TW201502495A - 缺陷檢查系統 - Google Patents

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Abstract

一種缺陷檢查系統，係包括：搬送路線，搬送長條帶狀薄膜；缺陷檢查裝置，針對搬送路線所搬送的薄膜進行缺陷檢查；及記錄裝置(13)，於搬送路線所搬送的薄膜(F105)上記錄缺陷檢查結果所得缺陷資訊；其中，記錄裝置(13)具備印刷頭(13a)，於沿著薄膜(F105)端緣部的記錄區域(S)中藉由噴出墨水(i)來印刷缺陷資訊；及遮罩(30)，防止墨水(i)附著於薄膜(F105)至少較記錄區域(S)靠內側區域上。

Description

缺陷檢查系統
本發明係關於一種缺陷檢查系統。
本申請案依據2013年6月12日提出申請之日本發明專利申請案2013-124040號主張優先權，並在此引用其內容。
舉例而言，偏光板等光學薄膜係於異物缺陷或凹凸缺陷等缺陷檢查後捲收於芯材外圍。而關於缺陷位置或種類的資訊(以下稱為缺陷資訊)係透過於光學薄膜端部印刷條碼或標明缺陷位置，藉此記錄於光學薄膜上。捲收於芯材之光學薄膜，當其捲收量達到一定程度時，係自上游側的光學薄膜切離並視為料捲滾筒出貨。舉例而言，專利文獻1中係揭露一種缺陷檢查系統，其於光學薄膜搬送路線上具備缺陷檢查裝置與將缺陷資訊記錄於薄膜上之記錄裝置。
【先行技術文獻】 【專利文獻】
【專利文獻1】日本發明專利特開2011-7779號公報
但在上述缺陷檢查系統中，當缺陷資訊記錄於光學薄膜上時， 會因印刷頭噴出之墨水飛濺至四周，導致光學薄膜產生污染。而此光學薄膜污染係造成光學薄膜良率下降的原因之一。
缺陷檢查系統中，光學薄膜與印刷頭間的距離越遠，則墨水飛濺影響越大。但若縮小光學薄膜與印刷頭間的距離，則會影響印刷字體大小等，所以無法隨意調整該距離。
有鑑於此，本發明態樣係提供一種缺陷檢查系統，其目的在於防止缺陷資訊記錄於薄膜上時的墨水飛濺所產生之薄膜污染。
為達成本發明之目的，本發明態樣之缺陷檢查系統係採用以下結構。
(1)本發明一態樣之缺陷檢查系統，係包括：搬送路線，搬送長條帶狀薄膜；缺陷檢查裝置，針對該搬送路線所搬送的薄膜進行缺陷檢查；及記錄裝置，於該搬送路線所搬送的薄膜上記錄該缺陷檢查結果所得缺陷資訊；其中，該記錄裝置具備：印刷頭，於沿著該薄膜端緣部的記錄區域中藉由噴出墨水來印刷該缺陷資訊；及遮罩，防止墨水附著於該薄膜至少較該記錄區域靠內側區域上。
(2)上述(1)所述態樣中，其中，該遮罩於該薄膜與該印刷頭相對的空間中，具備第一側板部，包覆至少面向該薄膜之內側的一側。
(3)上述(2)所述態樣中，其中，該遮罩於該空間中具備第二側板部，包覆面向該薄膜之搬送方向上游側的一側；及第三側板部，包覆面向該薄膜之搬送方向下游側的一側。
(4)上述(3)所述態樣中，其中，該遮罩於該空間中具備第四側板部，包覆面向該薄膜之外側的一側。
(5)上述(1)-(4)任一項所述態樣中，其中，該遮罩相對該薄膜的一面與該薄膜的表面之間的間隔係為1mm以下。
(6)上述(1)-(5)任一項所述態樣中，其中，該遮罩相對於該印刷頭自由拆裝。
(7)上述(1)所述態樣中，其中，該遮罩係於靠近該薄膜的狀態下與該薄膜相對地配置，並且該遮罩俯視該記錄區域的位置係具備窗口部。
(8)上述(1)-(7)任一項所述態樣中，其中，缺陷檢查系統於該薄膜的搬送方向上，較該記錄裝置更靠上游側的位置，係具備靜電去除裝置，去除該薄膜之表面的靜電。
透過本發明態樣，係可提供一種缺陷檢查系統，於薄膜記錄缺陷資訊時防止墨水飛濺所產生的薄膜污染。
10‧‧‧缺陷檢查系統
11‧‧‧第一缺陷檢查裝置
12‧‧‧第二缺陷檢查裝置
13‧‧‧記錄裝置
13a‧‧‧印刷頭
14‧‧‧第一測長器
15‧‧‧第二測長器
16‧‧‧控制裝置
21a,22a‧‧‧照明部
23a,24a,25a‧‧‧照明部
21b,22b‧‧‧光檢測部
23b,24b,25b‧‧‧光檢測部
30‧‧‧遮罩
30a‧‧‧第一側板部
30b‧‧‧第二側板部
30c‧‧‧第三側板部
30d‧‧‧第四側板部
31‧‧‧遮罩
32‧‧‧遮罩
32a‧‧‧窗口部
40‧‧‧靜電去除裝置
41‧‧‧導輪
100‧‧‧薄膜製造裝置
101‧‧‧第一搬送路線
102‧‧‧第二搬送路線
103‧‧‧第三搬送路線
104‧‧‧第四搬送路線
105‧‧‧第五搬送路線
106‧‧‧捲收部
111a,111b‧‧‧第一壓輪
112‧‧‧第一儲料器
112a,112b‧‧‧第一張力調節輪
113‧‧‧第一導輪
121a,121b‧‧‧第二壓輪
122‧‧‧第二儲料器
122a,122b‧‧‧第二張力調節輪
123a,123b‧‧‧第二導輪
131a,131b‧‧‧第三壓輪
141a,141b‧‧‧第四壓輪
142‧‧‧第三儲料器
142a,142b‧‧‧第三張力調節輪
143a,143b‧‧‧第四導輪
151a,151b‧‧‧第五壓輪
151c,151d‧‧‧第六壓輪
152‧‧‧第四儲料器
152a,152b‧‧‧第四張力調節輪
153a‧‧‧第五導輪
153b‧‧‧第六導輪
F11‧‧‧第一光學薄膜
F12‧‧‧第二光學薄膜
F13‧‧‧第三光學薄膜
F4‧‧‧基材層片
F4a‧‧‧偏光片
F4b‧‧‧保護薄膜
F4c‧‧‧保護薄膜
F5‧‧‧黏著層
F6‧‧‧分隔層片
F7‧‧‧表面保護層片
F8‧‧‧貼合層片
F1X‧‧‧光學薄膜
F10X‧‧‧光學薄膜
F101‧‧‧第一薄膜
F102‧‧‧第二薄膜
F103‧‧‧第三薄膜
F104‧‧‧單面貼合薄膜
F105‧‧‧雙面貼合薄膜
FX‧‧‧光學層片
G‧‧‧邊框部
i‧‧‧墨水
K‧‧‧空間
L‧‧‧搬送路線
P‧‧‧液晶顯示面板
P1‧‧‧第一基板
P2‧‧‧第二基板
P3‧‧‧液晶層
P4‧‧‧顯示區域
R1‧‧‧第一料捲滾筒
R2‧‧‧第二料捲滾筒
R3‧‧‧第三料捲滾筒
S‧‧‧記錄區域
T‧‧‧間隔
第1圖係液晶顯示面板的一實施例之俯視圖。
第2圖係第1圖所示液晶顯示面板的剖面圖。
第3圖係光學薄膜的一實施例之剖面圖。
第4圖係薄膜製造裝置與缺陷檢查系統的結構之側視圖。
第5A圖係自薄膜之上方側觀看遮罩的一實施例之俯視圖。
第5B圖係自薄膜之上游側觀看遮罩的一實施例之側視圖。
第5C圖係自薄膜之外側觀看遮罩的一實施例之側視圖。
第6圖係遮罩之一變形例的俯視圖。
第7A圖係遮罩之一變形例的立體圖。
第7B圖係遮罩之一變形例的側視圖。
第8A圖係遮罩之另一實施形態的俯視圖。
第8B圖係遮罩之另一實施形態的側視圖。
以下係參考圖式並詳細說明本發明實施形態。
本實施形態中，係說明組成光學顯示元件之生產系統的一部分之薄膜製造裝置。
薄膜製造裝置係製造如貼合在液晶顯示面板或有機電致發光(OEL,organic electro-luminescence)顯示面板等面板狀光學顯示部件(光學顯示面板)上之偏光薄膜、相位差薄膜或輝度增加薄膜等薄膜狀光學組件(光學薄膜)的裝置。薄膜製造裝置係組成包含此類型光學顯示部件或光學組件等光學顯示元件之生產系統的一部分。
本實施形態中，係列舉出作為光學顯示元件的透射型液晶顯示裝置。透射型液晶顯示裝置係具備液晶顯示面板與背光源。該液晶顯示裝置中，背光源所射出之照明光係自液晶顯示面板背面側射入，然後，因液晶顯示面板調變之光會自液晶顯示面板表面側射出，藉此顯示影像。
(光學顯示元件)
首先，係說明第1圖與第2圖所示之作為光學顯示元件的液晶顯示面板P之結構。第1圖係液晶顯示面板P的結構之俯視圖。第2圖係第1圖所示切割線A-A方向之液晶顯示面板P的剖面圖。再者，第2圖中係省略標示剖面之剖面線。
如第1圖與第2圖所示，液晶顯示面板P係具備第一基板P1、與第一基板P1相對配置之第二基板P2及配置於第一基板P1與第二基板P2間之液晶層P3。
第一基板P1係由俯視時呈長方形之透明基板所組成。第二基板 P2係由較第一基板P1小之長方形透明基板所組成。第一基板P1與第二基板P2間之液晶層P3周圍係以封膠材(圖略)密封。液晶層P3係配置於封膠材所框圍出之俯視呈長方形區域的內側。液晶顯示面板P中，其俯視時容納於液晶層P3外圍內側之區域作為顯示區域P4，而框圍住該顯示區域P4周圍之外側區域作為框緣部G。
液晶顯示面板P之背面(背光側)係貼合有作為偏光薄膜的第一 光學薄膜F11。而液晶顯示面板P之正面(顯示面側)則貼合有作為偏光薄膜的第二光學薄膜F12、及重疊於該第二光學薄膜F12上之作為輝度增加薄膜的第三光學薄膜F13。以下將第一光學薄膜F11、第二光學薄膜F12與第三光學薄膜F13統稱為光學薄膜F1X。
(光學薄膜)
接著，說明第3圖所示組成光學薄膜F1X之光學層片FX的一實施例。第3圖係光學層片FX的結構之剖面圖。再者，第3圖中係省略標示剖面之剖面線。
光學薄膜F1X係自第3圖所示之長條帶狀光學層片FX切割出 指定長度之層片。具體而言，此光學層片FX係具備基材層片F4、設置於基材層片F4的一面(第3圖中的上面)之黏著層F5、透過黏著層F5設置在基材層片F4的一面之分隔層片F6、及設置於基材層片F4的另一面(第3圖中的下面)之表面保護層片F7。
基材層片F4若為偏光薄膜時，則具有由一對保護薄膜F4b,F4c 夾持偏光片F4a之結構。黏著層F5係為用以將基材層片F4黏貼於液晶顯示面板P上的層。分隔層片F6係用以保護黏著層F5。分隔層片F6係於光學層片FX切割出層片(光學薄膜F1X)時自黏著層F5剝離。以下，係將自光學薄膜F1X去除分隔層片F6後的部分(成為光學薄膜F1X的部分)稱為貼合層片F8。表面保護層片F7係用以保護基材層片F4的表面。表面保護層片F7係當基材層片F4黏 貼於液晶顯示面板P後，自基材層片F4的表面剝離。
再者，基材層片F4係可為省略一對保護薄膜F4b,F4c中任一邊 之結構。舉例而言，若省略黏著層F5側之保護薄膜F4b，則可直接將黏著層F5設置於偏光層片F4a上。另外，於表面保護層片F7側之保護薄膜F4c，則可實施如保護液晶顯示面板P的最外面之硬化處理或具有防眩效果之防眩光處理等表面處理。另，基材層片F4並無侷限於上述堆疊結構，亦可為單層結構。另外，亦可省略表面保護層片F7。
(薄膜製造裝置)
接著，說明第4圖所示之薄膜製造裝置100。第4圖係薄膜製造裝置100的結構之側視圖。
如第4圖所示，舉例而言，薄膜製造裝置100係為於形成偏光 薄膜之長條帶狀第一薄膜F101的一面貼合形成表面保護薄膜之長條帶狀第二薄膜F102後，再於第一薄膜F101的另一面貼合形成表面保護薄膜之長條帶狀第三薄膜F103，藉此製造出第一薄膜F101的兩面貼合有第二薄膜F102與第三薄膜F103之光學薄膜F10X的裝置。
具體而言，此薄膜製造裝置100係具備第一搬送路線101、第二 搬送路線102、第三搬送路線103、第四搬送路線104、第五搬送路線105及捲收部106。
第一搬送路線101係形成搬送第一薄膜F101之搬送路徑。第二 搬送路線102係形成搬送自第一料捲滾筒R1捲出的第二薄膜F102之搬送路徑。第三搬送路線103係形成搬送於第一薄膜F101的一面貼合有第二薄膜F102的單面貼合薄膜F104之搬送路徑。第四搬送路線104係形成搬送自第二料捲滾筒R2捲出的第三薄膜F103之搬送路徑。第五搬送路線105係形成搬送於單面貼合薄膜F104的第一薄膜F101側之一面(第一薄膜F101另一面)貼合有第三薄 膜F103的雙面貼合薄膜F105(光學薄膜F10X)之搬送路徑。所製成之光學薄膜F10X係於捲收部106捲收於作為第三料捲滾筒R3的芯材。
第一搬送路線101係將如聚乙烯醇(PVA,polyvinyl alcohol)等以 偏光片作為基材之薄膜，將其實施染色處理、交聯處理或拉伸處理等之後，於薄膜兩面貼合三醋酸纖維素(TAC,triacetylcellulose)等保護薄膜後所取得之長條帶狀第一薄膜F101搬送至第三搬送路線103的路線。
具體而言，該第一搬送路線101係自夾持第三搬送路線103之 上游側的一側朝著第三搬送路線103於水平方向上依序並列配置一對第一壓輪111a,111b、包含複數第一張力調節輪112a,112b之第一儲料器112及第一導輪113。
一對第一壓輪111a,111b係為於中間夾持第一薄膜F101並相互 逆向旋轉，藉此如第4圖中所示箭頭方向(往右)拉出第一薄膜F101之滾輪。
第一儲料器112係為用以吸收第一薄膜F101的供給量變動差異 並同時降低施加於第一薄膜F101的張力變動之裝置。具體而言，第一儲料器112於第一壓輪111a,111b與第一導輪113間係交錯並列配置有位於上部側之複數第一張力調節輪112a與位於下部側之複數第一張力調節輪112b。
第一儲料器112中，於上部側第一張力調節輪112a與下部側第 一張力調節輪112b間係呈交錯掛設的狀態下，來搬送第一薄膜F101的同時，上部側第一張力調節輪112a與下部側第一張力調節輪112b係相對地以上下方向做升降動作。如此，便可不停止第一搬送路線101並囤積第一薄膜F101。舉例而言，第一儲料器112中，因擴大上部側第一張力調節輪112a與下部側第一張力調節輪112b間的距離而可增加第一薄膜F101的囤積量。另一方面，第一儲料器112中，可因縮短上部側第一張力調節輪112a與下部側第一張力調節輪112b間的距離而減少第一薄膜F101的囤積量。舉例而言，第一儲料器112係於 交換料捲滾筒(第一料捲滾筒R1至第三料捲滾筒R3)的芯材後之接膜等作業時，進行作動。
第一導輪113係為旋轉的同時，將第一壓輪111a,111b所拉出之 第一薄膜F101引導至第三搬送路線103之上游側的滾輪。再者，第一導輪113並無侷限於單一配置結構，亦可為複數配置結構。
第二搬送路線102係為將如聚對苯二甲二乙酯(PET, polyethylene terephthalate)等形成表面保護薄膜之長條帶狀第二薄膜F102自第一料捲滾筒R1拉出並搬送至第三搬送路線103之路線。
具體而言，該第二搬送路線102係自夾持第三搬送路線103之 上游側的另一側朝著第三搬送路線103於水平方向上依序並列配置有一對第二壓輪121a,121b、包含複數第二張力調節輪122a,122b之第二儲料器122、及複數第二導輪123a,123b。
一對第二壓輪121a,121b係為於中間夾持第二薄膜F102並相互 逆向旋轉，藉此如第4圖中所示箭頭方向(往左)拉出第二薄膜F102之滾輪。
第二儲料器122係為用以吸收第二薄膜F102的供給量變動差異 並同時降低施加於第二薄膜F102的張力變動之裝置。具體而言，該第二儲料器122於第二壓輪121a,121b與第二導輪123a間係交錯並列配置有位於上部側之複數第二張力調節輪122a與位於下部側之複數第二張力調節輪122b。
第二儲料器122中，於上部側第二張力調節輪122a與下部側第 二張力調節輪122b間係呈交錯掛設的狀態下，來搬送第二薄膜F102的同時，上部側第二張力調節輪122a與下部側第二張力調節輪122b係相對地以上下方向做升降動作。如此，便可不停止第二搬送路線102並囤積第二薄膜F102。舉例而言，第二儲料器122中，因擴大上部側第二張力調節輪122a與下部側第二張力調節輪122b間的距離而可增加第二薄膜F102的囤積量。另一方面，第二 儲料器122中，可因縮短上部側第二張力調節輪122a與下部側第二張力調節輪122b間的距離而減少第二薄膜F102的囤積量。舉例而言，第二儲料器122係於交換料捲滾筒(第一料捲滾筒R1至第三料捲滾筒R3)的芯材後之接膜等作業時，進行作動。
複數第二導輪123a,123b係為各自旋轉的同時，將第二壓輪121a, 121b所拉出之第二薄膜F102引導至第三搬送路線103之上游側的滾輪。再者，第二導輪123a,123b並無侷限於複數配置結構，亦可為單一配置結構。
第三搬送路線103係為將於第一薄膜F101的一面貼合有第二薄 膜F102之長條帶狀單面貼合薄膜F104搬送至第五搬送路線105之路線。
具體而言，該第三搬送路線103係配置有一對第三壓輪131a, 131b。一對第三壓輪131a,131b係位於第一搬送路線101之下游側與第二搬送路線102之下游側的交會點。一對第三壓輪131a,131b係中間夾持第一薄膜F101與第二薄膜F102的同時，彼此相互逆向旋轉，藉此貼合第一薄膜F101與第二薄膜F102。一對第三壓輪131a,131b係將貼合有第一薄膜F101與第二薄膜F102之單面貼合薄膜F104朝第4圖中箭頭方向(往下)拉出。
第四搬送路線104係為將如PET(polyethylene terephthalate)等形 成表面保護薄膜之長條帶狀第三薄膜F103自第二料捲滾筒R2拉出並搬送至第五搬送路線105之路線。
具體而言，該第四搬送路線104係自夾持第三搬送路線103之 下游側的一側朝著第三搬送路線103於水平方向上依序並列配置有一對第四壓輪141a,141b、包含複數第三張力調節輪142a,142b之第三儲料器142、及複數第四導輪143a,143b。
一對第四壓輪141a,141b係為於中間夾持第三薄膜F103並相互 逆向旋轉，藉此如第4圖中所示箭頭方向(往右)拉出第三薄膜F103之滾輪。
第三儲料器142係為用以吸收第三薄膜F103的供給量變動差異 並同時降低施加於第三薄膜F103的張力變動之裝置。具體而言，該第三儲料器142於第四壓輪141a,141b與第四導輪143a間係交錯並列配置有位於上部側之複數第三張力調節輪142a與位於下部側之複數第三張力調節輪142b。
第三儲料器142中，於上部側第三張力調節輪142a與下部側第 三張力調節輪142b間係呈交錯掛設的狀態下，來搬送第三薄膜F103的同時，上部側第三張力調節輪142a與下部側第三張力調節輪142b係相對地以上下方向做升降動作。如此，便可不停止第四搬送路線104並囤積第三薄膜F103。舉例而言，第三儲料器142中，因擴大上部側第三張力調節輪142a與下部側第三張力調節輪142b間的距離而可增加第三薄膜F103的囤積量。另一方面，第三儲料器142中，可因縮短上部側第三張力調節輪142a與下部側第三張力調節輪142b間的距離而減少第三薄膜F103的囤積量。舉例而言，第三儲料器142係於交換料捲滾筒(第一料捲滾筒R1至第三料捲滾筒R3)的芯材後之接膜等作業時，進行作動。
複數第四導輪143a,143b係為各自旋轉的同時，將第四壓輪141a, 141b所拉出之第三薄膜F103引導至第三搬送路線103之下游側(第五搬送路線105之上游側)的滾輪。再者，第四導輪143a,143b並無侷限於複數配置結構，亦可為單一配置結構。
第五搬送路線105係為將單面貼合薄膜F104的第一薄膜F101 側之一面(第一薄膜F101之另一面)貼合有第三薄膜F103之長條帶狀雙面貼合薄膜F105(光學薄膜F10X)朝第三料捲滾筒R3搬送之路線。
具體而言，該第五搬送路線105係自夾持第三搬送路線103之 下游側的另一側朝著第三料捲滾筒R3於水平方向上依序並列配置有一對第五壓輪151a,151b、第五導輪153a、一對第六壓輪151c,151d、包含複數第四張力調 節輪152a,152b之第四儲料器152、及第六導輪153b。
一對第五壓輪151a,151b係位於第三搬送路線103之下游側與 第五搬送路線105之上游側的交會點。一對第五壓輪151a,151b係中間夾持單面貼合薄膜F104與第三薄膜F103的同時，彼此相互逆向旋轉，藉此貼合單面貼合薄膜F104與第三薄膜F103。一對第五壓輪151a,151b係將貼合有單面貼合薄膜F104與第三薄膜F103之雙面貼合薄膜F105朝第4圖所示箭頭方向(往下)拉出。
第五導輪153a係為旋轉的同時，將第五壓輪151a,151b所拉出 之雙面貼合薄膜F105引導至第四儲料器152的滾輪。再者，第五導輪153a並無侷限於單一配置結構，亦可為複數配置結構。
一對第六壓輪151c,151d係為於中間夾持雙面貼合薄膜F105， 並同時相互逆向旋轉，藉此朝第4圖中所示箭頭方向(往右)拉出雙面貼合薄膜F105之滾輪。
第四儲料器152中，於上部側第四張力調節輪152a與下部側第 四張力調節輪152b間係呈交錯掛設的狀態下，來搬送雙面貼合薄膜F105的同時，上部側第四張力調節輪152a與下部側第四張力調節輪152b係相對地以上下方向做升降動作。如此，便可不停止第五搬送路線105並囤積雙面貼合薄膜F105。舉例而言，第四儲料器152中，因擴大上部側第四張力調節輪152a與下部側第四張力調節輪152b間的距離而可增加雙面貼合薄膜F105的囤積量。另一方面，第四儲料器152中，可因縮短上部側第四張力調節輪152a與下部側第四張力調節輪152b間的距離而減少雙面貼合薄膜F105的囤積量。舉例而言，第四儲料器152係於交換料捲滾筒(第一料捲滾筒R1至第三料捲滾筒R3)的芯材後之接膜等作業時，進行作動。
第六導輪153b係為將雙面貼合薄膜F105引導至第三料捲滾筒 R3的滾輪。再者，第六導輪153b並無侷限於單一配置結構，亦可為複數配置結構。
雙面貼合薄膜F105於捲收部106中，捲收於作為光學薄膜F10X 的第三料捲滾筒R3的芯材後，輸送至下一個工程。
(缺陷檢查系統)
接著，將說明具備該薄膜製造裝置100之缺陷檢查系統10。
如第4圖所示，缺陷檢查系統10係由搬送路線L、第一缺陷檢查裝置11與第二缺陷檢查裝置12、記錄裝置13、第一測長器14與第二測長器15、控制裝置16所組成。
搬送路線L係形成搬送作為檢查對象的薄膜之搬送路徑，於本 實施形態中，係由該第一搬送路線101、第三搬送路線103及第五搬送路線105組成搬送路線L。
第一缺陷檢查裝置11係於第一薄膜F101尚未貼合第二薄膜 F102與第三薄膜F103前進行缺陷檢查之裝置。具體而言，該第一缺陷檢查裝置11係用以檢查製造第一薄膜F101時或搬送第一薄膜F101時所產生之異物缺陷、凹凸缺陷、亮點缺陷等各種缺陷。第一缺陷檢查裝置11針對第一搬送路線101所搬送之第一薄膜F101，舉例而言，係實施反射檢查、透射檢查、斜射檢查、正交偏光透射檢查等檢查處理，藉此檢查出第一薄膜F101的缺陷。
第一缺陷檢查裝置11於第一搬送路線101中，較第一壓輪111a, 111b更靠上游側，係具備複數照明部21a,22a,23a，將照明光照射於第一薄膜F101；及複數光檢測部21b,22b,23b，檢查透過第一薄膜F101的光(透射光)或第一薄膜F101反射的光(反射光)。
本實施形態因係為檢查透射光之結構，故並列於第一薄膜F101 的搬送方向上之複數照明部21a,22a,23a與光檢測部21b,22b,23b係各自夾持第 一薄膜F101並對向配置。另外，第一缺陷檢查裝置11並無侷限於檢查透射光之結構，亦可為檢查反射光之結構或檢查透射光與反射光之結構。
照明部21a,22a,23a係將配合缺陷檢查種類調整光強度、波長或 偏光狀態等之照明光照射於第一薄膜F101上。光檢測部21b,22b,23b係使用電耦合元件(CCD,charge-coupled device)等攝影元件拍攝第一薄膜F101的照明光所照射位置之影像。光檢測部21b,22b,23b所拍攝之影像(缺陷檢查結果)係輸出至控制裝置16。
第二缺陷檢查裝置12係為針對貼合第二薄膜F102與第三薄膜 F103後之第一薄膜F101，即針對雙面貼合薄膜F105，予以進行缺陷檢查之裝置。具體而言，該第二缺陷檢查裝置12係檢查於第一薄膜F101貼合第二薄膜F102與第三薄膜F103時或搬送單面貼合薄膜F104與雙面貼合薄膜F105時所產生之異物缺陷、凹凸缺陷、亮點缺陷等各種缺陷。第二缺陷檢查裝置12針對第五搬送路線105所搬送之雙面貼合薄膜F105，係實施例如反射檢查、透射檢查、斜射檢查、正交偏光透射檢查等檢查處理，藉此檢查出雙面貼合薄膜F105的缺陷。
第二缺陷檢查裝置12於第五搬送路線105中，較第六壓輪 151c,151d更靠上游側，係具備複數照明部24a,25a，將照明光照射於雙面貼合薄膜F105；及複數光檢測部24b,25b，檢查透過雙面貼合薄膜F105的光(透射光)或雙面貼合薄膜F105反射的光(反射光)。
本實施形態因係為檢查透射光之結構，故並列於雙面貼合薄膜 F105的搬送方向上之複數照明部24a,25a與光檢測部24b,25b係各自夾持雙面貼合薄膜F105並對向配置。另外，第二缺陷檢查裝置12並無侷限於檢查透射光之結構，亦可為檢查反射光之結構或檢查透射光與反射光之結構。
照明部24a,25a係將配合缺陷檢查種類調整光強度、波長或偏光 狀態等之照明光照射於雙面貼合薄膜F105上。光檢測部24b,25b係使用CCD等攝影元件拍攝雙面貼合薄膜F105的照明光所照射位置之影像。光檢測部24b,25b所拍攝之影像(缺陷檢查結果)係輸出至控制裝置16。
記錄裝置13係為將第一缺陷檢查裝置11與第二缺陷檢查裝置 12的檢查結果所得缺陷資訊記錄於雙面貼合薄膜F105之裝置。具體而言，缺陷資訊係包含缺陷位置或種類等相關資訊，舉例而言，係記錄作為一次元碼、二次元碼、QR碼(註冊商標)等辨識碼。於辨識碼中，舉例而言，包含第一缺陷檢查裝置11與第二缺陷檢查裝置12所檢查出之缺陷，其係顯示辨識碼存在於從印刷位置沿著薄膜寬度方向相隔多遠的位置之資訊(缺陷位置相關資訊)。另外，辨識碼中亦可包含檢查出的缺陷種類相關資訊。
記錄裝置13於第5搬送路線105中，係設置於較第二缺陷檢查 裝置12更靠下游側。記錄裝置13具有如採用噴墨方式之印刷頭13a。該印刷頭13a係沿著雙面貼合薄膜F105之寬度方向的端緣部之位置(記錄區域)噴出墨水，進行該缺陷資訊之印刷。
另外，記錄裝置13亦可於雙面貼合薄膜F105的缺陷位置，透 過印刷(標明)包含缺陷大小之點狀、線狀或框狀標誌，直接於缺陷位置上進行記錄。此時，除了標誌以外，亦可於缺陷位置印刷標示缺陷種類之記號或圖樣，藉此記錄缺陷種類相關資訊。
第一測長器14與第二測長器15係為測量第一薄膜F101的搬送 量之裝置。具體而言，本實施形態中，於第一搬送路線101中，係於較第一儲料器112更靠上游側之第一壓輪111a配置有組成第一測長器14之旋轉編碼器，而於較第一儲料器112更靠下游側之第三壓輪131a配置有組成第二測長器15之旋轉編碼器。
第一測長器14與第二測長器15係配合接觸第一薄膜F101並旋 轉之第一壓輪111a與第三壓輪131a的旋轉變位量，透過旋轉編碼器測量第一薄膜F101的搬送量。第一測長器14與第二測長器15的測量結果係輸出至控制裝置16。
再者，本實施形態中，第一缺陷檢查裝置11與記錄裝置13間 因僅存在一個儲料器，所以於此儲料器的上游側與下游側係各配置有一個測長器。另一方面，第一缺陷檢查裝置11與記錄裝置13間若存在複數個儲料器，則位在最上游側之儲料器的上游側與位在最下游側之儲料器的下游側可各配置一個測長器。
控制裝置16係為統籌控制薄膜製造裝置100各部位之裝置。具 體而言，該控制裝置16係具備作為電子控制裝置的電腦系統。電腦系統係具備中央處理器(CPU,central processing unit)等演算處理部與記憶體(或硬碟)等資訊記憶部。
控制裝置16的資訊記憶部係記錄有控制電腦系統之作業系統 (OS,operating system)或於演算處理部進行薄膜製造裝置100之各部位的各項處理程式等。另外，控制裝置16亦可包含控制薄膜製造裝置100之各部位時所需實行各種處理之特定應用積體電路(ASIC,application specific integrated circuit)等邏輯回路。另外，控制裝置16係包含與電腦系統的外部裝置進行輸出入之介面。此介面係可與鍵盤或滑鼠等輸入裝置、液晶顯示器等顯示裝置及通訊裝置等連接。
控制裝置16係解析光檢測部21b,22b,23b與光檢測部24b,25b 所拍攝之影像，並辨別缺陷有無(位置)或種類等。控制裝置16若判斷出第一薄膜F101或雙面貼合薄膜F105具有缺陷，則控制記錄裝置13於雙面貼合薄膜F105記錄缺陷資訊。
於缺陷檢查系統10，為了避免雙面貼合薄膜F105的缺陷檢查位 置與缺陷資訊的資訊記錄位置之間產生偏移，係於缺陷檢查後的指定時間點記錄缺陷資訊。舉例而言，本實施形態中，當第一缺陷檢查裝置11或第二缺陷檢察裝置12結束缺陷檢查後，係計算出搬送路線L上所搬送的薄膜搬送量，並當計算出之搬送量與偏移距離一致時，透過記錄裝置13進行記錄。
在此，偏移距離係指第一缺陷檢查裝置11及第二缺陷檢查裝置 12與記錄裝置13間的薄膜搬送距離。嚴格來說，偏移距離係定義為自第一缺陷檢查裝置11與第二缺陷檢查裝置12進行缺陷檢查位置(缺陷檢查位置)至記錄裝置13記錄缺陷資訊位置(資訊記錄位置)間的薄膜搬送距離。另外，偏移距離係當第一儲料器112作動時產生變動。
第一儲料器112未作動時之偏移距離(以下稱為第一偏移距離)， 係事先記憶於控制裝置16的資訊記憶部。具體而言，第一缺陷檢查裝置11與第二缺陷檢查裝置12中係存在有複數光檢測部21b,22b,23b與光檢測部24b,25b，且光檢測部21b,22b,23b,24b,25b係各別進行缺陷檢查。因此，控制裝置16的資訊記憶部中，光檢測部21b,22b,23b,24b,25b皆各自記憶第一偏移距離。
因第一儲料器112作動而使偏移距離產生變動時，則依據第一 儲料器112之上游側與下游側間的第一薄膜F101之搬送量差異計算出偏移距離的補正值。即，控制裝置16中，係可依據第一測長器14與第二測長器15的測量結果計算出第一儲料器112其第一薄膜F101的囤積量，再依據此第一薄膜F101的囤積量計算出偏移距離的補正值。
缺陷檢查系統10中，當第一儲料器112作動時，係依據偏移距離的補正值，補正記錄裝置13記錄缺陷資訊之時間點。舉例而言，本實施形態係依據第一測長器14與第二測長器15的測量結果計算出偏移距離的補正值。而控制裝置16係依據該補正值與第一偏移距離計算出第一儲料器112作動時之偏移距離(以下稱為第二偏移距離)。
本實施形態依據第一測長器14或第二測長器15的測量結果， 當第一缺陷檢查裝置11與第二缺陷檢查裝置12進行缺陷檢查後，係計算出搬送路線L所搬送之薄膜搬送量，且當計算出之搬送量與第二偏移距離一致時，透過記錄裝置13進行記錄。
另外，本實施形態中，當第一儲料器112作動時，除了缺陷資 訊外，亦可將第一儲料器112已作動之資訊(以下稱為儲料器作動資訊)記錄於雙面貼合薄膜F105。記錄儲料器作動資訊時，附有儲料器作動資訊部分之缺陷部位可經由操作員詳細檢查後，檢查出記錄位置的偏移等。藉此，可降低將良品部位誤判為缺陷部位的機率，用以提升良率。
此外，如第5A圖至第5C圖所示，本實施形態中的記錄裝置13， 係設置遮罩30，防止墨水i附著於雙面貼合薄膜F105至少較記錄區域S靠內側區域。第5A圖係自雙面貼合薄膜F105的上方側觀看遮罩30之俯視圖。第5B圖係自雙面貼合薄膜F105搬送方向的上游側觀看遮罩30之側視圖。第5C圖係自雙面貼合薄膜F105的外側觀看遮罩30之側視圖。
具體而言，該遮罩30於雙面貼合薄膜F105與印刷頭13a相對 的空間K中，具備有第一側板部30a，包覆面向雙面貼合薄膜F105之內側的一側；第二側板部30b，包覆面向雙面貼合薄膜F105之搬送方向的上游側之一側；及第三側板部30c，包覆面向雙面貼合薄膜F105之搬送方向的下游側之一側。
遮罩30係利用螺絲等方式相對於印刷頭13a，自由拆裝地被裝 設。遮罩30於空間K中，因其面向雙面貼合薄膜F105之外側的一側係開放，所以可輕易於印刷頭13a進行拆裝。
遮罩30相對雙面貼合薄膜F105的一面與雙面貼合薄膜F105的 表面之間的間隔T可為1mm以下。該間隔T若設定為1mm以下，則當印刷頭13a噴出之墨水i飛濺至四周時，便可防止該墨水i的飛濺物飛濺至遮罩30的外 側。再者，該數值僅為一實施例，並無侷限於此。
再者，墨水i的飛濺物係指印刷頭13a噴出之墨水i中，如自資 訊記錄位置飛濺至周圍之墨水i或附著於雙面貼合薄膜F105後飛濺至周圍之墨水i等。
記錄區域S係位在雙面貼合薄膜F105貼合於該液晶顯示面板P 時較疊合於液晶顯示面板P之顯示區域P4部分更靠外側。另外，記錄區域S係為貼合於該液晶顯示面板P前或貼合於該液晶顯示面板P後，遭切除之區域。
組成遮罩30之三個側板部(第一側板部30a、第二側板部30b、 第三側板部30c)中，第一側板部30a係防止墨水i的飛濺物附著於疊合雙面貼合薄膜F105的顯示區域P4之部分。另一方面，第二側板部30b係防止墨水i的飛濺物附著於雙面貼合薄膜F105之搬送方向的上游側。另一方面，第三側板部30c係防止墨水i的飛濺物附著於雙面貼合薄膜F105之搬送方向的下游側。
墨水i的飛濺物係附著於遮罩30的內側面。因此，遮罩30可定 期自印刷頭13a取下，待洗淨後再裝回印刷頭13a重複使用。
另外，薄膜製造裝置100可具備靜電去除裝置40，去除雙面貼 合薄膜F105之表面的靜電。靜電去除裝置40係稱為負離子發生器，其配置於雙面貼合薄膜F105之搬送方向中較記錄裝置13(印刷頭13a)更靠上游側。接著，該靜電去除裝置40係藉由吹出橫跨雙面貼合薄膜F105的寬度方向之負離子化氣體，以去除雙面貼合薄膜F105的表面所產生之靜電。
如此，薄膜製造裝置100係可防止墨水i的飛濺物因靜電而靠近 雙面貼合薄膜F105的表面。因此，薄膜製造裝置100透過該遮罩30與靜電去除裝置40之組合，更可抑制墨水i的飛濺物附著於雙面貼合薄膜F105的表面。
如上所述，本實施形態中之缺陷檢查系統10，係可防止當將缺 陷資訊記錄於雙面貼合薄膜F105時墨水i飛濺所造成之雙面貼合薄膜F105的污 染。
再者，本發明並無侷限於上述實施形態中，在無脫離本發明之精神與範圍內係可做各種變動。
具體而言，該遮罩30的三個側板部(第一側板部30a、第二側板部30b、第三側板部30c)中，至少需配置有第一側板部30a。如此，便可防止墨水i的飛濺物附著於疊合雙面貼合薄膜F105的顯示區域P4之部位。
另外，如第6圖所示，該遮罩30除了該三個側板部(第一側板部30a、第二側板部30b、第三側板部30c)外，亦可配置有第四側板部30d，包覆面向雙面貼合薄膜F105之外側的一側。
另外，如第7A,7B圖所示，關於該記錄裝置13該印刷頭13a亦可相對於導輪41加以配置。此時，安裝於印刷頭13a之遮罩31下端部，其形狀係沿著導輪41外形設置。如此，其與雙面貼合薄膜F105之表面間的間隔T係可為1mm以下。
另外，本發明另一實施形態中，舉例而言，亦可使用如第8A,8B圖所示之遮罩32。此遮罩32係由平行平板狀的板材所組成，其於靠近雙面貼合薄膜F105的狀態下相對雙面貼合薄膜F105配置。另外，俯視遮罩32的記錄區域S之位置，係設置有窗口部32a(開口部)。此結構下，因記錄區域S以外的區域包覆有遮罩32，所以可防止於雙面貼合薄膜F105記錄缺陷資訊時墨水i飛濺所造成之雙面貼合薄膜F105的污染。另外，遮罩32亦可設置有該側板部(第一側板部30a、第二側板部30b、第三側板部30c、第四側板部30d)。即，該遮罩32亦可為包覆該遮罩30的底面之底板部結構。
另外，該記錄裝置13雖配置於第二缺陷檢查裝置12之下游側，但亦可配置於第一缺陷檢查裝置11之下游側。此時，當第一缺陷檢查裝置11進行缺陷檢查後，可透過記錄裝置13進行缺陷資訊記錄。
另外，該記錄裝置13並無侷限於該缺陷檢查後記錄缺陷資訊。 舉例而言，於長距離搬送路線中，可複數配置記錄裝置，其間隔一定距離便記錄距離資訊，並依據記錄之距離資訊進行距離之補正。進行此距離資訊記錄之記錄裝置，舉例而言，係可配置於第一缺陷檢查裝置11之上游側等。本發明一實施形態中，進行此距離資訊記錄之記錄裝置，其於記錄裝置所具備之印刷頭上亦設置與該遮罩30,31,32相同之遮罩，以防止記錄時墨水飛濺所造成之薄膜污染。
再者，本發明實施形態所適用之薄膜，並無侷限於該偏光薄膜、相位差薄膜或輝度增加薄膜等光學薄膜，若可透過記錄裝置13進行記錄之薄膜，則可廣泛運用本發明實施形態。
13‧‧‧記錄裝置
13a‧‧‧印刷頭
30‧‧‧遮罩
30a‧‧‧第一側板部
30b‧‧‧第二側板部
30c‧‧‧第三側板部
40‧‧‧靜電去除裝置
F105‧‧‧雙面貼合薄膜
S‧‧‧記錄區域

Claims (8)

  1. 一種缺陷檢查系統，係具備：一搬送路線，係搬送一長條帶狀薄膜；一缺陷檢查裝置，係針對該搬送路線所搬送的薄膜進行缺陷檢查；及一記錄裝置，係於該搬送路線所搬送的薄膜上記錄該缺陷檢查結果所得之一缺陷資訊；其中，該記錄裝置具備：一印刷頭，係於沿著該薄膜端緣部的一記錄區域中藉由噴出一墨水來印刷該缺陷資訊；及一遮罩，係防止該墨水附著於該薄膜至少較該記錄區域靠內側區域上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢查系統，其中，該遮罩於該薄膜與該印刷頭相對的一空間中，具備一第一側板部，包覆至少面向該薄膜之內側的一側。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之缺陷檢查系統，其中，該遮罩於該空間中具備一第二側板部，包覆面向該薄膜之搬送方向上游側的一側；及一第三側板部，包覆面向該薄膜之搬送方向下游側的一側。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之缺陷檢查系統，其中，該遮罩於該空間中具備一第四側板部，包覆面向該薄膜之外側的一側。
  5. 如申請專利範圍第1-4項中任一項所述之缺陷檢查系統，其中，該遮罩相對該薄膜的一面與該薄膜的表面之間的間隔係為1mm以下。
  6. 如申請專利範圍第1-5項中任一項所述之缺陷檢查系統，其中，該遮罩相對於該印刷頭自由拆裝地被裝設。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之缺陷檢查系統，其中，該遮罩係於靠近該薄膜 的狀態下與該薄膜相對地配置，並且該遮罩俯視該記錄區域的位置係具備一窗口部。
  8. 如申請專利範圍第1-7項中任一項所述之缺陷檢查系統，其中，於該薄膜的搬送方向上，較該記錄裝置更上游側的位置，係具備一靜電去除裝置，去除該薄膜之表面的靜電。
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