JP2020173188A - 検査装置、検査方法、及び、フィルムの製造方法 - Google Patents
検査装置、検査方法、及び、フィルムの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020173188A JP2020173188A JP2019075711A JP2019075711A JP2020173188A JP 2020173188 A JP2020173188 A JP 2020173188A JP 2019075711 A JP2019075711 A JP 2019075711A JP 2019075711 A JP2019075711 A JP 2019075711A JP 2020173188 A JP2020173188 A JP 2020173188A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- inspection
- optical system
- moving
- orthogonal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 385
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 67
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 131
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 85
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 79
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 76
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 52
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 28
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 352
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 38
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 38
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 15
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 15
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 15
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 14
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 14
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 11
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000004043 dyeing Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/104—Mechano-optical scan, i.e. object and beam moving
- G01N2201/1042—X, Y scan, i.e. object moving in X, beam in Y
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
上記フィルム検査工程S20は、フィルム形成工程S10において偏光フィルム3をロール状に一度巻き取った後、形成された偏光フィルム3から一定領域を切り出して得られるフィルム1に対して実施した。しかしながら、図12に示したように、フィルム形成工程S10において形成された偏光フィルム3を搬送ロールR2で更に搬送しながら、その偏光フィルム3に対してフィルム検査工程S20を実施してもよい。換言すれば、フィルム形成工程S10で形成された偏光フィルム3をロール状に巻き取る前にフィルム検査工程S20を実施してもよい。
第1角度θ1が15°以上90°未満若しくは90°より大きく165°以下、又は、45°以上90°未満若しくは90°より大きく135°以下である場合には、検査光学系を移動させてもよい。検査光学系を移動させる場合を第2変形例として説明する。第2変形例においても、延在方向D2は、基準方向D1と非直交である。非直交の意味は、前述したとおりである。
図4において、搬送ロール112と搬送ロール113の間のフィルム1の領域をフィルムの全検査範囲とする場合には、例えば、検査範囲変更工程S22では、搬送機構11自体(すなわち、フィルム1)を更に第1移動方向D3と異なる第2移動方向(第3方向)D4に移動させてもよい。
検査光学系12は、透過光学系に限定されず、反射光学系であってもよい。すなわち、照明部121と撮像部122は、フィルム1に対して同じ側に配置されてもよい。更に、検査光学系12は、透過光学系と反射光学系を組み合わせたものでもよい。この場合、検査光学系12は、撮像部122と、フィルム1に対して撮像部122と反対側に配置され、透過光学系を形成する第1照明部と、フィルム1に対して撮像部122と同じ側に配置され、反射光学系を形成する第2照明部とを有してもよい。第1照明部及び第2照明部の構成は、図4に例示したように、例えば、光源121aと、遮光体121bとを備えてもよい。
Claims (17)
- フィルムを照明する照明部と、前記照明部で照明された前記フィルムからの光を受けて欠陥判定のための検査画像を取得する撮像部とを有する検査光学系と、
フィルムを移動させる移動機構と、
を備え、
前記検査光学系は、前記移動機構と独立して固定配置されており、
前記移動機構は、前記検査光学系に対し、前記フィルムを前記フィルムの基準方向と異なる第1方向に移動させる機構を有し、
前記検査光学系の撮像領域は、前記第1方向と異なる第2方向に延在しており、
前記基準方向、前記第1方向及び前記第2方向は、前記フィルムの厚さ方向に直交しており、
前記基準方向と前記第1方向との間の第1角度は、15°以上165°以下であり、
前記第1方向と前記第2方向との間の第2角度は、15°以上165°以下であり、
前記基準方向と前記第2方向とは非直交である、
検査装置。 - 前記検査光学系は、散乱光学系である、
請求項1に記載の検査装置。 - 前記移動機構は、前記検査光学系に対して前記フィルムを前記第1方向とは異なるとともに前記厚さ方向に直交する第3方向に移動させる機構を更に有し、
前記第1方向と前記第3方向との間の第3角度は、15°以上165°以下である、
請求項1又は2に記載の検査装置。 - フィルムを照明する照明部と、前記照明部で照明された前記フィルムからの光を受けて欠陥判定のための検査画像を取得する撮像部とを有する検査光学系と、
フィルムまたは検査光学系を移動させる移動機構と、
を備え、
前記移動機構は、前記フィルム及び前記検査光学系のうちの一方を他方に対し、前記フィルムの基準方向と異なる第1方向に移動させる機構を有し、
前記検査光学系の撮像領域は、前記第1方向と異なる第2方向に延在しており、
前記基準方向、前記第1方向及び前記第2方向は、前記フィルムの厚さ方向に直交しており、
前記基準方向と前記第1方向との間の第1角度は、15°以上90°未満または90°より大きく165°以下であり、
前記第1方向と前記第2方向との間の第2角度は、15°以上165°以下であり、
前記基準方向と前記第2方向とは非直交である、
検査装置。 - 前記移動機構は、前記フィルム及び前記検査光学系のうちの一方を他方に対し、前記第1方向とは異なるとともに前記厚さ方向に直交する第3方向に移動させる機構を更に有し、
前記第1方向と前記第3方向との間の第3角度は、15°以上165°以下である、
請求項4に記載の検査装置。 - 前記フィルムを前記基準方向に搬送する搬送機構を有し、
前記移動機構は、前記搬送機構を移動させることによって、前記フィルムを移動させる、
請求項1〜5の何れか1項に記載の検査装置。 - 前記フィルムは長尺のフィルムであり、
前記基準方向は、前記フィルムの長手方向である、
請求項1〜6の何れか1項に記載の検査装置。 - 前記フィルムは、一方向に延伸された延伸フィルムを含み、
前記基準方向は、前記延伸フィルムの延伸方向である、
請求項1〜7の何れか1項に記載の検査装置。 - 欠陥判定のためにフィルムの検査画像を取得することによって前記フィルムを検査する検査方法であって、
検査光学系が有する照明部で前記フィルムを照明しながら、前記検査光学系が有する撮像部で前記フィルムを撮像することによって、欠陥判定のための検査画像を取得する検査画像取得工程を備え、
前記検査画像取得工程では、前記フィルムの基準方向とは異なる第1方向に、前記検査光学系に対して前記フィルムを移動させながら前記検査画像を取得し、
前記検査光学系の撮像領域は、前記第1方向と異なる第2方向に延在しており、
前記基準方向、前記第1方向及び前記第2方向は、前記フィルムの厚さ方向に直交しており、
前記基準方向と前記第1方向との間の第1角度は、15°以上165°以下であり、
前記第1方向と前記第2方向との間の第2角度は、15°以上165°以下であり、
前記基準方向と前記第2方向とは非直交である、
検査方法。 - 前記検査光学系は、散乱光学系である、
請求項9に記載の検査方法。 - 欠陥判定のためにフィルムの検査画像を取得することによって前記フィルムを検査する検査方法であって、
検査光学系が有する照明部で前記フィルムを照明しながら、前記検査光学系が有する撮像部で前記フィルムを撮像することによって、欠陥判定のための検査画像を取得する検査画像取得工程を備え、
前記検査画像取得工程では、前記フィルムの基準方向と異なる第1方向に、前記フィルム及び前記検査光学系のうちの一方を他方に対して移動させながら、検査画像を取得し、
前記検査光学系の撮像領域は、前記第1方向と異なる第2方向に延在しており、
前記基準方向、前記第1方向及び前記第2方向は、前記フィルムの厚さ方向に直交しており、
前記基準方向と前記第1方向との間の第1角度は、15°以上90°未満または90°より大きく165°以下であり、
前記第1方向と前記第2方向との間の第2角度は、15°以上165°以下であり、
前記基準方向と前記第2方向とは非直交である、
検査方法。 - 前記検査画像取得工程による前記フィルムの検査範囲を変更する範囲変更工程を有し、
前記フィルムにおいて予め設定している全検査範囲の前記検査画像を取得するまで、検査画像取得工程と前記範囲変更工程とを交互に実施する、
請求項9〜11の何れか1項に記載の検査方法。 - 前記範囲変更工程では、前記フィルムを前記第1方向と異なるとともに前記厚さ方向に直交する第3方向に移動させることによって前記検査範囲を変更する、
請求項12に記載の検査方法。 - 前記範囲変更工程では、前記フィルムを前記基準方向に搬送することによって前記検査範囲を変更する、
請求項12に記載の検査方法。 - 前記フィルムは長尺のフィルムであり、
前記基準方向は、前記フィルムの長手方向である、
請求項9〜14の何れか1項に記載の検査方法。 - 前記フィルムは、一方向に延伸された延伸フィルムを含み、
前記基準方向は、前記延伸フィルムの延伸方向である、
請求項9〜15の何れか1項に記載の検査方法。 - 請求項9〜16の何れか1項に記載の検査方法で前記フィルムを検査する工程を有する、フィルムの製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019075711A JP2020173188A (ja) | 2019-04-11 | 2019-04-11 | 検査装置、検査方法、及び、フィルムの製造方法 |
KR1020217033104A KR20210150413A (ko) | 2019-04-11 | 2020-03-05 | 검사 장치, 검사 방법 및 필름의 제조 방법 |
CN202080027065.9A CN113646624A (zh) | 2019-04-11 | 2020-03-05 | 检查装置、检查方法以及膜的制造方法 |
PCT/JP2020/009503 WO2020208981A1 (ja) | 2019-04-11 | 2020-03-05 | 検査装置、検査方法、及び、フィルムの製造方法 |
TW109110685A TW202040092A (zh) | 2019-04-11 | 2020-03-27 | 檢查裝置、檢查方法及膜的製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019075711A JP2020173188A (ja) | 2019-04-11 | 2019-04-11 | 検査装置、検査方法、及び、フィルムの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020173188A true JP2020173188A (ja) | 2020-10-22 |
Family
ID=72751837
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019075711A Pending JP2020173188A (ja) | 2019-04-11 | 2019-04-11 | 検査装置、検査方法、及び、フィルムの製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2020173188A (ja) |
KR (1) | KR20210150413A (ja) |
CN (1) | CN113646624A (ja) |
TW (1) | TW202040092A (ja) |
WO (1) | WO2020208981A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI785535B (zh) * | 2021-03-15 | 2022-12-01 | 住華科技股份有限公司 | 一種檢測光學膜的方法、裝置及系統 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006162250A (ja) * | 2004-12-02 | 2006-06-22 | Ushio Inc | フィルムワークのパターン検査装置 |
JP2013007689A (ja) * | 2011-06-27 | 2013-01-10 | Fujifilm Corp | 欠陥検査装置及び方法 |
JP2013053860A (ja) * | 2011-09-01 | 2013-03-21 | Toray Ind Inc | キズ欠点検査装置および方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003240726A (ja) * | 2002-02-14 | 2003-08-27 | Toray Ind Inc | シートの欠点検出装置 |
JP2004309287A (ja) * | 2003-04-07 | 2004-11-04 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 欠陥検出装置、および欠陥検出方法 |
JP4829542B2 (ja) * | 2005-06-21 | 2011-12-07 | グンゼ株式会社 | フィルム検査装置およびフィルム検査方法 |
JP4960026B2 (ja) * | 2006-06-09 | 2012-06-27 | 富士フイルム株式会社 | フイルムの欠陥検査装置及びフイルムの製造方法 |
JP2007333608A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Toray Ind Inc | シートにおける凹凸状欠点の検査装置および検査方法 |
JP4615532B2 (ja) * | 2007-03-06 | 2011-01-19 | 株式会社メック | 欠陥検査装置、照明装置 |
JP5944165B2 (ja) * | 2010-05-25 | 2016-07-05 | 東レ株式会社 | フィルムの欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
JP2016070856A (ja) | 2014-10-01 | 2016-05-09 | 東レ株式会社 | フィルムの検査装置 |
KR102469408B1 (ko) * | 2017-03-03 | 2022-11-22 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 결함 검사 시스템, 필름 제조 장치, 필름 제조 방법, 인자 장치 및 인자 방법 |
JP6874441B2 (ja) * | 2017-03-16 | 2021-05-19 | コニカミノルタ株式会社 | 欠陥検査方法、欠陥検査プログラム、および欠陥検査装置 |
-
2019
- 2019-04-11 JP JP2019075711A patent/JP2020173188A/ja active Pending
-
2020
- 2020-03-05 CN CN202080027065.9A patent/CN113646624A/zh active Pending
- 2020-03-05 KR KR1020217033104A patent/KR20210150413A/ko unknown
- 2020-03-05 WO PCT/JP2020/009503 patent/WO2020208981A1/ja active Application Filing
- 2020-03-27 TW TW109110685A patent/TW202040092A/zh unknown
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006162250A (ja) * | 2004-12-02 | 2006-06-22 | Ushio Inc | フィルムワークのパターン検査装置 |
JP2013007689A (ja) * | 2011-06-27 | 2013-01-10 | Fujifilm Corp | 欠陥検査装置及び方法 |
JP2013053860A (ja) * | 2011-09-01 | 2013-03-21 | Toray Ind Inc | キズ欠点検査装置および方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI785535B (zh) * | 2021-03-15 | 2022-12-01 | 住華科技股份有限公司 | 一種檢測光學膜的方法、裝置及系統 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202040092A (zh) | 2020-11-01 |
CN113646624A (zh) | 2021-11-12 |
KR20210150413A (ko) | 2021-12-10 |
WO2020208981A1 (ja) | 2020-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI498546B (zh) | Defect inspection device and defect inspection method | |
JP5909751B2 (ja) | 平板ガラスの異物検査装置及び検査方法 | |
US20070237385A1 (en) | Defect inspection apparatus | |
US6914679B2 (en) | Side light apparatus and method | |
TW200949238A (en) | Film defect inspecting method and apparatus | |
JP5887895B2 (ja) | 検査対象物表面の傷検出装置及び傷検出方法 | |
JP2008026212A (ja) | パターン検査装置 | |
JP2008175565A (ja) | 光透過性部材の欠陥検出装置及び方法 | |
JP4615532B2 (ja) | 欠陥検査装置、照明装置 | |
KR20190030168A (ko) | 결함 검사 장치, 결함 검사 방법, 원 편광판 또는 타원 편광판의 제조 방법 및 위상차판의 제조 방법 | |
JP2008026060A (ja) | 絶縁皮膜被覆帯状体の疵検査装置 | |
WO2020208981A1 (ja) | 検査装置、検査方法、及び、フィルムの製造方法 | |
JP2019117104A (ja) | 検査装置 | |
KR20190097929A (ko) | 유리 시트 검사 장치 및 방법 | |
JP2002228764A (ja) | 透光性シート体検出装置 | |
JP4052547B2 (ja) | 複数の1次元ccdカメラの姿勢および位置の調整方法 | |
JP2012083125A (ja) | 端面検査装置 | |
TW201446476A (zh) | 光學膜輥狀物的製造系統及光學膜輥狀物的製造方法 | |
WO2022224636A1 (ja) | 検査装置 | |
KR20170129077A (ko) | 투과 광학계 검사 장치 및 이를 이용한 결함 검사 방법 | |
JP4794383B2 (ja) | ゴムホースの外観検査装置 | |
JP6086277B2 (ja) | パターン検査装置及びそれに使用する照明光学系 | |
JPWO2020059426A5 (ja) | ||
TW201506465A (zh) | 光學膜輥狀物的製造系統及光學膜輥狀物的製造方法 | |
TWI819285B (zh) | 透射光學系統的檢查裝置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220301 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230509 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230628 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230829 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20240305 |