 필름(F105)에 사행이 생기는 경우가 있었다. 이러한 사행이 양면 접합 필름(F105)에 생긴 경우, 인자 헤드(13a)로부터 토출된 잉크에 의해서 인자되는 결함 정보가 양면 접합 필름(F105)의 단연부를 따른 기록 영역에 깔끔하게 기록되지 않고 인자 미스가 되어 버릴 가능성이 있다.
또한, 「사행」의 방향은, 양면 접합 필름(F105)의 표면을 위쪽에서 봤을 때, 양면 접합 필름(F105)의 좌우 방향(폭 방향)이다. 반송 중인 양면 접합 필름(F105)의 「사행」이란, 예컨대, 양면 접합 필름(F105)의 표면을 위쪽에서 봤을 때, 양면 접합 필름(F105)이 좌우 방향(폭 방향)으로 틀어지면서 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향으로 진행하는 것을 말한다.
이에 대하여 본 실시형태에서는, 상기 기록 장치(13)로서, 도 6(a), 도 6(b)에 도시한 것과 같은 인자 장치(50)를 이용함으로써, 양면 접합 필름(F105)을 반송하는 사이에 사행이 생긴 경우라도, 양면 접합 필름(F105)의 단연부를 따른 기록 영역(S)에 인자를 적절히 행할 수 있게 되어 있다.
(인자 장치 및 인자 방법)
이하, 본 실시형태의 인자 장치(50)의 구체적인 구성, 그리고 이 인자 장치(50)를 이용한 구체적인 인자 방법에 관해서 설명한다. 여기서, 도 6(a)은 양면 접합 필름(F105)에 대한 인자 장치(50)의 배치를 도시하는 평면도이다. 도 6(b)은 양면 접합 필름(F105)에 대한 인자 장치(50)의 배치를 도시하는 측면도이다.
인자 장치(50)는, 도 6(a), 도 6(b)에 도시한 것과 같이, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향과 교차하는 방향(폭 방향)으로, 인자 헤드(13a)를 이동 조작하는 헤드 조작부(51)를 갖고 있다.
헤드 조작부(51)는 인자 헤드(13a)를 지지하는 지지 프레임(52)을 갖고 있다. 지지 프레임(52)은, 양면 접합 필름(F105)의 상면에 대향하여 배치된 상측 아암(52a)과, 양면 접합 필름(F105)의 하면에 대향하여 배치된 하측 아암(52b)과, 양면 접합 필름(F105)의 외측에 배치되어, 상측 아암(52a)과 하측 아암(52b)의 사이를 연결하는 연결부(52c)를 갖고 있다. 상측 아암(52a)과 하측 아암(52b)은, 상호 대향한 상태에서 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 연장하여 마련되어 있다. 연결부(52c)는 위아래 방향으로 연장하여 마련되어, 상측 아암(52a)과 하측 아암(52b)의 기단 측을 연결하고 있다. 인자 헤드(13a)는 상측 아암(52a)에 부착되어 있다.
지지 프레임(52)은 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 슬라이드 가능하게 지지되어 있다. 또한, 헤드 조작부(51)는 슬라이드 구동부(도시되지 않음)를 갖고 있다. 슬라이드 구동부는, 구동 모터의 회전 구동을 기어나 랙을 통해 직선 구동으로 변환하여, 지지 프레임(52)을 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 슬라이드 구동한다. 이에 따라, 인자 헤드(13a)는 지지 프레임(52)과 일체로 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 슬라이드 구동된다.
기록 장치(13)는 양면 접합 필름(F105)의 사행을 검출하는 사행 검출부(53)를 갖고 있다. 사행 검출부(53)는, 양면 접합 필름(F105)으로 향하여 광을 출사하는 복수(본 실시형태에서는 2개)의 광원(54a, 54b)과 광원(54a, 54b)으로부터 출사된 광을 수광하는 복수(본 실시형태에서는 2개)의 센서(55a, 55b)를 갖고 있다.
복수의 광원(54a, 54b)은 상측 아암(52a)에 부착되어 있다. 복수의 광원(54a, 54b)은, 인자 헤드(13a)보다도 상측 아암(52a)의 선단 측에 위치하며, 상측 아암(52a)의 연장 방향(양면 접합 필름(F105)의 폭 방향)으로 나란히 배치되어 있다.
이 중, 인자 헤드(13a)에서 가까운 쪽(일측)의 광원을 제1 광원(54a)으로 하고, 인자 헤드(13a)에서 먼 쪽(타측)의 광원을 제2 광원(54b)으로 하고 있다. 각 광원(54a, 54b)에는, 편광 영역(Pa)과 여백 영역(Ma)을 통과할 때의 투과율이 다른 것이라면 가시광이나 적외광이라도 좋으며, 예컨대 적외(IR)광을 출사하는 발광 다이오드(LED) 등의 발광 소자를 이용할 수 있다.
복수의 센서(55a, 55b)는 하측 아암(52b)에 부착되어 있다. 복수의 센서(55a, 55b)는, 복수의 광원(54a, 54b)과 대향하도록 상측 아암(52a)의 연장 방향(양면 접합 필름(F105)의 폭 방향)으로 나란히 배치되어 있다. 이 중, 제1 광원(54a)과 대향하는 쪽(일측)의 센서를 제1 센서(55a)로 하고, 제2 광원(54b)과 대향하는 쪽(타측)의 센서를 제2 센서(55b)로 하고 있다. 각 센서(54a, 54b)에는 예컨대 포토다이오드(PD) 등의 수광 소자를 이용할 수 있다.
사행 검출부(53)에서는, 제1 광원(54a)이 출사한 광을 제1 센서(55a)가 수광하고, 제2 광원(54b)이 출사한 광을 제2 센서(55b)가 수광한다. 복수의 광원(54a, 54b) 및 복수의 센서(55a, 55b)는, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향에 있어서, 인자 헤드(13a)와 동렬로 배치 또는 인자 헤드(13a)보다도 하류 측에 배치되어 있다. 또한, 복수의 광원(54a, 54b) 및 복수의 센서(55a, 55b)는 헤드 조작부(51)에 의해 인자 헤드(13a)와 일체로 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향으로 이동 조작된다.
이상과 같은 구성을 갖는 인자 장치(50)에서는, 사행 검출부(53)가 검출한 양면 접합 필름(F105)의 사행에 맞춰, 헤드 조작부(51)가 인자 헤드(13a)를 기록 영역(S)과 대향하는 위치까지 이동시킨다.
여기서, 도 7(a)∼도 7(c)에 도시한 것과 같이, 반송 중인 양면 접합 필름(F105)에 사행이 생긴 경우에, 인자 헤드(13a)를 기록 영역(S)과 대향하는 위치까지 이동시키는 구체적인 동작에 관해서 설명한다.
도 7(a)은 인자 헤드(13a)가 기록 영역(S)과 대향하는 위치(이하, 정상 위치라고 한다.)에 있는 경우이다. 이 경우, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향에 있어서, 제1 센서(55a)와 제2 센서(55b)의 사이에, 양면 접합 필름(F105)의 편광 영역(Pa)과 여백 영역(Ma)의 경계(B)가 위치하고 있다.
따라서, 사행 검출부(53)에 있어서, 제1 광원(54a)으로부터 출사된 광(BL1)은 여백 영역(Ma)을 통과하여 제1 센서(55a)에 수광된다. 한편, 제2 광원(54b)으로부터 출사된 광(BL2)은 편광 영역(Pa)을 통과하여 제2 센서(55b)에 수광된다.
본 실시형태에서는, 제1 광원(54a) 및 제2 광원(54b)에는 동일한 발광 소자, 제1 센서(55a) 및 제2 센서(55b)에는 동일한 수광 소자를 이용하고 있다. 이 경우, 여백 영역(Ma)보다도 편광 영역(Pa) 쪽이 광의 투과율이 낮아지기 때문에, 제1 센서(55a)의 수광량(신호)이 대(Hi)가 되고, 제2 센서(55b)의 수광량(신호)이 소(Lo)가 된다.
이러한 신호가 검출된 경우, 헤드 조작부(51)에서는, 인자 헤드(13a)가 정상 위치에 있다고 판단하여, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향에 있어서의 인자 헤드(13a)의 위치를 유지한다.
도 7(b)은 양면 접합 필름(F105)의 사행에 의해 인자 헤드(13a)가 정상 위치보다도 외측에 있는 경우이다. 이 경우, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향에 있어서, 제1 센서(55a) 및 제2 센서(55b)는 양면 접합 필름(F105)의 편광 영역(Pa)과 여백 영역(Ma)의 경계(B)보다도 외측에 위치하고 있다.
따라서, 사행 검출부(53)에 있어서, 제1 광원(54a)으로부터 출사된 광(BL1)은 여백 영역(Ma)을 통과하여 제1 센서(55a)에 수광된다. 마찬가지로, 제2 광원(54b)으로부터 출사된 광(BL2)은 여백 영역(Ma)을 통과하여 제2 센서(55b)에 수광된다. 이 경우, 제1 센서(55a)의 수광량(신호)이 대(Hi)가 되고, 제2 센서(55b)의 수광량(신호)이 대(Hi)가 된다.
이러한 신호가 검출된 경우, 헤드 조작부(51)에서는, 인자 헤드(13a)가 정상 위치보다도 외측에 있다고 판단하여, 인자 헤드(13a)를 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향 내측으로 이동시킨다. 그리고, 사행 검출부(53)가 검출한 신호로부터, 인자 헤드(13a)가 정상 위치에 있다고 판단한 시점에서, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향에 있어서의 인자 헤드(13a)의 위치를 유지한다.
도 7(c)은 양면 접합 필름(F105)의 사행에 의해 인자 헤드(13a)가 정상 위치보다도 내측에 있는 경우이다. 이 경우, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향에 있어서, 제1 센서(55a) 및 제2 센서(55b)는 양면 접합 필름(F105)의 편광 영역(Pa)과 여백 영역(Ma)의 경계(B)보다도 내측에 위치하고 있다.
따라서, 사행 검출부(53)에 있어서, 제1 광원(54a)으로부터 출사된 광(BL1)은 편광 영역(Pa)을 통과하여 제1 센서(55a)에 수광된다. 마찬가지로, 제2 광원(54b)으로부터 출사된 광(BL2)은 편광 영역(Pa)을 통과하여 제2 센서(55b)에 수광된다. 이 경우, 제1 센서(55a)의 수광량(신호)이 소(Lo)가 되고, 제2 센서(55b)의 수광량(신호)이 소(Lo)가 된다.
이러한 신호가 검출된 경우, 헤드 조작부(51)에서는, 인자 헤드(13a)가 정상 위치보다도 내측에 있다고 판단하여, 인자 헤드(13a)를 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향 외측으로 이동시킨다. 그리고, 사행 검출부(53)가 검출한 신호로부터, 인자 헤드(13a)가 정상 위치에 있다고 판단한 시점에서, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향에 있어서의 인자 헤드(13a)의 위치를 유지한다.
제1 센서(55a) 및 제2 센서(55b)에서 수광되는 수광량(신호)이 다른 것(대소)의 판정은, 양면 접합 필름(F105)의 구성에 의해 적절하게 선정할 수 있다. 예컨대, 편광 영역(Pa)과 여백 영역(Ma)에서의 각각의 수광량을 A(Pa), A(Ma)로 하면, {A(Pa)-A(Ma)}÷2의 값을 임계치로 하고, 이 임계치와 2개의 센서(55a, 55b) 사이의 수광량의 차를 비교하여, 수광량의 차가 임계치보다 크면 2개의 센서(55a, 55b) 사이에서 검지한 수광량(신호)이 다른 것으로 하고, 수광량(신호)이 큰 쪽을 대(Hi), 작은 쪽을 소(Lo)로 할 수 있다.
복수의 센서(55a, 55b)의 인접하는 사이의 간격은, 통상은 기록 영역(S)의 폭보다도 작게 하기 위해서, 기록 영역(S)의 폭에 대하여 1/3∼1/2 배의 범위로 하는 것이 바람직하다.
인접하는 센서(55a, 55b)끼리의 간격이 이 범위에 있으면, 양면 접합 필름(F105)의 사행에 대하여 안정적으로 인자 헤드(13a)를 기록 영역(S)과 대향하는 위치에 유지할 수 있다. 예컨대, 본 실시형태의 7 mm×7 mm의 이차원 코드를 10 mm 폭의 기록 영역(S)에 인자하는 경우, 인접하는 센서(55a, 55b)끼리의 간격을 3 mm∼5 mm로 할 수 있다.
또한, 배치되는 센서의 수에 관해서는 통상 2∼6개 정도이며, 개수가 많을수록 인자 헤드(13a)를 정밀도 좋게 기록 영역(S)과 대향하는 위치에 유지할 수 있다. 한편, 센서의 수가 지나치게 많으면, 기록 영역(S)에 대하여 사행 검출부(53)가 커져 불필요한 스페이스로 되기 때문에, 센서의 배치하는 수에 관해서는 2∼4개로 하는 것이 바람직하다.
본 실시형태의 인자 방법에서는, 상술한 인자 장치(50)를 이용함으로써, 양면 접합 필름(F105)의 사행을 검출하고, 상기 검출한 양면 접합 필름(F105)의 사행에 맞춰 인자 헤드(13a)를 기록 영역(S)과 대향하는 위치까지 이동시킨 후, 이 인자 헤드(13a)를 이용하여 기록 영역(S)에 인자를 행할 수 있다.
이상과 같이, 본 실시형태의 결함 검사 시스템(10)에서는, 반송 중인 양면 접합 필름(F105)에 사행이 생긴 경우라도, 양면 접합 필름(F105)의 기록 영역(S)에 결함 정보를 적절히 기록(인자)할 수 있다. 이에 따라, 본 실시형태의 필름 제조 장치(100)에서는, 인자 미스에 의한 결함 정보의 판독 에러의 발생을 막으면서, 양면 접합 필름(F105)으로부터 광학 필름(F10X)을 수율 좋게 잘라내어, 고품질의 광학 필름(F10X)을 제조할 수 있다.
그런데, 본 실시형태의 결함 검사 시스템(10)에서는, 양면 접합 필름(F105)의 상태나 반송 조건 등에 따라서 반송 중인 양면 접합 필름(F105)에 요동이 생기는 경우가 있었다. 특히, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향의 양단부에는, 필름의 흡습이나 건조 조건 등에 따라서 컬이 생기기 쉬우며, 이 컬이 반송 중에 요동이 발생하는 원인의 하나라고 생각된다.
이에 대하여 본 실시형태의 결함 검사 시스템(10)에서는, 도 8에 도시한 것과 같이, 상술한 양면 접합 필름(F105)에 접하는 제7 가이드 롤(153c)에 대향하여 인자 헤드(13a)가 배치되어 있다.
이에 따라, 반송 중에 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향의 양단부에 요동이 생긴 경우라도 제7 가이드 롤(153c)과 접하는 위치에서는 양면 접합 필름(F105)의 요동이 억제된다. 이 때문에, 본 실시형태의 결함 검사 시스템(10)에서는, 인자 헤드(13a)로부터 토출된 잉크(i)에 의해서 인자되는 결함 정보를 양면 접합 필름(F105)의 기록 영역(S)에 적절히 기록(인자)할 수 있다.
또한, 양면 접합 필름(F105)은 제7 가이드 롤(153c)의 외주면에 40°∼130°의 각도 범위(이하, 홀딩 각도(θ)라고 한다.)로 걸려 있는 것이 바람직하다. 여기서, 본 실시형태에서 말하는 홀딩 각도란, 필름의 가이드 롤의 외주면에 원주 방향에 있어서 접촉하는 각도 범위를 가이드 롤의 중심각으로 나타낸 것 말한다.
홀딩 각도(θ)가 40° 미만이면, 양면 접합 필름(F105)이 제7 가이드 롤(153c)의 외주면 상에서 미끄러지기 쉽게 된다. 따라서, 양면 접합 필름(F105)의 미끄러짐에 의해 생채기 등이 생기는 것을 막기 위해서는 홀딩 각도(θ)를 40° 이상으로 하는 것이 바람직하다. 한편, 홀딩 각도(θ)가 130°를 넘으면, 예컨대 표면 보호 필름으로 되는 제2 및 제3 필름(F102, F103)과 제1 필름(F101)의 사이에 기포가 서로 맞물리기 쉽게 된다.
따라서, 이러한 기포가 서로 맞물리는 것을 막기 위해서는 홀딩 각도(θ)를 130° 이하로 하는 것이 바람직하다.
또한, 양면 접합 필름(F105)에 걸리는 장력이 낮은 경우는, 홀딩 각도(θ)를 90°가 넘게 하는 것이 바람직하고, 95° 이상으로 하는 것이 보다 바람직하다. 이에 따라, 양면 접합 필름(F105)에 발생하는 요동을 억제할 수 있다. 한편, 양면 접합 필름(F105)에 걸리는 장력이 높은 경우는, 홀딩 각도(θ)를 90° 미만으로 하는 것이 바람직하고, 85° 이하로 하는 것이 보다 바람직하다. 이에 따라, 양면 접합 필름(F105)이 제7 가이드 롤(153c)의 외주면에 과도하게 밀착되는 것을 막을 수 있다.
또한, 양면 접합 필름(F105)의 반송 속도에 관해서는 통상은 9∼50 m/min 정도이다. 또한, 양면 접합 필름(F105)에 걸리는 장력은 건조로 내에서 400∼1500 N 정도이고, 건조로 밖에서 200∼500 N 정도이다. 또한, 양면 접합 필름(F105)에 걸리는 장력이 작을수록 요동이 생기기 쉬워진다. 양면 접합 필름(F105)의 폭은 500∼1500 mm 정도이다. 또한, 양면 접합 필름(F105)의 폭이 커질수록 요동이 생기기 쉬워진다. 양면 접합 필름(F105)의 두께는 10∼300 ㎛ 정도이다. 또한, 양면 접합 필름(F105)의 두께가 얇아질수록 요동이 생기기 쉬워진다.
또한, 제7 가이드 롤(153c)의 외경은 100∼150 mm의 범위로 하는 것이 바람직하다. 제7 가이드 롤(153c)의 외경이 커지면, 홀딩 각도(θ)에 대한 제7 가이드 롤(153c)의 외주면에 접촉하는 양면 접합 필름(F105)의 면적이 커진다. 이 때문에, 양면 접합 필름(F105)에 발생하는 요동을 억제하여 기록 영역(S)을 보다 안정화시킬 수 있다. 단, 제7 가이드 롤(153c)의 외경이 커지면, 상술한 생채기나 기포의 맞물림이 생기기 쉬워지기 때문에 상기한 범위로 하는 것이 바람직하다.
또한, 제7 가이드 롤(153c)의 진원도가 높을수록 이 제7 가이드 롤(153c)에 접촉하는 양면 접합 필름(F105)의 진동을 억제하여 기록 영역(S)을 보다 안정화시킬 수 있다. 구체적으로 제7 가이드 롤(153c)의 진원도는 1.0 mm 이하로 하는 것이 바람직하고, 0.5 mm 이하로 하는 것이 보다 바람직하다.
또한, 제7 가이드 롤(153c)의 외주면에 있어서의 표면 거칠기(최대 거칠기 Ry)는 100 s 이하로 하는 것이 바람직하고, 25 s 이하로 하는 것이 보다 바람직하다. 이에 따라, 상술한 생채기나 기포 맞물림의 발생을 억제할 수 있다.
또한 본 실시형태의 결함 검사 시스템(10)에서는, 제7 가이드 롤(153c)의 상류 측이나 하류 측에도 양면 접합 필름(F105)에 발생하는 요동을 억제하기 위해서 양면 접합 필름(F105)과 접하는 가이드 롤을 추가하는 것이 가능하다. 이 경우, 추가하는 가이드 롤은 제7 가이드 롤(153c)과의 사이의 거리를 1000 mm 이내로 하는 것이 바람직하다. 또한, 추가하는 가이드 롤에 대하여 양면 접합 필름(F105)에 홀딩 각도를 갖게 하는 것도 가능하다. 홀딩 각도는 상류 측에 추가한 가이드 롤에 갖게 하는 것이 바람직하고, 상류 측 및 하류 측에 추가한 가이드 롤에 갖게 하는 것이 보다 바람직하다.
이상과 같이, 본 실시형태의 결함 검사 시스템(10)에서는, 반송 중인 양면 접합 필름(F105)에 생기는 요동에 의한 영향을 저감하고, 양면 접합 필름(F105)에 결함 정보를 적절히 기록(인자)할 수 있다. 이에 따라, 본 실시형태의 필름 제조 장치(100)에서는, 인자 미스에 의한 결함 정보의 판독 에러의 발생을 막으면서 양면 접합 필름(F105)로부터 광학 필름(F10X)을 수율 좋게 잘라내어 고품질의 광학 필름(F10X)을 제조하는 것이 가능하다.
본 실시형태에 있어서의 기록 장치(13)에서는, 도 9(a)∼도 9(c)에 도시한 것과 같이, 양면 접합 필름(F105)의 적어도 기록 영역(S)보다도 내측 영역에 잉크(i)가 부착되는 것을 방지하는 커버(30)가 마련되어 있다. 여기서, 도 9(a)는 커버(30)를 양면 접합 필름(F105)의 상측에서 본 평면도이고, 도 9(b)는 커버(30)를 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 상류 측에서 본 측면도이고, 도 9(c)는 커버(30)를 양면 접합 필름(F105)의 외측에서 본 측면도이다.
구체적으로 이 커버(30)는, 양면 접합 필름(F105)과 인자 헤드(13a)가 대향하는 공간(K) 중, 양면 접합 필름(F105)의 내측에 면하는 쪽을 덮는 제1 측판부(30a)와, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 상류 측에 면하는 쪽을 덮는 제2 측판부(30b)와, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 하류 측에 면하는 쪽을 덮는 제3 측판부(30c)를 갖고 있다.
커버(30)는, 나사 고정 등의 수단을 이용하여 인자 헤드(13a)에 대하여 착탈이 자유롭게 부착되어 있다. 커버(30)는, 공간(K) 중, 양면 접합 필름(F105)의 외측에 면하는 쪽이 개방되어 있기 때문에, 인자 헤드(13a)에 대한 착탈이 용이하게 되어 있다.
커버(30)는, 양면 접합 필름(F105)과 대향하는 면과 양면 접합 필름(F105) 표면 사이의 간격(T)이 1 mm 이하인 것이 바람직하다. 이 간격(T)을 1 mm 이하로 함으로써, 인자 헤드(13a)로부터 토출된 잉크(i)가 주위로 비산되었을 때에, 이 잉크(i)의 비산물이 커버(30)의 외측으로 비산되는 것을 방지할 수 있다.
또한, 잉크(i)의 비산물로서는, 인자 헤드(13)로부터 토출된 잉크(i) 중, 예컨대 정보 기록 위치에서 벗어나 주위로 비산된 잉크(i)나 양면 접합 필름(F105)에 부착된 후에 주위로 비산된 잉크(i) 등이 있다.
커버(30)를 구성하는 3개의 측판부(30a, 30b, 30c) 중 제1 측판부(30a)는, 양면 접합 필름(F105)의 표시 영역(P4)과 겹치는 영역에 잉크(i)의 비산물이 부착되는 것을 방지하고 있다. 한편 제2 측판부(30b)는, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 상류 측에 잉크(i)의 비산물이 부착되는 것을 방지하고 있다. 한편 제3 측판부(30c)는, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 하류 측에 잉크(i)의 비산물이 부착되는 것을 방지하고 있다.
잉크(i)의 비산물은 커버(30)의 내면에 부착된다. 따라서 커버(30)는, 인자 헤드(13a)로부터 정기적으로 벗겨내어 세정한 후, 다시 인자 헤드(13a)에 부착하여 반복 사용하는 것이 가능하다.
또한, 필름 제조 장치(100)는, 양면 접합 필름(F105)의 표면을 제전하는 정전기 제거 장치(40)를 구비한 구성으로 하는 것이 바람직하다. 정전기 제거 장치(40)는 이오나이저라고 불리는 것으로, 양면 접합 필름(F105) 반송 방향에 있어서의 기록 장치(13)(인자 헤드(13a))보다도 상류 측에 배치되어 있다. 그리고, 이 정전기 제거 장치(40)는, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향 전역에 걸쳐 이온화한 기체를 분무함으로써, 양면 접합 필름(F105)의 표면에 발생한 정전기를 제거한다.
이에 따라, 필름 제조 장치(100)에서는 잉크(i)의 비산물이 정전기에 의해 양면 접합 필름(F105)의 표면에 가까이 당겨지는 것을 방지한다. 따라서, 필름 제조 장치(100)에서는, 상술한 커버(30)와 정전기 제거 장치(40)를 조합함으로써, 잉크(i)의 비산물이 양면 접합 필름(F105)의 표면에 부착되는 것을 더욱 억제할 수 있다.
이상과 같이, 본 실시형태에 있어서의 결함 검사 시스템(10)에서는, 결함 정보를 양면 접합 필름(F105)에 기록할 때의 잉크(i)의 비산에 의한 양면 접합 필름(F105)의 오염을 방지할 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 실시형태의 것에 반드시 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변경을 가할 수 있다.
구체적으로 상기 인자 장치(50)에 관해서는, 상술한 2개의 광원(54a, 54b) 및 2개의 센서(55a, 55b)를 이용한 구성에 한하지 않고, 광원 및 센서의 수를 적절하게 변경할 수 있다. 구체적으로, 센서의 수를 3개 이상으로 늘린 경우에는, 양면 접합 필름(F105)의 사행 정도를 더욱 미세하게 검출할 수 있다.
즉, 복수의 센서 중, 적어도 인접하는 한쪽의 센서와 다른 쪽의 센서의 사이에서 다른 신호를 검출함으로써, 한쪽의 센서와 다른 쪽의 센서의 사이에, 양면 접합 필름(F105)의 편광 영역(Pa)과 여백 영역(Ma)의 경계(B)가 위치하는 것을 검출할 수 있다. 이에 맞춰, 헤드 조작부(51)에 의해 인자 헤드(13a)를 기록 영역(S)과 대향하는 위치까지 이동시킬 수 있다.
한편, 광원에 관해서는 상술한 센서와 동일한 수의 광원을 배치하는 구성에 한하지 않고, 센서보다도 적은 수의 광원을 배치하는 것도 가능하다. 또한, 면발광원과 같이 복수의 센서에 대응하여 광을 출사하는 하나의 광원이라도 좋다. 또한, 센서에 관해서는, 양면 접합 필름(F105)으로부터의 투과광을 검출하는 타입에 한하지 않고, 양면 접합 필름(F105)으로부터의 반사광을 검출하는 타입이라도 좋다.
또한, 상기 인자 장치(50)에서는, 양면 접합 필름(F105)에 대하여 인자 헤드(13a)를 이동 조작하는 구성으로 되어 있지만, 인자 헤드(13a)에 대하여 양면 접합 필름(F105)을 폭 방향으로 이동 조작함으로써, 인자 헤드(13)를 기록 영역(S)과 대향하는 위치까지 상대적으로 이동시키는 구성으로 할 수도 있다.
또한, 상기 커버(30)에 관해서는 상기 3개의 측판부(30a, 30b, 30c) 중 적어도 제1 측판부(30a)를 배치한 구성이면 된다. 이에 따라, 양면 접합 필름(F105)의 표시 영역(P4)과 겹치는 영역에 잉크(i)의 비산물이 부착되는 것을 방지할 수 있다.
또한 상기 커버(30)에 관해서는, 도 10에 도시한 것과 같이, 상기 3개의 측판부(30a, 30b, 30c) 외에, 양면 접합 필름(F105)의 외측에 면하는 쪽을 덮는 제4 측판부(30d)를 배치한 구성으로 할 수도 있다.
또한 상기 기록 장치(13)에 관해서는, 예컨대 도 11(a), 도 11(b)에 도시한 것과 같이, 인자 헤드(13a)에 부착된 커버(31)의 하단부를 가이드 롤(41)의 외형을 따른 형상으로 하여도 좋다. 이에 따라, 양면 접합 필름(F105) 표면과의 사이의 간격(T)을 1 mm 이하로 할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시형태로서는 예컨대 도 12(a), 도 12(b)에 도시한 것과 같은 커버(32)를 이용할 수도 있다. 이 커버(32)는, 평행 평판형의 판재로 이루어지고, 양면 접합 필름(F105)에 근접한 상태에서 양면 접합 필름(F105)에 대향하여 배치되어 있다. 또한, 커버(32)의 기록 영역(S)에 면하는 위치에는 창부(개구부)(32a)가 마련되어 있다. 이 구성의 경우, 기록 영역(S) 이외의 영역을 커버(32)가 덮음으로써, 결함 정보를 양면 접합 필름(F105)에 기록할 때의 잉크(i)의 비산에 의한 양면 접합 필름(F105)의 오염을 방지할 수 있다. 또한, 커버(32)에는 상술한 측판부(30a, 30b, 30c, 30d)를 설치할 수도 있다. 즉, 이 커버(32)가 상기 커버(30)의 바닥면을 덮는 바닥판부를 구성하여도 좋다.
또한, 상기 기록 장치(13)는 제2 결함 검사 장치(12)의 하류 측에 배치된 구성으로 되어 있지만, 제1 결함 검사 장치(11)의 하류 측에 배치하는 것도 가능하다. 이 경우, 제1 결함 검사 장치(11)에 의한 결함 검사를 행한 후에, 기록 장치(13)에 의한 결함 정보의 기록을 행할 수 있다.
또한, 상기 기록 장치(13)에 관해서는 상술한 결함 검사 후에 결함 정보를 기록하는 것에 한정되는 것이 아니다. 예컨대, 장거리 반송 라인에서는, 기록 장치를 복수 배치하여 일정 거리마다 거리 정보를 기록하고, 이 기록된 거리 정보에 기초하여 거리를 보정하는 경우가 있다. 이러한 거리 정보를 기록하는 기록 장치에 관해서는, 예컨대 제1 결함 검사 장치(11)의 상류 측 등에 배치되는 경우가 있다.
또한, 본 발명이 적용되는 필름에 관해서는 상술한 편광 필름이나 위상차 필름, 휘도 향상 필름과 같은 광학 필름에 반드시 한정되는 것은 아니며, 기록 장치(13)에 의한 기록이 행해지는 필름에 대하여 본 발명을 폭넓게 적용할 수 있다.
또한, 본 발명은 상술한 잉크젯 방식 이외에도 레이저 방식 등의 비접촉식의 인자 장치 및 인자 방법에 대하여 폭넓게 적용할 수 있다. 특히 잉크젯 방식에서는 잉크의 미스트가 발생하기 쉽기 때문에, 광학 필름에 요동이 생기면 그 영향에 의해 인자 미스가 발생하기 쉽게 된다. 또한, 결함 정보에 관해서도, 상술한 이차원 코드와 같은 복잡한 정보를 잉크젯 방식으로 인자하는 경우는 광학 필름의 요동에 의한 영향을 받기 쉽다.
10: 결함 검사 시스템, 11: 제1 결함 검사 장치, 12: 제2 결함 검사 장치, 13: 기록 장치, 13a: 인자 헤드, 14: 제1 측장기, 15: 제2 측장기, 16: 제어 장치, 21a, 22a, 23a, 24a, 25a: 조명부, 21b, 22b, 23b, 24b, 25b: 광검출부, 30: 커버, 30a: 제1 측판부, 30b: 제2 측판부, 30c: 제3 측판부, 30d: 제4 측판부, 31: 커버, 32: 커버, 32a: 창부, 40: 정전기 제거 장치, 50: 인자 장치, 51: 헤드 조작부, 52: 지지 프레임, 53: 사행 검출부, 54a: 제1 광원, 54b: 제2 광원, 55a: 제1 센서, 55b: 제2 센서, 100: 필름 제조 장치, 101: 제1 반송 라인, 102: 제2 반송 라인, 103: 제3 반송 라인, 104: 제4 반송 라인, 105: 제5 반송 라인, 106: 권취부, 111a, 111b: 제1 닙 롤, 112: 제1 어큐뮬레이터, 112a, 112b: 제1 댄서 롤, 113: 제1 가이드 롤, 121a, 121b: 제2 닙 롤, 122: 제2 어큐뮬레이터, 122a, 122b: 제2 댄서 롤, 123a, 123b: 제2 가이드 롤, 131a, 131b: 제3 닙 롤, 141a, 141b: 제4 닙 롤, 142: 제3 어큐뮬레이터, 142a, 142b: 제3 댄서 롤, 143a, 143b: 제4 가이드 롤, 151a, 151b: 제5 닙 롤, 152: 제4 어큐뮬레이터, 152a, 152b: 제4 댄서 롤, 153a: 제5 가이드 롤, 153b: 제6 가이드 롤, 153c: 제7 가이드 롤, P: 액정 표시 패널(광학 표시 장치), F1X: 광학 필름, F10X: 광학 필름, F101: 제1 필름, F102: 제2 필름, F103: 제3 필름, F104: 편면 접합 필름, F105: 양면 접합 필름

Claims (9)

  1. 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 반송 라인과,
    상기 반송 라인으로 반송되는 필름의 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와,
    상기 결함 검사 결과에 기초한 결함 정보를 상기 반송 라인으로 반송되는 필름에 기록하는 기록 장치를 구비하고,
    상기 기록 장치는, 상기 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 상기 결함 정보를 인자하는 인자 헤드와, 상기 필름의 사행을 검출하는 사행 검출부와, 상기 인자 헤드를 상기 필름에 대하여 상대적으로 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작하는 헤드 조작부를 가지고,
    상기 사행 검출부가 검출한 상기 필름의 사행에 맞춰, 상기 헤드 조작부가 상기 인자 헤드를 상기 기록 영역과 대향하는 위치까지 이동시키는 결함 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 사행 검출부는, 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 나란히 배치되는 복수의 센서를 가지고,
    상기 복수의 센서는, 상기 헤드 조작부에 의해 상기 인자 헤드와 일체로 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작되는 결함 검사 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 인자 헤드가 상기 기록 영역과 대향하는 위치에 있는 경우에 있어서, 상기 복수의 센서 중, 적어도 인접하는 한쪽의 센서와 다른 쪽의 센서의 사이에서 다른 신호가 검출되는 결함 검사 시스템.
  4. 제2항에 있어서, 상기 사행 검출부는, 상기 필름으로 향하여 광을 출사하는 적어도 하나 또는 복수의 광원과, 상기 센서로서 상기 필름을 사이에 두고서 상기 광원과 대향하도록 배치되는 복수의 수광 소자를 갖는 것을 특징으로 하는 결함 검사 시스템.
  5. 제3항에 있어서, 상기 사행 검출부는, 상기 필름으로 향하여 광을 출사하는 적어도 하나 또는 복수의 광원과, 상기 센서로서 상기 필름을 사이에 두고서 상기 광원과 대향하도록 배치되는 복수의 수광 소자를 갖는 것을 특징으로 하는 결함 검사 시스템.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 기재한 결함 검사 시스템을 구비하는 필름 제조 장치.
  7. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 기재한 결함 검사 시스템을 이용하여 결함 검사하는 공정을 포함하는 필름 제조 방법.
  8. 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 사이에, 상기 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 인자를 행하는 인자 장치로서,
    상기 필름에 대하여 인자를 행하는 인자 헤드와,
    상기 필름의 사행을 검출하는 사행 검출부와,
    상기 인자 헤드를 상기 필름에 대하여 상대적으로 상기 필름의 반송 방향과 교차하는 방향으로 이동 조작하는 헤드 조작부를 구비하고,
    상기 사행 검출부가 검출한 상기 필름의 사행에 맞춰, 상기 헤드 조작부가 상기 인자 헤드를 상기 기록 영역과 대향하는 위치까지 이동시키는 인자 장치.
  9. 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 사이에, 인자 헤드를 이용하여 상기 필름의 단연부를 따른 기록 영역에 인자를 행하는 인자 방법으로서,
    상기 필름의 사행을 검출하는 공정과,
    상기 검출한 상기 필름의 사행에 맞춰, 상기 인자 헤드를 상기 필름에 대하여 상대적으로 상기 기록 영역과 대향하는 위치까지 이동시키는 공정과,
    상기 인자 헤드를 이용하여 상기 기록 영역에 인자를 행하는 공정을 포함하는 인자 방법.
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110954401B (zh) * 2018-09-27 2022-08-05 Ykk株式会社 拉头固定部件检查装置
JP2020173188A (ja) * 2019-04-11 2020-10-22 住友化学株式会社 検査装置、検査方法、及び、フィルムの製造方法
JP2022090281A (ja) * 2020-12-07 2022-06-17 日東電工株式会社 光学フィルムの縁部検出方法
JP2022090247A (ja) * 2020-12-07 2022-06-17 日東電工株式会社 光学フィルムの縁部検出方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63180323A (ja) * 1987-01-22 1988-07-25 Daiwa Can Co Ltd 製缶用金属コイル薄板の欠陥部の表示方法
KR20030093956A (ko) * 2002-05-31 2003-12-11 스미또모 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 편광 필름의 검사법 및 검사 장치
KR20060082802A (ko) * 2005-01-13 2006-07-19 나가세산교 가부시키가이샤 결함마킹장치
JP2014240816A (ja) * 2013-06-12 2014-12-25 住友化学株式会社 欠陥検査システム
KR20160040544A (ko) * 2013-08-02 2016-04-14 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 검사 시스템 및 필름 제조 장치

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19906701C1 (de) * 1999-02-18 2000-12-14 Parsytec Comp Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren, Kennzeichnen und Wiederauffinden von Fehlern eines Materialbandes
JP3741013B2 (ja) * 2001-09-17 2006-02-01 ウシオ電機株式会社 蛇行修正機構を備えた帯状ワークの露光装置
TWI286597B (en) * 2006-06-22 2007-09-11 Welon Tech Inc Sensor with functions of line-following and side-following having two-row light emitting source design used for deviation rectification
JP2009243911A (ja) 2008-03-28 2009-10-22 Toray Ind Inc 欠陥検査システム
JP4572955B2 (ja) * 2008-05-28 2010-11-04 富士ゼロックス株式会社 ベルト蛇行補正装置及びこれを用いた画像形成装置
JP5383099B2 (ja) * 2008-06-20 2014-01-08 キヤノン株式会社 記録ヘッドの製造方法および記録ヘッド
JP2011178144A (ja) * 2010-03-04 2011-09-15 Seiko Epson Corp 媒体処理装置のギャップ制御方法および媒体処理装置
JP5474869B2 (ja) * 2010-09-03 2014-04-16 日東電工株式会社 偏光膜を有する積層体ストリップロールの製造方法
JP5817466B2 (ja) * 2011-11-24 2015-11-18 セイコーエプソン株式会社 画像記録装置、画像記録方法
JP6438718B2 (ja) 2014-09-11 2018-12-19 株式会社Screenホールディングス 印刷装置および印刷方法
CN204228993U (zh) * 2014-11-21 2015-03-25 日东电工株式会社 偏光膜的制造装置
JP6269560B2 (ja) * 2015-04-10 2018-01-31 コニカミノルタ株式会社 画像形成装置および画像形成システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63180323A (ja) * 1987-01-22 1988-07-25 Daiwa Can Co Ltd 製缶用金属コイル薄板の欠陥部の表示方法
KR20030093956A (ko) * 2002-05-31 2003-12-11 스미또모 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 편광 필름의 검사법 및 검사 장치
KR20060082802A (ko) * 2005-01-13 2006-07-19 나가세산교 가부시키가이샤 결함마킹장치
JP2014240816A (ja) * 2013-06-12 2014-12-25 住友化学株式会社 欠陥検査システム
KR20160040544A (ko) * 2013-08-02 2016-04-14 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 검사 시스템 및 필름 제조 장치

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